JPH09261538A - 光検出装置 - Google Patents
光検出装置Info
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- JPH09261538A JPH09261538A JP8088754A JP8875496A JPH09261538A JP H09261538 A JPH09261538 A JP H09261538A JP 8088754 A JP8088754 A JP 8088754A JP 8875496 A JP8875496 A JP 8875496A JP H09261538 A JPH09261538 A JP H09261538A
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Abstract
出しの駆動速度を変えても読み出し誤差が生じないよう
にすること。 【解決手段】TFTアレイを用いた光検出装置におい
て、光電変換膜‐画素電極間、及び画素電極‐補助電極
間に形成される画素容量22とTFT11のオン抵抗の時定
数を、走査線の駆動周波数によって変化させることによ
り、読み出しの駆動速度を変えても読み出し誤差が生じ
ないようにしたことを特徴とする。そのために、各画素
毎に時定数を切り替えるための補助容量23と、この補助
容量を前記画素容量に対して回路接続制御する開閉スイ
ッチ12とを設け、この開閉スイッチの制御により、画素
毎の信号読み出しの時間に応じて補助容量を接離制御す
ることにより、前記薄膜トランジスタを介しての、各画
素容量の蓄積電荷の読み出しの際の時定数を制御する。
Description
変換する光検出装置に係わり、例えば医療用X線診断装
置の撮像装置に用いて最適な光検出装置に関する。
置の撮像装置について述べる。
行う目的で患者の医療データをデータベース化する方向
に進んでいる。これは患者は複数の医療機関を利用する
ことが一般的であり、この様な場合、他の医療機関のデ
ータが無いと的確な治療行為が行えない可能性があるた
めである。例えば、他の医療機関で投与された薬剤との
副作用の心配があるといったことなどである。患者が、
複数の医療機関でそれぞれ治療を受けている場合、それ
ぞれで投薬を受けていたとすると、本来同時に与えては
いけない薬剤を与えて思わぬ副作用を招く心配があるこ
とから、他の医療機関で投与された薬剤を考慮した上で
適切な治療を行うことが必要となる。
もデータベース化の要求があり、X線撮影画像のディジ
タル化が望まれている。医療用X線診断装置では従来、
銀塩フィルムを使用して撮影してきたが、これをディジ
タル化するためには撮影したフィルムを現像した後、再
度スキャナ等で走査する必要があり、手間と時間がかか
っていた。
を使用し、直接、画像をディジタル化する方式が実現さ
れている。しかし、例えば肺の撮影をする場合、20c
m×30cm程度の領域を撮影するため、1インチ程度
の撮像画面しか持たないCCDカメラで、このような広
い撮影野を対象として撮影しようとすると、どうして
も、光を集光するための光学装置が必要となり、装置の
大型化が問題になっている。
問題を解決する方式として、a−SiTFT(アモルフ
ァスシリコン薄膜トランジスタ)を用いた撮像装置が提
案されている(例えば、米国特許であるUSP4689
487号参照)。この撮像装置の構成を図9に示す。
(走査信号配線;ゲート線)、110a〜110mは信
号線(読出し配線)であり、これらは格子状に配設され
ている。これら走査線100a〜100nと信号線11
0a〜110mとで囲まれる領域はそれぞれ画素の領域
であり、e1,1〜e1,2000〜e,1〜e200
0,2000の各画素を形成している。各画素e1,1
〜e1,2000〜e,1〜e2000,2000は、
画素容量142と光電変換膜140およびそのスイッチ
ング用のa−SiTFT 144を有しており、走査線
100a〜100nのうちの各画素対応の1本の走査線
がa−SiTFT 144のゲートに接続され、走査線
に走査信号が与えられることによって、このa−SiT
FT 144のゲートに当該走査信号が印加されると、
a−SiTFT 144は導通し、光電変換膜140に
て変換されて画素容量142に充電されていた入射光量
対応の電荷が、当該導通したa−SiTFT 144の
ソースドレインを介して信号線110a〜110mのう
ち、その画素対応の信号線に出力される構成である。
所定タイミングで順次、走査信号を与えるための走査線
駆動回路160があり、信号線110a〜110mには
それぞれに所定タイミングで順次、読み出し信号を与え
るための信号線駆動回路170があり、この信号線駆動
