JPH09282887A - Semiconductor memory device - Google Patents

Semiconductor memory device

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JPH09282887A
JPH09282887A JP8110184A JP11018496A JPH09282887A JP H09282887 A JPH09282887 A JP H09282887A JP 8110184 A JP8110184 A JP 8110184A JP 11018496 A JP11018496 A JP 11018496A JP H09282887 A JPH09282887 A JP H09282887A
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JP
Japan
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write
memory
address
signal
data
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JP8110184A
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Hideaki Kobayashi
英明 小林
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a semiconductor memory device which performs a write operation without disturbing the operation of a memory in a next access cycle after the confirmation of whether the write operation of the memory can be performed or not by a method wherein a decoded address signal and write data are held. SOLUTION: In a memory write cycle, an address decoder 102 receives an address signal 109 so as to output an address decode signal 110. An address- decode-signal holding circuit 105 holds the address decode signal 110 by using a hold control signal 111 so as to be output to a word line 107. At this time, a write-data holding circuit 104 holds write data 112 by using the hold control signal 111. At the timing of a write pulse 113, a write circuit 103 outputs write data 114 from the write data holding circuit 104 to a bit line 108 so as to be written to a selected memory cell 106. The write pulse 113 is issued within a next access cycle after the confirmation of whether a write operation can be performed or not.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体記憶装置に
関し、特にプロセッサ等メモリをアクセスする装置のメ
モリアクセスの高速化技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor memory device, and more particularly to a technique for speeding up memory access of a memory access device such as a processor.

【0002】[0002]

【従来の技術】主記憶装置を対象とするリードモディフ
ァライト動作に要する時間を短縮する従来の記憶制御方
式として、例えば特開平3−35340号公報には、R
AS(ロウアドレスストローブ)オンリーリフレッシュ
機能を有するDRAMで記憶部が構成された主記憶装置
と、この記憶装置を制御するメモリコントローラで構成
されるシステムにおいて、メモリリードモディファイ命
令実行の際、リード時のエラー検出結果を待たずに、主
記憶装置にメモリライト要求を送出することにより、エ
ラーが無かった場合にエラーチェックサイクル分だけリ
ードモディファイライトの動作時間を短縮し、一方、エ
ラーが検出された場合には、次サイクルでライトイネー
ブル信号を制御し、書き込み動作を抑制するようにした
制御方式が提案されている。
2. Description of the Related Art As a conventional storage control method for reducing the time required for a read-modifier-write operation for a main storage device, for example, in Japanese Patent Laid-Open No. 3-35340, R
In a system including a main memory device having a memory unit formed of a DRAM having an AS (row address strobe) only refresh function and a memory controller controlling the memory device, a memory read modify instruction is executed at the time of reading. By sending a memory write request to the main memory without waiting for the error detection result, the read-modify-write operation time is shortened by an error check cycle when there is no error, while an error is detected. Proposes a control method in which the write enable signal is controlled in the next cycle to suppress the write operation.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上記特開平3−353
40号公報に記載の従来のメモリアクセス制御方式にお
いては、メモリリードモディファイ命令のリードデータ
に対するエラー検出サイクル分のメモリアクセスタイム
の改善に対しては確かに有効であるものの、マイクロプ
ロセッサ等の、SRAM(スタティックランダムアクセ
スメモリ)を用いたキャッシュシステムにおけるライト
命令発行時のライト命令に対するエラー検出に対しては
適用できない。例えばキャッシュメモリへのライト命令
実行時において、キャッシュのヒットが確認されるまで
(即ち書き込み可否が確認されるまで)、書き込み動作
は実行できず、このため上記特開平3−35340号公
報に記載されるような、エラー検出結果を待たずにメモ
リにライト要求を送出するという方式は適用できない。
DISCLOSURE OF THE INVENTION Problems to be Solved by the Invention
In the conventional memory access control method disclosed in Japanese Patent Publication No. 40, although it is certainly effective in improving the memory access time of the error detection cycle for the read data of the memory read modify instruction, the SRAM such as a microprocessor is used. This cannot be applied to error detection for a write instruction when a write instruction is issued in a cache system using (static random access memory). For example, at the time of executing a write command to the cache memory, the write operation cannot be executed until a cache hit is confirmed (that is, until write availability is confirmed). Therefore, the above-mentioned Japanese Patent Laid-Open No. 3-35340 discloses. The method of sending a write request to the memory without waiting for the error detection result as described above cannot be applied.

【0004】以下に本発明が解決しようとする課題につ
いて、図5及び図6を用いて詳細に説明する。
The problem to be solved by the present invention will be described in detail below with reference to FIGS. 5 and 6.

