JPH10144575A - Chip type solid electrolytic capacitor and its packaging method - Google Patents
Chip type solid electrolytic capacitor and its packaging methodInfo
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- JPH10144575A JPH10144575A JP8293515A JP29351596A JPH10144575A JP H10144575 A JPH10144575 A JP H10144575A JP 8293515 A JP8293515 A JP 8293515A JP 29351596 A JP29351596 A JP 29351596A JP H10144575 A JPH10144575 A JP H10144575A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は導電性高分子を固体
電解質として用いたチップ形固体電解コンデンサおよび
その包装方法に関するものである。The present invention relates to a chip-type solid electrolytic capacitor using a conductive polymer as a solid electrolyte and a method for packaging the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】最近、電子機器の小型化・高周波化が進
み、これに使用されるコンデンサも高周波で低インピー
ダンスが実現できる導電性高分子を固体電解質として用
いた固体電解コンデンサが商品化されてきている。そし
てこの固体電解コンデンサは高導電率の導電性高分子を
固体電解質として用いているため、従来の電解液を用い
た乾式電解コンデンサや二酸化マンガンを用いた固体電
解コンデンサに比べて、等価直列抵抗成分が低く、理想
に近い大容量でかつ小形の固体電解コンデンサを実現す
ることができることからさまざまな改善がなされ、次第
に市場にも受け入れられるようになってきた。2. Description of the Related Art In recent years, the miniaturization and high frequency of electronic devices have been advanced, and solid electrolytic capacitors using conductive polymers as solid electrolytes capable of realizing low impedance at high frequency have been commercialized. ing. Since this solid electrolytic capacitor uses a conductive polymer with high conductivity as a solid electrolyte, its equivalent series resistance component is lower than that of a dry electrolytic capacitor using a conventional electrolytic solution or a solid electrolytic capacitor using manganese dioxide. , A large-capacity and small-sized solid electrolytic capacitor close to the ideal can be realized, so that various improvements have been made, and the capacitor has been gradually accepted in the market.
【0003】また、これらの固体電解コンデンサは電子
機器の高密度実装に対応させるべく、電子部品の自動面
実装のためにエンボス加工を施した連続フープ状のエン
ボスキャリアテープに製品を連続的にテーピング包装し
た後、このエンボスキャリアテープをリールに巻き取っ
たものをそのまま包装箱に梱包して出荷していた。この
ような形態で包装されたチップ形固体電解コンデンサ
は、前記リールを自動実装機に装着した後、自動実装機
で回路基板上に自動実装することにより実装の効率化を
図ってきている。また面実装部品としては厳しい温度条
件下でのリフローやフロー半田付けに対応できる半田耐
熱性が必要であり、したがってこれらの半田耐熱性を確
保するためにさまざまな改善がなされたチップ形固体電
解コンデンサの開発が進められている。In addition, in order to cope with high-density mounting of electronic equipment, these solid electrolytic capacitors are continuously taped on an embossed continuous hoop-shaped embossed carrier tape for automatic surface mounting of electronic components. After packaging, the embossed carrier tape was wound up on a reel and packed as it is in a packaging box before shipment. The mounting efficiency of the chip-type solid electrolytic capacitor packaged in this manner has been improved by mounting the reel on an automatic mounting machine and then automatically mounting the reel on a circuit board by the automatic mounting machine. In addition, surface mount components must have solder heat resistance that can withstand reflow and flow soldering under severe temperature conditions.Therefore, chip solid electrolytic capacitors with various improvements made to ensure these solder heat resistances Is being developed.
【0004】[0004]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た導電性高分子を固体電解質層として用いたコンデンサ
素子を外装樹脂でモールドした従来のチップ形固体電解
コンデンサにおいては、回路基板上に実装され、そして
半田付けのためにリフローやフローの条件の高温下に曝
された場合に、コンデンサ特性の変化や長期信頼性上で
の特性変化を引き起こす場合が希に認められる場合があ
る。However, in a conventional chip-type solid electrolytic capacitor in which a capacitor element using the above-described conductive polymer as a solid electrolyte layer is molded with an exterior resin, the capacitor element is mounted on a circuit board, and When exposed to high temperatures of reflow or flow conditions for soldering, it is rarely found that a change in capacitor characteristics or a change in characteristics over long-term reliability is caused.
【0005】この原因を研究した結果、以下のようであ
ることが判明した。すなわち、導電性高分子を固体電解
質として用いたコンデンサ素子を外装樹脂でモールドし
たチップ形固体電解コンデンサは製造工程で製造される
場合、コンデンサ素子を外装樹脂でモールドした後も、
この外装樹脂を硬化させる工程など、多くの熱工程を経
た後出荷しているため、出荷時はほぼ乾燥状態となって
いるものであり、したがって、この状態で半田付け条件
下の高温状態に曝されてもコンデンサ特性の変化や長期
信頼性上での特性変化を引き起こすことは全くないこと
が確認されている。[0005] As a result of studying the cause, the following has been found. In other words, when a chip-type solid electrolytic capacitor in which a capacitor element using a conductive polymer as a solid electrolyte is molded with an exterior resin is manufactured in a manufacturing process, even after the capacitor element is molded with an exterior resin,
Since the product is shipped after going through many heat processes such as the process of curing the exterior resin, it is almost dry at the time of shipment. Therefore, in this state, it is exposed to a high temperature condition under soldering conditions. It has been confirmed that no change in capacitor characteristics or change in long-term reliability characteristics will occur at all.
