JPH08297875A - Optical pickup - Google Patents

Optical pickup

Info

Publication number
JPH08297875A
JPH08297875A JP12446395A JP12446395A JPH08297875A JP H08297875 A JPH08297875 A JP H08297875A JP 12446395 A JP12446395 A JP 12446395A JP 12446395 A JP12446395 A JP 12446395A JP H08297875 A JPH08297875 A JP H08297875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
separating means
optical pickup
magneto
photodetector
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP12446395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiyoshi Toyoda
清 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP12446395A priority Critical patent/JPH08297875A/en
Publication of JPH08297875A publication Critical patent/JPH08297875A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE: To miniaturize a device and to reduce a cost by providing first, second polarization separating means instead of a conventional beam splitter, and a Wollaston prism. CONSTITUTION: The first polarization separating means 12 is provided on one surface of a base material 41 arranged between a light source 11 and an objective lens 13, and separates a light beam from the light source 11 and a return light beam from a recording surface of a magneto-optical recording medium MO through the objective lens 13 in the radial direction of the magneto-optical recording medium MO. The second polarization separating means 14 is provided on the other surface of the base material 41, and separates the return light beam separated by the first polarization separating means 12 to three light beams of zero-order diffracted light and ±1st-order diffracted light to send them to respective parts 15a, 15b of a photodetector 15. The photodetector 15 detects a focusing error signal based on respective output signals of the separated light receiving surfaces 15a, 15b on which the zero-order light is made incident, and further, detects a tracking error signal by a difference of the signals based on two pieces of light beams by the ±1st-order light. Thus, the first, second polarization separating means are constituted integrally.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクに記録
及び/または再生を行なうための光学ピックアップに関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical pickup for recording and / or reproducing on a magneto-optical disk.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、このような光磁気ディスクの記録
及び/または再生を行なうための光学ピックアップは、
図8に示すように構成されている。即ち、図8におい
て、光学ピックアップ1は、半導体レーザ素子2,ホロ
グラム素子3,コリメータレンズ4,ビームスプリッタ
5,対物レンズ6,ウォラストンプリズム7,光検出器
8から構成されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, an optical pickup for recording and / or reproducing information on such a magneto-optical disk has been used.
It is configured as shown in FIG. That is, in FIG. 8, the optical pickup 1 includes a semiconductor laser element 2, a hologram element 3, a collimator lens 4, a beam splitter 5, an objective lens 6, a Wollaston prism 7, and a photodetector 8.

【0003】上記半導体レーザ素子2は、半導体の再結
合発光を利用した発光素子であり、光源として使用され
る。半導体レーザ素子2は、実際には、図9及び図10
に示すように、半導体レーザ素子2から出射した光ビー
ムは、ホログラム素子3に導かれる。
The semiconductor laser device 2 is a light emitting device utilizing recombination light emission of a semiconductor and is used as a light source. The semiconductor laser device 2 is actually shown in FIG. 9 and FIG.
As shown in, the light beam emitted from the semiconductor laser element 2 is guided to the hologram element 3.

【0004】ここで、ウォラストンプリズム7は、ビー
ムスプリッタ5で反射された戻り光ビームに基づいて、
偏光分離を行なうことにより、複数、図示の場合、3つ
の光ビームを出射するものである。
Here, the Wollaston prism 7, based on the return light beam reflected by the beam splitter 5,
By performing polarization separation, a plurality of light beams, in the illustrated case, three light beams are emitted.

【0005】フォトディテクタ8は、ウォラストンプリ
ズム7により偏光分離された3つの光ビームに対して、
それぞれ受光部を有するように構成されている。
The photodetector 8 receives the three light beams polarized and separated by the Wollaston prism 7,
Each has a light receiving part.

【0006】さらに、上記半導体レーザ素子2に隣接し
て、図9に示すように、受光部9a,9bが備えられて
いる。この受光部9a,9bは、それぞれビームスプリ
ッタ5を透過して上記ホログラム素子3により回折され
た一次回折光ビームを受光するようになっている。
Further, light receiving portions 9a and 9b are provided adjacent to the semiconductor laser element 2 as shown in FIG. The light receiving portions 9a and 9b are adapted to receive the first-order diffracted light beam that has been transmitted through the beam splitter 5 and diffracted by the hologram element 3.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うに構成された光学ピックアップ1においては、ホログ
ラム素子3により回折された回折光ビームが、受光部9
a,9bによって検出されることにより、サーボに必要
な信号は得られるが、MO信号は検出され得ない。従っ
て、光磁気ディスクMOからの戻り光を、ビームスプリ
ッタ5により分離して、ウォラストンプリズム7により
分割することにより、各分割ビームを検出することによ
り、MO信号が得られるようになっている。従って、ビ
ームスプリッタ5及びウォラストンプリズム7は、比較
的高価であるために、光学ピックアップ1全体のコスト
が高くなってしまうと共に、ウォラストンプリズム7
は、MO信号(光磁気信号)の分離角が制限されること
から、比較的大型になってしまうという問題があった。
However, in the optical pickup 1 thus constructed, the diffracted light beam diffracted by the hologram element 3 is received by the light receiving portion 9
The signals required for servo can be obtained by the detection by a and 9b, but the MO signal cannot be detected. Therefore, the return signal from the magneto-optical disk MO is separated by the beam splitter 5 and divided by the Wollaston prism 7 to detect each divided beam, whereby the MO signal can be obtained. Therefore, since the beam splitter 5 and the Wollaston prism 7 are relatively expensive, the cost of the optical pickup 1 as a whole is high, and the Wollaston prism 7 is also expensive.
However, since the separation angle of the MO signal (magneto-optical signal) is limited, there is a problem that it becomes relatively large.

