JPH10124941A - Production of optical recording medium and film forming device - Google Patents

Production of optical recording medium and film forming device

Info

Publication number
JPH10124941A
JPH10124941A JP27823196A JP27823196A JPH10124941A JP H10124941 A JPH10124941 A JP H10124941A JP 27823196 A JP27823196 A JP 27823196A JP 27823196 A JP27823196 A JP 27823196A JP H10124941 A JPH10124941 A JP H10124941A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sputtering
film forming
layer
chamber
disks
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP27823196A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuji Watanabe
雄二 渡辺
Satoshi Nagai
智 永井
Toshiharu Nakanishi
俊晴 中西
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toray Industries Inc
Original Assignee
Toray Industries Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toray Industries Inc filed Critical Toray Industries Inc
Priority to JP27823196A priority Critical patent/JPH10124941A/en
Publication of JPH10124941A publication Critical patent/JPH10124941A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify the constitution and mechanism of a film forming device by executing sputtering at the plural film forming sections successively installed in a sputtering chamber, thereby forming multilayered structures. SOLUTION: Disks 1 are continuously carried via a load locking chamber 2 for vacuum maintenance from the inside of the atm. into a sputtering chamber 3. This sputtering chamber 3 is internally provided with targets 4a to 4d for forming the respective layers of the four-layered structures. The disks are successively transported to these film forming sections, by which the desired film thickness layers are formed by sputtering and the four layers are formed. Since the disks 1 are continuously supplied, the sputtering is executed simultaneously or in overlap in time at the film forming sections of the four points. The respective layers of the four-layered structures are formed with the substantially the same sputtering gases under the same pressure. The disks are ejected out of an unload locking chamber 6 after the formation of the four-layered structures. As a result, the vacuum production by the one sputtering chamber is made possible and the improvement in the reliability and maintenance is resulted.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光記録媒体の成膜
方法および成膜装置に関し、特にスパッタリングによる
成膜におけるスパッタリングガス組成、スパッタリング
圧力、およびスパッタリングチャンバーの構造に関す
る。
The present invention relates to a method and an apparatus for forming a film on an optical recording medium, and more particularly to a composition of a sputtering gas, a sputtering pressure, and a structure of a sputtering chamber in film formation by sputtering.

【0002】[0002]

【従来の技術】現在実用化されている書換え型光ディス
クは、光磁気方式、相変化方式ともに、保護層、記録
層、反射層等のスパッタリングによる多層構造を有して
おり、一般に各層はそれぞれに適した異なったスパッタ
リングガス条件(スパッタリングガス種類、スパッタリ
ングガス圧力、スパッタリングガス流量等)により形成
される。
2. Description of the Related Art Rewritable optical disks that are currently in practical use have a multilayer structure by sputtering such as a protective layer, a recording layer, and a reflective layer in both the magneto-optical system and the phase change system. It is formed by suitable different sputtering gas conditions (sputtering gas type, sputtering gas pressure, sputtering gas flow rate, etc.).

【0003】特に光磁気ディスクの場合、保護層(エン
ハンス層)の形成には、通常スパッタリングガスとして
アルゴンと窒素の混合ガスを用いたSiの反応性スパッ
タにより形成する窒化Si層を用いる場合が多い。この
ため、スパッタリングガスとしてアルゴンのみが用いら
れる記録層、反射層などの形成には、保護層(エンハン
ス層)の形成に用いられるアルゴンと窒素の混合ガスの
影響を受けないように、それぞれが独立したスパッタリ
ングチャンバーが必須となる。
In particular, in the case of a magneto-optical disk, the protective layer (enhancement layer) is often formed by using a Si nitride layer formed by reactive sputtering of Si using a mixed gas of argon and nitrogen as a sputtering gas. . For this reason, the formation of the recording layer and the reflective layer using only argon as a sputtering gas is independent of each other so as not to be affected by the mixed gas of argon and nitrogen used for forming the protective layer (enhancement layer). A sputtered chamber is indispensable.

【0004】また、相変化ディスクの場合も、保護層、
記録層、反射層の形成には、良好な記録特性等を得るた
めに、それぞれに最適なスパッタリングガス、スパッタ
リング圧力が一般に選択される。
In the case of a phase change disk, a protective layer,
In forming the recording layer and the reflective layer, optimal sputtering gas and sputtering pressure are generally selected for obtaining good recording characteristics and the like.

【0005】したがって、量産用光ディスクスパッタリ
ング装置は、それぞれの層を形成するために、それぞれ
真空排気系およびガス導入系を備えた真空的に独立した
複数のスパッタリングチャンバーが隔離バルブ機構等に
より連結された構造となっている。そして、この各スパ
ッタリングチャンバー間をディスクが搬送されて、順次
成膜されることにより多層構造が形成される。
Therefore, in the optical disk sputtering apparatus for mass production, a plurality of vacuum-independent sputtering chambers each having an evacuation system and a gas introduction system are connected by an isolation valve mechanism or the like in order to form each layer. It has a structure. Then, the disk is transported between the respective sputtering chambers and is sequentially formed into a film to form a multilayer structure.

