JPH10142002A - Method for storing measured data - Google Patents

Method for storing measured data

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JPH10142002A
JPH10142002A JP29997796A JP29997796A JPH10142002A JP H10142002 A JPH10142002 A JP H10142002A JP 29997796 A JP29997796 A JP 29997796A JP 29997796 A JP29997796 A JP 29997796A JP H10142002 A JPH10142002 A JP H10142002A
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JP
Japan
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data
value
measurement data
measurement
straight line
Prior art date
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Pending
Application number
JP29997796A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroyuki Imai
裕之 今井
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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  • Recording Measured Values (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To thin out data efficiently and save storage capacity even when a change in changing rate of measured data is small. SOLUTION: After first data d0 and second data d1 are fetched, the data d0 and d1 are connected by a straight line at the sample time when third data d2 are fetched, and when a difference value Δd0 between a value d12 and actually measured value d1 on the straight line at the second sampling timing t1 is smaller than a specified reference value k, the data d0 and d1 are connected by a straight line again at a timing t3 when fourth data d3 are fetched. Then, when a difference value Δd01 between a value d13 and the actually measured value d1 on the new straight line at the second sampling timing t3 or a third difference value d02 is larger than the specified reference value k, and data d1 are abandoned (thinned out) and it is not stored.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、外部からの供給
される各種入力信号を記憶媒体に記憶させる測定データ
記憶装置の測定データ記憶方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a measurement data storage method for a measurement data storage device for storing various input signals supplied from the outside in a storage medium.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に、測定データ記憶装置は、所定の
サンプル周期(測定周期)で測定データを取込み、所定
の記憶周期で取込んだ測定データをフロッピディスクや
メモリカードなどの記憶媒体に記憶するようになってい
る。従来、記憶周期は測定周期よりも長いか、等しいよ
うに設定されている。そして、記憶周期の方が長い場合
は、記憶周期内に測定された複数のデータの“最大値、
最小値の2点”を記憶、“最大値のみを記憶”、“最小
値のみを記憶”、“平均値のみを記憶”など種々の方法
で代表値が記憶されている。これらは全て記憶周期毎の
記憶である。
2. Description of the Related Art Generally, a measurement data storage device fetches measurement data at a predetermined sampling period (measurement period) and stores the measurement data fetched at a predetermined storage period in a storage medium such as a floppy disk or a memory card. It has become. Conventionally, the storage period is set to be longer than or equal to the measurement period. If the storage cycle is longer, the “maximum value of a plurality of data measured during the storage cycle,
Representative values are stored by various methods such as storing the minimum two points, storing only the maximum value, storing only the minimum value, storing only the average value, etc. All of these are stored in the storage cycle. It is a memory for each.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記した従来の記憶周
期毎の種々の方法により得られる代表値の記憶は、細か
く変化する信号に対しては有効であるが、あまりに変化
しない測定信号に関しては意味のない測定データが多量
に記録されることになり、記憶媒体の容量の無駄使いと
なる、という問題がある。
The storage of representative values obtained by the above-mentioned various methods for each storage cycle is effective for a signal that changes finely, but is meaningful for a measurement signal that does not change very much. There is a problem that a large amount of measurement data without data is recorded and the capacity of the storage medium is wasted.