【0008】本発明は、以上の点に鑑み、小型に構成さ
れると共に、コストが低減されるようにした、光学ピッ
クアップを提供することを目的としている。
In view of the above points, the present invention has as its object the provision of an optical pickup which is constructed in a small size and at a reduced cost.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上記目的は、本発明によ
れば、光ビームを出射する光源と、この光源から出射さ
れた光ビームを光磁気記録媒体の記録面上に合焦するよ
うに照射する対物レンズと、この光源と対物レンズとの
間に配設された基材の一面の設けられ、前記光源からの
光ビームと、前記対物レンズを介した光磁気記録媒体の
記録面からの戻り光ビームとを光磁気記録媒体の半径方
向に分離するための第一の偏光分離手段と、前記基材の
他の面に設けられると共に、前記第一の偏光分離手段に
よって分離された戻り光ビームを分離する第二の偏光分
離手段と、この第二の偏光分離手段で分離された各光ビ
ームを受光する光検出器とを備える光学ピックアップに
より、達成される。
According to the present invention, there is provided a light source for emitting a light beam, and a light beam emitted from the light source for focusing on a recording surface of a magneto-optical recording medium. An objective lens for irradiation and one surface of a substrate disposed between the light source and the objective lens are provided, and a light beam from the light source and a recording surface of a magneto-optical recording medium through the objective lens are provided. First polarized light separating means for separating the return light beam in the radial direction of the magneto-optical recording medium, and return light separated by the first polarized light separating means while being provided on the other surface of the substrate. This is achieved by an optical pickup that includes a second polarization splitting unit that splits the beam and a photodetector that receives each light beam split by the second polarization splitting unit.

【0010】[0010]

【作用】上記構成によれば、第一の偏光分離手段により
分離された戻り光ビームが、第二の偏光分離手段によっ
て、3つの光ビーム即ち0次回折光及びプラスマイナス
1次回折光に分離される。従って、0次光ビームに基づ
いて、光検出器の検出信号により、MO信号が検出され
ると共に、光検出器の0次光が入射する分割受光面の各
出力信号に基づいて、差動3分割法により、フォーカシ
ングエラー信号が検出され、またプラスマイナス1次光
ビームによる2本の光ビームに基づいて、その検出信号
の差により、トラッキングエラー信号が検出されること
になる。
According to the above construction, the return light beam separated by the first polarized light separating means is separated by the second polarized light separating means into three light beams, that is, 0th order diffracted light and plus or minus 1st order diffracted light. . Therefore, the MO signal is detected by the detection signal of the photodetector based on the 0th-order light beam, and the differential signal 3 is generated based on each output signal of the split light-receiving surface on which the 0th-order light of the photodetector is incident. The focusing error signal is detected by the division method, and the tracking error signal is detected based on the difference between the detection signals based on the two light beams of plus and minus primary light beams.

【0011】上記第一及び第二の偏光分離手段が、それ
ぞれ偏光性ホログラム、特に複屈折回折格子型素子であ
る場合には、0次常光とプラスマイナス1次異常光に分
割される。上記第一の偏光分離手段が、基板の一面に形
成されたホログラムまたは複屈折回折格子型素子であっ
て、第二の偏光分離手段が、上記基板の他面に形成され
たホログラムまたは複屈折回折格子型素子である場合に
は、第一の偏光分離手段と第二の偏光分離手段が、一体
に構成されることになり部品点数が少なくなる。
When the first and second polarization splitting means are polarization holograms, especially birefringent diffraction grating type elements, they are split into 0th order ordinary light and plus or minus 1st order extraordinary light. The first polarized light separating means is a hologram or birefringent diffraction grating type element formed on one surface of the substrate, and the second polarized light separating means is a hologram or birefringent diffraction grating formed on the other surface of the substrate. In the case of a lattice type element, the first polarized light separating means and the second polarized light separating means are integrally formed, and the number of parts is reduced.

【0012】上記第一の偏光分離手段が、基板の一面に
形成された複屈折回折格子型素子であって、第二の偏光
分離手段が、上記基板を構成する複屈折結晶である場合
には、構造が簡単になるので、容易に形成されることに
なり、コストが低減される。
When the first polarized light separating means is a birefringent diffraction grating type element formed on one surface of the substrate and the second polarized light separating means is a birefringent crystal forming the substrate, Since the structure is simple, it can be easily formed and the cost is reduced.

【0013】上記第一及び第二の偏光分離手段,光源及
び光検出器が、一つのパッケージとして一体に構成され
ている場合には、組立の際の偏光分離手段,光源及び光
検出器の相互の位置決めが不要であることから、光学ピ
ックアップの組立が容易に行われるので、組立コストが
低減されることになる。
When the first and second polarized light separating means, the light source and the photodetector are integrally formed as one package, the polarized light separating means, the light source and the photodetector are mutually assembled at the time of assembly. Since the positioning of the optical pickup is unnecessary, the optical pickup can be easily assembled, and the assembly cost can be reduced.

【0014】[0014]

【実施例】以下、この発明の好適な実施例を図1乃至図
7を参照しながら、詳細に説明する。尚、以下に述べる
実施例は、本発明の好適な具体例であるから、技術的に
好ましい種々の限定が付されているが、本発明の範囲
は、以下の説明において特に本発明を限定する旨の記載
がない限り、これらの態様に限られるものではない。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT A preferred embodiment of the present invention will now be described in detail with reference to FIGS. In addition, since the Examples described below are preferred specific examples of the present invention, various technically preferable limitations are given. However, the scope of the present invention particularly limits the present invention in the following description. The embodiment is not limited to these embodiments unless otherwise stated.

