JPH08313424A - 硬さ／引張自動試験機 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 硬さと引張強度とを同一の試験片に自動的に
連続して行なう。 【構成】 試験片の種類ごとに複数の試験片を収納する
各種試験片収容装置２０と、収容装置２０から取り出さ
れた試験片の位置を決める位置決め装置２０ｄと、試験
片に記された刻印の情報を読取る刻印読取り装置３０
と、試験片の寸法を測定する測寸装置４０と、試験片の
硬さ測定領域を研磨する研磨装置５０と、硬さを測定す
る各種硬さ試験装置６０，７０，８０と、引張強度を測
定する引張試験装置９０と、各種装置の間で試験片を搬
送する搬送装置１０と、試験が終了した試験片を回収す
る回収装置１００と、各装置間での試験片の搬送を制御
するとともに、刻印読取り装置３０で読取った情報に基
づいて、試験する種類を判別して各種硬さ試験装置６
０，７０，８０と引張試験装置９０で試験を行うように
シーケンス制御する制御装置１１０，１２０とを備え
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、同一の試験片に対して
硬さと引張強度を全自動で測定するようにした硬さ／引
張自動試験機に関する。

【０００２】

【従来の技術】金属材料や非金属材料、あるいは複合材
料の物性などを評価する場合、材料の硬さと引張強度が
要求される場合がある。従来は、硬さと引張強度はそれ
ぞれ単独の試験機で別々に測定されている。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】そのため、硬さ試験に
適した形状の試験片と引張強度に適した試験片をそれぞ
れ用意しなければならない。また、硬さ試験と引張強度
を手動または自動によりそれぞれ別々のタイミングで行
なっていたため、同一の試験片に対する硬さと引張強度
を一対一に対応して正確に把握できなかった。

【０００４】本発明の目的は、硬さと引張強度とを同一
の試験片に対して自動的に連続して測定することができ
る硬さ／引張自動試験機を提供することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明に係る硬さ／引張
自動試験機は、試験片有無検出センサが収納部に設けら
れ、試験片を収納する試験片収容装置と、試験片端面検
出センサが設けられ、前記収容装置から取り出された試
験片の幅および長手方向の位置決めを行うとともに、一
対の吸着部とその間に設けられた試験片吸着防止用突起
部により試験片複数吸着防止可能な位置決め装置と、前
記試験片に記された情報を読取る情報読取り装置と、前
記試験片の寸法を測定する測寸装置と、複数の硬さ測定
値の演算を行なうデータ処理部を備えた１台または複数
の硬度計からなる硬さ試験装置と、引張強度を測定する
引張試験装置と、前記各装置間での試験片の搬送を制御
するとともに、前記情報読取り装置で読取った情報に基
づいて、試験する種類を判別して前記各種硬さ試験装置
と引張試験装置で試験を行うようにシーケンス制御する
制御装置とを具備するものである。

【０００６】

【作用】収容装置から取り出された試験片の情報が情報
読取り装置で読取られる。制御装置はこの読取り情報に
基づいて試験片の試験を行う。すなわち、行うべき試験
や硬さ試験の種類を判別し、その判別結果に応じて各装
置に試験片を順次に搬送する。硬さ試験を行う試験片に
ついては、硬さ試験の後、引張り試験を行う。

【０００７】

【実施例】図１〜図８により本発明の一実施例を説明す
る。図１〜図６において、１０は搬送装置であり、直線
状に配設された搬送レール１１と、このレール１１の上
を直線移動する搬送ロボット１２と、ロボット１２を走
行させる走行機構１３とを備える。搬送ロボット１２
は、水平面内に置かれている試験片をその上方から真空
または磁石で吸着する吸着装置と、吸着した試験片を図
１の矢印Ａ，Ｂ方向に搬送する搬送部と、試験片を９０
度旋回して垂直方向に向ける回動装置とを備える。走行
機構１３は、レール１１に沿って設けられたラックと、
ロボット１１に一体に設けられたモータと、このモータ
の出力軸に連結されラックと噛合するピニオンギアとを
備え、モータを回転してロボット１２をレール１１上の
所望の位置に移動する。これらの装置や機構はそれぞれ
周知であり詳細な図示は省略する。