【0004】この発明は上記問題点に着目してなされた
ものであって、比較的細かい変化の少ない測定データで
あっても、記憶媒体の容量を無駄使いすることなく、効
率良く測定データを記憶し得る測定データ記憶方法を提
供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above problem, and efficiently stores measurement data without wasting the capacity of a storage medium even if the measurement data has relatively small changes. It is an object of the present invention to provide a measurement data storage method that can be performed.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段及び作用】この発明の測定
データ記憶方法は、測定データを所定の周期で取込み、
記憶手段に記憶する測定データ収集装置の測定データ記
憶方法であって、第1回目、第2回目及び第3回目の測
定データを取込み、第1回目と第3回目の測定値を直線
で結び、第2回目の実測定データと第2回目の取込み時
の直線上の値との第1の差値を算出し、この第1の差値
と所定の基準値を比較し、第1の差値の方が大きい場合
には、第1回目及び第2回目の測定データをそのまま記
憶し、次の第4回目の測定データ取込み時に、第2回
目、第3回目、第4回目の測定データにつき、第2回目
のデータを新たな第1回目のデータ、第3回目のデータ
を新たな第2回目のデータ、第4回目のデータを新たな
第3回目のデータとして上記と同様の処理を行う。前記
第1の差値が基準値より小さい場合は、次の第4回目の
データ取込みで、第1回目と第4回目の測定データの測
定値を直線で結び、第2回目の実測定データと第2回目
の取込み時の新たな直線上の値との第2の差値を算出
し、また第3の差値も同様に算出し、この第2、第3の
差値と前記所定の基準値を比較し、第2もしくは第3の
差値の方が大きい場合に、第2回目のデータを破棄し、
今回取込み時よりも1回前の第3回目の測定データを記
憶し、新たな第1回目の測定値として、以後測定データ
の取込み毎に上記と同様の処理を繰り返すようにしてい
る。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, there is provided a method for storing measured data, comprising the steps of:
A measurement data storage method of a measurement data collection device for storing in a storage means, wherein first, second, and third measurement data are fetched, and the first and third measurement values are connected by a straight line, A first difference value between the second actual measurement data and the value on the straight line at the time of the second acquisition is calculated, and the first difference value is compared with a predetermined reference value to obtain a first difference value. Is larger, the first and second measurement data are stored as they are, and at the time of the next fourth measurement data acquisition, the second, third, and fourth measurement data are The same processing as above is performed using the second data as new first data, the third data as new second data, and the fourth data as new third data. When the first difference value is smaller than the reference value, in the next fourth data acquisition, the measurement values of the first and fourth measurement data are connected by a straight line, and the second measurement data is A second difference value from the value on the new straight line at the time of the second acquisition is calculated, and a third difference value is calculated in the same manner, and the second and third difference values are compared with the predetermined reference value. Compare the values and discard the second data if the second or third difference is greater,
The third measurement data one time before the current acquisition is stored, and the same processing as above is repeated each time measurement data is acquired thereafter as a new first measurement value.

【0006】この発明は、測定値変化の少ないもの、あ
るいは測定値変化の無いものは、その間の測定値を取得
しても意味がないので、予め定めた所定値を外れない領
域で直線近似し、その直線の間の測定点は無視して直線
の始点と終点のみを記憶するものであり、記憶するデー
タ量を減らすことができる。
According to the present invention, since it is meaningless to acquire a measured value during a period in which a measured value change is small or a measured value does not change, a straight line approximation is performed in an area which does not deviate from a predetermined value. Since the measurement points between the straight lines are ignored, only the start point and the end point of the straight line are stored, and the amount of data to be stored can be reduced.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、実施の形態により、この発
明をさらに詳細に説明する。図1はこの発明の一実施形
態測定データ収集装置の構成を示すブロック図である。
この測定データ収集装置は、被測定物理量を検出する検
出器1と、検出器1で測定された測定測定信号をアナロ
グ量からデジタル量に変換するA/D変換器2と、A/
D変換器2から所定のサンプリング周期で測定データを
取込むCPU3と、取り込んだ測定データを一時的に記
憶する一時メモリ4と、収集データを記憶するデータメ
モリ5とから構成されている。従来はデータメモリ5に
は収集すべき測定データが一定周期毎に記憶されるが、
この発明の実施形態では、以下に説明する条件の充足に
よってデータが破棄され、つまり間引きされて記憶され
る。一時メモリ4には、間引き処理を行う前に、取込ま
れたデータが一時的に記憶される。以下で使用される記
憶領域D0 、D1 、……、D3 等はこの一時メモリ4に
割り当てられる。なお、検出器1は複数個あって、各検
出器から時分割的にCPU3にデータを取込むものであ
ってもよい。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to embodiments. FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a measurement data collection device according to an embodiment of the present invention.
The measurement data collection device includes a detector 1 for detecting a physical quantity to be measured, an A / D converter 2 for converting a measurement signal measured by the detector 1 from an analog quantity to a digital quantity,
It comprises a CPU 3 for taking in measured data from the D converter 2 at a predetermined sampling cycle, a temporary memory 4 for temporarily storing the taken in measured data, and a data memory 5 for storing collected data. Conventionally, measurement data to be collected is stored in the data memory 5 at regular intervals.
In the embodiment of the present invention, data is discarded when the conditions described below are satisfied, that is, data is thinned out and stored. The temporary memory 4 temporarily stores the captured data before performing the thinning process. The storage areas D 0 , D 1 ,..., D 3 used in the following are allocated to the temporary memory 4. It should be noted that there may be a plurality of detectors 1, and data may be taken into the CPU 3 from each detector in a time-sharing manner.

