JPH09101835A - Low-noise and high-reliable information processor - Google Patents
Low-noise and high-reliable information processorInfo
- Publication number
- JPH09101835A JPH09101835A JP7258495A JP25849595A JPH09101835A JP H09101835 A JPH09101835 A JP H09101835A JP 7258495 A JP7258495 A JP 7258495A JP 25849595 A JP25849595 A JP 25849595A JP H09101835 A JPH09101835 A JP H09101835A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- outputs
- output
- frequency
- information processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Hardware Redundancy (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、高性能かつ高信頼
性が要求される情報処理装置に係り、特に、不要放射ノ
イズの出力レベルが低いことを特徴とする情報処理装置
に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an information processing apparatus which is required to have high performance and high reliability, and more particularly to an information processing apparatus which has a low output level of unnecessary radiation noise.
【0002】[0002]
【従来の技術】様々の機能をもつ半導体集積回路が情報
処理装置の構成部品である。これらの半導体集積回路は
内部の機能素子の劣化,素子間配線の断線や短絡、ある
いは種々のノイズ混入といった物理的原因によって期待
される機能を失うことがある。このような半導体集積回
路の故障の結果、システムが機能を失いかねない。2. Description of the Related Art Semiconductor integrated circuits having various functions are components of an information processing device. These semiconductor integrated circuits may lose their expected functions due to physical causes such as deterioration of internal functional elements, disconnection or short-circuiting of inter-element wiring, or mixing of various noises. As a result of such a semiconductor integrated circuit failure, the system may lose its function.
【0003】交通,航空,宇宙,自動車,医療,電力,
金融オンライン,プラント制御などでは、使用される電
子機器,コンピュータシステムが機能を失えば多大な損
害を被り、あるいは人命に関わる。したがって、いかに
半導体集積回路の信頼性を確保すべきかという課題は重
要である。Transportation, aviation, space, automobile, medical care, electric power,
In financial online, plant control, etc., if the electronic devices and computer systems used lose their functions, they will suffer a great deal of damage or even be fatal to human life. Therefore, the issue of how to secure the reliability of the semiconductor integrated circuit is important.
【0004】一方、半導体集積回路の高速化が進んだこ
とにより、近年、制御機器等の不要放射ノイズの問題が
取り沙太されてきている。電子機器の放射ノイズの規制
は世界的に行われつつあり、製造者側は放射ノイズ低減
の努力を行っている。On the other hand, as the speed of semiconductor integrated circuits has increased, the problem of unnecessary radiation noise of control equipment and the like has been taken up in recent years. Regulation of radiated noise of electronic devices is being implemented worldwide, and manufacturers are making efforts to reduce radiated noise.
【0005】機器の信頼性を高めようとする場合、二つ
の方法論がある。第1は構成要素そのものの信頼性を高
めようとするフォールトアボイダンス(fault avoidanc
e)技術であり、第2は構成要素に故障が生じることを
予想し、冗長性を導入することによって故障の悪影響を
できるだけ抑えようとするフォールトトレランス(fault
tolerance)技術である。実際にはこれら二つのアプロー
チを併用することで高い信頼性を実現しようとする努力
が広くなされている。There are two methodologies for increasing the reliability of equipment. The first is a fault avoidance that seeks to improve the reliability of the components themselves.
e) Technology, and the second is fault tolerance, which anticipates that a component will fail and introduces redundancy to minimize the adverse effects of the failure.
tolerance) technology. In fact, efforts are being made to achieve high reliability by combining these two approaches.
【0006】フォールトトレランスの実現のためには故
障が原因となって生じたエラー(誤り)を検出せねばな
らない。構成要素を多重化し同一動作を行わせ、それら
複数の出力を比較照合して不一致を検出したときエラー
が発生したとみなす方法はよく知られている。情報処理
装置の高信頼化のための方法として、電子情報通信学会
編「フォールトトレラントシステム論」平成2年6月,
第246〜250ページに記載されているように、いく
つかの実施方法が従来より知られている。In order to realize fault tolerance, it is necessary to detect an error caused by a failure. It is well known that a component is multiplexed and the same operation is performed, and when a plurality of outputs are compared and collated to detect a mismatch, it is considered that an error has occurred. As a method for improving the reliability of information processing devices, "Fault Tolerant System Theory" edited by The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, June 1990,
Several implementation methods are known in the art, as described on pages 246-250.
