JP2003098086A - Light intensity measuring device - Google Patents

Light intensity measuring device

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JP2003098086A
JP2003098086A JP2001289438A JP2001289438A JP2003098086A JP 2003098086 A JP2003098086 A JP 2003098086A JP 2001289438 A JP2001289438 A JP 2001289438A JP 2001289438 A JP2001289438 A JP 2001289438A JP 2003098086 A JP2003098086 A JP 2003098086A
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photons
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pulse
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  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light intensity measuring device capable of obtaining an image of high quality having an approximately constant S/N regardless of the light intensity, and securing a high image forming speed. SOLUTION: The light obtained by applying the irradiation light from a light source to an observation sample, or the light emitted from the observation sample is detected by a light-sensitive detector 1 as photons, the number of detected photons is counted by a pulse counting part 3, a sampling time is counted by a clock counting part 4 until the counted number reaches the set number of photons set in a pulse number setting part 8 wherein the predetermined number of photons is set in advance, and the information on brightness of the observation sample is determined in a data processing part 9 on the basis of the set number of photons of the pulse number setting part 8 and the sampling time counted by the clock counting part 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、生物細胞
の蛍光画像を取得する走査型光学顕微鏡に用いられる光
量測光装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a photometric device for use in a scanning optical microscope for acquiring a fluorescent image of biological cells.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、走査型光学顕微鏡では、試料中の
蛍光物質(或いは、蛍光分子)を定量測定するために、そ
の試料の観察しようとする一部に励起光としてレーザを
一定時間照射し、蛍光物質から発生する蛍光を一定時間
測定するような光量測光装置が用いられている。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a scanning optical microscope, in order to quantitatively measure a fluorescent substance (or fluorescent molecule) in a sample, a part of the sample to be observed is irradiated with a laser as excitation light for a certain period of time. A light quantity photometric device is used that measures fluorescence emitted from a fluorescent substance for a certain period of time.

【0003】しかし、このような光量測光装置では、蛍
光が少ないところも、多いところも同じ時間だけ測定を
行うため、蛍光が少ないところでは一定時間内に1個も
光子が入射しないような極めて微弱光量については全く
測定することはできない。そこで、このようなことを解
決するために、測定する時間を長くすることが考えられ
るが、この方法では、蛍光が多い部分では過剰にレーザ
を照射することになるため、褪色を招くこととなる。
However, in such a light quantity photometric device, measurement is performed for the same amount of time in a place where the fluorescence is small and a place where the fluorescence is large. Therefore, in a place where the fluorescence is small, no photon is incident within a certain period of time. The amount of light cannot be measured at all. Therefore, in order to solve such a problem, it is conceivable to lengthen the measurement time, but in this method, the laser is excessively irradiated in the portion where much fluorescence is generated, which causes fading. .

【0004】その他、従来では、例えば、特開平9-7
2784号公報に開示されるように、光電子増倍管など
の光電子増倍機能を有する光電子変換素子を使用した顕
微鏡用測光装置において、受光回路のダイナミックレン
ジを広げるために光子計数法の回路とA/D変換器を用
いた回路を適宜切り替えるようにしたもの、特開平2-
60380号公報に開示されるように、電荷蓄積型イメ
ージセンサ回路が用いられ、イメージセンサに光が入射
したときに流れる電流をコンデンサに蓄積して、一定電
荷量になるまでの時間を明るさとして扱うもの、そし
て、特開平6-313840号公報に開示されるよう
に、受光素子によって発生した光電流をコンデンサに蓄
積し、ある電荷量まで蓄積した後に一定電流で放電し、
その放電時間を測定し明るさとして扱うものなども考え
られている。
In addition, in the past, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 9-7
As disclosed in Japanese Patent No. 2784, in a photometric device for a microscope using a photoelectron conversion element having a photomultiplier function such as a photomultiplier tube, a photon counting method circuit and A A circuit using a D / D converter is appropriately switched.
As disclosed in Japanese Laid-Open Patent Publication No. 60380, a charge storage type image sensor circuit is used, and the current flowing when light is incident on the image sensor is stored in a capacitor, and the time until a constant charge amount is obtained is defined as brightness. As disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-313840, the photocurrent generated by the light receiving element is stored in a capacitor, a certain amount of charge is stored, and then discharged at a constant current.
It is also considered that the discharge time is measured and treated as brightness.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところが、特開平9-
72784号公報に開示される、ダイナミックレンジを
広げるために、光子計数法を用いて微弱光を測定するも
のでは、生物用の走査型光学顕微鏡に適用した場合、走
査速度を遅くすると、照射光の照射時間が長くなるため
生物標本の褪色が早まってしまうし、逆に走査速度を速
くすると、十分な光量が得られないため光量が少ない部
分の画像化が困難になってしまってしまうという問題を
生じる。
However, Japanese Patent Laid-Open No. 9-
Japanese Patent Laid-Open No. 72784 discloses a method of measuring weak light using a photon counting method in order to widen the dynamic range. When applied to a scanning optical microscope for living organisms, if the scanning speed is slowed, Since the irradiation time becomes longer, fading of biological specimens becomes faster, and conversely, if the scanning speed is increased, it will be difficult to image a part with a small amount of light because a sufficient amount of light cannot be obtained. Occurs.

【0006】また、特開平2-60380号公報のもの
は、イメージセンサに光が入射したときに流れる電流を
コンデンサに蓄積し、この蓄積時間を測定する電荷蓄積
時間測定方式のもの、また、特開平6-313840号
公報のものは、一度コンデンサに蓄積した電荷を放電
し、この放電時間を測定する電荷放電時間測定方式のも
ので、これらはいずれも走査と同時に測光ができないこ
とから、画像取得速度が求められる走査型光学顕微鏡へ
の適用が難しいという問題があった。
Further, Japanese Patent Laid-Open No. 2-60380 discloses a charge storage time measuring method in which a current flowing when light is incident on an image sensor is stored in a capacitor, and the storage time is measured. The one disclosed in Kaihei 6-313840 is a charge discharge time measuring method in which charges once stored in a capacitor are discharged and the discharge time is measured. Since neither of these can measure light at the same time as scanning, image acquisition is performed. There is a problem that it is difficult to apply to a scanning optical microscope that requires high speed.

【0007】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、光量が多いところも少ないところもS/Nが一定と
なるような良好な画像を得ることができるとともに、迅
速な画像取得速度を確保できる光量測定装置を提供する
ことを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to obtain a good image in which the S / N is constant in a place with a large amount of light and a place with a small amount of light, and to secure a quick image acquisition speed. It is an object of the present invention to provide a light quantity measuring device that can be used.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
光源からの照明光を観察試料に照射して得られる光また
は観察試料が発する光を光子として検出する光検出手段
と、予め所定の光子数に相当する光量を設定した光量設
定手段と、前記光検出手段で検出される光子数に相当す
る光量が前記光量設定手段に設定された光量に達するま
での時間を計測する時間計測手段と、前記光量設定手段
に設定された所定光量と前記時間計測手段で計測された
時間により前記観察試料の輝度情報を算出する輝度情報
算出手段とを具備したことを特徴としている。
The invention according to claim 1 is
Light detection means for detecting, as photons, light obtained by irradiating an observation sample with illumination light from a light source or light emitted by the observation sample, light amount setting means for setting a light amount corresponding to a predetermined number of photons in advance, and the light Time measuring means for measuring the time until the light quantity corresponding to the number of photons detected by the detecting means reaches the light quantity set in the light quantity setting means, a predetermined light quantity set in the light quantity setting means and the time measuring means And a brightness information calculating means for calculating the brightness information of the observation sample according to the time measured in step 1.

【0009】請求項2記載の発明は、光源からの照明光
を観察試料に照射して得られる光または観察試料が発す
る光を光子として検出する光検出手段と、前記光検出手
段で検出される光子数を計数する光子計数手段と、予め
所定の光子数を設定した光子数設定手段と、前記光子計
数手段の光子計数値が前記光子数設定手段に設定された
設定光子数に達するまでのサンプリング時間を計測する
時間計測手段と、前記光子数設定手段の設定光子数と前
記時間計測手段で計測されたサンプリング時間により前
記観察試料の輝度情報を算出する輝度情報算出手段とを
具備したことを特徴としている。
According to a second aspect of the present invention, light detection means for detecting, as photons, light obtained by illuminating the observation sample with illumination light from the light source or light emitted by the observation sample, and the light detection means detects the light. Photon counting means for counting the number of photons, photon number setting means for setting a predetermined number of photons in advance, and sampling until the photon count value of the photon counting means reaches the set number of photons set in the photon number setting means. It is characterized by comprising time measuring means for measuring time, and brightness information calculating means for calculating the brightness information of the observation sample based on the set photon number of the photon number setting means and the sampling time measured by the time measuring means. I am trying.

