JPH09298139A - Aligner - Google Patents

Aligner

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JPH09298139A
JPH09298139A JP8132782A JP13278296A JPH09298139A JP H09298139 A JPH09298139 A JP H09298139A JP 8132782 A JP8132782 A JP 8132782A JP 13278296 A JP13278296 A JP 13278296A JP H09298139 A JPH09298139 A JP H09298139A
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JP
Japan
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exposure
substrate
controller
unit
peripheral region
Prior art date
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Pending
Application number
JP8132782A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Eiji Goto
英司 後藤
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To prevent the throughput of an aligner from being reduced when the peripheral region of a substrate is exposed by a method wherein when an exposure part is restarted, the exposure of the substrate is executed on the basis of the state of the exposure treatment of the substrate prior to the restarting. SOLUTION: An upper controller 9 controls exposure data including an exposure to a square-shaped substrate 5, an exposure patterned region and the like and sends a command signal SI to a lower controller 10 each time each side of the substrate 5 is performed an exposure treatment on the basis of the exposure data. Moreover, the controller 9 makes the contents, which are indicated by the signal SI sent to the controller 10, store in a storage part 11 at any time. In the case where the exposure treatment is interrupted by the generation of service interruption or the like, the controller 9 reads out the contents stored in the part 11 when an exposure part is restarted to resume the exposure treatment which is performed before the interruption. The controller 10 resumes the exposure treatment on the basis of the state of the exposure treatment before the restarting, whereby the exposure treatment of the substrate 5, which exists in a main body part 2 and is not finished can be rapidly performed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は露光装置に関し、例
えば基板上に形成されたレジスト層のうち、本来のパタ
ーン転写と無関係な領域部分のレジスト層に露光処理し
て剥離する場合に適用して好適なものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an exposure apparatus, which is applied to a resist layer formed on a substrate, for example, when the resist layer in an area unrelated to the original pattern transfer is exposed and stripped. It is suitable.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、半導体素子や液晶表示素子を製造
する際には、レチクル上に形成した所望のパターンをリ
ソグラフイ工程でレジストが塗布された基板上に投影露
光することにより基板上に所望のパターンを形成するよ
うになされている。この際、基板上に投影露光されるパ
ターン像の周辺領域にはある程度の余白領域が形成され
る。例えば角形基板の場合は中央部分にパターン像が露
光投影され、この周辺領域でなる外周部分が余白領域と
なる。
2. Description of the Related Art Conventionally, when a semiconductor element or a liquid crystal display element is manufactured, a desired pattern formed on a reticle is projected and exposed on a substrate coated with a resist in a lithographic process to obtain a desired pattern on the substrate. To form a pattern. At this time, a marginal area is formed to some extent in the peripheral area of the pattern image projected and exposed on the substrate. For example, in the case of a rectangular substrate, the pattern image is exposed and projected on the central portion, and the peripheral portion, which is the peripheral area, becomes the blank area.

【0003】リソグラフイ工程においては、露光処理
後、このような余白領域のレジスト層が残存し、後段の
処理工程でマスクパターン上に付着する等して悪影響を
及ぼすことを防止するために、周辺露光用の露光装置を
用いて余白領域のレジスト層に露光処理を施して剥離し
ておくようになされている。
In the lithographic process, in order to prevent the resist layer in such a blank region from remaining after the exposure process and adhering to the mask pattern in a subsequent process step, the peripheral effect is prevented. The resist layer in the blank area is subjected to an exposure process using an exposure apparatus for exposure, and is peeled off.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところが、このような
露光装置においては、停電等によつて装置動作が停止し
た場合、装置内に残留した未露光状態又は露光処理中の
状態でなる基板を装置の再起動時に一度装置外に排出
し、再投入して露光処理を初めからやり直すようになさ
れていた。従つて、基板の排出及び再投入のための時間
と既に露光処理された部分を再度初めから露光し直すた
めの時間が必要となり、露光処理におけるスループツト
を低下させてしまうという問題があつた。
However, in such an exposure apparatus, when the operation of the apparatus is stopped due to a power failure or the like, the substrate which remains in the apparatus in an unexposed state or a state in which exposure processing is being performed is used. When the device is restarted, it is once discharged to the outside of the apparatus, re-input, and the exposure process is restarted from the beginning. Therefore, a time for discharging and recharging the substrate and a time for re-exposing the already exposed portion from the beginning are required, which causes a problem that the throughput in the exposure processing is reduced.

【0005】また露光装置には基板のバツフアリング機
構を有するものもある。すなわち、収納部内に基板を複
数枚収納して露光ステージ上との間で基板の搬送を行う
ようになされている。これにより、各基板の露光処理を
連続して行うことができ、短時間で多数の基板に露光処
理を施すことができる。しかしこのような場合、基板の
排出及び再投入が収納部内に収納されている基板全てに
対してなされるために、基板の排出及び再投入に要する
時間がより多くなつてしまう。
Some exposure apparatuses have a substrate buffering mechanism. That is, a plurality of substrates are stored in the storage unit and the substrates are transported to and from the exposure stage. Accordingly, the exposure processing of each substrate can be continuously performed, and the exposure processing can be performed on a large number of substrates in a short time. However, in such a case, since the substrates are discharged and reloaded for all the substrates stored in the storage unit, the time required for discharging and reloading the substrates is increased.

【0006】本発明は以上の点を考慮してなされたもの
で、リソグラフイ工程における基板の周辺領域を露光す
る際のスループツト低下を防止し得る露光装置を提案し
ようとするものである。
The present invention has been made in consideration of the above points, and it is an object of the present invention to propose an exposure apparatus capable of preventing a decrease in throughput when exposing a peripheral region of a substrate in a lithographic process.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】かかる課題を解決するた
め本発明においては、感光基板(5)の周辺領域に対す
る露光処理状態を記憶する不揮発性の記憶手段(11)
と、露光光を照射する露光部(7)の再起動時に記憶手
段(11)の記憶している露光処理状態に基づいて露光
を実行する露光制御手段(9及び10)とを設けるよう
にした。
In order to solve such a problem, in the present invention, a non-volatile storage means (11) for storing the exposure processing state for the peripheral area of the photosensitive substrate (5).
And an exposure control unit (9 and 10) for performing exposure based on the exposure processing state stored in the storage unit (11) when the exposure unit (7) that emits exposure light is restarted. .

【0008】露光部の再起動時、再起動前の露光処理状
態に基づき露光を実行するようにしたことにより、露光
部停止時に露光部内に存在する露光未完了の基板の露光
処理を速やかに行うことができるので、この基板が排出
及び再投入されることを回避することができる。
When the exposure unit is restarted, the exposure is performed based on the exposure processing state before the restart, so that the exposure process of the unexposed substrate existing in the exposure unit is promptly performed when the exposure unit is stopped. Therefore, it is possible to prevent the substrate from being discharged and reloaded.

【0009】[0009]

【発明の実施の形態】以下図面について、本発明の一実
施例を詳述する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below in detail with reference to the drawings.

