JPH0992703A - Collet and transfer unit fixed with collet - Google Patents

Collet and transfer unit fixed with collet

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JPH0992703A
JPH0992703A JP24436195A JP24436195A JPH0992703A JP H0992703 A JPH0992703 A JP H0992703A JP 24436195 A JP24436195 A JP 24436195A JP 24436195 A JP24436195 A JP 24436195A JP H0992703 A JPH0992703 A JP H0992703A
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JP
Japan
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collet
coating
product
suction
arm
Prior art date
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Pending
Application number
JP24436195A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoru Takahashi
悟 高橋
Kaoru Usami
薫 宇佐美
Nobuhiro Murakami
信博 村上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
O S II KK
Hitachi Ltd
Akita Electronics Systems Co Ltd
Original Assignee
O S II KK
Hitachi Ltd
Akita Electronics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by O S II KK, Hitachi Ltd, Akita Electronics Co Ltd filed Critical O S II KK
Priority to JP24436195A priority Critical patent/JPH0992703A/en
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To hold a product horizontally and to prevent the product from being shifted from the holding position at the time of transfer by forming a coating having high frictional coefficient to the sucking face of a collet for transferring an IC, while sucking, onto a processing stage. SOLUTION: The collet 1 comprises a three stage tube and a collet body 2 is formed at the thickest lower end part thereof. The thinnest upper end part serves as the fixing shaft 3 of the collet 1. The vacuum suction hole 4 in the collet 1 is enlarged at the part of the collet body 2. A coating 7 having high frictional coefficient is formed at the forward end of the collet body 2 thus forming a suction face 8. The coating 7 is formed by electrodepositing diamond particles having a grain size of 3 micron or #2000-3000 as thick as several mm. Consequently, the frictional coefficient of the coating 7 can be increased and an IC can be prevented from slipping on the suction face 8 even if its is transferred or turned while being sucked and the IC can be fed accurately to a predetermined position of the processing stage.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はコレット、特に半導
体装置を真空吸着する円筒形の金属コレットに関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a collet, and more particularly to a cylindrical metal collet for vacuum-sucking a semiconductor device.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に物品を保持移送する工具として、
円筒形の真空吸着構造のコレットやゴム製吸着パッドが
知られている。円筒形のコレットは半導体チップのボン
ディング用に使用されたり、半導体装置を実装する際使
用されている。たとえば、半導体チップを保持するコレ
ットについては、日刊工業新聞社発行「半導体製造装置
用語辞典」1991年9月28日発行、P215に記載されてい
る。
2. Description of the Related Art Generally, as a tool for holding and transferring articles,
A cylindrical vacuum suction structure collet and a rubber suction pad are known. The cylindrical collet is used for bonding a semiconductor chip or mounting a semiconductor device. For example, a collet for holding a semiconductor chip is described in “Semiconductor Manufacturing Equipment Glossary” published by Nikkan Kogyo Shimbun, September 28, 1991, P215.

【0003】また、半導体装置を保持するためのゴム製
吸着パッドも市販されている。
Rubber suction pads for holding semiconductor devices are also commercially available.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】本発明者等は、LS
I,IC等半導体装置の外形寸法を測定するIC外形寸
法測定機の製品ピックアップに、金属製のコレットやゴ
ム製吸着パッドを使用することを検討したが、以下のよ
うな問題が派生することが分かった。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present inventors
I have considered using a metal collet or rubber suction pad for the product pickup of an IC external dimension measuring machine that measures the external dimensions of semiconductor devices such as I and IC, but the following problems may occur. Do you get it.

【0005】ゴム製吸着パッドは、吸着力が強く、IC
のパッケージ部分を保持した場合上滑りは起き難いが、
パッケージの重心から外れた部分を保持すると、パッド
が変形して半導体装置が傾いてしまい、正確な移送がで
きなくなる場合がある。また、ゴム製吸着パッドはゴム
の導電率が低く帯電し、ICにおいて静電破壊事故が発
生する場合もあり、製品を損傷させるおそれがある。ま
た、ゴム製吸着パッドはゴムが劣化し易くパッドの寿命
が短くなる。
The rubber suction pad has a strong suction force,
If you keep the package part of
If the portion of the package that is deviated from the center of gravity is held, the pad may be deformed and the semiconductor device may be tilted, which may prevent accurate transfer. Further, the rubber suction pad has a low conductivity of rubber and is charged, and an electrostatic breakdown accident may occur in the IC, which may damage the product. Further, the rubber suction pad is liable to deteriorate the rubber and shortens the life of the pad.

