JPH10148660A - Loop sequencer of pattern generator - Google Patents

Loop sequencer of pattern generator

Info

Publication number
JPH10148660A
JPH10148660A JP8309296A JP30929696A JPH10148660A JP H10148660 A JPH10148660 A JP H10148660A JP 8309296 A JP8309296 A JP 8309296A JP 30929696 A JP30929696 A JP 30929696A JP H10148660 A JPH10148660 A JP H10148660A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
loop
address
sequencer
register
slave
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP8309296A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Michio Shimura
道夫 志村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP8309296A priority Critical patent/JPH10148660A/en
Priority to DE1997151546 priority patent/DE19751546A1/en
Publication of JPH10148660A publication Critical patent/JPH10148660A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/319Tester hardware, i.e. output processing circuits
    • G01R31/31917Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
    • G01R31/31919Storing and outputting test patterns
    • G01R31/31921Storing and outputting test patterns using compression techniques, e.g. patterns sequencer
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/31813Test pattern generators
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C29/00Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/04Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
    • G11C29/08Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
    • G11C29/12Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
    • G11C29/36Data generation devices, e.g. data inverters

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce the cost by using a low-speed device. SOLUTION: The sequencer has a sequencer master, and the sequencer master has a coincidence circuit between a loop counter controlled by the number of loop steps and a loop buffer register, thus generating an n-phase sequence from a control circuit controlled by LOOPEXIT that indicates the final cycle of a test pattern from an optional PG(pattern generator) 3. An n-phase sequencer slave is controlled by the sequencer master. The slave side of each phase has a start address register, a register for generating and storing a jumping address, a register for calculating and storing the start address of a next loop, and an upper address counter and a lower address register that perform load or increment operation according to the data of the registers. A data select memory is accessed by the generated addresses.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、IC試験装置の
パターン発生器のループシーケンサに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a loop sequencer for a pattern generator of an IC test apparatus.

【0002】[0002]

【従来の技術】[Prior art]

(従来例1)従来のこの種のパターン発生器(以下PG
と言う)1は図7に示すように、シーケンシャルPG
(SQPG)2、オプションPG(例えばアルゴリズミ
ックPG;ALPG)3、ピン方向パターンセレクタ
4、オア回路5等で構成される。シーケンシャルPG2
は試験パターンをバッファメモリ(パターンメモリ)9
に記憶しておき、バッファの内容を高速に出力して試験
パターンとする方式のPGであり、ロジックテストに用
いられる。一方、オプションPG3はICの試験パター
ンを内蔵のパターン発生演算回路(演算機能を持ったレ
ジスタ)11を用いて、演算でパターンを発生させるP
Gである。
(Conventional Example 1) This type of conventional pattern generator (hereinafter referred to as PG
1) is a sequential PG as shown in FIG.
(SQPG) 2, option PG (for example, algorithmic PG; ALPG) 3, pin-direction pattern selector 4, OR circuit 5, and the like. Sequential PG2
Indicates a test pattern in a buffer memory (pattern memory) 9
The PG is a method of outputting the contents of the buffer at a high speed to form a test pattern, and is used for a logic test. On the other hand, the option PG3 uses a built-in pattern generation operation circuit (register having an operation function) 11 to store a test pattern of an IC.
G.

【0003】従来のPG1では主PG2のインストラク
ションメモリ8、パターンメモリ9及びオプションPG
3のインストラクションメモリ10に同一のアドレスA
Dを与える方式であるため、オプションPG3のパター
ン発生プログラムを全体のシーケンスとして捉える必要
がある。オプションPG3がメモリ試験用のALPGで
ある場合、マーチング試験パターンやギャロッピング試
験パターンなど、試験方法により決まったパターンがあ
り、被試験メモリのピンが図8Aに示すように直接デバ
イスピンPa,Pdi,Pc,Pdoに接続されている
場合はそのままでよいが、図8Bに示すようにデバイス
ピンPi,Poとメモリ17との間に何らかのインタフ
ェース回路18,19,20,21が入っていた場合、
そのインタフェース部を含めたパターンをプログラミン
グする必要がある。 (従来例2)被試験デバイス(以下DUTと言う)の内
部に存在するメモリ(図8B)などを個別にテストする
場合、その試験パターンは専用パターン発生器であるオ
プションPG(例えばALPG)3からのパターンを加
工して、DUT内のインタフェース回路に合ったパター
ンを発生する必要がある。その試験パターンはDUTに
よって決まったシーケンスで入力される。そのシーケン
スに合わせてALPG3で発生したパターンを加工する
ために図9の例では、ループシーケンサ22とデータセ
レクトメモリ25とセレクタ26とを図7の装置に追加
している。
In the conventional PG1, the instruction memory 8, the pattern memory 9, and the option PG of the main PG2 are used.
3 has the same address A in the instruction memory 10.
Since this is a method of giving D, it is necessary to capture the pattern generation program of option PG3 as the entire sequence. When the option PG3 is a memory test ALPG, there are patterns determined by a test method such as a marching test pattern and a galloping test pattern, and the pins of the memory under test are directly connected to the device pins Pa, Pdi, and Pc as shown in FIG. 8A. , Pdo may be left as it is, but if any interface circuits 18, 19, 20, 21 are inserted between the device pins Pi, Po and the memory 17 as shown in FIG.
It is necessary to program a pattern including the interface section. (Conventional Example 2) When individually testing a memory (FIG. 8B) or the like existing inside a device under test (hereinafter referred to as a DUT), the test pattern is obtained from an option PG (for example, ALPG) 3 which is a dedicated pattern generator. Must be processed to generate a pattern that matches the interface circuit in the DUT. The test pattern is input in a sequence determined by the DUT. In order to process a pattern generated in the ALPG 3 according to the sequence, in the example of FIG. 9, a loop sequencer 22, a data select memory 25, and a selector 26 are added to the apparatus of FIG.

