JPH09219023A

JPH09219023A - ディスクを評価するパターンを有する光ディスク

Info

Publication number: JPH09219023A
Application number: JP9078530A
Authority: JP
Inventors: Sadanari Fujimoto; 定也藤本; Yuji Sato; 裕治佐藤
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1995-04-14
Filing date: 1997-03-28
Publication date: 1997-08-19
Anticipated expiration: 2016-04-11
Also published as: JP2810028B2

Abstract

(57)【要約】【課題】その再生面と対物レンズ面との相対的な傾き
が発生しても再生信号の特性を最適化することができる
光ディスクを提供するにある。【解決手段】光ディスク１０の内周領域のリードイン
領域２７には、光ディスク10の読み込みエラーを評価す
るテストパターンとしてのピット長３Ｔ，ランド長＊６
Ｔ，ピット長７Ｔ、ランド長３Ｔ，ピット長６Ｔ、ラン
ド長７Ｔのピット及びランドが交互に形成されている。
このテストパターンデータを再生系で再生するこにより
エラーレートが検出され、このエラーレートを最小とす
る為の補正係数が求められ、この補正係数を利用して再
生信号が補正されることから、エラーレートが最小の状
態で再生信号が再生系で再生される。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスク、こ
の光ディスクへのデータを記録する記録方法及びデータ
記録装置並びに光ディスクからデータを再生するデータ
再生方法及びデータ再生装置に係り、特に、チルト量を
検出可能な検出信号が記録された光ディスク、この光デ
ィスクにチルト量検出信号をデータとともに記録する記
録方法及びデータ記録装置並びに光ディスクからチルト
量検出信号を検出してデータを再生するデータ再生方法
及びデータ再生装置に関する。

【０００２】また、この発明は、評価テストパターンを
有する光ディスク、この光ディスクへ評価テストデータ
と供に再生データを記録する記録方法及びデータ記録装
置並びに光ディスクから評価データを読み出して光ディ
スクを評価する方法及び装置に係り、特に、製造された
光ディスクの良否を判定可能な評価テストパターンが記
録された光ディスク、この光ディスクに評価テストパタ
ーンを再生データとともに記録する記録方法及びその装
置並びに光ディスクから評価テストパターン信号を検出
して製造された光ディスクの良否を判定する方法及びそ
の装置に関する。

【０００３】

【従来の技術】情報記録再生装置の一種である光学的に
情報を再生する光ディスク装置では、ディスク再生面と
対物レンズ面との相対的なチルト量が大きい程、再生信
号の周波数特性が悪化し最終的にはデーターリード時の
エラーレートが悪化することが知られている。この相対
的なチルト量は、ディスクの物理的ソリによるチルトと
光ヘッドの対物レンズの物理的傾きによるチルトで定ま
るとされている。

【０００４】従来、このような問題点を解決するため
に、機械的に光ヘッドを傾け、ディスク再生面と対物レ
ンズ面との相対的チルトなくす方法が例えば、特開平３
−１４２７２３等に知られている。この従来の装置は、
光ピックアップが傾動可能に支持され、ギヤを介して傾
動源としてのモータに機械的に連結される構造を有して
いる。このような装置では、ディスクのチルト量が検出
され、これに応じてモーターが回転されてギヤを介して
光ピックアップが傾けられて対物レンズと光ディスクと
の間の相対的なチルト量が制御されている。このような
制御系で、ディスク再生面と対物レンズ面との相対的な
チルトが除去されるとしている。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】このような従来の制御
方式を採用した装置においては、制御系内にモータ、ギ
ヤなどの機械部品が介在するため、高帯域でのチルト補
正制御が困難で直流成分近傍の制御帯域でしかチルト補
正ができない問題があり、また、機械部品を使用するた
め装置の小型化が困難である問題がある。特に、高密度
で大容量の情報を記録できる光ディスクが開発されつつ
ある今日では、情報再生の為には、直流成分域のチルト
補正では、不十分とされ、直流成分域のみならず、高帯
域においても正確にチルト補正が可能な方式の開発が望
まれている。

【０００６】また、情報記録再生装置の一種である光学
的にデータを再生する光ディスク装置では、光ディスク
にデータが高い精度で記録されていることが、高い精度
でデータを再生する前提となっている。例えば、光ディ
スクに形成されているピットの成形性が悪いと、当然の
ことながら、高い精度、換言すれば、低いエラーレート
でそのピットから再生信号が再生されず、データの再生
が不能となる事態が予想される。同様に、再生信号の再
生信号の周波数特性が悪化すると、最終的にはデーター
リード時のエラーレートが悪化し、また、隣接するピッ
ト列からのクロストーク成分が大きいと、検索対象にピ
ット列から検索データが得られなくなることが知られて
いる。

【０００７】従来から製造された光ディスクの良否を高
精度で判定する方式の出現が望まれていたが、比較的記
憶容量が大きくない光ディスクでは、実際の再生系で記
録データを確認すれば、そのデータの記録の良否を判定
するに十分であるとされている。然ながら、高密度で大
容量の情報を記録できる光ディスクが開発されつつある
今日では、より高精度にデータの記録の良否を判定する
ことが要求され、そのような方式の開発が望まれてい
る。

【０００８】この発明は、上述したような事情に鑑みな
されたものでの第１の目的は、光ディスク再生面と対物
レンズとの間に相対的な傾きが発生しても、再生信号を
最適化することができるディスクを提供するにある。

【０００９】この発明の第２の目的は、光ディスク再生
面と対物レンズとの間に相対的な傾きが発生しても、再
生信号を最適化することができるテストパタ−ンを光デ
ィスクに記録する方法を提供するにある。

【００１０】この発明の第３の目的は、光ディスク再生
面と対物レンズとの間に相対的な傾きが発生しても、再
生信号を最適化することができるテストパタ−ンを光デ
ィスクに記録する装置を提供するにある。

【００１１】この発明の第４の目的は、光ディスクから
再生信号を最適化することができるテストパタ−ンを読
みだして再生信号を最適化する再生方法を提供するにあ
る。この発明の第５の目的は、光ディスクから再生信号
を最適化することができるテストパタ−ンを読みだして
再生信号を最適化する再生装置を提供するにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】この発明によれば、チャ
ンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピ
ットが最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並
びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間
の所定ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピ
ット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最
短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）
間の所定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及
び非ピットの配列でデータが記録されているデータ領域
と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び
最短非ピットの組み合わせが繰り返される最短ピット
列、前記最長ピット及び最長非ピットの組み合わせが繰
り返される最長ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及
び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピッ
ト及びこのピットに対応する非ピットの組み合わが繰り
返される所定ピット列が配列されたテストパターンが記
録されているテストパターン領域と、を具備する光ディ
スクが提供される。

【００１３】また、この発明によれば、記録データに応
じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域及び所
定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピットが配列
されたテストパターン及びデータを再生信号として光学
的に読み出す読出手段と、前記テストパターンから読み
出された再生信号から装置に固有の補正係数を検出する
検出手段と、この補正係数で前記データ領域から読み出
された再生信号を補正する補正手段と、を具備する光デ
ィスク再生装置が提供される。

【００１４】更に、この発明によれば、記録データに応
じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域及び所
定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピットが配列
されたテストパターン及びデータを光ディスクから再生
信号として光学的に読み出す工程と、前記テストパター
ンから読み出された再生信号から装置に固有の補正係数
を検出する工程と、この補正係数で前記データ領域から
読み出された再生信号を補正する工程と、を具備する光
ディスクの再生方法が提供される。

【００１５】更にまた、この発明によれば、チャンネル
ピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが
最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最
短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定
ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長
（＊ｍＴ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピ
ット長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所
定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピ
ットの配列に相当するピットデータに記録すべきデータ
を変換するデータ変換工程と、前記最短ピット及び最短
非ピットの組み合わせが繰り返される最短ピット列、前
記最長ピット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる最長ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピット及び
このピットに対応する非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる所定ピット列が配列されたテストパターンに相当す
るテスト信号を発生する工程と、前記ピットデータを光
ディスクのデータ領域に及び前記テスト信号を光ディス
クのデータ領域とは異なるテストパターン領域にピット
及び非ピットの配列として記録する工程と、を具備する
光ディスクへデータを記録する記録方法が提供される。

【００１６】また、更にこの発明によれば、チャンネル
ピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが
最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最
短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定
ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長
（＊ｍＴ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピ
ット長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所
定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピ
ットの配列に相当するピットデータに記録すべきデータ
を変換するデータ変換手段と、前記最短ピット及び最短
非ピットの組み合わせが繰り返される最短ピット列、前
記最長ピット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる最長ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピット及び
このピットに対応する非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる所定ピット列が配列されたテストパターンに相当す
るテスト信号を発生するテスト信号発生手段と、前記ピ
ットデータを光ディスクのデータ領域に及び前記テスト
信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテストパター
ン領域にピット及び非ピットの配列として記録する記録
手段と、を具備する光ディスクへデータを記録する記録
装置が提供される。

【００１７】上述した光ディスクにおいては、光ディス
ク再生面と対物レンズとの間に相対的な傾きが発生して
も、その量に応じて補正係数で再生信号を最適化するこ
とができる。従って、再生信号の周波数特性が常に最適
化され、再生信号特性を向上させることができる。よっ
て、最終的にはデータリード時のエラーレートを向上さ
せることができるまた、この発明によれば、チャンネル
ピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが
最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最
短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定
ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長
（＊ｍＴ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピ
ット長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所
定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピ
ットの配列でデータが記録されているデータ領域と、こ
のデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非
ピット並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピットから選定され
たピット及びこのピットに対応する非ピットの組み合わ
せに係るテストパターンが記録されている光ディスクの
記録状態を判定する為のテストパターンが形成されてい
るテストパターン領域と、を具備する光ディスクが提供
される。

【００１８】また、この発明によれば、記録データに応
じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域及び所
定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピットが配列
されたテストパターンを有する光ディスクからテストパ
ターン及びデータを再生信号として光学的に読み出す読
出手段と、前記テストパターンから読み出された再生信
号から光ディスクに固有の評価データを検出する検出手
段と、を具備する光ディスクの評価装置が提供される。

【００１９】更に、この発明によれば、記録データに応
じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域及び所
定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピットが配列
されたテストパターンを有する光ディスクからテストパ
ターン及びデータを再生信号として光学的に読み出す読
出工程と、前記テストパターンから読み出された再生信
号から光ディスクに固有の評価データを検出する検出工
程と、この評価データから光ディスクの良否を判定する
工程と、を具備する光ディスクの評価方法が提供され
る。

【００２０】更にまた、この発明によれば、チャンネル
ピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが
最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最
短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定
ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長
（＊ｍＴ）、最長非ピット長（ｎＴ）並びに最短非ピッ
ト長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所定
の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピッ
トの配列に相当するピットデータに記録すべきデータを
変換するデータ変換工程と、このデータ領域外に設けら
れ、前記最短ピット及び最短非ピット並びに最短ピット
長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長
を有するピットから選定されたピット及びこのピットに
対応する非ピットの組み合わせに係るテストパターンに
相当するテスト信号を発生する工程と、前記ピットデー
タを光ディスクのデータ領域に及び前記テスト信号を光
ディスクのデータ領域とは異なるテストパターン領域に
ピット及び非ピットの配列として記録する工程と、を具
備する光ディスクへデータを記録する記録方法が提供さ
れる。

【００２１】また更に、この発明によれば、チャンネル
ピット長をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが
最短ピット長（ｍＴ）、最長ピット長（＊ｎＴ）並びに
最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所
定ピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット
長（＊ｍＴ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非
ピット長（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の
所定の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非
ピットの配列に相当するピットデータに記録すべきデー
タを変換するデータ変換手段と、このデータ領域外に設
けられ、前記最短ピット及び最短非ピット並びに最短ピ
ット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピッ
ト長を有するピットから選定されたピット及びこのピッ
トに対応する非ピットの組み合わせに係るテストパター
ンに相当するテスト信号を発生するテスト信号発生手段
と、前記ピットデータを光ディスクのデータ領域に及び
前記テスト信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテ
ストパターン領域にピット及び非ピットの配列として記
録する記録手段と、を具備する光ディスクへデータを記
録する記録装置が提供される。

【００２２】上述した光ディスクにおいては、最短ピッ
ト及び最短非ピットのピット列並びに最長ピット及び最
長非ピットのピット列からの再生信号を検出してその信
号を評価することによってピットの成形性を判断するこ
とができる。また、最長ピット長（ｎＴ）を有するピッ
ト及び非ピットが繰り返されるピット列（ｎＴ＋＊ｎ
Ｔ）、最短ピット長（ｍＴ）を有するピット及び非ピッ
トが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍＴ）及び最短ピ
ット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピット長列（ｍＴ＋
＊ｍＴ）までの間に相当し、その間では、いずれも倍数
の関係にないピット長（ｍ＋１）Ｔ、（ｍ＋２）Ｔ、
（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを有するピット及び非
ピットが繰り返されるピット列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ
＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］、
［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ］及び［（ｍ＋８）Ｔ
＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有するテストパターンからの再生
信号によって再生信号の周波数特性を評価することがで
きる。更に、最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディ
スクの１周に亘って繰り返され、中心トラックに相当す
るこの最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接するトラ
ックとしてピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）
Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］
が光ディスクの１周に亘って繰り返されているテストパ
ターンからの再生信号によって再生信号のクロストーク
特性を評価することができる。

