JPH08510081A - サイクロイド質量分析計及びそれに使用されるイオナイザー - Google Patents
サイクロイド質量分析計及びそれに使用されるイオナイザーInfo
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Abstract
Description
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1.イオンが軌道を描くための空間部を構成するハウジングと、 イオン軌道の空間部の中に磁界を作るための磁界発生手段と、 分析されるべき気体試料を受け取り、該気体試料をイオンに変換して放出す るイオナイザー手段と、 質量対電荷比の異なる複数のイオンを同時に受け取り、そこでのイオン衝突 位置をイオンの質量に関連づけるようにしたコレクション手段と、 コレクション手段に応答し、イオンの質量分布を決定するための処理手段、 を具えているサイクロイド質量分析計。 2.コレクション手段は、複数の略平行なスリットを開設した細長いプレートを 含んでおり、 スリットの下に配備されて、スリットを通過するイオンを受け取り、応答電 流を発する手段を具えている請求項1のサイクロイド質量分析計。 3.プレートは、質量分析計の集束面に全体的に配置される請求項2のサイクロ イド質量分析計。 4.処理手段は、コレクション手段から受けた電流を増幅し、各スリットを通過 するイオンの量を決定する手段を有している請求項3のサイクロイド質量分析計 。 5.電流を増幅する手段は、各スリット毎に増幅器を含んでいる請求項4のサイ クロイド質量分析計。 6.電流を増幅する手段は、電流を順次受取って増幅するための単一の増幅器及 びマルチプレクサー手段を含んでいる請求項4のサイクロイド質量分析計。 7.イオンを受け取る手段は、複数のファラデーコレクターを有している請求項 2のサイクロイド質量分析計。 8.イオナイザー手段は、イオンを放出するためのスリットを形成したインジェ クタープレートを有し、 該スリットは、コレクタープレートのスリットと略平行である請求項2のサ イクロイド質量分析計。 9.イオナイザー手段のスリットは、細長いプレートと略共通の平面である請求 項8のサイクロイド質量分析計。 10.コレクター手段は、質量分析計の集束面に全体的に配置されたコレクター アレイを含んでいる請求項1のサイクロイド質量分析計。 11.コレクターアレイは、イオン電流により作動する複数の電荷結合素子を有 している請求項10のサイクロイド質量分析計。 12.処理手段は、電流を増幅し、コレクション手段の選択された部分に衝突す るイオン量を決定する手段を有している請求項11のサイクロイド質量分析計。 13.コレクション手段は、プレート状部材を含んでお り、該プレート状部材には、複数の略平行なスリットが集束面に全体的に形成さ れ、その下にチャンネルプレートが配置されている請求項1のサイクロイド質量 分析計。 14.コレクション手段は、複数のコレクターが、スリットを通過するイオンに 応答して電流を放出するためのチャンネルプレートの下に配置されている請求項 13のサイクロイド質量分析計。 15.コレクターは、ファラデーコレクター及び電荷結合素子からなる群から選 択される請求項14のサイクロイド質量分析計。 16.プレート状部材は金属スクリーンである請求項13のサイクロイド質量分 析計。 17.イオナイザー手段は、イオンがイオン軌道空間部を通ってコレクション手 段に進むことができるように、イオンを放出し、ハウジングは、少なくともイオ ン軌道空間部の一部を構成する複数の電界プレートを有している請求項1のサイ クロイド質量分析計。 18.隣り合うプレートは互いに密封接合される請求項17のサイクロイド質量 分析計。 19.電界プレートは、導電性材料からなり、セラミック、ガラス及び低蒸気圧 ポリマーからなる群から選択される材料により、互いに電気的に分離される請求 項18のサイクロイド質量分析計。 20.電界プレートは、セラミック材料からなり、該セラミック材料には、イオ ン軌道空間部に面する表面に導電性コーティングを施している請求項18のサイ クロイド質量分析計。 21.セラミック材料は高密度アルミナである請求項20のサイクロイド質量分 析計。 22.導電性材料は、モリブデン、モリブデン−マンガン、ニッケル及び銅から なる群から選択される請求項21のサイクロイド質量分析計。 23.電界プレートは、その上面及び下面に導電性コーティングが施され、イオ ン軌道空間部に面する表面の導電性コーティングは、周方向のギャップを有して いる請求項20のサイクロイド質量分析計。 24.イオン軌道空間部に面する表面の導電性コーティングは、ギャップを除い て周方向に連続している請求項23のサイクロイド質量分析計。 25.イオン軌道空間部の中に磁界を発生するために、ハウジングの外部に配置 された磁界発生手段を含んでいる請求項18のサイクロイド質量分析計。 26.磁界発生手段は、ハウジングの両側に配置されている請求項25のサイク ロイド質量分析計。 27.電界プレートは、略矩形の上部フィラメントプレートと、該フィラメント プレートの直ぐ下に配備され、イオナイザーを受ける凹所を有するイオナイザー プレ ートと、該イオナイザープレートの下に配備された有孔プレート及びコレクター プレートとを含んでいる請求項18のサイクロイド質量分析計。 28.フィラメントプレート、イオナイザープレート及びコレクタープレートは 、各々が略矩形であり、細長の開口部を内部に有している請求項27のサイクロ イド質量分析計。 29.イオナイザー手段は、イオナイザープレート内に、イオナイザープレート の開口部の両端から長手方向に離間した位置に配備される請求項28のサイクロ イド質量分析計。 30.コレクタープレートの開口部の中に、イオナイザープレートのイオナイザ ー手段の位置から長手方向にずれた位置に配備されたコレクターを含んでいる請 求項29のサイクロイド質量分析計。 31.イオナイザー手段は、その下端にイオン放出スリットが形成されたインジ ェクタープレートを有している請求項30のサイクロイド質量分析計。 32.イオン軌道空間部は、内部の長さが約1.5〜2.0インチ、内部の幅が約0.3 〜0.7インチ、コレクター手段の領域における内部の高さが約0.6〜1.5インチで ある請求項22のサイクロイド質量分析計。 33.イオナイザー手段は、イオン空間部を構成するブロック、フィラメント手 段、及び有孔インジェクター プレートを有し、前記ブロックは、空間部の中へ気体試料を導入するための気体 入口部を具えている請求項1のサイクロイド質量分析計。 