JPH09305094A - Telecentric optical device - Google Patents

Telecentric optical device

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JPH09305094A
JPH09305094A JP11667496A JP11667496A JPH09305094A JP H09305094 A JPH09305094 A JP H09305094A JP 11667496 A JP11667496 A JP 11667496A JP 11667496 A JP11667496 A JP 11667496A JP H09305094 A JPH09305094 A JP H09305094A
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JP
Japan
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light
hologram
lens
pinhole
focal length
Prior art date
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Pending
Application number
JP11667496A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Wakai
秀之 若井
Keiji Terada
啓治 寺田
Masato Moriya
正人 守屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Komatsu Ltd filed Critical Komatsu Ltd
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Priority to PCT/JP1997/001560 priority patent/WO1997043678A1/en
Publication of JPH09305094A publication Critical patent/JPH09305094A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2441Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using interferometry
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/22Telecentric objectives or lens systems

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Holo Graphy (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To restrict a light passing area in a telecentric optical system without lowering of the light utilization efficiency and the numerical aperture of a light receiving system by performing exposure with which hologram reproduced light is reproduced from the partial area of a hologram. SOLUTION: When reference light is made incident on the hologram 3 from a light source 8 through lenses 9 and 10, the light equivalent to a situation that a point light source exists in the aperture of a pinhole 1 is reproduced by the hologram 3. The reproduced light is formed into an image on an object 6 by a telecentric lens 2b. The hologram 3 is disposed nearly at the positions of the pupils of the telecentric lenses 2a and 2b, and the exposure which makes the hologram 3 function as an exposure mask for restricting the optical area of the projected light is performed to the hologram 3. Therefore, in the case the hologram 3 is used, the received light is made to pass by using all the surface of the hologram and the efficiency of the received light is remarkably improved though the projected light is generated from the partial area of the surface of the hologram.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明はホログラムを用い
てテレセントリック光学系間に配設される空間フィルタ
を実現するようにしたテレセントリック光学装置に関す
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a telecentric optical device which realizes a spatial filter arranged between telecentric optical systems by using a hologram.

【0002】[0002]

【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】物体の
形状を測定する技術としては、例えば特開平4−265
918号公報などに示すように、共焦点光学系を2次元
的に配置したものがあり、図13にその構成を示す。
2. Description of the Related Art Techniques for measuring the shape of an object include, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 4-265.
As shown in Japanese Patent No. 918, etc., there is a system in which confocal optical systems are two-dimensionally arranged, and FIG. 13 shows the configuration thereof.

【0003】図13において、光源100の光はレンズ
101、102を介して平行光となりピンホールアレイ
PH1に入射される。ピンホールアレイPH1は、ピンホ
ールがマトリックス状に配設されたものである。ピンホ
ールアレイPH1を通過した光はハーフミラー103を
透過し、遮光マスク(開口絞り)104を有するテレセ
ントリックレンズ105a、105bによって集光さ
れ、被計測物体106に投光される。被計測物体106
はZ軸方向に変位可能な移動ステージ107上に載置さ
れている。被計測物体106で反射された光はレンズ1
05a、105bで集光され、ハーフミラー103で反
射され、ピンホールアレイPH1と共役な位置に結像す
る。この結像位置にピンホールアレイPH2を配設し、
ピンホールを通過する光を、光検出器アレイ108の各
光検出器で検出する。
In FIG. 13, the light from the light source 100 becomes parallel light through the lenses 101 and 102 and is incident on the pinhole array PH1. The pinhole array PH1 has pinholes arranged in a matrix. The light that has passed through the pinhole array PH1 passes through the half mirror 103, is condensed by the telecentric lenses 105a and 105b having a light shielding mask (aperture stop) 104, and is projected onto the measured object 106. Object to be measured 106
Are mounted on a moving stage 107 that can be displaced in the Z-axis direction. The light reflected by the measured object 106 is the lens 1
The light is collected by 05a and 105b, reflected by the half mirror 103, and imaged at a position conjugate with the pinhole array PH1. A pinhole array PH2 is arranged at this image forming position,
The light passing through the pinhole is detected by each photodetector of the photodetector array 108.

【0004】かかる従来構成によれば、移動ステージ1
07をZ方向に変位させながら、光検出器108の個々
の出力を別々にサンプリングし、各々の光検出器の出力
が最大になったときのZ方向位置を物体106の表面位
置として検出することができる。
According to such a conventional configuration, the moving stage 1
While displacing 07 in the Z direction, the individual outputs of the photodetectors 108 are separately sampled, and the Z direction position when the output of each photodetector is maximized is detected as the surface position of the object 106. You can

【0005】ところで、かかる従来構成においては、テ
レセントリックレンズ105aと105bとの間の瞳位
置に遮光マスク104を配設し、この遮光マスク104
によって光の通過領域を制限するようにしており、これ
によって被計測物体106上に集光されるスポット光の
径を小さくする(解像度を向上させる)などの効果を得
るようにしている。
By the way, in such a conventional structure, the light shielding mask 104 is arranged at the pupil position between the telecentric lenses 105a and 105b, and the light shielding mask 104 is provided.
The light passing region is limited by the above, and the effect of reducing the diameter of the spot light focused on the measured object 106 (improving the resolution) is obtained.

【0006】なお、この明細書では、瞳位置とは、図1
4に示すように、一方のテレセントリックレンズ105
aと他方のテレセントリックレンズ105bを、一方の
レンズ105aの焦点距離f2と他方のレンズ105b
の焦点距離f1との合計距離(f1+f2)だけ離間して
配設し、一方のレンズ105aからその焦点距離f2だ
け(他方のレンズ105bからその焦点距離f1だけ)
離間した位置であると定義する。
In this specification, the pupil position means the position in FIG.
As shown in FIG. 4, one of the telecentric lenses 105
a and the other telecentric lens 105b, the focal length f2 of one lens 105a and the other lens 105b
And a total distance (f1 + f2) from the focal length f1 of the lens, and the focal length f2 from one lens 105a (the focal length f1 from the other lens 105b).
Defined as separated positions.

【0007】しかし、かかる従来の装置においては、そ
の一部では光を透過し、それ以外の部分で光を遮光す
る、実際に開孔が形成された遮光マスクによって、瞳位
置での光の通過領域を制限するようにしているので、そ
の投光特性は向上されるものの、受光特性に関しては逆
に悪影響を与える場合がある。すなわち、従来装置で
は、受光時には、遮光マスクの遮光領域によって光が遮
光されてしまうために、受光光の利用効率が低下すると
共に、受光光学系の開口数が低下するという問題があっ
た。
However, in such a conventional device, a light-shielding mask in which an aperture is actually formed, which allows light to pass through in a part thereof and blocks light in the other part, allows passage of light at the pupil position. Since the area is limited, the light projecting characteristic is improved, but the light receiving characteristic may be adversely affected. That is, in the conventional device, when the light is received, the light is blocked by the light-shielding region of the light-shielding mask, so that the utilization efficiency of the received light is reduced and the numerical aperture of the light-receiving optical system is reduced.

【0008】この発明はこのような事情に鑑みてなされ
たもので、受光系の光利用効率および開口数を低下させ
ることなくテレセントリック光学系における光通過領域
を制限することができるテレセントリック光学装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and provides a telecentric optical device capable of limiting the light passage region in a telecentric optical system without lowering the light utilization efficiency and the numerical aperture of the light receiving system. The purpose is to do.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段および作用】請求項1に対
応する発明では、所定の検査面上に配設される物体と、
第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記検査面位置を第2のレンズの集光位置
としたテレセントリック光学手段と、ホログラムの参照
光用光源と、前記第1のレンズから第1のレンズの略焦
点距離だけ離間した、前記第1及び第2のレンズの間の
所定位置に配設され、前記参照光用光源からの光を回折
して、前記第1のレンズの集光位置から出射される1乃
至複数の点光源光がこの所定位置を通過する際の光と等
価な光を再生するような露光処理が施されたホログラム
と、前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記
物体で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセン
トリック光学手段を経由した光を検出する受光部とを備
えると共に、前記ホログラムに、前記ホログラム再生光
がホログラムの一部領域から再生されるような露光を施
すようにしている。
According to a first aspect of the invention, an object disposed on a predetermined inspection surface,
The first and second lenses are arranged so as to be separated from each other by a total distance of the focal length of the first lens and the focal length of the second lens, and the inspection plane position is set to the condensing position of the second lens. The telecentric optical means, the light source for hologram reference light, and the predetermined distance between the first lens and the second lens, which are spaced apart from the first lens by substantially the focal length of the first lens. , Diffracts the light from the light source for reference light and reproduces light equivalent to the light when one or more point light sources emitted from the condensing position of the first lens pass through this predetermined position. Which has been subjected to such an exposure process, and a light receiving device which is disposed in the vicinity of the converging position of the first lens and detects the light of the hologram reproduction light reflected by the object that has passed through the telecentric optical means. And a section The program, the hologram reproducing light is so subjected to the exposure, as reproduced from some areas of the hologram.