【０００８】搬送装置１０の一方の側に沿って、収容装
置２０と、刻印読取り装置（情報読取り装置）３０と、
接触式測寸装置４０と、研磨装置５０と、自動ビッカー
ス硬さ計本体６０と、自動ロックウエル硬さ計本体７０
と、自動ブリネル硬さ計本体８０と、引張試験機本体９
０と、試験片回収装置１００Ａとが配置されている。ま
た、搬送装置１０の他方の側には、刻印読取り制御装置
３５と、自動ビッカース硬さ計制御装置６５と、自動ロ
ックウエル硬さ計制御装置７５と、自動ブリネル硬さ計
制御装置８５と、引張試験機コントローラ９５Ａと、引
張試験機計測盤９５Ｂと、シーケンス制御装置１１０
と、データ処理装置１２０と、試験片回収装置１００
Ｂ，１００Ｃとが配置されている。

【０００９】図１０は本実施例で使用されるダンベル型
試験片ＴＰを示し、両端部ＬＰ，ＲＰは引張試験機の把
持部であり、ハッチング部ＨＰは硬さ試験の被測定部で
ある。

【００１０】図３にも示すように、収容装置２０は、図
１０に示す試験片を複数枚積層して収容する３つの収容
部２０ａ〜２０ｃと、収容部に積層されている試験片を
昇降する昇降部（不図示）と、積層されている試験片の
最上部の１枚を吸着保持して位置決め部２０ｄに搬送す
る搬送部２０ｅとを備える。搬送部２０ｅの試験片吸着
部は一対の吸盤とその間に設けられた複数の吸着防止用
突起とにより薄い試験片の場合にその試験を若干曲げて
複数枚の吸着を防止している。

【００１１】各々の収容部底面には試験片有無検出用セ
ンサ２０ｆが設けられ、各収容部の試験片の有無を自動
判別する。このセンサは、試験片の表面性状（黒皮、圧
延、みがきなど）にかかわらず試験片を検出することが
できる高感度型のセンサである。また、この有無判別機
能により割込み試験を行うこともできる。

【００１２】試験片ＴＰは、位置決め部２０ｄによって
水平面内の直交２軸（長手方向と幅方向）に対して位置
決めされる。また、位置決め部２０ｄは端面検出センサ
を備え、試験片に曲り、反り、ねじれなどの変形があっ
ても、幅、長さ方向とも確実に位置決めできるように端
面検出センサにより位置を検出し、位置決めを行う。

【００１３】これにより、搬送装置１０のロボット１２
が収容装置２０の位置決め部２０ｄまで前進すると、そ
の把持部により試験片を把持し、位置決め部２０ｄから
刻印読取り装置３０へ搬送する。なお、位置決め部２０
ｄでは把持部で試験片を把持した状態で曲りの大きな試
験片を検出し、このような異常のある試験片は後述する
回収装置へ回収される。なお、収容装置２０の各部は周
知であるから詳細な図示は省略する。

【００１４】図４に位置決め部２０ｄの全体構成を示
す。受け皿昇降シリンダ２０１のピストンロッドの先端
には試験片受け皿２０２が設けられ、試験片はこの受け
皿２０２に載置される。試験片幅方向を挟んで幅方向位
置決め用アーム２０３、２０４が配設され、これらアー
ム２０３、２０４は送りねじ２０５の右ねじと左ねじに
それぞれ螺合している。送りねじ２０５は幅方向位置決
めアーム開閉用モータ２０６で回転し、幅方向位置決め
用アーム２０３、２０４を開閉する。アーム２０３、２
０４の開閉運動により試験片の幅方向の位置決めが行わ
れる。アーム２０３の端部にはそれぞれ透過型光電スイ
ッチの投光素子２０７ａ、２０８ａと受光素子２０７
ｂ、２０８ｂが上下方向に所定距離離して配置され、ア
ーム２０４の端部にはそれぞれ透過型光電スイッチの投
光素子２０９ａ、２１０ａと受光素子２０９ｂ、２１０
ｂ（それぞれ不図示）が上下方向に配置されている。

