JPH0876812A - Production system and automatic decision device for equipment operation parameter - Google Patents

Production system and automatic decision device for equipment operation parameter

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JPH0876812A
JPH0876812A JP6208795A JP20879594A JPH0876812A JP H0876812 A JPH0876812 A JP H0876812A JP 6208795 A JP6208795 A JP 6208795A JP 20879594 A JP20879594 A JP 20879594A JP H0876812 A JPH0876812 A JP H0876812A
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operation parameter
limit value
processing
equipment
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義雄 岩田
Hideaki Ashihara
英明 芦原
Masao Sakata
正雄 坂田
Hide Kobayashi
秀 小林
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Abstract

PURPOSE: To automatically decide each equipment operation parameter in real time and corresponding to the past processing contents of objects to be processed and production equipment, the internal states of the production equipment set before the start of processing, processing result data on some of objects to be processed obtained after processing, and the checking results respectively. CONSTITUTION: A knowledge definition system 61 sets an upper limit value, lower limit value and an equipment operation parameter calculation function in order to decide the past processing steps, the processing result data items and the reference value, and the propriety for change of the equipment operation parameters for every equipment operation parameter. An equipment group control system 41 acquires the set information from the system 61 and also acquires the past processing result data items and the data value of the past checking result data items from a host system 51. The data value, the upper limit value and the lower limit value are compared with each other in the system 41. When the equipment operation parameter must be changed, the equipment operation parameter value is calculated based on the set information and the data value and then instructed to the production equipments.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、半導体のような薄膜製
品の製造ラインあるいは複数のユニットから構成される
製造設備における設備運転パラメータの自動決定方法及
び設備運転パラメータの自動決定装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for automatically determining equipment operation parameters and a device for automatically determining equipment operation parameters in a production line for thin film products such as semiconductors or a production equipment including a plurality of units.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、製品開発段階における机上試算と
数少ない実験結果をもとにして、製造設備の設備運転パ
ラメータを設定しており、製造ラインにおいて被加工物
の検査結果を基に技術者が設備運転パラメータの調整値
を算出し、設備運転パラメータの変更を行っていた。
2. Description of the Related Art Conventionally, equipment operating parameters of manufacturing equipment have been set based on desk trial calculations and few experimental results at the product development stage, and an engineer based on the inspection result of the workpiece on the manufacturing line. The adjustment value of the equipment operation parameter was calculated and the equipment operation parameter was changed.

【0003】例えば、酸化拡散を行う製造装置の場合に
は、半導体ウェハの膜厚測定値や層抵抗値をデータベー
スに格納し、技術者がそのデータを管理し、データの規
格範囲を越えた場合は、随時、炉内の温度匂配や酸化時
間を変更して試験熱処理を実行し目標とする膜厚及び層
抵抗が得られるか否かを確認しながら最適な炉内の温度
匂配や酸化時間にすることにより膜厚及び層抵抗の均一
性を維持していた。
For example, in the case of a manufacturing apparatus for performing oxidation diffusion, when a film thickness measurement value and a layer resistance value of a semiconductor wafer are stored in a database and an engineer manages the data and exceeds a data standard range. At any time, change the temperature gradient and oxidation time in the furnace and perform the test heat treatment to confirm whether the target film thickness and layer resistance can be obtained. The uniformity of the film thickness and the layer resistance was maintained by adjusting the time.

【0004】そこで、特開平4ー184956号公報に
記載されている半導体ウェハース酸化拡散エキスパート
システムにおいては、熱処理シーケンスプログラムを格
納及び実行し、酸化拡散装置を制御するホストコンピュ
ータと、膜厚データ、層抵抗データと半導体ウェハース
の熱処理条件(温度・時間・シーケンス等)を対応させ
て格納するデータベースと、熱処理条件の形式、温度匂
配、酸化時間の算出方法及び熱処理時間や温度匂配の限
度等の知識データを格納する知識ベースにより炉内の温
度匂配、酸化拡散時間等の熱処理条件を推論し、最適な
熱処理シーケンスプログラムを自動的に作成する推論機
構とを有する。
Therefore, in the semiconductor wafer oxidation / diffusion expert system described in Japanese Patent Laid-Open No. 184956/1992, a host computer for storing and executing a heat treatment sequence program to control the oxidation / diffusion device, film thickness data, and layer A database that stores the resistance data in association with the heat treatment conditions (temperature, time, sequence, etc.) of the semiconductor wafer, the type of heat treatment conditions, the temperature odor, the calculation method of the oxidation time, the heat treatment time and the limit of the temperature odor, etc. It has an inference mechanism that infers heat treatment conditions such as temperature distribution and oxidation diffusion time in the furnace based on a knowledge base that stores knowledge data, and automatically creates an optimum heat treatment sequence program.

【0005】さらに、特開昭63ー249328号公報
に記載されている製造システムにおいては、ロットが受
けてきた処理履歴を製造装置のモニターから把握し、そ
れをもとに今後受ける処理のレシピーの最適化をシミュ
レーション等により自動的に行うようにして、高歩留ま
り、高品質の製品を安定して製造可能にする。
Further, in the manufacturing system described in Japanese Patent Laid-Open No. 63-249328, the processing history received by the lot is grasped from the monitor of the manufacturing apparatus, and based on this, the recipe of the processing to be received in the future can be obtained. The optimization is automatically performed by simulation or the like to enable stable production of high-yield and high-quality products.

【0006】さらに、特開平4ー44208号公報に記
載されている半導体装置においては、自装置の異常を自
動検知した時、その前工程、後工程の製造条件を変更す
る。
Further, in the semiconductor device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-44208, when the abnormality of the device itself is automatically detected, the manufacturing conditions of the pre-process and the post-process are changed.

【0007】さらに、特開平4ー69915号公報に記
載されている製造条件設定方法においては、製造設備の
加工来歴・実績データを設備実績管理システムのデータ
ベースに収集し、現仕掛品の加工処理と突合せて解析す
ることによって、多品種少量のLSI製造ラインにおい
て、高品質の製品を歩留まりよく安定的に製造するため
の、製造条件を短時間に効率よく設定可能とする。
Further, in the manufacturing condition setting method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-69915, the processing history / actual data of the manufacturing equipment is collected in the database of the equipment performance management system to process the current work in process. By performing abutting analysis, it is possible to efficiently set manufacturing conditions in a short time in order to stably manufacture high-quality products with a high yield in a high-mix low-volume LSI manufacturing line.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、特開平
4ー184956号公報に記載されている半導体ウェハ
ース酸化拡散エキスパートシステムにおいては、膜厚測
定データ、層抵抗データと熱処理条件のみから設備運転
パラメータを算出するものであり、製造設備の被加工物
の処理開始前の内部状態、製造設備において被加工物の
処理を行なった処理実績データ、被加工物の一部の処理
を行なった検査結果に応じてリアルタイムに設備運転パ
ラメータの決定が出来ないという問題点がある。
However, in the semiconductor wafer oxidation / diffusion expert system described in Japanese Patent Laid-Open No. 184956/1992, equipment operating parameters are calculated only from film thickness measurement data, layer resistance data and heat treatment conditions. Depending on the internal state of the processing equipment in the manufacturing equipment before the processing is started, the processing result data of the processing of the processing material in the manufacturing equipment, and the inspection results of the partial processing of the processing material. There is a problem that equipment operation parameters cannot be determined in real time.

【0009】また、特開昭63ー249328号公報に
記載されている製造システムにおいては、今後受ける処
理のレシピーの最適化を行うために、シミュレーション
等を行わなければならない。
Further, in the manufacturing system disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 63-249328, it is necessary to carry out a simulation or the like in order to optimize the recipe of the processing to be received in the future.