【0007】[0007]
【発明が解決しようとする課題】多重化により高信頼化
を行おうとすると次のような問題が生じる。The following problems arise when trying to achieve high reliability by multiplexing.
【0008】従来、多重化された構成要素は同一仕様の
クロックで動作させることが前提であった。構成要素を
多重化する場合において、同一の周波数成分をもつクロ
ックで動作させることになる。ところが不要放射ノイズ
において特に問題となるのはクロック周波数の高次(整
数倍)にまで至る高調波成分をもととするノイズであ
る。これはクロックを基準にして装置内各所の動作が規
定されるためである。したがって、多重化しただけ特定
の周波数のノイズ成分が積み重なり強まってしまうとい
う問題があった。Conventionally, it has been premised that the multiplexed components are operated with clocks having the same specifications. When the constituent elements are multiplexed, they are operated with clocks having the same frequency component. However, a particular problem with unnecessary radiation noise is noise based on harmonic components up to high-order (integer multiple) of the clock frequency. This is because the operation of each part in the device is defined based on the clock. Therefore, there is a problem that noise components of a specific frequency are piled up and strengthened only by multiplexing.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は、以上述べた課
題を解決するものである。すなわち、不要放射ノイズの
出力レベルを抑えながら、構成要素を多重化して高信頼
化を実現させるものである。The present invention is to solve the above-mentioned problems. That is, while suppressing the output level of the unnecessary radiation noise, the constituent elements are multiplexed to realize high reliability.
【0010】本発明は、以下の手段を有して構成するも
のである。すなわち、クロックで動作する多重化構成の
構成要素と、少なくとも一つの構成要素に他と異なる周
波数成分から成るクロックを分配するクロック発生部で
ある。The present invention comprises the following means. That is, it is a clock generating unit that distributes a clock having a frequency component different from the other components to at least one of the components of the multiplex configuration that operates with a clock.
【0011】上記手段により、電子機器の構成要素の多
重化を行い、異なる周波数成分から成るクロックで構成
要素を動作させれば、構成要素ごとにそれぞれから生じ
る周波数成分の分散化が可能になる。By the above means, the components of the electronic equipment are multiplexed and the components are operated by the clocks having different frequency components, so that the frequency components generated from each component can be dispersed.
【0012】よって、本発明は高信頼情報処理装置にお
いて不要放射ノイズの低レベル化の実現を可能にする。Therefore, the present invention makes it possible to reduce the level of unnecessary radiation noise in a highly reliable information processing apparatus.
【0013】[0013]
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を用
いて説明する。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
【0014】なお、本実施例は3重系構成のものである
が、本発明を限定するものではなく、2重系あるいは4
重系以上であってもよい。Although the present embodiment has a triple system configuration, it does not limit the present invention, and a double system or a four system is used.
It may be a heavy system or more.
【0015】図1は本発明の概要を示す一実施例のブロ
ック図である。FIG. 1 is a block diagram of an embodiment showing an outline of the present invention.
