JPH08293395A - X-ray high voltage device - Google Patents

X-ray high voltage device

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JPH08293395A
JPH08293395A JP9409095A JP9409095A JPH08293395A JP H08293395 A JPH08293395 A JP H08293395A JP 9409095 A JP9409095 A JP 9409095A JP 9409095 A JP9409095 A JP 9409095A JP H08293395 A JPH08293395 A JP H08293395A
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current
detecting
ray tube
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Fumio Ishiyama
文雄 石山
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Abstract

PURPOSE: To accurately detect cutoff of a filament or cup touch of the filament by calculating and comparing the resistance of the filament from the filament current to be supplied to the filament of a line pipe and the filament voltage. CONSTITUTION: The filament current is detected by a filament current detecting unit 21, and the detection of the filament voltage is performed by a filament voltage detecting unit 19. The filament resistance value is calculated from the detected filament current value and the voltage value by a dividing unit 35. When the calculated filament resistance value is larger than the preset reference value in cutoff of the filament, a filament cutoff detecting signal is formed. When it is smaller than the calculated reference value in cup touch of the filament, a filament cup touch detecting signal is generated. In this case, the cutoff of the filament of an X-ray tube or the cup touch of the filament can be accurately found through comparators 41, 43.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、X線を発生するX線管
に電子加速用高電圧とフィラメント加熱用電流を供給す
るX線高電圧装置に関し、特にX線管のフィラメント断
線もしくはX線を収束させる収束電極にフィラメントが
接触するいわゆるフィラメントカップタッチを検出でき
るX線高電圧装置に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an X-ray high voltage device for supplying an electron acceleration high voltage and a filament heating current to an X-ray tube which generates X-rays, and more particularly to a filament breakage or X-ray of the X-ray tube. The present invention relates to an X-ray high voltage device capable of detecting a so-called filament cup touch in which a filament comes into contact with a focusing electrode that converges.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、X線管から照射されるX線を
用いて被検体を撮影、透視するX線診断装置が知られて
いる。このX線診断装置では、X線の照射条件によって
使用する前記X線管の焦点が固定されており、前記X線
管のフィラメント断線もしくはX線を収束させる収束電
極にフィラメントが接触するいわゆるフィラメントカッ
プタッチが生じた場合、診断が突然中断した。
2. Description of the Related Art Conventionally, there is known an X-ray diagnostic apparatus for photographing and seeing through a subject using X-rays emitted from an X-ray tube. In this X-ray diagnostic apparatus, the focal point of the X-ray tube to be used is fixed depending on the X-ray irradiation condition, and a filament breakage of the X-ray tube or a filament contacting a focusing electrode for converging the X-ray is called a so-called filament cup. If a touch occurred, the diagnosis was abruptly interrupted.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
X線診断では、X線管のフィラメント断線もしくはX線
管のフィラメントカップタッチを検出する手段を備えて
いないので、X線管のフィラメント断線もしくはX線管
のフィラメントカップタッチの発生により診断動作が突
然中断する場合があった。
However, the conventional X-ray diagnosis does not include means for detecting the filament disconnection of the X-ray tube or the filament cup touch of the X-ray tube. Occasionally, the diagnostic operation was interrupted due to the occurrence of filament cup touch in the wire tube.

【0004】本発明は、上記課題に鑑みてなされたもの
で、X線管のフィラメント断線もしくはX線管のフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができるX線
高電圧装置を提供することを目的とする。
The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an X-ray high voltage apparatus capable of accurately detecting a filament disconnection of the X-ray tube or a filament cup touch of the X-ray tube. And

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
本願第1の発明は、X線を曝射するX線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段と、前記X線管のフィラメントに供給さ
れるフィラメント電流を検出するフィラメント電流検出
手段と、前記フィラメント電圧検出手段により検出され
たフィラメント電圧と、前記フィラメント電流検出手段
により検出されたフィラメント電流を基にフィラメント
の抵抗を演算する演算手段と、予め設定されたフィラメ
ント断線時の基準値よりこの演算手段により演算された
フィラメントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断
線の検出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカ
ップタッチ時の基準値より前記演算手段により演算され
たフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラメント
カップタッチの検出信号を生成する比較手段とを有する
ことを要旨とする。
In order to achieve the above object, a first invention of the present application is a filament voltage detecting means for detecting a filament voltage applied to a filament of an X-ray tube for exposing X-rays, and the X-ray detecting means. A filament current detecting means for detecting a filament current supplied to the filament of the filament tube, a filament voltage detected by the filament voltage detecting means, and a resistance of the filament based on the filament current detected by the filament current detecting means. When the resistance of the filament calculated by the calculating means and the preset reference value at the time of filament disconnection is larger than the preset value, a detection signal of the filament disconnection is generated, and when the preset filament cup is touched. Of the filament calculated by the calculating means from the reference value of If better anti smaller is summarized in that and a comparing means for generating a detection signal of the filaments cup touch.

