JPH08285694A - 赤外線撮像装置 - Google Patents
赤外線撮像装置Info
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- JPH08285694A JPH08285694A JP7116311A JP11631195A JPH08285694A JP H08285694 A JPH08285694 A JP H08285694A JP 7116311 A JP7116311 A JP 7116311A JP 11631195 A JP11631195 A JP 11631195A JP H08285694 A JPH08285694 A JP H08285694A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 赤外線を放射及び反射する背景を用いずに被
検出物体を検出することができ、設置作業が簡単で、か
つ検出感度が光源からの赤外線放射量に左右されない赤
外線撮像装置を提供する。 【構成】 赤外線を集光する集光光学系３と、赤外線を
受光して電気信号に変換する赤外線検知器とを備えた赤
外線撮像装置において、被検出物体Ｇが吸収する２つの
吸収波長帯域の赤外線のうちの一方の吸収波長帯域の赤
外線を放射する電球型の赤外線光源２と、光源２からの
赤外線を受けたときに物体Ｇから放射される赤外線のう
ち、一方の吸収波長帯域とは異なる他方の吸収波長帯域
から放射される赤外線のみを通して赤外線検知器に受光
させるフィルタとを有する。赤外線を物体Ｇに照射する
前と後での、物体Ｇの他方の吸収波長帯域から放射され
る赤外線の光量差に基づいて物体Ｇを検出できる。
検出物体を検出することができ、設置作業が簡単で、か
つ検出感度が光源からの赤外線放射量に左右されない赤
外線撮像装置を提供する。 【構成】 赤外線を集光する集光光学系３と、赤外線を
受光して電気信号に変換する赤外線検知器とを備えた赤
外線撮像装置において、被検出物体Ｇが吸収する２つの
吸収波長帯域の赤外線のうちの一方の吸収波長帯域の赤
外線を放射する電球型の赤外線光源２と、光源２からの
赤外線を受けたときに物体Ｇから放射される赤外線のう
ち、一方の吸収波長帯域とは異なる他方の吸収波長帯域
から放射される赤外線のみを通して赤外線検知器に受光
させるフィルタとを有する。赤外線を物体Ｇに照射する
前と後での、物体Ｇの他方の吸収波長帯域から放射され
る赤外線の光量差に基づいて物体Ｇを検出できる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、赤外線撮像装置に関
する。
する。
【０００２】
【従来の技術】従来の赤外線撮像装置としては、例えば
図９に示すように、各種の物体（以下、被検出物体とい
う）Ｇの存在を検出し、その検出した被検出物体Ｇを表
示画面上に表示させて視覚化する赤外線撮像装置９０を
備えたものが知られている。この赤外線撮像装置９０
は、赤外線を集光する集光光学系９１と、集光光学系９
１により集光される赤外線を受光して電気信号に変換す
る赤外線検知器（図示略）とを備える。赤外線撮像装置
９０は、赤外線検知器に入射する赤外線のうち、被検出
物体Ｇを通過しない赤外線Ａと被検出物体Ｇを通過する
赤外線Ｂとの光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出す
る。すなわち、背景９２から放射される赤外線またはレ
ーザー光源９３から放射されて背景９２で反射される赤
外線のうち、被検出物体Ｇを通過せずに赤外線検知器に
入射する赤外線Ａと、被検出物体Ｇを通過する赤外線Ｂ
との光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出する。背景９
２は、例えば、樹木、建築物のコンクリート壁、スクリ
ーン等で、被検出物体Ｇの背後にあるものである。ま
た、ここでいう被検出物体とは赤外線領域に吸収特性を
有するものであれば何でもよく、例えばＣＯ2 ，Ｈ2 Ｏ
などのガスや高分子化合物、塗料などがあげられる。
図９に示すように、各種の物体（以下、被検出物体とい
う）Ｇの存在を検出し、その検出した被検出物体Ｇを表
示画面上に表示させて視覚化する赤外線撮像装置９０を
備えたものが知られている。この赤外線撮像装置９０
は、赤外線を集光する集光光学系９１と、集光光学系９
１により集光される赤外線を受光して電気信号に変換す
る赤外線検知器（図示略）とを備える。赤外線撮像装置
