JPH08288362A - Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it - Google Patents

Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it

Info

Publication number
JPH08288362A
JPH08288362A JP11356395A JP11356395A JPH08288362A JP H08288362 A JPH08288362 A JP H08288362A JP 11356395 A JP11356395 A JP 11356395A JP 11356395 A JP11356395 A JP 11356395A JP H08288362 A JPH08288362 A JP H08288362A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wafer
plate
section
holding
holding table
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11356395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Yamagami
孝 山上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Eastern Japan Semiconductor Inc
Original Assignee
Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Tokyo Electronics Co Ltd
Priority to JP11356395A priority Critical patent/JPH08288362A/en
Publication of JPH08288362A publication Critical patent/JPH08288362A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE: To obtain a wafer transporting apparatus and a wafer treating apparatus for transporting and treating a wafer in a standing state. CONSTITUTION: A wafer transporting apparatus 10 comprises a holding base 15 moved forward and backward relative to a movable base 13 by a pantagraph apparatus 14 supported at one end thereof by the movable base 13, and the holding base 15 holds a wafer 1 in a standing state. A wafer treating apparatus 5 comprises treating sections 21, 22, 41, 42, 61, 62 and each treating section treats the wafer in the standing state. The movable base 13 is moved to a waiting position in each treating section, and the holding base 15 is reciprocated between the treating section and the movable base by the pantagraph apparatus 14. Thus, the wafer can be transported and treated in the standing state so that the floor area occupied by the wafer transporting apparatus and the wafer treating apparatus can be decreased. The wafer in the standing state is made parallel to the down flow so that dust adhesion to the wafer due to the down flow can be suppressed.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、板状物の搬送技術、特
に、板状物を立てた状態で搬送する技術に関し、例え
ば、半導体装置の製造工場において、板状物である半導
体ウエハ(以下、ウエハという。)を搬送するのに利用
して有効な技術に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a technique for transporting a plate-like material, and more particularly to a technique for transporting a plate-like material in an upright state. Hereinafter, it will be referred to as a wafer), and is related to a technology effectively used for carrying the wafer.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工場におけるフォトレ
ジスト現像装置においては、ワークであるウエハがロー
ディング部、プリベーク部、冷却部、現像処理部、アフ
タベーク部およびアンローディング部等の各処理部へウ
エハ搬送装置によって順次搬送される。このようなウエ
ハ処理装置に使用されるウエハ搬送装置は、処理が施さ
れた主面(以下、被処理面という。)を上側に向けた状
態でウエハを搬送して行くように構成されているのが、
一般的である。
2. Description of the Related Art In a photoresist developing apparatus in a semiconductor device manufacturing factory, a wafer, which is a work, is transferred to each processing section such as a loading section, a prebaking section, a cooling section, a development processing section, an afterbaking section and an unloading section. It is sequentially conveyed by the device. A wafer transfer apparatus used in such a wafer processing apparatus is configured to transfer a wafer with a processed main surface (hereinafter referred to as a processed surface) facing upward. But
It is common.

【0003】なお、半導体装置の製造工場において使用
されるフォトレジスト現像装置を述べてある例として
は、株式会社プレスジャーナル、平成3年11月1日発
行の「’92最新半導体プロセス技術」P172〜P1
75、がある。
Incidentally, as an example in which a photoresist developing device used in a semiconductor device manufacturing factory is described, "J92 latest semiconductor process technology" P172-Published November 1, 1991, Press Journal Co., Ltd. P1
There are 75.

【0004】また、ウエハを立てた状態で搬送する特殊
な例を述べてある文献として、特開昭63−57451
号公報がある。
Further, as a document describing a special example of carrying a wafer in an upright state, Japanese Patent Laid-Open No. 63-57451.
There is a gazette.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
フォトレジスト現像装置においては、ウエハが被処理面
を上に向けられた状態で搬送されるため、次のような問
題点がある。 (1) 搬送ラインおよび各処理部の床面積は最小でも
ウエハの外径だけ必要になるため、フォトレジスト現像
装置の専有床面積が大きくなってしまう。 (2) また、搬送ラインおよび各処理部全体の雰囲気
を温度調整する場合には、温度調整する容積が大きくな
るため、これに必要な付帯設備も大型化してしまう。 (3) フォトレジスト現像装置全体がクリーンベンチ
構造に構築される場合には、ウエハのダウンフローと垂
直に接する面積が広くなるため、このダウンフローエア
中の塵埃がウエハへ付着する確率が増加する。 (4) また、ダウンフローに対してウエハは障害物に
なるため、ウエハの上でエアが渦流を発生したりしてダ
ウンフローの気流が乱れ、その結果、塵埃がウエハに付
着する確率がより一層増加する。
However, the conventional photoresist developing apparatus has the following problems because the wafer is transferred with the surface to be processed facing upward. (1) The floor area of the transfer line and each processing unit is required to be the outer diameter of the wafer even at the minimum, so that the floor area occupied by the photoresist developing apparatus becomes large. (2) Further, when the temperature of the atmosphere of the entire transfer line and each processing unit is adjusted, the volume for adjusting the temperature becomes large, and the auxiliary equipment required for this also becomes large. (3) When the entire photoresist developing apparatus is constructed in a clean bench structure, the area of the wafer that is in vertical contact with the downflow becomes large, and therefore the probability that dust in the downflow air will adhere to the wafer increases. . (4) In addition, since the wafer becomes an obstacle to the downflow, air may generate a vortex on the wafer to disturb the airflow of the downflow, and as a result, dust is more likely to adhere to the wafer. Increase more.

【0006】本発明の目的は、板状物を立てた状態で搬
送することができる板状物搬送技術を提供することにあ
る。
An object of the present invention is to provide a plate-like material conveying technique capable of conveying a plate-like object in an upright state.

【0007】本発明の第2の目的は、その板状物搬送技
術を使用した板状物の処理技術を提供することにある。
A second object of the present invention is to provide a plate-like material processing technique using the plate-like material conveying technique.

【0008】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of the present specification and the accompanying drawings.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、次の通り
である。
The typical ones of the inventions disclosed in the present application will be outlined below.

【0010】すなわち、板状物搬送装置は、移動台に一
端が支持されたパンタグラフ装置によって移動台に対し
て進退される保持台を備えており、保持台は板状物を立
てた状態で保持するように構成されていることを特徴と
する。
That is, the plate-shaped object conveying device is provided with a holding table which is moved forward and backward with respect to the moving table by a pantograph device whose one end is supported by the moving table, and the holding table holds the plate-shaped object in a standing state. It is characterized in that it is configured to.

【0011】また、板状物処理装置は、その板状物搬送
装置における移動台の外側に複数の処理部が配設されて
いるとともに、各処理部は板状物を立てた状態でそれぞ
れ処理を実施するように構成されており、さらに、移動
台は各処理部に対向する位置にそれぞれ移動するように
構成され、保持台はパンタグラフ装置によって処理部と
この処理部に対向した移動台との間を往復移動されるよ
うに構成されていることを特徴とする。
Further, in the plate-shaped article processing apparatus, a plurality of processing sections are arranged outside the moving table in the plate-shaped article transfer apparatus, and each processing section processes the plate-shaped article in an upright state. Further, the moving table is configured to move to a position facing each processing unit, and the holding table is configured by the pantograph device to treat the processing unit and the moving table facing the processing unit. It is characterized in that it is configured to reciprocate between.

【0012】[0012]

【作用】前記した板状物処理装置において、被処理物で
ある板状物が保持台に立てられた状態で保持されると、
移動台は板状物を保持した保持台と一緒に所定の処理部
に対向する待機位置に移動する。移動台が待機位置に移
動すると、パンタグラフ装置は板状物を保持した保持台
を移動台に対して前進させることにより、板状物を移動
台が対向した処理部に搬送する。搬送された処理部にお
いて、板状物は保持台から受け取られて、または、保持
台に保持されたまま、立てられた状態で所定の処理を実
施される。
In the plate-like material processing apparatus described above, when the plate-like material which is the object to be processed is held in a state of standing on the holding table,
The moving table moves to the standby position facing the predetermined processing unit together with the holding table holding the plate-shaped object. When the moving table moves to the standby position, the pantograph device advances the holding table holding the plate-like object with respect to the moving table to convey the plate-like object to the processing unit facing the moving table. In the transported processing unit, the plate-shaped object is received from the holding table or is held in the holding table and is subjected to a predetermined process in an upright state.

【0013】処理部において、所定の処理を実施された
処理済の板状物が保持台に立てられた状態になると、パ
ンタグラフ装置は処理済の板状物を保持した保持台を処
理部の外側で待機している移動台に後退させることによ
り、板状物を処理部から搬出する。板状物を保持した保
持台が戻って来ると、移動台は次の処理部における待機
位置へ移動する。以降、前記した作動が繰り返されるこ
とにより、各処理部における処理が板状物に順次実施さ
れて行く。
In the processing section, when the processed plate-shaped object that has been subjected to a predetermined process is set up on the holding table, the pantograph device places the holding table holding the processed plate-shaped object outside the processing section. The plate-like object is carried out from the processing section by retracting it to the moving stand waiting at. When the holding table holding the plate-like object returns, the moving table moves to the standby position in the next processing unit. After that, by repeating the above-described operation, the processing in each processing unit is sequentially performed on the plate-shaped material.

【0014】[0014]

【実施例】図1は本発明の一実施例であるフォトレジス
ト現像装置を示す平面断面図である。図2の(a)は図
1のa−a線に沿う正面断面図、(b)は図1のb−b
線に沿う正面断面図である。図3は本発明の一実施例で
あるウエハ搬送装置を示す一部省略斜視図である。図4
はローディング部を示す一部省略斜視図、図5はプリベ
ーク部を示す一部省略斜視図、図6は現像部を示す一部
省略斜視図である。
1 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus according to an embodiment of the present invention. 2A is a front sectional view taken along line aa of FIG. 1, and FIG. 2B is a cross-sectional view of FIG.
It is a front sectional view which follows a line. FIG. 3 is a partially omitted perspective view showing a wafer transfer device according to an embodiment of the present invention. FIG.
Is a partially omitted perspective view showing a loading part, FIG. 5 is a partially omitted perspective view showing a pre-baking part, and FIG. 6 is a partially omitted perspective view showing a developing part.

