JPH0972784A - Photometer for microscope - Google Patents

Photometer for microscope

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JPH0972784A
JPH0972784A JP22817495A JP22817495A JPH0972784A JP H0972784 A JPH0972784 A JP H0972784A JP 22817495 A JP22817495 A JP 22817495A JP 22817495 A JP22817495 A JP 22817495A JP H0972784 A JPH0972784 A JP H0972784A
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祐仁 荒井
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To achieve a measurement with a high S/N ratio even if the luminous energy is very small by setting the dynamic range of the measurable luminous energy to a large value by automatically switching and selecting a count value in the case of very small luminous energy and the output value of an A/D conversion means in the other cases and outputting it as luminous energy information. SOLUTION: A numeric value comparison part 13 compares digital data outputted by an A/D converter 4 with a comparison value given from a comparison value setting part 14. A data selection part 7 selects digital data outputted by the converter 4 when the output signal from the converter 4 is larger the comparison value and the count value of a pulse coefficient part 6 as digital data when the output signal is smaller and then outputs it to a memory 8. In this case, since the comparison part 13 performs a comparison operation using the output of the converter 4 which is a digital value, an accurate and speedy operation can be made without generating a comparison error and an output delay in analog-like comparison operation.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、光電子倍増管など
の光電子増幅機能を有する光電変換素子を使用した顕微
鏡用測光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photometric device for a microscope using a photoelectric conversion element having a photoelectron amplification function such as a photomultiplier tube.

【0002】[0002]

【従来の技術】測光顕微鏡は、光源からの照明光を観察
試料に照射し、これにより観察試料を透過した透過光、
反射光、あるいは特に点状の光を照射したことで試料か
ら発生した蛍光などを、対物レンズを含む光学系を介し
て結像し、これを結像位置に配設された光検出器で検出
して光量の情報を得るようにしたものである。
2. Description of the Related Art A photometric microscope irradiates an observation sample with illumination light from a light source, whereby transmitted light transmitted through the observation sample,
Fluorescent light generated from the sample by irradiating the reflected light or point-shaped light is imaged through an optical system that includes an objective lens, and this is detected by a photodetector placed at the imaging position. Then, the information on the amount of light is obtained.

【0003】また、測光顕微鏡には、試料をX軸及びY
軸の方向に移動することで2次元面内で機械的に移動さ
せるX−Y走査方式や照明光をスキャン操作する光学系
などを採用し、これらによるX−Y走査に同期してCR
Tディスプレイ等の表示装置によりX−Y走査に対応し
た前記濃度情報の信号の輝点を表示することで試料を画
像として観察、解析できるようにした走査型光学顕微鏡
も含まれる。
Further, the photometric microscope uses a sample on the X-axis and Y-axis.
An XY scanning system that mechanically moves in a two-dimensional plane by moving in the axial direction and an optical system that scans the illumination light are adopted, and CR is synchronized with these XY scanning.
A scanning optical microscope is also included, which allows a sample to be observed and analyzed as an image by displaying bright points of the signal of the density information corresponding to XY scanning by a display device such as a T display.

【0004】一般にこれらの測光顕微鏡は、照明されて
いる試料からの透過光、反射光、蛍光を光電変換器によ
り電気信号に変換し、さらに量子化した後にこれを画像
や経時変化データとして記憶するための光電信号処理回
路を備えている。
In general, these photometric microscopes convert transmitted light, reflected light, and fluorescence from an illuminated sample into an electric signal by a photoelectric converter, further quantizing the electric signal, and then storing this as an image or temporal change data. A photoelectric signal processing circuit for

【0005】特に微弱な光量しか得られない蛍光や、走
査型光学顕微鏡で頻繁に用いられる共焦点光学系などか
らの光を検出するためには、光電変換器として、光電子
倍増管や、マルチチャネルプレート、アバランシェフォ
トダイオードなど光電子増幅作用を有する高感度なもの
を使用することが多い。
In particular, in order to detect fluorescence from which only a weak light amount is obtained or light from a confocal optical system frequently used in a scanning optical microscope, a photoelectric converter, a photomultiplier tube, or a multichannel is used as a photoelectric converter. A plate, avalanche photodiode, or other highly sensitive one having a photoelectron amplification effect is often used.

【0006】そして、この種の光電子増幅作用を有する
高感度なものを使用する際には、光電変換器から得られ
るアナログ信号の量子化回路として、A/D変換器を用
いる場合、ダイナミックレンジを広くとるべく例えば特
開昭58−139036のように前記A/D変換器の前
段に対数アンプを用いる場合、極端に測定対象の光量が
少ないために例えば実開平6−64132のように光子
による出力信号のパルスを計数する光子計数回路を用い
る場合等、測定対象の光量に合わせて最適な回路構成の
ものを選択して用いている。
When using a high-sensitivity one having this type of photoelectron amplification effect, when using an A / D converter as a quantizing circuit for an analog signal obtained from a photoelectric converter, the dynamic range is increased. If a logarithmic amplifier is used in front of the A / D converter as in Japanese Patent Laid-Open No. 58-139036, the amount of light to be measured is extremely small. When using a photon counting circuit that counts the pulse of a signal, an optimal circuit configuration is selected and used according to the amount of light to be measured.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】特に走査型光学顕微鏡
などに代表される測光顕微鏡の測定対象は、2次元面内
に光量の比較的大きい明るい部分から、光量の比較的少
ない暗い部分まで非常に広い範囲の光を測定する必要が
ある。
Particularly, the measuring object of a photometric microscope typified by a scanning optical microscope is very wide in a two-dimensional plane from a bright portion having a relatively large amount of light to a dark portion having a relatively small amount of light. A wide range of light needs to be measured.

