JPH09320512A - Filament of sample direct introduction probe for mass spectrograph - Google Patents
Filament of sample direct introduction probe for mass spectrographInfo
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- JPH09320512A JPH09320512A JP8156090A JP15609096A JPH09320512A JP H09320512 A JPH09320512 A JP H09320512A JP 8156090 A JP8156090 A JP 8156090A JP 15609096 A JP15609096 A JP 15609096A JP H09320512 A JPH09320512 A JP H09320512A
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、質量分析における
試料のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝
撃イオン化により行う質量分析装置に関する。特に、質
量分析装置に試料を導入するための直接試料導入プロー
ブ並びにその先端に設けられ、試料ホルダーとして且つ
試料加熱手段として機能するフィラメントに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a mass spectrometer for ionizing a sample in mass spectrometry by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization. In particular, the present invention relates to a direct sample introduction probe for introducing a sample into a mass spectrometer and a filament provided at the tip thereof and functioning as a sample holder and a sample heating means.
【０００２】[0002]
【従来の技術】質量分析装置は様々な物質を高感度分析
（１０-9〜１０-10ｇオーダー）できる分析装置である
が、最高感度付近での極微量分析においては試料の全量
を無駄なくイオン源内に導入できる直接試料導入プロー
ブが用いられる。中でも、脱離型化学イオン化プローブ
あるいは脱離型電子衝撃イオン化プローブは、試料をイ
オン源内のイオン化領域にまで直接導入することができ
るため、極微量試料の分析に適している。2. Description of the Related Art A mass spectrometer is an analyzer capable of analyzing various substances with high sensitivity (on the order of 10 -9 to 10 -10 g). A direct sample introduction probe that can be introduced into the ion source is used. Among them, the desorption type chemical ionization probe or the desorption type electron impact ionization probe is suitable for the analysis of an extremely small amount of sample because the sample can be directly introduced into the ionization region in the ion source.
【０００３】ここで、脱離型化学イオン化プローブを用
いて試料を脱離型化学イオン化して質量分析する場合を
図３を参照しながら説明する。A case where a sample is subjected to desorption-type chemical ionization using a desorption-type chemical ionization probe and mass spectrometry will be described with reference to FIG.
【０００４】まず、試料ホルダーとして且つ試料加熱手
段として機能するフィラメント１が先端に設けられた脱
離型化学イオン化プローブ２ａを、内圧が高真空度（１
０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン源３に挿入
する。ここでフィラメント１は、約１００μｍ径の白金
ワイヤーから構成されており、イオン源３の内部の高真
空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設定されているイオン化
室４に挿入されている。イオン化室４には、反応ガスを
イオン化室４に導入するためのガス管５が接続されてい
る。また、イオン化室４には、イオン化された試料を検
出器（図示せず）方向へ通過させるための穴６が設けら
れており、その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極
群７が設けられている。First, a desorption-type chemical ionization probe 2a having a filament 1 functioning as a sample holder and a sample heating means is provided at the tip thereof.
Insert into the ion source 3 set to 0 -3 to 10 -4 Pa). Here, the filament 1 is composed of a platinum wire having a diameter of about 100 μm, and is inserted into the ionization chamber 4 inside the ion source 3 which is set to a high degree of vacuum (10 −3 to 10 −4 Pa). . A gas pipe 5 for introducing a reaction gas into the ionization chamber 4 is connected to the ionization chamber 4. Further, the ionization chamber 4 is provided with a hole 6 for passing an ionized sample toward a detector (not shown), and an electrode group 7 constituting a lens system is provided above the hole 6. It is provided.
【０００５】次に、フィラメント１を加熱してフィラメ
ント１に保持されていた試料を気化させ、その気化した
試料とガス管５からイオン化室４に導入される反応ガス
（例えば、メタン、イソブタン、アンモニア等）とを反
応させることにより試料をイオン化する。生成イオン
は、イオン化室４の穴６を通過し、電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。Next, the filament 1 is heated to vaporize the sample held in the filament 1, and the vaporized sample and a reaction gas (for example, methane, isobutane, ammonia) introduced into the ionization chamber 4 from the gas pipe 5. Etc.) and ionize the sample. The produced ions pass through the hole 6 of the ionization chamber 4, are focused by the electrode group 7 and reach the detector (not shown), and their mass is analyzed.