【００１５】モータ２０６により幅方向位置決めアーム
２０３、２０４を閉じ操作すると試験片ＴＰがアーム２
０３、２０４に応動されて受け皿２０２の中心ＣＬＸに
位置決めされ、このとき、各投光素子２０７ａ、２０８
ａ、２０９ａ、２１０ａからの光は試験片ＴＰで遮光さ
れ、各受光素子２０７ｂ、２０８ｂ、２０９ｂ、２１０
ｂは光を受光していないことを示すレベルの信号を出力
する。

【００１６】一方、試験片長手方向を挟んで長手方向位
置決め用アーム２１１、２１２が配設され、これらアー
ム２１１、２１２は送りねじ２１３の右ねじと左ねじに
それぞれ螺合している。送りねじ２１３は長手方向位置
決めアーム開閉用モータ２１４で回転し、長手方向位置
決め用アーム２１１、２１２を開閉する。アーム２１
１、２１２の開閉運動により試験片の長手方向の位置決
めが行われる。アーム２１１の上部には透過型光電スイ
ッチの投光素子２１５ａと受光素子２１５ｂが上下方向
に所定距離離して設けられ、アーム２１２の上部には透
過型光電スイッチの投光素子２１６ａと受光素子２１６
ｂが所定距離離して設けられている。

【００１７】モータ２１４により長手方向位置決めアー
ム２１１、２１２を閉じ操作すると試験片ＴＰがアーム
２１１、２１２に応動されて受け皿２０２の中心ＣＬＹ
に位置決めされ、このとき、各投光素子２１５ａ、２１
６ａからの光は試験片ＴＰで遮光され、各受光素子２１
５ｂ、２１６ｂは光を受光していないことを示すレベル
の信号を出力する。

【００１８】さらに、アーム２１１、２１２の上部には
互いに対向して光電スイッチの投光素子２１７ａと受光
素子２１７ｂが設けられている。受け皿２０２に反りの
ある試験片ＴＰが載置され、投光素子２１７ａからの光
が試験片ＴＰで遮断されると受光素子２１７ｂが光を受
光していないことを示すレベルの信号を出力する。

【００１９】刻印読取り装置３０は、搬送装置１０から
供給される試験片ＴＰの載置部３０ａと、この載置部３
０ａに置かれた試験片ＴＰの試験片番号を読取る読取り
部３０ｂとを備える。刻印読取り装置３０は、照射角
度、明るさなどの照射パターンを自動的に変え、試験片
の刻印の正常読取りができるようになされている。な
お、刻印に代えてバーコードを付してバーコードリーダ
を使用することもできる他、試験片の情報を種々の形態
で試験片に付与しそれに応じた読取り装置を使用でき
る。

【００２０】図１、図２および図５に示すように測寸装
置４０は、搬送装置１０から供給される試験片ＴＰの載
置部４０ａと、載置部４０ａに載置されている試験片の
厚さ、幅を測定する測定部４０ｂとを備える。なお、厚
板の試験片は厚さと幅が、薄板の試験片は厚さだけが測
定される。

【００２１】図１、図２および図５に示すように研磨装
置５０は、搬送装置１０から供給される試験片ＴＰの載
置部５０ａと、試験片の被測定部ＨＰを研磨する研磨部
５０ｂと、載置部５０ａと研磨部５０ｂとの間で試験片
ＴＰを搬送する搬送部５０ｃとを備える。この研磨装置
５０は、ビッカース硬さ試験とロックウエル硬さ試験を
行なう場合に試験片ＴＰの被硬さ測定部ＨＰを研磨する
ものである。