【0008】しかしながら、一般的なA/D変換器を用
いた測光回路では、光量の少ない部分をS/N比を落と
さずに測定することは困難であり、また、光子計数回路
を用いた測光回路では、光量の少ない部分を高いS/N
比で測定できる反面、一定の光量を越えると測定不能と
なってしまうという不具合があった。
However, it is difficult for a photometry circuit using a general A / D converter to measure a portion with a small light amount without lowering the S / N ratio, and photometry using a photon counting circuit. In the circuit, the part with low light intensity has a high S / N ratio.
Although it can be measured by a ratio, there is a problem that measurement becomes impossible when the amount of light exceeds a certain amount.

【0009】本発明は上記のような実情に鑑みてなされ
たもので、測定可能な光量のダイナミックレンジを大き
く設定しながら、微小な光量でもS/N比の高い測定を
行なうことが可能な顕微鏡用測光装置を提供することに
ある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and a microscope capable of performing measurement with a high S / N ratio even with a minute light amount while setting a large dynamic range of the measurable light amount. It is to provide a photometric device for use.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
光源からの照明光を観察試料に照射して得られる光を、
対物レンズを含む光学系を介して結像し、その光量を光
検出器で検出して光量情報を得る光学顕微鏡用測光装置
において、上記光検出器からの検出信号を増幅してアナ
ログ値からデジタル値に変換するA/D変換手段と、上
記光検出器からの検出信号のパルス成分を増幅して光子
数をカウントするカウント手段と、上記光検出器の検出
信号レベルに応じて上記A/D変換手段の出力及び上記
カウント手段のカウント値のいずれか一方を選択して測
定情報とする選択手段とを具備するようにしている。
According to the first aspect of the present invention,
The light obtained by illuminating the observation sample with the illumination light from the light source,
In a photometric device for an optical microscope, which forms an image through an optical system including an objective lens and detects the amount of light with a photodetector to obtain light amount information, the detection signal from the photodetector is amplified to digital from an analog value. A / D converting means for converting into a value, counting means for amplifying the pulse component of the detection signal from the photodetector to count the number of photons, and the A / D according to the detection signal level of the photodetector. A selection means for selecting one of the output of the conversion means and the count value of the counting means as measurement information is provided.

【0011】この結果、請求項1記載の発明によれば、
光量が微小な場合にはカウント手段のカウント値を、そ
の他の場合にはA/D変換手段の出力値を自動的に切換
選択して光量情報として出力するようにしているので、
測定可能な光量のダイナミックレンジを大きく設定しな
がら、微小な光量でもS/N比の高い測定を行なうこと
ができる。
As a result, according to the invention of claim 1,
When the light quantity is very small, the count value of the counting means is automatically switched and selected in other cases, and the output value of the A / D conversion means is automatically selected and output as the light quantity information.
It is possible to perform measurement with a high S / N ratio even with a minute light amount while setting a large dynamic range of the measurable light amount.

【0012】請求項2記載の発明は、上記請求項1記載
の発明において、上記選択手段は上記A/D変換手段の
出力レベルに応じて上記A/D変換手段の出力及び上記
カウント手段のカウント値のいずれか一方を選択するよ
うにしている。
According to a second aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the selection means counts the output of the A / D conversion means and the count means according to the output level of the A / D conversion means. I am trying to select either one of the values.

【0013】請求項3記載の発明は、上記請求項1記載
の発明において、上記選択手段は上記カウント手段のカ
ウント値に応じて上記A/D変換手段の出力及び上記カ
ウント手段のカウント値のいずれか一方を選択するよう
にしている。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the present invention, the selecting means selects either the output of the A / D converting means or the count value of the counting means according to the count value of the counting means. I'm trying to choose one or the other.

【0014】この結果、請求項2あるいは請求項3記載
の発明によれば、デジタル値であるA/D変換手段の出
力を用いて比較動作を行なっているため、アナログ的な
比較動作を行なう比較器で懸念される比較誤差や出力遅
延を生ずる虞もなく、正確且つ高速な動作を行なうこと
ができる。
As a result, according to the invention as claimed in claim 2 or claim 3, since the comparison operation is performed using the output of the A / D conversion means which is a digital value, the comparison operation for analog comparison is performed. An accurate and high-speed operation can be performed without a fear of causing a comparison error or an output delay which is a concern in a device.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION

(第1の実施の形態)図1は本発明の第1の実施の形態
に係る走査型光学顕微鏡の光学系を中心とした構成を例
示するものであり、21は光源としてのレーザ光源であ
る。このレーザ光源21より射出されたレーザビームに
よる照明光は、ビームエキスパンダ22、波長フィルタ
23を経て、光路分割手段24としてのビームスプリッ
タ及びダイクロイックミラー等で構成される光路分割手
段24により、偏向手段としてのガルバノメータミラー
25,26に導かれ、ここで2次元走査のためにX軸方
向及びY軸方向に偏向される。
(First Embodiment) FIG. 1 illustrates a configuration centering on an optical system of a scanning optical microscope according to a first embodiment of the present invention, and 21 is a laser light source as a light source. . The illumination light from the laser beam emitted from the laser light source 21 passes through the beam expander 22 and the wavelength filter 23, and is deflected by the optical path splitting means 24 including a beam splitter as the optical path splitting means 24 and a dichroic mirror. Are guided to galvanometer mirrors 25 and 26, where they are deflected in the X-axis direction and the Y-axis direction for two-dimensional scanning.

【0016】この偏向された照明光は瞳投影レンズ2
7、プリズム28を介して対物レンズ29に入射し、観
察試料30を2次元走査する。この観察試料30の透過
光はレンズ31で集光され、ミラー32で反射された後
にレンズ33を介して光検出器34で光電変換され、図
示しないA/D変換器でデジタル化された後にX−Y走
査位置に対応した座標位置でフレームメモリ35に記憶
される。
This deflected illumination light is used for the pupil projection lens 2
7, the light enters the objective lens 29 through the prism 28, and the observation sample 30 is two-dimensionally scanned. The transmitted light of the observation sample 30 is condensed by a lens 31, reflected by a mirror 32, photoelectrically converted by a photodetector 34 via a lens 33, digitized by an A / D converter (not shown), and then X -It is stored in the frame memory 35 at the coordinate position corresponding to the Y scanning position.