【０００６】また、脱離型電子衝撃イオン化プローブを
用いて試料を脱離型電子衝撃イオン化して質量分析する
場合を図４を参照しながら説明する。A case of desorption-type electron impact ionization of a sample using a desorption-type electron impact ionization probe for mass spectrometry will be described with reference to FIG.
【０００７】まず、図３の場合と同様に、試料ホルダー
として且つ試料加熱手段として機能するフィラメント１
が先端に設けられた脱離型電子衝撃化学イオン化プロー
ブ２ｂを、内圧が高真空度（１０-3〜１０-4Ｐａ）に設
定されているイオン源３に挿入する。ここでフィラメン
ト１は、イオン源３の内部の高真空度（１０-3〜１０-4
Ｐａ）に設定されているイオン化室４に挿入されてい
る。イオン化室４には、気化した試料を電子衝撃により
イオン化するための熱電子を発生するイオン源フィラメ
ント８が設けられている。また、イオン化室４には、図
３の場合と同様に、イオン化された試料を検出器（図示
せず）方向へ通過させるための穴６が設けられており、
その穴６の上方にはレンズ系を構成する電極群７が設け
られている。First, as in the case of FIG. 3, the filament 1 which functions as a sample holder and a sample heating means.
The desorption electron impact chemical ionization probe 2b provided at the tip is inserted into the ion source 3 whose internal pressure is set to a high degree of vacuum (10 −3 to 10 −4 Pa). Here, the filament 1 has a high degree of vacuum (10 −3 to 10 −4) inside the ion source 3.
It is inserted in the ionization chamber 4 set to Pa). The ionization chamber 4 is provided with an ion source filament 8 that generates thermoelectrons for ionizing a vaporized sample by electron impact. Further, as in the case of FIG. 3, the ionization chamber 4 is provided with a hole 6 for passing an ionized sample toward a detector (not shown),
An electrode group 7 forming a lens system is provided above the hole 6.
【０００８】次に、フィラメント１を加熱し、保持して
いた試料を気化させ、その気化した試料に、イオン源フ
ィラメント８から放出された熱電子を衝突させてイオン
化する。生成イオンは穴６を通過し電極群７により収束
されて検出器（図示せず）へ到達し、その質量が分析さ
れる。Next, the filament 1 is heated to vaporize the held sample, and the thermoelectrons emitted from the ion source filament 8 are collided with the vaporized sample for ionization. The produced ions pass through the holes 6 and are converged by the electrode group 7 to reach the detector (not shown), and the mass thereof is analyzed.
【０００９】このようなプローブを用いて極微量試料を
質量分析する際には、これらのプローブに設けられたフ
ィラメントに試料をサンプリングすることが必要となる
が、この場合、極微量の試料をマニュピュレーターの針
先に採取し、その針先に採取した試料をフィラメントの
先端に擦りつけることによりサンプリングが行われてい
る。When mass-analyzing a very small amount of a sample using such a probe, it is necessary to sample the sample on a filament provided in these probes. Sampling is performed by collecting the sample on the needle tip of the purator and rubbing the sample collected on the needle tip on the tip of the filament.
【００１０】[0010]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５に
示すように、プローブに設けられたフィラメント１の先
端部１ａ近傍の平面図（同図（ａ））におけるｘ−ｘ断
面が、非常に小さな直径の円形（同図（ｂ））なので、
その上に試料を擦りつけてサンプリングすることが困難
であり、また、うまくサンプリングできたとしても、し
っかりとフィラメント１上に試料が固定されていないの
で、質量分析装置のイオン源にプローブを挿入する以前
に試料を紛失してしまうこともある。However, as shown in FIG. 5, the xx cross section in the plan view (the same figure (a)) in the vicinity of the tip portion 1a of the filament 1 provided in the probe is very small. Since it is a circle with a diameter ((b) in the figure),
It is difficult to sample by rubbing the sample on it, and even if the sample is sampled well, the sample is not firmly fixed on the filament 1, so the probe is inserted into the ion source of the mass spectrometer. You may lose the sample before.
