JPH08285772A - 光分析装置 - Google Patents
光分析装置Info
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- JPH08285772A JPH08285772A JP8784995A JP8784995A JPH08285772A JP H08285772 A JPH08285772 A JP H08285772A JP 8784995 A JP8784995 A JP 8784995A JP 8784995 A JP8784995 A JP 8784995A JP H08285772 A JPH08285772 A JP H08285772A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 測定現場に携帯して行う簡易測定に適した複
数の光分析測定を行うことができる光分析装置を提供す
る。 【構成】 測定用セル３中の試料に光を照射する照射系
１，２と試料からの光を検出する測光系４〜８とを含む
光学手段によって試料分析を行う光分析装置において、
前記測光系４〜８は、照射光が測定用セル３の配置位置
内の収束点ａを通る光路上において収束点ａを望む方向
に設けられる第１の検出手段４と、光路外において収束
点ａを望む方向に設けられる第２の検出手段６とを備
え、第１検出手段４の出力または第２検出手段６の出力
を選択的に用いて、少なくとも第１検出手段４の出力あ
るいは第２検出手段６の出力の照射光度に対する比を求
めて試料の光分析を行うものであり、共通の照射系を用
い検出手段の出力の選択することによって、１台の光分
析装置で複数の光分析を可能とする。
数の光分析測定を行うことができる光分析装置を提供す
る。 【構成】 測定用セル３中の試料に光を照射する照射系
１，２と試料からの光を検出する測光系４〜８とを含む
光学手段によって試料分析を行う光分析装置において、
前記測光系４〜８は、照射光が測定用セル３の配置位置
内の収束点ａを通る光路上において収束点ａを望む方向
に設けられる第１の検出手段４と、光路外において収束
点ａを望む方向に設けられる第２の検出手段６とを備
え、第１検出手段４の出力または第２検出手段６の出力
を選択的に用いて、少なくとも第１検出手段４の出力あ
るいは第２検出手段６の出力の照射光度に対する比を求
めて試料の光分析を行うものであり、共通の照射系を用
い検出手段の出力の選択することによって、１台の光分
析装置で複数の光分析を可能とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、測定用セル内の試料の
吸光測定や蛍光測定を行う光分析装置に関し、特に、携
帯して測定現場での簡易分析に適した光分析装置に関す
る。
吸光測定や蛍光測定を行う光分析装置に関し、特に、携
帯して測定現場での簡易分析に適した光分析装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】試料の特性を光を用いて分析を行う場
合、紫外線や可視光を試料にあて試料によって吸収され
た後透過する透過光の強度を測定する吸光光度分析や、
紫外線等の励起によって発せられる蛍光の強度を測定す
る蛍光分析や、試料の発光スペクトルの強度を測定する
発光分析や、透過光の強度によって試料の濁りの度合い
を測定する比濁分析等がある。
合、紫外線や可視光を試料にあて試料によって吸収され
た後透過する透過光の強度を測定する吸光光度分析や、
紫外線等の励起によって発せられる蛍光の強度を測定す
る蛍光分析や、試料の発光スペクトルの強度を測定する
発光分析や、透過光の強度によって試料の濁りの度合い
を測定する比濁分析等がある。
【０００３】そして、これら各種の光分析方法を実施す
る光分析装置として、従来各目的に対応した紫外・可視
分光光度計、蛍光光度計、測光装置、濁度計がそれぞれ
知られている。
る光分析装置として、従来各目的に対応した紫外・可視
分光光度計、蛍光光度計、測光装置、濁度計がそれぞれ
知られている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来知られている紫外
・可視分光光度計、蛍光光度計、測光装置、濁度計は、
それぞれ測定目的に対応した個々の独立した装置であっ
て、測定現場に携帯して簡易測定を行うという使用形態
を対象としていない。そのため、野外等の測定現場にお
いて簡易な分析測定を行うというような、携帯性が必要
な測定目的には不適であるという問題点を有している。
・可視分光光度計、蛍光光度計、測光装置、濁度計は、
それぞれ測定目的に対応した個々の独立した装置であっ
て、測定現場に携帯して簡易測定を行うという使用形態
を対象としていない。そのため、野外等の測定現場にお
