JPH09113536A - Probe to inspect substrate - Google Patents

Probe to inspect substrate

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JPH09113536A
JPH09113536A JP7294891A JP29489195A JPH09113536A JP H09113536 A JPH09113536 A JP H09113536A JP 7294891 A JP7294891 A JP 7294891A JP 29489195 A JP29489195 A JP 29489195A JP H09113536 A JPH09113536 A JP H09113536A
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probe
contact
auxiliary
rear end
contactor
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Yasuumi Nakajima
康海 中島
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Hioki EE Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To partially replace it when a comparatively soft contact is abraded. SOLUTION: A probe 11 to inspect a substrate is dividedly constituted into a main probe part 12 held by a barrel part 15 by projecting a sharp contact part 14 and a rear end part 13a of a contact 13 and an auxiliary probe part 18 having a pressing member 19 to be electrically connected to the contact 13 of this main probe part 12 by always energizing pressing force from the side of the rear end part 13a. In these main probe part 12 and auxiliary probe part 18, fixing arrangement to a raising-lowering part is freely formed by holding the positional relationship in which pressing force from the pressing member 19 is applied to the contact 13 by an interposing member, and the side of the main probe part 12 is made partially replaceable.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は基板検査用プローブ
に係り、さらに詳しくは、インサーキットテスタなどの
基板検査機に用いられるプローブを構成している接触子
の側を部分的に交換するのみで再使用でき、かつ、前記
接触子に対し簡単な構造のもとで押圧力を付勢すること
もできるようにした基板検査用プローブに関するもので
ある。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe for inspecting a substrate, and more particularly to a probe used in a substrate inspecting machine such as an in-circuit tester, in which the contactor side is partially replaced. The present invention relates to a probe for inspecting a substrate, which can be reused and can apply a pressing force to the contactor with a simple structure.

【0002】[0002]

【従来の技術】インサーキットテスタなどの基板検査機
は、水平方向に定置される被検査基板に対し、その上方
にてX−Y方向への移動を自在に配設された可動アーム
部を備えている。しかも、この可動アーム部は、前記被
検査基板上の被検査部位に対しZ軸方向での移動、つま
り昇降移動を自在とした昇降部を備えており、この昇降
部に介装部材を介して取り付けられた基板検査用プロー
ブを用いて被検査部位の電気的特性を検査することがで
きるようになっている。
2. Description of the Related Art A substrate inspection machine such as an in-circuit tester is provided with a movable arm portion which is arranged above a substrate to be inspected horizontally and which is movable in XY directions above the substrate. ing. In addition, the movable arm portion is provided with an elevating portion that can move in the Z-axis direction, that is, ascend / descend with respect to the portion to be inspected on the inspected substrate. The attached board inspection probe can be used to inspect the electrical characteristics of the portion to be inspected.

【0003】図7は、前記基板検査用プローブについて
の従来構造の一例を示すものであり、この場合、被検査
基板の被検査部位に接触させる接触子2と、この接触子
2を軸方向での進退を自在に保持するバレル部3と、こ
のバレル部3と前記接触子2との間に介装されて接触子
3の側を常時突出方向へと付勢する圧縮コイルスプリン
グ材4と、前記バレル部3を抱持して基板検査機の前記
昇降部の側に固定される絶縁性スリーブ5とで基板検査
用プローブ1の全体が構成されている。
FIG. 7 shows an example of a conventional structure for the board inspection probe. In this case, a contactor 2 for contacting an inspected portion of a board to be inspected and the contactor 2 in the axial direction. And a compression coil spring member 4 which is interposed between the barrel portion 3 and the contactor 2 and constantly urges the contactor 3 side in the protruding direction. The entire substrate inspection probe 1 is configured with an insulating sleeve 5 that holds the barrel portion 3 and is fixed to the side of the elevating portion of the substrate inspection machine.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】ところで、図7に示す
基板検査用プローブ1によっても被検査基板に対し必要
な電気的な特性の検査を行なうことはできる。
By the way, the board inspection probe 1 shown in FIG. 7 can also inspect the board to be inspected for necessary electrical characteristics.

【0005】しかし、上記基板検査用プローブ1を構成
している接触子2は、これに介装配置される前記圧縮ス
プリング材4を装着するために必要な段差部2aを切削
加工して形成しておく必要がある。このため、前記接触
子2は、比較的加工性のよい軟質な導電性金属材が用い
られることになり、摩耗しやすいという不都合があっ
た。
However, the contactor 2 which constitutes the probe 1 for board inspection is formed by cutting the step portion 2a necessary for mounting the compression spring material 4 interposed therein. Need to be kept. Therefore, the contactor 2 is made of a soft conductive metal material having relatively good workability, which is disadvantageous in that it is easily worn.

【0006】一方、上記基板検査用プローブ1は、その
全体が一体化された構造となっているため、ある一部の
みを部分的に取り替えるということができず、接触子2
が摩耗した際にはその全体を他の記基板検査用プローブ
と交換する必要があり、結果的に保守コストを引き上げ
る不都合があった。
On the other hand, since the substrate inspection probe 1 has a structure in which the whole is integrated, it is not possible to partially replace a part of the probe 1, and the contact 2
When it is worn, it is necessary to replace the whole with another probe for inspecting the printed circuit board, resulting in an inconvenience of raising the maintenance cost.