【0010】(1)第1実施例 図1において、1は全体として露光装置を示し、感光基
板上の周辺部に存在する本来のパターン転写と無関係な
領域部分のレジスト層に露光処理を施すようになされて
いる。ちなみに、こうして露光処理された感光基板の周
辺部は、現像処理された後に剥離され、本来のパターン
転写がなされる領域にゴミ等として付着しないように処
理される。露光装置1は本体部2と制御部3とから構成
されており、制御部3から与えられる制御命令に応じて
本体部2が基板上の周辺領域に露光処理を施すようにな
されている。
(1) First Embodiment In FIG. 1, reference numeral 1 denotes an exposure apparatus as a whole, and an exposure process is performed on a resist layer in a peripheral region existing on a photosensitive substrate and unrelated to original pattern transfer. Has been done. Incidentally, the peripheral portion of the photosensitive substrate thus exposed is peeled off after being developed, and is treated so as not to adhere to the area where the original pattern is transferred as dust or the like. The exposure apparatus 1 is composed of a main body 2 and a control unit 3, and the main body 2 performs an exposure process on a peripheral region on a substrate in accordance with a control command given from the control unit 3.

【0011】本体部2は基板ステージ4上に配されフオ
トレジストが塗布された角形基板5に露光処理を施す。
基板ステージ4は角形基板5を所定の露光位置にアライ
メント処理し、この露光位置で角形基板5を保持する。
基板ステージ4の上部にはT字状でなる移動部6が設け
られている。また移動部6の基板ステージ4上に向かつ
て垂直方向に張り出したアーム部6Aには露光部7が設
けられている。移動部6は図中に示すX軸方向に沿つて
移動するようになされており、アーム部6Aに設けられ
ている露光部7を角形基板5に対して平行移動させるよ
うになされている。さらに露光部7は角形基板5の幅と
ほぼ同じ間隔を有して配された2つの露光光照射部でな
り、底部に形成されているスリツト状の出射口(図示せ
ず)から下方の基板ステージ4上に配された角形基板5
に露光光を照射する。
The main body 2 exposes a rectangular substrate 5 provided on the substrate stage 4 and coated with a photoresist.
The substrate stage 4 performs alignment processing on the rectangular substrate 5 at a predetermined exposure position, and holds the rectangular substrate 5 at this exposure position.
A moving portion 6 having a T-shape is provided above the substrate stage 4. Further, an exposure section 7 is provided on an arm section 6A of the moving section 6 which extends above the substrate stage 4 in the vertical direction. The moving unit 6 is configured to move along the X-axis direction shown in the figure, and the exposing unit 7 provided on the arm 6A is moved in parallel with the rectangular substrate 5. Further, the exposure part 7 is composed of two exposure light irradiation parts which are arranged at intervals substantially the same as the width of the rectangular substrate 5, and the substrate below the slit-shaped emission port (not shown) formed in the bottom part. Square substrate 5 placed on stage 4
The exposure light is applied to the.

【0012】図2に示すように、こうして照射された露
光光は角形基板5の対向する2辺に沿つた所定領域でな
る周辺領域5Aにのみ局所的に照射され、この周辺領域
5Aのみを感光させる。また基板ステージ4は回転自在
な支柱でなる回転部8によつて支持されており、周辺領
域5Aに露光処理を施した後、回転部8によつて基板ス
テージ4を90度回転させて同様に露光処理することに
より、図3に示すように、角形基板5の他の2辺に沿つ
た所定領域でなる周辺領域5Bに露光処理を施す。この
ように、本体部2は角形基板5の4辺に沿つた周辺領域
5A及び5Bに露光処理を施して感光させるようになさ
れている。
As shown in FIG. 2, the exposure light thus radiated is locally radiated only to a peripheral region 5A which is a predetermined region along two opposite sides of the rectangular substrate 5, and only the peripheral region 5A is exposed. Let Further, the substrate stage 4 is supported by a rotating unit 8 which is a rotatable column, and after the peripheral region 5A is subjected to an exposure process, the rotating unit 8 rotates the substrate stage 4 by 90 degrees and similarly. By performing the exposure process, as shown in FIG. 3, the peripheral region 5B, which is a predetermined region along the other two sides of the rectangular substrate 5, is exposed. In this way, the main body 2 is configured to expose the peripheral regions 5A and 5B along the four sides of the rectangular substrate 5 by exposure.

【0013】また本体部2は制御部3によつて露光処理
を制御されており、制御部3から与えられる制御信号に
応じて角形基板5に露光処理を施す。制御部3は上位コ
ントローラ9、下位コントローラ10及び記憶部11で
構成されている。上位コントローラ9は角形基板5に対
する露光量や露光パターン領域等を含む露光データを管
理する。上位コントローラ9はこうした露光データに基
づいて、角形基板5の各辺を露光処理する毎に下位コン
トローラ10にコマンド信号S1を発行する。ここでコ
マンド信号S1は、「どの辺に対して露光処理を開始せ
よ」という指示内容でなる。また上位コントローラ9は
下位コントローラ10に発行したコマンド信号S1の指
示内容を記憶部11に随時記憶させる。上位コントロー
ラ9は停電等の発生によつて露光処理が中断した場合、
再起動時に記憶部11の記憶内容を読み出して中断前に
なされていた露光処理を再開する。
The main body 2 is controlled by the control unit 3 to perform the exposure process, and the rectangular substrate 5 is subjected to the exposure process according to a control signal given from the control unit 3. The control unit 3 is composed of an upper controller 9, a lower controller 10 and a storage unit 11. The host controller 9 manages the exposure data including the exposure amount and the exposure pattern area for the rectangular substrate 5. The upper controller 9 issues a command signal S1 to the lower controller 10 each time each side of the rectangular substrate 5 is exposed based on the exposure data. Here, the command signal S1 has an instruction content of “which side should start the exposure processing”. Further, the upper controller 9 causes the storage unit 11 to store the instruction content of the command signal S1 issued to the lower controller 10 at any time. If the exposure process is interrupted due to the occurrence of a power failure, etc.
At the time of restart, the stored contents of the storage unit 11 are read out and the exposure process that was performed before the interruption is restarted.

【0014】下位コントローラ10はコマンド信号S1
で示される指示内容にしたがつて本体部2に露光処理の
ための制御信号S2を送出する。制御信号S2はコマン
ド信号S1に応じた露光処理を実行するために、「露光
光の照射を開始せよ/停止せよ」、「移動部の移動を開
始せよ/停止せよ」といつた制御内容でなる。また下位
コントローラ10は制御信号S2によつて本体部2の露
光処理を制御すると共に、本体部2による露光処理状態
を随時検出している。下位コントローラ10は、コマン
ド信号S1による露光処理が完了したことを検出した
ら、上位コントローラ9に応答信号S3を送出して、次
の指示を待つ。
The lower controller 10 uses the command signal S1.
A control signal S2 for exposure processing is sent to the main body 2 in accordance with the instruction content indicated by. The control signal S2 has the control contents of "start / stop irradiation of exposure light" and "start / stop movement of the moving part" in order to execute the exposure process according to the command signal S1. . Further, the subordinate controller 10 controls the exposure processing of the main body 2 by the control signal S2 and detects the exposure processing state of the main body 2 as needed. When the lower controller 10 detects that the exposure processing by the command signal S1 is completed, it sends the response signal S3 to the upper controller 9 and waits for the next instruction.

