JPH09210856A - Measuring apparatus for afocal optical system - Google Patents

Measuring apparatus for afocal optical system

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Publication number
JPH09210856A
JPH09210856A JP1359496A JP1359496A JPH09210856A JP H09210856 A JPH09210856 A JP H09210856A JP 1359496 A JP1359496 A JP 1359496A JP 1359496 A JP1359496 A JP 1359496A JP H09210856 A JPH09210856 A JP H09210856A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
slit
image
collimator
lens
optical system
Prior art date
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Pending
Application number
JP1359496A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Matsushima
洪志 松島
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Ricoh Co Ltd filed Critical Ricoh Co Ltd
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Publication of JPH09210856A publication Critical patent/JPH09210856A/en
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  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain a measuring apparatus which suppresses a measuring error to a minimum by. a method wherein a collimator in which a slit for object- position setting at a lens to be inspected is used as a light source is formed in such a way that it can be moved to a direction at right angles to an optical axis and that it can be turned around the position of the slit. SOLUTION: A collimator 11 is made freely movable on a longer X-axis stage 36 and a longer Y-axis stage 38 which are at right angles to each other, and it can be turned by a rotary stage 32 around a slit 50 in a slit plate 35. In a measurement on an axis, light from the slit 50 is passed through a lens 41, to be inspected, and a lens 42, and it forms an image in a condensing point 46. The light forms an image on an area CCD 47 by a lens 43, an output is A/D-converted and FFT-processed, and the image performance value of an afocal optical system at every frequency is found. In a measurement outside the axis, the collimator 31 is moved to an outside-of-axis collimator position 51, the stage 32 is turned, a longer rotary stage 45 is turned together with a pupil position 37, the lenses 42, 43 and the CCD 47, and it is aligned with a reference position in which the output shape of a slit image is set. After that, an image performance value is found in the same manner.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、カメラのファイン
ダー、テレスコープ、オペラグラス等に使用されるアフ
ォーカル光学系の品質特性の測定方法に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for measuring quality characteristics of an afocal optical system used for a finder, a telescope, an opera glass, etc. of a camera.

【0002】[0002]

【従来の技術】望遠鏡等の性能測定方法として、無限距
離の被写体の代わりにコリメータの焦点位置に複数個の
スリットを設け、コリメータ出射光の光路上に被検レン
ズ(望遠鏡)を置きその射出光を集光レンズを用いて結
像し、更に拡大レンズでラインセンサ上に適正な大きさ
で結像させたスリット像の出力形状から、望遠鏡+集光
レンズの性能を測定する方法がとられている。このよう
な測定方法の従来例について説明する。
2. Description of the Related Art As a method of measuring the performance of a telescope or the like, a plurality of slits are provided at the focus position of a collimator instead of an object at an infinite distance, and a lens to be inspected (telescope) is placed on the optical path of the light emitted from the collimator. The telescope + focusing lens performance is measured from the output shape of the slit image formed by focusing the image with a focusing lens and then forming it on the line sensor with a magnifying lens in an appropriate size. There is. A conventional example of such a measuring method will be described.

【0003】図3は従来の望遠鏡の像性能測定装置の概
略を示している。図3において、コリメータ1の内部に
は光源2が設けられている。光源2から一定の距離をお
いて後方にはスリット板3が設けられている。スリット
板3の中央には、軸上測定用のスリット5、このスリッ
ト5を中心として両側には軸外測定用のスリット4、6
が設けられている。コリメータ1の内部でスリット板3
の後方(図において右側)にはコリメートレンズ8が設
けられている。
FIG. 3 schematically shows a conventional image quality measuring device for a telescope. In FIG. 3, a light source 2 is provided inside the collimator 1. A slit plate 3 is provided behind the light source 2 at a constant distance. On the center of the slit plate 3, there is a slit 5 for on-axis measurement, and on both sides of this slit 5 are slits 4 and 6 for off-axis measurement.
Is provided. Inside the collimator 1, the slit plate 3
A collimator lens 8 is provided behind (on the right side in the drawing).