【0017】また、上記観察試料30の照射により得ら
れる反射光及び蛍光の少なくとも一方は、照射光と同経
路を辿って上記ハーフミラー24まで導かれ、このハー
フミラー24及び集光レンズ36を介して光路上に配置
されたダイクロイックミラー37,42によりそれぞれ
反射される。
At least one of reflected light and fluorescence obtained by irradiation of the observation sample 30 is guided to the half mirror 24 along the same path as the irradiation light, and passes through the half mirror 24 and the condenser lens 36. Are reflected by the dichroic mirrors 37 and 42 disposed on the optical path.

【0018】ダイクロイックミラー37により反射され
た光は、吸収フィルタ38、ピンホール板39を介して
光検出器1に入射され、その光量に対応した電気信号に
変換される。
The light reflected by the dichroic mirror 37 enters the photodetector 1 through the absorption filter 38 and the pinhole plate 39 and is converted into an electric signal corresponding to the amount of light.

【0019】この光検出器1は、例えば光電子倍増管や
マルチチャネルプレート、アバランシェフォトダイオー
ドなどの光電子増幅作用を有する高感度なものを使用し
ており、その検出信号である電気信号が測光回路41に
送られ、光量情報として出力される。
The photodetector 1 uses, for example, a photomultiplier tube, a multi-channel plate, an avalanche photodiode or the like having a high sensitivity having a photoelectron amplifying action, and an electric signal as a detection signal thereof is used as a photometric circuit 41. And output as light amount information.

【0020】ほぼ同様に、ダイクロイックミラー42に
より反射された光は、ダイクロイックフィルタ43、吸
収フィルタ44、ピンホール板45を介して光検出器
1′に入射され、その光量に対応した電気信号に変換さ
れる。
Almost similarly, the light reflected by the dichroic mirror 42 enters the photodetector 1'through the dichroic filter 43, the absorption filter 44, and the pinhole plate 45, and is converted into an electric signal corresponding to the amount of light. To be done.

【0021】この光検出器1′も、上記光検出器1,
1′同様、例えば光電子倍増管やマルチチャネルプレー
ト、アバランシェフォトダイオードなどの光電子増幅作
用を有する高感度なものを使用しており、その検出信号
である電気信号が測光回路40に送られ、光量情報とし
て出力される。
This photodetector 1'is also the above photodetector 1,
Similarly to 1 ', a highly sensitive one having a photoelectron amplification function such as a photomultiplier tube, a multi-channel plate, or an avalanche photodiode is used. Is output as.

【0022】次いで図2により上記光検出器1(1′)
とその後段の測光回路41(40)の詳細な構成につい
て説明する。同図で、光検出器1(1′)により得られ
た光量に対応した電流値を有する電気信号は、測光回路
41(40)内でまず電流電圧変換部2により光量に対
応した電圧値を有する信号に変換されて、信号増幅部3
及びパルス増幅部5に与えられる。
Next, referring to FIG. 2, the photodetector 1 (1 ')
The detailed configuration of the photometric circuit 41 (40) at the subsequent stage will be described. In the figure, an electric signal having a current value corresponding to the light amount obtained by the photodetector 1 (1 ') is first converted into a voltage value corresponding to the light amount by the current-voltage converter 2 in the photometric circuit 41 (40). The signal is converted into a signal having the signal amplification unit 3
And the pulse amplification unit 5.

【0023】信号増幅部3は、入力された電圧信号を予
め設定されている適宜増幅率をもって増幅し、増幅した
電圧信号をA/D変換器4及び電圧比較部11へ出力す
る。A/D変換器4は、信号増幅部3からのアナログ値
の電圧信号をクロック発生部9からのサンプリングクロ
ックに同期して所定の量子化ビット数でデジタル値に変
換し、データ選択部7へ出力する。
The signal amplification section 3 amplifies the input voltage signal with a preset appropriate amplification factor, and outputs the amplified voltage signal to the A / D converter 4 and the voltage comparison section 11. The A / D converter 4 converts the analog-valued voltage signal from the signal amplification section 3 into a digital value with a predetermined number of quantization bits in synchronization with the sampling clock from the clock generation section 9, and sends it to the data selection section 7. Output.

【0024】電圧比較部11は、例えば高速コンパレー
タ等の比較器で構成されるもので、信号増幅部3からの
電圧信号と基準電圧設定部12により設定された閾値と
しての基準電圧とをクロック発生部9からのクロックに
同期して比較し、その比較結果を上記データ選択部7へ
出力する。
The voltage comparison unit 11 is composed of a comparator such as a high speed comparator, and clocks the voltage signal from the signal amplification unit 3 and the reference voltage as a threshold value set by the reference voltage setting unit 12. The comparison is performed in synchronization with the clock from the unit 9, and the comparison result is output to the data selection unit 7.

【0025】一方、上記パルス増幅部5は電流電圧変換
部2からの電圧信号のパルス成分(交流成分)のみを増
幅してパルス計数部6へ出力する。パルス計数部6は、
パルス検出のための閾値の設定機能を有するもので、上
記クロック発生部9から入力されるサンプリングクロッ
クの1周期毎に、パルス増幅部5からのパルス波形中の
整形パルス数のカウントを行ない、そのカウント値を随
時上記データ選択部7へ出力する。
On the other hand, the pulse amplifier 5 amplifies only the pulse component (AC component) of the voltage signal from the current-voltage converter 2 and outputs it to the pulse counter 6. The pulse counter 6 is
It has a function of setting a threshold value for pulse detection, and counts the number of shaping pulses in the pulse waveform from the pulse amplification unit 5 for each cycle of the sampling clock input from the clock generation unit 9, and The count value is output to the data selection unit 7 as needed.

