JPH08297596A - Sampling trace circuit - Google Patents

Sampling trace circuit

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Publication number
JPH08297596A
JPH08297596A JP7101182A JP10118295A JPH08297596A JP H08297596 A JPH08297596 A JP H08297596A JP 7101182 A JP7101182 A JP 7101182A JP 10118295 A JP10118295 A JP 10118295A JP H08297596 A JPH08297596 A JP H08297596A
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JP
Japan
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trace
data
input
mcu
output signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP7101182A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hidefumi Mitsumoto
秀文 光本
Yoichi Takahata
洋一 高畑
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
Original Assignee
Renesas Design Corp
Mitsubishi Electric Corp
Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Design Corp, Mitsubishi Electric Corp, Mitsubishi Electric Semiconductor Systems Corp filed Critical Renesas Design Corp
Priority to JP7101182A priority Critical patent/JPH08297596A/en
Publication of JPH08297596A publication Critical patent/JPH08297596A/en
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Abstract

PURPOSE: To obtain a sampling trace circuit of an emulator which can confirm the transition of data and its time interval without recording any unnecessary data. CONSTITUTION: A change detection means 16 monitors trace data 4 from an MCU applied system 1 and when the trace data do not change, a write inhibiting means 18 inhibits a write permission signal 12 outputted by a judging means 9 when sampling trace conditions are met from being inputted to a trace memory 5 and a trace memory 8 for time data to prevent the trace data from being recorded, and only when a change of the inputted trace data is detected and meets the sampling trace conditions, the trace data are recorded.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は、マイクロコンピュー
タ(以下、MCUという)のプログラム開発時に使用さ
れるエミュレータにおけるサンプリングトレース回路に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a sampling trace circuit in an emulator used when developing a program for a microcomputer (hereinafter referred to as MCU).

【0002】[0002]

【従来の技術】図2は従来のサンプリングトレース回路
を示すブロック図である。図において、1はMCUを利
用したMCU応用システムであり、2はこのMCU応用
システム1内のMCU、3はこのMCU2に接続された
メモリや入出力ポートなどの資源である。4はMCU2
と資源3との間でやりとりされるトレースデータとして
のMCU入出力信号であり、5はこのMCU入出力信号
4が記録されるトレースメモリとしてのMCU入出力信
号用トレースメモリである。6は時刻データを発生する
時刻データ生成回路であり、7はこの時刻データ生成回
路6によって生成された時刻データ、8はこの時刻デー
タ7が記録される時刻データ用トレースメモリである。
2. Description of the Related Art FIG. 2 is a block diagram showing a conventional sampling trace circuit. In the figure, 1 is an MCU application system using an MCU, 2 is an MCU in the MCU application system 1, and 3 is a resource such as a memory and an input / output port connected to the MCU 2. 4 is MCU2
And a resource 3 are MCU input / output signals as trace data, and 5 is an MCU input / output signal trace memory as a trace memory in which the MCU input / output signal 4 is recorded. 6 is a time data generation circuit for generating time data, 7 is time data generated by the time data generation circuit 6, and 8 is a time data trace memory in which the time data 7 is recorded.

【0003】9はターゲットとなるMCU2が所定のサ
ンプリングトレース条件を満たすか否かを判定する判定
手段としてのサンプリングトレース回路であり、10は
このサンプリングトレース回路9内にあって、送られて
きたMCU入出力信号4が格納されるMCU入出力信号
格納部、11は同じくサンプリングトレース回路9内に
あって、あらかじめ設定されたサンプリングトレース条
件が格納されるサンプリングトレース条件格納部であ
る。12はサンプリングトレース条件が一致した時に、
サンプリングトレース回路9よりMCU入出力信号用ト
レースメモリ5および時刻データ用トレースメモリ8に
送られる書き込み許可信号であり、13は同じくサンプ
リングトレース回路9よりMCU入出力信号用トレース
メモリ5および時刻データ用トレースメモリ8に送られ
る書き込みメモリアドレスである。
Reference numeral 9 is a sampling trace circuit as a judging means for judging whether or not the target MCU 2 satisfies a predetermined sampling trace condition. Reference numeral 10 is in the sampling trace circuit 9 and is sent to the MCU. The MCU input / output signal storage unit 11 in which the input / output signal 4 is stored is also a sampling trace condition storage unit in the sampling trace circuit 9 in which preset sampling trace conditions are stored. 12 is when the sampling trace conditions match,
The write enable signal is sent from the sampling trace circuit 9 to the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8. Reference numeral 13 is also from the sampling trace circuit 9 to the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace. It is a write memory address sent to the memory 8.