【0004】コリメータ1から一定距離をおいて後方に
は2つのレンズからなる被検レンズ9が配置されてお
り、被検レンズ9からさらに一定距離をおいて後方に
は、検知部11が配置されている。検知部11には、A
/D変換ボードと、アフォーカル光学系の像性能値を計
算処理する為のパソコンが接続されている。検知部11
は中空状で、内部の前方側、即ち、被検レンズ9側の箇
所には集光レンズ12が配置されている。集光レンズ1
2の後方には拡大レンズ部17が配置されている。拡大
レンズ部17の内部には、集光レンズ12側に拡大レン
ズ14が、拡大レンズ14の後方にはラインセンサ16
が取り付けられている。このラインセンサ16に対して
電源やA/D変換ボード、パソコンが接続されている。
また、拡大レンズ14とラインセンサ16の間には切換
ミラー19が配置されており、この切換ミラー19と接
眼レンズ18とを経ることによって像の位置を確認でき
るようになっている。
A test lens 9 composed of two lenses is arranged behind the collimator 1 at a constant distance, and a detection unit 11 is arranged further behind at a constant distance from the test lens 9. ing. The detection unit 11 has A
A / D conversion board and a personal computer for calculating the image performance value of the afocal optical system are connected. Detector 11
Is hollow, and a condenser lens 12 is arranged inside the front side, that is, on the side of the lens 9 to be inspected. Condensing lens 1
A magnifying lens unit 17 is arranged behind the lens 2. Inside the magnifying lens unit 17, a magnifying lens 14 is provided on the condensing lens 12 side, and a line sensor 16 is provided behind the magnifying lens 14.
Is attached. A power source, an A / D conversion board, and a personal computer are connected to the line sensor 16.
A switching mirror 19 is arranged between the magnifying lens 14 and the line sensor 16, and the position of the image can be confirmed by passing through the switching mirror 19 and the eyepiece lens 18.

【0005】次に、上記像性能測定装置を用いた測定方
法について説明する。先ず軸上測定時には、図3の如く
コリメータ1、被検レンズ9、集光レンズ12、拡大レ
ンズ14の光軸合わせをしておく。軸上スリット5から
出てコリメータレンズ8を経た平行光20は、被検レン
ズ9を通過した後、集光レンズ12で第1集光点13に
結像する。さらにその結像したスリット像は拡大レンズ
14によってラインセンサ16上に結像し、そのスリッ
ト像と直交するように配置されたラインセンサ16でス
リット像の断面形状として出力を得た後、A/D変換さ
れパソコンによりFFT(高速フーリエ変換)処理を行
い周波数毎のアフォーカル光学系の像性能値が測定され
る。
Next, a measuring method using the above image performance measuring apparatus will be described. First, at the time of on-axis measurement, the optical axes of the collimator 1, the lens 9 to be inspected, the condenser lens 12, and the magnifying lens 14 are aligned as shown in FIG. The parallel light 20 emitted from the on-axis slit 5 and passed through the collimator lens 8 passes through the lens 9 to be inspected, and then is focused on the first focus point 13 by the condenser lens 12. Further, the formed slit image is formed on the line sensor 16 by the magnifying lens 14, and the line sensor 16 arranged so as to be orthogonal to the slit image obtains an output as a sectional shape of the slit image. After the D conversion, FFT (Fast Fourier Transform) processing is performed by a personal computer, and the image performance value of the afocal optical system for each frequency is measured.

【0006】また、入射角度を変えて軸外を測定する場
合は、スリット板3上の軸外のスリット4、6の各像
を、接眼レンズ18で見ながら検知部11全体を被検レ
ンズ9のアイポイント10を回転軸として回転させ、ス
リット像が視野の中心になるようにして上記と同様の方
法でアフォーカル光学系の像性能値を測定出来る。
Further, when the off-axis is measured by changing the incident angle, the entire detecting section 11 is examined by the eyepiece 18 while observing each image of the off-axis slits 4 and 6 on the slit plate 3. The image performance value of the afocal optical system can be measured by the same method as described above by rotating the eye point 10 with the slit image as the center of the visual field.