【0026】データ選択部7は、クロック発生部9から
のサンプリングクロックに同期して、上記電圧比較部1
1からの比較結果に基づき、信号増幅部3からの出力信
号が基準電圧に比べて大きいときはA/D変換器4の出
力するデジタルデータを、信号増幅部3からの出力信号
が基準電圧に比べて小さいときはパルス計数部6のカウ
ント値をデジタルデータとして選択し、測定結果とし
て、選択した光量情報のデジタルデータと、A/D変換
器4及びパルス計数部6のいずれの出力を選択したかを
示す選択情報とをメモリ8に出力する。
The data selection section 7 synchronizes with the sampling clock from the clock generation section 9 and the voltage comparison section 1 described above.
When the output signal from the signal amplification unit 3 is larger than the reference voltage based on the comparison result from 1, the digital data output from the A / D converter 4 is set to the reference voltage when the output signal from the signal amplification unit 3 is set to the reference voltage. When it is smaller than the above, the count value of the pulse counting unit 6 is selected as digital data, and as the measurement result, the digital data of the selected light amount information and any output of the A / D converter 4 and the pulse counting unit 6 are selected. The selection information indicating whether or not is output to the memory 8.

【0027】このメモリ8は、例えば少なくとも1フレ
ーム分の画像を記憶可能な容量を有するフレームメモリ
で構成され、データ選択部7からのデジタルデータを、
アドレス制御部10から入力される指定アドレスに従っ
て記憶する。アドレス制御部10は、上記クロック発生
部9から入力されるサンプリングクロックに同期して、
現在サンプリングが行なわれている上記観察試料30の
位置に1対1に対応したアドレス位置を更新記憶し、そ
のアドレス位置を指定アドレスとして上記メモリ8に与
えるものである。
The memory 8 is composed of, for example, a frame memory having a capacity capable of storing at least one frame of image, and the digital data from the data selecting section 7 is
The data is stored according to the designated address input from the address control unit 10. The address controller 10 synchronizes with the sampling clock input from the clock generator 9 and
An address position corresponding to the one-to-one correspondence with the position of the observation sample 30 currently being sampled is updated and stored, and the address position is given to the memory 8 as a designated address.

【0028】しかるに、メモリ8に記憶された測定結果
のデジタルデータは、データ処理部17により読出さ
れ、種々の画像解析処理が施されて所望の画像情報とさ
れた後に、CRTやLCDパネルを用いた表示部18で
表示される。
However, the digital data of the measurement result stored in the memory 8 is read out by the data processing unit 17 and subjected to various image analysis processing to obtain desired image information, and then the CRT or LCD panel is used. Is displayed on the display unit 18 that has been displayed.

【0029】上記データ処理部17及び上記基準電圧設
定部12は、いずれも例えばパーソナルコンピュータで
構成されるシステム制御部16により統括制御されるも
のである。
The data processing section 17 and the reference voltage setting section 12 are both controlled by a system control section 16 which is, for example, a personal computer.

【0030】すなわち、システム制御部16が基準電圧
設定部12に対して上記基準値を任意に設定可能とする
ことにより、表示部18で表示されている測定画像を観
察してその内容に対応して該基準値を調整することがで
きる。
That is, the system control unit 16 allows the reference voltage setting unit 12 to arbitrarily set the above-mentioned reference value, so that the measurement image displayed on the display unit 18 can be observed and corresponding to the contents. The reference value can be adjusted.

【0031】一方、システム制御部16がデータ処理部
17に対して画像解析処理の方法を指示することで、表
示部18に表示させる観察試料30の画像情報を任意の
ものに選択することができる。
On the other hand, the system control unit 16 instructs the data processing unit 17 on the method of image analysis processing, so that the image information of the observation sample 30 to be displayed on the display unit 18 can be arbitrarily selected. .

【0032】上記のような構成にあって、電圧比較部1
1が信号増幅部3の出力する増幅した電圧信号、すなわ
ち光検出器1(1′)への入射光量に応じた信号を基準
電圧設定部12からの基準値と比較し、その比較結果に
よりデータ選択部7がクロック発生部9からのクロック
毎にA/D変換器4の出力とパルス計数部6の出力のい
ずれか一方を切換選択して量子化した光量情報としてメ
モリ8に記憶させる。そのため、光子を計数しなければ
測定できない微弱光から比較的明るい光までの非常に広
いダイナミックレンジで光量測定を行なうことができ
る。
In the configuration as described above, the voltage comparison unit 1
1 is an amplified voltage signal output from the signal amplification unit 3, that is, a signal corresponding to the amount of light incident on the photodetector 1 (1 ') is compared with a reference value from the reference voltage setting unit 12, and the comparison result indicates data. The selecting unit 7 switches and selects one of the output of the A / D converter 4 and the output of the pulse counting unit 6 for each clock from the clock generating unit 9 and stores the quantized light amount information in the memory 8. Therefore, the light amount can be measured in a very wide dynamic range from weak light that cannot be measured without counting photons to relatively bright light.