９０は、赤外線検知器に入射する赤外線のうち、被検出
物体Ｇを通過しない赤外線Ａと被検出物体Ｇを通過する
赤外線Ｂとの光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出す
る。すなわち、背景９２から放射される赤外線またはレ
ーザー光源９３から放射されて背景９２で反射される赤
外線のうち、被検出物体Ｇを通過せずに赤外線検知器に
入射する赤外線Ａと、被検出物体Ｇを通過する赤外線Ｂ
との光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出する。背景９
２は、例えば、樹木、建築物のコンクリート壁、スクリ
ーン等で、被検出物体Ｇの背後にあるものである。ま
た、ここでいう被検出物体とは赤外線領域に吸収特性を
有するものであれば何でもよく、例えばＣＯ2 ，Ｈ2 Ｏ
などのガスや高分子化合物、塗料などがあげられる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術では、前記光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出
する方式であるため、赤外線を被検出物体Ｇ及び赤外線
検知器に向けて放射及び反射するための背景９２が必要
である。適当な背景９２がない場合には、赤外線撮像装
置９０及びレーザー光源９３を設置する作業のほかに、
スクリーン等の背景を所定の位置に設置しなければなら
ず、設置作業が煩雑になるという問題がある。
来技術では、前記光量差に基づいて被検出物体Ｇを検出
する方式であるため、赤外線を被検出物体Ｇ及び赤外線
検知器に向けて放射及び反射するための背景９２が必要
である。適当な背景９２がない場合には、赤外線撮像装
置９０及びレーザー光源９３を設置する作業のほかに、
スクリーン等の背景を所定の位置に設置しなければなら
ず、設置作業が煩雑になるという問題がある。
【０００４】また、被検出物体Ｇの検出感度は、背景９
２からの赤外線放射量及びレーザー光源９３からの赤外
線放射量に左右されるので、十分な検出感度を得るため
には、赤外線放射量の大きい大型のレーザー光源あるい
は、赤外線放射をする背景を用いる必要があり、コスト
が増大してしまうという問題がある。
２からの赤外線放射量及びレーザー光源９３からの赤外
線放射量に左右されるので、十分な検出感度を得るため
には、赤外線放射量の大きい大型のレーザー光源あるい
は、赤外線放射をする背景を用いる必要があり、コスト
が増大してしまうという問題がある。
【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたもので、その課題は赤外線を放射及び反射する背景
を用いずに被検出物体を検出することができ、設置作業
が簡単で、かつ検出感度が光源からの赤外線放射量に左
右されない赤外線撮像装置を提供することである。
れたもので、その課題は赤外線を放射及び反射する背景
を用いずに被検出物体を検出することができ、設置作業
が簡単で、かつ検出感度が光源からの赤外線放射量に左
右されない赤外線撮像装置を提供することである。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前述の課題を解決するた
め請求項１記載の発明に係る赤外線撮像装置は、赤外線
を集光する集光光学系と、前記集光光学系により集光さ
れる赤外線を受光して電気信号に変換する赤外線検知器
とを備えた赤外線撮像装置において、検出対象である被
検出物体が吸収する複数の吸収波長帯域の赤外線のうち
の少なくとも１つの吸収波長帯域の赤外線を放射する赤
外線光源と、前記少なくとも１つの吸収波長帯域の赤外
線を受けたときに前記被検出物体から放射される赤外線
のうち、前記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異なる
吸収波長帯域から放射される赤外線のみを通して前記検
知器に受光させるフィルタとを有する。
め請求項１記載の発明に係る赤外線撮像装置は、赤外線
を集光する集光光学系と、前記集光光学系により集光さ
れる赤外線を受光して電気信号に変換する赤外線検知器
とを備えた赤外線撮像装置において、検出対象である被
検出物体が吸収する複数の吸収波長帯域の赤外線のうち
の少なくとも１つの吸収波長帯域の赤外線を放射する赤
外線光源と、前記少なくとも１つの吸収波長帯域の赤外
線を受けたときに前記被検出物体から放射される赤外線