【0007】なお、周辺部の測定ではT、R(Tang
ential(接線)方向,Radial(半径)方
向)方向を切換えて測定する必要がある為、あらかじめ
スリット板3に軸外のT、R方向測定用のスリットを同
心円上に設けておく。そして、T、R方向の測定方法に
応じて、スリット板3を回転して切換え同時にラインセ
ンサーの方向もT、R方向のスリット像に直交するよう
にセンサ中心を軸にし回転して合わせることにより、上
記の例と同様に測定することができる。
In the measurement of the peripheral portion, T, R (Tang)
Since it is necessary to perform measurement by switching the direction (tangential line) and the direction (Radial), the slit plate 3 is provided with slits for measuring the off-axis T and R directions in a concentric circle in advance. Then, according to the measuring method in the T and R directions, the slit plate 3 is rotated and switched. At the same time, the direction of the line sensor is also rotated and aligned around the sensor center so as to be orthogonal to the slit image in the T and R directions. Can be measured in the same manner as in the above example.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】以上のような方法を用
いることにより、望遠鏡の性能を比較測定することは可
能である。しかるに、入射画角が例えば±20゜〜±4
0゜というように大きいアフォーカル光学系の測定に際
してはコリメータ焦点面の軸上、軸外用のスリットの間
隔を大きくとる必要があるのであるが、従来の測定方法
によれば、コリメータレンズ8の焦点距離や有効径等の
制限を受ける為、実際には、測定画角は±5゜程度が限
界である。
By using the above method, it is possible to compare and measure the performance of telescopes. However, the incident angle of view is, for example, ± 20 ° to ± 4.
When measuring an afocal optical system as large as 0 °, it is necessary to set a large gap between the slits for the off-axis on the axis of the focal plane of the collimator. According to the conventional measurement method, the focus of the collimator lens 8 is reduced. Since the distance and effective diameter are limited, the actual measurement angle of view is limited to ± 5 °.

【0009】また、周辺光に相当するスリット4、6か
らの平行光は光軸光線とは見なすことができず、収差が
発生するため、軸上、軸外の測定条件が異なることとな
り測定精度が悪化してしまう。
Further, the parallel light from the slits 4 and 6 corresponding to the peripheral light cannot be regarded as an optical ray and an aberration occurs, so that the on-axis and off-axis measurement conditions are different, and the measurement accuracy is different. Will get worse.

【0010】さらに、軸外測定の場合、Tangent
ial方向やRadial方向を測定する必要があり、
測定の視野角を変える毎にラインセンサ16上のスリッ
ト像とラインセンサ16とを直交させる必要があるが、
スリット4、6とラインセンサ16の回転時に偏心或い
は位置誤差等の影響を受け、検知部17のビューアによ
る位置合わせが非常に困難となり、測定の作業性が悪化
してしまう。
Further, in the case of off-axis measurement, Tangent
It is necessary to measure the ial direction and the Radial direction,
It is necessary to make the slit image on the line sensor 16 and the line sensor 16 orthogonal to each other each time the viewing angle of measurement is changed.
When the slits 4 and 6 and the line sensor 16 are rotated, they are affected by eccentricity or a positional error, which makes it very difficult for the viewer of the detection unit 17 to perform alignment, and the workability of measurement deteriorates.

【0011】本発明は以上のような従来技術の問題点を
解消するためになされたもので、大きな測定画角が得ら
れると共に測定誤差を最小限に抑え、視野角を変えたと
きのスリット像の位置合わせが簡単であり、また、T、
R方向を切り換えた際の偏心によっても像が消えたりす
ることがなく、位置調整が簡単となり測定作業の効率化
を図ることが可能なアフォーカル光学系の測定装置を提
供することを目的とする。
The present invention has been made in order to solve the problems of the prior art as described above, and a large measurement angle of view can be obtained, a measurement error can be minimized, and a slit image when the viewing angle is changed. Is easy to align, and T,
It is an object of the present invention to provide a measuring device for an afocal optical system that does not disappear even when decentered when the R direction is switched, facilitates position adjustment, and improves the efficiency of measurement work. .