【0015】図1は、本発明による光学ピックアップの
一実施例を示しており、光学ピックアップ10は、半導
体レーザ素子11,第一の偏光分離手段12,対物レン
ズ13,第二の偏光分離手段14及び光検出器15とか
ら構成されている。ここで、上記半導体レーザ素子1
1,第一の偏光分離手段12,第二の偏光分離手段14
及び光検出器15は、図示の場合、一つの例えば樹脂パ
ッケージ10aに組み込まれることにより、一体に構成
されている。また、第一の偏光分離手段12は、基材と
しての光を透過する例えばガラス基板14の対物レンズ
13側の面に形成されている。また、第二の偏光分離手
段14は、この基材41の半導体レーザ素子11側の面
に形成されている。
FIG. 1 shows an embodiment of an optical pickup according to the present invention. The optical pickup 10 includes a semiconductor laser device 11, a first polarization separation means 12, an objective lens 13, and a second polarization separation means 14. And a photodetector 15. Here, the semiconductor laser device 1
1, first polarized light separating means 12, second polarized light separating means 14
In the illustrated case, the photodetector 15 and the photodetector 15 are integrally formed by being incorporated in one resin package 10a, for example. The first polarized light separating means 12 is formed, for example, on the surface of the glass substrate 14 on the side of the objective lens 13 which transmits light as a base material. The second polarized light separating means 14 is formed on the surface of the base material 41 on the semiconductor laser element 11 side.

【0016】上記半導体レーザ素子11は、半導体の再
結合発光を利用した発光素子であり、光源として使用さ
れる。半導体レーザ素子11から出射した光ビームは、
対物レンズ13に導かれる。
The semiconductor laser device 11 is a light emitting device utilizing recombination light emission of a semiconductor and is used as a light source. The light beam emitted from the semiconductor laser device 11 is
It is guided to the objective lens 13.

【0017】第一の偏光分離手段12は、例えば、偏光
性ホログラムであって、常光を透過させ且つ異常光を回
折するように構成されている。これにより、後述するよ
うに、偏光分離手段12は、光磁気ディスクMOの記録
面からの戻り光をプラスマイナス1次回折光に分離する
ようになっている。
The first polarization separation means 12 is, for example, a polarization hologram and is configured to transmit ordinary light and diffract extraordinary light. As a result, the polarization splitting means 12 splits the return light from the recording surface of the magneto-optical disk MO into plus / minus first-order diffracted light, as will be described later.

【0018】ここで、第一の偏光分離手段12は、図2
に示すように、複屈折回折格子型素子として構成されて
おり、ニオブ酸リチウムから成る基板12aと、この基
板12aの入射側に、例えば安息香酸によるプロトン交
換法により形成された格子12bとから構成されてい
る。これにより、この格子12bの領域にて、常光に対
する屈折率は、0.13程度増大し、また異常光に対す
る屈折率は、0.04程度減少する。
Here, the first polarized light separating means 12 is shown in FIG.
As shown in FIG. 4, it is configured as a birefringence diffraction grating type element, and includes a substrate 12a made of lithium niobate and a grating 12b formed on the incident side of the substrate 12a by, for example, a proton exchange method using benzoic acid. Has been done. As a result, in the region of the grating 12b, the refractive index for ordinary light is increased by about 0.13, and the refractive index for extraordinary light is decreased by about 0.04.

【0019】ここで、第一の偏光分離手段12は、上記
プロトン交換による格子12bの上に、図3に示すよう
に、透過する常光線が受ける位相差をキャンセルするよ
うに選定された厚さの誘電体から成る第一の位相補償膜
12cが設けられている。これにより、見かけ上、異常
光線に対してのみプロトン交換による屈折率変化が生ず
るように、観察されることになる。
Here, the first polarized light separating means 12 has a thickness selected on the grating 12b formed by the above-mentioned proton exchange so as to cancel the phase difference received by the transmitting ordinary ray as shown in FIG. The first phase compensation film 12c made of the dielectric material is provided. Thereby, it is apparent that the extraordinary ray is observed so that the refractive index change due to the proton exchange occurs.

【0020】実際には、上記位相補償膜12c,12d
による位相調整は、以下のように行なわれる。即ち、格
子12bのデューティ比が50パーセントである場合、
0次光の回折効率η0及びプラスマイナス1次光の回折
効率η1は、その位相差φにより、それぞれ、
In practice, the phase compensation films 12c and 12d are
The phase adjustment by is performed as follows. That is, when the duty ratio of the grating 12b is 50%,
The diffraction efficiency η0 of the 0th-order light and the diffraction efficiency η1 of the plus / minus 1st-order light are respectively determined by the phase difference φ.

