JPH09224919A - 超電導磁石の環境監視装置およびｍｒｉ装置 - Google Patents
超電導磁石の環境監視装置およびｍｒｉ装置Info
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- JPH09224919A JPH09224919A JP8038213A JP3821396A JPH09224919A JP H09224919 A JPH09224919 A JP H09224919A JP 8038213 A JP8038213 A JP 8038213A JP 3821396 A JP3821396 A JP 3821396A JP H09224919 A JPH09224919 A JP H09224919A
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- Japan
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- superconducting magnet
- environment
- mri apparatus
- helium gas
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容
易に監視可能とする。 【解決手段】 環境監視装置１０は、表示項目番号イン
ジケータ１１と、表示項目番号セレクトボタン１２と、
環境データ表示器１３と、警告灯１４とを備えている。
操作者が、表示項目番号インジケータ１１を見ながら表
示項目番号セレクトボタン１２を押して表示項目を選択
すると、その選択された表示項目の環境データが環境デ
ータ表示器１３に表示される。また、環境監視装置１０
は、環境診断機能を持つコンピュータＨへ環境データを
送信する。また、環境監視装置１０は、いずれかの環境
データが許容範囲外であれば警告灯１４を点滅して警告
報知を行う。 【効果】 ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容
易に監視できる。また、コンピュータでＭＲＩ装置が適
正な環境下にあるか否かを自動監視できる。
易に監視可能とする。 【解決手段】 環境監視装置１０は、表示項目番号イン
ジケータ１１と、表示項目番号セレクトボタン１２と、
環境データ表示器１３と、警告灯１４とを備えている。
操作者が、表示項目番号インジケータ１１を見ながら表
示項目番号セレクトボタン１２を押して表示項目を選択
すると、その選択された表示項目の環境データが環境デ
ータ表示器１３に表示される。また、環境監視装置１０
は、環境診断機能を持つコンピュータＨへ環境データを
送信する。また、環境監視装置１０は、いずれかの環境
データが許容範囲外であれば警告灯１４を点滅して警告
報知を行う。 【効果】 ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容
易に監視できる。また、コンピュータでＭＲＩ装置が適
正な環境下にあるか否かを自動監視できる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、超電導磁石の環
境監視装置およびＭＲＩ（Magnetic Resonance Imagin
g）装置に関し、さらに詳しくは、超電導磁石が適正な
環境下にあるか否かを容易に監視可能とする超電導磁石
の環境監視装置およびＭＲＩ装置の運転に適正な環境下
にあるか否かを容易に監視することが出来るＭＲＩ装置
に関する。
境監視装置およびＭＲＩ（Magnetic Resonance Imagin
g）装置に関し、さらに詳しくは、超電導磁石が適正な
環境下にあるか否かを容易に監視可能とする超電導磁石
の環境監視装置およびＭＲＩ装置の運転に適正な環境下
にあるか否かを容易に監視することが出来るＭＲＩ装置
に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４は、ＭＲＩ装置の設置環境の概略説
明図である。撮影室Ｐには、主磁場を発生する超電導磁
石Ｍと患者を乗せる患者テーブルＴとが設置されてい
る。また、機械室Ｑには、パルスシーケンスを制御する
スキャンコントローラＳと勾配コイル等に給電する電源
装置Ｄとが設置されている。前記スキャンコントローラ
Ｓの内部には、画像再構成などの情報処理を行うコンピ
ュータＨが設置されている。また、操作室Ｒには、操作
者がコマンドを入力したり画像を表示させたりする操作
卓Ｋが設置されている。また、室外には、超電導磁石Ｍ
に液体ヘリウムを圧送するためのコンプレッサＣが設置
されている。
明図である。撮影室Ｐには、主磁場を発生する超電導磁