【0010】請求項2に対応する発明では、所定の検査
面上に配設される物体と、第1及び第2のレンズを、第
1のレンズの焦点距離と第2のレンズの焦点距離との合
計距離だけ離間して配設するとともに、前記検査面位置
を第2のレンズの集光位置としたテレセントリック光学
手段と、ホログラムの参照光用光源と、前記第1のレン
ズから第1のレンズの略焦点距離だけ離間した、前記第
1及び第2のレンズの間の所定位置に配設され、前記参
照光用光源からの光を回折して、前記第1のレンズの集
光位置から出射される1乃至複数の点光源光がこの所定
位置を通過する際の光と等価な光を再生するような露光
処理が施されたホログラムと、前記第1のレンズの集光
位置近傍に配設され、前記物体で反射された前記ホログ
ラム再生光の前記テレセントリック光学手段を経由した
光を検出する受光部と、 前記ホログラムと参照用光源
との間に配設されて、ホログラム参照光がホログラムの
一部領域に照射されるようホログラム参照光を制限する
参照光領域制限手段とを備えるようにした。
According to the second aspect of the invention, the object disposed on the predetermined inspection surface, the first and second lenses, and the focal length of the first lens and the focal length of the second lens are A distance from the first lens to the first lens, the telecentric optical means having the inspection surface position as the condensing position of the second lens, the light source for the hologram reference light, and the first lens to the first lens. Is disposed at a predetermined position between the first and second lenses, which is separated by approximately the focal length of, and diffracts the light from the light source for reference light and emits it from the condensing position of the first lens. A hologram subjected to an exposure process for reproducing light equivalent to the light when one or more point light sources pass through the predetermined position, and the hologram is disposed in the vicinity of the converging position of the first lens. Of the hologram reproduction light reflected by the object. The hologram reference light is arranged between the hologram and the reference light source for detecting light that has passed through the recentric optical means, and limits the hologram reference light so that the hologram reference light is applied to a partial area of the hologram. And a reference light area limiting unit for controlling the reference light area.

【0011】請求項3に対応する発明では、所定の検査
面上に配設される物体と、第1及び第2のレンズを、第
1のレンズの焦点距離と第2のレンズの焦点距離との合
計距離だけ離間して配設するとともに、前記検査面位置
を第2のレンズの集光位置としたテレセントリック光学
手段と、ホログラムの参照光用光源と、前記第1のレン
ズから第1のレンズの略焦点距離だけ離間した、前記第
1及び第2のレンズの間の所定位置に配設され、前記参
照光用光源からの光を回折して、前記第1のレンズの集
光位置から出射される1乃至複数の点光源光がこの所定
位置を通過する際の光と等価な光を再生するような露光
処理が施されたホログラムと、前記第1のレンズの集光
位置近傍に配設され、前記物体で反射された前記ホログ
ラム再生光の前記テレセントリック光学手段を経由した
光を検出する受光部とを備えると共に、前記ホログラム
は、前記ホログラム再生光がホログラムの一部領域から
再生されるようホログラム感光材の設置領域が制限され
るようにする。
In the invention corresponding to claim 3, the object disposed on a predetermined inspection surface, the first and second lenses, and the focal length of the first lens and the focal length of the second lens are A distance from the first lens to the first lens, the telecentric optical means having the inspection surface position as the condensing position of the second lens, the light source for the hologram reference light, and the first lens to the first lens. Is disposed at a predetermined position between the first and second lenses, which is separated by approximately the focal length of, and diffracts the light from the light source for reference light and emits it from the condensing position of the first lens. A hologram subjected to an exposure process for reproducing light equivalent to the light when one or more point light sources pass through the predetermined position, and the hologram is disposed in the vicinity of the converging position of the first lens. Of the hologram reproduction light reflected by the object. The hologram is provided with a light receiving section for detecting light that has passed through the recentric optical means, and the hologram is such that the installation area of the hologram photosensitive material is limited so that the hologram reproduction light is reproduced from a partial area of the hologram. To do.

【0012】請求項4に対応する発明では、所定の検査
面上に配設される物体と、第1及び第2のレンズを、第
1のレンズの焦点距離と第2のレンズの焦点距離との合
計距離だけ離間して配設するとともに、前記検査面位置
を第2のレンズの集光位置としたテレセントリック光学
手段と、ホログラムの参照光用光源と、前記第1のレン
ズから第1のレンズの略焦点距離だけ離間した前記第1
及び第2のレンズの間の位置と、前記検査面との間の所
定位置に配設され、前記参照光用光源からの光を回折し
て、前記第1のレンズの集光位置から出射される1乃至
複数の点光源光がこの所定位置を通過する際の光と等価
な光を再生するような露光処理が施されたホログラム
と、前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記
物体で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセン
トリック光学手段を経由した光を検出する受光部とを備
えると共に、前記ホログラムは、前記ホログラム再生光
がホログラムの一部領域から再生されるような露光が施
されるようにする。
According to a fourth aspect of the present invention, the object disposed on a predetermined inspection surface, the first and second lenses, and the focal length of the first lens and the focal length of the second lens are A distance from the first lens to the first lens, the telecentric optical means having the inspection surface position as the condensing position of the second lens, the light source for the hologram reference light, and the first lens to the first lens. The first of which is separated by approximately the focal length of
And a predetermined position between the second lens and the inspection surface, diffracts the light from the reference light source, and emits the light from the condensing position of the first lens. A hologram that has been subjected to an exposure process so as to reproduce light equivalent to the light when one or a plurality of point light sources pass through this predetermined position, and is disposed in the vicinity of the converging position of the first lens. And a light receiving unit for detecting the light of the hologram reproduction light reflected by the object that has passed through the telecentric optical means, and the hologram is such that the hologram reproduction light is reproduced from a partial region of the hologram. Allow it to be exposed.

【0013】請求項6に対応する発明では、1ないし複
数の開孔を有するピンホールと、所定の検査面上に配設
される物体と、第1及び第2のレンズを、第1のレンズ
の焦点距離と第2のレンズの焦点距離との合計距離だけ
離間して配設するとともに、前記ピンホールの開孔位置
を第1のレンズの集光位置とし、前記検査面位置を第2
のレンズの集光位置としたテレセントリック光学手段
と、ホログラムの参照光用光源と、前記第1のレンズか
ら第1のレンズの略焦点距離だけ離間した、前記第1及
び第2のレンズの間の所定位置に配設され、前記参照光
用光源からの光を回折して、前記ピンホールから出射さ
れる1乃至複数の点光源光がこの所定位置を通過する際
の光と等価な光を再生するような露光処理が施されたホ
ログラムと、前記ピンホールを挟んで前記テレセントリ
ック光学手段とは反対側に配設され、前記物体で反射さ
れた前記ホログラム再生光が前記ピンホールの開孔を通
過した光を受光する受光部とを具えるとともに、前記ホ
ログラムは、前記ピンホールから出射された点光源光の
うちのピンホールの中心を透過した中心透過光のみが物
体光として露光されるよう前記テレセントリック光学系
の光軸近傍にのみ参照光が照射される露光が施されてい
ることを特徴とする。
In the invention corresponding to claim 6, a pinhole having one or a plurality of openings, an object arranged on a predetermined inspection surface, the first and second lenses, and the first lens And the focal length of the second lens are spaced apart from each other, the pinhole opening position is the converging position of the first lens, and the inspection surface position is the second position.
Between the first and second lenses which are separated from the first lens by the focal length of the first lens, and the telecentric optical means which is the condensing position of the lens of It is arranged at a predetermined position, diffracts the light from the light source for reference light, and reproduces light equivalent to the light when one or more point light sources emitted from the pinhole pass through the predetermined position. And a hologram subjected to an exposure process as described above and the telecentric optical means are disposed on the opposite side of the pinhole, and the hologram reproduction light reflected by the object passes through the opening of the pinhole. The hologram is provided with a light receiving section for receiving the light, and the hologram is exposed as object light only to the central transmitted light that passes through the center of the pinhole of the point light source light emitted from the pinhole. The only reference light near the optical axis of the telecentric optical system, characterized in that the exposure is applied to be irradiated as.

