JPH0927467A - Polisher - Google Patents

Polisher

Info

Publication number
JPH0927467A
JPH0927467A JP17749795A JP17749795A JPH0927467A JP H0927467 A JPH0927467 A JP H0927467A JP 17749795 A JP17749795 A JP 17749795A JP 17749795 A JP17749795 A JP 17749795A JP H0927467 A JPH0927467 A JP H0927467A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
top plate
polishing
wafer
air
pressing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17749795A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP3225181B2 (en
Inventor
Shoichi Hata
晶 一 秦
Masafumi Tsunada
田 雅 文 綱
Yasuhiko Nagakura
倉 靖 彦 長
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shibaura Machine Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Machine Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Machine Co Ltd filed Critical Toshiba Machine Co Ltd
Priority to JP17749795A priority Critical patent/JP3225181B2/en
Publication of JPH0927467A publication Critical patent/JPH0927467A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP3225181B2 publication Critical patent/JP3225181B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To simplify the structure of a polisher head by constituting an air feeder to feed air to a top plate pressing air cylinder so that it can be connected onto a loader while stopping, using a check valve attached to joint mounted on the top plate. SOLUTION: A polisher head 13 comprises a top plate base 22 coupled with the top end of a rotary shaft 16, top plate mounted tightly on the base 22 to rotate together, and air cylinder 35 for pressing the top plate having a wafer sucking surface at the lover face. An air passage 38 for feeding air to the air cylinder 35 is formed on the base 22 and check valve attached to joint 40 is mounted in an entrance opened at the outer surface of the base 22. On a loader an air feeder is disposed which is removably connectable to this joint 40 when the head 13 moves.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、研磨装置に係り、
特に、半導体デバイス加工分野において、ウェーハの表
面を平滑に仕上げるポリッシング加工に使用する研磨装
置に関する。
TECHNICAL FIELD The present invention relates to a polishing apparatus,
Particularly, in the field of semiconductor device processing, the present invention relates to a polishing apparatus used for polishing processing for finishing the surface of a wafer to be smooth.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、半導体デバイスの製造に採用が検
討されているケミカル・メカニカル・ポリッシング加工
は、研磨布にウェーハを一定圧力で押し付けながら、ウ
ェーハと研磨布の間に相対的な回転運動を与えつつ、研
磨液を供給しながら研磨するプロセスである。
2. Description of the Related Art In recent years, the chemical mechanical polishing process, which is being considered for use in the manufacture of semiconductor devices, presses a wafer against a polishing cloth at a constant pressure while performing a relative rotational movement between the wafer and the polishing cloth. This is a process of polishing while supplying a polishing liquid while supplying it.

【0003】この種のケミカル・メカニカル・ポリッシ
ング加工に使用される研磨装置は、表面に研磨布が両面
テープ等の接着材を用いて固定された定盤と、被研磨材
である半導体ウェハを保持する研磨ヘッドと、研磨布上
に研磨材を供給する研磨剤供給装置と、ウェーハを一時
的に載置して研磨ヘッドへのウェーハの着脱を行なうた
めのローダ装置などから構成されている。
A polishing apparatus used for this kind of chemical mechanical polishing process holds a surface plate having a polishing cloth fixed to the surface thereof with an adhesive such as a double-sided tape, and a semiconductor wafer which is a material to be polished. The polishing head includes a polishing head, a polishing agent supply device that supplies a polishing material onto a polishing cloth, and a loader device that temporarily mounts a wafer to attach and detach the wafer to and from the polishing head.

【0004】研磨ヘッドは、保持したウェーハを回転さ
せながら、その表面を定盤上の研磨布の表面に押し付
け、定盤の半径方向に移動する。このとき、研磨剤が研
磨剤供給装置から供給されてウェハは研磨されるように
なっている。
The polishing head presses the surface of the held wafer against the surface of the polishing cloth on the surface plate while rotating the held wafer, and moves in the radial direction of the surface plate. At this time, the polishing agent is supplied from the polishing agent supply device to polish the wafer.