【0006】一方、金属製のコレットは、ICのパッケ
ージの重心から外れた部分を真空吸着した場合であって
もコレットが変形しないことからICを水平に保持する
ことができる。しかし、金属であり、表面の摩擦係数が
小さいため、コレットを保持するアームを回動させた場
合、ICが金属製コレットに対して横滑りを起こしてし
まい保持位置がずれる。この結果、IC外形寸法測定機
のステージ上の所定位置に正確にICを供給できない場
合が起きる。
On the other hand, the metal collet can hold the IC horizontally because the collet does not deform even when a portion of the IC package deviated from the center of gravity of the package is vacuum-sucked. However, since the surface of the collet is made of metal and the coefficient of friction is small, when the arm that holds the collet is rotated, the IC slides sideways with respect to the metal collet, and the holding position shifts. As a result, there are cases where the IC cannot be accurately supplied to a predetermined position on the stage of the IC external dimension measuring machine.

【0007】本発明の目的は、製品を水平保持でき、か
つ移動時に製品保持位置のずれを生じないコレットおよ
びそのコレットを取り付けた移送装置を提供することに
ある。
It is an object of the present invention to provide a collet which can hold a product horizontally and which does not cause a shift in the product holding position during movement, and a transfer device to which the collet is attached.

【0008】本発明の前記ならびにそのほかの目的と新
規な特徴は、本明細書の記述および添付図面からあきら
かになるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The following is a brief description of an outline of typical inventions disclosed in the present application.

【0010】(1)駆動本体から延在するアームと、前
記アームの先端に取り付けられた筒状の金属からなるコ
レットとを有し、前記アームを駆動させて供給ステージ
にある製品(IC)をコレットの下面の吸着面に真空吸
着保持した後、コレットに保持しているICを処理ステ
ージ上に移送する移送装置であって、前記コレットの吸
着面には摩擦係数が大きい被膜が形成されている。前記
被膜はダイヤモンド粒子を電着させた耐磨耗性の電着層
となっている。
(1) An arm extending from the drive body and a collet made of a cylindrical metal attached to the tip of the arm, and driving the arm to produce a product (IC) on the supply stage. A transfer device for transferring the IC held in the collet onto a processing stage after vacuum holding the suction surface on the lower surface of the collet, and forming a film having a large friction coefficient on the suction surface of the collet. . The coating is a wear-resistant electrodeposition layer on which diamond particles are electrodeposited.

【0011】前記(1)の手段によれば、(a)コレッ
トは剛体(金属)からなっていることから、製品(I
C)の重心位置を外れてコレットで真空吸着保持して
も、製品は傾いたりしない。
According to the means (1), since the collet (a) is made of a rigid body (metal), the product (I)
Even if the center of gravity of C) is deviated and the product is held by vacuum suction with a collet, the product will not tilt.

【0012】(b)コレットの吸着面には摩擦係数が大
きい被膜が設けられているため、アームを回転させた
り、停止させたりした場合、ICがコレットに対して横
滑りすることがなくなり、処理ステージの所定位置に正
確にICを供給できる。
(B) Since the coating surface having a large friction coefficient is provided on the suction surface of the collet, when the arm is rotated or stopped, the IC does not slide sideways with respect to the collet, and the processing stage. The IC can be accurately supplied to the predetermined position.

【0013】(c)コレットの吸着面に設けられる被膜
は耐磨耗性に優れたダイヤモンド粒子による電着層とな
っていることから、コレットの寿命が長くなり、長期間
に亘ってICを正確に処理ステージに供給できる。
(C) Since the coating provided on the suction surface of the collet is an electrodeposition layer of diamond particles having excellent wear resistance, the life of the collet is extended and the IC can be accurately measured over a long period of time. Can be supplied to the processing stage.