【0014】請求項7に対応する発明では、1ないし複
数の開孔を有するピンホールと、所定の検査面上に配設
される物体と、第1及び第2のレンズを、第1のレンズ
の焦点距離と第2のレンズの焦点距離との合計距離だけ
離間して配設するとともに、前記ピンホールの開孔位置
を第1のレンズの集光位置とし、前記検査面位置を第2
のレンズの集光位置としたテレセントリック光学手段
と、ホログラムの参照光用光源と、前記第1のレンズか
ら第1のレンズの略焦点距離だけ離間した前記第1及び
第2のレンズの間の位置と、前記検査面との間の所定位
置に配設され、前記参照光用光源からの光を回折して、
前記第1のレンズの集光位置から出射される1乃至複数
の点光源光がこの所定位置を通過する際の光と等価な光
を再生するような露光処理が施されたホログラムと、前
記ピンホールを挟んで前記テレセントリック光学手段と
は反対側に配設され、前記物体で反射された前記ホログ
ラム再生光が前記ピンホールの開孔を通過した光を受光
する受光部とを具えるとともに、前記ホログラムは、ホ
ログラム露光の際に、前記第1のレンズから前記検査面
側に第1のレンズの焦点距離だけ離間した所定位置に配
設される空間フィルタを介して前記1乃至複数の点光源
光がホログラムに入射されることによって、前記ピンホ
ールから出射された点光源光のうちのピンホールの中心
を透過した中心透過光のみが物体光として露光されるよ
うな露光が施されていることを特徴とする。
In the invention corresponding to claim 7, a pinhole having one or a plurality of apertures, an object arranged on a predetermined inspection surface, the first and second lenses, and the first lens And the focal length of the second lens are spaced apart from each other, the pinhole opening position is the converging position of the first lens, and the inspection surface position is the second position.
Position between the telecentric optical means as the condensing position of the lens, the light source for the hologram reference light, and the first and second lenses separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens. And, disposed at a predetermined position between the inspection surface, diffracts the light from the reference light source,
A hologram that has been subjected to an exposure process so as to reproduce light equivalent to the light when one or more point light sources emitted from the condensing position of the first lens pass through this predetermined position; The hologram reproducing light reflected by the object is disposed on the opposite side of the hole with a hole between the telecentric optical means, and a light receiving portion for receiving the light passing through the aperture of the pinhole, and The hologram is composed of the one or a plurality of point light sources that pass through a spatial filter disposed at a predetermined position which is separated from the first lens by the focal length of the first lens on the inspection surface side during hologram exposure. Is incident on the hologram so that only the centrally transmitted light of the point source light emitted from the pinhole that is transmitted through the center of the pinhole is exposed as object light. And said that you are.

【0015】[0015]

【発明の実施の形態】以下この発明の実施例を添付図面
に従って詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.

【0016】[第1実施例]図1にこの発明の第1実施
例を示す。
[First Embodiment] FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.

【0017】この第1実施例においては、テレセントリ
ック光学系の瞳位置(物体光の光学的フーリエ変換面位
置)に配設する空間フィルタとしてホログラム3を用い
るようにしており、図1(a)はホログラム再生時の光学
系の構成を示すもので、図1(b)はホログラム露光時の
光学系の構成を示すものである。なお、図1において
は、簡単化のために点光源および結像点は1個としてし
て示しているが、これら点光源および結像点は1次元的
に配列されたもの、さらには2次元的に配列されたもの
であってもよい。
In the first embodiment, the hologram 3 is used as a spatial filter arranged at the pupil position of the telecentric optical system (the optical Fourier transform plane position of the object light), and FIG. FIG. 1B shows the configuration of the optical system during hologram reproduction, and FIG. 1B shows the configuration of the optical system during hologram exposure. In FIG. 1, the point light source and the image forming point are shown as one for the sake of simplification, but the point light source and the image forming point are arranged one-dimensionally, and further, two-dimensionally. It may be arranged in a regular manner.

【0018】図1(a)において、1はピンホール、2
a,2bはテレセントリックレンズ、3はガラス基板5
上にホログラム感光材4が塗布されたホログラム、6は
物体、7は光源8,レンズ9及びレンズ10を有する参
照光用光源、11は参照光の通過領域を制限する遮光マ
スク、12はピンホール1を介した光を受光する受光部
である。
In FIG. 1 (a), 1 is a pinhole and 2 is a pinhole.
a and 2b are telecentric lenses, 3 is a glass substrate 5
A hologram having a hologram photosensitive material 4 coated thereon, 6 is an object, 7 is a light source for reference light having a light source 8, a lens 9 and a lens 10, 11 is a light-shielding mask for limiting the passage region of reference light, and 12 is a pinhole. 1 is a light receiving unit that receives light that has passed through 1.

【0019】かかる図1(a)に示す構成において、ホロ
グラム3は点光源光の発生手段として用いられるもの
で、参照光用光源7からの参照光が入射されてこれが回
折されることによって、あたかもピンホール1のピンホ
ールから光が出射したような光を再生投光する。
In the structure shown in FIG. 1 (a), the hologram 3 is used as a means for generating point light source light, and it is as if the reference light from the reference light source 7 is incident and diffracted. The light that is emitted from the pinhole 1 is emitted for reproduction.

【0020】すなわち、光源8からレンズ9、10を介
して参照光がホログラム3に入射されると、ピンホール
1の開孔に点光源が存在するのと等価な光がホログラム
3によって再生される。そして、該再生された光はレン
ズ2bによって物体6上に結像される。また、物体6で
反射された光はレンズ2b、ホログラム3を介してレン
ズ2aに入射され、レンズ2aによってピンホール1の
ピンホール位置に集光される。受光部12はピンホール
位置の後ろ側に配されており、ピンホールを通過した光
を受光する。例えば、この受光部12として光検出器を
用いるようにすれば、先の図13に示した共焦点光学系
を用いた3次元形状計測装置のように、物体6の光軸方
向の位置を計測することができる。
That is, when the reference light is incident on the hologram 3 from the light source 8 through the lenses 9 and 10, the hologram 3 reproduces light equivalent to the point light source existing in the opening of the pinhole 1. . Then, the reproduced light is imaged on the object 6 by the lens 2b. Further, the light reflected by the object 6 is incident on the lens 2a via the lens 2b and the hologram 3, and is condensed at the pinhole position of the pinhole 1 by the lens 2a. The light receiving unit 12 is arranged behind the pinhole position and receives the light passing through the pinhole. For example, if a photodetector is used as the light receiving unit 12, the position of the object 6 in the optical axis direction is measured as in the three-dimensional shape measuring apparatus using the confocal optical system shown in FIG. can do.

【0021】ここで、ホログラム3は、テレセントリッ
クレンズ2a,2bの略瞳位置に配設されており、かつ
このホログラム3には投光光の光領域を制限する遮光マ
スクとして機能するような露光が施されている。また、
ホログラム3としては、回折効率を例えば50%とし、
参照光の50%が物体6に照射され、物体6からの反射
光の約50%がホログラム3を透過して受光部12に入
射されるようにしている。すなわちこの実施例では、レ
ンズ2aの焦点距離をf2とし、レンズ2b焦点距離を
f1とした場合、これら2つのレンズ2a,2bの焦点位
置を一致させたレンズ2a,2b間の位置、すなわち瞳
位置に、投光系のみ遮光マスクとして機能するような露
光が施されたホログラム3を配設するようにしている。
Here, the hologram 3 is arranged substantially at the pupil position of the telecentric lenses 2a and 2b, and the hologram 3 is exposed so as to function as a light-shielding mask for limiting the light area of the projected light. It has been subjected. Also,
The hologram 3 has a diffraction efficiency of, for example, 50%,
The object 6 is irradiated with 50% of the reference light, and about 50% of the reflected light from the object 6 passes through the hologram 3 and enters the light receiving unit 12. That is, in this embodiment, when the focal length of the lens 2a is f2 and the focal length of the lens 2b is f1, the position between the lenses 2a and 2b where the focal positions of these two lenses 2a and 2b are matched, that is, the pupil position. In addition, the exposed hologram 3 is provided so that only the light projecting system functions as a light-shielding mask.

【0022】したがって、このホログラム3によれば、
投光光はホログラム面の一部の領域から発生されるもの
の、受光光はホログラム全面を用いて通過させることが
でき、受光系の光利用効率が従来のハードウェア的遮光
マスクを用いた場合に比べ格段に向上する。
Therefore, according to this hologram 3,
Although the projected light is generated from a part of the area of the hologram surface, the received light can be passed through the entire surface of the hologram, and the light utilization efficiency of the light receiving system is higher when the conventional hardware shading mask is used. Greatly improved compared to

【0023】図1(b)は、ホログラム3を露光する際の
構成を示すもので、ピンホール1、レンズ2a、参照光
用光源7として図1と同じものを用い、且つこれらを図
1と同じ位置関係に配置する。ここで、ホログラム3に
入射する参照光の領域を図1(a)のハッチングで示した
部分に制限するために、参照光用光源7とホログラム3
との間に所要の開孔が形成された遮光マスク11を配設
する様にしている。
FIG. 1 (b) shows a structure for exposing the hologram 3, in which the same pinhole 1, lens 2a, and reference light source 7 as those shown in FIG. 1 are used. Place in the same positional relationship. Here, in order to limit the area of the reference light incident on the hologram 3 to the hatched portion in FIG. 1A, the reference light source 7 and the hologram 3 are used.
A light-shielding mask 11 having a required opening is provided between and.