34.フィラメント手段は、ワイヤフィラメントを有している請求項33のサイ クロイド質量分析計。 35.イオン空間部を構成するブロックは、セラミック材料からなり、フィラメ ントは、前記ブロックの内面にコーティングされた導電性材料を有している請求 項34のサイクロイド質量分析計。 36.インジェクタープレートは、導電性材料からなり、イオン放出口を有する 請求項35のサイクロイド質量分析計。 37.気体入口部は、フィラメント手段と反対側の位置に、イオン空間部を構成 するブロックの壁に設けられている請求項36のサイクロイド質量分析計。 38.イオナイザー手段は、外部の長さが約3/16〜1/2インチ、外部の幅が約1/1 6〜3/16インチ、外部の高さが約3/16〜5/16インチである請求項32のサイクロ イド質量分析計。 39.イオナイザー手段は、イオンがイオン軌道空間部を通ってコレクター手段 に進むことができるように、イオンを放出し、イオン軌道空間部の少なくとも一 部は、一体成型されたイオン軌道空間部により構成され、該空間部は、互いに電 気的に絶縁された複数の導電性 ゾーンを有している請求項1のサイクロイド質量分析計。 40.イオン軌道空間部は、低蒸気圧のエラストマーから構成される請求項39 のサイクロイド質量分析計。 41.ハウジングは、複数の導電性電界プレートを有し、該ハウジングを収容す る真空カバーを含んでいる請求項1のサイクロイド質量分析計。 42.導電性の電界プレートはステンレス鋼から作られ、隣り合うプレートの間 には、電気的に絶縁性のセパレータ手段が配備されている請求項41のサイクロ イド質量分析計。 43.真空カバーは、ステンレス鋼から作られ、導電性の鋼プレートとは電気的 に絶縁されている請求項42のサイクロイド質量分析計。 44.導電性の電界プレートは、陰極プレートと陽極プレートを有している請求 項42のサイクロイド質量分析計。 45.電界プレートには、抵抗器手段が連繋されている請求項42のサイクロイ ド質量分析計。 46.抵抗器手段は、電界プレートに対して、個々のプレートポテンシャルを分 配する役割を有している請求項45のサイクロイド質量分析計。 47.隣り合う電界プレートが、間隔をあけて絶縁されるように、電界プレート を固定するためのロッド手段 を含んでいる請求項44のサイクロイド質量分析計。 48.イオン空間部を具え、 イオン空間部は、該イオン空間部とフィラメントに気体試料を導入するため の気体入口部を有しており、 イオン空間部は、セラミック材料から作られ、イオナイザー空間部を構成す るブロックを有しており、 イオナイザー手段は、外部の長さが約3/16〜1/2インチよりも短い、イオナ イザー手段。 49.フィラメント手段は、ワイヤフィラメントを有している請求項48のイオ ナイザー手段。 50.イオン空間部は、インジェクタープレートを有している請求項49のイオ ナイザー手段。 51.インジェクタープレートは、放出口を有している請求項50のイオナイザ ー手段。 52.気体入口部は、イオナイザー手段の一方の端部に配置され、フィラメント 手段は、イオナイザー手段の他方の端部に隣接して配置される請求項51のイオ ナイザー手段。 53.フィラメント手段は、イオナイザー空間部の内側に施された導電性コーテ ィングである請求項48のイオナイザー手段。 54.インジェクタープレートの開口部は、イオナイザーの空間部を構成するブ ロックの長さに沿う位置で、気体入口部とフィラメント手段との間に配備される 請 求項52のイオナイザー手段。 55.イオン空間部は、本体部と2つの端部壁を有しており、本体部は略溝形の 形状である請求項51のイオナイザー手段。 56.イオナイザー手段は、インジェクタープレートを有し、該プレートは、端 部壁と本体部と共にイオナイザーチャンバを形成している請求項55のイオナイ ザー手段。 57.イオナイザー手段は、外部の幅が約1/16〜3/16インチ、外部の高さが約3/ 16〜5/16インチである請求項51のイオナイザー手段。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US020,089 | 1993-02-19 | ||
US08/020,089 US5304799A (en) | 1992-07-17 | 1993-02-19 | Cycloidal mass spectrometer and ionizer for use therein |
US08/020,089 | 1993-02-19 | ||
PCT/US1994/001703 WO1994019820A1 (en) | 1993-02-19 | 1994-02-17 | Cycloidal mass spectrometer and ionizer for use therein |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14112399A Division JP3500323B2 (ja) | 1993-02-19 | 1999-05-21 | サイクロイド質量分析計に使用されるイオナイザー |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08510081A true JPH08510081A (ja) | 1996-10-22 |
JP2968338B2 JP2968338B2 (ja) | 1999-10-25 |
Family
ID=21796690
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6519126A Expired - Fee Related JP2968338B2 (ja) | 1993-02-19 | 1994-02-17 | サイクロイド質量分析計 |
JP14112399A Expired - Lifetime JP3500323B2 (ja) | 1993-02-19 | 1999-05-21 | サイクロイド質量分析計に使用されるイオナイザー |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP14112399A Expired - Lifetime JP3500323B2 (ja) | 1993-02-19 | 1999-05-21 | サイクロイド質量分析計に使用されるイオナイザー |
Country Status (13)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5304799A (ja) |