【0016】データ処理装置5,6,7はそれぞれあら
かじめ定められた同一処理を行うもので、正常動作を続
けるかぎり、同一の結果を出力8,9,10に出力する
ことを期待するものである。一方、データ処理装置5,
6,7のいずれかに異常が発生した場合は出力8,9,
10の不一致が生じることを期待する。照合部11は前
記の三つの出力8,9,10がすべて一致するか否かを
検出するもので、その出力12は正常動作状態であるか
異常が発生したかを外部へ通知するものである。なお、
照合部11が出力8,9,10のいずれか一つが他の2
者と一致しないことを検出できるものにすれば、多数決
を行いシステムの稼働率を上げることができる。クロッ
ク発生部1は本発明の特徴を備えるものである。クロッ
ク出力a,b,c(2,3,4)はそれぞれデータ処理
装置5,6,7に与え、動作の基準となる。従来技術で
はデータ処理装置5,6,7に同一の周波数成分をもつ
クロックを与えるが、本発明では少なくとも一つのクロ
ック出力は他と異なる周波数成分をもつものとする。The data processing devices 5, 6 and 7 respectively perform the same predetermined processing, and are expected to output the same result to the outputs 8, 9 and 10 as long as the normal operation is continued. . On the other hand, the data processing device 5,
If an error occurs in either 6 or 7, the output is 8, 9,
Expect 10 discrepancies to occur. The collating unit 11 detects whether or not all the three outputs 8, 9 and 10 are coincident with each other, and the output 12 notifies the outside of whether the normal operation state or the abnormality has occurred. . In addition,
The collating unit 11 outputs one of the outputs 8, 9 and 10 to the other 2
If it is possible to detect that there is no match with the other party, a majority vote can be made and the operating rate of the system can be increased. The clock generator 1 has the features of the present invention. The clock outputs a, b and c (2, 3, 4) are given to the data processing devices 5, 6 and 7, respectively, and serve as a reference for operation. In the prior art, clocks having the same frequency component are given to the data processing devices 5, 6 and 7, but in the present invention, at least one clock output has a different frequency component from the other.
【0017】これより、クロック発生部の実施例を説明
する。An embodiment of the clock generator will be described below.
【0018】図2は図1におけるクロック発生部1の内
部構成を示す一実施例である。FIG. 2 is an embodiment showing the internal configuration of the clock generator 1 in FIG.
【0019】クロック出力22,23,24は図1にお
けるクロック出力2,3,4に対応する。本実施例はク
ロック出力22,23,24を同一周波数であるが、そ
れぞれのデューティ比(高電位レベル時間と低電位レベ
ル時間の比)は異なるものにするものである。デューテ
ィ比を変化させることにより矩形波のもつ周波数成分
(原発振周波数の整数倍)の出力レベルが変化すること
は信号処理理論により良く知られている。Clock outputs 22, 23, 24 correspond to clock outputs 2, 3, 4 in FIG. In this embodiment, the clock outputs 22, 23 and 24 have the same frequency, but the duty ratios (ratio of high potential level time and low potential level time) are different from each other. It is well known from signal processing theory that the output level of the frequency component (an integer multiple of the original oscillation frequency) of the rectangular wave changes by changing the duty ratio.
【0020】クロック発生回路13,14,15は原発
振回路であり、3者は同一周波数,同一デューティ比
(高電位レベル時間:低電位レベル時間=50%:50
%)を出力する(16,17,18)。これに対してデ
ューティ調整回路19,20,21により、デューティ
比は異なるクロックを出力するものにする。図中のデュ
ーティ調整回路19はその一実施例を示したもので、ダ
イオード25,コンデンサ26,抵抗器27,シュミッ
トトリガ型バッファ29を図のように接続することによ
り構成可能である。接続点28での高電位レベル時間は
コンデンサ26,抵抗器27の値によって決定すること
ができる。シュミットトリガ型バッファ29は波形の整
形を行うためのものである。デューティ比は異なるクロ
ックを出力するにはデューティ調整回路19,20,2
1それぞれのコンデンサ,抵抗器による時定数を異なる
ものにすればよい。The clock generation circuits 13, 14 and 15 are original oscillation circuits, and the three have the same frequency and the same duty ratio (high potential level time: low potential level time = 50%: 50).
%) Is output (16, 17, 18). On the other hand, the duty adjusting circuits 19, 20, and 21 output clocks having different duty ratios. The duty adjusting circuit 19 in the figure shows one embodiment thereof, and can be constructed by connecting the diode 25, the capacitor 26, the resistor 27 and the Schmitt trigger type buffer 29 as shown in the figure. The high potential level time at the connection point 28 can be determined by the values of the capacitor 26 and the resistor 27. The Schmitt trigger type buffer 29 is for shaping the waveform. To output clocks with different duty ratios, the duty adjusting circuits 19, 20, 2
1 The time constants of the capacitors and resistors may be different.
【0021】なお本実施例の改良として、クロック発生
回路13,14,15を一つのクロック発生回路にして
コストを抑えてもよい。または、多重化して高信頼化し
てもよい。あるいはデューティ調整回路19,20,2
1の一つは省き原発振回路の出力をそのまま使用してコ
ストを抑えてもよい。As an improvement of this embodiment, the clock generation circuits 13, 14 and 15 may be combined into one clock generation circuit to reduce the cost. Alternatively, the reliability may be increased by multiplexing. Alternatively, the duty adjusting circuits 19, 20, 2
One of them may be omitted, and the output of the original oscillator circuit may be used as it is to reduce the cost.