【0006】小規模の実験/開発の用途では、1つのス
パッタリングチャンバーで保護層、記録層、反射層等を
順次形成することが行なわれるが、この場合は、通常1
つの層を形成するごとに真空排気/スパッタリングガス
導入を行ない、1つのスパッタリングチャンバーであり
ながら、それぞれの層を形成するごとにスパッタリング
ガス条件を完全に切替えている。
In a small-scale experiment / development application, a protective layer, a recording layer, a reflective layer, and the like are sequentially formed in one sputtering chamber.
Evacuation / introduction of sputtering gas is performed every time one layer is formed, and sputtering gas conditions are completely switched each time each layer is formed, even though one sputtering chamber is used.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記のよう
な従来の成膜方法および装置には、次のような問題点が
ある。まず、多層構造を形成するための独立した複数の
スパッタリングチャンバーが必要であり、それぞれのチ
ャンバーごとに真空排気系およびスパッタリングガス導
入系、真空度測定系、各チャンバー間をディスク基板を
搬送するための搬送機構およびチャンバーを真空的に隔
離するためのバルブ機構、さらにこれらをコントロール
するための制御機構(ハード/ソフト)等が必要とな
る。
However, the conventional film forming method and apparatus as described above have the following problems. First, a plurality of independent sputtering chambers are required to form a multilayer structure.Each chamber has a vacuum evacuation system, a sputtering gas introduction system, a vacuum degree measurement system, and a disk substrate for transferring the disk substrate between the chambers. A valve mechanism for vacuum-isolating the transfer mechanism and the chamber, and a control mechanism (hard / soft) for controlling these are required.

【0008】したがって、装置全体の構成/機構が複雑
になり、装置としての信頼性の低下、メンテナンス性の
低下等をもたらす。また、生産性を高めるためには、時
間当りのディスク処理枚数を多くする必要があるが、各
チャンバー間に隔離機構が必要であり、さらに搬送機構
が隔離機構と干渉しない構造とするため、チャンバー間
の搬送速度が制限され、ディスクの処理枚数が制約され
る場合がある。さらに、上記のような多くの各種装置、
機構等が必要となるために、スパッタリング装置として
も高価なものとなる。
Therefore, the configuration / mechanism of the entire apparatus becomes complicated, resulting in a decrease in reliability of the apparatus, a decrease in maintenance, and the like. In order to increase productivity, it is necessary to increase the number of processed disks per time.However, an isolation mechanism is required between each chamber, and the transport mechanism does not interfere with the isolation mechanism. In some cases, the transfer speed between the discs is limited, and the number of processed disks is limited. In addition, many various devices as described above,
Since a mechanism or the like is required, the sputtering apparatus becomes expensive.

【0009】本発明の課題は、上述のような問題点に着
目し、各層ごとの独立したスパッタリングチャンバーを
不要とすることにある。
An object of the present invention is to eliminate the need for an independent sputtering chamber for each layer, focusing on the above-mentioned problems.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明は、真空的に単一のスパッタリングチャンバ
ー内に設置された、異なるスパッタリング層を形成する
ための複数の成膜部によって、スパッタリング多層構造
のそれぞれの層を、実質上同一のスパッタリングガス組
成、および実質上同一のスパッタリング圧力により形成
する方法からなる。
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention provides a method for forming a plurality of different sputtering layers, which is provided in a single sputtering chamber in a vacuum. The method comprises forming each layer of a sputtered multilayer structure with substantially the same sputtering gas composition and substantially the same sputtering pressure.

【0011】以下、本発明の内容について詳述する。本
発明に係る光記録媒体は、基板上に少なくとも記録層と
保護層を有するものである。好ましくは、たとえば基板
上に第1層(第1保護層)/第2層(記録層)/第3層
(第2保護層)/第4層(反射層)をこの順に設けた多
層構造、または第1層(第1保護層)/第2層(記録
層)/第3層(第2保護層)/第4層(光吸収層)/第
5層(反射層)などが挙げられる。
Hereinafter, the contents of the present invention will be described in detail. The optical recording medium according to the present invention has at least a recording layer and a protective layer on a substrate. Preferably, for example, a multilayer structure in which a first layer (first protective layer) / second layer (recording layer) / third layer (second protective layer) / fourth layer (reflective layer) is provided in this order on a substrate; Or a first layer (first protective layer) / second layer (recording layer) / third layer (second protective layer) / fourth layer (light absorbing layer) / fifth layer (reflective layer) and the like.