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
カメラのファインダー、テレスコープ、オペラグラス等
に使用されるアフォーカル光学系の像性能を定量的に測
定するアフォーカル光学系の測定装置であって、被検レ
ンズの物体位置を設定する為にスリットを光源としたコ
リメータを設けると共に、このコリメータを光軸と直角
方向へ移動させ、かつ、スリット位置を回転中心とした
回転が可能な装置を備え、スリット像の検知部にエリア
型CCDを備えていることを特徴とする。
According to the first aspect of the present invention,
An afocal optical system measuring device that quantitatively measures the image performance of the afocal optical system used for camera viewfinders, telescopes, opera glasses, etc., and a slit for setting the object position of the lens under test. In addition to providing a collimator that uses a light source as a light source, a device that can move the collimator in the direction perpendicular to the optical axis and that can rotate about the slit position as a rotation center, and an area CCD in the slit image detection unit It is characterized by being

【0013】請求項2記載の発明は、エリア型CCDの
受像面に於けるスリット像をモニター上に表示し光軸合
わせがなされることを特徴とする。
The invention according to claim 2 is characterized in that the slit image on the image receiving surface of the area type CCD is displayed on a monitor to align the optical axes.

【0014】請求項3記載の発明は、コリメータに設け
たスリットの代わりにピンホールを用いた光源部と、受
光部にエリア型CCDを用いたことを特徴とする。
The invention described in claim 3 is characterized in that a light source section using a pinhole instead of the slit provided in the collimator and an area CCD are used in the light receiving section.

【0015】請求項4記載の発明は、ピンホールを備え
たコリメータと、エリア型CCDを用い、ピンホール像
のCCD出力値から任意の方向のアフォーカル光学系の
像性能値を算出することを特徴とする。
According to a fourth aspect of the present invention, the image performance value of the afocal optical system in any direction is calculated from the CCD output value of the pinhole image using a collimator having a pinhole and an area CCD. Characterize.

【0016】[0016]

【発明の実施の形態】以下、本発明にかかるアフォーカ
ル光学系の測定装置の実施の形態について図面を参照し
ながら説明する。図1において、光源側のコリメータ3
1は中空状で、長尺Xステージ36とこれに直交する長
尺Yステージ38上を自在に移動することができる図示
しないキャリアに取り付けられている。キャリアとコリ
メータ31の間には、コリメータ31を支持して回転可
能であり、かつ、コリメータ31の回転角度を正確に読
み取ることができる回転ステージ32が取付けられてい
る。回転ステージ32の回転中心はスリット板35のス
リット50を中心として回転することができる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION An embodiment of a measuring apparatus for an afocal optical system according to the present invention will be described below with reference to the drawings. In FIG. 1, the collimator 3 on the light source side
Reference numeral 1 is hollow, and is attached to a carrier (not shown) that can be freely moved on a long X stage 36 and a long Y stage 38 orthogonal to the long X stage 36. A rotary stage 32 is mounted between the carrier and the collimator 31 so that the collimator 31 can be supported and rotated, and the rotation angle of the collimator 31 can be accurately read. The rotation center of the rotary stage 32 can rotate around the slit 50 of the slit plate 35.

【0017】コリメータ31の内部で、しかも、コリメ
ータ31の一端部には光源34が配置されている。光源
34の後方にはフィルタ33が配置されており、フィル
ター33の後方(図1において右方)にはスリット板3
5が、スリット板35の後方にはコリメートレンズ28
が設けられている。スリット板35には、光源34の光
軸と直交する位置にスリット50が形成される。このた
め、光源34からの光束は、上記軸上スリット50によ
ってスリット板35を通過し、コリメートレンズ28へ
と照射される。
A light source 34 is arranged inside the collimator 31 and at one end of the collimator 31. The filter 33 is arranged behind the light source 34, and the slit plate 3 is provided behind the filter 33 (to the right in FIG. 1).
5 is located behind the slit plate 35 and has a collimating lens 28.
Is provided. The slit 50 is formed in the slit plate 35 at a position orthogonal to the optical axis of the light source 34. Therefore, the light flux from the light source 34 passes through the slit plate 35 by the on-axis slit 50 and is applied to the collimator lens 28.