【００１１】本発明は、以上のような従来の技術の課題
を解決しようとするものであり、質量分析における試料
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置に、試料を直接導入する
ための直接試料導入プローブの先端に備えたフィラメン
トに、試料を容易にサンプリングできるようにし、しか
もサンプリングした試料を安定的に保持できるようにす
ることを目的とする。The present invention is intended to solve the problems of the conventional techniques as described above, and provides a mass spectrometer for deionizing chemical ionization or desorption electron impact ionization for ionization of a sample in mass spectrometry. An object of the present invention is to enable a sample to be easily sampled by a filament provided at the tip of a direct sample introduction probe for directly introducing a sample, and to further stably hold the sampled sample.
【００１２】[0012]
【課題を解決するための手段】本発明者は、直接試料導
入プローブの先端に備えたフィラメントに試料を擦りつ
けたときに試料が容易にフィラメントに付着し且つ付着
した試料が安定的に保持されるようにするためには、フ
ィラメントの表面の少なくとも一部に凹部を形成すれば
よいことを見出し、本発明を完成させるに至った。The present inventors have found that when a sample is rubbed directly onto a filament provided at the tip of a sample introduction probe, the sample is easily attached to the filament and the attached sample is stably held. In order to do so, it has been found that a recess should be formed on at least a part of the surface of the filament, and the present invention has been completed.
【００１３】即ち、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブの先端に備えられ、試料ホルダ
ーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラ
メントにおいて、その表面の少なくとも一部に試料を保
持するための凹部が設けられていることを特徴とするフ
ィラメントを提供する。That is, the present invention is provided at the tip of a direct sample introduction probe for directly introducing a sample into a mass spectrometer in which ionization of the sample in mass spectrometry is performed by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization. A filament, which functions as a sample holder and also as a sample heating means, is provided with a recess for holding a sample on at least a part of its surface.
【００１４】また、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置に試料を直接導入するため
の直接試料導入プローブであって、その先端に試料ホル
ダーとして機能し且つ試料加熱手段として機能するフィ
ラメントが備えられている直接試料導入プローブにおい
て、フィラメントの表面の少なくとも一部に試料を保持
するための凹部が設けられていることを特徴とする直接
試料導入プローブを提供する。The present invention also relates to a direct sample introduction probe for directly introducing a sample into a mass spectrometer which performs ionization of the sample in mass spectrometry by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization. In a direct sample introduction probe having a filament that functions as a sample holder and a sample heating means at the tip, a concave portion for holding a sample is provided on at least a part of the surface of the filament. A direct sample introduction probe is provided.
【００１５】更に、本発明は、質量分析における試料の
イオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオ
ン化により行う質量分析装置であって、試料ホルダーと
して機能し且つ試料加熱手段として機能するフィラメン
トが先端に設けられた直接試料導入プローブを備えた質
量分析装置において、フィラメントの表面の少なくとも
一部に試料を保持するための凹部が設けられていること
を特徴とする質量分析装置を提供する。Furthermore, the present invention is a mass spectrometer for ionizing a sample in mass spectrometry by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization, which filament functions as a sample holder and a sample heating means. In a mass spectrometer equipped with a direct sample introduction probe provided at the tip, a concave portion for holding a sample is provided on at least a part of the surface of a filament.
【００１６】[0016]
【発明の実施の形態】以下、本発明を図面を参照しなが
ら詳細に説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
【００１７】本発明のフィラメントは、機能的には従来
のフィラメントと同様に、その先端部に試料を保持する
試料ホルダーとして機能するとともに、電気を導通する
ことにより自ら発熱し、試料を加熱気化させるための加
熱手段として機能する。このため、本発明のフィラメン
ト１は、導電性の細いワイヤーを、図１（ａ）の平面図
に示すように、屈曲させてその先端部１ａに試料を保持
するような構造となっており、しかもそのｘ−ｘ断面図
（図１（ｂ））に示すように、その表面の少なくとも一
部に試料を保持するための凹部１ｂが設けられている。
このような凹部１ｂを設けることにより、その部分に、
マニュピュレーターの針先で極微量の試料を擦りつけた
場合に、容易にサンプリングすることができ、しかもサ
ンプリングした試料の保持性が向上し、質量分析装置の
イオン源にプローブを挿入する以前に試料を紛失してし
まうことを防止することができる。The filament of the present invention functionally functions as a sample holder for holding a sample at its tip, similarly to a conventional filament, and when it conducts electricity, it heats itself and heats and vaporizes the sample. Function as a heating means. Therefore, the filament 1 of the present invention has a structure in which a thin conductive wire is bent to hold the sample at its tip 1a, as shown in the plan view of FIG. 1 (a). Moreover, as shown in the xx cross-sectional view (FIG. 1B), the concave portion 1b for holding the sample is provided on at least a part of the surface.