【0006】しかしながら、出荷後は、物流の過程で季
節変化や環境変化の影響を受けるもので、特に梅雨時や
船舶を利用した場合のコンテナ内輸送においては、場合
によっては室温が60℃程度まで上がり、かつ相対湿度
も90%程度まで上昇する場合があり、そしてこのよう
な環境下ではコンデンサ素子をモールドした外装樹脂が
その雰囲気の水分を吸収し、かなりの量の水分を吸湿し
た状態となる。[0006] However, after shipment, it is subject to seasonal changes and environmental changes in the distribution process. Particularly, in the case of transportation in containers during the rainy season or when using a ship, the room temperature may be up to about 60 ° C. And the relative humidity may rise to about 90%, and under such an environment, the exterior resin in which the capacitor element is molded absorbs the moisture in the atmosphere and becomes a state of absorbing a considerable amount of moisture. .
【0007】このような環境下での物流を経たチップ形
固体電解コンデンサは、吸湿した状態で上記半田付けの
高温条件下に曝されるため、固体電解コンデンサの素子
が急激に高温に温度上昇し、そして吸湿した水分が沸騰
して爆発的に体積膨張することにより、外装樹脂にクラ
ックが入ったり、リードフレームと外装樹脂との界面に
剥離が生じたりしてコンデンサの漏れ電流値が増大した
り、外装気密性が暴露されてしまうことがあることがわ
かった。このように外装気密性が暴露されてしまうと大
気中の酸素がコンデンサ素子まで侵入して、固体電解質
である導電性高分子と反応して導電性高分子の電導度を
劣化させることになり、これにより、コンデンサ特性が
除々に変化していくというメカニズムであることが判明
した。The chip-type solid electrolytic capacitor that has passed through such an environment is exposed to the above-mentioned high temperature conditions of soldering while absorbing moisture, and the temperature of the elements of the solid electrolytic capacitor rapidly rises to a high temperature. In addition, due to the explosive expansion of the volume due to the boiling of the absorbed moisture, cracks may occur in the exterior resin or peeling may occur at the interface between the lead frame and the exterior resin, thereby increasing the leakage current value of the capacitor. It was found that the exterior airtightness was sometimes exposed. When the exterior airtightness is exposed in this way, oxygen in the atmosphere penetrates to the capacitor element, reacts with the conductive polymer which is a solid electrolyte, and deteriorates the conductivity of the conductive polymer, This proved that the mechanism was such that the capacitor characteristics gradually changed.
【0008】本発明はこのような従来の問題点を解決す
るもので、チップ形固体電解コンデンサが高温高湿下の
環境に長時間放置された後、回路基板に実装されて半田
付けのための高温加熱を受けたとしてもコンデンサ特性
およびその信頼性に不具合を起こすことのないチップ形
固体電解コンデンサを提供することを目的とするもので
ある。The present invention solves such a conventional problem. After a chip type solid electrolytic capacitor is left for a long time in an environment of high temperature and high humidity, it is mounted on a circuit board and soldered. It is an object of the present invention to provide a chip-type solid electrolytic capacitor which does not cause a problem in the characteristics and reliability of the capacitor even when heated at a high temperature.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明のチップ形固体電解コンデンサは、弁作用を有
する金属からなる電極体の表面に陽極酸化皮膜を設け、
この陽極酸化皮膜上に少なくとも導電性高分子を含む固
体電解質層を設け、この固体電解質層上に陰極導電体層
を設けたコンデンサ素子と、このコンデンサ素子に接続
されるリードフレームと、このリードフレームの一部が
外部に導出されるように前記コンデンサ素子をモールド
する外装樹脂を備え、前記外装樹脂の表面に防湿性のコ
ーティング材を塗布したもので、この構成によれば、チ
ップ形固体電解コンデンサが高温高湿下の環境に長時間
放置された後、回路基板に実装されて半田付けのための
高温加熱を受けたとしてもコンデンサ特性およびその信
頼性に不具合を起こすことはなくなるものである。In order to achieve the above object, a chip-type solid electrolytic capacitor of the present invention is provided with an anodic oxide film on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action.
A capacitor element comprising a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer provided on the anodic oxide film and a cathode conductor layer provided on the solid electrolyte layer; a lead frame connected to the capacitor element; and a lead frame connected to the capacitor element. Is provided with an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the exterior is led out, and a moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin. According to this configuration, the chip-type solid electrolytic capacitor Even if the capacitor is left in a high-temperature and high-humidity environment for a long time and then mounted on a circuit board and subjected to high-temperature heating for soldering, it does not cause a problem in the characteristics and reliability of the capacitor.
【0010】[0010]
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、弁作用を有する金属からなる電極体の表面に陽極酸
化皮膜を設け、この陽極酸化皮膜上に少なくとも導電性
高分子を含む固体電解質層を設け、この固体電解質層上
に陰極導電体層を設けたコンデンサ素子と、このコンデ
ンサ素子に接続されるリードフレームと、このリードフ
レームの一部が外部に導出されるように前記コンデンサ
素子をモールドする外装樹脂を備え、前記外装樹脂の表
面に防湿性のコーティング材を塗布したもので、この構
成によれば、リードフレームの一部が外部に導出される
ようにコンデンサ素子をモールドする外装樹脂の表面に
防湿性のコーティング材が塗布された状態となっている
ため、高温高湿の環境下に長時間放置されたとしても、
防湿性のコーティング材が水分の侵入を阻止することに
なり、これにより,水分がコンデンサ素子の内部に到達
するのを遅らせることができるため、同じ環境下に置か
れた場合でもコンデンサ素子をモールドする外装樹脂が
吸湿する水分は少なくなる。そして吸湿が少なくなるこ
とにより、物流の後、回路基板に実装されて半田付けの
ための高温加熱を受けたとしてもコンデンサ特性および
その信頼性に不具合を起こすということはなくなる。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS According to the first aspect of the present invention, an anodic oxide film is provided on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action, and the anodic oxide film contains at least a conductive polymer. A capacitor element having a solid electrolyte layer, a cathode conductor layer provided on the solid electrolyte layer, a lead frame connected to the capacitor element, and the capacitor so that a part of the lead frame is led out. An exterior resin for molding the element is provided, and a moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin. According to this configuration, the capacitor element is molded so that a part of the lead frame is led out. Because the moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin, even if left for a long time in a high-temperature and high-humidity environment,
The moisture-proof coating prevents moisture from penetrating, thereby delaying the water from reaching the inside of the capacitor element, so that the capacitor element is molded even in the same environment. The moisture absorbed by the exterior resin is reduced. By reducing the moisture absorption, even if the capacitor is mounted on a circuit board and subjected to high-temperature heating for soldering after distribution, no problem occurs in the characteristics and reliability of the capacitor.