【0005】図5は、従来の半導体記憶装置の構成をブ
ロック図にて示したものである。図5を参照して、従来
の半導体記憶装置は、メモリアレイ501、アドレスデ
コーダ502、書き込み回路503から成り、また、メ
モリアレイ501は、メモリセル504、ワード線50
5、ビット線506から構成されている。また、アドレ
ス信号507がアドレスデコーダ502に、ライトデー
タ508及びライトパルス509が書き込み回路503
にそれぞれ入力されている。なお、図5においては、メ
モリアレイに含まれる複数のメモリセルのうち簡単のた
め一つのメモリセル504のみを示している。
FIG. 5 is a block diagram showing the structure of a conventional semiconductor memory device. Referring to FIG. 5, the conventional semiconductor memory device includes a memory array 501, an address decoder 502, and a write circuit 503. The memory array 501 includes a memory cell 504 and a word line 50.
5, bit line 506. Further, the address signal 507 is supplied to the address decoder 502, and the write data 508 and the write pulse 509 are supplied to the write circuit 503.
Are entered respectively. Note that, in FIG. 5, only one memory cell 504 is shown for simplification among a plurality of memory cells included in the memory array.

【0006】次に図6のタイムチャートを参照して、図
5に示した従来の半導体記憶装置の動作を説明する。
The operation of the conventional semiconductor memory device shown in FIG. 5 will be described below with reference to the time chart of FIG.

【0007】アドレス信号507(AD1)はアドレス
デコーダ502でデコードされワード線505に出力さ
れる。書き込み動作は、ライトパルス509のタイミン
グでライトデータ508(WD1)を用いて行われる。
その際、ライトパルス509のタイミングは、図6に一
点鎖線で示したように、アドレスデコーダ502による
アドレスデコードが完了しワード線505に出力され次
第可能であるが、実際には、ライトパルス509は、図
中実線で示したように、書き込み可否の確定が完了する
までは(即ち図中に書き込み確定信号の信号値が確定す
るまでは)、ライトパルス509をアクティブとするこ
とができないことが多く、このため、書き込みサイクル
タイムの時間長を増大させることが必要とされ、高速化
の実現が困難になるいう問題があった。
Address signal 507 (AD1) is decoded by address decoder 502 and output to word line 505. The write operation is performed using the write data 508 (WD1) at the timing of the write pulse 509.
At this time, the timing of the write pulse 509 can be set as soon as the address decoding by the address decoder 502 is completed and output to the word line 505, as shown by the dashed line in FIG. As shown by the solid line in the figure, the write pulse 509 cannot be activated in many cases until the determination of write enable / disable is completed (that is, until the signal value of the write determination signal is determined in the figure). For this reason, it is necessary to increase the length of the write cycle time, which makes it difficult to realize high speed.

【0008】従って、本発明は上記事情に鑑みて為され
たもので、その目的は、メモリへの書き込み命令におい
て、書き込み可否の確定が書き込みサイクルを律速しサ
イクルタイムを悪化させるという問題を解消し、メモリ
アクセスを高速化し書き込みサイクルタイムを低減する
ようにした半導体記憶装置を提供することにある。
Therefore, the present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to solve the problem that, in a write command to a memory, the determination of write enable / disable determines the write cycle and deteriorates the cycle time. It is an object of the present invention to provide a semiconductor memory device capable of speeding up memory access and reducing a write cycle time.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】前記目的を達成するた
め、本発明に係る半導体記憶装置は、プロセッサのライ
ト信号命令によりメモリの更新を行うシステムにおい
て、デコード済みのアドレス信号とライトデータを保持
することにより、次サイクルの動作に影響を与えること
なく、メモリへの書き込み動作を遅らせることを可能と
したことを特徴としている。
In order to achieve the above object, a semiconductor memory device according to the present invention holds a decoded address signal and write data in a system for updating a memory by a write signal instruction of a processor. Thus, it is possible to delay the write operation to the memory without affecting the operation of the next cycle.

