JPH09315890A - Synthesizing method of semiconductor diamond - Google Patents

Synthesizing method of semiconductor diamond

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JPH09315890A
JPH09315890A JP13320896A JP13320896A JPH09315890A JP H09315890 A JPH09315890 A JP H09315890A JP 13320896 A JP13320896 A JP 13320896A JP 13320896 A JP13320896 A JP 13320896A JP H09315890 A JPH09315890 A JP H09315890A
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JP
Japan
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diamond
laser
gas
filament
impurities
Prior art date
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Application number
JP13320896A
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Japanese (ja)
Inventor
Isamu Yamamoto
勇 山本
Gaze Jiyosefu
ガゼ ジョセフ
Naoki Koyanagi
直樹 小柳
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Resonac Holdings Corp
Original Assignee
Showa Denko KK
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To stabilize impurities in a diamond thin film by laser ablation and to dope in good control by exciting a gaseous starting material and simultaneously to applying a laser to an impurity source. SOLUTION: Power is supplied to a filament 3 arranged in a diamond deposition tank 1 and having 0.01-1mm diameter to heat it to 1800-2800 deg.C, then the gaseous starting material is supplied to a gas introducing pipe 2 in 200-2000sccm flow rate to allow the gas to contact with the heated filament 3 to excite, and the gas is allowed to arrive a substrate 5 supported by a substrate holder 6 to deposit the diamond thin film. Simultaneously, the impurities are evaporated and gasified by applying the laser to the impurity source 10 set in a vicinity of the filament 3 from a laser irradiation device 4 to dope the impurities on the diamond thin film.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、高温で動作する電
子デバイスやパワーエレクトロニクス用の半導体材料と
して注目されている半導体ダイヤモンドを作成する際に
不純物を制御良く安定し、かつ簡便な手法でp型半導体
やn型半導体を提供する方法である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a p-type semiconductor which is well controlled and stable in impurities when a semiconductor diamond, which is attracting attention as a semiconductor material for electronic devices and power electronics operating at high temperatures, is produced, and which is simple and easy. It is a method for providing a semiconductor or an n-type semiconductor.

【0002】[0002]

【従来の技術】炭化水素と水素の混合ガスからダイヤモ
ンド膜を作成する技術としては、特開昭58−9110
0に記載される熱フィラメントCVD法、特開昭59−
3098に記載されるマイクロ波プラズマCVD法が公
知の代表的な技術である。これらは原料ガスを高熱や電
磁波のエネルギーで励起分解して基材上にダイヤモンド
膜を合成する。これらの手法で合成されるダイヤモンド
薄膜に各種不純物をドーピングすることが、従来から試
みられているが、通常は添加する不純物を含む化合物を
原料ガスに加える手法が用いられている。例えばBドー
プによるp型ダイヤモンドを作成する場合にはホウ素源
としてB26 を、原料ガスとともに混合し導入する方
法が以前から試みられている。また、ホウ素源としてB
( CH3)3 をマイクロ波プラズマCVD法(以下「MW
CVD法」という)により添加する手法も提案されい
る。アセトンおよびメタノール混合溶液にホウ酸を溶か
しこれを水素ガスでバブリングする手法も報告されてい
る。最近ではダイヤモンド薄膜にイオン注入法によりp
型あるいはn型ダイヤモンドの形成が試みられ、注入種
11+ および31+ が用いられ低圧気相合成法で造ら
れたダイヤモンドへのドーピングが行われている。
2. Description of the Related Art A technique for forming a diamond film from a mixed gas of hydrocarbon and hydrogen is disclosed in JP-A-58-9110.
No. 0, the hot filament CVD method described in JP-A-59-
The microwave plasma CVD method described in 3098 is a well-known representative technique. These excite and decompose the raw material gas with high heat or electromagnetic wave energy to synthesize a diamond film on the substrate. Although it has been attempted to dope various impurities into a diamond thin film synthesized by these methods, a method of adding a compound containing an impurity to be added to a raw material gas is usually used. For example, when producing p-type diamond by B doping, a method of mixing and introducing B 2 H 6 as a boron source with a source gas has been attempted. Also, B as a boron source
(CH 3) 3 the microwave plasma CVD method (hereinafter, "MW
A method of adding by "CVD method") is also proposed. A method of dissolving boric acid in a mixed solution of acetone and methanol and bubbling it with hydrogen gas has also been reported. Recently, diamond thin films have been p-doped by ion implantation.
-Type or n-type diamond has been attempted, and 11 B + and 31 P + have been used as the implantation species, and doping has been performed on diamond produced by the low pressure vapor phase synthesis method.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】ダイヤモンドへのイオ
ン注入は、以前から有力な手段であると考えられてい
た。しかし、ダイヤモンドのイオン注入で最も問題とな
っているのは、イオン注入時に発生する結晶の損傷であ
る。シリコンでは500〜900℃のアニールにより損
傷は回復させられるがダイヤモンドでは、その「C−
C」間の結合の強さのため、更に高温での長時間のアニ
ールを必要とし、またアニールによっても、欠陥の密集
領域でグラファイトへの相転位などの多くの技術上の課
題がある。
Ion implantation into diamond has long been considered to be a powerful means. However, the most problematic point in diamond ion implantation is crystal damage that occurs during ion implantation. In silicon, damage can be recovered by annealing at 500 to 900 ° C., but in diamond, the “C-
Due to the strength of the bond between C's, a long time annealing at a higher temperature is required, and the annealing also has many technical problems such as phase transition to graphite in the defect dense region.

