JPH0836003A - 抵抗値測定方法 - Google Patents
抵抗値測定方法Info
- Publication number
- JPH0836003A JPH0836003A JP7021646A JP2164695A JPH0836003A JP H0836003 A JPH0836003 A JP H0836003A JP 7021646 A JP7021646 A JP 7021646A JP 2164695 A JP2164695 A JP 2164695A JP H0836003 A JPH0836003 A JP H0836003A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current
- resistance
- change
- control switch
- value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/20—Measuring earth resistance; Measuring contact resistance, e.g. of earth connections, e.g. plates
- G01R27/205—Measuring contact resistance of connections, e.g. of earth connections
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/40—Testing power supplies
- G01R31/42—AC power supplies
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 固定及び可動の両接点にて、コントロールス
イッチにおける伝達抵抗に関して、短時間でかつ高精度
の情報を得ることができる測定方法を提供する。 【構成】 電気装置の端子へ電圧の段階状の変化を印加
し、上記変化前及び最小の時定数に関する現象で上記変
化を適用することに起因する過渡的な現象が減少した後
に上記端子を流れる電流を測定し、該電流測定値から第
１抵抗値を計算する。
イッチにおける伝達抵抗に関して、短時間でかつ高精度
の情報を得ることができる測定方法を提供する。 【構成】 電気装置の端子へ電圧の段階状の変化を印加
し、上記変化前及び最小の時定数に関する現象で上記変
化を適用することに起因する過渡的な現象が減少した後
に上記端子を流れる電流を測定し、該電流測定値から第
１抵抗値を計算する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電気装置に含まれる回
路網における抵抗値を測定するための測定方法に関す
る。上記回路網は、少なくとも２つのアクセス可能な端
子を有し、又、上記回路網は少なくとも大きさが一桁
（one order of magnitude）相互に異なる少なくとも２
つの時定数を有し、上記抵抗値は端子クリップに印加さ
れる電圧及び上記装置を流れる電流に関する。
路網における抵抗値を測定するための測定方法に関す
る。上記回路網は、少なくとも２つのアクセス可能な端
子を有し、又、上記回路網は少なくとも大きさが一桁
（one order of magnitude）相互に異なる少なくとも２
つの時定数を有し、上記抵抗値は端子クリップに印加さ
れる電圧及び上記装置を流れる電流に関する。
【０００２】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】上述の
測定方法は、例えば、変圧器のコントロールスイッチの
接点抵抗を測定することに適用可能である。変圧器が老
朽化すると、上記コントロールスイッチの接点は、接点
抵抗が増加し、さらにその接点抵抗はコントロールスイ
ッチの位置に依存する。この接点抵抗の増加は、上記ス
イッチに存在する油が変質する間に上記接点上に炭素が
付着することによって引き起こされる。接点抵抗が増加
すると、接点は金属接点の破壊となるやもしれない焼け
焦げてしまう。電気アークの発生は、接点を焼き焦がし
機能不全を起こす。そのようなコントロールスイッチ
は、一般的に変圧器の外箱に配列されており、上記コン
トロールスイッチにアクセスするために、変圧器の外箱
及び上記外箱から隔てられた上記コントロールスイッチ
から油が流れ出なければならない。このような操作は費
用が高価となり、上記コントロールスイッチを修理した
り上記コントロールスイッチにおける他の操作を実行す
るのに本当に必要なときのみに実行されねばならない。
上記コントロールスイッチに物理的なアクセスをするこ
となくコントロールスイッチの接点抵抗を測定するため
の方法が必要である。別の方法では、電気装置に含まれ
る回路網における抵抗値を測定するための方法が必要で
ある。それは、もちろんコントロールスイッチのＤＣ抵
抗を測定することが可能であり、それに直列に接続さ
れ、トムソンブリッジを使用し又は４点測定の使用によ
る巻線のオーム抵抗値を測定することが可能である。上
記巻線が抵抗値が測定された抵抗に直列に接続されるこ
とは、上記巻線の自己誘導の結果として、電流が定常状
態になる前に長い待時間が必要であることになる。典型
的なグリッド（grid）変圧器において、それらの待時間
は約１０分から１００分までの範囲（in the order of
magnitude of about ten minutes）になる。変圧器のす
べての位置及び３相のすべてにおけるコントロールスイ
ッチの接点抵抗の測定は、特に長い時間を費やす。上述
の公知の測定方法は、特別な位置におけるコントロール
スイッチの定常の抵抗を測定するためにのみ適してい
る。しかしながら、スイッチングの間に、上記スイッチ
の抵抗に関する情報がしばしば必要である。この目的の
ために付加的な測定が必要である。スイッチングの間の
抵抗の変化を測定する公知の方法は、オシロスコープを
使用する。ある相の高電圧巻線は直流電圧源（direct v
oltage source）に接続され、関連する低電圧巻線は上
記オシロスコープに接続される。ここでは、コントロー
ルスイッチは上記高電圧巻線に配置される状態と想像さ
れる。スイッチングの間、一次（高電圧）側における抵
抗の変化は、オシロスコープにて可視である二次側にお
ける抵抗の変化に結果的になる。コントロールスイッチ
における幾つかの接点抵抗値は、得られるオシログラム
から計算によって得ることができる。しかしながら、こ
のことは常に直接的な結果に関係する。即ち、この測定
は、定常の接点抵抗に関する一定の答えを提供するもの
ではない。スイッチングの間における抵抗の変化につい
