JPH0827810B2 - Delay simulator - Google Patents

Delay simulator

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JPH0827810B2
JPH0827810B2 JP1071205A JP7120589A JPH0827810B2 JP H0827810 B2 JPH0827810 B2 JP H0827810B2 JP 1071205 A JP1071205 A JP 1071205A JP 7120589 A JP7120589 A JP 7120589A JP H0827810 B2 JPH0827810 B2 JP H0827810B2
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delay
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primitive
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英弥 掘川
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、論理回路の機能検証に関し、特にタイミン
グ検証に用いる遅延シミュレータに関する。
The present invention relates to functional verification of a logic circuit, and more particularly to a delay simulator used for timing verification.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来この種の遅延シミュレータは、プリミティブ素子
への入力波形のなまりに関して、 なまりがないとみなす(ステップ関数的) 全素子に一律のなまりを与える 前段プリミティブ素子から見た負荷から求められる
CRの時定数で与える 等の方法が採用されていた。また、従来の遅延シミュレ
ータでは、プリミティブ素子に対して論理動作記述が必
要であった。そのため、論理動作記述が定義可能で、ピ
ンに遅延情報を定義できる素子はプリミティブ素子とみ
なせる。
Conventionally, this kind of delay simulator gives a uniform roundness to all the elements that consider that there is no rounding in the rounding of the input waveform to the primitive elements (step function).
Methods such as giving the time constant of CR were adopted. Moreover, in the conventional delay simulator, a logical behavior description is required for the primitive element. Therefore, an element for which a logical behavior description can be defined and delay information can be defined for a pin can be regarded as a primitive element.

ここで、プリミティブ素子とは、遅延解析を実施する
回路図情報の単位において最下層に位置する素子のこと
である。例えば、第5図において、E,F,G,Hがプリミテ
ィブ素子となる。また、遅延情報とは遅延値算出式のパ
ラメータを指す。例えば、2入力NANDゲートをプリミテ
ィブ素子とした場合、遅延値算出式がT=aX+bY+c
(Xは負荷容量,Yは入力波形のなまり)で与えられると
仮定すると、a,b,cが遅延値算出式のパラメータであ
る。シミュレータによっては、遅延値そのものを与える
場合もあるが、a=b=0でcが遅延値と考えれば、遅
延値算出式のパラメータとみなせる。遅延情報の集合を
遅延ライブラリと呼ぶ。
Here, the primitive element is an element located in the lowest layer in the unit of the circuit diagram information for performing the delay analysis. For example, in FIG. 5, E, F, G, H are primitive elements. In addition, the delay information refers to a parameter of the delay value calculation formula. For example, when a 2-input NAND gate is used as a primitive element, the delay value calculation formula is T = aX + bY + c
Assuming that X is a load capacitance and Y is a rounding of the input waveform, a, b, and c are parameters of the delay value calculation formula. Depending on the simulator, the delay value itself may be given, but if a = b = 0 and c is considered to be the delay value, it can be regarded as a parameter of the delay value calculation formula. A set of delay information is called a delay library.

第6図は2入力NANDゲートの論理動作記述の例であ
る。
FIG. 6 is an example of a logical operation description of a 2-input NAND gate.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problems to be Solved by the Invention]

従来の遅延シミュレータは、以下の問題点があった。 The conventional delay simulator has the following problems.

入力波形のなまりが大きくなると、プリミティブ素
子に対する遅延値の精度が著しく悪化する傾向にあり、
シミュレータ全体の精度にも影響がでる。
When the rounding of the input waveform becomes large, the accuracy of the delay value for the primitive element tends to deteriorate significantly,
It also affects the accuracy of the simulator as a whole.

入力値に対する出力値の関係を定義する論理動作記
述が必要で、作成工数がかかる他、複数な機能が有する
素子では、論理動作記述の作成自体が困難になる。
A logical behavioral description that defines the relationship between the input value and the output value is required, which requires a lot of preparation man-hours, and also makes it difficult to create the logical behavioral description itself in the case of an element having a plurality of functions.

論理動作記述に基づいて、遅延情報を測定する必要
があるが、少なくとも論理動作記述の項目数だけ遅延情
報を測定する必要があり、遅延ライブラリ作成に多大の
工数を要する。
It is necessary to measure the delay information based on the logical behavior description, but it is necessary to measure the delay information at least by the number of items of the logical behavior description, and a lot of man-hours are required to create the delay library.

〔課題を解決するための手段〕[Means for solving the problem]

本発明の遅延シミュレータは、テストパタン不要のい
わゆるスタティックな遅延解析を実行する。遅延解析手
法は、クリティカルパス解析法、セットアップホールド
のタイミング検証等の従来技術を利用する。
The delay simulator of the present invention executes so-called static delay analysis that does not require test patterns. The delay analysis method uses a conventional technique such as a critical path analysis method or setup / hold timing verification.