【0033】(第2の実施の形態)図3は本発明の第2
の実施の形態に係る走査型光学顕微鏡の光学系で使用さ
れる光検出器1(1′)とその後段の測光回路41(4
0)の詳細な構成について例示するもので、基本的には
上記図2で示したものと同様であるので、同一部分には
同一符号を付してその説明は省略する。
(Second Embodiment) FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention.
The photodetector 1 (1 ') used in the optical system of the scanning optical microscope according to the embodiment of the present invention and the photometry circuit 41 (4) at the subsequent stage.
The detailed configuration of (0) is illustrated, and since it is basically the same as that shown in FIG. 2, the same portions are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0034】しかして、A/D変換器4で得られるデジ
タルデータが上記データ選択部7の他に数値比較部13
へも出力される。この数値比較部13は、上記システム
制御部16により可変設定される比較値設定部14から
送られてくる比較値と、上記A/D変換器4の出力する
デジタルデータとをクロック発生部9からのサンプリン
グクロックに同期して比較し、その比較結果を上記デー
タ選択部7へ出力するものである。
Therefore, the digital data obtained by the A / D converter 4 is not limited to the data selection section 7 but the numerical comparison section 13 as well.
Is also output to The numerical comparison section 13 outputs from the clock generation section 9 the comparison value sent from the comparison value setting section 14 which is variably set by the system control section 16 and the digital data output from the A / D converter 4. The data are compared with each other in synchronization with the sampling clock of and the comparison result is output to the data selection unit 7.

【0035】上記のような構成とすることにより、A/
D変換器4の出力するデジタルデータを用いて数値比較
部13が比較値設定部14から与えられる比較値と比較
することで、その比較結果によりデータ選択部7がA/
D変換器4からの出力信号が比較値に比べて大きいとき
はA/D変換器4の出力するデジタルデータを、A/D
変換器4からの出力信号が比較値に比べて小さいときは
パルス計数部6のカウント値をデジタルデータとして選
択してメモリ8に出力する。
With the above structure, A /
The digital comparison unit 13 uses the digital data output from the D converter 4 to compare it with the comparison value provided from the comparison value setting unit 14, and the data selection unit 7 determines A / A according to the comparison result.
When the output signal from the D converter 4 is larger than the comparison value, the digital data output from the A / D converter 4 is changed to A / D.
When the output signal from the converter 4 is smaller than the comparison value, the count value of the pulse counter 6 is selected as digital data and output to the memory 8.

【0036】この場合、デジタル値であるA/D変換器
4の出力を用いて数値比較部13が比較動作を行なって
いるため、アナログ的な比較動作を行なう、例えば高速
コンパレータ等の比較器で構成される上記図2の電圧比
較部11に比して、比較誤差や出力遅延を生ずる虞もな
く、正確且つ高速な動作を行なうことができるようにな
る。
In this case, since the numerical comparison section 13 performs the comparison operation using the output of the A / D converter 4 which is a digital value, a comparator such as a high speed comparator which performs an analog comparison operation. Compared with the configured voltage comparison unit 11 of FIG. 2, it is possible to perform an accurate and high-speed operation without fear of causing a comparison error or an output delay.

【0037】(第3の実施の形態)図4は本発明の第3
の実施の形態に係る走査型光学顕微鏡の光学系で使用さ
れる光検出器1(1′)とその後段の測光回路41(4
0)の詳細な構成について例示するもので、基本的には
上記図2及び図3で示したものと同様であるので、同一
部分には同一符号を付してその説明は省略する。
(Third Embodiment) FIG. 4 shows a third embodiment of the present invention.
The photodetector 1 (1 ') used in the optical system of the scanning optical microscope according to the embodiment of the present invention and the photometry circuit 41 (4) at the subsequent stage.
The detailed configuration of (0) is illustrated, and since it is basically the same as that shown in FIGS. 2 and 3, the same portions are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0038】しかして、パルス計数部6で得られるカウ
ント値がデジタルデータとして上記データ選択部7の他
に数値比較部13へも出力される。この数値比較部13
は、上記システム制御部16により可変設定される比較
値設定部14から送られてくる比較値と、上記パルス計
数部6の出力するデジタルデータとをクロック発生部9
からのサンプリングクロックに同期して比較し、その比
較結果を上記データ選択部7へ出力するものである。
Thus, the count value obtained by the pulse counting section 6 is output as digital data to the numerical value comparing section 13 as well as the data selecting section 7. This numerical comparison unit 13
The clock generator 9 compares the comparison value sent from the comparison value setting unit 14 variably set by the system control unit 16 and the digital data output from the pulse counting unit 6.
The data is compared with each other in synchronization with the sampling clock from the above and the comparison result is output to the data selecting section 7.

【0039】上記のような構成とすることにより、パル
ス計数部6の出力するデジタルデータを用いて数値比較
部13が比較値設定部14から与えられる比較値と比較
することで、その比較結果によりデータ選択部7がパル
ス計数部6からの出力信号が比較値に比べて大きいとき
はA/D変換器4の出力するデジタルデータを、パルス
計数部6からの出力信号が比較値に比べて小さいときは
パルス計数部6のカウント値をデジタルデータとして選
択してメモリ8に出力する。
With the above-mentioned configuration, the numerical comparison section 13 compares the digital data output from the pulse counting section 6 with the comparison value given from the comparison value setting section 14, and the comparison result is obtained. When the output signal from the pulse counting unit 6 is larger than the comparison value in the data selecting unit 7, the digital data output from the A / D converter 4 is smaller than the comparison value. At this time, the count value of the pulse counter 6 is selected as digital data and output to the memory 8.

【0040】この場合、デジタル値であるパルス計数部
6のカウント値を用いて数値比較部13が比較動作を行
なっているため、上記第2の実施の形態の場合と同様
に、アナログ的な比較動作を行なう、例えば高速コンパ
レータ等の比較器で構成される上記図2の電圧比較部1
1に比して、比較誤差や出力遅延を生ずる虞もなく、正
確且つ高速な動作を行なうことができるようになる。
In this case, since the numerical value comparing section 13 performs the comparing operation using the count value of the pulse counting section 6 which is a digital value, an analog comparison is performed as in the case of the second embodiment. For example, the voltage comparison unit 1 of FIG. 2 configured to include a comparator such as a high speed comparator that operates.
Compared with 1, it is possible to perform accurate and high-speed operation without fear of causing a comparison error or output delay.