回路170による読み出し信号によりスイッチングされ
る切り替えスイッチ146がそれぞれ信号線110a〜
110mに一つずつ設けられていて、これらの連携動作
で、撮像画面を構成する各画素をアクセスして画素別に
画像信号を得ることができるようにしている。
0,2000はa−SiTFT 144、光電変換膜1
40及び画素容量142で構成されて、横2000×縦
2000個のアレイ状(以下、TFTアレイと呼ぶ)に
なっている。
電変換膜140に電流が流れ、その画素の画素容量14
2に電荷が蓄積される。走査線駆動回路160で走査線
100a〜100nに順次走査信号を与えて各画素のa
−SiTFT 144を順次駆動する。このとき、走査
信号はその走査信号が与えられた1つの走査線に接続し
ている全てのTFT 144に与えられ、これらをオン
にする。すると、このオンとなった全てのTFT 14
4対応画素の画素容量142に蓄積されている電荷はそ
れらの画素対応の信号線に印加され、信号線駆動回路1
70により、信号線110a〜110mに順次、読み出
し信号が与えられることにより、切り替えスイッチ14
6がそれぞれ順にオンされることにより、信号線110
a〜110mからの信号が読み出されて、増幅器154
側に転送される。
1画素毎にその画素の電荷を増幅器154に入力し、C
RT(ブラウン管)等に表示できるような点順次信号に
変換する。画素に入射する光の量によって電荷量が異な
り、増幅器154の出力振幅は変化することから、図9
に示す方式は増幅器154の出力信号をA/D変換する
ことで、直接、ディジタル画像にすることが出来る。
は直接、ディジタルデータとして得ることができ、診断
画像を容易に画像データとして得ることができるように
なるという利点が得られる。
ソコンに使用されているTFT−LCD(薄膜トランジ
スタ駆動方式の液晶ディスプレイ)と同様な構造で良い
ため、薄型、大画面の検出装置が容易に製作可能であ
る。そのため、光学系を用いることなく、胸部X線写真
などを実サイズで撮像することができる大型サイズの2
次元撮像装置が得られる。
SiTFTを用いた撮像装置が提案されており、この方
式によれば、撮像した画像は直接、ディジタルデータと
して得ることができ、診断画像を容易に画像データとし
て得ることができるようになるという利点が得られ、ま
た、この方式の場合、画素領域はノートパソコンに使用
されているTFT−LCDと同様な構造で良いため、薄
型、大画面の検出装置が容易に製作可能であることか
ら、光学系を用いることなく、胸部X線写真などを実サ
イズで撮像することができる大型サイズの2次元撮像装
置が得られるようになる。
なX線画像収集用の撮像装置として、a−SiTFTを
用いた撮像装置の応用が注目されている。
が大敵である。すなわち、雑音は、画質劣化の原因とな
り、時として診断を誤まる危険性に繋がることから、雑
音を極力減らす事が必須である。
うな撮像装置において、問題となる雑音としては、TF
Tアレイ特有の雑音である読み出し誤差と、リーク電流
の2つがある。
装置は、画素毎に、蓄積された電荷を、一画素ずつ順
次、読み出して画像信号として得る構成であり、読み出
しにあたって画素位置毎に読み出しの特性が微妙に異な
る。
す場合、必要とする読み出し時間(駆動時間)はスイッ
チングに用いられるTFTのオン抵抗と画素容量の時定
数によって決定される。そして、時定数に比較して読み
出し時間が短いと画素に蓄積された電荷を十分に読み出
せず、蓄積電荷と読み出し信号の誤差(雑音)が発生す
る。これがTFTアレイ特有の雑音の一つである読み出
し誤差である。
であるリーク電流は、TFTがオフの時に微少な電流が
流れる現象である。これはTFTのオフ抵抗が十分でな
いことが原因である。この場合、画素に保持している電
荷が外部に流れることになり、蓄積した電荷を正しく読
み出せず、誤差(雑音)となる。
は、読み出し誤差と、リーク電流の2つがあるが、これ
らの雑音対策にあたっての大きな問題は、これら2つの
誤差はトレードオフの関係にあるという点にある。すな
わち、読み出し時間を長くすれば読み出し誤差は小さく
なるが、反面、読み出し時間が長く(即ちオフ時間が長
く)なるとリーク電流による誤差は大きくなる。
とチャネル長の比(W/L)とも関係する。つまり、W
/Lが大きくなるとオン/オフの抵抗が小さくなるた
め、読み出し誤差は小さくなるが、リーク電流は大きく
なる。
差とリーク電流の2つの誤差が最小になるようにTFT
を設計することが重要である。
線写真の“撮影”(静止画)のモードと患部の様子を見
る“透視”(動画)のモードの2種類がある。1枚の写
真を撮る“撮影”では駆動時間は1秒程度であるのに対