【００２３】また、この発明によれば、チャンネルピッ
ト長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであっ
て、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、ｎ、ｍ、ｋを整数とす
ると、ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピット長
（ｋＴ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピット長
（ｋＴ）間のピット長のいずれかを有し、非ピットが最
短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長（＊ｋＴ）並びに
最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長（＊ｋＴ）間
の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピッ
トの配列の組み合わせでデータが記録されているデータ
領域と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内のある１つのピット長を有するピット、長
さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するラ
ンド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長
を有するピット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つ
のランド長を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内
の他の１のピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内
の残る１つのランド長を有するランドから選定されたピ
ットランドの繰り返し配列が記録されているテストパタ
ーン領域と、を具備する光ディスクが提供される。

【００２４】更に、この発明によれば、記録データに応
じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域及び所
定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピットが配列
されたテストパターンを有する光ディスクからテストパ
ターン及びデータを再生信号として光学的に読み出す読
出手段と、前記テストパターンから読み出された再生信
号のエラーレートを検出する検出手段と、この前記エラ
ーレートを最小とするように再生信号を補正する補正手
段と、を具備する光ディスク再生装置が提供される。

【００２５】また、更に、この発明によれば、記録デー
タに応じてピット及び非ピットが配列されたデータ領域
及び所定の配列規則に基づいて前記ピット及び非ピット
が配列されたテストパターン及びする光ディスクからテ
ストパターン及びデータを再生信号として光学的に読み
出す工程と、前記テストパターンから読み出された再生
信号からそのエラーレートを検出する工程と、このエラ
ーレートを最小とするように前記データ領域から読み出
された再生信号を補正する工程と、を具備する光ディス
クの再生方法が提供される。

【００２６】より更に、この発明によれば、前記光ディ
スクは、チャンネルピット長をＴとしこの整数倍に係る
ピット及びランドであって、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、
ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット長（３
Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）並びに最短ピット長（３
Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）間のピット長のいずれか
を有し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピッ
ト長（＊ｋＴ）並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非
ピット長（＊ｋＴ）間の非ピット長のいずれかを有し、
このピット及び非ピットの配列の組み合わせでデータが
記録されているデータ領域と、このデータ領域外に設け
られ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのピット長
を有するピット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ランド長を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の
残る１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍＴ，
ｎＴの内のある１つのランド長を有するランド、長さ３
Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１のピット長を有するピット
及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つのランド長を有するラン
ドから選定されたピットランドの繰り返し配列が記録さ
れているテストパターン領域と、を具備する光ディスク
の再生方法が提供される。

【００２７】また、この発明によれば、前記ピット及び
ランドの繰り返しは、ｍ＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−
＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ、３Ｔ−７Ｔ−６
Ｔ−３Ｔ−７Ｔ−６Ｔ、６Ｔ−３Ｔ−７Ｔ−６Ｔ−３Ｔ
−７Ｔ、７Ｔ−３Ｔ−６Ｔ−７Ｔ−３Ｔ−６Ｔ、６Ｔ−
７Ｔ−３Ｔ−６Ｔ−７Ｔ−３Ｔ、７Ｔ−６Ｔ−３Ｔ−７
Ｔ−６Ｔ−３Ｔのグループから選定された１つを有して
いる請求項９１に記載の光ディスクの再生方法。

【００２８】また、この発明よれば、チャンネルピット
長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであっ
て、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、ｎ、ｍ、ｋを整数とす
ると、ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピット長
（ｋＴ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピット長
（ｋＴ）間のピット長のいずれかを有し、非ピットが最
短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長（＊ｋＴ）並びに
最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長（＊ｋＴ）間
の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピッ
トの配列の組み合わせに相当するピットデータに記録す
べきデータを変換するデータ変換工程と、このデータ領
域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つ
のピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内
の他の１のランド長を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，
ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピット、長さ３
Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長を有するラン
ド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１のピット長を有
するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つのランド長を
有するランドから選定されたピットランドの繰り返し配
列として記録する工程と、を具備する光ディスクへデー
タを記録する記録方法が提供される。

【００２９】更に、この発明によれば、チャンネルピッ
ト長をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであっ
て、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、ｎ、ｍ、ｋを整数とす
ると、ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピット長
（ｋＴ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピット長
（ｋＴ）間のピット長のいずれかを有し、非ピットが最
短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長（＊ｋＴ）並びに
最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長（＊ｋＴ）間
の非ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピッ
トの配列の組み合わせに相当するピットデータに記録す
べきデータを変換するデータ変換手段と、このデータ領
域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つ
のピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内
の他の１のランド長を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，
ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピット、長さ３
Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長を有するラン
ド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１のピット長を有
するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つのランド長を
有するランドから選定されたピットランドの繰り返し配
列として記録する記録手段と、を具備する光ディスクへ
データを記録する記録装置が提供される。

【００３０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照してこの発明の
実施例に係る光ディスク及び光ディスク再生装置を説明
する。

【００３１】図１は、この発明の一実施例に係る光ディ
スクからデータを再生する光ディス再生装置のブロック
を示し、図２は、図１に示された光ディスクをドライブ
するディスクドライブ部のブロックを示し、図３及び図
４は、図１及び図２に示した光デスクの構造を示してい
る。

【００３２】図１に示すように光ディスク再生装置は、
キー操作／表示部４、モニター部６及びスピーカー部８
を具備している。ここで、ユーザがキー操作／表示部４
を操作することによって光ディスク１０から記録データ
が再生される。記録データは、映像データ、副映像デー
タ及び音声データを含み、これらは、ビデオ信号及びオ
ーディオ信号に変換される。モニター部６は、ビデオ信
号によって映像を表示し、スピーカー部８は、オーディ
オ信号によって音声を発生している。

【００３３】既に知られるように光ディスク１０は、種
々の構造がある。この光ディスク１０には、例えば、図
３に示すように、高密度でデータが記録される読み出し
専用ディスクがある。図３に示されるように光ディスク
１０は、一対の複合層１８とこの複合ディスク層１８間
に介挿された接着層２０とから構成されている。この各
複合ディスク層１８は、透明基板１４及び記録層、即
ち、光反射層１６から構成されている。このディスク層
１８は、光反射層１６が接着層２０に接触するように配
置される。この光ディスク１０には、中心孔２２が設け
られ、その両面の中心孔２２の周囲には、この光ディス
ク１０をその回転時に押さえる為のクランピング領域２
４が設けられている。中心孔２２には、光ディスク装置
にディスク１０が装填された際に図２に示されたスピン
ドルモータ１２のスピンドルが挿入され、ディスクが回
転される間、光ディスク１０は、そのクランピング領域
２４でクランプされる。

【００３４】図３に示すように、光ディスク１０は、そ
の両面のクランピング領域２４の周囲に光ディスク１０
に情報を記録することができる情報領域２５を有してい
る。各情報領域２５は、その外周領域が通常は情報が記
録されないリードアウト領域２６に、また、クランピン
グ領域２４に接するその内周領域が同様に、通常は情報
が記録されないリードイン領域２７に定められ、更に、
このリードアウト領域２６とリードイン領域２７との間
がデータ記録領域２８に定められている。データ記録領
域２８は、この光ディスク固有の規格として定められた
所定の論理フォーマットを有している。その詳細に関し
ては、欧州特許出願番号 96101282.0,filed Janurary
30, 199、Kikuchi et. alに記述されている。論理フォ
ーマットの詳細に関しては、その明細書を参照された
い。

【００３５】図４に示すようにリードアウト領域２６外
であってその領域２６に接する外側の領域部分２９Ｂ及
びリードイン領域２７外であってその領域２７に接する
内側の領域部分２９Ａの両方又は少なくとも一方には、
光ディスク１０に形成されたピット列を評価するための
テストパターンの１例として次のような４グループのピ
ット列が形成されている。この４グループのテストパタ
ーンは、後に説明するようにビデオデータ等の再生対象
データとは別に外部の信号発生器から評価データとして
光ディスクに記録される場合には、リードイン領域２７
外であってその領域２７に接する内側の領域部分２９Ａ
に記録される。然ながら、ビデオデータ等の再生対象デ
ータの先頭に評価データを設け、評価データ及びこれに
続いて再生対象データが記録される場合には、リードイ
ン領域２７に記録されても良い。後に他の実施例として
図１４（ａ）、図１４（ｂ）及び図１５を参照して説
明されるように３Ｔ−６Ｔ−７Ｔパターンの評価データ
は、リードイン領域２７に記録される。

【００３６】４グループのテストパターンに相当するピ
ット列の説明において、Ｔは、チャネルビット長を示
し、ｎ及びｍは、整数であって（□Ｔ）は、ピット長及
び（＊□Ｔ）は、隣接するピット間の間隔に相当する非
ピット長を表している。ここで、図１及び２に示した再
生装置では、光ディスク１０は、その半径方向の位置に
よってその回転速度が変更され、トラックが光ビームで
一定の線速で走査される線速一定のＣＬＶ(Constant Li
near Velocity)タイプであることから、ピット長ｎＴ、
ｍＴの夫々は、光ディスク１０の内周から外周に亘って
一定長で形成される。

【００３７】（ａ）図５（Ａ）に示すような最長ピ
ット長（ｎＴ）を有するピット及び非ピットが繰り返さ
れるピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）としての最長ピット長列
の第１グループ（ｂ）図６（Ａ）に示すような最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）としての最短ピット長列の第２グル
ープ（ｃ）最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピッ
ト長列［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］までの間に相
当し、その間では、いずれも倍数の関係にない下記に示
すようなピット長列を有するピット及び非ピットの繰り
返しが配列された繰り返しピット長列の第３グループ：［（ｍＴ＋＊ｍＴ）］の［ｐ回の繰り返し］［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］の［ｑ回の繰り返
し］［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］の［ｒ回の繰り返
し］［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ］の［ｓ回の繰り返
し］［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］の［ｔ回の繰り返
し］尚、ここで、（ｐ＞ｑ＞ｒ＞ｓ＞ｔ）の関係が成立し、
ｐ、ｑ、ｒ、ｓ、ｔ回の繰り返しピット列を再生するに
要する時間が略一定になるように選定される。また、
［（ｍ＋８）Ｔ＋（ｍ＋８）Ｔ］は、具体的には、最長
ピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する。

【００３８】（ｄ）図８に示すように最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスク１０の１周に亘って繰り
返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が光ディスク１０の
手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接してピット長列［（ｍ＋２）Ｔ
＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスク１０の次の１周に亘っ
て繰り返されるピット長列の第４グループ第４グループにおいては、図８に示されるようにピット
長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が内周のトラッ
ク、ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が中心トラック及びピ
ット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が外周トラ
ックとして光ディスク１０の半径方向に沿って配置され
ている。然ながら、この図８に示される配置に代えて、
ピット長列［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が内周の
トラック、ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）が中心トラック
及びピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が外
周トラックとして光ディスク１０の半径方向に沿って配
置されても良い。

【００３９】上述した第１グループから第４グループの
ピット長列は、具体的には、（m ＝３）及び（n ＝１
１）が相当し、次のような関係となる。

【００４０】（ａ）第１グループ：最長ピット長（１
１Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピッ
ト列（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）（ｂ）第２グループ：最短ピット長（３Ｔ）を有する
ピット及び非ピットが繰り返されるピット列（３Ｔ＋＊
３Ｔ）（ｃ）第３グループ：下記に示すようなピット長列の
繰り返し配列（３Ｔ＋＊３Ｔ）の［ｐ回の繰り返し］（４Ｔ＋＊４Ｔ）の［ｑ回の繰り返し］（６Ｔ＋＊６Ｔ）の［ｒ回の繰り返し］（７Ｔ＋＊７Ｔ）の［ｓ回の繰り返し］（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）の［ｔ回の繰り返し］既に説明したように（４Ｔ＋＊４Ｔ）、（６Ｔ＋＊６
Ｔ）及び（７Ｔ＋＊７Ｔ）のピット列は、最短ピット長
列（３Ｔ＋＊３Ｔ）から所定ピット長列（１１Ｔ＋＊１
１Ｔ）までの間に相当し、これらは、いずれも倍数の関
係になっていない。

【００４１】（ｄ）最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）
が光ディスク１０の１周に亘って繰り返され、中心トラ
ックに相当するこの最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に
隣接するトラックとしてピット長列（５Ｔ＋＊５Ｔ）が
光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に
最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接してピット長列
（６Ｔ＋＊６Ｔ）が光ディスク１０の次の１周に亘って
繰り返されるピット長列の第４グループまた、テストパターンの他の例としてとして次のような
ピット列が形成されても良い。

【００４２】（ａ）図５（ａ）に示すような最長ピ
ット長（ｎＴ）を有するピット及び非ピットが繰り返さ
れるピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）としての最長ピット長列
の第１グループ（ｂ）図６（ａ）に示すような最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）としての最短ピット長列の第２グル
ープ他の例として次のような関係であっても良い。

