JPH09237670A - Manufacture for electric charge generating device - Google Patents

Manufacture for electric charge generating device

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JPH09237670A
JPH09237670A JP6387096A JP6387096A JPH09237670A JP H09237670 A JPH09237670 A JP H09237670A JP 6387096 A JP6387096 A JP 6387096A JP 6387096 A JP6387096 A JP 6387096A JP H09237670 A JPH09237670 A JP H09237670A
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JP
Japan
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electrode
charge generation
charge
line electrode
film
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6387096A
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Japanese (ja)
Inventor
Yukiaki Minamoto
幸昭 源
Masashi Kitazawa
正志 北沢
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
Application filed by Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Optical Co Ltd
Priority to JP6387096A priority Critical patent/JPH09237670A/en
Publication of JPH09237670A publication Critical patent/JPH09237670A/en
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  • Electrostatic Charge, Transfer And Separation In Electrography (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method for an electric charge generating device in which insulation film thickness between a finger electrode and a screen electrode is uniform, and in which dispersion in extracted electric charge quantity is reduced to provide a high image quality. SOLUTION: After a line electrode 2 is formed on an insulation substrate 1, a dielectric film 3 is formed on it, and a finger electrode 4 is formed on it. After the finger electrode 4 is formed, an insulation film 6 comprising polyimide or the like is formed thicker than an expected finished film thickness. Next, a surface of the insulation film is polished by a chemical mechanical polishing(CMP) device to be flattened. After a flattening process to the insulation film 6, a screen electrode 7 is formed, and using the screen electrode 7 as a mask, the insulation film 6 is selectively eliminated by an etching process to form a space 9 for manufacturing an electric charge generating device.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、静電印刷に用い
られる静電像形成装置あるいは表示装置などに利用され
る電荷発生装置の製造方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a charge generating device used in an electrostatic image forming device or a display device used in electrostatic printing.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、電荷を直接誘電性記録体上に移送
しデポジッションさせる原理により、誘電性記録体上に
静電荷による潜像を形成する方式として、コロナ放電を
利用した電荷発生装置が特公平2−62862号公報に
開示されており、またかかる電荷発生装置を、半導体微
細加工技術を用いて高精細に形成する手法が、本件出願
人の出願に係る特願平6−268145号において提案
されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a charge generation device using corona discharge has been used as a method of forming a latent image by electrostatic charge on a dielectric recording medium based on a principle of transferring and depositing electric charges directly on a dielectric recording medium. Japanese Patent Publication No. 2-62862 discloses a technique for forming such a charge generating device with high definition by using a semiconductor fine processing technique, which is disclosed in Japanese Patent Application No. 6-268145 filed by the present applicant. Proposed.

【0003】図8は、従来の静電像形成装置の電荷発生
装置の構成例の一部を示す断面図である。図8におい
て、100 は1個の電荷発生制御素子を示しており、電荷
発生装置は多数個の電荷発生制御素子100 を1次元状、
あるいは2次元状に配列して構成されている。電荷発生
制御素子100 は石英あるいはガラスよりなる絶縁基板10
1 と、金属よりなるライン電極102 と、無機絶縁物より
なる誘電膜103 と、金属よりなるフィンガー電極104
と、ポリイミド等からなる絶縁膜105 と、金属よりなる
スクリーン電極106 とで構成され、フィンガー電極104
とスクリーン電極106 にはフィンガー孔107 及びスクリ
ーン孔108 がそれぞれ形成されており、また絶縁膜105
にはスクリーン孔108 の下部に空間109 が形成されてい
る。
FIG. 8 is a sectional view showing a part of a configuration example of a charge generator of a conventional electrostatic image forming apparatus. In FIG. 8, reference numeral 100 denotes one charge generation control element, and the charge generation device has a plurality of charge generation control elements 100 in a one-dimensional shape.
Alternatively, they are arranged in a two-dimensional array. The charge generation control element 100 is an insulating substrate 10 made of quartz or glass.
1, a line electrode 102 made of a metal, a dielectric film 103 made of an inorganic insulator, and a finger electrode 104 made of a metal.
, An insulating film 105 made of polyimide or the like, and a screen electrode 106 made of metal.
The screen electrode 106 has finger holes 107 and screen holes 108, respectively.
A space 109 is formed below the screen hole 108.

【0004】次に、このように構成されている電荷発生
制御素子100 の動作について説明する。図8において、
誘電膜103 を挟んで配置されたライン電極102 とフィン
ガー電極104 間に、交流電圧を印加することにより、フ
ィンガー孔107 の側壁と誘電膜103 上において、コロナ
放電現象により電荷群が発生する。この電荷群の内の移
動度の大きい負電荷が潜像形成に利用される。フィンガ
ー電極104 に対向して、絶縁膜105 を介させて形成した
スクリーン電極106 に、フィンガー電極104 に印加する
電位よりも正の電位を印加すると、コロナ放電により発
生した負電荷はスクリーン電極106 に形成されているス
クリーン孔108 より抽出される。スクリーン孔108 より
抽出された負電荷は、誘電性記録体であるドラム110 に
向けて放出され、該ドラム110 にデポジッションし電荷
潜像を形成する。逆にスクリーン電極106 に、フィンガ
ー電極104 に対して負の電位を印加した場合は、スクリ
ーン孔108 からの負電荷の抽出は阻止され、ドラム110
への潜像は形成されなくなる。
Next, the operation of the charge generation control device 100 having the above-described configuration will be described. In FIG.
By applying an AC voltage between the line electrode 102 and the finger electrode 104 which are arranged with the dielectric film 103 sandwiched between them, a charge group is generated by the corona discharge phenomenon on the side wall of the finger hole 107 and on the dielectric film 103. Negative charges having a large mobility in the charge group are used for latent image formation. When a positive potential higher than the potential applied to the finger electrode 104 is applied to the screen electrode 106 formed facing the finger electrode 104 via the insulating film 105, the negative charge generated by the corona discharge is applied to the screen electrode 106. It is extracted from the formed screen hole 108. The negative charges extracted from the screen holes 108 are emitted toward a drum 110, which is a dielectric recording medium, and are deposited on the drum 110 to form a charge latent image. On the contrary, when a negative potential is applied to the screen electrode 106 with respect to the finger electrode 104, the extraction of the negative charge from the screen hole 108 is blocked, and the drum 110 is blocked.
No latent image is formed.

【0005】次に、図8に示した電荷発生装置の製造方
法について説明する。石英,ガラス等の絶縁基板101 上
に、ライン電極膜をスパッタリング、真空蒸着、メッキ
法等により成膜する。電極材料としては、Ti ,TiN,
Mo ,W,Al ,Cu 等の単層金属、あるいはAl の上
にTi ,TiN等を形成した複層金属が用いられ、膜厚は
0.5 〜2μm程度である。その後フォトリソグラフィー
法でライン電極膜をパターニングし、レジスト膜に被覆
されてない部分をウエット又はR.I.E(Reactive I
on Etching)等のドライエッチングで除去することによ
り、ライン電極102 を形成する。
Next, a method of manufacturing the charge generator shown in FIG. 8 will be described. A line electrode film is formed on an insulating substrate 101 such as quartz or glass by sputtering, vacuum evaporation, plating or the like. As the electrode material, Ti, TiN,
A single-layer metal such as Mo, W, Al, or Cu, or a multilayer metal having Ti, TiN, etc. formed on Al is used.
It is about 0.5 to 2 μm. Thereafter, the line electrode film is patterned by a photolithography method, and a portion not covered with the resist film is wet or R.I. I. E (Reactive I
The line electrode 102 is formed by removing it by dry etching such as on etching.