【数1】 [Equation 1]

【数2】 で表わされる。従って、基板12aの光学軸が半導体レ
ーザ素子11からの光ビームの偏光方向に垂直になるよ
うに、即ち出射光が常光となるように設定されると共
に、常光に対する位相差φが約70度,異常光に対する
位相差φが約130度または230度に設定されると、
上述した複屈折回折格子型素子12は、常光に対して、
0次光67パーセント,プラスマイナス1次光27パー
セントとなり、また異常光に対して、0次光18パーセ
ント,プラスマイナス1次光76パーセントとなるの
で、エンハンス機能が実現される。
[Equation 2] Is represented by Therefore, the optical axis of the substrate 12a is set to be perpendicular to the polarization direction of the light beam from the semiconductor laser element 11, that is, the emitted light is the ordinary light, and the phase difference φ with respect to the ordinary light is about 70 degrees. When the phase difference φ for extraordinary light is set to about 130 degrees or 230 degrees,
The birefringence diffraction grating type element 12 described above is
67% of the 0th-order light and 27% of the plus / minus primary light, and 18% of the 0th-order light and 76% of the plus / minus 1st-order light with respect to the extraordinary light, the enhancement function is realized.

【0021】かくして、複屈折回折格子型素子12は、
図2に示すように、入射光を、光学軸Xの方向に関し
て、垂直な方向の常光と平行な方向の異常光に分割する
ことになる。即ち、入射する戻り光ビームは、図示のよ
うに、常光が0次光として透過すると共に、異常光がプ
ラスマイナス1次光として、回折されることになる。
Thus, the birefringent diffraction grating type element 12 is
As shown in FIG. 2, with respect to the direction of the optical axis X, the incident light is split into normal light in a direction perpendicular to the normal light and extraordinary light in a direction parallel to the normal light. That is, in the incident return light beam, the ordinary light is transmitted as the 0th-order light and the extraordinary light is diffracted as the plus / minus 1st-order light, as shown in the figure.

【0022】対物レンズ13は、凸レンズであって、第
一の偏光分離手段12を透過した光ビームを、回転駆動
される光磁気ディスクMOの記録面の所望のトラック上
に結像させる。
The objective lens 13 is a convex lens, and forms an image of the light beam that has passed through the first polarization separation means 12 on a desired track on the recording surface of the magneto-optical disk MO that is rotationally driven.

【0023】光磁気ディスクMOの記録面に照射された
光ビームは、戻り光ビームとして、再び対物レンズ13
を介して第一の偏光分離手段12に導かれる。そして、
この第一の分高分離手段12により回折された戻り光ビ
ームのプラスマイナス1次回折光は、それぞれ第二の偏
光分離手段14に入射されることになる。
The light beam applied to the recording surface of the magneto-optical disc MO is returned to the objective lens 13 as a return light beam.
Is guided to the first polarized light separating means 12 via. And
The plus / minus first-order diffracted light of the return light beam diffracted by the first height separation means 12 is incident on the second polarization separation means 14, respectively.

【0024】第二の偏光分離手段14は、半導体レーザ
光源11からの光ビームを回避するように、基材41の
レーザ光源11と対向する面に設けられており、図1に
おいて左右に分割して配設されている。この左右の各部
分14a,14bは、それぞれ偏光性ホログラムであっ
て、異常光を回折するように構成されている。これによ
り、偏光分離手段14は、その左右の各部分14a,1
4bが、それぞれ第一の偏光分離手段12からのプラス
マイナス1次回折光を、0次光とプラスマイナス1次光
に分離するようになっている。
The second polarized light separating means 14 is provided on the surface of the base material 41 facing the laser light source 11 so as to avoid the light beam from the semiconductor laser light source 11, and is divided into left and right in FIG. Are arranged. The left and right portions 14a and 14b are polarization holograms, respectively, and are configured to diffract extraordinary light. As a result, the polarized light separating means 14 has the left and right parts 14a, 1
4b separates the plus / minus first-order diffracted light from the first polarized light separating means 12 into 0th-order light and plus / minus 1st-order light.

【0025】ここで、第二の偏光分離手段14は、第一
の偏光分離手段と同様に複屈折回折格子型素子として構
成されていると共に、図4に示すように、プロトン交換
による格子14aの上に、透過する異常光線が受ける位
相差をキャンセルするように選定された厚さの誘電体か
ら成る第一の位相補償膜11dが設けられている。具体
的には、第二の偏光分離手段14は、基板の光学軸が、
半導体レーザ素子11からの光ビームの偏光方向に対し
て45度の角度をなすように配設されており、常光に対
する位相差φが0度,異常光に対する位相差φが180
度になるように設定されている。
Here, the second polarized light separating means 14 is constructed as a birefringent diffraction grating type element like the first polarized light separating means, and as shown in FIG. A first phase compensation film 11d made of a dielectric material having a thickness selected so as to cancel the phase difference received by the extraordinary ray that passes therethrough is provided on the top. Specifically, in the second polarization splitting means 14, the optical axis of the substrate is
It is arranged so as to form an angle of 45 degrees with respect to the polarization direction of the light beam from the semiconductor laser element 11, and the phase difference φ for ordinary light is 0 degree and the phase difference φ for abnormal light is 180 degrees.
It is set so that it becomes a degree.

【0026】光検出器15は、第二の偏光分離手段14
により分離された0次光及びプラスマイナス1次回折光
の各光ビームに対して、それぞれ受光部を有するように
構成されている。
The photodetector 15 has a second polarization separation means 14
Each of the 0th-order light and the plus / minus 1st-order diffracted light beams separated by is provided with a light receiving portion.

【0027】上記グレーティング16は、入射光を回折
させるものであり、半導体レーザ素子11から出射した
光ビームを、接線方向に0次回折光から成る主ビーム及
びプラスマイナス1次回折光から成るサイドビームの少
なくとも3本の光ビームに分離するために使用される。
The grating 16 is for diffracting the incident light, and at least the main beam composed of the 0th order diffracted light and the side beam composed of the plus and minus 1st order diffracted light of the light beam emitted from the semiconductor laser element 11 in the tangential direction. It is used to split into three light beams.

