JPH09213874A - Multi-chip module - Google Patents
Multi-chip moduleInfo
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- JPH09213874A JPH09213874A JP2151696A JP2151696A JPH09213874A JP H09213874 A JPH09213874 A JP H09213874A JP 2151696 A JP2151696 A JP 2151696A JP 2151696 A JP2151696 A JP 2151696A JP H09213874 A JPH09213874 A JP H09213874A
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- chip
- switch
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、2個以上のチップ
を1つのパッケージにケーシングしてなるマルチチップ
モジュールに関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multi-chip module in which two or more chips are packaged in one package.
【0002】[0002]
【従来の技術】マルチチップモジュール(以下、MCM
と称す)は、2個以上のチップを1つのパッケージにケ
ーシングしてなるもので、パッケージ内にてチップ間も
しくは外部I/Oとチップ間を接続してある。2. Description of the Related Art Multi-chip modules (hereinafter referred to as MCM)
(Referred to as) is formed by casing two or more chips in one package, and the chips are connected in the package or the external I / O and the chips are connected to each other.
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のMCMであると、パッケージ内でチップ間もし
くは外部I/Oとチップ間が接続してあるので、一度ケ
ーシングしてしまうと、チップ単体レベルでの正常性を
確認できないという問題がある。However, in the above-mentioned conventional MCM, the chips are connected in the package or the external I / O and the chips are connected. There is a problem that the normality in the can not be confirmed.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ため、本発明は、2個以上のチップを1つのパッケージ
にケーシングしてなるマルチチップモジュールにおい
て、各チップ間および各チップと外部端子の間にスイッ
チを設け、前記スイッチ群のオンおよびオフの組み合わ
せで各チップ間および各チップと外部端子の間を接続す
ることを特徴とする。In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is a multi-chip module in which two or more chips are packaged in one package, and between each chip and between each chip and an external terminal. It is characterized in that a switch is provided in between and each chip is connected between each chip and each chip and an external terminal by a combination of turning on and off the switch group.
【0005】[0005]
【発明の実施の形態】図1は本発明のマルチチップモジ
ュールの第1の実施の形態を示すブロック図である。図
において、1〜3はチップで、3個のチップがパッケー
ジ内にケーシングされる。1 is a block diagram showing a first embodiment of a multi-chip module of the present invention. In the figure, 1 to 3 are chips, and three chips are casing in a package.
【0006】1a,1b,1cはチップ1のI/O、2
a,2bはチップ2のI/O、3a,3b,3cはチッ
プ3のI/Oである。4〜8はスイッチであり、これら
スイッチ群のオンおよびオフの組み合わせで、外部I/
O9a,9bと各チップのI/O間および各チップ間の
I/O同士を所望の経路で接続できるようになってい
る。1a, 1b, 1c are I / Os of the chip 1, 2
Reference numerals a and 2b are I / Os of the chip 2, and reference numerals 3a, 3b and 3c are I / Os of the chip 3. Reference numerals 4 to 8 denote switches, which are a combination of ON and OFF of these switch groups and are connected to an external I / O.
The O9a and 9b and the I / Os of the chips and the I / Os of the chips can be connected to each other through a desired path.
【0007】外部I/O9aはスイッチ4に接続され
る。また、チップ1のI/O1aもスイッチ4に接続さ
れる。チップ1のI/O1bはスイッチ5に接続され、
チップ1のI/O1cはスイッチ6に接続される。チッ
プ2のI/O2aはスイッチ5に接続され、チップ2の
I/O2bはスイッチ7に接続される。The external I / O 9a is connected to the switch 4. The I / O 1a of the chip 1 is also connected to the switch 4. I / O 1b of chip 1 is connected to switch 5,
The I / O 1c of the chip 1 is connected to the switch 6. The I / O 2a of the chip 2 is connected to the switch 5, and the I / O 2b of the chip 2 is connected to the switch 7.
【0008】チップ3のI/O3aはスイッチ6に接続
され、チップ3のI/O3bはスイッチ7に接続され、
チップ3のI/O3cはスイッチ8に接続される。そし
て、外部I/O9bはスイッチ8に接続される。さら
に、スイッチ4とスイッチ5の間、スイッチ5とスイッ
チ6とスイッチ7の間、スイッチ7とスイッチ8の間が
接続される。The I / O 3a of the chip 3 is connected to the switch 6, the I / O 3b of the chip 3 is connected to the switch 7,
The I / O 3c of the chip 3 is connected to the switch 8. The external I / O 9b is connected to the switch 8. Further, the switch 4 and the switch 5, the switch 5, the switch 6 and the switch 7, and the switch 7 and the switch 8 are connected.