【0006】また、本願第2の発明は、電子を放出する
フィラメントを少なくとも二つ備えたX線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するX線高
電圧装置において、前記X線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記X線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段とを有することを要旨
とする。
The second invention of the present application is the X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for electron heating and a current for filament heating to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons. Filament voltage detecting means for detecting the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube, filament current detecting means for detecting the filament current supplied to the filament of the X-ray tube, and filament detected by the filament voltage detecting means A calculating means for calculating the resistance of the filament based on the voltage and the filament current detected by the filament current detecting means, and the resistance of the filament calculated by this calculating means from a preset reference value when the filament is broken. If the value is large, a filament disconnection detection signal is generated and If towards the resistance of the filament, which is calculated by said calculating means from the reference value of the constant filament cup touch is small and summarized in that and a comparing means for generating a detection signal of the filaments cup touch.

【0007】また、本願第3の発明は、電子を放出する
フィラメントを少なくとも二つ備えたX線管に電子加熱
用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給するX線高
電圧装置において、前記X線管のフィラメントに印加さ
れるフィラメント電圧を検出するフィラメント電圧検出
手段と、前記X線管のフィラメントに供給されるフィラ
メント電流を検出するフィラメント電流検出手段と、前
記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラメ
ント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検出
されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演
算する演算手段と、予め設定されたフィラメント断線時
の基準値よりこの演算手段により演算されたフィラメン
トの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検出信
号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタッチ
時の基準値より前記演算手段により演算されたフィラメ
ントの抵抗の方が小さい場合はフィラメントカップタッ
チの検出信号を生成する比較手段と、この比較手段によ
り検出信号が生成されたとき、使用するフィラメントを
正常なフィラメントに切り換える切り換え手段とを有す
ることを要旨とする。
Further, a third invention of the present application is the X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for electron heating and a current for filament heating to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons. Filament voltage detecting means for detecting the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube, filament current detecting means for detecting the filament current supplied to the filament of the X-ray tube, and filament detected by the filament voltage detecting means A calculating means for calculating the resistance of the filament based on the voltage and the filament current detected by the filament current detecting means, and the resistance of the filament calculated by this calculating means from a preset reference value when the filament is broken. If the value is large, a filament disconnection detection signal is generated and When the resistance of the filament calculated by the calculating means is smaller than the determined reference value at the time of filament cup touch, the comparing means for generating the detection signal of the filament cup touch and the detecting signal are generated by the comparing means. At this time, the gist is to have a switching means for switching the filament to be used to a normal filament.

【0008】[0008]

【作用】本願第1の発明のX線高電圧装置は、X線を曝
射するX線管のフィラメントに印加されるフィラメント
電圧を検出するフィラメント電圧検出手段により検出さ
れたフィラメント電圧と、前記X線管のフィラメントに
供給されるフィラメント電流を検出するフィラメント電
流検出手段により検出されたフィラメント電流を基にフ
ィラメントの抵抗を演算する。そして、予め設定された
フィラメント断線時の基準値より前記演算されたフィラ
メントの抵抗の方が大きい場合はフィラメント断線の検
出信号を生成し、予め設定されたフィラメントカップタ
ッチ時の基準値より前記演算されたフィラメントの抵抗
の方が小さい場合はフィラメントカップタッチの検出信
号を生成する。
In the X-ray high voltage apparatus according to the first aspect of the present invention, the filament voltage detected by the filament voltage detecting means for detecting the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube that exposes the X-ray, and the X-ray The resistance of the filament is calculated based on the filament current detected by the filament current detecting means for detecting the filament current supplied to the filament of the wire tube. Then, when the calculated resistance of the filament is larger than the preset reference value at the time of filament disconnection, a detection signal of the filament disconnection is generated, and is calculated from the preset reference value at the time of filament cup touch. When the resistance of the filament is smaller, the detection signal of the filament cup touch is generated.

【0009】本願第2の発明のX線高電圧装置は、電子
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたX線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するX線高電圧装置において、前記X線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記X線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成する。
An X-ray high voltage apparatus according to the second invention of the present application is an X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for electron heating and a filament heating current to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons. In, the filament voltage detected by the filament voltage detecting means for detecting the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube,
The filament resistance is calculated based on the filament current detected by the filament current detecting means for detecting the filament current supplied to the filament of the X-ray tube. Then, when the calculated resistance of the filament is larger than the preset reference value at the time of filament disconnection, a detection signal of the filament disconnection is generated, and is calculated from the preset reference value at the time of filament cup touch. When the resistance of the filament is smaller, the detection signal of the filament cup touch is generated.