【0004】次に動作について説明する。エミュレータ
はそのトレース機能により、MCU応用システム1内の
MCU2とメモリや入出力ポートなどの各種資源3の間
で授受されるMCU入出力信号4を記録しておき、MC
U2の内部動作の履歴、および各資源3の情報を外部か
ら参照できるようにしている。また、このMCU入出力
信号4の記録は、サンプリングトレースモードにおいて
ターゲットとなるMCU2がある一定の条件を満たした
場合にのみ行われるようになっている。
Next, the operation will be described. With the trace function, the emulator records the MCU input / output signal 4 transmitted / received between the MCU 2 in the MCU application system 1 and various resources 3 such as memory and input / output port.
The history of the internal operation of U2 and the information of each resource 3 can be referred to from the outside. The recording of the MCU input / output signal 4 is performed only when the target MCU 2 in the sampling trace mode satisfies a certain condition.

【0005】時刻データ生成回路6は常に時刻データ7
を発生しており、この時刻データ7は時刻データ用トレ
ースメモリ8に入力されている。一方、MCU応用シス
テム1内においてMCU2と資源3の間でやりとりされ
るMCU入出力信号4は、常にMCU入出力信号用トレ
ースメモリ5およびサンプリングトレース回路9に入力
されている。サンプリングトレース回路9ではそのMC
U応用システム1からのMCU入出力信号4をMCU入
出力信号格納部10に一旦格納し、そのMCU入出力信
号格納部10の内容をサンプリングトレース条件格納部
11の内容と常に比較している。
The time data generation circuit 6 always outputs the time data 7
And the time data 7 is input to the time data trace memory 8. On the other hand, the MCU input / output signal 4 exchanged between the MCU 2 and the resource 3 in the MCU application system 1 is always input to the MCU input / output signal trace memory 5 and the sampling trace circuit 9. In the sampling trace circuit 9, the MC
The MCU input / output signal 4 from the U application system 1 is temporarily stored in the MCU input / output signal storage unit 10, and the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 are constantly compared with the contents of the sampling trace condition storage unit 11.

【0006】これらMCU入出力信号格納部10とサン
プリングトレース条件格納部11の内容が一致した場
合、サンプリングトレース回路9はMCU入出力信号用
トレースメモリ5および時刻データ用トレースメモリ8
に対して、書き込み許可信号12と書き込みメモリアド
レス13とを出力する。これよって、送られてきたMC
U入出力信号4がサンプリングトレース条件格納部11
に設定されているサンプリングトレース条件と一致した
場合にのみ、MCU入出力信号用トレースメモリ5にM
CU入出力信号4が記録され、その時の時刻データ7が
時刻データ用トレースメモリ8に記録される。
When the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 and the sampling trace condition storage unit 11 match each other, the sampling trace circuit 9 causes the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8 to operate.
In response, the write enable signal 12 and the write memory address 13 are output. MC sent by this
The U input / output signal 4 is the sampling trace condition storage unit 11
Only when the sampling trace conditions set in are matched, the MCU input / output signal trace memory 5 has M
The CU input / output signal 4 is recorded, and the time data 7 at that time is recorded in the time data trace memory 8.