【００２２】図１、図２および図５に示すようにビッカ
ース硬さ計本体６０は、搬送装置１０から供給される試
験片ＴＰの載置部６０ａと、試験片の被測定部ＨＰに圧
子を押圧する圧子押圧部６０ｂと、被測定部ＨＰに形成
された圧痕を撮像する撮像部６０ｃとを備える。

【００２３】このビッカース硬さ計本体６０は、ビッカ
ース硬さ計制御部６５からの試験指示にしたがって試験
を行う。本装置の硬さ測定処理においては、撮像部６０
ｃで撮像された圧痕の画像をビッカース硬さ計制御装置
６５に供給し、周知の画像処理により圧痕の所定の寸法
を演算してビッカース硬さを算出する。また、データ処
理として、単に平均値を演算するだけでなく、指示によ
っては５点測定を行い、そのうち最大、最小を除く平均
値を演算することも可能である。このようなビッカース
硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略する。

【００２４】図１、図２および図６に示すようにロック
ウエル硬さ計本体７０は、搬送装置１０から供給される
試験片ＴＰの載置部７０ａと、指示された荷重に自動的
に切換え、試験片の被測定部ＨＰに圧子を押圧する圧子
押圧部７０ｂと、被測定部ＨＰに形成された圧痕の深さ
を測定する変位計７０ｃとを備える。変位計７０ｃで測
定された変位はロックウエル硬さ計制御装置７５に供給
され、ロックウエル硬さが算出される。また、データ処
理として、単に平均値を演算するだけでなく、指示によ
っては５点測定を行い、そのうち最大、最小を除く平均
値を演算することも可能である。このようなロックウエ
ル硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略する。

【００２５】図１、図２および図６に示すようにブリネ
ル硬さ計本体８０は、搬送装置１０から供給される試験
片ＴＰの載置部８０ａと、試験片の被測定部ＨＰに圧子
を押圧する圧子押圧部８０ｂと、被測定部ＨＰに形成さ
れた圧痕を撮像する撮像部８０ｃとを備える。撮像部８
０ｃで撮像された圧痕の画像はブリネル硬さ計制御装置
８５に供給され、周知の画像処理により圧痕の所定の寸
法を演算して、ブリネル硬さが算出される。このような
ブリネル硬さ計は周知技術であるから詳細な図示は省略
する。

【００２６】図１、図２および図７に示すように引張試
験機本体９０は、搬送装置１０から供給される試験片Ｔ
Ｐの両端を把持する上下把持部９０ａ，９０ｂと、上下
把持部９０ａ，９０ｂを互いに離間させて試験片ＴＰに
引張負荷を与える負荷部９０ｃと、負荷時に試験片に働
く荷重を検出する荷重検出部９０ｄと、試験片の変位を
測定する変位測定部（不図示）とを備える。荷重と変位
とは引張試験機コントローラ９５Ａに送られ、コントロ
ーラ９５Ａは荷重ー変位特性曲線を作成したり、各種の
降伏荷重を演算する。このような引張試験機は周知技術
であるから詳細な図示は省略する。

【００２７】図８は全自動硬さ／引張試験機の処理手順
を示すフローチャートであり、操作者が起動スイッチを
オンすることによりデータ処理装置１２０のＣＰＵに格
納されたプログラムが起動されて、図４に示す処理が実
行される。この図により動作を説明する。