【0041】(第4の実施の形態)図5は本発明の第4
の実施の形態に係る走査型光学顕微鏡の光学系で使用さ
れる光検出器1(1′)とその後段の測光回路41(4
0)の詳細な構成について例示するもので、基本的には
上記図2乃至図4で示したものと同様であるので、同一
部分には同一符号を付してその説明は省略する。
(Fourth Embodiment) FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention.
The photodetector 1 (1 ') used in the optical system of the scanning optical microscope according to the embodiment of the present invention and the photometry circuit 41 (4) at the subsequent stage.
The detailed configuration of (0) is illustrated, and since it is basically the same as that shown in FIGS. 2 to 4, the same parts are denoted by the same reference numerals and the description thereof will be omitted.

【0042】しかして、パルス増幅部5の出力するパル
ス成分のみを増幅した電圧信号はパルス計数部6の他に
パルス幅検出部15へも送られる。このパルス幅検出部
15は、電圧信号中のパルス幅を測定し、測定結果を数
値比較部13へ送出する。
The voltage signal obtained by amplifying only the pulse component output from the pulse amplifier 5 is sent to the pulse width detector 15 as well as the pulse counter 6. The pulse width detection unit 15 measures the pulse width in the voltage signal and sends the measurement result to the numerical comparison unit 13.

【0043】これに対して数値比較部13は、上記シス
テム制御部16により可変設定される比較値設定部14
から送られてくる比較値と、パルス幅検出部15からの
パルス幅の測定値とをクロック発生部9からのサンプリ
ングクロックに同期して比較し、その比較結果を上記デ
ータ選択部7へ出力するものである。
On the other hand, the numerical comparison section 13 has a comparison value setting section 14 which is variably set by the system control section 16.
The comparison value sent from the pulse width detection unit 15 and the measured value of the pulse width from the pulse width detection unit 15 are compared in synchronization with the sampling clock from the clock generation unit 9, and the comparison result is output to the data selection unit 7. It is a thing.

【0044】上記のような構成とすることにより、光検
出器1(1′)に入射する光量が少なく、電流電圧変換
部2の出力する電圧信号が例えば図6(a)に示すよう
な波形であるときには、パルス増幅部5が同図(a)中
のパルス検出閾値を基準としてそのパルス幅を増幅した
電圧信号をパルス計数部6及びパルス幅検出部15に送
出し、パルス幅検出部15はそのパルス幅を測定して順
次測定値を数値比較部13に出力する。
With the above configuration, the amount of light incident on the photodetector 1 (1 ') is small, and the voltage signal output from the current-voltage converter 2 has a waveform as shown in FIG. 6A, for example. When the pulse width is 1, the pulse amplification unit 5 sends a voltage signal whose pulse width is amplified with reference to the pulse detection threshold in FIG. 5A to the pulse counting unit 6 and the pulse width detection unit 15, and the pulse width detection unit 15 Measures the pulse width and sequentially outputs the measured values to the numerical comparison unit 13.

【0045】数値比較部13は比較値設定部14から送
られてくる比較値とパルス幅検出部15からのパルス幅
の測定値とをクロック発生部9からのサンプリングクロ
ックに同期して比較して比較結果をデータ選択部7に送
出し、データ選択部7はこの比較結果により光検出器1
(1′)に入射する光量が少ないことを認識して、A/
D変換器4の出力するデジタルデータではなく、パルス
計数部6のカウント値をデジタルデータとして切換選択
してメモリ8に出力する。
The numerical comparison section 13 compares the comparison value sent from the comparison value setting section 14 with the measured pulse width value from the pulse width detection section 15 in synchronization with the sampling clock from the clock generation section 9. The comparison result is sent to the data selection unit 7, and the data selection unit 7 uses the comparison result to detect the photodetector 1.
Recognizing that the amount of light incident on (1 ') is small, A /
Instead of the digital data output from the D converter 4, the count value of the pulse counting unit 6 is switched and selected as digital data and output to the memory 8.

【0046】反対に、光検出器1(1′)に入射する光
量が多く、電流電圧変換部2の出力する電圧信号が例え
ば図6(b)に示すような波形であるときには、パルス
増幅部5が増幅した電圧信号をパルス計数部6及びパル
ス幅検出部15に送出すると、パルス幅検出部15は同
図(b)中のパルス検出閾値を基準としてそのパルス幅
を測定して順次測定値を数値比較部13に出力する。
On the contrary, when the amount of light incident on the photodetector 1 (1 ') is large and the voltage signal output from the current-voltage converter 2 has a waveform as shown in FIG. 6B, for example, the pulse amplifier. When the voltage signal amplified by 5 is sent to the pulse counter 6 and the pulse width detector 15, the pulse width detector 15 measures the pulse width with reference to the pulse detection threshold in FIG. Is output to the numerical comparison unit 13.

【0047】この場合、上記図6(a)では、1クロッ
ク中に4つの光子が計数されるのに対し、同図(b)で
は光量が多く、多数の光子が光検出器に入射しているに
もかかわらず、計数される光子数は3つになってしま
う。
In this case, in FIG. 6 (a), four photons are counted in one clock, while in FIG. 6 (b), the amount of light is large and many photons are incident on the photodetector. However, the number of photons to be counted becomes three.

