JPH09178632A - 低温ねじり試験機 - Google Patents

低温ねじり試験機

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Publication number
JPH09178632A
JPH09178632A JP35131995A JP35131995A JPH09178632A JP H09178632 A JPH09178632 A JP H09178632A JP 35131995 A JP35131995 A JP 35131995A JP 35131995 A JP35131995 A JP 35131995A JP H09178632 A JPH09178632 A JP H09178632A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rack
racks
upper rack
test piece
supported
Prior art date
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Pending
Application number
JP35131995A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatsugu Furugaki
正嗣 古垣
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Original Assignee
Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd filed Critical Toyo Seiki Seisaku-sho Ltd
Priority to JP35131995A priority Critical patent/JPH09178632A/ja
Publication of JPH09178632A publication Critical patent/JPH09178632A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 作業性の悪さを改良して、奥にある試験片又
はワイヤを楽な作業により容易に交換あるいは取り付け
取り外し作業ができるようにする。 【解決手段】 上部ラック、中間ラック及び最下ラック
を有し、これらラックを支柱により連結一体化して設
け、最下ラックに複数の試験片をつかむ複数のつかみ具
を固定し、中間ラックを恒温槽上に載置するようにし、
上部ラックに複数のワイヤの上部固定具を回動可能に支
持し、下方の夫々のワイヤ固定具と上方の夫々の試験片
つかみ具との間を夫々継手軸によって連結した低温ねじ
り試験機であって、上記上部ラックを支持枠に載置支持
して上昇,下降可能とし、上部ラックを支持枠に対して
回動可能に支持して上部ラックの向きを変更できるよう
にしてある。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、加硫ゴムの低温に
おける柔軟性を評価する低温ねじり試験機に関し、特に
複数の試験片を同時に試験する低温ねじり試験機に関す
る。
【0002】
【従来の技術】低温ねじり試験機は、ワイヤを介して試
験片をねじるねじり装置、ねじりワイヤ、試験片を保持
する試験片ラック及び試験片を一定の温度に保つ恒温槽
を主な構成とする装置で公知である。そして上記ねじり
装置は、垂直に取り付けられたねじりワイヤの上端を、
ワイヤに対して直角な平面内で180度回転できる上部
ヘッド及びワイヤの下端と連結したねじれ角の読み取り
装置とを備える構造のもので、ねじれ角の読み取り装置
は、摩擦抵抗が小さくて角度が1度まで読み取れるもの
でなければならないとされる。また、ねじりワイヤは6
5±8mmのものでJIS規格でねじり定数が規定され
た3種のワイヤが用いられる。さらに、試験片ラック
は、熱伝導率の小さい材質で、試験片を伝熱媒体中に垂
直に保持することができるものを用い、試験片をつかむ
上下つかみ具のうち、下部つかみ具は固定ラックに固定
し、上部つかみ具は試験片とねじりワイヤとの連結を継
手軸を介して行うものである。そして従前から複数の試
験片を同時に試験することができる低温ねじり試験機も
公知である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】従来公知の複数の試験
片を試験する低温ねじり試験機は、夫々の試験片をつか
むつかみ具を夫々各別に設け、夫々上方のつかみ具に連
結した継手軸上に夫々ワイヤを連結していた。そしてこ
の複数の試験片をねじり試験する試験機は、外箱に収め
られ、前方の扉を開放することによって、試験片の交
換、ワイヤの交換作業を行うようにしていた。この試験
片の交換及びワイヤの交換作業は、前方に位置付けられ
た試験片又はワイヤの交換作業は通常楽に行えるが、後
方に位置する試験片又はワイヤの交換作業は、奥の方に
手を差し入れて作業しなければならず、きわめて作業性
が悪いという問題点があった。本発明は、この作業性の
悪さを改良して、奥にある試験片又はワイヤを楽な作業
により容易に交換あるいは取り付け取り外し作業ができ
るようにすることを目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】この目的のため、本発明
では、上部ラック、中間ラック及び最下ラックを有し、
これらラックを支柱により連結一体化して設け、最下ラ
ックに複数の試験片をつかむ複数のつかみ具を固定し、
中間ラックを恒温槽上に載置するようにし、上部ラック
に複数のワイヤの上部固定具を回動可能に支持し、下方
の夫々のワイヤ固定具と上方の夫々の試験片つかみ具と
の間を夫々継手軸によって連結した低温ねじり試験機で
あって、上記上部ラックを支持枠に載置支持して上昇,
下降可能とし、上部ラックを支持枠に対して回動可能に
支持して上部ラックの向きを変更できるようにしてある
ことを特徴とする。
【0005】
【発明の実施の形態】以下図面に沿って本発明低温ねじ
り試験機の詳細を説明する。図中1が試験片で、JIS
規格に定められているのは、幅3.0mm、厚さ2.0
mm、長さ40mmの短冊状のものである。該試験片を
ねじり試験するため、試験片1を垂直状態でその上下端
をつかむつかみ具2,2を有し、下のつかみ具2を最下
ラック3上に固定してある。図示した実施例は4本の試
験片1を同時に試験する試験機で、最下ラック3上に4
ケのつかみ具2が固定してある。この最下ラック3上に
支柱4,4によって連結された中間ラック5を有し、こ
の中間ラック5を恒温槽19上に載置支持するようにし
てある。さらに、この中間ラック5の上に別の中間ラッ
ク6を支柱7,7によって連結し、この中間ラック6に
後述する継手軸を図示しないベアリングを介して軸支持
させてある。さらに、この中間ラック6の上に上部ラッ
ク8を支柱9,9によって連結し、この上部ラック8に
ワイヤを取り付ける上部固定具を回転可能に軸支支持し
てある。図示した実施例は4ケの固定具が支持されてい
る。
【0006】図中10,10がワイヤで焼き入れしたス
プリングワイヤであり、長さが65±8mmのものであ
り、ねじり定数が3種類のものがある。このワイヤ10
は垂直状態に支持され、その上端を着脱自在に取り付け
る上部の固定具11,11と、下端を同じく着脱自在に
取り付ける下部の固定具11,11を有する。そして上
記上部の固定具11,11は、上部ラック8に軸支さ
れ、該上部ラック上に設けた駆動モータ12の駆動歯車
13に連繋した歯車14の中心に固定してある。
【0007】上記ワイヤ10の下端用の固定具11に
は、夫々継手軸20,20が連結してあり、この継手軸
20の下端に、試験片のための上方のつかみ具2が連結
してある。上記したように、中間ラック5が恒温槽19
上に載置支持されるが、さらにラック機構全体は上記ラ
ック8を支持枠15上に載置支持することにより支持さ
れる。図示した実施例では、この上部ラック8が円板か
らなり、支持枠15は不動の支柱(図示せず)に上昇,
下降可能に支持されており、図3に示すように長方形状
をし、その中央に透孔16が形成されている。支持枠1
5には、立ち上がり部17を有し、この立ち上がり部1
7に止めネジ18をねじ込んであり、この止めネジ18
を上部ラック8の周縁側部の定まった位置に止めること
により、上部ラック8が定まった位置に位置止めされる
ようにしてある。。
【0008】図1に示した状態が、上部ラック8が定ま
った位置に載置され、試験片1が恒温槽19中に収めら
れ、ねじり試験が行われる状態にある。そこで、ワイヤ
10又は試験片1を取り付け、あるいは取り外し等して
交換する際には、支持枠15を上昇させて図2に示すよ
うにすべての連結されたラックを上昇し、止めネジ18
を緩めて、上部ラック8を移動できるようにして取り替
え作業を行う。そして奥にある試験片1又はワイヤ10
を交換するためには、持ち上げた各ラック全体を水平方
向に90度回動すれば、奥の試験片1又はワイヤ10が
前方に表れる。従ってこの前方に表れた状態で試験片又
はワイヤを交換すればよい。
【0009】
【発明の効果】叙上のように本発明低温ねじり試験機に
よれば、全ラックを持ち上げて回動できるように上部ラ
ックを支持枠に載置支持してあるから、奥にある試験片
又はワイヤを前方に位置替えして交換作業ができ、作業
を楽に且つ容易に行うことができる効果を有する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明低温ねじり試験機の要部を示す断面正面
図。
【図2】全てのラックを持ち上げた状態を示す断面正面
図。
【図3】要部の平面図。
【符号の説明】
1 試験片 2 つかみ具 3 最下ラック 4 支柱 5 中間ラック 6 中間ラック 7 支柱 8 上部ラック 9 支柱 10 ワイヤ 11 固定具 12 駆動モータ 13 駆動歯車 14 歯車 15 支持枠 16 透孔 17 立ち上がり部 18 止めネジ 19 恒温槽 20 継手軸

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 上部ラック、中間ラック及び最下ラック
    を有し、これらラックを支柱により連結一体化して設
    け、最下ラックに複数の試験片をつかむ複数のつかみ具
    を固定し、中間ラックを恒温槽上に載置するようにし、
    上部ラックに複数のワイヤの上部固定具を回動可能に支
    持し、下方の夫々のワイヤ固定具と上方の夫々の試験片
    つかみ具との間を夫々継手軸によって連結した低温ねじ
    り試験機であって、上記上部ラックを支持枠に載置支持
    して上昇,下降可能とし、上部ラックに対して回動可能
    に支持して上部ラックの向きを変更できるようにしてあ
    ることを特徴とする低温ねじり試験機。
JP35131995A 1995-12-27 1995-12-27 低温ねじり試験機 Pending JPH09178632A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP35131995A JPH09178632A (ja) 1995-12-27 1995-12-27 低温ねじり試験機

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JP35131995A JPH09178632A (ja) 1995-12-27 1995-12-27 低温ねじり試験機

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09178632A true JPH09178632A (ja) 1997-07-11

Family

ID=18416504

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35131995A Pending JPH09178632A (ja) 1995-12-27 1995-12-27 低温ねじり試験機

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JP (1) JPH09178632A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6493952B1 (en) 1998-03-11 2002-12-17 Hilti Aktiengesellschaft Measuring device subjected to gravitational forces and having a pendulous suspension
CN102914467A (zh) * 2012-09-28 2013-02-06 深圳市宏之都科技有限公司 线材弯曲试验机的线材夹具

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US6493952B1 (en) 1998-03-11 2002-12-17 Hilti Aktiengesellschaft Measuring device subjected to gravitational forces and having a pendulous suspension
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