【0018】被検レンズ41は、長尺Xステージ36上
に設けられた、光軸基準で光軸の周りに回転出来る回転
ステージ40に取付けられ、回転ステージ40と共に光
軸を中心に回転可能となっている。被検レンズ41の瞳
位置37には、各被検レンズ41に応じた瞳径を有する
絞りの取付けが可能になっている。瞳位置37の後方に
は集光レンズ42がその前側の焦点位置を瞳位置37に
合致させて配置されている。
The lens 41 to be inspected is attached to a rotary stage 40 provided on the long X stage 36 and rotatable around the optical axis with respect to the optical axis, and can be rotated together with the rotary stage 40 about the optical axis. Has become. A diaphragm having a pupil diameter corresponding to each lens 41 to be inspected can be attached to the pupil position 37 of the lens 41 to be inspected. A condenser lens 42 is arranged behind the pupil position 37 such that the focal position on the front side thereof matches the pupil position 37.

【0019】スリットの像は第1集光点46に結像し、
さらにに拡大レンズ43によって適正な大きさに拡大さ
れエリアCCD47上に結像される。エリアCCD47
からは結像されたスリット像に対応した信号が出力さ
れ、その出力は、A/D変換されFFTボードによって
各周波数毎にMTF計算がなされ、しかも、パソコンに
より所定の計算処理がなされグラフ表示が行われる。上
記集光レンズ42、拡大レンズ43は長尺回転ステージ
45に取り付けられ、エリアCCD47を有してなるC
CDカメラ48もカメラ支持台49を介して上記長尺回
転ステージ45に取り付けられている。長尺回転ステー
ジ45は、図1において左端部が上記長尺Xステージ3
6に上記瞳位置を中心に回転可能に取り付けられてい
る。
The image of the slit is formed at the first condensing point 46,
Further, it is magnified to an appropriate size by the magnifying lens 43 and an image is formed on the area CCD 47. Area CCD 47
Outputs a signal corresponding to the formed slit image, and the output is A / D converted and the MFT calculation is performed for each frequency by the FFT board. Moreover, the personal computer performs a predetermined calculation process and displays the graph. Done. The condensing lens 42 and the magnifying lens 43 are attached to a long rotary stage 45 and have an area CCD 47.
The CD camera 48 is also attached to the long rotary stage 45 via the camera support 49. The long rotary stage 45 has the left end portion in FIG.
6 is attached so as to be rotatable around the pupil position.

【0020】次に、上記アフォーカル光学系の測定装置
を用いた測定方法について説明する。まず軸上測定時に
は、コリメータ31、被検レンズ41、集光レンズ4
2、拡大レンズ43の光軸合わせをしておく。スリット
50から出てコリメートレンズ28を経た平行光は、被
検レンズ41を通過した後、集光レンズ42で第1集光
点46に結像する。さらにその結像したスリット像は拡
大レンズ43によってエリアCCD47上に結像し、そ
のスリット像と直交するように配置されたエリアCCD
47でスリット像の断面形状として出力を得た後、A/
D変換されパソコンによりFFT(高速フーリエ変換)
処理を行い周波数毎のアフォーカル光学系の像性能値が
測定される。
Next, a measuring method using the measuring device for the afocal optical system will be described. First, at the time of on-axis measurement, the collimator 31, the test lens 41, and the condenser lens 4
2. The optical axis of the magnifying lens 43 is aligned. The parallel light emitted from the slit 50 and passing through the collimator lens 28 passes through the lens 41 to be inspected, and then forms an image at the first condensing point 46 by the condensing lens 42. Further, the formed slit image is formed on the area CCD 47 by the magnifying lens 43, and the area CCD arranged so as to be orthogonal to the slit image.
After obtaining the output as the cross-sectional shape of the slit image at 47, A /
D-converted and FFT (Fast Fourier Transform) by PC
Processing is performed to measure the image performance value of the afocal optical system for each frequency.