【0007】なお、上記サンプリングトレース回路で
は、MCU入出力信号格納部10とサンプリングトレー
ス条件格納部11の内容が一致した場合のみ、MCU入
出力信号用トレースメモリ5および時刻データ用トレー
スメモリ8にMCU入出力信号4あるいは時刻データ7
を記録するものとしたが、MCU入出力信号格納部10
とサンプリングトレース条件格納部11の内容が不一致
である場合、あるいはその特定ビットの比較結果や大小
関係の比較結果等によって、MCU入出力信号用トレー
スメモリ5および時刻データ用トレースメモリ8の書き
込みを判定するようにしてもよい。
In the above sampling trace circuit, the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8 are connected to the MCU only when the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 and the sampling trace condition storage unit 11 match. Input / output signal 4 or time data 7
However, the MCU input / output signal storage unit 10
And the contents of the sampling trace condition storage unit 11 do not match, or whether the writing to the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8 is determined based on the comparison result of the specific bit or the comparison result of the magnitude relationship. You may do it.

【0008】ここで、このような従来のエミュレータに
おけるサンプリングトレース回路に関連のある技術につ
いて記載された文献としては、例えば特開平6−959
13号公報、特開平5−313947号公報などがあ
る。
Here, as a document describing a technique related to a sampling trace circuit in such a conventional emulator, for example, Japanese Patent Laid-Open No. 6-959 is known.
13 and Japanese Patent Laid-Open No. 5-313947.

【0009】[0009]

【発明が解決しようとする課題】従来のサンプリングト
レース回路は以上のように構成されているので、MCU
入出力信号4が直前に書き込まれたデータと一致するか
否かの判断は行われておらず、従ってサンプリングトレ
ース条件が一致すれば、データ変化の有無にかかわらず
MCU入出力信号4や時刻データ7が記録されてしま
う。一方、それを記録する側のMCU入出力信号用トレ
ースメモリ5には容量に限界があるため、データの変化
のみを参照したい場合、MCU入出力信号用トレースメ
モリ5には同一のデータしか記録されておらず、データ
の変化が参照できないケースが生ずるという問題点があ
った。
Since the conventional sampling trace circuit is configured as described above, the MCU
Whether or not the input / output signal 4 matches the data written immediately before has not been determined. Therefore, if the sampling trace conditions match, the MCU input / output signal 4 and the time data are irrespective of whether the data changes. 7 is recorded. On the other hand, since the MCU input / output signal trace memory 5 on the recording side has a limited capacity, if only the data change is desired to be referred to, only the same data is recorded in the MCU input / output signal trace memory 5. However, there is a problem in that there are cases where changes in data cannot be referenced.

【0010】この発明は上記のような問題点を解消する
ためになされたものであり、データの遷移に着目して、
MCU入出力信号に変化があった場合にのみ記録するモ
ードを設け、データ遷移およびその時間間隔の確実な参
照が可能なサンプリングトレース回路を得ることを目的
とする。
The present invention has been made in order to solve the above problems, focusing on the transition of data,
It is an object of the present invention to provide a sampling trace circuit capable of surely referring to data transitions and time intervals thereof by providing a mode for recording only when there is a change in the MCU input / output signal.

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段】この発明に係るサンプリ
ングトレース回路は、MCU応用システムからのトレー
スデータを変化検出手段で監視し、トレースデータに変
化が検出されない場合には書き込み阻止手段によって、
サンプリングトレース条件が満たされている場合に判定
手段が出力する書き込み許可信号の、トレースメモリと
時刻データ用トレースメモリへの入力を阻止し、入力さ
れたトレースデータに変化があり、それがサンプリング
トレース条件と一致した場合にのみ、そのトレースデー
タの記録を行うようにしたものである。
The sampling trace circuit according to the present invention monitors the trace data from the MCU application system by the change detecting means, and when the change is not detected in the trace data, by the write inhibiting means,
When the sampling trace condition is satisfied, the write enable signal output by the judging means is blocked from being input to the trace memory and the time data trace memory, and there is a change in the input trace data. The trace data is recorded only when it matches.