【0015】さらに記憶部11は電気的に記憶内容を消
去及び再書き込みし得ると共に、電源電圧が無くとも記
憶内容を保持し得るメモリ素子(以下、これを電気的消
去形読出し専用メモリと呼ぶ)でなる。このため、記憶
部11は停電等による露光装置1の停止時においても、
記憶内容を保持することができる。
Further, the storage unit 11 can electrically erase and rewrite the stored contents, and can retain the stored contents even if there is no power supply voltage (hereinafter referred to as an electrically erased read-only memory). It consists of Therefore, the storage unit 11 keeps the exposure device 1 even when the exposure apparatus 1 is stopped due to a power failure or the like
The stored contents can be retained.

【0016】以上の構成において、制御部3は露光装置
1の起動時に、以下に説明する手順にしたがつて本体部
2の露光処理を制御する。なお、再起動時に本体部2内
に残留している角形基板5の露光処理状態としては、次
の5通りの場合が考えられる。第1は全く露光処理がな
されていない場合である(以下、これを第1の場合と呼
ぶ)。第2は周辺領域5A、すなわち露光処理開始後に
露光される第1辺の途中まで露光処理がなされている場
合である(以下、これを第2の場合と呼ぶ)。第3は第
1辺の露光が完了して、次に周辺領域5Bでなる第2辺
の露光が開始される直前で露光処理が中断した場合であ
る(以下、これを第3の場合と呼ぶ)。第4は第2辺の
途中まで露光処理がなされていた場合である(以下、こ
れを第4の場合と呼ぶ)。第5は第1辺及び第2辺共に
露光処理を完了した時点で露光処理が中断した場合であ
る(以下、これを第5の場合と呼ぶ)。
In the above structure, the control unit 3 controls the exposure processing of the main body unit 2 according to the procedure described below when the exposure apparatus 1 is activated. The following five cases can be considered as the exposure processing state of the rectangular substrate 5 remaining in the main body 2 at the time of restart. The first is the case where no exposure processing is performed (hereinafter, this is referred to as the first case). The second is the case where the exposure process is performed up to the middle of the peripheral region 5A, that is, the first side exposed after the start of the exposure process (hereinafter, this is referred to as the second case). The third is a case where the exposure process is interrupted immediately after the exposure of the first side is completed and the exposure of the second side of the peripheral region 5B is next started (hereinafter, this is referred to as a third case). ). The fourth is a case where the exposure process is performed up to the middle of the second side (hereinafter, this is referred to as a fourth case). Fifth is a case where the exposure process is interrupted when the exposure process is completed for both the first side and the second side (hereinafter, this is referred to as the fifth case).

【0017】図4に示すように、まずステツプSP1で
上位コントローラ9(図1)による手順を開始し、上位
コントローラ9は、ステツプSP2で露光処理が終了し
ているか否か、すなわち基板ステージ4(図1)上に角
形基板5(図1)が残留しているか否かを判別する。上
位コントローラ9は、残留していない場合にステツプS
P15に進み手順を終了させる。また上位コントローラ
9は、角形基板5が残留している場合はステツプSP3
に進む。次に上位コントローラ9は、ステツプSP3に
おいて、残留している角形基板5の露光処理状態を記録
部11(図1)から読み出して、第1又は第2の場合、
すなわち第1辺の露光が未完了状態であるか否かを判別
する。上位コントローラ9は、露光処理状態が第1又は
第2の場合で無ければステツプSP10に進む。上位コ
ントローラ9は、第1又は第2の場合であれば、ステツ
プSP4で下位コントローラ10(図1)に対してコマ
ンド信号S1を発行させる。この際、上位コントローラ
9は、コマンド信号S1の発行と共に、コマンド信号S
1で示されている指示内容を記憶部11(図1)に記憶
させる。この後、上位コントローラ9は、下位コントロ
ーラ10からコマンド信号S1による露光処理が終了し
たことを示す応答信号S3が送出されるまで、ステツプ
SP5で、応答待ちをする。
As shown in FIG. 4, first, the procedure by the host controller 9 (FIG. 1) is started in step SP1, and the host controller 9 determines whether or not the exposure process is completed in step SP2, that is, the substrate stage 4 ( It is determined whether or not the rectangular substrate 5 (FIG. 1) remains on the (FIG. 1). If the host controller 9 does not remain, the step S
Proceed to P15 to end the procedure. Further, if the rectangular substrate 5 remains, the host controller 9 proceeds to step SP3.
Proceed to. Next, the host controller 9 reads the exposure processing state of the remaining rectangular substrate 5 from the recording unit 11 (FIG. 1) in step SP3, and in the first or second case,
That is, it is determined whether or not the exposure of the first side is incomplete. The host controller 9 proceeds to step SP10 if the exposure processing state is not the first or second case. In the case of the first or second case, the upper controller 9 causes the lower controller 10 (FIG. 1) to issue the command signal S1 in step SP4. At this time, the host controller 9 issues the command signal S1 and the command signal S1.
The instruction content indicated by 1 is stored in the storage unit 11 (FIG. 1). Thereafter, the upper controller 9 waits for a response at step SP5 until the lower controller 10 sends a response signal S3 indicating that the exposure processing by the command signal S1 is completed.

【0018】ステツプSP6において、上位コントロー
ラ9からのコマンド信号S1に応じて、下位コントロー
ラ10は制御処理をステツプSP7に進める。なお、下
位コントローラ10はコマンド信号S1が発行されるま
でステツプSP6にて指示待ち状態になつている。続い
て、下位コントローラ10は、ステツプSP7で、コマ
ンド信号S1によつて示される指示内容が第1辺の露光
であるか否かを判別する。下位コントローラ10は、第
1辺の露光で無い場合はステツプSP13に進む。下位
コントローラ10は、コマンド信号S1が第1辺の露光
を指示するものである場合は、ステツプSP8で、第1
辺の露光を実施する。こうして第1辺の露光が完了した
ら、下位コントローラ10は、ステツプSP9で、上位
コントローラ9に応答信号S3を送出して指示された露
光処理が終了したことを通知する。なお下位コントロー
ラ10は、この応答信号S3の送出後、再び指示待ち状
態に戻る(SP6)。
In step SP6, the lower controller 10 advances the control processing to step SP7 in response to the command signal S1 from the upper controller 9. The lower controller 10 waits for an instruction at step SP6 until the command signal S1 is issued. Subsequently, the lower controller 10 determines in step SP7 whether the instruction content indicated by the command signal S1 is the exposure of the first side. If the exposure is not for the first side, the lower controller 10 proceeds to step SP13. If the command signal S1 is for instructing the exposure of the first side, the lower controller 10 proceeds to step SP8 for the first
Perform edge exposure. When the exposure of the first side is completed in this way, the lower controller 10 sends a response signal S3 to the upper controller 9 in step SP9 to notify that the instructed exposure process is completed. The lower controller 10 returns to the instruction waiting state again after sending the response signal S3 (SP6).