【００４３】（ｃ）最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）
から所定ピット長列［（ｍ＋１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）
Ｔ］までの間に相当し、この間のピット列がいずれも倍
数の関係にない下記に示すようなピット長列の繰り返し
が配列された繰り返しピット長列の第３グループ［（ｍＴ＋＊ｍＴ）の［ｐ回の繰り返し］［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］の［ｑ回の繰り返
し］［（ｍ＋３）Ｔ＋＊（ｍ＋３）Ｔ］の［ｒ回の繰り返
し］［（ｍ＋７）Ｔ＋＊（ｍ＋７）Ｔ］の［ｓ回の繰り返
し］［（ｍ＋１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）Ｔ］の［ｔ回の繰り
返し］尚、ここで、（ｐ＞ｑ＞ｒ＞ｓ＞ｔ）の関係が成立し、
ｐ、ｑ、ｒ、ｓ、ｔ回の繰り返しピット列を再生するに
要する時間が略一定になるように選定される。また、
［（ｍ＋１４）Ｔ＋＊（ｍ＋１４）Ｔ］は、具体的に
は、最長ピット列（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する。

【００４４】（ｄ）図８に示すように最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスク１０の１周に亘って繰り
返され、中心トラックに相当するこの最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接トラックとしてピット長列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］が光ディスク１０の
手前の１周に亘って繰り返され、更に最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）に隣接してピット長列［（ｍ＋２）Ｔ
＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスク１０の次の１周に亘っ
て繰り返されるピット長列の第４グループ上述した他の例に係る第１グループから第４グループの
ピット長列は、具体的には、（ｎ＝１８）及び（ｍ＝
４）が相当し、次のような関係となる。

【００４５】（ａ）第１グループ：最長ピット長（４
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）（ｂ）第２グループ：最短ピット長（４Ｔ）を有する
ピット及び非ピットが繰り返されるピット列（４Ｔ＋＊
４Ｔ）（ｃ）第３グループ：下記に示すようなピット長列の
繰り返し配列（４Ｔ＋＊４Ｔ）の［ｐ回の繰り返し］（５Ｔ＋＊５Ｔ）の［ｑ回の繰り返し］（７Ｔ＋＊７Ｔ）の［ｒ回の繰り返し］（１１Ｔ＋＊１１Ｔ）の［ｓ回の繰り返し］（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）の［ｔ回の繰り返し］同様に（５Ｔ＋＊５Ｔ）、（７Ｔ＋＊７Ｔ）及び（１１
Ｔ＋＊１１Ｔ）のピット列は、最短ピット長列（４Ｔ＋
＊４Ｔ）から所定ピット長列（１８Ｔ＋＊１８Ｔ）まで
の間に相当し、これらは、いずれも倍数の関係になって
いない。

【００４６】（ｄ）最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）
が光ディスク１０の１周に亘って繰り返され、中心トラ
ックに相当するこの最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に
隣接するトラックとしてピット長列（５Ｔ＋＊５Ｔ）が
光ディスク１０の手前の１周に亘って繰り返され、更に
最短ピット長列（４Ｔ＋＊４Ｔ）に隣接してピット長列
（６Ｔ＋＊６Ｔ）が光ディスク１０の次の１周に亘って
繰り返されるピット長列の第４グループ図５（ａ）に示すような第１グループの最長ピット長
（ｎＴ）を有するピット列からの反射光ビームが検出さ
れて再生信号に変換されると、図５（ｂ）に示すような
再生信号が得られる。また、図６（ａ）に示すような第
２グループの最短ピット長（ｍＴ）を有するピットから
の反射光ビームが検出されて再生信号に変換されると、
図６（ｂ）に示すような再生信号が得られる。

【００４７】後に説明するように図５（ｂ）及び図６
（ｂ）に示される第１及び第２グループの再生波形から
スタンパ、即ち、原盤から形成される光ディスク１０の
ピットの成形性が評価される。また、第３グループのピ
ット列を光ビームで再生信号に変換すると、図７に示さ
れるようなＭＴＦ（Modulation Transfer Function) 信
号が得られる。このＭＴＦ信号では、ピット長が小さけ
れば小さい程、再生信号の振幅が小さく、ピット長が大
きければ大きいほど、再生信号の振幅が大きくなってい
る。この図７に示されるＭＴＦ信号特性からピットから
再生された再生信号の周波数特性を評価することができ
る。

【００４８】更に、第４グループのピット列は、図８に
示されるように中心トラックに相当するピット長列（ｍ
Ｔ＋＊ｍＴ）及び隣接トラックに相当するピット長列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ
＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が形成されていることから、再生信
号中に含まれる隣接トラックからのクロストークを評価
することができる。ここで、クロストーク量Ｃt は、再
生トラックの振幅Ａt （中心トラックに相当する。）か
ら隣接するトラックの振幅Ｂr を引いた値に相当する
（Ｃt ＝Ｂr − Ａt (dB)）。

【００４９】更にまた、リードアウト領域２６及びリー
ドイン領域２７の両方、又は少なくとも一方には、光デ
ィスク１０に形成されたピット列を評価するための第１
グループから第４グループまでのピット列に加えて更に
光ディスク１０の再生面と対物レンズ３４との間の相対
的なチルト量を補正するための第２のテストパターンが
第５グループのピット列として形成されている。第５グ
ループのピット列は、最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）
から最長ピット長列（ｎＴ＋＊ｎＴ）まで各ピット列の
繰り返し配列がそのピット長順に配列されている。

【００５０】第５グループの第１の例では、（ｍ＝３、
ｎ＝１１）であって、３Ｔから１１Ｔまでのピット長を
有するピット列が配列される。また、第５グループの他
の例としては（ｍ＝４、ｎ＝１８）であって、４Ｔから
１８Ｔまでのピット長を有するピット列が配列される。
第５グループの第１の例では、その第２のテストパター
ンが再生されると、図９（ａ）、図９（ｂ）、図９
（ｃ）に示すようなＭＴＦ信号が再生される。後に詳述
するようにこのＭＴＦ信号によって光ディスク１０の再
生面と対物レンズ３４との間の相対的なチルト量が補正
される。図９（ａ）から理解されるように各ピット列の
繰り返し数は、第３グループの繰り返し数（ｐからｔ）
と同様にその繰り返しのピット列を再生する時間が略一
定となるように選定されている。また、図９（ａ）に示
すＭＴＦ信号は、その信号波形を拡大した信号波形を示
す図9 （ｂ）及び図９（ｃ）の信号波形から明かなよう
に各ピットに対する信号波形の集合となっている。

【００５１】次に、このような光ディスク１０からデー
タを再生する光ディスク再生装置について図１及び図２
を参照して説明する。光ディスク再生装置においては、
光ディスクをドライブするディスクドライブ部３０で光
ディスク１０が光ビームで検索される。即ち、図２に示
すように、光ディスク１０は、モータ駆動回路１１によ
って駆動されるスピンドルモータ１２上に載置され、こ
のスピンドルモータ１２によって線速一定で回転されて
いる。光ディスク１０の下方には、この光ディスク１０
に光ビーム、即ち、レーザビームを集光する光ヘッド、
即ち、光ピックアップ３２が設けられている。この光ヘ
ッド３２は、情報記録領域２５、特に、データ記録領域
２８を検索する為にその光ディスク１０の半径方向に移
動可能にガイド機構（図示せず。）に載置され、駆動回
路３７からの駆動信号によって駆動されるフィードモー
タ３３で光ディスク１０の半径方向に移動される。光デ
ィスク１０には、対物レンズ３４がその光軸に沿って移
動可能に保持され、フォ―カス駆動回路３６からの駆動
信号に応答してその光軸方向に移動され、常にフォ―カ
ス状態に対物レンズ３４が維持され、微小ビームスポッ
トが記録層１６上に形成される。また、この対物レンズ
３４は、光ディスク１０の半径方向に沿って微動可能に
保持され、トラック駆動回路３８からの駆動信号に応答
して微動され、常にトラッキング状態に維持されて光デ
ィスク１０の記録層１６上のトラックが光ビームで追跡
される。

【００５２】光ヘッド３２では、光ディスク１０から反
射された光ビームが検出され、検出されたこの検出信号
は、光ヘッド３２からヘッドアンプ４０を介してサーボ
処理回路４４に供給されている。サーボ処理回路４４で
は、検出信号からフォ―カス信号、トラッキング信号及
びモータ制御信号を生成し、これらの信号を夫々駆動回
路３６、３８、１１に供給している。従って、対物レン
ズ３４がフォ―カス状態及びトラッキング状態に維持さ
れ、また、スピンドルモータ１２が所定の回転数で回転
され、光ビームによって記録層１６上のトラックが光ビ
ームで、例えば、線速一定で追跡される。システムＣＰ
Ｕ部５０からアクセス信号としての制御信号がサーボ処
理回路４４に供給されると、サーボ処理回路４４から移
動信号が駆動回路３７に供給され、光ヘッド３２が光デ
ィスク１０の半径方向に沿って移動され、記録層１６の
所定のセクタがアクセスされ、再生データがヘッドアン
プ４０で増幅されてディスクドライブ部３０から出力さ
れる。出力された再生データは、システム用ＲＯＭ及び
ＲＡＭ部５２に記録されたプログラムで制御されるシス
テムＣＰＵ部５０及びシステムプロセッサ部５４を介し
てデータＲＡＭ部５６に格納される。この格納された再
生データは、システムプロセッサ部５４によって処理さ
れてビデオデータ、オーディオデータ及び副映像データ
に分類され、ビデオデータ、オーディオデータ及び副映
像データは、夫々ビデオデコーダ部５８、オーディオデ
コーダ部６０及び副映像デコーダ部６２に出力されてデ
コードされる。デコードされたビデオデータ、オーディ
オデータ及び副映像データは、Ｄ／Ａ及び再生処理回路
６４でアナログ信号としてのビデオ信号、オーディオ信
号及び副映像信号に変換されるとともにミキシング処理
されてビデオ信号及び副映像信号がモニタ６に、また、
オーディオ信号がスピーカ８に夫々供給される。その結
果、モニタ部６に映像が表示されるとともにスピーカ部
８から音声が再現される。

【００５３】上述したように図１及び図２に示される光
ディスク再生装置においては、再生動作の開始に伴い、
光ディスク１０のリードイン領域２７外であってその領
域２７に接する内側の領域部分２９Ａ及びリードアウト
領域２６外であってその領域２６に接する外側の領域部
分２９Ｂの両方又は少なくとも一方が検索され、チルト
量検出の為に第２のテストパターンに相当する第５グル
ープのピット列が検索されてその再生信号が図２のデー
タ処理回路４２に読み込まれる。この検出されたチルト
量を基に次のようにしてデータ領域２５を検索する際に
その再生信号に含まれるチルト成分が実質的に除去され
る。

【００５４】データ処理回路４２に含まれるこのチルト
補正の為のチルト補正回路が図１０に示されている。既
に記載したように光ディスク１０に記録されている情報
が光ヘッド３２で読み取られ、アナログ再生信号がヘッ
ドアンプ４０に出力される。このアナログ再生信号は、
ヘッドアンプ４０で増幅されて遅延回路１２１、１２
２、１２３、１２４から成る５タップ構成のトランスバ
ーサルフィルタ１０４に供給されてその信号波形が後に
述べるように補正されて２値化回路１０５に供給され
る。２値化回路１０５において再生信号は、２値化さ
れ、このディジタル化されたディジタル再生信号は、Ｐ
ＬＬ回路１０６においてクロック再生され、このクロッ
ク再生された信号が復調回路１０７において復調されて
データプロセッサ１０８へと順次送られて処理される。

【００５５】既に説明したように、光ディスク１０１に
は、図４に示すように第５グループに属する第２のテス
トパターンとしてのピット列が形成されているが、再生
時には、始めにこの第５グループに属するピット列が検
出される。ここでは、４Ｔから１８Ｔのピット列を例に
説明する。テストパターンとしての４Ｔから１８Ｔのピ
ット列が次々と再生されると、ＭＴＦ信号が再生され、
このＭＴＦ再生信号がＡ／Ｄ変換器１０９でＡ／Ｄ変換
される。このディジタル化されたＭＴＦ再生信号からシ
ステムＣＰＵ部５０において、第２のテストパターンに
係る各４Ｔから１８Ｔのピット列に関して、図１１に示
すような理想的な振幅特性を有するように補正する補正
係数が求められ、この補正係数がシステム用ＲＯＭ＆Ｒ
ＡＭ部５２に格納される。

【００５６】一般に、図１０に示すように光ディスク１
０の回転の間に光ディスク１０と光学ヘッド３２との間
に相対的な傾き、例えば、チルト角θrad が生じると、
図１２に実線で示すように再生信号のレベルが周期的に
減衰される。このレベルの減衰を補正するような補正係
数が補正対象のピット列からの再生信号に掛け合わされ
ることによって、図１２に波線で示すような理想的な信
号波形とすることができる。即ち、システムＣＰＵ部５
０においては、チルトによってその一部が減衰された第
２のテストパターンのディジタル化されたＭＴＦ再生信
号は、各ピット列に対しての理想的な基準信号レベル、
即ち、振幅と比較され、その差分が求めれる。各ピット
列に対する実際の信号レベルと基準信号レベルが一致す
る場合には、その補正係数は、１とされ、両者に差があ
る場合には、基準レベルとする為に実際の信号レベルに
掛け合わされる補正係数が決定される。この補正係数
は、４Ｔから１８Ｔの各ピット列について求められ、そ
の再生装置に装填されたその光ディスク１０について固
有のチルト補正係数、即ち、再生系の周波数特性として
システム用ＲＯＭ＆ＲＡＭ部５２に格納される。

