JPH10135066A - Laminated ceramic electronic parts - Google Patents
Laminated ceramic electronic partsInfo
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- JPH10135066A JPH10135066A JP8284782A JP28478296A JPH10135066A JP H10135066 A JPH10135066 A JP H10135066A JP 8284782 A JP8284782 A JP 8284782A JP 28478296 A JP28478296 A JP 28478296A JP H10135066 A JPH10135066 A JP H10135066A
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- Japan
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- ceramic
- particle size
- laminated ceramic
- minimum value
- ceramic electronic
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- Ceramic Capacitors (AREA)
- Thermistors And Varistors (AREA)
- Fixed Capacitors And Capacitor Manufacturing Machines (AREA)
Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、積層セラミック
コンデンサや積層セラミックバリスタのようなセラミッ
ク部分を備える積層セラミック電子部品に関するもの
で、特に、積層セラミック電子部品の信頼性の向上を図
るための改良に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer ceramic electronic component having a ceramic portion such as a multilayer ceramic capacitor and a multilayer ceramic varistor, and more particularly to an improvement for improving the reliability of a multilayer ceramic electronic component. Things.
【０００２】[0002]
【従来の技術】積層セラミック電子部品は、積層構造を
有するセラミック部分を備える。このようなセラミック
部分は、セラミック粉末を含有する複数のセラミックグ
リーンシートを用意するとともに、金属粉末を含有する
導電性ペーストを用意し、特定のセラミックグリーンシ
ート上に導電性ペーストを所定のパターンをもって付与
し、これらセラミックグリーンシートを積み重ねて、生
のセラミック積層体を得た後、このセラミック積層体を
カットして取り出された生チップを焼成することによっ
て製造されるものである。2. Description of the Related Art A multilayer ceramic electronic component includes a ceramic portion having a multilayer structure. For such a ceramic portion, a plurality of ceramic green sheets containing a ceramic powder are prepared, a conductive paste containing a metal powder is prepared, and a conductive paste is applied on a specific ceramic green sheet in a predetermined pattern. Then, the ceramic green sheets are stacked to obtain a raw ceramic laminate, and then the ceramic laminate is cut, and a raw chip taken out is fired.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】上述のようにして得ら
れた積層セラミック電子部品において、信頼性等の諸特
性が劣化している不良品に備えるセラミック部分のセラ
ミック粒子径を測定した結果、不良品の場合には、セラ
ミック粒子径のばらつきが大きく、十分に焼結していな
いことがわかった。In the multilayer ceramic electronic component obtained as described above, as a result of measuring a ceramic particle diameter of a ceramic portion provided for a defective product in which various characteristics such as reliability are deteriorated, the result is shown. In the case of a non-defective product, the variation in the ceramic particle diameter was large, and it was found that the ceramic was not sufficiently sintered.
【０００４】そこで、この発明の目的は、信頼性等の諸
特性の劣化を招かないように、高い焼結性をもって焼結
されたセラミック部分を有する積層セラミック電子部品
を提供しようとすることである。An object of the present invention is to provide a multilayer ceramic electronic component having a ceramic portion sintered with high sinterability so as not to cause deterioration of various characteristics such as reliability. .
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明は、セラミック
部分を備える積層セラミック電子部品に向けられるもの
であって、上述した技術的課題を解決するため、セラミ
ック部分に含まれるセラミックの粒子径ｚが、粒子径の
平均値をｘとしたとき、０．３ｘ≦ｚ≦１．７ｘの範囲
内にあることを特徴としている。SUMMARY OF THE INVENTION The present invention is directed to a multilayer ceramic electronic component having a ceramic portion. In order to solve the above-mentioned technical problem, the present invention has a ceramic particle size z included in the ceramic portion. When the average value of the particle diameters is x, 0.3x ≦ z ≦ 1.7x.
【０００６】また、セラミックの粒子径ｚの最大値をｚ
max 、同じく最小値をｚmin としたとき、ｚmin ／ｚ
max ＞０．２５であることがなお好ましい。Further, the maximum value of the ceramic particle diameter z is represented by z
max, when also the minimum value was z min, z min / z
It is even more preferred that max > 0.25.