【0024】この状態で、参照光をホログラム3に入射
するとともに、平行光を物体光としてピンホール1に入
射する。もちろんこの際、参照光と物体光は1つのレー
ザ光源の光を分岐するなどして発生させるようにして、
ホログラム3の面上で干渉が起こるようにしている。ま
た、この際、参照光と物体光の光路長および偏光方向を
一致させている。
In this state, the reference light is made incident on the hologram 3 and the parallel light is made incident on the pinhole 1 as object light. Of course, at this time, the reference light and the object light are generated by splitting the light of one laser light source,
Interference occurs on the surface of the hologram 3. Further, at this time, the optical path length and the polarization direction of the reference light and the object light are matched.

【0025】この結果、ピンホールに形成された点光源
像がレンズ2aによって平行光になった状態でホログラ
ム3に入射され、記録される。この場合は、参照光と物
体光がホログラム3の片側から入射されるので、ホログ
ラム3は透過型となる。
As a result, the point light source image formed on the pinhole is incident on the hologram 3 in the state of being parallel light by the lens 2a and recorded. In this case, since the reference light and the object light are incident from one side of the hologram 3, the hologram 3 becomes a transmissive type.

【0026】以上のようにしてホログラム3の露光が終
了すると、ピンホール1の後側に受光部12を設置す
る。そして、先のホログラム露光の際にレンズ2bが未
設置の場合は、レンズ2bを設置してテレセントリック
光学系を完成させる。
When the exposure of the hologram 3 is completed as described above, the light receiving portion 12 is installed behind the pinhole 1. If the lens 2b is not installed during the previous hologram exposure, the lens 2b is installed to complete the telecentric optical system.

【0027】このようにこの実施例においては、投光系
の光領域を制限するような露光が施されたホログラム3
をテレセントリック光学系の略瞳位置に配設し、該ホロ
グラムによって遮光マスクの作用を行わせるようにした
ので、受光系の光損失が極めて少なくなるとともに、受
光時の開口数の減少を最小限に抑えることが可能にな
る。
As described above, in this embodiment, the hologram 3 is exposed so as to limit the light area of the light projecting system.
Is placed at approximately the pupil position of the telecentric optical system, and the hologram acts as a light-shielding mask.Therefore, the light loss of the light receiving system is extremely reduced, and the decrease in the numerical aperture during light reception is minimized. It becomes possible to suppress.

【0028】また、この実施例では、ホログラムに遮光
マスクや空間フィルタの機能を持たせるようにしている
ので、遮光マスクや空間フィルタを実際に配置する必要
がなくなり、装置構成をコンパクトにできると共に、参
照光用光学系と空間フィルタとの干渉などの問題を回避
することができる。実際、テレセントリックレンズ2
a,2bは、収差を補正するために、群レンズ構成とな
っており、レンズ間のは非常に狭いスペースとなってい
る。
Further, in this embodiment, since the hologram is made to have the functions of the light-shielding mask and the spatial filter, it is not necessary to actually dispose the light-shielding mask and the spatial filter, and the device structure can be made compact and Problems such as interference between the reference light optical system and the spatial filter can be avoided. In fact, the telecentric lens 2
The lenses a and 2b have a group lens structure for correcting aberrations, and a very narrow space is provided between the lenses.

【0029】なお、図1(a)の場合は、ホログラム再生
の際、遮光マスク11を配設するようにしたが、この遮
光マスク11は省略することができる。すなわち、この
第1実施例においては、遮光マスク11は、ホログラム
3を露光するときにのみ必須の構成要件となる。
In the case of FIG. 1A, the light shielding mask 11 is arranged at the time of reproducing the hologram, but the light shielding mask 11 can be omitted. That is, in the first embodiment, the light-shielding mask 11 is an indispensable constituent element only when the hologram 3 is exposed.

【0030】[第2実施例]図2にこの発明の第2実施
例を示す。
[Second Embodiment] FIG. 2 shows a second embodiment of the present invention.

【0031】この第2の実施例においては、図2(b)に
示すように、ホログラム露光時には参照光をホログラム
3の全面に照射することにより、ピンホール1から出射
される全ての物体光をホログラム3に露光する。一方、
ホログラム再生時には、図2(a)に示すように、参照光
用光源7とホログラム3との間に遮光マスク11を配設
し、この遮光マスク11によって参照光が照射されるホ
ログラム3の領域を制限するようにしている。勿論、こ
の実施例においてもホログラム3は、テレセントリック
光学系の瞳位置に配設されている。
In the second embodiment, as shown in FIG. 2 (b), by irradiating the whole surface of the hologram 3 with the reference light at the time of hologram exposure, all the object light emitted from the pinhole 1 is exposed. The hologram 3 is exposed. on the other hand,
At the time of reproducing the hologram, as shown in FIG. 2A, a light-shielding mask 11 is provided between the light source 7 for reference light and the hologram 3, and the region of the hologram 3 irradiated with the reference light by the light-shielding mask 11 is arranged. I try to limit it. Of course, also in this embodiment, the hologram 3 is arranged at the pupil position of the telecentric optical system.

【0032】遮光マスク11としては、例えば、可変虹
彩絞り(カメラの絞り)、透過型液晶パネルなどのよう
に、開口径または開口形状を自由に可変できるものを用
いるようにすれば、対象物に応じて物体光を選択するた
めのパターンを切り替えることができる。特に、電気信
号によって任意の2次元パターンを与えることができる
透過型液晶パネルを用いるようにすれば、任意の光通過
領域を簡単に設定することが可能になる。
As the light-shielding mask 11, for example, a variable iris diaphragm (camera diaphragm), a transmissive liquid crystal panel, or the like whose opening diameter or opening shape can be freely changed is used. The pattern for selecting the object light can be switched accordingly. In particular, by using a transmissive liquid crystal panel capable of giving an arbitrary two-dimensional pattern by an electric signal, it becomes possible to easily set an arbitrary light passage region.

【0033】[第3実施例]図3にこの発明の第3実施
例を示す。
[Third Embodiment] FIG. 3 shows a third embodiment of the present invention.

【0034】この第3実施例においては、図3(a)(b)に
示すように、ホログラム感光材4をガラス基板5の全面
に設けるのではなく、ガラス基板5の一部領域に設ける
ようにして、投光領域を制限するようにしている。
In the third embodiment, as shown in FIGS. 3 (a) and 3 (b), the hologram photosensitive material 4 is not provided on the entire surface of the glass substrate 5, but is provided on a partial region of the glass substrate 5. Then, the light projection area is limited.

【0035】すなわち、ホログラム露光時には、図3
(b)に示すように、参照光をガラス基板5の全面に照射
しているが、ホログラム感光材4がガラス基板5の一部
領域にしか塗布されていないので、ピンホール1から出
射される物体光の一部しかホログラム3には露光されな
い。
That is, at the time of hologram exposure, FIG.
As shown in (b), the entire surface of the glass substrate 5 is irradiated with the reference light, but since the hologram photosensitive material 4 is applied only to a partial area of the glass substrate 5, it is emitted from the pinhole 1. Only part of the object light is exposed to the hologram 3.

【0036】ホログラム再生時には、図3(a)に示すよ
うに、ホログラム全面に参照光を入射するか、あるいは
先の図2(a)に示したような適宜の遮光マスク11を参
照光用光源7とホログラム3との間に配設して、ホログ
ラム感光材4が塗布されている領域にのみ参照光を入射
するようにする。何れにしても、ホログラム3に参照光
が入射されると、感光材4が配設されたホログラム3の
一部領域からレンズ2bへの投光光が再生される。
At the time of reproducing the hologram, as shown in FIG. 3A, the reference light is incident on the entire surface of the hologram, or an appropriate light shielding mask 11 as shown in FIG. 2A is used as a reference light source. 7 and the hologram 3 so that the reference light is incident only on the region where the hologram photosensitive material 4 is applied. In any case, when the reference light is incident on the hologram 3, the light projected onto the lens 2b from the partial area of the hologram 3 in which the photosensitive material 4 is arranged is reproduced.

【0037】なお、この実施例においては、ホログラム
再生時には、感光材4が塗布されている領域にのみ参照
光を入射するほうが投光効率は向上する。この実施例に
おいてもホログラム3は、テレセントリック光学系の瞳
位置に配設されている。
In this embodiment, when the hologram is reproduced, the projection efficiency is improved when the reference light is incident only on the area where the photosensitive material 4 is applied. Also in this embodiment, the hologram 3 is arranged at the pupil position of the telecentric optical system.

【0038】図4は、この第3実施例の変形例を示すも
ので、この実施例では、ホログラム感光材4の塗布領域
をホログラム露光後に除去することにより、先の図3に
示した実施例と同様、所望の物体光が記録されている領
域に対応するホログラム感光材領域のみを残すようにし
ている。すなわち、この場合には、図2(b)と同様にし
て、感光材4が全面に塗布されているホログラム3の全
面に物体光を記録した後、所望の物体光が記録されてい
る感光体領域領域のみを残し、それ以外を除去するよう
にしている。
FIG. 4 shows a modification of the third embodiment. In this embodiment, the application area of the hologram photosensitive material 4 is removed after the hologram exposure to remove the embodiment shown in FIG. Similarly to the above, only the hologram photosensitive material region corresponding to the region where the desired object light is recorded is left. That is, in this case, similarly to FIG. 2B, after the object light is recorded on the entire surface of the hologram 3 on which the photosensitive material 4 is applied, the photosensitive member on which the desired object light is recorded. Only the area is left and the others are removed.