【0015】本実施例において、本発明に係る板状物搬
送装置は、ウエハを搬送するウエハ搬送装置として構成
されており、板状物処理装置の一例であるフォトレジス
ト現像装置に組み込まれている。被搬送物であって、か
つ、被処理物であるウエハ1は、現像工程の前工程であ
る露光工程においてフォトレジスト(図示せず)に露光
処理を施された状態でフォトレジスト現像装置に供給さ
れて来る。また、このウエハ1は複数枚がウエハカセッ
ト2に収納された状態でフォトレジスト現像装置に供給
されて来る。ウエハカセット2は六面体の箱形状に形成
された本体3を備えており、本体3における対向する一
対の主面(以下、上下面とする。)がそれぞれ開口さ
れ、対向する一対の側壁の内面に複数条の保持溝4が互
いに対向するように刻設されている。そして、ウエハ1
は外周辺部が互いに対向する保持溝4、4間に挿入され
た状態でウエハカセット2に保持される。
In the present embodiment, the plate-like material transfer device according to the present invention is configured as a wafer transfer device for transferring a wafer, and is incorporated in a photoresist developing apparatus which is an example of a plate-shaped material processing device. . The wafer 1, which is the object to be transferred and is the object to be processed, is supplied to the photoresist developing apparatus in a state in which the photoresist (not shown) has been subjected to the exposure process in the exposure step which is a step before the development step. Is coming. Further, a plurality of wafers 1 are supplied to the photoresist developing device in a state where a plurality of wafers 1 are stored in the wafer cassette 2. The wafer cassette 2 is provided with a main body 3 formed in a hexahedral box shape. A pair of main surfaces (hereinafter, referred to as upper and lower surfaces) of the main body 3 facing each other are opened, and inner surfaces of a pair of side walls facing each other are formed. A plurality of holding grooves 4 are engraved so as to face each other. And wafer 1
Is held in the wafer cassette 2 with the outer peripheral portions thereof being inserted between the holding grooves 4 and 4 facing each other.

【0016】本発明に係る板状物処理装置の一実施例で
あるフォトレジスト現像装置5はウエハ搬送装置、ロー
ディング部、プリベーク部、冷却部、現像処理部、アフ
タベーク部およびアンローディング部を備えており、こ
れらは温度調整されたエアがダウンフロー(図示せず)
に吹き出されるようになっているクリーンベンチのチャ
ンバ6内に設備されている。また、フォトレジスト現像
装置5はコントローラ(図示せず)を備えており、コン
トローラはパーソナルコンピュータおよびそのソフトウ
エア等を使用されて構築されており、ローディング部等
における構成各部を統括的に制御するように構成されて
いる。
A photoresist developing device 5 which is an embodiment of the plate-like material processing apparatus according to the present invention comprises a wafer transfer device, a loading part, a pre-baking part, a cooling part, a developing process part, an after-baking part and an unloading part. The temperature-controlled air flows down (not shown).
It is installed in the chamber 6 of the clean bench which is designed to be blown out. Further, the photoresist developing device 5 is provided with a controller (not shown), and the controller is constructed by using a personal computer and its software, etc., so as to centrally control the constituent parts such as the loading part. Is configured.

【0017】ウエハ搬送装置10は直線形状の搬送ライ
ン11を構成する搬送アクチュエータ12を備えてい
る。搬送アクチュエータ12はロッドレスのリニアシリ
ンダ装置やリニアモータおよび送りねじ装置が使用され
て構成されており、チャンバ6内の中央に前後方向に延
在するように水平に敷設されている。搬送アクチュエー
タ12は移動台13を前後方向に往復移動させるように
構成されており、移動台13は搬送アクチュエータ12
によって所定の待機位置に順次停止されるようになって
いる。
The wafer transfer device 10 is equipped with a transfer actuator 12 which constitutes a linear transfer line 11. The transfer actuator 12 is configured by using a rodless linear cylinder device, a linear motor, and a feed screw device, and is laid horizontally in the center of the chamber 6 so as to extend in the front-rear direction. The transfer actuator 12 is configured to reciprocate the moving table 13 in the front-rear direction.
It is designed to be sequentially stopped at predetermined standby positions.

【0018】移動台13にはパンタグラフ装置14が水
平に設備されており、パンタグラフ装置14は保持台1
5を搬送ライン11に直交する左方向および右方向に往
復移動させるように構成されている。保持台15には保
持溝16が保持台15の移動台13に対する進退方向と
直交する方向である前後方向に延在するように垂直に没
設されており、保持溝16はウエハ1の外周の一部を上
から嵌入されることにより、ウエハ1を立てた状態で保
持するように構成されている。
A pantograph device 14 is horizontally installed on the moving base 13, and the pantograph device 14 is mounted on the holding base 1.
5 is configured to reciprocate in the left and right directions orthogonal to the transport line 11. A holding groove 16 is vertically recessed in the holding table 15 so as to extend in the front-rear direction which is a direction orthogonal to the advancing / retreating direction of the holding table 15 with respect to the moving table 13. The holding groove 16 is formed on the outer periphery of the wafer 1. By partially inserting the wafer 1 from above, the wafer 1 is held in an upright state.

【0019】パンタグラフ装置14は一対の駆動側リン
クバーである第1リンクバー14aおよび第2リンクバ
ー14bと、一対の被動側リンクバーである第3リンク
バー14cおよび第4リンクバー14dとを備えてお
り、4本のリンクバーを菱形に組まれるとともに回転自
在に連結されることによって、第3リンクバー14cと
第4リンクバー14dとの連結点の上にピン14eによ
って支持した保持台15を左右方向に往復移動させるよ
うに構成されている。すなわち、第1リンクバー14a
および第2リンクバー14bの各一端部は往復回動装置
(図示せず)によってそれぞれ往復回動されるように構
成されており、第3リンクバー14cと第4リンクバー
14dとの連結点の上には保持台15がピン14eによ
って回転自在に支持されている。なお、プリベーク部、
冷却部、現像部およびアフタベーク部には保持台回り止
め用のガイドレール(図示せず)が左右方向に延在され
て水平にそれぞれ敷設されており、保持台15は移動台
13がこれら処理部の待機位置に停止したときにガイド
レールの上にそれぞれ整合した状態になり、パンタグラ
フ装置14による移動に伴ってガイドレールにそれぞれ
案内されることにより、ピン14eに対する自由回転を
阻止されるようになっている。
The pantograph device 14 is provided with a pair of first link bars 14a and a second link bar 14b which are driving side link bars, and a pair of a third link bar 14c and a fourth link bar 14d which are driven side link bars. By assembling four link bars in a rhombus and rotatably connecting them, the holding table 15 supported by the pins 14e is provided on the connection point between the third link bar 14c and the fourth link bar 14d. It is configured to reciprocate in the left-right direction. That is, the first link bar 14a
Each one end of the second link bar 14b and the second link bar 14b are configured to be reciprocally rotated by a reciprocating rotation device (not shown), and a connection point of the third link bar 14c and the fourth link bar 14d. A holding table 15 is rotatably supported on the top by a pin 14e. The pre-baking section,
Guide rails (not shown) for preventing rotation of the holding table are horizontally laid in the cooling section, the developing section, and the afterbake section so as to extend in the left-right direction. When the vehicle stops at the standby position, the guide rails are aligned with each other and are guided by the guide rails as the pantograph device 14 moves, so that the pin 14e is prevented from freely rotating. ing.

【0020】チャンバ6内における前側端部にはローデ
ィング部21とアンローディング部22とが搬送ライン
11を挟んで左右対称に設備されている。左側に配置さ
れたローディング部21にはこれから処理されるウエハ
1が収納されたウエハカセット(以下、実カセット2A
という。)が設置されるようになっており、右側に配置
されたアンローディング部22には処理済のウエハ1が
収納されるウエハカセット(以下、空カセット2Bとい
う。)が設置されるようになっている。ローディング部
21における実カセット2Aの下方にはローディング部
用ウエハエレベータ23が設備され、アンローディング
部22における空カセット2Bの下方にはアンローディ
ング部用ウエハエレベータ24が設備されている。
A loading section 21 and an unloading section 22 are installed symmetrically with respect to the front end of the chamber 6 with the transfer line 11 interposed therebetween. A wafer cassette (hereinafter referred to as an actual cassette 2A) in which a wafer 1 to be processed is stored is loaded in the loading unit 21 arranged on the left side.
Say. ) Is installed, and a wafer cassette (hereinafter referred to as an empty cassette 2B) in which the processed wafer 1 is stored is installed in the unloading unit 22 arranged on the right side. There is. A wafer elevator 23 for a loading unit is installed below the actual cassette 2A in the loading unit 21, and a wafer elevator 24 for an unloading unit is installed below the empty cassette 2B in the unloading unit 22.