て幾つかの決定を引き出す別の方法は、変圧器の変圧比
を決定するためブリッジの測定を使用する。コントロー
ルスイッチのスイッチングの間、ヌル（null）インジケ
ータのニードル(needle)の移動（movement）として可視
である、ブリッジ測定のバランスの損失は、接点抵抗に
おける変化を示す。上記ヌルインジケータのふれの大き
さは、接点抵抗に関する質的な示度を与えるが、自動的
に接点抵抗に関する質的な値にはならない。本発明の目
的は、固定及び可動の両接点にて、コントロールスイッ
チにおける伝達抵抗（transfer resistances）に関し
て、短時間でかつ高精度の情報を得ることができる測定
方法を提供する。この目的は、電気装置へ電源によって
印加される電圧の変化、又は、電気装置に直列に接続さ
れる既知の抵抗の変化を課し、上記変化が起こる前、及
び最小の時定数に関連し上記変化を適応することに起因
する過渡的な現象が減少した後、端子クリップを介して
流れる電流値を測定し、上記測定された電流値から第１
抵抗値を算出することによって達成される。本出願の最
も重要な分野は、変圧器のコントロールスイッチによっ
て供給される。即ち、アクセスするのが困難な構成部分
を同様に有し、電気装置の抵抗値又はインピーダンスを
決定するのが望ましい他の電気装置に適用される発明が
等しく考えられる。
測定方法は、例えば、変圧器のコントロールスイッチの
接点抵抗を測定することに適用可能である。変圧器が老
朽化すると、上記コントロールスイッチの接点は、接点
抵抗が増加し、さらにその接点抵抗はコントロールスイ
ッチの位置に依存する。この接点抵抗の増加は、上記ス
イッチに存在する油が変質する間に上記接点上に炭素が
付着することによって引き起こされる。接点抵抗が増加
すると、接点は金属接点の破壊となるやもしれない焼け
焦げてしまう。電気アークの発生は、接点を焼き焦がし
機能不全を起こす。そのようなコントロールスイッチ
は、一般的に変圧器の外箱に配列されており、上記コン
トロールスイッチにアクセスするために、変圧器の外箱
及び上記外箱から隔てられた上記コントロールスイッチ
から油が流れ出なければならない。このような操作は費
用が高価となり、上記コントロールスイッチを修理した
り上記コントロールスイッチにおける他の操作を実行す
るのに本当に必要なときのみに実行されねばならない。
上記コントロールスイッチに物理的なアクセスをするこ
となくコントロールスイッチの接点抵抗を測定するため
の方法が必要である。別の方法では、電気装置に含まれ
る回路網における抵抗値を測定するための方法が必要で
ある。それは、もちろんコントロールスイッチのＤＣ抵
抗を測定することが可能であり、それに直列に接続さ
れ、トムソンブリッジを使用し又は４点測定の使用によ
る巻線のオーム抵抗値を測定することが可能である。上
記巻線が抵抗値が測定された抵抗に直列に接続されるこ
とは、上記巻線の自己誘導の結果として、電流が定常状
態になる前に長い待時間が必要であることになる。典型
的なグリッド（grid）変圧器において、それらの待時間
は約１０分から１００分までの範囲（in the order of
magnitude of about ten minutes）になる。変圧器のす
べての位置及び３相のすべてにおけるコントロールスイ
ッチの接点抵抗の測定は、特に長い時間を費やす。上述
の公知の測定方法は、特別な位置におけるコントロール
スイッチの定常の抵抗を測定するためにのみ適してい
る。しかしながら、スイッチングの間に、上記スイッチ
の抵抗に関する情報がしばしば必要である。この目的の
ために付加的な測定が必要である。スイッチングの間の
抵抗の変化を測定する公知の方法は、オシロスコープを
使用する。ある相の高電圧巻線は直流電圧源（direct v
oltage source）に接続され、関連する低電圧巻線は上
記オシロスコープに接続される。ここでは、コントロー
ルスイッチは上記高電圧巻線に配置される状態と想像さ
れる。スイッチングの間、一次（高電圧）側における抵
抗の変化は、オシロスコープにて可視である二次側にお
ける抵抗の変化に結果的になる。コントロールスイッチ
における幾つかの接点抵抗値は、得られるオシログラム
から計算によって得ることができる。しかしながら、こ
のことは常に直接的な結果に関係する。即ち、この測定
は、定常の接点抵抗に関する一定の答えを提供するもの
ではない。スイッチングの間における抵抗の変化につい
て幾つかの決定を引き出す別の方法は、変圧器の変圧比
を決定するためブリッジの測定を使用する。コントロー
ルスイッチのスイッチングの間、ヌル（null）インジケ
ータのニードル(needle)の移動（movement）として可視
である、ブリッジ測定のバランスの損失は、接点抵抗に
おける変化を示す。上記ヌルインジケータのふれの大き
さは、接点抵抗に関する質的な示度を与えるが、自動的
に接点抵抗に関する質的な値にはならない。本発明の目
的は、固定及び可動の両接点にて、コントロールスイッ
チにおける伝達抵抗（transfer resistances）に関し
て、短時間でかつ高精度の情報を得ることができる測定
方法を提供する。この目的は、電気装置へ電源によって
印加される電圧の変化、又は、電気装置に直列に接続さ
れる既知の抵抗の変化を課し、上記変化が起こる前、及
び最小の時定数に関連し上記変化を適応することに起因
する過渡的な現象が減少した後、端子クリップを介して
流れる電流値を測定し、上記測定された電流値から第１
抵抗値を算出することによって達成される。本出願の最
も重要な分野は、変圧器のコントロールスイッチによっ
て供給される。即ち、アクセスするのが困難な構成部分
を同様に有し、電気装置の抵抗値又はインピーダンスを
決定するのが望ましい他の電気装置に適用される発明が
等しく考えられる。
【０００３】
【課題を解決するための手段】本発明は、電気装置に含
まれる回路網における第１抵抗値を測定するための測定
方法であり、上記回路網は少なくとも２つのアクセス可
能な端子と、少なくとも一桁互いに異なる２つの時定数
とを有し、上記第１抵抗値は端子クリップを介して流れ
る電流に関するものであり、段階状の電圧の変化を上記
端子クリップへ印加し、上記電圧変化が起こる前、及び
最小の時定数に関係し上記変化を起こさせることに起因
する過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリップを
介して流れる電流を測定し、上記電流の測定値から上記
第１抵抗値を計算する、ことを特徴とする。
まれる回路網における第１抵抗値を測定するための測定
方法であり、上記回路網は少なくとも２つのアクセス可
能な端子と、少なくとも一桁互いに異なる２つの時定数