【0039】[第4実施例]図5にこの発明の第4実施
例を示す。
[Fourth Embodiment] FIG. 5 shows a fourth embodiment of the present invention.

【0040】この第4実施例においては、露光の際、図
5(b)に示すように、テレセントリックレンズ2a,2
b(一方のレンズ2bは配設する必要はない)の瞳位置
に遮光マスクなどの空間フィルタ13を配設し、この瞳
位置と結像面14の間にホログラム3を配設するように
している。また、参照用光源7は、空間フィルタ13が
邪魔になるので、ホログラム3に対し物体光とは反対側
から入射するようにしている。すなわちこの場合、ホロ
グラム3は反射型となる。
In the fourth embodiment, at the time of exposure, as shown in FIG. 5 (b), the telecentric lenses 2a, 2
A spatial filter 13 such as a light-shielding mask is arranged at the pupil position of b (one lens 2b need not be arranged), and the hologram 3 is arranged between this pupil position and the image plane 14. There is. Further, since the spatial light filter 13 interferes with the reference light source 7, the reference light source 7 is made to enter the hologram 3 from the side opposite to the object light. That is, in this case, the hologram 3 is a reflection type.

【0041】ホログラム再生時には、図5(a)に示すよ
うに、瞳位置にある空間フィルタ13を取り除き、参照
用光源7によってホログラム3の全面(または露光が施
されている部分にのみ)に参照光を照射する。この結
果、露光時、空間フィルタ13によって物体光が制限さ
れて照射されたホログラムの一部領域(図5(a)のハッ
チングで示した領域)のみから投光光が再生されてレン
ズ2bによって結像点に結像される。
At the time of reproducing the hologram, as shown in FIG. 5A, the spatial filter 13 at the pupil position is removed, and the entire surface of the hologram 3 (or only the exposed portion) is referenced by the reference light source 7. Irradiate with light. As a result, at the time of exposure, the projection light is reproduced only from a partial area (the area shown by hatching in FIG. 5A) of the hologram where the object light is limited and irradiated by the spatial filter 13 and is combined by the lens 2b. An image is formed at the image point.

【0042】このようにこの第4実施例によれば、ホロ
グラム露光時に、瞳位置に配した遮光マスクなどの空間
フィルタ13によってホログラム露光領域を制限するこ
とにより、投光光を制限するようにしている。
As described above, according to the fourth embodiment, at the time of hologram exposure, the hologram exposure area is limited by the spatial filter 13 such as the light-shielding mask arranged at the pupil position, so that the projected light is limited. There is.

【0043】[第5実施例]図6にこの発明の第5実施
例を示す。
[Fifth Embodiment] FIG. 6 shows a fifth embodiment of the present invention.

【0044】この第5実施例においては、ホログラム露
光の際には、図6(b)に示すように、ホログラム3をテ
レセントリックレンズ2a,2bの瞳位置とピンホール
1の位置の間に配設し、この状態で参照光をホログラム
3の全面に照射するようにしている。また、ホログラム
再生時には、図6(a)に示すように、ホログラムのほぼ
全面に参照光を照射を照射して投光光を再生すると共
に、瞳位置に配した遮光マスクなどの空間フィルタ15
によって、投光光の通過領域を制限するようにしてい
る。
In the fifth embodiment, during hologram exposure, the hologram 3 is arranged between the pupil positions of the telecentric lenses 2a and 2b and the pinhole 1 as shown in FIG. 6 (b). Then, in this state, the reference light is applied to the entire surface of the hologram 3. Further, at the time of reproducing the hologram, as shown in FIG. 6 (a), substantially the entire surface of the hologram is irradiated with the reference light to reproduce the projected light, and at the same time, the spatial filter 15 such as a light-shielding mask arranged at the pupil position.
Therefore, the passing area of the projected light is limited.

【0045】[第6実施例]図7にこの発明の第6実施
例を示す。この第6実施例においては、本発明を光ピッ
クアップ装置に適用するようにしている。
[Sixth Embodiment] FIG. 7 shows a sixth embodiment of the present invention. In the sixth embodiment, the present invention is applied to the optical pickup device.

【0046】すなわち、図7において、ホログラム3に
は、参照光用光源7から参照光が入射されると、レンズ
2bによって光ディスク20面の所定の位置に光が結像
されるような光が再生されるような露光が予め施されて
いる。この場合、ホログラム3は、テレセントリックレ
ンズ2a、2b間の例えば瞳位置に配設する。
That is, in FIG. 7, when the reference light is incident on the hologram 3 from the light source 7 for the reference light, the lens 2b reproduces light such that the light is imaged at a predetermined position on the surface of the optical disc 20. Such exposure is performed in advance. In this case, the hologram 3 is arranged, for example, at the pupil position between the telecentric lenses 2a and 2b.

【0047】したがって、ホログラム3に参照光が入射
されると、参照光が回折されて光ディスク20上の所定
の位置に結像する。そして、その反射光は、レンズ2
b,ホログラム3およびレンズ2aを介してエラー/信
号検出系21に入射される。そして、このエラー/信号
検出系21に入射された光信号が処理されることにより
光ピックアップのフォーカシング及び光ディスク20上
のデータが解読されることになる。
Therefore, when the reference light is incident on the hologram 3, the reference light is diffracted and imaged at a predetermined position on the optical disc 20. Then, the reflected light is reflected by the lens 2
It is incident on the error / signal detection system 21 through b, the hologram 3 and the lens 2a. Then, by processing the optical signal incident on the error / signal detection system 21, the focusing of the optical pickup and the data on the optical disk 20 are decoded.

【0048】かかる光ピックアップ装置においては、ホ
ログラム3と参照光用光源7との間に、ホログラム3に
入射される参照光を制限するための遮光マスク11を配
設し、これにより光ディスク20に入射される投光光を
制限するようにしている。
In such an optical pickup device, a light-shielding mask 11 for limiting the reference light incident on the hologram 3 is provided between the hologram 3 and the reference light source 7 so that the light is incident on the optical disc 20. It limits the emitted light.

【0049】なお、この実施例では、光ピックアップ装
置に対し、先の図2に示した第2の実施例に対応する技
術を適用するようにしたが、他の図1、図3、図4、図
5、図6に示した技術を光ピックアップ装置に適用する
ようにしても良い。
In this embodiment, the technique corresponding to the second embodiment shown in FIG. 2 is applied to the optical pickup device, but other techniques shown in FIGS. 1, 3 and 4 are used. The techniques shown in FIGS. 5 and 6 may be applied to the optical pickup device.

【0050】[第7実施例]ところで、ピンホールに光
(平行光)が照射された際、ピンホールからは、図8
(a)および図9(a)に示すように、ピンホールの中心を透
過する中心透過光と、ピンホールのエッジで回折された
周辺回折光の2種類の波面が発生する。そして、これら
中心透過光および周辺回折光の光強度プロファイルと光
強度パターンは、それぞれ図8(b),図9(b)と、図8
(c),図9(c)に示すようになり、それらの光強度は一様
ではない。また、図10(a)(b)(c)は、それぞれ上記中
心透過光と周辺回折光の合成光、それらの光強度プロフ
ァイル、光強度パターンを示すものであり、中心透過光
と周辺回折光との境界にはこれら両光の干渉による暗部
領域が形成される。
[Seventh Embodiment] By the way, when the pinhole is irradiated with light (parallel light), the light emitted from the pinhole is shown in FIG.
As shown in FIGS. 9A and 9A, two types of wavefronts are generated: centrally transmitted light that transmits through the center of the pinhole and peripheral diffracted light that is diffracted at the edge of the pinhole. The light intensity profile and the light intensity pattern of the central transmitted light and the peripheral diffracted light are shown in FIG. 8 (b), FIG. 9 (b), and FIG.
9C and 9C, the light intensities thereof are not uniform. Further, FIGS. 10 (a), (b), and (c) show the combined light of the central transmitted light and the peripheral diffracted light, their light intensity profile, and the light intensity pattern, respectively. A dark part region is formed at the boundary between and by the interference of these two lights.

【0051】したがって、ピンホール1を通過した光を
ホログラムに入射する構成を有する前記各実施例のよう
な構成の場合、ホログラム露光の際に、何の配慮もなさ
れていないと、2つの異なる光強度プロファイル及び光
強度パターンを有する波面がホログラムに記録されてし
まい、投光像の質の低下、ひいては計測精度などの低下
を引き起こす。特に、ピンホールのエッジで発生する回
折光は、SN比を低下させ、ひいては計測精度などを低
下させる要因となる。そして、このような周辺回折光の
影響は、光源がレーザのようなコヒーレンス性の高い光
ではより顕著になる。
Therefore, in the case of the above-mentioned embodiments in which the light that has passed through the pinhole 1 is incident on the hologram, two different light beams will be used if no consideration is given during hologram exposure. A wavefront having an intensity profile and a light intensity pattern is recorded on the hologram, which causes deterioration of the quality of the projected image and eventually deterioration of measurement accuracy. In particular, the diffracted light generated at the edge of the pinhole reduces the SN ratio, which in turn reduces the measurement accuracy. Then, the influence of the peripheral diffracted light becomes more remarkable when the light source has high coherence such as laser light.