石Ｍと患者を乗せる患者テーブルＴとが設置されてい
る。また、機械室Ｑには、パルスシーケンスを制御する
スキャンコントローラＳと勾配コイル等に給電する電源
装置Ｄとが設置されている。前記スキャンコントローラ
Ｓの内部には、画像再構成などの情報処理を行うコンピ
ュータＨが設置されている。また、操作室Ｒには、操作
者がコマンドを入力したり画像を表示させたりする操作
卓Ｋが設置されている。また、室外には、超電導磁石Ｍ
に液体ヘリウムを圧送するためのコンプレッサＣが設置
されている。
【０００３】従来、超電導磁石Ｍが適正な環境下にある
か否か、および、ＭＲＩ装置の運転に適正な環境下にあ
るか否か、を監視するため、操作者は、次のような検査
を行っている。 （１）超電導磁石Ｍに設けられている温度計５１を見
て、適正な温度か否かを検査する。例えば、超電導磁石
Ｍのコールドヘッド部の温度が３７Ｋ以下であれば適正
と判定する。 （２）超電導磁石Ｍに設けられている液体ヘリウムレベ
ル計５２を見て、適正な液量か否かを検査する。 （３）撮影室Ｐの温度計５６を見て、適正な室温か否か
を検査する。 （４）撮影室Ｐの酸素計５７を見て、適正な酸素濃度か
否かを検査する。 （５）機械室Ｑの温度計５５を見て、適正な室温か否か
を検査する。例えば５℃〜３５℃なら適正と判定する。
か否か、および、ＭＲＩ装置の運転に適正な環境下にあ
るか否か、を監視するため、操作者は、次のような検査
を行っている。 （１）超電導磁石Ｍに設けられている温度計５１を見
て、適正な温度か否かを検査する。例えば、超電導磁石
Ｍのコールドヘッド部の温度が３７Ｋ以下であれば適正
と判定する。 （２）超電導磁石Ｍに設けられている液体ヘリウムレベ
ル計５２を見て、適正な液量か否かを検査する。 （３）撮影室Ｐの温度計５６を見て、適正な室温か否か
を検査する。 （４）撮影室Ｐの酸素計５７を見て、適正な酸素濃度か
否かを検査する。 （５）機械室Ｑの温度計５５を見て、適正な室温か否か
を検査する。例えば５℃〜３５℃なら適正と判定する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、従来
は、操作者が個別の計器を見て周り、超電導磁石および
ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを検査してい
る。しかし、操作者が個別の計器を見て回るのは面倒で
あり、手間がかかる問題点がある。また、このために、
検査が、事実上、間欠的（例えば１ヵ月に１度）になっ
てしまう問題点がある。そこで、この発明の第１の目的
は、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容易に監
視可能とする環境監視装置を提供することにある。ま
た、この発明の第２の目的は、適正な環境下にあるか否
かを容易に監視することが出来るＭＲＩ装置を提供する
ことにある。
は、操作者が個別の計器を見て周り、超電導磁石および
ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを検査してい
る。しかし、操作者が個別の計器を見て回るのは面倒で
あり、手間がかかる問題点がある。また、このために、
検査が、事実上、間欠的（例えば１ヵ月に１度）になっ
てしまう問題点がある。そこで、この発明の第１の目的
は、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容易に監
視可能とする環境監視装置を提供することにある。ま
た、この発明の第２の目的は、適正な環境下にあるか否
かを容易に監視することが出来るＭＲＩ装置を提供する
ことにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】第１の観点では、この発
明は、超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘ
リウム量、および、ヘリウムガス温度及び／又はヘリウ
ムガス圧力のそれぞれに関するデータを収集する環境デ
ータ収集手段と、収集した環境データを表示する表示手
段とを具備したことを特徴とする超電導磁石の環境監視
装置を提供する。上記第１の観点による超電導磁石の環
境監視装置では、環境検査項目として最重要である超電
導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウム量の少な
くとも一方、および、ヘリウムガス温度またはヘリウム
ガス圧力の少なくとも一方を収集して表示できるように
した。このため、操作者が個別の計器を見て回る必要が
なくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容