【0011】請求項2に記載の発明は、防湿性のコーテ
ィング材として有機溶媒に溶かしたフッ素系のコーティ
ング材を用いたもので、揮発性の有機溶媒に溶かしたフ
ッ素系の防湿性コーティング材を用いることにより、外
装樹脂でコンデンサ素子をモールドして外装成形を施し
た後、防湿性のコーティング材を外装樹脂の表面に塗布
する場合にリードフレームごとこのコーティング材にデ
ィップして塗布することができ、しかも揮発性の有機溶
媒を用いているため、乾燥処理も短時間で行うことがで
き、塗布工程の簡略化が図れるものである。According to a second aspect of the present invention, a fluorine-based coating material dissolved in an organic solvent is used as a moisture-proof coating material, and the fluorine-based moisture-proof coating material dissolved in a volatile organic solvent is used. By using, the capacitor element is molded with the exterior resin, the exterior molding is performed, and then when the moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin, the lead frame can be dipped and applied to this coating material. In addition, since a volatile organic solvent is used, the drying process can be performed in a short time, and the coating process can be simplified.
【0012】請求項3に記載の発明は、弁作用を有する
金属からなる電極体の表面に陽極酸化皮膜を設け、この
陽極酸化皮膜上に少なくとも導電性高分子を含む固体電
解質層を設け、この固体電解質層上に陰極導電体層を設
けたコンデンサ素子と、このコンデンサ素子に接続され
るリードフレームと、このリードフレームの一部が外部
に導出されるように前記コンデンサ素子をモールドする
外装樹脂を備えたチップ形固体電解コンデンサをエンボ
スキャリアテープに設けたエンボスポケットに収納し、
かつこのエンボスキャリアテープをリールに巻き取り、
さらにこのリールを包装材料で包装して密封する際、乾
燥剤を同封して密封するようにしたもので、この包装方
法によれば、出荷後、物流の過程で季節変化や環境変化
の影響を受け、特に梅雨時や船舶を利用した場合のコン
デンサ内輸送においては、場合によっては室温が60℃
程度まで上がり、かつ相対湿度も90%程度まで上昇す
る場合があるが、このような高温高湿の環境下に放置さ
れたとしても、チップ形固体電解コンデンサをエンボス
キャリアテープに設けたエンボスポケットに収納し、か
つこのエンボスキャリアテープをリールに巻き取り、さ
らにこのリールを包装材料で包装して密封する際、乾燥
剤を同封して密封するようにしているため、チップ形固
体電解コンデンサ自体はほとんど吸湿しない状態を実現
することができるものである。このことにより、回路基
板に実装されて半田付けのための高温加熱を受けたとし
てもコンデンサ特性およびその信頼性に不具合を起こす
ということはなくなるものである。According to a third aspect of the present invention, an anodic oxide film is provided on a surface of an electrode body made of a metal having a valve action, and a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer is provided on the anodic oxide film. A capacitor element having a cathode conductor layer provided on a solid electrolyte layer, a lead frame connected to the capacitor element, and an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out. The chip type solid electrolytic capacitor provided is stored in the embossed pocket provided on the embossed carrier tape,
And take up this embossed carrier tape on a reel,
Furthermore, when the reel is packed and sealed with a packaging material, a desiccant is enclosed and sealed. According to this packing method, the effects of seasonal changes and environmental changes in the distribution process after shipping are achieved. In particular, when transporting in a condenser during the rainy season or when using a ship, the room temperature may be 60 ° C in some cases.
And the relative humidity may also rise to about 90%. However, even if the chip-type solid electrolytic capacitor is left in such a high-temperature and high-humidity environment, the chip-type solid electrolytic capacitor is placed in the embossed pocket provided on the embossed carrier tape. When storing and winding this embossed carrier tape on a reel, and then wrapping this reel with a packaging material and sealing it, a desiccant is enclosed and sealed. It is possible to realize a state that does not absorb moisture. As a result, even if the capacitor is mounted on a circuit board and subjected to high-temperature heating for soldering, it does not cause a problem in the characteristics and reliability of the capacitor.
【0013】請求項4に記載の発明は、弁作用を有する
金属からなる電極体の表面に陽極酸化皮膜を設け、この
陽極酸化皮膜上に少なくとも導電性高分子を含む固体電
解質層を設け、この固体電解質層上に陰極導電体層を設
けたコンデンサ素子と、このコンデンサ素子に接続され
るリードフレームと、このリードフレームの一部が外部
に導出されるように前記コンデンサ素子をモールドする
外装樹脂を備えたチップ形固体電解コンデンサをエンボ
スキャリアテープに設けたエンボスポケットに収納し、
かつこのエンボスキャリアテープをリールに巻き取り、
さらにこのリールを耐湿性を有する包装材料で包装して
密封するようにしたもので、この包装方法においても、
請求項3に記載の発明と同様に、出荷後、物流の過程で
高温高湿の環境下に放置されたとしても防湿性を有する
包装材料によってチップ形固体電解コンデンサが密封さ
れているため、チップ形固体電解コンデンサ自体はほと
んど吸湿しない状態を実現することができるものであ
る。このことにより、回路基板に実装されて半田付けの
ための高温加熱を受けたとしてもコンデンサ特性および
その信頼性に不具合を起こすということはなくなるもの
である。According to a fourth aspect of the present invention, an anodic oxide film is provided on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action, and a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer is provided on the anodic oxide film. A capacitor element having a cathode conductor layer provided on a solid electrolyte layer, a lead frame connected to the capacitor element, and an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out. The chip type solid electrolytic capacitor provided is stored in the embossed pocket provided on the embossed carrier tape,
And take up this embossed carrier tape on a reel,
Furthermore, the reel is wrapped with a moisture-resistant packaging material and sealed, and in this packaging method,
Similarly to the invention according to claim 3, since the chip-type solid electrolytic capacitor is sealed with the moisture-proof packaging material even if it is left in a high-temperature and high-humidity environment in the distribution process after shipping, The solid electrolytic capacitor itself can realize a state that hardly absorbs moisture. As a result, even if the capacitor is mounted on a circuit board and subjected to high-temperature heating for soldering, it does not cause a problem in the characteristics and reliability of the capacitor.
