JPH0829293A - 偏波モード分散測定装置および偏波モード分散測定方法 - Google Patents
偏波モード分散測定装置および偏波モード分散測定方法Info
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- JPH0829293A JPH0829293A JP16120894A JP16120894A JPH0829293A JP H0829293 A JPH0829293 A JP H0829293A JP 16120894 A JP16120894 A JP 16120894A JP 16120894 A JP16120894 A JP 16120894A JP H0829293 A JPH0829293 A JP H0829293A
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- light source
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- mode dispersion
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 実際に使用される状態で発生するのと同等の
偏光モード分散の値を安定して測定することのできる偏
波モード分散測定装置を提供する。 【構成】 白色光源２から出射されるほぼ無偏光の光
は、分光器３で特定のスペクトル成分を取り出された
後、被測定光ファイバ１に入射される。被測定光ファイ
バ１に入射される光が無偏光であるから、被測定光ファ
イバ１が真円でない場合でも、偏波面を考慮することな
く入射すればよい。被測定光ファイバ１から出射される
光は、検光子４によってある偏波面の光のみを光パワー
メータ５によって受光し、その強度を測定する。
偏光モード分散の値を安定して測定することのできる偏
波モード分散測定装置を提供する。 【構成】 白色光源２から出射されるほぼ無偏光の光
は、分光器３で特定のスペクトル成分を取り出された
後、被測定光ファイバ１に入射される。被測定光ファイ
バ１に入射される光が無偏光であるから、被測定光ファ
イバ１が真円でない場合でも、偏波面を考慮することな
く入射すればよい。被測定光ファイバ１から出射される
光は、検光子４によってある偏波面の光のみを光パワー
メータ５によって受光し、その強度を測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、シングルモード（Ｓ
Ｍ）光ファイバの偏波モード分散測定装置に関するもの
である。
Ｍ）光ファイバの偏波モード分散測定装置に関するもの
である。
【０００２】
【従来の技術】従来の偏波モード分散（ＰＭＤ）測定装
置としては、例えば、Ｃ．Ｄ．Ｐｏｏｌｅ，”“Ｍｅａ
ｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−
ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ ｉｎ ｓｉｎｇｌｅ
−ｍｏｄｅ ｆｉｂｅｒｓ ｗｉｔｈ ｒａｎｄｏｎ
ｍｏｄｅ ｃｏｕｐｌｉｎｇ”，ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴ
ＴＥＲＳ，Ｖｏｌ．１４，Ｎｏ．２０，ｐｐ５２３−５
２５（１９８９）に示されているものがある。図１０
は、従来の偏波モード分散測定装置の一例を示す構成図
である。図中、１は被測定光ファイバ、２は白色光源、
３は分光器、４は検光子、５は光パワーメータ、１１は
偏光子である。被測定光ファイバ１は、シングルモード
の光ファイバである。被測定光ファイバ１の入射端に
は、タングステンランプの白色光源２、分光器３および
偏光子１１からなる光源が配置され、また、被測定光フ
ァイバ１の出射端には、検光子４と、受光部として光パ
ワーメータ５が配置されている。
置としては、例えば、Ｃ．Ｄ．Ｐｏｏｌｅ，”“Ｍｅａ
ｓｕｒｅｍｅｎｔ ｏｆ ｐｏｌａｒｉｚａｔｉｏｎ−
ｍｏｄｅ ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ ｉｎ ｓｉｎｇｌｅ
−ｍｏｄｅ ｆｉｂｅｒｓ ｗｉｔｈ ｒａｎｄｏｎ
ｍｏｄｅ ｃｏｕｐｌｉｎｇ”，ＯＰＴＩＣＳ ＬＥＴ
ＴＥＲＳ，Ｖｏｌ．１４，Ｎｏ．２０，ｐｐ５２３−５
２５（１９８９）に示されているものがある。図１０
は、従来の偏波モード分散測定装置の一例を示す構成図
である。図中、１は被測定光ファイバ、２は白色光源、
３は分光器、４は検光子、５は光パワーメータ、１１は
偏光子である。被測定光ファイバ１は、シングルモード
の光ファイバである。被測定光ファイバ１の入射端に
は、タングステンランプの白色光源２、分光器３および
偏光子１１からなる光源が配置され、また、被測定光フ
ァイバ１の出射端には、検光子４と、受光部として光パ
ワーメータ５が配置されている。
【０００３】図１０に示した従来の偏波モード分散測定
装置で被測定光ファイバ１のＰＭＤを測定する方法につ
いて説明する。従来は、白色光源２から出射した光か
ら、分光器３で特定の光の波長を取り出し、偏光子１１
で直線偏波にした後、被測定光ファイバ１に入射する。
被測定光ファイバ１からの出射光を検光子４に通した
後、光パワーメータ５で受光パワーを測定する。そし
て、分光器３で波長を掃引し、そのときの、光パワーの
測定結果から、光パワーレベル変動の波長依存性を測定
していた。
装置で被測定光ファイバ１のＰＭＤを測定する方法につ
いて説明する。従来は、白色光源２から出射した光か
ら、分光器３で特定の光の波長を取り出し、偏光子１１
で直線偏波にした後、被測定光ファイバ１に入射する。
被測定光ファイバ１からの出射光を検光子４に通した
後、光パワーメータ５で受光パワーを測定する。そし
て、分光器３で波長を掃引し、そのときの、光パワーの
測定結果から、光パワーレベル変動の波長依存性を測定
していた。
【０００４】図１１は、光パワーレベル変動の波長依存
性の１例を示すグラフである。複屈折が存在する被測定