【００２８】ステップＳ１において、搬送装置１０のロ
ボット１２により、収容装置２０の最上部の試験片ＴＰ
を吸着し、刻印読み取り装置３０の載置部に搬送する。
ステップＳ２では、読み取り装置３０の読取り部で試験
片ＴＰの試験片番号を読取り、ステップＳ３において、
読取った試験片番号をデータ処理装置１２０を経由して
上位コンピュータ２００に送る。上位コンピュータ２０
０は受信した試験片番号に基づいて、その試験片に対し
て行なう試験情報を読み出し、データ処理装置１２０に
送る。データ処理装置１２０はステップＳ４でこの試験
機情報を受信する。ここで、上位コンピュータ２００と
は、図示する全自動試験機とは別に設けられ、たとえ
ば、この試験機で試験される材料の製造や工程を管理す
るのに使用されるコンピュータである。

【００２９】ステップＳ５では、刻印読み取り装置３０
の載置部３０ａ上の試験片ＴＰを搬送装置１０のロボッ
ト１２により測寸装置４０の載置部４０ａに搬送する。
ステップＳ６では、測寸装置４０で試験片ＴＰの厚さや
幅を測定し、測定データを読み取る。ステップＳ７で
は、読み取った測定データに基づいて、引張試験におけ
る荷重レンジや応力計算のための断面積を演算する。ス
テップＳ８では、上位コンピュータ２００から受信した
試験情報に基づいて所定の試験を行なうようにデータ処
理装置１２０は各装置や試験機を制御する。このステッ
プＳ８の詳細は後述する。ステップＳ９では、試験終了
後に試験片を回収装置に回収するため、搬送装置１０の
ロボット１２で試験片を吸着し、指定された回収装置ま
で搬送して回収装置に回収する。回収装置の指定は、再
処理が必要な試験片、再処理不要な試験片、異常な試験
片の３つに分類されてそれぞれ対応する回収装置へ回収
される。

【００３０】ここで、再処理が必要な試験片とは、後処
理として絞り測定を行う試験片、試験片の表面変化観察
を行う試験片、あるいは引張規格外れ材や破断位置不適
切材などを指す。また、異常試験片とは、長さ方向曲り
過大材、刻印読取り不能材、測寸異常材、硬さ異常材な
どを指し、品質確認上極めて重要な項目を判別し各回収
装置に振り分けることができるように構築されている。

【００３１】図９は回収処理を説明する手順を示す図で
ある。このフローチャートは回収の種類を説明するもの
であり、図８に示した各ステップとは整合しない。ステ
ップＳ９０１で試験片を位置決めし、ステップＳ９０２
で反り検出光電スイッチの受光素子２１７ｂからの信号
に基づいて試験片の反りが正常か否かを判定する。受光
素子２１７ｂからの信号が光を受光していないレベルの
信号であるときは反りのある異常材としてステップＳ９
１６で異常材回収箱に試験片を回収する。

【００３２】受光素子２１７ｂからの信号が光を受光し
ているレベルの信号であるときは反りのない正常材とし
てステップＳ９０３に進む。ステップＳ９０３では、刻
印読取り装置３０により試験片の刻印を読取り、読取り
が異常の場合にはステップＳ９１６で異常材回収箱に試
験片を回収する。読取りが正常に行われた場合には、ス
テップＳ９０５において、測寸装置４０で試験片の厚
さ、幅を測定する。測寸値が規格内でなければ異常材と
してステップＳ９１６で異常材回収箱に試験片を回収す
る。規格内と判定されると、ステップＳ９０７で硬さ試
験を行う。ステップＳ９０８に進むと、硬さ試験結果が
規格内か否かを判定し、規格外であればステップＳ９１
６で異常材回収箱に試験片を回収する。