【0005】この種の研磨装置において、研磨ヘッド下
面にウェーハを装着する方式としては、自動化のため
に、真空吸着、水貼等のワックスレスパッド方式が採用
されている。この場合、研磨ヘッドと一体にウェーハを
回転させるためには、ウェーハが強固に装着されている
必要があるため、真空吸着方式が採用されることが多
く、この真空吸着方式では、研磨中は、常時ウェーハを
真空吸引している。
In this type of polishing apparatus, as a method for mounting a wafer on the lower surface of the polishing head, a waxless pad method such as vacuum suction or water sticking is adopted for automation. In this case, in order to rotate the wafer integrally with the polishing head, it is necessary to firmly mount the wafer, therefore, a vacuum suction method is often adopted, and in this vacuum suction method, during polishing, The wafer is constantly vacuumed.

【0006】ところで、最近では、パターンの微細化の
進展に伴って、高度な平坦性を保ってウェーハのポリッ
シング加工を実施することが特に要求されるようになっ
てきている。従って、研磨ヘッドに吸着されたウェーハ
をその全面に亘って定盤上の研磨布に対して均一に押圧
することが必要不可欠となっている。
By the way, recently, with the progress of miniaturization of patterns, it has been particularly required to carry out polishing processing of a wafer while maintaining a high degree of flatness. Therefore, it is indispensable to uniformly press the wafer adsorbed by the polishing head over the entire surface thereof against the polishing cloth on the surface plate.

【0007】従来から研磨ヘッドには、ウェーハを均一
に押し付けるための機構が設けられるのが一般的であ
り、例えば、従来技術としては、実開昭64−1626
0号公報、特開平4−201174号公報に開示されて
いるものを挙げることができる。
Conventionally, a polishing head is generally provided with a mechanism for uniformly pressing a wafer.
Examples thereof include those disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 0-201174 and Japanese Patent Laid-Open No. 4-201174.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、実開昭
64−16260号公報のように、ウェーハの高度な平
坦性を確保するためのエアシリンダを内部に組み込んだ
研磨ヘッドでは、ウェーハを吸引するための真空引き用
の通路に加えて、前記エアシリンダにエアを供給するた
めの通路がともに必要となる。
However, as in Japanese Utility Model Laid-Open No. 64-16260, a polishing head incorporating an air cylinder for ensuring a high degree of flatness of the wafer sucks the wafer. In addition to the passage for evacuation, the passage for supplying air to the air cylinder is required.

【0009】研磨工程中の研磨ヘッドは、常に回転した
状態にあるので、従来は、研磨ヘッドの回転軸に2本の
貫通穴を設けてこれを真空引きと、押圧用のエア用の通
路として利用し、さらに、これらの通路を二流路用のロ
ータリジョイントを介して研磨ヘッドの先端まで2系統
の通路を設けることが必要となり、研磨ヘッドの構造が
複雑化するとともに、回転軸が必要以上に太くなる欠点
があった。
Since the polishing head is constantly rotating during the polishing process, conventionally, two through-holes are provided in the rotary shaft of the polishing head, and these are used as a passage for the evacuation and pressing air. In addition, it is necessary to use these passages and to provide two passages to the tip of the polishing head through a rotary joint for two passages, which complicates the structure of the polishing head and requires a rotating shaft more than necessary. It had the drawback of becoming thicker.