【0006】ライン電極102 を形成した後、SiO2 ,Si
ON,SiN,TiO2 ,Al2 3 膜等の静電耐圧の高い無
機絶縁材料をプラズマCVD(Plasma Chemical Vapor
Deposition)、常圧CVD(Atmospheric Pressure Che
mical Vapor Deposition)、スパッタリング法等で成膜
し、誘電膜103 を形成する。なお、下地のライン電極10
2 の段差分を低減させるため、誘電膜間にSOG(Spin
On Glass )膜をスピンコート法により介在させ、その
上部と下部に上記の絶縁材料膜を形成した3層構造にし
ている(図示せず)。これによりライン電極102 とフィ
ンガー電極104間の耐圧が向上し、更に各素子間の発生
電荷量のばらつきが小さくなることにより、高精細の画
質を有する電荷発生装置が実現できるようになってい
る。なお、誘電膜全体の膜厚は3〜10μm程度である。
誘電膜103 の成膜後、ライン電極パッド部を開口する
(図示せず)。その開口方法としては、フォトリソグラ
フィー法でパッド部以外の部分にレジスト膜を被覆し、
レジスト膜が被覆されてないパッド領域の誘電膜をウエ
ットエッチング、ドライエッチング、あるいはウエット
とドライを併用するエッチング方法で除去する方法を用
いる。
After the line electrode 102 is formed, SiO 2 , Si
Plasma CVD (Plasma Chemical Vapor) of inorganic insulating materials with high electrostatic withstand voltage such as ON, SiN, TiO 2 and Al 2 O 3 films
Deposition), atmospheric pressure CVD (Atmospheric Pressure Che
The dielectric film 103 is formed by forming a film by a chemical vapor deposition method, a sputtering method, or the like. In addition, the base line electrode 10
In order to reduce the step difference of 2, the SOG (Spin
An On Glass) film is interposed by a spin coating method to form a three-layer structure in which the insulating material film is formed on the upper and lower portions (not shown). As a result, the breakdown voltage between the line electrode 102 and the finger electrode 104 is improved, and the variation in the generated charge amount between the respective elements is reduced, so that a charge generation device having high definition image quality can be realized. The thickness of the entire dielectric film is about 3 to 10 μm.
After forming the dielectric film 103, the line electrode pad portion is opened (not shown). As the opening method, a resist film is coated on a portion other than the pad portion by a photolithography method,
A method of removing the dielectric film in the pad region not covered with the resist film by wet etching, dry etching, or an etching method using both wet and dry is used.

【0007】ライン電極パッド部の開口後、レジスト膜
を除去し、フィンガー電極104 をライン電極102 と同じ
製造方法で形成する。電極材料としてはTi ,TiN,M
o ,W等の高融点金属が望ましい。膜厚は0.5 〜3μm
程度で、フィンガー孔107 の径は15μm前後である。フ
ィンガー電極104 の形成後、ポリイミド等の有機絶縁材
料からなる絶縁膜105 をスピンコート法、あるいはスク
リーン印刷法により成膜する。膜厚は50μm以上が望ま
しい。絶縁膜105 を形成した後、スクリーン電極106 を
ライン電極及びフィンガー電極と同様の製造方法で絶縁
膜105 上に形成する。電極材料としてはTi ,TiN,M
o ,W等の高融点金属、あるいはそれらの高融点金属の
上部にAl ,Cu を覆った複層金属が望ましい。膜厚は
1〜3μm程度で、スクリーン孔108 の径は50μm程度
以下である。
After the opening of the line electrode pad portion, the resist film is removed, and the finger electrodes 104 are formed by the same manufacturing method as the line electrodes 102. As electrode material, Ti, TiN, M
High melting point metals such as o and W are desirable. The film thickness is 0.5-3 μm
The diameter of the finger hole 107 is about 15 μm. After forming the finger electrodes 104, an insulating film 105 made of an organic insulating material such as polyimide is formed by spin coating or screen printing. The thickness is desirably 50 μm or more. After forming the insulating film 105, the screen electrode 106 is formed on the insulating film 105 by the same manufacturing method as the line electrode and the finger electrode. As electrode material, Ti, TiN, M
It is desirable to use refractory metals such as o and W, or a multi-layer metal in which Al and Cu are covered on the refractory metals. The film thickness is about 1 to 3 μm, and the diameter of the screen hole 108 is about 50 μm or less.

【0008】スクリーン電極106 の形成後、該スクリー
ン電極106 をマスクにして、プラズマを用いたドライエ
ッチング法あるいは薬液中のウエットエッチング法によ
り、スクリーン電極106 の下部以外の絶縁膜105 を選択
的に除去し、スクリーン孔108 の下部の空間109 を形成
する。以上の工程を経て、図8に示した電荷発生制御素
子が完成する。
After the screen electrode 106 is formed, the insulating film 105 other than the lower part of the screen electrode 106 is selectively removed by a dry etching method using plasma or a wet etching method in a chemical solution using the screen electrode 106 as a mask. Then, a space 109 below the screen hole 108 is formed. Through the above steps, the charge generation control element shown in FIG. 8 is completed.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】以上のように電荷発生
装置の作製に半導体製造方法を利用することによって、
それまで用いられていた特公平2−62862号公報に
開示されているような印刷、張り合わせによる製造法よ
りも、大幅な微細加工が可能となり、優れた画質を有す
る高精細な電荷発生装置が実現できるが、図8に示した
し従来の電荷発生装置には依然として、次のような問題
点がある。
As described above, by utilizing a semiconductor manufacturing method for manufacturing a charge generating device,
A high-definition charge generation device having excellent image quality can be realized, which enables much finer processing than the manufacturing method by printing and laminating as disclosed in Japanese Patent Publication No. 2-62862. However, the conventional charge generator shown in FIG. 8 still has the following problems.

【0010】まず主な問題点は、絶縁膜105 の面内膜厚
不均一に関する問題である。絶縁膜105 の膜厚は50μm
以上であるので、当然、μmオーダーの面内膜厚不均一
が生じる。したがって、その上部に形成するスクリーン
電極106 とフィンガー電極104 の距離が、各素子間にわ
たってμmオーダーのばらつきが生じる。このμmオー
ダーのばらつきによって、各電荷発生制御素子の抽出さ
れる電荷量が大きくばらつき、画質の著しい低下を来
す。また絶縁膜105 の表面に異物があることにより、絶
縁膜105 とスクリーン電極106 の密着性も悪くなるの
で、製造プロセスやデバイス特性における信頼性にも欠
ける。
First, the main problem is the problem of non-uniformity of the in-plane film thickness of the insulating film 105. The thickness of the insulating film 105 is 50 μm
As described above, the in-plane film thickness nonuniformity on the order of μm naturally occurs. Therefore, the distance between the screen electrode 106 and the finger electrode 104 formed on the upper part of the element varies by μm among the elements. Due to this μm-order variation, the amount of charge extracted by each charge generation control element greatly varies, resulting in a significant deterioration in image quality. In addition, the presence of foreign matter on the surface of the insulating film 105 deteriorates the adhesion between the insulating film 105 and the screen electrode 106, resulting in lack of reliability in the manufacturing process and device characteristics.