易に監視できるようになる。なお、収集した環境データ
を外部へ送信する送信手段をさらに具備するのが好まし
い。これにより、超電導磁石が適正な環境下にあるか否
かを、外部機器による自動監視できるようになる。ま
た、常時監視できるようになる。
明は、超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘ
リウム量、および、ヘリウムガス温度及び／又はヘリウ
ムガス圧力のそれぞれに関するデータを収集する環境デ
ータ収集手段と、収集した環境データを表示する表示手
段とを具備したことを特徴とする超電導磁石の環境監視
装置を提供する。上記第１の観点による超電導磁石の環
境監視装置では、環境検査項目として最重要である超電
導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウム量の少な
くとも一方、および、ヘリウムガス温度またはヘリウム
ガス圧力の少なくとも一方を収集して表示できるように
した。このため、操作者が個別の計器を見て回る必要が
なくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか否かを容
易に監視できるようになる。なお、収集した環境データ
を外部へ送信する送信手段をさらに具備するのが好まし
い。これにより、超電導磁石が適正な環境下にあるか否
かを、外部機器による自動監視できるようになる。ま
た、常時監視できるようになる。
【０００６】第２の観点では、この発明は、主磁場を発
生する超電導磁石と、その超電導磁石に液体ヘリウムを
圧送するコンプレッサとを備えたＭＲＩ装置において、
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データを表示する表示手段とを具備したことを特徴とす
るＭＲＩ装置を提供する。上記第２の観点によるＭＲＩ
装置では、ＭＲＩ装置の環境の検査項目として最重要で
ある超電導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウム
量の少なくとも一方、および、ヘリウムガス温度または
ヘリウムガス圧力の少なくとも一方を収集して表示でき
るようにした。このため、操作者が個別の計器を見て回
る必要がなくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか
否かを容易に監視できるようになる。
生する超電導磁石と、その超電導磁石に液体ヘリウムを
圧送するコンプレッサとを備えたＭＲＩ装置において、
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データを表示する表示手段とを具備したことを特徴とす
るＭＲＩ装置を提供する。上記第２の観点によるＭＲＩ
装置では、ＭＲＩ装置の環境の検査項目として最重要で
ある超電導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウム
量の少なくとも一方、および、ヘリウムガス温度または
ヘリウムガス圧力の少なくとも一方を収集して表示でき
るようにした。このため、操作者が個別の計器を見て回
る必要がなくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下にあるか
否かを容易に監視できるようになる。
【０００７】第３の観点では、この発明は、主磁場を発
生する超電導磁石と、その超電導磁石に液体ヘリウムを
圧送するコンプレッサとを備えたＭＲＩ装置において、
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データに基づいてＭＲＩ装置の運転に適正な環境下にあ
るか否かを診断する診断手段とを具備したことを特徴と
するＭＲＩ装置を提供する。上記第３の観点によるＭＲ
Ｉ装置では、ＭＲＩ装置の環境の検査項目として最重要
である超電導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウ
ム量の少なくとも一方、および、ヘリウムガス温度また
はヘリウムガス圧力の少なくとも一方を収集し、自己診
断できるようにした。このため、操作者が個別の計器を
見て回る必要がなくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下に
あるか否かを自動監視できるようになる。また、常時監
視できるようになる。
生する超電導磁石と、その超電導磁石に液体ヘリウムを
圧送するコンプレッサとを備えたＭＲＩ装置において、
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データに基づいてＭＲＩ装置の運転に適正な環境下にあ