EP (2) | EP0746872B1 (ja) |
JP (2) | JP2968338B2 (ja) |
CN (1) | CN1060287C (ja) |
AT (2) | ATE221697T1 (ja) |
AU (1) | AU692761B2 (ja) |
CA (1) | CA2156072C (ja) |
DE (2) | DE69418063T2 (ja) |
DK (1) | DK0858096T3 (ja) |
ES (1) | ES2181084T3 (ja) |
LV (1) | LV13030B (ja) |
PT (1) | PT858096E (ja) |
WO (1) | WO1994019820A1 (ja) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5536939A (en) * | 1993-09-22 | 1996-07-16 | Northrop Grumman Corporation | Miniaturized mass filter |
US5386115A (en) * | 1993-09-22 | 1995-01-31 | Westinghouse Electric Corporation | Solid state micro-machined mass spectrograph universal gas detection sensor |
JPH09511614A (ja) * | 1994-11-22 | 1997-11-18 | ノースロップ グルマン コーポレーション | ソリッドステート型の質量分析器汎用ガス検出センサ |
US5572025A (en) * | 1995-05-25 | 1996-11-05 | The Johns Hopkins University, School Of Medicine | Method and apparatus for scanning an ion trap mass spectrometer in the resonance ejection mode |
US6037587A (en) * | 1997-10-17 | 2000-03-14 | Hewlett-Packard Company | Chemical ionization source for mass spectrometry |
FR2790596B3 (fr) * | 1999-03-03 | 2001-05-18 | Robert Evrard | Source d'ions selective de tres grande intensite |
US6220821B1 (en) * | 1999-05-20 | 2001-04-24 | Kernco, Incorporated | Ion pump having protective mask components overlying the cathode elements |
US6617576B1 (en) | 2001-03-02 | 2003-09-09 | Monitor Instruments Company, Llc | Cycloidal mass spectrometer with time of flight characteristics and associated method |
FR2831326B1 (fr) * | 2001-10-19 | 2004-10-29 | Robert Evrard | Source selective de grande intensite de faisceaux ioniques focalises et collimates couplage avec des spectrometres de masse a haute resolution |
US6624410B1 (en) | 2002-02-25 | 2003-09-23 | Monitor Instruments Company, Llc | Cycloidal mass spectrometer |
GB2399450A (en) * | 2003-03-10 | 2004-09-15 | Thermo Finnigan Llc | Mass spectrometer |
US6815674B1 (en) * | 2003-06-03 | 2004-11-09 | Monitor Instruments Company, Llc | Mass spectrometer and related ionizer and methods |
WO2006002027A2 (en) * | 2004-06-15 | 2006-01-05 | Griffin Analytical Technologies, Inc. | Portable mass spectrometer configured to perform multidimensional mass analysis |
US8680461B2 (en) | 2005-04-25 | 2014-03-25 | Griffin Analytical Technologies, L.L.C. | Analytical instrumentation, apparatuses, and methods |
US7992424B1 (en) | 2006-09-14 | 2011-08-09 | Griffin Analytical Technologies, L.L.C. | Analytical instrumentation and sample analysis methods |
CN102479664A (zh) * | 2010-11-30 | 2012-05-30 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种平板式离子迁移谱 |
KR102082168B1 (ko) * | 2012-02-08 | 2020-02-27 | 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드 | 압력을 측정하는 이온화 게이지 및 이를 이용한 압력 측정 방법 |
CN109256323B (zh) * | 2018-10-19 | 2020-04-10 | 中国科学院化学研究所 | 用于飞行时间质谱仪的金属镀层氧化铝陶瓷电极片 |