【0004】一方、p型ダイヤモンドの合成にはジボラ
ン(B26 )を用いる場合が多いが、ジボランは法的
に規制が厳しく毒性、発火性が強く、取扱い上いろいろ
な危険性が伴う。また、ホウ素源としてホウ酸をアルコ
ールに溶解させる方法や酸化ホウ素をアセトンとアルコ
ールの混合液に溶解させて反応器に導入する手法はホウ
素濃度の制御が困難で、所定の不純物濃度を得るのが難
しい。また、ホウ素源としてトリメチルホウ素をMWC
VD法によって添加する手法は法的な規制もなく危険性
も低いが、結晶にとり込まれ難いという問題がある。こ
のように、従来の技術では、ダイヤモンド薄膜に所定の
不純物濃度のドーピングには多くの困難を伴う。本発明
の目的は、半導体ダイヤモンド薄膜に制御よく安定し
て、ドーピングする簡便な手法を開発することにある。
On the other hand, although diborane (B 2 H 6 ) is often used for synthesizing p-type diamond, diborane is strictly regulated legally, is highly toxic, has a strong ignitability, and has various handling risks. Further, it is difficult to control the boron concentration in the method of dissolving boric acid in alcohol as a boron source and the method of dissolving boron oxide in a mixed solution of acetone and alcohol and introducing it into the reactor, and it is difficult to obtain a predetermined impurity concentration. difficult. Also, trimethylboron is used as a boron source in MWC.
The method of adding by the VD method is not legally regulated and has a low risk, but it has a problem that it is difficult to be incorporated into crystals. As described above, according to the conventional technique, it is difficult to dope a diamond thin film with a predetermined impurity concentration. An object of the present invention is to develop a simple method for doping a semiconductor diamond thin film with good controllability and stability.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明者は上記の問題点
を改善するために鋭意努力した結果、気相法により半導
体ダイヤモンドを合成する方法において、原料ガスを励
起させると同時に、不純物源にレーザーを照射すること
を特徴とする半導体ダイヤモンドの合成方法および、更
に原料ガスにもレーザーを照射することを特徴とする半
導体ダイヤモンドの合成方法を見出した。CVDダイヤ
モンド合成装置内にセットされた不純物源にレーザーを
照射して、不純物源の蒸発、気化により、反応容器内に
拡散した不純物を生成されるダイヤモンドにドーピング
させる点にある。本発明は炭素化合物および/または水
素を含んだ原料ガスを熱フィラメント、マイクロ波、高
周波等で励起された空間に導入すると同時に不純物源に
レーザーを照射し、不純物を発生させダイヤモンド膜に
制御よく不純物をドーピングする方法である。
As a result of diligent efforts to solve the above problems, the present inventor has found that in a method of synthesizing semiconductor diamond by a vapor phase method, a source gas is excited and an impurity source is formed at the same time. The inventors have found a method for synthesizing semiconductor diamond, which is characterized by irradiating a laser, and a method for synthesizing semiconductor diamond, which is characterized by irradiating a source gas with a laser. The point is that the impurity source set in the CVD diamond synthesizer is irradiated with a laser to evaporate and vaporize the impurity source to dope the impurities diffused in the reaction container into the produced diamond. The present invention introduces a raw material gas containing a carbon compound and / or hydrogen into a space excited by a hot filament, microwave, high frequency, etc., and at the same time, irradiates a laser on an impurity source to generate an impurity and control the diamond film to be a well-controlled impurity. Is a method of doping.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、図1を参照して本発明の方
法を具体的に説明する。図1は本発明の方法に使用され
る装置の一例を示す概略図である。図において、1はダ
イヤモンド析出槽、2は原料ガス導入管で、その導入管
が析出槽1内に配置されている。導入管の前方に熱フィ
ラメント3が設置され、更にその前方に基板ホルダ−6
により基板5が支持されている。4はレーザーの照射装
置で、レーザーが不純物源支持台9、および不純物源1
0に照射するように設置されている。析出槽内は真空ポ
ンプ7により所定の真空度に減圧されている。8は覗き
窓である。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The method of the present invention will be specifically described below with reference to FIG. FIG. 1 is a schematic diagram showing an example of an apparatus used in the method of the present invention. In the figure, 1 is a diamond precipitation tank, 2 is a source gas introduction pipe, and the introduction pipe is arranged in the precipitation tank 1. The hot filament 3 is installed in front of the introduction tube, and the substrate holder-6 is further provided in front of it.
The substrate 5 is supported by. Reference numeral 4 denotes a laser irradiation device, in which the laser is an impurity source support 9 and an impurity source 1.
It is installed to irradiate 0. The inside of the deposition tank is depressurized by a vacuum pump 7 to a predetermined degree of vacuum. 8 is a viewing window.