るか否かを診断する診断手段とを具備したことを特徴と
するＭＲＩ装置を提供する。上記第３の観点によるＭＲ
Ｉ装置では、ＭＲＩ装置の環境の検査項目として最重要
である超電導磁石の温度または超電導磁石の液体ヘリウ
ム量の少なくとも一方、および、ヘリウムガス温度また
はヘリウムガス圧力の少なくとも一方を収集し、自己診
断できるようにした。このため、操作者が個別の計器を
見て回る必要がなくなり、ＭＲＩ装置が適正な環境下に
あるか否かを自動監視できるようになる。また、常時監
視できるようになる。
【０００８】
【発明の実施の形態】以下、図に示す実施の形態により
この発明をさらに詳細に説明する。なお、これによりこ
の発明が限定されるものではない。
この発明をさらに詳細に説明する。なお、これによりこ
の発明が限定されるものではない。
【０００９】図１は、この発明の一実施形態にかかるＭ
ＲＩ装置の設置環境の概略説明図である。撮影室Ｐに
は、主磁場を発生する超電導磁石Ｍと患者を乗せる患者
テーブルＴとが設置されている。また、機械室Ｑには、
パルスシーケンスを制御するスキャンコントローラＳと
勾配コイル等に給電する電源装置Ｄとが設置されてい
る。前記スキャンコントローラＳの内部には、画像再構
成などの情報処理を行うコンピュータＨが設置されてい
る。また、操作室Ｒには、操作者がコマンドを入力した
り画像を表示させたりする操作卓Ｋが設置されている。
また、室外には、超電導磁石Ｍに液体ヘリウムを圧送す
るためのコンプレッサＣが設置されている。
ＲＩ装置の設置環境の概略説明図である。撮影室Ｐに
は、主磁場を発生する超電導磁石Ｍと患者を乗せる患者
テーブルＴとが設置されている。また、機械室Ｑには、
パルスシーケンスを制御するスキャンコントローラＳと
勾配コイル等に給電する電源装置Ｄとが設置されてい
る。前記スキャンコントローラＳの内部には、画像再構
成などの情報処理を行うコンピュータＨが設置されてい
る。また、操作室Ｒには、操作者がコマンドを入力した
り画像を表示させたりする操作卓Ｋが設置されている。
また、室外には、超電導磁石Ｍに液体ヘリウムを圧送す
るためのコンプレッサＣが設置されている。
【００１０】前記超電導磁石Ｍのコールドヘッド部に
は、超電導磁石温度センサ１と、液体ヘリウムレベルセ
ンサ２とが設置されている。また、撮影室Ｐには、撮影
室温度センサ６と、撮影室酸素センサ７とが設置されて
いる。前記超電導磁石温度センサ１、液体ヘリウムレベ
ルセンサ２、撮影室温度センサ６および撮影室酸素セン
サ７からの出力データは、中継装置８に集められ、特に
ＲＦノイズを除去するローパスフィルタ（Ｌow Ｐass
Ｆilter）９を介して撮影室Ｐから機械室Ｑへ導出さ
れ、機械室Ｑに設置された環境監視装置１０に入力され
る。
は、超電導磁石温度センサ１と、液体ヘリウムレベルセ
ンサ２とが設置されている。また、撮影室Ｐには、撮影
室温度センサ６と、撮影室酸素センサ７とが設置されて
いる。前記超電導磁石温度センサ１、液体ヘリウムレベ
ルセンサ２、撮影室温度センサ６および撮影室酸素セン
サ７からの出力データは、中継装置８に集められ、特に
ＲＦノイズを除去するローパスフィルタ（Ｌow Ｐass
Ｆilter）９を介して撮影室Ｐから機械室Ｑへ導出さ
れ、機械室Ｑに設置された環境監視装置１０に入力され
る。
【００１１】コンプレッサＣには、ヘリウムガス温度セ
ンサ３と、ヘリウムガス圧力センサ４とが設置されてい
る。前記ヘリウムガス温度センサ３およびヘリウムガス
圧力センサ４からの出力データは、前記環境監視装置１
０に入力される。
ンサ３と、ヘリウムガス圧力センサ４とが設置されてい
る。前記ヘリウムガス温度センサ３およびヘリウムガス
圧力センサ４からの出力データは、前記環境監視装置１
０に入力される。
【００１２】機械室Ｑには、機械室温度センサ５が設置
されている。前記機械室温度センサ５からの出力データ
は、前記環境監視装置１０に入力される。
されている。前記機械室温度センサ５からの出力データ
は、前記環境監視装置１０に入力される。
【００１３】前記環境監視装置１０は、各センサから収
集した出力データを環境データに変換して表示すると共
に、コンピュータＨへＲＳ２３２Ｃや光ケーブルを介し
て送信する。コンピュータＨは、受信した環境データが
許容範囲内か否かを常時監視し、許容範囲外であれば環
境異常と診断して、操作卓Ｋにおいて画像および／また
は音声により警告報知を行う。
集した出力データを環境データに変換して表示すると共
に、コンピュータＨへＲＳ２３２Ｃや光ケーブルを介し
て送信する。コンピュータＨは、受信した環境データが
許容範囲内か否かを常時監視し、許容範囲外であれば環