のうち、前記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異なる
吸収波長帯域から放射される赤外線のみを通して前記検
知器に受光させるフィルタとを有する。
【０００７】
【作用】請求項１記載の赤外線撮像装置では、被検出物
体が吸収する複数の吸収波長帯域のうちの少なくとも１
つの吸収波長帯域の赤外線が赤外線光源から放射され
る。この赤外線が被検出物体に照射されると、その赤外
線が被検出物体で吸収され、この吸収によって物体自身
の温度が上がるので、被検出物体が吸収する複数の吸収
波長帯域の全てから赤外線が放射される。これらの赤外
線のうち、前記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異な
る吸収波長帯域から放射される赤外線のみがフィルタを
通って赤外線検知器に入射するので、赤外線を被検出物
体に照射する前と後での、赤外線検知器に入射する赤外
線の光量差に基づいて被検出物体を検出できる。
体が吸収する複数の吸収波長帯域のうちの少なくとも１
つの吸収波長帯域の赤外線が赤外線光源から放射され
る。この赤外線が被検出物体に照射されると、その赤外
線が被検出物体で吸収され、この吸収によって物体自身
の温度が上がるので、被検出物体が吸収する複数の吸収
波長帯域の全てから赤外線が放射される。これらの赤外
線のうち、前記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異な
る吸収波長帯域から放射される赤外線のみがフィルタを
通って赤外線検知器に入射するので、赤外線を被検出物
体に照射する前と後での、赤外線検知器に入射する赤外
線の光量差に基づいて被検出物体を検出できる。
【０００８】また、赤外線光源が少なくとも１つの吸収
波長帯域の赤外線を被検出物体に照射すると共に、被検
出物体から放射される赤外線のうち、少なくとも１つの
吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯域から放射される赤
外線のみを赤外線検知器で受光するので、赤外線を被検
出物体に照射する領域とそれ以外の領域での、前記異な
る吸収波長帯域の赤外線が赤外線検知器に入射する光量
差のみに基づいて被検出物体を検出することができる。
波長帯域の赤外線を被検出物体に照射すると共に、被検
出物体から放射される赤外線のうち、少なくとも１つの
吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯域から放射される赤
外線のみを赤外線検知器で受光するので、赤外線を被検
出物体に照射する領域とそれ以外の領域での、前記異な
る吸収波長帯域の赤外線が赤外線検知器に入射する光量
差のみに基づいて被検出物体を検出することができる。
【０００９】
【実施例】以下この発明の実施例を図面に基づいて説明
する。
する。
【００１０】図１はこの発明の一実施例に係る赤外線撮
像装置の使用状態を示している。この赤外線撮像装置
は、前記被検出物体Ｇの存在を検出し、その検出した被
検出物体Ｇを表示画面上に表示させて視覚化する撮像装
置１と、ある波長帯域の赤外線を放射する赤外線光源２
とを有する。
像装置の使用状態を示している。この赤外線撮像装置
は、前記被検出物体Ｇの存在を検出し、その検出した被
検出物体Ｇを表示画面上に表示させて視覚化する撮像装
置１と、ある波長帯域の赤外線を放射する赤外線光源２
とを有する。
【００１１】撮像装置１は、図１及び図２に示すよう
に、赤外線を集光する集光光学系３と、集光光学系３に
より集光される赤外線を受光して電気信号に変換する赤
外線検知器（以下、単に検知器という）４とを有してい
る。この赤外線撮像装置１は、さらに、検知器４を真空
中に収容して封止された真空容器５と、検知器４を低温
に冷却する冷却機６と、集光光学系３を通らない不要な
赤外線が検知器４に入射するのを阻止する開口絞り（コ
ールドシールド）７と有している。開口絞り７は、真空
容器５内に配置され、冷却機６により低温に冷却され
る。
に、赤外線を集光する集光光学系３と、集光光学系３に
より集光される赤外線を受光して電気信号に変換する赤
外線検知器（以下、単に検知器という）４とを有してい
る。この赤外線撮像装置１は、さらに、検知器４を真空
中に収容して封止された真空容器５と、検知器４を低温
に冷却する冷却機６と、集光光学系３を通らない不要な
赤外線が検知器４に入射するのを阻止する開口絞り（コ
ールドシールド）７と有している。開口絞り７は、真空