【0022】図3は図1におけるクロック発生部1の内
部構成を示すもう一つの実施例である。FIG. 3 is another embodiment showing the internal structure of the clock generator 1 in FIG.
【0023】クロック出力36,37,38は図1にお
けるクロック出力2,3,4に対応する。本実施例はク
ロック出力36,37,38をそれぞれのデューティ比
は同一であるが、周波数を異なるものにするものであ
る。周波数により矩形波のもつ周波数成分が変化するこ
とは信号処理理論により良く知られている。The clock outputs 36, 37 and 38 correspond to the clock outputs 2, 3 and 4 in FIG. In this embodiment, the clock outputs 36, 37 and 38 have the same duty ratio but different frequencies. It is well known from signal processing theory that the frequency component of a rectangular wave changes depending on the frequency.
【0024】クロック発生回路33,34,35は原発振
回路であり、水晶発振子X′tal30,X′tal
31,X′tal 32の容量の違いにより3者は異な
る周波数f1,f2,f3のクロックを出力する(3
6,37,38)。The clock generator circuits 33, 34 and 35 are original oscillator circuits, and are crystal oscillators X'tal 30 and X'tal.
The three output clocks having different frequencies f1, f2, and f3 depending on the difference in capacity of 31, X'tal 32 (3
6, 37, 38).
【0025】なお、本実施例は前出の実施例1と併用
し、デューティ比を多様化させてもよい。Note that this embodiment may be used in combination with the above-mentioned first embodiment to diversify the duty ratio.
【0026】図4は図1におけるクロック発生手段1の
内部構成を示すさらにもう一つの実施例である。FIG. 4 shows still another embodiment showing the internal structure of the clock generating means 1 in FIG.
【0027】クロック出力54,55,56は図1にお
けるクロック出力2,3,4に対応する。本実施例はク
ロック出力54,55,56をあらかじめ定められた手
順にしたがい時系列的に互いに異なる周波数成分を有す
るようにするものである。本実施例によれば各構成要素
は平均的に同じ処理速度,消費電力をもち、負荷の等分
散を計ることができる。The clock outputs 54, 55, 56 correspond to the clock outputs 2, 3, 4 in FIG. In this embodiment, the clock outputs 54, 55 and 56 are made to have different frequency components in time series according to a predetermined procedure. According to this embodiment, each component has the same processing speed and power consumption on average, and the load can be evenly distributed.
【0028】クロック発生回路39,40,41は原発
振回路であり、3者は同一周波数クロックを出力する
(42,43,44)。乱数発生回路45,46,47
はあらかじめ定められた手順にしたがい、互いに同時に
同じ値を出力することはないものである。乱数発生回路
45,46,47の出力51,52,53はクロックを
分周する分周回路48,49,50の分周比入力として
接続する。分周回路48,49,50はこれら分周比入
力に従いクロック42,43,44を分周して出力をつ
くる。こうしてクロック出力54,55,56は互いに
同時に同一周波数を出力することはないものにできる。The clock generation circuits 39, 40 and 41 are original oscillation circuits, and the three output the same frequency clocks (42, 43 and 44). Random number generation circuits 45, 46, 47
Follows a predetermined procedure and does not output the same value at the same time. The outputs 51, 52 and 53 of the random number generating circuits 45, 46 and 47 are connected as frequency division ratio inputs of the frequency dividing circuits 48, 49 and 50 for dividing the clock. The frequency dividing circuits 48, 49 and 50 divide the clocks 42, 43 and 44 in accordance with these frequency dividing ratio inputs and generate outputs. In this way, the clock outputs 54, 55, 56 can be such that they do not output the same frequency at the same time.