【0010】そこで、本発明の目的は、前記従来技術の
有する問題点を解消し、研磨ヘッドの回転軸には真空引
き用の通路のみを設け、押圧用の通路は省けるように構
成することにより、研磨ヘッドの構造を簡素化できるよ
うにした研磨装置を提供することにある。また、本発明
の他の目的は、ウェーハをその全面に亘って均一に研磨
布に押圧することのできる研磨装置を提供することにあ
る。
Therefore, an object of the present invention is to solve the above-mentioned problems of the prior art, and to provide only a passage for vacuuming on the rotary shaft of the polishing head and omit the passage for pressing. An object of the present invention is to provide a polishing apparatus that can simplify the structure of the polishing head. Another object of the present invention is to provide a polishing apparatus capable of uniformly pressing the wafer onto the polishing cloth over the entire surface thereof.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに、本発明は、上面に研磨布が貼着されて回転する定
盤と、吸着したウェーハを回転させながら、該ウェーハ
を前記定盤上の研磨布に押し付け可能な研磨ヘッドと、
ウェーハを一時的に載置して研磨ヘッドとのウェーハの
着脱を行うためのローダ装置とを備えた研磨装置におい
て、前記研磨ヘッドは、回転軸と、この回転軸の先端に
連結されたトッププレート本体と、トッププレート本体
と一体的に回転するように取り付けられ下面にウェーハ
の吸着面が形成されたトッププレートと、前記トッププ
レートの裏面中心部に当接する押圧部を有するピストン
を有しかつトッププレート本体に同心的に組み込まれた
トッププレート押圧用エアシリンダとを備え、前記トッ
ププレート押圧用エアシリンダにエアを供給するエア通
路を前記トッププレート本体に形成するとともに、該ト
ッププレート本体の外表面に開口する入口部に逆止弁付
き継手を取り付け、さらに、前記ローダ装置上に研磨ヘ
ッドが移動したときに、前記逆止弁付き継手に対して着
脱自在に接続可能なエア供給装置を配設したことを特徴
とするものである。
In order to achieve the above-mentioned object, the present invention provides a platen having an upper surface on which a polishing cloth is adhered and rotating, and a wafer which is attracted and rotated while the wafer is fixed on the plate. A polishing head that can be pressed against the polishing cloth on the board,
In a polishing apparatus provided with a loader device for temporarily mounting a wafer and attaching and detaching the wafer to and from the polishing head, the polishing head includes a rotating shaft and a top plate connected to a tip of the rotating shaft. A top plate having a main body, a top plate having a lower surface on which a wafer suction surface is attached so as to rotate integrally with the main body, and a pressing portion abutting against the center of the back surface of the top plate; A top plate pressing air cylinder concentrically incorporated in the plate main body, forming an air passage for supplying air to the top plate pressing air cylinder in the top plate main body, and an outer surface of the top plate main body When a joint with a check valve is attached to the inlet opening to the, and the polishing head moves on the loader device, To, and is characterized in that it has disposed detachably air supply device connectable to said check valve attached fittings.

【0012】また、本発明による研磨装置では、前記エ
ア供給装置は、アクチュエータに連結されて進退自在に
構成され、ローダ装置上での研磨ヘッドのウェーハ吸着
動作に連動して、エア供給を行なうようにしたことを特
徴とする。
Further, in the polishing apparatus according to the present invention, the air supply device is connected to an actuator so as to be movable back and forth, and supplies air in association with the wafer suction operation of the polishing head on the loader device. It is characterized by having done.

【0013】また、本発明では、前記トッププレート押
圧用エアシリンダの押圧部の先端部は、半球状に形成さ
れるとともに、この押圧部先端の当接するトッププレー
ト裏面には、凹曲面が形成されていることを特徴とす
る。
Further, according to the present invention, the tip portion of the pressing portion of the top plate pressing air cylinder is formed in a hemispherical shape, and a concave curved surface is formed on the back surface of the top plate with which the tip of the pressing portion abuts. It is characterized by

【0014】本発明によれば、ローダ装置上にあるウェ
ーハを吸着するため研磨ヘッドがローダ装置上に停止し
ているとき、エア供給装置が作動して、研磨ヘッドに向
かって前進し、トッププレートに設けた逆止弁付き継手
に接続される。
According to the present invention, when the polishing head is stopped on the loader device for adsorbing the wafer on the loader device, the air supply device is actuated to move forward toward the polishing head to move the top plate. It is connected to a joint with a check valve provided in.

【0015】エア供給装置から供給されるエアがトップ
プレート内の通路からトッププレート押圧用エアシリン
ダに充填されると、エア供給装置は、研磨ヘッドの逆止
弁付き継手から離脱し、研磨ヘッドは、定盤の直上まで
移動する。この間、充填されたエアの圧力は、逆止弁付
き継手の逆止弁によつてその圧力が保たれる。
When the air supplied from the air supply device is filled in the air cylinder for pressing the top plate from the passage in the top plate, the air supply device is separated from the joint with the check valve of the polishing head, and the polishing head is removed. , Move to just above the surface plate. During this time, the pressure of the filled air is maintained by the check valve of the joint with the check valve.

