JPH095222A - 分析用粒状物体の分離装置 - Google Patents
分析用粒状物体の分離装置Info
- Publication number
- JPH095222A JPH095222A JP7158171A JP15817195A JPH095222A JP H095222 A JPH095222 A JP H095222A JP 7158171 A JP7158171 A JP 7158171A JP 15817195 A JP15817195 A JP 15817195A JP H095222 A JPH095222 A JP H095222A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- granular
- analysis
- holes
- substances
- hemispherical dome
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- Pending
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- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating And Analyzing Materials By Characteristic Methods (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 従来での手作業に替わって自動化試験分析シ
ステムにおいて、前工程より一括送給された複数の分析
試料たる粒状試料を複数の払出し経路に各々１個毎に分
離する粒状物体の分離装置を提供すること。 【構成】 複数の分析用粒状物体を自然落下せしめる導
入口部と、該分析用粒状物体を分散せしめる半球形状ド
ームと、該半球形状ドーム沿いに分散落下した該分析用
粒状物体が各々１個毎に嵌入する複数の孔を有する円板
と、該円板の中心軸を回転して分散落下した該分析用粒
状物体を円周方向に移動せしめ該複数の孔に落とし込む
放射状羽根板とから成ることを特徴とする分析用粒状物
体の分離装置。
ステムにおいて、前工程より一括送給された複数の分析
試料たる粒状試料を複数の払出し経路に各々１個毎に分
離する粒状物体の分離装置を提供すること。 【構成】 複数の分析用粒状物体を自然落下せしめる導
入口部と、該分析用粒状物体を分散せしめる半球形状ド
ームと、該半球形状ドーム沿いに分散落下した該分析用
粒状物体が各々１個毎に嵌入する複数の孔を有する円板
と、該円板の中心軸を回転して分散落下した該分析用粒
状物体を円周方向に移動せしめ該複数の孔に落とし込む
放射状羽根板とから成ることを特徴とする分析用粒状物
体の分離装置。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、自動化試験分析システ
ムにおける分析用試料たる粒状物体の分離装置に関する
ものである。
ムにおける分析用試料たる粒状物体の分離装置に関する
ものである。
【０００２】
【従来の技術】鉄鋼の高品質化に伴い、鉄鋼中の極く微
量の酸素、窒素量が重要視されるようになり、極微量の
分析精度が重要な課題となっている。このような微量酸
素、窒素の分析に当たっては、表面に存在している鋼中
の特に酸素を測定対象から外すため、分析前の処理とし
て、試料を切断した後、その試料表層をベルト研磨装置
によって切断した試料をベルト上に搬送し、試料表層を
研磨することによって、表面酸化層を削除する。その
後、研磨した試料片をポンチによる打抜き装置によっ
て、ある大きさのパンチ試料に打抜き、このパンチ試料
を自動分析装置に送り酸素、窒素等分析を行っている。
量の酸素、窒素量が重要視されるようになり、極微量の
分析精度が重要な課題となっている。このような微量酸
素、窒素の分析に当たっては、表面に存在している鋼中
の特に酸素を測定対象から外すため、分析前の処理とし
て、試料を切断した後、その試料表層をベルト研磨装置
によって切断した試料をベルト上に搬送し、試料表層を
研磨することによって、表面酸化層を削除する。その
後、研磨した試料片をポンチによる打抜き装置によっ
て、ある大きさのパンチ試料に打抜き、このパンチ試料
を自動分析装置に送り酸素、窒素等分析を行っている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したよう
なベルト研磨装置で試料を研磨し、分析用粒状試料を打
抜きする場合に分析者の手作業によって打抜きを行い、
打抜き台の上で１つ１つ拾って人手で仕分けしているた
め、極めて能率が悪いという欠点があった。そこで、発
明者らは上記の問題点を解決するために、これまでの手
作業に替わって自動化試験分析システムにおいて、前工
程より一括送給された複数の分析用試料たる粒状試料を
複数の払出し経路に各々１個毎に分離する粒状物体の分
離装置を提供するものである。
なベルト研磨装置で試料を研磨し、分析用粒状試料を打
抜きする場合に分析者の手作業によって打抜きを行い、
打抜き台の上で１つ１つ拾って人手で仕分けしているた
め、極めて能率が悪いという欠点があった。そこで、発
明者らは上記の問題点を解決するために、これまでの手
作業に替わって自動化試験分析システムにおいて、前工
程より一括送給された複数の分析用試料たる粒状試料を
複数の払出し経路に各々１個毎に分離する粒状物体の分
離装置を提供するものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記の目的を
達成するための手段としては、複数の分析用粒状物体を
自然落下せしめる導入口部と、該分析用粒状物体を分散
せしめる半球形状ドームと、該半球形状ドーム沿いに分
散落下した該分析用粒状物体が各々１個毎に嵌入する複
数の孔を有する円板と、該円板の中心軸を回転して分散
落下した該分析用粒状物体を円周方向に移動せしめ該複
数の孔に落とし込む放射状羽根板とから成ることを特徴
とする分析用粒状物体の分離装置にある。