【0004】ALPG3の各サイクルの試験パターンを
決まったシーケンスによって分解する動作はALPG3
のパターンが全て終了するまで繰り返される。この一連
の繰り返しをループと呼ぶ。ALPG3の各サイクル
(各ループ)の試験パターンを幾つに分解するかを示す
数をステップ数と言う。データセレクトメモリ25には
オプションPG3から発生される試験パターンをループ
シーケンスのサイクル毎にリアルタイムに選択するセレ
クト信号が格納され、そのアドレスがループシーケンサ
22から与えられる。
The operation of decomposing the test pattern of each cycle of ALPG3 according to a predetermined sequence is performed by ALPG3.
Is repeated until all the patterns are completed. This series of repetitions is called a loop. The number indicating how many test patterns in each cycle (each loop) of the ALPG 3 are decomposed is called the number of steps. The data select memory 25 stores a select signal for selecting a test pattern generated from the option PG3 in real time for each cycle of the loop sequence, and its address is given from the loop sequencer 22.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】メモリIC等を高速で
試験する場合、図9のオプションPG3からセレクタ2
6に入力されるパターンデータも高速となり、それに合
わせてデータセレクトメモリ25からセレクト信号を高
速でセレクタに与えなければならない。そのためループ
シーケンサ22からデータセレクトメモリ25に与える
アドレス信号も高速でなければならない。このようにア
ドレス信号を高速で発生する従来のループシーケンサ
は、ICをはじめとして高速で、高価なデバイスで構成
されており、そのため装置のコストが高くなる問題があ
った。
When testing a memory IC or the like at a high speed, the selector PG3 shown in FIG.
6, the pattern data input to the selector 6 becomes faster, and accordingly, a select signal from the data select memory 25 must be supplied to the selector at a higher speed. Therefore, the address signal given from the loop sequencer 22 to the data select memory 25 must also be high speed. As described above, the conventional loop sequencer that generates an address signal at a high speed is composed of a high-speed and expensive device such as an IC, and thus has a problem that the cost of the device is increased.

【0006】この発明は、高速なアドレス信号を発生す
るループシーケンサの原価低減を図ることを目的として
いる。
An object of the present invention is to reduce the cost of a loop sequencer that generates a high-speed address signal.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】この発明のループシーケ
ンサは、シーケンサ・マスタと、n(2以上の整数)相
のシーケンサ・スレーブより構成される。シーケンサ・
マスタは、ループステップ数と制御ビットを格納してお
くループメモリと、そのループメモリのアドレスを与え
るアドレス・ポインタと、前記ループメモリよりループ
情報をロードし、ループシーケンスの条件を与えるルー
プバッファレジスタと、各ループを構成するサイクルを
発生するループカウンタと、そのループカウンタの出力
と前記ループバッファレジスタのループ・ステップ数情
報との一致を検出する一致検出回路と、その一致検出回
路の一致検出信号と、外部のオプションパターン発生器
からのループエクジット(LOOPEXIT)信号及び前記ルー
プバッファレジスタの制御ビットにより、前記アドレス
・ポインタ、ループカウンタ、ループバッファレジスタ
を制御するループ制御回路と、前記一致検出回路の一致
検出信号と、前記ループ制御回路の制御信号により、前
記n相のシーケンサ・スレーブの制御信号を生成するス
レーブ制御回路とを具備する。
The loop sequencer according to the present invention comprises a sequencer master and an n (2 or more integer) phase sequencer / slave. Sequencer
The master includes a loop memory for storing the number of loop steps and control bits, an address pointer for giving an address of the loop memory, a loop buffer register for loading loop information from the loop memory, and giving a condition of a loop sequence. A loop counter for generating a cycle constituting each loop, a match detection circuit for detecting a match between the output of the loop counter and the loop / step number information of the loop buffer register, and a match detection signal of the match detection circuit. A loop control circuit for controlling the address pointer, the loop counter, and the loop buffer register according to a loop exit (LOOPEXIT) signal from an external option pattern generator and a control bit of the loop buffer register; Detection signal and the A control signal loop control circuit comprises a slave control circuit for generating a control signal for sequencer slave of the n phases.