【０００７】[0007]
【実施例】この発明は、セラミック部分を備える積層セ
ラミック電子部品であれば、積層セラミックコンデンサ
に限らず、たとえば積層セラミックバリスタ等の他の積
層セラミック電子部品にも等しく適用することができ
る。以下に、この発明の実施例の説明を、積層セラミッ
クコンデンサに関連して行なう。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention can be equally applied to other multilayer ceramic electronic components such as multilayer ceramic varistors as long as they are multilayer ceramic electronic components having a ceramic portion. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to a multilayer ceramic capacitor.
【０００８】前述したセラミックの粒子径のばらつきに
関する好ましい条件は、以下に説明する実験から求めら
れたものであるが、この実験において、この条件が、積
層セラミックコンデンサの高温負荷による特性劣化およ
び耐湿負荷による特性劣化と相関関係を有していること
が見出されたのである。所定の方法により作製した積層
セラミックコンデンサのための生チップ（長さ方向寸法
が１．６mm、幅方向寸法が０．８mm、厚み方向寸法が
０．８mm）を以下の表１に示すような種々の焼成条件で
焼成した後、周知の加工を施し、完成品としての積層セ
ラミックコンデンサを得た。これら積層セラミックコン
デンサの試料のセラミック部分における表面にあるセラ
ミックの粒子径を測定し、それによって、表１に示すよ
うに、粒子径の平均値、最大値、および最小値を求め、
かつ、これら粒子径に関するデータと高温負荷試験結果
および耐湿負荷試験結果との相関関係を調査した。[0008] The preferable conditions for the above-mentioned variation in the particle size of the ceramics are obtained from experiments described below. In these experiments, the conditions are as follows. It has been found that there is a correlation with the characteristic deterioration due to the above. Various types of raw chips (length 1.6 mm, width 0.8 mm, thickness 0.8 mm) for multilayer ceramic capacitors manufactured by the prescribed method are shown in Table 1 below. After firing under the above firing conditions, well-known processing was performed to obtain a multilayer ceramic capacitor as a finished product. The particle size of the ceramic on the surface of the ceramic portion of the sample of these multilayer ceramic capacitors was measured, thereby obtaining the average value, the maximum value, and the minimum value of the particle size as shown in Table 1,
The correlation between the data on the particle size and the results of the high-temperature load test and the moisture-resistant load test was investigated.
【０００９】なお、粒子径は、各試料の表面を走査型電
子顕微鏡を用いて写真撮影して測定した。また、粒子径
の平均値については、この写真上に縦、横、斜めに計６
本の直線を引き、各直線上の粒子数と直線の長さとによ
り、それぞれの平均値を算出した後、これら６本の直線
についての平均値をさらに平均して求めたものである。The particle size was measured by taking a photograph of the surface of each sample using a scanning electron microscope. In addition, the average value of the particle diameter was 6
After drawing the straight lines, calculating the average value of each of the straight lines based on the number of particles on each straight line and the length of the straight line, the average value of the six straight lines is further averaged.
【００１０】[0010]
【表１】 [Table 1]
【００１１】表１において、「本発明の粒子径範囲」
は、各該当の試料における粒子径の平均値をｘとし、こ
れを０．３ｘ≦ｚ≦１．７ｘの式に代入して表現したも
のである。すなわち、「粒子径」の「最大値」および
「最小値」の各欄に記載された数値が、ともに「本発明
の粒子径範囲」の欄に記載された粒子径ｚの範囲内にあ
れば、その試料が本発明の範囲内のものであることを示
している。In Table 1, "particle size range of the present invention"
Is expressed by substituting the average value of the particle diameters of the corresponding samples into x, and substituting the average value into the equation of 0.3x ≦ z ≦ 1.7x. That is, if the numerical values described in the “maximum value” and “minimum value” columns of “particle size” are both within the range of the particle size z described in the “particle size range of the present invention” column. , Indicating that the sample is within the scope of the present invention.