【0007】しかも、前記基板検査用プローブ1を他の
ものと交換するに際しては、もとの接触子2に半田付け
して接続されているリード線6を取り外し、交換後の新
しい基板検査用プローブの接触子に改めて付け直す必要
があることから、それだけ基板検査用プローブ1の交換
作業も煩雑化し、作業性を低下させてしまう不具合もあ
った。
Moreover, when replacing the board inspection probe 1 with another one, the lead wire 6 which is soldered to the original contact 2 and connected is removed, and a new board inspection probe after replacement is used. Since it is necessary to reattach it to the contactor, the work of exchanging the board inspection probe 1 is complicated and the workability is deteriorated.

【0008】本発明は従来技術にみられた上記課題に鑑
み、基板検査用プローブを二分割構造にして接触子の側
のみを部分的に交換できるようにした基板検査用プロー
ブを提供することにその目的がある。
In view of the above problems of the prior art, the present invention provides a substrate inspection probe in which the substrate inspection probe is divided into two parts so that only the contact side can be partially replaced. Has that purpose.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
しようとするものであり、その構成上の特徴は、X−Y
方向への移動を自在に基板検査機に配設された可動アー
ム部が備える昇降部に介装部材を介して固定され、か
つ、突出方向への付勢力を有して軸方向での進退を自在
にバレル部に保持させた接触子を介して実装基板の所定
部位の電気的特性を検査する基板検査用プローブにおい
て、該基板検査用プローブは、前記接触子をその先鋭接
触部と後端部とを突出させてバレル部に保持させた主プ
ローブ部と、この主プローブ部の前記接触子に対し後端
部の側から常時押圧力を付勢して電気的に接続する押圧
部材を備える補助プローブ部とに分割構成し、これら主
プローブ部と補助プローブ部とは、前記介装部材により
前記押圧部材からの押圧力が前記接触子に付与される位
置関係を保持させて前記昇降部への固定配置を自在とし
たことにある。
DISCLOSURE OF THE INVENTION The present invention is intended to achieve the above object, and the structural features thereof are XY
The movable arm is mounted on the board inspection machine so that it can move freely in any direction. It is fixed through an interposition member to the movable arm, and has a biasing force in the protruding direction to move it back and forth in the axial direction. In a board inspection probe for inspecting the electrical characteristics of a predetermined portion of a mounting board through a contact freely held in a barrel, the board inspection probe includes the contact and a sharp contact portion and a rear end portion of the contact. And a main probe part that is held in the barrel part and is supported by a pressing member that constantly applies a pressing force to the contact of the main probe part from the rear end side to electrically connect the contact part. The probe portion is divided into the main probe portion and the auxiliary probe portion. The fixed arrangement is free.

【0010】この場合、前記補助プローブ部は、請求項
2に記載のごとく、主プローブ部が備える前記接触子に
対しその後端面の側からの押圧が自在な前記押圧部材と
しての補助接触子を軸方向での進退を自在にバレル部に
保持させて形成するとともに、前記補助接触子が備える
押圧力は、前記バレル部にその一端部を、該バレル部か
ら突出させた前記補助接触子の後端部に他端部を固定さ
せて介装配置される引張コイルスプリング材を介して付
与するものであってもよい。
In this case, the auxiliary probe portion has an auxiliary contactor as the pressing member, which can be pressed from the rear end face side with respect to the contactor provided in the main probe portion. Is formed by allowing the barrel portion to freely move back and forth in the direction, and the pressing force of the auxiliary contactor is such that the one end portion of the auxiliary contactor is the rear end of the auxiliary contactor protruding from the barrel portion. The other end may be fixed to the portion and the tension may be applied via a tension coil spring material.