【0012】第1及び第2保護層の効果は、記録層の腐
食防止、記録時に基板、記録層などの熱による変形で生
じる記録特性の劣化防止、光学的な干渉効果により再生
時の信号コントラストを改善する効果がある。この場合
の第1保護層の厚さは、通常50nm〜400nmとさ
れる。第2保護層の厚みは20nm程度に薄く構成した
「急冷構造」では、誘電体層を200nm程度に厚くし
た「徐冷構造」に比べ、書換の繰返しによる記録特性の
劣化が少なく、また消去パワーのパワー・マージンが広
い点で優れていることが報告されている(T.Ohota et a
l., SPIE Proc.Vol. 1316 (1990) pp367 - 373 )。従
って、第2保護層の厚さは10nm〜100nmである
ことが好ましい。
The effects of the first and second protective layers are as follows: prevention of corrosion of the recording layer, prevention of deterioration of recording characteristics caused by heat deformation of the substrate and the recording layer during recording, and signal contrast during reproduction due to an optical interference effect. Has the effect of improving. In this case, the thickness of the first protective layer is usually 50 nm to 400 nm. The “quenching structure” in which the thickness of the second protective layer is as thin as about 20 nm has less deterioration of the recording characteristics due to repetition of rewriting and the erasing power as compared with the “slow cooling structure” in which the dielectric layer is thick as about 200 nm. Has been reported to be superior in that it has a wide power margin (T. Ohota et a
l., SPIE Proc. Vol. 1316 (1990) pp367-373). Therefore, it is preferable that the thickness of the second protective layer be 10 nm to 100 nm.

【0013】このような保護層としては、ZnS、Si
2 、Ta25、ZrC、TiC、MgF2 などの無機
膜やそれらの混合膜が使用できる。特にZnSとSiO
2 のおよびZnSとMgF2 の混合膜は耐湿熱性に優れ
ており、さらに記録消去時の劣化を抑制するので好まし
い。また、これらに炭素を混合したものも、膜の残留応
力が小さいことから好ましい。特にZnSとSiO2
混合膜あるいは、ZnSとSiO2 と炭素の混合膜は、
記録、消去の繰り返しによっても、記録感度、C/N、
消去率などの劣化が起きにくいことから好ましい。
As such a protective layer, ZnS, Si
An inorganic film such as O 2 , Ta 2 O 5 , ZrC, TiC, MgF 2 or a mixed film thereof can be used. Especially ZnS and SiO
2 and a mixed film of ZnS and MgF 2 are preferable because they have excellent wet heat resistance and further suppress deterioration at the time of recording / erasing. A mixture of these and carbon is also preferable because the residual stress of the film is small. Especially mixed film or of ZnS and SiO 2, ZnS and SiO 2 and mixed film of carbon,
By repeating recording and erasing, recording sensitivity, C / N,
This is preferable because deterioration such as the erasing rate hardly occurs.

【0014】記録層としては、構成元素として少なくと
もGe、Sb、Teの3元素を含む合金を用いることが
高速でオーバーライトが可能である点から好ましい。さ
らに、その組成は次式で表される範囲にあることが熱安
定性と繰返し安定性に優れている点から好ましい。
As the recording layer, it is preferable to use an alloy containing at least three elements Ge, Sb, and Te as constituent elements from the viewpoint that overwriting can be performed at high speed. Further, the composition is preferably within the range represented by the following formula, from the viewpoint of excellent thermal stability and repetition stability.

【0015】 Mz (Sbx Te1-x1-y-z (Ge0.5 Te0.5y 0.35≦x≦0.5 0.2≦y≦0.5 0.0005≦z≦0.01 ここで、Mはパラジウム、ニオブ、白金、銀、金、コバ
ルトから選ばれる少なくとも一種の金属、Sbはアンチ
モン、Teはテルル、Geはゲルマニウムを表す。ま
た、x、y、z、及び数字は、各元素の原子の数(各元
素のモル数)を表す。特に、パラジウム、ニオブについ
ては少なくとも一種を含むことが好ましい。
M z (Sb x Te 1-x ) 1-yz (Ge 0.5 Te 0.5 ) y 0.35 ≦ x ≦ 0.5 0.2 ≦ y ≦ 0.5 0.0005 ≦ z ≦ 0.01 Here, M represents at least one metal selected from palladium, niobium, platinum, silver, gold and cobalt, Sb represents antimony, Te represents tellurium, and Ge represents germanium. In addition, x, y, z, and numbers represent the number of atoms of each element (the number of moles of each element). In particular, palladium and niobium preferably contain at least one kind.

【0016】第2保護層または光吸収層の上に形成され
た光反射層は、光学的な干渉効果により、再生時の信号
コントラストを改善すると共に、冷却効果により、非晶
状態の記録マークの形成を容易にし、かつ消去特性、繰
り返し特性を改善する技術が知られている。この記録層
膜厚としては、10〜100nmであることが好まし
い。
The light reflecting layer formed on the second protective layer or the light absorbing layer improves the signal contrast at the time of reproduction by an optical interference effect, and also has a cooling effect of an amorphous recording mark. There are known techniques for facilitating formation and improving erasing characteristics and repetition characteristics. The thickness of the recording layer is preferably from 10 to 100 nm.