容器５内に配置され、冷却機６により低温に冷却され
る。
【００１２】前記赤外線光源２は、図３に示すように、
電球型の赤外線光源２０と、赤外線光源２０の前面に固
定されたフィルタ２１とからなる。電球型の赤外線光源
２０は、電磁波の放射源であるフィラメント２２と、標
準ガス２３を封入する密閉容器の一部を形成しかつフィ
ラメント２２から放射される電磁波を前方へ反射するリ
フレクタ２４と、リフレクタ２４と共に密閉容器の一部
を形成しかつある赤外線波長域の電磁波を通す板状の外
殻部材２５とからなる。フィラメント２２は、例えばタ
ングステン線でできている。
電球型の赤外線光源２０と、赤外線光源２０の前面に固
定されたフィルタ２１とからなる。電球型の赤外線光源
２０は、電磁波の放射源であるフィラメント２２と、標
準ガス２３を封入する密閉容器の一部を形成しかつフィ
ラメント２２から放射される電磁波を前方へ反射するリ
フレクタ２４と、リフレクタ２４と共に密閉容器の一部
を形成しかつある赤外線波長域の電磁波を通す板状の外
殻部材２５とからなる。フィラメント２２は、例えばタ
ングステン線でできている。
【００１３】外殻部材２５は、被検出物体Ｇが吸収する
複数の吸収波長帯域（この一実施例では図６に示す２つ
の吸収波長帯域６１、６２）を含む赤外線波長域の電磁
波（赤外線）を通す。外殻部材２５の分光透過率特性が
図４で示されている。この図から明らかなように、外殻
部材２５は、１μｍ〜５μｍ付近の波長帯域の赤外線を
通す。外殻部材２５は、例えばフッ化カルシウム（Ｃａ
Ｆ2 ）で形成されている。
複数の吸収波長帯域（この一実施例では図６に示す２つ
の吸収波長帯域６１、６２）を含む赤外線波長域の電磁
波（赤外線）を通す。外殻部材２５の分光透過率特性が
図４で示されている。この図から明らかなように、外殻
部材２５は、１μｍ〜５μｍ付近の波長帯域の赤外線を
通す。外殻部材２５は、例えばフッ化カルシウム（Ｃａ
Ｆ2 ）で形成されている。
【００１４】このような構成を有する電球型の赤外線光
源２０は、２つの吸収波長帯域６１、６２を含む１μｍ
〜５μｍ付近の赤外線波長帯域の電磁波（赤外線）を放
射する。前記フィルタ２１は、外殻部材２５の前面に貼
り付けられている。このフィルタ２１は、被検出ガスＧ
が吸収する２つの吸収波長帯域６１、６２の赤外線のう
ちの１つの吸収波長帯域６１（以下、第１の吸収バンド
という）の赤外線を通すものである。このフィルタ２１
の分光透過率特性が図５で示されている。
源２０は、２つの吸収波長帯域６１、６２を含む１μｍ
〜５μｍ付近の赤外線波長帯域の電磁波（赤外線）を放
射する。前記フィルタ２１は、外殻部材２５の前面に貼
り付けられている。このフィルタ２１は、被検出ガスＧ
が吸収する２つの吸収波長帯域６１、６２の赤外線のう
ちの１つの吸収波長帯域６１（以下、第１の吸収バンド
という）の赤外線を通すものである。このフィルタ２１
の分光透過率特性が図５で示されている。
【００１５】このような構成を有する赤外線光源２は、
第１の吸収バンド６１（図６参照）の赤外線を放射す
る。
第１の吸収バンド６１（図６参照）の赤外線を放射す
る。
【００１６】前記撮像装置１の真空容器５には、開口絞
り７の開口部７ａと対向する位置に、真空容器５の一部
を形成するフィルタ８が設けられている。このフィルタ
８は、赤外線光源２から照射される第１の吸収バンド６
１の赤外線を受けたときに被検出物体Ｇから放射される
赤外線７１、７２（被検出物体Ｇの分光放射特性を示す
図７を参照）のうち、第１の吸収バンド６１とは異なる
吸収波長帯域６２（以下、第２の吸収バンドという）か
ら放射される赤外線７２のみを通すものである。このフ
ィルタ８の分光透過率特性が図８で示されている。
り７の開口部７ａと対向する位置に、真空容器５の一部
を形成するフィルタ８が設けられている。このフィルタ
８は、赤外線光源２から照射される第１の吸収バンド６
１の赤外線を受けたときに被検出物体Ｇから放射される
赤外線７１、７２（被検出物体Ｇの分光放射特性を示す
図７を参照）のうち、第１の吸収バンド６１とは異なる
吸収波長帯域６２（以下、第２の吸収バンドという）か
ら放射される赤外線７２のみを通すものである。このフ
ィルタ８の分光透過率特性が図８で示されている。
【００１７】次に、上記一実施例に係る赤外線撮像装置
の動作を説明する。
の動作を説明する。
【００１８】電球型の赤外線光源２から第１の吸収バン
ド６１（図６参照）の赤外線が放射される。この赤外線
が被検出物体Ｇに照射されると、第１の吸収バンド６１