【0010】さらに、特開平4ー44208号公報に記
載されている半導体装置においては、自装置の異常を自
動検知した時しか、その前工程、後工程の製造条件を変
更することができない。
Further, in the semiconductor device disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 4-44208, the manufacturing conditions of the pre-process and the post-process can be changed only when the abnormality of the self-device is automatically detected.

【0011】さらに、特開平4ー69915号公報に記
載されている製造条件設定方法においては、人が製造条
件を決定するもので、自動決定するものではない。
Further, in the manufacturing condition setting method described in Japanese Patent Laid-Open No. 4-69915, a person decides the manufacturing condition, not an automatic decision.

【0012】本発明は、以上のような従来技術の問題点
について着目してなされたもので、被加工物の過去の処
理内容、製造設備の被加工物の処理開始前の内部状態、
製造設備において被加工物の一部の処理を行なった処理
実績データあるいは検査結果に応じた設備運転パラメー
タの自動設定をリアルタイムに行うことを目的とするも
のである。
The present invention has been made by paying attention to the above-mentioned problems of the prior art. The past processing contents of the workpiece, the internal state of the manufacturing equipment before the processing is started,
The purpose of the present invention is to automatically set equipment operation parameters in real time according to processing result data obtained by performing a part of processing of a workpiece in a manufacturing equipment or inspection results.

【0013】[0013]

【課題を解決する為の手段】上記課題を解決するため
に、本発明によれば、ネットワークを介して接続され
た、設定された動作パラメータに従って被加工物を処理
する製造設備と上位システムと処理装置とを有し、前記
上位システムは、前記製造設備から、被加工物の少なく
とも一部の過去の処理の実績を表す処理実績データを前
記ネットワークを介して収集する収集手段と、該収集手
段により収集された処理実績データを記憶する記憶手段
とを備え、前記処理装置は、前記上位システムの記憶手
段に記憶された処理実績データを前記ネットワ−クを介
して読みだす読みだし手段と、前記製造設備の動作パラ
メ−タを処理実績デ−タより生成するための関数を保持
する手段と、前記保持された関数に従って、前記読みだ
した処理実績デ−タより動作パラメ−タを生成する生成
手段と、生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを
介して前記製造設備に設定する手段とを有することがで
きる。
In order to solve the above-mentioned problems, according to the present invention, a manufacturing facility, a host system, and a processing system, which are connected via a network and process a workpiece according to a set operation parameter, are provided. And a collecting unit configured to collect, from the manufacturing facility, processing result data representing a past processing result of at least a part of a workpiece from the manufacturing facility via the network, and the collecting unit. Storage means for storing the collected processing result data, wherein the processing device reads the processing result data stored in the storage means of the host system via the network, and the manufacturing device. A means for holding a function for generating the operation parameter of the equipment from the processing result data, and the read processing result data according to the held function. Operation parameters - can have a means for setting the production facility via the click - generating means for generating a data, generated operation parameters - the data the networks.

【0014】また、設定された動作パラメータに従って
被加工物を処理する製造設備と、前記製造設備から、被
加工物の少なくとも一部の過去の処理の実績を表す処理
実績データを前記ネットワークを介して収集し記憶する
上位システムとにネットワークを介して接続される設備
運転パラメータ自動決定装置であって、前記上位システ
ムに記憶された処理実績データを前記ネットワ−クを介
して読みだす読みだし手段と、前記製造設備の動作パラ
メ−タを処理実績デ−タより生成するための関数を保持
する手段と、前記保持された関数に従って、前記読みだ
した処理実績デ−タより動作パラメ−タを生成する生成
手段と、生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを
介して前記製造設備に設定する手段とを有することもで
きる。
Further, manufacturing equipment for processing the workpiece according to the set operating parameters, and processing result data representing the past processing results of at least a part of the workpiece from the manufacturing equipment via the network. A facility operation parameter automatic determination device connected via a network to a host system for collecting and storing, and a reading means for reading the processing result data stored in the host system via the network, A means for holding a function for generating the operation parameter of the manufacturing equipment from the processing result data, and an operation parameter from the read processing result data according to the held function. It is also possible to have a generation means and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.

【0015】さらに、ネットワークを介して接続され
た、設定された動作パラメータに従って被加工物を処理
する製造設備と該製造設備の検査を行い検査結果データ
を生成する検査設備と上位システムと処理装置とを有
し、前記上位システムは、前記検査設備から、被加工物
の少なくとも一部の過去の検査の結果を表す検査結果デ
ータを前記ネットワークを介して収集する収集手段と、
該収集手段により収集された検査結果データを記憶する
記憶手段とを備え、前記処理装置は、前記上位システム
の記憶手段に記憶された検査結果データを前記ネットワ
−クを介して読みだす読みだし手段と、前記製造設備の
動作パラメ−タを処理実績デ−タより生成するための関
数を保持する手段と、前記保持された関数に従って、前
記読みだした検査結果デ−タより動作パラメ−タを生成
する生成手段と、生成した動作パラメ−タを前記ネット
ワ−クを介して前記製造設備に設定する手段とを有する
こともできる。
Further, a manufacturing facility for processing the workpiece according to the set operating parameters connected through a network, an inspection facility for inspecting the manufacturing facility and generating inspection result data, a host system and a processing unit. The host system, from the inspection equipment, collecting means for collecting, via the network, inspection result data representing the results of past inspection of at least a part of the workpiece,
Storage means for storing the inspection result data collected by the collecting means, and the processing device reads out the inspection result data stored in the storage means of the host system via the network. And a means for holding a function for generating the operation parameter of the manufacturing equipment from the processing result data, and an operation parameter from the read inspection result data according to the held function. It is also possible to have a generating means for generating and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.

【0016】さらに、設定された動作パラメータに従っ
て被加工物を処理する製造設備と、前記製造設備から、
被加工物の少なくとも一部の過去の検査の結果を表す検
査結果データを前記ネットワークを介して収集し記憶す
る上位システムとにネットワークを介して接続される設
備運転パラメータ自動決定装置であって、前記上位シス
テムに記憶された検査結果データを前記ネットワ−クを
介して読みだす読みだし手段と、前記製造設備の動作パ
ラメ−タを検査結果デ−タより生成するための関数を保
持する手段と、前記保持された関数に従って、前記読み
だした検査結果デ−タより動作パラメ−タを生成する生
成手段と、生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−ク
を介して前記製造設備に設定する手段とを有することも
できる。
Further, from the manufacturing equipment for processing the workpiece according to the set operating parameters and the manufacturing equipment,
An automatic equipment operation parameter determination device connected via a network to a host system that collects and stores inspection result data representing the results of past inspections of at least a part of a workpiece, wherein: Reading means for reading the inspection result data stored in the host system through the network, and means for holding a function for generating the operation parameter of the manufacturing equipment from the inspection result data, Generating means for generating operation parameters from the read inspection result data according to the held function; and means for setting the generated operation parameters in the manufacturing facility via the network. Can also have

【0017】さらに、ネットワークを介して接続され
た、設定された動作パラメータに従って被加工物を処理
する製造設備と処理装置とを有し、前記処理装置は、前
記製造設備から、処理開始前の設備状態のデータ項目を
前記ネットワークを介して収集する収集手段と、前記製
造設備の動作パラメ−タをデ−タ項目より生成するため
の関数を保持する手段と、前記保持された関数に従っ
て、前記収集したデ−タ項目より動作パラメ−タを生成
する生成手段と、生成した動作パラメ−タを前記ネット
ワ−クを介して前記製造設備に設定する手段とを有する
ことをもできる。
Further, it has a manufacturing facility and a processing unit which are connected via a network and which process a workpiece according to a set operation parameter, and the processing unit is a facility before the start of processing from the manufacturing facility. Collection means for collecting state data items via the network, means for holding a function for generating operation parameters of the manufacturing equipment from the data items, and collection according to the held functions. It is also possible to have a generation means for generating the operation parameter from the data item and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.