【0017】反射層の材質としては、光反射性を有する
Al、Auなどの金属、及びこれらを主成分とし、T
i、Cr、Hfなどの添加元素を含む合金、及びAl、
Auなどの金属にAl、Siなどの金属窒化物、金属酸
化物、金属カルコゲン化物などの金属化合物を混合した
ものなどがあげられる。Al、Auなどの金属、及びこ
れらを主成分とする合金は、光反射性が高く、かつ熱伝
導率を高くできることから好ましい。前述の合金の例と
して、AlにSi、Mg、Cu、Pd、Ti、Cr、H
f、Ta、Nb、Mnなどの少なくとも1種の元素を合
計で5原子%以下、1原子%以上加えたもの、あるい
は、AuにCr、Ag、Cu、Pd、Pt、Niなどの
少なくとも1種の元素を合計で20原子%以下1原子%
以上加えたものなどがある。特に、材料の価格が安くで
きることから、Alを主成分とする合金が好ましく、と
りわけ、耐腐食性が良好なことから、AlにTi、C
r、Ta、Hf、Zr、Mn、Pdから選ばれる少なく
とも1種以上の金属を合計で5原子%以下0.5原子%
以上添加した合金が好ましい。とりわけ、耐腐食性が良
好でかつヒロックなどの発生が起こりにくいことから、
添加元素を合計で0.5原子%以上3原子%未満含む、
Al−Hf−Pd合金、Al−Hf合金、Al−Ti合
金、Al−Ti−Hf合金、Al−Cr合金、Al−T
a合金、Al−Ti−Cr合金、Al−Si−Mn合金
のいずれかのAlを主成分とする合金が反射層材料とし
て好ましい。この反射層膜厚としては、特に限定は無い
が、30〜200nmであることが好ましい。
As a material of the reflection layer, a metal such as Al or Au having light reflectivity, or a material containing these as a main component,
an alloy containing additional elements such as i, Cr, Hf, and Al;
Examples include a mixture of a metal such as Au and a metal compound such as a metal nitride such as Al and Si, a metal oxide, and a metal chalcogenide. Metals such as Al and Au and alloys containing these as main components are preferable because of their high light reflectivity and high thermal conductivity. As an example of the above-mentioned alloy, Al, Si, Mg, Cu, Pd, Ti, Cr, H
At least one element such as f, Ta, Nb, Mn and the like added in a total of 5 at% or less and 1 at% or more, or at least one of Au, Cr, Ag, Cu, Pd, Pt, and Ni Element total 20 atomic% or less 1 atomic%
These are the ones added above. Particularly, an alloy containing Al as a main component is preferable because the price of the material can be reduced.
at least one metal selected from the group consisting of r, Ta, Hf, Zr, Mn, and Pd in a total of 5 atomic% or less and 0.5 atomic%.
The alloys added above are preferred. In particular, because corrosion resistance is good and hillocks do not easily occur,
Containing a total of 0.5 atomic% or more and less than 3 atomic% of additional elements,
Al-Hf-Pd alloy, Al-Hf alloy, Al-Ti alloy, Al-Ti-Hf alloy, Al-Cr alloy, Al-T
An alloy containing Al as a main component, such as an alloy a, an Al—Ti—Cr alloy, or an Al—Si—Mn alloy, is preferable as the material of the reflective layer. The thickness of the reflective layer is not particularly limited, but is preferably 30 to 200 nm.

【0018】吸収層としては、例えば、Ti、Zr、あ
るいはこれらの合金等が用いられ、この吸収層膜厚とし
ては、特に限定は無いが、3〜50nmであることが好
ましい。
As the absorbing layer, for example, Ti, Zr, or an alloy thereof is used. The thickness of the absorbing layer is not particularly limited, but is preferably 3 to 50 nm.

【0019】ここで、本発明にとって最も重要な点は、
以上に挙げた保護層、記録層、反射層などの各層は、い
ずれも基本的には、ArガスまたはArとN2 の混合ガ
スであり、かつN2 が10%以下のガスなどの同一のス
パッタリングガス雰囲気下において、通常のDCスパッ
タリングあるいはRFスパッタリングにより、所望のス
パッタリング層組成に適した組成のターゲットを用い
て、所望の層を得ることができることである。このた
め、特定の層の成膜において特殊なスパッタリングガス
を必要とするスパッタリングを行うことなどが不要とな
る。
Here, the most important point for the present invention is as follows.
Each of the above-described layers such as the protective layer, the recording layer, and the reflective layer is basically an Ar gas or a mixed gas of Ar and N 2 , and the same layer such as a gas having N 2 of 10% or less. In a sputtering gas atmosphere, a desired layer can be obtained by ordinary DC sputtering or RF sputtering using a target having a composition suitable for a desired sputtering layer composition. Therefore, it is not necessary to perform sputtering that requires a special sputtering gas in forming a specific layer.

【0020】スパッタリングガスとしては、好ましく
は、ArガスまたはArとN2 の混合ガスであり、かつ
2 が10%以下のものである。N2 が10%を越える
混合ガスでは、光記録媒体の記録特性や保存安定性が劣
化する場合がある。また、光記録媒体としての特性を改
良するために、前記のガスに微量のO2 やH2 O等を混
合したガスを用いても良い。さらに、このArの代りに
Ne、Kr、Xeなどの不活性ガスを用いても良い。
The sputtering gas is preferably Ar gas or a mixed gas of Ar and N 2 , and N 2 is 10% or less. In a mixed gas N 2 exceeds 10%, the recording characteristics and storage stability of the optical recording medium is deteriorated. Further, in order to improve the characteristics as an optical recording medium, a gas obtained by mixing a small amount of O 2 , H 2 O, or the like with the above gas may be used. Further, an inert gas such as Ne, Kr, or Xe may be used instead of Ar.