【0008】前記各相のシーケンサ・スレーブは、スタ
ートアドレスを格納するスタートアドレスレジスタと、
ジャンプ先アドレスを生成、格納するジャンプアドレス
レジスタと、次のループのスタートアドレスを演算し、
格納するネクストループスタートアドレスレジスタと、
前記シーケンサ・マスタのスレーブ制御回路の制御信号
により、ロード、インクリメント、ホールドの動作を行
い、外部のデータセレクトメモリのアドレスの上位ビッ
トを与える上位アドレスカウンタと、前記シーケンサ・
マスタのスレーブ制御回路の制御信号により、ロード、
ホールドの動作を行い、外部のデータセレクトメモリの
下位ビットを与える下位アドレスレジスタと、前記シー
ケンサ・マスタのスレーブ制御回路の制御信号により、
前記下位アドレスレジスタ、ジャンプアドレスレジス
タ、ネクストループスタートアドレスレジスタにロード
信号を与えると共に、前記上位アドレスカウンタを制御
する制御回路とを具備する。
The sequencer / slave of each phase includes a start address register for storing a start address,
Calculate the jump address register that generates and stores the jump destination address and the start address of the next loop,
A next loop start address register to be stored;
An upper address counter that performs load, increment, and hold operations in accordance with a control signal of a slave control circuit of the sequencer / master, and provides an upper bit of an address of an external data select memory;
Load and load are controlled by the control signal of the master slave control circuit.
A lower address register that performs a hold operation and provides lower bits of an external data select memory, and a control signal of a slave control circuit of the sequencer / master,
A control circuit that supplies a load signal to the lower address register, the jump address register, and the next loop start address register and controls the upper address counter.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】図1乃至図3の実施例を参照して
発明の実施の形態を説明する。これらの図には図7、図
9と対応する部分に同じ符号を付けてある。 (a)符号の説明 (3)このシーケンサにより発生パターンの加工を行う
ための、元のパターン発生を行い、パターンの発生の終
了を示す制御信号となるLOOPEXITを備えたパターン発生
器(オプションPG)。 (23)シーケンサ・マスタで、以下の(31)〜(3
8)を備える。 (24)シーケンサ・スレーブで、以下の(41)〜
(52)を備える。 (25)(42),(43)により与えられるアドレス
により、各ループステップ毎にセレクトデータ(制御デ
ータ)を格納するデータセレクトメモリ。格納するデー
タをスレーブの相数倍もつことにより、シーケンサ・ス
レーブの動作及びその制御を単純化することを可能とす
る。 (31)シーケンサ・マスタによるループメモリの開始
アドレスを格納するレジスタ。 (32)ループメモリのアドレスを示すアドレス・ポイ
ンタ。 (33)シーケンス・マスタでの一つのシーケンスを発
生する毎に必要な情報として持つループステップ数と、
制御ビットを格納しておくループメモリ。制御ビットに
は、ループを抜ける際、次のループ情報によるシーケン
ス発生を行うか、現在のループ情報を保持し、同じシー
ケス発生を行うか、あるいは、すでに発生したループ情
報を再び取り出すかの制御を行うビットを持つ。すなわ
ち、アドレスポインタ32のインクリメント、ホール
ド、ジャンプ及びループバッファ35のロード、ホール
ドを行う。 (34)各ループを構成するサイクルを発生するループ
カウンタ。 (35)ループ情報をループメモリからロードし、ルー
プシーケンスの条件を与えるループバッファレジスタ。 (36)ループカウンタとループバッファレジスタ35
のループステップ数情報との一致検出を行う一致検出回
路。 (37)一致検出回路36により検出された一致信号
と、オプションPG3からのLOOPEXIT制御信号及びルー
プバッファ35の制御ビットにより、アドレスポインタ
32、ループカウンタ34、ループバッファレジスタ3
5の制御を行うループ制御回路。 (38)一致検出回路36により検出された一致信号
と、ループ制御回路37により、分岐のタイミングを検
知した後、並列動作しながらループシーケンスを発生す
るシーケンサ・スレーブの制御信号を生成するスレーブ
制御回路。 (41)スレーブ側の開始アドレスを格納するレジスタ
で、(31)とは異なる値をとる。 (42)メモリ25の物理アドレスの上位ビットを与
え、シーケンサ・マスタ23からの制御信号により、ロ
ード、インクリメント、ホールドの動作を行う上位アド
レスカウンタ。 (43)メモリ25の物理アドレスの下位ビットを与
え、シーケンサ・マスタ23からの制御信号により、ロ
ード、ホールドの動作を行う下位アドレスレジスタ。ロ
ード・データはn相あるシーケンサ・スレーブ24の発
生順序を意味するADDより得る。ADDのビット幅は
各相により異なる。 (44)シーケンサ・マスタ23からの制御信号JMP
により、アドレスカウンタ42にロードされるジャンプ
アドレスレジスタ。このレジスタはスタート時にスター
トアドレスレジスタ41の内容をロードし、シーケンサ
・マスタ23からの制御信号EXITにより、ネクスト
ループスタートアドレスレジスタ45の内容をロードす
る。 (45)シーケンサ・マスタ23からの制御信号JMP
により、アドレスカウンタ42の値に1を加算した値、
すなわち、現在のループを終了した後に実行するシーケ
ンスの開始アドレスを生成し、格納しておくネクストル
ープスタートアドレスレジスタ。 (46)ネクストループスタートアドレスを上位アドレ
スカウンタ42から生成する加算器。 (47)シーケンサ・マスタ23からの制御信号JM
P,EXITにより、(43)〜(45)のレジスタに
ロード信号を与え、また、カウンタ42の動作制御を行
う制御回路。 (b)動作概要説明 1)予めスタートアドレスレジスタ31、ループメモリ
33、オプションPG3、スタートアドレスレジスタ4
1、下位アドレスレジスタ43、データセレクトメモリ
25に必要なデータを書き込み、シーケンサの起動を待
つ。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In these figures, parts corresponding to those in FIGS. 7 and 9 are denoted by the same reference numerals. (3) A pattern generator (option PG) having an original pattern for processing a generated pattern by this sequencer and having a LOOPEXIT serving as a control signal indicating the end of pattern generation . (23) The following (31) to (3)
8). (24) Sequencer / slave, the following (41)-
(52) is provided. (25) A data select memory for storing select data (control data) for each loop step based on the address given by (42) and (43). By having data to be stored having the number of phases of the slave, the operation of the sequencer / slave and the control thereof can be simplified. (31) A register for storing the start address of the loop memory by the sequencer master. (32) An address pointer indicating the address of the loop memory. (33) The number of loop steps held as necessary information each time one sequence is generated in the sequence master,
Loop memory for storing control bits. When exiting the loop, the control bit controls whether to generate a sequence based on the next loop information, hold the current loop information and perform the same sequence generation, or retrieve the loop information that has already occurred. Have a bit to do. That is, increment, hold, jump of the address pointer 32 and load and hold of the loop buffer 35 are performed. (34) A loop counter for generating a cycle constituting each loop. (35) A loop buffer register that loads loop information from a loop memory and gives conditions for a loop sequence. (36) Loop counter and loop buffer register 35
A match detection circuit that detects a match with the loop step number information. (37) The address pointer 32, the loop counter 34, and the loop buffer register 3 are determined based on the match signal detected by the match detection circuit 36, the LOOPEXIT control signal from the option PG3, and the control bit of the loop buffer 35.
A loop control circuit for performing the control of (5). (38) A slave control circuit that generates a sequencer / slave control signal that generates a loop sequence while operating in parallel after detecting the coincidence signal detected by the coincidence detection circuit 36 and the branch timing by the loop control circuit 37 . (41) A register for storing the start address of the slave side, which takes a value different from that of (31). (42) An upper address counter that gives the upper bits of the physical address of the memory 25 and performs load, increment, and hold operations according to a control signal from the sequencer master 23. (43) A lower address register that gives a lower bit of a physical address of the memory 25 and performs a load / hold operation according to a control signal from the sequencer master 23. The load data is obtained from ADD, which indicates the order in which the n-phase sequencer / slave 24 is generated. The bit width of ADD differs for each phase. (44) Control signal JMP from sequencer master 23
A jump address register loaded into the address counter 42. This register loads the contents of the start address register 41 at the start, and loads the contents of the next loop start address register 45 in response to the control signal EXIT from the sequencer master 23. (45) Control signal JMP from sequencer master 23
Is a value obtained by adding 1 to the value of the address counter 42,
That is, a next loop start address register for generating and storing a start address of a sequence to be executed after the current loop is completed. (46) An adder that generates the next loop start address from the upper address counter 42. (47) Control signal JM from sequencer master 23
A control circuit for giving a load signal to the registers (43) to (45) and controlling the operation of the counter 42 by P and EXIT. (B) Outline of operation 1) Start address register 31, loop memory 33, option PG3, start address register 4
1. Write necessary data to the lower address register 43 and the data select memory 25, and wait for activation of the sequencer.