【0014】(d)コレットは金属製であり、コレット
の吸着面に設けた被膜もダイヤモンド粒子による導体で
あることから、ICを静電破壊によって損傷させること
がなくなる。
(D) Since the collet is made of metal and the coating provided on the attracting surface of the collet is also a conductor of diamond particles, the IC is not damaged by electrostatic breakdown.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0016】なお、発明の実施の形態を説明するための
全図において、同一機能を有するものは同一符号を付
け、その繰り返しの説明は省略する。
In all the drawings for describing the embodiments of the present invention, components having the same functions are denoted by the same reference numerals, and their repeated description will be omitted.

【0017】図1は、本発明の一実施形態である金属製
コレットを示す斜視図、図2は本発明の一実施形態であ
る金属製コレットを取り付けたIC外形寸法測定機の一
部を示す正面図、図3は本実施形態のIC外形寸法測定
機の一部を示す模式的平面図、図4は本実施形態のIC
外形寸法測定機の移送装置の一部を示す拡大図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a metal collet which is an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a part of an IC external dimension measuring machine to which a metal collet which is an embodiment of the present invention is attached. Front view, FIG. 3 is a schematic plan view showing a part of the IC external dimension measuring machine of this embodiment, and FIG. 4 is an IC of this embodiment.
It is an enlarged view which shows a part of transfer apparatus of an external dimension measuring machine.

【0018】本発明の一実施形態であるコレット1は、
図1に示すように筒形、たとえば円筒形となっている。
本実施形態においては、コレット1は3段の段付き円筒
体となり、最も太い下端部分がコレット本体2を形成し
ている。また、最も細い上端部分は、コレット1の取付
軸3となっている。また、コレット1の内部の真空吸着
穴4は、前記コレット本体2部分で太くなっている。コ
レット1は、たとえばステンレスで形成され、剛体でか
つ導体となっている。
The collet 1, which is an embodiment of the present invention, is
As shown in FIG. 1, it has a cylindrical shape, for example, a cylindrical shape.
In the present embodiment, the collet 1 is a cylindrical body with three steps, and the thickest lower end portion forms the collet body 2. The thinnest upper end portion is the mounting shaft 3 of the collet 1. Further, the vacuum suction hole 4 inside the collet 1 is thick at the collet body 2 portion. The collet 1 is made of stainless steel, for example, and is a rigid body and a conductor.

【0019】前記コレット本体2の先端(下端)には、
摩擦係数が大きい被膜7が形成され、吸着面8を形成し
ている。前記被膜7はダイヤモンド粒子を電着して形成
した電着層となり、たとえば、数mmの厚さとなってい
る。ダイヤモンド粒子の粒度は直径3μm(#300
0)のものまたは#2000〜#3000のものが使用
されている。これによって、被膜7の摩擦係数は、従来
のような金属面と異なり大きなものとなり、製品を真空
吸着保持した状態でコレットを移動させたり回転させた
りしても、製品がコレットの吸着面8で横滑りしなくな
る。
At the tip (lower end) of the collet body 2,
The coating film 7 having a large friction coefficient is formed to form the adsorption surface 8. The coating 7 is an electrodeposition layer formed by electrodeposition of diamond particles, and has a thickness of, for example, several mm. The diameter of diamond particles is 3 μm (# 300
0) or # 2000 to # 3000 are used. As a result, the coefficient of friction of the coating film 7 becomes large unlike the conventional metal surface, and even if the collet is moved or rotated while the product is held by vacuum suction, the product remains on the suction surface 8 of the collet. No more skidding.

【0020】つぎに、IC外形寸法測定機の移送装置
(ピックアップ装置)に本実施形態の金属製コレットを
取り付けた例について説明する。
Next, an example in which the metal collet of the present embodiment is attached to the transfer device (pickup device) of the IC external dimension measuring machine will be described.