【0011】また、前記補助プローブ部が備える押圧部
材は、請求項3に記載のごとく、主プローブ部における
前記接触子に対しその後端方向からの押圧を自在とした
圧縮コイルスプリング材により形成し、該圧縮コイルス
プリング材が収容される保持部にその一端を支持させ、
他端を前記接触子の後端側に当接支持させて前記接触子
に対し押圧力を付与したり、請求項4に記載のごとく、
主プローブ部における前記接触子に対しその後端方向か
らの押圧を自在としたピストン材により形成し、該ピス
トン材に付与される押圧力は、該ピストン材の押圧を自
在にバレル部内に封入された流体の圧力により形成する
ものであってもよい。
Further, the pressing member provided in the auxiliary probe section is formed of a compression coil spring material capable of freely pressing the contact in the main probe section from the rear end direction, as described in claim 3. One end of the compression coil spring material is supported by a holding portion,
The other end is brought into contact with and supported by the rear end side of the contactor to apply a pressing force to the contactor, as in claim 4,
The main probe portion is formed of a piston material that can be pressed from the rear end direction to the contactor, and the pressing force applied to the piston material is enclosed in the barrel portion so that the piston material can be pressed freely. It may be formed by the pressure of the fluid.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】図1は本発明の好ましい実施の形
態を示す説明図であり、被検査部位に接触させるための
接触子13を備える主プローブ部12と、この主プロー
ブ部12における前記接触子13に対し後端部13aの
側から常時押圧力を付勢する押圧部材19を備える補助
プローブ部18とで基板検査用プローブ11の全体が構
成されている。なお、本発明に係る基板検査用プローブ
11は、例えば図2に示すように基板検査機にX−Y方
向への移動を自在に配設される可動アーム部31が備え
る昇降部32に対し介装部材33を介して固定される。
この場合、前記昇降部32の側に固定された前記基板検
査用プローブ11は、モータ31aの回転運動により従
動するベルト31bに直結された昇降部32を介してZ
軸方向での昇降が制御されている。また、昇降部32の
側に基板検査用プローブ11を固定するための前記介装
部材33は、基板検査用プローブ11が二分割して構成
されていることに伴い、第1介装部材33aと第2介装
部材33bとに別れて昇降部32に配設されている。
FIG. 1 is an explanatory view showing a preferred embodiment of the present invention, in which a main probe portion 12 having a contactor 13 for contacting a portion to be inspected and the main probe portion 12 described above. The entire board inspection probe 11 is configured with an auxiliary probe portion 18 including a pressing member 19 that constantly applies a pressing force to the contactor 13 from the rear end portion 13a side. It should be noted that the board inspection probe 11 according to the present invention is, for example, as shown in FIG. It is fixed via the mounting member 33.
In this case, the board inspection probe 11 fixed on the side of the elevating part 32 is moved to the Z direction via the elevating part 32 directly connected to the belt 31b driven by the rotational movement of the motor 31a.
The vertical movement is controlled. Further, the interposition member 33 for fixing the board inspection probe 11 on the side of the elevating part 32 is different from the first interposition member 33a in that the board inspection probe 11 is divided into two parts. It is arranged in the elevating part 32 separately from the second interposition member 33b.

【0013】上記基板検査用プローブ11のうち、前記
主プローブ部12は、被検査部位に当接する先鋭接触部
14をその先端部に有する前記接触子13と、この接触
子13を軸方向での進退を自在に保持するバレル部15
と、このバレル部15を抱持して前記昇降部33の第1
介装部材34に装着する際の介装材として機能するスリ
ーブ部17とで形成されている。
Of the above board inspection probe 11, the main probe portion 12 has the contactor 13 having a sharp contact portion 14 at its tip end that abuts against a portion to be inspected, and the contactor 13 in the axial direction. Barrel part 15 that holds forward and backward freely
And holding the barrel portion 15 so that the first portion of the elevating portion 33
It is formed with the sleeve portion 17 that functions as an interposition material when it is mounted on the interposition member 34.

【0014】この場合、前記接触子13は、導電性超硬
合金や導電性ダイヤモンド材などの超硬素材により例え
ば直径が0.1〜0.2mm程度ある適宜長さの針状と
なって形成されているものを好適に用いることができ
る。
In this case, the contactor 13 is made of a superhard material such as a conductive superhard alloy or a conductive diamond material, and is formed into a needle shape having an appropriate length, for example, a diameter of about 0.1 to 0.2 mm. What has been carried out can be used conveniently.

【0015】また、前記バレル部15は、前記接触子1
3をその先鋭接触部14と後端部13aとを双方向に適
宜の長さだけ突出させて保持するステンレスパイプ材な
どの金属パイプ材からなるガイド筒により前記接触子1
3を摺動自在に保持し得る口径のもとで形成されてい
る。
Further, the barrel portion 15 includes the contactor 1.
The contactor 1 is formed by a guide tube made of a metal pipe material such as a stainless steel pipe material that holds the sharp contact portion 14 and the rear end portion 13a of the wire 3 bidirectionally by a proper length.
It is formed with a diameter capable of holding 3 slidably.

【0016】しかも、前記接触子13は、前記バレル部
15に対し抜け落ちることのないように支持させる必要
があり、具体的には、前記接触子13の後端部13aの
側に前記バレル部15の上端面と当接する適宜構造のス
トッパー16を固着することにより形成されている。
Moreover, it is necessary to support the contactor 13 with respect to the barrel portion 15 so as not to fall off. Specifically, the barrel portion 15 is provided on the rear end portion 13a side of the contactor 13. It is formed by fixing a stopper 16 of an appropriate structure that abuts the upper end surface of the.

【0017】また、前記スリーブ部17は、絶縁性合成
樹脂材などの絶縁性部材により、もしくは絶縁処理を施
した部材により形成されるものであり、しかも、前記昇
降部33が備える前記第1介装部材33aに対するアタ
ッチメントとして取着し得る適宜の構造、例えば、前記
第1介装部材33aの内周面に雌ねじ部が刻設されてい
る場合にはこれと螺合する雄ねじ部17aをその外周面
に設けるなどして形成されている。
Further, the sleeve portion 17 is formed of an insulating member such as an insulating synthetic resin material or a member that has been subjected to an insulating treatment, and moreover, the first interposition provided in the elevating unit 33. A suitable structure which can be attached as an attachment to the mounting member 33a, for example, when a female screw portion is engraved on the inner peripheral surface of the first interposing member 33a, a male screw portion 17a screwed with this is formed on the outer periphery thereof. It is formed by providing it on the surface.