境異常と診断して、操作卓Ｋにおいて画像および／また
は音声により警告報知を行う。
【００１４】図２は、環境監視装置１０の説明図であ
る。環境監視装置１０は、表示項目番号インジケータ１
１と、表示項目番号セレクトボタン１２と、環境データ
表示器１３と、警告灯１４とを備えている。操作者が、
表示項目番号インジケータ１１を見ながら表示項目番号
セレクトボタン１２を押して表示項目を選択すると、そ
の選択された表示項目の環境データが環境データ表示器
１３に表示される。また、いずれかの環境データが許容
範囲外であれば警告灯１４を点滅して警告報知を行う。
なお、スピーカにより音声で警告報知を行ってもよい。
る。環境監視装置１０は、表示項目番号インジケータ１
１と、表示項目番号セレクトボタン１２と、環境データ
表示器１３と、警告灯１４とを備えている。操作者が、
表示項目番号インジケータ１１を見ながら表示項目番号
セレクトボタン１２を押して表示項目を選択すると、そ
の選択された表示項目の環境データが環境データ表示器
１３に表示される。また、いずれかの環境データが許容
範囲外であれば警告灯１４を点滅して警告報知を行う。
なお、スピーカにより音声で警告報知を行ってもよい。
【００１５】図３は、環境監視装置１０の動作のフロー
チャートである。ステップＶ１では、各センサからの出
力データを収集する。ステップＶ２では、各出力データ
を環境データに変換する。ステップＶ３では、コンピュ
ータＨから送信要求があったか否かをチェックする。コ
ンピュータＨから送信要求があったならステップＶ４に
進み、送信要求がなかったならステップＶ５に進む。ス
テップＶ４では、前記コンピュータＨに環境データを送
信する。ステップＶ５では、操作者が選択した表示項目
の環境データを表示する。ステップＶ６では、全ての環
境データが許容範囲内か否かをチェックする。全ての環
境データが許容範囲内ならステップＶ７へ進む。いずれ
かの環境データが許容範囲外ならステップＶ８へ進む。
ステップＶ７では、警告灯１４を消して、前記ステップ
Ｖ１に戻る。ステップＶ８では、警告灯１４を点滅さ
せ、前記ステップＶ１に戻る。
チャートである。ステップＶ１では、各センサからの出
力データを収集する。ステップＶ２では、各出力データ
を環境データに変換する。ステップＶ３では、コンピュ
ータＨから送信要求があったか否かをチェックする。コ
ンピュータＨから送信要求があったならステップＶ４に
進み、送信要求がなかったならステップＶ５に進む。ス
テップＶ４では、前記コンピュータＨに環境データを送
信する。ステップＶ５では、操作者が選択した表示項目
の環境データを表示する。ステップＶ６では、全ての環
境データが許容範囲内か否かをチェックする。全ての環
境データが許容範囲内ならステップＶ７へ進む。いずれ
かの環境データが許容範囲外ならステップＶ８へ進む。
ステップＶ７では、警告灯１４を消して、前記ステップ
Ｖ１に戻る。ステップＶ８では、警告灯１４を点滅さ
せ、前記ステップＶ１に戻る。
【００１６】以上の環境監視装置１０およびＭＲＩ装置
によれば、超電導磁石Ｍの温度，超電導磁石Ｍの液体ヘ
リウム量，ヘリウムガス温度，ヘリウムガス圧力，機械
室の温度，撮影室の温度および撮影室の酸素濃度を収集
して１箇所で表示できる。このため、ＭＲＩ装置が適正
な環境下にあるか否かを容易に監視できるようになる。
また、収集した環境データをコンピュータＨへ送信でき
る。このため、コンピュータＨで、環境データが許容範
囲内にあるか否かを自動監視し、異常と診断したら操作
卓Ｋで報知できるようになる。
によれば、超電導磁石Ｍの温度，超電導磁石Ｍの液体ヘ
リウム量，ヘリウムガス温度，ヘリウムガス圧力，機械
室の温度，撮影室の温度および撮影室の酸素濃度を収集
して１箇所で表示できる。このため、ＭＲＩ装置が適正
な環境下にあるか否かを容易に監視できるようになる。
また、収集した環境データをコンピュータＨへ送信でき
る。このため、コンピュータＨで、環境データが許容範
囲内にあるか否かを自動監視し、異常と診断したら操作
卓Ｋで報知できるようになる。
【００１７】
【発明の効果】この発明の超電導磁石の環境監視装置に
よれば、超電導磁石の環境検査項目として最重要である
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石Ｍの液体ヘリウ
ム量、および、ヘリウムガス温度及び／又はヘリウムガ
ス圧力を収集して表示できる。このため、操作者が個別
の計器を見て回る必要がなくなり、超電導磁石が適正な
環境下にあるか否かを容易に監視できるようになる。ま
た、この発明のＭＲＩ装置によれば、ＭＲＩ装置の環境
の検査項目として最重要である超電導磁石の温度及び／
