JPH09180284A - 光ヘッド - Google Patents

光ヘッド

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JPH09180284A
JPH09180284A JP7342992A JP34299295A JPH09180284A JP H09180284 A JPH09180284 A JP H09180284A JP 7342992 A JP7342992 A JP 7342992A JP 34299295 A JP34299295 A JP 34299295A JP H09180284 A JPH09180284 A JP H09180284A
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JP
Japan
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prism
crystal prism
substrate
light
optical
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Withdrawn
Application number
JP7342992A
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English (en)
Inventor
Toshiaki Suzuki
稔明 鈴木
Nobuyoshi Iwasaki
暢喜 岩崎
Hikari Hayashi
光 林
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Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、レーザーチップのサブマウントを
廃止し、低コストで組み立ての容易な光ヘッドを提供す
る。 【解決手段】 レーザチップ1と、該レーザチップ1の
出射光を反射する第1面を有する結晶プリズム2と、該
結晶プリズム2の第1面に設けた偏光膜と、該偏光膜で
反射されるレーザチップ1からの出射光を光ディスクに
スポット光として照射する集光手段と、光ディスクで反
射され、集光手段を経て偏光膜を透過し、結晶プリズム
2の第1面を屈折透過して、結晶プリズム2の複屈折作
用にて偏光分離した戻り光を光磁気信号として検出する
ホトダイオード4とを有する光ヘッドにおいて、結晶プ
リズム2に、内部の戻り光を反射する第2面を設け、こ
の第2面と結晶プリズム2を挟んで相対する位置にホト
ダイオード4を設置した基板3を配置し、この基板3上
に前記レーザチップ1レーザを配置したものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術の分野】本発明は、光ヘッドに関
し、さらに詳しくは、光磁気ディスクのような光磁気記
録媒体に対して情報を読み書きする光ヘッドの光学系に
関する。
【0002】
【従来の技術】この種の光ヘッドについては、従来、図
12に示す構成のものが提案されている。図12に示す
光ヘッドは、サブマウント37上に設置された半導体レ
ーザーチップ31より出射されるレーザー光を、プリズ
ム32の面32aで反射して、ホログラム38、対物レ
ンズ39を経て光ディスク35に照射し、光ディスク3
5の表面で反射した戻り光を、今度はプリズム32内を
透過させて、プリズム32の底部に設けた基板36上の
ホトダイオード36aで受光することにより、光ディス
ク35の磁気記録内容を電気信号として読み出すもので
ある。
【0003】前記レーザーチップ31からの出射光を反
射し、光ディスク35からの戻り光を選択的に透過する
ように、前記面32aには偏光膜(図示省略)を設けて
いる。又、プリズム32は、ニオブ酸リチウム等の結晶
で形成されており、その複屈折作用により戻り光は常光
と異常光の2つに偏光分離して、ホトダイオード36a
で受光される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図12
から明らかなように、従来の構成では基板36とは別体
のサブマウント37が必要である。このサブマウンド3
7はレーザーチップ31の高さを正確に位置させる為、
極めて高精度に造られている。又、その材質は、レーザ
ーチップ31の熱による膨張が小さく、放熱を促す特殊