し、“透視”では1/30秒程度の繰り返し駆動が必要
なる。従って、それぞれの場合で最適なTFTは異なっ
ており、どちらか一方のモードに的を絞って最適化する
と他方のモードでは誤差が大きくなって実用に耐えられ
ない特性になってしまう。
像装置では、同じものを駆動時間が異なる“撮影”と
“透視”を兼用して使用する構成とすることは難しかっ
た。また“撮影”用と“透視”用の2種類のアレイを設
けて、モードに応じ、切り替えて使用する装置構成を採
用する手もあるが、それではシステムコストが増大し、
また、小型軽量化の趣旨に背くことになる問題がある。
小型軽量化を図ることができると共に、システムコスト
アップを招くことなく、“撮影”と“透視”の2つのモ
ードに対応でき、しかも、画質劣化の原因となる誤差
(雑音)を抑制できるようにした光検出装置を提供する
ことにある。
め、本発明は次のように構成する。すなわち、複数の画
素を配列してなり、各画素が光電変換膜及び画素容量と
その画素容量の蓄積電荷を読み出すスイッチング用の薄
膜トランジスタとから構成されるアレイ状の光検出装置
において、各画素の時定数を切り替える手段を設けたこ
とを特徴とする。
ための光電変換膜による画素電極を複数配列し、各画素
毎に前記光電変換膜の出力を蓄積する画素容量とこの画
素容量の蓄積電荷を読み出す薄膜トランジスタを配設
し、各薄膜トランジスタをスイッチング制御することに
より各画素容量の蓄積電荷を順次読み出して画像信号を
得る光検出装置において、各画素毎に時定数を切り替え
るための補助容量と、この補助容量を前記画素容量に対
して回路接続制御する開閉スイッチとを設け、この開閉
スイッチの制御により、画素毎の信号読み出しの時間に
応じて補助容量を接離制御することにより、前記薄膜ト
ランジスタを介しての、各画素容量の蓄積電荷の読み出
しの際の時定数を制御するようにしたことを特徴とす
る。
するための光電変換膜による画素電極を複数配列し、各
画素毎に前記光電変換膜の出力を蓄積する画素容量とこ
の画素容量の蓄積電荷を読み出す薄膜トランジスタを配
設し、各薄膜トランジスタを駆動信号によりスイッチン
グ駆動制御することにより各画素容量の蓄積電荷を順次
読み出して画像信号を得る光検出装置において、前記薄
膜トランジスタを駆動状態にする際の駆動信号としてレ
ベルの異なる少なくとも2種の駆動信号を用意し、画素
毎の信号読み出しの時間に応じて駆動信号のレベルを選
択する手段を設けたことを特徴とする。
することにより、X線診断装置の“撮影”と“透視”の
ように2つの異なる駆動時間で使用する場合においても
時定数を変えることで、TFTアレイ特有の誤差である
読み出し誤差とリーク電流を最小限に抑えることが出来
る。従って、例えば医療用撮像装置として使用した場合
に誤差(雑音)による診断を防ぐことができる。
して説明する。 (第一の具体例)図1は、本発明の第一の具体例に係わ
る撮像装置の主要部分を示すブロック図である。本具体
例ではX線源およびX線‐可視光変換部は省略して示し
てある。また本具体例ではX線診断装置を例としてあげ
ているが、本発明はX線診断装置に限らずTFTアレイ
を利用した光検出装置全てに適用できる。
動回路、3は信号読み出し回路、11はTFT(薄膜ト
ランジスタ)、12は補助容量切り替え用TFT、21
は光電変換膜、22は光電変換膜‐画素電極間容量、2
3は画素電極‐補助電極間容量、31は電源、33,3
4,35はそれぞれ制御信号線である。
って、読み出し時間を制御し、各ブロックに制御信号を
供給するためのものであり、走査駆動回路2は、ゲート
駆動線対応の出力端子を持ち、順にこれらの出力端子か
らゲート駆動信号を出力してTFT 11のオン・オフ
を制御するものであり、信号読み出し回路3は、各画素
からの信号を検出し、画像信号に変換して出力するため
のものである。
号配線)、S1〜Smは信号線(読出し配線)であり、
これらは格子状に配設されている。ゲート駆動線G1〜
Gnはゲート線駆動を行う走査駆動回路2の複数ある出
力端子に、1対1で対応させて接続されていて、上述の
ように、ゲート駆動線G1〜Gnに順にゲート駆動信号
を与える構成である。
1〜Smとで囲まれる方形の領域はそれぞれ画素の領域
であり、e 1,1〜e m,1〜e 1,n〜e m,nの各画素を形
成している。各画素e 1,1〜e m,nは、光電変換膜‐画
素電極間容量22と光電変換膜21およびそのスイッチ
ング用のa−SiTFT 11および画素電極‐補助電
極間容量23とそのスイッチング用のTFTである補助
容量切り替え用TFT12を有していて、これらには電
源31より直流電圧が供給されている。但し、画素電極