とを有し、上記第１抵抗値は端子クリップを介して流れ
る電流に関するものであり、段階状の電圧の変化を上記
端子クリップへ印加し、上記電圧変化が起こる前、及び
最小の時定数に関係し上記変化を起こさせることに起因
する過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリップを
介して流れる電流を測定し、上記電流の測定値から上記
第１抵抗値を計算する、ことを特徴とする。
【０００４】又、本発明は、電気装置に含まれる回路網
における第１抵抗値を測定するための測定方法であり、
上記回路網は少なくとも２つのアクセス可能な端子と、
少なくとも一桁互いに異なる２つの時定数とを有し、上
記第１抵抗値は端子クリップに印加される電圧及び上記
端子クリップを介して流れる電流に関するものであり、
上記電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段
階状の変化を作用させ、上記変化が起こる前、及び最小
の時定数に関係し上記変化を起こさせることに起因する
過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリップを介し
て流れる電流値を測定し、上記電流の測定値から上記第
１抵抗値を計算する、ことを特徴とする。
における第１抵抗値を測定するための測定方法であり、
上記回路網は少なくとも２つのアクセス可能な端子と、
少なくとも一桁互いに異なる２つの時定数とを有し、上
記第１抵抗値は端子クリップに印加される電圧及び上記
端子クリップを介して流れる電流に関するものであり、
上記電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段
階状の変化を作用させ、上記変化が起こる前、及び最小
の時定数に関係し上記変化を起こさせることに起因する
過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリップを介し
て流れる電流値を測定し、上記電流の測定値から上記第
１抵抗値を計算する、ことを特徴とする。
【０００５】又、本発明は、上記回路網に含まれ変化す
る第２抵抗値を測定するための測定方法において、上記
電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段階状
の変化を作用させ、上記既知の抵抗の変化が起こる前、
及び最小の時定数に関係し上記変化を起こさせることに
起因する過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリッ
プを介して流れる電流値を測定し、上記第２抵抗の変化
が起こる前、及び最小の時定数に関係し上記変化を起こ
させることに起因する過渡的な現象が減少した後に、上
記端子クリップを介して流れる電流値を測定し、上記電
流の測定値から上記第２抵抗値を計算することもでき
る。
る第２抵抗値を測定するための測定方法において、上記
電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段階状
の変化を作用させ、上記既知の抵抗の変化が起こる前、
及び最小の時定数に関係し上記変化を起こさせることに
起因する過渡的な現象が減少した後に、上記端子クリッ
プを介して流れる電流値を測定し、上記第２抵抗の変化
が起こる前、及び最小の時定数に関係し上記変化を起こ
させることに起因する過渡的な現象が減少した後に、上
記端子クリップを介して流れる電流値を測定し、上記電
流の測定値から上記第２抵抗値を計算することもでき
る。
【０００６】又、本発明において、上記測定方法が実行
された後、上記回路網の構造内で変化が起こり、そして
上記測定方法が連続的に繰り返されるようにしてもよ
い。
された後、上記回路網の構造内で変化が起こり、そして
上記測定方法が連続的に繰り返されるようにしてもよ
い。
【０００７】又、本発明において、上記電気装置は変圧
器にて構成することもできる。
器にて構成することもできる。
【０００８】又、本発明において、上記変圧器はコント
ロールスイッチを備え、上記測定は上記コントロールス
イッチの接点の伝達抵抗を決定する目的を有することも
できる。
ロールスイッチを備え、上記測定は上記コントロールス
イッチの接点の伝達抵抗を決定する目的を有することも
できる。
【０００９】又、本発明において、各測定後、上記変圧
器の上記コントロールスイッチが一つの箇所に転置され
るようにしてもよい。
器の上記コントロールスイッチが一つの箇所に転置され
るようにしてもよい。
【００１０】又、本発明において、上記第２抵抗値は、
上記電気装置がコントロールスイッチを備える変圧器に
て構成されるとき、上記コントロールスイッチの位置の
変化の間の上記コントロールスイッチの接点抵抗の変化
の結果であることもできる。
上記電気装置がコントロールスイッチを備える変圧器に
て構成されるとき、上記コントロールスイッチの位置の
変化の間の上記コントロールスイッチの接点抵抗の変化
の結果であることもできる。
【００１１】又、本発明において、上記アクセス可能な
端子は、高電圧端子にて構成され、低電圧端子は短絡し
ていることもできる。
端子は、高電圧端子にて構成され、低電圧端子は短絡し
ていることもできる。
【００１２】又、本発明において、上記変圧器は多相変
圧器であり、上記測定は残りの相が接続されない間、相
ごとに実行することもできる。
圧器であり、上記測定は残りの相が接続されない間、相
ごとに実行することもできる。
【００１３】又、本発明において、電源は直流電圧源で
あることもできる。
あることもできる。
【００１４】
【実施例】本発明の一実施例である測定方法は、添付し
た図を参照することで明りょうになる。図１に示すもの
は、蓋３にて上側が閉じられた外箱２によって構成され
る変圧器１であり、変圧器１の内部には鉄製のサーキッ
ト（iron circuit）４が配置され、鉄製のサーキット４
に高電圧及び低電圧の巻線５，６，７の組み合わせが各
相毎に配置されている。さらに上記外箱内には、コント
ロールスイッチ８が設けられ、分離コントロールスイッ
チが３相の各々に存在し上記分離コントロールスイッチ
は平行に移動する。上記コントロールスイッチの構造
は、本発明に重要なものではないのでこれ以上の説明は
省略する。
た図を参照することで明りょうになる。図１に示すもの
は、蓋３にて上側が閉じられた外箱２によって構成され
る変圧器１であり、変圧器１の内部には鉄製のサーキッ
ト（iron circuit）４が配置され、鉄製のサーキット４
に高電圧及び低電圧の巻線５，６，７の組み合わせが各
相毎に配置されている。さらに上記外箱内には、コント