【0018】さらに、設定された動作パラメータに従っ
て被加工物を処理する製造設備とネットワークを介して
接続され、前記製造設備から、処理開始前の設備状態の
データ項目を前記ネットワークを介して収集する設備運
転パラメータ自動決定装置であって、前記製造設備の動
作パラメ−タをデ−タ項目より生成するための関数を保
持する手段と、前記保持された関数に従って、前記収集
したデ−タ項目より動作パラメ−タを生成する生成手段
と、生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介し
て前記製造設備に設定する手段とを有することもでき
る。
Further, a facility connected to a manufacturing facility for processing the workpiece according to the set operation parameter via a network, and a facility for collecting data items of the facility state before the processing is started from the manufacturing facility via the network. An operating parameter automatic determination device, which holds a function for generating operation parameters of the manufacturing equipment from data items, and operates from the collected data items according to the held function. It is also possible to have a generation means for generating the parameter and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.

【0019】[0019]

【作用】単一の処理ユニットから構成される製造設備、
複数の処理ユニットと検査ユニットから構成される製造
設備において、被加工物の過去の処理内容、製造設備の
被加工物の処理開始前の内部状態、製造設備において被
加工物の一部の処理を行なった処理実績データあるいは
検査結果データに応じてリアルタイムに設備運転パラメ
ータの自動決定を行う。
[Operation] Manufacturing equipment consisting of a single processing unit,
In a manufacturing facility that consists of multiple processing units and inspection units, the past processing details of the workpiece, the internal state of the processing facility before processing the workpiece, and the partial processing of the workpiece in the manufacturing facility The equipment operation parameters are automatically determined in real time according to the processing result data or the inspection result data.

【0020】また、製造設備毎に、設備運転パラメータ
の決定に関連するデータや設備運転パラメータ算出関数
を逐次設定変更でき、種々の製造設備の設備運転パラメ
ータの自動決定が出来る。
Further, the data relating to the determination of the equipment operation parameters and the equipment operation parameter calculation function can be sequentially changed for each production equipment, and the equipment operation parameters of various production equipment can be automatically determined.

【0021】[0021]

【実施例】以下、本発明の一実施例について図面を用い
て説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0022】図1は、本発明の一実施例を示す構成図で
ある。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【0023】設備運転パラメータ自動決定装置は、被加
工物を保管するストッカを制御するストッカコントロー
ラ11、搬送設備を制御する搬送設備コントローラ2
1、製造設備を制御する複数の製造設備コントローラ3
1、検査設備を制御する複数の検査設備コントローラ3
2を含む。製造設備は複数の処理ユニットコントローラ
331と処理ユニットで構成される。検査設備は複数の
検査ユニットコントローラ332と検査ユニットで構成
される。また、設備運転パラメータ自動決定装置は、上
記ストッカコントローラ11、搬送設備コントローラ2
1、複数の製造設備コントローラ31、33、複数の検
査設備コントローラ32を制御する設備群制御システム
41、被加工物の過去の処理実績データ52をネットワ
ーク,設備群制御システム41を介して製造設備から収
集し、この処理実績データと、ネットワーク,設備群制
御システム41を介して、製造設備から検査ユニットに
より収集された検査結果データ53を管理する上位シス
テム51、設備運転パラメータ算出関数621、収集デ
ータ項目622、基準データ623、設備運転パラメー
タの変更の要否判定を行う規格データ(上限値,下限
値)624等の知識定義データ62を管理する知識定義
システム61から構成される。
The equipment operation parameter automatic determination device includes a stocker controller 11 for controlling a stocker for storing a workpiece, and a transportation equipment controller 2 for controlling transportation equipment.
1. Multiple manufacturing equipment controllers 3 that control manufacturing equipment
1. A plurality of inspection equipment controllers 3 that control inspection equipment
2 inclusive. The manufacturing facility includes a plurality of processing unit controllers 331 and processing units. The inspection equipment includes a plurality of inspection unit controllers 332 and an inspection unit. Further, the equipment operation parameter automatic determination device includes the stocker controller 11 and the transportation equipment controller 2 described above.
1, a plurality of manufacturing equipment controllers 31, 33, an equipment group control system 41 for controlling a plurality of inspection equipment controllers 32, past processing result data 52 of a work piece from a manufacturing equipment via a network and the equipment group control system 41 An upper system 51 that collects and manages the inspection result data 53 collected by the inspection unit from the manufacturing equipment via the processing result data and the network / equipment group control system 41, an equipment operation parameter calculation function 621, and a collected data item. 622, reference data 623, and knowledge definition system 61 that manages knowledge definition data 62 such as standard data (upper limit value and lower limit value) 624 that determines whether or not to change facility operation parameters.

【0024】ここで、たとえば、処理ユニットが塗布・
感光・現像一貫機である場合には、処理実績は、レジス
ト温度、カップ温度、カップ湿度、オーブン温度、クー
リングプレート温度、現像液温、露光時間、フォーカス
オフセット、アライメントオフセット、回転補正値、チ
ャンバ温度等となる。また、検査結果は、寸法データ、
外観データ等となる。設備運転パラメータは、露光時
間、フォーカスオフセット、アライメントオフセット、
スケーリング、ローテーション、X−Y直交度となる。
Here, for example, the processing unit is a coating / coating unit.
If it is an integrated photo & development machine, the processing results are resist temperature, cup temperature, cup humidity, oven temperature, cooling plate temperature, developer temperature, exposure time, focus offset, alignment offset, rotation correction value, chamber temperature. And so on. Also, the inspection results are the dimensional data,
Appearance data, etc. Equipment operation parameters include exposure time, focus offset, alignment offset,
Scaling, rotation, and XY orthogonality.

【0025】次に、以下の4つの設備運転パラメータ自
動決定方法について述べる。
Next, the following four equipment operation parameter automatic determination methods will be described.

【0026】(1)被加工物の過去の処理実績、検査結
果データに応じた設備運転パラメータの自動決定方法 (2)製造設備で処理開始前の設備の状態に応じた設備
運転パラメータ自動決定方法 (3)製造設備で被加工物の一部の処理を行った後、処
理済みの処理実績データに応じた設備運転パラメータ自
動決定方法 (4)製造設備で被加工物の一部の処理を行った後、処
理済みの検査結果データに応じた設備運転パラメータ自
動決定方法 第1の設備運転パラメータの自動決定方法について図2
に従って述べる。
(1) Automatic determination method of equipment operation parameters according to past processing results of workpieces and inspection result data (2) Automatic equipment operation parameter determination method according to the state of equipment before the start of processing in manufacturing equipment (3) After processing a part of the workpiece in the manufacturing equipment, a method for automatically determining the equipment operation parameters according to the processed processing result data. (4) Performing a part of the processing in the manufacturing equipment. After that, the method for automatically determining the equipment operation parameters according to the processed inspection result data The first method for automatically determining the equipment operation parameters FIG. 2
According to.