【0014】次に本発明の具体的な実施の形態について
添付図面に基づいて説明する。 (実施の形態1)図1は本発明の実施の形態1における
チップ形固体電解コンデンサのコンデンサ素子の構成を
示したもので、まず、弁作用を有する金属である純度9
9.99%のアルミニウムからなる電極体1の表面を公
知の方法で電解エッチングして粗面化し、その後、濃度
が3%のアジピン酸アンモニウム水溶液で59Vの電圧
を印加して30分間化成を行うことにより、電極体1の
表面に誘電体である酸化アルミニウムの陽極酸化皮膜2
を形成した。次にこの電極体1の打ち抜き断面部分を再
び濃度が3%のアジピン酸アンモニウム水溶液中で59
Vの電圧を印加して30分間断面化成してから、ピロー
ル0.1モルとアルキルナフタレンスルフォン酸塩0.
15モルを含有する水溶液中に浸漬して電解重合させる
ことにより、ポリピロールの導電性高分子を均一に析出
させて固体電解質層3を形成した。Next, specific embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. (Embodiment 1) FIG. 1 shows a configuration of a capacitor element of a chip-type solid electrolytic capacitor according to Embodiment 1 of the present invention.
The surface of the electrode body 1 made of 9.99% aluminum is electrolytically etched by a known method to roughen the surface, and then a voltage of 59 V is applied with a 3% aqueous solution of ammonium adipate to form a surface for 30 minutes. Thus, the anodic oxide film 2 of aluminum oxide, which is a dielectric, is formed on the surface of the electrode body 1.
Was formed. Next, the punched cross section of the electrode body 1 was again placed in a 3% aqueous solution of ammonium adipate for 59%.
After applying a voltage of 30 V to form a cross-section for 30 minutes, 0.1 mol of pyrrole and 0.1 mol of alkyl naphthalene sulfonate were added.
The polymer was immersed in an aqueous solution containing 15 mol and subjected to electrolytic polymerization, whereby a conductive polymer of polypyrrole was uniformly deposited to form a solid electrolyte layer 3.
【0015】そしてこの固体電解質層3の上にカーボン
ペイント層および銀ペイント層よりなる陰極導電体層4
を形成してコンデンサ素子5を構成した。On the solid electrolyte layer 3, a cathode conductor layer 4 composed of a carbon paint layer and a silver paint layer
Was formed to form the capacitor element 5.
【0016】以上のようにして構成したコンデンサ素子
5に図2に示すようにリードフレーム6を接続し、そし
てこのリードフレーム6の一部が外部に導出されるよう
にコンデンサ素子5をエポキシ樹脂からなる外装樹脂7
でモールドして外装成形を行った後、リードフレーム6
の端子加工とエージング処理を行ってチップ形固体電解
コンデンサを構成した。As shown in FIG. 2, a lead frame 6 is connected to the capacitor element 5 constructed as described above, and the capacitor element 5 is made of epoxy resin so that a part of the lead frame 6 is led out. Exterior resin 7
After performing exterior molding by molding with a lead frame 6
A chip-type solid electrolytic capacitor was formed by performing terminal processing and aging treatment of the above.
【0017】そしてこのチップ形固体電解コンデンサを
シリコンオイルまたはイソブチレンゴムの溶液中に浸漬
して外装樹脂7の表面に防湿性のコーティング材8を塗
布したものと、5torrで5分間真空含浸して外装樹
脂7の表面に防湿性のコーティング材8を塗布したもの
をそれぞれ125℃で1時間乾燥させてチップ形固体電
解コンデンサを構成した。上記のようにして構成したそ
れぞれのチップ形固体電解コンデンサを温度60℃で相
対湿度90%の雰囲気下に500時間放置してその重量
変化から吸湿率を測定した結果を(表1)に示す。Then, the chip type solid electrolytic capacitor is immersed in a solution of silicon oil or isobutylene rubber to apply a moisture-proof coating material 8 on the surface of the exterior resin 7, and is vacuum impregnated at 5 torr for 5 minutes. A resin having a moisture-proof coating material 8 applied to the surface of the resin 7 was dried at 125 ° C. for 1 hour to form a chip-type solid electrolytic capacitor. Each chip-type solid electrolytic capacitor constructed as described above was left for 500 hours in an atmosphere at a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90%, and the result of measuring the moisture absorption from the change in weight is shown in Table 1.
【0018】[0018]
【表1】 [Table 1]
【0019】(実施の形態2)防湿性のコーティング材
8として、住友スリーエム(株)製のフロラードFC−
722(フッ素系のポリマー固形分を2%含有するパー
フロロカーボン溶媒で希釈したもの)を用い、この溶液
中に浸漬して外装樹脂7の表面に防湿性のコーティング
材8を塗布したものと、真空含浸して外装樹脂7の表面
にコーティング材8を塗布したものをそれぞれ常温で3
0分間放置して溶媒を揮発させてチップ形固体電解コン
デンサを構成した。そしてこれらのチップ形固体電解コ
ンデンサを温度60℃で相対湿度90%の雰囲気下に5
00時間放置してその重量変化から吸湿率を測定した結
果を合わせて上記(表1)に示した。(Embodiment 2) As the moisture-proof coating material 8, Florad FC- manufactured by Sumitomo 3M Limited is used.