【００５７】このチルト補正係数は、リードインエリア
２７及びリードアウトエリア２６のいずれか一方に形成
された第５グループのピット列に係る第２のテストパタ
ーンによって決定されても良く、或いは、両者からチル
ト補正係数が決定されても良い。また、図４に示すよう
にデータ領域２５の中心７０を基準として内周側の領域
７２のトラックが検索される際には、内周側チルト補正
係数が用いられ、また、データ領域２５の中心７０を基
準として外周側の領域７４のトラックが検索される際に
は、外周側チルト補正係数が用いられても良い。明らか
なように、この場合には、内周側チルト補正係数は、リ
ードインエリア２７に形成された第５グループのピット
列に係る第２のテストパターンによって決定され、ま
た、外周側チルト補正係数は、リードアウトエリア２６
に形成された第５グループのピット列に係る第２のテス
トパターンによって決定される。更に、このチルト係数
は、通常、内周から外周に検索領域が変化するに従って
大きくなることから、検索している領域、或いは、トラ
ックの番号に応じて補正係数を更に位置補正する係数補
正係数が決定され、これがシステム用ＲＯＭ＆ＲＡＭ部
５２に格納され、検索位置に応じた補正係数がシステム
ＣＰＵ部５０から出力されても良い。

【００５８】図１０に示す回路においては、再生系の周
波数特性を把握した後において、データ領域２５からの
データの検索が開始される。即ち、光学ヘッド３２で検
出されたデータ領域２５からの再生信号の周波数特性を
最適な周波数特性にするためにトランスバーサルフィル
タ１０４には、システムＣＰＵ５０から補正係数が補正
データとして送られる。トランスバーサルフィルタ１０
４では、システムＣＰＵ５０から送られてきたデータが
Ｄ／Ａ変換器１１１、１１２、１１３、１１４、１１５
でアナログ量に変換され、掛け算器１１６、１１７、１
１８、１１９、１２０でトランスバーサルフィルター１
０４の各タップ出力と掛け算される。例えば、傾き量が
５ｍｒａｄ生じた際には、第２のテストパターンの再生
信号は、例えば、図１３（ａ）に示すような周波数特性
となるが、これを図１３（ｃ）に示すような最適特性と
するためには、図１３（ｂ）に示されるような補正係数
特性が出力されれば良く、トランスバーサルフィルター
１０４の各タップ係数値を決めるシステムＣＰＵ５０か
らは、各々Ｄ／Ａ変換器１１１、１１２、１１３、１１
４、１１５に対して、例えば、係数値１０Ｈ，２０Ｈ，
ＦＦＨ，２０Ｈ、１０Ｈが出力される。このように光デ
ィスク１０がチルトされて再生信号の周波数特性が悪化
しても、トランスバーサルフィルター１０４の周波数特
性で再生信号を補正することによって正常な再生動作を
行うことが可能となる。

【００５９】尚、図１３（ａ）、１３（ｂ）及び１３
（ｃ）において、λは、光ビーム、即ち、レーザビーム
の波長及びＮＡは、対物レンズ３２の開口数を示してい
る。

【００６０】次に、図１４（ａ）、図１４（ｂ）及び図
１５を参照してこの発明の他の実施例に係る評価パター
ンについて説明する。光ディスク１０の再生時に最初に
検索される図４に示すリードイン領域２には、光ディス
ク１０に形成されたピット列を評価するためのテストパ
ターンの他の例として図１４（ａ）に示すように３Ｔ、
ｍＴ、ｎＴの繰り返し周期でピット及びランドが評価デ
ータとして記録されている。即ち、リードイン領域２に
は、図１５に示すように物理セクターアドレスを記述し
たヘッダ６６に続いてピット長３Ｔのピット、ランド長
＊ｍＴを有するランド、ピット長ｎＴのピット、ラン
ド長＊３Ｔのランド、ピット長ｍＴのピット及びランド
長＊ｎＴのランドが繰り返し評価データ６８として１物
理セクタに記録されている。この評価データを含む１物
理セクタは、あるトラックに少なくとも１つ或いは複数
設けられて良い。また、異なるトラックに評価データを
含む物理セクタが複数設けられても良い。ここで、ｍ，
ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ≦１４（＝ｋ）であ
る。また、ピット或いはランド長３Ｔ，＊３Ｔは、最小
ピット長或いはランド長に相当し、ピット或いはランド
長１４Ｔ，＊１４Ｔ（ｋＴ，＊ｋＴ）は、最大ピット長
或いはランド長に相当している。図１４（ａ）に示す評
価データが光ビームで検索されると、図１４（ｂ）に示
すような反射光レベルが検出される。

【００６１】評価データの具体的な例では、ｍ＝６，ｎ
＝７であって、評価データとしてピット長３Ｔのピッ
ト、ランド長＊６Ｔを有するランド、ピット長７Ｔの
ピット、ランド長＊３Ｔのランド、ピット長６Ｔのピッ
ト及びランド長＊７Ｔのランドが繰り返し記録されてい
る。この３−６−７のピット長及びランド長の一組は、
１６ビットで表したコード語(Code Word) では、“001
000001 0000001“が相当し、この１６ビットコード語
は、８ビットの１７２Ｈのデータシンボルに相当する。
即ち、この１６ビットコード語は、８ビットのデータシ
ンボル１７２Ｈに８／１６変換によって変換される。

【００６２】図１４（ａ）に示した評価データが図１０
と略同様な回路構成を有する図１６に示すエラーレート
補正回路で検出され、エラーレート補正係数が決定さ
れ、バイトエラーレートが最小に留められる。即ち、図
１７に示すステップＳ５０で示すように光ディスク再生
装置が再生動作を開始すると、ステップ５１に示すよう
に光ディスク１０のリードイン領域２７が検索され、図
１５に示す評価データ、即ち、テスト信号が含まれるセ
クタがステップ５２に示すように検索される。テストパ
ターンを含むセクタが判明すると、システムＣＰＵ５０
は、ステップＳ５４に示すようにイコライザとしてのト
ランスバーサルフィルタ１０４の掛け算器１１６、１１
７、１１８、１１９、１２０にデフォルトのタップ係数
をセットするとともにその判明したセクタから図１４
（ａ）に示す３・６・７パターンを有するテストパター
ンが読み出され、ヘッドアンプ４０に出力される。この
テストパターン信号は、ヘッドアンプ４０で増幅されて
遅延回路１２１、１２２、１２３、１２４から成る５タ
ップ構成のトランスバーサルフィルタ１０４を介して２
値化回路１０５に供給される。２値化回路１０５におい
て再生信号は、２値化され、このディジタル化されたデ
ィジタル再生信号は、ＰＬＬ回路１０６においてクロッ
ク再生される。ここで、エラーがなければ復調回路１０
７において１６ビットで表したコード語(Code Word) と
して“001 000001 0000001“が出力される。もし、読取
の際にエラーが発生している場合には、復調回路１０７
からは、エラーを含む他のコード語が出力される。この
コード語は、システムプロセッサ５４に供給されてデー
タシンボルに変換され、その変換結果がシステムＣＰＵ
５０に出力される。システムＣＰＵ５０においては、コ
ード語がデータシンボル１７２Ｈに一致するか否かが確
認される。同様に、ステップＳ５４に示すようにバイト
エラーレートを測定するために次々と３・６・７パター
ンがコード語に変換され、エラーが生じているか否か
が、システムＣＰＵ５０において確認され、ある所定数
の３・６・７パターンに対するバイトエラーレートＳ５
４が計算される。ステップＳ５５に示すようにこのバイ
トエラーレートが１０-5より大きい場合には、ステップ
Ｓ５４に戻され、システムＣＰＵ５０は、イコライザと
してのトランスバーサルフィルタ１０４の掛け算器１１
６、１１７、１１８、１１９、１２０に他ののタップ係
数をセットして再びステップＳ５４及びステップＳ５５
が実行される。ステップＳ５５において、バイトエラー
レートが１０-5以内に収まる場合には、そのタップ係数
が固定され、ステップＳ５６に示すように通常の再生動
作が開始される。

【００６３】上述した他の実施例に係る具体例では、評
価データは、ｍ＝６及びｎ＝７を有し、３−６−７ピッ
ト及びランド繰り返しが採用されている。然ながら、評
価データは、３−７−６、６−３−７、７−３−６、６
−７−３及び７−６−３のピット及びランド繰り返しの
いずれか１つが採用されても良い。ここで、３−７−６
のピット及びランド繰り返しでは、３−６−７ピット及
びランド繰り返しと同様にピット長３Ｔのピット、ラン
ド長＊７Ｔを有するランド、ピット長６Ｔのピット、
ランド長＊３Ｔのランド、ピット長７Ｔのピット及びラ
ンド長＊６Ｔのランドの配列となり、６−３−７のピッ
ト及びランド繰り返しでは、ピット長６Ｔのピット、ラ
ンド長＊３Ｔを有するランド、ピット長７Ｔのピット、
ランド長＊６Ｔのランド、ピット長３Ｔのピット及びラ
ンド長＊７Ｔのランドの配列となる。他の繰り返しパタ
ーンも同様にその数字の配列の順序となる。

【００６４】次に、図１８から図２４を参照して映像デ
ータ及びこの映像データを再生するための管理データと
ともに評価データを光ディスク１０に記録する方法及び
その記録方法が適用される記録システムについて説明す
る。

【００６５】図１８は、映像データをエンコーダしてあ
るタイトルセット８４の映像ファイル８８を生成するエ
ンコーダシステムが示している。図２０に示されるシス
テムにおいては、主映像データ、オーディオデータ及び
副映像データのソースとして、例えば、ビデオテープレ
コーダ（ＶＴＲ）２０１、オーディオテープレコーダ
（ＡＴＲ）２０２及び副映像再生器２０３が採用され
る。これらは、システムコントローラ（Sys con ）２０
５の制御下で主映像データ、オーディオデータ及び副映
像データを発生し、これらが夫々ビデオエンコーダ（Ｖ
ＥＮＣ）２０６、オーディオエンコーダ（ＡＥＮＣ）２
０７及び副映像エンコーダ（ＳＰＥＮＣ）２０８に供給
され、同様にシステムコントローラ（Sys con ）２０５
の制御下でこれらエンコーダ２０６、２０７、２０８で
Ａ／Ｄ変換されると共に夫々の圧縮方式でエンコードさ
れ、エンコードされた主映像データ、オーディオデータ
及び副映像データ（Comp Video, Comp Audio, Comp Sub
-pict ）としてメモリ２１０、２１１、２１２に格納さ
れる。ここで、エンコードに際しては、例えば、ＭＰＥ
Ｇ２（Moving Picture Expert Group ）の規格に定めら
れた圧縮方式で圧縮され、エンコードデータは、パック
化されたビデオ・オーディオ及び副映像パックデータが
相当する。

【００６６】この主映像データ、オーディオデータ及び
副映像データ（Comp Video, Comp Audio, Comp Sub-pic
t ）は、システムコントローラ（Sys con ）２０５によ
ってファイルフォーマッタ（ＦＦＭＴ）２１４に出力さ
れ、システムの映像データのファイル構造に変換される
とともに各データの設定条件及び属性等の管理情報がフ
ァイルとしてシステムコントローラ（Sys con ）２０５
によってメモリ２１６に格納される。

【００６７】以下に、映像データからファイルを作成す
るためのシステムコントローラ２０５におけるエンコー
ド処理の標準的なフローを説明する。

【００６８】図１９に示されるフローに従って主映像デ
ータ及びオーディオデータがエンコードされてエンコー
ド主映像及びオーディオデータ（Comp Video, Comp Aud
io）のデータが作成される。即ち、エンコード処理が開
始されると、図１９のステップ７０に示すように主映像
データ及びオーディオデータのエンコードにあたって必
要なパラメータが設定される。この設定されたパラメー
タの一部は、システムコントローラ（Sys con ）２０５
に保存されるとともにファイルフォーマッタ（ＦＦＭ
Ｔ）２１４で利用される。ステップＳ７１で示すように
パラメータを利用して主映像データがプリエンコードさ
れ、最適な符号量の分配が計算される。ステップＳ７２
に示されるようにプリエンコードで得られた符号量分配
に基づき、主映像のエンコードが実行される。このと
き、オーディオデータのエンコードも同時に実行され
る。ステップＳ７３に示すように必要であれば、主映像
データの部分的な再エンコードが実行され、再エンコー
ドした部分の主映像データが置き換えられる。この一連
のステップによって主映像データ及びオーディオデータ
がエンコードされる。また、ステップＳ７４及びＳ７５
に示すように副映像データがエンコードされエンコード
副映像データ（Comp Sub-pict ）が作成される。即ち、
副映像データをエンコードするにあたって必要なパラメ
ータが同様に設定される。ステップＳ７４に示すように
設定されたパラメータの一部がシステムコントローラ
（Sys con ）２０５に保存され、ファイルフォーマッタ
（ＦＦＭＴ）２１４で利用される。このパラメータに基
づいて副映像データがエンコードされる。この処理によ
り副映像データがエンコードされる。