【0008】次に、この測定データ収集装置における記
憶処理、つまりデータ収集の動作を図3、図4、図5に
示すフローチャートを参照して説明する。データ収集の
測定動作が開始されると、先ずサンプルタイムが到来し
たか否かを判定する(ステップST〔以下STという〕
1)。サンプルタイムが到来すると、その時点のデータ
di(=d0 )を取込む(ST2)。次にi=0かの判
定を行う(ST3)が、初回値はi=0と設定されてい
るので、この判定がYESで、データd0 を一時メモリ
4の記憶領域D0 へ一時的に記憶する(ST4)。iを
1インクリメントして、ここではi=1として(ST
5)、ST1に戻る。そして次のサンプルタイムの到来
を待機する。サンプルタイムが到来すると、2回目のデ
ータd1 が取り込まれる(ST2)。ST3でi=0か
を判定するが、この場合判定はNOであるので、次のS
T6に進む。ST6ではi=1か否かを判定し、この段
階ではi=1なので、その時のデータd1 を記憶領域D
1 へ記憶して(ST7)、再度ステップST1に戻り、
次のサンプルタイムの到来を待つ。
Next, a storage process in the measurement data collection device, that is, a data collection operation will be described with reference to flowcharts shown in FIGS. 3, 4 and 5. When the measurement operation of data collection is started, it is first determined whether or not a sample time has arrived (step ST [hereinafter referred to as ST]).
1). When the sample time arrives, the data di (= d 0 ) at that time is fetched (ST2). Then i = 0 performs Kano determination (ST3) is because it is set initial value and i = 0, this determination is YES, the data d 0 temporarily to a storage area D 0 of the temporary memory 4 It is stored (ST4). i is incremented by one, and here i = 1 (ST
5) Return to ST1. Then, it waits for the next sample time to arrive. When the sample time arrives, the second data d 1 is captured (ST2). In ST3, it is determined whether i = 0. In this case, since the determination is NO, the next S
Proceed to T6. In ST6, it is determined whether i = 1 or not. At this stage, since i = 1, the data d 1 at that time is stored in the storage area D.
1 (ST7), and returns to step ST1 again.
Wait for the next sample time.

