JPH08506415A - 回転式可撓性のフィルタ分光計 - Google Patents

回転式可撓性のフィルタ分光計

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JPH08506415A
JPH08506415A JP6506454A JP50645494A JPH08506415A JP H08506415 A JPH08506415 A JP H08506415A JP 6506454 A JP6506454 A JP 6506454A JP 50645494 A JP50645494 A JP 50645494A JP H08506415 A JPH08506415 A JP H08506415A
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Abstract

(57)【要約】 可撓性の可変フィルタを使用する分光計は、精度又は領域を犠牲にすることなく、コンパクトで且つ可搬型のシステムを提供する。これらの可撓性の可変フィルタは、円筒体の円周内に取り付けられる。円筒体を使用して、可撓性の可変フィルタを取り付けることにより、単純な集束システムが可能となる。該分光計は、フィルタ円筒体を交換するだけで、又は追加のフィルタ円筒体を加えるだけで、各種の領域を走査可能な形態にすることが出来る。

Description

【発明の詳細な説明】 回転式可撓性のフィルタ分光計 発明の背景 本発明は、概ね、分光計に関し、特に回転する円筒体内に取り付けられた可撓 性フィルタを有する分光計に関する。旧式の型式の分光計は、スペクトルの拡散 要素としてプリズム又は格子を使用する。これらの型式は、拡散要素の物理的な 敏感さによる制約を受ける。この敏感さを最小にするため分光計の質量及び寸法 を大きくするが、これは、その設計の軽便さに悪影響がある。もう一つの型式の 分光計である干渉計は、精密な可動部品が必要であること、信号処理上の制約が 厳しいこと、及び波長の測定が非同時的であるため、問題がある。 可変フィルタを使用する型式のものは比較的新しい。可変フィルタには、高屈 折率及び小屈折率の一連の層が被覆されている。これらの被覆層は、フィルタの 円周の長さに沿って直線状に変化する。これらのフィルタは、典型的に、よりコ ンパクトな構造であり、より可搬性である。現在、円形及び直線状という二つの 主なフィルタ形状が使用されている。円形のフィルタの可変縁部フィルタ(即ち 、ディスク状フィルタ)は、最終的なフィルタでは使用されない領域を不必要に 被覆するから、無駄が多い。このことは、材料を不必要に無駄にし、又システム のコストを増す。線形の可変ウエッジ形フィルタは、その被覆領域を使用する点 でより効率的である。更に、これらフィルタ構造の何れかを採用するシステムは 、フィルタの利用可能な範囲、及びフィルタを入射光ビームに関して動かすアク チュエータの精度に限定される。 本発明は、可変フィルタに対し新規な物理的配置を使用することにより、従来 の型式のものの欠点を解決するものである。本発明のユニークな特徴は、円弧状 の形状に撓む矩形の可変フィルタを使用することである。また、円筒体の外周内 に一又は複数のフィルタを取り付けることが出来る。円筒状に取り付けられたフ ィルタは、単純な定焦点光学系を使用することを可能にする。この配置の使用に より、本発明は、小型の形態にて広範囲の走査範囲を維持する一方で、迅速で且 つ精密な走査を実現することが出来る。 発明の概要 該分光計は、開孔と、対象とするスペクトル領域を選択し且つ反射させるビー ム分割ダイクロイック(dichroico)と、回転するフィルタ円筒体上に開孔の像 を形成するビーム整形光学系と、可変のフィルタ円筒体と、ろ過した光の存在を 検出する検出器とを備えている。 ビームスプリッタは、ゲルマニウム、シリコン、サファイア又は溶融石英のよ うな材料から成るダイクロイックビームスプリッタとすることが出来る。これと 代替的に、ビームスプリッタは、入射した光線ビームの一部を反射する半銀張り の第一の面ミラーで形成することも可能である。 