【0021】図2および図3はIC外形寸法測定機の要
部を示す模式図であり、IC外形寸法測定部は省略して
ある。IC外形寸法測定機は、機台10の一隅に移送装
置(ピックアップ装置)11を配置し、機台10の中央
に処理ステージ12を有する構造となっている。
2 and 3 are schematic views showing the essential parts of the IC external dimension measuring machine, and the IC external dimension measuring section is omitted. The IC external dimension measuring machine has a structure in which a transfer device (pickup device) 11 is arranged at one corner of the machine base 10 and a processing stage 12 is provided in the center of the machine base 10.

【0022】移送装置11は、上部が昇降制御自在の駆
動本体13と、この駆動本体13から延在するアーム1
4と、前記アーム14の先端に取り付けられたコレット
1とからなっている。
The transfer device 11 has a drive main body 13 whose upper part can be controlled to move up and down, and an arm 1 extending from the drive main body 13.
4 and a collet 1 attached to the tip of the arm 14.

【0023】コレット1は、図4に示すように、アーム
14には最上段の取付軸3が挿入固定されるが、アーム
14から上方に突出した取付軸3部分には、タイミング
ベルト15に噛み合う従動歯車16が固定されている。
また、前記タイミングベルト15は、ドライブモータ1
7の回転軸18に固定された駆動歯車19に噛み合って
いる。前記ドライブモータ17は前記駆動本体13内に
配設され、ドライブモータ17の回転軸18の先端を前
記駆動本体13の外に突出させている。駆動歯車19は
駆動本体13の外に突出した回転軸18部分に固定され
ている。
As shown in FIG. 4, the uppermost mounting shaft 3 of the collet 1 is inserted and fixed in the arm 14. The mounting shaft 3 protruding upward from the arm 14 meshes with the timing belt 15. The driven gear 16 is fixed.
The timing belt 15 is used for the drive motor 1
7 is in mesh with a drive gear 19 fixed to a rotary shaft 18. The drive motor 17 is disposed inside the drive body 13, and the tip of the rotary shaft 18 of the drive motor 17 is projected outside the drive body 13. The drive gear 19 is fixed to a portion of the rotary shaft 18 protruding outside the drive body 13.

【0024】これによって、ドライブモータ17を適宜
駆動させることによってコレット1はアーム14に対し
て回動し、コレット1の下面の吸着面8に真空吸着保持
した製品(IC)20の方向性を自由に修正できる。I
C20は、レジンで形成される矩形体からなるパッケー
ジ21と、前記パッケージ21の周囲から突出するガル
ウィング型のリード22とからなる。コレット1の吸着
面8は、パッケージ21の平坦な面に当てられ、コレッ
ト1を真空吸着保持する。
As a result, by appropriately driving the drive motor 17, the collet 1 is rotated with respect to the arm 14 and the direction (orientation) of the product (IC) 20 vacuum suction-held on the suction surface 8 on the lower surface of the collet 1 is set. Can be modified to I
The C20 is composed of a rectangular package 21 formed of resin and a gull-wing type lead 22 protruding from the periphery of the package 21. The suction surface 8 of the collet 1 is brought into contact with the flat surface of the package 21, and holds the collet 1 by vacuum suction.

【0025】また、図3に示すように、機台10の一側
にはIC20を供給する供給ステージ30が配設されて
いる。
Further, as shown in FIG. 3, a supply stage 30 for supplying the IC 20 is arranged on one side of the machine base 10.

【0026】一方、前記アーム14の先端に固定された
コレット1の駆動本体13先端には、図示しない真空吸
引システムに接続されるパイプ31が接続されている。
したがって、図示しない真空吸引システムを駆動(オ
ン)させることによって、コレット1の吸着面8にIC
20を真空吸着保持できる。また、コレット1に真空吸
着保持されたIC20を外す場合は、前記真空吸引シス
テムをオフ動作させれば良い。
On the other hand, a pipe 31 connected to a vacuum suction system (not shown) is connected to the tip of the driving body 13 of the collet 1 fixed to the tip of the arm 14.
Therefore, by driving (turning on) a vacuum suction system (not shown), the suction surface 8 of the collet 1 is exposed to the IC.
20 can be held by vacuum suction. Further, when removing the IC 20 held by vacuum suction on the collet 1, the vacuum suction system may be turned off.

【0027】このような移送装置11は、駆動本体13
の昇降動作と回転動作の組み合わせによって、前記機台
10の一側に配置された供給ステージ30にあるIC2
0をコレット1の下面の吸着面8に真空吸着保持して、
処理ステージ12上に供給する。この際、ドライブモー
タ17を適宜駆動させることによってコレット1を回転
制御し、処理ステージ12に供給するIC20の方向性
を補正できる。
Such a transfer device 11 includes a drive body 13
IC2 on the supply stage 30 arranged on one side of the machine base 10 by the combination of the lifting operation and the rotating operation of the IC2.
0 is vacuum-held on the suction surface 8 on the lower surface of the collet 1,
Supply on the processing stage 12. At this time, the drive motor 17 is appropriately driven to control the rotation of the collet 1 and the directionality of the IC 20 supplied to the processing stage 12 can be corrected.

【0028】したがって、本実施形態による移送装置1
1を有するIC外形寸法測定機では、処理ステージ12
の所定位置に正確にIC20が供給されるため、その後
のIC外形寸法測定が正確かつ効率良く行える。
Therefore, the transfer device 1 according to the present embodiment
In the IC outside dimension measuring machine having
Since the IC 20 is accurately supplied to the predetermined position, the subsequent IC external dimension measurement can be performed accurately and efficiently.

【0029】本実施形態のコレット1およびそのコレッ
ト1を取り付けた移送装置11によれば、以下の効果を
奏する。
The collet 1 and the transfer device 11 having the collet 1 of the present embodiment have the following effects.

【0030】(1)製品であるIC20の重心位置を外
れた部分をコレット1で真空吸着保持しても、コレット
1が金属体(剛体)で形成されていることから、コレッ
ト1が変形(曲がったり)せず、IC20が傾いたりし
なくなり、処理ステージ12の所定位置に正確にIC2
0を供給することができる。
(1) Even if the collet 1 is vacuum-sucked and held by the collet 1 at a portion deviated from the center of gravity of the IC 20 as a product, the collet 1 is formed of a metal body (rigid body), so that the collet 1 is deformed (bent). IC20 does not tilt and the IC2 is accurately placed at a predetermined position on the processing stage 12.
0 can be supplied.

【0031】(2)コレット1の吸着面8は摩擦係数が
大きい被膜7で形成されているため、コレット1を支持
するアーム14を回転させたり、停止させたりした場
合、コレット1に保持されるIC20がコレット1に対
して横滑りすることがなくなり、処理ステージ12の所
定位置に正確にIC20を供給できる。
(2) Since the suction surface 8 of the collet 1 is formed of the coating 7 having a large friction coefficient, when the arm 14 supporting the collet 1 is rotated or stopped, it is held by the collet 1. The IC 20 does not slide sideways with respect to the collet 1, and the IC 20 can be accurately supplied to the predetermined position of the processing stage 12.

【0032】(3)コレット1の吸着面8に設けられる
被膜7は耐磨耗性に優れたダイヤモンド粒子による電着
層となっていることから、コレット1の寿命が長くな
り、長期間に亘ってIC20を正確に処理ステージ12
に供給できる。
(3) Since the coating film 7 provided on the adsorption surface 8 of the collet 1 is an electrodeposition layer of diamond particles having excellent wear resistance, the life of the collet 1 is long, and the collet 1 has a long life. IC20 accurately processes stage 12
Can be supplied to.

【0033】(4)コレット1は金属製であり、コレッ
ト1の吸着面に設けた被膜7もダイヤモンド粒子による
導体であることから、IC20を静電破壊によって損傷
させることがなくなる。
(4) Since the collet 1 is made of metal and the coating 7 provided on the attracting surface of the collet 1 is also a conductor of diamond particles, the IC 20 will not be damaged by electrostatic breakdown.

【0034】以上本発明者によってなされた発明を実施
形態に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施形
態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範
囲で種々変更可能であることはいうまでもない、たとえ
ば、前記実施形態では、コレットをステンレス製とした
が、鉄,アルミニウム等ダイヤモンド粒子を電着できれ
ば他の金属でもよい。また、コレットはセラミック等で
形成して剛体としても良い。この場合、コレットの表面
に導体ペーストを印刷・焼成して、ダイヤモンド粒子の
電着化を可能とするとともに、ICの静電破壊を防止す
るようにしても良い。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the present invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say, for example, in the above embodiment, the collet is made of stainless steel, but other metals such as iron and aluminum may be used as long as diamond particles can be electrodeposited. Further, the collet may be made of ceramic or the like to be a rigid body. In this case, a conductor paste may be printed and fired on the surface of the collet so that the diamond particles can be electrodeposited and the electrostatic breakdown of the IC can be prevented.

【0035】また、前記実施形態では、ダイヤモンド粒
子の粒度を#2000〜#3000としたが、常に確実
な真空吸着保持が可能となるように、真空吸着保持する
製品の表面の粗さによって適宜選択すれば良い。この結
果、信頼性の高いハンドリングが可能となる。
Further, in the above embodiment, the particle size of diamond particles is set to # 2000 to # 3000, but it is appropriately selected depending on the surface roughness of the product to be vacuum suction-held so that the vacuum suction-holding can be always performed. Just do it. As a result, highly reliable handling becomes possible.

【0036】図5は本発明の他の実施形態である移送装
置の一部を示す正面図である。この実施形態では、アー
ム14に複数のコレット1を配設し、表面積の大きい製
品20や重量の大きい製品20を真空吸着保持するよう
にしたものである。この実施形態でも、コレット1の吸
着面を摩擦係数が大きい被膜7で形成してあることか
ら、アーム14を回転させたり、停止させたりした場
合、コレット1に保持される製品20がコレット1に対
して横滑りすることがなくなり、所定位置に正確に製品
20を供給できる。
FIG. 5 is a front view showing a part of a transfer device according to another embodiment of the present invention. In this embodiment, a plurality of collets 1 are arranged on the arm 14 so that a product 20 having a large surface area or a product 20 having a large weight is vacuum-sucked and held. Also in this embodiment, since the attracting surface of the collet 1 is formed of the coating 7 having a large friction coefficient, when the arm 14 is rotated or stopped, the product 20 held by the collet 1 is transferred to the collet 1. The product 20 can be accurately supplied to a predetermined position without slipping on the side.

【0037】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるIC外
形寸法測定機に適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではない。本発明は少なくとも製品を
真空吸着する筒状のコレットを取り付けた各種機器には
適用できる。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the IC external dimension measuring machine which is the field of application which is the background of the invention has been described, but the invention is not limited to this. INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be applied to various devices equipped with at least a cylindrical collet for vacuum-sucking a product.

【0038】[0038]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0039】(1)コレットは金属で形成されているこ
とから、ICの重心位置を外れてコレットで真空吸着保
持しても、ICは傾いたりしない。
(1) Since the collet is made of metal, the IC does not tilt even if the collet is vacuum sucked and held outside the center of gravity of the IC.

【0040】(2)コレットの吸着面には摩擦係数が大
きい被膜が設けられているため、アームを回転させた
り、停止させたりした場合、ICがコレットに対して横
滑りすることがなくなり、処理ステージの所定位置に正
確にICを供給できる。
(2) Since the coating surface having a large friction coefficient is provided on the suction surface of the collet, when the arm is rotated or stopped, the IC does not slide sideways with respect to the collet, and the processing stage The IC can be accurately supplied to the predetermined position.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施形態である金属製コレットを示
す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a metal collet according to an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の一実施形態である金属製コレットを取
り付けたIC外形寸法測定機の一部を示す正面図であ
る。
FIG. 2 is a front view showing a part of the IC external dimension measuring machine to which the metal collet according to the embodiment of the present invention is attached.

【図3】本実施形態のIC外形寸法測定機の一部を示す
模式的平面図である。
FIG. 3 is a schematic plan view showing a part of the IC outside dimension measuring machine of the present embodiment.

【図4】本実施形態のIC外形寸法測定機の移送装置の
一部を示す拡大図である。
FIG. 4 is an enlarged view showing a part of a transfer device of the IC external dimension measuring machine according to the present embodiment.