ロールスイッチ８が設けられ、分離コントロールスイッ
チが３相の各々に存在し上記分離コントロールスイッチ
は平行に移動する。上記コントロールスイッチの構造
は、本発明に重要なものではないのでこれ以上の説明は
省略する。
【００１５】図１からわかるように、コントロールスイ
ッチ８は外箱２内に配置され、該外箱は、油９を排出す
る（draining）ことによってコントロールスイッチ８に
唯一アクセス可能なように絶縁油９が充填されている。
本発明の方法に従って、変圧器内で支配的であり変圧器
内に含まれる電気抵抗及び誘導によって決定される異な
った時定数が使用される。上記時定数の値は、公知にす
る必要はない。上記方法を説明するため、変圧器に関し
て図２に示されるような、いわゆる等価Ｔ回路と呼ばれ
る等価回路図を用いる。
ッチ８は外箱２内に配置され、該外箱は、油９を排出す
る（draining）ことによってコントロールスイッチ８に
唯一アクセス可能なように絶縁油９が充填されている。
本発明の方法に従って、変圧器内で支配的であり変圧器
内に含まれる電気抵抗及び誘導によって決定される異な
った時定数が使用される。上記時定数の値は、公知にす
る必要はない。上記方法を説明するため、変圧器に関し
て図２に示されるような、いわゆる等価Ｔ回路と呼ばれ
る等価回路図を用いる。
【００１６】図２において、Ｎは、上記変圧器の変圧比
であり、上記変圧器の結合係数はＫによって表される。
二次側の成分は、一次側における成分に変化される。成
分（１−Ｋ）Ｌ1は、一次漏れ自己誘導を示し、ＫＬ1は
一次側の漏れ自己誘導によって減じられる全自己誘導を
示し、Ｒｔｏｔは上記コントロールスイッチの接点抵抗
によって増加する一次側巻線のオーム抵抗を示し、（１
−Ｋ）Ｎ2Ｌ2は一次側に減じられた二次側の漏れ自己誘
導を示し、Ｎ2Ｒ2は一次側に減じられた二次側の抵抗を
示す。上述の規定された回路は２つの時定数を有する。
即ち、
であり、上記変圧器の結合係数はＫによって表される。
二次側の成分は、一次側における成分に変化される。成
分（１−Ｋ）Ｌ1は、一次漏れ自己誘導を示し、ＫＬ1は
一次側の漏れ自己誘導によって減じられる全自己誘導を
示し、Ｒｔｏｔは上記コントロールスイッチの接点抵抗
によって増加する一次側巻線のオーム抵抗を示し、（１
−Ｋ）Ｎ2Ｌ2は一次側に減じられた二次側の漏れ自己誘
導を示し、Ｎ2Ｒ2は一次側に減じられた二次側の抵抗を
示す。上述の規定された回路は２つの時定数を有する。
即ち、
【００１７】
【数１】
【００１８】
【数２】
【００１９】もし上記変圧器が二次側で短絡したなら
ば、Ｒ2値は小さくなり、グリッド変圧器の結合係数が
実際に１に等しくなったとき、τ1＜＜τ2がこの状態に
当てはまる。上述の回路は、少なくとも一桁互いに異な
る２つの時定数を有する。この大きな値の差異のため、
最小の時定数による応答(response)が減少（damp）した
とき、段階状の変化（step-like change）への応答にお
いて明確に認識することが可能となる。
ば、Ｒ2値は小さくなり、グリッド変圧器の結合係数が
実際に１に等しくなったとき、τ1＜＜τ2がこの状態に
当てはまる。上述の回路は、少なくとも一桁互いに異な
る２つの時定数を有する。この大きな値の差異のため、
最小の時定数による応答(response)が減少（damp）した
とき、段階状の変化（step-like change）への応答にお
いて明確に認識することが可能となる。
【００２０】上記最小の時定数による応答が減少した
後、上記変圧器に関する等価回路は、かなり簡易化され
る。その等価回路図は図３に示される。図３から、もし
Ｖ0が階段関数であれば、ｔ＝０にて以下の式が当ては
まる。
後、上記変圧器に関する等価回路は、かなり簡易化され
る。その等価回路図は図３に示される。図３から、もし
Ｖ0が階段関数であれば、ｔ＝０にて以下の式が当ては
まる。
【００２１】
【数３】
【００２２】
【数４】
【００２３】
【数５】
【００２４】ｔ→∞にて以下の式が当てはまる。
【数６】
【００２５】
【数７】
【００２６】
【数８】
【００２７】上記の式より以下の式となる。
【数９】
【００２８】式（３）より、Ｒ2が計算される
【数１０】
【００２９】Ｒｔｏｔ及びＲ2は、すべての段階応答か
ら決定される。Ｒ2がわかると、Ｒｔｏｔが他のポジシ
ョン又は式（５）によるＶ0の他の値から決定可能であ
り、電流が一定になるまで待つ必要はなくなる。別の可
能な過渡現象（transient）は、ｔ＝０にて一次側にお
ける抵抗の付加である。この状態に関する等価回路図
は、図４に示される。この図４からｔ＝０にて以下の式
が当てはまる。
ら決定される。Ｒ2がわかると、Ｒｔｏｔが他のポジシ
ョン又は式（５）によるＶ0の他の値から決定可能であ
り、電流が一定になるまで待つ必要はなくなる。別の可
能な過渡現象（transient）は、ｔ＝０にて一次側にお
ける抵抗の付加である。この状態に関する等価回路図
は、図４に示される。この図４からｔ＝０にて以下の式
が当てはまる。
【００３０】
【数１１】
【００３１】
【数１２】
【００３２】上記の式より以下の式となる。
【数１３】
【００３３】ｔ＝０にて、
【数１４】
【００３４】ここで、Ｉ0及びＩ1は、抵抗が変化する直
前のＩ0（ｔ）、Ｉ1（ｔ）のそれぞれの値であり、ｄｉ
は、急速な応答が起こった後の電流の変化である。式
（１１）を式（１４）へ変換するものは以下の式であ
る。
前のＩ0（ｔ）、Ｉ1（ｔ）のそれぞれの値であり、ｄｉ
は、急速な応答が起こった後の電流の変化である。式
（１１）を式（１４）へ変換するものは以下の式であ
る。
【００３５】
【数１５】
【００３６】もし、ｄＲ及びＲ2が既知であれば、Ｒｔ
ｏｔが以下の式で決定される。
ｏｔが以下の式で決定される。
【数１６】
【００３７】もし、Ｒｔｏｔ及びＲ2が既知であれば、
ｄＲが以下の式で決定される。
ｄＲが以下の式で決定される。
【数１７】
【００３８】もし、ｔ＝０（Ｉ0（ｔ）＝ＩL（ｔ）＝Ｉ
0，Ｉ1（ｔ）＝０）にて電流が定常であれば、既知のｄ
Ｒにより、以下の式からＲ2が計算される。
0，Ｉ1（ｔ）＝０）にて電流が定常であれば、既知のｄ
Ｒにより、以下の式からＲ2が計算される。
【数１８】
【００３９】もし、抵抗ｄＲ2における変化がスイッチ
の接点の移動の結果として起こる前に、スイッチングが
既知の抵抗ｄＲ1にて起こるならば、以下の式が当ては
まる。
の接点の移動の結果として起こる前に、スイッチングが
既知の抵抗ｄＲ1にて起こるならば、以下の式が当ては
まる。
【数１９】
【００４０】
【数２０】
【００４１】ここで、Ｉ01及びＩ02は，それぞれｄＲ1
及びｄＲ2におけるスイッチング直前の電流であり、一
