JPH0879752A - ブロック歪み検出装置 - Google Patents
ブロック歪み検出装置Info
- Publication number
- JPH0879752A JPH0879752A JP20775194A JP20775194A JPH0879752A JP H0879752 A JPH0879752 A JP H0879752A JP 20775194 A JP20775194 A JP 20775194A JP 20775194 A JP20775194 A JP 20775194A JP H0879752 A JPH0879752 A JP H0879752A
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- Japan
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- circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 ブロック歪みを効果的に検出できるようにす
ること。 【構成】 逆ＤＣＴ回路から得られるｎ×ｎ個の画素か
らなるブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃
列するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係に
ある４個の画素間の差分を求める第１、第２、第３差分
検出回路３，４，５と、前記第１、第２、第３差分検出
回路により前記ブロックの縦及び横方向の全てについて
の差分を求めて各差分の分布を求める第１、第２、第３
分布検出回路６，７，８と、前記第１、第２、第３分布
検出回路か得られる分布値を比較する比較回路９を備
え、この比較回路９の出力によりポストフィルタのオン
・オフを行う。
ること。 【構成】 逆ＤＣＴ回路から得られるｎ×ｎ個の画素か
らなるブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃
列するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係に
ある４個の画素間の差分を求める第１、第２、第３差分
検出回路３，４，５と、前記第１、第２、第３差分検出
回路により前記ブロックの縦及び横方向の全てについて
の差分を求めて各差分の分布を求める第１、第２、第３
分布検出回路６，７，８と、前記第１、第２、第３分布
検出回路か得られる分布値を比較する比較回路９を備
え、この比較回路９の出力によりポストフィルタのオン
・オフを行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】デジタルＶＴＲなど画素ブロック
単位の符号化処理が行われるものにおいて生じるブロッ
ク歪みを検出するための装置に関する。
単位の符号化処理が行われるものにおいて生じるブロッ
ク歪みを検出するための装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＤＣＴ（離散コサイン変換）を用いた符
号化圧縮において、量子化による雑音は、復号化した画
像の歪みとなって現れるが、その一つがブロック歪みと
呼ばれる歪みである。ブロック歪みは、符号化速度が低
い場合に目立つブロック状の雑音であり、ＤＣＴがブロ
ックを単位とした処理により起因して生じる固有の欠点
である。このブロック歪みによりブロックの境界で不連
続な状態が生じるが、これは視覚上悪影響を及ぼすもの
である。
号化圧縮において、量子化による雑音は、復号化した画
像の歪みとなって現れるが、その一つがブロック歪みと
呼ばれる歪みである。ブロック歪みは、符号化速度が低
い場合に目立つブロック状の雑音であり、ＤＣＴがブロ
ックを単位とした処理により起因して生じる固有の欠点
である。このブロック歪みによりブロックの境界で不連
続な状態が生じるが、これは視覚上悪影響を及ぼすもの
である。
【０００３】かかるブロック歪みを除去するためにポス
トフィルタとしてエッジ保存形平滑フィルタを用い、ラ
ンダムノイズ等による画質劣化を防ぐため画像全面に一
様にかけるようにしているが、そのように無条件にフィ
ルタを一様にかけた場合ブロック境界歪みはエッジとし
て扱われ、効果的な平滑化は行われない。
トフィルタとしてエッジ保存形平滑フィルタを用い、ラ
ンダムノイズ等による画質劣化を防ぐため画像全面に一
様にかけるようにしているが、そのように無条件にフィ
ルタを一様にかけた場合ブロック境界歪みはエッジとし
て扱われ、効果的な平滑化は行われない。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】そこでブロック境界付
近にのみ着目し、ブロック境界付近の画素信号レベルよ
りエッジか否かを判断し、適応的に平滑化処理が行われ
ている。これはブロック境界に接する画素に境界に対し
て垂直な方向に平滑化を行うようにしたものであるが参
照画素数はブロック境界に垂直な１次元列とし、境界を
挟んで対象な位置にある４画素のみについての信号レベ
ルによりフィルタをオンするかオフするかの判定をして
いた。
近にのみ着目し、ブロック境界付近の画素信号レベルよ
りエッジか否かを判断し、適応的に平滑化処理が行われ
ている。これはブロック境界に接する画素に境界に対し
て垂直な方向に平滑化を行うようにしたものであるが参
照画素数はブロック境界に垂直な１次元列とし、境界を
挟んで対象な位置にある４画素のみについての信号レベ
ルによりフィルタをオンするかオフするかの判定をして
いた。
【０００５】しかしながら、かかる方法では、ブロック
内の連続性を考慮しながら、境界付近全体の不連続性を
判定できない。
内の連続性を考慮しながら、境界付近全体の不連続性を
判定できない。
【０００６】従って、本発明はかかる問題点を解決しよ
うとするものである。
うとするものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は逆ＤＣＴ回路か
ら得られるｎ×ｎ個の画素からなるブロックに生じる歪
みを検出するための装置であって、前記ブロックのブロ
ック境界に対して垂直な方向に揃列するとともに前記ブ
ロック境界に対して対称な関係にある複数（例えば４
個）の画素間の差分を求める複数の（例えば第１、第
２、第３）差分検出回路と、前記複数の（第１、第２、
第３）差分検出回路により前記ブロックの縦および横方
向の全てについての差分を求めて各差分の分布を求める
複数の（第１、第２、第３）分布検出回路と、前記複数
の（第１、第２、第３）分布検出回路から得られる分布
値を比較する比較回路からなるブロック歪み検出装置で
ある。
ら得られるｎ×ｎ個の画素からなるブロックに生じる歪
みを検出するための装置であって、前記ブロックのブロ
ック境界に対して垂直な方向に揃列するとともに前記ブ
ロック境界に対して対称な関係にある複数（例えば４
個）の画素間の差分を求める複数の（例えば第１、第
２、第３）差分検出回路と、前記複数の（第１、第２、
第３）差分検出回路により前記ブロックの縦および横方
向の全てについての差分を求めて各差分の分布を求める
複数の（第１、第２、第３）分布検出回路と、前記複数
の（第１、第２、第３）分布検出回路から得られる分布
値を比較する比較回路からなるブロック歪み検出装置で
ある。
【０００８】
【作用】上記の手段によれば、逆ＤＣＴ回路から得られ
るブロックの縦、横の全てについての差分およびその分
布が検出される。
るブロックの縦、横の全てについての差分およびその分
布が検出される。
【０００９】
【実施例】以下、本発明の一実施例を図面を参照しつつ
説明する。
説明する。
【００１０】図１は本発明を実施したブロック歪み検出
装置を示しており、ＶＴＲの記録媒体から再生された圧
縮された画像データは逆ＤＣＴ回路１で逆ＤＣＴが施さ
れ、一旦、その画像データ１フィールド分がメモリ２に
取り込まれる。次にこの逆ＤＣＴが施された図２に示す
８画素×８画素の矩形ブロックに対し、ブロック歪みが
生じているかどうかの検出がされる。
装置を示しており、ＶＴＲの記録媒体から再生された圧
縮された画像データは逆ＤＣＴ回路１で逆ＤＣＴが施さ
れ、一旦、その画像データ１フィールド分がメモリ２に
取り込まれる。次にこの逆ＤＣＴが施された図２に示す
８画素×８画素の矩形ブロックに対し、ブロック歪みが
生じているかどうかの検出がされる。
【００１１】ブロック歪みを検出するための参照画素は
従来は１次元列で行っていたが、本発明では２次元列
（４画素×８ライン）とし、差分を検出する画素はブロ
ック境界に垂直な、前記境界を挟んで対称な位置にある
４画素Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４，とする。これら４画素
の隣合う画素の差分ｄ１，ｄ２，ｄ３（図２参照）を第
１差分検出回路３、第２差分検出回路４、第３差分検出
回路５によって行う。
従来は１次元列で行っていたが、本発明では２次元列
（４画素×８ライン）とし、差分を検出する画素はブロ
ック境界に垂直な、前記境界を挟んで対称な位置にある
４画素Ｘ１，Ｘ２，Ｘ３，Ｘ４，とする。これら４画素
の隣合う画素の差分ｄ１，ｄ２，ｄ３（図２参照）を第
１差分検出回路３、第２差分検出回路４、第３差分検出
回路５によって行う。
【００１２】即ち、第１差分検出回路３は画素Ｘ１とＸ
２の差分ｄ１を、第２差分検出回路４は画素Ｘ２とＸ３
の差分ｄ２を求め、第３差分検出回路５は画素Ｘ３とＸ
４の差分ｄ３を求める動作をするが、これら差分を求め
る動作は縦方向の８ラインと横方向の８ラインそれぞれ
の参照画素４画素に対して行われる。
２の差分ｄ１を、第２差分検出回路４は画素Ｘ２とＸ３
の差分ｄ２を求め、第３差分検出回路５は画素Ｘ３とＸ
４の差分ｄ３を求める動作をするが、これら差分を求め
る動作は縦方向の８ラインと横方向の８ラインそれぞれ
の参照画素４画素に対して行われる。
【００１３】第１差分検出回路３で求められた各ライン
の差分は第１分布検出回路６にて差分ｄ１に関する分布
が求められる。また、第２差分検出回路４で求められた
各ラインの差分は第２分布検出回路７にて差分ｄ２に関
する分布が求められ、同様に第３差分検出回路５で求め
られた各ラインの差分は第３分布検出回路８にて差分ｄ
１に関する分布が求められる。第１分布検出回路による
分布結果は図４（ａ）、第２分布検出回路による分布結
果は図４（ｂ）、第３分布検出回路による分布結果は図
４（ｃ）の如くなる。
の差分は第１分布検出回路６にて差分ｄ１に関する分布
が求められる。また、第２差分検出回路４で求められた
各ラインの差分は第２分布検出回路７にて差分ｄ２に関
する分布が求められ、同様に第３差分検出回路５で求め
られた各ラインの差分は第３分布検出回路８にて差分ｄ
１に関する分布が求められる。第１分布検出回路による
分布結果は図４（ａ）、第２分布検出回路による分布結
果は図４（ｂ）、第３分布検出回路による分布結果は図
４（ｃ）の如くなる。
【００１４】そして、比較回路９は前記各第１〜第３分
布検出回路で得られる分布結果を比較し、ブロック歪み
を起こしているかどうかの判定を行なう。
布検出回路で得られる分布結果を比較し、ブロック歪み
を起こしているかどうかの判定を行なう。
【００１５】すなわち、なだらかに変化している画像で
は、ブロック内部の差分値は一様にり、図４の分布曲線
から分かるように最多分布値ｄA，ｄB，ｄCが検出でき
る。
は、ブロック内部の差分値は一様にり、図４の分布曲線
から分かるように最多分布値ｄA，ｄB，ｄCが検出でき
る。
【００１６】一方、ブロック歪みを起こしているブロッ
クの境界は不連続成分を含むため、差分値はブロック内
部のものよりも大きくなる。従って、最多分布値のかた
よりや、分布状態を用いてブロック歪みを検出すること
ができる。
クの境界は不連続成分を含むため、差分値はブロック内
部のものよりも大きくなる。従って、最多分布値のかた
よりや、分布状態を用いてブロック歪みを検出すること
ができる。
【００１７】ブロック歪みを起こしているブロックの差
分分布は、分布Ａの最多分布値ｄAと分布Ｃの最多分布
値ｄCが等しく、分布Ｂの最多分布値ｄBはｄA，ｄCより
大きい。
分分布は、分布Ａの最多分布値ｄAと分布Ｃの最多分布
値ｄCが等しく、分布Ｂの最多分布値ｄBはｄA，ｄCより
大きい。
【００１８】そして、比較回路９でブロック歪みを起こ
していると判断されるとポストフィルタ１０をオンにし
て、当該ブロック全体に対してフィルタをかけるように
なっている。
していると判断されるとポストフィルタ１０をオンにし
て、当該ブロック全体に対してフィルタをかけるように
なっている。
【００１９】
【発明の効果】以上の通り本発明によれば、ブロック歪
みを検出するための参照画素を２次元列とし、ブロック
境界を挟む４画素の差分の分布に着目し、ブロック境界
全体を参照するので、従来の一次元列を参照画素とし信
号レベルを比較するものに比べて、ブロック内の連続性
（信号レベルの変化）を考慮しながら、境界付近全体の
不連続性を判定できる。
みを検出するための参照画素を２次元列とし、ブロック
境界を挟む４画素の差分の分布に着目し、ブロック境界
全体を参照するので、従来の一次元列を参照画素とし信
号レベルを比較するものに比べて、ブロック内の連続性
（信号レベルの変化）を考慮しながら、境界付近全体の
不連続性を判定できる。
【図１】８×８画素ブロックを用いて参照画素を説明す
るための図である。
るための図である。
【図２】参照画素間の差分を説明するための図である。
【図３】本発明のブロック歪み検出装置の一実施例を示
す要部ブロック図である。
す要部ブロック図である。
【図４】差分の分布を示す図である。
１ 逆ＤＣＴ回路 ２ フィールドメモリ ３ 第１差分検出回路 ４ 第２差分検出回路 ５ 第３差分検出回路 ６ 第１分布検出回路 ７ 第２分布検出回路 ８ 第３分布検出回路 ９ 比較回路 １０ ポストフィルタ
Claims (3)
- 【請求項１】 逆ＤＣＴ回路から得られるｎ×ｎ個の画
素からなるブロックに生じる歪みを検出するための装置
であって、 前記ブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃列
するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係にあ
る複数の画素間の差分を求める複数の差分検出回路と、 前記複数の差分検出回路により前記ブロックの縦および
横方向の全てについての差分を求めて各差分の分布を求
める複数の分布検出回路と、 前記複数の分布検出回路から得られる分布値を比較する
比較回路からなるブロック歪み検出装置。 - 【請求項２】 逆ＤＣＴ回路から得られるｎ×ｎ個の画
素からなるブロックに生じる歪みを検出するための装置
であって、 前記ブロックのブロック境界に対して垂直な方向に揃列
するとともに前記ブロック境界に対して対称な関係にあ
る４個の画素間の差分を求める第１、第２、第３差分検
出回路と、 前記第１、第２、第３差分検出回路により前記ブロック
の縦および横方向の全てについての差分を求めて各差分
の分布を求める第１、第２、第３分布検出回路と、 前記第１、第２、第３分布検出回路から得られる分布値
を比較する比較回路からなるブロック歪み検出装置。 - 【請求項３】 請求項２において前記比較回路は前記第
１分布検出回路から得られる最多分布値と、前記第２分
布検出回路から得られる最多分布値と、前記第３分布検
出回路から得られる最多分布値とを比較するようになっ
ているブロック歪み検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20775194A JP3432904B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | ブロック歪み検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20775194A JP3432904B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | ブロック歪み検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0879752A true JPH0879752A (ja) | 1996-03-22 |
| JP3432904B2 JP3432904B2 (ja) | 2003-08-04 |
Family
ID=16544946
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20775194A Expired - Fee Related JP3432904B2 (ja) | 1994-08-31 | 1994-08-31 | ブロック歪み検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3432904B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2000025523A1 (en) * | 1998-10-23 | 2000-05-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image decoding device |
| JP2000350202A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-12-15 | Victor Co Of Japan Ltd | ブロックノイズ検出装置 |
| US6167164A (en) * | 1997-03-10 | 2000-12-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | One-dimensional signal adaptive filter for reducing blocking effect and filtering method |
| US6882688B1 (en) | 1998-12-11 | 2005-04-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Deblocking filter arithmetic apparatus and deblocking filter arithmetic method |
| KR100828540B1 (ko) * | 2005-12-16 | 2008-05-13 | 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 | 화상 평가 장치, 화상 평가 방법 및 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 |
| JP2010273168A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Canon Inc | 画像処理装置及びその制御方法 |
-
1994
- 1994-08-31 JP JP20775194A patent/JP3432904B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6167164A (en) * | 1997-03-10 | 2000-12-26 | Samsung Electronics Co., Ltd. | One-dimensional signal adaptive filter for reducing blocking effect and filtering method |
| WO2000025523A1 (en) * | 1998-10-23 | 2000-05-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image decoding device |
| US6697433B1 (en) | 1998-10-23 | 2004-02-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Image decoding apparatus |
| US6882688B1 (en) | 1998-12-11 | 2005-04-19 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Deblocking filter arithmetic apparatus and deblocking filter arithmetic method |
| JP2000350202A (ja) * | 1999-03-26 | 2000-12-15 | Victor Co Of Japan Ltd | ブロックノイズ検出装置 |
| KR100828540B1 (ko) * | 2005-12-16 | 2008-05-13 | 후지제롯쿠스 가부시끼가이샤 | 화상 평가 장치, 화상 평가 방법 및 프로그램을 기록한 컴퓨터 판독 가능한 기록 매체 |
| US8135232B2 (en) | 2005-12-16 | 2012-03-13 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Image evaluation apparatus, image evaluation method, computer readable medium and computer data signal |
| JP2010273168A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Canon Inc | 画像処理装置及びその制御方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3432904B2 (ja) | 2003-08-04 |
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Legal Events
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