【0009】次のサンプルタイムが到来すると、その時
のデータdiを取込み(ST2)、i=0かを判定する
(ST3)が、ST3のi=0か、ST6のi=1か、
がいずれもNOであり、ST8に移り、i=2か、を判
定するが、この判定はYESなので、その時のデータd
2 を記憶領域D2 へ記憶する(ST9)。以上の第1回
目のデータの取込み時をt0 、第2回目をt1 、第3回
目のデータの取込み時をt3 とすると、データd0 、d
1 、d2 は、それぞれ図2に示す通りとなる。この状態
で記憶領域D0 、D2 の記憶値であるd0 とd2 を直線
で結び(ST10)、次に第2回目のデータであるi=
1の直線上の値d12と第2回目データd 1 との差値Δd
0 を求める(ST12)。次に、この求めた差値Δd0
が所定の基準値kよりも大きいか否か判定する(ST1
3)。判定がYESつまり差値が所定値より大きい場合
には、このデータd0 、d1 をデータメモリ5に記憶す
る(ST14)。さらに、記憶領域D1 の記憶内容を記
憶領域D0 に移し、同じく記憶領域D2 の記憶内容を記
憶領域D1 に移す(ST15)。変数iを2とし(ST
16)、ステップST1に戻る。ST1では次のサンプ
ルタイムすなわち、図2に示すt3 に示すタイミングが
到来すると、判定YESでその時のデータdiつまりデ
ータd2 として取込み、ST3でi=0か、ST6でi
=1か、を判定するがいずれも判定NOであり、ST8
でi=2か判定する。この判定はYESなので、ST9
に移り、その時のデータd2 を記憶領域D2 へ記憶する
(ST9)。そして、この時の記憶領域D0 と記憶領域
2 のデータを再び直線で結び(ST10)、前回の時
と同様、ST11からST13の処理を行い、同様の処
理を繰り返すことになる。
When the next sample time arrives,
(ST2), and determines whether i = 0
(ST3) is i = 0 of ST3, i = 1 of ST6,
Are NO, the process proceeds to ST8, and it is determined whether i = 2.
However, since this determination is YES, the data d at that time
TwoTo storage area DTwo(ST9). The first of the above
T is the time when the eye data is imported0, The second time t1, 3rd
T is the time when the eye data is importedThreeThen the data d0, D
1, DTwoAre as shown in FIG. This state
And storage area D0, DTwoD is the stored value of0And dTwoThe straight line
(ST10), and then the second data, i =
Value d on a straight line of 112And the second data d 1And the difference value Δd
0(ST12). Next, the obtained difference value Δd0
Is larger than a predetermined reference value k (ST1).
3). When the determination is YES, that is, when the difference value is larger than the predetermined value
Contains the data d0, D1Is stored in the data memory 5
(ST14). Further, the storage area D1Record the contents of
Storage area D0To storage area DTwoRecord the contents of
Storage area D1(ST15). The variable i is set to 2 (ST
16) Return to step ST1. In ST1, the next sump
Time, ie, t shown in FIG.ThreeThe timing shown in
When the data arrives, the data di at that time, that is, the data
Data dTwoAnd i = 0 in ST3 or i in ST6
= 1, but all are NO, and ST8
To determine if i = 2. Since this determination is YES, ST9
To the data d at that timeTwoTo storage area DTwoRemember
(ST9). And the storage area D at this time0And storage area
DTwoData again with a straight line (ST10)
Similarly to the above, the processing from ST11 to ST13 is performed, and the same processing is performed.
Will be repeated.