【0019】この応答信号S3による通知に応じて、上
位コントローラ9はステツプSP11に処理を進める。
上位コントローラ9は、ステツプSP3で第1又は第2
の場合で無いと判別された場合に、ステツプSP10
で、第3又は第4の場合であるか否を判別し、第3又は
第4の場合にはステツプSP11に処理を進める。なお
上位コントローラ9は、ステツプSP10で第3又は第
4の場合では無いことが判別された場合に、ステツプS
P15に進んで手順を終了する。上位コントローラ9
は、第3又は第4の場合であれば、ステツプSP11で
下位コントローラ10に対してコマンド信号S1を発行
させる。この際、上位コントローラ9は、コマンド信号
S1の発行と共に、コマンド信号S1で示されている指
示内容を記憶部11に記憶させる。この後、上位コント
ローラ9は、下位コントローラ10からコマンド信号S
1による露光処理が終了したことを示す応答信号S3が
送出されるまで、ステツプSP12で、応答待ちをす
る。
In response to the notification by the response signal S3, the host controller 9 advances the processing to step SP11.
The host controller 9 executes the first or second step SP3.
If it is determined that it is not the case, step SP10
Then, it is determined whether or not it is the third or fourth case, and if it is the third or fourth case, the process proceeds to step SP11. It should be noted that when the higher-level controller 9 determines in step SP10 that it is not the third or fourth case, step S10
Proceed to P15 to end the procedure. Upper controller 9
In the third or fourth case, at step SP11, the lower controller 10 is issued a command signal S1. At this time, the host controller 9 stores the instruction content indicated by the command signal S1 in the storage unit 11 together with issuing the command signal S1. Thereafter, the upper controller 9 sends the command signal S from the lower controller 10.
The response is awaited at step SP12 until the response signal S3 indicating that the exposure processing by 1 has been completed is transmitted.

【0020】次にステツプSP6で、コマンド信号S1
の発行に応じて下位コントローラ10の制御処理を次の
ステツプに進ませる。続いて、下位コントローラ10
は、ステツプSP7で、コマンド信号S1によつて示さ
れる指示内容が第1辺の露光であるか否かを判別する。
ここでは第1辺の露光では無いので、下位コントローラ
10は、ステツプSP13に進む。下位コントローラ1
0は、ステツプSP13において、コマンド信号S1に
よる指示内容が第2辺の露光であるため、第2辺の露光
を実施させる。下位コントローラ10は、第2辺の露光
が完了したら、ステツプSP14で、上位コントローラ
9に応答信号S3を送出して指示された露光処理が終了
したことを通知する。なお下位コントローラ10は、こ
の応答信号S3の送出後、再び指示待ち状態に戻る(S
P6)。こうして第2辺の露光が完了したら、ステツプ
SP15で、露光制御の手順を終了させる。
Next, at step SP6, the command signal S1
Is issued, the control process of the lower controller 10 is advanced to the next step. Then, the lower controller 10
In step SP7, it is determined whether or not the instruction content indicated by the command signal S1 is the exposure of the first side.
Since the exposure is not for the first side here, the lower controller 10 proceeds to step SP13. Lower controller 1
0 causes the second side exposure to be performed because the instruction content of the command signal S1 in step SP13 is the second side exposure. When the exposure of the second side is completed, the lower controller 10 sends a response signal S3 to the upper controller 9 in step SP14 to notify that the instructed exposure process is completed. The low-order controller 10 returns to the instruction waiting state again after sending the response signal S3 (S
P6). When the exposure of the second side is completed in this way, the procedure of exposure control is ended in step SP15.

【0021】このように露光装置1では、上位コントロ
ーラ9により露光制御の指示がなされる毎にこの指示内
容を不揮発性でなる記憶部11で記憶させ、露光部7が
停止する等して露光処理が中断した場合、再起動時に記
憶部11に記憶されている記憶内容を読み出して中断し
た部分から露光処理を再開するようにしたことにより、
従来の露光処理の中断時になされていた角形基板5の装
置外への排出及び再投入の手間を省くことができる。
As described above, in the exposure apparatus 1, each time the host controller 9 issues an exposure control instruction, the instruction content is stored in the non-volatile storage unit 11, and the exposure unit 7 is stopped to perform the exposure process. Is interrupted, the memory content stored in the storage unit 11 is read at the time of restart and the exposure process is restarted from the interrupted portion.
It is possible to save the trouble of discharging and re-inputting the rectangular substrate 5 out of the apparatus, which has been done when the conventional exposure process is interrupted.

【0022】以上の構成によれば、角形基板5の周辺領
域に対する露光処理状態を記憶する不揮発性でなる記憶
部11と、露光部7の再起動時に記憶部11の記憶して
いる露光処理状態に基づいて、露光を実行する上位コン
トローラ9及び下位コントローラ10とによつて、再起
動時、再起動前の露光処理状態に基づき露光処理を再開
するようにしたことにより、露光部7停止時に本体部2
内に存在する露光未完了の角形基板5の露光処理を速や
かに行うことができるので、この角形基板5が排出及び
再投入されることを回避することができ、かくして角形
基板5の周辺領域を露光する際のスループツト低下を防
止し得る露光装置1を実現することができる。
According to the above configuration, the non-volatile storage unit 11 for storing the exposure processing state for the peripheral area of the rectangular substrate 5, and the exposure processing state stored in the storage unit 11 when the exposure unit 7 is restarted. Based on the above, the upper controller 9 and the lower controller 10 that perform the exposure restart the exposure processing based on the exposure processing state before the restart at the time of restart, so that the main body when the exposure unit 7 is stopped. Part 2
Since it is possible to quickly perform the exposure processing of the rectangular substrate 5 in which the exposure is not completed, it is possible to prevent the rectangular substrate 5 from being discharged and reloaded, and thus the peripheral region of the rectangular substrate 5 can be prevented. It is possible to realize the exposure apparatus 1 capable of preventing a decrease in throughput during exposure.

【0023】(2)第2実施例 図1との対応部分に同一符号を付して示す図5におい
て、20は全体として露光装置を示し、感光基板上の周
辺部に存在する本来のパターン転写と無関係な領域部分
のレジスト層に露光処理を施すようになされている。ち
なみに、こうして露光処理された感光基板の周辺部のレ
ジストは、現像処理された後に剥離され、本来のパター
ン転写がなされる領域にゴミ等として付着しないように
処理される。露光装置20は図1によるものと同一構成
でなる本体部2と制御部21とから構成されており、制
御部21から与えられる制御命令に応じて本体部2が基
板上の周辺領域に露光処理を施すようになされている。
(2) Second Embodiment In FIG. 5 in which parts corresponding to those in FIG. 1 are designated by the same reference numerals, numeral 20 indicates an exposure apparatus as a whole, and the original pattern transfer existing in the peripheral portion on the photosensitive substrate is transferred. The resist layer in a region irrelevant to is subjected to exposure processing. By the way, the resist on the peripheral portion of the photosensitive substrate thus exposed is peeled off after being developed, and is treated so as not to adhere as dust or the like to the area where the original pattern is transferred. The exposure apparatus 20 is composed of a main body 2 having the same configuration as that shown in FIG. 1 and a controller 21, and the main body 2 exposes a peripheral area on a substrate in accordance with a control command given from the controller 21. It is designed to be applied.