【0011】そこで本発明は、フィンガー電極とスクリ
ーン電極の間の絶縁膜の膜厚を均一にし、各素子のフィ
ンガー電極とスクリーン電極間の距離を均一にすること
により、抽出される電荷量のばらつきを低減させ、従来
よりも高画質を有する電荷発生装置の製造方法を提供す
ることを目的とする。また絶縁膜の表面より異物を除去
して、表面をクリーンな状態にし、それにより絶縁膜と
その上部に形成されるスクリーン電極との密着性をよく
して、製造プロセスやデバイス特性における信頼性もよ
くすることの可能な電荷発生装置の製造方法を提供する
ことを目的とする。更に、本発明は、ライン電極表面と
絶縁基板表面の間のエッジ部段差のない、従来よりも高
耐久、高画質を有する電荷発生装置の製造方法を提供す
ることを目的とする。
Therefore, according to the present invention, the thickness of the insulating film between the finger electrodes and the screen electrode is made uniform, and the distance between the finger electrode and the screen electrode of each element is made uniform, so that the variation in the amount of electric charge extracted is made. It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a charge generation device which has a higher image quality than before. In addition, foreign matter is removed from the surface of the insulating film to make the surface clean, thereby improving the adhesion between the insulating film and the screen electrode formed on top of it, and improving the reliability of the manufacturing process and device characteristics. It is an object of the present invention to provide a charge generating device manufacturing method that can be improved. A further object of the present invention is to provide a method of manufacturing a charge generating device having no edge step between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate and having higher durability and higher image quality than ever before.

【0012】請求項毎の目的を述べると、請求項1及び
2記載の発明は、フィンガー電極とスクリーン電極の間
の絶縁膜の膜厚を均一にし、各素子のフィンガー電極と
スクリーン電極間の距離を均一にすることにより、抽出
される電荷量のばらつきを低減させ、従来よりも高画質
で高信頼性を有する電荷発生装置の製造方法を提供する
ことを目的とする。また絶縁膜とその上部に形成される
スクリーン電極との密着性をよくし、従来よりも製造プ
ロセスやデバイス特性における信頼性を向上させること
の可能な電荷発生装置の製造方法を提供することを目的
とする。
When the object of each claim is described, the invention according to claims 1 and 2 makes the film thickness of the insulating film between the finger electrode and the screen electrode uniform, and the distance between the finger electrode and the screen electrode of each element. It is an object of the present invention to provide a method of manufacturing a charge generation device that reduces the variation in the amount of extracted charge by making the charge distribution uniform and has higher image quality and higher reliability than in the past. Another object of the present invention is to provide a method of manufacturing a charge generation device, which can improve the adhesion between an insulating film and a screen electrode formed on the insulating film and improve the reliability of the manufacturing process and device characteristics more than before. And

【0013】請求項3及び4記載の発明は、ライン電極
表面と絶縁基板表面の間のエッジ部段差をなくし、それ
により発生するコロナ電荷量のばらつきを低減し、従来
よりも更に高画質を有する電荷発生装置の製造方法を提
供することを目的とする。またライン電極表面と絶縁基
板表面の間のエッジ部段差をなくし、ライン電極とフィ
ンガー電極間の誘電膜の絶縁耐圧を向上させ、従来より
も高耐久を有する電荷発生装置の製造方法を提供するこ
とを目的とする。
According to the third and fourth aspects of the present invention, the step difference at the edge between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate is eliminated, the variation in the corona charge amount generated thereby is reduced, and the image quality is higher than in the prior art. An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a charge generation device. In addition, there is provided a method of manufacturing a charge generation device which eliminates a step difference at an edge portion between a surface of a line electrode and a surface of an insulating substrate, improves a withstand voltage of a dielectric film between a line electrode and a finger electrode, and has higher durability than conventional ones. With the goal.

【0014】[0014]

【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項1記載の発明は、絶縁基板上に形成されたラ
イン電極と、該ライン電極の表面に形成された固体誘電
膜と、該固体誘電膜の上部に形成され、中心部に電荷生
成用の孔部を有するフィンガー電極と、該フィンガー電
極表面に、中心部に電荷を通過せしめる孔部を有する固
体絶縁膜を介して形成された、中心部に電荷流出用の孔
部を有するスクリーン電極よりなる電荷発生制御素子を
複数個配設してなる電荷発生装置の製造方法において、
前記固体絶縁膜をケミカルメカニカルポリッシュ法によ
って平坦化する工程を備えていることを特徴とするもの
である。
In order to solve the above problems, the invention according to claim 1 provides a line electrode formed on an insulating substrate, and a solid dielectric film formed on the surface of the line electrode. A finger electrode is formed on the solid dielectric film and has a hole for charge generation in the center, and a solid insulating film having a hole for allowing charges to pass through is formed on the surface of the finger electrode. Also, in a method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements each comprising a screen electrode having a hole for discharging a charge in a central portion,
The method is characterized by including a step of planarizing the solid insulating film by a chemical mechanical polishing method.

【0015】このように固体絶縁膜の成膜後、ケミカル
メカニカルポリッシュ(以下CMPと略称する)法で絶
縁膜の表面を研磨して平坦化し、絶縁膜の面内膜厚を均
一にすることにより、各素子全体のフィンガー電極とス
クリーン電極との距離が均一になる。これにより、各電
荷発生制御素子全体の抽出される電荷量のばらつきが低
減され、従来よりも高画質を有する電荷発生装置が実現
できる。また絶縁膜の表面をCMP法で平坦化すること
により、絶縁膜とその上部に形成されるスクリーン電極
との密着性をよくさせ、製造プロセスやデバイス特性に
おける信頼性も向上させることができる。
After the solid insulating film is thus formed, the surface of the insulating film is polished and flattened by the chemical mechanical polishing (hereinafter abbreviated as CMP) method to make the in-plane film thickness of the insulating film uniform. The distance between the finger electrode and the screen electrode of each element becomes uniform. As a result, variations in the amount of extracted charges of the entire charge generation control element are reduced, and a charge generation device having higher image quality than conventional can be realized. Further, by flattening the surface of the insulating film by the CMP method, the adhesion between the insulating film and the screen electrode formed on the insulating film can be improved, and the reliability of the manufacturing process and device characteristics can be improved.

【0016】請求項2記載の発明は、絶縁基板上に形成
されたライン電極と、該ライン電極の表面に形成された
固体誘電膜と、固体誘電膜の上部に形成され、中心部に
電荷生成用の孔部を有するフィンガー電極と、該フィン
ガー電極表面に、中心部に電荷を通過せしめる孔部を有
する固体絶縁膜を介して形成された、中心部に電荷流出
用の孔部を有するスクリーン電極よりなる電荷発生制御
素子を複数個配設してなる電荷発生装置の製造方法にお
いて、前記固体絶縁膜をエッチングバック法によって平
坦化する工程を備えていることを特徴とするものであ
る。
According to a second aspect of the present invention, the line electrode formed on the insulating substrate, the solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, and the solid dielectric film formed on the solid dielectric film, the charge is generated in the central portion. And a screen electrode having a hole for discharging electric charges in the center, which is formed through a solid insulating film having a hole in the center of the finger electrode for allowing charges to pass through on the surface of the finger electrode. A method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements each comprising the step of flattening the solid insulating film by an etching back method.