【0021】軸外測定の場合には、コリメータ31を点
線で示す軸外コリメータ位置51に移動させる。これと
ともに回転ステージ32をスリット板35のスリット5
0を中心として回転させ、軸外スリットを光源とみなす
ことができるコリメータ31からの光束を被検レンズ4
1に入射する。また、長尺回転ステージ45に取付けら
れた瞳位置37、集光レンズ42、拡大レンズ43、エ
リアCCD47等も長尺回転ステージ45とともに一体
に回転させ、A/D変換後のスリット像の出力形状をモ
ニタ上で観察し予め設定した基準位置に合わせる。この
状態でCCD47から出力を得、この出力をA/D変換
しFFT処理を行うことにより、周波数毎のアフォーカ
ル光学系の像性能値を測定することができる。
In the case of off-axis measurement, the collimator 31 is moved to the off-axis collimator position 51 shown by the dotted line. Along with this, the rotary stage 32 is attached to the slit 5 of the slit plate 35.
The light beam from the collimator 31 which can be regarded as a light source by rotating it about 0 as a center and the off-axis slit is a lens 4 to be inspected
Incident on 1. Further, the pupil position 37, the condenser lens 42, the magnifying lens 43, the area CCD 47, etc. attached to the long rotary stage 45 are also integrally rotated together with the long rotary stage 45, and the output shape of the slit image after A / D conversion is obtained. Observe on the monitor and adjust to the preset reference position. In this state, an output is obtained from the CCD 47, the output is A / D converted, and FFT processing is performed, whereby the image performance value of the afocal optical system for each frequency can be measured.

【0022】このようにしてスリット像をエリアCCD
47で検出し、位置決めを行うことにより、広範囲の視
野がモニタ上で見られる為、視野角を変えた時のスリッ
ト像の位置合わせを容易にすることができる。
In this way, the slit image is transferred to the area CCD.
By detecting and positioning at 47, a wide field of view can be seen on the monitor, so that it is possible to easily position the slit image when the viewing angle is changed.

【0023】また、被検レンズ40を光軸を基準に回転
させるTangential方向切換及びコリメータ3
1の移動によるRadial方向切換時の偏心により像
位置が視野から消えることもないため、像位置の調整が
簡単になり測定作業の効率化が計れる。
The tangential direction switching and collimator 3 for rotating the lens 40 to be inspected with the optical axis as a reference.
Since the image position does not disappear from the visual field due to the eccentricity when the Radial direction is switched by the movement of 1, the image position can be easily adjusted and the measurement work can be made efficient.

【0024】さらに、被検レンズ41の軸上、軸外測定
ともにコリメータ31の光軸光線を使用することによ
り、被写体側条件が同じになるため測定誤差を減少させ
ることができる。コリメータ31の位置と回転角を変え
ることにより広画角の被検レンズの測定が可能となる。
Further, by using the optical axis ray of the collimator 31 for both the on-axis measurement and the off-axis measurement of the lens 41 to be inspected, the conditions on the object side are the same, so that the measurement error can be reduced. By changing the position and the rotation angle of the collimator 31, it is possible to measure the test lens having a wide angle of view.

【0025】なお、コリメータ31の光源部に使用する
スリット板35の代わりに、ピンホールを有するピンホ
ール板を用い、エリアCCD47上のピンホール像の出
力分布から最高出力となる画素位置を検出し、その画素
を通る任意の方向の画素出力を取り出して、その形状か
ら前述した測定方法用いてMTF値を算出することもで
きる。例えば、図2に示すように、エリアCCD47上
に符号62で示す像が形成された場合、その像の中心部
63でX方向の画素とY方向の画素を取り出し、このX
方向の画素の形状65と、Y方向の画素の形状64とか
らMTF値を算出することができる。この方法を用いる
ことにより、メカ的なT、R方向の切換をすることが不
要となり、測定作業の効率化を図ることができる。
A pinhole plate having a pinhole is used in place of the slit plate 35 used in the light source section of the collimator 31, and the pixel position at which the maximum output is detected is detected from the output distribution of the pinhole image on the area CCD 47. It is also possible to extract the pixel output in an arbitrary direction passing through the pixel and calculate the MTF value from the shape by using the above-described measurement method. For example, as shown in FIG. 2, when an image denoted by reference numeral 62 is formed on the area CCD 47, pixels in the X direction and pixels in the Y direction are taken out at the center portion 63 of the image, and this X
The MTF value can be calculated from the pixel shape 65 in the direction and the pixel shape 64 in the Y direction. By using this method, it becomes unnecessary to mechanically switch between the T and R directions, and the efficiency of measurement work can be improved.

