JPH0879904A - Abnormality detector for pantograph - Google Patents

Abnormality detector for pantograph

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JPH0879904A
JPH0879904A JP20657194A JP20657194A JPH0879904A JP H0879904 A JPH0879904 A JP H0879904A JP 20657194 A JP20657194 A JP 20657194A JP 20657194 A JP20657194 A JP 20657194A JP H0879904 A JPH0879904 A JP H0879904A
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JP
Japan
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pantograph
train
image
amount
slit laser
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP20657194A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koji Enami
宏治 榎並
Ikuji Hanao
育治 花尾
Hiroyuki Nakayama
博之 中山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication of JPH0879904A publication Critical patent/JPH0879904A/en
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Abstract

PURPOSE: To realize an abnormality detector which can detect the amount of abrasion or breakage of pantograph, deformation of the frame, etc., automatically for a train running at low speed. CONSTITUTION: The abnormality detector for pantograph comprises optical sensors 4a, 4b for detecting entrance of a train 7 when a laser light is intercepted, an illuminator 3 for irradiating the pantograph 5 of the train 7 with light from the side face thereof, a plurality of slits 1a, 1b, 1c for projecting a slit laser light toward the pantograph 5, a plurality of video cameras 2a, 2b, 2c for picking up the image of the pantograph 5, an image processor 29 receiving images from the cameras 2a, 2b, 2c, a record display 28 and a controller 30 connected with the image processor 29. This constitution realizes automatic instantaneous detection of the amount of abrasion and breakage of the pantograph 5 and deformation of the frame 15. Since the detector has simple structure including no movable section, the reliability is enhanced and since the data is collected at high rate, measurement can be made even during low speed running of the train 7 and a safety detector can be realized through remote operation.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、低速走行中の列車に適
用されるパンタグラフの異常検出装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a pantograph abnormality detecting device applied to a train running at a low speed.

【0002】[0002]

【従来の技術】走行する列車が架線より受電するための
パンタグラフについて、図5により説明する。
2. Description of the Related Art A pantograph for a traveling train to receive power from an overhead line will be described with reference to FIG.

【0003】図5に示すパンタグラフ5は、車両7の屋
根に絶縁碍子33で固定されており、屈曲上下動する菱
形のフレーム15と、その上部に取付けられた2枚のそ
り板状の舟体34と、それぞれの舟体34に固定されそ
れぞれが架線6と摺動して受電するすり板13により構
成されている。
The pantograph 5 shown in FIG. 5 is fixed to the roof of a vehicle 7 by an insulator 33, and has a rhombic frame 15 that moves up and down in bending, and two sled plate-shaped boats attached to the upper part thereof. 34, and the slide plates 13 fixed to the respective boats 34 and slidingly receiving the power by sliding on the overhead line 6.

【0004】上記架線6はハンガ等で吊支され、振れ止
め具などにて固定されているが、これらの支持物に何ら
かの異常が発生すると、パンタグラフ5の舟体34やす
り板13に衝突することがあり、舟体34の変形、すり
板の割損、パンタグラフ5の変形、破損等が起る場合が
ある。このような事態が発生すると、パンタグラフ5は
受電不良となり、列車運行に支障が出るため、異常事態
を早期に発見し、対策することが必要である。
The overhead wire 6 is suspended by a hanger or the like and is fixed by a steady rest or the like. However, if any abnormality occurs in these supports, the overhead wire 6 may collide with the rasp plate 13 of the boat 34 of the pantograph 5. Therefore, the boat body 34 may be deformed, the contact plate may be broken, and the pantograph 5 may be deformed or damaged. If such a situation occurs, the pantograph 5 will have a poor power reception, and the train operation will be hindered. Therefore, it is necessary to detect the abnormal situation early and take countermeasures.

【0005】従来のパンタグラフの異常検出において
は、図6(a)に示すように、車両軌道上部にパンタグ
ラフ5全体が撮影できるビデオカメラ03を設け、その
画像信号を画像処理するなどして異常の検出が行われて
いた。
In the conventional pantograph abnormality detection, as shown in FIG. 6 (a), a video camera 03 capable of photographing the entire pantograph 5 is provided in the upper part of the vehicle track, and the image signal of the video camera 03 is processed to detect the abnormality. Detection was taking place.