CN109459784B (zh) * | 2018-12-21 | 2023-09-12 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种大动态汤姆逊离子谱仪 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US3073951A (en) * | 1960-07-28 | 1963-01-15 | Combustion Eng | Vacuum lock |
US3590243A (en) * | 1969-06-30 | 1971-06-29 | Avco Corp | Sample insertion vacuum lock and probe assembly for mass spectrometers |
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JPS583592B2 (ja) * | 1978-09-08 | 1983-01-21 | 日本分光工業株式会社 | 質量分析計への試料導入方法及び装置 |
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US5155357A (en) * | 1990-07-23 | 1992-10-13 | Massachusetts Institute Of Technology | Portable mass spectrometer |
-
1993
- 1993-02-19 US US08/020,089 patent/US5304799A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-02-17 DE DE69418063T patent/DE69418063T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 CN CN94191500A patent/CN1060287C/zh not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 AU AU61761/94A patent/AU692761B2/en not_active Expired
- 1994-02-17 ES ES98106485T patent/ES2181084T3/es not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 AT AT98106485T patent/ATE221697T1/de not_active IP Right Cessation
- 1994-02-17 CA CA002156072A patent/CA2156072C/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 JP JP6519126A patent/JP2968338B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1994-02-17 EP EP94908799A patent/EP0746872B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 DE DE69431129T patent/DE69431129T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 WO PCT/US1994/001703 patent/WO1994019820A1/en active IP Right Grant
- 1994-02-17 EP EP98106485A patent/EP0858096B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-02-17 DK DK98106485T patent/DK0858096T3/da active
- 1994-02-17 AT AT94908799T patent/ATE179278T1/de active
- 1994-02-17 PT PT98106485T patent/PT858096E/pt unknown
-
1999
- 1999-05-21 JP JP14112399A patent/JP3500323B2/ja not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-01-02 LV LVP-03-01A patent/LV13030B/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0746872A4 (ja) | 1996-12-18 |
DE69431129T2 (de) | 2002-11-21 |
US5304799A (en) | 1994-04-19 |
CA2156072A1 (en) | 1994-09-01 |
EP0746872B1 (en) | 1999-04-21 |
DE69418063D1 (de) | 1999-05-27 |
CN1060287C (zh) | 2001-01-03 |
ES2181084T3 (es) | 2003-02-16 |
EP0746872A1 (en) | 1996-12-11 |
AU6176194A (en) | 1994-09-14 |
EP0858096B1 (en) | 2002-07-31 |
AU692761B2 (en) | 1998-06-18 |
CN1119477A (zh) | 1996-03-27 |
CA2156072C (en) | 2004-04-06 |
ATE221697T1 (de) | 2002-08-15 |
PT858096E (pt) | 2002-12-31 |
JP3500323B2 (ja) | 2004-02-23 |
JPH11345591A (ja) | 1999-12-14 |
LV13030B (en) | 2003-11-20 |
DE69418063T2 (de) | 1999-08-19 |
DK0858096T3 (da) | 2002-11-25 |
EP0858096A1 (en) | 1998-08-12 |
DE69431129D1 (de) | 2002-09-05 |
JP2968338B2 (ja) | 1999-10-25 |
WO1994019820A1 (en) | 1994-09-01 |
ATE179278T1 (de) | 1999-05-15 |
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