【0010】本願第3の発明のX線高電圧装置は、電子
を放出するフィラメントを少なくとも二つ備えたX線管
に電子加熱用の高電圧とフィラメント加熱用電流を供給
するX線高電圧装置において、前記X線管のフィラメン
トに印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメン
ト電圧検出手段により検出されたフィラメント電圧と、
前記X線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段により検出され
たフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を演算す
る。そして、予め設定されたフィラメント断線時の基準
値より前記演算されたフィラメントの抵抗の方が大きい
場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設定
されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記演
算されたフィラメントの抵抗の方が小さい場合はフィラ
メントカップタッチの検出信号を生成し、この検出信号
が生成されたとき、使用するフィラメントを正常なフィ
ラメントに切り換える。
An X-ray high voltage apparatus according to the third invention of the present application is an X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for electron heating and a current for filament heating to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons. In, the filament voltage detected by the filament voltage detecting means for detecting the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube,
The filament resistance is calculated based on the filament current detected by the filament current detecting means for detecting the filament current applied to the filament of the X-ray tube. Then, when the calculated resistance of the filament is larger than the preset reference value at the time of filament disconnection, a detection signal of the filament disconnection is generated, and is calculated from the preset reference value at the time of filament cup touch. If the resistance of the filament is smaller, a filament cup touch detection signal is generated, and when this detection signal is generated, the filament to be used is switched to a normal filament.

【0011】[0011]

【実施例】以下、本発明に係る一実施例を図面を参照し
て説明する。図1は本発明に係るX線高電圧装置の構成
を示したブロック図である。尚、本実施例ではX線焦点
の小さい小焦点用フィラメントと、X線焦点の大きい大
焦点用フィラメントとを備えるX線管を用いた場合を例
にして説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an X-ray high voltage device according to the present invention. In the present embodiment, an example will be described in which an X-ray tube including a small focus filament having a small X-ray focus and a large focus filament having a large X-ray focus is used.

【0012】図1に示すように本実施例のX線高電圧装
置1は、交流電源3と、交流電源3から供給される交流
電圧を直流に変換する整流平滑回路5と、整流平滑回路
5から出力される直流電圧を異なった電圧に変換するD
C/DCコンバータ7と、DC/DCコンバータ7によ
り変換された直流電圧を交流電圧に変換するインバータ
回路9と、インバータ回路9により変換された交流電圧
をX線管11の二つのフィラメントに分配する焦点切り
換え部13と、焦点切り換え部13の出力電圧を変圧す
る小焦点用フィラメントトランス15および大焦点用フ
ィラメントトランス17と、DC/DCコンバータ7の
出力電圧を検出するフィラメント電圧検出部19と、小
焦点用フィラメントトランス15もしくは大焦点用フィ
ラメントトランス17の一次電流を検出するフィラメン
ト電流検出部21と、X線管11のフィラメント断線お
よびフィラメントカップタッチを検出するフィラメント
加熱制御部23とを有する。
As shown in FIG. 1, an X-ray high voltage apparatus 1 of this embodiment is an AC power supply 3, a rectifying / smoothing circuit 5 for converting an AC voltage supplied from the AC power supply 3 into a DC, and a rectifying / smoothing circuit 5. D that converts the DC voltage output from the
The C / DC converter 7, an inverter circuit 9 for converting the DC voltage converted by the DC / DC converter 7 into an AC voltage, and the AC voltage converted by the inverter circuit 9 are distributed to two filaments of the X-ray tube 11. The focus switching unit 13, the small focus filament transformer 15 and the large focus filament transformer 17 that transform the output voltage of the focus switching unit 13, the filament voltage detection unit 19 that detects the output voltage of the DC / DC converter 7, and the small It has a filament current detector 21 for detecting the primary current of the focus filament transformer 15 or the large-focus filament transformer 17, and a filament heating controller 23 for detecting filament disconnection and filament cup-touch of the X-ray tube 11.

【0013】フィラメント電圧検出部19は、例えば図
2に示すような二つの抵抗25から成る分圧器で構成さ
れる。また、フィラメント電流検出部21は、例えば図
3に示すようなカレントトランス27と、四つのダイオ
ード29と一つのコンデンサ31から成る整流回路で構
成される。フィラメント電圧検出部19およびフィラメ
ント電流検出部21は、いずれもフィラメント電圧、フ
ィラメント電流を直接検出するものではないが、小焦点
用フィラメントトランス15および大焦点用フィラメン
トトランス17の巻数比と前記分圧器の分圧比からフィ
ラメント電圧を、また小焦点用フィラメントトランス1
5および大焦点用フィラメントトランス17の巻数比と
カレントトランス27の変換比からフィラメント電流を
求めることができる。
The filament voltage detector 19 is composed of a voltage divider composed of two resistors 25 as shown in FIG. 2, for example. The filament current detector 21 is composed of a current transformer 27 as shown in FIG. 3, a rectifier circuit including four diodes 29 and one capacitor 31, for example. Neither the filament voltage detection unit 19 nor the filament current detection unit 21 directly detects the filament voltage and the filament current, but the winding ratio of the small-focus filament transformer 15 and the large-focus filament transformer 17 and the voltage divider. The filament voltage from the voltage division ratio, and the filament transformer for small focus 1
5, the filament current can be obtained from the winding ratio of the filament transformer 17 for large focus and the conversion ratio of the current transformer 27.