【0017】このように固体絶縁膜の成膜後、エッチン
グバック法で絶縁膜の表面を平坦化し、絶縁膜の面内膜
厚を均一にすることにより、各素子全体のフィンガー電
極とスクリーン電極との距離が均一になる。これによ
り、各電荷発生制御素子全体の抽出される電荷量のばら
つきが低減され、従来よりも高画質を有する電荷発生装
置が実現できる。また絶縁膜の表面をエッチングバック
法で平坦化することにより、絶縁膜とその上部に形成す
るスクリーン電極との密着性をよくさせ、製造プロセス
やデバイス特性における信頼性も向上させることができ
る。
After the solid insulating film is formed as described above, the surface of the insulating film is flattened by the etching back method to make the in-plane film thickness of the insulating film uniform, whereby the finger electrodes and the screen electrodes of all the elements are formed. The distance will be uniform. As a result, variations in the amount of extracted charges of the entire charge generation control element are reduced, and a charge generation device having higher image quality than conventional can be realized. Further, by flattening the surface of the insulating film by the etching back method, the adhesion between the insulating film and the screen electrode formed on the insulating film can be improved, and the reliability of the manufacturing process and device characteristics can be improved.

【0018】請求項3記載の発明は、絶縁基板上に形成
されたライン電極と、該ライン電極の表面に形成された
固体誘電膜と、固体誘電膜の上部に形成され、中心部に
電荷生成用の孔部を有するフィンガー電極と、該フィン
ガー電極表面に、中心部に電荷を通過せしめる孔部を有
する固体絶縁膜を介して形成された、中心部に電荷流出
用の孔部を有するスクリーン電極よりなる電荷発生制御
素子を複数個配設してなる電荷発生装置の製造方法にお
いて、前記ライン電極を前記絶縁基板内部に埋め込んで
形成したのち、該ライン電極の表面と該絶縁基板の表面
をCMP法によって一体的に平坦化する工程を備えてい
ることを特徴とするものである。
According to a third aspect of the present invention, the line electrode formed on the insulating substrate, the solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, and the solid dielectric film formed on the solid dielectric film are formed in the central portion thereof to generate charges. And a screen electrode having a hole for discharging electric charges in the center, which is formed through a solid insulating film having a hole in the center of the finger electrode for allowing charges to pass through on the surface of the finger electrode. In a method of manufacturing a charge generator comprising a plurality of charge generation control elements, the line electrode is embedded in the insulating substrate, and then the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate are CMP-processed. The method is characterized by including a step of flattening integrally by a method.

【0019】このようにライン電極を絶縁基板に埋め込
み、その後表面をCMP法で研磨して表面を平坦化し、
ライン電極表面と絶縁基板表面の間のエッジ部段差をな
くする。これにより、これらの上部に形成される誘電膜
の表面も更に平坦化され、各素子全体のライン電極とフ
ィンガー電極との距離が均一になる。すなわち、各電荷
発生制御素子全体において発生するコロナ電荷量のばら
つきが低減され、従来よりも更に高画質を有する電荷発
生装置が実現できる。また更にライン電極表面と絶縁基
板表面の間のエッジ部段差がなくなることにより、ライ
ン電極とフィンガー電極間にある誘電膜の絶縁耐圧が向
上し、従来よりも更に高耐久性を有する電荷発生装置が
実現できる。
Thus, the line electrode is embedded in the insulating substrate, and then the surface is polished by the CMP method to flatten the surface.
Eliminate the edge step between the line electrode surface and the insulating substrate surface. As a result, the surface of the dielectric film formed above these is further flattened, and the distance between the line electrodes and finger electrodes of each element is made uniform. That is, the variation in the amount of corona charge generated in each charge generation control element as a whole is reduced, and a charge generation device having higher image quality than ever can be realized. Furthermore, since the edge step between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate is eliminated, the withstand voltage of the dielectric film between the line electrode and the finger electrode is improved, and a charge generation device having higher durability than before is provided. realizable.

【0020】請求項4記載の発明は、絶縁基板上に形成
されたライン電極と、該ライン電極の表面に形成された
固体誘電膜と、固体誘電膜の上部に形成され、中心部に
電荷生成用の孔部を有するフィンガー電極と、該フィン
ガー電極表面に、中心部に電荷を通過せしめる孔部を有
する固体絶縁膜を介して形成された、中心部に電荷流出
用の孔部を有するスクリーン電極よりなる電荷発生制御
素子を複数個配設してなる電荷発生装置の製造方法にお
いて、前記ライン電極を前記絶縁基板内部に埋め込んで
形成したのち、該ライン電極の表面と該絶縁基板の表面
をエッチングバック法によって一体的に平坦化する工程
を備えていることを特徴とするものである。
According to a fourth aspect of the present invention, the line electrode formed on the insulating substrate, the solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, and the solid dielectric film formed on the solid dielectric film, the charge is generated in the central portion. And a screen electrode having a hole for discharging electric charges in the center, which is formed through a solid insulating film having a hole in the center of the finger electrode for allowing charges to pass through on the surface of the finger electrode. In a method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements, the line electrode is embedded in the insulating substrate, and then the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate are etched. It is characterized by including a step of flattening integrally by the back method.

【0021】このようにライン電極を絶縁基板に埋め込
み、その後表面をエッチングバック法で表面を平坦化
し、ライン電極表面と絶縁基板表面の間のエッジ部段差
をなくする。これにより、これらの上部に形成する誘電
膜の表面も更に平坦化され、各素子全体のライン電極と
フィンガー電極との距離が均一になる。すなわち、各電
荷発生制御素子全体において発生するコロナ電荷量のば
らつきが低減され、従来よりも更に高画質を有する電荷
発生装置が実現できる。また更にライン電極表面と絶縁
基板表面の間のエッジ部段差がなくなることにより、ラ
イン電極とフィンガー電極間にある誘電膜の絶縁耐圧が
向上し、従来よりも更に高耐久性を有する電荷発生装置
が実現できる。
In this way, the line electrode is embedded in the insulating substrate, and then the surface is flattened by the etching back method to eliminate the edge step between the line electrode surface and the insulating substrate surface. As a result, the surface of the dielectric film formed above these is further flattened, and the distance between the line electrodes and finger electrodes of each element is made uniform. That is, the variation in the amount of corona charge generated in each charge generation control element as a whole is reduced, and a charge generation device having higher image quality than ever can be realized. Furthermore, since the edge step between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate is eliminated, the withstand voltage of the dielectric film between the line electrode and the finger electrode is improved, and a charge generation device having higher durability than before is provided. realizable.