【0010】請求項3記載の発明は、光源からの照明光
を観察試料に照射して得られる光または観察試料が発す
る光を光子として検出する光検出手段と、前記光検出手
段で検出される光子数に対応する出力を積分する積分手
段と、予め所定のしきい値を設定したしきい値設定手段
と、前記積分手段の積分値が前記しきい値設定手段に設
定されたしきい値に達するまでのサンプリング時間を計
測する時間計測手段と、前記しきい値設定手段のしきい
値と前記時間計測手段で計測されたサンプリング時間に
より前記観察試料の輝度情報を算出する輝度情報算出手
段とを具備したことを特徴としている。
According to a third aspect of the present invention, light detection means for detecting, as photons, light obtained by irradiating the observation sample with illumination light from a light source or light emitted by the observation sample, and the light detection means detect the light. Integrating means for integrating the output corresponding to the number of photons, threshold setting means for setting a predetermined threshold value in advance, and the integral value of the integrating means for the threshold value set for the threshold setting means. A time measuring means for measuring the sampling time until reaching, and a brightness information calculating means for calculating the brightness information of the observation sample by the threshold of the threshold setting means and the sampling time measured by the time measuring means. It is characterized by having.

【0011】この結果、本発明によれば、観察試料の光
量が少ない部分を測定している場合は、時間計測手段で
計測される時間が長くかかり、逆に光量が多い部分を測
定する場合は、時間計測手段で計測される時間が短くな
り、光照射時間を短くすることができる。これにより、
光量が多いところも少ないところも、同じ光子数を測定
できるので、S/Nがほぼ一定になるような良好な画像
を得ることができる。また、走査と同時に測光を行うこ
とができるので、迅速な画像取得速度が求められる走査
型光学顕微鏡においても最適な光量測定を行うことがで
きる。
As a result, according to the present invention, when measuring a portion of the observation sample having a small amount of light, it takes a long time to be measured by the time measuring means, and conversely, when measuring a portion having a large amount of light. The time measured by the time measuring means is shortened, and the light irradiation time can be shortened. This allows
Since the same number of photons can be measured at a place with a large amount of light and a place with a small amount of light, a good image with a substantially constant S / N can be obtained. Further, since photometry can be performed at the same time as scanning, optimal light amount measurement can be performed even in a scanning optical microscope that requires a rapid image acquisition speed.

【0012】また、電荷蓄積法を用いることにより、光
子数を計測する方法では正確な測定ができなくなるよう
な単位時間当たりの光子数が多い場合についても正確な
測定ができる。
Further, by using the charge storage method, accurate measurement can be performed even when the number of photons per unit time is large, which cannot be accurately measured by the method of measuring the number of photons.

【0013】[0013]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面に
従い説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0014】(第1の実施の形態)図1は、本発明の第1
の実施の形態の光量測定装置が適用される走査型光学顕
微鏡の光学系を中心とした概略構成を示している。
(First Embodiment) FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
2 shows a schematic configuration centering on an optical system of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device according to the embodiment is applied.

【0015】図において、21は光源としてのレーザ光
源で、このレーザ光源21より射出されたレーザビーム
による照明光は、ビームエキスパンダ22、波長フィル
タ23を経て、ビームスプリッタやダイクロイックミラ
ー等で構成される光路分割手段24により偏向手段とし
てのガルバノメータミラー25、26に導かれ、ここで
2次元走査のためにX軸方向およびY軸方向に偏向され
る。
In the figure, reference numeral 21 denotes a laser light source as a light source. Illumination light by a laser beam emitted from the laser light source 21 is composed of a beam splitter, a dichroic mirror, etc. after passing through a beam expander 22 and a wavelength filter 23. It is guided to the galvanometer mirrors 25 and 26 as the deflecting means by the optical path splitting means 24, and is deflected in the X-axis direction and the Y-axis direction for two-dimensional scanning.

【0016】これらガルバノメータミラー25、26で
偏向された照明光は、瞳投影レンズ27、プリズム28
を介して対物レンズ29に入射し、観察試料30を2次
元走査する。この観察試料30の透過光はレンズ31で
集光され、ミラー32で反射された後にレンズ33を介
して光検器34で光電変換され、X−Yの走査位置に対
応した座標位置でフレームメモリ35に光量情報が記憶
される。
The illumination light deflected by the galvanometer mirrors 25 and 26 is used as a pupil projection lens 27 and a prism 28.
It is incident on the objective lens 29 via the, and the observation sample 30 is two-dimensionally scanned. The transmitted light of the observation sample 30 is condensed by the lens 31, reflected by the mirror 32, photoelectrically converted by the photodetector 34 via the lens 33, and is transmitted to the frame memory at the coordinate position corresponding to the XY scanning position. The light amount information is stored in 35.

【0017】また、観察試料30の照射により得られる
反射光および蛍光の少なくとも一方は、照射光と同じ経
路を辿って光路分割手段24まで導かれ、この光路分割
手段24および集光レンズ36を介して光路上に配置さ
れたダイクロイックミラー37、ミラー42によりそれ
ぞれ反射される。
Further, at least one of the reflected light and the fluorescence obtained by the irradiation of the observation sample 30 is guided to the optical path dividing means 24 along the same path as the irradiation light, and passes through the optical path dividing means 24 and the condenser lens 36. Are reflected by the dichroic mirror 37 and the mirror 42 arranged on the optical path.

【0018】ダイクロイックミラー37により反射され
た光は、吸収フィルタ38、ピンホール板39を介して
光検出器1に入射され、ここで、入射された光量に対応
した電気信号に変換される。この光検出器1は、例えば
光電子倍増管やアバランシェフォトダイオードなどの光
電子増幅作用を有する高感度なものを使用しており、そ
の検出信号である電気信号が測光回路41に送られ、光
量情報として出力される。
The light reflected by the dichroic mirror 37 is incident on the photodetector 1 via the absorption filter 38 and the pinhole plate 39, where it is converted into an electric signal corresponding to the amount of incident light. This photodetector 1 uses, for example, a photomultiplier tube, an avalanche photodiode or the like having a high sensitivity having a photoelectron amplifying action, and an electric signal which is a detection signal thereof is sent to the photometric circuit 41 to obtain light quantity information. Is output.

【0019】また、ダイクロイックミラー37を透過
し、ミラー42により反射された光は、ダイクロイック
フィルタ43、吸収フィルタ44、ピンホール板45を
介して光検出器1′に入射され、その光子数に対応した
電気信号に変換される。この光検出器1′も、光検出器
1と同様、例えば光電子倍増管やアバランシェフォトダ
イオードなどの光電子増幅作用を有する高感度なものを
使用しており、その検出信号である電気信号が測光回路
40に送られ、光量情報として出力される。
The light transmitted through the dichroic mirror 37 and reflected by the mirror 42 enters the photodetector 1'through the dichroic filter 43, the absorption filter 44, and the pinhole plate 45, and corresponds to the number of photons. Is converted into an electric signal. Like the photodetector 1, this photodetector 1'also uses a highly sensitive one having a photoelectron amplifying action such as a photomultiplier tube or an avalanche photodiode, and the electric signal as the detection signal is a photometric circuit. It is sent to 40 and is output as light amount information.

【0020】また、測光回路41(40)より出力される
光量情報は、主制御部50に送られる。主制御部50
は、測光回路41(40)からの光量情報に基づいて観察
試料の輝度情報を得るもので、この輝度情報を光照射制
御部51に与え、レーザ光源21およびガルバノメータ
ミラー25、26を制御するようになっている。
The light amount information output from the photometric circuit 41 (40) is sent to the main control unit 50. Main control unit 50
Is to obtain the brightness information of the observation sample based on the light amount information from the photometric circuit 41 (40). The brightness information is given to the light irradiation control unit 51 to control the laser light source 21 and the galvanometer mirrors 25, 26. It has become.

【0021】図2は、これら測光回路41(40)、主制
御部50および光照射制御部51の概略構成を示すもの
で、この場合、光検出器1(1′)により得られた光子数
に対応した電流パルスは、測光回路41(40)内で、ま
ず電流電圧変換部2により光子数に対応した電流パルス
が得られる。パルス計数部3は、光量設定手段としての
パルス数設定部8に設定された設定パルス数になるまで
パルスを計数するもので、1つ目のパルスを計数した時
とパルス数が設定値に達した時にクロック計数部4、ア
ドレス制御部6、システム制御部11にパルス計数の始
めと終わりを示す信号を送る。
FIG. 2 shows a schematic structure of the photometric circuit 41 (40), the main controller 50 and the light irradiation controller 51. In this case, the number of photons obtained by the photodetector 1 (1 ') is shown. In the photometric circuit 41 (40), the current pulse corresponding to the current pulse is first obtained by the current-voltage conversion unit 2 corresponding to the number of photons. The pulse counting unit 3 counts the pulses until reaching the set pulse number set in the pulse number setting unit 8 as the light amount setting means. When the first pulse is counted and the pulse number reaches the set value. At that time, a signal indicating the start and end of pulse counting is sent to the clock counting unit 4, the address control unit 6, and the system control unit 11.