【0014】次に、フィラメント加熱制御部23に備え
られ、X線管11のフィラメント断線およびフィラメン
トカップタッチを検出するフィラメント断線検出部33
の構成例を図4を用いて説明する。図4に示すようにフ
ィラメント断線検出部33は、除算器35と、二つの基
準電圧設定器37,39と、二つの電圧比較器41,4
3とを有する。
Next, the filament heating controller 23 is provided, and the filament disconnection detector 33 detects the filament disconnection and the filament cup touch of the X-ray tube 11.
An example of the configuration will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4, the filament breakage detection unit 33 includes a divider 35, two reference voltage setting devices 37 and 39, and two voltage comparators 41 and 4.
And 3.

【0015】除算器35は、フィラメント電圧検出部1
9の出力電圧EFとフィラメント電流検出部21の出力
電圧IFを入力し、フィラメント電圧検出部19の出力
電圧EF/フィラメント電流検出部21の出力電圧IF
(EF/IF)を出力する。従って除算器35の出力は
フィラメントの抵抗の大きさを表す。
The divider 35 is a filament voltage detector 1
9 and the output voltage IF of the filament current detection unit 21 are input, and the output voltage EF of the filament voltage detection unit 19 / the output voltage IF of the filament current detection unit 21 is input.
(EF / IF) is output. Therefore, the output of the divider 35 represents the magnitude of the resistance of the filament.

【0016】基準電圧設定器37には、正常時における
除算器35の出力電圧よりも高い電圧、例えば正常時の
2倍の電圧を設定する。電圧比較器41は、除算器35
の出力電圧と基準電圧設定器37の出力電圧を比較し、
除算器35の出力電圧が基準電圧設定器37の出力電圧
よりも高いとき、フィラメント断線検出信号F1を出力
する。
In the reference voltage setting unit 37, a voltage higher than the output voltage of the divider 35 in a normal state, for example, a voltage twice as high as that in a normal state is set. The voltage comparator 41 includes a divider 35.
Of the output voltage of the reference voltage setting device 37,
When the output voltage of the divider 35 is higher than the output voltage of the reference voltage setting unit 37, the filament disconnection detection signal F1 is output.

【0017】X線管11のフィラメントが正常なとき、
除算器35の出力電圧は基準電圧設定器37の出力電圧
よりも低いので電圧比較器41は、フィラメント断線検
出信号F1を出力しない。しかし、X線管11のフィラ
メントが断線するとフィラメントの抵抗は極めて大きく
なる。このため、電圧比較器41はフィラメント断線検
出信号F1を出力する。基準電圧設定器39には、正常
時における除算器35の出力電圧よりも低い電圧、例え
ば正常時の0.7倍の電圧を設定する。電圧比較器43
は、除算器35の出力電圧と基準電圧設定器39の出力
電圧を比較し、除算器35の出力電圧が基準電圧設定器
39の出力電圧よりも低いとき、フィラメントカップタ
ッチ検出信号F2を出力する。
When the filament of the X-ray tube 11 is normal,
Since the output voltage of the divider 35 is lower than the output voltage of the reference voltage setting unit 37, the voltage comparator 41 does not output the filament disconnection detection signal F1. However, when the filament of the X-ray tube 11 is broken, the resistance of the filament becomes extremely large. Therefore, the voltage comparator 41 outputs the filament disconnection detection signal F1. In the reference voltage setting unit 39, a voltage lower than the output voltage of the divider 35 in the normal state, for example, 0.7 times the voltage in the normal state is set. Voltage comparator 43
Compares the output voltage of the divider 35 with the output voltage of the reference voltage setting unit 39, and when the output voltage of the divider 35 is lower than the output voltage of the reference voltage setting unit 39, outputs the filament cup touch detection signal F2. .

【0018】次に焦点切り換え部13の構成例を図5を
用いて説明する。図5に示すように焦点切り換え部13
は、ORゲート51,53と、二つのDフリップフロッ
プ55,57と、NORゲート59と、ANDゲート6
1と、インバータ63,65と、パワーオンリセット回
路67とから成る回路で構成される。
Next, a configuration example of the focus switching unit 13 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 5, the focus switching unit 13
Are OR gates 51 and 53, two D flip-flops 55 and 57, a NOR gate 59, and an AND gate 6
1 and inverters 63 and 65, and a power-on reset circuit 67.

【0019】Dフリップフロップ55,57は、電源O
N時にパワーオンリセット回路67によってリセットさ
れる。このためそれぞれの出力端QはLOWレベル(以
下「L」と記す)になる。X線管11のフィラメントが
正常な状態のとき、フィラメント断線検出信号F1およ
びフィラメントカップタッチ信号F2はともに「L」で
あるのでDフリップフロップ55,57の出力端Qは共
に「L」である。
The D flip-flops 55 and 57 have a power source O.
At the time of N, it is reset by the power-on reset circuit 67. Therefore, each output terminal Q becomes LOW level (hereinafter referred to as "L"). When the filament of the X-ray tube 11 is in a normal state, the filament disconnection detection signal F1 and the filament cup touch signal F2 are both "L", so that the output terminals Q of the D flip-flops 55 and 57 are both "L".