フィルタ円筒体は、一つの円筒体の外周内に取り付けられた一又は複数の可撓 性の可変フィルタで形成される。この取り付けは、面状フィルタを曲げて円弧状 の形状にし、次に、そのフィルタを円筒形フレームの湾曲スロット内に取り付け ることで行われる。円弧状に曲げたフィルタは、その円筒体の円弧状の形状に適 合するように湾曲させたフレームによって所定位置に保持される。円筒形のフィ ルタフレームの各々は、さねはぎ(tongue and groove)構造を有し、このため 、多数の円筒体を積層し、互いに接続することが出来る。 可撓性の可変フィルタは、可撓性の基層に被覆した、高屈折率(H)層と低屈 折率(L)層とから成っている。これらH、L材料の個々の層は、例えば、屈折 率H=2.2、L=1.37とした場合、(H、L)9L、L(H、L)9の関係の一定 の順序で一方がその他方に重なり合う。可撓性の基層は厚さ0.05/mm(0.002イ ンチ)以下であり、ゲルマニウム、シリコン又はサファイアのような材料から成 っている。当業者に理解されるように、これらのH層及びL層は、その他の付着 方法の使用も可能であるが、ペリコリ(Pellicori)その他に付与された米国特 許第4,967,371号によって教示された付着方法を使用して可撓性の基層上に付着 される。 回転するフレームは、角度位置エンコーダ上に取り付けられた一又は複数の可 変フィルタ円筒体から成っている。作動中、これらの円筒体は回転し、可撓性フ ィルタの異なる領域が集束光学系とスペクトル検出器との間を通ることを許容し 、 また、ある異なる波長の範囲を検出器で走査することを許容する。異なるフィル タ円筒体を積層形態にて使用することにより、検出器でより広範囲の各種の波長 範囲を走査することが可能となる。 また、ビームスプリッタ、集束光学系及び検出器の多数の組みを多数の円筒体 と組み合わせて取り付ければ、各円筒体に対して多数の波長領域を同時に走査す ることが可能となる。また、この構造は、分光計の走査時間を短縮する。 本発明の分光計のユニークな特徴は、一回の走査で且つ短時間にて、紫外線( 0.2μm)から遠赤外線(50μm)までの全スペクトルを走査できることである 。例えば、フィルタ円筒体を1秒間に20回転させた場合、各円筒体に対して単一 の検出器を使用して一秒間に20回の走査を行うことが可能となる。 好適な実施例の説明図面 図1は、三つのフィルタ円筒体が取り付けられた、本発明の可撓性のフィルタ 分光計の斜視図、 図2は、フィルタ円筒体の斜視図、 図3は、一つのビームスプリッタを備えるフィルタ円筒体の平面図、 図4は、二つのビームスプリッタを備えるフィルタ円筒体の平面図である。 図1の好適な実施例において、入射する放射線ビーム21は、ダイクロイック ビームスプリッタ41に当たる。この放射線ビーム21の一部は反射されて、放 射線ビーム22を形成し、放射線ビーム21の残りはビームスプリッタ41を通 過して、放射線ビーム23を形成する。放射線ビーム22はビーム整形光学要素 11を通過し、ビームを可変フィルタ31上に集束させる。該可変フィルタ31 は、所望の波長の放射線を検出器7まで選択的に通過させ得る構造にしてある。 放射線が検出器7に当たると、その放射線ビーム22の波長及び強さを示す信号 が発生される。円筒体が回転すると、ビーム整形光学要素11と検出器7との間 に介在させた各フィルタの異なる位置にて異なる波長がろ過され且つ検出される 。 ダイクロイックビームスプリッタ41を通過した放射線ビーム23は、ダイク ロイックビームスプリッタ42まで進む。この放射線ビーム23の一部は反射さ れて、放射線ビーム24を形成し、放射線ビーム23の残りはビームスプリッタ 42を通過し、放射線ビーム25を形成する。放射線ビーム24は、ビーム整形 光学要素12を通過し、所望の波長の放射線を検出器8まで選択的に通過させ得 るようにした、可変フィルタ32上に放射線を集束させる。放射線が検出器8に 当たると、放射線ビーム24の波長及び強さを示す信号が発生される。円筒体が 回転すると、ビーム整形光学要素12と検出器8との間の異なる位置にフィルタ が介在されており、このため、異なる波長のろ過及び検出が行われる。 