【0022】クロック計数部4は、時間計測手段を構成
するもので、クロック発生部5で発生したクロックを計
数していて、パルス計数部3からのパルス計数値が設定
パルス数に達したことを示す信号から、パルス計数に費
やしたクロック数をメモリ7にデジタルデータとして出
力する。このメモリ7は、例えば少なくとも1フレーム
分の画像を記憶可能な容量を有するフレームメモリで構
成され、クロック計数部4からのデジタルデータを、ア
ドレス制御部6から入力される指定アドレスに従って記
憶する。
The clock counting section 4 constitutes a time measuring means, counts the clocks generated by the clock generating section 5, and confirms that the pulse count value from the pulse counting section 3 has reached the set pulse number. From the signal shown, the number of clocks used for pulse counting is output to the memory 7 as digital data. The memory 7 is composed of, for example, a frame memory having a capacity capable of storing at least one frame image, and stores the digital data from the clock counting unit 4 in accordance with a designated address input from the address control unit 6.

【0023】アドレス制御部6は、パルス計数部3から
入力されるパルス計数の終わりを示す信号に同期して、
現在サンプリングが行われている観察試料の位置に1対
1に対応したアドレス位置を更新記憶し、そのアドレス
位置を指定アドレスとして上記メモリに与えるものであ
る。メモリ7に記憶された測定結果のデジタルデータ
は、主制御部50で輝度情報算出手段を構成するデータ
処理部9により読出され、輝度情報として(設定光子数)
/(クロック数)を算出する。その後、種々の画像解析処
理が施されて所望の画像情報とされた後に、CRTやL
CDパネルを用いた表示部10で表示される。
The address control unit 6 synchronizes with the signal indicating the end of pulse counting, which is input from the pulse counting unit 3,
An address position corresponding to the position of the observation sample currently being sampled is updated and stored, and the address position is given to the memory as a designated address. The digital data of the measurement result stored in the memory 7 is read by the data processing unit 9 which constitutes the brightness information calculating means in the main control unit 50 and is used as the brightness information (the set number of photons).
Calculate / (number of clocks). After that, after various image analysis processing is performed to obtain desired image information, CRT or L
It is displayed on the display unit 10 using a CD panel.

【0024】データ処理部9およびパルス数設定部8
は、いずれも例えばパーソナルコンピュータで構成され
るシステム制御部11により統括制御されるものであ
る。すなわち、システム制御部11がパルス数設定部8
に対して設定パルス数を任意に設定可能とすることによ
り、表示部10で表示されている測定画像を観察して、
その内容に対応して該設定パルス数を調整することがで
きる。一方、システム制御部11がデータ処理部9に対
して画像解析処理の方法を指示することで、表示部10
に表示させる観察試料30の画像情報を任意のものに選
択することもできる。また、システム制御部11は、パ
ルス計数の始めまたは終わりに同期して照射光を制御す
るために、パルス計数の終わりを示す信号によって、光
照射制御部51のガルバノミラー制御部12および光射
出制御部13(例えば、シャッター制御部や音響光学素
子制御部など)に制御信号を出力し、ガルバノメータミ
ラー25、26が駆動中には光照射を行わず、静止した
ら再度照射するようにガルバノメータミラー25、26
の移動とレーザ光源21の光射出の制御を行う。
Data processing unit 9 and pulse number setting unit 8
Are all controlled by the system control unit 11 which is composed of, for example, a personal computer. That is, the system control unit 11 makes the pulse number setting unit 8
By setting the number of set pulses to be arbitrarily set, the measurement image displayed on the display unit 10 is observed,
The set pulse number can be adjusted according to the content. On the other hand, when the system control unit 11 instructs the data processing unit 9 on the image analysis processing method, the display unit 10
The image information of the observation sample 30 to be displayed can be selected arbitrarily. Further, the system control unit 11 controls the irradiation light in synchronization with the start or end of pulse counting, so that the galvanometer mirror control unit 12 and the light emission control of the light irradiation control unit 51 are controlled by a signal indicating the end of pulse counting. A control signal is output to the unit 13 (for example, a shutter control unit or an acousto-optic device control unit) so that light is not emitted while the galvanometer mirrors 25 and 26 are driving, and the galvanometer mirror 25 emits light again when the galvanometer mirrors 25 and 26 are stationary. 26
And the light emission of the laser light source 21 are controlled.

【0025】次に、このように構成された実施の形態の
動作を図3に示すフローチャートにより説明する。
Next, the operation of the embodiment thus constructed will be described with reference to the flow chart shown in FIG.

【0026】この場合、まず、システム制御部11によ
りパルス数設定部8に対して設定パルス数を設定し(ス
テップ301)、次いで、クロック計数部4のクロック
計数値およびパルス計数部3のパルス計数値を初期化し
(ステップ302、303)、光射出制御部13によりレ
ーザ光源21のレーザ光を観察試料30に照射する(ス
テップ304)。
In this case, first, the system control unit 11 sets the set pulse number in the pulse number setting unit 8 (step 301), and then the clock count value of the clock counting unit 4 and the pulse counter of the pulse counting unit 3 are set. Initialize the numbers
At steps 302 and 303, the observation sample 30 is irradiated with the laser light of the laser light source 21 by the light emission controller 13 (step 304).

【0027】次に、光検出器1(1′)から1つ目の光子
が来たかを判断し(ステップ305)、1つ目の光子が来
ると、光子数に対応した電流パルスをパルス計数部3に
より計数する(ステップ306)。また、この光子が来る
までに費やしたクロック数をクロック計数部4で計数す
る(ステップ307)。
Next, it is judged whether or not the first photon comes from the photodetector 1 (1 ') (step 305), and when the first photon comes, the current pulse corresponding to the number of photons is pulse counted. The counting is performed by the unit 3 (step 306). Further, the clock counting unit 4 counts the number of clocks spent until the photon arrives (step 307).

【0028】パルス計数部3で計数されたパルス数が設
定パルス数になったか判断し(ステップ308)、設定パ
ルス数になっていなければ、ステップ306〜308の
動作を繰り返す。
It is judged whether the number of pulses counted by the pulse counting section 3 has reached the set number of pulses (step 308). If not, the steps 306 to 308 are repeated.

【0029】その後、パルス計数部3の計数パルス数が
設定パルス数に達すると、光射出制御部13によりレー
ザ光源21のレーザ光が観察試料30に照射しないよう
にするとともに(ステップ309)、パルス計数部3のパ
ルス計数値が設定パルス数に達したことを表わす信号に
より、これまでのパルス計数に費やしたクロック計数値
がメモリ7に対しデジタルデータとして出力し、アドレ
ス制御部6から入力される指定アドレスに従ってメモリ
7に記憶される(ステップ310)。
After that, when the number of counting pulses of the pulse counting unit 3 reaches the set number of pulses, the light emission control unit 13 prevents the laser light of the laser light source 21 from irradiating the observation sample 30 (step 309), In response to a signal indicating that the pulse count value of the counting unit 3 has reached the set number of pulses, the clock count value used for pulse counting up to now is output as digital data to the memory 7 and input from the address control unit 6. The data is stored in the memory 7 according to the designated address (step 310).

【0030】次に、光射出制御部13によりガルバノミ
ラー制御部12に対しガルバノメータミラー25、26
がレーザ光源21のレーザ光を観察試料30上の次の測
定位置に照射するように指示し、さらに、アドレス制御
部6に対し次の測定位置に対応するメモリ7上のアドレ
スを指定するように指示する(ステップ311、31
2)。そして、メモリ7に記憶された測定結果のデジタ
ルデータを主制御部50のデータ処理部9に読出し、輝
度情報として(設定光子数)/(クロック数)を算出させ(ス
テップ313)、この算出した輝度情報を表示部10に
表示する(ステップ314)。そして、画像取得を終了す
るかを判断し(ステップ315)、終了しない場合は、上
述したステップ302〜315の動作が繰り返される。
Next, the light emission control unit 13 instructs the galvanometer mirrors 25 and 26 to the galvanometer mirror control unit 12.
Directs the laser light of the laser light source 21 to irradiate the next measurement position on the observation sample 30, and further instructs the address controller 6 to specify the address on the memory 7 corresponding to the next measurement position. Instruct (steps 311, 31)
2). Then, the digital data of the measurement result stored in the memory 7 is read to the data processing unit 9 of the main control unit 50, and (the number of set photons) / (the number of clocks) is calculated as the brightness information (step 313). The brightness information is displayed on the display unit 10 (step 314). Then, it is judged whether or not the image acquisition is to be ended (step 315), and if it is not ended, the operations of steps 302 to 315 described above are repeated.