な材質である。従って、サブマウンド37は高価な部品
である。
【0005】更に、基板36とサブマウント37は別体
であるので、組み立ての際にその組付け位置を調整する
という手間が必要である。このように、従来の光ヘッド
においては、サブマウント37の部品コストと組み立て
の手間がかかるという課題がある。
【0006】そこで、本発明は、レーザーチップのサブ
マウントを廃止し、光検出器と同一基板上にレーザー光
源を直付けする構成とし、低コストで組み立ての容易な
光ヘッドの提供を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
レーザ光源と、該レーザ光源の出射光を反射する第1面
を有する結晶プリズムと、該結晶プリズムの第1面に設
けた偏光膜と、該偏光膜で反射されるレーザ光源からの
出射光を光磁気記録媒体にスポット光として照射する集
光手段と、前記光磁気記録媒体で反射され、前記集光手
段を経て前記偏光膜を透過し、前記結晶プリズムの第1
面を屈折透過して、前記結晶プリズムの複屈折作用にて
偏光分離した戻り光を光磁気信号として検出する光検出
器とを有する光ヘッドにおいて、前記結晶プリズムに、
内部の戻り光を反射する第2面を設け、この第2面と前
記結晶プリズムを挟んで相対する位置に前記光検出器を
設置した基板を配置し、この基板上に前記レーザ光源を
配置したことを特徴とするものである。
【0008】請求項2記載の発明は、レーザ光源と、該
レーザ光源の出射光を反射する第1面を有する結晶プリ
ズムと、該結晶プリズムの第1面に設けた偏光膜と、該
偏光膜で反射されるレーザ光源からの出射光を光磁気記
録媒体にスポット光として照射する集光手段と、前記光
磁気記録媒体で反射され、前記集光手段を経て前記偏光
膜を透過し、前記結晶プリズムの第1面を屈折透過し
て、前記結晶プリズムの複屈折作用にて偏光分離した戻
り光を光磁気信号として検出する光検出器とを有する光
ヘッドにおいて、前記結晶プリズムに接合され、この結
晶プリズムを透過した戻り光をこの結晶プリズム側に反
射する小プリズムを設けるとともに、この小プリズムと
前記結晶プリズムを挟んで相対する位置に前記光検出器
を設置した基板を配置し、この基板上に前記レーザ光源
を配置したことを特徴とするものである。
【0009】以下に、本発明をさらに詳細に説明する。
請求項1記載の発明の光ヘッドの構成では、図1に示す
ように、結晶プリズム2の面2aを屈折透過した光磁気
記録媒体からの戻り光が、反射面2bで反射して光路
a、光路bを経て対面の基板3に向かうので、戻り光を
基板3上の一対の光検出器であるホトダイオード4で受
光できる。
【0010】従って、図1に示すように、基板3を光軸
Oと平行(若しくは近平行)に配置できるので、レーザ
ー光の反射点2cに対応する位置にレーザー光源である
レーザーチップ1を配置するよう基板3の長さLを任意
に設定できる。これにより、サブマウントを用いること
なく、基板3上にレーザーチップ1を直に設置すること
が可能である。
【0011】請求項2記載の発明は、図2に示すよう
に、結晶プリズム2の面2aを屈折透過した光磁気記録
媒体からの戻り光は、面2bを経て、これに接合された
小プリズム5の面5aで反射され、結晶プリズム2を光
路a、光路bを経て透過して対面の基板3に向かうの
で、戻り光を基板3上の一対の光検出器であるホトダイ
オード4で受光できる。従って、やはり、基板3を光軸
と平行(若しくは近平行)に配置でき、レーザー光の反
射点2cに対応する位置にレーザー光源であるレーザー
チップ1を配置するよう基板3の長さLを任意に設定で
きる。これにより、サブマウントを用いることなく、基
板3上にレーザーチップ1を直に設置することが可能で
ある。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を詳細
に説明する。
【0013】(実施の形態1) [構成]図3乃至図10を参照して、本発明の実施の形
態1の光ヘッドについて説明する。尚、図3中、(a)
は実施の形態1の光ヘッドの概略構成を示し、(b)は
実施の形態1の光ヘッドの概略斜視図である。
【0014】実施の形態1の光ヘッドは、図3(a),
(b)に示すように、レーザー光源である半導体レーザ
ーチップ11と、これを設置する基板13と、基板13
に接着された結晶プリズム12と、結晶プリズム12の
図3(a)において上方の位置に配置したホログラム素