【0024】本体部2は基板ステージ4上に配された角
形基板5に露光処理を施す。基板ステージ4は角形基板
5を所定の露光位置にアライメント処理し、この露光位
置で角形基板5を保持する。基板ステージ4の上部には
T字状でなる移動部6が設けられている。また移動部6
の基板ステージ4上に向かつて垂直方向に張り出したア
ーム部6Aには露光部7が設けられている。移動部6は
図中に示すX軸方向に沿つて移動するようになされてお
り、アーム部6Aに設けられている露光部7を角形基板
5に対して平行移動させるようになされている。さらに
露光部7は角形基板5の幅とほぼ同じ間隔を有して配さ
れた2つの露光光照射部でなり、底部に形成されている
スリツト状の出射口(図示せず)から下方の基板ステー
ジ4上に配された角形基板5に露光光を照射する。
The main body 2 subjects the rectangular substrate 5 arranged on the substrate stage 4 to an exposure process. The substrate stage 4 performs alignment processing on the rectangular substrate 5 at a predetermined exposure position, and holds the rectangular substrate 5 at this exposure position. A moving portion 6 having a T-shape is provided above the substrate stage 4. The moving part 6
An exposure section 7 is provided on an arm section 6A that extends vertically above the substrate stage 4. The moving unit 6 is configured to move along the X-axis direction shown in the figure, and the exposing unit 7 provided on the arm 6A is moved in parallel with the rectangular substrate 5. Further, the exposure part 7 is composed of two exposure light irradiation parts which are arranged at intervals substantially the same as the width of the rectangular substrate 5, and the substrate below the slit-shaped emission port (not shown) formed in the bottom part. Exposure light is applied to the rectangular substrate 5 arranged on the stage 4.

【0025】こうして照射された露光光は角形基板5の
対向する2辺に沿つた所定領域でなる周辺領域5Aにの
み局所的に照射され、この周辺領域5Aのみを感光させ
る(図2)。また基板ステージ4は回転自在な支柱でな
る回転部8によつて支持されており、周辺領域5Aに露
光処理を施した後、回転部8によつて基板ステージ4を
90度回転させて同様に露光処理することにより、角形
基板5の他の2辺に沿つた所定領域でなる周辺領域5B
に露光処理を施す(図3)。このように、本体部2は角
形基板5の4辺に沿つた周辺領域5A及び5Bに露光処
理を施して感光させるようになされている。
The exposure light thus radiated is locally radiated only to the peripheral region 5A, which is a predetermined region along the two opposite sides of the rectangular substrate 5, and exposes only the peripheral region 5A (FIG. 2). Further, the substrate stage 4 is supported by a rotating unit 8 which is a rotatable column, and after the peripheral region 5A is subjected to an exposure process, the rotating unit 8 rotates the substrate stage 4 by 90 degrees and similarly. By performing the exposure process, the peripheral region 5B which is a predetermined region along the other two sides of the rectangular substrate 5
Is exposed to light (FIG. 3). In this way, the main body 2 is configured to expose the peripheral regions 5A and 5B along the four sides of the rectangular substrate 5 by exposure.

【0026】また本体部2は制御部21によつて露光処
理を制御されており、制御部21から与えられる制御信
号に応じて角形基板5に露光処理を施す。制御部21は
上位コントローラ22、下位コントローラ10及び記憶
部11で構成されている。上位コントローラ22は角形
基板5に対する露光量や露光パターン等を含む露光デー
タを管理する。上位コントローラ22はこうした露光デ
ータに基づいて、角形基板5の各辺を露光処理する毎に
下位コントローラ10にコマンド信号S4を発行する。
ここでコマンド信号S4は、「どの辺に対して露光処理
を開始せよ」という指示内容でなる。また上位コントロ
ーラ22は下位コントローラ10に発行したコマンド信
号S4の指示内容を記憶部11に随時記憶させる。上位
コントローラ9は停電等の発生によつて露光処理が中断
した場合、再起動時に記憶部11の記憶内容を読み出し
て中断前になされていた露光処理を再開する。
The main body 2 is controlled by the control unit 21 to perform the exposure process, and performs the exposure process on the rectangular substrate 5 in accordance with a control signal given from the control unit 21. The control unit 21 is composed of an upper controller 22, a lower controller 10, and a storage unit 11. The upper controller 22 manages the exposure data including the exposure amount and the exposure pattern for the rectangular substrate 5. The upper controller 22 issues a command signal S4 to the lower controller 10 each time each side of the rectangular substrate 5 is exposed based on the exposure data.
Here, the command signal S4 has an instruction content of “which side should start the exposure processing”. The upper controller 22 also causes the storage unit 11 to store the instruction content of the command signal S4 issued to the lower controller 10 at any time. When the exposure process is interrupted due to the occurrence of a power failure or the like, the host controller 9 reads the stored contents of the storage unit 11 at the time of restart and restarts the exposure process that was performed before the interruption.

【0027】下位コントローラ10はコマンド信号S4
で示される指示内容にしたがつて本体部2に露光処理の
ための制御信号S2を送出する。制御信号S2はコマン
ド信号S4に応じた露光処理を実行するために、「露光
光の照射を開始せよ/停止せよ」、「移動部の移動を開
始せよ/停止せよ」といつた制御内容でなる。また下位
コントローラ10は制御信号S2によつて本体部2の露
光処理を制御すると共に、本体部2による露光処理状態
を随時検出している。下位コントローラ10は、コマン
ド信号S4による露光処理が完了したことを検出した
ら、上位コントローラ21に応答信号S3を送出して、
次の指示を待つ。
The lower controller 10 sends a command signal S4
A control signal S2 for exposure processing is sent to the main body 2 in accordance with the instruction content indicated by. The control signal S2 has the control contents of "start / stop irradiation of exposure light" and "start / stop movement of the moving part" in order to execute the exposure process according to the command signal S4. . Further, the subordinate controller 10 controls the exposure processing of the main body 2 by the control signal S2 and detects the exposure processing state of the main body 2 as needed. When detecting that the exposure process by the command signal S4 is completed, the lower controller 10 sends a response signal S3 to the upper controller 21,
Wait for the next instruction.