【0010】2)スタート信号により、シーケンサに起
動がかかると、スタートアドレスレジスタ31の内容が
アドレスポインタ32にロードされ、ループメモリ33
からループ情報を読み出し、ループバッファレジスタ3
5に格納される。 3)アドレスポインタ32はループバッファレジスタ3
5がループ情報をロードするタイミングでインクリメン
トし、次のループ情報を用意する。
2) When the sequencer is started by the start signal, the contents of the start address register 31 are loaded into the address pointer 32 and the loop memory 33 is loaded.
From the loop buffer register 3
5 is stored. 3) The address pointer 32 is the loop buffer register 3
5 increments at the timing of loading the loop information, and prepares the next loop information.

【0011】4)ループ情報がループバッファレジスタ
35に格納されると、同じタイミングで、ループカウン
タ34は動作クロックに同期して初期値0からカウント
を始める。 5)ループカウンタ34はループバッファレジスタ35
のステップ数に一致するまでインクリメント動作を繰り
返す。
4) When the loop information is stored in the loop buffer register 35, the loop counter 34 starts counting from the initial value 0 at the same timing in synchronization with the operation clock. 5) The loop counter 34 is a loop buffer register 35
The increment operation is repeated until the number of steps matches.

【0012】6)ループカウンタ34とループバッファ
レジスタ35のステップ数が一致検出回路36により一
致を検出すると、オプションPG3からの制御信号LOOP
EXITが来ていない場合、ループカウンタ34は一致を検
出した次のサイクルでゼロロードを行う。 7)ループカウンタ34とループバッファレジスタ35
のステップ数が一致し、オプションPG3からの制御信
号LOOPEXITが来るまで、ループカウンタ34は5)〜
6)の動作を繰り返し、ループバッファレジスタ35は
データを保持する。
6) When the coincidence between the number of steps in the loop counter 34 and the number of steps in the loop buffer register 35 is detected by the coincidence detection circuit 36, the control signal LOOP from the option PG3 is output.
If no EXIT has arrived, the loop counter 34 performs zero load in the cycle following the detection of a match. 7) Loop counter 34 and loop buffer register 35
Until the control signal LOOPEXIT from the option PG3 arrives, the loop counter 34 sets 5) to
The operation of 6) is repeated, and the loop buffer register 35 holds the data.