方、ｄｉ1及びｄｉ2は、それぞれｄＲ1及びｄＲ2におけ
るスイッチングに従う急速な応答後の電流の変化であ
る。式（１９）と式（２０）とを組み合わせることで以
下の式が得られる。
及びｄＲ2におけるスイッチング直前の電流であり、一
方、ｄｉ1及びｄｉ2は、それぞれｄＲ1及びｄＲ2におけ
るスイッチングに従う急速な応答後の電流の変化であ
る。式（１９）と式（２０）とを組み合わせることで以
下の式が得られる。
【００４２】
【数２１】
【００４３】２つのタイプの測定が上述した理論から引
き出される。第１のタイプは、階段関数に印加される電
圧の応答であり、第２のタイプは段階状の変化への直列
抵抗の応答である。上記第１のタイプの測定にあって
は、抵抗は固定接点にて唯一決定可能であり、一方、上
記第２のタイプの測定にあっては、固定及び可動接点の
両抵抗が決定可能である。第２タイプの測定は、コント
ロールスイッチの接点抵抗を決定する方法に適当であ
る。上記測定を実行するため、図５に示されるような測
定回路が使用される。変圧器１の回路は、ここでは単相
として示される。実際には複数の回路及び多様なコント
ロールスイッチが使用されることから、図５に示すコン
トロールスイッチを有する変圧器の回路は一例である。
上記変圧器は、高電圧巻線１０と外部に短絡回路とを備
え、従属的に巻線１１を備える。コントロールスイッチ
８は、３つの分離した端子によって一次側２４の粗調整
巻線に接続され、コントロールスイッチ８は粗コントロ
ールスイッチ１２と微コントロールスイッチ１３とを備
える。後者は、鉄芯に巻回されたコントロール巻線１４
に順に接続される。上記コントロールスイッチは、上記
粗コントロールスイッチの一接点が別の位置へ変化する
過渡期において電流を流さないように設計されている。
他の接点は、この動作の間切り替わらず、電流を流しな
がら可動である。上記変圧器の一次側端子１５，１６間
には、スイッチ１９によって短絡可能な抵抗１８が直列
に接続される直流電圧源１７にて構成される測定回路が
配置される。さらにメインスイッチ２０及び測定抵抗２
１が直列に配列される。上記測定抵抗に並列に、例えば
書込みレコーダ２２やオシロスコープ２３の形態にてな
る電流測定装置が接続される。測定手順を以下に示す
（測定中の電流の進行は図６に示す）。コントロールス
イッチ１２は、初期においては一番端の位置に位置し、
ここで粗コントロールスイッチ及び微コントロールスイ
ッチもまた上記一番端の位置に位置する。測定装置２
２，２３はオン状態とし、スイッチ２０、スイッチ１９
は閉じられる。測定回路を流れる電流Ｉ0が一定になる
まで待機する。電流Ｉ0の値が測定される。そしてスイ
ッチ１９がｔ0にて約１秒間開かれる。電流ｄｉの値が
決定される。
き出される。第１のタイプは、階段関数に印加される電
圧の応答であり、第２のタイプは段階状の変化への直列
抵抗の応答である。上記第１のタイプの測定にあって
は、抵抗は固定接点にて唯一決定可能であり、一方、上
記第２のタイプの測定にあっては、固定及び可動接点の
両抵抗が決定可能である。第２タイプの測定は、コント
ロールスイッチの接点抵抗を決定する方法に適当であ
る。上記測定を実行するため、図５に示されるような測
定回路が使用される。変圧器１の回路は、ここでは単相
として示される。実際には複数の回路及び多様なコント
ロールスイッチが使用されることから、図５に示すコン
トロールスイッチを有する変圧器の回路は一例である。
上記変圧器は、高電圧巻線１０と外部に短絡回路とを備
え、従属的に巻線１１を備える。コントロールスイッチ
８は、３つの分離した端子によって一次側２４の粗調整
巻線に接続され、コントロールスイッチ８は粗コントロ
ールスイッチ１２と微コントロールスイッチ１３とを備
える。後者は、鉄芯に巻回されたコントロール巻線１４
に順に接続される。上記コントロールスイッチは、上記
粗コントロールスイッチの一接点が別の位置へ変化する
過渡期において電流を流さないように設計されている。
他の接点は、この動作の間切り替わらず、電流を流しな
がら可動である。上記変圧器の一次側端子１５，１６間
には、スイッチ１９によって短絡可能な抵抗１８が直列
に接続される直流電圧源１７にて構成される測定回路が
配置される。さらにメインスイッチ２０及び測定抵抗２
１が直列に配列される。上記測定抵抗に並列に、例えば
書込みレコーダ２２やオシロスコープ２３の形態にてな
る電流測定装置が接続される。測定手順を以下に示す
（測定中の電流の進行は図６に示す）。コントロールス
イッチ１２は、初期においては一番端の位置に位置し、
ここで粗コントロールスイッチ及び微コントロールスイ
ッチもまた上記一番端の位置に位置する。測定装置２
２，２３はオン状態とし、スイッチ２０、スイッチ１９
は閉じられる。測定回路を流れる電流Ｉ0が一定になる
まで待機する。電流Ｉ0の値が測定される。そしてスイ
ッチ１９がｔ0にて約１秒間開かれる。電流ｄｉの値が
決定される。
【００４４】Ｒｔｏｔ及びＲ2は、式（９）及び式（１
８）により定常値Ｉ0及びｄｉから計算することができ
る。微コントロールスイッチは、引き続いて、ｔ１に
て、さらに進んだ位置に位置し、この位置は、微コント
ロールスイッチの抵抗Ｒａ及びＲｂとともにスイッチン
グの結果として電流の変化を提供する（図５参照）。そ
してスイッチ１９は、ｔ２にて、約１秒間再度開かれ
る。コントロールスイッチのこの位置におけるＲｔｏｔ
の値は、Ｉ01及びｄｉ1とともに式（１６）を使用して
決定することができ、ここで、コントロールスイッチの
他の位置が考慮される。
８）により定常値Ｉ0及びｄｉから計算することができ
る。微コントロールスイッチは、引き続いて、ｔ１に
て、さらに進んだ位置に位置し、この位置は、微コント
ロールスイッチの抵抗Ｒａ及びＲｂとともにスイッチン
グの結果として電流の変化を提供する（図５参照）。そ
してスイッチ１９は、ｔ２にて、約１秒間再度開かれ
る。コントロールスイッチのこの位置におけるＲｔｏｔ
の値は、Ｉ01及びｄｉ1とともに式（１６）を使用して
決定することができ、ここで、コントロールスイッチの
他の位置が考慮される。
【００４５】この測定がコントロールスイッチの他の全
ての位置について引き続いて繰り返される。もし、コン
トロールスイッチの位置が例えばｔ３にて変化すれば、
粗スイッチの動作もまた起こり、電流ｄｉ2の変化が接
点抵抗における変化の結果として検出可能である。
Ｉ01，Ｉ02，ｄｉ1及びｄｉ2とともに、接点抵抗ｄＲ2
における変化が式（２１）を使用して決定可能である。
ての位置について引き続いて繰り返される。もし、コン
トロールスイッチの位置が例えばｔ３にて変化すれば、
粗スイッチの動作もまた起こり、電流ｄｉ2の変化が接