【0052】したがって、この第7実施例では、ピンホ
ールからの出射光のうちの中心透過光のみが再生光とし
て使用されるような露光をホログラム3に施すようにし
ている。すなわち、周辺回折光は除去する。
Therefore, in the seventh embodiment, the hologram 3 is exposed so that only the centrally transmitted light of the light emitted from the pinhole is used as the reproduction light. That is, the peripheral diffracted light is removed.

【0053】図11はこの発明の第7実施例を示すもの
で、この図11はホログラム3を露光する際の構成を示
すものである。
FIG. 11 shows a seventh embodiment of the present invention, and this FIG. 11 shows the structure when the hologram 3 is exposed.

【0054】このホログラム露光装置においては、物体
面に複数のピンホールが2次元配列されたピンホールア
レイ30を配設する様にしており、このピンホールアレ
イ20に対して平行光を入射する。
In this hologram exposure apparatus, a pinhole array 30 in which a plurality of pinholes are two-dimensionally arranged is arranged on the object plane, and parallel light is incident on this pinhole array 20.

【0055】レンズ2a,2bは先の実施例と同様、テ
レセントリック系を構成しており、ピンホールアレイ3
0の各ピンホールから出射された各光はレンズ2aによ
って瞳位置に集められる。瞳位置には、ホログラム3が
配設されており、このホログラム3に対して参照光用光
源7から参照光が入射される。
The lenses 2a and 2b form a telecentric system as in the previous embodiment, and the pinhole array 3
Each light emitted from each 0 pinhole is collected at the pupil position by the lens 2a. The hologram 3 is arranged at the pupil position, and the reference light is incident on the hologram 3 from the reference light source 7.

【0056】ここで、参照光用光源7とホログラム3と
の間には、楕円開孔マスク11が設けられており、この
楕円開孔マスク11によってホログラム3の露光領域の
内の前記中心透過光が照射される中央部領域にのみに参
照光が入射されるようにしている。すなわち、周辺透過
光が照射されるホログラム領域には参照光が入射されな
いようにしている。
Here, an elliptical aperture mask 11 is provided between the reference light source 7 and the hologram 3, and the central transmitted light in the exposure region of the hologram 3 is provided by the elliptical aperture mask 11. The reference light is made incident only on the central region irradiated with. That is, the reference light is prevented from entering the hologram area irradiated with the peripheral transmitted light.

【0057】したがって、この場合、ホログラム3に
は、ピンホールアレイ30からの光のうち中心透過光の
みが露光される。なお、開口マスク11を楕円としたの
は、角度を持ってホログラムに照射される参照光がホロ
グラム3の感光材面4上で真円になるようにするためで
ある。また、図11では、他方のレンズ2bおよび被検
査物体6を配置するようにしているが、これらは勿論ホ
ログラム露光のためには必要ない。
Therefore, in this case, the hologram 3 is exposed only to the central transmitted light of the light from the pinhole array 30. The reason why the opening mask 11 is an ellipse is that the reference light with which the hologram is irradiated at an angle is a perfect circle on the photosensitive material surface 4 of the hologram 3. Further, in FIG. 11, the other lens 2b and the object 6 to be inspected are arranged, but of course these are not necessary for hologram exposure.

【0058】以上のようにしてホログラム3の露光が終
了すると、ピンホールアレイ30の後側(図面上は上
側)に受光部アレイ(図示せず)を設置する。そして、
先のホログラム露光の際にレンズ2bが未設置の場合
は、レンズ2bを設置してテレセントリック光学系を完
成させる。
When the exposure of the hologram 3 is completed as described above, a light receiving section array (not shown) is installed on the rear side (upper side in the drawing) of the pinhole array 30. And
If the lens 2b is not installed during the previous hologram exposure, the lens 2b is installed to complete the telecentric optical system.

【0059】[第8実施例]図12はこの発明の第8実
施例を示す。この図12はホログラム3を露光する際の
構成を示すものである。
[Eighth Embodiment] FIG. 12 shows an eighth embodiment of the present invention. FIG. 12 shows the configuration when the hologram 3 is exposed.

【0060】このホログラム露光装置においても、物体
面に複数のピンホールが2次元配列されたピンホールア
レイ30を配設する様にしており、このピンホールアレ
イ20に対して平行光を入射する。
In this hologram exposure apparatus as well, a pinhole array 30 in which a plurality of pinholes are two-dimensionally arranged is arranged on the object plane, and parallel light is incident on this pinhole array 20.

【0061】レンズ2a,2bは先の実施例と同様、テ
レセントリック系を構成しており、ピンホールアレイ3
0の各ピンホールから出射された各光はレンズ2aによ
って瞳位置に集められる。瞳位置には、レンズ2aから
入射される光のうちの中心透過のみを透過させる円形の
開口を有する円形開口マスク40が配設されており、こ
の円形開口マスク40によって周辺回折光を除外する。
The lenses 2a and 2b constitute a telecentric system as in the previous embodiment, and the pinhole array 3
Each light emitted from each 0 pinhole is collected at the pupil position by the lens 2a. At the pupil position, a circular aperture mask 40 having a circular aperture that transmits only the central transmission of the light incident from the lens 2a is disposed, and this circular aperture mask 40 excludes peripheral diffracted light.

【0062】ホログラム3は、瞳位置とレンズ2bの間
に配設されており、このホログラム3に対して参照光用
光源7から参照光が入射される。
The hologram 3 is arranged between the pupil position and the lens 2b, and the reference light is incident on the hologram 3 from the reference light source 7.

【0063】したがって、この場合、ホログラム3に
は、ピンホールアレイ30からの光のうち中心透過光の
みが物体光として入射され、これが参照光と干渉される
事によよって露光される。なお、図12においても、他
方のレンズ2bおよび被検査物体6を配置するようにし
ているが、これらは勿論ホログラム露光のためには必要
ない。
Therefore, in this case, only the central transmitted light of the light from the pinhole array 30 is incident on the hologram 3 as the object light, and this is exposed by being interfered with the reference light. Although the other lens 2b and the object 6 to be inspected are arranged also in FIG. 12, these are not necessary for hologram exposure.

【0064】以上のようにしてホログラム3の露光が終
了すると、ピンホールアレイ30の後側(図面上は上
側)に受光部アレイ(図示せず)を設置する。また、円
形開口マスク40を取り外す。そして、先のホログラム
露光の際にレンズ2bが未設置の場合は、レンズ2bを
設置してテレセントリック光学系を完成させる。
When the exposure of the hologram 3 is completed as described above, a light receiving section array (not shown) is installed on the rear side (upper side in the drawing) of the pinhole array 30. Further, the circular opening mask 40 is removed. If the lens 2b is not installed during the previous hologram exposure, the lens 2b is installed to complete the telecentric optical system.

【0065】なお、ピンホールの中心透過光のみを再生
するホログラムを作成する際に、先の図3または図4に
示した実施例のように、ホログラム感光材自体の領域を
制限する技術を利用するようにしてもよい。
When producing a hologram that reproduces only the light transmitted through the center of the pinhole, the technique of limiting the area of the hologram photosensitive material itself is used as in the embodiment shown in FIG. 3 or 4. You may do it.

【0066】また、上記した各実施例において、参照光
あるいは物体光を制限する遮光マスク、空間フィルタ
は、光学基板上にエッチングプロセスなどにより遮光マ
スクを形成して、マスク自体の厚みを薄くしたほうが好
適である。
Further, in each of the above-described embodiments, for the light-shielding mask and the spatial filter for limiting the reference light or the object light, it is better to form the light-shielding mask on the optical substrate by an etching process or the like to reduce the thickness of the mask itself. It is suitable.

【0067】また、ホログラムを露光する際やホログラ
ム再生時に用いる遮光マスク、空間フィルタは、光の中
央部のみを透過するもの以外に、円環状のもの、格子、
点列など所望の投光ができる任意のパターンを選択する
ようにすればよい。同様に、ホログラム感光材自体の領
域を制限する場合においても、その制限パターンは任意
である。
The light-shielding mask and the spatial filter used for exposing the hologram and reproducing the hologram are not limited to those for transmitting only the central portion of the light, but are annular, lattice,
It suffices to select an arbitrary pattern such as a dot sequence that allows desired light projection. Similarly, when limiting the area of the hologram photosensitive material itself, the limiting pattern is arbitrary.