【0007】ガス導入管から供給された原料ガスは、こ
の場合は励起源である熱フィラメントと接触してラジカ
ル化され、そのまま基板まで直送されて基板に到達し、
そこで基板上にダイヤモンド膜が析出する。同時に熱フ
ィラメントの近傍にセットされた不純物源にレーザーが
照射され、蒸発、気化した不純物がダイヤモンド膜に取
り込まれる。また、ダイヤモンド膜へのドーパントの添
加量はレーザー照射条件より一義的に制御される。
In this case, the raw material gas supplied from the gas introduction pipe is brought into contact with the hot filament, which is the excitation source, to be radicalized, and then directly sent to the substrate to reach the substrate.
There, a diamond film is deposited on the substrate. At the same time, the laser is irradiated to the impurity source set near the hot filament, and the evaporated and vaporized impurities are taken into the diamond film. The amount of dopant added to the diamond film is uniquely controlled by the laser irradiation conditions.

【0008】原料ガスには、炭素化合物および/または
水素、更には必要に応じてその他のガス、例えば酸素等
を含む混合ガスを用いる。ここで炭素化合物とは、常温
常圧において炭素を含む化合物ならばいかなるものでも
よい。メタン、エタン、プロパン、エチレン、プロピレ
ンなどの直鎖状炭化水素、ベンゼン環を含む炭化水素、
メタノール、エタノールなどのアルコール類、アセトン
に代表されるケトン類や一酸化炭素等の無機ガスも含
む。合成するダイヤモンド膜中に混入する不純物を減ら
す観点からは、炭素と水素のみから構成された化合物が
望ましい。炭素化合物と水素の混合比率は、炭素化合物
5vol %以下、水素95vol %以上がダイヤモンド膜中
に非ダイヤモンド状炭素の混入が少なくなり好ましい。
As the raw material gas, a carbon compound and / or hydrogen and, if necessary, other gas, for example, a mixed gas containing oxygen and the like is used. Here, the carbon compound may be any compound as long as it contains carbon at room temperature and atmospheric pressure. Linear hydrocarbons such as methane, ethane, propane, ethylene and propylene, hydrocarbons containing benzene rings,
It also includes alcohols such as methanol and ethanol, ketones typified by acetone, and inorganic gases such as carbon monoxide. From the viewpoint of reducing impurities mixed in the diamond film to be synthesized, a compound composed of only carbon and hydrogen is desirable. The mixing ratio of the carbon compound and hydrogen is preferably 5 vol% or less of the carbon compound and 95 vol% or more of hydrogen because the non-diamond-like carbon is less mixed in the diamond film.