【0028】ここで、上記第一の偏光分離手段12及び
第二の偏光手段14は、図2に示すように、複屈折回折
格子型素子として構成されているが、これに限らず、例
えば図5に示すように、構造複屈折回折格子として構成
されていてもよい。図5において、構造複屈折回折格子
17は、構造複屈折体の方向を、複屈折回折格子型素子
における光学軸と同じ方向に設定する。そして、位相差
は、図6に示すように、構造複屈折体の個々の微細構造
17a間のピッチP1や微細構造17a自体のピッチP
2及び長さL等を適宜に設定することによって、調整さ
れる。この場合、基材41内部に、複屈折性がないこと
から、同一基材41の両面に、構造複屈折体を配設する
ことにより、二つの構造複屈折回折格子が一体に構成さ
れることになるので、二つの偏光分離手段12,14の
相互の位置調整が不要になり、位置決め精度が向上す
る。
Here, the first polarization separating means 12 and the second polarization means 14 are constructed as birefringence diffraction grating type elements as shown in FIG. As shown in FIG. 5, it may be configured as a structural birefringent diffraction grating. In FIG. 5, the structural birefringence diffraction grating 17 sets the direction of the structural birefringence body in the same direction as the optical axis of the birefringence diffraction grating type element. The phase difference is, as shown in FIG. 6, the pitch P1 between the individual fine structures 17a of the structural birefringent body or the pitch P of the fine structures 17a themselves.
It is adjusted by setting 2 and the length L as appropriate. In this case, since there is no birefringence inside the base material 41, two structural birefringence diffraction gratings are integrally formed by disposing the structural birefringence bodies on both surfaces of the same base material 41. Therefore, it is not necessary to adjust the mutual positions of the two polarized light separating means 12 and 14, and the positioning accuracy is improved.

【0029】かくして、半導体レーザ素子11から出射
されたP偏光の光ビームは、グレーティング16により
接線方向に関して0次回折光及びプラスマイナス1次回
折光に分離されて、第一の偏光分離手段12を透過した
後、対物レンズ13を介して、光磁気ディスクMOの信
号記録面に収束される。正確には、0次回折光が、記録
面上の所定トラック上に、またプラスマイナス1次回折
光は、この所定トラックを挟んで前後に離間した位置に
それぞれ照射されることになる。
Thus, the P-polarized light beam emitted from the semiconductor laser device 11 is separated by the grating 16 into 0th order diffracted light and plus or minus 1st order diffracted light and transmitted through the first polarized light separating means 12. After that, it is converged on the signal recording surface of the magneto-optical disk MO via the objective lens 13. To be precise, the 0th-order diffracted light is applied to a predetermined track on the recording surface, and the plus / minus 1st-order diffracted light is applied to the positions separated by the front and rear sides of the predetermined track.

【0030】光磁気ディスクMOの信号記録面で反射さ
れると共にカー効果によって偏光面が回転されてS偏光
成分のMO信号(光磁気信号)を含む戻り光ビームは、
再び対物レンズ13を介して、第一の偏光分離手段12
に入射する。ここで、戻り光ビームは、第一の偏光分離
手段12により、常光の0次光が透過すると共に、異常
光のプラスマイナス1次回折光が、それぞれ回折される
ことにより、第二の偏光分離手段14の各部分14a,
14bに入射する。
The return light beam including the MO signal (magneto-optical signal) of the S-polarized component, which is reflected by the signal recording surface of the magneto-optical disk MO and whose polarization plane is rotated by the Kerr effect,
Again via the objective lens 13, the first polarized light separating means 12
Incident on. Here, in the return light beam, the 0th-order light of ordinary light is transmitted by the first polarization separation means 12, and the plus / minus 1st-order diffracted light of extraordinary light is diffracted, respectively, so that the second polarization separation means is obtained. Each part 14a of 14,
It is incident on 14b.

【0031】ここで、第二の偏光分離手段14の部分1
4aにおいては、第一の偏光分離手段12により回折さ
れたプラス1次回折光が入射し、その0次光が透過する
と共に、1次回折光が、図示のように屈折する。また、
第二の偏光分離手段14の部分14bにおいては、第一
の偏光分離手段12により回折されたマイナス1次回折
光が入射し、その0次光が透過すると共に、マイナス1
次回折光が、図示のように屈折する。
Here, the part 1 of the second polarization separation means 14
At 4a, the plus first-order diffracted light diffracted by the first polarized light separating means 12 is incident, the zero-order light thereof is transmitted, and the first-order diffracted light is refracted as shown. Also,
In the portion 14b of the second polarization splitting means 14, the minus first-order diffracted light diffracted by the first polarization splitting means 12 is incident, the zero-order light is transmitted, and at the same time minus one.
Next-order diffracted light is refracted as shown.

【0032】かくして、第二の偏光分離手段14の部分
14a,14bによる0次光及びプラスマイナス1次回
折光は、それぞれ光検出器15の各部分15a,15b
に入射することになる。即ち、第二の偏光分離手段14
の部分14aによる0次光及びマイナス1次回折光は、
光検出器15の部分15aに入射し、また第二の偏光分
離手段14の部分14bによる0次光及びプラス1次回
折光は、光検出器15の部分15bに入射することにな
る。
Thus, the 0th-order light and the plus / minus 1st-order diffracted light by the portions 14a and 14b of the second polarization separation means 14 are respectively the portions 15a and 15b of the photodetector 15.
Will be incident on. That is, the second polarized light separating means 14
The 0th-order light and the minus 1st-order diffracted light by the portion 14a of
The 0th-order light and the positive 1st-order diffracted light from the portion 14b of the second polarization splitting means 14 are incident on the portion 15b of the photodetector 15, and are incident on the portion 15b of the photodetector 15.