【0028】さらに記憶部11は電気的に記憶内容を消
去及び再書き込みし得ると共に、電源電圧が無くとも記
憶内容を保持し得るメモリ素子(以下、これを電気的消
去形読出し専用メモリと呼ぶ)でなる。このため、記憶
部11は停電等による露光装置1の停止時においても、
記憶内容を保持することができる。
Further, the storage unit 11 can electrically erase and rewrite the stored contents, and can retain the stored contents even if there is no power supply voltage (hereinafter referred to as an electrically erased read-only memory). It consists of Therefore, the storage unit 11 keeps the exposure device 1 even when the exposure apparatus 1 is stopped due to a power failure or the like
The stored contents can be retained.

【0029】以上の構成において、制御部21は露光装
置20の起動時に、以下に説明する手順にしたがつて本
体部2の露光処理を制御する。図6に示すように、まず
ステツプSP20で上位コントローラ22(図5)によ
る手順を開始し、上位コントローラ22は、ステツプS
P21で露光処理が終了しているか否かを記録部11に
記録されている露光処理状態に基づいて判別する。上位
コントローラ22は、露光処理が終了している場合にス
テツプSP32に進んで手順を終了させる。また上位コ
ントローラ22は、露光処理が終了していない場合に次
のステツプSP22に進む。上位コントローラ22は、
ステツプSP22において、下位コントローラ10(図
5)に対してコマンド信号S4を発行させる。この際、
上位コントローラ22は、コマンド信号S4の発行と共
に、コマンド信号S4で示されている指示内容を記憶部
11(図5)に記憶させる。この後、上位コントローラ
22は、下位コントローラ10からコマンド信号S4に
よる露光処理が終了したことを示す応答信号S3が送出
されるまで、ステツプSP23で、応答待ちをする。
In the above structure, the control unit 21 controls the exposure processing of the main body unit 2 according to the procedure described below when the exposure apparatus 20 is activated. As shown in FIG. 6, first, in step SP20, the procedure by the host controller 22 (FIG. 5) is started.
In P21, it is determined whether or not the exposure processing is completed based on the exposure processing state recorded in the recording unit 11. When the exposure process is completed, the host controller 22 proceeds to step SP32 to end the procedure. If the exposure process is not completed, the host controller 22 proceeds to the next step SP22. The host controller 22 is
At step SP22, the command signal S4 is issued to the lower controller 10 (FIG. 5). On this occasion,
The upper controller 22 stores the instruction content indicated by the command signal S4 in the storage unit 11 (FIG. 5) as well as issuing the command signal S4. After that, the upper controller 22 waits for a response in step SP23 until the lower controller 10 sends a response signal S3 indicating that the exposure processing by the command signal S4 is completed.

【0030】次にステツプSP24で、コマンド信号S
4の発行に応じて下位コントローラ10の制御処理を次
のステツプに進ませる。なお、下位コントローラ10は
コマンド信号S4が発行されるまで指示待ち状態になつ
ている。続いて、下位コントローラ10は、ステツプS
P25で、コマンド信号S4によつて示される指示内容
が第1辺の露光を指示するものであるか否かを判別す
る。下位コントローラ10は、第1辺の露光で無い場合
はステツプSP30に進む。下位コントローラ10は、
コマンド信号S4が第1辺の露光を指示するものである
場合は、ステツプSP26で、第1辺の露光を実施す
る。下位コントローラ10は、第1辺の露光が完了した
ら、ステツプSP27で、上位コントローラ22に応答
信号S3を送出して指示された露光処理が終了したこと
を通知する。なお下位コントローラ10は、この応答信
号S3の送出後、再び指示待ち状態に戻る(SP2
4)。
Next, at step SP24, the command signal S
4 is issued, the control process of the lower controller 10 is advanced to the next step. The lower controller 10 waits for an instruction until the command signal S4 is issued. Then, the lower-level controller 10 proceeds to step S.
In P25, it is determined whether or not the instruction content indicated by the command signal S4 is for instructing the exposure of the first side. If the exposure is not for the first side, the lower controller 10 proceeds to step SP30. The lower controller 10
When the command signal S4 is for instructing the exposure of the first side, the exposure of the first side is executed in step SP26. When the exposure of the first side is completed, the lower controller 10 sends a response signal S3 to the upper controller 22 in step SP27 to notify that the instructed exposure process is completed. The lower-level controller 10 returns to the instruction waiting state again after sending the response signal S3 (SP2
4).

【0031】この応答信号S3による通知に応じて、上
位コントローラ22はステツプSP28に処理を進め
る。上位コントローラ22は、ステツプSP28におい
て、第2辺に露光処理を行うため、下位コントローラ1
0に対してコマンド信号S4を発行させる。この際、上
位コントローラ22は、コマンド信号S4の発行と共
に、コマンド信号S4で示されている指示内容を記憶部
11に記憶させる。この後、上位コントローラ22は、
下位コントローラ10からコマンド信号S4による露光
処理が終了したことを示す応答信号S3が送出されるま
で、ステツプSP29で、応答待ちをする。
In response to the notification by the response signal S3, the host controller 22 advances the processing to step SP28. Since the upper controller 22 performs the exposure process on the second side in step SP28, the lower controller 1
A command signal S4 is issued to 0. At this time, the upper controller 22 issues the command signal S4 and stores the instruction content indicated by the command signal S4 in the storage unit 11. After this, the host controller 22
The response is awaited at step SP29 until the response signal S3 indicating that the exposure process by the command signal S4 is completed is sent from the lower controller 10.

【0032】次にステツプSP24で、コマンド信号S
4の発行に応じて下位コントローラ10の制御処理を次
のステツプに進ませる。続いて、下位コントローラ10
は、ステツプSP25で、コマンド信号S4によつて示
される指示内容が第1辺の露光であるか否かを判別す
る。下位コントローラ10は、第1辺の露光では無いの
で、ステツプSP30に進む。下位コントローラ10
は、ステツプSP30では、コマンド信号S4による指
示内容が第2辺の露光であるため、第2辺の露光を実施
させる。下位コントローラ10は、第2辺の露光が完了
したら、ステツプSP31で、上位コントローラ22に
応答信号S3を送出して指示された露光処理が終了した
ことを通知する。なお下位コントローラ10は、この応
答信号S3の送出後、再び指示待ち状態に戻る(SP2
4)。こうして第2辺の露光が完了したら、ステツプS
P32で、露光制御の手順を終了させる。
Next, at step SP24, the command signal S
4 is issued, the control process of the lower controller 10 is advanced to the next step. Then, the lower controller 10
In step SP25, it is determined whether the instruction content indicated by the command signal S4 is the exposure of the first side. Since the low-order controller 10 is not the exposure for the first side, the process proceeds to step SP30. Lower controller 10
In step SP30, since the instruction content by the command signal S4 is the exposure of the second side, the second side is exposed. When the exposure of the second side is completed, the lower controller 10 sends a response signal S3 to the upper controller 22 in step SP31 to notify that the instructed exposure process is completed. The lower-level controller 10 returns to the instruction waiting state again after sending the response signal S3 (SP2
4). When the exposure of the second side is completed in this way, step S
In P32, the exposure control procedure is ended.