点抵抗における変化の結果として検出可能である。
Ｉ01，Ｉ02，ｄｉ1及びｄｉ2とともに、接点抵抗ｄＲ2
における変化が式（２１）を使用して決定可能である。
【００４６】上述した、定まった測定は、変圧器の他の
２相においても繰り返される。この測定方法において、
大きな時定数を伴う過渡的な現象の減少はすべての位置
について考慮しなくてもよいので、測定は迅速に実行す
ることができる。さらに、固定接点及び可動接点の両方
における接点抵抗がこの測定方法で一つの測定にて決定
される。計算は、もちろん、上記方法に関してプログラ
ムされたコンピュータにより迅速に実行可能である。本
発明の測定方法は、また、例えば変圧器の温度測定のよ
うなコントロールスイッチの影響がほとんど重要でない
場合において、変圧器の巻線のオーム抵抗値を測定する
ためにも適用可能である。ここでは金属巻線の抵抗が温
度に依存するという事実を使用できる場合に本発明が実
行される。
２相においても繰り返される。この測定方法において、
大きな時定数を伴う過渡的な現象の減少はすべての位置
について考慮しなくてもよいので、測定は迅速に実行す
ることができる。さらに、固定接点及び可動接点の両方
における接点抵抗がこの測定方法で一つの測定にて決定
される。計算は、もちろん、上記方法に関してプログラ
ムされたコンピュータにより迅速に実行可能である。本
発明の測定方法は、また、例えば変圧器の温度測定のよ
うなコントロールスイッチの影響がほとんど重要でない
場合において、変圧器の巻線のオーム抵抗値を測定する
ためにも適用可能である。ここでは金属巻線の抵抗が温
度に依存するという事実を使用できる場合に本発明が実
行される。
【００４７】長い時定数のため測定は長時間に及ぶけれ
ども、もちろん、従来技術の方法による測定を実行する
ことも可能であるが、そのため温度が変化する状態にて
直接に記録することができない。この問題は、本発明の
方法により除去される。印加される電圧における段階状
の変化への応答が測定されるところの方法は、このタイ
プの測定に最も適した場合である。
ども、もちろん、従来技術の方法による測定を実行する
ことも可能であるが、そのため温度が変化する状態にて
直接に記録することができない。この問題は、本発明の
方法により除去される。印加される電圧における段階状
の変化への応答が測定されるところの方法は、このタイ
プの測定に最も適した場合である。
【図１】 本発明が応用可能なコントロールスイッチを
有するグリッド変圧器の一部破断部分を有する斜視図で
ある。
有するグリッド変圧器の一部破断部分を有する斜視図で
ある。
【図２】 一相に属する変圧器の回路の等価回路図であ
る。
る。
【図３】 最小の時定数による応答が起こった後に適用
される図２に示す等価回路図を簡易化した図である。
される図２に示す等価回路図を簡易化した図である。
【図４】 簡易化した等価回路図であって、抵抗が一次
側に付加された図である。
側に付加された図である。
【図５】 本発明の方法を使用する測定回路の回路図で
ある。
ある。
【図６】 本発明の方法によって得られるオシロダイヤ
グラムの図である。
グラムの図である。
１…変圧器、５〜７…巻線、８…コントロールスイッ
チ、１０…高電圧巻線、１２…粗コントロールスイッ
チ、１３…微コントロールスイッチ、１４…巻線、１
５，１６…一次側端子、１７…直流電圧源、１８…抵
抗、１９…スイッチ、２０…メインスイッチ、２１…測
定抵抗。
チ、１０…高電圧巻線、１２…粗コントロールスイッ
チ、１３…微コントロールスイッチ、１４…巻線、１
５，１６…一次側端子、１７…直流電圧源、１８…抵
抗、１９…スイッチ、２０…メインスイッチ、２１…測
定抵抗。
Claims (11)
- 【請求項１】 電気装置に含まれる回路網における第１
抵抗値を測定するための測定方法であり、上記回路網は
少なくとも２つのアクセス可能な端子と、少なくとも一
桁互いに異なる２つの時定数とを有し、上記第１抵抗値
は端子クリップを介して流れる電流に関するものであ
り、 段階状の電圧の変化を上記端子クリップへ印加し、 上記電圧変化が起こる前、及び最小の時定数に関係し上
記変化を起こさせることに起因する過渡的な現象が減少
した後に、上記端子クリップを介して流れる電流を測定
し、 上記電流の測定値から上記第１抵抗値を計算する、こと
を特徴とする測定方法。 - 【請求項２】 電気装置に含まれる回路網における第１
抵抗値を測定するための測定方法であり、上記回路網は
少なくとも２つのアクセス可能な端子と、少なくとも一
桁互いに異なる２つの時定数とを有し、上記第１抵抗値
は端子クリップに印加される電圧及び上記端子クリップ
を介して流れる電流に関するものであり、 上記電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段
階状の変化を作用させ、 上記変化が起こる前、及び最小の時定数に関係し上記変
化を起こさせることに起因する過渡的な現象が減少した
後に、上記端子クリップを介して流れる電流値を測定
し、 上記電流の測定値から上記第１抵抗値を計算する、こと
を特徴とする測定方法。 - 【請求項３】 上記回路網に含まれ変化する第２抵抗値
を測定するための測定方法において、 上記電気装置に直列に接続される既知の抵抗において段
階状の変化を作用させ、 上記既知の抵抗の変化が起こる前、及び最小の時定数に
関係し上記変化を起こさせることに起因する過渡的な現
象が減少した後に、上記端子クリップを介して流れる電
流値を測定し、 上記第２抵抗の変化が起こる前、及び最小の時定数に関
係し上記変化を起こさせることに起因する過渡的な現象
が減少した後に、上記端子クリップを介して流れる電流
値を測定し、 上記電流の測定値から上記第２抵抗値を計算する、請求
項２記載の測定方法。 - 【請求項４】 請求項２又は３に記載の測定方法におい
て、上記測定方法が実行された後、上記回路網の構造内
で変化が起こり、そして上記測定方法が連続的に繰り返
される。 - 【請求項５】 上記電気装置は変圧器にて構成される、
請求項１ないし４のいずれかに記載の測定方法。 - 【請求項６】 上記変圧器はコントロールスイッチを備
え、上記測定は上記コントロールスイッチの接点の伝達
抵抗を決定する目的を有する、請求項５記載の測定方
法。 - 【請求項７】 各測定後、上記変圧器の上記コントロー
ルスイッチが一つの箇所に転置される、請求項５記載の
測定方法。 - 【請求項８】 上記第２抵抗値は、上記電気装置がコン
トロールスイッチを備える変圧器にて構成されるとき、
上記コントロールスイッチの位置の変化の間の上記コン
トロールスイッチの接点抵抗の変化の結果である、請求
項３記載の測定方法。 - 【請求項９】 上記アクセス可能な端子は、高電圧端子