子16と、対物レンズ(図示省略)とを有している。
【0015】前記半導体レーザーチップ1は、波長68
5nmのレーザー光を発振するものを使用している。ま
た、前記基板13には、半導体レーザーチップ11から
の出射光を反射するミラー14aと、MO信号(磁気光
信号)検出用の光検出器であるホトダイオード14b
と、ミラー14aの両脇の段部に積載したフォーカスエ
ラー信号検出用の光検出器であるホトダーオード14c
とを有している。
【0016】前記基板13は、Siウェハーを使用し、
前記ミラー14a、ホトダイオード14b、ホトダーオ
ード14cの各部品は、フォトリソグラフィーとエッチ
ングといった公知の半導体プロセスで作成している。ま
た、前記結晶プリズム12は、複屈折現象を生ずるニオ
ブ酸リチウムの結晶にて作成され、図示してないがレー
ザーチップ11からの出射光を反射し、光磁気記録媒体
である光ディスクからの戻り光を透過させる為、前記結
晶プリズム12の面12aに偏光膜を蒸着している。
【0017】前記結晶プリズム12の結晶を透過する光
は、常光と異常光に分離するが、面12bに至る光路で
の分離ができるだけ大きく、かつ、面12bで反射後の
光路での分離は小さく、さらに、フォトダイオード14
bで受光される光量ができるだけ等しくなるよう結晶の
光学軸の方向を設定している。
【0018】本実施の形態1の場合、前記結晶プリズム
12の光学軸(図4、図5において両端に矢印を付して
示す。)の方向は、図4に示すように、光軸Oに対して
69度の角度をもち、また、図5に示すように、基板1
3に向かう方向に対して33.8度傾むくように設定し
ている。
【0019】前記結晶プリズム12の形状は、面12a
を屈折透過した戻り光が、図3に示すごとく結晶プリズ
ム12の面12bで全反射し、かつ、結晶プリズム12
と基板13の接合面を透過するよう、この面12bを傾
けて形成している。即ち、本実施の形態1の場合、面1
2aは、戻り光に対して45度をなすように形成し、面
12aと面12bのなす頂角を25度としている。又、
結晶プリズム12と基板13の接合面12cに施した屈
折率1.52の接着層にて、全反射が起こらないよう面
12aと面12cのなす角は135度とした。
【0020】[作用]上述した光ヘッドの作用を以下に
説明する。前記基板13に直付けされたレーザーチップ
11からの出射光は、基板13に形成されたミラー14
aで反射して結晶プリズム12の面12aに向かい、更
に面12a上の偏光膜を介して反射し、ホログラム素子
16と図示しない対物レンズを経由して光ディスクに照
射され、その戻り光(反射光)が同じ光路を戻ってく
る。
【0021】この戻り光は、図6に示すように、ホログ
ラム素子16を透過する際に中心を通る0次光と両脇に
それる±1次回折光とに分割され、それぞれ結晶プリズ
ム12の面12aに入射する。面12aで反射した±1
次光は、基板13のミラー14aの両脇の段部にあるホ
トダイオード14cで受光され、フォーカスエラー信号
として利用される(ビームサイズ法)。
【0022】一方、面12aを透過した0次光は屈折
し、結晶プリズム12を構成するニオブ酸リチウム結晶
の複屈折現象により常光と異常光の2つの光に分離され
て面12bに入射するが、面12bは全反射面であるの
で、ここで反射して基板13へ向かう。このとき、それ
ぞれの光は更に2つの光に分離するが、ニオブ酸リチウ
ムの前述した光学軸の方位によりこのときの分離は小さ
いものとなる。そして、それぞれの光はやはり基板13
の上にある2個のホトダイオード14bで受光され、M
O信号として利用される。
【0023】[効果]上述したように、本実施の形態1
では、基板13を縦方向配置にして使用し、ミラー14
aを用いて前記レーザーチップ11からの出射光を結晶
プリズム12の方向に向けるようにしているので、レー
ザーチップ11を基板13に直付けすることができる。
【0024】即ち、従来、必要であったレーザーチップ
11用のサブマウントを廃止して部品点数を減らすこと
ができる。又、戻り光の一部を結晶プリズム12の面1
2aで反射させ、基板13に向かわせることにより、レ
ーザーチップ11を配置した同じ基板13上でフォーカ
スエラー信号を得ることができる。更に、結晶プリズム
12を透過する戻り光を、面12bの内面反射を利用し
て対面にある基板13に向かわせているので、やはりレ
ーザーチップ11を配置した同じ基板13でMO信号も