【0029】図5は図4で示した実施例の分周回路4
8,乱数発生回路A45の詳細を示すものである。FIG. 5 shows the frequency dividing circuit 4 of the embodiment shown in FIG.
8 shows the details of the random number generation circuit A45.
【0030】乱数発生回路45は分周器64,カウンタ
65,パワーオンリセット回路67,コード変換回路6
8から構成する。カウンタ65は3ビットジョンソンカ
ウンタと一般に呼ばれるものであり、出力75は順次、
000,100,110,111,011,001(二
進数表記)の六つの値を繰り返し出力する。分周器64
はクロック42を1/16に分周するもので、その出力
74はカウンタ65のクロック入力に接続し、カウンタ
65の値を更新させる。パワーオンリセット回路は電源
投入時にリセット信号を出力するものでカウンタ65に
接続し(66)、立ち上げ時はカウンタの値を000に設
定する。コード変換回路68はカウンタ65の出力75
をもとに疑似乱数(4ビット)を出力(51)するもの
である。図中で示すように入力値に対応して出力値を定
めた。例えば、入力値000に対して出力値0100,
入力値100に対しては出力値1000を即時出力す
る。The random number generation circuit 45 includes a frequency divider 64, a counter 65, a power-on reset circuit 67, and a code conversion circuit 6.
It consists of eight. The counter 65 is generally called a 3-bit Johnson counter, and the output 75 is sequentially
Six values of 000, 100, 110, 111, 011 and 001 (binary notation) are repeatedly output. Frequency divider 64
Divides the clock 42 by 1/16, and its output 74 is connected to the clock input of the counter 65 to update the value of the counter 65. The power-on reset circuit outputs a reset signal when the power is turned on, is connected to the counter 65 (66), and sets the counter value to 000 at startup. The code conversion circuit 68 outputs the output 75 of the counter 65.
The pseudo random number (4 bits) is output (51) based on the above. As shown in the figure, the output value was determined corresponding to the input value. For example, the input value 000, the output value 0100,
An output value of 1000 is immediately output for an input value of 100.
【0031】分周回路48はカウンタ63,比較器5
9,ラッチ60,Dフリップフロップ58,62、およ
び排他的論理和ゲート61,インバータゲート57から
構成した。カウンタ63は反転クロック信号69により
順次カウントアップ動作を行う4ビットバイナリカウン
タである。一方、乱数発生回路の出力51はラッチ60
によって保持する。比較器59はカウンタ63の出力7
2とラッチ60の出力73の値を比較し、一致したとき
出力98をアサートする。出力98がアサートされたと
き、排他的論理和ゲート61とDフリップフロップ62
により、出力54は反転動作をする。Dフリップフロッ
プ58を介して比較器59のアサート出力は出力70に
あらわれるようにしているが、これによりカウンタ63
は0000にリセットされる。またラッチ60は新たに乱数
発生回路の出力51の値を取り込む。The frequency dividing circuit 48 includes a counter 63 and a comparator 5.
9, a latch 60, D flip-flops 58 and 62, an exclusive OR gate 61, and an inverter gate 57. The counter 63 is a 4-bit binary counter that sequentially counts up with the inverted clock signal 69. On the other hand, the output 51 of the random number generation circuit is the latch 60.
Hold by. The comparator 59 outputs the output 7 of the counter 63.
2 is compared with the value of the output 73 of the latch 60, and when they match, the output 98 is asserted. Exclusive OR gate 61 and D flip-flop 62 when output 98 is asserted.
This causes the output 54 to perform an inversion operation. The asserted output of the comparator 59 is made to appear at the output 70 via the D flip-flop 58.
Is reset to 0000. Further, the latch 60 newly takes in the value of the output 51 of the random number generation circuit.
【0032】図6は図4および図5で示した構成の動作
を示すタイムチャートである。FIG. 6 is a time chart showing the operation of the configuration shown in FIGS.
【0033】図中の括弧内の数字は図4のものに対応し
ている。The numbers in parentheses in the figure correspond to those in FIG.