の赤外線が被検出物体Ｇで吸収され、この吸収によって
被検出物体Ｇ自身の温度がΔＴだけ上がるので、被検出
物体Ｇが吸収する２つの吸収バンド６１、６２（図６参
照）から赤外線７１、７２（図７参照）がそれぞれ放射
される。この赤外線７１、７２のうち、第２の吸収バン
ド６２から放射される赤外線７２のみがフィルタ８を通
って検知器４に入射する。すなわち、被検出物体Ｇから
放射される赤外線７１、７２のうち、第１の吸収バンド
６１から放射される赤外線７１と、赤外線光源２から放
射されかつ被検出物体Ｇを通過しない赤外線とはフィル
タ８によって遮断されて検知器４に入射しない。したが
って、赤外線光源２からの赤外線を被検出物体Ｇに照射
する前と後での、被検出物体Ｇから放射される赤外線７
２の光量差すなわち検知器４に入射する赤外線７２の光
量差ΔＷに基づいて被検出物体Ｇの漏れを検出し、その
検出した被検出物体Ｇを図示しない表示画面上に表示さ
せて視覚化することができる。
ド６１（図６参照）の赤外線が放射される。この赤外線
が被検出物体Ｇに照射されると、第１の吸収バンド６１
の赤外線が被検出物体Ｇで吸収され、この吸収によって
被検出物体Ｇ自身の温度がΔＴだけ上がるので、被検出
物体Ｇが吸収する２つの吸収バンド６１、６２（図６参
照）から赤外線７１、７２（図７参照）がそれぞれ放射
される。この赤外線７１、７２のうち、第２の吸収バン
ド６２から放射される赤外線７２のみがフィルタ８を通
って検知器４に入射する。すなわち、被検出物体Ｇから
放射される赤外線７１、７２のうち、第１の吸収バンド
６１から放射される赤外線７１と、赤外線光源２から放
射されかつ被検出物体Ｇを通過しない赤外線とはフィル
タ８によって遮断されて検知器４に入射しない。したが
って、赤外線光源２からの赤外線を被検出物体Ｇに照射
する前と後での、被検出物体Ｇから放射される赤外線７
２の光量差すなわち検知器４に入射する赤外線７２の光
量差ΔＷに基づいて被検出物体Ｇの漏れを検出し、その
検出した被検出物体Ｇを図示しない表示画面上に表示さ
せて視覚化することができる。
【００１９】このように、上記一実施例によれば、赤外
線光源２からの赤外線を被検出物体Ｇに照射する前と後
での、被検出物体Ｇが放射する赤外線７２の光量差に基
づいて被検出物体Ｇの漏れを検出するので、赤外線を被
検出物体Ｇ及び検知器４に向けて放射及び反射するため
の背景が不要となる。したがって、撮像装置１及び赤外
線光源２を設置するだけでよく、設置作業が簡単にな
る。
線光源２からの赤外線を被検出物体Ｇに照射する前と後
での、被検出物体Ｇが放射する赤外線７２の光量差に基
づいて被検出物体Ｇの漏れを検出するので、赤外線を被
検出物体Ｇ及び検知器４に向けて放射及び反射するため
の背景が不要となる。したがって、撮像装置１及び赤外
線光源２を設置するだけでよく、設置作業が簡単にな
る。
【００２０】また、上記一実施例によれば、第１の吸収
バンド６１の赤外線を被検出物体Ｇに照射すると共に、
被検出物体Ｇから放射される赤外線７１、７２のうち、
第２の吸収バンド６２から放射される赤外線７２のみを
検知器４で受光するので、赤外線を被検出物体Ｇに照射
する前と後での、赤外線７２の光量差ΔＷのみに基づい
て被検出物体Ｇの漏れを検出することができる。したが
って、被検出物体Ｇの検出感度が赤外線光源２からの赤
外線放射量に左右されず、高い検出感度が得られる。
バンド６１の赤外線を被検出物体Ｇに照射すると共に、
被検出物体Ｇから放射される赤外線７１、７２のうち、
第２の吸収バンド６２から放射される赤外線７２のみを
検知器４で受光するので、赤外線を被検出物体Ｇに照射
する前と後での、赤外線７２の光量差ΔＷのみに基づい
て被検出物体Ｇの漏れを検出することができる。したが
って、被検出物体Ｇの検出感度が赤外線光源２からの赤
外線放射量に左右されず、高い検出感度が得られる。
【００２１】なお、上記一実施例において、電球型の赤
外線光源２０の外殻部材２５を、フッ化カルシウム（Ｃ
ａＦ２）以外の材料、例えばシリコン（Ｓｉ）で形成す
ることもできる。
外線光源２０の外殻部材２５を、フッ化カルシウム（Ｃ
ａＦ２）以外の材料、例えばシリコン（Ｓｉ）で形成す
ることもできる。
【００２２】また、上記一実施例では、被検出物体Ｇが
吸収する２つの吸収波長帯域６１、６２うちの一方の吸
収波長帯域６１の赤外線を赤外線光源２が放射するよう
に構成してあるが、この発明はこれに限定されない。例
えば、被検出物体Ｇが吸収する吸収波長帯域が３つ以上
ある場合に、そのうちの少なくとも１つの吸収波長帯域