‐補助電極間容量23にはスイッチング用のTFT 1
2を介して電源31より直流電圧が供給されている。
画素対応の1本のゲート駆動線がa−SiTFT 11
のゲートに接続され、ゲート駆動線にゲート駆動信号が
与えられることによって、当該ゲート駆動線にゲートが
接続されたa−SiTFT11のゲートに当該ゲート駆
動信号が印加され、当該a−SiTFT 11は導通
し、光電変換膜21にて電気信号に変換されて光電変換
膜‐画素電極間容量22に充電されていた入射光量対応
の電荷が、当該導通したa−SiTFT 11のソース
ドレインを介して信号線S1〜Smのうち、その画素対
応の信号線に出力される構成である。
制御用の容量であり、補助容量切り替え用TFT 12
をオン・オフにより、充電制御されてその電荷対応に時
定数の調整をするようにしたものであり、撮像装置の駆
動周波数に応じて制御回路1から出力される駆動信号に
よりゲート駆動信号が与えられることで補助容量切り替
え用TFT 12のオン・オフが制御される仕組みであ
る。
オフ制御は、制御回路1により行われる。すなわち、本
発明では制御回路1は、駆動時間(TFT 11のオン
時間)が長い“撮影”のモードの場合にはTFT 12
をオンに制御するようにして時定数を通常値より長く
し、駆動時間が短い“透視”のモードの場合、TFT1
2をオフに制御するように構成してある。
個のマトリックス状配設となっており、これらの画素に
対して光学像が結像されると、各画素を構成する光電変
換膜21はその光学像の光量対応に電荷を発生する。そ
して、その光電変換膜21の変換した入射光量対応の電
荷がCpdなる容量値の光電変換膜‐画素電極間容量22
に蓄積されることになる。
のモードに応じて所要の制御信号をこれらに出力するこ
とにより、次のような動作が行われることになる。
ば、TFT 12をオンに制御し、“透視”のモードの
場合にはTFT 12をオフにするようにTFT 12
のゲート信号を制御する。
ると、走査駆動回路2は順次ゲート駆動線Gをオン(レ
ベル“H”の信号)にする。この走査駆動回路2はn本
の端子を有してそれぞれの端子に1対1でゲート駆動線
G1 〜Gn を接続しており、これらのゲート駆動線G1
〜Gn に順次ゲート信号を与えるので、順次ゲート駆動
線G1 〜Gn は一つづつオンとなり、オンとなったゲー
ト駆動線にゲートが接続されているTFT 11はその
ゲート駆動線がオンとなっている期間、オンとなる。そ
のため、画素の電荷はこのオンとなったTFT 11を
介して信号線S1 〜Sm のうちの対応の信号線に伝達さ
れることになる。
ることにより、信号読み出し回路3は順に信号線S1 〜
Sm を1本ずつ、スキャンして所定時間分ずつその信号
線からの出力信号を読み込む。そして、読み込んだ信号
を出力端子より出力する。
号線S1 〜Sm と接続しており、信号読み出し回路3は
順に信号線S1 〜Sm を1本ずつ、スキャンして所定時
間分ずつその信号線からの出力信号を読み込むことによ
り、対応する各画素からの電荷を蓄積し、それを画像信
号として出力する。
号線S1 〜Sm を順次、所定時間ずつ切り替えて駆動す
ることで、マトリックス配列された画素は順にX‐Yス
キャンされるかたちでアクセスされ、画素に蓄積された
電荷を信号として画素順に読み出すことができることに
なる。
“透視”のモードを判断し、走査駆動回路2と信号読み
出し回路3に適切な制御信号を供給する。
号を図2(a)、(b)に示す。図2(a)は“撮影”
用の制御信号を、また、図2(b)は“透視”用の制御
信号を示しており、CPVは走査駆動回路2のクロック
信号を、また、STVはスタート信号を示していて、制
御回路1からスタート信号STVを発生させて走査駆動
回路2と信号読み出し回路3にこれを入力した瞬間から
これら走査駆動回路2と信号読み出し回路3はこれをト
リガにして所定の動作してTFTアレイの走査を行う。
この所定の動作はトリガされる毎に行われる。
るだけであるので、スタート信号STVは一回のみ、出
力される。また、クロック信号CPVも1秒程度で画像
が取り込めれば良く、それに十分な周波数、例えば、画
素構成が1000×1000画素の場合、1kHz程度
で良い。
間に30枚程度の画像を取り込む必要があるため、スタ
ート信号STVは1/30秒程度の周期で発生されて繰
り返し動作されるようにする。従って、“透視”のモー
ドの場合でのスタート信号STVは高速(30kHz程
度)になる。
ベル“H”なる信号を与えてTFT11をオンさせれば
良いわけであり、“透視”のモードの場合には、上述の
ように、30kHz程度のクロック信号CPVを走査駆
動回路2にて発生させ、当該走査駆動回路2の各出力端