【0013】8)オプションPG3からの制御信号LOOP
EXITが来、ループカウンタ34とループバッファレジス
タ35のステップ数が一致すると、ループバッファレジ
スタ35は次のループ情報をロードするか、あるいは現
在の情報を保持するかを、このレジスタの制御ビットに
よりコントロールする。 9)このレジスタの制御ビットが現在の情報を保持する
命令の場合、アドレスポインタ32及びループバッファ
レジスタ35はホールド状態となる。また、制御ビット
が次のループ情報を取り込む命令の場合、ループバッフ
ァレジスタ35は次のループ情報をロードする。アドレ
スポインタ32はインクリメントし、さらに次のループ
情報を準備する。
8) Control signal LOOP from option PG3
When EXIT arrives and the number of steps in the loop counter 34 matches the number of steps in the loop buffer register 35, the loop buffer register 35 controls whether to load the next loop information or retain the current information by the control bit of this register. I do. 9) When the control bit of this register is an instruction for holding the current information, the address pointer 32 and the loop buffer register 35 are in a hold state. If the control bit is an instruction to take in the next loop information, the loop buffer register 35 loads the next loop information. The address pointer 32 is incremented, and further prepares the next loop information.

【0014】10)ループカウンタ34は制御ビットに依
らず、ループ情報がループバッファレジスタ35に格納
されると同じタイミングで、0をロードし、カウントを
始める。 11)動作クロックが終わるまで、4)〜10)の動作が
繰り返される。 12)シーケンサ・スレーブ24は制御信号としてJM
P,EXIT,ADDnを必要とする。JMPによりア
ドレスカウンタ42にそのループの開始アドレスをロー
ドする。EXITによりアドレスカウンタ42にその次
のループの開始アドレスをロードする。ADDnはその
次のループの順番として与えられる。これらの信号は、
マスタ側のループ発生によって制御される事により、マ
スタ、スレーブ共に同一のループシーケンスを発生する
事ができる。
10) Regardless of the control bit, the loop counter 34 loads 0 and starts counting at the same timing as the loop information is stored in the loop buffer register 35. 11) The operations 4) to 10) are repeated until the operation clock ends. 12) Sequencer slave 24 uses JM as a control signal.
P, EXIT, and ADDn are required. The start address of the loop is loaded into the address counter 42 by JMP. The start address of the next loop is loaded into the address counter 42 by EXIT. ADDn is given as the order of the next loop. These signals are
The same loop sequence can be generated for both the master and the slave by being controlled by the occurrence of a loop on the master side.

【0015】13)シーケンサ・マスタ23は一致検出回
路36により検出された一致信号をカウントし、そのカ
ウント値がスレーブ側の相数nと一致した時からnサイ
クルさかのぼり、nサイクル分JMP信号を出力する。 14)また、EXIT信号はLOOPEXITと一致検出回路36
により検出された一致信号との論理積により生ずる信号
のサイクルからnサイクルさかのぼり、nサイクル分E
XIT信号を出力する。さらに、ADD信号はEXIT
信号の発生する最初のサイクルを0とし、n−1までn
サイクルカウント・アップした値をもつ。
13) The sequencer / master 23 counts the coincidence signal detected by the coincidence detection circuit 36, goes back n cycles from the time when the count value coincides with the number n of phases on the slave side, and outputs a JMP signal for n cycles. I do. 14) The EXIT signal is output from the LOOPEXIT and coincidence detection circuit 36.
N cycles from the cycle of the signal generated by the logical product with the coincidence signal detected by
An XIT signal is output. Further, the ADD signal is EXIT
The first cycle in which a signal occurs is set to 0, and
It has the value of cycle count up.

【0016】15)13)、14)で発生した信号はn相
に分解され、スレーブ側に与えられる。 16)シーケンサ・スレーブ24もマスタ側と同様にスタ
ート信号により、スタートアドレスレジスタ41の開始
アドレスをアドレスカウンタ42に格納する。 17)シーケンサ・マスタ23からの動作クロックに同期
してアドレスカウンタ42は開始アドレスからカウント
する。
15) The signals generated in 13) and 14) are decomposed into n phases and supplied to the slave side. 16) The sequencer / slave 24 stores the start address of the start address register 41 in the address counter 42 in response to the start signal, similarly to the master side. 17) The address counter 42 counts from the start address in synchronization with the operation clock from the sequencer master 23.

【0017】18)メモリ25に与えられるアドレスは、
アドレスカウンタ42を上位ビットとし、下位アドレス
レジスタ43とを合わせたものとなる。よって、メモリ
25に与えられるアドレスは、アドレスカウンタ42が
インクリメントするたびに、+n(n相)されたアドレ
スが与えられる。 19)アドレスカウンタ42がスタートアドレスをロード
するタイミングでジャンプアドレスレジスタ44もスタ
ートアドレスレジスタ41の内容を格納する。
18) The address given to the memory 25 is
The address counter 42 has the upper bits and the lower address register 43 together. Therefore, the address given to the memory 25 is given by + n (n phase) every time the address counter 42 is incremented. 19) The jump address register 44 stores the contents of the start address register 41 at the timing when the address counter 42 loads the start address.