【0033】ここで、光検出器15は、図7に示すよう
に、構成されている。即ち、光検出器15は、中心に対
して左右に分離された各部分15a,15bが、それぞ
れグレーティング16により光磁気ディスクMOの接線
方向に三分割され且つ第一の偏光分離手段12により光
磁気ディスクMOの半径方向に分離され各ビームを受光
するように、光磁気ディスクMOの接線方向に並んで配
設された受光部18,19,20と、受光部21,2
2,23を備えている。
Here, the photodetector 15 is constructed as shown in FIG. That is, in the photodetector 15, the respective portions 15a and 15b which are separated into the right and left with respect to the center are divided into three in the tangential direction of the magneto-optical disk MO by the grating 16 respectively, and the first polarized light separating means 12 separates the magneto-optical information. The light receiving portions 18, 19, 20 and the light receiving portions 21, 22 arranged side by side in the tangential direction of the magneto-optical disk MO so as to receive the respective beams separated in the radial direction of the disk MO.
2 and 23 are provided.

【0034】さらに、各受光部19,22は、それぞれ
第二の偏光分離手段14により上記半径方向に分離され
た二つのビームを受光するように、半径方向に関して1
9a,19b,22a,22bに二分割されていると共
に、接線方向に関して、比較的細い中央部と、その両側
の側部に三分割されている。
Further, each of the light receiving portions 19 and 22 is set to 1 in the radial direction so as to receive the two beams separated in the radial direction by the second polarization splitting means 14, respectively.
It is divided into two parts 9a, 19b, 22a, 22b, and is divided into three parts in the tangential direction, a relatively thin central part and side parts on both sides thereof.

【0035】これにより、受光部19には、グレーティ
ング16による0次光の第一の偏光分離手段12による
1次回折光が入射し、受光部18,20には、グレーテ
ィング16によるプラスマイナス1次光の第一の偏光分
離手段12による1次回折光が入射する。また、受光部
22には、グレーティング16による0次光の第一の偏
光分離手段12によるマイナス1次回折光が入射し、受
光部21,23には、グレーティング16によるプラス
マイナス1次光の第一の偏光分離手段12によるマイナ
ス1次回折光が入射する。
As a result, the 1st-order diffracted light of the 0th-order light from the grating 16 by the first polarization splitting means 12 enters the light-receiving portion 19, and the plus-minus 1st-order light from the grating 16 enters the light-receiving portions 18 and 20. The first-order diffracted light from the first polarized light separating means 12 enters. The minus first-order diffracted light of the 0th-order light from the grating 16 by the first polarization splitting means 12 is incident on the light-receiving part 22, and the first plus-minus first-order light from the grating 16 is incident on the light-receiving parts 21 and 23. The minus first-order diffracted light by the polarized light separating means 12 is incident.

【0036】かくして、受光部19aの側部は、検出信
号aを出力し、中央部は、検出信号bを出力する。ま
た、受光部19bの側部は、検出信号cを出力し、中央
部は、検出信号dを出力する。
Thus, the side portion of the light receiving portion 19a outputs the detection signal a and the central portion outputs the detection signal b. The side portion of the light receiving portion 19b outputs the detection signal c, and the central portion outputs the detection signal d.

【0037】これに対して、受光部22aの側部は、検
出信号eを出力し、中央部は、検出信号fを出力する。
また、受光部22bの側部は、検出信号gを出力し、中
央部は、検出信号hを出力する。
On the other hand, the side portion of the light receiving portion 22a outputs the detection signal e, and the central portion outputs the detection signal f.
Further, the side portion of the light receiving portion 22b outputs the detection signal g, and the central portion outputs the detection signal h.

【0038】また、受光部18,21は、検出信号iを
出力し、受光部20,23は、検出信号jを出力する。
Further, the light receiving portions 18 and 21 output the detection signal i, and the light receiving portions 20 and 23 output the detection signal j.

【0039】従って、光検出器15の各受光部19乃至
23からの検出信号a,b,c,d,e,f,g,h,
i,jは、図7に示すように、それぞれアンプ24,2
5,26,27,28,29,30,31,32,33
によって増幅された後、適宜の演算を行なうことによ
り、光磁気ディスクMOの読取信号及びフォーカスエラ
ー信号,トラッキングエラー信号等の信号が生成され
る。例えば、MO再生信号MOは、マトリックスアンプ
34によって、
Therefore, the detection signals a, b, c, d, e, f, g, h, from the respective light receiving portions 19 to 23 of the photodetector 15 are detected.
i and j are respectively amplifiers 24 and 2 as shown in FIG.
5,26,27,28,29,30,31,32,33
After being amplified by, the signals such as the read signal of the magneto-optical disk MO, the focus error signal, and the tracking error signal are generated by performing an appropriate calculation. For example, the MO reproduction signal MO is output by the matrix amplifier 34 by

【数3】 で与えられる。また、フォーカシングエラー信号FE
は、マトリックスアンプ35によって、所謂差動三分割
法により、
(Equation 3) Given in. Also, the focusing error signal FE
Is a matrix amplifier 35, by a so-called differential three-division method,

【数4】 で与えられ、さらにトラッキングエラー信号TEは、マ
トリックスアンプ26により、プッシュプル法により、
[Equation 4] And the tracking error signal TE is given by the matrix amplifier 26 by the push-pull method.