【0021】ローディング部用ウエハエレベータ23と
アンローディング部用ウエハエレベータ24とは同様の
構成を有するので、ローディング部用ウエハエレベータ
23を代表にその構成を説明する。ローディング部用ウ
エハエレベータ23はエアシリンダ装置やねじ式ジャッ
キ等から構成されている昇降アクチュエータ25を備え
ており、昇降アクチュエータ25はチャンバ6内に垂直
方向上向きに据え付けられている。昇降アクチュエータ
25のロッド26の上端には保持具27が垂直方向上向
きに支持されており、保持具27の前後幅はウエハ搬送
装置10の保持台15の前後幅と略等しく設定されてい
る。保持具27の上端面には前後方向に延在する保持溝
28が垂直に没設されており、この保持溝28はウエハ
1の外周部の一部を嵌入されてウエハ1を立てた状態で
保持するように構成されている。
Since the wafer elevator 23 for the loading section and the wafer elevator 24 for the unloading section have the same configuration, the configuration will be described with the wafer elevator 23 for the loading section as a representative. The wafer elevator 23 for the loading part includes an elevating actuator 25 composed of an air cylinder device, a screw jack, etc., and the elevating actuator 25 is installed in the chamber 6 in a vertically upward direction. A holder 27 is supported vertically upward on the upper end of the rod 26 of the lift actuator 25, and the front-rear width of the holder 27 is set to be substantially equal to the front-rear width of the holding table 15 of the wafer transfer apparatus 10. A holding groove 28 extending in the front-rear direction is vertically recessed in the upper end surface of the holder 27, and the holding groove 28 is fitted with a part of the outer peripheral portion of the wafer 1 to stand the wafer 1. Configured to hold.

【0022】ローディング部21とアンローディング部
22とにはウエハ受渡し装置30がチャンバ6内の前端
部に設備されている。ウエハ受渡し装置30は搬送アク
チュエータ31を備えている。このウエハ受渡し装置用
の搬送アクチュエータ31もロッドレスのリニアシリン
ダ装置やリニアモータおよび送りねじ装置が使用されて
構成されており、チャンバ6内のローディング部21お
よびアンローディング部22における前端部においてウ
エハ搬送装置10の搬送ライン11と直交する左右方向
に水平に敷設されている。ウエハ受渡し装置10用の搬
送アクチュエータ31は移動台32を左右方向に往復移
動させるように構成されており、移動台32には昇降ア
クチュエータ33が搭載されている。昇降アクチュエー
タ33はねじ式ジャッキや流体圧ジャッキが使用されて
構成されており、昇降台34を昇降させるようになって
いる。昇降台34にはウエハ受渡し装置10用の保持具
35が水平方向後方に張り出されている。
A wafer transfer device 30 is installed at the front end of the chamber 6 in the loading section 21 and the unloading section 22. The wafer delivery device 30 includes a transfer actuator 31. The transfer actuator 31 for the wafer transfer device is also configured by using a rodless linear cylinder device, a linear motor and a feed screw device, and the wafer transfer device is provided at the front end of the loading part 21 and the unloading part 22 in the chamber 6. It is laid horizontally in the left-right direction orthogonal to the transport line 11 of 10. The transfer actuator 31 for the wafer delivery device 10 is configured to reciprocate the movable table 32 in the left-right direction, and the movable table 32 is equipped with an elevating actuator 33. The elevating actuator 33 is configured by using a screw type jack or a fluid pressure jack, and elevates the elevating table 34. A holder 35 for the wafer delivery device 10 is horizontally projected on the elevating table 34 rearward.

【0023】ウエハ受渡し装置用の保持具35は前端部
が昇降台34に支持された軸形状部36と、軸形状部3
6の後端部に前端部が支持された半円形の円弧形状部3
7とを備えており、円弧形状部37は図示しないアクチ
ュエータによってピン38を中心に前部と後部とが回動
することにより、その開口が径方向に開閉するようにな
っている。円弧形状部37の開口端には一対の当て具3
9、39が互いに対向するように取り付けられている。
この一対の当て具39、39は円弧形状部37が閉じら
れた時にウエハ1の外周における互いに対向する一対の
部位にそれぞれ押接されるようになっている。そして、
ウエハ受渡し装置用の保持具35は円弧形状部37が閉
じた状態において両方の当て具39、39によってウエ
ハ1の外周を両側から押さえることによりウエハ1を保
持し、逆に、円弧形状部37が開いた状態において両方
の当て具39、39をウエハ1の外周から離反させるこ
とにより、ウエハ1の保持を解除するようになってい
る。
The holder 35 for the wafer transfer device has a shaft-shaped portion 36 whose front end is supported by the elevating table 34 and a shaft-shaped portion 3.
6 is a semi-circular arc-shaped portion 3 whose front end is supported by the rear end of 6
7, the arc-shaped portion 37 is configured so that its opening is opened and closed in the radial direction by rotating the front portion and the rear portion around the pin 38 by an actuator (not shown). At the opening end of the arc-shaped portion 37, a pair of pad 3
9 and 39 are attached so as to face each other.
The pair of pads 39, 39 are pressed against a pair of opposing portions on the outer periphery of the wafer 1 when the arcuate portion 37 is closed. And
The holding tool 35 for the wafer transfer device holds the wafer 1 by pressing the outer periphery of the wafer 1 from both sides with both abutting tools 39, 39 in a state where the arc-shaped portion 37 is closed. The holding of the wafer 1 is released by separating both the applicators 39, 39 from the outer periphery of the wafer 1 in the opened state.

【0024】チャンバ6内におけるローディング部21
およびアンローディング部22の後ろ側には、プリベー
ク部41とアフタベーク部42とが搬送ライン11を挟
んで左右対称に設備されている。左側に配置されたプリ
ベーク部41の上部には、これから現像されるウエハ1
をプリベーキングするプリベーク炉43が垂直方向下向
きに設置されており、右側に配置されたアフタベーク部
42の上部には、現像処理された現像済のウエハをアフ
タベーキングするアフタベーク炉44が垂直方向下向き
に設置されている。プリベーク炉43の真下にはプリベ
ーク部用ウエハエレベータ45が設備され、アフタベー
ク炉44の真下にはアフタベーク部用ウエハエレベータ
46が設備されている。
Loading section 21 in chamber 6
On the rear side of the unloading section 22, a pre-baking section 41 and an after-baking section 42 are installed symmetrically with the transport line 11 in between. On the upper side of the prebaking section 41 arranged on the left side, the wafer 1 to be developed is
A pre-bake oven 43 for pre-baking is installed vertically downward, and an after-bake oven 44 for after-baking the developed and processed wafer is vertically downward on the upper side of the after-baking section 42 arranged on the right side. is set up. A wafer elevator 45 for the pre-baking unit is installed directly below the pre-bake furnace 43, and a wafer elevator 46 for the after-baking unit is installed directly below the after-baking furnace 44.

【0025】プリベーク炉43とアフタベーク炉44お
よびプリベーク部用ウエハエレベータ45とアフタベー
ク部用ウエハエレベータ46は、同様の構成を有するの
で、プリベーク炉43およびプリベーク部用ウエハエレ
ベータ45を代表にその構成を説明する。プリベーク炉
43は炉体47を備えており、炉体47は横断面が長方
形の枠形状である箱形状に形成されている。炉体47の
炉口48は下端面において前後方向に延在するように開
口されており、プリベーク部用ウエハエレベータ45に
よって昇降されるウエハ1をベーキング処理室49の内
部に出し入れし得るように構成されている。炉体47に
おける長辺側の一対の側壁内部には電気ヒータ等が使用
されて構成されている加熱体50がそれぞれ敷設されて
おり、加熱体50はベーキング処理室49に挿入された
ウエハ1を加熱することにより、ベーキング処理し得る
ように構成されている。
The pre-bake furnace 43, the after-bake furnace 44, the pre-bake part wafer elevator 45, and the after-bake part wafer elevator 46 have the same structure. To do. The pre-bake furnace 43 includes a furnace body 47, and the furnace body 47 is formed in a box shape having a rectangular frame-shaped cross section. The furnace port 48 of the furnace body 47 is opened at the lower end surface so as to extend in the front-rear direction, and is configured so that the wafer 1 that is lifted and lowered by the pre-baking unit wafer elevator 45 can be taken in and out of the baking processing chamber 49. Has been done. Inside the pair of side walls on the long side of the furnace body 47, heating bodies 50 configured by using an electric heater or the like are laid, respectively, and the heating bodies 50 are mounted on the wafer 1 inserted in the baking processing chamber 49. By heating, the baking process can be performed.

【0026】プリベーク部用ウエハエレベータ45はエ
アシリンダ装置やねじ式ジャッキから構成されている昇
降アクチュエータ51を備えており、この昇降アクチュ
エータ51はチャンバ6内に垂直方向上向きに据え付け
られている。昇降アクチュエータ51のロッド52の上
端には凹字形状の保持具53が垂直方向上向きに支持さ
れており、保持具53の上端面には前後方向に延在する
保持溝54が垂直に没設されている。保持具53の中央
凹所の前後幅はウエハ搬送装置10における保持台15
を収容し得るように、保持台15の前後幅よりも大きく
設定されている。保持溝54は保持具53の中央凹所に
よって前後に分割された状態になっており、ウエハ1の
外周部の一部を嵌入されてウエハ1を立てた状態で保持
するように構成されている。
The wafer elevator 45 for the pre-baking section is provided with an elevating actuator 51 composed of an air cylinder device and a screw type jack, and the elevating actuator 51 is installed in the chamber 6 vertically upward. A holding tool 53 having a concave shape is supported vertically upward on the upper end of a rod 52 of the lifting actuator 51, and a holding groove 54 extending in the front-rear direction is vertically recessed in the upper end surface of the holding tool 53. ing. The front-rear width of the central recess of the holder 53 is equal to that of the holding table 15 in the wafer transfer apparatus 10.
Is set larger than the front-rear width of the holding table 15 so as to accommodate The holding groove 54 is divided into front and rear by a central recess of the holder 53, and is configured so that a part of the outer peripheral portion of the wafer 1 is fitted and the wafer 1 is held in an upright state. .