【0031】このような構成によると、光検出部1
(1′)からの光子に対応した電流パルスが計数されると
ともに、このパルスが設定パルス数に達するまでの時間
を測定し、それに同期して観察試料30への光照射を制
御するようにしたので、観察試料30の光量が少ない部
分を測定している場合は、設定した光子数をカウントす
るまで光照射を行うが、逆に光量が多い部分を測定する
場合は、設定した光子数になるまでの時間が短くなるこ
とで、光照射時間を短くすることができる。これによ
り、光量が多いところも少ないところも、同じ光子数を
測定しているので、表示部10に表示される画像は、量
子雑音以外の雑音を無視すると、S/Nが一定の良好な
画像として得ることができ、また、走査と同時に測光を
行うことができるので、迅速な画像取得速度が求められ
る走査型光学顕微鏡においても最適な光量測定を行うこ
とができる。
According to such a configuration, the photodetector 1
The current pulse corresponding to the photon from (1 ') is counted, and the time until this pulse reaches the set pulse number is measured, and the light irradiation to the observation sample 30 is controlled in synchronization with it. Therefore, when the light amount of the observation sample 30 is being measured, light irradiation is performed until the set number of photons is counted, while conversely, when measuring the part having a large amount of light, the set photon number is obtained. The light irradiation time can be shortened by shortening the time until. As a result, the same number of photons is measured at a place with a large amount of light and a place with a small amount of light. Therefore, the image displayed on the display unit 10 is a good image with a constant S / N when noise other than quantum noise is ignored. In addition, since photometry can be performed simultaneously with scanning, optimal light amount measurement can be performed even in a scanning optical microscope that requires a rapid image acquisition speed.

【0032】また、光射出制御部13をパルス計数部3
によって制御することで、例えば、複数のレーザおよび
チャンネルの測定を同時に行う場合には、他のチャンネ
ルよりも早く設定光子数に達してしまったチャンネルの
レーザを照射しないように制御できるので、過剰にレー
ザを照射することがなくなり、観察試料30の褪色を防
止できる。
Further, the light emission control unit 13 is connected to the pulse counting unit 3
By controlling with, for example, when measuring multiple lasers and channels at the same time, it is possible to control so as not to irradiate the laser of the channel that has reached the set number of photons earlier than other channels. Irradiation of laser is eliminated, and fading of the observation sample 30 can be prevented.

【0033】さらにガルバノメータミラーが動作中には
光が観察試料30に当たらないようにしているので、観
察試料30での褪色を抑えた測定を行うことがができ
る。
Further, since the light is prevented from hitting the observation sample 30 during the operation of the galvanometer mirror, it is possible to carry out the measurement while suppressing the fading of the observation sample 30.

【0034】(第2の実施の形態)この第2の実施の形態
では、第1の実施の形態で述べた光量測定装置が適用さ
れる走査型光学顕微鏡の概略構成図、測光回路41(4
0)、主制御部50および光照射制御部51の概略構成
図については、図1および図2と同様なので、これら図
面を援用するものとする。
(Second Embodiment) In the second embodiment, a schematic configuration diagram of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device described in the first embodiment is applied, a photometry circuit 41 (4)
0), the schematic configuration diagrams of the main control unit 50 and the light irradiation control unit 51 are the same as those in FIGS. 1 and 2, and thus these drawings are incorporated herein.

【0035】この場合、主制御部50のシステム制御部
11は、光射出制御部13より光の射出に同期した光射
出信号が与えられると、パルス計数部3に対し、光射出
信号に同期もしくは一定のタイミングでパルス計数を行
うような指示を与えるようになっている。
In this case, the system control unit 11 of the main control unit 50 receives the light emission signal synchronized with the light emission from the light emission control unit 13 to the pulse counting unit 3 in synchronization with the light emission signal or It is designed to give an instruction to perform pulse counting at a fixed timing.

【0036】このような第2の実施の形態では、図4に
示すフローチャートが実行される。この場合、ステップ
401〜403は、上述した図3に示すステップ301
〜303と同様である。そして、光射出制御部13の光
の射出に同期した光射出信号がシステム制御部11を通
りパルス計数部3に送られるが、光射出信号に合わせた
計数可能なタイミング中であるかを判断し(ステップ4
04)、このタイミングで、光子数に対応した電流パル
スをパルス計数部3により計数し(ステップ405)。ま
た、この光子が来るまでに費やしたクロック数をクロッ
ク計数部4で計数する(ステップ406)。
In the second embodiment as described above, the flowchart shown in FIG. 4 is executed. In this case, steps 401 to 403 correspond to step 301 shown in FIG. 3 described above.
~ 303. Then, the light emission signal synchronized with the light emission of the light emission control unit 13 is sent to the pulse counting unit 3 through the system control unit 11, and it is determined whether or not it is in the countable timing that matches the light emission signal. (Step 4
04), at this timing, the current pulse corresponding to the number of photons is counted by the pulse counter 3 (step 405). Further, the clock counting unit 4 counts the number of clocks spent until the arrival of this photon (step 406).

【0037】これ以降のステップ407から413は、
上述した図3に示すステップ309を除いたステップ3
08〜315と同様である。
The following steps 407 to 413 are
Step 3 except step 309 shown in FIG. 3 described above
It is the same as 08-315.

【0038】このような構成とすると、パルス計数部3
の動作、非動作が光射出制御部13による光の射出、非
射出(非射出、射出)またはそれに関する一定のタイミン
グに合わせることができるので、例えば、レーザ光源2
1がパルスレーザである場合、レーザの射出中もしくは
非射出中もしくはレーザの照射から一定のタイミングを
つけた蛍光に限定して光子計数を行うことができる。
With this configuration, the pulse counter 3
The operation and non-operation can be matched with the light emission, non-emission (non-emission, emission) by the light emission control unit 13 or a certain timing related thereto. Therefore, for example, the laser light source 2
When 1 is a pulsed laser, the photon counting can be performed only during the emission of the laser, the non-emission of the laser, or the irradiation of the laser with a fixed timing.

【0039】(第3の実施の形態)この第3の実施の形態
では、第1の実施の形態で述べた光量測定装置が適用さ
れる走査型光学顕微鏡の概略構成図については、図1と
同様なので、同図を援用するものとする。
(Third Embodiment) In the third embodiment, a schematic configuration diagram of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device described in the first embodiment is applied is shown in FIG. Since it is the same, the same figure shall be used.

【0040】図5は、測光回路41(40)、主制御部5
0および光照射制御部51の概略構成図の概略構成を示
すもので、図2と同一部分には、同符号を付している。
FIG. 5 shows the photometric circuit 41 (40) and the main controller 5
0 and a schematic configuration diagram of the light irradiation control unit 51 are shown, and the same portions as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals.

【0041】この場合、測光回路41(40)は、さらに
制限時間設定部14を有している。この制限時間設定部
14は、システム制御部11より制限時間を入力され、
それに応じた制限クロック数を算出し、クロック計数部
4が制限クロック数に達したらパルス計数部3でのパル
ス計数が終わったものみなすようにしている。
In this case, the photometric circuit 41 (40) further has a time limit setting section 14. The time limit setting unit 14 receives the time limit from the system control unit 11,
The number of limited clocks is calculated accordingly, and when the clock counting unit 4 reaches the number of limited clocks, it is considered that the pulse counting by the pulse counting unit 3 has finished.

【0042】このような第3の実施の形態では、図6に
示すフローチャートが実行される。この場合、システム
制御部11によりパルス数設定部8に対して設定パルス
数を設定し(ステップ601)、次いで、システム制御部
11より制限時間設定部14の制限時間を入力する(ス
テップ602)。
In the third embodiment as described above, the flowchart shown in FIG. 6 is executed. In this case, the system control unit 11 sets the set pulse number in the pulse number setting unit 8 (step 601), and then the system control unit 11 inputs the time limit of the time limit setting unit 14 (step 602).