【0010】本発明の概要を以下に説明する。本発明
は、ライトアクセス時に、ライトアクセスアドレス信号
をデコードしてなるアドレスデコード信号とライトデー
タとが保持回路にてそれぞれ保持され、当該保持された
アドレスデコード信号により選択されたメモリセルへ、
当該保持されたライトデータを、書き込み動作タイミン
グを所定時間遅らせ、このライトアクセスサイクルの次
のメモリアクセスサイクル内において書き込みを行った
際にも、当該次のメモリアクセス動作への影響を及ぼさ
ないようにしたものである。すなわち、本発明によれ
ば、次サイクルの動作に影響を与えることなく、メモリ
への書き込み動作を例えば次のサイクル内にまで遅らせ
ることができ、このため、メモリへのライト命令を実行
する際に、メモリの書き込み可否を確認した後に、書き
込み動作を行うことが必要とされるシステムにおいて
も、上記従来技術のようなサイクルタイムの増大という
問題を招く事無く、メモリアクセスのサイクルタイムの
短縮を図ることを可能とし、これにより、高速メモリア
クセスを実現している。
The outline of the present invention will be described below. According to the present invention, at the time of write access, the address decode signal obtained by decoding the write access address signal and the write data are respectively held by the holding circuit, and the memory cell selected by the held address decode signal,
Even if the write operation timing of the held write data is delayed by a predetermined time so that the write operation is performed in the memory access cycle subsequent to this write access cycle, the write operation timing is not affected. It was done. That is, according to the present invention, the write operation to the memory can be delayed until, for example, within the next cycle without affecting the operation of the next cycle. Therefore, when executing the write instruction to the memory, In a system that requires a write operation after confirming whether or not the memory can be written, the cycle time of the memory access can be shortened without causing the problem of the increase in the cycle time as in the above-described conventional technique. This enables high speed memory access.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0012】図1は、本発明の実施の形態を説明するた
めの図である。図1を参照すると、本発明の実施の形態
は、メモリアレイ101、アドレスデコーダ102、書
き込み回路103、及びライトデータ保持回路104を
含むものである。またメモリアレイ101は、アドレス
デコード信号保持回路105、メモリセル106、ワー
ド線107、及びビット線108を含む。
FIG. 1 is a diagram for explaining an embodiment of the present invention. Referring to FIG. 1, the embodiment of the present invention includes a memory array 101, an address decoder 102, a write circuit 103, and a write data holding circuit 104. The memory array 101 also includes an address decode signal holding circuit 105, a memory cell 106, a word line 107, and a bit line 108.

【0013】次に、本発明の実施の形態の動作につい
て、図1、及び図2のタイミングチャートを参照して説
明する。
Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described with reference to the timing charts of FIGS. 1 and 2.

【0014】メモリライトサイクルT1において、アド
レス信号109はアドレスデコーダ102によりデコー
ドされ、アドレスデコーダ102はアドレスデコード信
号110を出力する。
In the memory write cycle T1, the address signal 109 is decoded by the address decoder 102, and the address decoder 102 outputs the address decode signal 110.

【0015】アドレスデコード信号110は、保持制御
信号111により制御されるアドレスデコード信号保持
回路105に保持されると共に、ワード線107に出力
される。
The address decode signal 110 is held in the address decode signal holding circuit 105 controlled by the hold control signal 111, and is output to the word line 107.

【0016】ライトデータ112は、上記保持制御信号
111により制御されるライトデータ保持回路104に
保持される。
The write data 112 is held in the write data holding circuit 104 controlled by the holding control signal 111.

【0017】選択されたメモリセル106へのデータの
書き込みは、ライトデータ保持回路104に保持されて
いるライトデータ114を、書き込み回路103によ
り、ライトパルス113のタイミングにて、ビット線1
08に出力することにより行う。
To write data into the selected memory cell 106, the write data 114 held in the write data holding circuit 104 is written by the write circuit 103 at the timing of the write pulse 113, and the bit line 1 is written.
It outputs by outputting to 08.

【0018】図2に示すように、本発明の実施の形態に
おいては、ライトパルス113はライトサイクルT1の
次のアクセスサイクルT2において出力されており、メ
モリセル106への書き込みはサイクルT2内において
行われている。その際、次のサイクルT2がリードアク
セス又はライトアクセスのいずれであってもその動作に
は影響を及ぼしていない。
As shown in FIG. 2, in the embodiment of the present invention, the write pulse 113 is output in the access cycle T2 next to the write cycle T1, and writing to the memory cell 106 is performed in the cycle T2. It is being appreciated. At that time, the operation is not affected whether the next cycle T2 is a read access or a write access.

【0019】[0019]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て詳細に説明する。
Next, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

【0020】図3を参照すると、本発明の実施例は、メ
モリアレイ301、アドレスデコーダ302、書き込み
回路303、読み出し回路304、及びライトデータ保
持回路305を含むものである。またメモリアレイ30
1は、アドレスデコード信号保持用ラッチ306、メモ
リセル307、読み出し用ワード線308、書き込み用
ワード線309、読み出し用ビット線310、及び書き
込み用ビット線311を含む。そしてメモリセル307
は、データ保持用インバータ回路312、313、デー
タ読み出し用NMOSトランジスタ314、データ書き
込み用NMOSトランジスタ315から構成されてい
る。
Referring to FIG. 3, the embodiment of the present invention includes a memory array 301, an address decoder 302, a write circuit 303, a read circuit 304, and a write data holding circuit 305. In addition, the memory array 30
Reference numeral 1 includes an address decode signal holding latch 306, a memory cell 307, a read word line 308, a write word line 309, a read bit line 310, and a write bit line 311. And the memory cell 307
Is composed of data holding inverter circuits 312 and 313, a data reading NMOS transistor 314, and a data writing NMOS transistor 315.