【0020】従って管電圧、管電流、曝射時間等の設定
が行われる図示しない制御手段から出力される焦点切り
換え信号FCはANDゲート61とORゲート53を通
り抜け、焦点を切り換えるリレーコイル13a,13b
を作動させる。焦点切り換え信号FCが「L」のときリ
レーコイル13a,13bはインバータ回路9と大焦点
用フィラメントトランス17を導通させる。また、焦点
切り換え信号FCがHIGHレベル(以下「H」と記
す)のときリレーコイル13a,13bはインバータ回
路9と小焦点用フィラメントトランス15側を導通させ
る。
Therefore, the focus switching signal FC output from the control means (not shown) for setting the tube voltage, the tube current, the exposure time, etc. passes through the AND gate 61 and the OR gate 53, and the relay coils 13a, 13b for switching the focus.
Operate. When the focus switching signal FC is "L", the relay coils 13a and 13b bring the inverter circuit 9 and the filament transformer 17 for large focus into conduction. Further, when the focus switching signal FC is at a HIGH level (hereinafter referred to as "H"), the relay coils 13a and 13b bring the inverter circuit 9 and the small focus filament transformer 15 side into conduction.

【0021】ここで、小焦点のフィラメントを選択して
いるとき(焦点切り換え信号FCが「H」のとき)、フ
ィラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検
出されると、ORゲート51の出力は「H」となる。こ
のため、Dフリップフロップ55,57の出力端Qはそ
れぞれその時の入力端Dを保持するように働く。従っ
て、Dフリップフロップ55の出力端Qは「H」、Dフ
リップフロップ57の出力端Qはインバータ63で反転
されて「L」になる。
Here, when a filament having a small focus is selected (when the focus switching signal FC is "H"), when the filament disconnection or the filament cup touch is detected, the output of the OR gate 51 is "H". Becomes Therefore, the output terminals Q of the D flip-flops 55 and 57 function to hold the input terminal D at that time. Therefore, the output terminal Q of the D flip-flop 55 is "H", and the output terminal Q of the D flip-flop 57 is inverted by the inverter 63 and becomes "L".

【0022】Dフリップフロップ55の出力端Qが
「H」になることで、NORゲート59の出力は「L」
になり焦点切り換え信号FCはANDゲート61で阻止
される。一方、Dフリップフロップ57の出力端Qは
「L」であるから、ORゲート53の出力は「L」であ
り、リレーコイル13a,13bは焦点切り換え信号F
Cによらずインバータ回路9と大焦点用フィラメントト
ランス17を導通させる。尚、インバータ65は、OR
ゲート53の出力を反転させるとともに、リレーコイル
13a,13bを動作させるためにORゲート53の出
力を増幅させる。
When the output terminal Q of the D flip-flop 55 becomes "H", the output of the NOR gate 59 becomes "L".
Then, the focus switching signal FC is blocked by the AND gate 61. On the other hand, since the output terminal Q of the D flip-flop 57 is "L", the output of the OR gate 53 is "L", and the relay coils 13a and 13b have the focus switching signal F.
The inverter circuit 9 and the large-focus filament transformer 17 are electrically connected regardless of C. The inverter 65 is OR
The output of the gate 53 is inverted, and the output of the OR gate 53 is amplified to operate the relay coils 13a and 13b.

【0023】また、大焦点のフィラメントを選択してい
るとき(焦点切り換え信号FCが「L」のとき)、フィ
ラメント断線もしくはフィラメントカップタッチが検出
されると、Dフリップフロップ55の出力端Qは
「L」、Dフリップフロップ57の出力端Qは「H」に
なる。この場合もNORゲート59の出力は「L」にな
り焦点切り換え信号FCはANDゲート61で阻止され
る。一方、ORゲート53の出力は「H」になるため、
リレーコイル13a,13bは焦点切り換え信号FCに
よらずインバータ回路9と小焦点用フィラメントトラン
ス15を導通させる。
When a filament having a large focal point is selected (when the focus switching signal FC is "L"), when a filament break or a filament cup touch is detected, the output terminal Q of the D flip-flop 55 becomes " The output terminal Q of the L "and D flip-flops 57 becomes" H ". Also in this case, the output of the NOR gate 59 becomes "L" and the focus switching signal FC is blocked by the AND gate 61. On the other hand, since the output of the OR gate 53 becomes "H",
The relay coils 13a and 13b electrically connect the inverter circuit 9 and the small focus filament transformer 15 regardless of the focus switching signal FC.