【0043】そして、ステップ603〜606までは、
上述した図3に示すステップ302、303、306、
307と同様な動作を実行し、クロック計数部4で計数
されたクロック数が制限時間設定部14に設定された制
限時間に対応する制限クロック数に達したか判断し(ス
テップ607)、制限クロック数に達していなければ、
次に、パルス計数部3で計数されたパルス数が設定パル
ス数になったか判断し(ステップ608)、設定パルス数
になっていなければ、ステップ605〜608の動作を
繰り返す。
Then, in steps 603 to 606,
Steps 302, 303, 306 shown in FIG.
An operation similar to that of 307 is executed, and it is determined whether the number of clocks counted by the clock counting unit 4 has reached the limit clock number corresponding to the time limit set in the time limit setting unit 14 (step 607). If the number is not reached,
Next, it is judged whether the number of pulses counted by the pulse counting section 3 has reached the set pulse number (step 608), and if it has not reached the set pulse number, the operations of steps 605 to 608 are repeated.

【0044】その後、クロック計数部4で計数されたク
ロック数が制限クロック数に達するか、または、パルス
計数部3の計数パルス数が設定パルス数に達すると、こ
の時のクロック計数値を、アドレス制御部6から入力さ
れる指定アドレスに従ってメモリ7に記憶する(ステッ
プ609)。
After that, when the number of clocks counted by the clock counting unit 4 reaches the limit number of clocks or the number of counting pulses of the pulse counting unit 3 reaches the set number of pulses, the clock count value at this time is set to the address. The data is stored in the memory 7 according to the designated address input from the control unit 6 (step 609).

【0045】これ以降のステップ610〜614は、上
述した図3に示すステップ311〜315と同様であ
る。
Subsequent steps 610 to 614 are the same as steps 311 to 315 shown in FIG. 3 described above.

【0046】このような構成とすると、観察試料30の
蛍光量が少なく設定パルス数に達するまでパルス計数を
行うのに長時間がかかってしまうのを防止できるので、
レーザが一個所に長時間照射されることにより、褪色が
進んでしまうのを未然に回避することができる。
With such a configuration, it is possible to prevent the fluorescence amount of the observation sample 30 from being so small that it takes a long time to perform pulse counting until the set pulse number is reached.
It is possible to prevent the fading from progressing by irradiating a single place with the laser for a long time.

【0047】(第3の実施の形態の変形例)上述した第3
の実施の形態では、ガルバノメータミラー25、26の
変位はパルス計数部3のパルス計数値が設定パルス数に
達した時、もしくはクロック計数値が制限クロック数に
なった時であるが、ガルバノメータミラーの変位(走査
速度)は常に一定とし、制限時間設定部14の制限時間
を1画素当たりの走査速度とし、制限時間以内にパルス
計数値が設定パルス数に達した場合は光射出制御部13
に光照射をしないようにさせるようにしてもよい。こう
すれば、ガルバノメータミラーの動作が従来と同じにで
きるので、従来からあるガルバノメータミラーの走査技
術を使用することができる。
(Modification of Third Embodiment) The above-mentioned third embodiment
In the embodiment, the displacement of the galvanometer mirrors 25 and 26 occurs when the pulse count value of the pulse counting unit 3 reaches the set pulse number or when the clock count value reaches the limit clock number. The displacement (scanning speed) is always constant, the time limit of the time limit setting unit 14 is set to the scanning speed per pixel, and when the pulse count value reaches the set pulse number within the time limit, the light emission control unit 13
You may make it prevent light irradiation. By doing so, the operation of the galvanometer mirror can be made to be the same as the conventional one, so that the conventional scanning technique of the galvanometer mirror can be used.

【0048】(第4の実施の形態)この第4の実施の形態
では、第1の実施の形態で述べた光量測定装置が適用さ
れる走査型光学顕微鏡の概略構成図については、図1と
同様なので、同図を援用するものとする。
(Fourth Embodiment) In the fourth embodiment, a schematic configuration diagram of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device described in the first embodiment is applied is shown in FIG. Since it is the same, the same figure shall be used.

【0049】図7は、測光回路41(40)、主制御部5
0および光照射制御部51の概略構成図の概略構成を示
すもので、図2と同一部分には、同符号を付している。
FIG. 7 shows the photometric circuit 41 (40) and the main controller 5
0 and a schematic configuration diagram of the light irradiation control unit 51 are shown, and the same portions as those in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals.

【0050】この場合、測光回路41(40)は、さらに
電荷蓄積部15、電荷量比較部16および蓄積電荷しき
い値設定部17を有している。電荷蓄積部15は、光検
出器1(1′)からの電流パルスを電荷として蓄積する。
蓄積電荷しきい値設定部17は、システム制御部11よ
り蓄積電荷のしきい値の設定を入力される。また、電荷
量比較部16は、電荷蓄積部15の電荷量と蓄積電荷し
きい値設定部17の電荷量とを比較し、電荷蓄積部15
の電荷量が蓄積電荷しきい値設定部17の電荷量に達し
たら、電荷の蓄積がしきい値に達したことを示す信号を
クロック計数部4に出力し、それと同時に電荷蓄積部1
5の電荷を放電させるための信号を電荷蓄積部15に出
力する。
In this case, the photometric circuit 41 (40) further includes a charge storage unit 15, a charge amount comparison unit 16, and a stored charge threshold value setting unit 17. The charge storage unit 15 stores the current pulse from the photodetector 1 (1 ') as a charge.
The accumulated electric charge threshold value setting unit 17 receives the setting of the accumulated electric charge threshold value from the system control unit 11. Further, the charge amount comparison unit 16 compares the charge amount of the charge accumulation unit 15 with the charge amount of the accumulated charge threshold value setting unit 17, and the charge accumulation unit 15 is compared.
When the charge amount of the charge reaches the charge amount of the accumulated charge threshold setting unit 17, a signal indicating that the charge accumulation reaches the threshold value is output to the clock counting unit 4, and at the same time, the charge accumulation unit 1
A signal for discharging the charge of No. 5 is output to the charge storage unit 15.

【0051】このような第4の実施の形態では、図8に
示すフローチャートが実行される。この場合、最初に、
システム制御部11より蓄積電荷しきい値設定部17の
蓄積電荷のしきい値を入力し(ステップ801)、次い
で、クロック計数部4のクロック計数値を初期化し(ス
テップ802)、続けて、電荷蓄積部15の電荷も放電
させて初期化する(ステップ803)。そして、光検出器
1(1′)からの電流パルスを電荷として電荷蓄積部15
に蓄積する(ステップ804)。また、クロック数をクロ
ック計数部4で計数する(ステップ805)。
In the fourth embodiment as described above, the flowchart shown in FIG. 8 is executed. In this case, first
The threshold value of the accumulated charge of the accumulated charge threshold value setting unit 17 is input from the system control unit 11 (step 801), then the clock count value of the clock counting unit 4 is initialized (step 802), and the charge is continued. The charges of the storage unit 15 are also discharged and initialized (step 803). The electric current pulse from the photodetector 1 (1 ') is used as electric charge, and the electric charge accumulation unit 15
(Step 804). Further, the clock counting unit 4 counts the number of clocks (step 805).

【0052】電荷蓄積部15に蓄積された電荷量がしき
い値になったか判断し(ステップ806)、設定しきい値
になっていなければ、ステップ804〜806の動作を
繰り返す。
It is judged whether or not the amount of charges accumulated in the charge accumulating portion 15 has reached the threshold value (step 806). If not, the operations of steps 804 to 806 are repeated.

【0053】その後、電荷蓄積部15に蓄積された電荷
量がしきい値に達すると、これまでの電荷量の蓄積に費
やしたクロック計数値がメモリ7に対しデジタルデータ
として出力され、アドレス制御部6から入力される指定
アドレスに従ってメモリ7に記憶される(ステップ80
7)。
After that, when the amount of charge stored in the charge storage unit 15 reaches a threshold value, the clock count value used for storing the charge amount up to this point is output to the memory 7 as digital data, and the address control unit The data is stored in the memory 7 in accordance with the designated address input from 6 (step 80
7).

【0054】これ以降のステップ808から812は、
上述した図3に示すステップ311〜315と同様であ
る。
The subsequent steps 808 to 812 are
This is similar to steps 311 to 315 shown in FIG. 3 described above.

【0055】このような構成とすると、例えば、光子計
数法では図9に示すように破線のしきい値を越えた電流
パルスを計数するが、同図(a)に示すような単位時間
当たりの光量が少ない場合に比べ、同図(b)に示すよう
に単位時間当たりの光量が多くなると、電流パルスの間
隔が詰まって、これらが重なり光子数を正確に計数でき
ないことがあるが、電流パルスの電荷量で光量を測定す
ることにより、単位時間当たりの光量が多い場合にも正
確に光子数を計数でき、正確な光量測定ができる。
With such a configuration, for example, in the photon counting method, current pulses exceeding the threshold value of the broken line are counted as shown in FIG. 9, but as shown in FIG. When the light intensity per unit time increases as shown in Fig. 6 (b) compared to the case where the light intensity is low, the intervals of the current pulses are narrowed and they overlap each other, so that the number of photons may not be accurately counted. By measuring the amount of light with the amount of electric charges of 1, the number of photons can be accurately counted even when the amount of light per unit time is large, and the amount of light can be accurately measured.