【0009】次に、図1で説明したMCMの動作を説明
する。図2はMCMのチップ間の接続の一例を示すブロ
ック図であり、図1で説明したMCMでこの接続を実現
するためには、スイッチ4で外部I/O9aとチップ1
のI/O1aを接続し、スイッチ5でチップ1のI/O
1bとチップ2のI/O2aを接続し、スイッチ6でチ
ップ1のI/O1cとチップ3のI/O3aを接続し、
スイッチ7でチップ2のI/O2bとチップ3のI/O
3bを接続し、スイッチ8でチップ3のI/O3cと外
部I/O9bとを接続する。Next, the operation of the MCM described with reference to FIG. 1 will be described. FIG. 2 is a block diagram showing an example of the connection between chips of the MCM. In order to realize this connection with the MCM described in FIG. 1, the switch 4 connects the external I / O 9a and the chip 1 to each other.
I / O 1a of the chip 1 is connected and the switch 5 switches the I / O of the chip 1
1b and the I / O 2a of the chip 2 are connected, and the switch 6 connects the I / O 1c of the chip 1 and the I / O 3a of the chip 3,
I / O 2b on chip 2 and I / O on chip 3 with switch 7
3b is connected, and the switch 8 connects the I / O 3c of the chip 3 and the external I / O 9b.
【0010】これにより、図1で説明したMCMに、図
2に示すMCMの機能を持たせることができる。次に、
チップ単体レベルで正常性を確認する場合の接続につい
て説明する。例えば、チップ2の正常性を確認する場
合、スイッチ4で外部I/O9aとスイッチ5を接続
し、かつ、スイッチ5でスイッチ4とチップ2のI/O
2aを接続する。また、スイッチ8で外部I/O9bと
スイッチ7を接続し、かつ、スイッチ7でスイッチ8と
チップ2のI/O2bを接続する。これにより、外部I
/O9aとチップ2のI/O2aが接続されるととも
に、外部I/O9bとチップ2のI/O2bが接続され
ることになり、チップ2に対して外部I/Oより直接ア
クセスして、チップ2の正常性を確認できる。As a result, the MCM described with reference to FIG. 1 can have the function of the MCM shown in FIG. next,
The connection for confirming the normality at the chip level will be described. For example, when confirming the normality of the chip 2, the switch 4 connects the external I / O 9a and the switch 5, and the switch 5 connects the I / O of the switch 4 and the chip 2.
2a is connected. Further, the switch 8 connects the external I / O 9b and the switch 7, and the switch 7 connects the switch 8 and the I / O 2b of the chip 2. This allows the external I
/ O9a is connected to the I / O2a of the chip 2, and the external I / O9b is connected to the I / O2b of the chip 2, so that the chip 2 can be directly accessed from the external I / O to You can check the normality of.
【0011】チップ1においてI/O1aとI/O1b
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとチップ1のI/O1aを接続し、スイッチ5でチ
ップ1のI/O1bとスイッチ7を接続し、スイッチ7
でスイッチ5とスイッチ8を接続し、スイッチ8で外部
I/O9bとスイッチ7を接続する。これにより、外部
I/O9aとチップ1のI/O1aが接続されるととも
に、外部I/O9bとチップ1のI/O1bが接続され
ることになり、チップ1のI/O1aとI/O1bに対
して外部I/Oより直接アクセスして、チップ1の正常
性を確認できる。I / O1a and I / O1b in chip 1
When confirming the normality between the external I / O
9a and the I / O 1a of the chip 1 are connected, the switch 5 connects the I / O 1b of the chip 1 and the switch 7, and the switch 7
Switch 5 and switch 8 are connected, and switch 8 connects external I / O 9b and switch 7. As a result, the external I / O 9a and the I / O 1a of the chip 1 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 1b of the chip 1 are connected, and the I / O 1a and I / O 1b of the chip 1 are connected to each other. On the other hand, the normality of the chip 1 can be confirmed by directly accessing from the external I / O.
【0012】チップ1においてI/O1bとI/O1c
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとスイッチ5を接続し、スイッチ5でスイッチ4と
チップ1のI/O1bを接続する。また、スイッチ6で
チップ1のI/O1cとスイッチ7を接続し、スイッチ
7でスイッチ6とスイッチ8を接続し、スイッチ8で外
部I/O9bとスイッチ7を接続する。これにより、外
部I/O9aとチップ1のI/O1bが接続されるとと
もに、外部I/O9bとチップ1のI/O1cが接続さ
れることになり、チップ1のI/O1bとI/O1cに
対して外部I/Oより直接アクセスして、チップ1の正
常性を確認できる。I / O1b and I / O1c in chip 1
When confirming the normality between the external I / O
9a and the switch 5 are connected, and the switch 5 connects the switch 4 and the I / O 1b of the chip 1. The switch 6 connects the I / O 1c of the chip 1 to the switch 7, the switch 7 connects the switch 6 to the switch 8, and the switch 8 connects the external I / O 9b to the switch 7. As a result, the external I / O 9a and the I / O 1b of the chip 1 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 1c of the chip 1 are connected, and the I / O 1b and I / O 1c of the chip 1 are connected. On the other hand, the normality of the chip 1 can be confirmed by directly accessing from the external I / O.