【0012】[0012]

【作用】この発明におけるサンプリングトレース回路
は、入力されたトレースデータが直前に記録されたトレ
ースデータと一致するか否かを判断し、一致しない場合
にのみ、サンプリングトレース条件を満たしたトレース
データをトレースメモリに記録するとともに、その時の
時刻データを時刻データ用トレースメモリに記録するこ
とにより、トレースメモリへの同一データの記録を阻止
して、トレースメモリ容量分のデータ遷移の参照を可能
にすると共に、データ遷移時における時間間隔の参照も
可能にする。
The sampling trace circuit according to the present invention determines whether the input trace data matches the trace data recorded immediately before, and traces the trace data satisfying the sampling trace condition only when the trace data does not match. By recording the time data at that time in the time data trace memory while recording in the memory, it is possible to prevent the same data from being recorded in the trace memory and to refer to the data transition of the trace memory capacity. It is also possible to refer to the time interval during data transition.

【0013】[0013]

【実施例】【Example】

実施例1.以下、この発明の一実施例を図について説明
する。図1はこの発明の実施例1によるサンプリングト
レース回路を示すブロック図である。図において、1は
MCU応用システム、2はMCU、3は資源、4はトレ
ースデータとしてのMCU入出力信号、5はトレースメ
モリとしてのMCU入出力信号用トレースメモリ、6は
時刻データ生成回路、7は時刻データ、8は時刻データ
用トレースメモリ、9は判定手段としてのサンプリング
トレース回路、10はMCU入出力信号格納部、11は
サンプリングトレース条件格納部、12は書き込み許可
信号、13は書き込みメモリアドレスであり、図2に同
一符号を付して示した従来のそれらと同一、もしくは相
当部分であるため、詳細な説明は省略する。
Example 1. An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1 is a block diagram showing a sampling trace circuit according to a first embodiment of the present invention. In the figure, 1 is an MCU application system, 2 is an MCU, 3 is a resource, 4 is an MCU input / output signal as trace data, 5 is an MCU input / output signal trace memory as trace memory, 6 is a time data generation circuit, and 7 is a time data generation circuit. Is time data, 8 is a time data trace memory, 9 is a sampling trace circuit as a determination means, 10 is an MCU input / output signal storage unit, 11 is a sampling trace condition storage unit, 12 is a write enable signal, and 13 is a write memory address. Since these are the same as or equivalent to those of the conventional one shown by attaching the same reference numerals in FIG. 2, detailed description thereof will be omitted.

【0014】また、14は直前にMCU入出力信号用ト
レースメモリ5に記録されたMCU入出力信号4を保持
する直前記録データラッチ回路であり、15はこの直前
記録データラッチ回路14より出力される直前記録デー
タラッチ信号である。16はこの直前記録データラッチ
信号15とMCU応用システム1より新たに送られてき
たMCU入出力信号4とを比較して、MCU入出力信号
4の変化を検出する変化検出手段としてのMCU入出力
信号比較回路である。17はこのMCU入出力信号比較
回路16がMCU入出力信号4の変化を検出したとき、
すなわち直前記録データラッチ信号15と新たなMCU
入出力信号4との不一致を検出したときに出力する比較
結果不一致信号である。
Reference numeral 14 is an immediately preceding recording data latch circuit that holds the MCU input / output signal 4 recorded in the MCU input / output signal trace memory 5 immediately before, and 15 is output from the immediately preceding recording data latch circuit 14. This is the immediately preceding recording data latch signal. Reference numeral 16 is an MCU input / output as change detecting means for detecting a change in the MCU input / output signal 4 by comparing the immediately preceding recording data latch signal 15 with the MCU input / output signal 4 newly sent from the MCU application system 1. It is a signal comparison circuit. Reference numeral 17 indicates when the MCU input / output signal comparison circuit 16 detects a change in the MCU input / output signal 4.
That is, the immediately preceding recording data latch signal 15 and the new MCU
This is a comparison result mismatch signal output when a mismatch with the input / output signal 4 is detected.