いて簡易な分析測定を行うというような、携帯性が必要
な測定目的には不適であるという問題点を有している。
【０００５】つまり、実験施設以外の任意の場所で光分
析を行う場合には、これら個々の光分析装置が必要があ
り、測定目的が異なればその目的に対応した複数台の光
分析装置を運搬する必要がある。
析を行う場合には、これら個々の光分析装置が必要があ
り、測定目的が異なればその目的に対応した複数台の光
分析装置を運搬する必要がある。
【０００６】そこで、本発明は前記した従来の光分析装
置の問題点を解決し、測定現場に携帯して行う簡易測定
に適した複数の光分析測定を行うことができる光分析装
置を提供することを目的とする。
置の問題点を解決し、測定現場に携帯して行う簡易測定
に適した複数の光分析測定を行うことができる光分析装
置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、測定用セル中
の試料に光を照射する照射系と試料からの光を検出する
測光系とを含む光学手段によって試料分析を行う光分析
装置において、前記測光系は、照射光が測定用セルの配
置位置内の収束点を通る光路上において収束点を望む方
向に設けられる第１の検出手段と、光路外において収束
点を望む方向に設けられる第２の検出手段とを備え、第
１検出手段の出力または第２検出手段の出力を選択的に
用いて、少なくとも第１検出手段の出力あるいは第２検
出手段の出力の照射光度に対する比を求めて試料の光分
析を行うことによって、前記目的を達成する。
の試料に光を照射する照射系と試料からの光を検出する
測光系とを含む光学手段によって試料分析を行う光分析
装置において、前記測光系は、照射光が測定用セルの配
置位置内の収束点を通る光路上において収束点を望む方
向に設けられる第１の検出手段と、光路外において収束
点を望む方向に設けられる第２の検出手段とを備え、第
１検出手段の出力または第２検出手段の出力を選択的に
用いて、少なくとも第１検出手段の出力あるいは第２検
出手段の出力の照射光度に対する比を求めて試料の光分
析を行うことによって、前記目的を達成する。
【０００８】本発明の第１の実施態様は、照射系として
分光系によって選択可能な紫外・可視光を用い、第１検
出手段の出力と照射光度との比を求めるものであり、こ
れによって、通常、分光光度計と呼ばれる装置として試
料の紫外・可視吸光測定を行うことができる。
分光系によって選択可能な紫外・可視光を用い、第１検
出手段の出力と照射光度との比を求めるものであり、こ
れによって、通常、分光光度計と呼ばれる装置として試
料の紫外・可視吸光測定を行うことができる。
【０００９】本発明の第２の実施態様は、照射系に分光
手段を備え、また、測定系にフィルタ等の照射系の光を
排除する手段を備え、第２検出手段の出力と照射光度と
の比を求めるものであり、これによって、試料の蛍光強
度測定を行うことができる。
手段を備え、また、測定系にフィルタ等の照射系の光を
排除する手段を備え、第２検出手段の出力と照射光度と
の比を求めるものであり、これによって、試料の蛍光強
度測定を行うことができる。
【００１０】本発明の第３の実施態様は、測定系にフィ
ルタ手段を備え、第２検出手段の出力を求めるものであ
り、これによって、試料の発光強度測定を行うことがで
きる。
ルタ手段を備え、第２検出手段の出力を求めるものであ
り、これによって、試料の発光強度測定を行うことがで
きる。
【００１１】本発明の第４の実施態様は、第１検出手段
の出力と第２検出手段の出力の比を求めるものであり、
これによって、出力の濁度を求めることができる。
の出力と第２検出手段の出力の比を求めるものであり、
これによって、出力の濁度を求めることができる。
【００１２】本発明の第５の実施態様は、照射光度を照
射系と測定用セルが配置される位置との間に設けた検出
手段によって求めるものであり、これによって、測定中
の照射系の照射光度を求めることができる。
射系と測定用セルが配置される位置との間に設けた検出
手段によって求めるものであり、これによって、測定中
の照射系の照射光度を求めることができる。
【００１３】
【作用】本発明の光分析装置において、照射系から測定
用セル中の試料に対して照射光を照射する。照射光の一
部は試料中の収束点を通過した後、照射系と収束点とを
結ぶ光路上を通ってその光路上に配置された第１検出手
段によって検出される。試料の吸光測定は、この第１検
出手段の検出出力と照射光度との比を求めることにより
行うことができる。この照射光として紫外・可視光を用
いることによって紫外・可視吸収測定を行うことができ
る。
用セル中の試料に対して照射光を照射する。照射光の一
部は試料中の収束点を通過した後、照射系と収束点とを