【0013】チップ1においてI/O1aとI/O1c
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとチップ1のI/O1aを接続する。また、スイッ
チ6でチップ1のI/O1cとスイッチ7を接続し、ス
イッチ7でスイッチ6とスイッチ8を接続し、スイッチ
8で外部I/O9bとスイッチ7を接続する。これによ
り、外部I/O9aとチップ1のI/O1aが接続され
るとともに、外部I/O9bとチップ1のI/O1cが
接続されることになり、チップ1のI/O1aとI/O
1cに対して外部I/Oより直接アクセスして、チップ
1の正常性を確認できる。I / O1a and I / O1c in chip 1
When confirming the normality between the external I / O
9a and the I / O 1a of the chip 1 are connected. The switch 6 connects the I / O 1c of the chip 1 to the switch 7, the switch 7 connects the switch 6 to the switch 8, and the switch 8 connects the external I / O 9b to the switch 7. As a result, the external I / O 9a and the I / O 1a of the chip 1 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 1c of the chip 1 are connected, and the I / O 1a and the I / O of the chip 1 are connected.
The normality of the chip 1 can be confirmed by directly accessing 1c from an external I / O.
【0014】チップ3においてI/O3aとI/O3b
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとスイッチ5を接続し、スイッチ5でスイッチ4と
スイッチ6を接続し、スイッチ6でスイッチ5とチップ
3のI/O3aを接続する。また、スイッチ7でチップ
3のI/O3bとスイッチ8を接続し、スイッチ8で外
部I/O9bとスイッチ7を接続する。これにより、外
部I/O9aとチップ3のI/O3aが接続されるとと
もに、外部I/O9bとチップ3のI/O3bが接続さ
れることになり、チップ3のI/O3aとI/O3bに
対して外部I/Oより直接アクセスして、チップ3の正
常性を確認できる。I / O 3a and I / O 3b in chip 3
When confirming the normality between the external I / O
9a and the switch 5 are connected, the switch 5 connects the switch 4 and the switch 6, and the switch 6 connects the switch 5 and the I / O 3a of the chip 3. The switch 7 connects the I / O 3b of the chip 3 to the switch 8, and the switch 8 connects the external I / O 9b to the switch 7. As a result, the external I / O 9a and the I / O 3a of the chip 3 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 3b of the chip 3 are connected, so that the I / O 3a and I / O 3b of the chip 3 are connected. On the other hand, the normality of the chip 3 can be confirmed by directly accessing from the external I / O.
【0015】チップ3においてI/O3bとI/O3c
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとスイッチ5を接続し、スイッチ5でスイッチ4と
スイッチ7を接続し、スイッチ7でスイッチ5とチップ
3のI/O3bを接続する。また、スイッチ8で外部I
/O9bとチップ3のI/O3cを接続する。これによ
り、外部I/O9aとチップ3のI/O3bが接続され
るとともに、外部I/O9bとチップ3のI/O3cが
接続されることになり、チップ3のI/O3bとI/O
3cに対して外部I/Oより直接アクセスして、チップ
3の正常性を確認できる。I / O 3b and I / O 3c in chip 3
When confirming the normality between the external I / O
9a and the switch 5 are connected, the switch 5 connects the switch 4 and the switch 7, and the switch 7 connects the switch 5 and the I / O 3b of the chip 3. In addition, switch 8
/ O9b and the I / O3c of the chip 3 are connected. As a result, the external I / O 9a and the I / O 3b of the chip 3 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 3c of the chip 3 are connected, and the I / O 3b and I / O of the chip 3 are connected.
The normality of the chip 3 can be confirmed by directly accessing 3c from an external I / O.