子に順に1クロックずつ振り分けて出力させることによ
り、各ゲート駆動線G1〜Gm を順に駆動させ、その駆
動されたゲート駆動線に繋がる画素のTFT 11をオ
ンさせる。そして、それらの画素に蓄積されていた電荷
を信号読み出し回路3に送る。
画素e 1,1〜e m,nのTFTがオンになり、蓄積されて
いた電荷が信号読み出し回路3に移動する。このとき、
TFTのオン抵抗をRT、画素容量をCpix (但し、C
pix =Cpd+Ccs)とすると時定数τ τ=RT×Cpix で示すことができる。
つ容量であり、この画素電極‐補助電極間容量23は補
助電極切り替え用TFT 12と接続しており、駆動周
波数によってTFT 12をオン・オフする。TFT
12がオンの時は補助容量Ccsは電源31と接続されて
この電源31より直流電圧が供給されるので、これによ
り補助容量Ccsには電荷が蓄積されることになる。そし
て、この時に画素の持つ時定数τは τ=RT×Cpd+Ccs で表せる。
フローティング状態であり、このときに画素の持つ時定
数τは τ=RT×Cpd で示すことができる。
接続状態にするかにより画素の持つ時定数τはRT×C
pdとしたり、RT×Cpd+Ccsとすることができ、Ccs
分の時定数調整ができることになる。
要とする読み出し時間(駆動時間)はスイッチングに用
いられるTFTのオン抵抗と画素容量の時定数によって
決定されるが、時定数に比較して読み出し時間が短いと
画素に蓄積された電荷を十分に読み出せず、蓄積電荷と
読み出し信号の誤差(雑音)が発生するが、これがTF
Tアレイ特有の雑音の一つである読み出し誤差であるか
ら、読み出し時間(駆動時間)が短い場合には読み出し
時間が長い場合に比べて時定数を長くできれば読み出し
誤差は抑制することが可能になる。
動時間(TFT 11のオン時間)が長い“撮影”のモ
ードの場合にはTFT 12をオンに制御するようにし
て時定数を通常値より長くし、駆動時間が短い“透視”
のモードの場合、TFT 12をオフに制御するように
して、時定数を通常値にし、読み出し誤差を一定に保つ
ことができるようにした。さらにTFT 11はどちら
のモードの場合も同じものを使用するため、リーク電流
も一定である。
より、駆動時間(読み出し時間)が変化してもTFT
12のオンオフ制御により、画素電極‐補助電極間容量
23の持つ容量Ccs分の要素について制御する時定数制
御を採用することによって、TFTアレイ特有の雑音で
ある読出し誤差とリーク電流を適切に制御することがで
きるようになる。
例を示す。なお、図1と同一部分には同一符号を付して
その詳しい説明は省略する。
電極24は一般的なTFT‐LCD(TFT液晶表示装
置)の場合と同様の構成をしている。補助電極25は画
素電極24の下に絶縁膜を挟んで存在する構成とし、補
助電極25と画素電極24間に補助容量23が形成され
る。なお、図では省略するが光電変換膜21は画素電極
上を覆っており、画素電極24と光電変換膜21間に光
電変換膜‐画素電極間容量22が形成されている。
12のドレイン電極と接続され、TFT 12のソー
ス電極はバイアス線32に接続されている。さらにゲー
ト電極は制御信号線33と接続している。“撮影”モー
ドの場合、制御信号線33はレベル“H”が与えられ、
TFT 12をオンにし、補助電極25の電位を電源3
1の電位Vbiasに固定する。これにより、Ccsなる容量
値の画素電極‐補助電極間容量23が回路に挿入され
る。“透視”モードの場合、制御信号線33にはレベル
“L”が与えられ、TFT 12はオフになる。この
時、画素電極‐補助電極間容量23はフローティング状
態となるので、オフ直前の電荷量から電荷の移動はな
い。従って、電荷を蓄積する容量はCpdなる容量値を持
つ光電変換膜‐画素電極間容量22のみとなる。
別に、時定数を切り替えることができ、モードを切り替
えても読み出し誤差が抑制できる構成となる。
切り替えを1個のみ画素電極‐補助電極間容量23で示
したが、補助容量を数個に分割し、それぞれTFTと接
続して切り替え制御することも可能であり、この場合、
時定数を細かく調整制御することができる構成となる。
路2、信号読み出し回路3の具体的な回路構成を示して
おく。
1は“撮影”と“透視”のモード切り替えスイッチ4
1、タイミング調整用カウンタ42,44および駆動信
号発生回路43,45、セレクタ46、補助容量切り替
え回路47で構成されている。
めのタイミングでタイミング信号を発生し、駆動信号発
生回路43はこの信号により駆動信号を発生するもので
これらタイミング調整用カウンタ42および駆動信号発
生回路43により図2(a)に示す如きの“撮影”用の