【0021】スパッタリング圧力としては、0.05P
a〜5Paが好ましく、より好ましくは、0.1Pa〜
1Paである。0.05Pa未満では、スパッタリング
の放電が不安定になる場合があり、5Paを越えると光
記録媒体の繰り返し特性が低下する場合がある。
The sputtering pressure is 0.05 P
a to 5 Pa is preferable, and more preferably 0.1 Pa to
1 Pa. If it is less than 0.05 Pa, the discharge of sputtering may be unstable, and if it exceeds 5 Pa, the repetition characteristics of the optical recording medium may be deteriorated.

【0022】真空的に単一のスパッタリングチャンバー
内に複数の成膜部を設置する際には、各成膜部相互のス
パッタリング時のプラズマの干渉を防止し、またスパッ
タリング粒子の不必要な部分への回り込みを防止するた
めに、スパッタリングターゲットの周囲に適当な遮蔽板
を設けることが望ましい。あるいは、積極的にスパッタ
リング粒子の回り込みを利用するような場合では、プラ
ズマの干渉防止のための適当な遮蔽板を設けることが望
ましい。ここで言う成膜部とは、いわゆるカソード部お
よびその周辺部分のことで、ターゲット、電力導入部、
ターゲット冷却水系、アースシールド、マグネット、基
板保持部などにより構成され、実際にスパッタリングに
よる成膜が行われる部分である。成膜部の数は所望の層
数によって決められ、一般には少なくとも層数と同数が
必要であるが、1つの層を複数の成膜部で分割して形成
する場合には、その分割数に応じて必要な成膜部数が決
められる。
When a plurality of film forming units are installed in a single sputtering chamber in a vacuum, it is necessary to prevent interference of plasma during sputtering between the film forming units and to prevent unnecessary portions of sputtered particles. It is desirable to provide a suitable shielding plate around the sputtering target in order to prevent sneaking around. Alternatively, in a case where the wraparound of sputtered particles is positively used, it is desirable to provide an appropriate shielding plate for preventing plasma interference. The film forming section referred to here is a so-called cathode section and its peripheral portion, and includes a target, a power introduction section,
A target cooling water system, an earth shield, a magnet, a substrate holding unit, and the like, and a part where film formation is actually performed by sputtering. The number of film forming units is determined by a desired number of layers. Generally, at least the same number as the number of layers is necessary. However, when one layer is formed by being divided into a plurality of film forming units, the number of divisions is The required number of film forming units is determined accordingly.

【0023】スパッタリングチャンバーへのスパッタリ
ングガス導入方法としては、1ヶ所からの導入でも良い
が、チャンバー内部のガス分布が一定となる様に複数の
成膜部をカバーするノズルを設けるのが好ましい。設備
的には若干複雑になるが、独立した複数のガス導入系を
設け、チャンバー内部のガス分布が一定となるように積
極的にコントロールする方法も有効である。また、各成
膜部ごとに独立したガス導入系を設けた場合、スパッタ
ガス組成あるいスパッタガス圧力を局所的に微少に変化
させることも可能である。
As a method for introducing the sputtering gas into the sputtering chamber, it may be introduced from one place, but it is preferable to provide a nozzle covering a plurality of film forming sections so that the gas distribution inside the chamber becomes constant. Although the equipment is slightly complicated, it is also effective to provide a plurality of independent gas introduction systems and actively control the gas distribution inside the chamber to be constant. When an independent gas introduction system is provided for each film forming unit, it is possible to locally and minutely change the sputtering gas composition or the sputtering gas pressure.

【0024】光記録媒体用の基板としては、基板側から
記録再生を行うためにはレーザー光が良好に透過する材
料を用いることが好ましく、たとえばポリメチルメタク
リレート樹脂、ポリカーボネート樹脂、ポリオレフィン
樹脂、エポキシ樹脂などの有機高分子樹脂、それらの混
合物、共重合体物などを用いることができる。中でも、
ポリカーボネート樹脂を光学特性と耐熱性の観点から最
も好まく用いることができる。
As a substrate for an optical recording medium, it is preferable to use a material through which laser light can be transmitted in order to perform recording and reproduction from the substrate side. For example, polymethyl methacrylate resin, polycarbonate resin, polyolefin resin, epoxy resin Organic polymer resins such as these, mixtures thereof, and copolymers can be used. Among them,
A polycarbonate resin can be most preferably used from the viewpoint of optical characteristics and heat resistance.

【0025】この熱可塑性樹脂を用いて、例えば射出成
形や射出圧縮成形によって円板状の基板(ディスク)を
作製する。この基板成型時、金型内に所定のグルーブや
ピット雄型が表面に形成されたスタンパを装着し、スタ
ンパからの転写により表面に所望のトラックが形成され
た基板を成形する。
Using this thermoplastic resin, a disk-shaped substrate (disk) is manufactured by, for example, injection molding or injection compression molding. At the time of molding the substrate, a stamper having a predetermined groove or pit male mold formed on the surface is mounted in a mold, and a substrate having a desired track formed on the surface by transfer from the stamper is molded.