【0016】チップ3においてI/O3aとI/O3c
の間の正常性を確認する場合、スイッチ4で外部I/O
9aとスイッチ5を接続し、スイッチ5でスイッチ4と
スイッチ6を接続し、スイッチ6でスイッチ5とチップ
3のI/O3aを接続する。また、スイッチ8で外部I
/O9bとチップ3のI/O3cを接続する。これによ
り、外部I/O9aとチップ3のI/O3aが接続され
るとともに、外部I/O9bとチップ3のI/O3cが
接続されることになり、チップ3のI/O3aとI/O
3cに対して外部I/Oより直接アクセスして、チップ
3の正常性を確認できる。I / O 3a and I / O 3c in chip 3
When confirming the normality between the external I / O
9a and the switch 5 are connected, the switch 5 connects the switch 4 and the switch 6, and the switch 6 connects the switch 5 and the I / O 3a of the chip 3. In addition, switch 8
/ O9b and the I / O3c of the chip 3 are connected. As a result, the external I / O 9a and the I / O 3a of the chip 3 are connected, and the external I / O 9b and the I / O 3c of the chip 3 are connected, and the I / O 3a and the I / O of the chip 3 are connected.
The normality of the chip 3 can be confirmed by directly accessing 3c from an external I / O.
【0017】以上説明したように、本発明の第1の実施
の形態では、チップとチップの間、およびチップと外部
I/Oとの間にスイッチを設け、スイッチによる接続変
更を行うことにより、各チップ単体で外部I/Oに接続
でき、各チップに外部I/Oより直接アクセスできる。
これにより、チップ単体レベルで正常性を確認できる。As described above, in the first embodiment of the present invention, the switches are provided between the chips and between the chips and the external I / O, and the connection is changed by the switches. Each chip can be connected to an external I / O by itself, and each chip can be directly accessed from the external I / O.
As a result, normality can be confirmed at the chip level.
【0018】このことから、MCMでのテストとして
は、各チップ単体における試験を行った後、複数のチッ
プを搭載、ボンディングしてMCMを作成し、MCMと
しての総合試験を行っていた行程を、複数のチップを搭
載、ボンディングしてMCMを作成し、MCMとしての
総合試験を行い、異常が発生した場合のみ、MCM上で
上述したようにチップ単体での試験を行うことにより、
行程の削減およびチップ単体で試験を行うためのソケッ
トが不要となり、設備の削減が可能である。From this, as a test with the MCM, after performing a test with each chip alone, a plurality of chips are mounted and bonded to create an MCM, and the process of conducting a comprehensive test as the MCM is performed. By mounting and bonding a plurality of chips to create an MCM, performing a comprehensive test as an MCM, and performing an individual chip test as described above on the MCM only when an abnormality occurs,
It is possible to reduce equipment by reducing the number of steps and eliminating the need for a socket for testing individual chips.
【0019】ここで、図1で説明したように、チップと
チップの間、およびチップと外部I/Oとの間にスイッ
チを設けることで、MCM作成後、チップ間接続および
外部への入出力を変更することができる。これにより、
1種類のMCMで複数の機能を実現できるので、作成す
るMCMの種類を減らすことができ、コストを抑えるこ
とができる。Here, as described with reference to FIG. 1, by providing switches between the chips and between the chips and the external I / O, after the MCM is created, the inter-chip connection and external input / output are performed. Can be changed. This allows
Since a plurality of functions can be realized by one type of MCM, the number of types of MCM to be created can be reduced and the cost can be suppressed.
【0020】図3は本発明のマルチチップモジュールの
第2の実施の形態を示すブロック図である。図におい
て、1〜3はチップで、3個のチップがパッケージ4内
にケーシングされる。1a,1b,1cはチップ1のI
/O、2a,2b,2cはチップ2のI/O、3a,3
bはチップ3のI/Oである。FIG. 3 is a block diagram showing a second embodiment of the multichip module of the present invention. In the figure, 1 to 3 are chips, and three chips are casing in a package 4. 1a, 1b and 1c are I of the chip 1
/ O, 2a, 2b, 2c are I / Os of the chip 2, 3a, 3
b is an I / O of the chip 3.
【0021】9a0 〜a9 、9b0 〜b9 は外部I/O
である。10はスイッチ素子で、このスイッチ素子10
のI/Oと、各チップのI/Oおよび外部I/Oを1対
1で接続してある。そして、スイッチ素子10の動作
で、外部I/Oと各チップのI/O間および各チップ間
のI/O同士を所望の経路で接続できるようになってい
る。9a 0 to a 9 and 9b 0 to b 9 are external I / Os.
It is. 10 is a switch element, and this switch element 10
I / O of each chip, I / O of each chip and external I / O are connected in a one-to-one relationship. By the operation of the switch element 10, the external I / O and the I / Os of the chips and the I / Os of the chips can be connected through a desired path.