制御信号(単発のスタート信号STVと所定周波数のク
ロック信号CPV)を発生する。また、タイミング調整
用カウンタ44は透視のためのタイミングでタイミング
信号を繰り返し発生し、駆動信号発生回路45はこの信
号により駆動信号を発生するものでこれらタイミング調
整用カウンタ44および駆動信号発生回路45により図
2(b)に示す如きの“透視”用の制御信号(繰り返し
周期のスタート信号STVと高い所定周波数のクロック
信号CPV)を発生する。
“透視”のモード切り替え設定の入力操作を行うもので
あり、セレクタ46は切り替えスイッチ41の信号によ
って“撮影”用または“透視”用の制御信号を出力す
る。また補助容量切り替え回路47も切り替えスイッチ
41による設定操作に従って、“撮影”の時はTFT
12をオフするように、“透視”の時はオンするように
TFT 12のゲート制御用の信号を発生する構成であ
る。
駆動回路2は一般的なTFT−LCDと同様の構造であ
り、シフトレジスタ51とアナログスイッチ52で構成
される。シフトレジスタ51はクロック信号CPVを受
ける毎にシフト動作するものであり、制御回路1からク
ロック信号CPVとスタート信号STVを入力すること
により、シフトレジスタ51はクロックの立ち上がりの
タイミングでスタート信号STVを順次シフトさせ、ア
ナログスイッチ52をオンにする。
1のビット対応にトランジスタを配設し、その出力をゲ
ート駆動線G1〜Gnのうちのそれぞれ対応する一つの
ゲート駆動線に与える構成であり、シフトレジスタ51
の対応のビットが例えば、“H”のときに“H”信号を
出力するもので、これがゲート駆動信号となる。すなわ
ち、アナログスイッチ52がオンのとき、ゲート駆動線
G1〜Gnのうちの対応するものにトランジスタを介し
てオン電位Vccを供給する仕組みである。
の構成を示す。図6(a)は信号線S1〜Sm毎に増幅
器61を接続し、パラレルに信号処理する構成を、図6
(b)は増幅器を最終段に接続し、シリアルに信号処理
する構成を示している。図示はしないがこの他にも信号
線数本毎に増幅器を接続する方法もある。
D変換器62、マルチプレクサ63で構成される。増幅
器61は信号線S1〜Smを介して各画素の電荷を取り
込み、その電圧レベルを増幅して出力する。A/D変換
器62は増幅器61のアナログ信号出力をディジタル信
号に変換する。なお、A/D変換器62の量子化誤差も
画質に影響することになるため、ビット数の大きな(例
えば12ビット以上)A/D変換器を使用することが望
ましい。
対応の電気信号に変換するための光電変換膜を積層した
画素電極を複数配列し、各画素毎に前記光電変換膜の出
力を蓄積する画素容量とこの画素容量の蓄積電荷を読み
出す薄膜トランジスタ(TFT)を配設し、各薄膜トラ
ンジスタ(TFT)をスイッチング制御することにより
各画素容量の蓄積電荷を順次読み出して画像信号を得る
撮像装置において、各画素毎に時定数を切り替えるため
の補助容量と、この補助容量を前記画素容量に対して回
路接続制御する開閉スイッチとを設け、この開閉スイッ
チの制御により、画素毎の信号読み出しの時間に応じて
補助容量を接離制御することにより、前記TFTを介し
ての、各画素容量の蓄積電荷の読み出しの際の時定数を
制御するようにした。画像の品位を左右する読み出し誤
差は、読み出し時間の短い時における時定数の大小に応
じて変わる。読み出し誤差を決める時定数は、TFTの
抵抗値と画素容量とによるから、補助容量を回路に接離
制御することができるようにして、この接離制御により
時定数を変えるようにすることで、読み出し時間に応じ
(モードに応じ)、時定数を変えて使用できるようにし
た。そのため、読み出し誤差を抑制できるようになり、
また、モードが変わっても同じTFTを使用して画素容
量の蓄積電荷の読み出しを行うのでリーク電流は同一と
することができる。
の切り替えをこの補助容量により行うようにしたもので
あったが、補助容量を使用せずとも時定数をモードに応
じていて切り替えることができる。その例を第二の具体
例として次に説明する。
11のオンオフ制御用のゲート駆動信号のレベルと、
高電位側2種類、低電位側1種類の計、3種類用い、オ
ン時のTFT 11の駆動レベルを2種選択できるよう
にして、これにより時定数を切り替えるようにするもの
であり、以下、詳細を説明する。
像装置の主要部分を示すブロック図である。なお、図1
と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略
する。また、本具体例では、X線源およびX線‐可視光
変換部を省略してある。また、X線診断装置を例として
あげているが、本発明はX線診断装置に限らずTFTア