By providing such a concave portion 1b,
When a minute amount of sample is rubbed with the needle tip of the manipulator, sampling can be easily performed, and the retention of the sample is improved, and before inserting the probe into the ion source of the mass spectrometer. It is possible to prevent the sample from being lost.
【００１８】なお、フィラメント１の材料としては、試
料を汚染せず、耐久性に優れた白金ワイヤーを使用する
ことが好ましい。As the material of the filament 1, it is preferable to use a platinum wire which does not contaminate the sample and has excellent durability.
【００１９】ここで、凹部１ｂの形状には、試料のサン
プリングと保持とを容易にするような形状であるかぎり
特に制限はない。例えば、図１（ａ）におけるｘ−ｘ断
面形状に関し、図１（ｂ）の場合には凹部１ｂが三角形
状となっているが、図２（ａ）に示すように半円形状で
もよく、矩形形状（図２（ｂ））でもよい。また、凹部
１ｂが複数存在してもよい（図２（ｃ））。更に、凹部
１ｂの表面を平坦にしてもよい（図２（ｄ））。また、
試料をサンプリングしやすくするために、図１（ｂ）や
図２（ａ）〜（ｄ）等に示すように、凹部１ｂの先端部
１ｃが、角をもつように形成することが好ましいが、図
２（ｅ）に示すように、滑らかな曲線に形成することも
できる。Here, the shape of the concave portion 1b is not particularly limited as long as it is a shape that facilitates sampling and holding of the sample. For example, regarding the xx cross-sectional shape in FIG. 1A, the concave portion 1b has a triangular shape in FIG. 1B, but may have a semicircular shape as shown in FIG. It may have a rectangular shape (FIG. 2B). Further, a plurality of recesses 1b may be present (FIG. 2C). Further, the surface of the concave portion 1b may be flattened (FIG. 2D). Also,
In order to facilitate the sampling of the sample, as shown in FIG. 1B and FIGS. 2A to 2D, the tip 1c of the concave portion 1b is preferably formed to have a corner. As shown in FIG. 2E, a smooth curve can be formed.
【００２０】なお、図１及び図２の態様において、凹部
１ｂとして、ｘ−ｘ方向に直交する方向のライン状の凹
部を例示したが、図１（ａ）のｙ−ｙ方向に直交するラ
イン状の凹部を形成してもよく、またｘ−ｘ方向あるい
はｙ−ｙ方向に対して斜めの方向のライン状凹部（図示
せず）としてもよい。また、それらを組み合わせて十文
字形状の凹部や格子状の凹部を形成してもよい（図示せ
ず）。ライン状以外にも、曲線状あるいは円形ホール状
の凹部を形成してもよい（図示せず）。また、凹部の深
さや幅についても、特に制限はなく、使用する導電性ワ
イヤーの材料の種類や、分析対象となる試料の量などに
より適宜選択することができる。In the embodiment shown in FIGS. 1 and 2, the concave portion 1b is exemplified by a linear concave portion in a direction orthogonal to the xx direction. However, a line orthogonal to the yy direction in FIG. 1 (a). -Shaped recesses may be formed, or line-shaped recesses (not shown) in a direction oblique to the xx direction or the yy direction may be formed. Also, a cross-shaped concave portion or a lattice-shaped concave portion may be formed by combining them (not shown). In addition to the line shape, a concave portion having a curved shape or a circular hole shape may be formed (not shown). Also, the depth and width of the concave portion are not particularly limited, and can be appropriately selected depending on the type of the material of the conductive wire to be used, the amount of the sample to be analyzed, and the like.
【００２１】本発明のフィラメントへの凹部の形成は、
カミソリを用いて人の手で行うこともでき、マイクロ加
工機械を使用して行うこともできる。The formation of the recess in the filament of the present invention comprises
It can be done manually with a razor or with a micromachining machine.