【００６９】図２０に示すフローに従って、エンコード
された主映像データ、オーディオデータ及び副映像デー
タ（Com Video, Comp Audio, Comp Sub-pict）が組み合
わされて特定のデータ構造に変換される。即ち、ステッ
プＳ７６に示すように複数のビデオ、オーディオ及び副
映像パックが配列された映像データの最小単位としての
データセルが設定され、各データセルを再生する為の再
生情報が作成される。次に、ステップＳ７７に示すよう
にセルの再生順に配置された各プログラムを複数連結し
たプログラムチェーンを構成するセルの構成、主映像、
副映像及びオーディオ属性等が設定され（これらの属性
情報の一部は、各データエンコード時に得られた情報が
利用される。）、このセル情報からセルの再生を管理す
るセル再生管理情報が作成される。エンコードされた主
映像データ、オーディオデータ及び副映像データ（Ｃom
Video, Comp Audio, Comp Sub-pict ）が一定のパック
に細分化され、各データのタイムコード順に再生可能な
ように、所定単位毎にその先頭にパックの再生を制御す
るナビゲーションパックを配置しながら各データユニッ
トが配置され、このデータユニットからセルが構成され
る。その後、複数のセルで構成されるビデオオブジェク
トが構成され、このビデオオブジェクトのセットに相当
するあるタイトルのビデオを再生するタイトルセットの
構造にフォーマットされる。

【００７０】図２１及び図２２は、上述のようにフォー
マットされたタイトルセットを光ディスクへ記録するた
めのディスクフォーマッタのシステムを示している。図
２１及び図２２に示すようにディスクフォーマッタシス
テムでは、作成されたタイトルセットが格納されたメモ
リ２２０、２２２からこれらファイルデータがボリュー
ムフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に供給される。ボリ
ュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６では、タイトル
セット８４、８６から管理情報が引き出されてタイトル
セットを管理するビデオマネージャーが作成され、所定
の配列順序でディスク１０に記録されるべき状態の論理
データが作成される。ボリュームフォーマッタ（ＶＦＭ
Ｔ）２２６で作成された論理データにエラー訂正用のデ
ータがディスクフォーマッタ（ＤＦＭＴ）２２８におい
て付加され、ディスクへ記録する物理データに再変換さ
れる。変調器２３０において、ディスクフォーマッタ
（ＤＦＭＴ）２２８で作成された物理データが実際にデ
ィスクへ記録する記録データに変換され、この変調処理
された記録データが記録器２３２によってディスク１０
に記録される。

【００７１】図５（ａ）から図９（ｃ）を参照して説明
したテストパターンに関しては、図２１に示すフォーマ
ッタシステムでは、ディスク１０への記録データの記録
に先立って記録器２３２がスイッチ２３６を介してテス
トパターン信号発生器２３４に接続される。このテスト
パターン信発生器２３４からは、既に説明した第１から
第５グループのピット列に係る第１及び第２のテストパ
ターンに係るテストパターン信号が発生される。この発
生されたテストパターン信号に従って、リードイン領域
２７及びその近傍に第１から第５のグループのテストパ
ターンが記録される。テストパターンの記録の後にスイ
ッチ２３６が切り替えられて記録器２３２が変調器２３
０に接続され、物理データがデータ領域２８に記録され
る。この物理データの記録が終了すると、再びスイッチ
２３６が切り替えられて記録器２３２がスイッチ２３６
を介してテストパターン信号発生器に２３４に接続さ
れ、再び第１から第５のグループのピット列が光ディス
ク１０に記録される。

【００７２】図１４（ａ）から図１５を参照して説明し
た３・６・７パターンに関しては、予め図２２に示すよ
うに図１５に示されるようにセクタアドレスとともに３
・６・７パターンが連続する評価データが格納されたメ
モリ２２１が用意され、この評価データが始めにボリュ
ームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に供給され、その
後、ファイルデータメモリ２２０、２２２からファイル
データがボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２６に
供給される。従って、リードイン領域２７の所定のセク
タアドレスには、セクタアドレスとともに３・６・７パ
ターンが連続する評価データが記録され、ビデオデータ
等の記録データが物理データとしてデータ領域２８に記
録される。

【００７３】上述したディスクを作成するための標準的
なフローを図２３及び図２４を参照して説明する。図２
３には、ディスク１０に記録するための論理データが作
成されるフローが示されている。即ち、ステップＳ８０
で示すように映像データファイルの数、並べ順、各映像
データファイル大きさ等のパラメータデータが始めに設
定される。次に、ステップＳ８１で示すように設定され
たパラメータと各ビデオタイトルセット７２のビデオタ
イトルセット情報からビデオマネージャーが作成され
る。その後、ステップＳ８２に示すようにビデオマネー
ジャー７１、ビデオタイトルセット７２の順にデータが
該当する論理ブロック番号に沿って配置され、ディスク
１０に記録するための論理データが作成される。既に説
明したように３・６・７パターンは、論理データの１７
２Ｈに相当し、論理データの１７２Ｈが連続して物理デ
ータに変換されることとなる。

【００７４】その後、図２４に示すようなディスクへ記
録するための物理データを作成するフローが実行され
る。即ち、ステップＳ８３で示すように論理データが一
定バイト数に分割され、エラー訂正用のデータが生成さ
れる。次にステップＳ８４で示すように一定バイト数に
分割した論理データと、生成されたエラー訂正用のデー
タが合わされて物理セクタが作成される。その後、ステ
ップＳ８５で示すように物理セクタを合わせて物理デー
タが作成される。このように図２５に示されたフローで
生成された物理データに対し、一定規則に基づいた変調
処理が実行されて記録データが作成される。その後、こ
の記録データがディスク１０に記録される。このディス
ク１０が原盤とされ、この原盤から多数の光ディスクが
複製される。

【００７５】尚、上述した実施例において、第１グルー
プから第５グループのピット列は、その順序でリードイ
ンエリア２７及びリードアウトエリア２８に記録されな
くとも良く、物理的に区別されることができるならば、
いずれの順序で記録されても良い。また、下記に述べる
製造された光ディスク１０の評価を実施しない場合に
は、第１から第４グループのピット列は、光ディスク１
０に記録されなくとも良く、また、光ディスク１０の評
価のみを対象とし、チルト補正の必要がない場合には、
第５グループのピット列は形成されなくとも良い。

【００７６】次に、上述した方法で作られた光ディスク
を評価する方法について説明する。始めに既に述べたよ
うにして製造された光ディスク１０が再生装置に装填さ
れてその第１のテストパターンの第１グループから第４
グループの再生信号が得られる。これらの信号波形か
ら、次のようにして製造された光ディスク１０の良否が
評価される。各ピットの成形性は、最長ピット（ｎＴ＋
＊ｎＴ）に相当する信号波形から評価される。即ち、最
長ピット（ｎＴ＋＊ｎＴ）に相当する信号波形は、各ピ
ットが正確に成形されている限りにおいては、図５
（ｂ）に示されるように比較的パルス幅が大きく、その
立ち上がり及び立ち下がり間のレベル変化が少なく、し
かも、その立ち上がり及び立ち下がりが明瞭となる。従
って、この信号波形が途切れたり、不明瞭である場合に
は、ピットの成形性に問題があるとして製造された光デ
ィスク１０は不良品であると判断される。また、ピット
がピット間の非ピット領域に対して明確に区別できるよ
うに形成されているかは、最短ピット（ｍＴ＋＊ｍＴ）
に相当する信号波形から評価される。即ち、図６（ｂ）
に示される再生信号からノイズレベル（Ｎ）及び再生信
号のピークレベルに相当するキャリアレベル（Ｃ）が図
２５に示すように求められ、そのＣ／Ｎ比からピット列
の成形性が判断される。このＣ／Ｎ比が小さい場合に
は、ピットに相当するキャリアと光ディスク１０上の欠
陥等に相当するノイズとが区別できなくなるため、この
Ｃ／Ｎ比が所定値より小さい場合には、ピット列の成形
性に問題があるとして製造された光ディスク１０は不良
品であると判断される。更に、第３グループのピット列
を光ビームで再生信号に変換すると、図７に示されるよ
うなＭＴＦ信号が得られ、このＭＴＦ信号から既に説明
したように図２６に示されるような第３グループのピッ
ト列に対する再生系の周波数特性が得られる。この周波
数特性は、光ディスク１０が歪んだり、或いは、偏心し
ている等の不良がある際には、周波数特性が悪化され
る。従って、この周波数特性を判定することによって、
光ディスク１０の物理的特性の良否を判定することがで
きる。

【００７７】更にまた、第４グループのピット列は、図
８に示されるように中心トラックに相当するピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）及び隣接トラックに相当するピット長
列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）
Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が形成されていることから、再生
信号中に含まれる隣接トラックからのクロストークを評
価することができる。ここで、クロストーク量Ｃt は、
再生トラックの振幅Ａt （中心トラックに相当する。）
から隣接するトラックの振幅Ｂr を引いた値に相当する
（Ｃt ＝Ｂr −Ａt (dB)）。即ち、センタークトラッ
クに相当するピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を再生する際
に、図２７に示すように隣接する隣接トラックに相当す
るピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及び
［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］の周波数ｆr1、ｆr2
が現れ、周波数ｆc を有するピット長列（ｍＴ＋＊ｍ
Ｔ）の主信号レベルとこれら周波数ｆr1、ｆr2を有する
隣接トラックに相当するピット長列［（ｍ＋１）Ｔ＋＊
（ｍ＋１）Ｔ］及び［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］
の隣接信号レベルとの差をクロストーク量として検出す
ることができる。このクロス量が大きい場合には、十分
に検索トラックと隣接トラックとを判別することができ
るが、このクロス量が小さいと、検索トラックと隣接ト
ラックとを判別することができなくなる。クロストーク
量が所定値以下の場合には、光ディスク１０は、不良品
と判別される。

【００７８】他の実施例に係る３・６・７評価パターン
を利用して光ディスク１０を評価する場合には、図１７
に示すフローチャートのステップＳ５５において、タッ
プ係数を変えてもバイトエラーレートがトランスバーサ
ルフィルター１０４のタップ係数を変えても１０-5以内
に収まらない場合には、この光ディスクは、不良品と判
別される。

【００７９】

【発明の効果】上述した光ディスクにおいては、その再
生面と対物レンズ面との相対的な傾きが発生しても再生
信号の特性を最適化することができる。

【００８０】また、評価パターンを利用することによっ
て記録されたデータの良否を高精度で判別することがで
きる。

【００８１】以上のように、ディスク再生面と対物レン
ズとの間の相対的な傾きが発生しても、その量に応じて
再生等価回路（トランスバーサルフィルタ）の各タップ
係数を最適化することにより、再生等価回路の周波数特
性を最適化し、再生信号特性を向上させることができ
る。よって、最終的にはデータリード時のエラーレート
を向上させることができる。さらに、制御系内にモー
タ、ギヤなどの機械部品が介在しないため高帯域化が容
易で広い制御帯域が得られ、かつ装置の小型化に適して
いる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の１実施例に係る光ディスク装置の概
略を示すブロック図である。

【図２】図１に示したディスクドライブ装置の詳細を示
すブロック図である。

【図３】図１に示した光ディスクの構造を概略的に示す
斜視図である。

【図４】図１及び図３に示した光ディスクを示す平面図
である。

【図５】図４に示される光ディスクに形成されるテスト
パターンとしての最長ピット列を示す平面図及びその最
長ピット列から再生される再生信号波形を示す波形図で
ある。

【図６】図４に示される光ディスクに形成されるテスト
パターンとしての最短ピット列を示す平面図及びこの最
短ピット列から再生される再生信号波形を示す波形図で
ある。

【図７】テストパターンとしての最短ピット列及び最長
ピット列並びにこの間の異なるピット長を有するピット
列から再現されるＭＴＦ信号を示すグラフである。

【図８】テストパターンとしてのセンターピット列及び
隣接ピット列を示す平面図である。

【図９】テストパターンとしての最短ピット列３Ｔ及び
最長ピット列１１Ｔ並びにこの間の異なるピット長５
Ｔ、７Ｔ、９Ｔを有するピット列から再現されるＭＴＦ
信号を示すグラフ及びテストパターンとしての最短ピッ
ト列３Ｔ及び最長ピット列１１Ｔの再生信号を示す波形
図である。

【図１０】図１に示された光ディスク装置に組み込まれ
る再生信号をテスト信号を利用して補正するチルト補正
回路を示すブロック図である。

【図１１】テストパターンに対する理想的な再生信号の
周波数特性を示すグラフである。

【図１２】テストパターンに対するチルト成分を含む実
際の再生信号の周波数特性を示すグラフである。

【図１３】チルト成分を含む再生信号の周波数特性を示
すグラフ、トランスバーサルフイルターの周波数特性を
示すグラフ及びチルト成分を含む再生信号の周波数特性
とトランスバーサルフイルターの周波数特性とを合成し
た合成周波数特性を示すグラフである。