【0018】20)JMP信号により、アドレスカウンタ
42はジャンプアドレスレジスタ44の値をロードし、
ループの開始アドレスにジャンプする。これにより、メ
モリ25もループの開始番地のデータを読み出す。 21)上位アドレスカウンタ42は制御信号がくるまでイ
ンクリメントする。 22)JMP信号により、ネクストループスタートアドレ
スレジスタ45に上位アドレスカウンタ42のカウンタ
値に+1した値、すなわち、次のループにおける開始ア
ドレスをロードする。
20) In response to the JMP signal, the address counter 42 loads the value of the jump address register 44,
Jump to the start address of the loop. As a result, the memory 25 also reads the data at the start address of the loop. 21) The upper address counter 42 increments until a control signal comes. 22) The next loop start address register 45 is loaded with a value obtained by adding +1 to the counter value of the upper address counter 42, that is, the start address in the next loop, according to the JMP signal.

【0019】23)EXIT信号により、アドレスカウン
タ42はネクストループスタートアドレスレジスタ45
の値をロードする。また、下位アドレスレジスタ43に
はADDの値、すなわち次のループの開始アドレスの順
番を与える。 (c)上位アドレス及び下位アドレスとデータセレクト
メモリの動作 ステップ数が3で相数n=4の場合を例として説明す
る。
23) The EXIT signal causes the address counter 42 to move to the next loop start address register 45.
Load the value of The lower address register 43 is given the value of ADD, that is, the order of the start address of the next loop. (C) Operation of upper address and lower address and data select memory The case where the number of steps is 3 and the number of phases is n = 4 will be described as an example.

【0020】データセレクトメモリ25には図4の様に
データを格納する。ここで、上位ビットアドレスを10
bitとし、下位ビットアドレスを2bit(4相で動
作させる為に必要な数)とし、メモリアドレスは12b
itで構成される。各相で各々アクセスするメモリアド
レスとその格納データは図5の様になる。各サイクルは
相順にパターンを発生するものとすると、3サイクルご
とにメモリアドレスは0番地から11番地までを示し、
その発生データは3ステップで構成されるパターンを4
回繰り返す。また、これを相別の動作として見ると、上
位ビットアドレスは各サイクル毎にインクリメントし、
ループのステップ数と一致した時に初期値(スタート
値)に戻る動作を繰り返す。さらに、下位ビットアドレ
スは相順として与えられる。
Data is stored in the data select memory 25 as shown in FIG. Here, the upper bit address is 10
bit, the lower bit address is 2 bits (the number required to operate in four phases), and the memory address is 12b
It is composed of The memory addresses accessed in each phase and the stored data are as shown in FIG. Assuming that a pattern is generated in each cycle in the order of phases, the memory address indicates addresses 0 to 11 every three cycles,
The generated data represents a pattern consisting of 3 steps as 4
Repeat several times. When this is viewed as a separate operation, the upper bit address is incremented every cycle,
The operation of returning to the initial value (start value) when the number of steps matches the number of steps in the loop is repeated. Further, the lower bit addresses are given in phase order.

【0021】この相順は必ずしも相番号と一致していな
くても良い。すなわち、各相の番号は時間方向に展開す
る、あるサイクルを示す為、どこのサイクルからでもル
ープステップを開始することができる。図6に2相目か
らループステップが開始される例を示す。これらも同様
に、各サイクルは相順にパターンを発生するこのとする
と、3サイクルごとにメモリアドレスは0番地から11
番地までを示し、その発生データは3ステップで構成さ
れるパターンを4回繰り返す。また、これを相別の動作
として見ると、上位ビットアドレスは各サイクル毎にイ
ンクリメントし、ループのステップ数と一致した時に初
期値(スタート値)に戻る動作を繰り返す。
This phase order does not necessarily have to coincide with the phase number. That is, since the number of each phase indicates a certain cycle that evolves in the time direction, the loop step can be started from any cycle. FIG. 6 shows an example in which the loop step is started from the second phase. Similarly, in each of these cases, a pattern is sequentially generated in each cycle. In this case, the memory address is changed from address 0 to address 11 every three cycles.
The generated data repeats a pattern composed of three steps four times. Viewing this as an operation for each phase, the upper bit address is incremented every cycle, and the operation of returning to the initial value (start value) when the number of steps matches the number of steps in the loop is repeated.

【0022】よって、スレーブ側のシーケンサ制御は、
上位ビットアドレスを与えるカウンタ42の制御と、下
位ビットアドレスを与えるレジスタ43の制御により、
各相独立して動作する事が可能と成る。 (d)まとめ あらかじめループメモリ33に格納されているループの
ステップ数をもとに、ステップ数分のサイクルを発生
し、ループバッファレジスタ35のステップ値とループ
カウンタ34の一致がとれた信号によりシーケンサ・ス
レーブ24の制御信号を発生する。シーケンサ・スレー
ブ24では、n相に分割動作させ、それぞれのシーケン
サ・スレーブ24−iでは、ループのステップに合っ
た、データセレクトメモリ25−iのアドレスを発生さ
せる。
Therefore, the sequencer control on the slave side is as follows:
The control of the counter 42 for giving the upper bit address and the control of the register 43 for giving the lower bit address allow
Each phase can operate independently. (D) Conclusion A cycle corresponding to the number of steps is generated based on the number of steps of the loop stored in the loop memory 33 in advance, and a sequencer is generated by a signal indicating that the step value of the loop buffer register 35 matches the loop counter 34. Generate a control signal for the slave 24; The sequencer / slave 24 divides the operation into n phases, and each sequencer / slave 24-i generates an address of the data select memory 25-i that matches the step of the loop.