【0033】このように露光装置20では、上位コント
ローラ22により露光制御の指示がなされる毎にこの指
示内容を不揮発性でなる記憶部11で記憶させると共
に、露光部7が停止する等して露光処理が中断した場
合、再起動時に記憶部11に記憶されている記憶内容を
読み出して露光処理を再開するようにしたことにより、
従来の露光処理の中断時になされていた角形基板5の装
置外への排出及び再投入の手間を省くことができる。ま
た露光処理の進行度にかかわらず露光未完了な角形基板
5には、処理中断後の再開時に一律に第1辺から露光処
理を再開して施すようにしたことにより、露光制御のた
めの処理を簡素化することができる。
As described above, in the exposure apparatus 20, each time the host controller 22 issues an exposure control instruction, the instruction content is stored in the non-volatile storage unit 11, and the exposure unit 7 is stopped to perform exposure. When the processing is interrupted, the memory content stored in the storage unit 11 is read at the time of restart, and the exposure processing is restarted.
It is possible to save the trouble of discharging and re-inputting the rectangular substrate 5 out of the apparatus, which has been done when the conventional exposure process is interrupted. Further, regardless of the progress of the exposure process, the rectangular substrate 5 that has not been exposed is uniformly restarted from the first side when the process is resumed after the process is interrupted. Can be simplified.

【0034】以上の構成によれば、角形基板5の周辺領
域に対する露光処理状態を記憶する不揮発性でなる記憶
部11と、露光部7の再起動時に記憶部11の記憶して
いる露光処理状態に基づいて、露光を実行する上位コン
トローラ22及び下位コントローラ10とによつて、再
起動時、一律に第1辺から露光処理を再開して施すよう
にしたことにより、露光部7停止時に本体部2内に存在
する露光未完了の角形基板5の露光処理を速やかに行う
ことができるので、この角形基板5が排出及び再投入さ
れることを回避することができ、かくして簡素化された
処理手順によつて角形基板5の周辺領域を露光する際の
スループツト低下を防止し得る露光装置20を実現する
ことができる。
According to the above configuration, the nonvolatile storage unit 11 for storing the exposure processing state for the peripheral area of the rectangular substrate 5, and the exposure processing state stored in the storage unit 11 when the exposure unit 7 is restarted. Based on the above, the upper controller 22 and the lower controller 10 that perform the exposure uniformly restart the exposure process from the first side at the time of restarting, so that the main body unit is stopped when the exposure unit 7 is stopped. Since it is possible to quickly perform the exposure processing of the unexposed rectangular substrate 5 present in the second substrate 2, it is possible to prevent the rectangular substrate 5 from being discharged and re-input, and thus, the simplified processing procedure. As a result, it is possible to realize the exposure apparatus 20 capable of preventing a decrease in throughput when exposing the peripheral region of the rectangular substrate 5.

【0035】(3)他の実施例 なお上述の第1及び第2実施例においては、電気的消去
形読出し専用メモリでなる記憶部11を設けた場合につ
いて述べたが、本発明はこれに限らず、例えばハードデ
イスクでなる記憶部を設けた場合についても適用し得
る。要は、電源電圧が無くなつた場合でも記憶内容を保
持し得る不揮発性の記憶手段であればよい。
(3) Other Embodiments In the first and second embodiments described above, the case where the storage section 11 which is an electrically erasable read-only memory is provided has been described, but the present invention is not limited to this. Alternatively, the present invention can be applied to the case where a storage unit including a hard disk is provided. In short, any non-volatile storage means that can retain the stored contents even when the power supply voltage is used up is sufficient.

【0036】また上述の第1及び第2実施例において
は、ロの字形でなる露光パターンを角形基板5に露光処
理する露光装置1及び20の場合について述べたが、本
発明はこれに限らず、例えば図7に示すような田の字形
の露光パターンを基板上に露光処理する露光装置に適用
してもよい。
Further, in the above-mentioned first and second embodiments, the case of the exposure apparatuses 1 and 20 for exposing and processing the square-shaped exposure pattern on the rectangular substrate 5 has been described, but the present invention is not limited to this. Alternatively, for example, it may be applied to an exposure apparatus that performs exposure processing on a substrate with a square-shaped exposure pattern as shown in FIG.

【0037】さらに上述の第1及び第2実施例において
は、角形基板5を一枚づつ投入及び排出する露光装置1
及び20の場合について述べたが、本発明はこれに限ら
ず、例えば複数基板を収納する収納部を有し、この収納
部毎投入及び排出することにより一度に多数の基板の投
入及び排出を行い得る露光装置に適用してもよい。この
ような露光装置では露光処理が停止する毎に収納部内の
全ての基板を排出し再投入するようになされていたた
め、本発明を適用することにより排出及び再投入に要す
る手間を省くことができ、上述の第1及び第2実施例に
よる露光装置に比してより大きな効果を得ることができ
る。
Further, in the above-mentioned first and second embodiments, the exposure apparatus 1 for loading and unloading the rectangular substrates 5 one by one.
However, the present invention is not limited to this, and has, for example, a storage unit for storing a plurality of substrates, and by inputting and discharging each storage unit, a large number of substrates can be input and output at one time. It may be applied to the obtained exposure apparatus. In such an exposure apparatus, every substrate in the storage unit is discharged and reloaded every time the exposure process is stopped, and therefore, by applying the present invention, the time and effort required for discharging and reloading can be saved. As compared with the exposure apparatus according to the first and second embodiments described above, a greater effect can be obtained.

【0038】また上述の第1及び第2実施例において
は、露光部7の底部にそれぞれ一つづつ設けられたスリ
ツトから角形基板5に露光光を照射する露光装置1及び
20の場合について述べたが、本発明はこれに限らず、
例えばスリツトを2つづつ有する露光部によつて基板上
に露光光を照射するようにしてもよく、露光部に設ける
スリツトの数によらず実施例と同様の効果を得ることが
できる。
Further, in the above-mentioned first and second embodiments, the case of the exposure apparatuses 1 and 20 in which the rectangular substrate 5 is irradiated with the exposure light from the slits provided at the bottom of the exposure unit 7 respectively, has been described. However, the present invention is not limited to this,
For example, the exposure light may be irradiated onto the substrate by the exposure unit having two slits, and the same effect as that of the embodiment can be obtained regardless of the number of slits provided in the exposure unit.

【0039】また上述の第1及び第2実施例において
は、上位コントローラ9又は22、下位コントローラ1
0を設けた制御部3又は21によつて露光処理を制御す
る露光装置1又は20の場合について述べたが、本発明
はこれに限らず、例えば上位コントローラ9又は22と
下位コントローラ10とを分割せずに一つにまとめた露
光処理コントローラを有する露光装置に適用してもよ
い。この場合、露光処理コントローラ内での制御を上位
コントローラ及び下位コントローラにそれぞれ対応した
マルチタスクで定義して並行処理し、両タスク間でのコ
マンド信号及び応答信号のやりとりをタスク間通信の形
で行うことにより、実施例と同様の効果を得ることがで
きる。
In the above-mentioned first and second embodiments, the upper controller 9 or 22 and the lower controller 1
The case of the exposure apparatus 1 or 20 in which the exposure process is controlled by the control unit 3 or 21 provided with 0 has been described, but the present invention is not limited to this, and the upper controller 9 or 22 and the lower controller 10 are divided, for example. Instead, it may be applied to an exposure apparatus having an exposure processing controller integrated into one. In this case, control in the exposure processing controller is defined by multitasking corresponding to the upper controller and lower controller, and parallel processing is performed, and command signals and response signals are exchanged between both tasks in the form of intertask communication. As a result, the same effect as that of the embodiment can be obtained.