【0068】ところで、瞳位置に配設された遮光マスク
は、ピンホールアレイのの像の光学的フーリエ変換面
(瞳位置)における空間フィルタの作用を奏する。した
がって、この遮光マスクのパターンを種々に選択するこ
とによって (1)解像度を向上する (2)ノイズ光を除去する (3)任意の形状をしたパターン光を投光できる 等の種々の効果が得られる。
The light-shielding mask arranged at the pupil position functions as a spatial filter on the optical Fourier transform plane (pupil position) of the image of the pinhole array. Therefore, various effects such as (1) improving the resolution (2) removing noise light (3) being able to project pattern light in an arbitrary shape can be obtained by selecting various patterns of this light-shielding mask. To be

【0069】また、各実施例において、ホログラムは、
透過型、反射型、エッジイルミネイテッド型、エバネッ
セント波型等の任意のタイプを用いるようにすればよ
い。
In each embodiment, the hologram is
Any type such as a transmissive type, a reflective type, an edge illuminated type, and an evanescent wave type may be used.

【0070】また、上記各実施例を図13に示した3次
元形状計測装置に適用するようにしてもよい。また、上
記各実施例を3次元形状計測装置に適用する場合、被検
査物体は、移動ステージによって被検査物体の高さ方向
に移動走査を行うようにしてもよく、また共焦点光学装
置全体を前記高さ方向に移動可能なように構成するよう
にしてもよく、さらにはテレセントリックレンズ2a,
2bを高さ方向に移動可能なように構成してもよい。ま
た、テレセントリック光学系においては、その倍率は等
倍、拡大、縮小の何れでもよい。
Further, each of the above embodiments may be applied to the three-dimensional shape measuring apparatus shown in FIG. When the above-described embodiments are applied to the three-dimensional shape measuring apparatus, the object to be inspected may be moved and scanned in the height direction of the object to be inspected by the moving stage, or the entire confocal optical device may be used. It may be configured to be movable in the height direction, and further, the telecentric lens 2a,
2b may be configured to be movable in the height direction. Further, in the telecentric optical system, the magnification may be any one of magnification, enlargement and reduction.

【0071】また、実施例で示した複数のピンホール
(点光源)像は、規則的な配列に限定されるものではな
く、複数の点光源からなると解釈される一般的なパター
ン像であってもかまわない。すなわち、線や面の像でも
かまわない。
Further, the plurality of pinhole (point light source) images shown in the embodiment are not limited to regular arrangements, but are general pattern images which are interpreted as including a plurality of point light sources. I don't care. That is, it may be an image of a line or a plane.

【0072】また、上記実施例における各構成要素はー
例を示したもので、上記実施例に示したものと同一の機
能を達成できるものであれば、他の構成を採用するよう
にしてもよい。
Each constituent element in the above-mentioned embodiment is an example, and other constitutions may be adopted as long as they can achieve the same functions as those shown in the above-mentioned embodiment. Good.

【0073】[0073]

【発明の効果】以上説明したようにこの発明によれば、
投光系の光領域を制限するような露光が施されたホログ
ラムをテレセントリック光学系の略瞳位置に配設し、該
ホログラムによって遮光マスクの作用を行わせるように
したので、受光系の光損失が極めて少なくなるととも
に、受光時の開口数の減少を最小限に抑えることが可能
になる。また、ホログラムに遮光マスクや空間フィルタ
の機能を持たせるようにしているので、遮光マスクや空
間フィルタを実際に配置する必要がなくなり、装置構成
をコンパクトにできると共に、参照光用光学系と空間フ
ィルタとの干渉などの問題を回避することができる。
As described above, according to the present invention,
Since the hologram that has been exposed to limit the light area of the light projecting system is arranged at the approximate pupil position of the telecentric optical system, and the hologram acts as a light shielding mask, the light loss of the light receiving system is caused. And the decrease in the numerical aperture at the time of receiving light can be minimized. Further, since the hologram is made to have the functions of the light-shielding mask and the spatial filter, it is not necessary to actually dispose the light-shielding mask and the spatial filter, and the device configuration can be made compact, and the reference light optical system and the spatial filter can be used. It is possible to avoid problems such as interference with.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】この発明の第1実施例を示す図。FIG. 1 is a diagram showing a first embodiment of the present invention.

【図2】この発明の第2実施例を示す図。FIG. 2 is a diagram showing a second embodiment of the present invention.

【図3】この発明の第3実施例を示す図。FIG. 3 is a diagram showing a third embodiment of the present invention.

【図4】第3実施例の変形例を説明するための図。FIG. 4 is a diagram for explaining a modification of the third embodiment.

【図5】この発明の第4実施例を示す図。FIG. 5 is a diagram showing a fourth embodiment of the present invention.

【図6】この発明の第5実施例を示す図。FIG. 6 is a diagram showing a fifth embodiment of the present invention.

【図7】この発明の第6実施例を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a sixth embodiment of the present invention.

【図8】ピンホールによる中心透過光を説明する図。FIG. 8 is a diagram illustrating center transmitted light due to a pinhole.

【図9】ピンホールによる周辺回折光を説明する図。FIG. 9 is a diagram illustrating peripheral diffracted light due to a pinhole.

【図10】ピンホールを出射した光を説明する図。FIG. 10 is a diagram illustrating light emitted from a pinhole.

【図11】この発明の第7実施例を示す図。FIG. 11 is a diagram showing a seventh embodiment of the present invention.

【図12】この発明の第8実施例を示す図。FIG. 12 is a diagram showing an eighth embodiment of the present invention.

【図13】従来技術を示す図。FIG. 13 is a diagram showing a conventional technique.

【図14】瞳位置を説明するための図。FIG. 14 is a diagram for explaining a pupil position.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ピンホールアレイ 2a,2b…テレセントリックレンズ 3…ホログラム 4…ホログラム感光材 5…ガラス基板 6…物体 7…参照光用光源 11…遮光マスク 12…受光部 20…光ディスク 30…ピンホールアレイ 40…円形開口マスク DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Pinhole array 2a, 2b ... Telecentric lens 3 ... Hologram 4 ... Hologram photosensitive material 5 ... Glass substrate 6 ... Object 7 ... Reference light source 11 ... Shading mask 12 ... Light receiving part 20 ... Optical disk 30 ... Pinhole array 40 ... Circular opening mask