【0016】定盤上にある研磨ヘッドは、吸着したウェ
ーハを定盤上面の研磨布に押し付け、また、トップリン
グ本体内のトッププレート押圧用エアシリンダでは、前
述の充填されたエアにより付勢されたピストンがトップ
プレートの中心部分を押圧し、研摩によるウェーハの高
度な平坦性を確保する。
The polishing head on the surface plate presses the adsorbed wafer against the polishing cloth on the upper surface of the surface plate, and the top plate pressing air cylinder in the top ring body is urged by the above-mentioned filled air. The piston presses the center of the top plate to ensure a high degree of flatness of the wafer by polishing.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】以下、本発明を実施した研磨装置
について添付の図面を参照して説明する。図1は、研磨
装置の全体構成を示す側面図、図2は、研磨装置の平面
図である。これら図1、図2において、10は研磨装置
のベース、11はウェーハ50を研磨する定盤を表わし
ている。12は、研磨ヘッド13へのウェーハ50の取
り付け及び取り外しをするローダ装置である。このロー
ダ装置12の上には、ウェーハ50が人手により、ある
いはロボットによって置かれるようになっている。ウェ
ーハ50が真空吸着する研磨ヘッド13は、アーム14
に取り付けられ、このアーム14は、旋回モータ15に
よって駆動されて、定盤11とローダ装置12との間
を、ウェーハ50を吸着保持したまま旋回できるように
構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION A polishing apparatus embodying the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a side view showing the overall configuration of the polishing apparatus, and FIG. 2 is a plan view of the polishing apparatus. In FIGS. 1 and 2, 10 is a base of the polishing apparatus, and 11 is a surface plate for polishing the wafer 50. A loader device 12 attaches and detaches the wafer 50 to and from the polishing head 13. The wafer 50 is placed on the loader device 12 manually or by a robot. The polishing head 13 on which the wafer 50 is vacuum-adsorbed includes an arm 14
The arm 14 is driven by a turning motor 15 and can be turned between the surface plate 11 and the loader device 12 while holding the wafer 50 by suction.

【0018】研磨ヘッド13は回転軸16に後述するよ
うに連結され、回転軸16はアーム14に図示しない軸
受を介して回転自在に支承されるとともにモータ17に
よって回転を与えられる。また、研磨ヘッド13および
回転軸16の全体は、研磨ヘッド昇降用のエアシリンダ
18にロータリジョイント19を介して連結されてお
り、モータ17の駆動作用下に研磨ヘッド13を回転さ
せながら研磨ヘッド昇降用のエアシリンダ18の作動に
よって吸着したウェーハ50を定盤11の上面に貼着さ
れている研磨布20に押し付けることができるようにな
っている。なお、研磨布20には、研磨液が図示されな
い研磨液供給装置から供給される。
The polishing head 13 is connected to a rotary shaft 16 as will be described later, and the rotary shaft 16 is rotatably supported by the arm 14 via a bearing (not shown) and is rotated by a motor 17. Further, the polishing head 13 and the rotary shaft 16 as a whole are connected to an air cylinder 18 for raising and lowering the polishing head via a rotary joint 19, and the polishing head 13 is raised and lowered while rotating the polishing head 13 under the driving action of a motor 17. The wafer 50 adsorbed by the operation of the air cylinder 18 for press can be pressed against the polishing cloth 20 attached to the upper surface of the surface plate 11. The polishing liquid is supplied to the polishing cloth 20 from a polishing liquid supply device (not shown).

【0019】次に、図3は、研磨ヘッド13の構成を詳
細に示す断面図である。この研磨ヘッド13は、トップ
プレート本体22と、トッププレート23とを備えてお
り、このうち、トッププレート本体22の方は、回転軸
16の先端部で同心的に自動調心手段としての自動調心
ベアリング24を介して取り付けられ、このトッププレ
ート本体22にトッププレート23がボルトなどの締結
要素を用いて固定されている。
Next, FIG. 3 is a sectional view showing the structure of the polishing head 13 in detail. The polishing head 13 includes a top plate main body 22 and a top plate 23. Of these, the top plate main body 22 is concentric with the tip of the rotary shaft 16 and is an automatic centering device. It is attached via a core bearing 24, and the top plate 23 is fixed to the top plate body 22 using fastening elements such as bolts.