達成するための手段としては、複数の分析用粒状物体を
自然落下せしめる導入口部と、該分析用粒状物体を分散
せしめる半球形状ドームと、該半球形状ドーム沿いに分
散落下した該分析用粒状物体が各々１個毎に嵌入する複
数の孔を有する円板と、該円板の中心軸を回転して分散
落下した該分析用粒状物体を円周方向に移動せしめ該複
数の孔に落とし込む放射状羽根板とから成ることを特徴
とする分析用粒状物体の分離装置にある。
【０００５】以下、本発明について図面に従って詳細に
説明する。図１は分析前処理としての試料作製のための
一連の工程図である。図１（Ａ）に示すように、従来の
試料作製のための一連の工程図（Ｂ）とは異なり、試料
を切断機によって切断した試料片を、特に高炭素材等に
おいては高周波加熱装置等の加熱装置によって加熱して
軟化させた後ポンチによる打抜きプレス装置によってパ
ンチ試料を作製する。引続いて、この試料をサンドブラ
スト装置を利用して試料の表面の酸化被膜の粗研磨を行
った後特に本発明の特徴とする分析用粒状物体の分離装
置にて自動的に試料の分離を行い、その各分離された試
料を電解研磨装置によって電解研磨が行われ、洗浄した
後乾燥装置にて乾燥工程を経て窒素ガス搬送によって自
動分析装置に搬送し酸素分析等が行われる。
説明する。図１は分析前処理としての試料作製のための
一連の工程図である。図１（Ａ）に示すように、従来の
試料作製のための一連の工程図（Ｂ）とは異なり、試料
を切断機によって切断した試料片を、特に高炭素材等に
おいては高周波加熱装置等の加熱装置によって加熱して
軟化させた後ポンチによる打抜きプレス装置によってパ
ンチ試料を作製する。引続いて、この試料をサンドブラ
スト装置を利用して試料の表面の酸化被膜の粗研磨を行
った後特に本発明の特徴とする分析用粒状物体の分離装
置にて自動的に試料の分離を行い、その各分離された試
料を電解研磨装置によって電解研磨が行われ、洗浄した
後乾燥装置にて乾燥工程を経て窒素ガス搬送によって自
動分析装置に搬送し酸素分析等が行われる。
【０００６】図２は本発明に係る分析用粒状物体の分離
装置で、図２（Ａ）は分離装置の正面図、図２（Ｂ）は
平面図である。図２（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、分
析用粒状物体を分散させる半球形状ドーム１と、この半
球形状ドーム１沿いに分散落下した、この分析用粒状物
体が各々１個毎嵌入する複数の孔２を有する円板３と、
この円板３の中心軸を回転して分散落下した分析用粒状
物体を円周方向に移動し、複数の穴に落とし込む放射状
羽根板４とからなる分析用粒状物体の分離装置である。
装置で、図２（Ａ）は分離装置の正面図、図２（Ｂ）は
平面図である。図２（Ａ）及び（Ｂ）に示すように、分
析用粒状物体を分散させる半球形状ドーム１と、この半
球形状ドーム１沿いに分散落下した、この分析用粒状物
体が各々１個毎嵌入する複数の孔２を有する円板３と、
この円板３の中心軸を回転して分散落下した分析用粒状
物体を円周方向に移動し、複数の穴に落とし込む放射状
羽根板４とからなる分析用粒状物体の分離装置である。
【０００７】
【作用】このような構成のもとに、分析用粒状物体が半
球形状ドーム１上に導入口部５より自然落下すると、こ
の半球形状ドーム１によって分析用粒状物体は半球形状
ドーム沿いに分散落下し、円板３に落下した分析用粒状
物体は、この円板３の中心を軸として回転して分散落下
した分析用粒状物体を円周方向に移動させ、放射状羽根
板４の円周方向の回転によって、複数の孔２に落とし込
まれる。このようにして、落とし込まれた分析用粒状物
体は各孔２より１個づつ落下して各々がストッカー槽６
に搬送される。
球形状ドーム１上に導入口部５より自然落下すると、こ
の半球形状ドーム１によって分析用粒状物体は半球形状
ドーム沿いに分散落下し、円板３に落下した分析用粒状
物体は、この円板３の中心を軸として回転して分散落下
した分析用粒状物体を円周方向に移動させ、放射状羽根
板４の円周方向の回転によって、複数の孔２に落とし込
まれる。このようにして、落とし込まれた分析用粒状物
体は各孔２より１個づつ落下して各々がストッカー槽６
に搬送される。
【０００８】図３は分析用粒状物体の落下する孔部の詳
細図である。図３に示すように、円板３の中心を軸とし
て回転する放射状羽根板４の回転によって、分析用粒状
物体を円周方向に移動させて孔２に落とし込んだ分析用
粒状物体７を孔２の下部より光学検知器８によって孔２
に完全に入ったか否かの判断及び各孔に完全に粒状物体
が入り、全部揃った状態を探知した後孔２より分析用粒
状物体７の払出しを行いストッカー槽６に搬送させるも
のである。
細図である。図３に示すように、円板３の中心を軸とし
て回転する放射状羽根板４の回転によって、分析用粒状
物体を円周方向に移動させて孔２に落とし込んだ分析用
粒状物体７を孔２の下部より光学検知器８によって孔２
に完全に入ったか否かの判断及び各孔に完全に粒状物体
が入り、全部揃った状態を探知した後孔２より分析用粒
状物体７の払出しを行いストッカー槽６に搬送させるも
のである。
【０００９】このように、分析用粒状物体の分離装置を
配設することによって、自動化試料分析システムにおけ
る、一連の工程である試料の切断、加熱及び打抜き並び
にサンドブラスト装置による粗研磨の前工程処理後の一
括送給された多数の分析用試料である粒状物体を連続的
に複数の払出し経路に手作業によることなく、各々１個
毎に自動的に分割することが出来、全く人手を要せずに
後工程である電解研磨洗浄及び乾燥工程と連続作業が可
能となり、極めて測定工程の迅速化、高精度及び省力化
を図ることができた。
配設することによって、自動化試料分析システムにおけ
る、一連の工程である試料の切断、加熱及び打抜き並び
にサンドブラスト装置による粗研磨の前工程処理後の一
括送給された多数の分析用試料である粒状物体を連続的
に複数の払出し経路に手作業によることなく、各々１個
毎に自動的に分割することが出来、全く人手を要せずに
後工程である電解研磨洗浄及び乾燥工程と連続作業が可
能となり、極めて測定工程の迅速化、高精度及び省力化