【0026】[0026]

【発明の効果】本発明によれば、被検レンズの物体装置
を設定する為にスリットを光源としたコリメータを設け
ると共に、このコリメータを光軸と直角方向へ移動させ
かつスリット位置を回転中心とした回転が可能な装置を
備え、スリット像の検知部にはエリア型CCDを備えて
いるため、大きな測定画角が得られると共に、測定誤差
を最小限に抑えることが可能となる。また、視野角を変
えたときのスリット像の位置合わせを簡単にすることが
可能となる。さらに、T、R方向を切り換えた際の偏心
によっても像が消えたりすることがなくなり、位置調整
が簡単となり、測定作業の効率化を図ることが可能とな
る。
According to the present invention, a collimator having a slit as a light source is provided for setting the object device of the lens to be inspected, and the collimator is moved in the direction perpendicular to the optical axis and the slit position is set as the rotation center. Since a device capable of rotating is provided and an area type CCD is provided in the slit image detecting portion, a large measurement angle of view can be obtained and measurement error can be minimized. Further, it becomes possible to simplify the alignment of the slit image when the viewing angle is changed. Further, the image does not disappear due to the eccentricity when the T and R directions are switched, the position adjustment becomes easy, and the efficiency of the measurement work can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明にかかるアフォーカル光学系の測定装置
の実施の形態を示す断面図。
FIG. 1 is a sectional view showing an embodiment of a measuring apparatus for an afocal optical system according to the present invention.

【図2】上記フォーカル光学系の測定装置によるピンホ
ール像の検出方法を示す図。
FIG. 2 is a diagram showing a method of detecting a pinhole image by the measuring device of the focal optical system.

【図3】従来のアフォーカル光学系の測定装置の実施の
形態を示す断面図。
FIG. 3 is a sectional view showing an embodiment of a conventional measuring apparatus for an afocal optical system.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 カメラのファインダー、テレスコープ、
オペラグラス等に使用されるアフォーカル光学系の像性
能を定量的に測定するアフォーカル光学系の測定装置で
あって、 被検レンズの物体位置を設定する為にスリットを光源と
したコリメータを設けると共に、このコリメータを光軸
と直角方向へ移動させ、かつ、スリット位置を回転中心
とした回転が可能な装置を備え、 スリット像の検知部にエリア型CCDを備えていること
を特徴とするアフォーカル光学系の測定装置。
1. A viewfinder for a camera, a telescope,
An afocal optical system measuring device that quantitatively measures the image performance of an afocal optical system used in opera glasses, etc., and is provided with a collimator using a slit as a light source to set the object position of the lens under test. At the same time, this collimator is provided with a device capable of moving in a direction perpendicular to the optical axis and rotating about the slit position as a rotation center, and an area type CCD is provided in the slit image detecting portion. Focal optics measuring device.
【請求項2】 上記エリア型CCDの受像面に於けるス
リット像をモニター上に表示し光軸合わせがなされるこ
とを特徴とする請求項1記載のアフォーカル光学系の測
定装置。
2. The measuring device for an afocal optical system according to claim 1, wherein a slit image on the image receiving surface of the area type CCD is displayed on a monitor to align the optical axes.
【請求項3】 上記コリメータに設けたスリットの代わ
りにピンホールを用いた光源部と、受光部にエリア型C
CDを用いたことを特徴とする請求項1記載のアフォー
カル光学系の測定装置。
3. A light source section using a pinhole instead of the slit provided in the collimator, and an area type C in the light receiving section.
The measuring device for an afocal optical system according to claim 1, wherein a CD is used.
【請求項4】 上記ピンホールを備えたコリメータと、
エリア型CCDを用い、ピンホール像のCCD出力値か
ら任意の方向のアフォーカル光学系の像性能値を算出す
ることを特徴とする請求項3記載のアフォーカル光学系
の測定装置。
4. A collimator having the pinhole,
4. The apparatus for measuring an afocal optical system according to claim 3, wherein an area type CCD is used to calculate the image performance value of the afocal optical system in an arbitrary direction from the CCD output value of the pinhole image.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20230375410A1 (en) * 2022-05-20 2023-11-23 Facebook Technologies, Llc Apparatuses and systems for optical element measurements

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US20230375410A1 (en) * 2022-05-20 2023-11-23 Facebook Technologies, Llc Apparatuses and systems for optical element measurements

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