【0018】一方、前記補助プローブ部18は、前記接
触子13に対しその後端面13bの側からの押圧を自在
とした押圧部材19と、この押圧部材19を軸方向での
進退を自在に保持する絶縁性のバレル部20とで構成さ
れている。
On the other hand, the auxiliary probe portion 18 holds the pressing member 19 which can press the contactor 13 from the rear end surface 13b side, and holds the pressing member 19 in the axial direction freely. It is composed of an insulating barrel portion 20.

【0019】この場合、前記押圧部材19は、例えば導
電性金属材などの導電性素材からなる適宜長さの棒状と
なった補助接触子21として形成するのが望ましい。
In this case, it is preferable that the pressing member 19 is formed as a rod-shaped auxiliary contact 21 made of a conductive material such as a conductive metal material and having an appropriate length.

【0020】また、前記押圧部材19が補助接触子21
として形成されている場合、前記バレル部20は、補助
接触子21の先端部21aと後端部21bとを双方向に
適宜の長さだけ突出させて保持するガイド筒として形成
するのが望ましい。
The pressing member 19 has an auxiliary contact 21.
When it is formed as, the barrel portion 20 is preferably formed as a guide cylinder that holds the front end portion 21a and the rear end portion 21b of the auxiliary contactor 21 by bidirectionally projecting them by an appropriate length.

【0021】この場合、前記補助接触子21と前記バレ
ル部20とは、このバレル部20の側にその一端部22
aを、前記バレル部20から突出させた前記補助接触子
21の後端部21bの側に他端部22bをそれぞれ固着
させて介装配置されている引張コイルスプリング材22
により相互に連結されている。このため、前記補助接触
子21は、先端部21aの側が押し込まれても常に元の
位置に復帰する方向での付勢力を保持した状態のもとで
前記バレル部20に支持されることになる。
In this case, the auxiliary contact 21 and the barrel portion 20 have one end 22 on the side of the barrel portion 20.
a is a tension coil spring material 22 in which the other end portion 22b is fixedly attached to the rear end portion 21b side of the auxiliary contact 21 protruding from the barrel portion 20.
Are interconnected. Therefore, the auxiliary contactor 21 is supported by the barrel portion 20 while maintaining the biasing force in the direction in which the auxiliary contactor 21 is always returned to the original position even if the tip end 21a side is pushed. .

【0022】なお、前記引張コイルスプリング材22
は、例えば図3に拡大して示すように、その一端部22
aを拡径部として前記バレル部20の後端部の周面に螺
旋状に刻設されている嵌合溝20aに嵌着し、他端部2
2bを縮径部として前記補助接触子21の後端部21b
にはんだ付けするなど、適宜の固着構造のもとで配設さ
れることになる。
The tension coil spring material 22 is used.
Is, for example, as shown in the enlarged view of FIG.
a is used as an enlarged diameter portion to be fitted into a fitting groove 20a spirally engraved on the peripheral surface of the rear end portion of the barrel portion 20, and the other end portion 2
The rear end portion 21b of the auxiliary contactor 21 has a reduced diameter portion 2b.
It is arranged under an appropriate fixing structure such as soldering.

【0023】図4は、前記補助プローブ部18について
の他例(請求項3に対応)を示す説明図であり、前記接
触子13の後端方向からその一端部23aを介して押圧
自在とした圧縮コイルスプリング材23からなる押圧部
材19と、前記圧縮コイルスプリング材23をその他端
部23bにて支持して収容すべく例えば有底筒状となっ
て形成されている保持部24でその全体が構成されてい
る。
FIG. 4 is an explanatory view showing another example (corresponding to claim 3) of the auxiliary probe portion 18, which can be pressed from the rear end direction of the contactor 13 through one end portion 23a thereof. A pressing member 19 made of a compression coil spring material 23 and a holding portion 24 formed in, for example, a bottomed cylindrical shape to support and accommodate the compression coil spring material 23 at the other end 23b are provided as a whole. It is configured.

【0024】この場合、前記圧縮コイルスプリング材2
3は、前記接触子13の外径よりもその外径がを小さく
なるように形成して前記接触子13に対しその後端面1
3bの側からの押圧を自在に配設するほか、図4に示す
ように両者間に例えば球体からなる介装導電材25を介
在させて配設するものであってもよい。
In this case, the compression coil spring material 2
3 is formed so that the outer diameter thereof is smaller than the outer diameter of the contactor 13, and the rear end surface 1 of the contactor 13 is formed.
In addition to freely arranging the pressure from the side of 3b, as shown in FIG. 4, an interposing conductive material 25 made of, for example, a sphere may be interposed between the two.