【0006】即ち、パンタグラフ5の形状を認識するこ
とにより、図6(b)中に破線で示すようなパンタグラ
フ5における舟体34やフレーム15の変形やすり板1
3の異常の有無の検出がなされていた。
That is, by recognizing the shape of the pantograph 5, the deformation file 1 of the boat 34 and the frame 15 in the pantograph 5 as shown by the broken line in FIG. 6B.
The presence or absence of the abnormality of 3 was detected.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】従来のパンタグラフの
異常検出においては、ビデオカメラの撮影画像を二値化
処理し、舟体やすり板などの形状を認識して、正常時の
画像との比較により変形量を検出していた。
In the conventional abnormality detection of the pantograph, the image taken by the video camera is binarized to recognize the shape of the boat rasp and the like, and the result is compared with the image at the normal time. The amount of deformation was detected.

【0008】しかしながら、この変形の検出分解能がビ
デオカメラの撮像画素数により制限され、撮影範囲が制
約されるため、小さな変形を正確に測定することは困難
であり、比較的大きな変形のみの測定に限定されるとい
う課題があった。
However, since the detection resolution of this deformation is limited by the number of image pickup pixels of the video camera and the photographing range is limited, it is difficult to accurately measure a small deformation, and only a relatively large deformation can be measured. There was a problem of being limited.

【0009】本発明は、上記課題を解決するためになさ
れたもので、低速走行中の列車におけるパンタグラフの
すり板の摩耗、割損、舟体の変形、およびパンタグラフ
の変形などの異常を同時に自動検出することができる装
置を提供することを目的とする。
The present invention has been made to solve the above problems, and automatically detects abnormalities such as wear, cracking, deformation of the hull, and deformation of the pantograph of a pantograph in a train running at low speed. An object is to provide a device capable of detecting.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明のパンタグラフの
異常検出装置は、列車の進入路を挟み対向して設置され
た光センサと、同光センサの近傍に配設された照明装置
と、上記光センサの設置位置の進入路方向前方に配設さ
れパンタグラフを撮像する複数のビデオカメラと、同そ
れぞれのカメラと一定間隔を保持して配設されそれぞれ
のカメラと対をなしそれぞれスリットレーザ光をパンタ
グラフに照射するスリットレーザ発振器と、上記光セン
サと照明装置とビデオカメラとスリットレーザ発振器が
接続された画像処理装置と、同装置に接続された記録表
示装置と制御装置を備え、上記画像処理装置が、パンタ
グラフに照射されたスリットレーザ光の高さからパンタ
グラフの摩耗量を測定する手段と、画像の陰影からパン
タグラフの割損を検知する手段と、3次元座標を計算し
フレームの変形量を測定する手段とにより形成されたこ
とを特徴としている。
An abnormality detecting device for a pantograph according to the present invention includes an optical sensor installed opposite to each other with an approach road of a train interposed therebetween, an illuminating device arranged in the vicinity of the optical sensor, and A plurality of video cameras arranged in front of the installation position of the optical sensor for taking an image of the pantograph, and a plurality of video cameras arranged at fixed intervals with the respective cameras to form slit laser light respectively. The image processing apparatus includes a slit laser oscillator for irradiating a pantograph, an image processing device to which the optical sensor, the illumination device, a video camera and a slit laser oscillator are connected, and a recording display device and a control device connected to the device. However, a means to measure the amount of wear of the pantograph from the height of the slit laser light applied to the pantograph, and the breakage of the pantograph from the shadow of the image. Means for knowledge, is characterized in that it is formed by means for measuring the amount of deformation of the frame to calculate the three-dimensional coordinates.

【0011】[0011]

【作用】上記において、列車が進入路を進入して、光セ
ンサからのレーザ光を遮断すると、複数のスリットレー
ザ発振器がパンタグラフにスリットレーザ光を照射し、
複数のビデオカメラがパンタグラフを水平方向に分割し
て撮像し、それぞれの画像を画像処理装置に入力する。
In the above, when the train enters the approach path and shuts off the laser light from the optical sensor, the slit laser oscillators irradiate the pantograph with the slit laser light,
A plurality of video cameras divide the pantograph in the horizontal direction to pick up the images, and input the respective images to the image processing device.