【0015】18はこの比較結果不一致信号17とサン
プリングトレース条件判定手段9の出力する書き込み許
可信号12の論理積をとり、MCU入出力信号4の変化
が検出されるまで書き込み許可信号12の通過を阻止す
る書き込み阻止手段としてのゲート回路である。19は
このゲート回路18を通過した書き込み許可信号であ
り、MCU入出力信号用トレースメモリ5および時刻デ
ータ用トレースメモリ8に入力され、MCU入出力信号
4あるいは時刻データ7の書き込みを行わせるととも
に、直前記録データラッチ回路14にも入力されて、そ
の時にMCU入出力信号用トレースメモリ5に記録され
たMCU入出力信号4を直前記録データラッチ回路14
に保持させる。
Reference numeral 18 calculates the logical product of the comparison result mismatch signal 17 and the write permission signal 12 output from the sampling trace condition judging means 9, and passes the write permission signal 12 until a change in the MCU input / output signal 4 is detected. It is a gate circuit as a write blocking means for blocking. Reference numeral 19 denotes a write enable signal that has passed through the gate circuit 18, and is input to the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8 to write the MCU input / output signal 4 or the time data 7, and The MCU input / output signal 4 input to the immediately preceding recording data latch circuit 14 and recorded in the MCU input / output signal trace memory 5 at that time is also used as the immediately preceding recording data latch circuit 14.
To hold.

【0016】次に動作について説明する。この実施例に
おいても従来の場合と同様に、時刻データ生成回路6が
常に発生している時刻データ7が時刻データ用トレース
メモリ8に入力され、MCU応用システム1内からのM
CU入出力信号4がMCU入出力信号用トレースメモリ
5とサンプリングトレース回路9に入力されている。な
お、この実施例ではMCU入出力信号4はMCU入出力
信号比較回路16にも入力されている。
Next, the operation will be described. Also in this embodiment, as in the conventional case, the time data 7 constantly generated by the time data generation circuit 6 is input to the time data trace memory 8 and the M data from within the MCU application system 1 is transmitted.
The CU input / output signal 4 is input to the MCU input / output signal trace memory 5 and the sampling trace circuit 9. In this embodiment, the MCU input / output signal 4 is also input to the MCU input / output signal comparison circuit 16.

【0017】また、直前記録データラッチ回路14はM
CU入出力信号用トレースメモリ5に最後に記録された
MCU入出力信号4を保持し、それを直前記録データラ
ッチ信号15として常に出力しており、この直前記録デ
ータラッチ信号15はMCU入出力信号比較回路16に
入力されている。MCU入出力信号比較回路16ではこ
の直前記録データラッチ信号15と新たに送られてきた
MCU入出力信号4とを比較し、両者が不一致、すなわ
ちMCU入出力信号4に変化があれば比較結果不一致信
号17を出力する。
The immediately preceding recording data latch circuit 14 is M
The MCU input / output signal 4 last recorded in the CU input / output signal trace memory 5 is held and is always output as the immediately preceding recording data latch signal 15. The immediately preceding recording data latch signal 15 is the MCU input / output signal. It is input to the comparison circuit 16. The MCU input / output signal comparison circuit 16 compares the immediately preceding recording data latch signal 15 with the newly sent MCU input / output signal 4 and they do not match, that is, if there is a change in the MCU input / output signal 4, the comparison result does not match. The signal 17 is output.

【0018】一方、サンプリングトレース回路9ではM
CU入出力信号格納部10に一旦格納したMCU応用シ
ステム1からのMCU入出力信号4と、サンプリングト
レース条件格納部11の内容とを常に比較している。サ
ンプリングトレース回路9はこのMCU入出力信号格納
部10とサンプリングトレース条件格納部11の内容が
一致すると、MCU入出力信号用トレースメモリ5およ
び時刻データ用トレースメモリ8に対してメモリアドレ
ス13を出力し、書き込み許可信号12をゲート回路1
8に出力する。
On the other hand, in the sampling trace circuit 9, M
The MCU input / output signal 4 from the MCU application system 1 once stored in the CU input / output signal storage unit 10 is constantly compared with the contents of the sampling trace condition storage unit 11. When the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 and the sampling trace condition storage unit 11 match, the sampling trace circuit 9 outputs the memory address 13 to the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8. , Write enable signal 12 to gate circuit 1
Output to 8.