722 (diluted with a perfluorocarbon solvent containing 2% of a fluorine-based polymer solid content), and immersed in this solution to apply a moisture-proof coating material 8 on the surface of the exterior resin 7; Impregnated and coated with a coating material 8 on the surface of the exterior resin 7 at room temperature
The mixture was left for 0 minutes to evaporate the solvent to form a chip-type solid electrolytic capacitor. Then, these chip-type solid electrolytic capacitors are placed in an atmosphere at a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90%.
The results obtained by measuring the moisture absorption from the change in weight after leaving for 00 hours are shown in Table 1 above.
【0020】(比較例1)防湿性のコーティング材8を
塗布せずに実施の形態1と同様にして構成したチップ形
固体電解コンデンサを温度60℃で相対湿度90%の雰
囲気下に500時間放置してその重量変化から吸湿率を
測定した結果も合わせて上記(表1)に示した。Comparative Example 1 A chip-type solid electrolytic capacitor constructed in the same manner as in Embodiment 1 without applying the moisture-proof coating material 8 was left in an atmosphere at a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90% for 500 hours. The results obtained by measuring the moisture absorption from the change in weight are also shown in Table 1 above.
【0021】また、上記した本発明の実施の形態1,2
で示した条件下に放置した供試コンデンサを250℃の
雰囲気下に210秒間放置して半田耐熱試験を実施した
場合の漏れ電流の変化と半田耐熱後の125℃高温中で
の500時間放置試験における容量変化およびtanδ
変化の異常値の発生率を異常率として各条件別に(表
2)に示した。この異常率とは、測定したデータの群か
ら離れて変化しているものの発生率を表したものであ
る。このとき高温高湿下に放置しない供試コンデンサ
(比較例1)の試験に関しても合わせてそのデータを
(表2)に示した。The first and second embodiments of the present invention described above
Changes in leakage current when the test capacitor left for 2 seconds at 250 ° C. in an atmosphere at 250 ° C. and the test for 500 hours at 125 ° C. and high temperature after solder heat resistance Change and tan δ
The occurrence rate of the abnormal value of the change is shown in Table 2 for each condition as the abnormal rate. The anomaly rate represents the occurrence rate of the data that changes away from the group of measured data. At this time, the data of the test of the test capacitor (Comparative Example 1) which is not left under high temperature and high humidity are shown in Table 2 together.
【0022】[0022]
【表2】 [Table 2]
【0023】上記した本発明の実施の形態1,2と比較
例1とを比較した(表1)および(表2)の測定結果か
ら、防湿性のコーティング材8を外装樹脂7の表面に塗
布したものは塗布しないものに比べると、外装樹脂7へ
の吸湿率が少なくなっていることがわかる。またコーテ
ィング材8を真空含浸したものは浸漬だけのものよりも
その吸湿率は若干少なくなる傾向が認められた。さらに
コーティング材8としてフッ素系のものを用いた場合は
その吸湿率はその他のコーティング材8に比較して少な
くなる傾向が認められ、防湿性のコーティング材として
の効果が大きいことがうかがわれる。From the measurement results (Table 1) and (Table 2) comparing Embodiments 1 and 2 of the present invention and Comparative Example 1, the moisture-proof coating material 8 was applied to the surface of the exterior resin 7. It can be seen that the cured product has a lower moisture absorption rate to the exterior resin 7 than the non-coated one. It was also found that the vacuum impregnation of the coating material 8 had a slightly lower moisture absorption than that of the coating material 8 alone. Furthermore, when a fluorine-based material is used as the coating material 8, the moisture absorption rate tends to be lower than that of the other coating materials 8, which indicates that the effect as a moisture-proof coating material is large.
【0024】また、(表1)において吸湿率が低いもの
は(表2)から半田耐熱時の漏れ電流の変化が小さくな
っていることがわかる。また、半田耐熱後の125℃の
高温中での放置試験で特性変化(容量変化、tanδ変
化)を引き起こす確率も低いことがわかる。これに対し
て吸湿率が高いほど逆の傾向になっていることがうかが
われ、したがって吸湿を抑制する防湿性のコーティング
材8を外装樹脂7の表面に塗布することが有効な構成で
あることが確認できた。In Table 1, those having a low moisture absorption rate show in Table 2 that the change in leakage current during solder heat resistance is small. Further, it can be seen that the probability of causing a characteristic change (capacitance change, tan δ change) in a standing test at a high temperature of 125 ° C. after solder heat resistance is low. On the other hand, it is apparent that the higher the moisture absorption rate, the more the tendency is reversed. Therefore, it is effective to apply the moisture-proof coating material 8 for suppressing moisture absorption to the surface of the exterior resin 7. Was confirmed.
【0025】(実施の形態3)本発明の実施の形態1で
示した防湿性のコーティング材8を外装樹脂7の表面に
塗布していないチップ形固体電解コンデンサ9を、図3
に示すようにエンボスキャリアテープ10に設けたエン
ボスポケット11内に収納し、そしてシールテープ12
でカバーして製品を包装した後、前記エンボスキャリア
テープ10をリール13に巻き取り、そしてこの巻き取
りが終わったリール13は、図4に示すように、厚さ7
0μmのポリエチレン製の包装袋14に入れ、そしてこ
の包装袋14の開口部を熱溶着して密封包装する際に、
シリカゲルの乾燥剤15を同封して密封し、その後、こ
れらを図5に示す包装箱16に入れて梱包した。(Embodiment 3) A chip-type solid electrolytic capacitor 9 in which the moisture-proof coating material 8 shown in Embodiment 1 of the present invention is not applied to the surface of the exterior resin 7 is shown in FIG.
As shown in FIG. 2, the tape is housed in an embossed pocket 11 provided in an embossed carrier tape 10 and a sealing tape 12
Then, the embossed carrier tape 10 is wound on a reel 13, and the reel 13 finished with the winding has a thickness of 7 as shown in FIG.
In a 0 μm polyethylene packaging bag 14, and when the opening of the packaging bag 14 is heat-sealed for hermetic packaging,
A desiccant 15 of silica gel was enclosed and hermetically sealed, and then placed in a packaging box 16 shown in FIG.
【0026】以上のようにして梱包したものを、加速評
価として温度が60℃で、かつ相対湿度が90%の高温
高湿の雰囲気下に500時間放置してその後に包装を開
梱した後、個別に取り出したチップ形固体電解コンデン
サ9を250℃の雰囲気下に210秒間放置して半田耐
熱試験を実施した場合の漏れ電流値の変化と半田耐熱後
の125℃の高温中での500時間放置試験における容
量変化およびtanδ値変化を測定し、そして測定した
データの群から離れて変化しているものの発生率を異常
率としてその結果を(表3)に示した。また高温高湿下
に放置する前後の重量変化から吸湿率を測定し、その値
も合わせて(表3)に示した。The packaged as above is left for 500 hours in a high-temperature and high-humidity atmosphere at a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90% as an accelerated evaluation, and then the package is opened. Change in leakage current value when a solder heat resistance test is performed by leaving the chip-type solid electrolytic capacitors 9 individually taken out in an atmosphere of 250 ° C. for 210 seconds and leaving them at a high temperature of 125 ° C. after solder heat resistance for 500 hours The change in the capacity and the change in the tan δ value in the test were measured, and the results were shown in Table 3 with the occurrence rate of those that changed apart from the group of measured data as the abnormal rate. The moisture absorption was measured from the change in weight before and after being left under high temperature and high humidity, and the value was also shown in Table 3 below.
【0027】[0027]
【表3】 [Table 3]
【0028】(実施の形態4)本発明の実施の形態3と
同様に、本発明の実施の形態1で示した防湿性のコーテ
ィング材8を外装樹脂7の表面に塗布していないチップ
形固体電解コンデンサ9を、図3に示すようにエンボス
キャリアテープ10に設けたエンボスポケット11内に
収納し、そしてシールテープ12でカバーして製品を包
装した後、前記エンボスキャリアテープ10をリール1
3に巻き取り、そしてこの巻き取りが終わったリール1
3は、図4に示すように、アルミ箔をポリエチレンフィ
ルムとポリエステルフィルムでラミネートした厚さ12
0μmの防湿性の包装袋14に入れ、そしてこの包装袋
14の開口部を熱溶着して密封包装した後、図5に示す
包装箱16に入れて梱包した。(Embodiment 4) As in Embodiment 3 of the present invention, a chip-shaped solid in which the moisture-proof coating material 8 shown in Embodiment 1 of the present invention is not applied to the surface of the exterior resin 7 The electrolytic capacitor 9 is housed in an embossed pocket 11 provided on an embossed carrier tape 10 as shown in FIG. 3, and is covered with a sealing tape 12 to package the product.
Reel 3 and reel 1 after this winding
3 has a thickness of 12 in which an aluminum foil is laminated with a polyethylene film and a polyester film, as shown in FIG.
It was placed in a moisture-proof packaging bag 14 having a thickness of 0 μm, and the opening of the packaging bag 14 was heat-sealed and hermetically sealed, and then placed in a packaging box 16 shown in FIG.
【0029】以上のようにして梱包したものを、加速評
価として温度が60℃で、かつ相対湿度が90%の高温
高湿の雰囲気下に500時間放置してその後に包装を開
梱した後、個別に取り出したチップ形固体電解コンデン
サ9を250℃の雰囲気下に210秒間放置して半田耐
熱試験を実施した場合の漏れ電流値の変化と半田耐熱後
の125℃の高温中での500時間放置試験における容
量変化およびtanδ値変化を測定し、そして測定した
データの群から離れて変化しているものの発生率を異常
率としてその結果を(表3)に示した。また高温高湿下
に放置する前後の重量変化から吸湿率を測定し、その値
も合わせて(表3)に示した。The packaged as above was left for 500 hours in a high-temperature, high-humidity atmosphere at a temperature of 60 ° C. and a relative humidity of 90% as an accelerated evaluation, and then the package was opened. Change in leakage current value when a solder heat resistance test is performed by leaving the chip-type solid electrolytic capacitors 9 individually taken out in an atmosphere of 250 ° C. for 210 seconds and leaving them at a high temperature of 125 ° C. after solder heat resistance for 500 hours The change in the capacity and the change in the tan δ value in the test were measured, and the results were shown in Table 3 with the occurrence rate of those that changed apart from the group of measured data as the abnormal rate. The moisture absorption was measured from the change in weight before and after being left under high temperature and high humidity, and the value was also shown in Table 3 below.
【0030】(比較例2〜3)また本発明の実施の形態
3および4の比較例として、エンボスキャリアテープ1
0を巻き取ったリールを本発明のような包装袋14に包
装することなく包装箱16に入れて梱包した後、本発明
の実施の形態3および4と同様に高温高湿下に放置して
吸湿させたもの(比較例2)および高温高湿下には放置
しなかったもの(比較例3)に同様の半田耐熱試験を実
施した後、125℃の高温中に500時間放置した後の
容量変化およびtanδ値変化を測定し、そして測定し
たデータの群から離れて変化しているものの発生率を異
常率としてその結果も合わせて(表3)に示した。(Comparative Examples 2-3) As a comparative example of the third and fourth embodiments of the present invention, embossed carrier tape 1
After the reel wound with 0 is packed in the packaging box 16 without being packed in the packaging bag 14 as in the present invention, the reel is left under high temperature and high humidity as in the third and fourth embodiments of the present invention. The same solder heat resistance test was performed on the sample that had absorbed moisture (Comparative Example 2) and the sample that was not left under high temperature and high humidity (Comparative Example 3), and then the capacity after being left at 125 ° C. for 500 hours. The change and the change in tan δ value were measured, and the results are shown in Table 3 together with the occurrence rate of those that changed apart from the group of measured data as the abnormal rate.
【0031】(表3)の結果から明らかなように本発明
の実施の形態3および4では製品の吸湿率は比較例2に
比べて大幅に低くなっていることがわかる。またその程
度は本発明の実施の形態4では高温高湿下に放置しなか
った比較例3と同程度であり、したがって、この本発明
の実施の形態4を実施することにより、高温高湿下に放
置されてもほとんど水分を吸湿しないようにすることが
可能となる。As is clear from the results shown in Table 3, the moisture absorption of the products according to Embodiments 3 and 4 of the present invention is significantly lower than that of Comparative Example 2. In addition, the degree is the same as that of Comparative Example 3 in which the semiconductor device was not left under high temperature and high humidity in the fourth embodiment of the present invention. Even if left unattended, it is possible to hardly absorb moisture.
【0032】また、吸湿量が少なければ少ないほど半田
耐熱時の漏れ電流の変化が小さくなっていることもわか
る。そしてまた、半田耐熱後の125℃の高温中での放
置試験において特性変化を引き起こす確率も同様に低く
なることがわかる。これらの結果から、本発明の実施の
形態3もしくは4の包装方法を実施することが有効な手
段であることが確認できた。It can also be seen that the smaller the amount of moisture absorption, the smaller the change in leakage current during solder heat resistance. Further, it can be seen that the probability of causing a characteristic change in a standing test at a high temperature of 125 ° C. after solder heat resistance is similarly reduced. From these results, it was confirmed that implementing the packaging method according to the third or fourth embodiment of the present invention was an effective means.
【0033】なお、上記したチップ形固体電解コンデン
サ9の構成に用いたコーティング材8は、シリコンオイ
ル、イソブチレンゴム、フッ素系のポリマーなどの材料
で評価したが、防湿効果が得られるコーティング材であ
れば上記材料に限定されるものではない。またその塗布
方法に関しても浸漬および真空含浸で説明したが、その
形成方法もこれらに限定されるものではない。そしてま
た包装材料としては、厚さ70μmのポリエチレン製の
袋にシリカゲルの乾燥剤を同封する例やアルミ箔をラミ
ネートしたポリフィルムの例で説明したが、これらの材
料に限定されるものではなく、同様の効果が得られる材
料であれば同様に使用することができることは言うまで
もない。The coating material 8 used in the construction of the chip-type solid electrolytic capacitor 9 was evaluated with a material such as silicone oil, isobutylene rubber, or a fluorine-based polymer. However, the material is not limited to the above. Further, the method of application has been described with respect to immersion and vacuum impregnation, but the method of formation is not limited to these. Also, as the packaging material, the example of enclosing a desiccant of silica gel in a polyethylene bag having a thickness of 70 μm and the example of a polyfilm laminated with aluminum foil have been described, but are not limited to these materials. It goes without saying that any material that can achieve the same effect can be used similarly.
【0034】[0034]
【発明の効果】以上のように本発明のチップ形固体電解
コンデンサは、弁作用を有する金属からなる電極体の表
面に陽極酸化皮膜を設け、この陽極酸化皮膜上に少なく
とも導電性高分子を含む固体電解質層を設け、この固体
電解質層上に陰極導電体層を設けたコンデンサ素子と、
このコンデンサ素子に接続されるリードフレームと、こ
のリードフレームの一部が外部に導出されるように前記
コンデンサ素子をモールドする外装樹脂を備え、前記外
装樹脂の表面に防湿性のコーティング材を塗布したもの
で、この構成によれば、リードフレームの一部が外部に
導出されるようにコンデンサ素子をモールドする外装樹
脂の表面に防湿性のコーティング材が塗布された状態と
なっているため、高温高湿の環境下に長時間放置された
としても、防湿性のコーティング材が水分の侵入を阻止
することになり、これにより、水分がコンデンサ素子の
内部に到達するのを遅らせることができるため、同じ環
境下に置かれた場合でもコンデンサ素子をモールドする
外装樹脂が吸湿する水分は少なくなる。そして吸湿が少
なくなることにより、物流の後、回路基板に実装されて
半田付けのための高温加熱を受けたとしてもコンデンサ
特性およびその信頼性に不具合を起こすということはな
くなるものである。As described above, in the chip-type solid electrolytic capacitor of the present invention, an anodic oxide film is provided on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action, and the anodic oxide film contains at least a conductive polymer. A capacitor element provided with a solid electrolyte layer, and a cathode conductor layer provided on the solid electrolyte layer,
A lead frame connected to the capacitor element and an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out to the outside are provided, and a moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin. According to this configuration, a moisture-proof coating material is applied to the surface of the exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out to the outside. Even if left for a long time in a humid environment, the moisture-proof coating material will prevent moisture from penetrating, thereby delaying the moisture from reaching the inside of the capacitor element. Even when placed in an environment, the exterior resin for molding the capacitor element absorbs less moisture. By reducing the moisture absorption, even after being mounted on a circuit board and subjected to high-temperature heating for soldering after distribution, no problem occurs in the characteristics and reliability of the capacitor.
【図1】本発明の実施の形態におけるチップ形固体電解
コンデンサのコンデンサ素子の構成を示す破断斜視図FIG. 1 is a cutaway perspective view showing a configuration of a capacitor element of a chip-type solid electrolytic capacitor according to an embodiment of the present invention.
【図2】本発明の実施の形態1,2におけるチップ形固
体電解コンデンサの外観形状を示す斜視図FIG. 2 is a perspective view showing an external shape of a chip-type solid electrolytic capacitor according to Embodiments 1 and 2 of the present invention.
【図3】本発明の実施の形態3,4におけるチップ形固
体電解コンデンサをエンボスキャリアテープに収納した
状態を示す平面図FIG. 3 is a plan view showing a state in which a chip-type solid electrolytic capacitor according to Embodiments 3 and 4 of the present invention is housed in an embossed carrier tape.
【図4】同エンボスキャリアテープを巻き取ったリール
を包装袋に入れた状態を示す斜視図FIG. 4 is a perspective view showing a state in which the reel on which the embossed carrier tape is wound is placed in a packaging bag.
【図5】同包装袋を包装箱に入れて梱包した状態を示す
斜視図FIG. 5 is a perspective view showing a state in which the packaging bag is put in a packaging box and packed.
1 電極体 2 陽極酸化皮膜 3 固体電解質層 4 陰極導電体層 5 コンデンサ素子 6 リードフレーム 7 外装樹脂 8 コーティング材 9 チップ形固体電解コンデンサ 10 エンボスキャリアテープ 11 エンボスポケット 13 リール 14 包装袋 15 乾燥剤 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Electrode body 2 Anodized film 3 Solid electrolyte layer 4 Cathode conductor layer 5 Capacitor element 6 Lead frame 7 Outer resin 8 Coating material 9 Chip type solid electrolytic capacitor 10 Emboss carrier tape 11 Emboss pocket 13 Reel 14 Packaging bag 15 Drying agent
Claims (4)
面に陽極酸化皮膜を設け、この陽極酸化皮膜上に少なく
とも導電性高分子を含む固体電解質層を設け、この固体
電解質層上に陰極導電体層を設けたコンデンサ素子と、
このコンデンサ素子に接続されるリードフレームと、こ
のリードフレームの一部が外部に導出されるように前記
コンデンサ素子をモールドする外装樹脂を備え、前記外
装樹脂の表面に防湿性のコーティング材を塗布してなる
チップ形固体電解コンデンサ。An anodic oxide film is provided on a surface of an electrode body made of a metal having a valve action, a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer is provided on the anodic oxide film, and a cathode conductive film is provided on the solid electrolyte layer. A capacitor element provided with a body layer,
A lead frame connected to the capacitor element, and an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out, is provided with a moisture-proof coating material on the surface of the exterior resin. Chip type solid electrolytic capacitor.
に溶かしたフッ素系のコーティング材を用いた請求項1
に記載のチップ形固体電解コンデンサ。2. A fluorine-based coating material dissolved in an organic solvent as a moisture-proof coating material.
2. The chip-type solid electrolytic capacitor according to item 1.
面に陽極酸化皮膜を設け、この陽極酸化皮膜上に少なく
とも導電性高分子を含む固体電解質層を設け、この固体
電解質層上に陰極導電体層を設けたコンデンサ素子と、
このコンデンサ素子に接続されるリードフレームと、こ
のリードフレームの一部が外部に導出されるように前記
コンデンサ素子をモールドする外装樹脂を備えたチップ
形固体電解コンデンサをエンボスキャリアテープに設け
たエンボスポケットに収納し、かつこのエンボスキャリ
アテープをリールに巻き取り、さらにこのリールを包装
材料で包装して密封する際、乾燥剤を同封して密封する
ようにしたチップ形固体電解コンデンサの包装方法。3. An anodic oxide film is provided on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action, a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer is provided on the anodic oxide film, and a cathode conductive film is provided on the solid electrolyte layer. A capacitor element provided with a body layer,
An embossed pocket provided on a embossed carrier tape with a lead frame connected to the capacitor element and a chip-type solid electrolytic capacitor provided with an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out. And packaging the embossed carrier tape on a reel, and further sealing and sealing the reel with a wrapping material, wherein a desiccant is enclosed and sealed.
面に陽極酸化皮膜を設け、この陽極酸化皮膜上に少なく
とも導電性高分子を含む固体電解質層を設け、この固体
電解質層上に陰極導電体層を設けたコンデンサ素子と、
このコンデンサ素子に接続されるリードフレームと、こ
のリードフレームの一部が外部に導出されるように前記
コンデンサ素子をモールドする外装樹脂を備えたチップ
形固体電解コンデンサをエンボスキャリアテープに設け
たエンボスポケットに収納し、かつこのエンボスキャリ
アテープをリールに巻き取り、さらにこのリールを耐湿
性を有する包装材料で包装して密封するようにしたチッ
プ形固体電解コンデンサの包装方法。4. An anodic oxide film is provided on the surface of an electrode body made of a metal having a valve action, a solid electrolyte layer containing at least a conductive polymer is provided on the anodic oxide film, and a cathode conductive layer is provided on the solid electrolyte layer. A capacitor element provided with a body layer,
An embossed pocket provided on a embossed carrier tape with a lead frame connected to the capacitor element and a chip-type solid electrolytic capacitor provided with an exterior resin for molding the capacitor element so that a part of the lead frame is led out. The embossed carrier tape is wound around a reel, and the reel is further packaged with a moisture-resistant packaging material and hermetically sealed.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8293515A JPH10144575A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Chip type solid electrolytic capacitor and its packaging method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP8293515A JPH10144575A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Chip type solid electrolytic capacitor and its packaging method |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004072577A Division JP2004165701A (en) | 2004-03-15 | 2004-03-15 | Method for packaging tipped solid electrolytic capacitor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH10144575A true JPH10144575A (en) | 1998-05-29 |
Family
ID=17795744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8293515A Pending JPH10144575A (en) | 1996-11-06 | 1996-11-06 | Chip type solid electrolytic capacitor and its packaging method |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JPH10144575A (en) |
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