【００２２】以上の利点を有する本発明のフィラメント
は、質量分析における試料のイオン化を脱離型化学イオ
ン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う質量分析装
置に試料を直接導入するための直接試料導入プローブの
フィラメントとして、非常に有用である。なお、この直
接試料導入プローブの構造は、本発明のフィラメントを
使用する以外は、従来の直接試料導入プローブと同様の
構造とすることができる。The filament of the present invention having the above advantages is a direct sample introduction probe for directly introducing a sample into a mass spectrometer for deionizing chemical ionization or desorption electron impact ionization for ionizing the sample in mass spectrometry. It is very useful as a filament. The structure of the direct sample introduction probe can be the same as that of the conventional direct sample introduction probe except that the filament of the present invention is used.
【００２３】更に、この直接試料導入プローブを質量分
析装置に使用することにより、極微量分析が容易とな
る。なお、この質量分析装置の構造は、本発明のフィラ
メントを備えた直接試料導入プローブを使用する以外
は、従来の質量分析装置と同様の構造とすることができ
る。Furthermore, by using this direct sample introduction probe in the mass spectrometer, the trace amount analysis becomes easy. The structure of this mass spectrometer can be the same as that of a conventional mass spectrometer except that a direct sample introduction probe having the filament of the present invention is used.
【００２４】[0024]
【実施例】以下、本発明を実施例により具体的に説明す
る。The present invention will be described below in more detail with reference to examples.
【００２５】実施例１ １００μｍ径の白金ワイヤーからなる図１（ａ）の形状
のフィラメント１に、カミソリを用いて人の手で、図１
（ｂ）に示すような深さ５０μｍで幅７０μｍのライン
状の凹部１ｂを形成した。Example 1 A filament 1 having a shape of FIG. 1 (a) made of a platinum wire having a diameter of 100 μm was used by a human hand by using a razor.
As shown in (b), a linear recess 1b having a depth of 50 μm and a width of 70 μm was formed.
【００２６】このフィラメント１の凹部１ｂに、直径２
０〜３０μｍの高分子有機化合物粒子をマニュピュレー
ターの針先で擦り付けた。その結果、凹部に試料を容易
にサンプリングでき、しかも安定的に保持することがで
きた。In the concave portion 1b of the filament 1, the diameter 2
The polymer organic compound particles of 0 to 30 μm were rubbed with the needle tip of a manipulator. As a result, the sample could be easily sampled in the concave portion and stably held.
【００２７】比較例１ 凹部を設けないフィラメントを使用する以外は、実施例
１同様にサンプリングを試みた。その結果、うまくサン
プリングすることができず、わずかにサンプリングでき
た試料も質量分析装置のイオン源に挿入する前に粉失し
てしまった。Comparative Example 1 Sampling was tried in the same manner as in Example 1 except that a filament having no recess was used. As a result, the sample could not be sampled well, and the sample that could be sampled slightly was also powdered before being inserted into the ion source of the mass spectrometer.
【００２８】[0028]
【発明の効果】本発明によれば、質量分析における試料
のイオン化を脱離型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イ
オン化により行う質量分析装置において、試料を直接導
入するための直接試料導入プローブの先端に備えたフィ
ラメントに、試料を容易にサンプリングでき、しかもサ
ンプリングした試料を安定的に保持できる。According to the present invention, the tip of the direct sample introduction probe for directly introducing the sample in the mass spectrometer in which the ionization of the sample in the mass spectrometry is performed by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization. The sample can be easily sampled by the filament provided in the above, and the sampled sample can be stably held.
【図１】本発明のフィラメントの先端部分近傍の平面図
（同図（ａ））とそのｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））であ
る。FIG. 1 is a plan view (the same figure (a)) in the vicinity of the tip portion of a filament of the present invention and its xx sectional view (the same figure (b)).
【図２】本発明のフィラメントの先端部分近傍の断面図
（同図（ａ）〜（ｅ））である。FIG. 2 is a sectional view ((a) to (e) in the same figure) in the vicinity of the tip of the filament of the present invention.
【図３】脱離型化学イオン化プローブを用いて試料をイ
オン化して質量分析する場合の概略説明図である。FIG. 3 is a schematic explanatory diagram in the case of ionizing a sample using a desorption-type chemical ionization probe and performing mass spectrometry.