【0020】トッププレート23の下面は、ウェーハ5
0の吸着面になっており、トッププレート23を貫通し
て形成されている複数の真空孔27、27…が、このト
ッププレート23の吸着面に開口するようになってい
る。そして、これらの真空孔27、27…は、トッププ
レート本体22の下面とトッププレート23の上面の凹
陥部によって形成されている真空室26を介して真空通
路28、29と通じているものである。真空通路29に
は、継手30を介して真空ホース31の一端部が接続さ
れ、さらに、真空ホース31の他端部は継手32を介し
て回転軸16に長さ方向に形成されている真空通路33
に接続されるようになっている。
The lower surface of the top plate 23 has the wafer 5
.., which are formed so as to penetrate through the top plate 23. The plurality of vacuum holes 27, 27 ... The vacuum holes 27, 27 ... Are in communication with the vacuum passages 28, 29 via the vacuum chamber 26 formed by the recessed portion of the lower surface of the top plate body 22 and the upper surface of the top plate 23. . One end of a vacuum hose 31 is connected to the vacuum passage 29 via a joint 30, and the other end of the vacuum hose 31 is formed on the rotary shaft 16 in the longitudinal direction via a joint 32. 33
Is to be connected to.

【0021】なお、この実施形態では、回転軸16とト
ッププレート本体22との間に回転伝達棒34A,34
Bが当接可能に設けられており、これによって、回転軸
16の回転をトッププレート本体22に伝達する構成と
されている。
In this embodiment, the rotation transmission rods 34A, 34 are provided between the rotary shaft 16 and the top plate body 22.
B is provided so as to be able to abut, and thereby the rotation of the rotary shaft 16 is transmitted to the top plate body 22.

【0022】しかして、研磨ヘッド13では、以上の真
空吸引手段に加えて、トッププレート押圧用のエアシリ
ンダ35が設けられている。このトッププレート押圧用
のエアシリンダ35は、トッププレート本体22に同心
的に組み込まれているもので、このエアシリンダ35の
押圧ピストン36の先端には、トッププレート本体22
の下面より下方に突出する先端に半球状の押圧部39が
形成されている。この押圧部39はトッププレート23
の裏面中心部にちょうど当接するようになっている。
However, the polishing head 13 is provided with an air cylinder 35 for pressing the top plate in addition to the above vacuum suction means. The air cylinder 35 for pressing the top plate is concentrically incorporated in the top plate body 22, and the top of the top plate body 22 is attached to the tip of the pressing piston 36 of the air cylinder 35.
A hemispherical pressing portion 39 is formed at the tip protruding downward from the lower surface of the. The pressing portion 39 is the top plate 23.
It comes into contact with the center of the back surface of the.

【0023】このような押圧ピストン36を収容したエ
アシリンダ35のシリンダ室37には、通路38から圧
縮空気が供給される。この通路38はトッププレート本
体22の外表面にまで延びるように形成され、また、ト
ッププレート本体22の外表面に開口する通路入口部に
は、逆止弁が予め組み込まれている継手40が取り付け
られている。
Compressed air is supplied from a passage 38 to the cylinder chamber 37 of the air cylinder 35 containing the pressing piston 36. The passage 38 is formed so as to extend to the outer surface of the top plate body 22, and a joint 40 in which a check valve is previously installed is attached to the passage inlet opening to the outer surface of the top plate body 22. Has been.

【0024】図1には、前記逆止弁付継手40に着脱自
在に接続できるように、急速継手などの接続手段(図示
せず)を備えたエア供給装置42が示されている。この
エア供給装置42は、ローダ装置12の近くに配置され
るもので、ローダ装置12に対して接離させるため図示
されないエアシリンダなどのアクチュエータに連結され
て進退自在に構成されている。なお、エア供給装置42
には、止め弁43を介してエア供給配管から所定圧力に
加圧されたエアが供給されるようになっている。
FIG. 1 shows an air supply device 42 provided with connecting means (not shown) such as a quick joint so that it can be detachably connected to the check valve-equipped joint 40. The air supply device 42 is arranged near the loader device 12, and is configured to be movable forward and backward by being connected to an actuator such as an air cylinder (not shown) so as to be brought into contact with and separated from the loader device 12. The air supply device 42
Is supplied with air pressurized to a predetermined pressure from an air supply pipe via a stop valve 43.

【0025】本研摩装置は、以上のように構成されるも
のであり、次に、その作用について説明する。
The present polishing apparatus is constructed as described above, and its operation will be described below.