【0026】基板の大きさは光記録媒体ドライブ装置か
らの要求規格に合わせる必要がある。例えば、直径とし
ては80mm、90mm、120mmまたは130mm
の基板が規定されている。厚みとしては1.2mmおよ
び0.6mmともに用いることができる。
The size of the substrate needs to conform to the standard required by the optical recording medium drive. For example, the diameter is 80 mm, 90 mm, 120 mm or 130 mm
Substrates are defined. As the thickness, both 1.2 mm and 0.6 mm can be used.

【0027】このような基板上に多層構造のスパッタリ
ング層が形成される。この層の上には有機樹脂保護層を
設けても良い。有機樹脂保護層としては、重合性モノマ
ーおよびオリゴマーを主成分とする光硬化性樹脂組成物
や、熱硬化性樹脂組成物が用いられ、スピンコート法に
よって一般に形成される。また、同様な有機樹脂組成物
からなる保護層を光の入射面側の基板上に、耐摩耗性、
耐刷性向上などの基板保護の目的や、ホコリ付着防止の
ための制電性付与の目的で設けることもできる。
A sputtering layer having a multilayer structure is formed on such a substrate. An organic resin protective layer may be provided on this layer. As the organic resin protective layer, a photocurable resin composition containing a polymerizable monomer or oligomer as a main component or a thermosetting resin composition is used, and is generally formed by a spin coating method. In addition, a protective layer made of a similar organic resin composition is provided on the substrate on the light incident surface side, with abrasion resistance,
It can also be provided for the purpose of protecting the substrate, for example, for improving the printing durability, or for providing antistatic properties for preventing dust adhesion.

【0028】[0028]

【発明の実施の形態】以下、本発明の望ましい実施の形
態について、図面を参照して説明する。図1は、本発明
の実施態様に係わる光記録媒体の成膜方法および成膜装
置を示している。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 shows a film forming method and a film forming apparatus for an optical recording medium according to an embodiment of the present invention.

【0029】図1において、1a〜1hはディスクを示
している。2はロードロックチャンバーであり、ディス
クを連続的に大気中からスパッタリングチャンバー内に
搬入する際にスパッタリングチャンバーの真空状態を維
持するために設けられる。3はスパッタリングチャンバ
ーであり、4a〜4dはターゲット、5a〜5cは遮蔽
板であり、ターゲットと遮蔽板を備えた4ヶ所の成膜部
が設置されている。6はアンロードロックチャンバーで
あり、基板をスパッタリングチャンバーから大気中に搬
出する際に、ロードロックチャンバー2と同様の機能を
はたす。7a〜7dは大気と真空状態を隔離するための
ゲートバルブであり、ディスクの通過時には開閉する。
8はスパッタリングガス導入系を示しており、1つのマ
スフローコントローラによりガス流量をコントロール
し、スパッタリングチャンバー内のスパッタガス圧分布
を均一にするために、4ヶ所の成膜部をカバーするノズ
ルを備えている。9、10a、10bは高真空排気ポン
プであり、一般にはクライオポンプまたはターボ分子ポ
ンプが用いられる。図1には示していないが、スパッタ
リングチャンバーには1セットの真空度測定系が設けら
れている。
In FIG. 1, reference numerals 1a to 1h indicate disks. Reference numeral 2 denotes a load lock chamber, which is provided to maintain a vacuum state of the sputtering chamber when a disk is continuously carried into the sputtering chamber from the atmosphere. 3 is a sputtering chamber, 4a to 4d are targets, 5a to 5c are shielding plates, and four film forming units provided with the targets and the shielding plates are installed. Reference numeral 6 denotes an unload lock chamber, which performs the same function as the load lock chamber 2 when the substrate is carried out of the sputtering chamber into the atmosphere. 7a to 7d are gate valves for isolating the vacuum state from the atmosphere, and open and close when the disk passes.
Reference numeral 8 denotes a sputtering gas introduction system, which is provided with nozzles that cover four film forming sections in order to control the gas flow rate by one mass flow controller and to make the distribution of the sputtering gas pressure in the sputtering chamber uniform. I have. Reference numerals 9, 10a, and 10b denote high vacuum pumps, and generally, a cryopump or a turbo molecular pump is used. Although not shown in FIG. 1, the sputtering chamber is provided with a set of vacuum measurement systems.