【0056】(第5の実施の形態)この第5の実施の形態
では、第1の実施の形態で述べた光量測定装置が適用さ
れる走査型光学顕微鏡の概略構成図については、図1と
同様なので、同図を援用し、測光回路41(40)、主制
御部50および光照射制御部51の概略構成図について
は、図5と同様なので、同図を援用するものとする。
(Fifth Embodiment) In this fifth embodiment, a schematic configuration diagram of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device described in the first embodiment is applied is shown in FIG. Therefore, the same drawing is used, and the schematic configuration diagram of the photometric circuit 41 (40), the main control unit 50, and the light irradiation control unit 51 is the same as that in FIG. 5, and thus the same drawing is used.

【0057】この場合、制限時間設定部14は、システ
ム制御部11より制限時間を入力され、それに応じた制
限クロック数を算出し、クロック計数部4が制限クロッ
ク数を計数してしまったらシステム制御部11を通して
光射出制御部13に照射光量を増加させる指示を与え、
システム制御部11により照射光量を増加させた割合を
メモリ7に記憶させる。そして、制限クロック数に達し
てしまった画素のクロック数を再度取得し直す。また、
データ処理部9では(基準光子数)/(サンプリング時間)/
(照射光量の変化の割合)を求めて輝度情報を算出するよ
うにしている。
In this case, the time limit setting unit 14 receives the time limit from the system control unit 11, calculates the number of time limit clocks corresponding to the time limit, and if the clock counter 4 counts the number of time limit clocks, the system control is performed. An instruction to increase the irradiation light amount is given to the light emission control unit 13 through the unit 11,
The system controller 11 causes the memory 7 to store the ratio of the increased irradiation light amount. Then, the clock number of the pixel that has reached the limit clock number is acquired again. Also,
In the data processing unit 9, (reference photon number) / (sampling time) /
The brightness information is calculated by obtaining (ratio of change of irradiation light amount).

【0058】このような第5の実施の形態では、図10
に示すフローチャートが実行される。この場合、ステッ
プ1001〜1007までは、上述した図6に示すステ
ップ601〜607と同様な動作を実行し、クロック計
数部4が制限クロック数を計数してしまったら光射出制
御部13に照射光量を増加させる指示を与え(ステップ
1008)、システム制御部11により照射光量を増加
させた割合をメモリ7に記憶させる(ステップ100
9)。そして、ステップ1003に戻って、上述したと
同様な動作を繰り返す。
In the fifth embodiment as described above, FIG.
The flowchart shown in is executed. In this case, in steps 1001 to 1007, operations similar to those in steps 601 to 607 shown in FIG. 6 described above are executed, and when the clock counting unit 4 counts the limited clock number, the light emission control unit 13 is irradiated with the light amount. Is given (step 1008), and the system controller 11 causes the memory 7 to store the ratio of the increased irradiation light amount (step 1008).
9). Then, returning to step 1003, the same operation as described above is repeated.

【0059】その後、パルス計数部3の計数パルス数が
設定パルス数に達すると(ステップ1010)、この時の
クロック計数値を、アドレス制御部6から入力される指
定アドレスに従ってメモリ7に記憶する(ステップ10
11)。
After that, when the number of counted pulses of the pulse counter 3 reaches the set number of pulses (step 1010), the clock count value at this time is stored in the memory 7 according to the designated address inputted from the address controller 6 ( Step 10
11).

【0060】そして、光射出制御部13により観察試料
30上の次の測定位置に光を照射するように指示し(ス
テップ1012)、さらに、アドレス制御部6に対し次
の測定位置に対応するメモリ7上のアドレスを指定する
ように指示し(ステップ1013)、その後、メモリ7に
記憶された測定結果のデジタルデータを主制御部50の
データ処理部9に読出し、輝度情報として(基準光子数)
/(サンプリング時間)/(照射光量の変化の割合)を算出さ
せ(ステップ1014)、この算出した輝度情報を表示部
10に表示する(ステップ1015)。そして、画像取得
を終了するかを判断し(1016)、終了しない場合
は、上述したステップ302〜315の動作が繰り返さ
れる。
Then, the light emission control unit 13 is instructed to irradiate the next measurement position on the observation sample 30 with light (step 1012), and the address control unit 6 is further subjected to a memory corresponding to the next measurement position. 7 is designated (step 1013), and then the digital data of the measurement result stored in the memory 7 is read to the data processing unit 9 of the main control unit 50 and used as the luminance information (reference photon number).
/ (Sampling time) / (Ratio of change in irradiation light amount) is calculated (step 1014), and the calculated luminance information is displayed on the display unit 10 (step 1015). Then, it is determined whether the image acquisition is to be ended (1016), and when it is not ended, the above-described operations of steps 302 to 315 are repeated.

【0061】このような構成とすると、観察試料30の
蛍光量が少なく設定パルス数に達するまでパルス計数を
行うのに長時間がかかってしまうのを防止し、しかも、
照射光量を増加して蛍光光量を増加させることで、計測
時間を短縮させることができる。この場合、照射光量を
増加させると蛍光光量も変化してしまうが、その変化分
をデータ処理によって打ち消すことができる。
With this structure, it is possible to prevent the fluorescence amount of the observation sample 30 from being so small that it takes a long time to perform the pulse counting until the set number of pulses is reached.
The measurement time can be shortened by increasing the irradiation light amount and the fluorescent light amount. In this case, when the irradiation light amount is increased, the fluorescence light amount also changes, but the change can be canceled by the data processing.

【0062】(第6の実施の形態)この第3の実施の形態
では、第1の実施の形態で述べた光量測定装置が適用さ
れる走査型光学顕微鏡の概略構成図については、図1と
同様なので、同図を援用するものとする。
(Sixth Embodiment) In the third embodiment, a schematic configuration diagram of a scanning optical microscope to which the light quantity measuring device described in the first embodiment is applied is shown in FIG. Since it is the same, the same figure shall be used.

【0063】図11は、測光回路41(40)、主制御部
50および光照射制御部51の概略構成図の概略構成を
示すもので、図2と同一部分には、同符号を付してい
る。
FIG. 11 shows a schematic configuration of the photometric circuit 41 (40), the main control section 50 and the light irradiation control section 51. The same parts as those in FIG. There is.

【0064】この場合、測光回路41(40)は、さらに
過剰光量検出部18を有している。この過剰光量検出部
18は、システム制御部11より設定時間を入力され、
その時間に応じた設定クロック数を算出し、クロック計
数部4が計数した1画素のクロック数が、過剰光量検出
部18の設定クロック数よりも少なかったら、システム
制御部11を通して光射出制御部13に照射光量を減少
させる指示を与え、システム制御部11により照射光量
を増加させた割合をメモリ上に記憶させる。そして、過
剰光量だった画素のクロック数を再度取得し直す。ま
た、データ処理部では(基準光子数)/(サンプリング時
間)/(照射光量の変化の割合)を求めて輝度情報を算出す
る。
In this case, the photometric circuit 41 (40) further has an excess light amount detection section 18. The excess light amount detection unit 18 receives the set time from the system control unit 11,
If the number of clocks of one pixel counted by the clock counter 4 is smaller than the number of clocks set by the excess light amount detector 18, the set number of clocks is calculated according to the time, and the light emission controller 13 is passed through the system controller 11. The system controller 11 causes the system controller 11 to store the ratio of the increase in the irradiation light amount in the memory. Then, the number of clocks of the pixel having the excessive light amount is acquired again. Further, the data processing unit calculates the luminance information by obtaining (reference photon number) / (sampling time) / (ratio of change of irradiation light amount).