【0040】[0040]

【発明の効果】上述のように本発明によれば、周辺領域
に対する露光処理状態を記憶する不揮発性の記憶手段
と、露光光を照射する露光部の再起動時に記憶手段の記
憶している露光処理状態に基づいて露光を実行する露光
制御手段とを設け、露光部の再起動時、再起動前の露光
処理状態に基づき露光を実行するようにしたことによ
り、露光部停止時に露光部内に存在する露光未完了の基
板の露光処理を速やかに行うことができるので、この基
板が排出及び再投入されることを回避することができ、
かくしてリソグラフイ工程における基板の周辺領域を露
光する際のスループツト低下を防止し得る露光装置を実
現することができる。
As described above, according to the present invention, the non-volatile storage means for storing the exposure processing state for the peripheral area and the exposure stored in the storage means at the time of restarting the exposure unit for irradiating the exposure light. An exposure control unit that executes exposure based on the processing state is provided, and when the exposure unit is restarted, the exposure is performed based on the exposure processing state before the restart, so that the exposure unit exists in the exposure unit when the exposure unit is stopped. Since it is possible to quickly perform the exposure processing of the unexposed substrate, it is possible to prevent the substrate from being discharged and re-input,
Thus, it is possible to realize an exposure apparatus capable of preventing a decrease in throughput when exposing the peripheral area of the substrate in the lithographic process.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】第1実施例による露光装置の構成を示すブロツ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of an exposure apparatus according to a first embodiment.

【図2】基板に対する露光方向及び露光領域を示す平面
図である。
FIG. 2 is a plan view showing an exposure direction and an exposure area with respect to a substrate.

【図3】実施例による基板の露光パターンを示す平面図
である。
FIG. 3 is a plan view showing an exposure pattern of a substrate according to an example.

【図4】第1実施例による露光処理の制御手順を示すフ
ローチヤートである。
FIG. 4 is a flow chart showing a control procedure of exposure processing according to the first embodiment.

【図5】第2実施例による露光装置の構成を示すブロツ
ク図である。
FIG. 5 is a block diagram showing a configuration of an exposure apparatus according to a second embodiment.

【図6】第2実施例による露光処理の制御手順を示すフ
ローチヤートである。
FIG. 6 is a flow chart showing a control procedure of exposure processing according to the second embodiment.

【図7】他の実施例による露光パターンを示す平面図で
ある。
FIG. 7 is a plan view showing an exposure pattern according to another embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1、20……露光装置、2……本体部、3、21……制
御部、4……基板ステージ、5……角形基板、5A、5
B……周辺領域、6……移動部、6A……アーム部、7
……露光部、8……回転部、9、22……上位コントロ
ーラ、10……下位コントローラ、11……記憶部。
1, 20 ... Exposure device, 2 ... Main body part, 3, 21 ... Control part, 4 ... Substrate stage, 5 ... Rectangular substrate, 5A, 5
B: peripheral area, 6: moving part, 6A: arm part, 7
...... Exposure unit, 8 ...... Rotating unit, 9, 22 ...... Upper controller, 10 ...... Lower controller, 11 ...... Memory unit.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】感光基板を保持する保持部と、露光光を照
射する露光部と、前記保持部と前記露光部とを相対移動
する移動部とを有し、前記感光基板の周辺領域を露光す
る露光装置において、 前記周辺領域に対する露光処理状態を記憶する不揮発性
の記憶手段と、 前記露光部を再起動するときに、前記記憶手段の記憶し
ている前記露光処理状態に基づいて、前記露光を実行す
る露光制御手段とを具えることを特徴とする露光装置。
1. A holding unit for holding a photosensitive substrate, an exposing unit for irradiating exposure light, and a moving unit for relatively moving the holding unit and the exposing unit, exposing a peripheral region of the photosensitive substrate. In the exposure apparatus, a non-volatile storage unit that stores an exposure processing state for the peripheral area and the exposure processing state stored in the storage unit when the exposure unit is restarted An exposure apparatus comprising:
【請求項2】前記記憶手段は、 ハードデイスクまたは電気的消去形読出し専用メモリで
なることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
2. The exposure apparatus according to claim 1, wherein the storage means is a hard disk or an electrically erasable read-only memory.
【請求項3】前記感光基板は角形の感光基板でなり、 前記露光制御手段は、 前記角形基板の対向する2つの辺を第1の周辺領域とし
て露光した後に、前記第1の周辺領域とほぼ直交する前
記角形基板の対向する2つの辺を第2の周辺領域として
露光すると共に、前記再起動時に前記第1の周辺領域か
ら前記露光を再開することを特徴とする請求項1に記載
の露光装置。
3. The photosensitive substrate is a prismatic photosensitive substrate, and the exposure control means exposes two opposing sides of the rectangular substrate as a first peripheral region, and then exposes the first peripheral region substantially. 2. The exposure according to claim 1, wherein two opposite sides of the rectangular substrate which are orthogonal to each other are exposed as a second peripheral region, and the exposure is restarted from the first peripheral region at the time of the restart. apparatus.
【請求項4】前記感光基板は角形の感光基板でなり、 前記露光制御手段は、 前記角形基板の対向する2つの辺を第1の周辺領域とし
て露光した後に、前記第1の周辺領域とほぼ直交する前
記角形基板の対向する2つの辺を第2の周辺領域として
露光すると共に、前記再起動時に前記第1の周辺領域の
露光が完了していないときは前記第1の周辺領域から前
記露光を再開し、前記再起動時に前記第1の周辺領域の
露光が完了しかつ前記第2の周辺領域の露光が完了して
いないときは前記第2の周辺領域から前記露光を再開す
ることを特徴とする請求項1に記載の露光装置。
4. The photosensitive substrate is a prismatic photosensitive substrate, and the exposure control means exposes two opposing sides of the rectangular substrate as a first peripheral region, and then exposes the first peripheral region substantially. The two opposite sides of the rectangular substrate which are orthogonal to each other are exposed as a second peripheral region, and when the exposure of the first peripheral region is not completed at the time of the restart, the exposure is performed from the first peripheral region. And restarting the exposure from the second peripheral area when the exposure of the first peripheral area is completed and the exposure of the second peripheral area is not completed at the time of the restart. The exposure apparatus according to claim 1.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012208140A (en) * 2011-03-29 2012-10-25 Fujifilm Corp Electron beam exposure system and electron beam exposure method

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