【0012】上記画像を入力した画像処理装置は、パン
タグラフに照射されたスリットレーザ光を抽出し、これ
を画像処理してパンタグラフの中央の高さを求め、摩耗
量を算出する。
The image processing apparatus that has received the above image extracts the slit laser light emitted to the pantograph, performs image processing on the slit laser light, obtains the height of the center of the pantograph, and calculates the amount of wear.

【0013】また、パンタグラフの側面の低い角度から
照明装置で照射することにより、割損部分がある場合に
この部分に形成される陰影を抽出して、割損の大きさと
位置を求める。さらに、得られたパンタグラフ上におけ
る複数のスリットレーザ光照射部分の特定位置について
の3次元座標を計算し、フレームの変形量を求める。
Further, by irradiating from a low angle on the side surface of the pantograph with a lighting device, when there is a fractured portion, the shadow formed in this portion is extracted, and the magnitude and position of the fractured portion are obtained. Further, the three-dimensional coordinates of the specific positions of the plurality of slit laser light irradiation portions on the obtained pantograph are calculated, and the deformation amount of the frame is obtained.

【0014】上記により得られたパンタグラフの摩耗
量、パンタグラフの割損、及びフレームの変形量のデー
タは記録表示装置に入力され、同装置により自動的に表
示される。
The data of the amount of wear of the pantograph, the breakage of the pantograph, and the amount of deformation of the frame obtained as described above are input to a recording / display device and automatically displayed by the device.

【0015】[0015]

【実施例】本発明の一実施例に係るパンタグラフの異常
検出装置を図1に示す。図1に示す本実施例に係る装置
は、列車7の進入路を挟み対向して設置された光センサ
4a,4b、一方の光センサ4aの近傍に配設された照
明装置3、上記光センサ4a,4bの設置位置より進入
路方向前方に配設され列車7がその中を通過する門型の
架台8、同架台8上に一定間隔を有して配設されそれぞ
れパンタグラフ5の右側部、中央部、左側部を撮影する
ビデオカメラ2a,2b,2c、同ビデオカメラ2a,
2b,2cの近傍にそれぞれ配設されたスリットレーザ
発振器1a,1b,1c、上記光センサ4a,4bと照
明装置3とビデオカメラ2a,2b,2cとスリットレ
ーザ発振器1a,1b,1cが電線により接続された画
像処理装置29、および同画像処理装置29が接続され
た記録表示装置28と制御装置30を備えている。
FIG. 1 shows a pantograph abnormality detecting apparatus according to an embodiment of the present invention. The apparatus according to the present embodiment shown in FIG. 1 includes optical sensors 4a and 4b that are installed to face each other across an approach road of a train 7, an illuminating device 3 arranged near one optical sensor 4a, and the optical sensor. 4a and 4b are installed in the front of the approach road from the installation position, and a train-shaped pedestal 8 through which the train 7 passes, the pedestal 8 and the right-side portion of the pantograph 5, which are arranged at regular intervals, Video cameras 2a, 2b, 2c for shooting the central part and the left side, and the same video camera 2a,
The slit laser oscillators 1a, 1b, 1c respectively arranged near 2b, 2c, the optical sensors 4a, 4b, the lighting device 3, the video cameras 2a, 2b, 2c, and the slit laser oscillators 1a, 1b, 1c are connected by electric wires. An image processing device 29 connected thereto, and a recording / display device 28 and a control device 30 to which the image processing device 29 is connected are provided.

【0016】上記において、列車7が進入路を進行し、
所定の位置に到達し、光センサ4a,4bからのレーザ
光を遮断すると、制御装置30による制御により、スリ
ットレーザ発振器1a,1b,1cがスリットレーザ光
を放射し、続いて、ビデオカメラ2a,2b,2cがパ
ンタグラフ5を撮像する。なお、上記カメラ2a,2
b,2cは、列車7が走行中のため、高速シャッタ付ビ
デオカメラを使用する。
In the above, the train 7 advances on the approach road,
When the laser light from the optical sensors 4a and 4b is cut off when reaching the predetermined position, the slit laser oscillators 1a, 1b and 1c emit slit laser light under the control of the control device 30, and then the video camera 2a, 2b and 2c image the pantograph 5. The cameras 2a, 2
Since train 7 is running, b and 2c use video cameras with high-speed shutters.