結ぶ光路上を通ってその光路上に配置された第１検出手
段によって検出される。試料の吸光測定は、この第１検
出手段の検出出力と照射光度との比を求めることにより
行うことができる。この照射光として紫外・可視光を用
いることによって紫外・可視吸収測定を行うことができ
る。
【００１４】また、本発明の光分析装置において、照射
系から測定用セル中の試料に対して照射光を照射し、該
照射光によって試料を励起して蛍光を放射させる。この
蛍光強度を第２検出手段によって検出する。試料の蛍光
強度測定は、波長選択された蛍光を第２検出手段によっ
て検出し、その検出出力と照射光度との比を求めること
により行うことができる。
系から測定用セル中の試料に対して照射光を照射し、該
照射光によって試料を励起して蛍光を放射させる。この
蛍光強度を第２検出手段によって検出する。試料の蛍光
強度測定は、波長選択された蛍光を第２検出手段によっ
て検出し、その検出出力と照射光度との比を求めること
により行うことができる。
【００１５】また、本発明の光分析装置において、測定
用セル中の試料から発光した光を第２検出手段によって
検出する。試料の発光強度測定は、波長選択された発光
を第２検出手段によって検出することにより行うことが
できる。
用セル中の試料から発光した光を第２検出手段によって
検出する。試料の発光強度測定は、波長選択された発光
を第２検出手段によって検出することにより行うことが
できる。
【００１６】また、本発明の光分析装置において、照射
系から測定用セル中の試料に対して照射光を照射する。
照射光の一部は試料中の収束点を通過した後第１検出手
段によって検出され、照射光の他の一部は試料中の収束
点を通過した後第２の検出手段によって検出される。試
料の濁度測定は、この第１検出手段の検出出力と第２検
出手段の検出出力との比を求めることにより行うことが
できる。
系から測定用セル中の試料に対して照射光を照射する。
照射光の一部は試料中の収束点を通過した後第１検出手
段によって検出され、照射光の他の一部は試料中の収束
点を通過した後第２の検出手段によって検出される。試
料の濁度測定は、この第１検出手段の検出出力と第２検
出手段の検出出力との比を求めることにより行うことが
できる。
【００１７】
【実施例】以下、本発明の実施例を図を参照しながら詳
細に説明する。 （本発明の実施例の構成）はじめに、本発明の光分析装
置の実施例の構成を、図１の本発明の実施例を説明する
ためのブロック構成図を用いて説明する。図１におい
て、光源１および回折格子２等の分光手段は試料に照射
光を入射する照射系を構成し、一方、集光手段５を含む
第１検出手段４と、フィルタ７，集光手段８を含む第２
検出手段６は試料からの光を測定する測光系を構成して
いる。
細に説明する。 （本発明の実施例の構成）はじめに、本発明の光分析装
置の実施例の構成を、図１の本発明の実施例を説明する
ためのブロック構成図を用いて説明する。図１におい
て、光源１および回折格子２等の分光手段は試料に照射
光を入射する照射系を構成し、一方、集光手段５を含む
第１検出手段４と、フィルタ７，集光手段８を含む第２
検出手段６は試料からの光を測定する測光系を構成して
いる。
【００１８】照射系と測光系とを結ぶ光路上には測定用
セル３を配置する配置位置が設けられ、測定用セル３内
には照射系からの光が収束する収束点ａが位置するよう
位置設定されている。第２検出手段６は、収束点ａから
第１検出手段４が配置される光路に対して例えば９０°
等の角度を有する異なる光路上に配置される。そして、
試料を収納した測定用セル３は収束点ａを内部に含む位
置に配置し、照射系からの照射光を該収束点ａに収束さ
せ、収束点ａをからの光を各検出手段で検出することに
よって試料の光分析を行う。
セル３を配置する配置位置が設けられ、測定用セル３内
には照射系からの光が収束する収束点ａが位置するよう
位置設定されている。第２検出手段６は、収束点ａから
第１検出手段４が配置される光路に対して例えば９０°
等の角度を有する異なる光路上に配置される。そして、
試料を収納した測定用セル３は収束点ａを内部に含む位
置に配置し、照射系からの照射光を該収束点ａに収束さ
せ、収束点ａをからの光を各検出手段で検出することに
よって試料の光分析を行う。
【００１９】光源１の照射波長は、その測定目的に応じ
て設定することができ、例えば、紫外線や可視光とする
ことができる。第１検出手段４は、試料を通過した光源
１からの照射光を測定するものであり、該測定光に対応
した検出感度を備えて、また、第２検出手段４は、試料
からの蛍光、発光、あるいは散乱光を測定するものであ
り、該測定光に対応した検出感度を備えている。通常、
蛍光や発光の光度は光源からの照射光と比較して弱いた
め、第２検出手段は高い検出感度を持つ光検出器を備え