【0009】炭素化合物分子に複数の炭素原子が含まれ
る場合には、分解によって炭素原子の実質的な濃度が増
えるのでその分を考慮した濃度設定が必要である。一般
に、水素に対する炭素化合物の比率が低い方が成膜速度
は小さくなるものの、合成されるダイヤモンド膜の質は
高くなる。
When the carbon compound molecule contains a plurality of carbon atoms, the substantial concentration of carbon atoms increases due to the decomposition, so it is necessary to set the concentration in consideration of that amount. Generally, the lower the ratio of carbon compound to hydrogen, the lower the film formation rate, but the higher the quality of the synthesized diamond film.

【0010】ガスの流量はフィラメントや基材の大きさ
等により変わり、これらが大きい場合にはフィラメント
やガス導入管を複数個にすることが好ましい。ガス流量
の好ましい範囲は200〜2000sccm、さらに好
ましい範囲は400〜1500sccmである。流量が
200sccm未満では成膜に有効な活性種が基板に到
達する量が少なく、析出速度が遅くなり、また、200
0sccmを越えると原料ガスのフィラメントでの励起
が不十分になり好ましくない。ダイヤモンドの析出槽内
の圧力が高すぎるとレーザーの減衰も大きくなるので概
略100Torr以下が望ましい。
The flow rate of the gas varies depending on the size of the filament and the base material, and when these are large, it is preferable to use a plurality of filaments and gas introduction pipes. The preferable range of the gas flow rate is 200 to 2000 sccm, and the more preferable range is 400 to 1500 sccm. If the flow rate is less than 200 sccm, the amount of active species effective for film formation reaches the substrate is small, and the deposition rate becomes slow.
Exceeding 0 sccm is not preferable because excitation of the raw material gas in the filament becomes insufficient. If the pressure in the diamond deposition tank is too high, the laser attenuation also increases, so approximately 100 Torr or less is desirable.

【0011】導入管を通過したガスは熱フィラメントに
接触し、熱分解、励起した後に基板に到達する。この場
合、励起源は熱フィラメントにこだわらず、マイクロ
波、高周波、直流電圧印加、アーク等を用いても良く、
また、これらの励起源を重畳しても差し支えない。フィ
ラメントはタングステン、タンタル等の耐熱性金属ある
いはそれらの炭化物が好ましいが炭素等も使用できる。
フィラメントは直径が0.01〜1mm位のものが適す
る。フィラメントの加熱は通電によるのが一般的で、そ
の温度は1800〜2800℃が適当である。基板に
は、励起源にフィラメントを使用する場合は、還元雰囲
気中で900℃にたえるものが望ましく、特にダイヤモ
ンド、シリコン、炭化珪素、タングステンカーバイトな
どは優れている。
The gas that has passed through the introduction tube comes into contact with the hot filament, undergoes thermal decomposition and excitation, and then reaches the substrate. In this case, the excitation source is not limited to the hot filament, and microwaves, high frequencies, DC voltage application, arcs, etc. may be used.
Also, these excitation sources may be superposed. The filament is preferably a heat-resistant metal such as tungsten or tantalum or a carbide thereof, but carbon or the like can be used.
A filament having a diameter of about 0.01 to 1 mm is suitable. The filament is generally heated by energization, and the temperature is suitably 1800 to 2800 ° C. When a filament is used as the excitation source, the substrate is preferably one that can withstand 900 ° C. in a reducing atmosphere, and particularly diamond, silicon, silicon carbide, tungsten carbide, etc. are excellent.