【0017】上記ビデオカメラ2a,2b,2cにより
得られた画像は画像処理装置29に入力され、画像処理
装置29は、パンタグラフ5の摩耗量の測定、パンタグ
ラフ5の傾きとフレーム15の変形の測定、およびパン
タグラフ5の割損の検出のための処理を行うが、まず、
パンタグラフ5の摩耗量の測定要領について、図2によ
り説明する。
The images obtained by the video cameras 2a, 2b, 2c are input to the image processing device 29, which measures the wear amount of the pantograph 5, the inclination of the pantograph 5 and the deformation of the frame 15. , And the processing for detecting the breakage of the pantograph 5, but first,
The procedure for measuring the amount of wear of the pantograph 5 will be described with reference to FIG.

【0018】なお、摩耗量の検出は、架線6との摺動に
よりパンタグラフ5の中央付近が摩耗するため、この部
分にすり板13を張付けているが、これが摩耗した場合
に取替える必要があるために行うものである。
The wear amount is detected by sliding the contact wire 6 around the center of the pantograph 5, so that the sliding plate 13 is attached to this part, but if it wears, it must be replaced. Is what you do.

【0019】図2(a)において、上記ビデオカメラ2
a,2b,2cから入力された#1,#2,#3画像1
0,11,12には、照射されたスリットレーザ光9の
高さhが周囲より特に明るく撮像されている。
In FIG. 2A, the video camera 2 described above is used.
# 1, # 2, # 3 image 1 input from a, 2b, 2c
At 0, 11, and 12, the height h of the irradiated slit laser light 9 is imaged particularly brighter than the surroundings.

【0020】したがって、スリットレーザ光9の強度と
周囲の明るさから予め設定したしきい値以上の明るさを
抽出することにより、スリットレーザ光9の高さhを得
ることができる。なお、このスリットレーザ光の高さh
は、パンタグラフ5が曲面を持たない部分に形成される
ものであるから直線である。
Therefore, the height h of the slit laser beam 9 can be obtained by extracting the brightness equal to or higher than the preset threshold value from the intensity of the slit laser beam 9 and the ambient brightness. The height h of this slit laser light
Is a straight line because the pantograph 5 is formed in a portion having no curved surface.

【0021】ビデオカメラ2bにより撮像された原画像
11は、図2(c)に示すように画像処理がなされる
が、この画像11は横512画素、縦480画素で構成
されているため、1画素が何mmに相当するかを計測し、
パンタグラフ5の製作時の高さh0を予め計っておくこ
とにより、摩耗量Δhはh0−h=Δhから求められ
る。
The original image 11 picked up by the video camera 2b is subjected to image processing as shown in FIG. 2 (c). Since this image 11 is composed of 512 horizontal pixels and 480 vertical pixels, 1 Measure how many millimeters a pixel corresponds to,
By preliminarily measuring the height h0 of the pantograph 5 when it is manufactured, the wear amount Δh can be obtained from h0−h = Δh.

【0022】次に、パンタグラフ5の傾きとフレーム1
5の変形量の測定要領について、図3を用いて説明す
る。この計測は、3次元計測により特定点の座標を求め
て行うものであり、この座標は、次のように求められ
る。
Next, the tilt of the pantograph 5 and the frame 1
The procedure for measuring the deformation amount of No. 5 will be described with reference to FIG. This measurement is performed by obtaining the coordinates of a specific point by three-dimensional measurement, and the coordinates are obtained as follows.

【0023】即ち、スリットレーザ発振器1a,1b,
1cはビデオカメラ2a,2b,2cから一定の距離L
の位置にあるため、スリットレーザ光9は一定の角度で
パンタグラフ5を照射する。いま、受光点が画像10
a,11a,12aにおけるAのとき、画素数i1 から
1 方向の距離が求められ、画像10b,11b,12
bにおけるBのときは画素数i2 からy2 方向の距離が
求められる。
That is, the slit laser oscillators 1a, 1b,
1c is a fixed distance L from the video cameras 2a, 2b, 2c
The slit laser beam 9 irradiates the pantograph 5 at a constant angle. Now, the light receiving point is image 10
a, 11a, when A in 12a, the distance from the number of i 1 of the y 1 direction pixel is obtained, image 10b, 11b, 12
In the case of B in b, the distance in the y 2 direction is obtained from the number of pixels i 2 .

【0024】図1に示すパンタグラフ5は、支持してい
るフレーム15が変形すると傾く。このパンタグラフ5
の傾きは、図3(b),(c),(d)に示すL1,L
2,L3の位置を解析することによりわかる。
The pantograph 5 shown in FIG. 1 tilts when the supporting frame 15 is deformed. This pantograph 5
The slopes of L1 and L2 shown in FIGS. 3B, 3C, and 3D are
It can be found by analyzing the positions of 2, L3.

【0025】即ち、フレーム15の変形がないときは図
3(c)に示すように横に真直ぐな直線となり、フレー
ム15に変形があるときは図3(d)に示すように水平
線17に対して傾斜する。前記の図3(a)に示す画像
処理方法により、次の関係を求める。
That is, when the frame 15 is not deformed, it becomes a horizontal straight line as shown in FIG. 3 (c), and when the frame 15 is deformed, it becomes horizontal with respect to the horizontal line 17 as shown in FIG. 3 (d). Incline. The following relationships are obtained by the image processing method shown in FIG.

【0026】Y=f(X .Z) Z=g(X .Y) この関係よりパンタグラフ5の傾きとフレーム15の変
形を求めることができる。
Y = f (X.Z) Z = g (X.Y) From this relationship, the inclination of the pantograph 5 and the deformation of the frame 15 can be obtained.

【0027】次に、パンタグラフ5に生じる割損の検出
要領について、図3(b)により説明する。図3(b)
に示すように、パンタグラフ5は照明装置3により側面
の低い角度から照射されており、割損16があると陰影
が生じるため、この陰影より割損16の大きさと位置を
検出することができる。
Next, the procedure for detecting the breakage occurring in the pantograph 5 will be described with reference to FIG. FIG. 3 (b)
As shown in, the pantograph 5 is illuminated by the lighting device 3 from a low angle on the side surface, and since there is a shadow if there is a break 16, the size and position of the break 16 can be detected from this shadow.

【0028】上記により画像処理装置29で得られたパ
ンタグラフ5の摩耗量、傾き、及び割損に関するデータ
は記録表示装置28に入力され、同装置28により表示
される。
Data relating to the amount of wear, the inclination, and the breakage of the pantograph 5 obtained by the image processing device 29 as described above are input to the record display device 28 and displayed by the device 28.

【0029】上記のように、本実施例に係るパンタグラ
フの異常検出装置は、3台のカメラで各1枚、計3枚の
パンタグラフの画像を形成し、パンタグラフの摩耗量と
割損、フレームの変形量が同時に検出できるが、さら
に、カメラの台数を増加することにより、パンタグラフ
以外の機器の異常を検出することもできる。
As described above, the abnormality detecting apparatus for a pantograph according to the present embodiment forms an image of three pantographs, one for each of three cameras, a total of three pantograph images, and the amount of wear and breakage of the pantograph and the frame. Although the deformation amount can be detected at the same time, it is also possible to detect an abnormality in a device other than the pantograph by increasing the number of cameras.

【0030】図4は、本実施例に係る装置により行われ
る諸データの検出についての処理手順をフローチャート
に示したものであり、以下このフローチャートに従って
処理手順を説明する。
FIG. 4 is a flow chart showing a processing procedure for detecting various data performed by the apparatus according to the present embodiment, and the processing procedure will be described below with reference to this flowchart.

【0031】列車7が進入し、光センサ4a,4bから
のレーザ光の遮断21が行われると、ビデオカメラ2
a,2b,2cがパンタグラフ5の撮像22を行い、#
1,#2,#3画像10,11,12を得る。この画像
10,11,12は画像処理装置29に入力され、同装
置29は画像の影の抽出23を行い、パンタグラフ5に
生じた割損16を求める。
When the train 7 enters and shuts off the laser light from the optical sensors 4a and 4b 21, the video camera 2
a, 2b, 2c perform the imaging 22 of the pantograph 5, and #
1, # 2, # 3 images 10, 11 and 12 are obtained. The images 10, 11 and 12 are input to the image processing device 29, and the device 29 extracts the shadow 23 of the image and obtains the breakage 16 generated in the pantograph 5.

【0032】続いて、画像処理装置29はパンタグラフ
5に照射されたスリットレーザ光9の抽出24を行い、
このレーザ光9の高さhの抽出25を行って、摩耗31
を算出する。さらに、パンタグラフ5上のL1,L2,
L3の位置について3次元座標を計算26し、直線の式
27を求めて、フレームの歪み32を算出する。上記に
より求められた割損、摩耗、フレームの歪みは記録表示
装置28で記録、表示させる。
Subsequently, the image processing device 29 extracts 24 the slit laser light 9 with which the pantograph 5 is irradiated,
The height h of the laser beam 9 is extracted 25, and wear 31
To calculate. Furthermore, L1, L2 on the pantograph 5
A three-dimensional coordinate 26 is calculated for the position L3, a straight line expression 27 is obtained, and a frame distortion 32 is calculated. The breakage, wear, and frame distortion obtained as described above are recorded and displayed on the recording / display device 28.

【0033】[0033]

【発明の効果】本発明のパンタグラフの異常検出装置
は、列車の進入によりレーザ光が遮断される光センサ
と、列車のパンタグラフに側面より光を照射する照明装
置と、パンタグラフにスリットレーザ光を照射する複数
のスリットレーザ発振器と、パンタグラフを撮像する複
数のビデオカメラと、同カメラより画像を入力する画像
処理装置と、同装置に接続された記録表示装置と制御装
置を備えたことによって、パンタグラフの摩耗量、割
損、フレームの変形が自動的に同時かつ瞬時に検出する
ことができるとともに、構造が簡単で可動部がないため
信頼性が高く、データの収集が高速のため列車の走行中
にも測定することができ、遠隔操作のため安全性の高い
装置を実現する。
The abnormality detecting device for a pantograph according to the present invention includes an optical sensor for cutting off the laser light when a train enters, an illuminating device for irradiating the pantograph of the train with light from the side, and a slit laser light for irradiating the pantograph. By providing a plurality of slit laser oscillators, a plurality of video cameras for capturing a pantograph, an image processing device for inputting an image from the cameras, a recording display device and a control device connected to the device, The amount of wear, cracking, and frame deformation can be detected automatically and simultaneously, and the structure is simple and there are no moving parts, so reliability is high. It is also possible to measure, and realize a highly safe device because it is operated remotely.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例に係る異常検出装置の斜視図
である。
FIG. 1 is a perspective view of an abnormality detection device according to an embodiment of the present invention.

【図2】上記一実施例に係るパンタグラフの摩耗量測定
の説明図で、(a)はスリットレーザ光が照射された状
態の画像、(b)はビデオカメラにより撮像された原画
像、(c)は画像処理された画像の説明図である。
2A and 2B are explanatory diagrams of measuring the amount of wear of a pantograph according to the above embodiment, FIG. 2A is an image in a state where slit laser light is irradiated, FIG. 2B is an original image captured by a video camera, and FIG. ) Is an explanatory view of an image subjected to image processing.

【図3】上記一実施例に係るフレームの変形量測定の説
明図で、(a)は3次元計測、(b)は3台のビデオカ
メラにより撮像された画像を結合した状態、(c)はフ
レームに変形がある場合、(d)はフレームに変形がな
い場合の説明図である。
3A and 3B are explanatory diagrams of the measurement of the amount of deformation of a frame according to the above embodiment, FIG. 3A is a three-dimensional measurement, FIG. 3B is a state in which images captured by three video cameras are combined, and FIG. FIG. 6A is an explanatory diagram when the frame is deformed, and FIG. 7D is an explanatory diagram when the frame is not deformed.

【図4】上記一実施例に係る処理手順を示すフロー図で
ある。
FIG. 4 is a flowchart showing a processing procedure according to the embodiment.

【図5】パンタグラフの説明図で、(a)は側面図、
(b)は斜視図である。
FIG. 5 is an explanatory view of a pantograph, (a) is a side view,
(B) is a perspective view.

【図6】従来の装置の説明図で、(a)は側面図、
(b)は作用説明図である。
FIG. 6 is an explanatory view of a conventional device, (a) is a side view,
(B) is an operation explanatory view.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a,1b,1c スリットレーザ発振器 2a,2b,2c ビデオカメラ 3 照明装置 4a,4b 光センサ 5 パンタグラフ 6 架線 7 列車 8 架台 9 スリットレーザ光 10,11,12 画像 13 すり板 15 フレーム 16 割損 28 記録表示装置 29 画像処理装置 30 制御装置 33 絶縁碍子 34 舟体 35 ホーン棒 1a, 1b, 1c Slit laser oscillator 2a, 2b, 2c Video camera 3 Lighting device 4a, 4b Optical sensor 5 Pantograph 6 Overhead line 7 Train 8 Frame 9 Slit laser light 10, 11, 12 Image 13 Sliding plate 15 Frame 16 Split loss 28 Record display device 29 Image processing device 30 Control device 33 Insulator 34 Boat hull 35 Horn bar

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 列車の進入路を挟み対向して設置された
光センサと、同光センサの近傍に配設された照明装置
と、上記光センサの設置位置の進入路方向前方に配設さ
れパンタグラフを撮像する複数のビデオカメラと、同そ
れぞれのカメラと一定間隔を保持して配設されそれぞれ
のカメラと対をなしそれぞれスリットレーザ光をパンタ
グラフに照射するスリットレーザ発振器と、上記光セン
サと照明装置とビデオカメラとスリットレーザ発振器が
接続された画像処理装置と、同装置に接続された記録表
示装置と制御装置を備え、上記画像処理装置が、パンタ
グラフに照射されたスリットレーザ光の高さからパンタ
グラフの摩耗量を測定する手段と、画像の陰影からパン
タグラフの割損を検知する手段と、3次元座標を計算し
フレームの変形量を測定する手段とにより形成されたこ
とを特徴とするパンタグラフの異常検出装置。
1. An optical sensor installed opposite to each other across an approach road of a train, an illuminating device arranged near the optical sensor, and a light sensor installed in front of the installation position of the optical sensor. A plurality of video cameras for picking up the pantograph, a slit laser oscillator for irradiating the respective pantographs with slit laser light, which is arranged with the respective cameras being kept at a constant interval, to form a pair with each camera, the optical sensor and the illumination. An image processing device to which a device, a video camera, and a slit laser oscillator are connected, and a recording display device and a control device connected to the device. A means to measure the amount of wear on the pantograph, a means to detect the breakage of the pantograph from the shadow of the image, and a three-dimensional coordinate to measure the amount of frame deformation. An abnormality detecting device for a pantograph, characterized by being formed by means for determining.
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Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH109837A (en) * 1996-06-26 1998-01-16 Nissan Motor Co Ltd Surface flaw inspection apparatus
WO2005090903A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-29 Jrb Engineering Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
JP2006118900A (en) * 2004-10-20 2006-05-11 Hitachi Industries Co Ltd Inspection device for pantograph contact strip
JP2008104312A (en) * 2006-10-20 2008-05-01 Meidensha Corp Pantograph measurement device by image processing
WO2009018612A1 (en) * 2007-08-06 2009-02-12 Qr Limited Pantograph damage and wear monitoring system
WO2010086045A2 (en) * 2009-01-28 2010-08-05 Siemens Aktiengesellschaft Monitoring arrangement and method for monitoring the state of the slip contact devices of electric locomotives
AU2005224291B2 (en) * 2004-03-19 2011-06-16 Siemens Mobility Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
JP2011180049A (en) * 2010-03-03 2011-09-15 Central Japan Railway Co Pantograph monitoring system
WO2012175773A1 (en) * 2011-06-20 2012-12-27 Universidad De Vigo System and method for measuring the thickness of collector shoes of a pantograph
CN104567729A (en) * 2014-12-31 2015-04-29 苏州华兴致远电子科技有限公司 Monitoring method and device for operating state of pantograph
DE102014226694A1 (en) 2014-12-19 2015-12-31 Siemens Aktiengesellschaft Recording the contact errors between the overhead line and the wear strips
CN104237710B (en) * 2014-10-13 2017-02-15 武汉工程大学 Pantograph characteristic testing device based on sensors
ITUA20162991A1 (en) * 2016-04-28 2017-10-28 Eletech Srl Automatic pantograph diagnostic method for multiple electric units
JP2018522526A (en) * 2015-05-12 2018-08-09 カムリン イタリー ソチエタ レスポンサビリタ リミタータCamlin Italy S.R.L. System and method for video inspection of pantographs along an imaginary contact line
CN108556634A (en) * 2018-03-28 2018-09-21 武汉麦子科技有限公司 A kind of pneumatics corner pantograph and monitoring system and its monitoring method
CN109211125A (en) * 2018-11-05 2019-01-15 北京华开领航科技有限责任公司 Contact line Abrasion detecting device
KR20210005418A (en) * 2019-07-04 2021-01-14 한국철도기술연구원 Pantograph inspection apparatus
CN112781492A (en) * 2020-12-25 2021-05-11 江苏集萃智能光电系统研究所有限公司 Multi-binocular-based train pantograph slide plate abrasion online detection equipment and method

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH109837A (en) * 1996-06-26 1998-01-16 Nissan Motor Co Ltd Surface flaw inspection apparatus
AU2005224291B2 (en) * 2004-03-19 2011-06-16 Siemens Mobility Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
WO2005090903A1 (en) * 2004-03-19 2005-09-29 Jrb Engineering Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
EP1766326A1 (en) * 2004-03-19 2007-03-28 JRB Engineering Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
EP1766326A4 (en) * 2004-03-19 2007-10-24 Jrb Engineering Pty Ltd Optical method of determining a physical attribute of a moving object
US7492448B2 (en) 2004-03-19 2009-02-17 Jrb Engineering Pty Ltd. Optical method of determining a physical attribute of a moving object
JP2006118900A (en) * 2004-10-20 2006-05-11 Hitachi Industries Co Ltd Inspection device for pantograph contact strip
JP2008104312A (en) * 2006-10-20 2008-05-01 Meidensha Corp Pantograph measurement device by image processing
WO2009018612A1 (en) * 2007-08-06 2009-02-12 Qr Limited Pantograph damage and wear monitoring system
JP2010535658A (en) * 2007-08-06 2010-11-25 キューアール リミテッド System for monitoring pantograph damage and wear
US9061594B2 (en) 2007-08-06 2015-06-23 Qr Limited Pantograph damage and wear monitoring system
WO2010086045A3 (en) * 2009-01-28 2011-05-12 Siemens Aktiengesellschaft Monitoring arrangement and method for monitoring the state of the slip contact devices of electric locomotives
WO2010086045A2 (en) * 2009-01-28 2010-08-05 Siemens Aktiengesellschaft Monitoring arrangement and method for monitoring the state of the slip contact devices of electric locomotives
JP2011180049A (en) * 2010-03-03 2011-09-15 Central Japan Railway Co Pantograph monitoring system
ES2394902A1 (en) * 2011-06-20 2013-02-06 Universidade De Vigo System and method for measuring the thickness of collector shoes of a pantograph
WO2012175773A1 (en) * 2011-06-20 2012-12-27 Universidad De Vigo System and method for measuring the thickness of collector shoes of a pantograph
CN104237710B (en) * 2014-10-13 2017-02-15 武汉工程大学 Pantograph characteristic testing device based on sensors
DE102014226694A1 (en) 2014-12-19 2015-12-31 Siemens Aktiengesellschaft Recording the contact errors between the overhead line and the wear strips
CN104567729A (en) * 2014-12-31 2015-04-29 苏州华兴致远电子科技有限公司 Monitoring method and device for operating state of pantograph
JP2018522526A (en) * 2015-05-12 2018-08-09 カムリン イタリー ソチエタ レスポンサビリタ リミタータCamlin Italy S.R.L. System and method for video inspection of pantographs along an imaginary contact line
ITUA20162991A1 (en) * 2016-04-28 2017-10-28 Eletech Srl Automatic pantograph diagnostic method for multiple electric units
CN108556634A (en) * 2018-03-28 2018-09-21 武汉麦子科技有限公司 A kind of pneumatics corner pantograph and monitoring system and its monitoring method
CN108556634B (en) * 2018-03-28 2019-04-02 武汉麦子科技有限公司 A kind of pneumatics corner pantograph and monitoring system and its monitoring method
CN109211125A (en) * 2018-11-05 2019-01-15 北京华开领航科技有限责任公司 Contact line Abrasion detecting device
KR20210005418A (en) * 2019-07-04 2021-01-14 한국철도기술연구원 Pantograph inspection apparatus
CN112781492A (en) * 2020-12-25 2021-05-11 江苏集萃智能光电系统研究所有限公司 Multi-binocular-based train pantograph slide plate abrasion online detection equipment and method

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