【0034】乱数発生回路45,46,47は入力され
るクロック42,43,44の16サイクルごとに出力
値を更新する。出力値(図5中のRND51,RND5
2,RND53)は疑似乱数値{7,5,4,8,6,
3}を順にとるものである。動作立ち上げ時にはそれぞ
れが異なる初期値「4,6,7」をとるように設定し
た。分周回路は出力を反転(高レベルから低レベル、ま
たは低レベルから高レベルにすること)した直後の分周
比入力の値をサンプルし、そのサンプル値の分だけクロ
ックを計数したときを次回の出力反転のタイミングとす
る。こうして得られるクロック出力54,55,56は
図に示すように互いに同時に同周期とはならず、同一周
波数成分を互いに強め合うことはない。The random number generation circuits 45, 46, 47 update the output value every 16 cycles of the input clocks 42, 43, 44. Output value (RND51, RND5 in FIG. 5
2, RND53) is a pseudo random value {7, 5, 4, 8, 6,
3} in order. It was set to take different initial values "4, 6, 7" when the operation was started up. The frequency divider circuit samples the value of the frequency division ratio input immediately after inverting the output (changing from high level to low level or from low level to high level), and next time the clock is counted by the sampled value. The output inversion timing is set. The clock outputs 54, 55 and 56 thus obtained do not have the same period at the same time as shown in the figure, and the same frequency components do not strengthen each other.
【0035】なお、本実施例の疑似乱数設定値,分周方
法は本発明を限定するものではなく、クロック出力が互
いに同時に同じ周波数成分を出力しないような設定であ
ればよい。例えば、周波数を変化させるような分周法で
はなく、その都度デューティを変化させてもよい。The pseudo random number setting value and the frequency dividing method of this embodiment do not limit the present invention, and may be set so that clock outputs do not output the same frequency component at the same time. For example, the duty may be changed each time instead of the frequency division method in which the frequency is changed.
【0036】図7は図1における照合部11の周辺をよ
り詳しく示すものである。FIG. 7 shows the periphery of the collating unit 11 in FIG. 1 in more detail.
【0037】データ処理装置5,6,7の出力インター
フェースはデータ出力76,79,82とデータレディ
信号出力77,80,83、およびウエイト入力78,
81,84を備える。データレディ信号はデータ出力が
有効であるときアサートされる。このときウエイト入力
がアサートされているなら、そのデータを出力している
状態を保持し続ける。このようなインターフェースは多
くのマイクロプロセッサで設けられている。The output interfaces of the data processing devices 5, 6, 7 are data outputs 76, 79, 82, data ready signal outputs 77, 80, 83, and weight inputs 78, 78.
81 and 84 are provided. The data ready signal is asserted when the data output is valid. At this time, if the wait input is asserted, the state of outputting the data is maintained. Such interfaces are found in many microprocessors.
【0038】さて、本発明により異なる周波数クロック
で動作する三つのデータ処理装置5,6,7の出力はそ
れぞれ異なるタイミングでデータを出力するようにな
る。本実施例は照合のためにデータレディ,ウエイトに
より待ち合わせを行い、データ出力76,79,82が
同時にアサートされる期間を設けるようにする構成を示
した。待ち合わせ制御回路93はその制御回路であり、
他より早くデータレディをアサートしたデータ処理装置
に対してはウエイトをアサートしてデータの出力を延長
するのである。複数のデータ処理装置からのデータレデ
ィを受け取ったとき、判断回路92に通知する。Now, according to the present invention, the outputs of the three data processing devices 5, 6 and 7 operating with different frequency clocks output data at different timings. The present embodiment shows a structure in which waiting is performed by data ready and wait for collation, and a period in which the data outputs 76, 79, and 82 are simultaneously asserted is provided. The waiting control circuit 93 is the control circuit,
For the data processing device that asserted data ready earlier than others, the wait is asserted to extend the data output. When receiving the data ready from the plurality of data processing devices, the determination circuit 92 is notified.