【0027】ステップ1では、知識定義システムにおい
て図3に示す情報を定義する。すなわち、レシピ(PP
ID)内の設備運転パラメータ(Pai(i=1,…,
m))毎に、設備運転パラメータを決定する際に影響を
与える被加工物の過去の処理工程とその処理実績データ
項目と基準値、設備運転パラメータの変更要否を判定す
る上限値,下限値、設備運転パラメータ算出関数、及
び、算出した設備運転パラメータが正常かどうかを判定
する上限値,下限値を設定する。基準値、設備運転パラ
メータの変更要否を判定する上限値,下限値、算出した
設備運転パラメータが正常かどうかを判定する上限値,
下限値は、ユーザの経験に基づいて決定する。
In step 1, the information shown in FIG. 3 is defined in the knowledge definition system. That is, the recipe (PP
Equipment operation parameters (Pai (i = 1, ...,
For each m)), the past processing steps of the work piece and the processing result data items and reference values that affect the determination of the equipment operation parameters, the upper limit value and the lower limit value for determining whether or not the equipment operation parameter needs to be changed. , The equipment operation parameter calculation function, and the upper limit value and the lower limit value for determining whether the calculated equipment operation parameter is normal or not are set. Reference value, upper limit value for determining whether or not equipment operation parameters need to be changed, lower limit value, upper limit value for determining whether the calculated equipment operation parameters are normal,
The lower limit value is determined based on the experience of the user.

【0028】たとえば、設備運転パラメータPa1を決定
する際に影響を与える被加工物の過去の処理工程はRF
LID1,RFLID2…、その処理実績データ項目はx
aj(j=1,…,n),xaj’(j’=1,…,n’),…、
基準値はyaj,yaj’,…、設備運転パラメータの変更
要否を判定する上限値はxuaj,xuaj’,…、下限値は
xlaj,xlaj’,…、設備運転パラメータ算出関数はf
a1()、及び、算出した設備運転パラメータが正常かど
うかを判定する上限値はPUaj,下限値はPLajを設定
することができる。
For example, the past processing steps of the work piece which affect the determination of the equipment operation parameter Pa1 are RF.
LID1, RFLID2 ..., The processing result data item is x
aj (j = 1, ..., n), xaj '(j' = 1, ..., n '), ...,
The reference value is yaj, yaj ', ..., The upper limit value for determining whether or not the equipment operation parameter needs to be changed is xuaj, xuaj', ..., The lower limit value is xlaj, xlaj ', ..., The equipment operation parameter calculation function is f.
PUaj can be set as the upper limit value and PLaj can be set as the lower limit value for determining whether a1 () and the calculated equipment operation parameter are normal.

【0029】ステップ2では、設備群制御システム41
は,知識定義システム61からステップ1で定義した情
報を取得する。
In step 2, the equipment group control system 41
Acquires the information defined in step 1 from the knowledge definition system 61.

【0030】ステップ3では、設備群制御システム41
が着工ロットを決定した時、知識定義システム61にお
いて定義した設備の運転パラメータに影響を与える被加
工物の過去の処理実績データ項目と過去の検査結果デー
タ項目のデータ値を上位システム51に問い合わせ、デ
ータ値を取得する。
In step 3, the equipment group control system 41
When the start lot is determined, the upper system 51 is inquired about the data values of the past processing result data item of the workpiece and the past inspection result data item that affect the operation parameters of the equipment defined in the knowledge definition system 61, Get the data value.

【0031】ステップ4では、設備群制御システム41
がステップ3で収集したデータと、知識定義システム6
1において定義した設備運転パラメータの変更要否を判
定するための上限値、下限値とを、設備群制御システム
41により比較する。
In step 4, the equipment group control system 41
Data collected in step 3 and knowledge definition system 6
The equipment group control system 41 compares the upper limit value and the lower limit value for determining the necessity of changing the equipment operation parameter defined in 1.

【0032】ステップ5では、ステップ4で変更が必要
と判定された場合、知識定義システム61で定義された
設備運転パラメータ算出関数と収集データ値、各データ
の基準値から、設備群制御システム41により設備運転
パラメータ値を算出する。
In step 5, when it is determined in step 4 that the change is necessary, the equipment group control system 41 uses the equipment operation parameter calculation function defined by the knowledge definition system 61, the collected data value, and the reference value of each data. Calculate equipment operation parameter values.

【0033】ステップ6では、設備群制御システム41
が算出した設備運転パラメータを製造設備に指示する。
In step 6, the equipment group control system 41
The equipment operating parameters calculated by are instructed to the manufacturing equipment.

【0034】第2の設備運転パラメータの自動決定方法
について図4に従って述べる。
A second automatic operation parameter determination method will be described with reference to FIG.

【0035】ステップ401では、知識定義システム6
1において図5に示す情報を定義する。すなわち、設備
(MCID)毎に、設備運転パラメータ(Pbi(i=1,
…,m))を決定する際に影響を与える処理開始前の設
備状態データ項目と基準値、設備運転パラメータの変更
要否を判定する上限値、下限値、設備運転パラメータ算
出関数,及び、算出した設備運転パラメータが正常かど
うかを判定する上限値,下限値を設定する。基準値、設
備運転パラメータの変更要否を判定する上限値、下限
値、算出した設備運転パラメータが正常かどうかを判定
する上限値,下限値はユーザの経験に基づいて設定す
る。
In step 401, the knowledge definition system 6
1 defines the information shown in FIG. That is, for each equipment (MCID), equipment operation parameters (Pbi (i = 1,
,, m)) that influences the process of determining the equipment condition data items and reference values before the start of processing, the upper limit value and the lower limit value for determining the necessity of changing the equipment operation parameter, the equipment operation parameter calculation function, and the calculation Set the upper and lower limits to determine whether the specified equipment operation parameters are normal. The reference value, the upper limit value and the lower limit value for determining whether or not the equipment operation parameter needs to be changed, and the upper limit value and the lower limit value for determining whether the calculated equipment operation parameter is normal are set based on the experience of the user.

【0036】たとえば、設備運転パラメータPb1を決定
する際に影響を与える処理開始前の設備状態データ項目
xbjと基準値ybj、設備運転パラメータの変更要否を判
定する上限値xubj、下限値xlbjを設定し、設備運転パ
ラメータ算出関数fb1(),及び、算出した設備運転パ
ラメータが正常かどうかを判定する上限値PUb1,下限
値PLb1を設定することができる。
For example, the equipment state data item xbj and the reference value ybj before the start of processing which influences when determining the equipment operation parameter Pb1, the upper limit value xubj and the lower limit value xlbj for determining the necessity of changing the equipment operation parameter are set. However, the facility operation parameter calculation function fb1 () and the upper limit value PUb1 and the lower limit value PLb1 for determining whether the calculated facility operation parameter is normal can be set.

【0037】ステップ402では、設備群制御システム
41は知識定義システム61からステップ401で定義
した情報を取得する。
In step 402, the equipment group control system 41 acquires the information defined in step 401 from the knowledge definition system 61.

【0038】ステップ403では、設備群制御システム
41は設備が待機状態であることを認識する。
In step 403, the equipment group control system 41 recognizes that the equipment is in a standby state.

【0039】ステップ404では、設備群制御システム
41が知識定義システム61において定義した設備状態
データ項目を製造設備から取得する。
In step 404, the equipment group control system 41 acquires the equipment state data items defined by the knowledge definition system 61 from the manufacturing equipment.

【0040】ステップ405では、設備群制御システム
41がステップ404で収集したデータと、知識定義シ
ステム61において定義した設備運転パラメータの変更
要否を判定するための上限値、下限値とを、設備群制御
システム41により比較する。
In step 405, the data collected by the equipment group control system 41 in step 404 and the upper limit value and the lower limit value for determining the necessity of changing the equipment operation parameter defined in the knowledge definition system 61 are set in the equipment group. The control system 41 compares.