【図４】脱離型電子衝撃イオン化プローブを用いて試料
をイオン化して質量分析する場合の概略説明図である。FIG. 4 is a schematic explanatory diagram in the case of ionizing a sample using a desorption electron impact ionization probe and performing mass spectrometry.
【図５】従来の直接試料導入プローブに設けられたフィ
ラメントの先端部近傍の平面図（同図（ａ））と、その
ｘ−ｘ断面図（同図（ｂ））である。FIG. 5 is a plan view (the same figure (a)) in the vicinity of the tip portion of a filament provided in a conventional direct sample introduction probe and its xx cross-sectional view (the same figure (b)).
１…フィラメント ２ａ…脱離型化学イオン化プロー
ブ ２ｂ…脱離型電 子衝撃イオン化プローブ ３…イオン源 ４…イオ
ン化室 ５…ガス管 ６…穴 ７…電極群 ８……イオン源フィラメント1 ... Filament 2a ... Desorption-type chemical ionization probe 2b ... Desorption-type electron impact ionization probe 3 ... Ion source 4 ... Ionization chamber 5 ... Gas pipe 6 ... Hole 7 ... Electrode group 8 ... Ion source filament
Claims (6)
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブの先端に備えられ、試料ホルダーとして機能し
且つ試料加熱手段として機能するフィラメントにおい
て、その表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部が設けられていることを特徴とするフィラメント。1. A sample holder, which is provided at the tip of a direct sample introduction probe for directly introducing a sample into a mass spectrometer for deionizing chemical ionization or desorption electron impact ionization to ionize the sample in mass spectrometry, and serves as a sample holder. A filament, which functions as a sample heating means and is provided with a concave portion for holding a sample on at least a part of its surface.
項１記載のフィラメント。2. The filament according to claim 1, wherein the filament is a platinum wire.
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置に試料を直接導入するための直接試料導入
プローブであって、その先端に試料ホルダーとして機能
し且つ試料加熱手段として機能するフィラメントが備え
られている直接試料直接導入プローブにおいて、フィラ
メントの表面の少なくとも一部に試料を保持するための
凹部が設けられていることを特徴とする直接試料導入プ
ローブ。3. A direct sample introduction probe for directly introducing a sample into a mass spectrometer which performs ionization of the sample in mass spectrometry by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization, and a sample holder at its tip. A direct sample direct introduction probe provided with a filament that functions as a sample and a sample heating means, characterized in that a concave portion for holding the sample is provided in at least a part of the surface of the filament. Introducing probe.
項３記載の直接試料導入プローブ。4. The direct sample introduction probe according to claim 3, wherein the filament is a platinum wire.
型化学イオン化又は脱離型電子衝撃イオン化により行う
質量分析装置であって、試料ホルダーとして機能し且つ
試料加熱手段として機能するフィラメントが先端に設け
られた直接試料導入プローブを備えた質量分析装置にお
いて、フィラメントの表面の少なくとも一部に試料を保
持するための凹部が設けられていることを特徴とする質
量分析装置。5. A mass spectrometer which performs ionization of a sample in mass spectrometry by desorption type chemical ionization or desorption type electron impact ionization, wherein a filament functioning as a sample holder and functioning as a sample heating means is provided at the tip. In the mass spectrometer equipped with the above-mentioned direct sample introduction probe, a concave portion for holding the sample is provided in at least a part of the surface of the filament.
項５記載の質量分析装置。6. The mass spectrometer according to claim 5, wherein the filament is a platinum wire.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8156090A JPH09320512A (en) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | Filament of sample direct introduction probe for mass spectrograph |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8156090A JPH09320512A (en) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | Filament of sample direct introduction probe for mass spectrograph |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09320512A true JPH09320512A (en) | 1997-12-12 |
Family
ID=15620097
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8156090A Pending JPH09320512A (en) | 1996-05-27 | 1996-05-27 | Filament of sample direct introduction probe for mass spectrograph |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09320512A (en) |
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| US8742332B2 (en) | 2009-11-27 | 2014-06-03 | Hitachi, Ltd. | Mass spectrometer and mass spectrometry method |
-
1996
- 1996-05-27 JP JP8156090A patent/JPH09320512A/en active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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