【００１２】表１からわかるように、粒子径のばらつき
に関して、「最大値」および「最小値」の双方が「本発
明の粒子径範囲」から外れた試料１、ならびに「最小
値」のみが「本発明の粒子径範囲」から外れた試料２〜
４は、いずれも、高温負荷試験および耐湿負荷試験の双
方において比較的多数の不良が発生した。これは、セラ
ミックの焼結不足が原因である。また、「最大値」のみ
が「本発明の粒子径範囲」から外れた試料１０および１
２は、耐湿負荷試験において若干の不良が発生した。こ
れは、セラミックが過度に焼結した結果、粒子間の隙間
が増え、かつ密度が下がったことが原因であり、そのた
め、水分が浸入しやすくなったものである。As can be seen from Table 1, regarding the variation of the particle size, only the sample 1 in which both the “maximum value” and the “minimum value” were out of the “particle size range of the present invention” and only the “minimum value” Samples 2 out of the “particle size range of the present invention”
In No. 4, relatively many defects occurred in both the high-temperature load test and the humidity resistance load test. This is due to insufficient sintering of the ceramic. Samples 10 and 1 in which only the “maximum value” was out of the “particle size range of the present invention”
In No. 2, a slight defect occurred in the moisture resistance load test. This is because, as a result of excessive sintering of the ceramic, gaps between the particles increase and the density decreases, so that moisture easily penetrates.
【００１３】これに対して、「最大値」および「最小
値」の双方が「本発明の粒子径範囲」にある試料５〜９
および１１は、高温負荷試験および耐湿負荷試験の双方
において優れた結果を示した。なお、上述した実施例で
は、焼結温度および焼結ゾーン保持時間すなわち焼成速
度を変えることにより、粒子径範囲の異なる試料を得る
ようにしたが、その他、焼成前の生のセラミックスラリ
ーに含まれるセラミック粉末の混合比や粒子径を変える
ことによっても、粒子径範囲の異なる試料を得ることも
できる。On the other hand, Samples 5 to 9 having both the “maximum value” and the “minimum value” in the “particle size range of the present invention”
And 11 showed excellent results in both the high temperature load test and the moisture resistance load test. In the above-described embodiment, samples having different particle diameter ranges were obtained by changing the sintering temperature and the sintering zone holding time, that is, the sintering rate. However, other samples were included in the raw ceramic slurry before sintering. By changing the mixing ratio and the particle size of the ceramic powder, samples having different particle size ranges can be obtained.
【００１４】また、粒子径の測定方法については、前述
したような走査型電子顕微鏡を用いて写真撮影する方法
以外の方法が採用されてもよい。次に、上述した実施例
に従って得られた試料に関して、セラミックの粒子径の
ばらつきが本発明の範囲内にあっても、粒子径の最大値
と最小値との比が適切でない場合には、信頼性以外の諸
特性に悪影響を及ぼすことがわかった。すなわち、上述
の実施例に従って得られた積層セラミックコンデンサの
静電容量のばらつきは、セラミックの粒子径の最大値と
最小値との比と相関関係を有していることがわかった。
以下の表２に、セラミックの粒子径の最大値と最小値と
の比と静電容量のばらつきとの相関関係が示されてい
る。As a method of measuring the particle diameter, a method other than the method of taking a photograph using a scanning electron microscope as described above may be adopted. Next, regarding the sample obtained according to the above-described example, even if the variation in the particle size of the ceramic is within the range of the present invention, if the ratio between the maximum value and the minimum value of the particle size is not appropriate, It was found that various properties other than sex were adversely affected. That is, it was found that the variation in the capacitance of the multilayer ceramic capacitor obtained according to the above-described example had a correlation with the ratio between the maximum value and the minimum value of the ceramic particle diameter.
Table 2 below shows the correlation between the ratio of the maximum value and the minimum value of the ceramic particle diameter to the variation in capacitance.
