JPH08285823A - Ultrasonic inspection apparatus - Google Patents

Ultrasonic inspection apparatus

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Publication number
JPH08285823A
JPH08285823A JP7115172A JP11517295A JPH08285823A JP H08285823 A JPH08285823 A JP H08285823A JP 7115172 A JP7115172 A JP 7115172A JP 11517295 A JP11517295 A JP 11517295A JP H08285823 A JPH08285823 A JP H08285823A
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JP
Japan
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pulse train
ultrasonic
laser
laser pulse
sample
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP7115172A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takahiro Matsumoto
貴裕 松本
Kazuo Hayashi
一雄 林
Masahiro Daimon
正博 大門
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Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP7115172A priority Critical patent/JPH08285823A/en
Publication of JPH08285823A publication Critical patent/JPH08285823A/en
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  • Length Measuring Devices Characterised By Use Of Acoustic Means (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

PURPOSE: To provide an ultrasonic inspection apparatus by which ultrasonic waves can be generated inside a sample from a sufficiently separated distance from the sample as an inspection object and by which the ultrasonic waves can be detected simultaneously in a noncontact manner and with high sensitivity. CONSTITUTION: A laser beam 16 composed of a pulse train is emitted to a sample 17, it generates ultrasonic waves at the inside, and a part of them is used as a reference signal 21 by a photodetection part 20. An ultrasonic pulse train which is generated inside the sample is detected when the Doppler shift to which a laser beam 31 for a probe is subjected is captured by the Fabry-Perot interferometer 34. The pulse signal of the reference signal 21 and the ultrasonic pulse train inside the sample have high correlativity. As a result, when a detection signal 36 is correlation-processed by using the reference signal 21 in a correlation processing part 40, the high S/N ratio of a correlation signal 41 can be realized, and a flaw at the inside of the sample can be inspected with high accuracy.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、レーザー光を用いて試
料中に超音波を発生させ、この超音波を検出することに
よって試料内部の欠陥等の検査を行う超音波検査装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ultrasonic inspection apparatus for inspecting defects inside a sample by generating ultrasonic waves in a sample using laser light and detecting the ultrasonic waves. .

【0002】[0002]

【従来の技術】鉄製造工程においては、タンディッシュ
内の溶鉱が固体化した直後のスラブの内部欠陥を検査す
ることが、その後の分塊圧延工程の歩留りの向上、成品
工程への品質保証、剪断工程の省力化等を図る上で重要
となっている。しかし、スラブの状態では非常に高温な
ため、直接接触して検査することは難しい。このため、
非接触でスラブ内部の欠陥検査を行う方法の一つが、
「電磁超音波変換子の理論と高温鋼材計測への応用」
(川島捷宏、東京大学博士論文)において提案されてい
る。
2. Description of the Related Art In the iron manufacturing process, inspecting internal defects in the slab immediately after the molten ore in the tundish is solidified improves the yield in the subsequent slabbing process and guarantees quality for the product process. However, it is important to reduce labor in the shearing process. However, since the slab is extremely hot, it is difficult to inspect it directly. For this reason,
One of the methods for non-contact inspection of defects inside the slab is
"Theory of electromagnetic ultrasonic transducer and its application to high temperature steel measurement"
(Nobuhiro Kawashima, PhD dissertation, The University of Tokyo).

【0003】この方法は電磁超音波を利用するもので、
スラブの表面から5mm程度の位置に設けた超音波発生用
コイルに高圧パルス電流を流し、スラブ内部に誘導磁場
を発生させる。このような誘導磁場が誘起されると、こ
れに伴って、スラブの内部には超音波が発生する。この
超音波はスラブ内を伝播し、スラブの裏側で反射して再
びスラブの表面に戻って来る。この超音波エコーを超音
波検出用コイルで検出する。スラブ内に欠陥がなけれ
ば、この超音波エコーが戻るまでの時間間隔は一定であ
るが、内部に空洞や介在物等の欠陥があって、そこで超
音波が反射されると、超音波エコーが戻るまでの時間間
隔が短くなる。すなわち、この時間を調べることによっ
て、スラブ内部の欠陥の有無を判断することができる。
This method utilizes electromagnetic ultrasonic waves,
A high-voltage pulse current is passed through an ultrasonic wave generation coil provided at a position about 5 mm from the surface of the slab to generate an induction magnetic field inside the slab. When such an induced magnetic field is induced, ultrasonic waves are generated inside the slab. This ultrasonic wave propagates inside the slab, is reflected on the back side of the slab, and returns to the surface of the slab again. This ultrasonic echo is detected by the ultrasonic detecting coil. If there is no defect in the slab, the time interval until this ultrasonic echo returns is constant, but if there are defects such as cavities and inclusions inside and the ultrasonic waves are reflected there, the ultrasonic echo will The time interval before returning is shortened. That is, by examining this time, it is possible to determine the presence or absence of defects inside the slab.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】しかし、スラブの状態
では、まだ温度が1000℃程度と非常に高いため、超
音波発生用及び超音波検出用のコイルを5mm程度に近づ
けると、劣化が早くなるなど種々の問題が生じる。一
方、超音波発生用のコイルをこれ以上離すと、超音波を
発生させることが難しくなり、十分な強度の超音波を発
生させるには、相当に大きい電力を供給して電磁波を発
生させなければならない。また、超音波検出用のコイル
を試料から離すと、超音波の検出が困難となり、超音波
検出装置に非常に高い感度が要求されるという問題があ
る。
However, in the state of the slab, the temperature is still as high as about 1000 ° C. Therefore, if the coil for generating ultrasonic waves and the coil for detecting ultrasonic waves are brought close to about 5 mm, the deterioration is accelerated. Various problems occur. On the other hand, if the ultrasonic wave generating coil is further separated, it becomes difficult to generate ultrasonic waves, and in order to generate ultrasonic waves of sufficient strength, it is necessary to supply considerably large power to generate electromagnetic waves. I won't. Further, when the ultrasonic detecting coil is separated from the sample, it becomes difficult to detect ultrasonic waves, and there is a problem that the ultrasonic detecting device is required to have very high sensitivity.