【数5】 で与えられる。(Equation 5) Given in.

【0040】尚、光磁気ディスクMOの代わりに、ピッ
ト信号が記録された例えばコンパクトディスク等の光デ
ィスクの再生の場合には、ピット再生信号は、マトリッ
クスアンプ37によって、
In the case of reproducing an optical disk such as a compact disk in which a pit signal is recorded instead of the magneto-optical disk MO, the pit reproduction signal is output by the matrix amplifier 37.

【数6】 で与えられる。(Equation 6) Given in.

【0041】上述した実施例においては、第一及び第二
の偏光分離手段は、複屈折回折格子型素子または構造複
屈折回折格子として構成されているが、これに限らず、
他の構成の偏光性ホログラムとして構成されていてもよ
いことは明らかである。また、トラッキングエラー信号
TE及びフォーカシングエラー信号FEを得る必要がな
く、MO信号のみ得られればよい場合には、上記実施例
におけるグレーティング16と光検出器15の受光部1
8,20,21,23は不要である。
In the above-mentioned embodiment, the first and second polarized light separating means are configured as a birefringence diffraction grating type element or a structural birefringence diffraction grating, but the invention is not limited to this.
Obviously, it may be configured as a polarization hologram having another configuration. Further, when it is not necessary to obtain the tracking error signal TE and the focusing error signal FE and only the MO signal needs to be obtained, the grating 16 and the light receiving unit 1 of the photodetector 15 in the above-described embodiment.
8, 20, 21, 23 are unnecessary.

【0042】[0042]

【発明の効果】以上述べたように、本発明によれば、従
来のようにビームスプリッタやウォラストンプリズムを
使用することなく、偏光分離手段によって、戻り光ビー
ムが偏光分離されるので、光学ピックアップ全体が小型
に且つ低コストで構成されることになる。
As described above, according to the present invention, the return light beam is polarized and separated by the polarization separating means without using a beam splitter or a Wollaston prism as in the conventional case. The whole structure will be small in size and low in cost.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による光学ピックアップの一実施例の構
成を示す概略図である。
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an embodiment of an optical pickup according to the present invention.

【図2】図1の光学ピックアップにおける偏光分離手段
としての複屈折回折格子型素子の構成例と入射光線の偏
光方向を示す平面図である。
FIG. 2 is a plan view showing a configuration example of a birefringence diffraction grating type element as polarization separation means in the optical pickup of FIG. 1 and a polarization direction of an incident light ray.

【図3】図2の複屈折回折格子型素子の部分拡大断面図
である。
FIG. 3 is a partially enlarged sectional view of the birefringence diffraction grating type element of FIG.

【図4】図2の複屈折回折格子型素子に他の構成例にお
ける部分拡大断面図である。
FIG. 4 is a partially enlarged cross-sectional view of another configuration example of the birefringence diffraction grating type element of FIG.

【図5】図1の光学ピックアップにおける偏光分離手段
としての構造複屈折回折格子の構成例と入射光線の偏光
方向を示す平面図である。
5 is a plan view showing a structural example of a structural birefringence diffraction grating as a polarization separation means in the optical pickup of FIG. 1 and a polarization direction of an incident light beam.

【図6】図5の構造複屈折回折格子の部分拡大断面図で
ある。
6 is a partially enlarged sectional view of the structural birefringence diffraction grating of FIG.

【図7】図1の光学ピックアップにおける光検出器と信
号処理回路の構成を示す回路図である。
7 is a circuit diagram showing a configuration of a photodetector and a signal processing circuit in the optical pickup of FIG.

【図8】従来の光学ピックアップの一例の構成を示す概
略図である。
FIG. 8 is a schematic diagram showing a configuration of an example of a conventional optical pickup.

【図9】図8の光学ピックアップにおける偏光性ホログ
ラム及び光検出器を示す拡大斜視図である。
9 is an enlarged perspective view showing a polarization hologram and a photodetector in the optical pickup of FIG.

【図10】図8の光学ピックアップにおける光検出器の
拡大斜視図である。
10 is an enlarged perspective view of a photodetector in the optical pickup of FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 光学ピックアップ 11 半導体レーザ素子 12 第一の偏光分離手段 12a 基板 12b 格子 12c 位相補償膜 13 対物レンズ 14 第二の偏光分離手段 14a 格子 14b 位相補償膜 15 光検出器 16 グレーティング 17 構造複屈折回折格子 18,19,20,21,22,23 受光部 24,25,26,27,28,29,30,31,3
2,33 アンプ 34,35,36,37 マトリックスアンプ
10 Optical Pickup 11 Semiconductor Laser Element 12 First Polarization Separation Means 12a Substrate 12b Grating 12c Phase Compensation Film 13 Objective Lens 14 Second Polarization Separation Means 14a Grating 14b Phase Compensation Film 15 Photodetector 16 Grating 17 Structure Birefringence Diffraction Grating 18, 19, 20, 21, 22, 23 Light receiving part 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 31, 3,
2,33 Amplifier 34,35,36,37 Matrix amplifier

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 光ビームを出射する光源と、 この光源から出射された光ビームを光磁気記録媒体の記
録面上に合焦するように照射する対物レンズと、 この光源と対物レンズとの間に配設された基材の一面の
設けられ、前記光源からの光ビームと、前記対物レンズ
を介した光磁気記録媒体の記録面からの戻り光ビームと
を光磁気記録媒体の半径方向に分離するための第一の偏
光分離手段と、 前記基材の他の面に設けられると共に、前記第一の偏光
分離手段によって分離された戻り光ビームを分離する第
二の偏光分離手段と、 この第二の偏光分離手段で分離された各光ビームを受光
する光検出器とを備える光学ピックアップ。
1. A light source for emitting a light beam, an objective lens for irradiating the light beam emitted from the light source so as to focus on a recording surface of a magneto-optical recording medium, and a space between the light source and the objective lens. A light beam from the light source and a return light beam from the recording surface of the magneto-optical recording medium via the objective lens are separated in the radial direction of the magneto-optical recording medium. A first polarized light separating means for separating the second light, and a second polarized light separating means which is provided on the other surface of the substrate and separates the return light beam separated by the first polarized light separating means; An optical pickup comprising: a photodetector for receiving each light beam separated by the second polarization separation means.
【請求項2】 前記第一及び第二の偏光分離手段が、そ
れぞれ複屈折回折格子型素子であることを特徴とする請
求項1に記載の光学ピックアップ。
2. The optical pickup according to claim 1, wherein each of the first and second polarized light separating means is a birefringence diffraction grating type element.
【請求項3】 前記第一及び第二の偏光分離手段が、そ
れぞれ偏光性ホログラムであることを特徴とする請求項
1に記載の光学ピックアップ。
3. The optical pickup according to claim 1, wherein each of the first and second polarized light separating means is a polarization hologram.
【請求項4】 前記第一の偏光分離手段が、前記基材の
一面に形成された複屈折回折格子型素子であって、前記
第二の偏光分離手段が、前記基材の他面に形成された複
屈折結晶であることを特徴とする請求項2に記載の光学
ピックアップ。
4. The birefringence diffraction grating type element formed on one surface of the base material, wherein the first polarized light separating means is formed on the other surface of the base material. The optical pickup according to claim 2, wherein the optical pickup is a birefringent crystal.
【請求項5】 前記第一及び第二の偏光分離手段と、前
記光源及び光検出器との全ての部材が、一つのパッケー
ジとして一体に構成されていることを特徴とする請求項
1に記載の光学ピックアップ。
5. The first and second polarized light separating means, and all members of the light source and the photodetector are integrally configured as one package. Optical pickup.
JP12446395A 1995-04-25 1995-04-25 Optical pickup Pending JPH08297875A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12446395A JPH08297875A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Optical pickup

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12446395A JPH08297875A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Optical pickup

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08297875A true JPH08297875A (en) 1996-11-12

Family

ID=14886152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP12446395A Pending JPH08297875A (en) 1995-04-25 1995-04-25 Optical pickup

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08297875A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004068481A1 (en) * 2003-01-29 2004-08-12 Sharp Kabushiki Kaisha Optical integrated unit and optical pickup device provided with it
WO2005112015A1 (en) * 2004-05-14 2005-11-24 Sharp Kabushiki Kaisha Optical integrated unit and optical pickup device
WO2005119673A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Polarization splitting element and optical pickup device
JP2006301113A (en) * 2005-04-18 2006-11-02 Ricoh Co Ltd Multi-beam light source unit, optical scanner, image forming apparatus, light beam composing element, optical system and optical equipment
CN100337279C (en) * 2003-05-14 2007-09-12 夏普株式会社 Pickup for magneto-optical recording medium

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004068481A1 (en) * 2003-01-29 2004-08-12 Sharp Kabushiki Kaisha Optical integrated unit and optical pickup device provided with it
CN100337279C (en) * 2003-05-14 2007-09-12 夏普株式会社 Pickup for magneto-optical recording medium
US7397752B2 (en) 2003-05-14 2008-07-08 Sharp Kabushiki Kaisha Pickup for magneto-optical recording medium
WO2005112015A1 (en) * 2004-05-14 2005-11-24 Sharp Kabushiki Kaisha Optical integrated unit and optical pickup device
WO2005119673A1 (en) * 2004-06-03 2005-12-15 Sharp Kabushiki Kaisha Polarization splitting element and optical pickup device
JP2006301113A (en) * 2005-04-18 2006-11-02 Ricoh Co Ltd Multi-beam light source unit, optical scanner, image forming apparatus, light beam composing element, optical system and optical equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3155287B2 (en) Optical information recording / reproducing device
US6947213B2 (en) Diffractive optical element that polarizes light and an optical pickup using the same
JP3047314B2 (en) Light head
US20090257339A1 (en) Optical head device and optical information recording or reproducing apparatus
JP3732268B2 (en) Optical head for optical disk device
JPH09180245A (en) Recording and reproducing optical pickup usable for disks of different thickness
US7710849B2 (en) Optical head device and optical information recording or reproducing device
US6556532B2 (en) Optical pickup device
JPH08297875A (en) Optical pickup
JP2616018B2 (en) Optical head device
JP2570563B2 (en) Optical head device
JPH10134394A (en) Optical pickup device and its adjusting method
JP3047630B2 (en) Magneto-optical head device
JPH08153336A (en) Optical head device
JPH08287510A (en) Optical pickup device
JPH0792319A (en) Optical element and optical device using the same
JPH0519852Y2 (en)
JP2993273B2 (en) Magneto-optical head device
JP3558963B2 (en) Optical pickup device
JPH11353728A (en) Magneto-optical head
JP2716791B2 (en) Optical information recording / reproducing device
JP3123216B2 (en) Magneto-optical head device
JPH08111039A (en) Optical pickup device
JPH0823605B2 (en) Polarization diffraction element and optical pickup device including the same
JPH0935352A (en) Optical pickup device