【0019】ゲート回路18はこの書き込み許可信号1
2とMCU入出力信号比較回路16からの比較結果不一
致信号17の論理積をとっており、比較結果不一致信号
17が発生した場合にのみ、入力された書き込み許可信
号12を書き込み許可信号19として通過させる。従っ
て、MCU入出力信号用トレースメモリ5、時刻データ
用トレースメモリ8および直前記録データラッチ回路1
4には、MCU入出力信号比較回路16から比較結果不
一致信号17が出力されたときにのみ書き込み許可信号
19が入力される。
The gate circuit 18 uses the write enable signal 1
2 and the comparison result disagreement signal 17 from the MCU input / output signal comparison circuit 16 are ANDed, and the input write enable signal 12 is passed as the write enable signal 19 only when the comparison result disagreement signal 17 is generated. Let Therefore, the MCU input / output signal trace memory 5, the time data trace memory 8 and the immediately preceding recording data latch circuit 1
4, the write enable signal 19 is input only when the comparison result mismatch signal 17 is output from the MCU input / output signal comparison circuit 16.

【0020】この書き込み許可信号19を受けると、M
CU入出力信号用トレースメモリ5はMCU応用システ
ム1より送られてきたMCU入出力信号4を、サンプリ
ングトレース回路9からの書き込みメモリアドレス13
によって指定される領域に記録し、時刻データ用トレー
スメモリ8はその時に時刻データ生成回路6が発生した
時刻データ7を、書き込みメモリアドレス13にて指定
される領域に記録する。また、直前記録データラッチ回
路14はこの書き込み許可信号19を受けると、その内
容を上記MCU入出力信号用トレースメモリ5に新たに
記録されたMCU入出力信号4に更新する。
When the write enable signal 19 is received, M
The CU input / output signal trace memory 5 receives the MCU input / output signal 4 sent from the MCU application system 1 as a write memory address 13 from the sampling trace circuit 9.
The time data trace memory 8 records the time data 7 generated by the time data generation circuit 6 at that time in the area specified by the write memory address 13. Upon receiving the write enable signal 19, the immediately preceding recording data latch circuit 14 updates the contents to the MCU input / output signal 4 newly recorded in the MCU input / output signal trace memory 5.

【0021】これによって、MCU入出力信号用トレー
スメモリ5と時刻データ用トレースメモリ8には、以下
の条件が成立した場合にのみMCU入出力信号4と時刻
データ7が記録され、MCU入出力信号4に変化がない
場合にはその記録は行われない。 ・ MCU入出力信号格納領域10とサンプリングトレ
ース条件格納部11の内容の一致 ・ 直前記録データラッチ信号15と入出力信号4の不
一致
As a result, the MCU input / output signal 4 and the time data 7 are recorded in the MCU input / output signal trace memory 5 and the time data trace memory 8 only when the following conditions are satisfied. If there is no change in 4, the recording is not done. -MCU input / output signal storage area 10 and sampling trace condition storage section 11 contents match-Previous recording data latch signal 15 and input / output signal 4 mismatch

【0022】なお、上記実施例では、MCU入出力信号
格納部10とサンプリングトレース条件格納部11の内
容が一致した場合にのみ、サンプリングトレース回路9
より書き込み許可信号12を発生する場合について説明
したが、MCU入出力信号格納部10とサンプリングト
レース条件格納部11の内容が不一致である場合、ある
いはその特定ビットの比較結果や大小関係の比較結果等
に基づいて書き込み許可信号12を発生するようにして
もよい。
In the above embodiment, the sampling trace circuit 9 is provided only when the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 and the sampling trace condition storage unit 11 match.
Although the case where the write permission signal 12 is generated has been described above, when the contents of the MCU input / output signal storage unit 10 and the sampling trace condition storage unit 11 do not match, or the comparison result of the specific bit or the comparison result of the magnitude relationship, etc. The write enable signal 12 may be generated based on the above.