【0025】図5は、前記補助プローブ部18のさらな
る他例(請求項4に対応)を示すものであり、前記接触
子13に対しその後端面13bの側からの押圧を自在に
配設される前記押圧部材19としてのピストン材26
と、このピストン材26を介して気体や液体からなる流
体28を封入した有底筒状となったバレル部27とで形
成されている。なお、バレル部27の内周面には、封入
した流体28の圧力で前記ピストン材26が抜け出てし
まうのを阻止するためのストッパー27aが付設されて
いる。また、前記ピストン材26は、その基端部にシー
リング処理がほどこされた封止用鍔部26aが、先端部
にガイド用鍔部26bがそれぞれ設けられており、前記
封止用鍔部26aがストッパー27aと掛合するように
なっている。
FIG. 5 shows a further example (corresponding to claim 4) of the auxiliary probe portion 18, which is arranged so as to be freely pressed against the contact 13 from the rear end face 13b side. Piston material 26 as the pressing member 19
And a barrel portion 27 having a cylindrical shape with a bottom, in which a fluid 28 made of gas or liquid is enclosed via the piston material 26. A stopper 27a is attached to the inner peripheral surface of the barrel portion 27 to prevent the piston material 26 from coming off due to the pressure of the enclosed fluid 28. Further, the piston member 26 has a sealing flange portion 26a provided with a sealing treatment at a base end portion thereof, and a guide flange portion 26b provided at a distal end portion thereof, and the sealing flange portion 26a is provided. It is adapted to engage with the stopper 27a.

【0026】また、前記主プローブ部12における前記
接触子13の後端部13a(図1における一点鎖線での
囲繞部分)は、例えば図6の(イ)に示すような針先状
にしたり、同図の(ロ)に示すような鋸歯状にして形成
することにより、接触抵抗をより少なくして補助プロー
ブ部18の側と電気的に接続させるようにするものであ
ってもよい。
Further, the rear end portion 13a of the contactor 13 in the main probe portion 12 (the portion surrounded by the alternate long and short dash line in FIG. 1) may have a needle tip shape as shown in FIG. The contact resistance may be further reduced and the auxiliary probe unit 18 may be electrically connected by forming it in a sawtooth shape as shown in FIG.

【0027】本発明はこのようにして構成されているの
で、図2に示すように、主プローブ部12は前記第1介
装部材33aを介することにより、補助プローブ部18
は前記第2介装部材33bを介することにより、前記昇
降部32が備える介装部材33の側に各別に取り付けて
基板検査用プローブ11を形成することができる。
Since the present invention is constructed in this manner, as shown in FIG. 2, the main probe section 12 is provided with the first interposition member 33a so that the auxiliary probe section 18 is provided.
Can be separately mounted on the side of the interposing member 33 included in the elevating part 32 to form the substrate inspection probe 11 by interposing the second interposing member 33b.

【0028】この場合、主プローブ部12は、接触子1
3がストッパー16を介してバレル部15に掛止された
状態のもとで第1介装部材33aを介して昇降部32に
取り付けられ、補助プローブ部18は、押圧部材19が
前記接触子13をその後端面13bに密接する配置関係
のもとで第2介装部材33bを介して昇降部32に取り
付けられることになる。
In this case, the main probe portion 12 has the contactor 1.
3 is attached to the ascending / descending portion 32 via the first interposition member 33a under the state of being hooked to the barrel portion 15 via the stopper 16, and the auxiliary probe portion 18 includes the pressing member 19 and the contact member 13 Will be attached to the elevating part 32 via the second interposition member 33b under the positional relationship of closely contacting the rear end face 13b.

【0029】しかも、昇降部32を降下させて実装基板
の側に接触子13の先鋭接触部14を接触させた際に
は、引張コイルスプリング材22により付勢されている
押圧部材19の押圧力に抗して接触子13を後退させる
ことができるので、実装基板に対し密接状態を確保する
ことができるので、必要な検査を正確に行うことができ
る。
Moreover, when the elevating part 32 is lowered to bring the sharp contact part 14 of the contact 13 into contact with the mounting board side, the pressing force of the pressing member 19 urged by the tension coil spring material 22. Since the contactor 13 can be retracted against the contact, it is possible to ensure a close contact with the mounting board, and thus it is possible to accurately perform the necessary inspection.

【0030】また、主プローブ部12の前記接触子13
に付与される押圧力は、補助プローブ部18の前記押圧
部材19を介して伝達されることから、主プローブ部1
2の側にバネ材等を組み込む必要をなくして構造の簡素
化を図ることができるので、接触子13自体も難加工素
材である耐摩耗性に富む超硬素材により形成することが
できることになる。
Further, the contactor 13 of the main probe unit 12
The pressing force applied to the main probe unit 1 is transmitted through the pressing member 19 of the auxiliary probe unit 18.
Since it is possible to simplify the structure by eliminating the need to incorporate a spring material or the like on the side of 2, the contactor 13 itself can also be formed from a hard material having a high wear resistance, which is a difficult-to-process material. .