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記検査面位置を第2のレンズの集光位置
としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した、前記第1及び第2のレンズの間の所定位置に配
設され、前記参照光用光源からの光を回折して、前記第
1のレンズの集光位置から出射される1乃至複数の点光
源光がこの所定位置を通過する際の光と等価な光を再生
するような露光処理が施されたホログラムと、 前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記物体
で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセントリ
ック光学手段を経由した光を検出する受光部と、 を備えると共に、 前記ホログラムは、前記ホログラム再生光がホログラム
の一部領域から再生されるような露光が施されているこ
とを特徴とするテレセントリック光学装置。
1. An object arranged on a predetermined inspection surface and a first lens and a second lens are separated from each other by a total distance of a focal length of the first lens and a focal length of the second lens. At the same time, the telecentric optical means is disposed and the inspection surface position is the condensing position of the second lens, the hologram reference light source, and the first lens is separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens. , One or a plurality of points disposed at a predetermined position between the first and second lenses, diffracting the light from the reference light source, and emitting the light from the condensing position of the first lens. A hologram that has been subjected to an exposure process that reproduces light equivalent to the light when the light source light passes through this predetermined position; and a hologram that is disposed near the converging position of the first lens and is reflected by the object. The telecentric optical means for reproducing the hologram reproduction light. A telecentric optical device comprising: a light receiving unit that detects light that has passed therethrough; and that the hologram is exposed so that the hologram reproduction light is reproduced from a partial region of the hologram.
【請求項2】所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記検査面位置を第2のレンズの集光位置
としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した、前記第1及び第2のレンズの間の所定位置に配
設され、前記参照光用光源からの光を回折して、前記第
1のレンズの集光位置から出射される1乃至複数の点光
源光がこの所定位置を通過する際の光と等価な光を再生
するような露光処理が施されたホログラムと、 前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記物体
で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセントリ
ック光学手段を経由した光を検出する受光部と、 前記ホログラムと参照用光源との間に配設されて、ホロ
グラム参照光がホログラムの一部領域に照射されるよう
ホログラム参照光を制限する参照光領域制限手段と、 を備えるようにしたことを特徴とするテレセントリック
光学装置。
2. An object disposed on a predetermined inspection surface and the first and second lenses are separated by a total distance of a focal length of the first lens and a focal length of the second lens. At the same time, the telecentric optical means is disposed and the inspection surface position is the condensing position of the second lens, the hologram reference light source, and the first lens is separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens. , One or a plurality of points disposed at a predetermined position between the first and second lenses, diffracting the light from the reference light source, and emitting the light from the condensing position of the first lens. A hologram that has been subjected to an exposure process that reproduces light equivalent to the light when the light source light passes through this predetermined position; and a hologram that is disposed near the converging position of the first lens and is reflected by the object. The telecentric optical means for reproducing the hologram reproduction light. A reference light region limiting unit that is provided between the light receiving unit that detects the light passing therethrough and the hologram and the reference light source, and that limits the hologram reference light so that the hologram reference light is irradiated to a partial region of the hologram. And a telecentric optical device.
【請求項3】所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記検査面位置を第2のレンズの集光位置
としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した、前記第1及び第2のレンズの間の所定位置に配
設され、前記参照光用光源からの光を回折して、前記第
1のレンズの集光位置から出射される1乃至複数の点光
源光がこの所定位置を通過する際の光と等価な光を再生
するような露光処理が施されたホログラムと、 前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記物体
で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセントリ
ック光学手段を経由した光を検出する受光部と、 を備えると共に、 前記ホログラムは、前記ホログラム再生光がホログラム
の一部領域から再生されるようホログラム感光材の設置
領域が制限されていることを特徴とするテレセントリッ
ク光学装置。
3. An object disposed on a predetermined inspection surface and the first and second lenses are separated by a total distance of a focal length of the first lens and a focal length of the second lens. At the same time, the telecentric optical means is disposed and the inspection surface position is the condensing position of the second lens, the hologram reference light source, and the first lens is separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens. , One or a plurality of points disposed at a predetermined position between the first and second lenses, diffracting the light from the reference light source, and emitting the light from the condensing position of the first lens. A hologram that has been subjected to an exposure process that reproduces light equivalent to the light when the light source light passes through this predetermined position; and a hologram that is disposed near the converging position of the first lens and is reflected by the object. The telecentric optical means for reproducing the hologram reproduction light. And a light receiving section for detecting light passing therethrough, wherein the hologram is characterized in that a hologram photosensitive material installation area is limited so that the hologram reproduction light is reproduced from a partial area of the hologram. Optical device.
【請求項4】所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記検査面位置を第2のレンズの集光位置
としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した前記第1及び第2のレンズの間の位置と、前記検
査面との間の所定位置に配設され、前記参照光用光源か
らの光を回折して、前記第1のレンズの集光位置から出
射される1乃至複数の点光源光がこの所定位置を通過す
る際の光と等価な光を再生するような露光処理が施され
たホログラムと、 前記第1のレンズの集光位置近傍に配設され、前記物体
で反射された前記ホログラム再生光の前記テレセントリ
ック光学手段を経由した光を検出する受光部と、 を備えると共に、 前記ホログラムは、前記ホログラム再生光がホログラム
の一部領域から再生されるような露光が施されているこ
とを特徴とするテレセントリック光学装置。
4. An object arranged on a predetermined inspection surface and the first and second lenses are separated by a total distance of a focal length of the first lens and a focal length of the second lens. At the same time, the telecentric optical means is disposed and the inspection surface position is the condensing position of the second lens, the hologram reference light source, and the first lens is separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens. It is arranged at a predetermined position between the first lens and the second lens and the inspection surface, diffracts the light from the light source for reference light, and converges the light on the first lens. A hologram that has been subjected to an exposure process so as to reproduce light equivalent to the light when one or a plurality of point light sources emitted from the light passes through the predetermined position; and a hologram near the light collecting position of the first lens. The hologram reproduction light that is arranged and reflected by the object is And a light receiving unit for detecting light that has passed through the recentric optical unit, wherein the hologram is exposed so that the hologram reproduction light is reproduced from a partial region of the hologram. Telecentric optical device.
【請求項5】前記ホログラムは、ホログラム露光の際
に、前記第1のレンズから前記検査面側に第1のレンズ
の焦点距離だけ離間した所定位置に配設される空間フィ
ルタを介して前記1乃至複数の点光源光がホログラムに
入射されることによって、ホログラム再生光がホログラ
ムの一部領域から再生されるような露光が施されている
請求項4記載のテレセントリック光学装置。
5. The hologram according to claim 1, wherein at the time of hologram exposure, the hologram is passed through a spatial filter arranged at a predetermined position separated from the first lens on the inspection surface side by a focal length of the first lens. 5. The telecentric optical device according to claim 4, wherein the exposure is performed such that the hologram reproduction light is reproduced from a partial area of the hologram when a plurality of point light sources are incident on the hologram.
【請求項6】1ないし複数の開孔を有するピンホール
と、 所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記ピンホールの開孔位置を第1のレンズ
の集光位置とし、前記検査面位置を第2のレンズの集光
位置としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した、前記第1及び第2のレンズの間の所定位置に配
設され、前記参照光用光源からの光を回折して、前記ピ
ンホールから出射される1乃至複数の点光源光がこの所
定位置を通過する際の光と等価な光を再生するような露
光処理が施されたホログラムと、 前記ピンホールを挟んで前記テレセントリック光学手段
とは反対側に配設され、前記物体で反射された前記ホロ
グラム再生光が前記ピンホールの開孔を通過した光を受
光する受光部と、 を具えるとともに、 前記ホログラムは、前記ピンホールから出射された点光
源光のうちのピンホールの中心を透過した中心透過光の
みが物体光として露光されるよう前記テレセントリック
光学系の光軸近傍にのみ参照光が照射される露光が施さ
れていることを特徴とするテレセントリック光学装置。
6. A pinhole having one or a plurality of apertures, an object arranged on a predetermined inspection surface, first and second lenses, a focal length of the first lens and a second lens. The pinholes are arranged so as to be separated from each other by the total distance of the focal lengths of the lenses, the pinhole opening position is set as the condensing position of the first lens, and the inspection surface position is set as the condensing position of the second lens. A telecentric optical means, a hologram reference light source, and a predetermined position between the first lens and the second lens, which is separated from the first lens by a substantially focal length of the first lens, An exposure process is performed to diffract the light from the light source for reference light and reproduce light equivalent to the light when one or more point light sources emitted from the pinhole pass through the predetermined position. A hologram and the telescope across the pinhole. The hologram reproduction light reflected by the object and receiving light that has passed through the aperture of the pinhole, and the hologram is Of the point source light emitted from the pinhole, the reference light is irradiated only near the optical axis of the telecentric optical system so that only the central transmitted light transmitted through the center of the pinhole is exposed as the object light. Telecentric optical device characterized in that
【請求項7】1ないし複数の開孔を有するピンホール
と、 所定の検査面上に配設される物体と、 第1及び第2のレンズを、第1のレンズの焦点距離と第
2のレンズの焦点距離との合計距離だけ離間して配設す
るとともに、前記ピンホールの開孔位置を第1のレンズ
の集光位置とし、前記検査面位置を第2のレンズの集光
位置としたテレセントリック光学手段と、 ホログラムの参照光用光源と、 前記第1のレンズから第1のレンズの略焦点距離だけ離
間した前記第1及び第2のレンズの間の位置と、前記検
査面との間の所定位置に配設され、前記参照光用光源か
らの光を回折して、前記第1のレンズの集光位置から出
射される1乃至複数の点光源光がこの所定位置を通過す
る際の光と等価な光を再生するような露光処理が施され
たホログラムと、 前記ピンホールを挟んで前記テレセントリック光学手段
とは反対側に配設され、前記物体で反射された前記ホロ
グラム再生光が前記ピンホールの開孔を通過した光を受
光する受光部と、 を具えるとともに、 前記ホログラムは、ホログラム露光の際に、前記第1の
レンズから前記検査面側に第1のレンズの焦点距離だけ
離間した所定位置に配設される空間フィルタを介して前
記1乃至複数の点光源光がホログラムに入射されること
によって、前記ピンホールから出射された点光源光のう
ちのピンホールの中心を透過した中心透過光のみが物体
光として露光されるような露光が施されていることを特
徴とするテレセントリック光学装置。
7. A pinhole having one or a plurality of apertures, an object arranged on a predetermined inspection surface, first and second lenses, a focal length of the first lens and a second lens. The pinholes are arranged so as to be separated from each other by the total distance of the focal lengths of the lenses, the pinhole opening position is set as the condensing position of the first lens, and the inspection surface position is set as the condensing position of the second lens. Between the telecentric optical means, the hologram reference light source, the position between the first and second lenses separated from the first lens by the approximate focal length of the first lens, and the inspection surface. At a predetermined position, diffracts the light from the light source for reference light, and emits one or a plurality of point light sources emitted from the condensing position of the first lens when passing through the predetermined position. A hologram that has been exposed to light that is equivalent to light. And a light receiving section which is arranged on the opposite side of the telecentric optical means with the pinhole interposed therebetween, and which receives the hologram reproduction light reflected by the object and which has passed through the opening of the pinhole. In addition, the hologram is configured such that, during hologram exposure, the hologram is provided with the above-mentioned 1 to 1 through a spatial filter arranged at a predetermined position separated from the first lens on the inspection surface side by a focal length of the first lens. When a plurality of point source light beams are incident on the hologram, exposure is performed so that only the central transmitted light beam that passes through the center of the pinhole among the point source light beams emitted from the pinhole is exposed as object light. Telecentric optical device characterized in that
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