【0048】したがって、上記パルス検出閾値を越えて
いる部分でそのパルス幅をパルス幅検出部15が測定し
て測定値を数値比較部13に出力すると、数値比較部1
3は比較値設定部14から送られてくる比較値とパルス
幅検出部15からのパルス幅の測定値とをクロック発生
部9からのサンプリングクロックに同期して比較して比
較結果をデータ選択部7に送出する。
Therefore, when the pulse width detection unit 15 measures the pulse width of the portion exceeding the pulse detection threshold value and outputs the measured value to the numerical comparison unit 13, the numerical comparison unit 1
Reference numeral 3 denotes a comparison value sent from the comparison value setting unit 14 and a pulse width measurement value from the pulse width detection unit 15 in synchronization with a sampling clock from the clock generation unit 9 to compare the comparison result with a data selection unit. Send to 7.

【0049】データ選択部7はこの比較結果により光検
出器1(1′)に入射する光量が多く、光量情報の電圧
信号のパルスが重なってしまっていることを認識し、パ
ルス計数部6の出力するカウント値ではなく、A/D変
換器4の出力するデジタルデータを切換選択してメモリ
8に出力する。
The data selecting section 7 recognizes from the comparison result that the light quantity incident on the photodetector 1 (1 ') is large and the pulses of the voltage signal of the light quantity information are overlapped, and the pulse counting section 6 Instead of the output count value, the digital data output from the A / D converter 4 is switched and selected and output to the memory 8.

【0050】このように、パルス計数部6の前段に位置
するパルス増幅部5の出力のパルス幅をパルス幅検出部
15で測定してその測定値によりパルスの重なりの有無
を数値比較部13で比較動作するようにしても、アナロ
グ的な比較動作を行なう、例えば高速コンパレータ等の
比較器で構成される上記図2の電圧比較部11に比し
て、比較誤差や出力遅延を生ずる虞もなく、正確且つ高
速な動作を行なうことができるようになる。
In this way, the pulse width detection section 15 measures the pulse width of the output of the pulse amplification section 5 located before the pulse counting section 6, and the numerical comparison section 13 determines whether or not the pulses overlap based on the measured value. Even if the comparison operation is performed, there is no possibility of causing a comparison error or an output delay as compared with the voltage comparison unit 11 of FIG. 2 configured by a comparator such as a high speed comparator which performs an analog comparison operation. Therefore, it becomes possible to perform accurate and high-speed operation.

【0051】なお、上記第1乃至第4の各実施の形態
は、それぞれを組合わせることでさらに厳密な選択条件
を設定することも可能である。以上各実施の形態に基づ
いて説明したが、本発明中には以下の発明が含まれる。
The first to fourth embodiments described above can be combined with each other to set more strict selection conditions. Although the above description has been given based on the respective embodiments, the present invention includes the following inventions.

【0052】(1) 光源からの照明光を観察試料に照
射して得られる光を、対物レンズを含む光学系を介して
結像し、その光量を光検出器で検出して光量情報を得る
光学顕微鏡用測光装置において、上記光検出器からの検
出信号を増幅してアナログ値からデジタル値に変換する
A/D変換手段と、上記光検出器からの検出信号のパル
ス成分を増幅して光子数をカウントするカウント手段
と、上記光検出器の検出信号レベルに応じて上記A/D
変換手段の出力及び上記カウント手段のカウント値のい
ずれか一方を選択して測定情報とする選択手段とを具備
したことを特徴とする顕微鏡用測光装置。
(1) The light obtained by irradiating the observation sample with the illumination light from the light source is imaged through the optical system including the objective lens, and the light quantity is detected by the photodetector to obtain the light quantity information. In an optical microscope photometric device, A / D conversion means for amplifying a detection signal from the photodetector to convert it from an analog value to a digital value, and a pulse component of the detection signal from the photodetector for amplifying a photon Counting means for counting the number and the A / D depending on the detection signal level of the photodetector
A photometric device for a microscope, comprising: selecting means for selecting one of the output of the converting means and the count value of the counting means as measurement information.

【0053】このようにすれば、光量が微小な場合には
カウント手段のカウント値を、その他の場合にはA/D
変換手段の出力値を自動的に切換選択して光量情報とし
て出力するようにしているので、測定可能な光量のダイ
ナミックレンジを大きく設定しながら、微小な光量でも
S/N比の高い測定を行なうことができる。
By doing so, the count value of the counting means is used when the light quantity is very small, and the A / D value is used in other cases.
Since the output value of the conversion means is automatically switched and selected and output as the light amount information, a high S / N ratio is measured even with a small light amount while setting a large dynamic range of the measurable light amount. be able to.

【0054】(2) 上記選択手段は上記A/D変換手
段の出力レベルに応じて上記A/D変換手段の出力及び
上記カウント手段のカウント値のいずれか一方を選択す
ることを特徴とする(1)項記載の顕微鏡用測光装置。
(2) The selecting means is characterized by selecting one of the output of the A / D converting means and the count value of the counting means according to the output level of the A / D converting means ( A photometric device for a microscope according to the item 1).

【0055】(3) 上記選択手段は上記カウント手段
のカウント値に応じて上記A/D変換手段の出力及び上
記カウント手段のカウント値のいずれか一方を選択する
ことを特徴とする(1)項記載の顕微鏡用測光装置。
(3) The selecting means selects one of the output of the A / D converting means and the count value of the counting means according to the count value of the counting means. The photometric device for a microscope described.

【0056】(4) 上記選択手段は上記カウントに入
力されるパルス信号のパルス幅に応じて上記A/D変換
手段の出力及び上記カウント手段のカウント値のいずれ
か一方を選択することを特徴とする(1)項記載の顕微
鏡用測光装置。
(4) The selection means selects one of the output of the A / D conversion means and the count value of the counting means according to the pulse width of the pulse signal input to the count. The photometric device for a microscope according to item (1).

【0057】上記(2)項〜(4)項のようにすれば、
いずれも上記(1)項に加えて、デジタル値を用いて比
較動作を行なっているため、アナログ的な比較動作を行
なう比較器で懸念される比較誤差や出力遅延を生ずる虞
もなく、正確且つ高速な動作を行なうことができる。
According to the above items (2) to (4),
In addition to the above item (1), since the comparison operation is performed using a digital value, there is no fear of causing a comparison error or an output delay, which is a concern in a comparator performing an analog comparison operation. A high speed operation can be performed.