【0022】ここで、接続経路の例については、図1で
説明したものと同様であるので、ここでは説明を省略す
る。以上説明したように、本発明の第2の実施の形態で
は、チップとチップの間、およびチップと外部I/Oと
の間にスイッチ素子を設け、スイッチ素子の動作により
接続変更を行って各チップ単体で外部I/Oと接続した
り、チップ間接続および外部への入出力を変更すること
ができる。Here, an example of the connection path is the same as that described with reference to FIG. 1, and therefore its description is omitted here. As described above, in the second embodiment of the present invention, the switch elements are provided between the chips and between the chips and the external I / O, and the connection is changed by the operation of the switch elements. The chip itself can be connected to an external I / O, and inter-chip connection and external input / output can be changed.
【0023】このとき、スイッチ素子を用いることで、
I/Oの数が多くても対応可能である。なお、図3の実
施の形態では、スイッチ素子を用いたが、スイッチ素子
の代わりにプログラマブルゲートアレイを用いることも
できる。At this time, by using the switch element,
It is possible to deal with a large number of I / Os. Although the switch element is used in the embodiment of FIG. 3, a programmable gate array can be used instead of the switch element.
【0024】[0024]
【発明の効果】以上説明したように、本発明は、複数の
チップを搭載してなるマルチチップモジュールにおい
て、各チップ間および各チップと外部端子の間にスイッ
チを設け、前記スイッチ群のオンおよびオフの組み合わ
せで各チップ間および各チップと外部端子の間を接続す
ることとしたもので、スイッチによる接続変更で、各チ
ップ単体で外部端子と接続することができ、これによ
り、チップ単体レベルで正常性を確認できるという効果
を有する。As described above, according to the present invention, in a multi-chip module having a plurality of chips mounted therein, switches are provided between each chip and between each chip and an external terminal to turn on and off the switch group. It is designed to connect between chips and between each chip and external terminals in the off combination.By changing the connection by a switch, each chip can be connected to an external terminal. It has the effect of confirming normality.
【0025】また、マルチチップモジュール作成後にチ
ップ間接続および外部への入出力を変更することができ
るので、1種類のマルチチップモジュールに複数の機能
を持たせることができるという効果を有する。Further, since the connection between chips and the input / output to the outside can be changed after the multichip module is produced, there is an effect that one type of multichip module can have a plurality of functions.
【図1】本発明のマルチチップモジュールの第1の実施
の形態を示すブロック図FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a multi-chip module of the present invention.
【図2】チップ間の接続の一例を示すブロック図FIG. 2 is a block diagram showing an example of connection between chips.
【図3】本発明のマルチチップモジュールの第2の実施
の形態を示すブロック図FIG. 3 is a block diagram showing a second embodiment of a multi-chip module of the present invention.
1〜3 チップ 1a〜1c I/O 2a,2b I/O 3a〜3c I/O 4〜8 スイッチ 9a,9b 外部I/O 1-3 chips 1a-1c I / O 2a, 2b I / O 3a-3c I / O 4-8 switch 9a, 9b external I / O
Claims (2)
ケーシングしてなるマルチチップモジュールにおいて、 各チップ間および各チップと外部端子の間にスイッチを
設け、前記スイッチ群のオンおよびオフの組み合わせで
各チップ間および各チップと外部端子の間を接続するこ
とを特徴とするマルチチップモジュール。1. A multi-chip module in which two or more chips are casing in one package, switches are provided between the chips and between each chip and an external terminal, and a combination of ON and OFF of the switch group is provided. A multi-chip module characterized by connecting between each chip and between each chip and an external terminal.
において、 前記スイッチ群のオンおよびオフを組み合わせて、複数
のチップの中のうちの1つのチップと外部端子が接続さ
れる電気経路を形成し、各チップ毎の駆動を可能とした
ことを特徴とするマルチチップモジュール。2. The multi-chip module according to claim 1, wherein an on / off state of the switch group is combined to form an electrical path connecting one of the plurality of chips and an external terminal, A multi-chip module characterized in that each chip can be driven.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151696A JPH09213874A (en) | 1996-02-07 | 1996-02-07 | Multi-chip module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2151696A JPH09213874A (en) | 1996-02-07 | 1996-02-07 | Multi-chip module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09213874A true JPH09213874A (en) | 1997-08-15 |
Family
ID=12057139
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2151696A Pending JPH09213874A (en) | 1996-02-07 | 1996-02-07 | Multi-chip module |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09213874A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6909303B2 (en) | 2002-08-27 | 2005-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multichip module and testing method thereof |
-
1996
- 1996-02-07 JP JP2151696A patent/JPH09213874A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6909303B2 (en) | 2002-08-27 | 2005-06-21 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Multichip module and testing method thereof |
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