【0065】このような第6の実施の形態では、図12
に示すフローチャートが実行される。この場合、ステッ
プ1201〜1206までは、上述した図10に示すス
テップ1001〜1006と同様な動作を実行し、パル
ス計数部3の計数パルス数が設定パルス数に達しないと
(ステップ1207)、ステップ1205〜1207の動
作を繰り返す。そして、パルス計数部3の計数パルス数
が設定パルス数に達すると、この時のクロック計数部4
が計数したクロック計数値が過剰光量検出部18の設定
クロック数(設定時間)よりも少ない(短い)かを判断す
る(ステップ1208)。ここで、設定クロック数(設定
時間)よりも少ない(短い)場合は、光射出制御部13
に照射光量を減少させる指示を与え(ステップ120
9)、システム制御部11により照射光量を減少させた
割合をメモリ7に記憶させる(ステップ1210)。そし
て、ステップ1203に戻って、上述したと同様な動作
を繰り返す。
In the sixth embodiment as described above, FIG.
The flowchart shown in is executed. In this case, in steps 1201 to 1206, the same operation as steps 1001 to 1006 shown in FIG. 10 described above is executed, and the number of counting pulses of the pulse counting unit 3 must reach the set number of pulses.
(Step 1207) and steps 1205-1207 are repeated. When the number of counting pulses of the pulse counting unit 3 reaches the set number of pulses, the clock counting unit 4 at this time
It is determined whether or not the clock count value counted by is smaller (shorter) than the number of clocks (set time) set by the excess light amount detection unit 18 (step 1208). If the number of clocks is shorter (shorter) than the set number of clocks (set time), the light emission controller 13
To give an instruction to reduce the irradiation light amount (step 120
9) Then, the system controller 11 causes the memory 7 to store the ratio of the reduced irradiation light amount (step 1210). Then, returning to step 1203, the same operation as described above is repeated.

【0066】一方、ステップ1208で、設定クロック
数(設定時間)よりも多い(長い)と判断された場合は、
ステップ1211以降に進むが、この場合、ステップ1
211〜1216は、上述した図10に示すステップ1
011〜1016と同様である。
On the other hand, if it is determined in step 1208 that the number of clocks is longer (longer) than the set number of clocks (set time),
Step 1211 and subsequent steps are performed, but in this case, step 1
211 to 1216 are step 1 shown in FIG. 10 described above.
The same as 011 to 1016.

【0067】このような構成とすると、図9(b)に示す
ように単位時間当たりの光量が多くなり過ぎて、同時に
光子が光検出器1に入射する確率が高くなり、光子計数
が正確に行えなくなる恐れがある場合、照射光量を減少
させて蛍光光量を減少させことができ、光子計数を正確
にできる光検出器1(1′)の状態を保つことができる。
また、照射光量を減少することで過剰に照射光を照射し
てしまうのを防ぐことができるので、観察試料30の褪
色を予防できる。さらに、照射光量を減少させると蛍光
光量も変化してしまうが、その変化分をデータ処理によ
って打ち消すことができる。
With such a configuration, as shown in FIG. 9B, the amount of light per unit time becomes too large, and at the same time, the probability that photons will be incident on the photodetector 1 will increase, and the photon counting will be accurate. When there is a possibility that the photodetector 1 (1 ') cannot be performed, the amount of irradiation light can be reduced to reduce the amount of fluorescent light, and the state of the photodetector 1 (1') capable of accurately counting photons can be maintained.
Moreover, since it is possible to prevent the irradiation light from being excessively irradiated by reducing the irradiation light amount, it is possible to prevent fading of the observation sample 30. Furthermore, when the irradiation light amount is reduced, the fluorescence light amount also changes, but the change can be canceled by data processing.

【0068】なお、上述した第1乃至第6の実施の形態
では、レーザ光源21はガルバノメータミラー25,2
6によって観察試料30を走査しているが、ガルバノメ
ータミラー25,26を止めて観察試料30の一点を測
定することもできる。
In the first to sixth embodiments described above, the laser light source 21 includes the galvanometer mirrors 25 and 2.
Although the observation sample 30 is scanned by 6, the galvanometer mirrors 25 and 26 may be stopped to measure one point of the observation sample 30.

【0069】その他、本発明は、上記実施の形態に限定
されるものでなく、実施段階では、その要旨を変更しな
い範囲で種々変形することが可能である。
In addition, the present invention is not limited to the above-mentioned embodiment, and can be variously modified at the stage of carrying out the invention without changing the gist thereof.

【0070】さらに、上記実施の形態には、種々の段階
の発明が含まれており、開示されている複数の構成要件
における適宜な組み合わせにより種々の発明が抽出でき
る。例えば、実施の形態に示されている全構成要件から
幾つかの構成要件が削除されても、発明が解決しようと
する課題の欄で述べた課題を解決でき、発明の効果の欄
で述べられている効果が得られる場合には、この構成要
件が削除された構成が発明として抽出できる。
Furthermore, the above-described embodiments include inventions at various stages, and various inventions can be extracted by appropriately combining a plurality of disclosed constituent elements. For example, even if some constituent elements are deleted from all the constituent elements shown in the embodiment, the problem described in the section of the problem to be solved by the invention can be solved, and it is described in the section of the effect of the invention. In the case where the effect described above is obtained, a configuration in which this constituent element is deleted can be extracted as an invention.

【0071】また、上述した実施の形態には、以下の発
明も含まれる。
The above-described embodiment also includes the following inventions.

【0072】(1)請求項1乃至3のいずれかに記載の
光量測定装置において、前記光子計数手段が設定光子数
に達することと前記照明光の前記観察試料への照射を制
御する光照射制御部が連動して動作することを特徴とし
ている。
(1) In the light quantity measuring device according to any one of claims 1 to 3, light irradiation control for controlling that the photon counting means reaches a set number of photons and irradiation of the illumination light to the observation sample. The feature is that the parts work together.

【0073】このようにすれば、観察試料の各部の測定
と照射光の制御を連動させて、ある固定位置において検
出光量が所定値に達すると、光の照射位置を次の測定位
置に移すことができる。
By doing so, the measurement of each part of the observation sample and the control of the irradiation light are interlocked, and when the detected light amount reaches a predetermined value at a certain fixed position, the irradiation position of the light is moved to the next measurement position. You can

【0074】(2)請求項1乃至3のいずれかに記載の
光量測定装置において、サンプリング時間の最長時間を
設定し、サンプリング時間が制限時間設定部で設定した
最長時間に達したら、光子計数値が設定光子数に達しな
くとも、設定光子数に達した時と同じ処理をさせる制限
時間設定部を有することを特徴としている。
(2) In the light quantity measuring device according to any one of claims 1 to 3, the maximum sampling time is set, and when the sampling time reaches the maximum time set by the time limit setting section, the photon count value is reached. Is characterized by having a time limit setting unit that performs the same processing as when the set number of photons is reached even if the set number of photons is not reached.

【0075】このようにすれば、光子数が少なく、照明
光を当てている時間が長くなり過ぎるのを防止すること
ができる。
By doing so, it is possible to prevent the number of photons from being small and the illumination light from being applied for too long.

【0076】(3)請求項1乃至3のいずれかに記載の
光量測定装置において、サンプリング時間の最短時間お
よび(または)最長時間を設定し、サンプリング時間が最
短時間より短い(最長時間より長い)ときは光照射制御部
に照射光量を減少(増加)させる制限時間設定部を有する
ことを特徴としている。
(3) In the light quantity measuring device according to any one of claims 1 to 3, the shortest sampling time and / or the longest sampling time is set, and the sampling time is shorter than the shortest time (longer than the longest time). In this case, the light irradiation control unit has a limit time setting unit that reduces (increases) the irradiation light amount.

【0077】このようにすれば、光子数が多すぎる(少
なすぎる)とき、照明光の光量を減少(増加)させること
ができる。
By doing so, when the number of photons is too large (too small), the amount of illumination light can be decreased (increased).

【0078】(4)請求項1乃至3のいずれかに記載の
光量測定装置において、照射光量を変更した場合、(設
定光子数)/(サンプリング時間)/(照射光量の変化の割
合)を計算して、輝度情報を算出するデータ処理部を有
することを特徴としている。
(4) In the light quantity measuring device according to any one of claims 1 to 3, when the irradiation light quantity is changed, (set photon number) / (sampling time) / (ratio of change of irradiation light quantity) is calculated. Then, it is characterized by having a data processing unit for calculating the luminance information.

【0079】このようにすれば、照明光の光量を変化さ
せた場合、輝度情報がそれまでに取得した輝度情報と不
連続になってしまうのを防止することができる。
By doing so, it is possible to prevent the brightness information from becoming discontinuous with the brightness information acquired up to that time when the light quantity of the illumination light is changed.

【0080】[0080]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、光量
が多いところも少ないところもS/Nがほぼ一定となる
ような良好な画像を得ることができるとともに、迅速な
画像取得速度を確保できる光量測定装置を提供できる。
As described above, according to the present invention, it is possible to obtain a good image in which the S / N is almost constant in a place where the light amount is large and a place where the light amount is small, and a quick image acquisition speed is obtained. A light quantity measuring device that can be secured can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1の実施の形態の光量測定装置が適
用される走査型光学顕微鏡の光学系を中心とした概略構
成を示す図。
FIG. 1 is a diagram showing a schematic configuration centering on an optical system of a scanning optical microscope to which a light quantity measuring device according to a first embodiment of the present invention is applied.

【図2】第1の実施の形態に使用される測光回路、主制
御部および光照射制御部の概略構成を示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a schematic configuration of a photometric circuit, a main control unit, and a light irradiation control unit used in the first embodiment.

【図3】第1の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
FIG. 3 is a flowchart for explaining the operation of the first embodiment.

【図4】本発明の第2の実施の形態の動作を説明するた
めのフローチャート。
FIG. 4 is a flowchart for explaining the operation of the second embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第3の実施の形態に使用される測光回
路、主制御部および光照射制御部の概略構成を示す図。
FIG. 5 is a diagram showing a schematic configuration of a photometric circuit, a main control unit, and a light irradiation control unit used in a third embodiment of the present invention.

【図6】第3の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
FIG. 6 is a flowchart for explaining the operation of the third embodiment.

【図7】本発明の第4の実施の形態に使用される測光回
路、主制御部および光照射制御部の概略構成を示す図。
FIG. 7 is a diagram showing a schematic configuration of a photometric circuit, a main control unit, and a light irradiation control unit used in a fourth embodiment of the present invention.

【図8】第4の実施の形態の動作を説明するためのフロ
ーチャート。
FIG. 8 is a flowchart for explaining the operation of the fourth embodiment.

【図9】第4の実施の形態の光子計数法を説明するため
の図。
FIG. 9 is a diagram for explaining the photon counting method according to the fourth embodiment.

【図10】本発明の第5の実施の形態の動作を説明する
ためのフローチャート。
FIG. 10 is a flowchart for explaining the operation of the fifth embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第6の実施の形態に使用される測光
回路、主制御部および光照射制御部の概略構成を示す
図。
FIG. 11 is a diagram showing a schematic configuration of a photometric circuit, a main control unit, and a light irradiation control unit used in a sixth embodiment of the present invention.

【図12】第6の実施の形態の動作を説明するためのフ
ローチャート。
FIG. 12 is a flowchart for explaining the operation of the sixth embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、1′…光検出器 2…電流電圧変換部 3…パルス計数部 4…クロック計数部 5…クロック発生部 6…アドレス制御部 7…メモリ 8…パルス数設定部 9…データ処理部 10…表示部 11…システム制御部 12…ガルバノミラー制御部 13…光射出制御部 14…制限時問設定部 15…電荷蓄積部 16…電荷量比較部 17…蓄積電荷しきい値設定部 18…過剰光量検出部 21…レーザ光源 22…ビームエキスパンダ 23…波長フィルタ 24…光路分割手段 25.26…ガルバノメータミラー 27…瞳投影レンズ 28…プリズム 29…対物レンズ 30…観察試料 31…レンズ 32…ミラー 33…レンズ 34…光検器 35…フレームメモリ 36…集光レンズ 37…ダイクロイックミラー 38…吸収フィルタ 39…ピンホール板 40、41…測光回路 42…ミラー 43…ダイクロイックフィルタ 44…吸収フィルタ 45…ピンホール板 50…主制御部 51…光照射制御部 1, 1 '... Photodetector 2. Current-voltage converter 3 ... Pulse counter 4 ... Clock counter 5 ... Clock generator 6 ... Address control unit 7 ... Memory 8 ... Pulse number setting section 9 ... Data processing unit 10 ... Display 11 ... System control unit 12 ... Galvo mirror control unit 13 ... Light emission control unit 14 ... Restriction time setting section 15 ... Charge storage unit 16 ... Charge amount comparison unit 17 ... Accumulated charge threshold setting section 18 ... Excessive light amount detection unit 21 ... Laser light source 22 ... Beam expander 23 ... Wavelength filter 24 ... Optical path splitting means 25.26 ... Galvanometer mirror 27 ... Pupil projection lens 28 ... Prism 29 ... Objective lens 30 ... Observation sample 31 ... Lens 32 ... Mirror 33 ... Lens 34 ... Optical detector 35 ... Frame memory 36 ... Condensing lens 37 ... Dichroic mirror 38 ... Absorption filter 39 ... Pinhole plate 40, 41 ... Photometric circuit 42 ... Mirror 43 ... Dichroic filter 44 ... Absorption filter 45 ... Pinhole plate 50 ... Main control unit 51 ... Light irradiation control unit

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2G043 AA03 AA06 EA01 FA02 GA01 GA02 GB01 GB19 HA01 HA02 HA09 HA15 JA02 KA09 LA01 LA02 NA01 NA05 NA06 2G065 AA04 AB09 AB11 BA09 BA18 BB22 BB26 BC01 BC14 BC15 BC17 BC19 BC22 BD01 BD03 2H052 AA07 AA09 AC04 AC15 AC27 AC34 AF02    ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continued front page    F-term (reference) 2G043 AA03 AA06 EA01 FA02 GA01                       GA02 GB01 GB19 HA01 HA02                       HA09 HA15 JA02 KA09 LA01                       LA02 NA01 NA05 NA06                 2G065 AA04 AB09 AB11 BA09 BA18                       BB22 BB26 BC01 BC14 BC15                       BC17 BC19 BC22 BD01 BD03                 2H052 AA07 AA09 AC04 AC15 AC27                       AC34 AF02

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光源からの照明光を観察試料に照射して
得られる光または観察試料が発する光を光子として検出
する光検出手段と、 予め所定の光子数に相当する光量を設定した光量設定手
段と、 前記光検出手段で検出される光子数に相当する光量が前
記光量設定手段に設定された光量に達するまでの時間を
計測する時間計測手段と、 前記光量設定手段に設定された所定光量と前記時間計測
手段で計測された時間により前記観察試料の輝度情報を
算出する輝度情報算出手段とを具備したことを特徴とす
る光量測定装置。
1. A light detection means for detecting, as photons, light obtained by irradiating an observation sample with illumination light from a light source or light emitted by the observation sample, and a light amount setting in which a light amount corresponding to a predetermined number of photons is set in advance. Means, a time measuring means for measuring the time until the light quantity corresponding to the number of photons detected by the light detecting means reaches the light quantity set in the light quantity setting means, and a predetermined light quantity set in the light quantity setting means And a brightness information calculating means for calculating brightness information of the observation sample according to the time measured by the time measuring means.
【請求項2】 光源からの照明光を観察試料に照射して
得られる光または観察試料が発する光を光子として検出
する光検出手段と、 前記光検出手段で検出される光子数を計数する光子計数
手段と、 予め所定の光子数を設定した光子数設定手段と、 前記光子計数手段の光子計数値が前記光子数設定手段に
設定された設定光子数に達するまでのサンプリング時間
を計測する時間計測手段と、 前記光子数設定手段の設定光子数と前記時間計測手段で
計測されたサンプリング時間により前記観察試料の輝度
情報を算出する輝度情報算出手段とを具備したことを特
徴とする光量測定装置。
2. Light detection means for detecting, as photons, light obtained by irradiating an observation sample with illumination light from a light source or light emitted by the observation sample, and photons for counting the number of photons detected by the light detection means. Counting means, photon number setting means for setting a predetermined number of photons in advance, and time measurement for measuring the sampling time until the photon count value of the photon counting means reaches the set number of photons set in the photon number setting means. A light quantity measuring device comprising: a means and a brightness information calculation means for calculating brightness information of the observation sample based on the number of photons set by the photon number setting means and the sampling time measured by the time measuring means.
【請求項3】 光源からの照明光を観察試料に照射して
得られる光または観察試料が発する光を光子として検出
する光検出手段と、 前記光検出手段で検出される光子数に対応する出力を積
分する積分手段と、 予め所定のしきい値を設定したしきい値設定手段と、 前記積分手段の積分値が前記しきい値設定手段に設定さ
れたしきい値に達するまでのサンプリング時間を計測す
る時間計測手段と、 前記しきい値設定手段のしきい値と前記時間計測手段で
計測されたサンプリング時間により前記観察試料の輝度
情報を算出する輝度情報算出手段とを具備したことを特
徴とする光量測定装置。
3. Light detection means for detecting light obtained by irradiating an observation sample with illumination light from a light source or light emitted by the observation sample, and an output corresponding to the number of photons detected by the light detection means. Integrating means for integrating a threshold value setting means for setting a predetermined threshold value in advance, and a sampling time until the integrated value of the integrating means reaches the threshold value set for the threshold value setting means. A time measuring means for measuring, and a brightness information calculating means for calculating the brightness information of the observation sample based on the threshold value of the threshold value setting means and the sampling time measured by the time measuring means. Light intensity measuring device.
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