【0005】本発明は上記事情に基づいてなされたもの
であり、検査対象である試料から十分に離れた距離から
試料内に超音波を発生させることができ、同時にこの超
音波を非接触で、かつ高い感度で検知することが可能な
超音波検査装置を提供することを目的とするものであ
る。
The present invention has been made based on the above circumstances, and ultrasonic waves can be generated in a sample from a distance sufficiently away from the sample to be inspected, and at the same time, the ultrasonic waves can be non-contacted. Moreover, it is an object of the present invention to provide an ultrasonic inspection apparatus capable of detecting with high sensitivity.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの請求項1記載の発明は、レーザーパルス列を発生さ
せて検査対象である試料に照射するレーザーパルス列発
生手段と、前記試料内に発生する超音波振動を検出し電
気信号として出力する超音波検出手段と、前記レーザー
パルス列の一部を取り出して電気信号に変換し、参照信
号として出力する参照信号生成手段と、前記参照信号を
用いて前記超音波検出手段の出力信号に対して相関処理
を行い、前記レーザーパルス列によって発生した超音波
に関する信号を取り出す相関処理手段と、を具備するこ
とを特徴とするものである。
According to a first aspect of the invention for solving the above-mentioned problems, there is provided a laser pulse train generating means for generating a laser pulse train and irradiating the sample to be inspected with the laser pulse train generating means. Ultrasonic detecting means for detecting ultrasonic vibration and outputting as an electric signal, reference signal generating means for extracting a part of the laser pulse train and converting it into an electric signal, and outputting as a reference signal, and using the reference signal Correlation processing means for performing correlation processing on the output signal of the ultrasonic wave detecting means and for extracting a signal relating to the ultrasonic wave generated by the laser pulse train.

【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記レーザーパルス列発生手段は、入射光
の一部を分岐する第一乃至第nの光学要素(nは任意の
自然数)を有し、第一の光学要素は単一のレーザーパル
スを入射光とし、第iの光学要素(i=2乃至nの自然
数)は第i−1の光学要素から分岐された光を入射光と
し、前記各光学要素からの透過光を単一の経路に戻すこ
とによって前記レーザーパルス列を得るものであること
を特徴とするものである。
According to a second aspect of the invention, in the first aspect of the invention, the laser pulse train generating means includes first to nth optical elements (n is an arbitrary natural number) for branching a part of incident light. The first optical element has a single laser pulse as incident light, and the i-th optical element (i = 2 to n is a natural number) has incident light as light branched from the (i-1) -th optical element. The laser pulse train is obtained by returning the transmitted light from each of the optical elements to a single path.

【0008】請求項3記載の発明は、請求項1記載の発
明において、前記レーザーパルス列発生手段は、単一の
レーザーパルスを分岐して複数のレーザーパルスとし、
各レーザーパルスを異なる長さの光ファイバを通過させ
たあと、再び単一の経路に戻すことによって前記レーザ
ーパルス列を得るものであることを特徴とするものであ
る。
According to a third aspect of the present invention, in the first aspect of the invention, the laser pulse train generating means branches a single laser pulse into a plurality of laser pulses,
The laser pulse train is obtained by passing each laser pulse through an optical fiber having a different length and then returning to a single path again.

【0009】請求項4記載の発明は、請求項1、2又は
3記載の発明において、前記レーザーパルス列は、各パ
ルスのパルス幅が異なることを特徴とするものである。
A fourth aspect of the present invention is characterized in that, in the first, second or third aspect of the invention, the laser pulse trains have different pulse widths.

【0010】[0010]

【作用】本発明は、前記の構成により、レーザーパルス
列が試料の表面に照射されると、その衝撃によって、試
料内には、レーザーパルス列のパルス間隔及びパルス幅
に応じた超音波パルス列が発生する。一方、光検出手段
の出力信号は、レーザーパルス列の一部を取り出して電
気信号に変換したものであるため、レーザーパルス列に
よって試料内に発生した超音波パルス列との間に高い相
関性がある。したがって、超音波検出手段によって検出
された試料内の超音波振動に多くの雑音成分が含まれて
いても、相関処理手段によって超音波検出手段の出力信
号及び光検出手段の出力信号に対して相関処理を行うこ
とにより、高い感度で、レーザーパルス列によって発生
した超音波パルス列を検出することができる。
According to the present invention, when the laser pulse train irradiates the surface of the sample with the above-mentioned structure, the impact generates an ultrasonic pulse train corresponding to the pulse interval and the pulse width of the laser pulse train in the sample. . On the other hand, the output signal of the photodetector is a signal obtained by extracting a part of the laser pulse train and converting it into an electric signal, and therefore has a high correlation with the ultrasonic pulse train generated in the sample by the laser pulse train. Therefore, even if the ultrasonic vibration in the sample detected by the ultrasonic detecting means includes many noise components, the correlation processing means correlates the output signal of the ultrasonic detecting means and the output signal of the photodetecting means. By performing the processing, the ultrasonic pulse train generated by the laser pulse train can be detected with high sensitivity.