【0023】データセレクトメモリ25のアドレスはシ
ーケンサ・マスタ23から発生される下位アドレスと、
制御信号EXIT,JMPによって制御される上位アド
レスカウンタ42の値とで構成され、下位アドレスは、
n相の相数により決定される。上位アドレスカウンタ4
2はクリア(clear)信号による初期条件でスター
トアドレスレジスタ41を選択し、シーケンサ・マスタ
23からの制御信号EXIT,JMPの無い間はインク
リメントし、JMPによりジャンプアドレスレジスタ4
4の内容を、EXITによりネクストループスタートア
ドレスレジスタ45の内容をロードする。データセレク
トメモリ25のデータはn相同じものが格納され、1相
内には同じデータがn回連続して格納されている。これ
により、ステップ数は相数nに制限される事無く、連続
した有効なサイクルが発生される。
The address of the data select memory 25 includes a lower address generated by the sequencer master 23,
The lower address is composed of a value of an upper address counter 42 controlled by control signals EXIT and JMP.
It is determined by the number of n phases. Upper address counter 4
2 selects the start address register 41 in the initial condition by the clear signal, increments while there is no control signal EXIT or JMP from the sequencer master 23, and increases the jump address register 4 by JMP.
Then, the contents of the next loop start address register 45 are loaded by EXIT. The same data is stored in the data select memory 25 in the same n phases, and the same data is stored n times consecutively in one phase. As a result, the number of steps is not limited to the number n of phases, and consecutive valid cycles are generated.

【0024】[0024]

【発明の効果】この発明ではループシーケンサ22をシ
ーケンサ・マスタ23とシーケンサ・スレーブ24で構
成し、シーケンサ・スレーブ24を24−1〜24−n
のn相で構成し、各相のシーケンサ・スレーブ24−i
より対応するデータセレクトメモリ25−i(i=1〜
nでn相構成)にアドレス信号を与えればよい。シーケ
ンサ・マスタ23からシーケンサ・スレーブ24−iに
与える制御信号JMP−i,EXIT−i,ADD−i
の時間幅はいずれもnクロック周期に拡大される。同様
に、シーケンサ・スレーブ24−iよりデータセレクト
メモリ25−iに与えるアドレス信号の時間長(ビット
長)もnクロック周期に拡大される。各シーケンサスレ
ーブ24−i内の信号処理はビット長がnクロック周期
で低速な信号を取扱えばよく、低速のデバイスを用いて
安価に構成することができ、ループシーケンサ全体とし
てもコストダウンを図ることができる。
According to the present invention, the loop sequencer 22 comprises a sequencer master 23 and a sequencer slave 24, and the sequencer slaves 24-1 to 24-n.
And the sequencer / slave 24-i of each phase
More corresponding data select memory 25-i (i = 1 to
An address signal may be given to n-phase configuration with n). Control signals JMP-i, EXIT-i, ADD-i given from the sequencer master 23 to the sequencer slave 24-i
Are expanded to n clock periods. Similarly, the time length (bit length) of the address signal supplied from the sequencer / slave 24-i to the data select memory 25-i is expanded to n clock cycles. The signal processing in each sequencer slave 24-i only has to handle a low-speed signal with a bit length of n clock cycles, and can be configured at low cost using a low-speed device, thereby reducing the cost of the entire loop sequencer. Can be.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】3ステップ、n=4相としたときの、図1の要
部のタイミングチャート。
FIG. 2 is a timing chart of the main part of FIG. 1 when three steps and n = 4 phases are used.

【図3】図2のタイミングチャートに続くタイミングチ
ャート。
FIG. 3 is a timing chart subsequent to the timing chart of FIG. 2;

【図4】3ステップ、n=4相としたときの図1のデー
タセレクトメモリ25−i内のデータの格納状態を示す
図。
FIG. 4 is a diagram showing a storage state of data in a data select memory 25-i in FIG. 1 when three steps and n = 4 phases are set.

【図5】図4のデータセレクトメモリ25−1〜25−
4のアドレス入力と出力データの一例を示す図。
FIG. 5 is a data select memory 25-1 to 25- shown in FIG. 4;
4 is a diagram showing an example of address input and output data of FIG.

【図6】図4のデータセレクトメモリ25−1〜25−
4のアドレス入力と出力データの他の例を示す図。
FIG. 6 shows data select memories 25-1 to 25- in FIG.
4 is a diagram showing another example of address input and output data of FIG.

【図7】ループシーケンサを用いない従来のパターン発
生器のブロック図。
FIG. 7 is a block diagram of a conventional pattern generator that does not use a loop sequencer.

【図8】被試験デバイス(DUT)がメモリデバイスで
ある場合の内部構成を示すブロック図。
FIG. 8 is a block diagram showing an internal configuration when a device under test (DUT) is a memory device.