又は超電導磁石の液体ヘリウム量、及び、ヘリウムガス
温度及び／又はヘリウムガス圧力を収集して表示した
り、自己診断することが出来る。このため、操作者が個
別の計器を見て回る必要がなくなり、ＭＲＩ装置の運転
に適正な環境下にあるか否かを容易に監視できるように
なる。
よれば、超電導磁石の環境検査項目として最重要である
超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石Ｍの液体ヘリウ
ム量、および、ヘリウムガス温度及び／又はヘリウムガ
ス圧力を収集して表示できる。このため、操作者が個別
の計器を見て回る必要がなくなり、超電導磁石が適正な
環境下にあるか否かを容易に監視できるようになる。ま
た、この発明のＭＲＩ装置によれば、ＭＲＩ装置の環境
の検査項目として最重要である超電導磁石の温度及び／
又は超電導磁石の液体ヘリウム量、及び、ヘリウムガス
温度及び／又はヘリウムガス圧力を収集して表示した
り、自己診断することが出来る。このため、操作者が個
別の計器を見て回る必要がなくなり、ＭＲＩ装置の運転
に適正な環境下にあるか否かを容易に監視できるように
なる。
【図１】この発明の一実施形態にかかるＭＲＩ装置の設
置環境の概略説明図である。
置環境の概略説明図である。
【図２】図１のＭＲＩ装置に組み込まれた環境監視装置
の説明図である。
の説明図である。
【図３】図１のＭＲＩ装置に組み込まれた環境監視装置
の動作のフローチャートである。
の動作のフローチャートである。
【図４】従来のＭＲＩ装置の設置環境の概略説明図であ
る。
る。
１ 超電導磁石温度センサ ２ 液体ヘリウムレベルセンサ ３ ヘリウムガス温度センサ ４ ヘリウムガス圧力センサ ５ 機械室温度センサ ６ 撮影室温度センサ ７ 撮影室酸素センサ ８ 中継装置 ９ フィルタ １０ 環境監視装置 Ｍ 超電導磁石 Ｋ 操作卓 Ｈ コンピュータ
Claims (3)
- 【請求項１】 超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石
の液体ヘリウム量、および、ヘリウムガス温度及び／又
はヘリウムガス圧力のそれぞれに関するデータを収集す
る環境データ収集手段と、収集した環境データを表示す
る表示手段とを具備したことを特徴とする超電導磁石の
環境監視装置。 - 【請求項２】 主磁場を発生する超電導磁石と、その超
電導磁石に液体ヘリウムを圧送するコンプレッサとを備
えたＭＲＩ装置において、 超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データを表示する表示手段とを具備したことを特徴とす
るＭＲＩ装置。 - 【請求項３】 主磁場を発生する超電導磁石と、その超
電導磁石に液体ヘリウムを圧送するコンプレッサとを備
えたＭＲＩ装置において、 超電導磁石の温度及び／又は超電導磁石の液体ヘリウム
量、および、コンプレッサのヘリウムガス温度及び／又
はコンプレッサのヘリウムガス圧力のそれぞれに関する
データを収集する環境データ収集手段と、収集した環境
データに基づいてＭＲＩ装置の運転に適正な環境下にあ
るか否かを診断する診断手段とを具備したことを特徴と
するＭＲＩ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8038213A JPH09224919A (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 超電導磁石の環境監視装置およびｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8038213A JPH09224919A (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 超電導磁石の環境監視装置およびｍｒｉ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09224919A true JPH09224919A (ja) | 1997-09-02 |
Family
ID=12519045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8038213A Pending JPH09224919A (ja) | 1996-02-26 | 1996-02-26 | 超電導磁石の環境監視装置およびｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH09224919A (ja) |
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