【0039】比較器85,86,87は三つのデータ出
力76,79,82を比較照合するものである。判断回
路92は比較結果88,89,90をもとに一致した出
力を出している複数のデータ処理装置は正常であると判
断して、どのデータ処理装置が正常/異常であるかを出
力する(12)。The comparators 85, 86, 87 compare and collate the three data outputs 76, 79, 82. Based on the comparison results 88, 89, 90, the determination circuit 92 determines that the plurality of data processing devices that output matching outputs are normal and outputs which data processing device is normal / abnormal. (12).
【0040】図8は図1に示す構成96の出力の使用法
の例を示すものである。FIG. 8 shows an example of how to use the output of the configuration 96 shown in FIG.
【0041】データ処理装置5,6,7の出力8,9,
10は選択回路94によって選択される。照合部から通
知される信号12により、正常とみなした出力のみを外
部に出力するのである。Outputs 8, 9, of the data processing devices 5, 6, 7
10 is selected by the selection circuit 94. Only the output regarded as normal is output to the outside by the signal 12 notified from the collating unit.
【0042】[0042]
【発明の効果】本発明により、電子機器の構成要素の多
重化を行えば、それぞれの構成要素から生じる周波数成
分の分散化が可能になる。According to the present invention, if the components of the electronic equipment are multiplexed, the frequency components generated from the respective components can be dispersed.
【0043】よって、本発明は高信頼情報処理装置で不
要放射ノイズの低レベル化を可能にする。Therefore, the present invention enables a reduction in the level of unnecessary radiation noise in a highly reliable information processing device.
【0044】さらに、構成要素の動作タイミングが異な
るようになるため、外来ノイズ等による同一誤りの発生
率が抑えられる効果も期待できる。Further, since the operation timings of the constituent elements are different, the effect of suppressing the occurrence rate of the same error due to external noise can be expected.
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of the present invention.
【図2】クロック発生部の一実施例の構成を示すブロッ
ク図。FIG. 2 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a clock generation unit.
【図3】クロック発生部の一実施例の構成を示すブロッ
ク図。FIG. 3 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a clock generation unit.
【図4】クロック発生部の一実施例の構成を示すブロッ
ク図。FIG. 4 is a block diagram showing a configuration of an embodiment of a clock generation unit.
【図5】クロック発生部の一実施例の構成を示すブロッ
ク図。FIG. 5 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a clock generator.
【図6】クロック発生手段の一動作例を示すタイムチャ
ート。FIG. 6 is a time chart showing an operation example of the clock generating means.
【図7】照合部の一実施例の構成を示すブロック図。FIG. 7 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of a matching unit.
【図8】一実施例の構成を示すブロック図。FIG. 8 is a block diagram showing a configuration of an example.
1…クロック発生部、5,6,7…データ処理装置、1
1…照合部、19,20,21…デューティ調整回路、
48,49,50…分周回路。1 ... Clock generator, 5, 6, 7 ... Data processing device, 1
1 ... collation unit, 19, 20, 21 ... duty adjustment circuit,
48, 49, 50 ... Dividing circuit.
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 堀田 多加志 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 ──────────────────────────────────────────────────の Continuing on the front page (72) Inventor Takashi Hotta 7-1-1, Omika-cho, Hitachi City, Ibaraki Prefecture Within Hitachi Research Laboratory, Hitachi, Ltd.
Claims (6)
とし、少なくとも一つの構成要素に他と異なる周波数成
分から成るクロックを分配する手段を有することを特徴
とする情報処理装置。1. An information processing apparatus, comprising: a component configured to operate with a clock in a multiplexed configuration, and having means for distributing a clock having a frequency component different from the other components to at least one component.
構成要素にあらかじめ定められた他と異なるデューティ
比から成るクロックを分配する手段を有する情報処理装
置。2. The information processing apparatus according to claim 1, further comprising means for distributing to the at least one component a clock having a predetermined duty ratio different from the others.
構成要素にあらかじめ定められた他と異なる周波数のク
ロックを分配する手段を有する情報処理装置。3. The information processing apparatus according to claim 1, further comprising means for distributing a clock having a frequency different from a predetermined one to the at least one constituent element.
ックの周波数があらかじめ定められた異なるものである
情報処理装置。4. The information processing apparatus according to claim 2, wherein frequencies of clocks to the constituent elements are different from each other and are predetermined.