【0022】[0022]

【発明の実施の形態】次に実施の形態について説明す
る。まず本発明に係る電荷発生装置の製造方法の第1の
実施の形態を、図1の(A)〜(D)に示す製造工程図
に基づいて説明する。まず図1の(A)に示すように、
石英,ガラス等の絶縁基板1上にライン電極2を形成し
た後、SiO2 等の無機絶縁材料からなる誘電膜3を成膜
し、その上にフィンガー孔5を有するフィンガー電極4
を形成する。ここまでの製造工程及び各材料、膜厚等の
パラメータは従来と同等なので、詳細な説明は省略す
る。
Next, an embodiment will be described. First, a first embodiment of a method of manufacturing a charge generation device according to the present invention will be described based on manufacturing process diagrams shown in FIGS. First, as shown in FIG.
Quartz, after forming the line electrodes 2 on the insulating substrate 1 such as glass, a dielectric film 3 made of an inorganic insulating material such as SiO 2 is deposited, the finger electrode 4 having a finger hole 5 thereon
To form Since the manufacturing process up to this point and parameters such as each material and film thickness are the same as those in the related art, detailed description will be omitted.

【0023】フィンガー電極4を成膜した後、図2の
(B)に示すようにポリイミド等の有機材料からなる絶
縁膜6を成膜するが、出来上がりの予定膜厚よりも数μ
mから十数μmほど厚く成膜する。次にCMP研磨装置
で絶縁膜6の表面を研磨することにより、図2の(C)
に示すように絶縁膜6の表面を平坦にする。出来上がり
の絶縁膜6の膜厚は50μm以上が望ましい。絶縁膜6の
平坦化処理後、従来と同様な工程で、スクリーン孔8を
有するスクリーン電極7を形成し、該スクリーン電極7
をマスクにして、エッチング処理によりスクリーン電極
7の下部以外の絶縁膜6を選択的に除去して、空間9を
形成し、図2の(D)に示すような構成の電荷発生制御
素子を完成する。
After the finger electrodes 4 are formed, an insulating film 6 made of an organic material such as polyimide is formed as shown in FIG. 2B.
The film is thickly formed from m to ten and several μm. Next, by polishing the surface of the insulating film 6 with a CMP polishing apparatus, as shown in FIG.
The surface of the insulating film 6 is flattened as shown in FIG. The thickness of the finished insulating film 6 is preferably 50 μm or more. After the flattening process of the insulating film 6, the screen electrode 7 having the screen hole 8 is formed by the same process as the conventional one.
Using as a mask, the insulating film 6 other than the lower part of the screen electrode 7 is selectively removed by etching to form a space 9 and the charge generation control element having the structure shown in FIG. 2D is completed. To do.

【0024】このように絶縁膜6をCMP法で平坦化す
ることにより、各素子全体にわたってフィンガー電極4
とスクリーン電極7との距離が均一になる。したがっ
て、従来よりも各素子間の発生電荷量のばらつきが小さ
くなり、高画質を有する電荷発生装置が実現可能とな
る。
By flattening the insulating film 6 by the CMP method as described above, the finger electrodes 4 are formed over the entire elements.
And the screen electrode 7 become uniform in distance. Therefore, the variation in the amount of generated charge between the elements is smaller than in the conventional case, and a charge generation device having high image quality can be realized.

【0025】次に、絶縁膜6のCMP法を用いた他の平
坦化法について説明する。基板表面がポリイミドコート
膜で覆われているようななだらかな面である場合、CM
P法により基板全面を平坦化させる方法は、部分的な凹
凸面を平坦化させる方法よりも難しい。これを改善する
手段としては、基板表面全体に新鮮なスラリー(研磨溶
剤)をいかに供給し、研磨粉を含んだ古いスラリーをい
かに基板表面から排出させるかが課題であると一般的に
考えられている。その課題を解決する具体的な方法とし
ては、研磨面に疑似的な凹凸を形成し、スラリーの供給
を促進させる方法が考えられる。
Next, another flattening method using the CMP method for the insulating film 6 will be described. If the surface of the substrate is a smooth surface covered with a polyimide coat film, CM
The method of flattening the entire surface of the substrate by the P method is more difficult than the method of flattening a partially uneven surface. As a means to improve this, it is generally considered that the issue is how to supply fresh slurry (polishing solvent) to the entire substrate surface and how to discharge old slurry containing polishing powder from the substrate surface. There is. As a specific method for solving the problem, a method of forming pseudo irregularities on the polishing surface to accelerate the supply of the slurry can be considered.

【0026】よって、この方法を用いて、CMP法によ
り絶縁膜を平坦化する方法について説明する。まずポリ
イミド等の有機材料である絶縁膜を数μmから十数μm
ほど厚く成膜した後、図2の(A),(B)に示すよう
に、絶縁膜6の周辺部にレジスト膜11を残すパターニン
グを行う。なお、図2の(A)は基板全体の平面図、図
2の(B)は図2の(A)のA−A′線に沿ったパター
ニング境界付近の表面段差部の拡大断面図である。次に
プラズマを用いたドライエッチングにより、レジスト膜
11及びポリイミド等の絶縁膜6が共にエッチングされる
条件で、パターニングしたレジスト膜11が消失するまで
エッチングし、ポリイミド等の絶縁膜6に図2の(C)
に示すような段差6aを形成する。これにより、基板周
辺の絶縁膜6の研磨が促進されると共に、スラリーが絶
縁膜全面に供給され、より均一な面に仕上げることがで
きる。
Therefore, a method of flattening the insulating film by the CMP method using this method will be described. First, an insulating film, which is an organic material such as polyimide, is several μm to ten and several μm.
After forming a thick film, as shown in FIGS. 2A and 2B, patterning is performed to leave the resist film 11 on the peripheral portion of the insulating film 6. 2A is a plan view of the entire substrate, and FIG. 2B is an enlarged cross-sectional view of the surface step portion near the patterning boundary along the line AA ′ in FIG. . Next, dry etching using plasma is performed to form a resist film.
2 and the insulating film 6 made of polyimide or the like are etched together until the patterned resist film 11 disappears to form an insulating film 6 made of polyimide or the like as shown in FIG.
The step 6a as shown in FIG. As a result, polishing of the insulating film 6 around the substrate is promoted, and the slurry is supplied to the entire surface of the insulating film, so that a more uniform surface can be obtained.

【0027】また、図2の(D)に示すように絶縁膜6
中心部にレジスト膜11を残すようなパターニングを行
い、その後レジスト膜11とポリイミド等の絶縁膜6をほ
ぼ等しい研磨レートでCMPを行い、レジスト膜11が完
全に消失し、更に数μm絶縁膜6をエッチングするよう
に研磨する方法でもよい。この方法でも、レジスト膜の
段差部に十分スラリーを供給させることができ、絶縁膜
表面全体の均一性を向上させるように研磨することがで
きる。
Further, as shown in FIG. 2D, the insulating film 6
Patterning is performed so as to leave the resist film 11 at the center, and then the resist film 11 and the insulating film 6 such as polyimide are subjected to CMP at substantially the same polishing rate so that the resist film 11 completely disappears, and the insulating film 6 having a thickness of several μm is used. It may be a method of polishing so as to etch. Also by this method, the slurry can be sufficiently supplied to the stepped portion of the resist film, and polishing can be performed so as to improve the uniformity of the entire surface of the insulating film.

【0028】またCMP装置側でも絶縁膜の面内分布を
考慮し、絶縁膜の表面に凹凸を形成させるための絶縁膜
の裏面にかける圧力分布の最適化をシミュレーションで
求めることにより、研磨面の均一性を向上させることが
できる。
Also on the CMP apparatus side, the in-plane distribution of the insulating film is taken into consideration, and the optimization of the pressure distribution applied to the back surface of the insulating film for forming irregularities on the surface of the insulating film is obtained by simulation to obtain the polishing surface Uniformity can be improved.

【0029】次に、第2の実施の形態について図3の
(A)〜(C)を用いて説明する。なお、図1の(A)
〜(D)に示した第1の実施の形態と同一の構成要素に
は同一の符号を付して示している。この実施の形態は、
絶縁膜表面の平坦化の方法が第1の実施の形態とは異な
るものである。まず、図3の(A)に示すように、第1
の実施の形態と同様に、フィンガー電極4上に絶縁膜6
を出来上がりの予定膜厚よりも数μmから十数μmほど
厚く成膜する。次に、図3の(B)に示すように、レジ
スト膜11をスピンコート法により数μmから十数μmほ
ど塗布する。レジスト膜11の成膜後、レジスト膜11と絶
縁膜6の選択比が1の条件でドライエッチングすること
により(一般にエッチングバック法と呼ぶ)、図3の
(C)に示すように、絶縁膜6の表面を平坦にする。出
来上がりの絶縁膜の膜厚は50μm以上が望ましい。その
後のスクリーン電極の形成、絶縁膜の加工工程は従来と
同じように行うことにより、第2の実施の形態の電荷発
生装置が完成する。
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. In addition, (A) of FIG.
The same components as those in the first embodiment shown in (D) to (D) are designated by the same reference numerals. In this embodiment,
The method of flattening the surface of the insulating film is different from that of the first embodiment. First, as shown in FIG.
In the same manner as in the above embodiment, the insulating film 6 is formed on the finger electrodes 4.
Is formed to a thickness of several μm to several tens of μm thicker than the final expected film thickness. Next, as shown in FIG. 3B, a resist film 11 is applied by spin coating to a thickness of several μm to several tens of μm. After the resist film 11 is formed, dry etching is performed under the condition that the selection ratio of the resist film 11 and the insulating film 6 is 1 (generally referred to as an etching back method). As a result, as shown in FIG. The surface of 6 is made flat. The thickness of the finished insulating film is preferably 50 μm or more. The subsequent steps of forming the screen electrode and processing the insulating film are performed in the same manner as in the conventional case, whereby the charge generation device according to the second embodiment is completed.

【0030】このように絶縁膜6をエッチングバック法
で平坦化することにより、各素子全体にわたってフィン
ガー電極とスクリーン電極の間の距離が均一になり、第
1の実施の形態と同様の効果を有する電荷発生装置が実
現可能となる。
By flattening the insulating film 6 by the etching back method as described above, the distance between the finger electrodes and the screen electrodes becomes uniform over the entire elements, and the same effect as that of the first embodiment is obtained. A charge generator can be realized.

【0031】次に、第3の実施の形態について図4の
(A)〜(F)を用いて説明する。なお、図4の(A)
〜(F)において、図1の(A)〜(D)に示した第1
の実施の形態と同一の構成要素には同一の符号を付して
示している。この実施の形態は、ライン電極2を絶縁基
板1に埋め込ませ、その後表面をCMP法で平坦化する
ことにより、画質及び耐久性を向上させるようにするも
のである。まず、図4の(A)に示すように、絶縁基板
1上にライン電極形成領域以外の領域にレジスト膜21を
フォトリソグラフィー法でパターニングする。次に、レ
ジスト膜21に被覆されてない領域の絶縁基板1をウエッ
ト又はドライエッチングすることにより、図4の(B)
に示すように、ライン電極の膜厚よりも深いくぼみ22を
形成する。次に、図4の(C)に示すように、Ti ,Ti
N,Mo ,W,Al ,Cu 等の単層金属、あるいはAl
の上にTi ,TiN等を形成した複層金属からなるライン
電極膜2aをスパッタリング、真空蒸着、メッキ法等に
より成膜する。次に、フォトリソグラフィー法でパター
ニングし、図4の(D)に示すように、レジスト膜に被
覆されてないライン電極膜2aをエッチングし、ライン
電極2を形成する。これによって、ライン電極2は絶縁
基板1に埋め込まれた状態で形成されるが、絶縁基板1
の表面とライン電極2の表面とのエッジ部に段差23が形
成される。そこで、次にCMP法で絶縁基板1を研磨す
ることによって、図4の(E)に示すように、絶縁基板
1とライン電極2のエッジ部段差23がなくなり、表面が
完全に均一になる。その後は、第1又は第2の実施の形
態と同様の工程により、図4の(F)に示すように、第
3の実施の形態による電荷発生制御素子が得られる。
Next, a third embodiment will be described with reference to FIGS. In addition, FIG. 4 (A)
~ (F), the first shown in (A) ~ (D) of FIG.
The same components as those of the embodiment are designated by the same reference numerals. In this embodiment, the line electrode 2 is embedded in the insulating substrate 1 and then the surface is flattened by the CMP method to improve image quality and durability. First, as shown in FIG. 4A, a resist film 21 is patterned on the insulating substrate 1 in a region other than the line electrode formation region by photolithography. Next, the insulating substrate 1 in the region not covered with the resist film 21 is wet or dry-etched, so that the insulating substrate 1 shown in FIG.
As shown in FIG. 3, a recess 22 deeper than the film thickness of the line electrode is formed. Next, as shown in FIG. 4C, Ti, Ti
Single layer metal such as N, Mo, W, Al, Cu, or Al
A line electrode film 2a made of a multi-layer metal having Ti, TiN, etc. formed thereon is formed by sputtering, vacuum evaporation, plating or the like. Next, patterning is performed by a photolithography method, and as shown in FIG. 4D, the line electrode film 2a not covered with the resist film is etched to form the line electrode 2. As a result, the line electrode 2 is formed in a state of being embedded in the insulating substrate 1.
A step 23 is formed at the edge portion between the surface of the line electrode 2 and the surface of the line electrode 2. Then, by polishing the insulating substrate 1 by the CMP method next, as shown in FIG. 4E, the edge step 23 between the insulating substrate 1 and the line electrode 2 is eliminated, and the surface becomes completely uniform. After that, by the same steps as those in the first or second embodiment, the charge generation control element according to the third embodiment is obtained as shown in FIG.

【0032】このようにライン電極2を絶縁基板1に埋
め込ませ、その後CMP法を用いて平坦にすることによ
り、これらの上部に形成される誘電膜3の表面も平坦に
なり、駆動中の誘電膜3の絶縁破壊も起こりにくくな
り、従来よりも高耐久性を有する電荷発生装置が得られ
る。また更に各素子全体にわたってフィンガー電極とス
クリーン電極の距離が均一になるので、従来よりも高画
質を有する電荷発生装置が作製できる。
By thus embedding the line electrode 2 in the insulating substrate 1 and then flattening it by the CMP method, the surface of the dielectric film 3 formed on these is also flattened and the dielectric during driving Dielectric breakdown of the film 3 is less likely to occur, and a charge generation device having higher durability than before can be obtained. Furthermore, since the distance between the finger electrodes and the screen electrodes is uniform over the whole of each element, it is possible to manufacture a charge generation device having higher image quality than ever before.

【0033】なお、上記第3の実施の形態において、図
5に示すように、絶縁基板1のくぼみ22の深さを成膜す
るライン電極2の膜厚よりも浅くし、成膜するライン電
極2の表面を絶縁基板1の表面よりも高い状態にして、
ライン電極2をCMP法で研磨して平坦化させる方法を
用いてもよい。
In the third embodiment, as shown in FIG. 5, the depth of the recess 22 of the insulating substrate 1 is made shallower than the film thickness of the line electrode 2 for film formation, and the line electrode for film formation is formed. The surface of 2 is made higher than the surface of the insulating substrate 1,
A method of polishing the line electrode 2 by the CMP method to flatten it may be used.

【0034】次に、第4の実施の形態について図6の
(A)〜(C)を用いて説明する。この実施の形態は、
ライン電極2を絶縁基板1に完全に埋め込ませたのち、
エッチングバック法を用いて平坦化させることにより、
画質及び耐久性を向上させるものである。まず、図6の
(A)に示すように、ライン電極形成領域の絶縁基板1
にライン電極の膜厚よりも深いくぼみを形成し、そのく
ぼみにライン電極2を形成する工程までは、第3の実施
の形態と同じ工程である。これによって、ライン電極2
は絶縁基板1に埋め込まれた状態に形成されるが、絶縁
基板1の表面とライン電極2の表面とのエッジ部に段差
23が形成される。そこで、次に図6の(B)に示すよう
に、この上部にレジスト膜31を数μmから数十μm、ス
ピンコート法で塗布する。レジスト膜31の成膜後、レジ
スト膜31と絶縁基板1の選択比が1の条件でドライエッ
チングすることにより、図6の(C)に示すように、絶
縁基板1とライン電極2の表面が完全に均一になる。そ
の後は、第1又は第2の実施の形態と同様の工程によ
り、第3の実施の形態と同様の電荷発生制御素子が得ら
れる。
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIGS. In this embodiment,
After completely embedding the line electrode 2 in the insulating substrate 1,
By flattening using the etching back method,
It is intended to improve image quality and durability. First, as shown in FIG. 6A, the insulating substrate 1 in the line electrode formation region is formed.
The steps up to the step of forming a recess deeper than the film thickness of the line electrode and forming the line electrode 2 in the recess are the same as those in the third embodiment. As a result, the line electrode 2
Is formed so as to be embedded in the insulating substrate 1, but a step is formed at the edge portion between the surface of the insulating substrate 1 and the surface of the line electrode 2.
23 are formed. Therefore, next, as shown in FIG. 6B, a resist film 31 of several μm to several tens μm is applied on the upper part by spin coating. After the resist film 31 is formed, dry etching is performed under the condition that the selection ratio of the resist film 31 and the insulating substrate 1 is 1, so that the surfaces of the insulating substrate 1 and the line electrode 2 are separated as shown in FIG. 6C. It becomes completely uniform. After that, the same charge generation control element as that of the third embodiment is obtained by the same steps as those of the first or second embodiment.

【0035】このようにライン電極2を絶縁基板1に埋
め込ませ、その後エッチングバック法を用いて平坦にす
ることにより、第3の実施の形態により得られたものと
同様の効果を有する電荷発生装置が作製できる。なお、
絶縁基板1のくぼみの深さを成膜するライン電極の膜厚
よりも浅くし、図7に示すように、成膜するライン電極
2の表面を絶縁基板1の表面よりも高い状態にし、その
上にレジスト膜31を成膜し、レジスト膜31とライン電極
2をエッチングバック法で平坦化させる方法を用いても
よい。
By thus embedding the line electrode 2 in the insulating substrate 1 and then flattening it by using an etching back method, a charge generator having the same effect as that obtained by the third embodiment. Can be produced. In addition,
The depth of the recess of the insulating substrate 1 is made shallower than the film thickness of the line electrode for film formation, and the surface of the line electrode 2 for film formation is made higher than the surface of the insulating substrate 1 as shown in FIG. A method of forming a resist film 31 on the upper surface and flattening the resist film 31 and the line electrode 2 by an etching back method may be used.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上実施の形態に基づいて説明したよう
に、本発明によれば、スクリーン電極下の絶縁膜表面が
平坦化されて、各素子間全体のフィンガー電極とスクリ
ーン電極間の距離が均一になり、抽出される電荷量のば
らつきが低減し、従来よりも高画質を有する高精細な電
荷発生装置が実現できると共に、製造プロセスやデバイ
ス特性における信頼性も向上した電荷発生装置が得られ
る。更に本発明によれば、ライン電極表面と絶縁基板表
面の間のエッジ部段差がなくなり、各素子間全体のライ
ン電極とフィンガー電極との距離が均一になり、各電荷
発生制御素子全体の発生するコロナ電荷量のばらつきが
低減されて、従来よりも更に高画質を有する電荷発生装
置が実現できると共に、ライン電極とフィンガー電極間
にある誘電膜の絶縁耐圧が向上し、従来よりも更に高耐
久性を有する電荷発生装置が実現できる。
As described above based on the embodiments, according to the present invention, the surface of the insulating film under the screen electrodes is flattened, and the distance between the finger electrodes and the screen electrodes of all the elements is reduced. It is possible to obtain a charge generation device that is uniform and reduces the variation in the amount of extracted charge, and that can realize a high-definition charge generation device that has higher image quality than before and that also has improved reliability in the manufacturing process and device characteristics. . Furthermore, according to the present invention, the edge step between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate is eliminated, the distance between the line electrode and the finger electrode is uniform among the respective elements, and the entire charge generation control element is generated. The variation in the amount of corona charge is reduced, and a charge generator with higher image quality than before can be realized, and the dielectric strength of the dielectric film between the line electrodes and finger electrodes is improved, resulting in higher durability than before. A charge generation device having

【0037】次に、請求項毎に効果を述べると、請求項
1及び2記載の発明によれば、スクリーン電極下の絶縁
膜表面が平坦化され、各素子間全体のフィンガー電極と
スクリーン電極間の距離が均一になり、それにより、抽
出される電荷量のばらつきが低減され、従来よりも高画
質で高信頼性を有し、且つ製造プロセスやデバイス特性
における信頼性も向上した電荷発生装置が得られる。ま
た請求項3及び4記載の発明によれば、ライン電極表面
と絶縁基板表面の間のエッジ部段差がなくなり、各素子
間全体のライン電極とフィンガー電極との距離が均一に
なり、それにより各電荷発生制御素子全体の発生するコ
ロナ電荷量のばらつきが低減されて、従来よりも更に高
画質を有し、且つライン電極とフィンガー電極間にある
誘電膜の絶縁耐圧が向上し、従来よりも更に高耐久性を
有する電荷発生装置が実現できる。
Next, to describe the effect of each claim, according to the inventions of claims 1 and 2, the surface of the insulating film under the screen electrodes is flattened, and the entire finger electrodes and screen electrodes between the respective elements are flattened. The charge generation device has a uniform distance, which reduces variations in the amount of extracted charges, has higher image quality and higher reliability than before, and has improved reliability in the manufacturing process and device characteristics. can get. Further, according to the inventions of claims 3 and 4, there is no edge step between the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate, and the distance between the line electrode and the finger electrode is uniform throughout each element. The variation in the amount of corona charge generated by the entire charge generation control element is reduced, resulting in higher image quality than before and the dielectric strength of the dielectric film between the line electrodes and finger electrodes is improved, further improving A charge generation device having high durability can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る電荷発生装置の製造方法の第1の
実施の形態を説明するための製造工程を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing a manufacturing process for explaining a first embodiment of a method of manufacturing a charge generation device according to the present invention.

【図2】図1に示した第1の実施の形態の変形例を説明
するための製造工程を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing a manufacturing process for explaining a modified example of the first embodiment shown in FIG.

【図3】本発明の第2の実施の形態を説明するための製
造工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a manufacturing process for explaining the second embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第3の実施の形態を説明するための製
造工程を示す図である。
FIG. 4 is a diagram showing a manufacturing process for explaining the third embodiment of the present invention.

【図5】図4に示した第3の実施の形態の変形例を説明
するための製造工程を示す図である。
FIG. 5 is a diagram showing a manufacturing process for explaining a modified example of the third embodiment shown in FIG.

【図6】本発明の第4の実施の形態を説明するための製
造工程を示す図である。
FIG. 6 is a diagram showing a manufacturing process for explaining the fourth embodiment of the present invention.

【図7】図6に示した第4の実施の形態の変形例を説明
するための製造工程を示す図である。
FIG. 7 is a diagram showing a manufacturing process for explaining a modification of the fourth embodiment shown in FIG.

【図8】従来の電荷発生装置の構成例を示す断面図であ
る。
FIG. 8 is a cross-sectional view showing a configuration example of a conventional charge generation device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 絶縁基板 2 ライン電極 3 誘電膜 4 フィンガー電極 5 フィンガー孔 6 絶縁膜 7 スクリーン電極 8 スクリーン孔 9 空間 11 レジスト膜 21 レジスト膜 22 くぼみ 23 段差 31 レジスト膜 1 Insulating Substrate 2 Line Electrode 3 Dielectric Film 4 Finger Electrode 5 Finger Hole 6 Insulating Film 7 Screen Electrode 8 Screen Hole 9 Space 11 Resist Film 21 Resist Film 22 Dimple 23 Step 31 Resist Film

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁基板上に形成されたライン電極と、
該ライン電極の表面に形成された固体誘電膜と、該固体
誘電膜の上部に形成され、中心部に電荷生成用の孔部を
有するフィンガー電極と、該フィンガー電極表面に、中
心部に電荷を通過せしめる孔部を有する固体絶縁膜を介
して形成された、中心部に電荷流出用の孔部を有するス
クリーン電極よりなる電荷発生制御素子を複数個配設し
てなる電荷発生装置の製造方法において、前記固体絶縁
膜をケミカルメカニカルポリッシュ法によって平坦化す
る工程を備えていることを特徴とする電荷発生装置の製
造方法。
A line electrode formed on an insulating substrate;
A solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, a finger electrode formed on the solid dielectric film and having a hole for charge generation in the center, and a charge in the center of the finger electrode surface. In a method of manufacturing a charge generating device, comprising a plurality of charge generation control elements each comprising a screen electrode having a hole for discharging electric charges at a central portion, which is formed through a solid insulating film having a hole for allowing passage thereof. A method of manufacturing a charge generator, comprising the step of planarizing the solid insulating film by a chemical mechanical polishing method.
【請求項2】 絶縁基板上に形成されたライン電極と、
該ライン電極の表面に形成された固体誘電膜と、固体誘
電膜の上部に形成され、中心部に電荷生成用の孔部を有
するフィンガー電極と、該フィンガー電極表面に、中心
部に電荷を通過せしめる孔部を有する固体絶縁膜を介し
て形成された、中心部に電荷流出用の孔部を有するスク
リーン電極よりなる電荷発生制御素子を複数個配設して
なる電荷発生装置の製造方法において、前記固体絶縁膜
をエッチングバック法によって平坦化する工程を備えて
いることを特徴とする電荷発生装置の製造方法。
2. A line electrode formed on an insulating substrate,
A solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, a finger electrode formed on the solid dielectric film and having a hole for charge generation in the center, and a charge passing through the center of the finger electrode surface. A method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements each comprising a screen electrode having a hole for discharging charges formed in the center thereof, the charge generation control element being formed via a solid insulating film having holes to be formed, A method of manufacturing a charge generator, comprising the step of planarizing the solid insulating film by an etching back method.
【請求項3】 絶縁基板上に形成されたライン電極と、
該ライン電極の表面に形成された固体誘電膜と、固体誘
電膜の上部に形成され、中心部に電荷生成用の孔部を有
するフィンガー電極と、該フィンガー電極表面に、中心
部に電荷を通過せしめる孔部を有する固体絶縁膜を介し
て形成された、中心部に電荷流出用の孔部を有するスク
リーン電極よりなる電荷発生制御素子を複数個配設して
なる電荷発生装置の製造方法において、前記ライン電極
を前記絶縁基板内部に埋め込んで形成したのち、該ライ
ン電極の表面と該絶縁基板の表面をケミカルメカニカル
ポリッシュ法によって一体的に平坦化する工程を備えて
いることを特徴とする電荷発生装置の製造方法。
3. A line electrode formed on an insulating substrate,
A solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, a finger electrode formed on the solid dielectric film and having a hole for charge generation in the center, and a charge passing through the center of the finger electrode surface. A method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements each comprising a screen electrode having a hole for discharging charges formed in the center thereof, the charge generation control element being formed via a solid insulating film having holes to be formed, Charge generation, comprising the step of forming the line electrode by embedding it inside the insulating substrate, and then planarizing the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate integrally by a chemical mechanical polishing method. Device manufacturing method.
【請求項4】 絶縁基板上に形成されたライン電極と、
該ライン電極の表面に形成された固体誘電膜と、固体誘
電膜の上部に形成され、中心部に電荷生成用の孔部を有
するフィンガー電極と、該フィンガー電極表面に、中心
部に電荷を通過せしめる孔部を有する固体絶縁膜を介し
て形成された、中心部に電荷流出用の孔部を有するスク
リーン電極よりなる電荷発生制御素子を複数個配設して
なる電荷発生装置の製造方法において、前記ライン電極
を前記絶縁基板内部に埋め込んで形成したのち、該ライ
ン電極の表面と該絶縁基板の表面をエッチングバック法
によって一体的に平坦化する工程を備えていることを特
徴とする電荷発生装置の製造方法。
4. A line electrode formed on an insulating substrate,
A solid dielectric film formed on the surface of the line electrode, a finger electrode formed on the solid dielectric film and having a hole for charge generation in the center, and a charge passing through the center of the finger electrode surface. A method of manufacturing a charge generation device comprising a plurality of charge generation control elements each comprising a screen electrode having a hole for discharging charges formed in the center thereof, the charge generation control element being formed via a solid insulating film having holes to be formed, A charge generating device comprising a step of forming the line electrode by embedding it inside the insulating substrate, and then flattening the surface of the line electrode and the surface of the insulating substrate integrally by an etching back method. Manufacturing method.
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