得ることができる。
【0025】即ち、本実施の形態1の光ヘッドによれ
ば、同一の基板13上にレーザーチップ11と、フォー
カスエラー信号検出用のホトダイオード14cと、MO
信号検出用のホトダイオード14bとを集約できるとい
う利点を有する。
【0026】次に、図7乃至図10を参照して、本実施
の形態1の変形例を説明する。図7、図8は、前記戻り
光の光路の別パターンを示すものである。図7は、結晶
プリズム12Aに入射した戻り光が、面12bで反射後
に常光と異常光に分離する場合を示すものである。
【0027】この場合は、プリズム結晶の光学軸(図
9、図10に両端に矢印を付して示す)の方向を、反射
前の光路に対して平行に設定する。例えば、前記結晶プ
リズム12と同じ材質、形状の結晶プリズム12Aを使
用する場合、光学軸は図9、図10に示したように、戻
り光の光軸Oに対して26.9度の角度にとればよい。
尚、図10は図9に示す結晶プリズム12Aを上方から
見た状態を示すものである。
【0028】図8は、偏光分離した戻り光の片方を面1
2bで結晶プリズム12B外に逃がし、もう片方のみを
反射させてホトダイオード14bに向かわせる場合であ
る。この場合、面12bの反射させる側にのみにミラー
コートを施しておくか、片側の戻り光のみ全反射するよ
うに面12bの角度を設定する。
【0029】例えば、戻り光のうちの異常光のみを全反
射するようにするには、光学軸の方向を上述した場合と
同じとした場合、結晶プリズム12Bの面12aと面1
2bのなす頂角を、図8に示すように8度となるよう面
12bを傾けて形成すれば良い。
【0030】(実施の形態2) [構成]次に、図11(a),(b)を参照して、本発
明の実施の形態2について説明する。尚、図11中、
(a)は実施の形態2の光ヘッドの概略構成を示し、
(b)は実施の形態2の光ヘッドの概略斜視図である。
この実施の形態2においては、複屈折現象を生ずる結晶
で形成された結晶プリズム12Cの基板13との対面に
当たる面12bに、非晶質の小プリズムである調整プリ
ズム22を接合しており、結晶プリズム12の面12a
を屈折透過した戻り光が、結晶プリズム12Cと調整プ
リズム22との接合面を透過し、調整プリズム22の面
22aで反射して、再び接合面を透過して、結晶プリズ
ム12Cの内部に向かうようにこの結晶プリズム12C
の面12bと調整プリズム22の面22aの傾きが形成
されていることが特徴である。
【0031】本実施の形態2では、材質と光学軸の方向
が実施の形態1と同じ結晶からなる結晶プリズム12C
を用いた。その形状は、面12aを戻り光に対して45
度の角度になるよう配置し、この面12aと面12bの
なす頂角が15度となるように形成している。前記調整
プリズム22は、BK7で製造された頂角10度のクサ
ビ型のガラスを用いている。この形状の調整プリズム2
2を用いることにより、前記した戻り光の光路が可能と
なる。この他の構成は、実施の形態1と同様である。
【0032】[作用]既述したとおり、結晶プリズム1
2Cの面12aを屈折透過した戻り光が、複屈折により
常光と異常光の2つに分離して面12bを透過し、調整
プリズム22の面22aで反射後、面12bを介してプ
リズム12Cに再入射し、前記の常光、異常光がそれぞ
れ複屈折で小さく分離して、基板13上のホトダイオー
ド14bによりMO信号として受光される。この他の構
成による作用については実施の形態1と同様である。
【0033】[効果]実施の形態2の構成によよれば、
レーザーチップ11用のサブマウントが不要で、同一の
基板13上にレーザーチップ11と、フォーカスエラー
信号検出用のホトダイオード14cとMO信号検出用の
ホトダイオード14bとを集約できるという実施の形態
1と同じ利点を有する。
【0034】又、調整プリズム22の位置を動かせば、
MO信号検出用のホトダイオード14bに入射する戻り
光の位置もずらすことが出来る。従って、まず、基板1
3と結晶プリズム12を接合し、次に、戻り光がホトダ
イオード14bに入射するように調整プリズム22の位
置を動かしつつこの調整プリズム22を接合するという
組み立て方が可能となる。
【0035】即ち、上述したような調整機構を設けたこ
とにより、結晶プリズム12の形状精度が多少悪くても
光へッドに用いることができるので、結晶プリズム12
の加工が容易になるという生産上の利点を有する。