【0041】ステップ406では、ステップ405で変
更が必要と判定された場合、知識定義システム61で定
義した設備運転パラメータ算出関数と収集データ値、各
データの基準値から、設備群制御システム41により設
備運転パラメータ値を算出する。
In step 406, when it is determined in step 405 that a change is necessary, the equipment group control system 41 uses the equipment operation parameter calculation function defined by the knowledge definition system 61, the collected data value, and the reference value of each data to install the equipment. Calculate operating parameter values.

【0042】ステップ407では、設備群制御システム
41が算出した設備運転パラメータを製造設備に指示す
る。
In step 407, the equipment operating parameters calculated by the equipment group control system 41 are instructed to the manufacturing equipment.

【0043】第3の設備運転パラメータの自動決定方法
について図6に従って述べる。
A third automatic operation parameter determination method will be described with reference to FIG.

【0044】ステップ601では、知識定義システムに
おいて図7に示す情報を定義する。すなわち、レシピ
(PPID)内の設備運転パラメータ(Pci)毎に、設
備運転パラメータを決定する際に影響を与える被加工物
の一部の処理実績データ項目(xcj)と基準値(yc
j)、設備運転パラメータの変更要否を判定するための
上限値(xucj)、下限値(xlcj)を設定し、設備運転
パラメータ算出関数(fci())、及び、算出した設備
運転パラメータが正常かどうかを判定するための上限値
(PUci),下限値(PLci)を設定する。
At step 601, the information shown in FIG. 7 is defined in the knowledge definition system. That is, for each equipment operation parameter (Pci) in the recipe (PPID), a part of the processing result data item (xcj) and the reference value (yc) that affect when determining the equipment operation parameter.
j), the upper limit value (xucj) and the lower limit value (xlcj) for determining the necessity of changing the equipment operation parameter are set, and the equipment operation parameter calculation function (fci ()) and the calculated equipment operation parameter are normal. The upper limit value (PUci) and the lower limit value (PLci) for determining whether or not are set.

【0045】ステップ602では、設備群制御システム
41は知識定義システム61からステップ601で定義
した情報を取得する。
In step 602, the equipment group control system 41 acquires the information defined in step 601 from the knowledge definition system 61.

【0046】ステップ603では、製造設備で着工ロッ
トの一部を処理する。
In step 603, a part of the construction lot is processed in the manufacturing facility.

【0047】ステップ604では、設備群制御システム
41がステップ603で一部処理した処理実績データを
収集する。
In step 604, the equipment group control system 41 collects the processing result data partially processed in step 603.

【0048】ステップ605では、ステップ604で収
集したデータと、知識定義システム61により定義した
設備運転パラメータの変更要否を判定するための上限
値、下限値とを、設備群制御システム41により比較す
る。
In step 605, the equipment group control system 41 compares the data collected in step 604 with the upper limit value and the lower limit value for determining the necessity of changing the equipment operation parameter defined by the knowledge definition system 61. .

【0049】ステップ606では、ステップ605にお
いて変更が必要と判定された場合、知識定義システム6
1で定義した設備運転パラメータ算出関数と収集データ
値、各データの基準値から、設備群制御システム41に
より設備運転パラメータ値を算出する。
In step 606, if it is determined in step 605 that a change is necessary, the knowledge definition system 6
The equipment operation parameter value is calculated by the equipment group control system 41 from the equipment operation parameter calculation function defined in 1 above, the collected data value, and the reference value of each data.

【0050】ステップ607では、設備群制御システム
41が算出した設備運転パラメータを製造設備に指示す
る。
In step 607, the equipment operating parameters calculated by the equipment group control system 41 are instructed to the manufacturing equipment.

【0051】第4の設備運転パラメータの自動決定方法
について図8に従って述べる。
A fourth method for automatically determining equipment operation parameters will be described with reference to FIG.

【0052】ステップ801では、知識定義システムに
おいて図9に示す情報を定義する。すなわち、レシピ
(PPID)内の設備運転パラメータ(Pdi(i=1,
…,m))毎に、設備運転パラメータを決定する際に影
響を与える被加工物の一部の処理を行った後の検査結果
データ項目と基準値、設備運転パラメータの変更要否を
判定する上限値、下限値、設備運転パラメータ算出関
数、及び、算出した設備運転パラメータが正常かどうか
を判定するための上限値,下限値を設定する。
In step 801, the information shown in FIG. 9 is defined in the knowledge definition system. That is, the equipment operation parameter (Pdi (i = 1,
…, M)) for each, determine the inspection result data items and reference values after performing some processing of the work piece that affects the determination of equipment operation parameters, and whether or not the equipment operation parameters need to be changed. The upper limit value, the lower limit value, the equipment operation parameter calculation function, and the upper limit value and the lower limit value for determining whether the calculated equipment operation parameter is normal are set.

【0053】たとえば、設備運転パラメータPd1を決定
する際に影響を与える被加工物の検査工程はFLID
1,FLID2…、その検査データ項目はxdj(j=1,
…,n),xdj’(j’=1,…,n’),…、基準値はy
dj,ydj’,…、設備運転パラメータの変更要否を判定
する上限値はxudj,xudj’,…、下限値はxldj,xl
dj’,…、設備運転パラメータ算出関数はfd1()、及
び、算出した設備運転パラメータが正常かどうかを判定
する上限値はPUdj,下限値はPLdjを設定することが
できる。
For example, the process of inspecting a workpiece that affects the determination of the equipment operation parameter Pd1 is FLID.
1, FLID2 ..., the inspection data item is xdj (j = 1,
..., n), xdj '(j' = 1, ..., n '), ..., the reference value is y
dj, ydj ', ..., Upper limit values for determining whether or not to change facility operation parameters are xudj, xudj', ..., Lower limit values are xldj, xl
dj ', ..., Fd1 () for the equipment operation parameter calculation function, and PUdj can be set for the upper limit value and PLdj for the lower limit value for determining whether the calculated equipment operation parameter is normal.

【0054】ステップ802では、設備群制御システム
41は知識定義システム61からステップ801で定義
した情報を取得する。
In step 802, the equipment group control system 41 acquires the information defined in step 801 from the knowledge definition system 61.

【0055】ステップ803では、製造設備で着工ロッ
トの一部を処理する。
In step 803, a part of the construction lot is processed in the manufacturing facility.

【0056】ステップ804では、検査設備で一部処理
済みの被加工物の検査を行う。
In step 804, the inspection equipment inspects the partially processed workpiece.

【0057】ステップ805では、設備群制御システム
41がステップ804で検査した検査結果データを検査
設備から取得する。
In step 805, the equipment group control system 41 acquires the inspection result data inspected in step 804 from the inspection equipment.

【0058】ステップ806では、ステップ805で収
集したデータと、知識定義システム61において定義し
た設備運転パラメータの変更要否を判定するための上限
値、下限値とを、設備群制御システム41により比較す
る。
In step 806, the equipment group control system 41 compares the data collected in step 805 with the upper limit value and the lower limit value for determining the necessity of changing the equipment operation parameter defined in the knowledge definition system 61. .

【0059】ステップ807では、ステップ806にお
いて変更が必要と判定された場合、知識定義システム6
1で定義された設備運転パラメータ算出関数と収集デー
タ値、各データの基準値から、設備群制御システム41
により設備運転パラメータ値を算出する。
In step 807, if it is determined in step 806 that the change is necessary, the knowledge definition system 6
From the equipment operation parameter calculation function defined in 1 and the collected data value and the reference value of each data, the equipment group control system 41
The equipment operation parameter value is calculated by.