【0012】原料ガス導入管とフィラメントの距離は1
0〜20mmに離すことが望ましい。これより近い距離
では導入管が加熱され、炭素膜の付着が起こりやすい。
しかし励起源がマイクロ波や高周波、直流印加の場合は
原料ガスが励起空間に到達すれば良く導入管の位置には
特に限定されるものではない。反応装置に基板を冷却す
る機構がない場合は、フィラメントと基材との距離は近
すぎると基板がダイヤモンドの析出温度以上に加熱する
ので少なくとも数mm以上に離す必要がある。励起源が
マイクロ波や高周波、直流印加の場合は基板は励起空間
内に置かれれば良い。
The distance between the raw material gas introduction pipe and the filament is 1
It is desirable to separate it to 0 to 20 mm. If the distance is shorter than this, the introduction tube is heated, and the carbon film is likely to adhere.
However, when the excitation source is microwave, high frequency, or direct current application, it is sufficient that the source gas reaches the excitation space, and the position of the introduction tube is not particularly limited. If the reactor does not have a mechanism for cooling the substrate, if the distance between the filament and the substrate is too short, the substrate will be heated to the diamond precipitation temperature or higher, so it must be separated by at least several mm. When the excitation source is microwave, high frequency, or direct current application, the substrate may be placed in the excitation space.

【0013】支持台9上の不純物源10はフィラメント
3の側面か、他の励起源の場合は励起空間の近傍に取り
付けられれば良く、不純物源10上に照射されるレーザ
ーは照射角度や波長に特に制限がなく、エキシマレーザ
ーや赤外レーザー等の利用が可能でレーザーの種類は限
定されるものではない。ターゲットからの不純物放出に
必要なエネルギーとしては、10W/cm2 以上が好ま
しく、80W/cm2以上がより好ましい。また、レー
ザーの波長や強度は、原料ガスがレーザー光を効率的に
吸収するように選び、レーザーを照射すればよい。レー
ザー光を不純物放出のためだけでなく、原料ガスの励起
としても使用できる。この場合には、原料ガスを熱フィ
ラメント、マイクロ波、高周波等で励起することを省略
できる。
The impurity source 10 on the support base 9 may be attached to the side surface of the filament 3 or, in the case of another excitation source, in the vicinity of the excitation space, the laser irradiated on the impurity source 10 has an irradiation angle and a wavelength. There is no particular limitation, and an excimer laser, an infrared laser, or the like can be used, and the type of laser is not limited. The energy required for releasing impurities from the target is preferably 10 W / cm 2 or more, more preferably 80 W / cm 2 or more. Further, the wavelength and intensity of the laser may be selected so that the raw material gas efficiently absorbs the laser light, and the laser may be irradiated. The laser light can be used not only for emitting impurities, but also for exciting the source gas. In this case, it is possible to omit exciting the raw material gas with a hot filament, microwave, high frequency, or the like.

【0014】[0014]

【実施例】本発明を以下の実施例にて詳説するが、これ
らによって本発明が限定されるものではない。 (実施例1)図1に示す装置(析出槽内容積20リット
ル)により、原料ガスとしてメタン2vol %、水素98
vol %の混合ガスを用いて、直径1/4インチの細孔よ
り噴出させ、約2200℃に加熱した直径0. 4mm、
長さ40mmのTaのフィラメントに接触させて混合ガ
スを励起し、窒化珪素基板(5×5×3mm)上にダイ
ヤモンド膜の合成を行った。細孔先端とフィラメント間
の距離は20mm、フィラメントと基材の距離は3〜8
mmである。
EXAMPLES The present invention will be described in detail with reference to the following examples, which should not be construed as limiting the invention. (Example 1) Using the apparatus shown in FIG. 1 (precipitation tank internal volume: 20 liters), methane 2 vol% and hydrogen 98 as raw material gas
Using a mixed gas of vol%, it was jetted from a 1/4 inch diameter pore and heated to about 2200 ° C., 0.4 mm diameter,
A diamond film was synthesized on a silicon nitride substrate (5 × 5 × 3 mm) by bringing it into contact with a Ta filament having a length of 40 mm to excite the mixed gas. The distance between the tip of the pore and the filament is 20 mm, and the distance between the filament and the substrate is 3-8.
mm.