レイを利用した光検出装置全般に適用できる。また、図
7では除いているが、第一の具体例で示した画素容量の
制御についても併用することは可能である。
素電極‐補助電極間容量23(Ccs)と補助容量切り替
え用TFT 12を廃止し、代わりに走査駆動回路2か
ら出力する電位を制御する回路71を付加したことを特
徴とする。走査駆動回路2の出力は通常、TFT 11
のオン・オフを制御する2種類の電位Vgh(レベル
“H”)とVgl(レベル“L”)である。この時、T
FT11のオン抵抗は高電位側の出力Vghで決定され
る。本発明では高電位側としてVgg1とVgg2の2
種の電圧を、また、低電位側としてレベル“L”該当の
Vss、1種類を電位制御回路71に入力し、駆動周波
数によってオン制御用のレベル“H”の信号である高電
位側の電位を、Vgg1またはVgg2に切り替えるこ
とによってTFT 11のオン抵抗を変化させ、最適な
時定数に調整する。この切り替え制御は制御回路1によ
り、“撮影”、“透視”のモード対応に行う。
読み出し誤差を一定に保つことができるようになり、ま
た、モードが変わってもTFTは同じものを使用するこ
とから、リーク電流も状態が同じとなって、読み出し誤
差とリーク電流による雑音の影響を小さくすることがで
きる。
示す。電位制御回路71には高電位側の電圧としてVg
h(=Vgg1)とVgl(=Vgg2)の2種の電圧
を与え、これを制御回路1の信号36により切り替え回
路71aにより、切り替えてVggとして出力する構成
とする。Vssはレベル“L”で、通常は零電位(接地
電位)であり、このVssとVggとを走査駆動回路2
に与える構成とする。
に供給する高電位側の電源Vggを、切り替え回路71
aを制御回路1の信号にて切り替え制御することにより
切り替える。走査駆動回路2はVggとVssとを受
け、出力信号のレベルとしてはこのVggかVssのレ
ベルのいずれかとなる構成であれば、高電位側の出力の
時にはVgg=Vghとなる。
位側信号出力レベルはVgg=Vghとなっているた
め、電源VggをVgg1(=Vgh)かVgg2(=
Vgl)に切り替えることができるようにしたことで、
レベル“H”出力をVghかVglに変化させることが
できる。そして、これにより、時定数を切り替えること
ができることになる。
換膜及び画素容量とスイッチング用のTFTとから構成
されるアレイ状の撮像装置において、読み出し誤差やリ
ーク電流の抑制対策の対象として、a−SiTFTを用
いたシステムを主に説明してきたが、これはa−SiT
FTに限らない。ポリシリコンTFTを用いた構成でも
同様に適用して効果がある。また、本発明は二次元の撮
像装置(光検出装置)として説明したが、一次元の撮像
装置(光検出装置)すなわち、直線状に画素を配設する
ことで大型のラインセンサとしての応用も可能である。
光電変換膜及び画素容量とスイッチング用のTFTとか
ら構成されるアレイ状の撮像装置において、時定数を切
り替える手段を設けたことにより、X線診断装置の“撮
影”と“透視”のように2つ以上の異なる駆動時間で使
用する場合においてもTFTアレイ特有の誤差である読
み出し誤差とリーク電流を最小限に抑えることが出来る
ようになり、画質の向上を図って医用装置に利用可能と
なる撮像装置が得られるようになる。
第一の具体例に係わる撮像装置の主要部分を示すブロッ
ク図。
ステムにおける制御回路1から走査線駆動回路2へ供給
する制御信号の一例を示す図。
第一の具体例に係わるTFTアレイの1つの画素の平面
図を示す図。
ステムにおける制御回路1の具体的な構成例を示す図。
ステムにおける走査線駆動回路2の具体的な構成例を示
す図。
ステムにおける信号読み出し回路3の具体的な構成例を
示す図。
第二の具体例に係わる撮像装置の主要部分を示すブロッ
ク図。
ステムにおける電位制御回路71の具体的な構成を示す
図。
す図。
Claims (3)
- 【請求項1】 複数の画素を配列してなり、各画素が光
電変換膜及び画素容量とその画素容量の蓄積電荷を読み
出すスイッチング用の薄膜トランジスタとから構成され
るアレイ状の光検出装置において、 各画素の時定数を切り替える手段を設けたことを特徴と
する光検出装置。 - 【請求項2】 入射光量対応の電気信号に変換するため
の光電変換膜による画素電極を複数配列し、各画素毎に
前記光電変換膜の出力を蓄積する画素容量とこの画素容
量の蓄積電荷を読み出す薄膜トランジスタを配設し、各
薄膜トランジスタをスイッチング制御することにより各
画素容量の蓄積電荷を順次読み出して画像信号を得る光
検出装置において、 各画素毎に時定数を切り替えるための補助容量と、この