【0060】ステップ808では、設備群制御システム
41が算出した設備運転パラメータを製造設備に指示す
る。
In step 808, the facility operating parameters calculated by the facility group control system 41 are instructed to the manufacturing facility.

【0061】次に設備運転パラメータ算出関数について
述べる。
Next, the equipment operation parameter calculation function will be described.

【0062】以下の設備運転パラメータ算出関数があ
る。
There are the following facility operation parameter calculation functions.

【0063】Pai=Pai0+fai(xa1−ya1,・・
・,xaj−yaj,・・・,xan−yan,xa1’−ya
1’,・・・) Pai0:設備運転パラメータPaiの基準値 fai :設備運転パラメータ算出関数 xaj :被加工物の処理実績データ値 あるいは被加工物の検査結果データ値 yaj :データxajの基準値 Pbi=Pbi0+fbi(xb1−yb1,・・・,xbj−yb
j,・・・,xbn−ybn) Pbi0:設備運転パラメータPbiの基準値 fbi :設備運転パラメータ算出関数 xbj :設備の処理前の状態データ ybj :データxbjの基準値 Pci=Pci0+fci(xc1−yc1,・・・,xcj−yc
j,・・・,xcn−ycn) Pci0:設備運転パラメータPciの基準値 fci :設備運転パラメータ算出関数 xcj :被加工物の一部の処理実績データ値 ycj :データxcjの基準値 Pdi=Pdi0+fdi(xd1−yd1,・・・,xdj−yd
j,・・・,xdn−ydn,xd1'−yd1',・・・) Pdi0:設備運転パラメータPdiの基準値 fdi :設備運転パラメータ算出関数 xdj :被加工物の検査結果データ値 ydj :データxdjの基準値 これらの設備運転パラメータ算出関数は、実験・試作ラ
インあるいは量産ラインにおいて収集したデータと基準
値、処理した際の設備運転パラメータ値に基づいて統計
処理等により導出する。
Pai = Pai0 + fai (xa1-ya1, ...
., Xaj-yaj, ..., xan-yan, xa1'-ya
1 ', ...) Pai0: Reference value of equipment operation parameter Pai fai: Equipment operation parameter calculation function xaj: Processing result data value of workpiece or inspection result data value of workpiece yaj: Reference value of data xaj Pbi = Pbi0 + fbi (xb1-yb1, ..., xbj-yb
j, ..., Xbn-ybn) Pbi0: Reference value of equipment operation parameter Pbi fbi: Equipment operation parameter calculation function xbj: State data before processing of equipment ybj: Reference value of data xbj Pci = Pci0 + fci (xc1-yc1, ..., xcj-yc
j, ..., xcn-ycn) Pci0: Reference value of equipment operation parameter Pci fci: Equipment operation parameter calculation function xcj: Partial processing result data value of workpiece ycj: Reference value of data xcj Pdi = Pdi0 + fdi ( xd1-yd1, ..., xdj-yd
j, ..., xdn-ydn, xd1'-yd1 ', ...) Pdi0: Reference value of equipment operation parameter Pdi fdi: Equipment operation parameter calculation function xdj: Workpiece inspection result data value ydj: Data xdj Reference values for these equipment operation parameter calculation functions are derived by statistical processing based on the data and reference values collected on the experimental / trial production line or mass production line, and the equipment operation parameter values at the time of processing.

【0064】また、製造設備が複数の処理ユニット、検
査設備が複数の検査ユニットから構成される設備に対し
て、製造設備を処理ユニット、検査設備を検査ユニット
に置き換え、処理ユニットの運転パラメータを自動決定
する。以下に2つの方法について記述する。
Further, with respect to the equipment in which the manufacturing equipment is composed of a plurality of processing units and the inspection equipment is composed of a plurality of inspection units, the manufacturing equipment is replaced with the processing unit and the inspection equipment is replaced with the inspection unit, and the operating parameters of the processing unit are automatically changed. decide. Two methods will be described below.

【0065】第1の方法は、被加工物に対する処理をあ
る処理ユニットで開始する前に、被加工物を別の処理ユ
ニットで処理した処理実績デ−タから、予め知識定義シ
ステムにおいて指定された別の処理ユニットの処理実績
デ−タ項目の値を検索し、そのデ−タ値と規格値との比
較により処理ユニットの設備運転パラメ−タの変更要否
を判定し、変更が必要な場合、収集デ−タ、各デ−タの
基準値と設備運転パラメ−タ算出関数とに基づき、処理
ユニットの運転パラメ−タを自動決定する設備運転パラ
メ−タ自動決定方法である。
The first method is specified in advance in the knowledge definition system from the processing result data obtained by processing the work piece in another processing unit before starting the processing of the work piece in a certain processing unit. When the value of the processing result data item of another processing unit is searched, the necessity of changing the facility operation parameter of the processing unit is judged by comparing the data value with the standard value, and when the change is necessary , The collected data, the reference value of each data, and the equipment operation parameter calculation function, the equipment operation parameter automatic determination method for automatically determining the operation parameter of the processing unit.

【0066】第2の方法は、被加工物に対する処理をあ
る処理ユニットで開始する前に、被加工物の別の処理ユ
ニットでの処理後の、検査ユニットによる検査結果デ−
タから、予め知識定義システムにおいて指定された検査
ユニットでの検査結果デ−タ項目の値を検索し、そのデ
−タ値と規格値との比較により処理ユニットの設備運転
パラメ−タの変更要否を判定し、変更が必要な場合、収
集デ−タ、各デ−タの基準値と設備運転パラメ−タ算出
関数とに基づき、処理ユニットの運転パラメ−タを自動
決定する設備運転パラメ−タ自動決定方法である。
In the second method, the inspection result data by the inspection unit is processed before the processing of the work piece is started by a certain processing unit and after the processing of the work piece by another processing unit.
It is necessary to change the equipment operation parameter of the processing unit by searching the value of the inspection result data item in the inspection unit specified in advance in the knowledge definition system from the data and comparing the data value with the standard value. When it is necessary to change, the equipment operation parameter that automatically determines the operation parameter of the processing unit based on the collected data, the reference value of each data and the equipment operation parameter calculation function. This is an automatic determination method.

【0067】[0067]

【発明の効果】以上本発明によれば、単一の処理ユニッ
トから構成される製造設備において、被加工物の処理内
容、製造設備の被加工物の処理開始前の内部状態、製造
設備の被加工物の処理中の内部状態、製造設備において
被加工物の少なくとも一部の処理を行い、その検査結果
に応じてリアルタイムに設備運転パラメ−タの自動決定
を行うことができる。
As described above, according to the present invention, in the manufacturing equipment composed of a single processing unit, the processing contents of the workpiece, the internal state of the workpiece in the manufacturing equipment before the start of processing, and the manufacturing equipment. It is possible to process at least a part of the workpiece in the internal state during processing of the workpiece and the manufacturing facility, and automatically determine the facility operating parameters in real time according to the inspection result.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】設備運転パラメ−タ自動決定装置の全体構成の
ブロック図。
FIG. 1 is a block diagram of the overall configuration of an equipment operation parameter automatic determination device.

【図2】被加工物の過去の処理内容に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定手順を示すフロ−チャ−ト。
FIG. 2 is a flowchart showing a procedure for determining equipment operation parameters according to past processing contents of a work piece.

【図3】被加工物の過去の処理内容に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定の知識定義の説明図。
FIG. 3 is an explanatory diagram of a knowledge definition of equipment operation parameter determination according to past processing contents of a workpiece.