【0058】[0058]

【発明の効果】以上詳記した如く本発明によれば、測定
可能な光量のダイナミックレンジを大きく設定しなが
ら、微小な光量でもS/N比の高い測定を行なうことが
可能な顕微鏡用測光装置を提供することができる。
As described above in detail, according to the present invention, a photometric device for a microscope capable of performing measurement with a high S / N ratio even with a minute light amount while setting a large dynamic range of the measurable light amount. Can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態に係る走査型光学顕
微鏡の光学系を中心とした構成を例示する図。
FIG. 1 is a diagram illustrating a configuration centered on an optical system of a scanning optical microscope according to a first embodiment of the present invention.

【図2】図1の主として測光回路内の詳細な回路構成を
示すブロック図。
FIG. 2 is a block diagram mainly showing a detailed circuit configuration in the photometric circuit of FIG.

【図3】本発明の第2の実施の形態に係る主として測光
回路内の詳細な回路構成を示すブロック図。
FIG. 3 is a block diagram mainly showing a detailed circuit configuration in a photometry circuit according to a second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施の形態に係る主として測光
回路内の詳細な回路構成を示すブロック図。
FIG. 4 is a block diagram mainly showing a detailed circuit configuration in a photometry circuit according to a third embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第4の実施の形態に係る主として測光
回路内の詳細な回路構成を示すブロック図。
FIG. 5 is a block diagram mainly showing a detailed circuit configuration in a photometry circuit according to a fourth embodiment of the present invention.

【図6】同実施の形態に係る動作波形を例示する図。FIG. 6 is a diagram showing an example of operation waveforms according to the same embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1′,34…光検出器 2…電流電圧変換部 3…信号増幅部 4…A/D変換器 5…パルス増幅部 6…パルス計数部 7…データ選択部 8…メモリ 9…クロック発生部 10…アドレス制御部 11…電圧比較部 12…基準電圧設定部 13…数値比較部 14…比較値設定部 15…パルス幅検出部 16…システム制御部 17…データ処理部 18…表示部 21…レーザ光源 22…ビームエキスパンダ 23…波長フィルタ 24…光路分割手段 25,26…偏向手段 27…瞳投影レンズ 28…プリズム 29…対物レンズ 30…観察試料 31,33…レンズ 32…ミラー 35…フレームメモリ 36…集光レンズ 37,42…ダイクロイックミラー 38,44…吸収フィルタ 39,45…ピンホール板 40,41…測光回路 43…ダイクロイックフィルタ 1, 1 ', 34 ... Photodetector 2 ... Current / voltage conversion unit 3 ... Signal amplification unit 4 ... A / D converter 5 ... Pulse amplification unit 6 ... Pulse counting unit 7 ... Data selection unit 8 ... Memory 9 ... Clock generation Part 10 ... Address control part 11 ... Voltage comparison part 12 ... Reference voltage setting part 13 ... Numerical value comparison part 14 ... Comparison value setting part 15 ... Pulse width detection part 16 ... System control part 17 ... Data processing part 18 ... Display part 21 ... Laser light source 22 ... Beam expander 23 ... Wavelength filter 24 ... Optical path splitting means 25, 26 ... Deflection means 27 ... Pupil projection lens 28 ... Prism 29 ... Objective lens 30 ... Observation sample 31, 33 ... Lens 32 ... Mirror 35 ... Frame memory 36 ... Condensing lens 37, 42 ... Dichroic mirror 38, 44 ... Absorption filter 39, 45 ... Pinhole plate 40, 41 ... Photometric circuit 43 ... Die Roy click filter

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源からの照明光を観察試料に照射して
得られる光を、対物レンズを含む光学系を介して結像
し、その光量を光検出器で検出して光量情報を得る光学
顕微鏡用測光装置において、 上記光検出器からの検出信号を増幅してアナログ値から
デジタル値に変換するA/D変換手段と、 上記光検出器からの検出信号のパルス成分を増幅して光
子数をカウントするカウント手段と、 上記光検出器の検出信号レベルに応じて上記A/D変換
手段の出力及び上記カウント手段のカウント値のいずれ
か一方を選択して測定情報とする選択手段とを具備した
ことを特徴とする顕微鏡用測光装置。
1. An optical system in which light obtained by irradiating an observation sample with illumination light from a light source is imaged through an optical system including an objective lens, and the light amount is detected by a photodetector to obtain light amount information. In a photometric device for a microscope, A / D conversion means for amplifying a detection signal from the photodetector to convert it from an analog value to a digital value, and a pulse component of the detection signal from the photodetector to amplify the number of photons. Counting means and a selecting means for selecting one of the output of the A / D converting means and the count value of the counting means as measurement information according to the detection signal level of the photodetector. A photometric device for microscopes characterized by the above.
【請求項2】 上記選択手段は上記A/D変換手段の出
力レベルに応じて上記A/D変換手段の出力及び上記カ
ウント手段のカウント値のいずれか一方を選択すること
を特徴とする請求項1記載の顕微鏡用測光装置。
2. The selecting means selects either one of the output of the A / D converting means and the count value of the counting means in accordance with the output level of the A / D converting means. 1. A photometric device for a microscope according to 1.
【請求項3】 上記選択手段は上記カウント手段のカウ
ント値に応じて上記A/D変換手段の出力及び上記カウ
ント手段のカウント値のいずれか一方を選択することを
特徴とする請求項1記載の顕微鏡用測光装置。
3. The selection means selects one of the output of the A / D conversion means and the count value of the counting means according to the count value of the counting means. Photometric device for microscopes.
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