【0010】一方、最初の初回値d0 、第2回目のデー
タd1 、第3回目のデータd2 を取込んだ状態で、ST
13における差値Δd0 が所定値kより小さい場合は、
ST13の判定NOで初回値データd0 のみをデータメ
モリ5に記憶し(ST17)、変数iを1インクリメン
トし(ST18)、最初のステップST1に戻る。ST
1では、次のサンプルタイム(t3 )を待機し、その時
間が到来すると、ステップST3でi=0か、ST6で
i=1か、ST8でi=2か、を判定するが、i=3な
ので、いずれも判定NOでST19に移り、i=3か判
定する。この判定はYESなので、データd3 を記憶領
域D3 へ記憶し(ST20)、今度は記憶領域D0 に記
憶する初期値d0 と、記憶領域D3 に記憶する第4回目
の測定値d3 を直線で結ぶ(ST21)。次にi=1の
直線上の値d13を記憶領域D13へ記憶し(ST22)、
ST23で記憶領域D1 の記憶値から記憶領域D13の値
13を減じ、その差値Δd01を求める。またi=2の直
線上の値d23を記憶領域D 23に記憶し(ST24)、記
憶領域D2 の記憶値から記憶領域D23の値d23を滅じ、
その差値d02を求める(ST25)。このデータΔ
01、Δd02が所定値kよりも大きいか否かを判定し
(ST26)、大きくなければiを1インクリメントし
て(ST30)、ステップST1に戻るが、所定値より
大きい場合には、データd1 を破棄し(ST27)、今
回より1回前の測定値が記憶される記憶領域D2 のデー
タを記憶領域D0 に移し、今回のデータを記憶領域D1
に移し(ST28)、iを2にして(ST29)、ステ
ップST1に戻る。なお、初回時t0から第4回目のサ
ンプルタイムt3 の段階にいたっても、なお第2回目の
データ値と直線上のデータとの差値が所定基準値を越え
ない場合には、さらにそのままの状態で、第5番目以降
のデータを収集することになる。その時のサンプルタイ
ミング時の到来では、ST19のi=3か、の判定もN
Oとなり、ST31に移る。ST31では、データd1
の間引きが生じるまで、iを歩進しながら、ST19な
いしST26と同様の処理を繰り返し、間引きがあった
場合(ST32)に、ST1に戻ることになる。
On the other hand, the first initial value d0, The second day
D1, The third data dTwoST
13 at Δd0Is smaller than the predetermined value k,
Initial value data d when determination is NO in ST130Only data
Is stored in memory 5 (ST17), and variable i is incremented by one.
(ST18), and returns to the first step ST1. ST
At 1, the next sample time (tThreeWait) and then
When the time has arrived, i = 0 in step ST3, or in ST6.
It is determined whether i = 1 or i = 2 in ST8.
Therefore, in both cases, the determination is NO and the process moves to ST19, and it is determined whether i = 3.
Set. Since this determination is YES, data dThreeMemory
Area DThree(ST20), and this time the storage area D0Written in
Initial value d to remember0And the storage area DThreeThe fourth to memorize
Measurement dThreeAre connected by a straight line (ST21). Then i = 1
Value d on a straight line13To storage area D13(ST22),
Storage area D in ST231From storage value of storage area D13The value of the
d 13And the difference Δd01Ask for. Also, if i = 2
The value d on the linetwenty threeTo storage area D twenty three(ST24), and
Storage area DTwoFrom storage value of storage area Dtwenty threeThe value of dtwenty threeDestroy
The difference value d02(ST25). This data Δ
d01, Δd02Is greater than or equal to a predetermined value k.
(ST26) If not large, i is incremented by one
(ST30), the process returns to step ST1, but the predetermined value is exceeded.
If large, the data d1Is discarded (ST27) and now
Storage area D in which the measured value one time before the current time is storedTwoDay of
Storage area D0To the storage area D1
(ST28), set i to 2 (ST29), and
Return to ST1. The first time t0From the 4th
Sample time tThreeOf the second stage
The difference between the data value and the data on the straight line exceeds the specified reference value
If there is none, keep the same condition
Data will be collected. Sample tie at that time
At the time of the mining, the determination of whether i = 3 in ST19 is also N.
It becomes O and moves to ST31. In ST31, the data d1
Step ST19 while stepping i until thinning occurs.
The same processing as in the chair ST26 was repeated, and there was thinning.
In this case (ST32), the process returns to ST1.

【0011】なお、上記実施形態において定数kは、不
都合の生じない範囲で、その値を設定すればよい。例え
ば、機器の持つ精度範囲、ユーザが許容する精度範囲等
を考慮して定める。また、上記実施形態では、毎回取込
むデータを処理する場合について説明したが、これに限
ることなく、1記憶期間毎の最大値と最小値を記憶する
場合に、最大値と最小値の記憶について、それぞれ上記
記憶方法を適用することができ、この場合、いずれか一
方が精度より外れたらという条件を付加してもよい。
In the above embodiment, the value of the constant k may be set within a range where no inconvenience occurs. For example, it is determined in consideration of the accuracy range of the device, the accuracy range allowed by the user, and the like. Further, in the above-described embodiment, the case of processing the data to be fetched every time has been described. However, the present invention is not limited to this, and when the maximum value and the minimum value for each storage period are stored, Each of the above-described storage methods can be applied, and in this case, a condition that one of the storage methods is out of accuracy may be added.

【0012】[0012]

【発明の効果】この発明によれば、第1回目と第3回目
の測定データ値を直線で結び、例えばその直線上の値と
第2回目の実測定値の差が所定の基準値より小さく、次
の第4回目の測定値と第1回目の測定値とを直線で結
び、その第2回目のサンプル時に相当する直線上の値と
第2回目の実測定値の差、または第3回目の差が所定基
準値よりも大きい場合は、その第2回目のデータを破棄
(間引く)するので、測定データの変化率の変化が小さ
い場合でも非常に有効であり、記憶容量を大幅に節約で
きる。
According to the present invention, the first and third measurement data values are connected by a straight line, for example, the difference between the value on the straight line and the second actual measurement value is smaller than a predetermined reference value, The next fourth measurement value and the first measurement value are connected by a straight line, and the difference between the value on the straight line corresponding to the second sample and the second actual measurement value, or the third difference Is larger than a predetermined reference value, the second data is discarded (thinned out), so that it is very effective even when the change rate of the change rate of the measured data is small, and the storage capacity can be largely saved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】この発明の一実施形態測定データ収集装置の構
成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating a configuration of a measurement data collection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施形態測定データ収集装置におけるサンプ
ルタイムの経過と、測定値の変化を示す特性図である。
FIG. 2 is a characteristic diagram showing a lapse of a sample time and a change in a measured value in the measurement data collection device of the embodiment.