【0023】[0023]

【発明の効果】以上のように、この発明によれば、入力
されたトレースデータが直前に記録されたトレースデー
タと一致するか否かを判断し、一致しない場合にのみ、
サンプリングトレース条件を満たしたトレースデータを
トレースメモリに記録するとともに、その時の時刻デー
タを時刻データ用トレースメモリに記録するように構成
したので、トレースメモリに変化のない不必要なデータ
が記録されることがなくなり、トレースメモリ容量分の
データ遷移の参照が可能となり、データ遷移時における
時間間隔の参照も可能になるという効果がある。
As described above, according to the present invention, it is determined whether the input trace data matches the trace data recorded immediately before, and only when the trace data does not match,
Since the trace data that satisfies the sampling trace conditions is recorded in the trace memory and the time data at that time is recorded in the trace memory for time data, unnecessary and unchanged data can be recorded in the trace memory. The effect is that the data transition corresponding to the trace memory capacity can be referred to, and the time interval at the time of data transition can also be referred to.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】 この発明の一実施例によるサンプリングトレ
ース回路を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing a sampling trace circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】 従来のサンプリングトレース回路を示すブロ
ック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional sampling trace circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 MCU応用システム、2 MCU、4 MCU入出
力信号(トレースデータ)、5 MCU入出力信号用ト
レースメモリ(トレースメモリ)、7 時刻データ、8
時刻データ用トレースメモリ、9 サンプリングトレ
ース回路(判定手段)、12、19 書き込み許可信
号、16 MCU入出力信号比較回路(変化検出手
段)、18 ゲート回路(書き込み阻止手段)。
1 MCU application system, 2 MCU, 4 MCU input / output signal (trace data), 5 MCU input / output signal trace memory (trace memory), 7 time data, 8
Time data trace memory, 9 sampling trace circuit (determination means), 12, 19 write permission signal, 16 MCU input / output signal comparison circuit (change detection means), 18 gate circuit (write blocking means).

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 マイクロコンピュータ応用システム内の
マイクロコンピュータが入出力しているトレースデータ
が入力され、当該トレースデータが一定のサンプリング
トレース条件を満たしているか否かを判定する判定手段
と、前記サンプリングトレース条件が満たされている場
合に前記判定手段より出力される書き込み許可信号に従
って、前記トレースデータの記録を行うトレースメモリ
と、前記判定手段が出力する書き込み許可信号に従っ
て、時刻データの記録を行う時刻データ用トレースメモ
リとを備えたサンプリングトレース回路において、前記
トレースデータの変化を検出する変化検出手段と、前記
変化検出手段にてトレースデータの変化が検出されるま
で、前記判定手段より出力される書き込み許可信号の、
前記トレースメモリおよび時刻データ用トレースメモリ
への入力を阻止する書き込み阻止手段とを設けたことを
特徴とするサンプリングトレース回路。
1. A determination means for determining whether or not trace data input / output by a microcomputer in a microcomputer application system is input, and the trace data satisfies a certain sampling trace condition, and the sampling trace. A trace memory that records the trace data according to the write permission signal output from the determination unit when the conditions are satisfied, and a time data that records time data according to the write permission signal output from the determination unit. In a sampling trace circuit including a trace memory for use, change detection means for detecting a change in the trace data, and write permission output from the determination means until a change in the trace data is detected by the change detection means. Signal of
A sampling trace circuit, which is provided with write blocking means for blocking input to the trace memory and the time data trace memory.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1332537C (en) * 2004-09-14 2007-08-15 华为技术有限公司 Device and its method for monitoring excited message

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN1332537C (en) * 2004-09-14 2007-08-15 华为技术有限公司 Device and its method for monitoring excited message

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