を図ることができた。
【００１０】
【発明の効果】以上述べたように、本発明による自動化
試料分析システムにおいて、前工程より一括送給された
多数の分析用試料である粒状物体を連続的に複数の払出
し経路に手作業によることなく、各々１個毎に自動的に
分割することが可能となり、従来のように台の上で１個
づつ拾って人手で仕分けする必要がなくなり、連続自動
化により測定工程の迅速化、高精度及び省力化が図ら
れ、試験片の測定作業に大きく寄与するものである。
試料分析システムにおいて、前工程より一括送給された
多数の分析用試料である粒状物体を連続的に複数の払出
し経路に手作業によることなく、各々１個毎に自動的に
分割することが可能となり、従来のように台の上で１個
づつ拾って人手で仕分けする必要がなくなり、連続自動
化により測定工程の迅速化、高精度及び省力化が図ら
れ、試験片の測定作業に大きく寄与するものである。
【図１】分析前処理としての試料作製のための一連の工
程図、
程図、
【図２】本発明に係る分析用粒状物体の分離装置、
【図３】図３は分析用粒状物体の落下する孔部の詳細図
である。
である。
１ 半球形状ドーム ２ 孔 ３ 円板 ４ 放射状羽根板 ５ 導入口部 ６ ストッカー槽 ７ 分析用粒状物体 ８ 光学検知器
Claims (1)
- 【請求項１】 複数の分析用粒状物体を自然落下せしめ
る導入口部と、該分析用粒状物体を分散せしめる半球形
状ドームと、該半球形状ドーム沿いに分散落下した該分
析用粒状物体が各々１個毎に嵌入する複数の孔を有する
円板と、該円板の中心軸を回転して分散落下した該分析
用粒状物体を円周方向に移動せしめ該複数の孔に落とし
込む放射状羽根板とから成ることを特徴とする分析用粒
状物体の分離装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7158171A JPH095222A (ja) | 1995-06-23 | 1995-06-23 | 分析用粒状物体の分離装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7158171A JPH095222A (ja) | 1995-06-23 | 1995-06-23 | 分析用粒状物体の分離装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH095222A true JPH095222A (ja) | 1997-01-10 |
Family
ID=15665835
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7158171A Pending JPH095222A (ja) | 1995-06-23 | 1995-06-23 | 分析用粒状物体の分離装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH095222A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6353787B2 (en) | 1999-12-16 | 2002-03-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicle deceleration control apparatus and control method thereof |
| US6502028B2 (en) | 2000-04-28 | 2002-12-31 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicular deceleration control apparatus, and braking system control method |
| US6554089B2 (en) | 1999-12-16 | 2003-04-29 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicle deceleration control apparatus and control method for the same |
| JP2010217033A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Ueno Engineering Ltd | 縮分装置 |
-
1995
- 1995-06-23 JP JP7158171A patent/JPH095222A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6353787B2 (en) | 1999-12-16 | 2002-03-05 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicle deceleration control apparatus and control method thereof |
| US6554089B2 (en) | 1999-12-16 | 2003-04-29 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicle deceleration control apparatus and control method for the same |
| US6502028B2 (en) | 2000-04-28 | 2002-12-31 | Toyota Jidosha Kabushiki Kaisha | Vehicular deceleration control apparatus, and braking system control method |
| JP2010217033A (ja) * | 2009-03-17 | 2010-09-30 | Ueno Engineering Ltd | 縮分装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20010417 |