【0030】ディスクはロードロックチャンバー2側か
ら1枚ずつ順次搬送されスパッタリングチャンバー3に
搬入される。4ヶ所の成膜部には、4層構造のそれぞれ
の層の形成のための異なるターゲット4a〜4cがあら
かじめセットされている。ディスクは、4ヶ所の成膜部
に順次搬送され、そこで所望の膜厚の層がスパッタリン
グにより成膜されることにより、4層構造が形成され
る。図1は、成膜部において基板が静止する静止対向式
を示しているが、もちろん、成膜部を基板が通過しなが
ら成膜される通過式、成膜部において基板が自転および
/または公転する自転式/公転式/自公転式などの各種
の成膜方式を選択することもできる。また、ディスク
は、1枚ずつではなく、複数枚を1つのセットとして搬
送しても良い。ディスクは連続的に供給されるので、4
ヶ所の成膜部では、同時あるいは時間的にオーバラップ
してスパッタリングが行われ、4層構造のそれぞれの層
は、実質上同一のスパッタリングガス、および実質上同
一スパッタリング圧力により成膜される。4層構造が形
成されたディスクはアンロードロックチャンバー6より
大気中に搬出される。
The discs are sequentially conveyed one by one from the load lock chamber 2 side and loaded into the sputtering chamber 3. Different targets 4a to 4c for forming the respective layers of the four-layer structure are set in advance in the four film forming units. The disk is sequentially transported to four film forming units, where a layer having a desired film thickness is formed by sputtering to form a four-layer structure. FIG. 1 shows a stationary facing type in which the substrate is stationary in the film forming unit. Of course, the substrate is rotated and / or revolved in the film forming unit in a passing type in which the film is formed while the substrate passes through the film forming unit. It is also possible to select various film forming methods such as a rotation type / revolution type / rotation type. Also, a plurality of disks may be conveyed as one set instead of one by one. Since disks are supplied continuously, 4
Sputtering is performed simultaneously or temporally in the film forming units at the four locations, and the respective layers of the four-layer structure are formed with substantially the same sputtering gas and substantially the same sputtering pressure. The disk on which the four-layer structure is formed is carried out from the unload lock chamber 6 to the atmosphere.

【0031】図1においては、複数の成膜部が直線上に
配置されているが、円周上に配置するレイアウトは装置
をコンパクトにするには有効である。このような円周上
に配置するレイアウトの場合、ロードロックチャンバー
とアンロードロックチャンバーを1つのチャンバーで共
用することも可能である。
In FIG. 1, a plurality of film forming units are arranged on a straight line, but a layout arranged on a circumference is effective for making the apparatus compact. In the case of a layout arranged on such a circumference, the load lock chamber and the unload lock chamber can be shared by one chamber.

【0032】図2は、上記と同様の4層構造の光記録媒
体を形成するための、従来の技術に基づいた成膜方法お
よび成膜装置を示している。4層構造の各層は、それぞ
れに適した異なったスパッタリングガス、スパッタリン
グ圧力により形成される。このために、3a、3b、3
c、3dの真空的に独立したスパッタリングチャンバー
が必要であり、各チャンバーを隔離するためのゲートバ
ルブ7e、7f、7g、各チャンバーごとの高真空排気
ポンプ9a、9b、9c、9d、また図2には示してい
ないが各スパッタリングチャンバーごとに1セットの真
空度測定系などが必要となる。
FIG. 2 shows a film forming method and a film forming apparatus based on the prior art for forming an optical recording medium having the same four-layer structure as described above. Each layer of the four-layer structure is formed by a different sputtering gas and sputtering pressure suitable for each layer. For this purpose, 3a, 3b, 3
c and 3d are required for the vacuum independent sputtering chambers, gate valves 7e, 7f and 7g for isolating each chamber, high vacuum pumps 9a, 9b, 9c and 9d for each chamber, and FIG. Although not shown, one set of vacuum degree measurement system or the like is required for each sputtering chamber.

【0033】例えばスパッタリングチャンバー3aと3
bで使用するスパッタリングガスが異なる場合、ディス
ク1cを3aから3bに搬送する際には、相互のスパッ
タリングガスのコンタミネーションを防止するために、
3aと3bの両方のチャンバーを一旦高真空排気する必
要がある場合がある。このような操作に要する時間は単
位時間当たりのディスク処理枚数の低下、すなわち生産
性の低下をもたらす。
For example, the sputtering chambers 3a and 3
If the sputtering gas used in b is different, when transporting the disk 1c from 3a to 3b, in order to prevent mutual sputtering gas contamination,
It may be necessary to evacuate both chambers 3a and 3b once to a high vacuum. The time required for such an operation results in a decrease in the number of processed disks per unit time, that is, a decrease in productivity.

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の光記録媒
体の成膜方法および成膜装置によると、多層構造のスパ
ッタリング層を有する光記録媒体が、量産規模の製造に
おいても真空的に1つのスパッタリングチャンバーで製
造することができる。このため、成膜装置全体の構成/
機構がシンプルになり、装置としての信頼性が向上し、
メンテナンス性も向上する。また、ディスクのチャンバ
ー間の搬送機構が簡素となるので搬送速度を高くするこ
とができる。このため、単位時間当りのディスク処理枚
数を増やすことが可能となり生産性が高くなる。さら
に、装置としても安価なものとなる。
As described above, according to the method and apparatus for forming an optical recording medium of the present invention, an optical recording medium having a multilayered sputtering layer can be vacuum-produced even in mass production scale production. It can be manufactured in one sputtering chamber. For this reason, the configuration /
The mechanism is simplified, the reliability of the device is improved,
Maintenance is also improved. Further, the transfer mechanism between the chambers of the disk is simplified, so that the transfer speed can be increased. For this reason, the number of processed disks per unit time can be increased, and productivity is improved. Further, the device becomes inexpensive.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の一実施形態に係わる光記録媒体の成
膜方法および成膜装置の概略説図である。
FIG. 1 is a schematic diagram illustrating a film forming method and a film forming apparatus for an optical recording medium according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来技術に基づく光記録媒体の成膜方法およ
び成膜装置の概略説図である。
FIG. 2 is a schematic diagram illustrating a film forming method and a film forming apparatus for an optical recording medium based on a conventional technique.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a〜1h ディスク 2 ロードロックチャンバー 3 スパッタリングチャンバー 4a〜4d ターゲット 5a〜5d 遮蔽版 6 アンロードロックチャンバー 7a〜7d ゲートバルブ 8 スパッタリングガス導入系 9、10a、10b 高真空排気ポンプ 1a-1h Disc 2 Load lock chamber 3 Sputtering chamber 4a-4d Target 5a-5d Shielding plate 6 Unload lock chamber 7a-7d Gate valve 8 Sputtering gas introduction system 9, 10a, 10b High vacuum exhaust pump