ている。
て設定することができ、例えば、紫外線や可視光とする
ことができる。第１検出手段４は、試料を通過した光源
１からの照射光を測定するものであり、該測定光に対応
した検出感度を備えて、また、第２検出手段４は、試料
からの蛍光、発光、あるいは散乱光を測定するものであ
り、該測定光に対応した検出感度を備えている。通常、
蛍光や発光の光度は光源からの照射光と比較して弱いた
め、第２検出手段は高い検出感度を持つ光検出器を備え
ている。
【００２０】また、第２検出手段６は蛍光、発光等の目
的とする波長の光の検出を行うために、その目的波長を
選択するフィルタ７が設けられている。
的とする波長の光の検出を行うために、その目的波長を
選択するフィルタ７が設けられている。
【００２１】さらに、回折格子２と測定用セル３との間
の光路上にはハーフミラー１０が設けられており、該ハ
ーフミラー１０の反射光路上には第３検出手段が設けら
れる。この第３検出手段は、ハーフミラー１０によって
分けられた光源１からの照射光の光度を検出するモニタ
ー検出器として使用される。
の光路上にはハーフミラー１０が設けられており、該ハ
ーフミラー１０の反射光路上には第３検出手段が設けら
れる。この第３検出手段は、ハーフミラー１０によって
分けられた光源１からの照射光の光度を検出するモニタ
ー検出器として使用される。
【００２２】第１検出手段４，第２検出手段６，および
第３検出手段９によって検出された検出出力は、光分析
の演算を行う手段２０に入力される。この光分析手段２
０は、各第１検出手段４，第２検出手段６，および第３
検出手段９からの検出出力を信号増幅するための増幅器
２１，２２，２３に接続され、さらに吸光出力を求める
手段２４，蛍光強度を求める手段２５，発光強度を求め
る手段２７，および濁度を求める手段２６に接続されて
る。
第３検出手段９によって検出された検出出力は、光分析
の演算を行う手段２０に入力される。この光分析手段２
０は、各第１検出手段４，第２検出手段６，および第３
検出手段９からの検出出力を信号増幅するための増幅器
２１，２２，２３に接続され、さらに吸光出力を求める
手段２４，蛍光強度を求める手段２５，発光強度を求め
る手段２７，および濁度を求める手段２６に接続されて
る。
【００２３】ここで、第１検出手段４の出力（増幅器２
１の出力）をＳとし、第２検出手段６の出力（増幅器２
２の出力）をＦとし、第３検出手段９の出力（増幅器２
３の出力）をＲとする。吸光出力手段２４は、第１検出
手段４の出力Ｓと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、そ
の比Ｓ／Ｒを求める演算を行って吸収出力を出力する。
また、蛍光強度出力手段２５は、第２検出手段６の出力
Ｆと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｆ／Ｒを
求める演算を行って蛍光強度を出力する。また、濁度出
力手段２６は、第１検出手段４の出力Ｓと第２検出手段
６の出力Ｆを入力し、その比Ｆ／Ｓを求める演算を行っ
て濁度を出力する。さらに、発光強度出力手段２７は、
第２検出手段６の出力Ｆを入力し、その強度を求めて発
光強度を出力する。
１の出力）をＳとし、第２検出手段６の出力（増幅器２
２の出力）をＦとし、第３検出手段９の出力（増幅器２
３の出力）をＲとする。吸光出力手段２４は、第１検出
手段４の出力Ｓと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、そ
の比Ｓ／Ｒを求める演算を行って吸収出力を出力する。
また、蛍光強度出力手段２５は、第２検出手段６の出力
Ｆと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｆ／Ｒを
求める演算を行って蛍光強度を出力する。また、濁度出
力手段２６は、第１検出手段４の出力Ｓと第２検出手段
６の出力Ｆを入力し、その比Ｆ／Ｓを求める演算を行っ
て濁度を出力する。さらに、発光強度出力手段２７は、
第２検出手段６の出力Ｆを入力し、その強度を求めて発
光強度を出力する。
【００２４】（実施例の作用）次に、本発明の実施例の
作用について説明する。（紫外・可視吸収測定）はじめ
に、紫外・可視吸収測定について説明する。測定現場に
おいて、試料を測定用セル３にセットしてサンプルを作
成する。図１において、試料をセットした測定用セル３
を測定用セル配置位置に取付け、該試料に向けて照射系
から紫外線あるいは可視光の波長の光の照射する。この
照射光の波長は、例えば、放出波長が紫外領域あるいは
可視領域の光源を用いたり、光源１からの波長を回折格
子２によって分光される光の中から選択することによっ
て設定することができる。