【0026】まず、アーム14の旋回とともにローダ装
置12の直上まで研磨ヘッド13が移動すると、この研
磨ヘッド13では、研磨ヘッド昇降用エアシリンダ18
が作動して、トッププレート23の下面の吸着面がロー
ダ装置12上にセットされているウェーハ50と接触す
るに至る。このとき、図示されない真空ポンプが始動し
て、ウェーハ50は、研磨ヘッド13のトッププレート
23に吸着される。
First, when the polishing head 13 moves to directly above the loader device 12 as the arm 14 rotates, the polishing head lifting air cylinder 18 in the polishing head 13 is moved.
Is activated, and the suction surface on the lower surface of the top plate 23 comes into contact with the wafer 50 set on the loader device 12. At this time, a vacuum pump (not shown) is started, and the wafer 50 is attracted to the top plate 23 of the polishing head 13.

【0027】このような吸着動作と同時に、ローダ装置
12上で停止している研磨ヘッド13に対しては、エア
供給装置42が前進する。このエア供給装置42は、研
磨ヘッド13のトッププレート本体22の外周面に取り
付けられている逆止弁付継手40に接続されると、所定
圧力に制御された圧縮空気を通路38を通してシリンダ
室37に充填する。その後、エア供給装置42は後退す
るが、逆止弁付継手40から離脱した後でも、内蔵に制
御された逆止弁が働いてシリンダ室37に充填した圧縮
空気の圧力は保たれるようになっている。
At the same time as such suction operation, the air supply device 42 advances to the polishing head 13 stopped on the loader device 12. When the air supply device 42 is connected to the joint 40 with a check valve attached to the outer peripheral surface of the top plate body 22 of the polishing head 13, the compressed air controlled to a predetermined pressure is passed through the passage 38 to the cylinder chamber 37. To fill. After that, the air supply device 42 retreats, but the pressure of the compressed air filled in the cylinder chamber 37 is maintained even after the air supply device 42 is separated from the check valve-equipped joint 40 by the check valve controlled internally. Has become.

【0028】次に、研磨ヘッド13は、定盤11の直上
まで旋回すると、研磨ヘッド昇降用エアシリンダ18が
作動して、研磨ヘッド13のトッププレート22に吸着
保持されているウェーハ50を、定盤11上の研磨布2
0に押し付ける。このとき、ウェーハ50は、自動調心
ベアリング24の調心作用により研摩布20にならって
押し付けられる。また、定盤11と研磨ヘッド13は回
転を開始する。図示されない研磨剤供給装置からは、ア
ルカリ性のコロイダルシリカ水溶液の研磨剤が供給され
て研磨が行なわれる。
Next, when the polishing head 13 is swiveled to just above the surface plate 11, the polishing head elevating air cylinder 18 is actuated and the wafer 50 sucked and held on the top plate 22 of the polishing head 13 is fixed. Polishing cloth 2 on board 11
Press to zero. At this time, the wafer 50 is pressed against the polishing cloth 20 by the centering action of the self-centering bearing 24. Further, the surface plate 11 and the polishing head 13 start rotating. From an abrasive supply device (not shown), an abrasive of alkaline colloidal silica aqueous solution is supplied for polishing.

【0029】定盤11上でウェーハ50が研磨される間
は、トッププレート22の中心部が押圧ピストン36の
押圧部39によって常に押圧されているため、真空室2
6の負圧力により該中心部がへこむ傾向の変形や自動調
心ベアリング24がトッププレート22の外周寄りを押
圧することによる中心部の上記と同様の傾向の変形が防
止され、ウェーハ50は、前面に亘り研磨布20に対し
て均一に押し付けられる。また、好ましくは、押圧部3
6の半球状の形状に対応させるようにして、トッププレ
ート23の裏面中心部に凹曲面44を形成しておくとよ
く、その場合、押圧部39、凹曲面44、ウェーハ50
の各々の中心が同軸上にあるようにすることが好まし
い。
While the wafer 50 is being polished on the surface plate 11, the central portion of the top plate 22 is constantly pressed by the pressing portion 39 of the pressing piston 36.
The negative pressure of 6 prevents the center portion from being deformed and the self-aligning bearing 24 from pressing the outer periphery of the top plate 22 to deform the center portion in the same manner as described above. Is evenly pressed against the polishing cloth 20. Also, preferably, the pressing portion 3
A concave curved surface 44 may be formed at the center of the back surface of the top plate 23 so as to correspond to the hemispherical shape of No. 6, in which case the pressing portion 39, the concave curved surface 44, and the wafer 50.
It is preferable that the centers of the two are coaxial.