【0031】さらに、主プローブ部12は、補助プロー
ブ部18の側とは別体となって形成されているので、前
記接触子13が摩耗した場合、補助プローブ部18の側
はそのまま残し、主プローブ部12の側のみを第1介装
部材33aから取り外して交換することで対処すること
ができ、保守コストの抑制に寄与させることができる。
Further, since the main probe portion 12 is formed separately from the side of the auxiliary probe portion 18, when the contact 13 is worn, the side of the auxiliary probe portion 18 is left as it is, This can be dealt with by removing and replacing only the probe unit 12 side from the first interposition member 33a, which can contribute to the suppression of maintenance cost.

【0032】また、補助プローブ部18の側が図1と図
3とに示すように引張コイルスプリング材22を介して
補助接触子21とバレル部27とを一体化することによ
り形成されている場合には、前記第2介装部材33bを
介して昇降部32の側に極く容易に取り付けることがで
きるので、その取付け作業を効率よく行うことができ
る。
Further, in the case where the side of the auxiliary probe portion 18 is formed by integrating the auxiliary contactor 21 and the barrel portion 27 via the tension coil spring material 22 as shown in FIGS. Can be attached very easily to the side of the elevating part 32 via the second interposition member 33b, so that the attaching work can be performed efficiently.

【0033】一方、前記補助プローブ部18が請求項3
に記載のごとく、前記圧縮コイルスプリング材23によ
り形成される前記押圧部材19と、前記圧縮コイルスプ
リング材23を収容する保持部24とを少なくとも備
え、さらに、前記接触子13の後端面13bと前記圧縮
コイルスプリング材23の一端部23aとの間に前記介
装導電材25をも備えて構成されている場合には、接触
子13における前記先鋭接触部14を被検査部位に圧接
させた際に被検査部位に加えられる圧力を緩和すること
ができる。しかも、前記接触子13は、その後端面13
bに対し押圧力が常時付勢されているので、その先鋭接
触部14に突出力が付与されてより安定的に、かつ、確
実に被検査部位に接触させることもできることになる。
On the other hand, the auxiliary probe section 18 may be provided in a third aspect.
As described above, at least the pressing member 19 formed of the compression coil spring material 23 and the holding portion 24 that accommodates the compression coil spring material 23 are provided, and further, the rear end surface 13b of the contactor 13 and the When the interposed conductive material 25 is also provided between the compression coil spring material 23 and the one end portion 23a, when the sharp contact portion 14 of the contact 13 is brought into pressure contact with the site to be inspected. The pressure applied to the inspected site can be relieved. Moreover, the contact 13 has a rear end face 13
Since the pressing force is constantly applied to b, a sharp output is applied to the sharp contact portion 14 so that the sharp contact portion 14 can be more stably and surely brought into contact with the inspected portion.

【0034】また、前記補助プローブ部18が請求項4
に記載のごとく、ピストン材26により形成される前記
押圧部材19と、前記流体28を封されたバレル部27
とで形成されている場合には、前記接触子13が備える
前記先鋭接触部14を被検査部位に圧接させた際に被検
査部位に加えられる圧力を緩和することができる。しか
も、前記接触子13は、前記流体28を圧縮して得られ
る反発力により付勢されるピストン材26の加圧力によ
りその後端面13bに押圧力が常時付勢される結果、被
検査部位に対し前記先鋭接触部14をより安定的に、か
つ、確実に接触させることもできることになる。
Further, the auxiliary probe section 18 is defined by claim 4.
As described above, the pressing member 19 formed by the piston material 26 and the barrel portion 27 in which the fluid 28 is sealed.
In the case of being formed by, it is possible to relieve the pressure applied to the inspection site when the sharp contact portion 14 of the contactor 13 is pressed against the inspection site. Moreover, as a result of the pressing force of the piston member 26, which is urged by the repulsive force obtained by compressing the fluid 28, the contact 13 is constantly urged to the rear end surface 13b, and as a result, the contact portion 13 is pressed against the portion to be inspected. The sharp contact portion 14 can also be contacted more stably and surely.

【0035】なお、前記主プローブ部12を介して取り
込まれる測定信号を送出するためのリード線35は、接
触抵抗をより少なくする観点からは図2に示すように前
記接触子13の後端部13aに直付けするのが好まし
い。しかし、前記主プローブ部12と前記補助プローブ
部18とを電気的な接続関係を維持させた状態のもとで
介装部材33の側に取り付けた場合には、図2に破線で
示すように前記補助接触子21のほか、図4における前
記保持部24や図5における前記バレル部27の後端部
にそれぞれはんだ付けなどにより固着することもでき
る。
The lead wire 35 for transmitting the measurement signal taken in through the main probe portion 12 has a rear end portion of the contactor 13 as shown in FIG. 2 from the viewpoint of reducing the contact resistance. It is preferable to attach directly to 13a. However, when the main probe portion 12 and the auxiliary probe portion 18 are attached to the interposing member 33 while maintaining the electrical connection relationship, as shown by the broken line in FIG. In addition to the auxiliary contactor 21, it may be fixed to the holding portion 24 in FIG. 4 or the rear end portion of the barrel portion 27 in FIG. 5 by soldering or the like.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上述べたように本発明によれば、前記
基板検査用プローブが前記主プローブ部と前記補助プロ
ーブとに二分割して形成されているので、仮に接触子が
破損したり、その先端接触部が摩耗することがあって
も、前記主プローブ部の側を交換するのみで対処するこ
とができ、保守コストの低減化を図ることができる。
As described above, according to the present invention, since the substrate inspection probe is divided into the main probe portion and the auxiliary probe, the contact may be damaged or Even if the tip contact portion is worn, it can be dealt with by simply replacing the main probe portion side, and the maintenance cost can be reduced.