【図4】製造設備の状態に応じた設備運転パラメ−タ決
定手順を示すフロ−チャ−ト。
FIG. 4 is a flowchart showing a procedure for determining equipment operation parameters according to the state of manufacturing equipment.

【図5】製造設備の状態に応じた設備運転パラメ−タ決
定の知識定義の説明図。
FIG. 5 is an explanatory diagram of knowledge definition for determining equipment operation parameters according to the state of manufacturing equipment.

【図6】被加工物の一部の処理実績に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定手順を示すフロ−チャ−ト。
FIG. 6 is a flow chart showing the procedure for determining equipment operation parameters according to the processing results of a part of the workpiece.

【図7】被加工物の一部の処理実績に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定の知識定義の説明図。
FIG. 7 is an explanatory diagram of a knowledge definition for determining equipment operation parameters according to a processing result of a part of a workpiece.

【図8】被加工物の一部の検査結果に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定手順を示すフロ−チャ−ト。
FIG. 8 is a flow chart showing a procedure for determining equipment operation parameters according to the inspection result of a part of the workpiece.

【図9】被加工物の一部の検査結果に応じた設備運転パ
ラメ−タ決定の知識定義の説明図。
FIG. 9 is an explanatory diagram of a knowledge definition for determining equipment operation parameters according to the inspection result of a part of the workpiece.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11 :ストッカコントロ−ラ 21 :搬送設備コントロ−ラ 31 :製造設備コントロ−ラ 32 :検査設備コントロ−ラ 331:処理ユニットコントロ−ラ 332:検査ユニットコントロ−ラ 33 :処理ユニット、検査ユニットを制御する製造設
備コントロ−ラ 41 :設備群制御システム 52 :被加工物の過去の処理実績デ−タ 53 :検査結果デ−タ 51 :上位システム 621:設備運転パラメ−タ算出関数 622:収集デ−タ項目 623:基準デ−タ 624:規格デ−タ 62 :知識定義デ−タ 61 :知識定義システム
11: Stocker controller 21: Conveyor equipment controller 31: Manufacturing equipment controller 32: Inspection equipment controller 331: Processing unit controller 332: Inspection unit controller 33: Control processing unit and inspection unit Manufacturing equipment controller 41: Equipment group control system 52: Past processing result data of work piece 53: Inspection result data 51: Upper system 621: Equipment operation parameter calculation function 622: Collection data Data item 623: Standard data 624: Standard data 62: Knowledge definition data 61: Knowledge definition system

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小林 秀 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (72) Inventor Hide Kobayashi 292 Yoshida-cho, Totsuka-ku, Yokohama-shi, Kanagawa Prefectural Institute of Technology Hitachi, Ltd.