の赤外線を赤外線光源２が放射するように構成すること
もできる。また、前述したように、本実施例における被
検出物としては、ＣＯ2 ，Ｈ2 Ｏ等のガス，高分子化合
物等が挙げられ、それらを可視化することができる。
吸収する２つの吸収波長帯域６１、６２うちの一方の吸
収波長帯域６１の赤外線を赤外線光源２が放射するよう
に構成してあるが、この発明はこれに限定されない。例
えば、被検出物体Ｇが吸収する吸収波長帯域が３つ以上
ある場合に、そのうちの少なくとも１つの吸収波長帯域
の赤外線を赤外線光源２が放射するように構成すること
もできる。また、前述したように、本実施例における被
検出物としては、ＣＯ2 ，Ｈ2 Ｏ等のガス，高分子化合
物等が挙げられ、それらを可視化することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように、請求項１記載の発
明に係る赤外線撮像装置によれば、被検出物体が吸収す
る複数の吸収波長帯域のうちの少なくとも１つの吸収波
長帯域の赤外線が赤外線光源から放射される。この赤外
線が被検出物体に照射されると、その赤外線が被検出物
体で吸収され、この吸収によって物体自身の温度が上が
るので、被検出物体が吸収する複数の吸収波長帯域の全
てから赤外線が放射される。これらの赤外線のうち、前
記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯
域から放射される赤外線のみがフィルタを通って赤外線
検知器に入射するので、赤外線を被検出物体に照射する
前と後での、赤外線検知器に入射する赤外線の光量差に
基づいて被検出物体を検出できる。したがって、赤外線
を放射及び反射する背景を用いずに被検出物体を検出す
ることができ、設置作業を簡単に行うことができる。
明に係る赤外線撮像装置によれば、被検出物体が吸収す
る複数の吸収波長帯域のうちの少なくとも１つの吸収波
長帯域の赤外線が赤外線光源から放射される。この赤外
線が被検出物体に照射されると、その赤外線が被検出物
体で吸収され、この吸収によって物体自身の温度が上が
るので、被検出物体が吸収する複数の吸収波長帯域の全
てから赤外線が放射される。これらの赤外線のうち、前
記少なくとも１つの吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯
域から放射される赤外線のみがフィルタを通って赤外線
検知器に入射するので、赤外線を被検出物体に照射する
前と後での、赤外線検知器に入射する赤外線の光量差に
基づいて被検出物体を検出できる。したがって、赤外線
を放射及び反射する背景を用いずに被検出物体を検出す
ることができ、設置作業を簡単に行うことができる。
【００２４】また、赤外線光源が少なくとも１つの吸収
波長帯域の赤外線を被検出物体に照射すると共に、被検
出物体から放射される赤外線のうち、少なくとも１つの
吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯域から放射される赤
外線のみを赤外線検知器で受光するので、赤外線を被検
出物体に照射する領域とそれ以外の領域での、前記異な
る吸収波長帯域の赤外線が赤外線検知器に入射する光量
差のみに基づいて被検出物体を検出することができる。
したがって、物体の検出感度が赤外線光源からの赤外線
放射量に左右されず、光源を大型化せずに十分な検出感
度を得ることがき、これによってコストを低減できる。
波長帯域の赤外線を被検出物体に照射すると共に、被検
出物体から放射される赤外線のうち、少なくとも１つの
吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯域から放射される赤
外線のみを赤外線検知器で受光するので、赤外線を被検
出物体に照射する領域とそれ以外の領域での、前記異な
る吸収波長帯域の赤外線が赤外線検知器に入射する光量
差のみに基づいて被検出物体を検出することができる。
したがって、物体の検出感度が赤外線光源からの赤外線
放射量に左右されず、光源を大型化せずに十分な検出感
度を得ることがき、これによってコストを低減できる。
【図１】図１はこの発明の一実施例に係る赤外線撮像装
置の使用状態を示す説明図である。
置の使用状態を示す説明図である。
【図２】図２は図１に示す赤外線撮像装置の主要部を示
す縦断面図である。
す縦断面図である。
【図３】図３は電球型の赤外線光源を示す断面図であ
る。
る。
【図４】図４は図３に示す赤外線光源の外殻部材の分光
透過率特性を示す図である。
透過率特性を示す図である。
【図５】図５は図３に示す赤外線光源のフィルタの分光
透過率特性を示す図である。
透過率特性を示す図である。
【図６】図６は被検出物体の分光透過率特性を示す図で
ある。
ある。
【図７】図７は被検出物体の分光放射特性を示す図であ
る。
る。
【図８】図８は図２に示す赤外線撮像装置のフィルタの
分光透過率特性を示す図である。
分光透過率特性を示す図である。
【図９】図９は従来の赤外線撮像装置の使用状態を示す
説明図である。
説明図である。
２ 電球型の赤外線光源（赤外線光源） ３ 集光光学系 ４ 赤外線検知器 ８ フィルタ ６１、６２ 吸収波長帯域 ７１、７２ 被検出物体から放射される赤外線 Ｇ 被検出物体
Claims (1)
- 【請求項１】 赤外線を集光する集光光学系と、 前記集光光学系により集光される赤外線を受光して電気
信号に変換する赤外線検知器とを備えた赤外線撮像装置
において、 検出対象である被検出物体が吸収する複数の吸収波長帯
域の赤外線のうちの少なくとも１つの吸収波長帯域の赤
外線を放射する赤外線光源と、 前記少なくとも１つの吸収波長帯域の赤外線を受けたと
きに前記被検出物体から放射される赤外線のうち、前記
少なくとも１つの吸収波長帯域とは異なる吸収波長帯域
から放射される赤外線のみを通して前記検知器に受光さ
せるフィルタとを有することを特徴とする赤外線撮像装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7116311A JPH08285694A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 赤外線撮像装置 |
| US08/633,373 US5698853A (en) | 1995-04-18 | 1996-04-17 | Infrared image pickup apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7116311A JPH08285694A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 赤外線撮像装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08285694A true JPH08285694A (ja) | 1996-11-01 |
Family
ID=14683863
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7116311A Pending JPH08285694A (ja) | 1995-04-18 | 1995-04-18 | 赤外線撮像装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08285694A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3305418A1 (de) * | 2016-10-04 | 2018-04-11 | Evonik Degussa GmbH | Vorrichtung zum erwärmen polymerer pulver mittels strahlung bei pulverbeschichtungsverfahren |
-
1995
- 1995-04-18 JP JP7116311A patent/JPH08285694A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP3305418A1 (de) * | 2016-10-04 | 2018-04-11 | Evonik Degussa GmbH | Vorrichtung zum erwärmen polymerer pulver mittels strahlung bei pulverbeschichtungsverfahren |
| US10356849B2 (en) | 2016-10-04 | 2019-07-16 | Evonik Degussa Gmbh | Apparatus for heating polymeric powders by means of radiation in powder coating methods |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20020730 |