作用について説明する。（紫外・可視吸収測定）はじめ
に、紫外・可視吸収測定について説明する。測定現場に
おいて、試料を測定用セル３にセットしてサンプルを作
成する。図１において、試料をセットした測定用セル３
を測定用セル配置位置に取付け、該試料に向けて照射系
から紫外線あるいは可視光の波長の光の照射する。この
照射光の波長は、例えば、放出波長が紫外領域あるいは
可視領域の光源を用いたり、光源１からの波長を回折格
子２によって分光される光の中から選択することによっ
て設定することができる。
【００２５】照射系からの照射光は試料中の収束点ａを
通過した後、一部は集光手段５を介して第１検出手段４
に到達し、該第１検出手段によってその光度が検出され
る。この第１検出手段が検出する光度は、試料内を通過
することによって吸収された光の光度である。また、照
射光はハーフミラー１０を介して第３検出手段９によっ
てその光度がモニターされる。
通過した後、一部は集光手段５を介して第１検出手段４
に到達し、該第１検出手段によってその光度が検出され
る。この第１検出手段が検出する光度は、試料内を通過
することによって吸収された光の光度である。また、照
射光はハーフミラー１０を介して第３検出手段９によっ
てその光度がモニターされる。
【００２６】吸収出力手段２４は、第１検出手段４の出
力Ｓと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｓ／Ｒ
を演算する。この出力比Ｓ／Ｒは、照射光の光度に対す
る吸収後の光度の比率を表しており、これによって、紫
外吸収測定あるいは可視吸収測定を行うことができる。
力Ｓと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｓ／Ｒ
を演算する。この出力比Ｓ／Ｒは、照射光の光度に対す
る吸収後の光度の比率を表しており、これによって、紫
外吸収測定あるいは可視吸収測定を行うことができる。
【００２７】（蛍光強度測定）次に、蛍光強度測定につ
いて説明する。測定現場において、試料を測定用セル３
にセットしてサンプルを作成する。図１において、試料
をセットした測定用セル３を測定用セル配置位置に取付
け、該試料に向けて照射系から紫外線の波長の光の照射
する。この照射光の波長は、例えば、放出波長が紫外領
域あるいは可視領域の光源を用いたり、光源１からの波
長を回折格子２によって分光される光の中から選択する
ことによって設定することができる。
いて説明する。測定現場において、試料を測定用セル３
にセットしてサンプルを作成する。図１において、試料
をセットした測定用セル３を測定用セル配置位置に取付
け、該試料に向けて照射系から紫外線の波長の光の照射
する。この照射光の波長は、例えば、放出波長が紫外領
域あるいは可視領域の光源を用いたり、光源１からの波
長を回折格子２によって分光される光の中から選択する
ことによって設定することができる。
【００２８】照射系からの紫外線は試料を励起させ、こ
れによって試料は蛍光を発する。試料中の収束点ａから
発した蛍光は、フィルタ７によって測定目的の波長が選
択され、第２検出手段６によってその蛍光強度が検出さ
れる。この第２検出手段６として蛍光検出管を用いるこ
とができる。
れによって試料は蛍光を発する。試料中の収束点ａから
発した蛍光は、フィルタ７によって測定目的の波長が選
択され、第２検出手段６によってその蛍光強度が検出さ
れる。この第２検出手段６として蛍光検出管を用いるこ
とができる。
【００２９】したがって、この第２検出手段が検出する
光度は、試料から発せられる蛍光強度である。また、照
射光はハーフミラー１０を介して第３検出手段９によっ
てその光度がモニターされる。
光度は、試料から発せられる蛍光強度である。また、照
射光はハーフミラー１０を介して第３検出手段９によっ
てその光度がモニターされる。
【００３０】蛍光強度出力手段２５は、第２検出手段６
の出力Ｆと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｆ
／Ｒを演算する。この出力比Ｆ／Ｒは、照射光の光度に
対する蛍光強度の比率を表しており、これによって、蛍
光強度測定を行うことができる。
の出力Ｆと第３検出手段９の出力Ｒを入力し、その比Ｆ
／Ｒを演算する。この出力比Ｆ／Ｒは、照射光の光度に
対する蛍光強度の比率を表しており、これによって、蛍
光強度測定を行うことができる。
【００３１】（濁度測定）次に、濁度測定について説明
する。測定現場において、試料を測定用セル３にセット
してサンプルを作成する。図１において、試料をセット
した測定用セル３を測定用セル配置位置に取付け、該試
料に向けて照射系から照射光の照射を行う。この照射光
の波長は、測定する試料中の粒子径に応じた波長を選択
して用いることができ、例えば、放出波長が該選択波長
の光源を用いたり、光源１からの波長を回折格子２によ
って分光される光の中から選択することによって設定す
ることができる。
する。測定現場において、試料を測定用セル３にセット
してサンプルを作成する。図１において、試料をセット
した測定用セル３を測定用セル配置位置に取付け、該試
料に向けて照射系から照射光の照射を行う。この照射光
の波長は、測定する試料中の粒子径に応じた波長を選択
して用いることができ、例えば、放出波長が該選択波長
の光源を用いたり、光源１からの波長を回折格子２によ
って分光される光の中から選択することによって設定す
ることができる。
【００３２】照射系からの照射光は試料を通過する間に
試料中の粒子によって散乱が起こる。散乱されなかった
照射光は第１検出手段４によって検出され、第２検出手
段６方向に散乱された照射光は第２検出手段６によって
検出される。
試料中の粒子によって散乱が起こる。散乱されなかった
照射光は第１検出手段４によって検出され、第２検出手
段６方向に散乱された照射光は第２検出手段６によって
検出される。
【００３３】濁度出力手段２６は、第１検出手段４の出
力Ｓと第２検出手段６の出力Ｆを入力し、その比Ｆ／Ｓ
を演算する。この出力比Ｆ／Ｓは、試料を通過する透過
光と散乱光との比率を表しており、これによって、濁度
測定を行うことができる。
力Ｓと第２検出手段６の出力Ｆを入力し、その比Ｆ／Ｓ
を演算する。この出力比Ｆ／Ｓは、試料を通過する透過
光と散乱光との比率を表しており、これによって、濁度
測定を行うことができる。
【００３４】（発光強度測定）次に、発光強度測定につ
いて説明する。測定現場において、試料を測定用セル３
にセットしてサンプルを作成する。図１において、試料
をセットした測定用セル３を測定用セル配置位置に取付
け、測定用セル３中で試料に発光現象を生じさせる。
いて説明する。測定現場において、試料を測定用セル３
にセットしてサンプルを作成する。図１において、試料
をセットした測定用セル３を測定用セル配置位置に取付
け、測定用セル３中で試料に発光現象を生じさせる。
【００３５】試料から発した発光は第２検出手段によっ
て検出される。発光強度出力手段２７は、第２検出手段
６出力Ｆを入力し、その強度Ｆを求め出力する。この出
力Ｆは、試料からの発光強度であり、試料の定量分析等
を行うことができる。
て検出される。発光強度出力手段２７は、第２検出手段
６出力Ｆを入力し、その強度Ｆを求め出力する。この出
力Ｆは、試料からの発光強度であり、試料の定量分析等
を行うことができる。
【００３６】上記の紫外・可視吸収測定，蛍光強度測
定，濁度測定，および発光強度測定は、共通の照射系を
用い、各検出手段からの出力を選択的に使用することに
よって、１台の光分析装置によって複数種の光分析を行
うことができる。
定，濁度測定，および発光強度測定は、共通の照射系を
用い、各検出手段からの出力を選択的に使用することに
よって、１台の光分析装置によって複数種の光分析を行
うことができる。
【００３７】（その他の実施例）図２は本発明のその他
の実施例を説明するためのブロック構成図である。図２
に示す実施例は、前記図１に示した実施例において、第
３検出手段を除いた構成であり、この第３検出手段に代
えて記憶手段２８を設けた構成である。この記憶手段２
８は、照射光の強度に対応する値を格納し、その値を吸
収出力手段２４および蛍光強度出力手段２５に出力する
手段である。使用する照射系の強度をあらかじめ知るこ
とができ、測定中における強度変動が許容範囲と見なせ
る場合には、この記憶手段２８に格納しておいた値を用
いることよって、吸収測定や蛍光測定を行うことがで
き、これによって、照射光をモニターするための手段を
省略することができる。
の実施例を説明するためのブロック構成図である。図２
に示す実施例は、前記図１に示した実施例において、第
３検出手段を除いた構成であり、この第３検出手段に代
えて記憶手段２８を設けた構成である。この記憶手段２
８は、照射光の強度に対応する値を格納し、その値を吸
収出力手段２４および蛍光強度出力手段２５に出力する
手段である。使用する照射系の強度をあらかじめ知るこ
とができ、測定中における強度変動が許容範囲と見なせ
る場合には、この記憶手段２８に格納しておいた値を用
いることよって、吸収測定や蛍光測定を行うことがで
き、これによって、照射光をモニターするための手段を
省略することができる。
【００３８】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
測定現場に携帯して行う簡易測定に適した複数の光分析
測定を行うことができる光分析装置を提供する。
測定現場に携帯して行う簡易測定に適した複数の光分析
測定を行うことができる光分析装置を提供する。
【図１】本発明の実施例を説明するためのブロック構成
図である。
図である。
【図２】本発明のその他の実施例を説明するためのブロ
ック構成図である。
ック構成図である。
１…光源、２…回折格子、３…測定用セル、４…第１検
出手段、５，８…集光手段、６…第２検出手段、７…フ
ィルタ、９…第３検出手段、１０…ハーフミラー、２０
…光分析手段、２１，２２，２３…増幅器、２４…吸収
出力手段、２５…蛍光強度出力手段、２６…濁度出力手
段、２７…発光強度出力手段、ａ…収束点。
出手段、５，８…集光手段、６…第２検出手段、７…フ
ィルタ、９…第３検出手段、１０…ハーフミラー、２０
…光分析手段、２１，２２，２３…増幅器、２４…吸収
出力手段、２５…蛍光強度出力手段、２６…濁度出力手
段、２７…発光強度出力手段、ａ…収束点。
Claims (1)
- 【請求項１】 測定用セル中の試料に光を照射する照射
系と試料からの光を検出する測光系とを含む光学手段に
よって試料分析を行う光分析装置において、前記測光系
は、照射光が測定用セルの配置位置内の収束点を通る光
路上において収束点を望む方向に設けられる第１の検出
手段と、前記光路外において収束点を望む方向に設けら
れる第２の検出手段とを備え、前記第１検出手段の出力
または第２検出手段の出力を選択的に用いて、少なくと
も第１検出手段の出力あるいは第２検出手段の出力の照
射光度に対する比を求めて試料の光分析を行うことを特
徴とする光分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8784995A JPH08285772A (ja) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | 光分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8784995A JPH08285772A (ja) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | 光分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08285772A true JPH08285772A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=13926343
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8784995A Withdrawn JPH08285772A (ja) | 1995-04-13 | 1995-04-13 | 光分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08285772A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108801985A (zh) * | 2017-05-03 | 2018-11-13 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种荧光光谱和吸收光谱集为一体的光谱仪 |
| JP2020536235A (ja) * | 2017-09-28 | 2020-12-10 | ザ・ボード・オブ・トラスティーズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・イリノイＴｈｅ Ｂｏａｒｄ Ｏｆ Ｔｒｕｓｔｅｅｓ Ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｏｆ Ｉｌｌｉｎｏｉｓ | 複数検出モダリティが可能な移動生体内感知装置 |
-
1995
- 1995-04-13 JP JP8784995A patent/JPH08285772A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108801985A (zh) * | 2017-05-03 | 2018-11-13 | 中国科学院大连化学物理研究所 | 一种荧光光谱和吸收光谱集为一体的光谱仪 |
| JP2020536235A (ja) * | 2017-09-28 | 2020-12-10 | ザ・ボード・オブ・トラスティーズ・オブ・ザ・ユニバーシティ・オブ・イリノイＴｈｅ Ｂｏａｒｄ Ｏｆ Ｔｒｕｓｔｅｅｓ Ｏｆ Ｔｈｅ Ｕｎｉｖｅｒｓｉｔｙ Ｏｆ Ｉｌｌｉｎｏｉｓ | 複数検出モダリティが可能な移動生体内感知装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20020702 |