Claims (12)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ネットワークを介して接続された、設定さ
れた動作パラメータに従って被加工物を処理する製造設
備と上位システムと処理装置とを有し、 前記上位システムは、 前記製造設備から、被加工物の少なくとも一部の過去の
処理の実績を表す処理実績データを前記ネットワークを
介して収集する収集手段と、 該収集手段により収集された処理実績データを記憶する
記憶手段とを備え、 前記処理装置は、 前記上位システムの記憶手段に記憶された処理実績デー
タを前記ネットワ−クを介して読みだす読みだし手段
と、 前記製造設備の動作パラメ−タを処理実績デ−タより生
成するための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記読みだした処理実績
デ−タより動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
製造システム。
1. A manufacturing facility for processing a workpiece according to a set operating parameter, which is connected via a network, a host system, and a processing device, wherein the host system processes the workpiece from the manufacturing facility. The processing device includes: a collecting unit that collects processing result data representing a past processing result of at least a part of an object via the network; and a storage unit that stores the processing result data collected by the collecting unit. Is a reading means for reading the processing result data stored in the storage means of the host system via the network, and a function for generating operation parameters of the manufacturing equipment from the processing result data. And a generating means for generating motion parameters from the read processing result data according to the held function. Lame - said data networks - manufacturing system characterized by having a means for setting the production facility via the click.
【請求項2】請求項1において、前記処理装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、処
理実績データの上限値および下限値を保持する手段と、 前記読みだし手段により読みだされた処理実績データ
と、前記上限値および下限値とを比較する比較手段とを
有し、 該比較手段により、前記処理実績データが、前記上限値
よりも大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された
場合に、前記生成手段により動作パラメータを生成する
ことを特徴とする製造システム。
2. The processing device according to claim 1, wherein the processing device holds an upper limit value and a lower limit value of the processing result data for determining whether or not the operation parameter needs to be changed, and the processing device reads the read result by the reading device. It has a comparison means for comparing the processed performance data with the upper limit value and the lower limit value, and when the processing performance data is larger than the upper limit value or smaller than the lower limit value by the comparison means. A manufacturing system characterized in that, when judged, the operation parameter is generated by the generating means.
【請求項3】設定された動作パラメータに従って被加工
物を処理する製造設備と、前記製造設備から、被加工物
の少なくとも一部の過去の処理の実績を表す処理実績デ
ータを前記ネットワークを介して収集し記憶する上位シ
ステムとにネットワークを介して接続される設備運転パ
ラメータ自動決定装置であって、 前記上位システムに記憶された処理実績データを前記ネ
ットワ−クを介して読みだす読みだし手段と、 前記製造設備の動作パラメ−タを処理実績デ−タより生
成するための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記読みだした処理実績
デ−タより動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
設備運転パラメータ自動決定装置。
3. Manufacturing equipment for processing a workpiece in accordance with set operating parameters, and processing performance data representing the past processing performance of at least a part of the workpiece from the manufacturing equipment via the network. A facility operation parameter automatic determination device connected via a network to a host system for collecting and storing, and a reading means for reading the processing result data stored in the host system via the network, Means for holding a function for generating the operation parameter of the manufacturing facility from the processing result data, and generating the operation parameter from the read processing result data according to the held function. An equipment operation parameter comprising: a generation means and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing equipment via the network. Automatic meter determination device.
【請求項4】請求項3において、前記設備運転パラメー
タ自動決定装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、処
理実績データの上限値および下限値を保持する手段と、 前記読みだし手段により読みだされた処理実績データ
と、前記上限値および下限値とを比較する比較手段とを
有し、 該比較手段により、前記処理実績データが、前記上限値
よりも大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された
場合に、前記生成手段により動作パラメータを生成する
ことを特徴とする設備運転パラメータ自動決定装置。
4. The facility operation parameter automatic determination device according to claim 3, wherein the device operation parameter automatic determination device holds an upper limit value and a lower limit value of the processing result data for determining whether or not the operation parameter needs to be changed; The processing performance data read by the output means and a comparison means for comparing the upper limit value and the lower limit value are provided, and the processing performance data is larger or lower than the upper limit value by the comparison means. An equipment operation parameter automatic determination device characterized in that the operation parameter is generated by the generation means when it is determined to be smaller than the above.
【請求項5】ネットワークを介して接続された、設定さ
れた動作パラメータに従って被加工物を処理する製造設
備と該製造設備の検査を行い検査結果データを生成する
検査設備と上位システムと処理装置とを有し、 前記上位システムは、 前記検査設備から、被加工物の少なくとも一部の過去の
検査の結果を表す検査結果データを前記ネットワークを
介して収集する収集手段と、 該収集手段により収集された検査結果データを記憶する
記憶手段とを備え、 前記処理装置は、 前記上位システムの記憶手段に記憶された検査結果デー
タを前記ネットワ−クを介して読みだす読みだし手段
と、 前記製造設備の動作パラメ−タを処理実績デ−タより生
成するための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記読みだした検査結果
デ−タより動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
製造システム。
5. A manufacturing facility for processing a workpiece according to a set operating parameter, an inspection facility for inspecting the manufacturing facility and generating inspection result data, a host system, and a processing unit, which are connected via a network. The host system collects, from the inspection facility, inspection result data representing results of past inspections of at least a part of a workpiece via the network; And a storage unit for storing the inspection result data, wherein the processing unit reads out the inspection result data stored in the storage unit of the host system via the network, and the manufacturing facility. Means for holding a function for generating operation parameters from processing result data, and the read inspection result data according to the held function. A manufacturing system comprising: a generation unit that generates an operation parameter from a computer; and a unit that sets the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.
【請求項6】請求項5において、前記処理装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、検
査データの上限値および下限値を保持する手段と、 前記読みだし手段により読みだされた検査データと、前
記上限値および下限値とを比較する比較手段とを有し、 該比較手段により、前記検査データが、前記上限値より
も大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された場合
に、前記生成手段により動作パラメータを生成すること
を特徴とする製造システム。
6. The processing device according to claim 5, wherein the processing device holds the upper limit value and the lower limit value of the inspection data for determining whether or not the operation parameter needs to be changed, and the reading device reads the inspection data. The inspection data is compared with the upper limit value and the lower limit value, and the comparison unit determines that the inspection data is larger than the upper limit value or smaller than the lower limit value. In this case, the manufacturing system is characterized in that the operation parameter is generated by the generating means.
【請求項7】設定された動作パラメータに従って被加工
物を処理する製造設備と、前記製造設備から、被加工物
の少なくとも一部の過去の検査の結果を表す検査結果デ
ータを前記ネットワークを介して収集し記憶する上位シ
ステムとにネットワークを介して接続される設備運転パ
ラメータ自動決定装置であって、 前記上位システムに記憶された検査結果データを前記ネ
ットワ−クを介して読みだす読みだし手段と、 前記製造設備の動作パラメ−タを検査結果デ−タより生
成するための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記読みだした検査結果
デ−タより動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
設備運転パラメータ自動決定装置。
7. Manufacturing equipment for processing a workpiece according to set operating parameters, and inspection result data representing results of past inspection of at least a part of the workpiece from the manufacturing equipment via the network. An equipment operation parameter automatic determination device connected via a network to a host system for collecting and storing, and a reading means for reading the inspection result data stored in the host system via the network, Means for holding a function for generating the operation parameter of the manufacturing facility from the inspection result data, and generating operation parameter from the read inspection result data according to the held function. An equipment operation parameter comprising: a generation means and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing equipment via the network. Automatic meter determination device.
【請求項8】請求項7において、前記設備運転パラメー
タ自動決定装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、処
理実績データの上限値および下限値を保持する手段と、 前記読みだし手段により読みだされた処理実績データ
と、前記上限値および下限値とを比較する比較手段とを
有し、 該比較手段により、前記処理実績データが、前記上限値
よりも大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された
場合に、前記生成手段により動作パラメータを生成する
ことを特徴とする設備運転パラメータ自動決定装置。
8. The automatic equipment operation parameter determination device according to claim 7, wherein the equipment operation parameter automatic determination device holds an upper limit value and a lower limit value of the processing result data for determining whether or not the operation parameter needs to be changed, The processing performance data read by the output means and a comparison means for comparing the upper limit value and the lower limit value are provided, and the processing performance data is larger or lower than the upper limit value by the comparison means. An equipment operation parameter automatic determination device characterized in that the operation parameter is generated by the generation means when it is determined to be smaller than the above.
【請求項9】ネットワークを介して接続された、設定さ
れた動作パラメータに従って被加工物を処理する製造設
備と処理装置とを有し、 前記処理装置は、 前記製造設備から、処理開始前の設備状態のデータ項目
を前記ネットワークを介して収集する収集手段と、 前記製造設備の動作パラメ−タをデ−タ項目より生成す
るための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記収集したデ−タ項目
より動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
製造システム。
9. A manufacturing facility for treating a workpiece according to a set operation parameter, which is connected via a network, and a treatment device, wherein the treatment device is a facility before the start of treatment from the production facility. Collecting means for collecting state data items through the network; means for holding a function for generating operation parameters of the manufacturing equipment from data items; and the collecting function according to the held function. And a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing facility via the network.
【請求項10】請求項9において、前記処理装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、デ
ータ項目の上限値および下限値を保持する手段と、 前記収集されたデータ項目と、前記上限値および下限値
とを比較する比較手段とを有し、 該比較手段により、前記データ項目が、前記上限値より
も大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された場合
に、前記生成手段により動作パラメータを生成すること
を特徴とする製造システム。
10. The processing device according to claim 9, wherein the processing device holds an upper limit value and a lower limit value of a data item for determining whether or not to change the operation parameter, and the collected data item. , And a comparison means for comparing the upper limit value and the lower limit value, the generation means, when the comparison means determines that the data item is larger than the upper limit value or smaller than the lower limit value. A manufacturing system characterized in that an operating parameter is generated by means.
【請求項11】設定された動作パラメータに従って被加
工物を処理する製造設備とネットワークを介して接続さ
れ、前記製造設備から、処理開始前の設備状態のデータ
項目を前記ネットワークを介して収集する設備運転パラ
メータ自動決定装置であって、 前記製造設備の動作パラメ−タをデ−タ項目より生成す
るための関数を保持する手段と、 前記保持された関数に従って、前記収集したデ−タ項目
より動作パラメ−タを生成する生成手段と、 生成した動作パラメ−タを前記ネットワ−クを介して前
記製造設備に設定する手段とを有することを特徴とする
設備運転パラメータ自動決定装置。
11. A facility that is connected via a network to a manufacturing facility that processes a workpiece according to set operating parameters, and that collects data items of the facility status from the manufacturing facility before starting processing through the network. An operating parameter automatic determination device, which holds a function for generating operation parameters of the manufacturing equipment from data items, and operates from the collected data items according to the held function. An equipment operation parameter automatic determination device comprising: a generation means for generating a parameter, and a means for setting the generated operation parameter in the manufacturing equipment via the network.
【請求項12】請求項11において、前記設備運転パラ
メータ自動決定装置は、 前記動作パラメータの変更の要否を判定するための、デ
ータ項目の上限値および下限値を保持する手段と、 前記収集されたデータ項目と、前記上限値および下限値
とを比較する比較手段とを有し、 該比較手段により、前記データ項目が、前記上限値より
も大きいかまたは下限値よりも小さいと判定された場合
に、前記生成手段により動作パラメータを生成すること
を特徴とする設備運転パラメータ自動決定装置。
12. The facility operation parameter automatic determination device according to claim 11, wherein the device operation parameter automatic determination device holds an upper limit value and a lower limit value of a data item for determining whether or not the operation parameter needs to be changed, A data item and a comparing means for comparing the upper limit value and the lower limit value, and the comparing means determines that the data item is larger than the upper limit value or smaller than the lower limit value. In addition, the facility operation parameter automatic determination device characterized in that the operation parameter is generated by the generation means.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10237645A (en) * 1997-02-28 1998-09-08 Asahi Optical Co Ltd Optical thin-film production system
JP2004349644A (en) * 2003-05-26 2004-12-09 Fujitsu Ltd Semiconductor device manufacturing process control system, and method and program for controlling semiconductor device manufacturing process
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JP2008091826A (en) * 2006-10-05 2008-04-17 Tokyo Electron Ltd Processing recipe optimizing method for substrate processing system, substrate processing system and substrate processing device

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