【図9】ループシーケンサを用いた従来のパターン発生
器のブロック図。
FIG. 9 is a block diagram of a conventional pattern generator using a loop sequencer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 シーケンサ・マスタと、n(2以上の整
数)相のシーケンサ・スレーブとより成り、 前記シーケンサ・マスタは、 ループステップ数と制御ビットを格納しておくループメ
モリと、そのループメモリのアドレスを与えるアドレス
・ポインタと、 前記ループメモリよりループ情報をロードし、ループシ
ーケンスの条件を与えるループバッファレジスタと、 各ループを構成するサイクルを発生するループカウンタ
と、 そのループカウンタの出力と前記ループバッファレジス
タのループ・ステップ数情報との一致を検出する一致検
出回路と、 その一致検出回路の一致検出信号と、外部のオプション
パターン発生器からのループエクジット(LOOPEXIT)信
号及び前記ループバッファレジスタの制御ビットによ
り、前記アドレス・ポインタ、ループカウンタ、ループ
バッファレジスタを制御するループ制御回路と、 前記一致検出回路の一致検出信号と、前記ループ制御回
路の制御信号により、前記n相のシーケンサ・スレーブ
の制御信号を生成するスレーブ制御回路とを具備し、 前記各相のシーケンサ・スレーブは、 スタートアドレスを格納するスタートアドレスレジスタ
と、 ジャンプ先アドレスを生成、格納するジャンプアドレス
レジスタと、 次のループのスタートアドレスを演算し、格納するネク
ストループスタートアドレスレジスタと、 前記シーケンサ・マスタのスレーブ制御回路の制御信号
により、ロード、インクリメント、ホールドの動作を行
い、外部のデータセレクトメモリのアドレスの上位ビッ
トを与える上位アドレスカウンタと、 前記シーケンサ・マスタのスレーブ制御回路の制御信号
により、ロード、ホールドの動作を行い、外部のデータ
セレクトメモリの下位ビットを与える下位アドレスレジ
スタと、 前記シーケンサ・マスタのスレーブ制御回路の制御信号
により、前記下位アドレスレジスタ、ジャンプアドレス
レジスタ、ネクストループスタートアドレスレジスタに
ロード信号を与えると共に、前記上位アドレスカウンタ
を制御する制御回路とを具備することを特徴とする、パ
ターン発生器のループシーケンサ。
1. A sequencer master comprising: a sequencer master; and a sequencer slave having n (an integer of 2 or more) phases, wherein the sequencer master stores a loop step number and control bits, and a loop memory thereof. An address pointer for giving an address of a loop memory; a loop buffer register for loading loop information from the loop memory and giving a condition of a loop sequence; a loop counter for generating a cycle constituting each loop; an output of the loop counter; A match detection circuit for detecting a match with the loop / step number information of the loop buffer register; a match detection signal of the match detection circuit; a loop exit (LOOPEXIT) signal from an external option pattern generator; The address pointer is controlled by a control bit. A loop control circuit that controls a loop counter and a loop buffer register; a match control signal of the match detection circuit; and a slave control circuit that generates a control signal of the n-phase sequencer / slave based on a control signal of the loop control circuit. The sequencer / slave of each phase includes: a start address register for storing a start address; a jump address register for generating and storing a jump destination address; and a next loop for calculating and storing a start address of a next loop. A start address register, an upper address counter that performs load, increment, and hold operations by a control signal of a slave control circuit of the sequencer master, and provides an upper bit of an address of an external data select memory; A lower address register that performs load and hold operations according to a control signal of a slave control circuit and provides lower bits of an external data select memory; and a lower address register that jumps according to a control signal of a slave control circuit of the sequencer / master. A control circuit for supplying a load signal to an address register and a next loop start address register and controlling the upper address counter.
JP8309296A 1996-11-20 1996-11-20 Loop sequencer of pattern generator Withdrawn JPH10148660A (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8309296A JPH10148660A (en) 1996-11-20 1996-11-20 Loop sequencer of pattern generator
DE1997151546 DE19751546A1 (en) 1996-11-20 1997-11-20 Pattern generator

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8309296A JPH10148660A (en) 1996-11-20 1996-11-20 Loop sequencer of pattern generator

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10148660A true JPH10148660A (en) 1998-06-02

Family

ID=17991301

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8309296A Withdrawn JPH10148660A (en) 1996-11-20 1996-11-20 Loop sequencer of pattern generator

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JPH10148660A (en)
DE (1) DE19751546A1 (en)

Also Published As

Publication number Publication date
DE19751546A1 (en) 1998-05-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3577332B2 (en) Electronic device testing equipment
US4931723A (en) Automatic test system having a "true tester-per-pin" architecture
US4994732A (en) Automatic test system having a "true tester-per-pin" architecture
US4785416A (en) Microprocessor timing emulator having a "Wait" state
JP2674709B2 (en) Automatic circuit tester control system
US4759021A (en) Test pattern generator
EP0228332B1 (en) Automatic test system having a "true tester-per-pin" architecture
US8418011B2 (en) Test module and test method
US6009546A (en) Algorithmic pattern generator
US6006350A (en) Semiconductor device testing apparatus and method for testing memory and logic sections of a semiconductor device
JP2001297598A (en) Semiconductor integrated circuit device, and self-test method for semiconductor integrated circuit device
JPH10148660A (en) Loop sequencer of pattern generator
JPWO2002056043A1 (en) Semiconductor device testing apparatus and method
JP4616434B2 (en) PATTERN GENERATOR, PATTERN GENERATION METHOD, AND TEST DEVICE
KR20080105512A (en) Test system and test method for semiconductor device
JP3481689B2 (en) Semiconductor test equipment
JP2000162287A (en) Pattern generator for creating pattern signal
JPH0619594A (en) Control device
US20050289421A1 (en) Semiconductor chip
US6996755B2 (en) Squence control circuit
JP3210236B2 (en) Pattern generator for IC test equipment
JPH0575985B2 (en)
JPS62259145A (en) Generating device for algorithmic pattern
JPH10319096A (en) Semiconductor testing device
JPH0862303A (en) High speed pattern generator

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20040203