【図１４】この発明の他の実施例に係る評価パターンを
示すピット列を示す平面図及びそのピット列からの再生
信号を示す波形図である。

【図１５】図１４に示された評価パターンのデータ構造
を示す概略図である。

【図１６】図１に示された光ディスク装置に組み込まれ
る再生信号を評価パターンを利用して補正するチルト補
正回路を示すブロック図である。

【図１７】図１４Ａに示した評価パターンを利用して図
１６に示す補正回路で再生信号を補正する手順を示すフ
ローチャートである。

【図１８】映像データをエンコーダして映像ファイルを
生成するエンコーダシステムを示すブロック図である。

【図１９】図１８に示されるエンコーダシステムにおけ
るエンコード処理を示すフローチャートである。

【図２０】図１５に示すフローでエンコードされた主映
像データ、オーディオデータ及び副映像データを組み合
わせて映像データのファイルを作成するフローチャート
である。

【図２１】フォーマットされた映像ファイルを光ディス
クへ記録するためのディスクフォーマッタのシステムを
示すブロック図である。

【図２２】フォーマットされた映像ファイルを光ディス
クへ記録するためのディスクフォーマッタのシステムを
示すブロック図である。

【図２３】図２１及び２２に示されるディスクフォーマ
ッタにおけるディスクに記録するための論理データを作
成するフローチャートである。

【図２４】論理データからディスクへ記録するための物
理データを作成するフローチャートである。

【図２５】ノイズレベルに対するキャリアレベルの比で
あるＣ／Ｎ比を説明する為のグラフである。

【図２６】第３グループのテストパターンに係るピット
列に対する再生系の周波数特性を示すグラフである。

【図２７】クロストーク特性を説明するためのグラフで
ある。

【符号の説明】

４ … キー操作／表示部６ … モニター部８ … スピーカー部１０ … 光ディスク１１ … モータドライブ回路１２ … スピンドルモータ１６ … 光反射層２４ … クランピング領域２６ … リードアウト領域２７ … リードイン領域２８ … データ記録領域３０ … ディスクドライブ部３６ … フォ―カス回路３７ … フィードモータ駆動回路３８ … トラッキング回路４０ … ヘッドアンプ４４ … サーボ処理回路５０ … システムＣＰＵ部５２ … システムＲＯＭ／ＲＡＭ部５４ … システムプロッセッサ部５６ … データＲＡＭ部５８ … ビデオデコータ部６０ … オーディオデコーダ部６２ … 副映像デコーダ部６４ … Ｄ／Ａ及びデータ再生部１０４ … トランスバーサルフィルタ１０５ … ２値化回路１０６ … ＰＬＬ回路１０７ … 復調回路１０８ … データプロセッサ１１６、１１７、１１８、１１９、１２０ … 掛け算
器１１１、１１２、１１３、１１４、１１５ … Ｄ／
Ａ変換器１２１、１２２、１２３、１２４ … 遅延回路２０１ … ビデオテープレコーダ（ＶＴＲ）２０２ … オーディオテープレコーダ（ＡＴＲ）２０３ … 副映像再生器（Suｂpicture 、source）２０５ … システムコントローラ（Sys 、con ）２０６ … ビデオエンコーダ（ＶＥＮＣ）２０７ … オーディオエンコーダ（ＡＥＮＣ）２０８ … 副映像エンコーダ（ＳＰＥＮＣ）２１５ … メモリ２２６ … ボリュームフォーマッタ（ＶＦＭＴ）２２８ … ディスクフォーマッタ（ＤＦＭＴ）２３０ … 変調器（Ｍodulater）２３２ … 記録器（Recoder ）３２０ … エンコードシステム３１０ … モジュレータ／トランスミッター