あらかじめ定められた手順にしたがい時系列的に異なる
周波数成分を有することを特徴とする情報処理装置。5. An information processing apparatus, wherein clocks to at least one constituent element have frequency components which are time-sequentially different according to a predetermined procedure.
項5に記載の情報処理装置。6. The information processing apparatus according to claim 5, wherein the information processing apparatus has a plurality of components having a multiplex structure.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7258495A JPH09101835A (en) | 1995-10-05 | 1995-10-05 | Low-noise and high-reliable information processor |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7258495A JPH09101835A (en) | 1995-10-05 | 1995-10-05 | Low-noise and high-reliable information processor |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09101835A true JPH09101835A (en) | 1997-04-15 |
Family
ID=17321008
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7258495A Pending JPH09101835A (en) | 1995-10-05 | 1995-10-05 | Low-noise and high-reliable information processor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09101835A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000045246A1 (en) * | 1999-01-29 | 2000-08-03 | Seiko Epson Corporation | Clock generator circuit and integrated circuit using clock generator |
JP2009111997A (en) * | 2007-10-12 | 2009-05-21 | Sanyo Electric Co Ltd | Semiconductor integrated circuit |
WO2021154785A1 (en) * | 2020-01-28 | 2021-08-05 | Qualcomm Incorporated | Configurable redundant systems for safety critical applications |
-
1995
- 1995-10-05 JP JP7258495A patent/JPH09101835A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2000045246A1 (en) * | 1999-01-29 | 2000-08-03 | Seiko Epson Corporation | Clock generator circuit and integrated circuit using clock generator |
JP2009111997A (en) * | 2007-10-12 | 2009-05-21 | Sanyo Electric Co Ltd | Semiconductor integrated circuit |
WO2021154785A1 (en) * | 2020-01-28 | 2021-08-05 | Qualcomm Incorporated | Configurable redundant systems for safety critical applications |
US11424621B2 (en) | 2020-01-28 | 2022-08-23 | Qualcomm Incorporated | Configurable redundant systems for safety critical applications |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US4239982A (en) | Fault-tolerant clock system | |
US6356123B1 (en) | Non-integer frequency divider | |
JPS6292062A (en) | Data processor and multiple redundant lock unit and clock circuit used therein | |
US10886930B1 (en) | Voltage controlled oscillator based analog-to-digital converter including a maximum length sequence generator | |
JPH0659769A (en) | Clock generating circuit of digital computer and method therefor | |
JPH06502264A (en) | Dynamically switchable multi-frequency clock generator | |
US5434806A (en) | Apparatus and method for random number generation | |
US20030042506A1 (en) | Multi-service processor clocking system | |
JPH09101835A (en) | Low-noise and high-reliable information processor | |
US5045715A (en) | Circuit for generating stretched clock phases on a cycle by cycle basis | |
JP3235087B2 (en) | Clock generator for microprocessor | |
US9966964B1 (en) | Multi-phase divider | |
US6882184B2 (en) | Clock switching circuit | |
Kleeman et al. | Can redundancy and masking improve the performance of synchronizers? | |
US6441666B1 (en) | System and method for generating clock signals | |
JPH06500673A (en) | Multiphase clock signal generation device and its phase detector and restoration device | |
US6138246A (en) | Dual clock signal generating circuit | |
JP2632512B2 (en) | Semiconductor integrated circuit | |
US7813410B1 (en) | Initiating spread spectrum modulation | |
US20020084816A1 (en) | Precision phase generator | |
JPH10215153A (en) | Clock multiplication circuit and semiconductor integrated circuit | |
US11356112B1 (en) | Coarse-fine counting architecture for a VCO-ADC based on interlocked binary asynchronous counters | |
CN117176139B (en) | Frequency divider construction method and frequency divider with frequency division ratio of 2 plus or minus 1 to power N | |
US6393089B1 (en) | Frequency divider | |
JP3031206B2 (en) | Divider circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070828 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080828 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090828 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Year of fee payment: 11 Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090828 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100828 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110828 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110828 Year of fee payment: 13 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110828 Year of fee payment: 13 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110828 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120828 Year of fee payment: 14 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130828 Year of fee payment: 15 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |