JPH0868756A - Vertical fluorescence illumination device of microscope - Google Patents

Vertical fluorescence illumination device of microscope

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JPH0868756A
JPH0868756A JP6228818A JP22881894A JPH0868756A JP H0868756 A JPH0868756 A JP H0868756A JP 6228818 A JP6228818 A JP 6228818A JP 22881894 A JP22881894 A JP 22881894A JP H0868756 A JPH0868756 A JP H0868756A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
epi
sample
field stop
light source
Prior art date
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Pending
Application number
JP6228818A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuro Otaki
達朗 大瀧
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH0868756A publication Critical patent/JPH0868756A/en
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Abstract

PURPOSE: To irradiate only a part of an observation visual field region with breaking light for breaking a caged compound by providing a visual field iris prescribing the irradiation region of breaking light to a breaking light irradiation optical system. CONSTITUTION: The light from a breaking light irradiation light source 16 propagates through an optical fiber 18 to reach an emitting end 18b to be emitted as a secondary light source. This light illuminates a sample 1 through an objective lens 20 to break the caged compd. contained in a sample 1. The irradiation region with breaking light is prescribed on the sample l by a visual field iris FS2. The fluorescence generated from the sample irradiated with the exciting light from an exciting light irradiation light source 11 or the breaking light from the light source transmits through the dichroic mirror D in a relay lens system 3 and is reflected by a mirror 4 to form a magnified image 5. The light from the magnified image 5 is again formed into an image 8 through a relay lens system 6 and a prism 7. The image 8 is observed by the naked eye 10 of an observer through an eyepiece 9.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、顕微鏡の落射蛍光照明
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an epi-illumination device for a microscope.

【0002】[0002]

【従来の技術】顕微鏡の観察方法として、水銀ランプ等
の光源からの短い波長の励起光を標本上の観察視野領域
に照明し、標本から発する長い波長の蛍光を観察する落
射蛍光法がある。具体的には、対物レンズから拡大像に
至る観察光学系の平行光束光路中に配置されたダイクロ
イックミラーによって水銀ランプ等からの短い波長の励
起光を反射し、反射光を対物レンズを介して標本に照明
する。この落射蛍光法の一方法として、ケージド化合物
を用いたケージドコンパウンド法が知られている。
2. Description of the Related Art As a microscope observing method, there is an epifluorescence method in which short-wavelength excitation light from a light source such as a mercury lamp is illuminated on an observation visual field region on a sample, and long-wavelength fluorescence emitted from the sample is observed. Specifically, the dichroic mirror arranged in the parallel light beam path of the observation optical system from the objective lens to the magnified image reflects excitation light of a short wavelength from a mercury lamp or the like, and the reflected light is transmitted through the objective lens to the specimen. To illuminate. A caged compound method using a caged compound is known as one method of this epifluorescence method.

【0003】以下、ケージドコンパウンド法の原理につ
いて説明する。一般に、生体中の細胞の働きは、カルシ
ウムによって制御されると考えられている。そして、ケ
ージド化合物は、たとえばこのカルシウム分子が他の分
子によってあたかもかごの中に取り込まれた(ケージ
ド)ようになっている。このケージド化合物は、強力な
光エネルギによって破壊されカルシウムを放出する。こ
の瞬間、生体はカルシウムによって運動を引き起こす。
ケージドコンパウンド法は、このときの細胞の動きを捉
えようとするものである。
The principle of the caged compound method will be described below. Generally, it is considered that the action of cells in the living body is regulated by calcium. Then, the caged compound is such that, for example, this calcium molecule is taken into a cage by another molecule (caged). This caged compound is destroyed by strong light energy and releases calcium. At this moment, the living body causes movement by calcium.
The caged compound method attempts to capture the movement of cells at this time.

【0004】ケージド化合物が破壊されて放出されるカ
ルシウムは特異的な蛍光を発するので、カルシウムの動
きを観察するために落射蛍光照明装置を用いる。この場
合、ケージド化合物を破壊するための光源が必要であ
る。落射蛍光法とケージド化合物とを組み合わせた方法
が、ケージドコンパウンド法である。なお、ケージドコ
ンパウンド法に用いる化合物は、カルシウムを放出する
ケージド化合物に限定されるものではなく、ヌクレオチ
ド、神経伝達物質、蛍光色素、ルシフェリン等を放出す
るケージド化合物を用いてもよい。
Calcium released by breaking the caged compound emits specific fluorescence, and therefore an epi-illumination illuminator is used to observe the movement of calcium. In this case, a light source is needed to destroy the caged compound. The caged compound method is a method in which the epifluorescence method and the caged compound are combined. The compound used in the caged compound method is not limited to a caged compound that releases calcium, and a caged compound that releases nucleotides, neurotransmitters, fluorescent dyes, luciferin and the like may be used.

【0005】ケージドコンパウンド法を用いた従来の顕
微鏡の落射蛍光照明装置では、ケージド化合物を破壊す
るための強力な光すなわち破壊光を標本に照射する必要
がある。一般的には、たとえばキセノン光源に高圧を印
加することによって破壊光を得ることができる。こうし
て得られた破壊光は、光ファイバー等のライトガイドを
介して標本全体に直接照射される。
In the conventional epi-illumination illuminator for a microscope using the caged compound method, it is necessary to irradiate the specimen with strong light for destroying the caged compound, that is, destruction light. Generally, destructive light can be obtained by applying a high voltage to, for example, a xenon light source. The destructive light thus obtained is directly applied to the entire specimen via a light guide such as an optical fiber.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】上述のような従来の顕
微鏡の落射蛍光照明装置では、光ファイバーなどを介し
て破壊光を標本全体に直接照明している。このため、破
壊光の照射領域を観察視野領域のうちの特定の領域に小
さく絞り込むことができない。その結果、観察の際に細
胞の特定部分での反応のみを特に観察したいという要求
に答えることができないという不都合があった。
In the conventional epi-illumination illuminator for a microscope as described above, the entire specimen is directly illuminated with destructive light via an optical fiber or the like. Therefore, the irradiation area of the destructive light cannot be narrowed down to a specific area of the observation visual field area. As a result, there is a disadvantage in that it is not possible to meet the demand for observing only the reaction in a specific part of the cell during observation.

【0007】また、従来の顕微鏡の落射蛍光照明装置で
は、標本全体に破壊光を直接照明しているので光が分散
してしまう。このため、ケージド化合物を破壊するのに
十分な強さの破壊光を得ることが困難であるという不都
合があった。本発明は、前述の課題に鑑みてなされたも
のであり、観察視野領域のうちの一部の領域のみにケー
ジド化合物を破壊するための破壊光を照射することので
きる、顕微鏡の落射蛍光照明装置を提供することを目的
とする。
Further, in the conventional epi-illumination illuminator for a microscope, the entire sample is directly illuminated with the destructive light, so that the light is dispersed. For this reason, there is a disadvantage in that it is difficult to obtain a breaking light having an intensity sufficient to break the caged compound. The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and it is possible to irradiate only a partial region of the observation visual field with the destructive light for destructing the caged compound, and the epi-fluorescent illumination device of the microscope. The purpose is to provide.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明においては、落射照明用の励起光を標本に照
射するための励起光照射光学系と、前記標本に含まれた
ケージド化合物を破壊するための破壊光を前記標本に照
射するための破壊光照射光学系とを備えた、顕微鏡の落
射蛍光照明装置において、前記破壊光照射光学系は、前
記破壊光を発するための光源と、該光源からの光を前記
標本の観察視野領域内に集光するための集光レンズ手段
と、前記光源と前記集光手段との間に位置決めされ前記
標本上における前記破壊光の照射領域を規定するための
視野絞りとを備えていることを特徴とする落射蛍光照明
装置を提供する。
In order to solve the above problems, in the present invention, an excitation light irradiation optical system for irradiating a sample with excitation light for epi-illumination, and a caged compound contained in the sample. With a destructive light irradiation optical system for irradiating the specimen with destructive light for destructing the, in the epi-illumination fluorescence illumination device of the microscope, the destructive light irradiation optical system, and A condensing lens means for condensing light from the light source into an observation visual field area of the specimen, and an irradiation area of the destructive light on the specimen positioned between the light source and the condensing means. Provided is an epi-illumination illuminator which is provided with a field stop for defining.

【0009】本発明の好ましい態様によれば、前記視野
絞りは、絞り込み可能である。また、前記視野絞りは、
光軸に垂直な面内において移動可能であることが好まし
い。さらに、前記光源は前記視野絞りの近傍に配置さ
れ、前記光軸に垂直な面内において前記視野絞りと一体
的に移動可能であることが好ましい。
According to a preferred aspect of the present invention, the field diaphragm is narrowable. Further, the field stop is
It is preferably movable in a plane perpendicular to the optical axis. Further, it is preferable that the light source is arranged in the vicinity of the field stop and is movable integrally with the field stop in a plane perpendicular to the optical axis.

【0010】[0010]

【作用】本発明の落射蛍光照明装置では、標本に含まれ
たケージド化合物を破壊するための破壊光を視野絞りを
介して集光レンズ手段によって標本上に集光する。した
がって、落射照明用の励起光が照射される標本の観察視
野領域のうちの一部の領域のみに破壊光を照射して、標
本の一部の細胞の反応を観察することができる。
In the epi-illumination illuminator of the present invention, the destructive light for destructing the caged compound contained in the specimen is condensed on the specimen by the condenser lens means via the field stop. Therefore, it is possible to irradiate the destructive light only to a part of the observation visual field region of the sample to which the excitation light for epi-illumination is irradiated, and observe the reaction of a part of the cells of the sample.

【0011】なお、視野絞りを絞り込み可能にすること
により、所望の大きさの領域に所望の強さの破壊光を照
射することができる。また、視野絞りを光軸に垂直な面
内において二次元的に移動可能にすることにより、観察
視野領域の任意の領域に順次破壊光を照射しながら、観
察視野領域全体に亘って蛍光観察を行うことができる。
By making it possible to narrow down the field stop, it is possible to irradiate a region of a desired size with destructive light of a desired intensity. In addition, by making the field stop movable two-dimensionally in a plane perpendicular to the optical axis, fluorescent light can be observed over the entire observation visual field area while sequentially irradiating destructive light to any area of the observation visual field area. It can be carried out.

【0012】[0012]

【実施例】以下、本発明の実施例を、添付図面に基づい
て説明する。図1は、本発明の第1実施例にかかる顕微
鏡の落射蛍光照明装置の構成を示す図である。図示の顕
微鏡は倒立型の顕微鏡であり、観察すべき標本1の図中
下方に落射照明用対物レンズ2が配置してあり、対物レ
ンズ2の下方から落射照明が施されるようになってい
る。落射照明用の光源11からの光束は、コレクタレン
ズ12によって集光されて一旦結像した後、レンズ15
および励起フィルタEX1を介してダイクロイックミラ
ーDMに入射する。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an epi-illumination device for a microscope according to a first embodiment of the present invention. The illustrated microscope is an inverted microscope, and an objective lens 2 for epi-illumination is arranged below the specimen 1 to be observed in the figure, and epi-illumination is performed from below the objective lens 2. . The light flux from the light source 11 for epi-illumination is condensed by the collector lens 12 to form an image, and then the lens 15
And enters the dichroic mirror DM via the excitation filter EX1.

【0013】なお、コレクタレンズ12とレンズ15と
の間の結像位置には視野絞りFS1が配置されている。
また、ダイクロイックミラーDMは、顕微鏡の観察光学
系のリレーレンズ系3中(平行光路中)に配置されてい
る。ダイクロイックミラーDMにより図中上方に反射さ
れた落射照明用光束は、対物レンズ2を介して標本1の
観察視野領域を照明する。標本1と視野絞りFS1とは
共役の位置にあり、観察視野領域は視野絞りFS1の開
口部の形状および大きさに依存して規定される。
A field stop FS1 is arranged at an image forming position between the collector lens 12 and the lens 15.
Further, the dichroic mirror DM is arranged in the relay lens system 3 (in the parallel optical path) of the observation optical system of the microscope. The epi-illumination light flux reflected upward in the figure by the dichroic mirror DM illuminates the observation field region of the sample 1 via the objective lens 2. The sample 1 and the field stop FS1 are at a conjugate position, and the observation field area is defined depending on the shape and size of the opening of the field stop FS1.

【0014】なお、本実施例ではB励起法を用いてお
り、励起フィルタEX1は波長が430〜480nmの
光すなわち励起光を透過する特性を有する。一方、ダイ
クロイックミラーDMは波長が330〜500nmの光
を反射し、落射照明された標本で発生する波長が500
nm以上の光だけを透過する特性を有する。このよう
に、光源11、コレクタレンズ12、視野絞りFS1、
レンズ15、励起フィルタEX1、ダイクロイックミラ
ーDM、および対物レンズ2は、落射蛍光照明装置の励
起光照射光学系を構成している。
In this embodiment, the B excitation method is used, and the excitation filter EX1 has a characteristic of transmitting light having a wavelength of 430 to 480 nm, that is, excitation light. On the other hand, the dichroic mirror DM reflects light having a wavelength of 330 to 500 nm, and the wavelength generated in the sample illuminated by epi-illumination is 500.
It has the property of transmitting only light of nm or more. In this way, the light source 11, the collector lens 12, the field stop FS1,
The lens 15, the excitation filter EX1, the dichroic mirror DM, and the objective lens 2 constitute an excitation light irradiation optical system of the epi-illumination fluorescent lighting device.

【0015】一方、ケージド化合物を破壊するための破
壊光照射用光源16は、たとえば高圧電源(不図示)に
接続されたキセノン光源であってフラッシュ光を発す
る。キセノン光源16からの光は、コレクタレンズ17
によって集光され光ファイバ18の入力端18aに結像
する。ファイバ18を伝搬した光は射出端18bに達
し、二次光源となって射出される。射出端18bからの
発散光は、標本1の図中上方に配置された対物レンズ2
0を介して標本1上を照明し、標本に含まれたケージド
化合物を破壊する。
On the other hand, the light source 16 for irradiating the destructive light for destroying the caged compound is, for example, a xenon light source connected to a high voltage power source (not shown) and emits flash light. Light from the xenon light source 16 is collected by the collector lens 17
The light is focused by and is focused on the input end 18a of the optical fiber 18. The light propagating through the fiber 18 reaches the exit end 18b and is emitted as a secondary light source. The divergent light from the exit end 18b is the objective lens 2 arranged above the sample 1 in the figure.
Illuminate the specimen 1 through 0 to destroy the caged compound contained in the specimen.

【0016】なお、ファイバ18の射出端18bの近傍
には、対物レンズ20に対して標本1と共役な位置に視
野絞りFS2が配置されている。視野絞りFS2は、開
口部を絞り込むことが可能であり、且つ光軸と直交する
面内において二次元的に移動可能である。こうして、標
本1上において破壊光の照射領域は、視野絞りFS2に
よって規定されるようになっている。
A field stop FS2 is arranged near the exit end 18b of the fiber 18 at a position conjugate with the sample 1 with respect to the objective lens 20. The field stop FS2 can narrow the opening and can be two-dimensionally moved in a plane orthogonal to the optical axis. In this way, the irradiation area of the destructive light on the sample 1 is defined by the field stop FS2.

【0017】また、視野絞りFS2と対物レンズ20と
の間には、励起フィルタEX2が配置されている。励起
フィルタEX2は、ケージド化合物を破壊するための紫
外光として波長が330〜380nmの光を透過する特
性を有する。このように、キセノン光源16、コレクタ
レンズ17、ファイバ18、視野絞りFS2、励起フィ
ルタEX2および対物レンズ20は、落射蛍光照明装置
の破壊光照射光学系を構成している。
An excitation filter EX2 is arranged between the field stop FS2 and the objective lens 20. The excitation filter EX2 has a characteristic of transmitting light having a wavelength of 330 to 380 nm as ultraviolet light for destroying the caged compound. As described above, the xenon light source 16, the collector lens 17, the fiber 18, the field stop FS2, the excitation filter EX2, and the objective lens 20 configure the destructive light irradiation optical system of the epi-illumination device.

【0018】こうして、光源11からの励起光または光
源16からの破壊光が照射された標本で発生した波長5
00nm以上の蛍光は、対物レンズ2によって集光され
た後、リレーレンズ系3中のダイクロイックミラーDM
を透過する。ここで、520nm以上の波長を有する光
を透過する吸収フィルタBAを介して観察に有害な光が
除去された後、標本からの蛍光はミラー4に入射する。
ミラー4において図中左斜め上方に反射された光は、拡
大像5を形成する。
In this way, the wavelength 5 generated in the sample irradiated with the excitation light from the light source 11 or the destructive light from the light source 16
The fluorescence of 00 nm or more is condensed by the objective lens 2 and then is collected by the dichroic mirror DM in the relay lens system 3.
Through. Here, after the light harmful to the observation is removed through the absorption filter BA which transmits the light having the wavelength of 520 nm or more, the fluorescence from the sample enters the mirror 4.
The light reflected by the mirror 4 obliquely upward and leftward in the drawing forms an enlarged image 5.

【0019】拡大像5からの光は、リレーレンズ系6お
よびプリズム7を介して再結像し、像8が形成される。
像8は、接眼レンズ9を介して観察者の肉眼10によっ
て観察される。このように、対物レンズ2、リレーレン
ズ系3、ミラー4、リレーレンズ系6、プリズム7およ
び接眼レンズ9は、顕微鏡の観察光学系を構成してい
る。
The light from the magnified image 5 is re-imaged through the relay lens system 6 and the prism 7 to form an image 8.
The image 8 is observed by the naked eye 10 of the observer through the eyepiece 9. In this way, the objective lens 2, the relay lens system 3, the mirror 4, the relay lens system 6, the prism 7 and the eyepiece lens 9 constitute the observation optical system of the microscope.

【0020】本実施例では、ケージド化合物を破壊する
ための破壊光が視野絞りFS2を介して対物レンズ20
により標本1上に集光される。したがって、落射照明用
の励起光が照射される標本1の観察視野領域のうちの一
部の領域のみに破壊光を照射して、標本の一部の細胞の
反応を観察することができる。また、視野絞りFS2を
適宜絞り込むことにより、標本1の観察視野領域の範囲
内において、所望の小さな領域に所望の強度を有する破
壊光を効率良く照射することができる。その結果、より
微小な領域により強力な励起光を照明することが可能で
ある。
In this embodiment, the destructive light for destructing the caged compound is transmitted through the field stop FS2 to the objective lens 20.
Is focused on the sample 1. Therefore, it is possible to irradiate only a partial region of the observation visual field region of the sample 1 to which the excitation light for epi-illumination is irradiated with the destructive light and observe the reaction of some cells of the sample. Further, by appropriately narrowing the field stop FS2, it is possible to efficiently irradiate a desired small area with the destructive light having a desired intensity within the observation field area of the sample 1. As a result, it is possible to illuminate a stronger excitation light in a smaller area.

【0021】さらに、視野絞りFS2を光軸直交面にお
いて二次元的に適宜移動させることによって、標本1の
細胞の一部の特定した領域にのみ選択的に励起光を照射
することができる。換言すれば、観察視野領域の任意の
領域に順次破壊光を照射しながら、観察視野領域全体に
亘って蛍光観察を行うことができる。また、励起光を供
給する二次光源であるファイバ18の射出端18bを視
野絞りFS2とともに二次元的に移動させることによ
り、ファイバ18の径以上の範囲に亘って標本1に破壊
光を照射することが可能になる。さらに、対物レンズ2
0を光軸に沿って移動させることにより、色収差による
ピントずれを補正して極めて小さな領域に良好な結像性
能で破壊光を照射することができる。
Furthermore, by appropriately moving the field stop FS2 two-dimensionally in the plane orthogonal to the optical axis, it is possible to selectively irradiate only a specified region of a part of the cells of the sample 1 with the excitation light. In other words, it is possible to perform fluorescence observation over the entire observation visual field region while sequentially irradiating the arbitrary region of the observation visual field region with the destructive light. Further, the exit end 18b of the fiber 18, which is the secondary light source that supplies the excitation light, is two-dimensionally moved together with the field stop FS2, so that the specimen 1 is irradiated with the destructive light over the range of the diameter of the fiber 18 or more. It will be possible. Furthermore, the objective lens 2
By moving 0 along the optical axis, it is possible to correct the focus shift due to chromatic aberration and irradiate the destructive light on a very small area with good imaging performance.

【0022】図2は、本発明の第2実施例にかかる顕微
鏡の落射蛍光照明装置の構成を示す図である。図2では
顕微鏡の観察光学系の部分を省略し、落射蛍光照明装置
の構成を主として示している。実施例2の装置は、実施
例1の装置と類似の構成を有し同様の作用効果を有する
が、ケージド化合物破壊用の光が顕微鏡の観察光学系の
一部の光路を介して標本に導かれる点が実施例1と相違
する。すなわち、実施例2では破壊光と励起光とが一部
共通の光路を介して共通の対物レンズにより標本上に集
光される点だけが大きく相違するので、実施例1と同様
な構成および動作についての重複する説明を省略する。
図2の装置では、図1に示す構成要素と同様の機能を有
する要素に同じ参照符号を付している。
FIG. 2 is a diagram showing the structure of the epi-illumination device for a microscope according to the second embodiment of the present invention. In FIG. 2, the observation optical system of the microscope is omitted, and the configuration of the epi-illumination illuminator is mainly shown. The device of the second embodiment has a similar configuration to the device of the first embodiment and has the same operation and effect, but the light for destroying the caged compound is guided to the sample through a part of the optical path of the observation optical system of the microscope. The difference is the difference from the first embodiment. That is, the second embodiment is largely different only in that the destructive light and the excitation light are partially condensed on the sample by the common objective lens via the common optical path, and thus the configuration and operation similar to those of the first embodiment are performed. The overlapping description of is omitted.
In the apparatus of FIG. 2, elements having the same functions as those of the components shown in FIG. 1 are designated by the same reference numerals.

【0023】図2の落射蛍光照明装置の励起光照射光学
系では、光源11からの光束がコレクタレンズ12によ
って集光されて一旦結像した後、コリメータレンズ13
により平行光束に変換される。この平行光束は、励起フ
ィルタEX1を介してダイクロイックミラーDM2に入
射する。
In the excitation light irradiation optical system of the epi-illumination fluorescent lighting device of FIG. 2, the light flux from the light source 11 is condensed by the collector lens 12 and once focused, and then the collimator lens 13 is formed.
Is converted into a parallel light flux by. This parallel light flux enters the dichroic mirror DM2 via the excitation filter EX1.

【0024】なお、コレクタレンズ12とコリメータレ
ンズ13との間の結像位置には視野絞りFS3が配置さ
れている。ダイクロイックミラーDM2により図中左側
に反射された落射照明用の平行光束は、レンズ14によ
って結像した後コリメータレンズ15によって平行光束
となり、ダイクロイックミラーDM1に入射する。ここ
で、レンズ14とコリメータレンズ15との間の結像位
置には視野絞りFS1が配置されている。また、ダイク
ロイックミラーDM1は、顕微鏡の観察光学系のリレー
レンズ系3中(平行光路中)に配置されている。
A field stop FS3 is arranged at an image forming position between the collector lens 12 and the collimator lens 13. The parallel light beam for epi-illumination reflected by the dichroic mirror DM2 on the left side in the drawing is imaged by the lens 14, becomes a parallel light beam by the collimator lens 15, and enters the dichroic mirror DM1. Here, a field stop FS1 is arranged at an image forming position between the lens 14 and the collimator lens 15. The dichroic mirror DM1 is arranged in the relay lens system 3 (in the parallel optical path) of the observation optical system of the microscope.

【0025】ダイクロイックミラーDM1により図中上
方に反射された平行光束は、対物レンズ2を介して標本
1の観察視野領域を照明する。このように、標本1と視
野絞りFS1および視野絞りFS3とは共役の位置にあ
り、観察視野領域は視野絞りFS1および視野絞りFS
3の開口部の形状および大きさに依存して規定される。
The parallel light flux reflected upward in the figure by the dichroic mirror DM1 illuminates the observation field area of the sample 1 via the objective lens 2. As described above, the sample 1 and the field stop FS1 and the field stop FS3 are at conjugate positions, and the observation field area is the field stop FS1 and the field stop FS.
3 is defined depending on the shape and size of the opening.

【0026】なお、第2実施例でもB励起法を用いてお
り、励起フィルタEX1は波長が430〜480nmの
光を透過する特性を有する。一方、ダイクロイックミラ
ーDM1は波長が330〜500nmの光を反射し、落
射照明された標本で発生する波長が500nm以上の光
だけを透過する特性を有する。さらに、ダイクロイック
ミラーDM2は波長が400〜660nmの光を反射
し、波長が280〜390nmの光を透過する特性を有
する。こうして、ダイクロイックミラーDM2は、光源
11からの励起光(430〜480nm)を反射し、後
述する光源16からの破壊光(330〜380nm)を
透過する。
The B excitation method is also used in the second embodiment, and the excitation filter EX1 has a characteristic of transmitting light having a wavelength of 430 to 480 nm. On the other hand, the dichroic mirror DM1 has a characteristic of reflecting light having a wavelength of 330 to 500 nm and transmitting only light having a wavelength of 500 nm or more generated in a sample illuminated by epi-illumination. Further, the dichroic mirror DM2 has a property of reflecting light having a wavelength of 400 to 660 nm and transmitting light having a wavelength of 280 to 390 nm. Thus, the dichroic mirror DM2 reflects the excitation light (430 to 480 nm) from the light source 11 and transmits the destructive light (330 to 380 nm) from the light source 16 described later.

【0027】一方、図2の落射蛍光照明装置の破壊光照
射光学系では、キセノン光源16からの光がコレクタレ
ンズ17によって集光され、光ファイバ18の入力端1
8aに結像する。ファイバ18を伝搬した光は射出端1
8bに達し、二次光源となって射出する。射出端18b
からの発散光は、光軸に沿って移動可能なコリメータレ
ンズ19および励起フィルタEX2を介して上述のダイ
クロイックミラーDM2に入射する。ダイクロイックミ
ラーDM2を透過した光は、上述の落射照明用の平行光
束と同様に、レンズ14、コリメータレンズ15、ダイ
クロイックミラーDM1および対物レンズ2を介して標
本1上を照明し、ケージド化合物を破壊する。
On the other hand, in the destructive light irradiation optical system of the epi-illumination device of FIG. 2, the light from the xenon light source 16 is condensed by the collector lens 17, and the input end 1 of the optical fiber 18 is collected.
Form an image on 8a. The light propagating through the fiber 18 is the exit end 1
8b, it becomes a secondary light source and is emitted. Ejection end 18b
The divergent light from the light enters the above-mentioned dichroic mirror DM2 via the collimator lens 19 movable along the optical axis and the excitation filter EX2. The light transmitted through the dichroic mirror DM2 illuminates the sample 1 through the lens 14, the collimator lens 15, the dichroic mirror DM1 and the objective lens 2 to destroy the caged compound, similarly to the parallel light flux for epi-illumination described above. .

【0028】なお、ファイバ18の射出端18bの近傍
には、標本1と共役な位置に視野絞りFS2が配置され
ている。視野絞りFS2は、開口部を絞り込むことが可
能であり、且つ光軸と直交する面内において二次元的に
移動可能である。また、励起フィルタEX2は、ケージ
ド化合物を破壊するための紫外光として波長が330〜
380nmの光を透過する特性を有する。本実施例にお
いても、コリメータレンズ19を光軸に沿って移動させ
ることにより、色収差によるピントずれを補正して極め
て小さな領域に良好な結像性能で破壊光を照射すること
ができる。
A field stop FS2 is arranged near the exit end 18b of the fiber 18 at a position conjugate with the sample 1. The field stop FS2 can narrow the opening and can be two-dimensionally moved in a plane orthogonal to the optical axis. Further, the excitation filter EX2 has a wavelength of 330 to 330 as ultraviolet light for destroying the caged compound.
It has a characteristic of transmitting light of 380 nm. Also in the present embodiment, by moving the collimator lens 19 along the optical axis, it is possible to correct the focus shift due to chromatic aberration and irradiate the destructive light on a very small area with good imaging performance.

【0029】なお、上述の各実施例では、倒立型の顕微
鏡を例にとって本発明を説明しているが、一般の正立型
の顕微鏡にも本発明を適用することができる。また、上
述の各実施例では、落射蛍光法としてB励起法にしたが
う構成を示したが、他の適当な励起法を用いることもで
きる。さらに、上述の各実施例では、光ファイバを介し
て破壊光の二次光源を形成しているが、光ファイバを用
いることなく破壊光用光源の近傍に直接視野絞りを配置
してもよいことは明らかである。
In each of the above-mentioned embodiments, the present invention has been described by taking an inverted microscope as an example, but the present invention can also be applied to a general upright microscope. Further, in each of the above-described embodiments, the configuration according to the B excitation method is shown as the epifluorescence method, but other suitable excitation method may be used. Further, in each of the above-mentioned embodiments, the secondary light source of the destructive light is formed via the optical fiber, but the field stop may be arranged directly in the vicinity of the light source for the destructive light without using the optical fiber. Is clear.

【0030】[0030]

【効果】以上説明したように、本発明によれば、破壊光
を視野絞りを介して集光レンズ手段によって標本上に集
光するので、標本の一部の細胞の反応を観察することが
できる。また、視野絞りを絞り込み可能にすることによ
り、所望の大きさの領域に所望の強さの破壊光を照射す
ることができる。さらに、視野絞りを光軸に垂直な面内
において二次元的に移動可能にすることにより、観察視
野領域の任意の領域に順次破壊光を照射しながら、観察
視野領域全体に亘って蛍光観察を行うことができる。
As described above, according to the present invention, since the destructive light is focused on the sample by the condenser lens means through the field stop, the reaction of a part of the cells of the sample can be observed. . Further, by making it possible to narrow down the field stop, it is possible to irradiate a region of a desired size with the destructive light of a desired intensity. Furthermore, by making the field stop movable two-dimensionally in a plane perpendicular to the optical axis, fluorescence can be observed over the entire observation visual field area while sequentially irradiating destructive light to any area of the observation visual field area. It can be carried out.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の第1実施例にかかる顕微鏡の落射蛍光
照明装置の構成を示す図である。
FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an epi-illumination device for a microscope according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第2実施例にかかる顕微鏡の落射蛍光
照明装置の構成を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing the configuration of an epi-illumination device for a microscope according to a second embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 標本 2 対物レンズ 3 リレーレンズ系 4 ミラー 5、8 像面 7 プリズム 11、16 光源 18 ファイバ EX 励起フィルタ BA 吸収フィルタ DM ダイクロイックミラー FS 視野絞り 1 sample 2 objective lens 3 relay lens system 4 mirrors 5 and 8 image plane 7 prisms 11 and 16 light source 18 fiber EX excitation filter BA absorption filter DM dichroic mirror FS field stop

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 落射照明用の励起光を標本に照射するた
めの励起光照射光学系と、前記標本に含まれたケージド
化合物を破壊するための破壊光を前記標本に照射するた
めの破壊光照射光学系とを備えた、顕微鏡の落射蛍光照
明装置において、 前記破壊光照射光学系は、 前記破壊光を発するための光源と、該光源からの光を前
記標本の観察視野領域内に集光するための集光レンズ手
段と、前記光源と前記集光手段との間に位置決めされ前
記標本上における前記破壊光の照射領域を規定するため
の視野絞りとを備えていることを特徴とする落射蛍光照
明装置。
1. An excitation light irradiation optical system for irradiating a specimen with excitation light for epi-illumination, and a destructive light for irradiating the specimen with destructive light for destroying a caged compound contained in the specimen. In a microscope epi-illumination fluorescent illumination device including an irradiation optical system, the destructive light irradiation optical system condenses a light source for emitting the destructive light and light from the light source in an observation visual field region of the sample. And a field stop for defining an irradiation area of the destructive light on the sample, which is positioned between the light source and the light collecting means. Fluorescent lighting device.
【請求項2】 前記視野絞りは、絞り込み可能であるこ
とを特徴とする請求項1に記載の落射蛍光照明装置。
2. The epi-illumination device as claimed in claim 1, wherein the field diaphragm can be narrowed down.
【請求項3】 前記視野絞りは、光軸に垂直な面内にお
いて移動可能であることを特徴とする請求項2に記載の
落射蛍光照明装置。
3. The epi-illumination illuminator according to claim 2, wherein the field stop is movable in a plane perpendicular to the optical axis.
【請求項4】 前記光源は前記視野絞りの近傍に配置さ
れ、前記光軸に垂直な面内において前記視野絞りと一体
的に移動可能であることを特徴とする請求項3に記載の
落射蛍光照明装置。
4. The epi-fluorescent light as claimed in claim 3, wherein the light source is arranged in the vicinity of the field stop and is movable integrally with the field stop in a plane perpendicular to the optical axis. Lighting equipment.
【請求項5】 前記光源からの光を集光するための第2
の集光レンズ手段と、該第2の集光レンズ手段によって
集光された位置に入射端を有し射出端まで入射光を伝搬
するためのライトガイド手段とをさらに備え、 前記ライトガイド手段の射出端は前記視野絞りの近傍に
配置され、前記射出端からの光は前記視野絞りを介して
前記標本の観察視野領域内に集光されることを特徴とす
る請求項1乃至3のいずれか1項に記載の落射蛍光照明
装置。
5. A second light collecting unit for collecting light from the light source.
And a light guide means for propagating the incident light to the exit end, which has an entrance end at a position where it is focused by the second condensing lens means. 4. The exit end is arranged in the vicinity of the field stop, and the light from the exit end is condensed into the observation field area of the sample via the field stop. The epi-fluorescent illumination device according to item 1.
【請求項6】 前記ライトガイド手段の射出端は、光軸
に垂直な面内において前記視野絞りと一体的に移動可能
であることを特徴とする請求項5に記載の落射蛍光照明
装置。
6. The epi-illumination device as claimed in claim 5, wherein the exit end of the light guide means is movable integrally with the field stop in a plane perpendicular to the optical axis.
【請求項7】 前記集光レンズ手段を構成するレンズの
うち少なくとも1つのレンズは光軸に沿って移動可能な
可動レンズであり、該可動レンズを光軸に沿って移動さ
せて前記視野絞りの前記標本上における合焦を行うこと
を特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の落
射蛍光照明装置。
7. At least one lens of the lenses forming the condenser lens means is a movable lens movable along an optical axis, and the movable lens is moved along the optical axis to move the field stop. The epi-fluorescent illumination device according to claim 1, wherein focusing is performed on the sample.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009080502A (en) * 2008-12-05 2009-04-16 Carl Zeiss Jena Gmbh Arrangement for combining radiation to scanning head in microscope with scanning unit, and method of operating the same
WO2015029408A1 (en) * 2013-08-27 2015-03-05 独立行政法人理化学研究所 Drive control method for objective lens and fluorescence microscope system

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