【0036】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、以下の効
果を奏する。
【0037】請求項1記載の発明によれば、半導体レー
ザーチップ用のサブマウントが不要で、低コスト化が可
能であり、また、組み立ての簡略化も図れる光ヘッドを
提供することができる。
【0038】請求項2記載の発明によれば、半導体レー
ザーチップ用のサブマウントが不要で、低コスト化が可
能であり、また、組み立ての簡略化も図れるとともに、
結晶プリズムの形状精度が多少悪くても光ヘッドに使用
することができるので、結晶プリズムの加工が容易にな
るという生産上の利点を有する光ヘッドを提供すること
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の請求項1記載の発明の構成を示す構成
図である。
【図2】本発明の請求項2記載の発明の構成を示す構成
図である。
【図3】本発明の実施の形態1の光ヘッドの構成を示す
ものであり、図3(a)は概略構成図、図3(b)は概
略斜視図である。
【図4】本発明の実施の形態1における結晶プリズムの
部分側面図である。
【図5】本発明の実施の形態1における結晶プリズムの
平面図である。
【図6】本発明の実施の形態1の光ヘッドへの入射光の
光路を示す説明図である。
【図7】本発明の実施の形態1の光ヘッドにおける入射
光の光路の別パターンを示す説明図である。
【図8】本発明の実施の形態1の光ヘッドにおける入射
光の光路のさらに別パターンを示す説明図である。
【図9】図7に示す入射光の光路を生じさせる結晶プリ
ズムの光軸の方向を示す説明図である。
【図10】図7に示す入射光の光路を生じさせる結晶プ
リズムの光軸の方向を示す説明図である。
【図11】本発明の実施の形態2の光ヘッドの構成を示
すものであり、図11(a)は概略構成図、図11
(b)は概略斜視図である。
【図12】従来の光ヘッドの構成を示す概略構成図であ
る。
【符号の説明】
1 レーザチップ 2 結晶プリズム 3 基板 4 ホトダイオード 5 小プリズム 11 レーザチップ 12 結晶プリズム 13 基板 14a ホトダイオード 14b ホトダイオード 15 調整プリズム 16 ホログラム素子

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ光源と、該レーザ光源の出射光を
    反射する第1面を有する結晶プリズムと、該結晶プリズ
    ムの第1面に設けた偏光膜と、該偏光膜で反射されるレ
    ーザ光源からの出射光を光磁気記録媒体にスポット光と
    して照射する集光手段と、前記光磁気記録媒体で反射さ
    れ、前記集光手段を経て前記偏光膜を透過し、前記結晶
    プリズムの第1面を屈折透過して、前記結晶プリズムの
    複屈折作用にて偏光分離した戻り光を光磁気信号として
    検出する光検出器とを有する光ヘッドにおいて、 前記結晶プリズムに、内部の戻り光を反射する第2面を
    設け、この第2面と前記結晶プリズムを挟んで相対する
    位置に前記光検出器を設置した基板を配置し、この基板
    上に前記レーザ光源を配置したことを特徴とする光ヘッ
    ド。
  2. 【請求項2】 レーザ光源と、該レーザ光源の出射光を
    反射する第1面を有する結晶プリズムと、該結晶プリズ
    ムの第1面に設けた偏光膜と、該偏光膜で反射されるレ
    ーザ光源からの出射光を光磁気記録媒体にスポット光と
    して照射する集光手段と、前記光磁気記録媒体で反射さ
    れ、前記集光手段を経て前記偏光膜を透過し、前記結晶
    プリズムの第1面を屈折透過して、前記結晶プリズムの
    複屈折作用にて偏光分離した戻り光を光磁気信号として
    検出する光検出器とを有する光ヘッドにおいて、 前記結晶プリズムに接合され、この結晶プリズムを透過
    した戻り光をこの結晶プリズム側に反射する小プリズム
    を設けるとともに、この小プリズムと前記結晶プリズム
    を挟んで相対する位置に前記光検出器を設置した基板を
    配置し、この基板上に前記レーザ光源を配置したことを
    特徴とする光ヘッド。
JP7342992A 1995-12-28 1995-12-28 光ヘッド Withdrawn JPH09180284A (ja)

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