残りの放射線ビーム25の残りは、ダイクロイックビームスプリッタ43に進 む。図示するように、放射線ビーム25の一部は、ビーム整形光学要素13に反 射され、フィルタ33を通過して、検出器9に達する。該検出器は、放射線がフ ィルタ33を通過するとき、信号を発生させる。この場合にも、この信号は、フ ィルタ33に対応する波長が存在することを示す。 理解され得るように、検出器7、8、9は、フィルタ31、32、33をそれ ぞれ通過する放射線ビームを同時に測定する。これらのフィルタは、円筒体内に 取り付けられており、そのフィルタ31、32、33の各々は、独立的な円筒体 4、5、6内に位置している。各円筒体は、該円筒体の外周に取り付けられた少 なくとも一つの可変フィルタから成っている。追加の可撓性の可変フィルタを設 けて、その円筒体の領域、又は分解能を増すことも可能である。これらの円筒体 4、5、6は、ビームスプリッタ41、42、43、ビーム整形光学要素11、 12、13及び検出器7、8、9に関して回転する基部に取り付けられる。円筒 体が回転すると、フィルタの異なる部分がビーム整形光学要素11、12、13 とそのそれぞれの検出器7、8、9との間に配置される。この構成は、三組みの 波長を同時に検出することを可能にする。 各円筒体は、異なる領域の波長をろ過することが出来る。例えば、好適な実施 例において、円筒体4は広帯域の検出器、また、円筒体5は極広帯域の検出器、 円筒体6は狭帯域の検出器である。当業者は、適当な円筒体の組み合わせを選択 して、0.2μm乃至50μmの連続的なスペクトルを発生させることが出来る。 円筒体4、5、6は、50マイクロ秒で一回転し、このため、全てのフィルタの 20回の走査を一秒で行うことが出来る。円筒体が回転する間に、角度位置エンコ ーダ10は、円筒体の角度位置の信号を発生する。この位置情報を利用して、フ ィルタ円筒体の何れの部分が現在作動中であるかを表示する。この角度位置エン コーダの精度は、0.1%以内である。 フィルタ円筒体の使用により、分光計は、現在、利用可能な従来の分光計より も小型とし、又、必要なスペースを少なくすることが可能となる。また、分光計 が小型の寸法となる結果、その機械的な安定性が増し、可搬型の分光計とするこ とが可能となる。 本発明は、各種の形態のモジュラーとすることを目的とする。ビームスプリッ タ、ビーム集束光学要素、フィルタ円筒体及び検出器を一つのユニットして構成 する場合、その最も簡単な形態は一つのユニットを含むものである一方、必要に 応じて追加のユニットを設けて、分光計の性能を増すことも可能である。これら の追加のユニットは、本発明の領域、又は分解能を増すことが出来る。 例えば、分光計は、0.4μm乃至0.7μmの波長をカバーするフィルタを備える 、単一のユニットで構成することが出来る。これと代替的に、分光計は三つのユ ニットで構成し、その第一の円筒体が0.2μm乃至xの範囲、第二のユニットが x乃至yの範囲、又、第三のユニットがy乃至50μmの範囲をカバーするように してもよい。当業者が理解し得るように、各種の形態が可能である。更に、各ユ ニットが単一の領域の一部分のみをカバーするようにしてもよい。 別の実施例において、一つのユニットは円筒形フィルタの外周内に取り付けた 多数のビームスプリッタを含めることが出来る。より多くの集束光学要素及び検 出器を追加することにより、走査時間をより短縮することが可能となる。又、こ の実施例は、同時に検出可能な波長の数を増すものである。
【手続補正書】特許法第184条の8 【提出日】1994年8月5日 【補正内容】 発明の概要 該分光計は、開孔と、対象とするスペクトル領域を選択し且つ反射させるビー ム分割ダイクロイック(dichrolco)と、回転するフィルタ円筒体上に開孔の像 を形成するビーム整形光学系と、可変のフィルタ円筒体と、ろ過した光の存在を 検出する検出器とを備えている。 ビームスプリッタは、ゲルマニウム、シリコン、サファイア又は溶融石英のよ うな材料から成るダイクロイックビームスプリッタとすることが出来る。これと 代替的に、ビームスプリッタは、入射した光線ビームの一部を反射する半銀張り の第一の面ミラーで形成することも可能である。 