【図5】本発明の他の実施形態である移送装置の一部を
示す正面図である。
FIG. 5 is a front view showing a part of a transfer device according to another embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…コレット、2…コレット本体、3…取付軸、4…真
空吸着穴、7…被膜、8…吸着面、10…機台、11…
移送装置、12…処理ステージ、13…駆動本体、14
…アーム、15…タイミングベルト、16…従動歯車、
17…ドライブモータ、18…回転軸、19…駆動歯
車、20…製品(IC)、21…パッケージ、22…リ
ード、30…供給ステージ、31…パイプ。
1 ... Collet, 2 ... Collet body, 3 ... Mounting shaft, 4 ... Vacuum suction hole, 7 ... Coating, 8 ... Suction surface, 10 ... Machine stand, 11 ...
Transfer device, 12 ... Processing stage, 13 ... Driving body, 14
... arm, 15 ... timing belt, 16 ... driven gear,
17 ... Drive motor, 18 ... Rotation shaft, 19 ... Drive gear, 20 ... Product (IC), 21 ... Package, 22 ... Lead, 30 ... Supply stage, 31 ... Pipe.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宇佐美 薫 秋田県南秋田郡天王町天王字長沼64 アキ タ電子株式会社内 (72)発明者 村上 信博 秋田県秋田市飯島川端二丁目3−34 有限 会社 オーエスイー内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of front page (72) Inventor Kaoru Usami 64 Naganuma Tennuma, Tenno-cho, Minami-Akita-gun, Akita Prefecture Akita Denshi Co., Ltd. In OSE

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 製品を真空吸着保持する吸着面を有する
筒形の剛体からなるコレットであって、前記コレットの
吸着面には摩擦係数が大きい被膜が形成されていること
を特徴とするコレット。
1. A collet comprising a cylindrical rigid body having a suction surface for holding a product by vacuum suction, wherein a coating having a large friction coefficient is formed on the suction surface of the collet.
【請求項2】 前記被膜はダイヤモンド粒子が含まれて
いることを特徴とする請求項1記載のコレット。
2. The collet according to claim 1, wherein the coating contains diamond particles.
【請求項3】 前記コレットは導体からなり、前記被膜
は電着によって形成された電着層となっていることを特
徴とする請求項1または請求項2記載のコレット。
3. The collet according to claim 1, wherein the collet is made of a conductor, and the coating film is an electrodeposition layer formed by electrodeposition.
【請求項4】 駆動本体から延在するアームと、前記ア
ームの先端に取り付けられた筒状の剛体からなるコレッ
トとを有し、前記アームを駆動させて供給ステージにあ
る製品をコレットの下面の吸着面に真空吸着保持した
後、コレットに保持している製品を処理ステージ上に移
送する移送装置であって、前記コレットの吸着面には摩
擦係数が大きい被膜が形成されていることを特徴とする
移送装置。
4. An arm extending from a drive body, and a collet made of a cylindrical rigid body attached to the tip of the arm. The arm is driven to move the product on the supply stage to the lower surface of the collet. A transfer device for transferring a product held in a collet onto a processing stage after vacuum suction and holding on the suction surface, wherein a film having a large friction coefficient is formed on the suction surface of the collet. Transfer device.
【請求項5】 前記コレットは導体からなり、前記被膜
はダイヤモンド粒子を電着させた耐磨耗性の電着層とな
っていることを特徴とする請求項4記載の移送装置。
5. The transfer device according to claim 4, wherein the collet is made of a conductor, and the coating is a wear-resistant electrodeposition layer on which diamond particles are electrodeposited.
JP24436195A 1995-09-22 1995-09-22 Collet and transfer unit fixed with collet Pending JPH0992703A (en)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006013297A (en) * 2004-06-29 2006-01-12 Murata Mfg Co Ltd Ultrasonic joining apparatus
KR101972343B1 (en) * 2018-03-02 2019-04-25 에스더블류텍(주) Ceramics picker assembly
US11960213B2 (en) 2012-02-03 2024-04-16 Asml Netherlands B.V. Substrate holder, lithographic apparatus, device manufacturing method, and method of manufacturing a substrate holder

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