【0015】この時のガス供給量は1000sccm
(標準状態のcc/min)、析出槽内の圧力は90To
rrである。同時に赤外線レーザー(波長10. 6μm、
ビーム径17mm)を不純物源のホウ素ターゲットに対
して垂直に300Wの出力(連続発振)で照射してホウ
素源を供給した。4時間反応させた後、基材表面には約
50μmの薄膜が形成されており、四端子法で電気比抵
抗をはかったところ数十Ω・cm台の導電性ダイヤ膜が
得られた。また、SIMS分析により、合成された膜に
ホウ素がドーピングされたことが確認された。更に、レ
ーザー出力を500Wとした場合は10-1Ω・cm台、
700Wにした場合には10-2Ω・cm台のダイヤ膜が
得られており、レーザーの出力により不純物量の制御が
可能であることを確かめた。
The gas supply amount at this time is 1000 sccm
(Cc / min in standard condition), pressure in the deposition tank is 90To
rr. At the same time, infrared laser (wavelength 10.6 μm,
A boron source was supplied by irradiating a boron target as an impurity source with a beam diameter of 17 mm) at an output (continuous oscillation) of 300 W perpendicularly. After reacting for 4 hours, a thin film of about 50 μm was formed on the surface of the base material, and when the electrical resistivity was measured by the four-terminal method, a conductive diamond film on the order of several tens of Ω · cm was obtained. Also, SIMS analysis confirmed that the synthesized film was doped with boron. Furthermore, when the laser output is 500 W, it is in the range of 10 -1 Ω · cm,
In the case of 700 W, a diamond film of 10 -2 Ω · cm level was obtained, and it was confirmed that the amount of impurities can be controlled by the laser output.

【0016】(実施例2)上記実施例1において、レー
ザーの照射パターンを断続的にし、ダイヤ膜の合成を行
った。SIMSによる深さ方向分析を行ったところ、界
面制御性の良い絶縁層、p型導電層の積み重なった多層
膜が得られていることを確認した。
(Embodiment 2) In Embodiment 1, the laser irradiation pattern was intermittently used to synthesize the diamond film. When the depth direction analysis by SIMS was performed, it was confirmed that a multilayer film in which an insulating layer having a good interface controllability and a p-type conductive layer were stacked was obtained.

【0017】[0017]

【発明の効果】本発明によれば、気相法により半導体ダ
イヤモンドを合成する場合に、生成されるダイヤモンド
薄膜にレーザーアブレーションにより不純物を安定し、
簡易な方法で制御よくドーピングすることが可能にな
り、様々な不純物準位をもつ半導体デバイスやパワーエ
レクトロニクスの開発に極めて有効である。
According to the present invention, when a semiconductor diamond is synthesized by a vapor phase method, impurities are stabilized in a diamond thin film produced by laser ablation,
It becomes possible to dope with good control by a simple method, which is extremely effective for development of semiconductor devices and power electronics having various impurity levels.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の方法に使用される装置の一例を示す概
略図である。
FIG. 1 is a schematic view showing an example of an apparatus used in the method of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 ダイヤモンド析出槽 2 原料ガス導入管 3 フィラメント 4 レーザー照射装置 5 基板 6 基板ホルダ− 7 真空ポンプ 8 覗き窓 9 不純物源支持台 10 不純物源 1 Diamond Deposition Tank 2 Raw Material Gas Introducing Tube 3 Filament 4 Laser Irradiation Device 5 Substrate 6 Substrate Holder-7 Vacuum Pump 8 Peep Window 9 Impurity Source Support 10 Impurity Source

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 気相法により半導体ダイヤモンドを合成
する方法において、原料ガスを励起させると同時に、不
純物源にレーザーを照射することを特徴とする半導体ダ
イヤモンドの合成方法。
1. A method for synthesizing semiconductor diamond by a vapor phase method, which comprises exciting a source gas and irradiating a laser on an impurity source at the same time.
【請求項2】 原料ガスにもレーザーを照射することを
特徴とする請求項1記載の半導体ダイヤモンドの合成方
法。
2. The method for synthesizing semiconductor diamond according to claim 1, wherein the raw material gas is also irradiated with a laser.
JP13320896A 1996-05-28 1996-05-28 Synthesizing method of semiconductor diamond Pending JPH09315890A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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