【0021】次に、本発明の実施例の動作について、図
3、及び図4のタイミングチャートを参照して詳細に説
明する。
Next, the operation of the embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the timing charts of FIGS.

【0022】メモリライトサイクルT1において、アド
レス信号316はアドレスデコーダ302によりデコー
ドされ読み出し用ワード線308に出力されると共に、
ラッチ制御信号317で制御されるアドレスデコード信
号保持用ラッチ306に保持され書き込み用ワード線3
09に出力される。
In the memory write cycle T1, the address signal 316 is decoded by the address decoder 302 and output to the read word line 308.
The write word line 3 held in the address decode signal holding latch 306 controlled by the latch control signal 317
09 is output.

【0023】ライトデータ318はラッチ制御信号31
7で制御されるライトデータ保持用ラッチ回路305に
保持される。
The write data 318 is the latch control signal 31.
It is held in the write data holding latch circuit 305 controlled by 7.

【0024】ライトパルス319は、書き込みの可否が
確定後に、書き込み可であれば出力され、ライトデータ
保持用ラッチ回路305に保持されているライトデータ
320を書き込み用ビット線311に出力することによ
り、メモリセル307に書き込みを行う(図4では次の
アクセスサイクルT2内の読み出し用ワード線308の
確定出力が確定される前)。このときのアドレスとして
は、アドレスデコード保持用ラッチ306に保持されて
いるアドレスが用いられる。
The write pulse 319 is output if it is writable after the writability is determined, and the write data 320 held in the write data holding latch circuit 305 is output to the write bit line 311. Writing is performed to the memory cell 307 (in FIG. 4, before the finalized output of the read word line 308 in the next access cycle T2 is finalized). As the address at this time, the address held in the address decode holding latch 306 is used.

【0025】メモリアクセスサイクルT2では、リード
アクセスアドレスのアドレスデコード後に読み出し用ワ
ード線308がアクセスされると、メモリセル307の
内容が読み出し用ビット線310に出力され、読み出し
回路304によりリードデータ321として出力され
る。
In the memory access cycle T2, when the read word line 308 is accessed after address decoding of the read access address, the contents of the memory cell 307 are output to the read bit line 310, and the read circuit 304 outputs the read data 321. Is output.

【0026】[0026]

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
デコード済みのアドレス信号とライトデータを保持する
ことにより、次サイクルの動作に影響を与えることな
く、メモリへの書き込み動作を遅らせることができ、こ
のためメモリアクセスを高速化しサイクルタイムを低減
する。
As described above, according to the present invention,
By holding the decoded address signal and write data, the write operation to the memory can be delayed without affecting the operation of the next cycle, which speeds up the memory access and reduces the cycle time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の形態を説明するための図であ
る。
FIG. 1 is a diagram for describing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の実施の形態の動作を説明するためのタ
イミングチャートである。
FIG. 2 is a timing chart for explaining an operation of the exemplary embodiment of the present invention.

【図3】本発明の一実施例を示す回路図である。FIG. 3 is a circuit diagram showing one embodiment of the present invention.

【図4】本発明の一実施例の動作を説明するためのタイ
ミングチャートである。
FIG. 4 is a timing chart for explaining the operation of one embodiment of the present invention.

【図5】従来例を説明するためのブロック図である。FIG. 5 is a block diagram for explaining a conventional example.

【図6】従来例の動作を説明するタイムチャートであ
る。
FIG. 6 is a time chart explaining the operation of a conventional example.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