【0027】チャンバ6内におけるプリベーク部41お
よびアフタベーク部42の後ろ側には、冷却部61と現
像部62とが搬送ライン11を挟んで左右対称に設備さ
れている。左側に配置された冷却部61の上部には、プ
リベーキングされてこれから現像されるウエハ1を冷却
する冷却炉63が垂直方向下向きに設置されている。右
側に配置された現像部62の下部には、ウエハ1を現像
する現像槽64が垂直方向上向きに設置されている。冷
却炉63の真下には冷却部用ウエハエレベータ65が設
備され、現像槽64の真上には現像部用ウエハエレベー
タ66が設備されている。
A cooling unit 61 and a developing unit 62 are installed in the chamber 6 at the rear side of the pre-baking unit 41 and the after-baking unit 42 so as to be bilaterally symmetrical with the transport line 11 interposed therebetween. On the upper part of the cooling unit 61 arranged on the left side, a cooling furnace 63 for cooling the pre-baked wafer 1 to be developed is installed vertically downward. Below the developing section 62 arranged on the right side, a developing tank 64 for developing the wafer 1 is installed vertically upward. A wafer elevator 65 for the cooling unit is installed directly below the cooling furnace 63, and a wafer elevator 66 for the developing unit is installed directly above the developing tank 64.

【0028】冷却炉63は炉体67を備えており、炉体
67は横断面が長方形の枠形状である箱形状に形成され
ている。炉体67の炉口68は下端面において前後方向
に延在するように開口されて、冷却部用ウエハエレベー
タ65によって昇降されるウエハ1を冷却処理室69の
内部に出し入れし得るように構成されている。冷却炉6
3の炉体67における長辺側の一対の側壁内部には通水
管等が使用されて構成されている冷却体70が敷設され
ており、加熱体70は冷却処理室69に挿入されたウエ
ハ1を冷却することにより、冷却処理し得るように構成
されている。冷却部用ウエハエレベータ65はプリベー
ク部用ウエハエレベータ45と同様の構成を有するの
で、その構成の説明はプリベーク部用ウエハエレベータ
45の説明を準ずることとして省略する。
The cooling furnace 63 has a furnace body 67, and the furnace body 67 is formed in a box shape having a rectangular frame-shaped cross section. The furnace opening 68 of the furnace body 67 is opened at the lower end surface so as to extend in the front-rear direction, and is configured so that the wafer 1 lifted and lowered by the cooling unit wafer elevator 65 can be taken in and out of the cooling processing chamber 69. ing. Cooling furnace 6
Inside the pair of side walls on the long side of the furnace body 67 of No. 3, a cooling body 70 configured by using a water pipe or the like is laid, and the heating body 70 is the wafer 1 inserted in the cooling processing chamber 69. The cooling treatment can be performed by cooling the. Since the wafer elevator 65 for the cooling unit has the same configuration as the wafer elevator 45 for the pre-baking unit, the description of the configuration is omitted because it is based on the description of the wafer elevator 45 for the pre-baking unit.

【0029】現像槽64は槽本体71を備えており、槽
本体71は横断面が長方形の枠形状である箱形状に形成
されている。槽本体71の出し入れ口72は上端面にお
いて前後方向に延在するように開口されており、槽本体
71の内部には現像液73が貯留されている。現像部用
ウエハエレベータ66は現像液73にウエハ1を出し入
れし得るように構成されている。
The developing tank 64 has a tank main body 71, and the tank main body 71 is formed in a box shape having a rectangular frame-shaped cross section. The inlet / outlet 72 of the tank body 71 is opened at the upper end surface so as to extend in the front-rear direction, and the developer 73 is stored inside the tank body 71. The wafer elevator 66 for the developing unit is configured so that the wafer 1 can be taken in and out of the developing solution 73.

【0030】現像部用ウエハエレベータ66はエアシリ
ンダ装置やねじ式ジャッキから構成されている昇降アク
チュエータ74を備えており、昇降アクチュエータ74
はチャンバ6内に垂直方向下向きに据え付けられてい
る。昇降アクチュエータ74のロッド75の下端には凹
字形状の保持具76が垂直方向下向きに支持されてお
り、保持具76の下端部には前後方向に延在する保持溝
77が垂直方向上向きに没設されている。保持具76の
中央凹所の前後幅はウエハ搬送装置10における保持台
15を収容し得るように、保持台15の前後幅よりも大
きく設定されている。保持溝77は保持具53の中央凹
所によって前後に分割された状態になっており、ウエハ
1の外周部の一部を嵌入されてウエハ1を立てた状態で
保持するようになっている。
The wafer elevator 66 for the developing section is equipped with an elevating actuator 74 composed of an air cylinder device and a screw type jack.
Are mounted vertically downward in the chamber 6. A holding tool 76 having a concave shape is supported vertically downward on the lower end of the rod 75 of the lifting actuator 74, and a holding groove 77 extending in the front-rear direction is recessed vertically upward on the lower end of the holding tool 76. It is set up. The front-rear width of the central recess of the holder 76 is set larger than the front-rear width of the holding table 15 so that the holding table 15 in the wafer transfer apparatus 10 can be accommodated. The holding groove 77 is divided into front and rear by a central recess of the holder 53, and a part of the outer peripheral portion of the wafer 1 is fitted to hold the wafer 1 in an upright state.

【0031】次に作用を説明する。まず、ローディング
部21において、ローディング部用ウエハエレベータ2
3は昇降アクチュエータ25を伸長作動させて実カセッ
ト2Aからウエハ1を1枚、保持具27の上端面に形成
された保持溝28にて保持して上昇させる。ウエハ受渡
し装置30は上昇されたウエハ1をウエハ保持具35に
よって上から保持して、ローディング部21の待機位置
で待機しているウエハ搬送装置10の保持台15に搬送
し、保持台15の保持溝16にウエハ1を上から差し込
んで垂直に立てた状態に受け渡す。
Next, the operation will be described. First, in the loading unit 21, the wafer elevator 2 for the loading unit
In step 3, the elevating actuator 25 is extended to hold one wafer 1 from the actual cassette 2A in the holding groove 28 formed in the upper end surface of the holder 27 and raise it. The wafer transfer device 30 holds the lifted wafer 1 from above by a wafer holder 35, transfers the wafer 1 to a holding table 15 of the wafer transfer device 10 waiting at the standby position of the loading section 21, and holds the holding table 15. The wafer 1 is inserted into the groove 16 from above and handed over in a vertically standing state.

【0032】ウエハ1を保持台15によって受け取る
と、ウエハ搬送装置10はウエハ1および保持台15と
一緒に移動台13を搬送アクチュエータ12によってプ
リベーク部41における待機位置に移動させる。この
際、ウエハ1は保持台15に垂直に立てられた状態で、
かつ、搬送ライン11に一致するように保持されている
ため、搬送ライン11上におけるウエハ1の搬送スペー
ス(搬送占有床面積)はきわめて小さくて済む。
When the wafer 1 is received by the holding table 15, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13 together with the wafer 1 and the holding table 15 by the transfer actuator 12 to the standby position in the pre-baking section 41. At this time, with the wafer 1 standing vertically on the holding table 15,
In addition, since the wafer 1 is held so as to coincide with the transfer line 11, the transfer space (the transfer occupied floor area) of the wafer 1 on the transfer line 11 can be extremely small.

【0033】続いて、プリベーク部41の待機位置にお
いて、ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置14をプ
リベーク炉43の方向(左方向)に伸長作動させて、保
持台15に立てられた状態で保持されたウエハ1をプリ
ベーク部用ウエハエレベータ45の真上に平行移動させ
る。この際、ウエハ1は搬送ライン11に直角方向に平
行移動されるが、ウエハ1が水平に寝かされた状態で搬
送される従来例に比べてウエハ1の搬送スペースは少な
くて済む。
Subsequently, at the standby position of the pre-baking section 41, the wafer transfer apparatus 10 extends the pantograph apparatus 14 in the direction of the pre-baking furnace 43 (leftward) and holds it in a state of standing on the holding table 15. The wafer 1 is translated directly above the wafer elevator 45 for the pre-baking section. At this time, the wafer 1 is moved in parallel to the transfer line 11 at a right angle, but the transfer space for the wafer 1 is smaller than that in the conventional example in which the wafer 1 is transferred horizontally.

【0034】ウエハ1が真上に来ると、プリベーク部用
ウエハエレベータ45は昇降アクチュエータ51を伸長
作動させて、保持台15に立てられた状態で保持された
ウエハ1を保持具53の上端面に形成された保持溝54
にて垂直に立てられた状態のまま保持して上昇させる。
この際、保持台15は保持具53の中央凹所に入った状
態になるため、保持台15と保持具53とが干渉するこ
とはない。こうしてプリベーク部用ウエハエレベータ4
5によって上昇されたウエハ1はプリベーク炉43のベ
ーキング処理室49に炉口48から挿入されて垂直に立
てられた状態のまま収容され、プリベーク炉43によっ
てプリベーキング処理される。
When the wafer 1 is directly above, the pre-baking unit wafer elevator 45 extends the elevating actuator 51 so that the wafer 1 held on the holding table 15 is held on the upper end surface of the holder 53. Formed holding groove 54
Hold it upright and raise it.
At this time, since the holding table 15 is in the state of being recessed in the center of the holding tool 53, the holding table 15 and the holding tool 53 do not interfere with each other. Thus, the wafer elevator 4 for the pre-baking section
The wafer 1 lifted by 5 is accommodated in the baking processing chamber 49 of the pre-baking furnace 43 while being inserted from the furnace port 48 and standing upright, and pre-baked by the pre-baking furnace 43.

【0035】他方、保持台15のウエハ1をプリベーク
部用ウエハエレベータ45に受け渡したウエハ搬送装置
10は、パンタグラフ装置14を待機位置の方向(右方
向)に短縮作動させて、空になった保持台15を移動台
13の真上に移動させる。そして、プリベーク炉43に
てプリベーキング処理されている間に、ウエハ搬送装置
10は移動台13をローディング部21等の他の処理部
における待機位置に移動させて所定の受渡し作業を実行
する。つまり、ウエハ搬送装置10は処理作業が実施さ
れている期間に、受渡し作業を同時進行させる並行処理
を実行するようにシーケンス制御されることになる。
On the other hand, the wafer transfer device 10 which has transferred the wafer 1 on the holding table 15 to the wafer elevator 45 for the pre-baking section, shortens the pantograph device 14 toward the standby position (to the right), and holds it empty. The table 15 is moved right above the moving table 13. Then, while the pre-baking process is performed in the pre-baking furnace 43, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13 to a standby position in another processing section such as the loading section 21 and executes a predetermined delivery operation. That is, the wafer transfer apparatus 10 is sequence-controlled so as to execute parallel processing in which the delivery work is simultaneously performed while the processing work is being performed.