光ファイバ１の受光パワーレベルは、そのＰＭＤの大き
さに対応した周期で変動することが知られており、ＰＭ
Ｄは、この変動周期から（１）式により求めている。 ＰＭＤ＝（Ｎ／ｃ）・λ１・λ２／（λ２−λ１） （１） ここで、λ１〜λ２（ただしλ１＜λ２）は掃引した波
長範囲、Ｎは光パワー変動のピーク数、ｃは光速であ
る。
性の１例を示すグラフである。複屈折が存在する被測定
光ファイバ１の受光パワーレベルは、そのＰＭＤの大き
さに対応した周期で変動することが知られており、ＰＭ
Ｄは、この変動周期から（１）式により求めている。 ＰＭＤ＝（Ｎ／ｃ）・λ１・λ２／（λ２−λ１） （１） ここで、λ１〜λ２（ただしλ１＜λ２）は掃引した波
長範囲、Ｎは光パワー変動のピーク数、ｃは光速であ
る。
【０００５】また、従来のＰＭＤ測定装置の別の例とし
て、Ｓｃｏｔｔ Ｇｒｉｎｄｓｔａｆｆ，Ｊｏｓｅｐｈ
Ｈｉｌｌ，Ｏｍｉｄ Ｄａｎｅｓｈｖａｒ，“ＥＸＴ
ＲＩＮＳＩＣ ＳＴＲＥＳＳ ＥＦＦＥＣＴＳ ＯＮ
ＰＯＬＡＲＩＺＡＴＩＯＮＭＯＤＥ ＤＩＳＰＥＲＳＩ
ＯＮ ＩＮ ＯＰＴＩＣＡＬ ＦＩＢＥＲ ＣＡＢＬＥ
Ｓ”，Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｗｉｒｅ ＆ Ｃ
ａｂｌｅ Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇ
ｓ １９９３，ｐｐ．６４７−６５４に示されている装
置がある。図１２は、従来の偏波モード分散測定装置の
別の例を示す構成図である。図中、６はＬＥＤ、７は光
スペクトラムアナライザである。被測定光ファイバ１の
入射端には、スペクトル幅が広いＬＥＤ６および偏光子
１１からなる光源部を配置し、出射端には検光子４と、
受光部として光スペクトラムアナライザ７を配置してい
る。
て、Ｓｃｏｔｔ Ｇｒｉｎｄｓｔａｆｆ，Ｊｏｓｅｐｈ
Ｈｉｌｌ，Ｏｍｉｄ Ｄａｎｅｓｈｖａｒ，“ＥＸＴ
ＲＩＮＳＩＣ ＳＴＲＥＳＳ ＥＦＦＥＣＴＳ ＯＮ
ＰＯＬＡＲＩＺＡＴＩＯＮＭＯＤＥ ＤＩＳＰＥＲＳＩ
ＯＮ ＩＮ ＯＰＴＩＣＡＬ ＦＩＢＥＲ ＣＡＢＬＥ
Ｓ”，Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ Ｗｉｒｅ ＆ Ｃ
ａｂｌｅ Ｓｙｍｐｏｓｉｕｍ Ｐｒｏｃｅｅｄｉｎｇ
ｓ １９９３，ｐｐ．６４７−６５４に示されている装
置がある。図１２は、従来の偏波モード分散測定装置の
別の例を示す構成図である。図中、６はＬＥＤ、７は光
スペクトラムアナライザである。被測定光ファイバ１の
入射端には、スペクトル幅が広いＬＥＤ６および偏光子
１１からなる光源部を配置し、出射端には検光子４と、
受光部として光スペクトラムアナライザ７を配置してい
る。
【０００６】図１２に示した従来のＰＭＤ測定装置によ
る被測定光ファイバ１のＰＭＤの測定方法を説明する。
ＬＥＤ６から出射した光を偏光子１１で直線偏波にした
後、被測定光ファイバ１に入射する。そして、被測定光
ファイバ１からの出射光を検光子４に通した後、光スペ
クトラムアナライザ７で受光パワーの波長依存性を測定
する。ＰＭＤは、図１０に示した例と同様に、上述の
（１）式により求めることができる。
る被測定光ファイバ１のＰＭＤの測定方法を説明する。
ＬＥＤ６から出射した光を偏光子１１で直線偏波にした
後、被測定光ファイバ１に入射する。そして、被測定光
ファイバ１からの出射光を検光子４に通した後、光スペ
クトラムアナライザ７で受光パワーの波長依存性を測定
する。ＰＭＤは、図１０に示した例と同様に、上述の
（１）式により求めることができる。
【０００７】しかしながら、ＰＭＤは、光ファイバの構
造が真円からずれた場合、ファイバ断面内のｘ軸方向、
ｙ軸方向に直交する２つの偏波モードが異なる群伝搬速
度で進むために生じる群遅延時間の分散となる。したが
って、上述のような従来の測定法により、こうした複屈
折を有する光ファイバのＰＭＤを測定すると、偏光子１
１で直線偏波にされた光が、ｘ軸方向、およびｙ軸方向
それぞれに対し、どのような角度で入射するかによって
測定結果が大きく変わってしまうという問題がある。例
えば、偏光子１１で直線偏波にした光の偏波面が被測定
光ファイバ１のｘ軸方向もしくはｙ軸方向に合致して入
射した場合にはＰＭＤはほとんど発生せず、また、偏光
子１１で直線偏波にした光の偏波面が被測定ファイバ１
のｘ軸方向、およびｙ軸方向それぞれに対して４５゜で
入射した場合には測定されるＰＭＤは本来この被測定光
ファイバ１が持つ最大値となる。
造が真円からずれた場合、ファイバ断面内のｘ軸方向、
ｙ軸方向に直交する２つの偏波モードが異なる群伝搬速
度で進むために生じる群遅延時間の分散となる。したが
って、上述のような従来の測定法により、こうした複屈
折を有する光ファイバのＰＭＤを測定すると、偏光子１
１で直線偏波にされた光が、ｘ軸方向、およびｙ軸方向
それぞれに対し、どのような角度で入射するかによって
測定結果が大きく変わってしまうという問題がある。例
えば、偏光子１１で直線偏波にした光の偏波面が被測定
光ファイバ１のｘ軸方向もしくはｙ軸方向に合致して入
射した場合にはＰＭＤはほとんど発生せず、また、偏光
子１１で直線偏波にした光の偏波面が被測定ファイバ１
のｘ軸方向、およびｙ軸方向それぞれに対して４５゜で
入射した場合には測定されるＰＭＤは本来この被測定光
ファイバ１が持つ最大値となる。
【０００８】また、実際に使用されている光ファイバを
考えると、光ファイバ中の光の偏波状態はランダムであ
る。そのため、上述のような従来の測定方法を用い、直
線偏光を入射して求めていたＰＭＤは、どの値も、実際
の使用状態で発生するＰＭＤとは必ずしも対応しないと
いう問題もあった。
考えると、光ファイバ中の光の偏波状態はランダムであ
る。そのため、上述のような従来の測定方法を用い、直
線偏光を入射して求めていたＰＭＤは、どの値も、実際
の使用状態で発生するＰＭＤとは必ずしも対応しないと
いう問題もあった。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上述した事
情に鑑みてなされたもので、実際に使用される状態で発
生するのと同等のＰＭＤを、安定して測定することので
きる偏波モード分散測定装置を提供することを目的とす
るものである。
情に鑑みてなされたもので、実際に使用される状態で発
生するのと同等のＰＭＤを、安定して測定することので
きる偏波モード分散測定装置を提供することを目的とす
るものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本発明は、被測定光ファ
イバの偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定装
置において、無偏光状態に近い光を前記被測定光ファイ
バの一端から入射させる光源部と、前記被測定光ファイ
バの他端からの出射光から特定の偏光成分を取り出す検
光子と、前記検光子を介して取り出された光を受光する
受光部を有することを特徴とするものである。
イバの偏波モード分散を測定する偏波モード分散測定装
置において、無偏光状態に近い光を前記被測定光ファイ
バの一端から入射させる光源部と、前記被測定光ファイ
バの他端からの出射光から特定の偏光成分を取り出す検
光子と、前記検光子を介して取り出された光を受光する
受光部を有することを特徴とするものである。
【００１１】光源部から出射される光としては、消光比
が３ｄＢ以下の無偏光状態に近い光を用いることができ
る。光源部と受光部の組合せとしては、白色光源と分光
器により構成される光源部と光パワーメータ、ＬＥＤ光
源と光スペクトラムアナライザ、ＬＥＤ光源及びデポラ
ライザと光スペクトラムアナライザ、スーパールミネッ
セントダイオード光源と光スペクトラムアナライザ、ス
ーパールミネッセントダイオード光源及びデポラライザ
と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオード光源
と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオード光源
及びデポラライザと光スペクトラムアナライザ等を用い
ることができる。
が３ｄＢ以下の無偏光状態に近い光を用いることができ
る。光源部と受光部の組合せとしては、白色光源と分光
器により構成される光源部と光パワーメータ、ＬＥＤ光
源と光スペクトラムアナライザ、ＬＥＤ光源及びデポラ
ライザと光スペクトラムアナライザ、スーパールミネッ
セントダイオード光源と光スペクトラムアナライザ、ス
ーパールミネッセントダイオード光源及びデポラライザ
と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオード光源
と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオード光源
及びデポラライザと光スペクトラムアナライザ等を用い
ることができる。
【００１２】また、被測定光ファイバの偏波モード分散
を測定する偏波モード分散測定方法において、無偏光状
態に近い光を用いて前記被測定光ファイバの一端から入
射させ、前記被測定光ファイバの他端からの出射光から
特定の偏光成分を取り出し、受光部で受光することを特
徴とするものである。
を測定する偏波モード分散測定方法において、無偏光状
態に近い光を用いて前記被測定光ファイバの一端から入
射させ、前記被測定光ファイバの他端からの出射光から
特定の偏光成分を取り出し、受光部で受光することを特
徴とするものである。
【００１３】被測定光ファイバに入射する無偏光状態に
近い光としては、消光比が３ｄＢ以下の光を用いること
ができる。無偏光状態に近い光を得るための光源と、被
測定光ファイバから出射され検光子を介して得られる光
を受光する受光部との組合せとしては、白色光源と分光
器による光源と光パワーメータ、ＬＥＤ光源と光スペク
トラムアナライザ、ＬＥＤ光源及びデポラライザによる
光源と光スペクトラムアナライザ、スーパールミネッセ
ントダイオード光源と光スペクトラムアナライザ、スー
パールミネッセントダイオード光源及びデポラライザに
よる光源と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオ
ード光源と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオ
ード光源及びデポラライザによる光源と光スペクトラム
アナライザ等を用いることができる。
近い光としては、消光比が３ｄＢ以下の光を用いること
ができる。無偏光状態に近い光を得るための光源と、被
測定光ファイバから出射され検光子を介して得られる光
を受光する受光部との組合せとしては、白色光源と分光
器による光源と光パワーメータ、ＬＥＤ光源と光スペク
トラムアナライザ、ＬＥＤ光源及びデポラライザによる
光源と光スペクトラムアナライザ、スーパールミネッセ
ントダイオード光源と光スペクトラムアナライザ、スー
パールミネッセントダイオード光源及びデポラライザに
よる光源と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオ
ード光源と光スペクトラムアナライザ、端面発光ダイオ
ード光源及びデポラライザによる光源と光スペクトラム
アナライザ等を用いることができる。
【００１４】
【作用】本発明の偏波モード分散測定装置では、無偏光
状態に近い光を偏光子を介さずに、直接、被測定光ファ
イバに入射して測定することを特徴としている。したが
って、被測定光ファイバの構造が真円でない場合に方向
性に関係なく測定を行なうことができ、従来の測定法に
おいて問題であった、偏光子で直線偏波にした光が、被
測定光ファイバのｘ軸方向、およびｙ軸方向それぞれに
対し、どのような角度で入射するかによって測定するＰ
ＭＤが大きく変わってしまうという問題は解決される。
さらに、実際に使用するときには光ファイバ中の光の偏
波状態はランダムであることから、本発明による測定結
果は実際に使用される条件のもとでのＰＭＤを測定する
ことができる。
状態に近い光を偏光子を介さずに、直接、被測定光ファ
イバに入射して測定することを特徴としている。したが
って、被測定光ファイバの構造が真円でない場合に方向
性に関係なく測定を行なうことができ、従来の測定法に
おいて問題であった、偏光子で直線偏波にした光が、被
測定光ファイバのｘ軸方向、およびｙ軸方向それぞれに
対し、どのような角度で入射するかによって測定するＰ
ＭＤが大きく変わってしまうという問題は解決される。
さらに、実際に使用するときには光ファイバ中の光の偏
波状態はランダムであることから、本発明による測定結
果は実際に使用される条件のもとでのＰＭＤを測定する
ことができる。
【００１５】
【実施例】図１は、本発明の偏波モード分散測定装置の
第１の実施例を示す構成図である。図中、図１０と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。この第１
の実施例では、図１０に示した従来の測定装置で用いて
いた偏光子を用いず、分光器からの光を、直接、被測定
光ファイバ１に入射している。
第１の実施例を示す構成図である。図中、図１０と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。この第１
の実施例では、図１０に示した従来の測定装置で用いて
いた偏光子を用いず、分光器からの光を、直接、被測定
光ファイバ１に入射している。
【００１６】白色光源２から出射される光は、ほぼ無偏
光であり、ある波長域でフラットなスペクトル特性を有
している。白色光源としては、例えば、タングステンラ
ンプを用いることができる。分光器３は、白色光源２か
ら出射される光の中から、特定のスペクトル成分を取り
出す。分光器３としては、半値幅が１ｎｍのものを用い
ることができる。この分光器３を通して得られた光は、
ほぼ無偏光のままである。例えば、消光比を１．０ｄＢ
程度とすることができる。この無偏光光を、被測定光フ
ァイバ１に入射する。被測定光ファイバ１に入射される
光が無偏光であるから、被測定光ファイバ１が真円でな
い場合でも、偏波面を考慮することなく入射すればよ
い。被測定光ファイバ１から出射される光は、検光子４
によってある偏波面の光のみを光パワーメータ５によっ
て受光し、その強度を測定する。
光であり、ある波長域でフラットなスペクトル特性を有
している。白色光源としては、例えば、タングステンラ
ンプを用いることができる。分光器３は、白色光源２か
ら出射される光の中から、特定のスペクトル成分を取り
出す。分光器３としては、半値幅が１ｎｍのものを用い
ることができる。この分光器３を通して得られた光は、
ほぼ無偏光のままである。例えば、消光比を１．０ｄＢ
程度とすることができる。この無偏光光を、被測定光フ
ァイバ１に入射する。被測定光ファイバ１に入射される
光が無偏光であるから、被測定光ファイバ１が真円でな
い場合でも、偏波面を考慮することなく入射すればよ
い。被測定光ファイバ１から出射される光は、検光子４
によってある偏波面の光のみを光パワーメータ５によっ
て受光し、その強度を測定する。
【００１７】図２は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第２の実施例を示す構成図である。図中、図１と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。６はＬＥ
Ｄ、７は光スペクトラムアナライザである。この第２の
実施例では、光源部としてＬＥＤ６を用い、ＬＥＤ６の
発光光を直接被測定光ファイバ１に入射している。ＬＥ
Ｄ６の発光光は無偏光に近く、消光比を３．０ｄＢ程度
とすることができる。また、ＬＥＤ６としてスペクトル
幅が５０ｎｍ程度のものを用いることができる。この実
施例では、受光部として光スペクトラムアナライザ７を
用いており、検光子４によってある偏波面の光を受光
し、そのスペクトルが測定される。
の第２の実施例を示す構成図である。図中、図１と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。６はＬＥ
Ｄ、７は光スペクトラムアナライザである。この第２の
実施例では、光源部としてＬＥＤ６を用い、ＬＥＤ６の
発光光を直接被測定光ファイバ１に入射している。ＬＥ
Ｄ６の発光光は無偏光に近く、消光比を３．０ｄＢ程度
とすることができる。また、ＬＥＤ６としてスペクトル
幅が５０ｎｍ程度のものを用いることができる。この実
施例では、受光部として光スペクトラムアナライザ７を
用いており、検光子４によってある偏波面の光を受光
し、そのスペクトルが測定される。
【００１８】図３は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第３の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。８はデポ
ラライザである。この第３の実施例では、光源部として
ＬＥＤ６とデポラライザ８を用いて構成した例を示して
いる。上述の第２の実施例で用いたＬＥＤ６を光源と
し、ＬＥＤ６からの出射光をデポラライザ８に入力し、
さらに無偏光に近い光として被測定光ファイバ１に入射
している。このとき、デポラライザ８から被測定光ファ
イバ１に入射される光の消光比を０．８ｄＢ程度とする
ことができた。
の第３の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。８はデポ
ラライザである。この第３の実施例では、光源部として
ＬＥＤ６とデポラライザ８を用いて構成した例を示して
いる。上述の第２の実施例で用いたＬＥＤ６を光源と
し、ＬＥＤ６からの出射光をデポラライザ８に入力し、
さらに無偏光に近い光として被測定光ファイバ１に入射
している。このとき、デポラライザ８から被測定光ファ
イバ１に入射される光の消光比を０．８ｄＢ程度とする
ことができた。
【００１９】図４は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第４の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。９はスー
パールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）である。この
第４の実施例では、光源部としてＳＬＤ９を用いた例を
示している。ＳＬＤ９としては、発光光のスペクトル幅
が８０ｎｍ程度のものを用いることができる。このＳＬ
Ｄ９の発光光はほぼ無偏光に近い光であり、例えば、発
光光の消光比が１．５ｄＢ程度のものを用いることがで
きる。受光部には、光スペクトラムアナライザ７を用い
ており、被測定光ファイバ１からの出射光から検光子４
である偏波面の光が取り出され、光スペクトラムアナラ
イザ７で受光してスペクトルが解析される。
の第４の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。９はスー
パールミネッセントダイオード（ＳＬＤ）である。この
第４の実施例では、光源部としてＳＬＤ９を用いた例を
示している。ＳＬＤ９としては、発光光のスペクトル幅
が８０ｎｍ程度のものを用いることができる。このＳＬ
Ｄ９の発光光はほぼ無偏光に近い光であり、例えば、発
光光の消光比が１．５ｄＢ程度のものを用いることがで
きる。受光部には、光スペクトラムアナライザ７を用い
ており、被測定光ファイバ１からの出射光から検光子４
である偏波面の光が取り出され、光スペクトラムアナラ
イザ７で受光してスペクトルが解析される。
【００２０】図５は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第５の実施例を示す構成図である。図中、図３，図４
と同様の部分には同じ符号を付して説明を省略する。こ
の第５の実施例では、光源部としてＳＬＤ９とデポララ
イザ８を用いて構成した例を示している。上述の第４の
実施例で用いたＳＬＤ９を光源とし、ＳＬＤ９からの出
射光をデポラライザ８に入力し、さらに無偏光に近い光
として被測定光ファイバ１に入射している。このとき、
デポラライザ８から被測定光ファイバ１に入射される光
の消光比を０．３ｄＢ程度とすることができた。
の第５の実施例を示す構成図である。図中、図３，図４
と同様の部分には同じ符号を付して説明を省略する。こ
の第５の実施例では、光源部としてＳＬＤ９とデポララ
イザ８を用いて構成した例を示している。上述の第４の
実施例で用いたＳＬＤ９を光源とし、ＳＬＤ９からの出
射光をデポラライザ８に入力し、さらに無偏光に近い光
として被測定光ファイバ１に入射している。このとき、
デポラライザ８から被測定光ファイバ１に入射される光
の消光比を０．３ｄＢ程度とすることができた。
【００２１】図６は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第６の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。１０は端
面発光ダイオード（ＥＥＬＥＤ）である。この第６の実
施例では、光源部としてＥＥＬＥＤ１０を用いた例を示
している。ＥＥＬＥＤ１０としては、発光光のスペクト
ル幅が９０ｎｍ程度のものを用いることができる。この
ＥＥＬＥＤ１０の発光光はほぼ無偏光に近い光であり、
例えば、発光光の消光比が１．２ｄＢ程度のものを用い
ることができる。受光部には、光スペクトラムアナライ
ザ７を用いており、被測定光ファイバ１からの出射光か
ら検光子４である偏波面の光が取り出され、光スペクト
ラムアナライザ７で受光してスペクトルが解析される。
の第６の実施例を示す構成図である。図中、図２と同様
の部分には同じ符号を付して説明を省略する。１０は端
面発光ダイオード（ＥＥＬＥＤ）である。この第６の実
施例では、光源部としてＥＥＬＥＤ１０を用いた例を示
している。ＥＥＬＥＤ１０としては、発光光のスペクト
ル幅が９０ｎｍ程度のものを用いることができる。この
ＥＥＬＥＤ１０の発光光はほぼ無偏光に近い光であり、
例えば、発光光の消光比が１．２ｄＢ程度のものを用い
ることができる。受光部には、光スペクトラムアナライ
ザ７を用いており、被測定光ファイバ１からの出射光か
ら検光子４である偏波面の光が取り出され、光スペクト
ラムアナライザ７で受光してスペクトルが解析される。
【００２２】図７は、本発明の偏波モード分散測定装置
の第７の実施例を示す構成図である。図中、図５，図６
と同様の部分には同じ符号を付して説明を省略する。こ
の第７の実施例では、光源部としてＥＥＬＥＤ１０とデ
ポラライザ８を用いて構成した例を示している。上述の
第６の実施例で用いたＥＥＬＥＤ１０を光源とし、ＥＥ
ＬＥＤ１０からの出射光をデポラライザ８に入力し、さ
らに無偏光に近い光として被測定光ファイバ１に入射し
ている。このとき、デポラライザ８から被測定光ファイ
バ１に入射される光の消光比を０．２ｄＢ程度とするこ
とができた。
の第７の実施例を示す構成図である。図中、図５，図６
と同様の部分には同じ符号を付して説明を省略する。こ
の第７の実施例では、光源部としてＥＥＬＥＤ１０とデ
ポラライザ８を用いて構成した例を示している。上述の
第６の実施例で用いたＥＥＬＥＤ１０を光源とし、ＥＥ
ＬＥＤ１０からの出射光をデポラライザ８に入力し、さ
らに無偏光に近い光として被測定光ファイバ１に入射し
ている。このとき、デポラライザ８から被測定光ファイ
バ１に入射される光の消光比を０．２ｄＢ程度とするこ
とができた。
【００２３】図８は、本発明の偏波モード分散測定装置
を用いた測定結果の一例の説明図である。ここでは、被
測定光ファイバ１として、長さ１０ｋｍの分散シフトＳ
Ｍファイバを用いた。また、測定に当たっては、検光子
４の角度を０度と４５度に変えて、２回ずつ測定した。
を用いた測定結果の一例の説明図である。ここでは、被
測定光ファイバ１として、長さ１０ｋｍの分散シフトＳ
Ｍファイバを用いた。また、測定に当たっては、検光子
４の角度を０度と４５度に変えて、２回ずつ測定した。
【００２４】比較例として、図１２に示した構成の偏波
モード分散測定装置を用いた測定結果も示した。従来の
偏波モード分散測定装置の光源部には、中心波長１５５
０ｎｍ、スペクトル半値幅５０ｎｍのＬＥＤ６と偏光子
１１を用いた。このとき、光源部の消光比は偏光子１１
の性能で決まり、約４０ｄＢであった。従来の偏波モー
ド分散測定装置による測定においても、光源部の偏光子
１１の角度を０度と４５度に変え、検光子４の角度を、
偏光子のそれぞれの角度に対して０度と４５度に変え
て、計４回測定した。
モード分散測定装置を用いた測定結果も示した。従来の
偏波モード分散測定装置の光源部には、中心波長１５５
０ｎｍ、スペクトル半値幅５０ｎｍのＬＥＤ６と偏光子
１１を用いた。このとき、光源部の消光比は偏光子１１
の性能で決まり、約４０ｄＢであった。従来の偏波モー
ド分散測定装置による測定においても、光源部の偏光子
１１の角度を０度と４５度に変え、検光子４の角度を、
偏光子のそれぞれの角度に対して０度と４５度に変え
て、計４回測定した。
【００２５】測定結果を図８に示している。第１欄には
測定に用いた光源部及び受光部を示しており、第２欄に
は光源部の消光比を、第３欄には光源部の偏光子１１の
角度（従来法のみ）を、第４欄には検光子４の角度を、
第５欄にはＰＭＤ測定値を、第６欄には、検光子４が０
度と４５度のときのＰＭＤ測定値の平均値を、第７欄に
は検光子４が０度と４５度のときにおけるＰＭＤ測定値
のばらつきを、それぞれ表わしている。
測定に用いた光源部及び受光部を示しており、第２欄に
は光源部の消光比を、第３欄には光源部の偏光子１１の
角度（従来法のみ）を、第４欄には検光子４の角度を、
第５欄にはＰＭＤ測定値を、第６欄には、検光子４が０
度と４５度のときのＰＭＤ測定値の平均値を、第７欄に
は検光子４が０度と４５度のときにおけるＰＭＤ測定値
のばらつきを、それぞれ表わしている。
【００２６】図８に示した測定結果からも分かるよう
に、従来法によるＰＭＤの測定結果では、検光子４の角
度によるＰＭＤ測定値のばらつきが大きい。また、偏光
子１１の角度によってＰＭＤ測定値がばらついている。
このように、従来法では、偏光子１１で直線偏波にした
光が、被測定光ファイバ１のｘ軸方向およびｙ軸方向の
それぞれに対し、どのような角度で入射するかによっ
て、測定するＰＭＤが大きく変わってしまう。更に、検
光子４の角度にも大きく依存してしまうため、偏光子１
１および検光子４の角度に対するＰＭＤ測定値のばらつ
きは、ＰＭＤ測定平均値に対して４０％〜６０％と大き
く変動し、正確にＰＭＤを評価することはできなかっ
た。また、それぞれの偏光子１１および検光子４の角度
に対するＰＭＤ測定値は、実用上の光ファイバ中のラン
ダムな光の偏波状態には必ずしも対応するわけではない
ため、各測定データをどのように取り扱うべきか根拠が
なく、測定自体の意味が不明確であった。
に、従来法によるＰＭＤの測定結果では、検光子４の角
度によるＰＭＤ測定値のばらつきが大きい。また、偏光
子１１の角度によってＰＭＤ測定値がばらついている。
このように、従来法では、偏光子１１で直線偏波にした
光が、被測定光ファイバ１のｘ軸方向およびｙ軸方向の
それぞれに対し、どのような角度で入射するかによっ
て、測定するＰＭＤが大きく変わってしまう。更に、検
光子４の角度にも大きく依存してしまうため、偏光子１
１および検光子４の角度に対するＰＭＤ測定値のばらつ
きは、ＰＭＤ測定平均値に対して４０％〜６０％と大き
く変動し、正確にＰＭＤを評価することはできなかっ
た。また、それぞれの偏光子１１および検光子４の角度
に対するＰＭＤ測定値は、実用上の光ファイバ中のラン
ダムな光の偏波状態には必ずしも対応するわけではない
ため、各測定データをどのように取り扱うべきか根拠が
なく、測定自体の意味が不明確であった。
【００２７】一方、本発明によるＰＭＤ測定値の実施例
によれば、光源部の消光比が３．０ｄＢであった第２の
実施例、すなわち、ＬＥＤ６のみを光源部として用いた
場合でも、検光子４の角度に対するＰＭＤ測定値のばら
つきは、ＰＭＤ測定平均値に対して約５％程度であり、
ＰＭＤ測定値は問題ないレベルに安定していた。光源部
の消光比がさらに小さい実施例では、全く問題は見られ
なかった。
によれば、光源部の消光比が３．０ｄＢであった第２の
実施例、すなわち、ＬＥＤ６のみを光源部として用いた
場合でも、検光子４の角度に対するＰＭＤ測定値のばら
つきは、ＰＭＤ測定平均値に対して約５％程度であり、
ＰＭＤ測定値は問題ないレベルに安定していた。光源部
の消光比がさらに小さい実施例では、全く問題は見られ
なかった。
【００２８】なお、本発明による偏波モード分散測定装
置による測定では、無偏光状態に近い光を、偏光子を介
さずに直接、被測定光ファイバに入射して測定するた
め、本発明によるＰＭＤ測定値は、実用上の光ファイバ
中のランダムな光の偏波状態それぞれに対するＰＭＤの
平均値に対応している。そのため、ＰＭＤ測定値を実際
に光ファイバを用いる際の値として用いることが可能で
ある。
置による測定では、無偏光状態に近い光を、偏光子を介
さずに直接、被測定光ファイバに入射して測定するた
め、本発明によるＰＭＤ測定値は、実用上の光ファイバ
中のランダムな光の偏波状態それぞれに対するＰＭＤの
平均値に対応している。そのため、ＰＭＤ測定値を実際
に光ファイバを用いる際の値として用いることが可能で
ある。
【００２９】図９は、光源部の消光比とＰＭＤ測定値の
ばらつきの最大値の関係を示すグラフである。図９に示
すように、光源部の消光比が大きくなる、すなわち、偏
光成分が多くなると、次第にＰＭＤ測定値のばらつきが
大きくなってくる。いま、ＰＭＤ測定値のばらつきの許
容値を０．０５ｐｓとすると、ＰＭＤ測定値のばらつき
がこの許容値以下となるのは、光源部の消光比が３ｄＢ
以下の場合であった。上述の実施例は、この許容値を満
足しており、ＰＭＤ測定値を５％以内の誤差で測定する
ことが可能である。もちろん、ばらつきの許容値を緩め
ることもでき、その場合には消光比が３ｄＢ以上の光源
を用いることも可能である。
ばらつきの最大値の関係を示すグラフである。図９に示
すように、光源部の消光比が大きくなる、すなわち、偏
光成分が多くなると、次第にＰＭＤ測定値のばらつきが
大きくなってくる。いま、ＰＭＤ測定値のばらつきの許
容値を０．０５ｐｓとすると、ＰＭＤ測定値のばらつき
がこの許容値以下となるのは、光源部の消光比が３ｄＢ
以下の場合であった。上述の実施例は、この許容値を満
足しており、ＰＭＤ測定値を５％以内の誤差で測定する
ことが可能である。もちろん、ばらつきの許容値を緩め
ることもでき、その場合には消光比が３ｄＢ以上の光源
を用いることも可能である。
【００３０】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
によれば、無偏光状態に近い光を用いているので、入射
光の偏光面によるＰＭＤ測定値のばらつきを排除し、安
定したＰＭＤの測定を行なうことができる。また、実際
に使用される状態で発生するのと同等のＰＭＤを測定す
ることができ、有効な測定値を得ることができるという
効果がある。
によれば、無偏光状態に近い光を用いているので、入射
光の偏光面によるＰＭＤ測定値のばらつきを排除し、安
定したＰＭＤの測定を行なうことができる。また、実際
に使用される状態で発生するのと同等のＰＭＤを測定す
ることができ、有効な測定値を得ることができるという
効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の偏波モード分散測定装置の第１の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図２】本発明の偏波モード分散測定装置の第２の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図３】本発明の偏波モード分散測定装置の第３の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図４】本発明の偏波モード分散測定装置の第４の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図５】本発明の偏波モード分散測定装置の第５の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図６】本発明の偏波モード分散測定装置の第６の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図７】本発明の偏波モード分散測定装置の第７の実施
例を示す構成図である。
例を示す構成図である。
【図８】本発明の偏波モード分散測定装置を用いた測定
結果の一例の説明図である。
結果の一例の説明図である。
【図９】光源部の消光比とＰＭＤ測定値のばらつきの最
大値の関係を示すグラフである。
大値の関係を示すグラフである。
【図１０】従来の偏波モード分散測定装置の一例を示す
構成図である。
構成図である。
【図１１】光パワーレベル変動の波長依存性の１例を示
すグラフである。
すグラフである。
【図１２】従来の偏波モード分散測定装置の別の例を示
す構成図である。
す構成図である。
１…被測定光ファイバ、２…白色光源、３…分光器、４
…検光子、５…光パワーメータ、６…ＬＥＤ、７…光ス
ペクトラムアナライザ、８…デポラライザ、９…スーパ
ールミネッセントダイオード、１０…端面発光ダイオー
ド。
…検光子、５…光パワーメータ、６…ＬＥＤ、７…光ス
ペクトラムアナライザ、８…デポラライザ、９…スーパ
ールミネッセントダイオード、１０…端面発光ダイオー
ド。
Claims (18)
- 【請求項１】 被測定光ファイバの偏波モード分散を測
定する偏波モード分散測定装置において、無偏光状態に
近い光を前記被測定光ファイバの一端から入射させる光
源部と、前記被測定光ファイバの他端からの出射光から
特定の偏光成分を取り出す検光子と、前記検光子を介し
て取り出された光を受光する受光部を有することを特徴
とする偏波モード分散測定装置。 - 【請求項２】 前記光源部から出射される光の消光比が
３ｄＢ以下であることを特徴とする請求項１に記載の偏
波モード分散測定装置。 - 【請求項３】 前記光源部は白色光源と分光器により構
成され、前記受光部は光パワーメータにより構成されて
いることを特徴とする請求項１に記載の偏波モード分散
測定装置。 - 【請求項４】 前記光源部はＬＥＤ光源により構成さ
れ、前記受光部は光スペクトラムアナライザにより構成
されていることを特徴とする請求項１に記載の偏波モー
ド分散測定装置。 - 【請求項５】 前記光源部はＬＥＤ光源とデポラライザ
により構成され、前記受光部は光スペクトラムアナライ
ザにより構成されていることを特徴とする請求項１に記
載の偏波モード分散測定装置。 - 【請求項６】 前記光源部はスーパールミネッセントダ
イオード光源により構成され、前記受光部は光スペクト
ラムアナライザにより構成されていることを特徴とする
請求項１に記載の偏波モード分散測定装置。 - 【請求項７】 前記光源部はスーパールミネッセントダ
イオード光源とデポラライザにより構成され、前記受光
部は光スペクトラムアナライザにより構成されているこ
とを特徴とする請求項１に記載の偏波モード分散測定装
置。 - 【請求項８】 前記光源部は端面発光ダイオード光源に
より構成され、前記受光部は光スペクトラムアナライザ
により構成されていることを特徴とする請求項１に記載
の偏波モード分散測定装置。 - 【請求項９】 前記光源部は端面発光ダイオード光源と
デポラライザにより構成され、前記受光部は光スペクト
ラムアナライザにより構成されていることを特徴とする
請求項１に記載の偏波モード分散測定装置。 - 【請求項１０】 被測定光ファイバの偏波モード分散を
測定する偏波モード分散測定方法において、無偏光状態
に近い光を用いて前記被測定光ファイバの一端から入射
させ、前記被測定光ファイバの他端からの出射光から特
定の偏光成分を取り出し、受光部で受光することを特徴
とする偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１１】 前記無偏光状態に近い光は、消光比が
３ｄＢ以下であることを特徴とする請求項１０に記載の
偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１２】 前記無偏光状態に近い光として白色光
源から出射され分光器を介して得られる光を用い、前記
受光部として光パワーメータを用いて受光することを特
徴とする請求項１０に記載の偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１３】 前記無偏光状態に近い光としてＬＥＤ
光源からの出射光を用い、前記受光部として光スペクト
ラムアナライザを用いて受光することを特徴とする請求
項１０に記載の偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１４】 前記無偏光状態に近い光としてＬＥＤ
光源から出射されデポラライザを介して得られる光を用
い、前記受光部として光スペクトラムアナライザを用い
て受光することを特徴とする請求項１０に記載の偏波モ
ード分散測定方法。 - 【請求項１５】 前記無偏光状態に近い光としてスーパ
ールミネッセントダイオード光源からの出射光を用い、
前記受光部として光スペクトラムアナライザを用いて受
光することを特徴とする請求項１０に記載の偏波モード
分散測定方法。 - 【請求項１６】 前記無偏光状態に近い光としてスーパ
ールミネッセントダイオード光源から出射されデポララ
イザを介して得られる光を用い、前記受光部として光ス
ペクトラムアナライザを用いて受光することを特徴とす
る請求項１０に記載の偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１７】 前記無偏光状態に近い光として端面発
光ダイオード光源からの出射光を用い、前記受光部とし
て光スペクトラムアナライザを用いて受光することを特
徴とする請求項１０に記載の偏波モード分散測定方法。 - 【請求項１８】 前記無偏光状態に近い光として端面発
光ダイオード光源から出射されデポラライザを介して得
られる光を用い、前記受光部として光スペクトラムアナ
ライザを用いて受光することを特徴とする請求項１０に
記載の偏波モード分散測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16120894A JPH0829293A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 偏波モード分散測定装置および偏波モード分散測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16120894A JPH0829293A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 偏波モード分散測定装置および偏波モード分散測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0829293A true JPH0829293A (ja) | 1996-02-02 |
Family
ID=15730663
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16120894A Pending JPH0829293A (ja) | 1994-07-13 | 1994-07-13 | 偏波モード分散測定装置および偏波モード分散測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0829293A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998037396A1 (en) * | 1997-02-25 | 1998-08-27 | Mci Communications Corporation | A method and system for simulating pmd using incremental delay switching |
| WO2001069196A1 (fr) * | 2000-03-14 | 2001-09-20 | Anritsu Corporation | Procede et systeme de mesure de dispersion en mode de polarisation |
| WO2005038425A1 (ja) * | 2003-10-22 | 2005-04-28 | Fujikura Ltd. | 光ファイバおよび光ファイバの偏波モード分散測定方法 |
-
1994
- 1994-07-13 JP JP16120894A patent/JPH0829293A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1998037396A1 (en) * | 1997-02-25 | 1998-08-27 | Mci Communications Corporation | A method and system for simulating pmd using incremental delay switching |
| WO2001069196A1 (fr) * | 2000-03-14 | 2001-09-20 | Anritsu Corporation | Procede et systeme de mesure de dispersion en mode de polarisation |
| WO2005038425A1 (ja) * | 2003-10-22 | 2005-04-28 | Fujikura Ltd. | 光ファイバおよび光ファイバの偏波モード分散測定方法 |
| US7298934B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-11-20 | Fujikura Ltd. | Optical fiber and method of measuring polarization mode dispersion of optical fiber |
| KR100868373B1 (ko) * | 2003-10-22 | 2008-11-12 | 가부시키가이샤후지쿠라 | 광화이버 및 광화이버의 편파 모드 분산 측정방법 |
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