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空的に単一のスパッタリングチャンバ
ー内に設置された複数の成膜部によって、スパッタリン
グによる多層構造を形成することを特徴とする光記録媒
体の製造方法。
1. A method for manufacturing an optical recording medium, wherein a multilayer structure is formed by sputtering using a plurality of film forming units installed in a single sputtering chamber in a vacuum.
【請求項2】 少なくとも2ヶ所以上の成膜部におい
て、同時にあるいは時間的にオーバラップしてそれぞれ
のスパッタリング層を形成することを特徴とする請求項
1記載の光記録媒体の製造方法。
2. The method for manufacturing an optical recording medium according to claim 1, wherein the sputtering layers are formed simultaneously or temporally in at least two or more film forming sections so as to overlap each other.
【請求項3】 スパッタリングにより形成された複数の
層が、少なくとも保護層、記録層、反射層からなること
を特徴とする請求項1記載の光記録媒体の製造方法。
3. The method according to claim 1, wherein the plurality of layers formed by sputtering comprise at least a protective layer, a recording layer, and a reflective layer.
【請求項4】 保護層が主としてZnSとSiO2 より
なることを特徴とする請求項3記載の光記録媒体の製造
方法。
4. The method according to claim 3, wherein the protective layer is mainly composed of ZnS and SiO 2 .
【請求項5】 記録層が主としてGe、Sb、Teより
なる相変化記録層であることを特徴とする請求項3記載
の光記録媒体の製造方法。
5. The method according to claim 3, wherein the recording layer is a phase change recording layer mainly composed of Ge, Sb, and Te.
【請求項6】 請求項1〜5のいずれかに記載の方法を
用いて成膜をおこなうことを特徴とする光記録媒体の成
膜装置。
6. A film forming apparatus for an optical recording medium, wherein a film is formed by using the method according to claim 1.
JP27823196A 1996-10-21 1996-10-21 Production of optical recording medium and film forming device Pending JPH10124941A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27823196A JPH10124941A (en) 1996-10-21 1996-10-21 Production of optical recording medium and film forming device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP27823196A JPH10124941A (en) 1996-10-21 1996-10-21 Production of optical recording medium and film forming device

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH10124941A true JPH10124941A (en) 1998-05-15

Family

ID=17594454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP27823196A Pending JPH10124941A (en) 1996-10-21 1996-10-21 Production of optical recording medium and film forming device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH10124941A (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6309516B1 (en) Method and apparatus for metal allot sputtering
JPH10124941A (en) Production of optical recording medium and film forming device
JP3428085B2 (en) Method for manufacturing magneto-optical recording medium
US5904819A (en) Optical disk and method of manufacturing optical disk
JP2003059130A (en) Device and method for film formation, production method for optical recording medium, and optical recording medium
JP2001035014A (en) Optical information recording medium, manufacture of the same and sputtering device used for production of the same
US20080102318A1 (en) Magneto-optical recording medium and its manufacturing method
JP2850713B2 (en) Optical information recording medium
US5232567A (en) Process for fabricating of a magneto-optical recording medium
JPH01173454A (en) Magneto-optical recording medium
Brucker Magneto-Optical Thin Film Recording Materials in Practice
JP2967949B2 (en) Optical information recording medium
JP2673281B2 (en) Manufacturing method of optical recording medium
EP1145234A1 (en) Phase change-type optical recording medium and process for manufacturing the same
JP2583255B2 (en) Magneto-optical recording medium
JPH07188913A (en) Thin film forming device and formation of thin film
JPH03134834A (en) Optical recording medium
JPH05156441A (en) Vacuum film forming device
JPH10340487A (en) Production of optical recording medium
JP2002319193A (en) Apparatus and method for manufacturing optical recording medium, and apparatus for depositing dielectric film
JPH05225607A (en) Substrate for optical disk and its production
JP2002324335A (en) Optical recording medium and its manufacturing method
JP2002133734A (en) Optical recording medium manufacturing device
JPH07121921A (en) Manufacture of magneto-optical disk
JP2004273010A (en) Method for manufacturing magneto-optical recording medium and sputtering system