101 メモリアレイ 102 アドレスデコーダ 103 書き込み回路 104 ライトデータ保持回路 105 アドレスデコード信号保持回路 106 メモリセル 107 ワード線 108 ビット線 109 アドレス信号 110 アドレスデコード信号 111 保持回路制御信号 112 ライトデータ 113 ライトパルス 114 ライトデータ(保持後) 301 メモリアレイ 302 アドレスデコーダ 303 書き込み回路 304 読み出し回路 305 ライトデータ保持用ラッチ 306 アドレスデコード信号保持用ラッチ 307 メモリセル 308 読み出し用ワード線 309 書き込み用ワード線 310 読み出し用ビット線 311 書き込み用ビット線 312、313 データ保持用インバータ回路 314 データ読み出し用NMOSトランジスタ 315 データ書き込み用NMOSトランジスタ 316 アドレス信号 317 ラッチ制御信号 318 ライトデータ 319 ライトパルス 320 ライトデータ(ラッチ後) 321 リードデータ 501 メモリアレイ 502 アドレスデコーダ 503 書き込み回路 504 メモリセル 505 ワード線 506 ビット線 507 アドレス信号 508 ライトデータ 509 ライトパルス 101 memory array 102 address decoder 103 write circuit 104 write data holding circuit 105 address decode signal holding circuit 106 memory cell 107 word line 108 bit line 109 address signal 110 address decode signal 111 holding circuit control signal 112 write data 113 write pulse 114 write data (After holding) 301 memory array 302 address decoder 303 write circuit 304 read circuit 305 write data holding latch 306 address decode signal holding latch 307 memory cell 308 read word line 309 write word line 310 read bit line 311 write Bit line 312, 313 Data holding inverter circuit 314 Data reading NMOS transistor 15 data writing NMOS transistor 316 address signal 317 latch control signal 318 write data 319 write pulse 320 write data (after latching) 321 read data 501 memory array 502 address decoder 503 write circuit 504 memory cell 505 word line 506 bit line 507 address signal 508 write data 509 write pulse

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プロセッサのライト信号命令によりメモリ
の更新を行うシステムにおいて、 デコード済みのアドレス信号とライトデータとをそれぞ
れ保持することにより、次サイクルの動作に影響を与え
ることなく、メモリへの書き込み動作を遅らせることを
可能としたことを特徴とする半導体記憶装置。
1. In a system for updating a memory by a write signal instruction of a processor, by holding a decoded address signal and write data respectively, writing to the memory without affecting the operation of the next cycle. A semiconductor memory device capable of delaying an operation.
【請求項2】ライトアクセス時に、ライトアクセスアド
レス信号をアドレスデコーダでデコードしてなるアドレ
スデコード信号と、ライトデータと、がそれぞれ保持回
路に保持され、前記保持されたアドレスデコード信号に
より選択されたメモリセルへ、前記保持されたライトデ
ータを、書き込み動作タイミングがシフトされて前記ラ
イトアクセスサイクルの次のメモリアクセスサイクル内
において書き込みを行った際にも、該次のメモリアクセ
スサイクル動作への影響を及ぼさないように構成された
ことを特徴とする半導体記憶装置。
2. A memory, wherein an address decode signal obtained by decoding a write access address signal by an address decoder during write access and write data are respectively held in a holding circuit, and selected by the held address decode signal. Even when the held write data is written into the cell within the memory access cycle next to the write access cycle with the write operation timing being shifted, the influence on the operation of the next memory access cycle is exerted. A semiconductor memory device characterized by being configured so as not to exist.
【請求項3】前記書き込み動作タイミングが前記メモリ
セルへの書き込み可否の確認結果に基づき定められるこ
とを特徴とする請求項2記載の半導体記憶装置。
3. The semiconductor memory device according to claim 2, wherein the write operation timing is determined based on a confirmation result of whether or not writing to the memory cell is possible.
【請求項4】前記アドレスデコーダの出力を読み出し用
のワード線とし、前記アドレスデコード信号の保持回路
の出力を書き込み用ワード線として前記メモリセルの選
択を行い、 前記ライトデータの保持回路の出力を書き込み回路を介
して書き込み用のビット線に出力することにより前記メ
モリセルへの書き込みを行い、 一方、前記メモリセルからデータを読み出す際には前記
メモリセルに接続された読み出し用のビット線を介して
読み出しを行う、 ことを特徴とする請求項2記載の半導体記憶装置。
4. The output of the address decoder is used as a read word line, the output of the address decode signal holding circuit is used as a write word line to select the memory cell, and the output of the write data holding circuit is used. Writing to the memory cell is performed by outputting to the write bit line via the write circuit, while when reading data from the memory cell, the data is read via the read bit line connected to the memory cell. 3. The semiconductor memory device according to claim 2, wherein the semiconductor memory device is read out.
JP8110184A 1996-04-05 1996-04-05 Semiconductor memory device Pending JPH09282887A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007172813A (en) * 2005-11-25 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor memory device and method of operating semiconductor memory device

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JP2007172813A (en) * 2005-11-25 2007-07-05 Semiconductor Energy Lab Co Ltd Semiconductor memory device and method of operating semiconductor memory device

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Effective date: 19990309