にて構成され、低電圧端子は短絡している、請求項５な
いし８のいずれかに記載の測定方法。 - 【請求項１０】 上記変圧器は多相変圧器であり、上記
測定は残りの相が接続されない間、相ごとに実行され
る、請求項５ないし９のいずれかに記載の測定方法。 - 【請求項１１】 電源は直流電圧源である、請求項１な
いし１０のいずれかに記載の測定方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL9400221A NL9400221A (nl) | 1994-02-11 | 1994-02-11 | Werkwijze voor het meten van een weerstandswaarde. |
| NL9400221 | 1994-02-11 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005242784A Division JP2006010710A (ja) | 1994-02-11 | 2005-08-24 | 抵抗値測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0836003A true JPH0836003A (ja) | 1996-02-06 |
Family
ID=19863829
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7021646A Pending JPH0836003A (ja) | 1994-02-11 | 1995-02-09 | 抵抗値測定方法 |
| JP2005242784A Pending JP2006010710A (ja) | 1994-02-11 | 2005-08-24 | 抵抗値測定方法 |
Family Applications After (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005242784A Pending JP2006010710A (ja) | 1994-02-11 | 2005-08-24 | 抵抗値測定方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5546010A (ja) |
| EP (1) | EP0667534A1 (ja) |
| JP (2) | JPH0836003A (ja) |
| CA (1) | CA2141390C (ja) |
| NL (1) | NL9400221A (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6479968B1 (en) | 2000-09-27 | 2002-11-12 | Motorola, Inc. | Method of charging a battery utilizing dynamic cable compensation |
| US7106078B1 (en) * | 2005-08-03 | 2006-09-12 | James G. Biddle Company | Method and apparatus for measuring transformer winding resistance |
| DE102012204569B3 (de) * | 2012-03-22 | 2013-08-22 | Continental Automotive Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum Messen des Wertes eines Widerstands |
| US10627442B2 (en) * | 2017-12-07 | 2020-04-21 | Nanya Technology Corporation | Method for estimating resistances of a source contact and a drain contact of a MOS transistor |
| CN110441646B (zh) * | 2019-08-23 | 2021-05-18 | 江苏省送变电有限公司 | 一种基于阻性电位差比的gil导电杆连接评价系统及方法 |
| CN114264952B (zh) * | 2022-02-28 | 2022-05-06 | 欧米勒电气有限公司 | 一种基于数据处理的断路器运行状态特征管理系统 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3213866A1 (de) * | 1980-12-18 | 1983-10-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Verfahren und schaltungsanordnung zur bestimmung des wertes des ohmschen widerstandes eines messobjekts |
| FR2502790A1 (fr) * | 1981-03-25 | 1982-10-01 | Ass Ouvriers Instr Precision | Appareil de mesure de la resistance de constriction d'un contact electrique |
| US4458196A (en) * | 1981-08-05 | 1984-07-03 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Method and apparatus for high speed resistance, inductance and capacitance measurement |
-
1994
- 1994-02-11 NL NL9400221A patent/NL9400221A/nl not_active Application Discontinuation
-
1995
- 1995-01-18 EP EP95200114A patent/EP0667534A1/en not_active Withdrawn
- 1995-01-27 US US08/379,338 patent/US5546010A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-01-30 CA CA002141390A patent/CA2141390C/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-02-09 JP JP7021646A patent/JPH0836003A/ja active Pending