【0037】また、前記接触子は、別体となって用意さ
れる前記押圧部材により後端部の側から押圧力が常時付
勢されることから、接触子の側にバネ材等の付勢部材を
直結する必要をなくしてその構造を簡素化することがで
きる。したがって、前記接触子は、難加工性の超硬性導
電材を用いて形成することができることになり、結果的
に耐摩耗性に富む品質性能を付与することができる。
Further, since the pressing force which is prepared as a separate body is always applied to the contactor from the rear end side, the contactor side is biased by a spring material or the like. The structure can be simplified by eliminating the need to directly connect the members. Therefore, the contactor can be formed by using a hard-working super-hard conductive material, and as a result, it is possible to impart quality performance with rich wear resistance.

【0038】なお、請求項3記載の発明によれば、前記
補助プローブ部は、前記保持部に対し前記圧縮コイルス
プリング材からなる押圧部材を収容支持させることによ
り形成されているので、その構造が単純化されるだけで
なく前記介装部材への装着後においては、メンテナンス
フリーとなることから、作業の効率化を図ることができ
る。
According to the third aspect of the present invention, since the auxiliary probe portion is formed by accommodating and supporting the pressing member made of the compression coil spring material in the holding portion, the structure thereof is Not only is the structure simplified, but it is maintenance-free after being mounted on the interposition member, so that the work efficiency can be improved.

【0039】また、請求項4記載の発明によれば、前記
補助プローブ部は、前記接触子に対しその後端方向から
の押圧自在なピストン材からなる前記押圧部材を介して
前記バレル部に流体を封入することにより形成されてい
るので、封入する流体を適宜変更することで容易に押圧
力の強さを変更できるのみならず、特に気体を流体とし
て用いた場合には、前記介装部材への止着後においても
メンテナンスが必要でなくなることから、作業上の煩雑
さを解消して作業の効率化を図ることができる。
Further, according to the invention as set forth in claim 4, the auxiliary probe portion applies a fluid to the barrel portion through the pressing member made of a piston material which can press the contactor from the rear end direction. Since it is formed by enclosing, not only the strength of the pressing force can be easily changed by appropriately changing the fluid to be enclosed, but especially when gas is used as the fluid, Since maintenance is not required even after fastening, it is possible to reduce complexity of work and improve work efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の態様についての一例を示す説明
図である。
FIG. 1 is an explanatory diagram showing an example of an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示す基板検査用プローブの実装状態を示
す説明図である。
FIG. 2 is an explanatory diagram showing a mounted state of the board inspection probe shown in FIG.

【図3】図1における補助プローブの後端部側を拡大し
て示す説明図である。
FIG. 3 is an explanatory view showing an enlarged rear end side of the auxiliary probe in FIG.

【図4】補助プローブの側の他例を示す説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram showing another example of the auxiliary probe side.

【図5】補助プローブの側のさらなる他例を示す説明図
である。
FIG. 5 is an explanatory diagram showing still another example of the auxiliary probe side.

【図6】図1における一点鎖線による囲繞部分について
の他例を示す拡大図である。
FIG. 6 is an enlarged view showing another example of a portion surrounded by an alternate long and short dash line in FIG.

【図7】基板検査用プローブの従来例を示す説明図であ
る。
FIG. 7 is an explanatory diagram showing a conventional example of a substrate inspection probe.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 基板検査用プローブ 12 主プローブ部 13 接触子 13a 後端部 13b 後端面 14 先鋭接触部 15 バレル部 16 ストッパー 17 スリーブ部 17a 雄ねじ部 18 補助プローブ部 19 押圧部材 20 バレル部 20a 嵌合溝 21 補助接触子 21a 先端部 21b 後端部 19 バレル部 22 引張コイルスプリング材 22a 一端部 22b 他端部 23 圧縮コイルスプリング材 23a 一端部 23b 他端部 24 保持部 25 介装導電材 26 ピストン材 26a 封止用鍔部 26b ガイド用鍔部 27 バレル部 27a ストッパー 28 流体 31 可動アーム部 31a モータ 31b ベルト 32 昇降部 33 介装部材 33a 第1介装部材 33b 第2介装部材 34a 雌ネジ部 35 リード線 11 Substrate Inspection Probe 12 Main Probe Part 13 Contact 13a Rear End 13b Rear End Face 14 Sharp Contact Part 15 Barrel Part 16 Stopper 17 Sleeve Part 17a Male Thread Part 18 Auxiliary Probe Part 19 Pressing Member 20 Barrel Part 20a Fitting Groove 21 Auxiliary Contactor 21a Tip part 21b Rear end part 19 Barrel part 22 Tensile coil spring material 22a One end part 22b Other end part 23 Compression coil spring material 23a One end part 23b Other end part 24 Holding part 25 Interposed conductive material 26 Piston material 26a Sealing Collar part 26b Guide collar part 27 Barrel part 27a Stopper 28 Fluid 31 Movable arm part 31a Motor 31b Belt 32 Elevating part 33 Interposer member 33a First interposer member 33b Second interposer member 34a Female screw part 35 Lead wire

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X−Y方向への移動を自在に基板検査機
に配設された可動アーム部が備える昇降部に介装部材を
介して固定され、かつ、突出方向への付勢力を有して軸
方向での進退を自在にバレル部に保持させた接触子を介
して実装基板の所定部位の電気的特性を検査する基板検
査用プローブにおいて、 該基板検査用プローブは、前記接触子をその先鋭接触部
と後端部とを突出させてバレル部に保持させた主プロー
ブ部と、この主プローブ部の前記接触子に対し後端部の
側から常時押圧力を付勢して電気的に接続する押圧部材
を備える補助プローブ部とに分割構成し、これら主プロ
ーブ部と補助プローブ部とは、前記介装部材により前記
押圧部材からの押圧力が前記接触子に付与される位置関
係を保持させて前記昇降部への固定配置を自在としたこ
とを特徴とする基板検査用プローブ。
1. An X-Y direction movable unit is fixed to an elevating unit of a movable arm unit arranged in a substrate inspecting machine through an interposing member, and has a biasing force in a protruding direction. In the board inspection probe for inspecting the electrical characteristics of a predetermined portion of the mounting board through the contact held in the barrel portion so as to freely move back and forth in the axial direction, the board inspection probe is The main probe portion having the sharp contact portion and the rear end portion projected and held in the barrel portion, and the contact point of the main probe portion is always urged by a pressing force from the rear end side to electrically connect the main probe portion. Divided into an auxiliary probe section including a pressing member connected to the main probe section and the auxiliary probe section, and the main probe section and the auxiliary probe section have a positional relationship in which the pressing force from the pressing member is applied to the contactor by the interposing member. It can be held and fixed to the lifting unit freely. Substrate inspection probe, characterized in that the.
【請求項2】 前記補助プローブ部は、主プローブ部が
備える前記接触子に対しその後端面の側からの押圧が自
在な前記押圧部材としての補助接触子を軸方向での進退
を自在にバレル部に保持させて形成するとともに、前記
補助接触子が備える押圧力は、前記バレル部にその一端
部を、該バレル部から突出させた前記補助接触子の後端
部に他端部を固定させて介装配置される引張コイルスプ
リング材を介して付与したことを特徴する請求項1記載
の基板検査用プローブ。
2. The barrel portion that allows the auxiliary probe portion to freely advance and retreat in the axial direction of the auxiliary contactor as the pressing member that can be pressed from the rear end face side of the contactor provided in the main probe portion. And the pressing force of the auxiliary contact is fixed by fixing one end of the auxiliary contact to the barrel and the other end to the rear end of the auxiliary contact projected from the barrel. The probe for board inspection according to claim 1, wherein the probe coil is provided through a tension coil spring material that is interposed.
【請求項3】 前記補助プローブ部が備える押圧部材
は、主プローブ部における前記接触子に対しその後端方
向からの押圧を自在とした圧縮コイルスプリング材によ
り形成し、該圧縮コイルスプリング材が収容される保持
部にその一端を支持させ、他端を前記接触子の後端側に
当接支持させて前記接触子に対し押圧力を付与したこと
を特徴とする請求項1記載の基板検査用プローブ。
3. The pressing member provided in the auxiliary probe section is formed of a compression coil spring material that can press the contact in the main probe section from the rear end direction, and the compression coil spring material is housed therein. The substrate inspection probe according to claim 1, wherein one end is supported by the holding part, and the other end is brought into contact with and supported by the rear end side of the contactor to apply a pressing force to the contactor. .
【請求項4】 前記補助プローブ部が備える押圧部材
は、主プローブ部における前記接触子に対しその後端方
向からの押圧を自在としたピストン材により形成し、該
ピストン材に付与される押圧力は、該ピストン材の押圧
を自在にバレル部内に封入された流体の圧力により形成
したこと特徴とする請求項1記載の基板検査用プロー
ブ。
4. The pressing member provided in the auxiliary probe section is formed of a piston material that can press the contact in the main probe section from the rear end direction, and the pressing force applied to the piston material is The probe for board inspection according to claim 1, wherein the pressing of the piston material is formed by the pressure of the fluid freely enclosed in the barrel portion.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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JP2008039639A (en) * 2006-08-08 2008-02-21 Hioki Ee Corp Measurement probe of contact type
JP2016033506A (en) * 2014-07-28 2016-03-10 株式会社エヌ・ピー・シー Power generation output measurement fixture

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