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍを
整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長ピ
ット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピ
ット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非
ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列でデータが記録さ
れているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短
非ピットの組み合わせが繰り返される最短ピット列、前
記最長ピット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる最長ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピット及び
このピットに対応する非ピットの組み合わせが繰り返さ
れる所定ピット列が配列されたテストパターンが記録さ
れているテストパターン領域と、を具備することを特徴とする光ディスク。
【請求項２】前記データ領域が内周領域のリードイン領
域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記
テストパターン領域が前記リードイン領域外であってそ
の領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外で
あってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも一
方の内に設けられていることを特徴とする請求項１に記
載の光ディスク。
【請求項３】前記データ領域が内周領域のリードイン領
域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記
テストパターン領域が前記リードイン領域外であっての
その領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域
外であってその領域に接する外側の領域部分のいずれに
も設けられていることを特徴とする請求項１に記載の光
ディスク。
【請求項４】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピッ
ト長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピ
ット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項１に記載の光ディスク。
【請求項５】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピッ
ト長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最長ピ
ット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最長
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項１に記載の光ディスク。
【請求項６】記録データに応じてピット及び非ピットが
配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて前
記ピット及び非ピットが配列されたテストパターンを有
する光ディスクからテストパターン及びデータを再生信
号として光学的に読み出す読出手段と、前記テストパターンから読み出された再生信号から装置
に固有の補正係数を検出する検出手段と、この補正係数で前記データ領域から読み出された再生信
号を補正する補正手段と、を具備することを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項７】前記検出手段は、テストパターンの再生信
号からＭＴＦ信号を検出する回路を含み、前記補正手段
は、再生信号を最適化する等化フィルター含み、前記Ｍ
ＴＦ信号の周波数特性に応じて前記データ再生信号の周
波数特性を最適化するフィルター手段を備えたことを特
徴とする請求項６に記載の光ディスク再生装置。
【請求項８】前記光ディスクは、チャンネルピット長を
Ｔとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが最短ピット
長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長
（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長の
いずれかを有し、非ピットが最短非ピット長（＊ｍ
Ｔ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長
（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非
ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの
配列でデータが記録されているデータ領域及びこのデー
タ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非ピット
の組み合わせが繰り返される最短ピット列、前記最長ピ
ット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返される最長
ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピット及びこのピッ
トに対応する非ピットの組み合わが繰り返される所定ピ
ット列が配列されたテストパターンが記録されているテ
ストパターン領域を具備することを特徴とする請求項６
に記載の光ディスク再生装置。
【請求項９】前記データ領域が内周領域のリードイン領
域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前記
テストパターン領域が前記リードイン領域外であってそ
の領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項８に
記載の光ディスク再生装置。
【請求項１０】前記読出手段は、前記リードイン領域外
であってその領域に接する内側の領域部分及びリードア
ウト領域であってその領域に接する外側の領域部分の少
なくとも一方からテストパターンを読み出し、その後、
データ領域からデータを読み出すことをを特徴とする請
求項９に記載の光ディスク再生装置。
【請求項１１】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターンが前記リードイン領域であってその領
域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域であっ
てその領域に接する外側の領域部分のいずれにも設けら
れていることを特徴とする請求項８に記載の光ディスク
再生装置。
【請求項１２】前記読出手段は、リードイン領域であっ
てその領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領
域であってその領域に接する外側の領域部分のいずれか
らもテストパターンを読み出し、その後、データ領域か
らデータを読み出し、前記検出手段は、前記リードイン
領域外の内側領域部分のテストパターンから読み出され
た再生信号から装置に固有の第１の補正係数を検出する
とともに前記リードアウト領域外の外側領域部分のテス
トパターンから読み出された再生信号から装置に固有の
第２の補正係数を検出し、前記補正手段がこの第１及び
第２の補正係数で前記データ領域から読み出された再生
信号を補正すことをを特徴とする請求項１１に記載の光
ディスク再生装置。
【請求項１３】前記補正手段は、この第１の補正係数で
前記データ領域の第１領域から読み出された再生信号を
補正し、この第２の補正係数で前記データ領域の第１領
域を除く他の領域から読み出された再生信号を補正しす
ことをを特徴とする請求項１１に記載の光ディスク再生
装置。
【請求項１４】記録データに応じてピット及び非ピット
が配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて
前記ピット及び非ピットが配列されたテストパターン及
びデータを光ディスクから再生信号として光学的に読み
出す工程と、前記テストパターンから読み出された再生信号から装置
に固有の補正係数を検出する工程と、この補正係数で前記データ領域から読み出された再生信
号を補正する工程と、を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法。
【請求項１５】前記検出工程は、テストパターンの再生
信号からＭＴＦ信号を検出する工程を含み、前記補正工
程は、前記ＭＴＦ信号の周波数特性に応じて前記データ
再生信号の周波数特性を最適化するフィルター工程を備
えたことを特徴とする請求項１４に記載の光ディスクの
再生方法。
【請求項１６】前記光ディスクは、チャンネルピット長
をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが最短ピッ
ト長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット
長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長
のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長（＊ｍ
Ｔ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長
（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非
ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの
配列でデータが記録されているデータ領域及びこのデー
タ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非ピット
の組み合わせが繰り返される最短ピット列、前記最長ピ
ット及び最長非ピットの組み合わせが繰り返される最長
ピット列並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピット及びこのピッ
トに対応する非ピットの組み合わが繰り返される所定ピ
ット列が配列されたテストパターンが記録されているテ
ストパターン領域を具備することを特徴とする請求項１
４に記載の光ディスクの再生方法。
【請求項１７】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項１６
に記載の光ディスクの再生方法。
【請求項１８】前記読出手段は、前記リードイン領域外
であってその領域に接する内側の領域部分及びリードア
ウト領域であってその領域に接する外側の領域部分の少
なくとも一方からテストパターンを読み出し、その後、
データ領域からデータを読み出すことをを特徴とする請
求項１７に記載の光ディスクの再生方法。
【請求項１９】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターンが前記リードイン領域外であってその
領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域であ
ってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも設け
られていることを特徴とする請求項１７に記載の光ディ
スクの再生方法。
【請求項２０】前記読出工程では、前記リードイン領域
外であってその領域に接する内側の領域部分及びリード
アウト領域であってその領域に接する外側の領域部分の
いずれからもテストパターンを読み出し、その後、デー
タ領域からデータを読み出し、前記検出工程では、前記
リードイン領域外の内側領域部分のテストパターンから
読み出された再生信号から装置に固有の第１の補正係数
を検出するとともに前記リードアウト領域外の外側領域
部分のテストパターンから読み出された再生信号から装
置に固有の第２の補正係数を検出し、前記補正工程では
この第１及び第２の補正係数で前記データ領域から読み
出された再生信号が補正されることをを特徴とする請求
項１９に記載の光ディスクの再生方法。
【請求項２１】前記補正工程では、この第１の補正係数
で前記データ領域の第１領域から読み出された再生信号
を補正し、この第２の補正係数で前記データ領域の第１
領域を除く他の領域から読み出された再生信号を補正す
ることをを特徴とする請求項２０に記載の光ディスクの
再生方法。
【請求項２２】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍ
を整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長
ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、
非ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非
ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列に相当するピット
データに記録すべきデータを変換するデータ変換工程
と、前記最短ピット及び最短非ピットの組み合わせが繰り返
される最短ピット列、前記最長ピット及び最長非ピット
の組み合わせが繰り返される最長ピット列並びに最短ピ
ット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピッ
ト長を有するピット及びこのピットに対応する非ピット
の組み合わせが繰り返される所定ピット列が配列された
テストパターンに相当するテスト信号を発生する工程
と、前記ピットデータを光ディスクのデータ領域に及び前記
テスト信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテスト
パターン領域にピット及び非ピットの配列として記録す
る工程と、を具備する光ディスクへデータを記録することを特徴と
する記録方法。
【請求項２３】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域であってそ
の領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域で
あってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも一
方の内に設けられていることを特徴とする請求項２２に
記載の光ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項２４】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域であってそ
の領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域で
あってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも設
けられていることを特徴とする請求項２２に記載の光デ
ィスクへデータを記録する記録方法。
【請求項２５】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピ
ット長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最短
ピット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項２２に記載の光ディスクへデ
ータを記録する記録方法。
【請求項２６】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピ
ット長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最長
ピット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最長
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項２２に記載の光ディスクへデータを記録する記録
方法。
【請求項２７】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍ
を整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長
ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、
非ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非
ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列に相当するピット
データに記録すべきデータを変換するデータ変換手段
と、前記最短ピット及び最短非ピットの組み合わせが繰り返
される最短ピット列、前記最長ピット及び最長非ピット
の組み合わせが繰り返される最長ピット列並びに最短ピ
ット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピッ
ト長を有するピット及びこのピットに対応する非ピット
の組み合わせが繰り返される所定ピット列が配列された
テストパターンに相当するテスト信号を発生するテスト
信号発生手段と、前記ピットデータを光ディスクのデータ領域に及び前記
テスト信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテスト
パターン領域にピット及び非ピットの配列として記録す
る記録手段と、を具備する光ディスクへデータを記録することを特徴と
する記録装置。
【請求項２８】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域であってそ
の領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域で
あってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも一
方の内に設けられていることを特徴とする請求項２７に
記載の光ディスクへデータを記録する記録装置。
【請求項２９】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域であってそ
の領域に接する内側の領域部分及びリードアウト領域で
あってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも設
けられていることを特徴とする請求項２７に記載の光デ
ィスクへデータを記録する記録装置。
【請求項３０】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピ
ット長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長
ピット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最長非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項２７に記載の光ディスクへデ
ータを記録する記録装置。
【請求項３１】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピ
ット長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最短
ピット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最長
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項２７に記載の光ディスクへデータを記録する記録
装置。
【請求項３２】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍ
を整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長
ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、
非ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非
ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列でデータが記録さ
れているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短
非ピット並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピットから選定され
たピット及びこのピットに対応する非ピットの組み合わ
せに係るテストパターンが記録されている光ディスクの
記録状態を判定する為のテストパターンが形成されてい
るテストパターン領域と、を具備することを特徴とすること光ディスク。
【請求項３３】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）を有することを特徴とする請求項３
３に記載の光ディスク。
【請求項３４】テストパターンは、最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を有することを特徴とする請求項３
２に記載の光ディスク。
【請求項３５】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）、最短ピット長（ｍＴ）を有するピ
ット及び非ピットが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍ
Ｔ）及び最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピッ
ト長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）までの間に相当し、その間で
は、いずれも倍数の関係にないピット長（ｍ＋１）Ｔ、
（ｍ＋２）Ｔ、（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを有す
るピット及び非ピットが繰り返されるピット列［（ｍ＋
１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋＊（ｍ＋
２）Ｔ］、［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ］及び
［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有することを特徴
とする請求項３２に記載の光ディスク。
【請求項３６】テストパターンとして、最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスクの１周に亘って繰り返さ
れ、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ
＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ
＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋
２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスクの１周に亘って
繰り返されていることを特徴とする請求項３２に記載の
光ディスク。
【請求項３７】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項３２
に記載の光ディスク。
【請求項３８】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域及びリード
アウト領域のいずれにも設けられていることを特徴とす
る請求項３２に記載の光ディスク。
【請求項３９】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピ
ット長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長
ピット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項３２に記載の光ディスク。
【請求項４０】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピ
ット長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最長
ピット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最長
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項３２に記載の光ディスク。
【請求項４１】記録データに応じてピット及び非ピット
が配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて
前記ピット及び非ピットが配列されたテストパターンを
有する光ディスクからテストパターン及びデータを再生
信号として光学的に読み出す読出手段と、前記テストパターンから読み出された再生信号から光デ
ィスクに固有の評価データを検出する検出手段と、を具備することを特徴とする光ディスクの評価装置。
【請求項４２】前記光ディスクは、チャンネルピット長
をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが最短ピッ
ト長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット
長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長
のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長（＊ｍ
Ｔ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長
（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非
ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの
配列でデータが記録されているデータ領域とこのデータ
領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非ピット並
びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間
の所定ピット長を有するピットから選定されたピット及
びこのピットに対応する非ピットの組み合わせに係るテ
ストパターンが記録されている光ディスクの記録状態を
判定する為のテストパターンが形成されているテストパ
ターン領域とを具備することを特徴とする請求項４１に
記載の光ディスクの評価装置。
【請求項４３】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）を有することを特徴とする請求項４
２に記載の光ディスクの評価装置。
【請求項４４】テストパターンは、最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を有することを特徴とする請求項４
１に記載の光ディスクの評価装置。
【請求項４５】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）、最短ピット長（ｍＴ）を有するピ
ット及び非ピットが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍ
Ｔ）及び最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピッ
ト長列（８ｍＴ＋＊８ｍＴ）までの間に相当し、その間
では、いずれも倍数の関係にないピット長（ｍ＋１）
Ｔ、（ｍ＋２）Ｔ、（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを
有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋
＊（ｍ＋２）Ｔ］、［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ、
及び［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有することを
特徴とする請求項４１に記載の光ディスクの評価装置。
【請求項４６】テストパターンとして、最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスクの１周に亘って繰り返さ
れ、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ
＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ
＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋
２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスクの１周に亘って
繰り返されていることを特徴とする請求項４１に記載の
光ディスクの評価装置。
【請求項４７】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項４１
に記載の光ディスクの評価装置。
【請求項４８】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも
設けられていることを特徴とする請求項４１に記載の光
ディスクの評価装置。
【請求項４９】記録データに応じてピット及び非ピット
が配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて
前記ピット及び非ピットが配列されたテストパターンを
有する光ディスクからテストパターン及びデータを再生
信号として光学的に読み出す読出工程と、前記テストパターンから読み出された再生信号から光デ
ィスクに固有の評価データを検出する検出工程と、この評価データから光ディスクの良否を判定する工程
と、を具備することを特徴とする光ディスクの評価方法。
【請求項５０】前記光ディスクは、チャンネルピット長
をＴとし、ｎ及びｍを整数とすると、ピットが最短ピッ
ト長（ｍＴ）、最長ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット
長（ｍＴ）及び最長ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長
のいずれかを有し、非ピットが最短非ピット長（＊ｍ
Ｔ）、最長非ピット長（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長
（＊ｍＴ）及び最長非ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非
ピット長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの
配列でデータが記録されているデータ領域とこのデータ
領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短非ピット並
びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長（＊ｎＴ）
間の所定ピット長を有するピットから選定されたピット
及びこのピットに対応する非ピットの組み合わせに係る
テストパターンが記録されている光ディスクの記録状態
を判定する為のテストパターンが形成されているテスト
パターン領域とを具備することを特徴とする請求項４９
に記載の光ディスクの評価方法。
【請求項５１】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）を有することを特徴とする請求項４
９に記載の評価方法。
【請求項５２】テストパターンは、最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を有することを特徴とする請求項４
９に記載の光ディスクの評価方法。
【請求項５３】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）、最短ピット長（ｍＴ）を有するピ
ット及び非ピットが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍ
Ｔ）及び最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピッ
ト長列（８ｍＴ＋＊８ｍＴ）までの間に相当し、その間
では、いずれも倍数の関係にないピット長（ｍ＋１）
Ｔ、（ｍ＋２）Ｔ、（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを
有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋
＊（ｍ＋２）Ｔ］、［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ、
及び［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有することを
ことを特徴とする請求項４９に記載の光ディスクの評価
方法。
【請求項５４】テストパターンとして、最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスクの１周に亘って繰り返さ
れ、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ
＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ
＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋
２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスクの１周に亘って
繰り返されていることを特徴とする請求項４９に記載の
光ディスクの評価方法。
【請求項５５】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項４９
に記載の光ディスクの評価方法。
【請求項５６】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも
設けられていることを特徴とする請求項４９に記載の光
ディスクの評価方法。
【請求項５７】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍ
を整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長
ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、
非ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（＊ｍＴ）及び最長非
ピット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列に相当するピット
データに記録すべきデータを変換するデータ変換工程
と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短
非ピット並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピットから選定され
たピット及びこのピットに対応する非ピットの組み合わ
せに係るテストパターンに相当するテスト信号を発生す
る工程と、前記ピットデータを光ディスクのデータ領域に及び前記