フィルタ円筒体は、一つの円筒体の外周内に取り付けられた一又は複数の可撓 性の可変フィルタで形成される。この取り付けは、面状フィルタを曲げて円弧状 の形状にし、次に、そのフィルタを円筒形フレームの湾曲スロット内に取り付け ることで行われる。円弧状に曲げたフィルタは、その円筒体の円弧状の形状に適 合するように湾曲させたフレームによって所定位置に保持される。円筒形のフィ ルタフレームの各々は、さねはぎ(tongue and groove)構造を有し、このため 、多数の円筒体を積層し、互いに接続することが出来る。 可撓性の可変フィルタは、可撓性の基層に被覆した、高屈折率(H)層と低屈 折率(L)層とから成っている。これらH、L材料の個々の層は、例えば、屈折 率H=2.2、L=1.37とした場合、(H、L)9L、L(H、L)9の関係の一定 の順序で一方がその他方に重なり合う。可撓性の基層は厚さ0.05/mm(0.002イ ンチ)以下であり、ゲルマニウム、シリコン又はサファイアのような材料から成 っている。当業者に理解されるように、これらのH層及びL層は、その他の付着 方法の使用も可能であるが、ペリコリ(Pellicori)その他に付与された米国特 許第4,957,371号によって教示された付着方法を使用して可撓性の基層上に付着 される。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.入射ビームのろ過装置にして、 軸線の周りに配置された円筒体の表面に設けられた少なくとも一つのフィルタ と、 該フィルタ円筒体の軸線に対して平行な方向から入射ビームを受け取る手段と 、 前記入射ビームの一部を前記フィルタに向けて方向変更する手段と、を備える 入射ビームのろ過装置。 2.請求の範囲第1項に記載の装置にして、入射ビームの方向を変更する前記 手段がダイクロイックビームスプリッタである装置。 3.請求の範囲第1項に記載の装置にして、入射ビームの方向を変更する前記 手段が一部反射性の第一の面ミラーである装置。 4.請求の範囲第1項、第2項又は第3項に記載の装置にして、前記フィルタ 円筒体を回転させる手段を更に備える装置。 5.請求の範囲第1項、第2項又は第3項に記載の装置にして、 前記方向変更された部分を前記フィルタに集束させる手段と、 前記方向変更された部分が前記フィルタを通過することを検出する手段と、を 更に備える装置。 6.請求の範囲第1項、第2項又は第3項に記載の装置にして、 前記フィルタ円筒体を回転させる手段と、 前記方向変更された部分を前記フィルタの上に集束させる手段と、 前記方向変更された部分が前記フィルタを通過することを検出する手段と、を 更に備える装置。
JP6506454A 1992-08-14 1993-08-13 回転式可撓性のフィルタ分光計 Pending JPH08506415A (ja)

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US93102992A 1992-08-14 1992-08-14
US07/931,029 1992-08-14
PCT/US1993/007677 WO1994004893A1 (en) 1992-08-14 1993-08-13 Rotating flexible filter spectrometer

Publications (1)

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JPH08506415A true JPH08506415A (ja) 1996-07-09

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JP (1) JPH08506415A (ja)
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DE (1) DE69318561D1 (ja)
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