【0011】上記のようなレーザーパルス列は、入射光
の一部を分岐させる光学要素を用いて得ることができ
る。例えば、単一のレーザーパルスをビームスプリッタ
に入射し、一部を透過させ、一部を反射させる。この反
射光を所定経路を伝播させて別のビームスプリッタに入
射し、同じく一部を透過させ、一部を反射させる。この
ようなビームスプリッタをn個設けておいて、各ビーム
スプリッタからの透過光を単一経路に戻せば、n個のパ
ルスからなるレーザーパルス列が得られる。あるいは、
単一のレーザーパルスを複数のレーザーパルスに分岐さ
せ、それぞれを異なる長さの光ファイバに通したあと再
び単一の経路に戻すことによって前記レーザーパルス列
を得ることもできる。また、レーザーパルス列の各パル
スのパルス幅を異ならせることによって、試料内の超音
波を検出したときのS/Nを向上させることができる。
The laser pulse train as described above can be obtained by using an optical element for branching a part of incident light. For example, a single laser pulse is incident on the beam splitter, partially transmitting and partially reflecting. This reflected light propagates through a predetermined path and enters another beam splitter, and also partially transmits and partially reflects. By providing n such beam splitters and returning the transmitted light from each beam splitter to a single path, a laser pulse train consisting of n pulses can be obtained. Alternatively,
It is also possible to obtain the laser pulse train by branching a single laser pulse into a plurality of laser pulses, passing them through optical fibers of different lengths, and then returning them to a single path again. Further, by making the pulse width of each pulse of the laser pulse train different, the S / N ratio when the ultrasonic wave in the sample is detected can be improved.

【0012】[0012]

【実施例】以下に図面を参照して、本発明の一実施例に
ついて説明する。ここで、図1は本発明の一実施例の概
略ブロック図、図2は図1に示すパルス列生成部12の
詳細な構成図、図3はレーザーパルス列と試料内で発生
する超音波パルス列との関係を示す概略図、図4は相関
処理の内容を説明するための概略図、図5はレーザーパ
ルス列を生成するための他の方法を示す図、図6はパル
ス幅の異なるレーザーパルス列と発生する超音波パルス
列との関係を示した概略図である。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. Here, FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a detailed configuration diagram of the pulse train generation unit 12 shown in FIG. 1, and FIG. 3 shows a laser pulse train and an ultrasonic pulse train generated in a sample. FIG. 4 is a schematic diagram showing the relationship, FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the contents of the correlation processing, FIG. 5 is a diagram showing another method for generating a laser pulse train, and FIG. 6 is a laser pulse train having different pulse widths. It is the schematic which showed the relationship with an ultrasonic pulse train.

【0013】図1において、超音波発生用レーザー10
は、例えば波長1.06μm、エネルギー1J、パルス
幅10nsのレーザー光を、30Hzの間隔で発するパ
ルスYAGレーザーである。レーザー10から放射され
たレーザー光11は、パルス列生成部12に入る。
In FIG. 1, an ultrasonic wave generating laser 10 is provided.
Is a pulsed YAG laser that emits laser light having a wavelength of 1.06 μm, energy of 1 J, and pulse width of 10 ns at intervals of 30 Hz. The laser light 11 emitted from the laser 10 enters the pulse train generation unit 12.

【0014】パルス列生成部12は、図2に示すよう
に、三つのビームスプリッタ13a〜13c、二つのミ
ラー14a、14b及びレンズ15からなる。ビームス
プリッタ13a、13b、13cの透過率は、それぞれ
30%、43%、75%に設定してある。すなわち、最
初のレーザー光11のうちの30%はビームスプリッタ
13aを透過し、残りの70%はビームスプリッタ13
aによって反射される。反射されたレーザー光はミラー
14aで全反射され、ビームスプリッタ13bに導かれ
る。ビームスプリッタ13bは、入射したレーザー光の
43%を透過し、残りの57%、すなわち、最初のレー
ザー光11の約40%を反射する。反射されたレーザー
光はミラー14bで全反射され、ビームスプリッタ13
cに導かれる。ビームスプリッタ13cは、入射したレ
ーザー光のうちの75%を透過する。
As shown in FIG. 2, the pulse train generator 12 comprises three beam splitters 13a to 13c, two mirrors 14a and 14b, and a lens 15. The transmittances of the beam splitters 13a, 13b and 13c are set to 30%, 43% and 75%, respectively. That is, 30% of the first laser beam 11 is transmitted through the beam splitter 13a, and the remaining 70% is beam splitter 13.
reflected by a. The reflected laser light is totally reflected by the mirror 14a and guided to the beam splitter 13b. The beam splitter 13b transmits 43% of the incident laser light and reflects the remaining 57%, that is, about 40% of the first laser light 11. The reflected laser light is totally reflected by the mirror 14b, and the beam splitter 13
guided by c. The beam splitter 13c transmits 75% of the incident laser light.

【0015】これによって、各ビームスプリッタ13
a、13b、13cを透過するレーザー光は、いずれも
最初のレーザー光11の約30%となり、各レーザー光
のエネルギーは約300mJとなる。尚、各ビームスプ
リッタとミラーとの距離は、いずれも15mに設定して
ある。
As a result, each beam splitter 13
The laser light transmitted through a, 13b, and 13c is about 30% of the initial laser light 11, and the energy of each laser light is about 300 mJ. The distance between each beam splitter and the mirror is set to 15 m.

【0016】各ビームスプリッタ13a〜13cを透過
したレーザー光は、レンズ15によって集光され、重ね
合わされて、一つのレーザービーム16とされる。この
とき、各ビームスプリッタを透過するレーザー光は、上
記のような光路差のために、後段のビームスプリッタを
透過するほど、時間的に遅延する。図3(a)(b)
は、この様子を示している。最初のレーザー光11が図
3(a)に示すような単一パルスからなる場合に、これ
を図2のパルス列生成部12を通過させて得られるレー
ザー光16は、図3(b)に示すように、パルス間隔が
100nsのレーザーパルス列となる。
The laser light transmitted through each of the beam splitters 13a to 13c is condensed by the lens 15 and superposed to form one laser beam 16. At this time, the laser light passing through each beam splitter is delayed in time as it passes through the beam splitter in the subsequent stage due to the optical path difference as described above. 3 (a) (b)
Shows this situation. When the first laser beam 11 is composed of a single pulse as shown in FIG. 3A, the laser beam 16 obtained by passing this through the pulse train generation unit 12 of FIG. 2 is shown in FIG. 3B. Thus, the laser pulse train has a pulse interval of 100 ns.

【0017】所定のレーザー光を物質に照射すると、物
質表面が瞬間的に蒸発し、そのときの熱的応力又は蒸発
反力によって、物質内部に、周波数がレーザー光のパル
ス幅に依存する広帯域の超音波(例えば10MHz 程度)
が発生する。これについては、例えば、超音波TECH
NO5月号(vol.5, No.5, p38 (1993) 日本工業出版)
又は F. Alan McDonald, Appl. Phys. Lett.,Vol.56,
(3) (15 Jan. 1990)などに述べられている。ところで、
図1に示すレーザー光16は三つのパルス列からなるた
め、試料17の内部に発生する超音波も、このレーザー
パルス列に対応した超音波パルス列となる。図3(c)
は、この超音波の様子を、レーザーパルス列に対応させ
て示したものである。すなわち、試料17の内部には、
図3(c)に示すように、100ns間隔の三つの超音
波パルスからなる超音波パルス列が生成される。
When a substance is irradiated with a predetermined laser beam, the surface of the substance is instantaneously vaporized, and the thermal stress or vaporization reaction force at that time causes a broad band within the substance whose frequency depends on the pulse width of the laser beam. Ultrasound (for example, about 10MHz)
Occurs. For this, for example, ultrasonic TECH
NO May issue (vol.5, No.5, p38 (1993) Nippon Kogyo Publishing)
Or F. Alan McDonald, Appl. Phys. Lett., Vol.56,
(3) (15 Jan. 1990). by the way,
Since the laser beam 16 shown in FIG. 1 consists of three pulse trains, the ultrasonic wave generated inside the sample 17 also becomes an ultrasonic wave pulse train corresponding to this laser pulse train. Figure 3 (c)
Shows the state of this ultrasonic wave corresponding to the laser pulse train. That is, inside the sample 17,
As shown in FIG. 3C, an ultrasonic pulse train composed of three ultrasonic pulses at 100 ns intervals is generated.

【0018】また、レーザー光16の一部は、光検出部
20によって電気信号21に変換される。この信号21
は、後述の相関処理部40において相関処理を行う際
に、参照信号として利用される。尚、光検出部20は、
フォトダイオード等の光電変換素子の他、必要な回路要
素を含んでいる。
A part of the laser light 16 is converted into an electric signal 21 by the photodetector 20. This signal 21
Is used as a reference signal when the correlation processing is performed in the correlation processing unit 40 described later. The light detection unit 20 is
In addition to photoelectric conversion elements such as photodiodes, necessary circuit elements are included.

【0019】一方、図1に示すように、超音波発生用レ
ーザー10とは別に、試料17の内部で発生した超音波
を検出するためのプローブ用レーザー光を発生するため
のレーザー30が設けられている。このレーザー30と
しては、たとえば出力1W、波長514.5nmのAr
+ レーザーなどを用いることができる。超音波検出用レ
ーザー30からは、超音波を検出するプローブ用レーザ
ー光31が放射され、試料17の裏側に照射される。試
料17で散乱反射されたレーザー光32は、ミラー33
を介して、ファブリ・ペロー干渉計34へ入射する。
On the other hand, as shown in FIG. 1, a laser 30 for generating a laser beam for a probe for detecting an ultrasonic wave generated inside the sample 17 is provided separately from the ultrasonic wave generating laser 10. ing. As the laser 30, for example, Ar having an output of 1 W and a wavelength of 514.5 nm is used.
+ A laser or the like can be used. A laser beam 31 for a probe that detects an ultrasonic wave is emitted from the ultrasonic wave detecting laser 30 and is applied to the back side of the sample 17. The laser light 32 scattered and reflected by the sample 17 is reflected by the mirror 33.
And enters the Fabry-Perot interferometer 34 via.

【0020】ファブリ・ペロー干渉計34の光透過率
は、急峻な波長依存性を有するため、光透過率の変化率
が最も大きくなるように、その共振器長を予め設定して
おけば、入射したレーザー光の波長(光周波数)が僅か
でも変化すれば、その変化が透過光強度の変化として捉
えられる。ファブリ・ペロー干渉計34を通過したレー
ザー光は光検出部35へ入射し、ここで電気信号に変換
される。光検出部35は、光の強度を電気信号に変える
フォトダイオード等の光電変換素子、ノイズを除去する
フィルタ、増幅器などからなる。光検出部35の出力信
号36は、ウェーブメモリ37に一時的に蓄積される。
Since the light transmittance of the Fabry-Perot interferometer 34 has a steep wavelength dependence, if the resonator length is set in advance so that the rate of change of the light transmittance becomes the maximum, the incident light will be incident. If the wavelength (optical frequency) of the laser light is changed even slightly, the change is captured as a change in transmitted light intensity. The laser light that has passed through the Fabry-Perot interferometer 34 enters the photodetector 35, where it is converted into an electrical signal. The light detection unit 35 includes a photoelectric conversion element such as a photodiode that changes the intensity of light into an electric signal, a filter that removes noise, an amplifier, and the like. The output signal 36 of the photodetector unit 35 is temporarily stored in the wave memory 37.

【0021】ところで、試料17の表面で発生した超音
波が試料内を伝播して裏側に達すると、裏側の表面の法
線方向の位置は、この超音波振動によって周期的に変化
する。このように変位する部位にプローブ用レーザー光
31が照射されると、その反射光32はドップラーシフ
トを受け、光周波数は遷移する。この光周波数の遷移
は、ファブリ・ペロー干渉計34において透過光強度の
変化とされ、その後、光検出部によって電気信号に変換
される。しかしながら、試料17内部に存在する欠陥等
から反射される超音波の強度は非常に弱く、このため、
この超音波に基づいて得れる出力信号36は微弱なもの
となる。また、出力信号36には、様々な周波数を持つ
電気的雑音が混在しているため、微弱な超音波信号は、
これらの雑音に埋もれた状態となっており、S/N比は
小さい。
When the ultrasonic waves generated on the surface of the sample 17 propagate inside the sample and reach the back side, the position of the surface on the back side in the normal direction is periodically changed by the ultrasonic vibration. When the probe laser light 31 is irradiated to the portion displaced in this way, the reflected light 32 undergoes the Doppler shift, and the optical frequency transits. This transition of the optical frequency is changed in the transmitted light intensity in the Fabry-Perot interferometer 34, and then converted into an electric signal by the photodetector. However, the intensity of the ultrasonic wave reflected from the defect or the like existing inside the sample 17 is very weak, and therefore,
The output signal 36 obtained based on this ultrasonic wave is weak. In addition, since the output signal 36 contains electrical noise having various frequencies, a weak ultrasonic signal is
It is buried in these noises, and the S / N ratio is small.

【0022】そこで、本実施例では、相関処理部40に
おいて、光検出部20の出力信号21を参照信号とし
て、光検出部35の出力信号(検出信号)36に対して
相関処理を行う。この相関処理は、レーザー光16のパ
ルスが、三つのパルス列からなる特殊なものであり、ま
たこれによって照射される超音波も対応したパルス列で
あることを利用して、光検出部35の出力信号36の中
から、参照信号21との間で最も相関性の高いものを信
号として取り出す方法である。
Therefore, in the present embodiment, the correlation processing section 40 performs the correlation processing on the output signal (detection signal) 36 of the photodetection section 35 using the output signal 21 of the photodetection section 20 as a reference signal. This correlation processing utilizes the fact that the pulse of the laser light 16 is a special pulse train consisting of three pulse trains, and the ultrasonic wave emitted by this pulse train is also a corresponding pulse train. This is a method of extracting the signal having the highest correlation with the reference signal 21 from among 36.

【0023】具体的には、参照信号21及び検出信号3
6のレベルを適当に調節したあと、参照信号21を時間
軸方向に走査しながら、十分に狭い時間間隔を隔てた各
点において、検出信号36との間で掛け算を行い、その
演算結果を相関信号41として出力する。かかる処理を
行うと、検出信号に超音波パルスに基づく信号が含まれ
ていれば、走査したときに相関信号41に大きな出力が
得られ、超音波パルスに基づく信号が含まれないときは
相関信号41の出力値が小さくなる。これによって、結
果的に高いS/N比を実現できる。この相関信号41の
波形は、表示部42によってグラフィック的に表示され
る。
Specifically, the reference signal 21 and the detection signal 3
After properly adjusting the level of 6, the reference signal 21 is scanned in the time axis direction, and at each point at a sufficiently narrow time interval, multiplication is performed with the detection signal 36, and the calculation result is correlated. The signal 41 is output. By performing such processing, if the detection signal includes a signal based on the ultrasonic pulse, a large output is obtained in the correlation signal 41 when scanning, and if the signal based on the ultrasonic pulse is not included, the correlation signal 41 is obtained. The output value of 41 becomes small. As a result, a high S / N ratio can be realized. The waveform of the correlation signal 41 is graphically displayed by the display unit 42.

【0024】図4は、検出信号36、参照信号21、相
関信号41の間の関係を概念的に示したものである。検
出信号36にはノイズ成分が多く含まれ、超音波パルス
に基づく本来の信号36aは、このノイズに埋もれた状
態になっている。この検出信号36に対して、上記の相
関処理を行うと、相関信号41の値は、検出信号36に
本来の信号成分36aが現れたときだけ大きくなり、そ
れ以外のときには略ゼロとなっている。したがって、相
関信号41に基づいて試料17中の超音波を検出するこ
とが可能となる。この検出された超音波信号の間隔を表
示部42における表示内容から求めることによって、試
料の内部に空洞や介在物等の欠陥がないかどうかを検査
することができる。
FIG. 4 conceptually shows the relationship among the detection signal 36, the reference signal 21 and the correlation signal 41. The detection signal 36 includes many noise components, and the original signal 36a based on the ultrasonic pulse is in a state of being buried in this noise. When the above correlation processing is performed on this detection signal 36, the value of the correlation signal 41 increases only when the original signal component 36a appears in the detection signal 36, and is substantially zero in other cases. . Therefore, it becomes possible to detect the ultrasonic waves in the sample 17 based on the correlation signal 41. By obtaining the intervals of the detected ultrasonic signals from the display contents on the display unit 42, it is possible to inspect whether or not there are defects such as cavities and inclusions inside the sample.

【0025】図5は、図1に示すパルス列生成部12と
して、長さの異なる複数の光ファイバを用いた実施例の
概略構成図である。図2では、ビームスプリッタ13a
〜13cとミラー14a、14bを用いてレーザー光1
1のパルスを遅延させ、所定のパルス列を得たが、長さ
が異なる光ファイバ50a〜50cを用いても、パルス
列を得ることができる。
FIG. 5 is a schematic diagram of an embodiment in which a plurality of optical fibers having different lengths are used as the pulse train generator 12 shown in FIG. In FIG. 2, the beam splitter 13a
~ 13c and the mirror 14a, 14b laser light 1
Although one pulse was delayed to obtain a predetermined pulse train, the pulse train can be obtained by using the optical fibers 50a to 50c having different lengths.

【0026】ところで、上記実施例では、レーザー光1
6の各パルスのパルス幅を等しくしたが、パルス幅の異
なるパルスからなるパルス列とすることもできる。 F.
AlanMcDonald, Appl. Phys. Lett.,Vol.56,(3) (15 Ja
n. 1990)などに示されているように、超音波発生用レー
ザー光のパルス幅を広げると、試料内に発生する超音波
の周波数が低くなることが知られている。このように各
パルスの幅が異なるレーザーパルス列を試料に照射する
と、内部に発生する超音波のパルス列は、各パルスの周
波数が異なる、いわゆるチャープ波となる。図6は、こ
のようなレーザーパルス列(a)と、発生する超音波の
波形(b)の様子を概略的に示した図である。このよう
な波形は非常に特殊であり、同じような波形のノイズが
存在する可能性は極めて低い。したがって、かかるレー
ザーパルス列及び超音波波形を用いれば、相関信号のS
/N比をより高めることができるという利点がある。
By the way, in the above embodiment, the laser light 1
Although the pulse widths of the pulses of 6 are made equal, it is also possible to make a pulse train composed of pulses having different pulse widths. F.
AlanMcDonald, Appl. Phys. Lett., Vol.56, (3) (15 Ja
n. 1990) and the like, it is known that when the pulse width of the laser beam for ultrasonic wave generation is widened, the frequency of the ultrasonic wave generated in the sample decreases. When a sample is irradiated with laser pulse trains having different pulse widths in this way, the pulse train of ultrasonic waves generated inside becomes a so-called chirp wave in which the frequency of each pulse is different. FIG. 6 is a diagram schematically showing a state of such a laser pulse train (a) and a waveform (b) of the generated ultrasonic wave. Such waveforms are very special and it is very unlikely that similar waveform noise is present. Therefore, if such a laser pulse train and ultrasonic waveform are used, the S
There is an advantage that the / N ratio can be further increased.

【0027】実際に、パルス幅が異なるレーザーパルス
列を生成するには、本出願人による平成7年4月17日
付けの特許出願(発明の名称「超音波検査装置」)にお
いて説明したように、励起エネルギーの異なる複数のレ
ーザーを用い、低い励起エネルギーから放射されたレー
ザーについては、レーザー増幅器で所定強度まで増幅す
ることが考えられる。これは、レーザー光の励起エネル
ギーを下げると、レーザー光のパルス幅を広げることが
でき、そして、レーザー増幅器で増幅しても、そのパル
ス幅が維持されることによるものである。したがって、
励起エネルギーの異なるレーザーを用い、その出力レー
ザー光を必要に応じて増幅し、その後、これらを収束し
て一つのビームを生成すれば、それぞれのパルス幅が異
なるパルス列からなるレーザー光が得られ、これを試料
に照射すれば、よりS/N比の高い超音波検出が可能と
なる。
Actually, in order to generate a laser pulse train having different pulse widths, as described in the patent application by the applicant of the present invention dated April 17, 1995 (invention title "ultrasonic inspection apparatus"), It is considered that a plurality of lasers having different excitation energies are used and a laser emitted from a low excitation energy is amplified to a predetermined intensity by a laser amplifier. This is because the pulse width of the laser light can be widened by lowering the excitation energy of the laser light, and the pulse width can be maintained even if it is amplified by the laser amplifier. Therefore,
Using lasers with different excitation energies, amplifying the output laser light as needed, and then converging these to generate one beam, laser light consisting of pulse trains with different pulse widths is obtained, By irradiating the sample with this, ultrasonic detection with a higher S / N ratio becomes possible.

【0028】本発明は上記実施例に限定されるものでは
なく、その要旨の範囲内で種々の変更が可能である。例
えば、上記実施例では、超音波発生用のレーザーパルス
列を三つのパルスからなるものとしたが、本発明はこれ
に限られず、任意のパルス数のレーザー光を用いること
ができる。また、上記実施例では、超音波発生用レーザ
ーパルスの各パルス強度を同一になるように設定した
が、本発明はこれに限らず、各パルスが任意の高さを有
するレーザー光を用いることができる。更に、上記実施
例では、超音波検出用のプローブ用レーザー光31を試
料17の裏側から照射したが、試料の表側にプローブ用
レーザー光31を照射し、試料の裏面で反射する超音波
エコーを検出するという周知の構成も可能である。
The present invention is not limited to the above embodiments, but various modifications can be made within the scope of the invention. For example, in the above embodiment, the laser pulse train for ultrasonic wave generation is composed of three pulses, but the present invention is not limited to this, and laser light of any pulse number can be used. Further, in the above-mentioned embodiment, the pulse intensities of the ultrasonic generation laser pulses are set to be the same, but the present invention is not limited to this, and it is possible to use laser light in which each pulse has an arbitrary height. it can. Further, in the above-mentioned embodiment, the probe laser light 31 for ultrasonic wave detection is irradiated from the back side of the sample 17, but the front side of the sample is irradiated with the probe laser light 31 and an ultrasonic echo reflected on the back surface of the sample is generated. A known configuration of detecting is also possible.

【0029】また、上記実施例では、プローブ用レーザ
ー光のドップラーシフトを検出する手段として、ファブ
リ・ペロー干渉計を用いたが、これ以外の干渉計、例え
ばマイケルソン干渉計、ヘテロダイン干渉計、ホモダイ
ン干渉計等を用いることができる。干渉計以外にも、本
出願人が、平成7年4月13日付けの特許出願(「レー
ザー超音波検査装置」)において提案したように、プロ
ーブ光の波長に対して所定の吸収特性を有するヨウ素ガ
ス等を透明容器内に封入したセルを用い、その吸収特性
の変化に基づいて超音波を検出するという構成も可能で
ある。特に、温度変化が激しい製鉄工程においては、フ
ァブリ・ペロー干渉計その他の干渉計の調整及びその維
持が難しく、そのような用途には、所定のガスを封入し
たセルを用いるのが有利である。尚、その場合は、上記
特許出願において説明したように、プローブ光として
は、必ずしもレーザー光である必要はない。
In the above embodiment, the Fabry-Perot interferometer was used as the means for detecting the Doppler shift of the laser light for the probe. However, other interferometers such as Michelson interferometer, heterodyne interferometer and homodyne are used. An interferometer or the like can be used. In addition to the interferometer, the applicant has a predetermined absorption characteristic with respect to the wavelength of the probe light, as proposed by the applicant in the patent application (“laser ultrasonic inspection apparatus”) dated April 13, 1995. A configuration in which a cell in which iodine gas or the like is enclosed in a transparent container is used and ultrasonic waves are detected based on the change in the absorption characteristics is also possible. Particularly, in the iron making process where the temperature changes drastically, it is difficult to adjust and maintain the Fabry-Perot interferometer and other interferometers, and for such applications, it is advantageous to use a cell filled with a predetermined gas. In that case, as described in the above patent application, the probe light does not necessarily have to be laser light.

【0030】更に、上記実施例では、非接触で試料内の
超音波を検出するという観点から、超音波検出手段とし
てプローブ用レーザーを用いたが、接触可能な試料であ
れば、超音波検出手段として一般的なピエゾ(PZT)
素子を用いることも可能である。
Further, in the above-mentioned embodiment, the laser for the probe is used as the ultrasonic wave detecting means from the viewpoint of detecting the ultrasonic wave in the sample in a non-contact manner. Piezo (PZT) that is commonly used as
It is also possible to use an element.

【0031】[0031]

【発明の効果】本発明は上記事情に基づいてなされたも
のであり、レーザー光を用いて試料内に超音波を発生さ
せ、また、これとは異なるレーザー光を用いて試料内部
に発生した超音波を検出することができるので、検査対
象である試料から十分に離れた距離から試料内に超音波
を発生させることができ、同時にこの超音波を非接触で
検出することが可能となるので、検査対象である試料が
製鉄工程におけるスラブ等の高温のものでも容易に検査
でき、しかも、パルス列からなるレーザー光を用いて、
このレーザーパルス列に対応した超音波パルス列を発生
させ、これから相関処理を用いて超音波を検出するた
め、非常に高い感度で超音波を検知することが可能な超
音波検査装置を提供することができる。
The present invention has been made based on the above-mentioned circumstances, and an ultrasonic wave is generated in a sample by using a laser beam, and an ultrasonic wave generated in the sample by using a laser beam different from this is used. Since it is possible to detect sound waves, it is possible to generate ultrasonic waves in the sample from a distance sufficiently away from the sample to be inspected, and at the same time, it is possible to detect this ultrasonic wave in a non-contact manner, Even if the sample to be inspected is a high temperature one such as a slab in the iron making process, it can be easily inspected, and using a laser beam consisting of a pulse train
Since an ultrasonic pulse train corresponding to this laser pulse train is generated and an ultrasonic wave is detected from this by using correlation processing, it is possible to provide an ultrasonic inspection apparatus capable of detecting ultrasonic waves with extremely high sensitivity. .

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例の概略ブロック図である。FIG. 1 is a schematic block diagram of an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示すパルス列生成部12の詳細な構成図
である。
FIG. 2 is a detailed configuration diagram of a pulse train generation unit 12 shown in FIG.

【図3】レーザーパルス列と試料内で発生する超音波パ
ルス列との関係を示す概略図である。
FIG. 3 is a schematic diagram showing a relationship between a laser pulse train and an ultrasonic pulse train generated in a sample.

【図4】相関処理の内容を説明するための概略図であ
る。
FIG. 4 is a schematic diagram for explaining the content of correlation processing.

【図5】レーザーパルス列を生成するための他の方法を
示す図である。
FIG. 5 illustrates another method for generating a laser pulse train.

【図6】パルス幅の異なるレーザーパルス列と、発生す
る超音波パルス列との関係を示した概略図である。
FIG. 6 is a schematic diagram showing a relationship between a laser pulse train having different pulse widths and an ultrasonic pulse train generated.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 超音波発生用レーザー 12 パルス生成部 13a、13b、13c ビームスプリッタ 14a、14b ミラー 15 レンズ 17 試料 20、35 光検出部 30 超音波検出用レーザー 33 ミラー 34 ファブリ・ペロー干渉計 37 ウェーブメモリ 40 相関処理部 42 表示部 50a、50b、50c 光ファイバ 10 Ultrasonic wave generation laser 12 Pulse generation section 13a, 13b, 13c Beam splitter 14a, 14b Mirror 15 Lens 17 Sample 20, 35 Photodetection section 30 Ultrasonic wave detection laser 33 Mirror 34 Fabry-Perot interferometer 37 Wave memory 40 Correlation Processing unit 42 Display unit 50a, 50b, 50c Optical fiber

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 レーザーパルス列を発生させて検査対象
である試料に照射するレーザーパルス列発生手段と、 前記試料内に発生する超音波振動を検出し電気信号とし
て出力する超音波検出手段と、 前記レーザーパルス列の一部を取り出して電気信号に変
換し、参照信号として出力する参照信号生成手段と、 前記参照信号を用いて前記超音波検出手段の出力信号に
対して相関処理を行い、前記レーザーパルス列によって
発生した超音波に関する信号を取り出す相関処理手段
と、 を具備することを特徴とする超音波検査装置。
1. A laser pulse train generating means for generating a laser pulse train to irradiate a sample to be inspected, an ultrasonic detecting means for detecting ultrasonic vibration generated in the sample and outputting it as an electric signal, the laser. A part of the pulse train is taken out and converted into an electric signal, and a reference signal generating means for outputting as a reference signal, a correlation process is performed on the output signal of the ultrasonic detecting means using the reference signal, and the laser pulse train is used. An ultrasonic inspection apparatus comprising: a correlation processing unit that extracts a signal related to the generated ultrasonic wave.
【請求項2】 前記レーザーパルス列発生手段は、入射
光の一部を分岐する第一乃至第nの光学要素(nは任意
の自然数)を有し、第一の光学要素は単一のレーザーパ
ルスを入射光とし、第iの光学要素(i=2乃至nの自
然数)は第i−1の光学要素から分岐された光を入射光
とし、前記各光学要素からの透過光を単一の経路に戻す
ことによって前記レーザーパルス列を得るものであるこ
とを特徴とする請求項1記載の超音波検査装置。
2. The laser pulse train generating means has first to nth optical elements (n is an arbitrary natural number) that branches a part of incident light, and the first optical element is a single laser pulse. Is the incident light, the i-th optical element (i = 2 to n is a natural number) is the light branched from the (i-1) th optical element, and the transmitted light from each of the optical elements is a single path. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein the laser pulse train is obtained by returning the laser pulse train.
【請求項3】 前記レーザーパルス列発生手段は、単一
のレーザーパルスを分岐して複数のレーザーパルスと
し、各レーザーパルスを異なる長さの光ファイバを通過
させたあと、再び単一の経路に戻すことによって前記レ
ーザーパルス列を得るものであることを特徴とする請求
項1記載の超音波検査装置。
3. The laser pulse train generating means branches a single laser pulse into a plurality of laser pulses, passes each laser pulse through an optical fiber having a different length, and then returns the laser pulse to a single path again. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein the laser pulse train is obtained by the above.
【請求項4】 前記レーザーパルス列は、各パルスのパ
ルス幅が異なることを特徴とする請求項1、2又は3記
載の超音波検査装置。
4. The ultrasonic inspection apparatus according to claim 1, wherein the laser pulse train has different pulse widths for each pulse.
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