-
2005
- 2005-08-24 JP JP2005242784A patent/JP2006010710A/ja active Pending
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| NL9400221A (nl) | 1995-09-01 |
| EP0667534A1 (en) | 1995-08-16 |
| JP2006010710A (ja) | 2006-01-12 |
| CA2141390C (en) | 2002-10-01 |
| CA2141390A1 (en) | 1995-08-12 |
| US5546010A (en) | 1996-08-13 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100356418B1 (ko) | 교번전류 센서 | |
| JP2006010710A (ja) | 抵抗値測定方法 | |
| Hill et al. | An ac double bridge with inductively coupled ratio arms for precision platinum-resistance thermometry | |
| Slomovitz | Electronic error reduction system for clamp-on probes and measuring current transformers | |
| Arnold | Current-transformer testing | |
| Freiburg et al. | Capacitive voltage transformers-electrical performance and effective diagnostic measures | |
| US2772395A (en) | Method and apparatus for the measurement of low resistance | |
| US3842344A (en) | Bridge circuit for measuring dielectric properties of insulation | |
| US3028539A (en) | Current transformer | |
| Bertrand et al. | A simulation model for transformer internal faults base for the study of protection and monitoring systems | |
| EP1929487A1 (en) | Error compensating method for instrument transformer | |
| US1906812A (en) | Electrical instrument | |
| US2911588A (en) | Bridge circuits | |
| LUBIS | Impedance characteristics of power transformers in terms of their regulation | |
| US3875507A (en) | Power supply with automatic scale changing capabilities | |
| SU845106A1 (ru) | Трансформаторный мост переменногоТОКА | |
| Lachman et al. | Influence of single-phase excitation and magnetizing reactance on transformer leakage reactance measurement | |
| JPH0325379A (ja) | 縦続接続用変圧器の試験装置 | |
| SU1018027A1 (ru) | Трансформаторный мост дл измерени малых комплексных сопротивлений | |
| JP2023156092A (ja) | 変圧器の試験方法、試験方法に用いる試験装置 | |
| SU111041A1 (ru) | Электромагнитный прибор дл контрол качества термической и электрохимической обработки стальных изделий | |
| SU1018045A1 (ru) | Устройство дл измерени активной составл ющей комплексного сопротивлени | |
| Morgan et al. | The Triple-Harmonic Equivalent Circuit in Three-Phase Power Transformer Banks | |
| JPS60168056A (ja) | 変圧器巻線抵抗の測定方法 | |
| Pleite et al. | Obtaining a frequency dependent and effect distributed model of magnetic components from actual measurements |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040921 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20041220 |
|
| A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20041224 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050322 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050426 |
|
| A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050824 |
|
| A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20050909 |
|
| A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20060317 |