補助容量を前記画素容量に対して回路接続制御する開閉
スイッチとを設け、 この開閉スイッチの制御により、画素毎の信号読み出し
の時間に応じて補助容量を接離制御することにより、前
記薄膜トランジスタを介しての、各画素容量の蓄積電荷
の読み出しの際の時定数を制御するようにしたことを特
徴とする光検出装置。 - 【請求項3】 入射光量対応の電気信号に変換するため
の光電変換膜による画素電極を複数配列し、各画素毎に
前記光電変換膜の出力を蓄積する画素容量とこの画素容
量の蓄積電荷を読み出す薄膜トランジスタを配設し、各
薄膜トランジスタを駆動信号によりスイッチング駆動制
御することにより各画素容量の蓄積電荷を順次読み出し
て画像信号を得る光検出装置において、 前記薄膜トランジスタを駆動状態にする際の駆動信号と
してレベルの異なる少なくとも2種の駆動信号を用意
し、画素毎の信号読み出しの時間に応じて駆動信号のレ
ベルを選択する手段を設けたことを特徴とする光検出装
置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08875496A JP3612139B2 (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | 光検出装置 |
US08/818,102 US5981931A (en) | 1996-03-15 | 1997-03-14 | Image pick-up device and radiation imaging apparatus using the device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP08875496A JP3612139B2 (ja) | 1996-03-18 | 1996-03-18 | 光検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09261538A true JPH09261538A (ja) | 1997-10-03 |
JP3612139B2 JP3612139B2 (ja) | 2005-01-19 |
Family
ID=13951695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP08875496A Expired - Fee Related JP3612139B2 (ja) | 1996-03-15 | 1996-03-18 | 光検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3612139B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003500905A (ja) * | 1999-05-18 | 2003-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | センサマトリックス |
WO2006112320A1 (ja) * | 2005-04-15 | 2006-10-26 | Hitachi Medical Corporation | X線平面検出器及びx線画像診断装置 |
JP2007507980A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-03-29 | アルタセンズ インコーポレイテッド | Cmos撮像装置及びデジタルビデオ装置 |
CN101959025A (zh) * | 2009-07-13 | 2011-01-26 | 佳能株式会社 | 图像捕获装置和放射线图像捕获系统 |
-
1996
- 1996-03-18 JP JP08875496A patent/JP3612139B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2003500905A (ja) * | 1999-05-18 | 2003-01-07 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | センサマトリックス |
JP2007507980A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-03-29 | アルタセンズ インコーポレイテッド | Cmos撮像装置及びデジタルビデオ装置 |
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---|---|
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