【0024】尚、小焦点を使用している時にフィラメン
ト断線もしくはフィラメントカップタッチが生じて、大
焦点に切り換えた場合、焦点サイズが大きい分、得られ
る画像の解像度は下がるが、診断は継続することができ
る。また、大焦点を使用している時にフィラメント断線
もしくはフィラメントカップタッチが生じて、小焦点に
切り換えた場合、管電流は焦点サイズが小さいために大
焦点と同様の大電流を供給することはできないが、曝射
時間を長くすることで大焦点と同様な画像を得ることが
できる。
If a filament break or filament cup touch occurs while using the small focus and the focus is switched to the large focus, the resolution of the obtained image is reduced by the larger focus size, but the diagnosis should be continued. You can Also, when filament breakage or filament cup touch occurs when using the large focus, and when switching to the small focus, the tube current cannot supply the same large current as the large focus because the tube current has a small focus size. By extending the exposure time, it is possible to obtain an image similar to a large focus.

【0025】尚、フィラメント加熱制御部23からフィ
ラメント断線検出信号F1、フィラメントカップタッチ
検出信号F2が出力された場合、図示しない制御手段は
それを受けて、音、光、文字、図記号等を用いてX線管
11の異常を操作者に知らせる。
When the filament heating control section 23 outputs the filament disconnection detection signal F1 and the filament cup touch detection signal F2, the control means (not shown) receives them and uses sound, light, characters, graphic symbols and the like. The operator is informed of the abnormality of the X-ray tube 11.

【0026】このように本実施例のX線高電圧装置1で
は、フィラメント電圧検出部19の出力電圧EFとフィ
ラメント電流検出部21の出力電圧IFとからフィラメ
ントの抵抗を求め、これを基にX線管11のフィラメン
ト断線もしくはフィラメントカップタッチを検出し、X
線管11のフィラメントが正常の場合は焦点切り換え信
号FCにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしく
はフィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切
り換え信号FCによらず、正常なフィラメント側の焦点
に切り換えるようにしているので、X線管11のフィラ
メント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に
検出でき、さらに、フィラメント断線もしくはフィラメ
ントカップタッチが生じても診断を継続することができ
る。
As described above, in the X-ray high voltage apparatus 1 of this embodiment, the resistance of the filament is obtained from the output voltage EF of the filament voltage detecting section 19 and the output voltage IF of the filament current detecting section 21, and X is determined based on this. Detects filament breakage or filament cup touch of the wire tube 11,
When the filament of the wire tube 11 is normal, the focus is switched by the focus switching signal FC, and when the filament disconnection or the filament cup touch is detected, the focus is switched to the normal filament side regardless of the focus switching signal FC. Therefore, the filament disconnection or filament cup touch of the X-ray tube 11 can be accurately detected, and the diagnosis can be continued even if the filament disconnection or filament cup touch occurs.

【0027】尚、本実施例のX線高電圧装置1では、D
C/DCコンバータ7とインバータ回路9をそれぞれ一
つ備えているが、これに限らず、図6に示すように、小
焦点用と大焦点用に分けて独立にDC/DCコンバータ
7とインバータ回路9を備えるようにしても良い。この
場合、焦点切り換え部13は不要となり、焦点の切り換
えは、フィラメント加熱制御部23もしくは管電圧、管
電流、曝射時間等の設定が行われる図示しない制御手段
により、DC/DCコンバータ7の出力値を制御するこ
とにより行われる。
In the X-ray high voltage apparatus 1 of this embodiment, D
One C / DC converter 7 and one inverter circuit 9 are provided, but the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 6, a DC / DC converter 7 and an inverter circuit are separately provided for small focus and large focus. 9 may be provided. In this case, the focus switching unit 13 becomes unnecessary, and the focus switching is performed by the filament heating control unit 23 or the control means (not shown) for setting the tube voltage, the tube current, the exposure time, etc., to output the output of the DC / DC converter 7. This is done by controlling the value.

【0028】また、本実施例のX線高電圧装置1の焦点
切り換え部13は、ディジタル回路により構成している
が、これに限らず、CPU等の演算手段を用い、X線管
11のフィラメントが正常な場合は焦点切り換え信号F
Cにより焦点を切り換え、フィラメント断線もしくはフ
ィラメントカップタッチが検出された場合は焦点切り換
え信号FCによらず、正常なフィラメント側の焦点に切
り換えるように制御しても良い。この場合、フィラメン
ト電圧検出部19の出力電圧EFとフィラメント電流の
出力電圧IFをADコンバータでディジタル信号に変換
した後、前記演算手段に読み込ませるようにする。
Further, the focus switching unit 13 of the X-ray high voltage apparatus 1 of this embodiment is composed of a digital circuit, but the invention is not limited to this, and a computing means such as a CPU is used to form the filament of the X-ray tube 11. If the focus is normal, the focus switching signal F
The focus may be switched by C, and when a filament disconnection or a filament cup touch is detected, control may be performed such that the focus is switched to a normal filament side regardless of the focus switching signal FC. In this case, the output voltage EF of the filament voltage detection unit 19 and the output voltage IF of the filament current are converted into digital signals by an AD converter and then read by the arithmetic means.

【0029】さらに、本実施例のX線高電圧装置1で
は、フィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は焦点切り換え信号FCによらず、
正常なフィラメント側の焦点に切り換えるようにしてい
るが、これに限らず、X線管11の焦点の切り換えは図
示しないコンソールを用いて操作者が行うようにしても
良い。
Further, in the X-ray high voltage apparatus 1 of this embodiment, when the filament disconnection or the filament cup touch is detected, the focus switching signal FC is not used,
Although the focus is switched to the normal filament side, the focus is not limited to this and the operator may switch the focus of the X-ray tube 11 using a console (not shown).

【0030】さらに、本実施例のX線高電圧装置1で
は、フィラメントを二つ備えたX線管11に適用した場
合を例にして説明したが、これに限らず、フィラメント
を三つ以上備えたX線管にも適用することができる。さ
らに、フィラメントが一つのみのX線管にも適用するこ
とができる。この場合、フィラメントが一つのみである
のでフィラメント断線もしくはフィラメントカップタッ
チが検出された場合は音、光、文字、図記号等を用いて
X線管11のフィラメントの異常を操作者に知らせる動
作のみとなるが、前記フィラメントの以上を発生直後に
知ることができるので、バックアップ作業に移ることが
迅速にできる。
Further, in the X-ray high voltage apparatus 1 of the present embodiment, the case where it is applied to the X-ray tube 11 having two filaments has been described as an example, but the present invention is not limited to this, and three or more filaments are provided. It can also be applied to X-ray tubes. Further, it can be applied to an X-ray tube having only one filament. In this case, since there is only one filament, when filament disconnection or filament cup touch is detected, only the operation of notifying the operator of the abnormality of the filament of the X-ray tube 11 by using sound, light, characters, graphic symbols, etc. However, since the above filaments can be known immediately after they are generated, the backup operation can be quickly performed.

【0031】[0031]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、X線管の
フィラメントに供給されるフィラメント電流と、X線管
のフィラメントに印加されるフィラメント電圧とからフ
ィラメントの抵抗を求めているので、このフィラメント
の抵抗を基にX線管のフィラメント断線もしくはフィラ
メントカップタッチを正確に検出することができる。
As described above, according to the present invention, the resistance of the filament is obtained from the filament current supplied to the filament of the X-ray tube and the filament voltage applied to the filament of the X-ray tube. Based on the resistance of the filament, it is possible to accurately detect the filament disconnection or the filament cup touch of the X-ray tube.

【0032】また、フィラメントを少なくとも二つ備え
たX線管に本発明を適用した場合は、X線管のフィラメ
ント断線もしくはフィラメントカップタッチを正確に検
出できるので、診断中にX線管のフィラメント断線もし
くはフィラメントカップタッチが検出された場合は、使
用するフィラメントを正常なフィラメントに切り換える
ことも可能となる。
Further, when the present invention is applied to an X-ray tube having at least two filaments, the filament disconnection or filament cup touch of the X-ray tube can be accurately detected, so that the filament disconnection of the X-ray tube can be detected during diagnosis. Alternatively, when the filament cup touch is detected, the filament to be used can be switched to the normal filament.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明に係るX線高電圧装置の一実施例の構成
を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of an embodiment of an X-ray high voltage device according to the present invention.

【図2】フィラメント電圧検出部の構成例を示した回路
図である。
FIG. 2 is a circuit diagram showing a configuration example of a filament voltage detection unit.

【図3】フィラメント電流検出部の構成例を示した回路
図である。
FIG. 3 is a circuit diagram showing a configuration example of a filament current detection unit.

【図4】フィラメント断線検出部の構成例を示した回路
図である。
FIG. 4 is a circuit diagram showing a configuration example of a filament breakage detection unit.

【図5】焦点切り換え部の構成例を示した回路図であ
る。
FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration example of a focus switching unit.

【図6】小焦点用と大焦点用に分けて独立にDC/DC
コンバータとインバータ回路を備えたX線高電圧装置を
示すブロック図である。
FIG. 6: DC / DC separately for small focus and large focus
It is a block diagram which shows the X-ray high-voltage apparatus provided with the converter and the inverter circuit.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 X線高電圧装置 3 交流電源 5 整流平滑回路 7 DC/DCコンバータ 9 インバータ回路 11 X線管 13 焦点切り換え部 13a,13b リレーコイル 15 小焦点用フィラメントトランス 17 大焦点用フィラメントトランス 19 フィラメント電圧検出部 21 フィラメント電流検出部 23 フィラメント加熱制御部 25 抵抗 27 カレントトランス 29 ダイオード 31 コンデンサ 33 フィラメント断線検出部 35 除算器 37,39 基準電圧設定器 41,43 電圧比較器 51,53 ORゲート 55,57 Dフリップフロップ 59 NORゲート 61 ANDゲート 63,65 インバータ 67 パワーオンリセット回路 1 X-ray high-voltage device 3 AC power supply 5 Rectifying / smoothing circuit 7 DC / DC converter 9 Inverter circuit 11 X-ray tube 13 Focus switching section 13a, 13b Relay coil 15 Filament transformer for small focus 17 Filament transformer for large focus 19 Filament voltage detection Part 21 Filament current detection part 23 Filament heating control part 25 Resistance 27 Current transformer 29 Diode 31 Capacitor 33 Filament disconnection detection part 35 Divider 37,39 Reference voltage setting device 41,43 Voltage comparator 51,53 OR gate 55,57 D Flip-flop 59 NOR gate 61 AND gate 63, 65 Inverter 67 Power-on reset circuit