【図3】同実施形態測定データ収集装置のデータ記憶処
理を説明するためのフローチャートである。
FIG. 3 is a flowchart illustrating a data storage process of the measurement data collection device of the embodiment.

【図4】図3とともに、同実施形態測定データ収集装置
のデータ記憶処理を説明するためのフローチャートであ
る。
FIG. 4 is a flowchart, together with FIG. 3, for explaining a data storage process of the measurement data collection device of the embodiment.

【図5】図3、図4とともに、同実施形態測定データ収
集装置のデータ記憶処理を説明するためのフローチャー
トである。
FIG. 5 is a flowchart, together with FIGS. 3 and 4, for explaining a data storage process of the measurement data collecting apparatus of the embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 検知器 2 A/D変換器 3 CPU 4 一時メモリ 5 データメモリ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Detector 2 A / D converter 3 CPU 4 Temporary memory 5 Data memory

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】測定データを所定の周期で取込み、記憶手
段に記憶する測定データ収集装置の測定データ記憶方法
であって、 第1回目、第2回目及び第3回目の測定データを取込
み、第1回目と第3回目の測定値を直線で結び、第2回
目の実測定データと第2回目の取込み時の直線上の値と
の第1の差値を算出し、この第1の差値と所定の基準値
を比較し、第1の差値の方が大きい場合には、第1回目
及び第2回目の測定データをそのまま記憶し、次の第4
回目の測定データ取込み時に、第2回目、第3回目、第
4回目の測定データにつき、第2回目のデータを新たな
第1回目のデータ、第3回目のデータを新たな第2回目
のデータ、第4回目のデータを新たな第3回目のデータ
として上記と同様の処理を行う。前記第1の差値が基準
値より小さい場合は、次の第4回目のデータ取込みで、
第1回目と第4回目の測定データの測定値を直線で結
び、第2回目の実測定データと第2回目の取込み時の新
たな直線上の値との第2の差値を算出し、また第3の差
値も同様に算出し、この第2、第3の差値と前記所定の
基準値を比較し、第2もしくは第3の差値の方が大きい
場合に、第2回目のデータを破棄し、今回取込み時より
も1回前の第3回目の測定データを記憶し、新たな第1
回目の測定値として、以後測定データの取込み毎に上記
と同様の処理を繰り返すようにした測定データ記憶方
法。
1. A measurement data storage method for a measurement data collection device, wherein measurement data is fetched at a predetermined cycle and stored in a storage means, wherein the first, second, and third measurement data are fetched. The first and third measurement values are connected by a straight line, and the first difference value between the second actual measurement data and the value on the straight line at the time of the second acquisition is calculated, and the first difference value is calculated. And a predetermined reference value, and when the first difference value is larger, the first and second measurement data are stored as they are, and the next fourth measurement value is stored.
At the time of the second measurement data acquisition, the second data is new first data, and the third data is new second data for the second, third, and fourth measurement data. , And the same processing as above is performed using the fourth data as new third data. If the first difference value is smaller than the reference value, in the next fourth data acquisition,
The measured values of the first and fourth measurement data are connected by a straight line, and a second difference value between the second actual measurement data and a value on a new straight line at the time of the second acquisition is calculated. The third difference value is calculated in the same manner, and the second and third difference values are compared with the predetermined reference value. If the second or third difference value is larger, the second difference value is calculated. The data is discarded, the third measurement data one time before the current acquisition is stored, and a new first measurement data is stored.
A measurement data storage method in which the same processing as described above is repeated every time measurement data is taken in as a second measurement value.
JP29997796A 1996-11-12 1996-11-12 Method for storing measured data Pending JPH10142002A (en)

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