テスト信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテスト
パターン領域にピット及び非ピットの配列として記録す
る工程と、を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録
する記録方法。
【請求項５８】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）を有することを特徴とする請求項５
７に記載の光ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項５９】テストパターンは、最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を有することを特徴とする請求項５
７に記載の光ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項６０】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）、最短ピット長（ｍＴ）を有するピ
ット及び非ピットが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊ｍ
Ｔ）及び最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピッ
ト長列（８ｍＴ＋＊８ｍＴ）までの間に相当し、その間
では、いずれも倍数の関係にないピット長（ｍ＋１）
Ｔ、（ｍ＋２）Ｔ、（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを
有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋
＊（ｍ＋２）Ｔ］、［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ、
及び［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有することを
特徴とする請求項５７に記載の光ディスクへデータを記
録する記録方法。
【請求項６１】テストパターンとして、最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスクの１周に亘って繰り返さ
れ、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ
＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ
＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋
２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスクの１周に亘って
繰り返されていることを特徴とする請求項５７に記載の
光ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項６２】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられていることを特徴とする請求項５７
に記載の光ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項６３】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも
設けられていることを特徴とする請求項５７に記載の光
ディスクへデータを記録する記録方法。
【請求項６４】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピ
ット長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最短
ピット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項５７に記載の光ディスクへデ
ータを記録する記録方法。
【請求項６５】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピ
ット長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最短
ピット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最短
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項５７に記載の光ディスクへデータを記録する記録
方法。
【請求項６６】チャンネルピット長をＴとし、ｎ及びｍ
を整数とすると、ピットが最短ピット長（ｍＴ）、最長
ピット長（ｎＴ）並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長
ピット長（ｎＴ）間の所定ピット長のいずれかを有し、
非ピットが最短非ピット長（＊ｍＴ）、最長非ピット長
（＊ｎＴ）並びに最短非ピット長（ｍＴ）及び最長非ピ
ット長（＊ｎＴ）間の所定の非ピット長のいずれかを有
し、このピット及び非ピットの配列に相当するピットデ
ータに記録すべきデータを変換するデータ変換手段と、このデータ領域外に設けられ、前記最短ピット及び最短
非ピット並びに最短ピット長（ｍＴ）及び最長ピット長
（ｎＴ）間の所定ピット長を有するピットから選定され
たピット及びこのピットに対応する非ピットの組み合わ
せに係るテストパターンに相当するテスト信号を発生す
るテスト信号発生手段と、前記ピットデータを光ディスクのデータ領域に及び前記
テスト信号を光ディスクのデータ領域とは異なるテスト
パターン領域にピット及び非ピットの配列として記録す
る記録手段と、を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録
する記録装置。
【請求項６７】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）を有することを特徴とする請求項６
６に記載の光ディスクへデータを記録する記録装置。
【請求項６８】テストパターンは、最短ピット長（ｍ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｍＴ＋＊ｍＴ）を有することを特徴とする請求項６
６に記載の光ディスクへデータを記録する記録装置。
【請求項６９】テストパターンは、最長ピット長（ｎ
Ｔ）を有するピット及び非ピットが繰り返されるピット
列（ｎＴ＋＊ｎＴ）、最短ピット長（＊ｍＴ）を有する
ピット及び非ピットが繰り返されるピット列（ｍＴ＋＊
ｍＴ）及び最短ピット長列（ｍＴ＋＊ｍＴ）から所定ピ
ット長列（８ｍＴ＋＊８ｍＴ）までの間に相当し、その
間では、いずれも倍数の関係にないピット長（ｍ＋１）
Ｔ、（ｍ＋２）Ｔ、（ｍ＋４）Ｔ、及び（ｍ＋８）Ｔを
有するピット及び非ピットが繰り返されるピット列
［（ｍ＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］、［（ｍ＋２）Ｔ＋
＊（ｍ＋２）Ｔ］、［（ｍ＋４）Ｔ＋＊（ｍ＋４）Ｔ、
及び［（ｍ＋８）Ｔ＋＊（ｍ＋８）Ｔ］を有することを
特徴とする請求項６６に記載の光ディスクへデータを記
録する記録装置。
【請求項７０】テストパターンとして、最短ピット長列
（ｍＴ＋＊ｍＴ）が光ディスクの１周に亘って繰り返さ
れ、中心トラックに相当するこの最短ピット長列（ｍＴ
＋＊ｍＴ）に隣接するトラックとしてピット長列［（ｍ
＋１）Ｔ＋＊（ｍ＋１）Ｔ］及びピット長列［（ｍ＋
２）Ｔ＋＊（ｍ＋２）Ｔ］が光ディスクの１周に亘って
繰り返されていることを特徴とする請求項６６に記載の
光ディスクへデータを記録する記録装置。
【請求項７１】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分の少なくとも
一方の内に設けられている請求項６６に記載の光ディス
クへデータを記録する記録装置。
【請求項７２】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域外であって
その領域に接する内側領域部分及びリードアウト領域外
であってその領域に接する外側の領域部分のいずれにも
設けられていることを特徴とする請求項６６に記載の光
ディスクへデータを記録する記録装置。
【請求項７３】ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピ
ット長（１１Ｔ）並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最短
ピット長（１１Ｔ）間の所定ピット長（４Ｔ，５Ｔ，６
Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長＊１１
Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット長＊１
１Ｔ間の所定の非ピット長（＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６Ｔ，
＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ）のいずれかを有す
ることを特徴とする請求項６６に記載の光ディスクへデ
ータを記録する記録装置。
【請求項７４】ピットが最短ピット長（４Ｔ）、最長ピ
ット長（１８Ｔ）並びに最短ピット長（４Ｔ）及び最短
ピット長（１８Ｔ）間の所定ピット長（５Ｔ，６Ｔ，７
Ｔ，８Ｔ，９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ，１３Ｔ，１
４Ｔ，１５Ｔ，１６Ｔ，１７Ｔ）のいずれかを有し、非
ピットが最短非ピット長（＊４Ｔ）、最長非ピット長
（＊１８Ｔ）並びに最短非ピット長（＊４Ｔ）及び最長
非ピット長（＊１８Ｔ）間の所定の非ピット長（＊５
Ｔ，＊６Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ、＊１
１Ｔ，＊１２Ｔ，＊１３Ｔ，＊１４Ｔ，＊１５Ｔ，＊１
６Ｔ，＊１７Ｔ）のいずれかを有することを特徴とする
請求項６６に記載の光ディスクへデータを記録する記録
装置。
【請求項７５】チャンネルピット長をＴとしこの整数倍
に係るピット及びランドであって、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであ
って、ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット
長（３Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）並びに最短ピット長
（３Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）間のピット長のいず
れかを有し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非
ピット長（＊ｋＴ）並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最
長非ピット長（＊ｋＴ）間の非ピット長のいずれかを有
し、このピット及び非ピットの配列の組み合わせでデー
タが記録されているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの
内のある１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するランド、長さ
３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピ
ット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長
を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つ
のランド長を有するランドから選定されたピットランド
の繰り返し配列が記録されているテストパターン領域
と、を具備することを特徴とする光ディスク。
【請求項７６】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けら
れている請求項７５に記載の光ディスク。
【請求項７７】ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ≦
１４（＝ｋ）である請求項７５に記載の光ディスク。。
【請求項７８】ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット
長１４Ｔ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長１４
Ｔ間の所定ピット長４Ｔ，５Ｔ，６Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９
Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ、１３Ｔのいずれかを有
し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長
＊１４Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット
長＊１４Ｔ間の所定の非ピット長＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６
Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ，＊１１Ｔ、＊
１２Ｔ、＊１３Ｔのいずれかを有することを特徴とする
請求項７５に記載の光ディスク。
【請求項７９】テストパターン領域には、ピット長３Ｔ
のピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するランド、
ピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピット、ランド長＊３Ｔのラ
ンド、ピット長６Ｔ（ｍ＝６）のピット及びランド長＊
７Ｔ（ｎ＝７）のランドの繰り返し配列が記録されてい
ることを特徴とする請求項７５に記載の光ディスク。
【請求項８０】ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ
（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝７）
のピットの配列は、コード語“0010000010000001“が相
当する請求項７９に記載の光ディスク。
【請求項８１】前記ピット及びランドの繰り返しは、ｍ
＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−
６Ｔ−＊７Ｔ、３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊
６Ｔ、６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、７
Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、６Ｔ−＊７
Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ
−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔのグループから選定された１つ
を有している請求項７５に記載のの光ディスク。
【請求項８２】記録データに応じてピット及び非ピット
が配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて
前記ピット及び非ピットが配列されたテストパターンを
有する光ディスクからテストパターン及びデータを再生
信号として光学的に読み出す読出手段と、前記テストパターンから読み出された再生信号のエラー
レートを検出する検出手段と、この前記エラーレートを最小とするように再生信号を補
正する補正手段と、を具備することを特徴とする光ディスク再生装置。
【請求項８３】前記光ディスクは、チャンネルピット長
をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、
３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、
ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）
並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）
間のピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピッ
ト長＊３Ｔ、最長非ピット長（＊ｋＴ）並びに最短非ピ
ット長＊３Ｔ及び最長非ピット長（＊ｋＴ）間の非ピッ
ト長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの配列
の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの
内のある１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するランド、長さ
３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピ
ット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長
を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つ
のランド長を有するランドから選定されたピットランド
の繰り返し配列が記録されているテストパターン領域
と、を具備することを特徴とする請求項８２に記載の光ディ
スク再生装置。
【請求項８４】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けら
れていることを特徴とする請求項８３に記載の光ディス
ク再生装置。
【請求項８５】ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ≦
１４（＝ｋ）であることを特徴とする請求項８３に記載
の光ディスク再生装置。
【請求項８６】ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット
長１４Ｔ並びに最短ピット長３Ｔ及び最長ピット長１４
Ｔ間の所定ピット長４Ｔ，５Ｔ，６Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９
Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ、１３Ｔのいずれかを有
し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長
＊１４Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット
長＊１４Ｔ間の所定の非ピット長＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６
Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ，＊１１Ｔ、＊
１２Ｔ、＊１３Ｔのいずれかを有することを特徴とする
請求項８４に記載の光ディスク再生装置。
【請求項８７】テストパターン領域には、ピット長３Ｔ
のピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するランド、
ピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピット、ランド長＊３Ｔのラ
ンド、ピット長６Ｔ（ｍ＝６）のピット及びランド長＊
７Ｔ（ｎ＝７）のランドの繰り返し配列が記録されてい
ることを特徴とする請求項８３に記載の光ディスク再生
装置。
【請求項８８】ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ
（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝７）
のピットの配列は、コード語“0010000010000001“が相
当することを特徴とする請求項８３に記載の光ディスク
再生装置。
【請求項８９】前記ピット及びランドの繰り返しは、ｍ
＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−
６Ｔ−＊７Ｔ、３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊
６Ｔ、６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、７
Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、６Ｔ−＊７
Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ
−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔのグループから選定された１つ
を有していることを特徴とする請求項８３に記載の光デ
ィスク再生装置。
【請求項９０】記録データに応じてピット及び非ピット
が配列されたデータ領域及び所定の配列規則に基づいて
前記ピット及び非ピットが配列されたテストパターン及
びする光ディスクからテストパターン及びデータを再生
信号として光学的に読み出す工程と、前記テストパターンから読み出された再生信号からその
エラーレートを検出する工程と、このエラーレートを最小とするように前記データ領域か
ら読み出された再生信号を補正する工程と、を具備することを特徴とする光ディスクの再生方法。
【請求項９１】前記光ディスクは、チャンネルピット長
をＴとしこの整数倍に係るピット及びランドであって、
３＜ｎ＜ｍ＜ｋであって、ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、
ピットが最短ピット長（３Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）
並びに最短ピット長（３Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）
間のピット長のいずれかを有し、非ピットが最短非ピッ
ト長＊３Ｔ、最長非ピット長（＊ｋＴ）並びに最短非ピ
ット長＊３Ｔ及び最長非ピット長（＊ｋＴ）間の非ピッ
ト長のいずれかを有し、このピット及び非ピットの配列
の組み合わせでデータが記録されているデータ領域と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの
内のある１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するランド、長さ
３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピ
ット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長
を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つ
のランド長を有するランドから選定されたピットランド
の繰り返し配列が記録されているテストパターン領域
と、を具備することを特徴とする請求項９０に記載の光ディ
スクの再生方法。
【請求項９２】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けら
れていることを特徴とする請求項９０に記載の光ディス
クの再生方法。
【請求項９３】ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ≦
１４（＝ｋ）であることを特徴とする請求項９０に記載
の光ディスクの再生方法。
【請求項９４】ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピット
長１４Ｔ並びに最短ピット長３Ｔ及び最短ピット長１４
Ｔ間の所定ピット長４Ｔ，５Ｔ，６Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，９
Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ、１３Ｔのいずれかを有
し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長
＊１４Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット
長＊１４Ｔ間の所定の非ピット長＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６
Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ，＊１１Ｔ、＊
１２Ｔ、＊１３Ｔのいずれかを有することを特徴とする
請求項９３に記載の光ディスクの再生方法。
【請求項９５】テストパターン領域には、ピット長３Ｔ
のピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するランド、
ピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピット、ランド長＊３Ｔのラ
ンド、ピット長６Ｔ（ｍ＝６）のピット及びランド長＊
７Ｔ（ｎ＝７）のランドの繰り返し配列が記録されてい
ることを特徴とする請求項９０に記載の光ディスクの再
生方法。
【請求項９６】ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ
（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝７）
のピットの配列は、コード語“0010000010000001“が相
当することを特徴とする請求項９０に記載の光ディスク
の再生方法。
【請求項９７】前記ピット及びランドの繰り返しは、ｍ
＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ−
６Ｔ−＊７Ｔ、３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊
６Ｔ、６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、７
Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、６Ｔ−＊７
Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ
−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔのグループから選定された１つ
を有していることを特徴とする請求項９０に記載の光デ
ィスクの再生方法。
【請求項９８】チャンネルピット長をＴとしこの整数倍
に係るピット及びランドであって、３＜ｎ＜ｍ＜ｋであ
って、ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピット
長（３Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）並びに最短ピット長
（３Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）間のピット長のいず
れかを有し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非
ピット長（＊ｋＴ）並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最
長非ピット長（＊ｋＴ）間の非ピット長のいずれかを有
し、このピット及び非ピットの配列の組み合わせに相当
するピットデータに記録すべきデータを変換するデータ
変換工程と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの
内のある１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するランド、長さ
３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピ
ット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長
を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つ
のランド長を有するランドから選定されたピットランド
の繰り返し配列として記録する工程と、を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録
する記録方法。
【請求項９９】前記データ領域が内周領域のリードイン
領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、前
記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設けら
れている請求項９８に記載の記録方法。
【請求項１００】ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ
≦１４（＝ｋ）であることを特徴とする請求項９８に記
載の記録方法。
【請求項１０１】ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピッ
ト長１４Ｔ並びに最短ピット長３Ｔ及び最短ピット長１
４Ｔ間の所定ピット長４Ｔ，５Ｔ，６Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，
９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ、１３Ｔのいずれかを有
し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長
＊１４Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット
長＊１４Ｔ間の所定の非ピット長＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６
Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ，＊１１Ｔ、＊
１２Ｔ、＊１３Ｔのいずれかを有することを特徴とする
請求項９８に記載の記録方法。
【請求項１０２】テストパターン領域には、ピット長３
Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するラン
ド、ピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピット、ランド長＊３Ｔ
のランド、ピット長６Ｔ（ｍ＝６）のピット及びランド
長＊７Ｔ（ｎ＝７）のランドの繰り返し配列が記録され
ていることを特徴とする請求項９８に記載の記録方法。
【請求項１０３】ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６
Ｔ（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝
７）のピットの配列は、コード語“0010000010000001
“が相当する請求項９８に記載の記録方法。
【請求項１０４】前記ピット及びランドの繰り返しは、
ｍ＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ
−６Ｔ−＊７Ｔ、３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−
＊６Ｔ、６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、６Ｔ−＊
７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、７Ｔ−＊６Ｔ−３
Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔのグループから選定された１
つを有していることを特徴とする請求項９８に記載の記
録方法。
【請求項１０５】チャンネルピット長をＴとしこの整数
倍に係るピット及びランドであって、３＜ｎ＜ｍ＜ｋで
あって、ｎ、ｍ、ｋを整数とすると、ピットが最短ピッ
ト長（３Ｔ）、最長ピット長（ｋＴ）並びに最短ピット
長（３Ｔ）及び最長ピット長（ｋＴ）間のピット長のい
ずれかを有し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長
非ピット長（＊ｋＴ）並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び
最長非ピット長（＊ｋＴ）間の非ピット長のいずれかを
有し、このピット及び非ピットの配列の組み合わせに相
当するピットデータに記録すべきデータを変換するデー
タ変換手段と、このデータ領域外に設けられ、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの
内のある１つのピット長を有するピット、長さ３Ｔ、ｍ
Ｔ，ｎＴの内の他の１のランド長を有するランド、長さ
３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の残る１つのピット長を有するピ
ット、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内のある１つのランド長
を有するランド、長さ３Ｔ、ｍＴ，ｎＴの内の他の１の
ピット長を有するピット及びｍＴ，ｎＴの内の残る１つ
のランド長を有するランドから選定されたピットランド
の繰り返し配列として記録する記録手段と、を具備することを特徴とする光ディスクへデータを記録
する記録装置。
【請求項１０６】前記データ領域が内周領域のリードイ
ン領域及び外周領域のリードアウト領域間に規定され、
前記テストパターン領域が前記リードイン領域内に設け
られていることを特徴とする請求項１０５に記載の記録
装置。
【請求項１０７】ｍ，ｎ≧６及びｍ≦ｎであってｍ，ｎ
≦１４（＝ｋ）であることを特徴とする請求項１０５に
記載の記録装置。
【請求項１０８】ピットが最短ピット長３Ｔ、最長ピッ
ト長１４Ｔ並びに最短ピット長３Ｔ及び最短ピット長１
４Ｔ間の所定ピット長４Ｔ，５Ｔ，６Ｔ，７Ｔ，８Ｔ，
９Ｔ，１０Ｔ、１１Ｔ，１２Ｔ、１３Ｔのいずれかを有
し、非ピットが最短非ピット長＊３Ｔ、最長非ピット長
＊１４Ｔ並びに最短非ピット長＊３Ｔ及び最短非ピット
長＊１４Ｔ間の所定の非ピット長＊４Ｔ，＊５Ｔ，＊６
Ｔ，＊７Ｔ，＊８Ｔ，＊９Ｔ，＊１０Ｔ，＊１１Ｔ、＊
１２Ｔ、＊１３Ｔのいずれかを有することを特徴とする
請求項１０５に記載の記録装置。
【請求項１０９】テストパターン領域には、ピット長３
Ｔのピット、ランド長＊６Ｔ（ｍ＝６）を有するラン
ド、ピット長７Ｔ（ｎ＝７）のピット、ランド長＊３Ｔ
のランド、ピット長６Ｔ（ｍ＝６）のピット及びランド
長＊７Ｔ（ｎ＝７）のランドの繰り返し配列が記録され
ていることを特徴とする請求項１０５に記載の記録装
置。
【請求項１１０】ピット長３Ｔのピット、ランド長＊６
Ｔ（ｍ＝６）を有するランド及びピット長７Ｔ（ｎ＝
７）のピットの配列は、コード語“0010000010000001
“が相当することを特徴とする請求項１０５に記載の記
録装置。
【請求項１１１】前記ピット及びランドの繰り返しは、
ｍ＝６及びｎ＝７であって３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ
−６Ｔ−＊７Ｔ、３Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−
＊６Ｔ、６Ｔ−＊３Ｔ−７Ｔ−＊６Ｔ−３Ｔ−＊７Ｔ、
７Ｔ−＊３Ｔ−６Ｔ−＊７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ、６Ｔ−＊
７Ｔ−３Ｔ−＊６Ｔ−７Ｔ−＊３Ｔ、７Ｔ−＊６Ｔ−３
Ｔ−＊７Ｔ−６Ｔ−＊３Ｔのグループから選定された１
つを有している請求項１０５に記載の記録装置。