【００３３】次いでステップＳ９０９で引張り試験を行
い、ステップＳ９１０でローピングモードと判定される
とステップＳ９１５に進んで再処理必要材回収箱に試験
片を回収する。ここでローピングモードとは、引張り試
験により規定値だけひずみを与えて試験片の表面状態を
目視する試験である。検査ローピングモードでない場合
にはステップＳ９１１に進み、引張り試験結果値が規格
内であるか否かを判定し、規格外の場合にはステップＳ
９１５に進んで再処理必要材回収箱に試験片を回収す
る。引張り試験結果が規格内と判定されるとステップＳ
９１２でＣ破断かを判定する。Ｃ破断であればステップ
Ｓ９１５に進んで再処理必要材回収箱に試験片を回収す
る。Ｃ破断の場合にはステップＳ９１３に進む。ステッ
プＳ９１３において絞り測定が必要な試験片と判定され
るとステップＳ９１５に進んで再処理必要材回収箱に試
験片を回収する。絞り測定不要の場合にはステップＳ９
１４において、再処理不要材回収箱に試験片を回収す
る。なお、絞り測定とは、引張り破断後に幅方向の収縮
量（絞り）を手動で測定するものである。

【００３４】なお、測定データの処理はデータ処理装置
１２０で行なわれるが、全試験片の測定が終了した後に
バッチ処理でデータ演算処理を行なったり、リアルタイ
ムでその都度データ処理してもよい。演算データは不図
示のプリンタで出力される他、上位コンピュータ２００
に転送される。

【００３５】ステップＳ８における試験情報に基づいた
試験はたとえばつぎの〜のようなものであり、デー
タ処理装置１２０はこの試験情報に基づいて全自動硬さ
／引張試験機を制御し、所望の試験を行なう。 ビッカース硬さ試験と引張試験 ロックウエル硬さ試験と引張試験 ブリネル硬さ試験と引張試験 ビッカース硬さ試験およびロックウエル硬さ試験と引
張試験 ビッカース硬さ試験およびブリネル硬さ試験と引張試
験 ロックウエル硬さ試験およびブリネル硬さ試験と引張
試験 なお、ここでいう引張試験とは、引張強さや破断伸びを
検出する通常の引張り強伸度試験の他に、材料の加工硬
化指数を調べるｎ値試験や材料の絞り特性を調べるｒ値
試験なども含まれ、それらの試験内容が変っても連続的
に運転が可能である。

【００３６】データ処理装置１２０は、上位コンピュー
タ２００から受信した試験情報に応じて、図８のステッ
プＳ８における試験処理をそれぞれ行う。詳細手順は省
略するが、上記〜の試験内容にしたがって、収容装
置２０から取り出された試験片ＴＰは搬送装置１０で順
次に各工程に搬送され、各工程で必要な測定、処理が行
なわれる。

【００３７】たとえば、ビッカース硬さ試験やロックウ
エル硬さ試験で硬さ被測定部ＨＰの研磨が必要である場
合には、試験片ＴＰは、測寸後に研磨装置５０に搬送さ
れて研磨され、その後、各硬さ計に搬送される。

【００３８】このような実施例によれば次のような効果
が得られる。 １本の試験片に対して硬さ試験と引張試験を行なうこ
とができ、そのデータは対応づけてプリント出力あるい
は記憶されるので、物性評価の信頼性が向上する。ま
た、試験片の数量を減らすことができる。 硬さのデータと引張強度のデータをほぼ同時期に入手
することができるから、品質管理への対応を極めて早く
行なうことができる。 試験片に試験片番号を刻印し、その試験片番号に基づ
いて予め定めた試験を行なうようにしたから、収容装置
に試験片を収容する際、その収容順序はバラバラでもよ
く、試験片順序のトラッキングミスが防止される。

【００３９】なお、試験片の厚さに応じてビッカース硬
さかロックウエル硬さかブリネル硬さを判別するように
すれば、試験情報の中にどの硬さ計を使用するかを指定
する必要がなく、試験情報の指定が効率よく行える。ま
た、厚さで判別される硬さ試験の種類と試験情報の硬さ
試験の種類との一致を識別して、より信頼性の高い試験
を行うことができる。あるいは、試験情報では薄板に適
した硬さ試験が指定されていた場合、試験片が厚板の場
合には、厚さ情報を優先して硬さ試験の種類を決めた
り、逆に、試験情報で指定された硬さ試験を優先するよ
うにしてもよい。