【0036】プリベーキング処理が終了すると、プリベ
ーク部用ウエハエレベータ45は昇降アクチュエータ5
1を短縮作動させて、保持具53にて垂直に立てた状態
で保持したウエハ1を受渡し位置に下降させる。他方、
ウエハ搬送装置10は搬送アクチュエータ12によって
移動台13をプリベーク部41の待機位置に移動させ
る。そして、ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置1
4を伸長作動させて、空の保持台15を保持具53の中
央凹所の所に移動させる。プリベーク部用ウエハエレベ
ータ45が昇降アクチュエータ51をさらに一段短縮作
動させると、保持具53に保持されたウエハ1はウエハ
搬送装置10の保持台15に立てられた状態のまま受け
渡される。ウエハ1を保持台15によって受け取ると、
ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置14を短縮作動
させて、ウエハ1を受け取った保持台15を移動台13
の位置に復帰移動させる。
When the pre-baking process is completed, the wafer elevator 45 for the pre-baking section moves the lift actuator 5
1 is shortened and the wafer 1 held vertically by the holder 53 is lowered to the delivery position. On the other hand,
The wafer transfer device 10 moves the movable table 13 to the standby position of the pre-baking section 41 by the transfer actuator 12. The wafer transfer device 10 is the pantograph device 1
4 is extended to move the empty holding table 15 to the central recess of the holder 53. When the wafer elevator 45 for the pre-baking section further shortens the raising / lowering actuator 51 by one step, the wafer 1 held by the holder 53 is handed over to the holding table 15 of the wafer transfer device 10 in a standing state. When the wafer 1 is received by the holding table 15,
The wafer transfer device 10 operates the pantograph device 14 in a shortened manner so that the holding table 15 having received the wafer 1 is moved to the moving table 13.
Move back to position.

【0037】ウエハ1が待機位置に戻ると、ウエハ搬送
装置10はウエハ1を立てた状態で保持した保持台15
と一緒に移動台13を次の処理工程である冷却部61に
搬送アクチュエータ12によって移動させる。
When the wafer 1 is returned to the standby position, the wafer transfer device 10 holds the wafer 1 in an upright state.
At the same time, the moving table 13 is moved to the cooling unit 61 which is the next processing step by the transfer actuator 12.

【0038】続いて、冷却部61の待機位置において、
ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置14を冷却炉6
3の方向(前進方向)に伸長作動させて、保持台15に
立てられた状態で保持されたウエハ1を冷却部用ウエハ
エレベータ65の真上に平行移動させる。
Then, at the standby position of the cooling unit 61,
The wafer transfer device 10 includes a pantograph device 14 and a cooling furnace 6.
The wafer 1 held in the state of being erected on the holding table 15 is moved in parallel to directly above the wafer elevator 65 for the cooling unit by extending the wafer 1 in the direction of 3 (forward direction).

【0039】ウエハ1が真上に来ると、冷却部用ウエハ
エレベータ65は保持台15に保持されたウエハ1を垂
直に立てた状態のまま受け取って上昇させる。冷却部用
ウエハエレベータ65によって上昇されたウエハ1は冷
却炉63の処理室69に炉口68から挿入されて垂直に
立てられた状態のまま収容され、冷却炉63によって冷
却処理される。
When the wafer 1 is located right above, the cooling part wafer elevator 65 receives the wafer 1 held by the holding table 15 in a vertically standing state and raises it. The wafer 1 lifted by the cooling part wafer elevator 65 is inserted into the processing chamber 69 of the cooling furnace 63 from the furnace port 68 and accommodated in a vertically standing state, and is cooled by the cooling furnace 63.

【0040】他方、保持台15のウエハ1を冷却部用ウ
エハエレベータ65に受け渡したウエハ搬送装置10
は、パンタグラフ装置14を待機位置の方向(後退方
向)に短縮作動させて、空になった保持台15を移動台
13の真上に移動させる。そして、冷却炉63にて冷却
処理されている間に、ウエハ搬送装置10は移動台13
を他の処理部における待機位置に移動させて、所定の受
渡し作業を実行する。
On the other hand, the wafer transfer device 10 in which the wafer 1 on the holding table 15 is transferred to the cooling part wafer elevator 65.
Causes the pantograph device 14 to be shortened toward the standby position (retracting direction) to move the vacant holding table 15 directly above the moving table 13. While the cooling process is performed in the cooling furnace 63, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13
Is moved to a standby position in another processing unit, and a predetermined delivery work is executed.

【0041】冷却処理が終了すると、冷却部用ウエハエ
レベータ65は垂直に立てた状態で保持したウエハ1を
受渡し位置に下降させる。他方、ウエハ搬送装置10は
搬送アクチュエータ12によって移動台13を冷却部6
1の待機位置に移動させる。ウエハ搬送装置10はパン
タグラフ装置14を伸長作動させて、空の保持台15を
冷却部用ウエハエレベータ65の受渡し位置に移動させ
る。冷却部用ウエハエレベータ65は冷却処理が済んだ
ウエハ1をウエハ搬送装置10の保持台15に垂直に立
てた状態のまま受け渡たす。ウエハ1を保持台15によ
って受け取ると、ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装
置14を短縮作動させて、ウエハ1を受け取った保持台
15を移動台13の位置に復帰移動させる。
When the cooling process is completed, the wafer elevator 65 for the cooling unit lowers the wafer 1 held in a vertically standing state to the delivery position. On the other hand, the wafer transfer apparatus 10 causes the transfer actuator 12 to move the movable table 13 to the cooling unit 6.
1 Move to the standby position. The wafer transfer device 10 extends the pantograph device 14 to move the empty holding table 15 to the delivery position of the cooling part wafer elevator 65. The wafer elevator 65 for the cooling unit delivers the wafer 1 that has been cooled to the holding table 15 of the wafer transfer device 10 in a vertically standing state. When the wafer 1 is received by the holding table 15, the wafer transfer device 10 operates the pantograph device 14 in a shortened manner to return the holding table 15 receiving the wafer 1 to the position of the moving table 13.

【0042】ウエハ1が待機位置に戻ると、ウエハ搬送
装置10はウエハ1を保持した保持台15を次の処理工
程である現像部62にパンタグラフ装置14を現像槽6
4の方向(前進方向)に伸長作動させて移動させる。こ
の際、冷却部61と現像部62とは左右対称位置に配置
されているため、ウエハ搬送装置10は移動台13を搬
送アクチュエータ12によって移動させずに、パンタグ
ラフ装置14を冷却部61の方向(左方向)と反対方向
(右方向)である現像槽64の方向に伸長作動させれば
済む。
When the wafer 1 returns to the standby position, the wafer transfer apparatus 10 transfers the holding table 15 holding the wafer 1 to the developing section 62 for the next processing step, and the pantograph apparatus 14 to the developing tank 6.
It is extended and moved in the direction 4 (forward direction). At this time, since the cooling unit 61 and the developing unit 62 are arranged at symmetrical positions, the wafer transfer device 10 does not move the moving table 13 by the transfer actuator 12 and moves the pantograph device 14 in the direction of the cooling unit 61 ( It suffices to extend the developing tank 64 in the direction opposite to the left direction (to the right).

【0043】ウエハ搬送装置10のパンタグラフ装置1
4の伸長作動によってウエハ1が現像槽64の本体71
の真上に移動されると、現像部用ウエハエレベータ66
は保持台15に保持されたウエハ1を垂直に立てた状態
のまま受け取る。すなわち、現像部用ウエハエレベータ
66は昇降アクチュエータ74を伸長作動させて保持具
76の保持溝77を保持台15に保持されたウエハ1に
おける外周辺の下側に対向させる。続いて、昇降アクチ
ュエータ74が一段短縮作動されると、保持台15に保
持されたウエハ1は保持具76の保持溝77に嵌入され
て垂直に立てられた状態のまま受け取られる。
Pantograph device 1 of wafer transfer device 10
The wafer 1 is transferred to the main body 71 of the developing tank 64 by the extension operation of
Wafer elevator 66 for the developing unit
Receives the wafer 1 held on the holding table 15 in an upright state. That is, the wafer elevator 66 for the developing unit extends the lifting actuator 74 so that the holding groove 77 of the holder 76 faces the lower side of the outer periphery of the wafer 1 held by the holding table 15. Then, when the elevating actuator 74 is shortened by one step, the wafer 1 held by the holding table 15 is inserted into the holding groove 77 of the holder 76 and is received in a state of being vertically erected.

【0044】ウエハ1を受け取ると、現像部用ウエハエ
レベータ66は伸長作動してウエハ1を下降させる。現
像部用ウエハエレベータ66によって下降されたウエハ
1は、現像槽64の本体71に貯留された現像液73に
出し入れ口72から挿入されて、垂直に立てられた状態
のまま浸漬され、そのまま現像液73によって現像処理
される。
When the wafer 1 is received, the wafer elevator 66 for the developing section is extended to lower the wafer 1. The wafer 1 lowered by the developing unit wafer elevator 66 is inserted into the developing solution 73 stored in the main body 71 of the developing tank 64 through the inlet / outlet port 72, and immersed in the vertically standing state, and then the developing solution is left as it is. Development processing is performed by 73.

【0045】他方、保持台15のウエハ1を現像部用ウ
エハエレベータ66に受け渡したウエハ搬送装置10
は、パンタグラフ装置14を待機位置の方向(後退方
向)に短縮作動させて、空になった保持台15を移動台
13の真上に移動させる。そして、現像槽64にて現像
処理されている間に、ウエハ搬送装置10は移動台13
を他の処理部における待機位置に移動させて所定の受渡
し作業を実行する。
On the other hand, the wafer transfer device 10 in which the wafer 1 on the holding table 15 is transferred to the wafer elevator 66 for the developing section.
Causes the pantograph device 14 to be shortened toward the standby position (retracting direction) to move the vacant holding table 15 directly above the moving table 13. Then, while the developing process is being carried out in the developing tank 64, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13
Is moved to a standby position in another processing unit to perform a predetermined delivery work.

【0046】現像処理が終了すると、現像部用ウエハエ
レベータ66は保持具76にて立てた状態で保持したウ
エハ1を所定の受渡し位置に上昇させる。他方、ウエハ
搬送装置10は移動台13を現像部62の待機位置に搬
送アクチュエータ12によって移動させる。ウエハ搬送
装置10はパンタグラフ装置14を伸長作動させて、空
の保持台15を現像部用ウエハエレベータ66の受渡し
位置に前進移動させる。現像部用ウエハエレベータ66
は現像処理が済んだウエハ1をウエハ搬送装置10の保
持台15に立てた状態のまま受け渡たす。ウエハ1を保
持台15によって受け取ると、ウエハ搬送装置10はパ
ンタグラフ装置14を短縮作動させて、ウエハ1を受け
取った保持台15を移動台13の位置に復帰移動させ
る。
When the developing process is completed, the developing unit wafer elevator 66 raises the wafer 1 held upright by the holder 76 to a predetermined delivery position. On the other hand, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13 to the standby position of the developing section 62 by the transfer actuator 12. The wafer transfer device 10 extends the pantograph device 14 to move the empty holding base 15 forward to the delivery position of the developing unit wafer elevator 66. Wafer elevator 66 for developing section
The wafer 1 that has undergone the development processing is handed over to the holding table 15 of the wafer transfer device 10 in an upright state. When the wafer 1 is received by the holding table 15, the wafer transfer device 10 operates the pantograph device 14 in a shortened manner to return the holding table 15 receiving the wafer 1 to the position of the moving table 13.

【0047】ウエハ1が待機位置に戻ると、ウエハ搬送
装置10はウエハ1を保持した保持台15と一緒に移動
台13を次の処理工程であるアフタベーク部42に搬送
アクチュエータ12によって移動させる。
When the wafer 1 returns to the standby position, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13 together with the holding table 15 holding the wafer 1 to the after-baking section 42 which is the next processing step by the transfer actuator 12.

【0048】続いて、アフタベーク部42の待機位置に
おいて、ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置14を
アフタベーク炉44の方向(右方向)に伸長作動させ
て、保持台15に立てた状態で保持されたウエハ1をア
フタベーク部用ウエハエレベータ46の真上に平行移動
させる。
Subsequently, at the standby position of the afterbaking section 42, the wafer transfer apparatus 10 extends the pantograph apparatus 14 in the direction of the afterbaking furnace 44 (to the right) to hold the wafer held on the holding table 15 in a standing state. 1 is moved in parallel directly above the wafer elevator 46 for the afterbaking section.

【0049】ウエハ1が真上に来ると、アフタベーク部
用ウエハエレベータ46はウエハ搬送装置10の保持台
15に立てられた状態で、保持されたウエハ1を上昇さ
せる。アフタベーク部用ウエハエレベータ46によって
上昇されたウエハ1はアフタベーク炉44によって立て
られた状態のままアフタベーキング処理される。
When the wafer 1 comes directly above, the wafer elevator 46 for the afterbaking section raises the held wafer 1 while standing on the holding table 15 of the wafer transfer device 10. The wafer 1 lifted by the after-baking unit wafer elevator 46 is subjected to after-baking processing while being kept in a standing state by the after-baking furnace 44.

【0050】他方、保持台15のウエハ1をアフタベー
ク部用ウエハエレベータ46に受け渡したウエハ搬送装
置10は、パンタグラフ装置14を待機位置の方向(左
方向)に短縮作動させて、空になった保持台15を移動
台13の真上に移動させる。そして、アフタベーク炉4
4にてアフタベーキング処理されている間に、ウエハ搬
送装置10は移動台13を他の処理部における待機位置
に移動させて所定の受渡し作業を実行する。
On the other hand, the wafer transfer device 10 which has transferred the wafer 1 on the holding table 15 to the after-baking part wafer elevator 46, shortens the pantograph device 14 toward the standby position (to the left), and holds it empty. The table 15 is moved right above the moving table 13. And afterbake furnace 4
While the after-baking process is performed at 4, the wafer transfer device 10 moves the movable table 13 to a standby position in another processing unit to perform a predetermined delivery work.

【0051】アフタベーキング処理が終了すると、アフ
タベーク部用ウエハエレベータ46はウエハ1を受渡し
位置に下降させる。他方、ウエハ搬送装置10は搬送ア
クチュエータ12によって移動台13をアフタベーク部
42の待機位置に移動させる。ウエハ搬送装置10はパ
ンタグラフ装置14を伸長作動させて空の保持台15を
アフタベーク部用ウエハエレベータ46の受渡し位置に
移動させ、アフタベーク部用ウエハエレベータ46から
ウエハ1を保持台15によって立てられた状態のまま受
け取る。ウエハ1を保持台15によって立てた状態のま
ま受け取ると、ウエハ搬送装置10はパンタグラフ装置
14を短縮作動させて、ウエハ1を受け取った保持台1
5を移動台13の位置に平行移動させる。
When the after-baking process is completed, the after-baking unit wafer elevator 46 lowers the wafer 1 to the delivery position. On the other hand, the wafer transfer device 10 causes the transfer actuator 12 to move the movable table 13 to the standby position of the afterbaking section 42. The wafer transfer device 10 extends the pantograph device 14 to move the empty holding table 15 to the delivery position of the after-baking part wafer elevator 46, and the wafer 1 is erected by the holding table 15 from the after-baking part wafer elevator 46. Receive as is. When the wafer 1 is received by the holding table 15 in an upright state, the wafer transfer device 10 operates the pantograph device 14 in a shortened manner to receive the wafer 1.
5 is moved in parallel to the position of the movable table 13.

【0052】ウエハ1が待機位置に戻ると、ウエハ搬送
装置10はウエハ1を保持した保持台15と一緒に移動
台13を次の処理工程であるアンローディング部22に
搬送アクチュエータ12によって移動させる。
When the wafer 1 returns to the standby position, the wafer transfer device 10 moves the moving table 13 together with the holding table 15 holding the wafer 1 to the unloading section 22 which is the next processing step by the transfer actuator 12.

【0053】アンローディング部22の待機位置に移動
台13が移動されて来ると、ウエハ受渡し装置30は保
持台15に立てられた状態で保持されたウエハ1を、保
持具35によって上から保持して、アンローディング部
22に設置された空カセット2Bにおける所定の保持溝
4の真上に搬送する。
When the movable table 13 is moved to the standby position of the unloading section 22, the wafer transfer device 30 holds the wafer 1 held on the holding table 15 from above by the holder 35. Then, it is conveyed right above the predetermined holding groove 4 in the empty cassette 2B installed in the unloading section 22.

【0054】処理済のウエハ1が空カセット2Bにおけ
る所定の保持溝4の真上に搬送されて来ると、アンロー
ディング部用ウエハエレベータ24は上昇してウエハ受
渡し装置30からウエハ1を立てた状態のまま受け取
る。ウエハ1を受け取ると、アンローディング部用ウエ
ハエレベータ24は下降して空カセット2Bの所定の保
持溝4に処理済のウエハ1を収納させる。
When the processed wafer 1 is conveyed right above the predetermined holding groove 4 in the empty cassette 2B, the wafer elevator 24 for the unloading section rises and the wafer 1 is erected from the wafer transfer device 30. Receive as is. When the wafer 1 is received, the wafer elevator 24 for the unloading section descends and stores the processed wafer 1 in the predetermined holding groove 4 of the empty cassette 2B.

【0055】以降、前記作動が繰り返されることによ
り、実カセット2Aのウエハ1が順次現像処理され、現
像処理済のウエハ1が空カセット2Bに順次収納されて
行く。この間、ローディング作業、プリベーキング作
業、冷却作業、現像作業、アフタベーキング作業および
アンローディング作業が同時進行されるとともに、それ
ら作業の進行中に各部へのウエハ搬送装置10による搬
送作業が並行処理される。そして、これらの制御はコン
ピュータ等によって構築されたコントローラ(図示せ
ず)によって統括されて実行される。
After that, by repeating the above operation, the wafers 1 in the actual cassette 2A are sequentially developed, and the developed wafers 1 are sequentially stored in the empty cassette 2B. During this time, the loading work, the pre-baking work, the cooling work, the developing work, the after-baking work and the unloading work are simultaneously carried out, and the carrying work by the wafer carrying device 10 to each part is processed in parallel while these works are in progress. . Then, these controls are centrally executed by a controller (not shown) constructed by a computer or the like.

【0056】前記実施例によれば次の効果が得られる。 (1) ウエハ1を立てた状態で保持した保持台15を
移動台13によって移動させるようにウエハ搬送装置1
0を構成することにより、ウエハ1を立てた状態で搬送
することができるため、搬送スペースをきわめて小さく
抑制することができ、その結果、ウエハ搬送装置10し
いてはそれを使用したフォトレジスト現像装置5の占有
床面積を小さく抑制することができる。
According to the above embodiment, the following effects can be obtained. (1) Wafer transfer device 1 so that holding table 15 holding wafer 1 upright is moved by moving table 13.
By configuring 0, since the wafer 1 can be transported in an upright state, the transportation space can be suppressed to be extremely small. As a result, the wafer transportation device 10 and the photoresist developing device using the same can be suppressed. The occupied floor area of No. 5 can be suppressed small.

【0057】(2) その主面を搬送ライン11に一致
させてウエハ1を保持するように保持台15を構成する
ことにより、搬送ライン11上におけるウエハ1の搬送
スペース(搬送床面積)をより一層小さく抑制すること
ができる。
(2) By configuring the holding table 15 so that the main surface thereof is aligned with the transfer line 11 to hold the wafer 1, the transfer space (transfer floor area) of the wafer 1 on the transfer line 11 is further increased. It can be suppressed even smaller.

【0058】(3) 保持台15をパンタグラフ装置1
4の伸長および短縮作動によって平行移動させるように
構成することにより、保持台15に立てた状態で保持し
たままウエハ1を搬送させることができるため、搬送ス
ペースをきわめて小さく抑制することができ、その結
果、ウエハ搬送装置10しいてはそれを使用したフォト
レジスト現像装置5の占有床面積を抑制することができ
る。
(3) The holding table 15 is attached to the pantograph device 1
Since the wafer 1 can be transferred while being held upright on the holding table 15 by being configured to be moved in parallel by the extension and shortening operations of 4, the transfer space can be suppressed to be extremely small. As a result, the floor area occupied by the wafer transfer device 10 and the photoresist developing device 5 using the same can be suppressed.

【0059】(4) ウエハ搬送装置10およびフォト
レジスト現像装置5の占有床面積を抑制することによ
り、ウエハ搬送装置10およびフォトレジスト現像装置
5の雰囲気が全体的に温度調整される場合に温度調整す
る容積を小さくすることができるため、この温度調整に
消費されるエネルギ等を節約することができる。
(4) By controlling the floor space occupied by the wafer transfer device 10 and the photoresist developing device 5, the temperature of the atmosphere of the wafer transfer device 10 and the photoresist developing device 5 is adjusted when the temperature of the entire atmosphere is adjusted. Since the volume to be operated can be reduced, the energy and the like consumed for this temperature adjustment can be saved.

【0060】(5) ウエハ搬送装置10およびフォト
レジスト現像装置5が全体的にクリーンベンチ構造に構
築される場合には、ウエハ1のダウンフローと垂直に接
する面積が小さくなるため、このダウンフローエア中の
塵埃がウエハへ付着する確率を減少させることができ
る。
(5) When the wafer transfer device 10 and the photoresist developing device 5 are constructed in a clean bench structure as a whole, the downflow air of the downflow air of the wafer 1 becomes small because the area of the wafer 1 in contact with the downflow becomes small. It is possible to reduce the probability that the dust inside adheres to the wafer.

【0061】(6) また、ウエハ1がダウンフローに
対して障害物になるのを回避することができるため、ウ
エハ1の上でエアが渦流を発生したりしてダウンフロー
の気流を乱すことをなくして塵埃の付着を防止し、ウエ
ハ搬送装置およびフォトレジスト現像装置の品質および
信頼性を高めることができ、しいてはウエハ製造の歩留
りを高めることができる。
(6) Further, since it is possible to prevent the wafer 1 from becoming an obstacle to the downflow, air may generate a vortex on the wafer 1 to disturb the downflow airflow. Therefore, the adhesion of dust can be prevented, the quality and reliability of the wafer transfer device and the photoresist developing device can be improved, and the yield of wafer manufacturing can be improved.

【0062】図7は本発明の実施例2であるフォトレジ
スト現像装置を示す平面断面図である。
FIG. 7 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus which is Embodiment 2 of the present invention.

【0063】本実施例2が前記実施例1と異なる主な点
は、ウエハ搬送装置10がウエハ1を搬送ライン11に
対して直交する方向に立てた状態で搬送するように構成
されている点にある。すなわち、保持台15の保持溝1
6が保持台15の進退方向と平行な方向に延設されてい
る。また、ローディング部、プリベーキング部、冷却
部、現像部、アフタベーキング部およびアンローディン
グ部の各向きも搬送ライン11に対して直交する方向に
設定されている。
The main difference of the second embodiment from the first embodiment is that the wafer transfer device 10 is configured to transfer the wafer 1 in a state of standing in a direction orthogonal to the transfer line 11. It is in. That is, the holding groove 1 of the holding table 15
6 extends in a direction parallel to the advancing / retreating direction of the holding table 15. Further, the loading section, the pre-baking section, the cooling section, the developing section, the after-baking section, and the unloading section are also set in directions orthogonal to the transport line 11.

【0064】図8は本発明の実施例3であるフォトレジ
スト現像装置を示す平面断面図である。
FIG. 8 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus which is Embodiment 3 of the present invention.

【0065】本実施例3が前記実施例1と異なる主な点
は、ウエハ搬送装置10において移動台13を移動させ
るアクチュエータが移動台13を回転させるように構成
されている点にある。すなわち、移動台13は回転中心
上においてロータリーアクチュエータによって間欠回転
されるように構成されており、各処理部は移動台13の
周囲に配置されている。そして、ロータリーアクチュエ
ータは保持台15が所望の処理部に向いた角度で移動台
13を停止させ、保持台15を所望の処理部に送り出せ
るようになっている。
The main difference of the third embodiment from the first embodiment is that the actuator for moving the moving table 13 in the wafer transfer apparatus 10 is configured to rotate the moving table 13. That is, the moving table 13 is configured to be intermittently rotated by the rotary actuator on the center of rotation, and the respective processing units are arranged around the moving table 13. Then, the rotary actuator is configured to stop the moving table 13 at an angle at which the holding table 15 faces the desired processing section and send the holding table 15 to the desired processing section.

【0066】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。
Although the invention made by the present inventor has been specifically described based on the embodiments, the invention is not limited to the above embodiments, and various modifications can be made without departing from the scope of the invention. Needless to say.

【0067】例えば、ウエハ保持台はウエハを1枚ずつ
立てて搬送かつ処理するように構成するに限らず、複数
枚を立てて保持するように構成していもよい。特に、2
枚のウエハをその被処理主面(表側主面)を外側にして
処理しない主面(裏側主面)を背中合わせにして搬送か
つ処理するように構成した場合には、2枚のウエハを一
度に取り扱うことができる。
For example, the wafer holding table is not limited to be configured to stand and carry and process wafers one by one, but may be configured to stand and hold a plurality of wafers. Especially 2
When the wafers are configured to be transferred and processed with the main surface to be processed (front main surface) outside and the main surface not to be processed (back main surface) back-to-back, two wafers are processed at a time. It can be handled.

【0068】ウエハ搬送装置の搬送ライン周りに設置す
る処理部は、ローディング部、プリベーキング部、冷却
部、現像部、アフタベーキング部およびアンローディン
グ部に限らず、他のフォトレジスト処理部や、その他、
ウエハに所定の処理を実施する処理部を設置することが
できる。
The processing section installed around the transfer line of the wafer transfer apparatus is not limited to the loading section, the pre-baking section, the cooling section, the developing section, the after-baking section and the unloading section, but other photoresist processing sections and others. ,
A processing unit that performs a predetermined process on the wafer can be installed.

【0069】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野であるウエハ
の搬送技術およびウエハ処理技術に適用した場合につい
て説明したが、それに限定されるものではなく、特に、
ウエハ処理技術中、フォトレジスト現像技術に限らず、
ウエハ洗浄技術、ウエットエッチング技術に適用するこ
とができ、さらには、液晶パネルやプリント配線基板等
の板状物を搬送する技術全般およびその処理技術全般に
適用することができる。
In the above description, the case where the invention made by the present inventor is mainly applied to the wafer transfer technology and the wafer processing technology, which are the fields of application which are the background, has been described, but the invention is not limited thereto. In particular,
Among wafer processing technology, not only photoresist development technology,
The present invention can be applied to a wafer cleaning technique and a wet etching technique, and further can be applied to a general technique for transporting a plate-like object such as a liquid crystal panel or a printed wiring board and a general processing technique therefor.

【0070】[0070]

【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、次
の通りである。
The effects obtained by the typical ones of the inventions disclosed in the present application will be briefly described as follows.

【0071】板状物を立てた状態で搬送することによ
り、板状物の搬送スペースをきわめて小さく抑制するこ
とができるため、板状物搬送装置しいてはそれを使用し
た板状物処理装置の占有床面積を抑制することができ
る。
By conveying the plate-shaped object in an upright state, the space for conveying the plate-shaped object can be suppressed to a very small level. The occupied floor area can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例であるフォトレジスト現像装
置を示す平面断面図である。
FIG. 1 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】(a)は図1のa−a線に沿う正面断面図、
(b)は図1のb−b線に沿う正面断面図である。
2 (a) is a front sectional view taken along the line aa of FIG.
(B) is a front sectional view taken along the line bb of FIG. 1.

【図3】本発明の一実施例であるウエハ搬送装置を示す
一部省略斜視図である。
FIG. 3 is a partially omitted perspective view showing a wafer transfer device according to an embodiment of the present invention.

【図4】ローディング部を示す一部省略斜視図である。FIG. 4 is a partially omitted perspective view showing a loading unit.

【図5】プリベーク部を示す一部省略斜視図である。FIG. 5 is a partially omitted perspective view showing a pre-baking unit.

【図6】現像部を示す一部省略斜視図である。FIG. 6 is a partially omitted perspective view showing a developing unit.

【図7】本発明の実施例2であるフォトレジスト現像装
置を示す平面断面図である。
FIG. 7 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus which is Embodiment 2 of the present invention.

【図8】本発明の実施例3であるフォトレジスト現像装
置を示す平面断面図である。
FIG. 8 is a plan sectional view showing a photoresist developing apparatus which is Embodiment 3 of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ウエハ(板状物、被処理物、被搬送物)、2…ウエ
ハカセット、2A…実カセット、2B…空カセット、3
…本体、4…保持溝、5…フォトレジスト現像装置(板
状物処理装置)、6…クリーンベンチのチャンバ、10
…ウエハ搬送装置(板状物搬送装置)、11…搬送ライ
ン、12…搬送アクチュエータ、13…移動台、14…
パンタグラフ装置、14a…第1リンクバー、14b…
第2リンクバー、14c…第3リンクバー、14d…第
4リンクバー、14e…ピン、15…保持台、16…保
持溝、21…ローディング部、22…アンローディング
部、23…ローディング部用ウエハエレベータ、24…
アンローディング部用ウエハエレベータ、25…昇降ア
クチュエータ、26…ロッド、27…保持具、28…保
持溝、30…ウエハ受渡し装置、31…搬送アクチュエ
ータ、32…移動台、33…昇降アクチュエータ、34
…昇降台、35…ウエハ受渡し装置用保持具、36…軸
形状部、37…円弧形状部、38…ピン、39…当て
具、41…プリベーク部、42…アフタベーク部、43
…プリベーク炉、44…アフタベーク炉、45…プリベ
ーク部用ウエハエレベータ、46…アフタベーク部用ウ
エハエレベータ、47…炉体、48…炉口、49…ベー
キング処理室、50…加熱体、51…昇降アクチュエー
タ、52…ロッド、53…保持具、54…保持溝、61
…冷却部、62…現像部、63…冷却炉、64…現像
槽、65…冷却部用ウエハエレベータ、66…現像部用
ウエハエレベータ、67…冷却炉の炉体、68…炉口、
69…冷却処理室、70…冷却体、71…現像槽の本
体、72…出し入れ口、73…現像液、74…昇降アク
チュエータ、75…ロッド、76…保持具、77…保持
溝。
1 ... Wafer (plate-shaped object, object to be processed, object to be transferred), 2 ... Wafer cassette, 2A ... Actual cassette, 2B ... Empty cassette, 3
... main body, 4 ... holding groove, 5 ... photoresist developing device (plate material processing device), 6 ... clean bench chamber, 10
... Wafer transfer device (plate-shaped object transfer device), 11 ... Transfer line, 12 ... Transfer actuator, 13 ... Moving base, 14 ...
Pantograph device, 14a ... 1st link bar, 14b ...
Second link bar, 14c ... Third link bar, 14d ... Fourth link bar, 14e ... Pin, 15 ... Holding table, 16 ... Holding groove, 21 ... Loading section, 22 ... Unloading section, 23 ... Wafer for loading section Elevator, 24 ...
Wafer elevator for unloading unit, 25 ... Lifting actuator, 26 ... Rod, 27 ... Holding member, 28 ... Holding groove, 30 ... Wafer transfer device, 31 ... Transfer actuator, 32 ... Moving base, 33 ... Lifting actuator, 34
... Elevating table, 35 ... Wafer transfer device holder, 36 ... Shaft-shaped section, 37 ... Arc-shaped section, 38 ... Pin, 39 ... Abutment tool, 41 ... Pre-baking section, 42 ... After-baking section, 43
... pre-bake furnace, 44 ... after-bake furnace, 45 ... pre-bake part wafer elevator, 46 ... after-bake part wafer elevator, 47 ... furnace body, 48 ... furnace opening, 49 ... baking processing chamber, 50 ... heating body, 51 ... lift actuator , 52 ... Rod, 53 ... Retaining tool, 54 ... Retaining groove, 61
... cooling unit, 62 ... developing unit, 63 ... cooling furnace, 64 ... developing tank, 65 ... cooling unit wafer elevator, 66 ... developing unit wafer elevator, 67 ... cooling furnace body, 68 ... furnace opening,
69 ... Cooling processing chamber, 70 ... Cooling body, 71 ... Developing tank main body, 72 ... Inlet / outlet port, 73 ... Developer, 74 ... Elevating actuator, 75 ... Rod, 76 ... Holder, 77 ... Holding groove.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 移動台に一端が支持されたパンタグラフ
装置によって移動台に対して進退される保持台を備えて
おり、保持台は板状物を立てた状態で保持するように構
成されていることを特徴とする板状物搬送装置。
1. A holding table that is moved forward and backward with respect to the moving table by a pantograph device having one end supported by the moving table is provided, and the holding table is configured to hold a plate-shaped object in an upright state. A plate-shaped material conveying device characterized by the above.
【請求項2】 移動台が搬送ラインを往復移動するよう
に構成されていることを特徴とする請求項1に記載の板
状物搬送装置。
2. The plate-like object transfer device according to claim 1, wherein the moving table is configured to reciprocate along the transfer line.
【請求項3】 移動台が回転するように構成されている
ことを特徴とする請求項1に記載の板状物搬送装置。
3. The plate-like object conveying device according to claim 1, wherein the movable table is configured to rotate.
【請求項4】 保持台が板状物を進退方向と直交する方
向に保持するように構成されていることを特徴とする請
求項1または請求項2に記載の板状物搬送装置。
4. The plate-like object conveying device according to claim 1, wherein the holding table is configured to hold the plate-like object in a direction orthogonal to the advancing / retreating direction.
【請求項5】 保持台が板状物を進退方向と平行な方向
に保持するように構成されていることを特徴とする請求
項1または請求項2に記載の板状物搬送装置。
5. The plate-like object conveying device according to claim 1, wherein the holding table is configured to hold the plate-like object in a direction parallel to the advancing / retreating direction.
【請求項6】 請求項1に記載の板状物搬送装置におけ
る移動台の外側に複数の処理部が配設されているととも
に、各処理部は板状物を立てた状態でそれぞれ処理を実
施するように構成されており、 前記移動台は各処理部に対向する位置にそれぞれ移動す
るように構成され、前記保持台はパンタグラフ装置によ
って処理部とこの処理部に対向した移動台との間を往復
移動されるように構成されていることを特徴とする板状
物処理装置。
6. A plurality of processing units are disposed outside a moving table in the plate-shaped object conveying device according to claim 1, and each processing unit performs processing in a state in which the plate-shaped object is erected. The moving table is configured to move to a position facing each processing unit, and the holding table is provided between the processing unit and the moving table facing the processing unit by a pantograph device. A plate-like object processing device, which is configured to be reciprocally moved.
JP11356395A 1995-04-14 1995-04-14 Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it Pending JPH08288362A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11356395A JPH08288362A (en) 1995-04-14 1995-04-14 Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11356395A JPH08288362A (en) 1995-04-14 1995-04-14 Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08288362A true JPH08288362A (en) 1996-11-01

Family

ID=14615446

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11356395A Pending JPH08288362A (en) 1995-04-14 1995-04-14 Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08288362A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010199355A (en) * 2009-02-26 2010-09-09 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus and method
CN102282664A (en) * 2009-01-15 2011-12-14 周星工程股份有限公司 Substrate-processing system and substrate transfer method
KR101134884B1 (en) * 2003-04-03 2012-04-13 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Methods and apparatus for vertical transfer of semiconductor substrates between cleaning modules
JP2018125567A (en) * 2014-07-07 2018-08-09 株式会社荏原製作所 Substrate processing device and substrate transferring method
JP2018128282A (en) * 2017-02-06 2018-08-16 西進商事株式会社 Monochromator
JP2020106695A (en) * 2018-12-27 2020-07-09 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin film and patterning method
KR20210150342A (en) * 2014-06-09 2021-12-10 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 Substrate detaching part for substrate holder, wet substrate processing device provided with the same, substrate processing device, and substrate conveying method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101134884B1 (en) * 2003-04-03 2012-04-13 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 Methods and apparatus for vertical transfer of semiconductor substrates between cleaning modules
CN102282664A (en) * 2009-01-15 2011-12-14 周星工程股份有限公司 Substrate-processing system and substrate transfer method
US9022714B2 (en) 2009-01-15 2015-05-05 Jusung Engineering Co., Ltd. Substrate processing system and substrate transferring method
JP2010199355A (en) * 2009-02-26 2010-09-09 Tokyo Electron Ltd Substrate processing apparatus and method
KR20210150342A (en) * 2014-06-09 2021-12-10 가부시키가이샤 에바라 세이사꾸쇼 Substrate detaching part for substrate holder, wet substrate processing device provided with the same, substrate processing device, and substrate conveying method
JP2018125567A (en) * 2014-07-07 2018-08-09 株式会社荏原製作所 Substrate processing device and substrate transferring method
JP2018128282A (en) * 2017-02-06 2018-08-16 西進商事株式会社 Monochromator
JP2020106695A (en) * 2018-12-27 2020-07-09 東京応化工業株式会社 Photosensitive resin film and patterning method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI447837B (en) Substrate processing apparatus
JP4571525B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
JP3445757B2 (en) Substrate processing apparatus and substrate processing method
KR20010020971A (en) Substrate processing apparatus
KR20080076754A (en) Substrate processing apparatus
KR100687565B1 (en) Board processing apparatus
JPH08288362A (en) Plate-shaped member transporting apparatus and plate-shaped member treating apparatus using it
CN114334715A (en) Cooling unit, substrate processing apparatus using the same, and substrate processing method using the same
US8441618B2 (en) Substrate transfer method and apparatus
JP4541396B2 (en) Coating film forming apparatus, substrate transport method, and storage medium
JP2022083862A (en) Substrate processing device and substrate processing method
JP2023013991A (en) Compound fork device, integrated circuit manufacturing system including the same, and conveying method using the same
KR102500916B1 (en) Substrate processing device
JP3732388B2 (en) Processing apparatus and processing method
JPH0529437A (en) Treatment apparatus
JP4402011B2 (en) Substrate processing system and substrate processing method
JP2926592B2 (en) Substrate processing equipment
JP2015195276A (en) Device and system for substrate processing
JP7297650B2 (en) SUBSTRATE PROCESSING APPARATUS AND SUBSTRATE TRANSFER METHOD
JPH0590387A (en) Processor
JP3246659B2 (en) Resist processing apparatus, liquid processing apparatus, and substrate processing apparatus
JP7360849B2 (en) Substrate processing system and substrate transport method
JPH08264621A (en) Processing method and processing device
KR102280034B1 (en) Transfer unit and Apparatus for treaitngsubstrate
KR102255278B1 (en) Apparatus and Method for treating a substrate