【0030】[0030]

【発明の効果】以上の説明から明らかなように、請求項
1並びに2に記載の発明によれば、トッププレートを加
圧するトッププレート押圧用エアシリンダにエアを供給
するエア供給装置をトッププレートに装着した逆止弁付
き継手を用いてローダ装置上に停止しているときに接続
できるように構成したので、研磨ヘッドの回転軸では真
空吸引の通路と加圧用の通路の2系統のうち、加圧用の
通路を省いて真空通路だけの一系統にすることができ、
しかも、研磨ヘッドのトッププレートの構造を大幅に簡
素化することができる。
As is apparent from the above description, according to the first and second aspects of the present invention, an air supply device for supplying air to the top plate pressing air cylinder that pressurizes the top plate is provided on the top plate. Since it is configured so that it can be connected to the loader device while it is stopped by using the mounted check valve-equipped joint, the rotary shaft of the polishing head is equipped with a vacuum suction passage and a pressurization passage. The passage for pressure can be omitted and it can be made into one system only for the vacuum passage,
Moreover, the structure of the top plate of the polishing head can be greatly simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明を実施した研磨装置の全体構成を示す側
面図。
FIG. 1 is a side view showing the overall configuration of a polishing apparatus embodying the present invention.

【図2】図1の研磨装置の平面図。FIG. 2 is a plan view of the polishing apparatus shown in FIG.

【図3】研磨装置の研磨ヘッドの構成を示す断面図。FIG. 3 is a cross-sectional view showing a configuration of a polishing head of a polishing apparatus.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ベース 11 定盤 12 ローダ装置 13 研磨ヘッド 14 アーム 15 旋回モータ 16 回転軸 18 研磨ヘッド昇降用エアシリンダ 20 研磨布 22 トッププレート本体 23 トッププレート 24 自動調心ベアリング 26 真空室 27 真空孔 34A,34B 回転伝達棒 36 押圧ピストン 35 トッププレート押圧用エアシリンダ 37 シリンダ室 39 押圧部 40 逆止弁付き継手 42 エア供給装置 10 base 11 surface plate 12 loader device 13 polishing head 14 arm 15 swing motor 16 rotary shaft 18 air cylinder for lifting polishing head 20 polishing cloth 22 top plate body 23 top plate 24 self-aligning bearing 26 vacuum chamber 27 vacuum holes 34A, 34B Rotation transmission rod 36 Pushing piston 35 Air cylinder for pushing top plate 37 Cylinder chamber 39 Pushing part 40 Joint with check valve 42 Air supply device