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 X線を曝射するX線管のフィラメントに
印加されるフィラメント電圧を検出するフィラメント電
圧検出手段と、 前記X線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段とを有することを特徴とするX線高電圧装
置。
1. A filament voltage detecting means for detecting a filament voltage applied to a filament of an X-ray tube for exposing X-rays, and a filament current detecting means for detecting a filament current supplied to the filament of the X-ray tube. A calculation means for calculating the resistance of the filament based on the filament voltage detected by the filament voltage detection means and the filament current detected by the filament current detection means; and a preset reference value when the filament is broken. When the filament resistance calculated by the calculating means is larger, a filament disconnection detection signal is generated, and the filament resistance calculated by the calculating means is larger than the preset reference value at the time of filament cup touch. If it is small, the filament cup touch detection signal X-ray high-voltage device having a comparison means for generating a signal.
【請求項2】 電子を放出するフィラメントを少なくと
も二つ備えたX線管に電子加熱用の高電圧とフィラメン
ト加熱用電流を供給するX線高電圧装置において、 前記X線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
圧を検出するフィラメント電圧検出手段と、 前記X線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段と有することを特徴とするX線高電圧装
置。
2. An X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for heating an electron and a current for heating a filament to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons, which is applied to a filament of the X-ray tube. Filament voltage detecting means for detecting a filament voltage, a filament current detecting means for detecting a filament current supplied to the filament of the X-ray tube, a filament voltage detected by the filament voltage detecting means, and a filament current detecting means. Calculating means for calculating the resistance of the filament based on the filament current detected by the means, and if the resistance of the filament calculated by this calculating means is larger than a preset reference value when the filament is broken, Generates a detection signal and presets the filament X-ray high voltage device if the reference value at the cup touch smaller for resistance to computed filaments by said calculating means is characterized by having a comparing means for generating a detection signal of the filaments cup touch.
【請求項3】 電子を放出するフィラメントを少なくと
も二つ備えたX線管に電子加熱用の高電圧とフィラメン
ト加熱用電流を供給するX線高電圧装置において、 前記X線管のフィラメントに印加されるフィラメント電
圧を検出するフィラメント電圧検出手段と、 前記X線管のフィラメントに供給されるフィラメント電
流を検出するフィラメント電流検出手段と、 前記フィラメント電圧検出手段により検出されたフィラ
メント電圧と、前記フィラメント電流検出手段により検
出されたフィラメント電流を基にフィラメントの抵抗を
演算する演算手段と、 予め設定されたフィラメント断線時の基準値よりこの演
算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が大き
い場合はフィラメント断線の検出信号を生成し、予め設
定されたフィラメントカップタッチ時の基準値より前記
演算手段により演算されたフィラメントの抵抗の方が小
さい場合はフィラメントカップタッチの検出信号を生成
する比較手段と、 この比較手段により検出信号が生成されたとき、使用す
るフィラメントを正常なフィラメントに切り換える切り
換え手段とを有することを特徴とするX線高電圧装置。
3. An X-ray high voltage apparatus for supplying a high voltage for electron heating and a current for filament heating to an X-ray tube having at least two filaments for emitting electrons, which is applied to the filament of said X-ray tube. Filament voltage detecting means for detecting a filament voltage, a filament current detecting means for detecting a filament current supplied to the filament of the X-ray tube, a filament voltage detected by the filament voltage detecting means, and a filament current detecting means. Calculating means for calculating the resistance of the filament based on the filament current detected by the means, and if the resistance of the filament calculated by this calculating means is larger than a preset reference value when the filament is broken, Generates a detection signal and presets the filament When the resistance of the filament calculated by the calculating means is smaller than the reference value at the time of cup touch, the comparing means generates a detection signal of the filament cup touch, and when the detecting signal is generated by the comparing means, it is used. An X-ray high-voltage device having a switching means for switching a filament to a normal filament.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10038946C2 (en) * 2000-08-09 2002-03-14 Siemens Ag Heating circuit for a cathode of an X-ray tube and method for determining a reference variable of a current control device of a heating circuit
KR100967346B1 (en) * 2008-07-11 2010-07-05 (주) 브이에스아이 Tube current cotrolling circuit of field emission X-ray tube
JP2015115139A (en) * 2013-12-10 2015-06-22 株式会社島津製作所 X-ray tube device

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