【００４０】硬さ試験、引張試験に加えて粗さ測定装置
を追加して、必要に応じて試験片の粗さを硬さや引張強
度とともに測定するようにしてもよい。直線搬送装置を
旋回マニュピュレータ搬送装置とし、旋回マニュピュレ
ータの円周経路上に収容装置、刻印読み取り装置、測寸
装置、研磨装置、各種試験機を配設してもよい。なお、
リューダス試験などの表面変化観察が必要な場合には引
張り試験機の後段に画像装置を設置するなど、実施例の
ものに限らずその他の試験機、計測装置などを使用する
こともできる。

【００４１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、１
本の試験片に対して硬さ試験と引張試験を行なうことが
でき、物性評価の信頼性が向上する。また、試験片の数
量を減らすことができる。さらに、硬さのデータと引張
強度のデータをほぼ同時期に入手することができるか
ら、品質管理への対応を極めて早く行なうことができ
る。さらにまた、試験片に試験片情報を付与し、その試
験片情報に基づいて予め定めた試験を行なうようにした
から、収容装置に試験片を収容する際、その収容順序は
バラバラでもよく、試験片順序のトラッキングミスが防
止される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明による硬さ／引張試験機の一例を示す平
面図である。

【図２】図１に示した硬さ／引張試験機の正面図であ
る。

【図３】図２の部分拡大図である。

【図４】位置決め部を示す図であり、（ａ）は平面から
見たもの、（ｂ）は正面からみたものである。

【図５】図２の部分拡大図である。

【図６】図２の部分拡大図である。

【図７】図２の部分拡大図である。

【図８】図１に示した硬さ／引張試験機の測定手順例を
示すフローチャートである。

【図９】試験片の回収の種類を説明するフローチャート
である。

【図１０】試験片の一例の平面図である。

【符号の説明】

１０ 搬送装置 ２０ 収容装置 ２０ｄ 位置決め部 ２０ｆ 試験片有無検出センサ ３０ 刻印読み取り装置 ４０ 測寸装置 ５０ 研磨装置 ６０ 全自動ビッカース硬さ計本体 ６５ 自動ビッカース硬さ計制御装置 ７０ 全自動ロックウエル硬さ計本体 ７５ 自動ロックウエル硬さ計制御装置 ８０ 全自動ブリネル硬さ計本体 ８５ 自動ブリネル硬さ計制御装置 ９０ 引張試験機本体 ９５ 引張試験機制御装置 １００ 回収装置 １１０ シーケンス制御装置 １２０ データ処理装置 ２００ 上位コンピュータ

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 藤井 雅美 京都市北区紫野西御所田町１番地 株式会 社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 垣尾 尚史 京都市北区紫野西御所田町１番地 株式会 社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 前田 憲一 京都市北区紫野西御所田町１番地 株式会 社島津製作所紫野工場内 (72)発明者 上田 昭夫 京都市北区紫野西御所田町１番地 株式会 社島津製作所紫野工場内

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 試験片有無検出センサが収納部に設けら
   れ、試験片を収納する試験片収容装置と、 試験片端面検出センサが設けられ、前記収容装置から取
   り出された試験片の幅および長手方向の位置決めを行う
   とともに、一対の吸着部とその間に設けられた試験片吸
   着防止用突起部により試験片複数吸着防止可能な位置決
   め装置と、 前記試験片に記された情報を読取る情報読取り装置と、 前記試験片の寸法を測定する測寸装置と、 複数の硬さ測定値の演算を行なうデータ処理部を備えた
   １台または複数の硬度計からなる硬さ試験装置と、 引張強度を測定する引張試験装置と、 前記各装置間での試験片の搬送を制御するとともに、前
   記情報読取り装置で読取った情報に基づいて、試験する
   種類を判別して前記各種硬さ試験装置と引張試験装置で
   試験を行うようにシーケンス制御する制御装置とを具備
   することを特徴とする硬さ／引張自動試験機。