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】上面に研磨布が貼着されて回転する定盤
と、吸着したウェーハを回転させながら、該ウェーハを
前記定盤上の研磨布に押し付け可能な研磨ヘッドと、ウ
ェーハを一時的に載置して研磨ヘッドとのウェーハの着
脱を行うためのローダ装置とを備えた研磨装置におい
て、 前記研磨ヘッドは、 回転軸と、 この回転軸の先端に連結されたトッププレート本体と、 トッププレート本体と一体的に回転するように取り付け
られ下面にウェーハの吸着面が形成されたトッププレー
トと、 前記トッププレートの裏面中心部に当接する押圧部を有
するピストンを有しかつトッププレート本体に同心的に
組み込まれたトッププレート押圧用エアシリンダとを備
え、 前記トッププレート押圧用エアシリンダにエアを供給す
るエア通路を前記トッププレート本体に形成するととも
に、該トッププレート本体の外表面に開口する入口部に
逆止弁付き継手を取り付け、さらに、前記ローダ装置上
に研磨ヘッドが移動したときに、前記逆止弁付き継手に
対して着脱自在に接続可能なエア供給装置を配設したこ
とを特徴とする研磨装置。
1. A surface plate having an upper surface on which a polishing cloth is attached and rotating, a polishing head capable of pressing the wafer on the polishing cloth on the surface plate while rotating the adsorbed wafer, and a temporary wafer. In a polishing apparatus including a loader device for mounting and demounting a wafer on and from a polishing head, the polishing head includes a rotating shaft, a top plate body connected to a tip of the rotating shaft, and a top plate body. A top plate, which is mounted so as to rotate integrally with the plate body and has a wafer suction surface formed on the lower surface, and a piston having a pressing portion that abuts the center of the back surface of the top plate, and is concentric with the top plate body. An air cylinder for pressing the top plate, and an air passage for supplying air to the air cylinder for pressing the top plate is provided with the top plate pressing air cylinder. And a check valve joint at the inlet opening to the outer surface of the top plate body, and when the polishing head moves on the loader device, the check valve joint. An air supply device that is detachably connectable to the polishing device.
【請求項2】前記エア供給装置は、アクチュエータに連
結されて進退自在に構成され、ローダ装置上での研磨ヘ
ッドのウェーハ吸着動作に連動して、エア供給を行なう
ようにしたことを特徴とする請求項1に記載の研磨装
置。
2. The air supply device is configured to be connected to an actuator so as to be movable back and forth, and to supply air in conjunction with a wafer suction operation of a polishing head on a loader device. The polishing apparatus according to claim 1.
【請求項3】前記トッププレート押圧用エアシリンダの
押圧部の先端部は、半球状に形成されるとともに、この
押圧部先端の当接するトッププレート裏面には、凹曲面
が形成されていることを特徴とする請求項1に記載の研
磨装置。
3. The top end of the pressing portion of the top plate pressing air cylinder is formed in a hemispherical shape, and a concave curved surface is formed on the back surface of the top plate with which the top end of the pressing portion abuts. The polishing apparatus according to claim 1, wherein the polishing apparatus is a polishing apparatus.
JP17749795A 1995-07-13 1995-07-13 Polishing equipment Expired - Fee Related JP3225181B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17749795A JP3225181B2 (en) 1995-07-13 1995-07-13 Polishing equipment

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17749795A JP3225181B2 (en) 1995-07-13 1995-07-13 Polishing equipment

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0927467A true JPH0927467A (en) 1997-01-28
JP3225181B2 JP3225181B2 (en) 2001-11-05

Family

ID=16031943

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17749795A Expired - Fee Related JP3225181B2 (en) 1995-07-13 1995-07-13 Polishing equipment

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3225181B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007250908A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Tokyo Seimitsu Co Ltd Polishing head of cmp polisher

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007250908A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Tokyo Seimitsu Co Ltd Polishing head of cmp polisher

Also Published As

Publication number Publication date
JP3225181B2 (en) 2001-11-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4601171B2 (en) Carrier head for chemical mechanical polishing of substrates
US5964653A (en) Carrier head with a flexible membrane for a chemical mechanical polishing system
JP4346816B2 (en) Substrate polishing
JP4223682B2 (en) Carrier head with detachable retainer ring for chemical mechanical polishing apparatus
EP1048406A2 (en) A carrier head for chemical mechanical polishing a substrate
JP2004122351A (en) Method and device for polishing substrate
US20060079092A1 (en) Polishing method
KR20020094079A (en) Carrier Head for Chemical Mechanical Polishing
TW200305481A (en) Carrier head with a vibration reduction feature for a chemical mechanical polishing system
US20060128286A1 (en) Polishing apparatus
JP3947989B2 (en) Wafer bonding method and apparatus for mounting plate
JPH0927467A (en) Polisher
KR100725923B1 (en) Membrane for cmp head
JP2976862B2 (en) Polishing equipment
JP7372107B2 (en) Wafer polishing head
JP4197884B2 (en) Polishing equipment
JP3043324B1 (en) Wafer unloading apparatus and wafer manufacturing method
JP3680894B2 (en) Wafer holding method for wafer polishing apparatus
KR100914693B1 (en) Apparatus and method for wax mounting of wafer
JPH05152262A (en) Method and apparatus for wafer adhesion
JP2004268155A (en) Glass substrate polishing head, polishing device using this polishing head, glass substrate polishing method and glass substrate
JPH10264020A (en) Work polishing method and work polishing system
JPS61197159A (en) Device for peeling off work sticking to upper lap of lapping machine
JPH10166265A (en) Polishing device
JPH10109264A (en) Polishing device

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070824

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824

Year of fee payment: 7

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080824

Year of fee payment: 7

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees