JPH088150A - Characteristic tester of taping electronic part - Google Patents

Characteristic tester of taping electronic part

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JPH088150A
JPH088150A JP5044539A JP4453993A JPH088150A JP H088150 A JPH088150 A JP H088150A JP 5044539 A JP5044539 A JP 5044539A JP 4453993 A JP4453993 A JP 4453993A JP H088150 A JPH088150 A JP H088150A
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taping
block
transfer
electronic component
taping electronic
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Hisamitsu Tanaka
久光 田中
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Abstract

PURPOSE:To make it possible to align and contact each contactor with corresponding lead terminals accurately during characteristic test of a taping electronic part. CONSTITUTION:A characteristic tester includes a feeding mechanism 26 for feeding a taping electrolytic capacitor on a stage intermittently on a given pitch from a previous step to a later step, block bodies 52 to 55 assembled in a slid state along a feeding line on an upper side of the stage, a plurality of contactors 63 and 64 mounted in a pair on a given pitch along the feeding line on supporting blocks fixed to the block bodies 52 to 55, and a positioning pin 66 on each supporting block. The stage or the block body with the supporting block is moved relatively upward while the taping capacitor 100 is carried in intermittent movement. At the same time the positioning pin 66 is inserted correctly one by one in each feeding hole on a mounting base paper 110 for the taping capacitor 100 so that the pair of contactors 63 and 64 are fitted to corresponding lead terminals of the part 100.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、テーピング電子部品の
製造工程最終段で行なわれる電気的特性検査工程に用い
て好適な特性検査装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a characteristic inspection device suitable for use in an electrical characteristic inspection process performed at the final stage of a taping electronic component manufacturing process.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般的に、電解コンデンサを製造・出荷
するにあたり、製造ラインの最終段で、製造された電解
コンデンサの電気的特性検査が行なわれている。この特
性検査工程においては、電解コンデンサの重要な特性で
あるCap(キャパシタンス:静電容量)、tanδ
(損失角:タンジェント・デルタ)、LC(リーケージ
カレント:漏れ電流)、ならびにSN(ショック・ノイ
ズ)等の所定の検査項目について測定が行なわれ、良否
の判別がなされる。そして、不良品は製造ラインから取
り除かれ、排除される。また、良品は、検査工程終了後
に出荷される。
2. Description of the Related Art Generally, when manufacturing and shipping an electrolytic capacitor, the electrical characteristics of the manufactured electrolytic capacitor are inspected at the final stage of the manufacturing line. In this characteristic inspection process, Cap (capacitance: tanδ) which is an important characteristic of the electrolytic capacitor.
(Loss angle: tangent delta), LC (leakage current: leakage current), and SN (shock noise) and other predetermined inspection items are measured to determine whether they are good or bad. The defective product is then removed from the production line and eliminated. In addition, non-defective products are shipped after the inspection process is completed.

【0003】このような検査工程は、従来、製造された
個々の電解コンデンサについて、単品毎に各検査項目を
測定して行なわれていた。そのため、検査の効率が悪
く、検査に時間と労力を要するという問題が生じてい
る。
Conventionally, such an inspection process has been performed by measuring each inspection item for each individual manufactured electrolytic capacitor. Therefore, there is a problem that the efficiency of the inspection is low and the inspection requires time and labor.

【0004】ところで、電解コンデンサは、小型化が著
しく進展している。この小型化された電解コンデンサ
は、最近、帯状の台紙上に等間隔に載置され、リードを
帯状の粘着テープで固定したテーピング状態で出荷され
るのが一般的になってきている。そのため、最近では、
テーピングされた電解コンデンサの電気的特性検査にお
いて、各検査項目をテーピング状態のままで順次連続的
に測定でき、かつ、良否を判別できる特性検査装置の出
現が強く要望されている。
By the way, miniaturization of electrolytic capacitors has been significantly advanced. Recently, the miniaturized electrolytic capacitors are generally placed on a strip-shaped mount at regular intervals and shipped in a taping state in which leads are fixed with a strip-shaped adhesive tape. So recently,
In the electric characteristic inspection of a taped electrolytic capacitor, the appearance of a characteristic inspection device capable of continuously measuring each inspection item in the taping state as it is and determining the quality is strongly desired.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、現在提
案されている特性検査装置においては、電解コンデンサ
をテーピングした台紙が湿気等によって伸び縮みする
と、電解コンデンサのリードの間隔や、隣接する電解コ
ンデンサとの間隔に狂いが生じ、各々のリードに対して
接触子が位置ズレしてしまい、測定・検出が不能になる
といった問題が生じている。
However, in the characteristic inspection apparatus currently proposed, when the mount having the electrolytic capacitor taping expands or contracts due to moisture or the like, the distance between the leads of the electrolytic capacitor and the distance between the adjacent electrolytic capacitors may be reduced. There is a problem in that the spacing is incorrect and the contact is misaligned with respect to each lead, making measurement / detection impossible.

【0006】また、台紙には、電解コンデンサを接触子
に対して所定ピッチ間隔で移送するための送り孔が長手
方向に所定ピッチで穿孔されているが、この送り孔には
累積ピッチ誤差が必ず伴うものである(例えば、規格に
よると1ピッチで(+)、(−)1mm)。そのため、
累積ピッチ誤差のために接触子に対してリードが位置ズ
レすることがあり、特に、リードピッチの狭い狭ピッチ
のテーピング品や、LC(漏れ電流)測定前の充電に長
ピッチ・長時間を要する場合は、累積ピッチ誤差のため
に接触子に対してリードが位置ズレしてしまい、測定・
検出が不能になるといった上述と同様の問題が生じる。
Further, the mount has perforations at a predetermined pitch in the longitudinal direction for transporting the electrolytic capacitor with respect to the contacts at a predetermined pitch, but the feed holes always have a cumulative pitch error. It is accompanied (for example, according to the standard, 1 pitch is (+), (−) 1 mm). for that reason,
The lead may be misaligned with respect to the contact due to the accumulated pitch error. Especially, it requires a long pitch and a long time for charging before the LC (leakage current) measurement and in a narrow-pitch taping product with a narrow lead pitch. In this case, the lead may be misaligned with respect to the contact due to the accumulated pitch error.
The same problem as described above occurs that detection becomes impossible.

【0007】この発明は、以上の点に鑑み提案されたも
ので、テーピングされた電解コンデンサに類するテーピ
ング電子部品の特性検査において、部品をテーピングし
た台紙の伸び縮みや、その送り孔の累積ピッチ誤差に影
響されることなく、接触子を対応する部品のリードに常
時正確に押し当てられるようにし、常時確実な測定・検
出動作を行なえるようにすることを目的としている。
The present invention has been proposed in view of the above points, and in the characteristic inspection of a taping electronic component similar to a taped electrolytic capacitor, expansion and contraction of a mount having the component taped and accumulated pitch error of the feed holes. The purpose of the present invention is to allow the contactor to always be accurately and accurately pressed against the lead of the corresponding component without being affected by, so that reliable measurement / detection operation can always be performed.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、テーピング電子部品の移送経路を形成す
る受け台と、装置前段から上記受け台上に送り込まれた
テーピング電子部品を所定ピッチ間隔で移送経路の後段
方向へ間欠送りする移送手段と、上記移送経路上方に部
品移送方向に沿って配設され、該移送方向にスライド・
遊動可能に組付けられた所定数のブロック体と、この所
定数のブロック体の各々に上記移送方向に沿って所定ピ
ッチ間隔で取付けられた各複数対の接触子と、上記所定
数のブロック体の各々にテーピング電子部品の台紙孔と
等しいピッチ間隔で組付けられた各一対の位置決めピン
とを備える構成を採用し、上記受け台又は各ブロック体
が上記間欠送り動作に連係して相対的に上昇又は下降し
た際、各一対の位置決めピンが受け台上のテーピング電
子部品の台紙孔に倣って挿入・嵌合され、かつ同時に、
上記各複数対の接触子が対応する部品のリードに押し当
てられるようにした。この場合、本発明の1つの技術手
段によると、上記の構成において、中間部に配置された
1つのブロック体が基準ブロックとして部品移送方向に
固定された状態で支持され、他のブロック体が部品移送
方向にスライド・遊動可能に支持されることを特徴とし
ている。
In order to achieve the above object, the present invention provides a pedestal that forms a transfer path for taping electronic components, and a taping electronic component that has been fed onto the pedestal from the preceding stage of the device. A transfer means for intermittently feeding the transfer path in the subsequent stage at a pitch interval, and a slide means arranged above the transfer path along the part transfer direction and sliding in the transfer direction.
A predetermined number of block bodies movably assembled, a plurality of pairs of contacts attached to each of the predetermined number of block bodies at a predetermined pitch along the transfer direction, and the predetermined number of block bodies Each of which has a mounting hole of a taping electronic component and a pair of positioning pins assembled at an equal pitch interval, and the pedestal or each block body is relatively elevated in association with the intermittent feeding operation. Or, when descending, each pair of positioning pins are inserted / fitted following the mount hole of the taping electronic component on the receiving base, and at the same time,
Each of the plurality of pairs of contacts is pressed against the lead of the corresponding component. In this case, according to one technical means of the present invention, in the above configuration, one block body arranged in the intermediate portion is supported as a reference block while being fixed in the component transfer direction, and the other block body is supported. It is characterized in that it is supported so that it can slide and move in the transfer direction.

【0009】[0009]

【作用】テーピング電子部品の電気的特性検査にあた
り、テーピング電子部品は、装置の前段から受け台上に
送り込まれ、移送手段の駆動によって所定ピッチ間隔毎
に後段方向へ順次間欠的に移送される。その間欠送り動
作に連係して受け台又は複数組のブロック体が相対的に
上動又は下降すると、各ブロック体の位置決めピンがテ
ーピング電子部品の台紙孔に倣って挿入・嵌合される。
この挿入・嵌合動作と共に各ブロック体が部品移送方向
に所要量ずつスライド・遊動する。このスライド・遊動
動作により、テーピング電子部品の台紙の伸び縮み、台
紙孔(送り孔)の累積ピッチ誤差が吸収される。同時
に、各ブロック体の各複数対の接触子が対応する部品の
リードに正確に押し当てられる。そして、接触子を通し
てテーピング電子部品の電気的特性が、部品の移送と共
に順次測定される。又、基準ブロックとして、部品移送
方向に対して固定されたブロック体を配置した場合、こ
の基準ブロックの前後に台紙孔の累積ピッチ誤差が分散
されることになり、他の遊動可能なブロック体における
累積ピッチ誤差の吸収が更に容易になる。
In the electrical characteristic inspection of the taping electronic component, the taping electronic component is fed from the front stage of the apparatus onto the pedestal, and is intermittently transferred to the rear stage at predetermined pitch intervals by the driving of the transfer means. When the cradle or a plurality of sets of block bodies are relatively moved up or down in association with the intermittent feeding operation, the positioning pins of each block body are inserted / fitted following the mounting holes of the taping electronic component.
With this insertion / fitting operation, each block body slides / floats by a required amount in the component transfer direction. By this sliding / floating operation, expansion and contraction of the mount of the taping electronic component and accumulated pitch error of the mount hole (feed hole) are absorbed. At the same time, each of the pairs of contacts of each block body is accurately pressed against the lead of the corresponding component. Then, the electrical characteristics of the taping electronic component are sequentially measured through the contactor as the component is transferred. Further, when a block body fixed in the component transfer direction is arranged as the reference block, the accumulated pitch error of the mount holes is dispersed before and after this reference block, and the other movable block bodies are It becomes easier to absorb the accumulated pitch error.

【0010】[0010]

【実施例】以下、この発明の実施例について図面を参照
しながら説明する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0011】図1〜図4は本発明に係る特性検査装置の
主要部を示し、図5はその各測定ブロックに組付けられ
た各複数対の接触子の配列・測定対象項目を表してい
る。また、図6は本発明に係る特性検査装置の全体構成
の概略を示している。
1 to 4 show a main part of a characteristic inspection apparatus according to the present invention, and FIG. 5 shows an arrangement of a plurality of pairs of contacts assembled to each measurement block and items to be measured. . Further, FIG. 6 shows an outline of the entire configuration of the characteristic inspection apparatus according to the present invention.

【0012】図1〜図6において、機枠10の部品搬送
方向搬入口側に取付台11が固定され、この取付台11
上に部品の収納ボックス12が配置されている。収納ボ
ックス12内には、製造工程終了後のテーピング電子部
品、例えば、テーピングされた状態の電解コンデンサ
(以下、テーピング電解コンデンサという)100がツ
ヅラ折りの状態で収納されている。また、機枠10の部
品搬送方向搬出口に設置台13が固定され、この設置台
13上の後端部に部品の収納トレイ14が配置されてい
る。特性検査後の良品のテーピング電解コンデンサ10
0は、収納トレイ14内に順次ツヅラ折り状に折り重ね
られて収納される。
1 to 6, a mounting base 11 is fixed to the machine frame 10 on the carrying-in side in the component transfer direction.
A component storage box 12 is arranged on the upper side. In the storage box 12, a taping electronic component after the manufacturing process is completed, for example, a taped electrolytic capacitor (hereinafter referred to as taping electrolytic capacitor) 100 is stored in a zigzag shape. Further, an installation table 13 is fixed to an exit of the machine frame 10 in the component transfer direction, and a component storage tray 14 is arranged at a rear end of the installation table 13. Good taping electrolytic capacitor after characteristic inspection 10
0 is stored in the storage tray 14 by being sequentially folded and folded in a zigzag shape.

【0013】機枠10の部品搬送経路に沿う位置にテー
ピング品の受け台15が組付けられている。受け台15
は、部品搬送経路の入口から出口に至る長さを有し、そ
の長手方向にテーピング品の台紙110の部分を受け入
れる案内溝150が形成されている。受け台15は、後
述する測定ユニット50の下方に位置し、上下機構17
の駆動により、測定ユニット50に対して相対的に上下
動される。上下機構17は、機枠10の後面部に組付け
られたカム機構18と、このカム機構18のカム動作を
受け台15に伝達し、この受け台15を所定のタイミン
グで上昇・下降させる伝達機構170とから成ってい
る。
A pedestal 15 for taping products is attached to the machine frame 10 at a position along the parts conveying path. Cradle 15
Has a length from the entrance to the exit of the component transport path, and a guide groove 150 for receiving the portion of the mount 110 of the taping product is formed in the longitudinal direction thereof. The pedestal 15 is located below a measurement unit 50, which will be described later, and has a vertical mechanism 17
Is driven to vertically move relative to the measurement unit 50. The up-and-down mechanism 17 transmits to the cam mechanism 18 assembled to the rear surface of the machine frame 10, the cam operation of the cam mechanism 18 to the pedestal 15, and raises and lowers the pedestal 15 at a predetermined timing. It consists of a mechanism 170.

【0014】機枠10の部品搬入口近くにアーム19が
突出しており、このアーム19の端部にテーピング品の
案内ローラ20が回転可能に取付けられている。さら
に、機枠10の部品搬入口側の受け台近くに、ガイドロ
ーラ21と、このガイドローラ21との間にテーピング
台紙110を挾持する送りローラ22とが配設されてい
る。送りローラ22の周面には、テーピング台紙110
をガイドローラ21の周面との間に挾持するための突起
(キザミ)220・・・が凹凸状に形成されている。送
りローラ22は、機枠後面に組付けられたステッピング
モータ23の駆動により、ベルト・プーリ24、25を
介して回転駆動される。この回転駆動により、収納ボッ
クス12から取り出されたテーピング電子部品100・
・・は、その台紙110をガイドローラ21と送りロー
ラ22との間に挾持されて、測定初動位置、すなわち、
後述する第1の支持ブロック511のSN(ショック・
ノイズ)測定用の接触子61、61との対応位置ま
で受け台15上を搬送される。
An arm 19 projects near the component carrying-in port of the machine frame 10, and a guide roller 20 for a taping product is rotatably attached to an end of the arm 19. Further, a guide roller 21 and a feed roller 22 that holds the taping mount 110 between the guide roller 21 and the guide roller 21 are disposed near the pedestal on the component carrying-in side of the machine frame 10. On the peripheral surface of the feed roller 22, the taping mount 110
Are formed in a concavo-convex shape so as to be held between the guide roller 21 and the peripheral surface of the guide roller 21. The feed roller 22 is rotationally driven via the belt pulleys 24 and 25 by driving a stepping motor 23 mounted on the rear surface of the machine frame. By this rotation drive, the taping electronic component 100 /
.. has its mount 110 clamped between the guide roller 21 and the feed roller 22, and the measurement initial movement position, that is,
The SN of the first support block 511 (shock
It is conveyed on the pedestal 15 to the position corresponding to the contactor 61 for noise measurement.

【0015】受け台15には、テーピング品の送り機構
26が組込まれている。送り機構26は、受け台の長手
方向に所定間隔で配置された複数の送り爪260・・・
によって構成されている。各送り爪260・・・は、機
枠後面部に組付けられたカム機構18によって間欠的に
駆動され、図1〜図5の矢印で示すように略矩形状の運
動を行い、第1の位置(イ)から上動し、第2の位置に
おいて、テーピング品の台紙110に形成された送り孔
111に嵌入・係合した後、台紙110の送り孔111
を引っ掛けて位置(ロ)から第3の位置(ハ)の方向に
部品搬送経路上を所定ピッチだけ移動・前進する。次
に、送り爪260は、第3の位置(ハ)から下方の第4
の位置(ニ)へ下降した後、上記第1の位置(イ)に移
動・後退する。各送り爪260は、位置(イ)⇒(ロ)
⇒(ハ)⇒(ニ)⇒(イ)の運動を順次間欠的に行う。
この間欠運動により、受け台15上に載せられた各テー
ピング電解コンデンサ100は、搬送方向終端側(搬出
口)に向けて順次所定ピッチ間隔で間欠的に送られる。
部品搬送方向の搬出口側で、受け台15の出口近くに、
上記同様のガイドローラ27と、送りローラ28とが配
設されている。ガイドローラ27は、移送経路の下方に
自由回転可能に取付けられている。また、送りローラ2
8は、移送経路を挾んで上方に配設されている。送りロ
ーラ28の周面には、テーピング台紙110をガイドロ
ーラ27との間に挾持して送るための突起(キザミ)2
80・・・が凹凸状に形成されている。送りローラ28
は、機枠10の後面部に組付けられたステッピングモー
タ29の駆動によってステップ状に間欠回転される。こ
の間欠回転により、測定検査後のテーピング電解コンデ
ンサ100は、受け台15の終端からその後段へ順次送
り出される。
A feed mechanism 26 for taping products is incorporated in the cradle 15. The feeding mechanism 26 includes a plurality of feeding claws 260 ... Which are arranged at predetermined intervals in the longitudinal direction of the pedestal.
It is composed by. Each of the feed claws 260 ... Is intermittently driven by the cam mechanism 18 assembled to the rear surface of the machine frame, and moves in a substantially rectangular shape as shown by the arrows in FIGS. After moving upward from the position (a) and fitting and engaging with the feed hole 111 formed in the mount 110 of the taping product at the second position, the feed hole 111 of the mount 110 is inserted.
And moves forward from the position (b) to the third position (c) on the component transfer path by a predetermined pitch. Next, the feed claw 260 moves from the third position (C) to the fourth position below.
After descending to the position (d), it moves to and retreats to the first position (a). Each feed claw 260 has a position (a) ⇒ (b)
⇒ (C) ⇒ (D) ⇒ (B) exercise is performed intermittently.
Due to this intermittent movement, each taping electrolytic capacitor 100 placed on the pedestal 15 is intermittently sent at predetermined pitch intervals toward the terminal end (carrying port) in the carrying direction.
On the unloading port side in the component transport direction, near the exit of the cradle 15,
A guide roller 27 and a feed roller 28 similar to the above are provided. The guide roller 27 is attached rotatably below the transfer path. In addition, the feed roller 2
The reference numeral 8 is provided above the transfer path. On the peripheral surface of the feed roller 28, a projection (kizure) 2 for holding the taping mount 110 between the guide roller 27 and feeding it.
80 ... is formed in an uneven shape. Feed roller 28
Is intermittently rotated stepwise by driving a stepping motor 29 mounted on the rear surface of the machine casing 10. By this intermittent rotation, the taping electrolytic capacitor 100 after the measurement inspection is sequentially sent out from the terminal end of the pedestal 15 to the subsequent stage.

【0016】ガイドローラ27、送りローラ28と、収
納トレイ14との間に搬送機構30が介装されている。
A transport mechanism 30 is interposed between the guide roller 27, the feed roller 28, and the storage tray 14.

【0017】搬送機構30は、部品搬送方向の前後に所
定間隔あけて配置されたガイドローラ31、32と、こ
の2つのガイドローラ31、32の間に掛け渡された搬
送ベルト33と、一方のガイドローラ31の周面との間
にテーピング台紙110を挾持して搬送する送りローラ
34と、この送りローラ34をステップ状に間欠回転さ
せるステッピングモータ35とにより構成されている。
The transport mechanism 30 includes guide rollers 31 and 32 arranged at a predetermined distance in the front and rear of the component transport direction, a transport belt 33 stretched between the two guide rollers 31 and 32, and one of them. The guide roller 31 includes a feed roller 34 that holds the taping mount 110 between the peripheral surface of the guide roller 31 and the guide roller 31, and a stepping motor 35 that intermittently rotates the feed roller 34 in steps.

【0018】ガイドローラ27及び送りローラ28と、
搬送機構30の他方のガイドローラ32との間には、テ
ーピング電解コンデンサ100の台紙110の部分を受
ける支持プレート36と、この支持プレート36上のテ
ーピング台紙110の部分を規制する押えプレート37
とが配置されている。ガイドローラ27と送りローラ2
8の間から送り出されたテーピング電解コンデンサ10
0は、支持プレート36と押えプレート37の間を通
り、搬送機構30の搬送ベルト33上に載せられる。そ
して、搬送ベルト33の矢印方向の回動によって、その
後段に配置された収納トレイ14内にツヅラ折り状にな
って順次収納される。
A guide roller 27 and a feed roller 28,
Between the other guide roller 32 of the transport mechanism 30, a support plate 36 that receives the portion of the mount 110 of the taping electrolytic capacitor 100, and a holding plate 37 that regulates the portion of the taping mount 110 on the support plate 36.
And are arranged. Guide roller 27 and feed roller 2
Taping electrolytic capacitor 10 sent from between 8
0 passes between the support plate 36 and the pressing plate 37 and is placed on the conveyor belt 33 of the conveyor mechanism 30. Then, by rotating the conveyor belt 33 in the direction of the arrow, the sheets are sequentially stored in the storage tray 14 arranged in the subsequent stage in a zigzag shape.

【0019】上記の構成において、機枠10には、支持
枠40が立設されている。この支持枠40の前面部に測
定ユニット50の検出機構部が装着されている。測定ユ
ニット50は、支持枠40の前面に部品搬送方向に沿っ
て配列・組付けられた第1、第2、第3、第4及び第5
のブロック体51、52、53、54、及び55と、各
ブロック体51〜55の前面下端から前方に突設された
支持ブロック511、521、531、541、および
551と、この各支持ブロック511、521、53
1、541、及び551に上下に貫通して組付けられた
各複数対(図示の例では各10対)の接触子61・・
・、62・・・、64・・・、及び65・・・と、各支
持ブロック511〜551の長手方向両端部近くに上下
に貫通して組付けられた各一対の位置決めピン66・・
・、66・・・とにより概略構成されている。なお、こ
の実施例においては、各ブロツク体51、52、53、
・・・に各一対の位置決めピン66を設けたが、各ブロ
ック体51、52、53、・・・に1つの位置決めピン
を設置してもよい。
In the above structure, a support frame 40 is erected on the machine frame 10. The detection mechanism of the measurement unit 50 is mounted on the front surface of the support frame 40. The measurement unit 50 is arranged / assembled on the front surface of the support frame 40 along the component conveying direction, and is assembled into the first, second, third, fourth and fifth parts.
Block bodies 51, 52, 53, 54, and 55, support blocks 511, 521, 531, 541, and 551 protruding forward from the front lower ends of the block bodies 51 to 55, and the support blocks 511. , 521, 53
A plurality of pairs of contactors 61 (10 pairs in the illustrated example), which are assembled by vertically penetrating 1, 541 and 551.
, 62 ..., 64 ..., and 65 ... and a pair of positioning pins 66 that are vertically penetrated and installed near both longitudinal ends of each of the support blocks 511 to 551.
, 66 ... and the like. In this embodiment, each block body 51, 52, 53,
Although a pair of positioning pins 66 are provided for each block, one positioning pin may be provided for each block body 51, 52, 53 ,.

【0020】各複数対の接触子61・・・、62・・
・、63・・・、64・・・、及び65・・・の先端
(図の下端部)には、ナイフエッジ状の接触片611、
621、631、641、及び651がそれぞれ取り付
けられている。各接触片611・・・、621・・・、
631・・・、641・・・、及び651・・・は、当
該位置に搬送されてきたテーピング電解コンデンサ10
0の対応するリード端子101、101に押し当てられ
る。接触子61(接触子62、63、64、及び65も
同様の構造であるので、以下、接触子61の構造につい
て主として説明する。)は、支持ブロック511に嵌着
された支持筒部610と、この支持筒部610に上下動
可能に嵌装され、かつ、支持ブロック511の上面で下
方への移動を位置規制された本体軸部612と、この本
体軸部612の先端(下端部)に取り付けられた上記接
触片611とにより構成されている。本体軸部の612
の上端部は、支持ブロック511上に立設した案内部材
512に嵌合・ガイドされている。また、本体軸部61
2の支持ブロック511から下方への突出部分にバネ6
13が介装されており、接触片611がリード端子10
1に押し付けられたときに生ずる衝撃を吸収・緩和する
ようになっている。
.., 62 ...
, 63 ..., 64 ..., and 65 ... (knife edge-shaped contact pieces 611, at the tips (lower end in the figure))
621, 631, 641 and 651 are attached respectively. Each contact piece 611 ..., 621 ...
631 ..., 641 ..., and 651 ... are taping electrolytic capacitors 10 that have been transported to the positions.
The corresponding lead terminals 101, 101 of 0 are pressed. The contactor 61 (the contactors 62, 63, 64, and 65 have the same structure, so the structure of the contactor 61 will be mainly described below) and the support tubular portion 610 fitted to the support block 511. The main body shaft portion 612 is fitted in the support cylinder portion 610 so as to be vertically movable, and the downward movement of the main body shaft portion 612 is restricted by the upper surface of the support block 511. It is constituted by the attached contact piece 611. 612 of the main shaft
The upper end portion of is fitted and guided by a guide member 512 provided upright on the support block 511. In addition, the main body shaft portion 61
The spring 6 is attached to the downward protruding portion of the second support block 511.
13 is interposed, and the contact piece 611 is connected to the lead terminal 10.
It is designed to absorb and mitigate the impact that occurs when it is pressed against 1.

【0021】各接触子61・・・、62・・・、63・
・・、64・・・、及び65・・・には、信号取出しの
ためのリード線67がそれぞれ接続されている。
.., 62 ..., 63 ...
.., 64 .., and 65 .. are connected to lead wires 67 for taking out signals.

【0022】各ブロック体51、52、53、54、及
び55に組付けられた各一対の位置決めピン66、66
は、支持ブロック511に嵌着された支持筒660と、
この支持筒660に上端部を位置規制されて上下に摺動
可能に嵌装された本体軸部661と、この本体軸部66
1の中間部に形成されたフランジ661aと支持ブロッ
ク511の下面との間に介装されたバネ662とにより
構成されている。本体軸部661は、テーピング台紙1
10に形成された送り孔111・・・の孔径より若干小
径に形成され、該送り孔111・・・に所定のクリヤラ
ンスを持って遊嵌されるようになっている。バネ662
は、本体軸部661が送り孔111に嵌挿された際の衝
撃を緩和するための役割を果たしている。本体軸部66
1の先端部は、鋭角先細り状の略円錐形状に形成されて
いる。さらに、各一対の位置決めピン66、66は、テ
ーピング台紙の送り孔111・・・の所定ピッチ分、図
示の例では7ピッチ分に相当する間隔で支持ブロック5
11、521、531、541、および551の各々に
組付けられている。
A pair of positioning pins 66, 66 mounted on the block bodies 51, 52, 53, 54 and 55, respectively.
Is a support cylinder 660 fitted to the support block 511,
A main body shaft portion 661 whose upper end portion is positionally restricted by the support cylinder 660 and which is fitted so as to be slidable up and down, and the main body shaft portion 66.
1 and a spring 662 interposed between the lower surface of the support block 511 and the flange 661a. The main body shaft portion 661 is a taping mount 1
Are formed to have a diameter slightly smaller than the diameter of the feed holes 111 ... Formed in 10, and are loosely fitted in the feed holes 111 ... With a predetermined clearance. Spring 662
Plays a role of alleviating the impact when the main body shaft portion 661 is fitted into the feed hole 111. Body shaft 66
The front end portion of No. 1 is formed in a substantially conical shape with an acute-angled taper. Further, each pair of positioning pins 66, 66 is provided with a support block 5 at intervals corresponding to a predetermined pitch of the feed holes 111 ... Of the taping mount, 7 pitches in the illustrated example.
11, 521, 531, 541, and 551.

【0023】上記ブロック体51〜55の中で、第1、
第2、及び第4、第5のブロック体51、52、及び5
4、55は可動ブロックであり、受け台15と平行に設
けた支持枠40のガイドレール410の部分に直動軸受
411を介して左右にスライド可能、すなわち、部品搬
送方向にスライド可能に支持されている。また、中央の
第3のブロック体53は、基準ブロツクであり、支持枠
40に固定されている。 支持枠40の上部4個所に
は、案内部材41、42及び44、45が組付けられて
おり、対応する第1、第2及び第4、第5のブロック体
51、52、及び54、55の上端縁部を嵌合・ガイド
し、各ブロック体を定位置決めし、かつ、各ブロック体
がスライドした際のスラスト荷重を受けている。
Of the block bodies 51 to 55, the first,
Second, fourth, and fifth block bodies 51, 52, and 5
Numerals 4 and 55 denote movable blocks, which are slidably supported on the guide rails 410 of the support frame 40 provided in parallel with the pedestal 15 via the linear bearings 411, that is, slidably supported in the component conveying direction. ing. The central third block body 53 is a reference block and is fixed to the support frame 40. Guide members 41, 42 and 44, 45 are attached to the upper four places of the support frame 40, and the corresponding first, second and fourth and fifth block bodies 51, 52, 54, 55. The upper end edge of the block is fitted and guided to position each block in a fixed position, and the thrust load when each block slides is received.

【0024】図5に示すように、本実施例では、上記各
接触子の内、第1のブロック体51の番目の接触子6
1は、SN(ショック・ノイズ)測定・検出に用いら
れている。また、第1のブロック体51の番〜10番、
及び第2のブロック体52、及び第3のブロック体53
の各接触子62〜(10)、及び63〜(10)、ならびに
第4のブロック体54の番、番の接触子64、6
4は、LC(リーク・カレント:漏れ電流)検出のた
めの充電用に用いられている。第4のブロック体54の
番の接触子64は、LC測定・検出に用いられてい
る。さらに、第4のブロック体54の番〜番の接触
子64〜は、LC測定後の放電用に用いられてい
る。第4のブロック体54の番の接触子64は、C
ap(キャパシタンス)及びtanδ(損失角:タンジ
ェントデルタ)の測定・検出に用いられ、また(10)番の
接触子64はZ(インピーダンス)の測定・検出に用い
られている。そして、第5のブロック体55の番の接
触子65の位置でZ測定後のテーピング電解コンデン
サ100のリード端子101、101が曲がり、変形等
を修正される。第5のブロツク体55の番〜番の各
接触子65〜65の位置においては、上記各検査項
目の測定結果、不良品と判別されたテーピング電解コン
デサ100の本体部に所定のマーキングが施される。そ
のために、第5のブロック体55の接触子65〜65
の近接位置にマーキング機構68が配設されている。
このマーキング機構68は、駆動回路71から送られる
駆動信号によって作動する。上記番の接触子65の
位置においては、SN(ショックノイズ)測定時に不良
品と判別されたテーピング電解コンデンサ100にマー
キングが施され、番の接触子65の位置において
は、LC(漏れ電流)測定時に不良品と判別されたテー
ピング電解コンデンサ100にマーキングが施される。
また、番の接触子65の位置においては、損失角
(tanδ)測定時に不良品と判別されたテーピング電
解コンデンサ100にマーキングが施され、番の接触
子の位置においては、Cap(キャパシタンス)測定
時に不良品と判別されたテーピング電解コンデンサ10
0にマーキングが施される。さらに、番の接触子65
の位置において、Z(インピーダンス)測定時に不良
品と判別されたテーピング電解コンデンサ100の本体
部にマーキングが施される。
As shown in FIG. 5, in the present embodiment, the 6th contact 6 of the first block body 51 among the above-mentioned respective contacts.
1 is used for SN (shock noise) measurement / detection. In addition, the first block body number 51 to number 10,
And the second block body 52 and the third block body 53
Nos. 62 to (10) and 63 to (10) of the contactor, and the contactors 64, 6 of the fourth block body 54.
4 is used for charging for LC (leak current: leak current) detection. The contactor 64 at the turn of the fourth block body 54 is used for LC measurement / detection. Furthermore, the contact elements 64 to 64 of the fourth block body 54 are used for discharging after LC measurement. The contactor 64 at the turn of the fourth block body 54 is C
It is used for measuring and detecting ap (capacitance) and tan δ (loss angle: tangent delta), and the (10) contactor 64 is used for measuring and detecting Z (impedance). Then, the lead terminals 101, 101 of the taping electrolytic capacitor 100 after the Z measurement is bent at the position of the contact 65 of the fifth block body 55, and the deformation or the like is corrected. At the positions of the contacts 65 to 65 of the fifth block 55, the main body of the taping electrolytic capacitor 100, which is determined to be defective as a result of the measurement of each inspection item, is given a predetermined marking. It Therefore, the contacts 65 to 65 of the fifth block body 55
The marking mechanism 68 is disposed in the vicinity of the position.
The marking mechanism 68 is operated by the drive signal sent from the drive circuit 71. At the position of the numbered contact 65, marking is made on the taping electrolytic capacitor 100 which is determined to be defective at the time of SN (shock noise) measurement, and at the position of the numbered contact 65, LC (leakage current) measurement is performed. The taping electrolytic capacitor 100, which is sometimes determined to be defective, is marked.
Further, at the position of the numbered contact 65, marking is made on the taping electrolytic capacitor 100 which is determined to be a defective product at the time of measuring the loss angle (tan δ), and at the position of the numbered contact, at the time of measuring Cap (capacitance). Taping electrolytic capacitor 10 judged to be defective
0 is marked. In addition, the numbered contact 65
At the position of, the main body of the taping electrolytic capacitor 100, which is determined to be a defective product at the time of Z (impedance) measurement, is marked.

【0025】上記各ステッピングモータ、受け台15の
上下機構、カム機構等の各メカニズムの動作は、MPU
から成る制御部70から送られた制御信号に基づいて互
いに同期・連係してタイミング良く行われる。図示しな
いが、各機構部には、位置検出器、回転角検出器等のセ
ンサ類が配置されており、その検出信号の入力に応答し
て制御部70から信号が送出される。
The operation of each of the above stepping motors, the vertical movement mechanism of the pedestal 15 and the cam mechanism is performed by the MPU.
The control is carried out in good timing in synchronization with each other based on the control signal sent from the control unit 70. Although not shown, sensors such as a position detector and a rotation angle detector are arranged in each mechanism unit, and a signal is sent from the control unit 70 in response to the input of the detection signal.

【0026】上記各検出・測定用の接触子61、64
、64、及び65(10)にて検出された良否検出信号
は、信号処理回路69に入力され、A/D変換等の信号
処理を施された後、制御部70に入力され、演算処理さ
れる。この演算処理の結果は、メモリーに記憶される。
上記検査項目について不良品と判別されると、この不良
のデータがメモリーに記憶される。そして、不良品が上
記マーキング位置に搬送されたとき、上記記憶データに
基づいて制御部70から駆動回路71に信号が送られ
る。駆動回路71は制御部70からの信号に基づいてマ
ーキング機構68にマーキング動作オンの駆動信号を与
える。これによって不良品の本体部に所要のマーキング
が施される。マーキングを施された不良品は、例えば、
以後の工程でテーピング品から取り除かれる。
Contactors 61 and 64 for the above detection and measurement
, 64, and 65 (10), the pass / fail detection signals are input to the signal processing circuit 69, subjected to signal processing such as A / D conversion, and then input to the control unit 70 for arithmetic processing. It The result of this arithmetic processing is stored in the memory.
When it is determined that the inspection item is defective, the defective data is stored in the memory. Then, when the defective product is conveyed to the marking position, a signal is sent from the control unit 70 to the drive circuit 71 based on the stored data. The drive circuit 71 gives a marking operation-on drive signal to the marking mechanism 68 based on a signal from the control unit 70. As a result, the required marking is applied to the main body of the defective product. Defective products with marking are, for example,
It is removed from the taped product in the subsequent process.

【0027】以上の装置構成において、ステッピングモ
ータ23の駆動により、送りローラ22が回転される
と、収納ボックス12から取り出されたテーピング電解
コンデンサ100・・・の先頭部が第1ブロック体51
のSN測定用の接触子61の位置、すなわち、装置の
初動位置に搬送され、その位置検出に基づいて装置の各
機構部が始動する。すると、テーピング品の送り機構2
6と受け台15の上下機構17とが、カム機構18の動
作制御・カム動作に応じて互いに同期・連係して作動す
る。これにより、テーピング電解コンデンサ100が、
台紙110に形成した送り孔111・・・のピッチ間隔
で、受け台15上を1ピッチ分ずつ順次間欠的に送られ
る。そして、1ピッチの送り動作毎に受け台15が所定
高さまで上動し、次に下降復帰する。受け台15が上動
すると、上記第1、第2、及び第4、第5の各ブロック
体51、52、及び54、55、ならびに支持ブロック
511、521、及び541、551は次のような動作
を行う。なお、各ブロック体51、52、及び54、5
5は、同様の動作を行うので、以下、第1ブロック体5
1ならびに支持ブロック511の動作について説明す
る。
In the above device configuration, when the feed roller 22 is rotated by driving the stepping motor 23, the leading portion of the taping electrolytic capacitor 100 ... Taken out from the storage box 12 is the first block body 51.
Is conveyed to the position of the contactor 61 for SN measurement, that is, the initial movement position of the device, and each mechanical part of the device is started based on the position detection. Then, the taping product feed mechanism 2
6 and the up-and-down mechanism 17 of the pedestal 15 are operated in synchronization with each other in accordance with the operation control / cam operation of the cam mechanism 18. As a result, the taping electrolytic capacitor 100 is
The pitches of the feed holes 111 formed in the mount 110 are sequentially and intermittently fed on the receiving table 15 by one pitch. Then, the pedestal 15 moves up to a predetermined height for each one-pitch feeding operation, and then descends and returns. When the pedestal 15 moves upward, the first, second, fourth, and fifth block bodies 51, 52, and 54, 55, and the support blocks 511, 521, and 541, 551 are as follows. Take action. In addition, each block body 51, 52, 54, 5
5 performs the same operation, the first block body 5 will be described below.
1 and the operation of the support block 511 will be described.

【0028】受け台15が所定位置まで上動すると、図
7に示すように、支持ブロック511に組付けた一対の
位置決めピン66、66の各軸部661の先端部がテー
ピング台紙110の対応する送り孔111に倣って挿入
され、図4に示すように、送り孔111を通し所定深さ
まで嵌合される。この挿入・嵌合動作に伴って第1のブ
ロック体51及び支持ブロック511が、図7の矢印で
示すように、部品搬送方向の右方又は左方にスライドす
る。このスライド動作により、支持ブロック511に取
り付けた各接触子61・・・の本体軸部612の中心軸
線が受け台15上のテーピング電解コンデンサ100の
対応する各リード端子101、101の中心線上に正確
に位置合わせ・位置決めされ、各接触子61・・・の接
触片611が対応するリード端子101に正確に押し当
てられる。
When the pedestal 15 moves up to a predetermined position, as shown in FIG. 7, the tip ends of the shaft portions 661 of the pair of positioning pins 66, 66 mounted on the support block 511 correspond to the taping mount 110. It is inserted following the feed hole 111 and, as shown in FIG. 4, is fitted through the feed hole 111 to a predetermined depth. With this insertion / fitting operation, the first block body 51 and the support block 511 slide to the right or left in the component transport direction, as indicated by the arrow in FIG. 7. By this sliding operation, the central axis of the main body shaft portion 612 of each of the contacts 61 ... Attached to the support block 511 is accurately aligned with the central line of the corresponding lead terminal 101, 101 of the taping electrolytic capacitor 100 on the pedestal 15. The contact pieces 611 of the contacts 61 ... Are accurately pressed against the corresponding lead terminals 101.

【0029】周知の通り、テーピング台紙110に形成
された送り孔111は、テーピングされた電解コンデン
サ100・・・の1ピッチに相当するピッチ間隔であ
り、規格で定められた寸法精度を有している。したがっ
て、送り孔111・・・を基準として、その孔111に
倣って位置決めピン66の軸部先端を挿入・嵌合させる
と、この位置決めピン66を一対で取付けた支持ブロッ
ク511と、この支持ブロック511を固定した第1の
ブロック体51とが、位置決めピン66の挿入・嵌合動
作と共に接触子61とリード端子101との位置ズレを
吸収する方向に所要量スライドする。これによって、支
持ブロック511に取付けた各接触子61・・・が対応
するリード端子101に正確に位置決めされる。他の第
2、第4、及び第5のブロック体52、54及び55、
ならびにその各接触子についても同様であり、各接触子
62・・・、64・・・、及び65は対応するリード端
子101に正確に位置合わせされて押し当てられ、接触
される。 (以下、次頁に続く)
As is well known, the feed holes 111 formed in the taping mount 110 have a pitch interval corresponding to one pitch of the taped electrolytic capacitors 100 ... And have a dimensional accuracy defined by the standard. There is. Therefore, when the tip end of the shaft portion of the positioning pin 66 is inserted and fitted along the hole 111 with reference to the feed hole 111, the supporting block 511 having the positioning pin 66 mounted in a pair and the supporting block 511. The first block body 51 to which 511 is fixed slides by a required amount in the direction in which the positional deviation between the contactor 61 and the lead terminal 101 is absorbed together with the insertion / fitting operation of the positioning pin 66. As a result, the contacts 61 ... Attached to the support block 511 are accurately positioned on the corresponding lead terminals 101. The other second, fourth and fifth block bodies 52, 54 and 55,
The same applies to the respective contactors, and the contactors 62 ..., 64 ..., and 65 are accurately aligned and pressed against the corresponding lead terminals 101 to be contacted. (Continued on the next page)

【0030】かくして、台紙110に生じた所定ピッチ
間隔毎の累積ピッチ誤差、例えば、規格で定まった「1
ピッチで(+)(ー)1mm」の累積ピッチ誤差が吸収
され、第1〜第5のブロック体51〜55の各接触子6
1・・・、62・・・、63・・・、64・・・、及び
65がリード端子101に正確に接触する。そして、前
述したように、測定用の各接触子によって、当該位置に
搬送されてきた電解コンデンサ100につき、SN(シ
ョックノイズ)、LC(漏れ電流)、Cap(キャパシ
タンス)及びtanδ(タンジェント・デルタ:損失
角)ならびにZ(インピーダンス)が順次測定・検出さ
れ、その良否判別の検出信号が信号処理回路69を通し
て制御部70に入力される。その演算処理の結果は、制
御部70のメモリーに記憶される。測定項目が不良の場
合、上記記憶データに基づいて制御部70から駆動回路
71に信号が与えられる。すなわち、不良品が第5のブ
ロック体55の各マーキング位置に搬送されると、上記
記憶データに応じた信号が駆動回路71に送出され、こ
の制御部70からの信号に基づいて上記マーキング機構
68が作動し、上記所定の位置において、該当する不良
品の本体部ボディにマーキングが施される。なお、マー
キング機構68に替えて、不良品の除去手段、例えばカ
ッター等の切り取り手段72を上記第5のブロック体5
5の接触子65〜65の近接位置に配設し、不良品
が接触子65〜65の中の対応する接触子の位置に
搬送されたとき、駆動回路71からの駆動信号によって
切り取り手段72を作動させ、当該不良品をテーピング
品から切断するように構成しても良い。
Thus, the cumulative pitch error generated on the mount 110 at each predetermined pitch interval, for example, "1" determined by the standard.
The accumulated pitch error of (+) (-) 1 mm "is absorbed by the pitch, and each contact 6 of the first to fifth block bodies 51 to 55 is absorbed.
1 ..., 62 ..., 63 ..., 64 ..., and 65 accurately contact the lead terminals 101. Then, as described above, the SN (shock noise), LC (leakage current), Cap (capacitance), and tan δ (tangent delta: Loss angle) and Z (impedance) are sequentially measured and detected, and the detection signal for the quality judgment is input to the control unit 70 through the signal processing circuit 69. The result of the arithmetic processing is stored in the memory of the control unit 70. When the measurement item is defective, the control unit 70 gives a signal to the drive circuit 71 based on the stored data. That is, when the defective product is conveyed to each marking position of the fifth block body 55, a signal corresponding to the stored data is sent to the drive circuit 71, and the marking mechanism 68 is based on the signal from the control unit 70. Is activated, and marking is performed on the main body of the corresponding defective product at the predetermined position. In addition, in place of the marking mechanism 68, a defective product removing means, for example, a cutting means 72 such as a cutter is used as the fifth block body 5.
5 is arranged in the vicinity of the contactors 65 to 65, and when the defective product is conveyed to the position of the corresponding contactor in the contactors 65 to 65, the cutting means 72 is driven by the drive signal from the drive circuit 71. The defective product may be cut off from the taping product by being operated.

【0031】なお、中央の第3のブロック体53ならび
にその前面下端から突設された支持ブロック531は、
基準ブロックであり、スライド動作はせず、中央に固定
された状態を保持する。但し、その位置決めピン66、
66は、上記同様に、台紙110の送り孔111、11
1に挿入・嵌合される。このように、所定数のブロック
体のうち、中間部に配置された第3のブロック体53が
中央に固定されているため、第3のブロック体53の前
後に台紙110の累積ピッチ誤差が分散されることにな
り、他の遊動可能なブロック体51、52、54、及び
55による累積ピッチ誤差の吸収が更に容易になる。ま
た、支持ブロック531に組付けられた各接触子63・
・・は、該ブロック531の下方を順次間欠送りされる
電解コンデンサ100・・・の各リード端子101に順
次押し当てられて接触する。そして、支持ブロック53
1及び第3のブロック体53の範囲で順次連続的にLC
充電が行われる。
The central third block body 53 and the support block 531 projecting from the lower end of the front surface of the third block body 53 are
This is a reference block, which does not slide and retains the state of being fixed at the center. However, the positioning pin 66,
66 is the feed holes 111, 11 of the mount 110, as in the above.
1 is inserted and fitted. As described above, among the predetermined number of block bodies, the third block body 53 arranged in the middle portion is fixed to the center, so that the accumulated pitch error of the mount 110 is dispersed before and after the third block body 53. Therefore, it becomes easier for the other movable block bodies 51, 52, 54, and 55 to absorb the accumulated pitch error. In addition, each contactor 63 mounted on the support block 531
.. are sequentially pressed below the block 531 to contact the lead terminals 101 of the electrolytic capacitors 100 ... And the support block 53
LC sequentially and continuously within the range of the first and third block bodies 53
Charging is done.

【0032】なお、上記実施例においては、本発明に係
る特性検査装置をテーピング電解コンデンサに適用した
一例について説明したが、本装置は、電解コンデンサの
特性検査のみならず、同様のテーピング電子部品であっ
て、上記のような測定検出動作を行う必要のあるものに
広く適用可能である。また、上記実施例においては、ブ
ロック体を5個設け、そのうちの中央の1個を固定ブロ
ックとし、他の4個を可動ブロックとしているが、その
数は適宜増減変更できることは云うまでもない。また、
各ブロック体に、組付けた接触子の数も測定検査項目、
測定対象等に応じて増減変更できることは勿論である。
In the above embodiment, an example in which the characteristic inspection apparatus according to the present invention is applied to a taping electrolytic capacitor has been described. However, this apparatus is not limited to the characteristic inspection of the electrolytic capacitor, but can be applied to the same taping electronic parts. Therefore, it can be widely applied to those that need to perform the measurement detection operation as described above. Further, in the above embodiment, five block bodies are provided, one of which is a fixed block and the other four are movable blocks, but it goes without saying that the number can be appropriately increased or decreased. Also,
The number of contacts attached to each block is also a measurement item,
Of course, it is possible to increase / decrease according to the measurement target.

【0033】さらに、上記実施例においては、各ブロッ
ク体及び支持ブロックを上下動しないように上下方向に
固定しておき、これに対して受け台15を上下動させる
ようにしているが、逆に、受け台15を上下方向に固定
しておき、これに対して各ブロック体及び支持ブロック
を上下動させるように構成しても良く、周知のメカニズ
ムでもって容易に実現可能である。要するに、相対的に
上下動できる構成であり、この上下動により位置決めピ
ンが台紙110の送り孔111・・・に倣って挿入・嵌
合され、この挿入嵌合動作に伴って可動ブロックが接触
子の位置ズレを吸収する方向に可動できれば良い。
Further, in the above embodiment, each block body and the support block are fixed in the vertical direction so as not to move up and down, and the pedestal 15 is moved up and down with respect to this, but conversely. The pedestal 15 may be fixed in the up-down direction, and each block body and the support block may be moved up and down with respect to this, which can be easily realized by a known mechanism. In short, the configuration is such that it can move up and down relatively, and by this up and down, the positioning pins are inserted and fitted along the feed holes 111 of the mount 110, and the movable block causes the contactor to move along with this insertion and fitting operation. It suffices if it can move in a direction to absorb the positional deviation of

【0034】[0034]

【発明の効果】以上説明した通り、本発明によれば、下
記の効果を得ることができる。
As described above, according to the present invention, the following effects can be obtained.

【0035】ブロック体を可動ブロックとし、この可
動ブロックを部品搬送方向にスライド可能なコンパライ
アンス構造にすると共に、該可動ブロックに複数対の接
触子と、位置決めピンを装着し、受け台とブロック体の
相対的な上下動により、位置決めピンを台紙孔に倣って
挿入・嵌合させ、この挿入・嵌合動作と共にブロック体
を部品の移送方向のどちらか一方に所要量だけスライド
・可動させるようにしているので、台紙の伸び縮み、若
しくは必然的に生ずる台紙孔の所定ピッチ毎の累積ピッ
チ誤差を確実に吸収することができる。したがって、台
紙の伸び縮み、台紙孔の累積ピッチ誤差に起因する各接
触子の位置ズレをなくし、各接触子を対応するテーピン
グ電子部品のリード端子に正確に位置合わせ・位置決め
し、押し当てて接触させることができる。その結果、常
時確実な測定動作を行うことが可能となり、測定検査の
信頼性を向上させることができる。
The block body is a movable block, and the movable block has a compliance structure slidable in the component conveying direction, and a plurality of pairs of contacts and positioning pins are attached to the movable block to form a pedestal and a block body. The positioning pin is inserted / fitted along the mount hole by the relative vertical movement of, and the block body is slid / moved by the required amount in either one of the component transfer directions along with this insertion / fitting operation. Therefore, it is possible to reliably absorb the expansion and contraction of the mount or the inevitable cumulative pitch error of the mount holes for each predetermined pitch. Therefore, the displacement of each contact due to the expansion and contraction of the mount and the accumulated pitch error of the mount hole is eliminated, each contact is accurately aligned and positioned with the lead terminal of the corresponding taping electronic component, and pressed to contact. Can be made. As a result, it is possible to always perform a reliable measurement operation and improve the reliability of the measurement inspection.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係る特性検査装置の主要部を示す正面
図である。
FIG. 1 is a front view showing a main part of a characteristic inspection device according to the present invention.

【図2】図1に続く本装置の主要部を示す正面図であ
る。
FIG. 2 is a front view showing the main part of the present device following FIG.

【図3】図2に続く本装置の主要部を示す正面図であ
る。
FIG. 3 is a front view showing the main part of the present device following FIG.

【図4】本発明に係る装置の側面図である。FIG. 4 is a side view of the device according to the present invention.

【図5】本発明に係る装置主要部の各接触子の配列状態
及びその機能を模式的に表した模式図である。
FIG. 5 is a schematic diagram schematically showing an arrangement state and functions of each contactor of the main part of the device according to the present invention.

【図6】本発明に係る特性検査装置の全体構成の概略を
示す正面図である。
FIG. 6 is a front view showing the outline of the overall configuration of a characteristic inspection device according to the present invention.

【図7】本発明に係る装置の動作状態を示す要部斜視図
で有る。
FIG. 7 is a perspective view of relevant parts showing an operating state of the device according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

100 テーピング電解コンデンサ(電子部
品) 101 リード端子 15 受け台 26 送り機構 260 送り爪 51〜55 第1〜第5のブロック体 511〜551 支持ブロック 61〜65 接触子 66 位置決めピン 110 台紙 111 台紙孔(送り孔)
100 taping electrolytic capacitor (electronic component) 101 lead terminal 15 cradle 26 feeding mechanism 260 feeding claws 51 to 55 first to fifth block bodies 511 to 551 supporting blocks 61 to 65 contacts 66 positioning pins 110 mounting 111 mounting holes ( (Feed hole)

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 テーピング電子部品の移送経路を形成す
る受け台と、装置前段から前記受け台上に送り込まれた
前記テーピング電子部品を所定ピッチ間隔で前記移送経
路の後段方向へ間欠送りする移送手段と、前記移送経路
上方に部品移送方向に沿って配設され、かつ、前記移送
方向にスライド・遊動可能に組付けられた所定数のブロ
ック体と、この所定数のブロック体の各々に前記移送方
向に沿って所定ピッチ間隔で取付けられた各複数対の接
触子と、前記所定数のブロック体の各々に組付けられた
位置決めピンとを備え、前記受け台又は前記各測定ブロ
ックが前記間欠送り動作に連係して相対的に上昇又は下
降した際、前記各一対の位置決めピンが前記受け台上の
前記テーピング電子部品の台紙孔に倣って挿入・嵌合さ
れ、かつ同時に、前記各複数対の接触子が前記テーピン
グ電子部品の対応するリードに押し当てられるように構
成したことを特徴とするテーピング電子部品の特性検査
装置。
1. A pedestal that forms a transfer path for a taping electronic component, and a transfer means that intermittently feeds the taping electronic component sent from the front stage of the apparatus onto the pedestal at a predetermined pitch in the rearward direction of the transfer route. A predetermined number of block bodies which are arranged above the transfer path along the component transfer direction and are slidably and movably assembled in the transfer direction; and the transfer to each of the predetermined number of block bodies. A plurality of pairs of contacts mounted along the direction at predetermined pitch intervals, and positioning pins assembled to each of the predetermined number of block bodies, and the cradle or each of the measurement blocks performs the intermittent feeding operation. When the pair of positioning pins are relatively moved up or down in association with each other, the pair of positioning pins are inserted / fitted along the mounting holes of the taping electronic component on the receiving base, and at the same time, Note that the plurality of pairs of contacts are pressed against the corresponding leads of the taping electronic component.
【請求項2】 前記所定数のブロック体のうち、中間部
に配置された1つのブロック体が基準ブロックとして部
品移送方向に固定状態で支持され、他のブロック体が前
記移送方向にスライド・遊動可能に支持されていること
を特徴とする請求項1に記載のテーピング電子部品の特
性検査装置。
2. Among the predetermined number of block bodies, one block body disposed in an intermediate portion is supported as a reference block in a fixed state in the component transfer direction, and another block body slides / moves in the transfer direction. The device for inspecting characteristics of a taping electronic component according to claim 1, wherein the device is supported so that it can be supported.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100460523B1 (en) * 2002-03-08 2004-12-08 김광렬 chip examination method
KR100479709B1 (en) * 2002-03-06 2005-03-30 파츠닉(주) Device for taping a lead frame of a condenser
CN110189930A (en) * 2019-05-29 2019-08-30 深圳市图谱锐科技有限公司 A kind of braid capacitor automatic positioning, rubberizing, encapsulated, molding, severing production line and its production technology
CN111627705A (en) * 2020-05-22 2020-09-04 温州源利智能科技有限公司 Inverted conveying device and method for processing thin-film capacitor
CN113936922A (en) * 2021-11-09 2022-01-14 江苏振华新云电子有限公司 Tantalum electrolytic capacitor processing is with preventing blockking up braider

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100479709B1 (en) * 2002-03-06 2005-03-30 파츠닉(주) Device for taping a lead frame of a condenser
KR100460523B1 (en) * 2002-03-08 2004-12-08 김광렬 chip examination method
CN110189930A (en) * 2019-05-29 2019-08-30 深圳市图谱锐科技有限公司 A kind of braid capacitor automatic positioning, rubberizing, encapsulated, molding, severing production line and its production technology
CN110189930B (en) * 2019-05-29 2023-10-13 深圳市图谱锐科技有限公司 Automatic positioning, rubberizing, rubber coating, forming and cutting production line and production process of braid capacitor
CN111627705A (en) * 2020-05-22 2020-09-04 温州源利智能科技有限公司 Inverted conveying device and method for processing thin-film capacitor
CN113936922A (en) * 2021-11-09 2022-01-14 江苏振华新云电子有限公司 Tantalum electrolytic capacitor processing is with preventing blockking up braider

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