【００１５】[0015]
【表２】 [Table 2]
【００１６】表２からわかるように、「最大値」および
「最小値」の双方が「本発明の粒子径範囲」にある試料
１３〜１７のうち、試料１５〜１７のように、「最小値
／最大値」が０．２５を越えて大きくなればなるほど、
「容量ばらつき」が５％以下となって、容量ばらつきが
改善されている。As can be seen from Table 2, among the samples 13 to 17 in which both the “maximum value” and the “minimum value” are within the “particle size range of the present invention”, the “minimum value” The greater the / maximum exceeds 0.25, the more
The “capacitance variation” is 5% or less, and the capacitance variation is improved.
【００１７】[0017]
【発明の効果】この発明によれば、上述した実施例から
わかるように、セラミック部分に含まれるセラミックの
粒子径ｚが、粒子径の平均値をｘとしたとき、０．３ｘ
≦ｚ≦１．７ｘの範囲内にあるので、高い焼結性が得ら
れ、積層セラミック電子部品の信頼性を向上させること
ができる。According to the present invention, as can be seen from the above-described embodiment, the particle diameter z of the ceramic contained in the ceramic portion is 0.3x when the average value of the particle diameter is x.
Since it is within the range of ≦ z ≦ 1.7x, high sinterability can be obtained, and the reliability of the multilayer ceramic electronic component can be improved.
【００１８】また、この発明において、セラミックの粒
子径ｚの最大値をｚmax 、同じく最小値をｚmin とした
とき、ｚmin ／ｚmax ＞０．２５であるように選ぶと、
上述の信頼性に加えて、特性のばらつきを小さくするこ
とができる。また、上述のように、この発明では、セラ
ミックの粒子径に関して上述のような好ましい範囲が与
えられるので、積層セラミック電子部品の品質のチェッ
クをセラミックの粒子径をもって行なうことができるよ
うになり、したがって、品質のチェックを能率的に行な
うことができるとともに、品質に対する信頼性も向上さ
れる。In the present invention, when the maximum value of the ceramic particle diameter z is z max , and the minimum value is z min , z min / z max > 0.25 is selected.
In addition to the above-described reliability, variation in characteristics can be reduced. Further, as described above, in the present invention, the above-described preferable range is given with respect to the particle size of the ceramic, so that the quality of the multilayer ceramic electronic component can be checked based on the particle size of the ceramic. In addition, the quality can be checked efficiently, and the reliability of the quality can be improved.
Claims (2)
電子部品において、セラミック部分に含まれるセラミッ
クの粒子径ｚが、粒子径の平均値をｘとしたとき、０．
３ｘ≦ｚ≦１．７ｘの範囲内にあることを特徴とする、
積層セラミック電子部品。1. In a multilayer ceramic electronic component having a ceramic portion, the particle diameter z of the ceramic contained in the ceramic portion is set to 0.
Characterized by being in the range of 3x ≦ z ≦ 1.7x,
Multilayer ceramic electronic components.
ｚmax 、同じく最小値をｚ min としたとき、ｚmin ／ｚ
max ＞０．２５である、請求項１に記載の積層セラミッ
ク電子部品。2. The maximum value of the ceramic particle diameter z is
zmax, And the minimum value is z minAnd zmin/ Z
max2. The laminated ceramic according to claim 1, wherein> 0.25.
Electronic components.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8284782A JPH10135066A (en) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | Laminated ceramic electronic parts |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8284782A JPH10135066A (en) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | Laminated ceramic electronic parts |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10135066A true JPH10135066A (en) | 1998-05-22 |
Family
ID=17682953
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8284782A Pending JPH10135066A (en) | 1996-10-28 | 1996-10-28 | Laminated ceramic electronic parts |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10135066A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021112017A1 (en) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | Tdk株式会社 | Ntc thermistor element |
-
1996
- 1996-10-28 JP JP8284782A patent/JPH10135066A/en active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2021112017A1 (en) * | 2019-12-06 | 2021-06-10 | Tdk株式会社 | Ntc thermistor element |
| JP2021093391A (en) * | 2019-12-06 | 2021-06-17 | Tdk株式会社 | NTC thermistor element |
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