本発明では、あるプリミティブ素子の遅延値を算出す
る場合、前段のプリミティブ素子が出力した波形のなま
りに関する情報を記憶しておくことで、入力波形のなま
りを考慮できる。
In the present invention, when the delay value of a certain primitive element is calculated, the information about the rounding of the waveform output from the preceding primitive element is stored, so that the rounding of the input waveform can be considered.

また、本発明ではプリミティブ素子に関して、 出力ピン数が1、または出力ピンと双方向ピンの合
計が2以上の場合でも、全ての出力ピン及び双方向ピン
が等価な遅延情報を有するとみなせる素子 入力の論理値に無関係に遅延情報が定義可能とみな
せる素子 と言った制限を設けることで、論理動作記述を不要とし
た。ただし、遅延シミュレーションの精度を向上するた
め、入力値に対して出力値が同相か反転かを定義する。
Further, in the present invention, regarding the primitive element, even if the number of output pins is 1 or the total number of output pins and bidirectional pins is 2 or more, all output pins and bidirectional pins can be regarded as having equivalent delay information. The logical behavior description was made unnecessary by providing a restriction that the delay information can be defined regardless of the logical value. However, in order to improve the accuracy of the delay simulation, it is defined whether the output value is in-phase or inverted with respect to the input value.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be described with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例である。プリミティブ素
子2の遅延値算出方式が Trise=Ar・X+Br・Y+Cr (立ち上がり遅延) Tfall=Af・X+Br・Y+Cf (立ち下がり遅延) で与えられるものとし、Ar,Br,Cr,Af,Bf,Cfは遅延情報
として与えられているものとする。Ar,Br,Cr,Af,Bf,Cf
はSPICE等の回路シミュレータを用いて負荷容量、入力
波形のなまりを変化させて測定した遅延値から算出可能
である。ここで、Xは負荷容量値で、Yは入力波形のな
まりである。Yは例えば一定電圧に達するのに要する時
間で表現する。
FIG. 1 shows an embodiment of the present invention. The delay value calculation method of the primitive element 2 is given by Trise = Ar * X + Br * Y + Cr (rising delay) Tfall = Af * X + Br * Y + Cf (falling delay), and Ar, Br, Cr, Af, Bf, Cf are It is assumed that it is given as delay information. Ar, Br, Cr, Af, Bf, Cf
Can be calculated from the delay value measured by changing the load capacitance and the rounding of the input waveform using a circuit simulator such as SPICE. Here, X is the load capacitance value and Y is the rounding of the input waveform. Y is represented by, for example, the time required to reach a constant voltage.

プリミティブ素子1が出力する波形3を第2図に示
す。このとき、プリミティブ素子1側で出力電圧がVDD
の10%に達する時刻Tr10と、50%に達する時刻Tr50を記
憶しておく。プリミティブ素子2の遅延値を算出する場
合、入力波形のなまりYは、 Y=(Tr50−Tr10)/(0.4×VDD) で与えられる。本実施例ではプリミティブ素子2の入力
波形が立ち上がりの場合を示したが、立ち下がりの場合
は、出力電圧がVDDの90%に達する時刻Tf90と、50%に
達する時刻Tf50をプリミティブ素子1側で記憶しておく
ことで、同様に入力波形のなまりを、 Y=(Tf90−Tf50)/(0.4×VDD) で得ることが可能である。
The waveform 3 output by the primitive element 1 is shown in FIG. At this time, the output voltage is VDD on the primitive element 1 side.
Memorize the time Tr10 that reaches 10% and the time Tr50 that reaches 50%. When calculating the delay value of the primitive element 2, the rounding Y of the input waveform is given by Y = (Tr50−Tr10) / (0.4 × VDD). In the present embodiment, the case where the input waveform of the primitive element 2 rises is shown, but in the case of the falling edge, the time Tf90 when the output voltage reaches 90% of VDD and the time Tf50 when it reaches 50% on the primitive element 1 side. By storing it, it is possible to similarly obtain the rounding of the input waveform by Y = (Tf90−Tf50) / (0.4 × VDD).

第3図は、本発明におけるプリミティブ素子集合の一
例である。プリミティブ素子は以下のものから構成され
る。
FIG. 3 is an example of a primitive element set according to the present invention. The primitive element consists of:

インバータ(素子6) NANDゲート(素子7,8,9) NORゲート(素子10,11,12) 複合ゲート(素子13,14) クロックドインバータ(素子15) 単方向トランスファゲート(素子16) 双方向トランスファゲート(素子17) 一般に、CMOS構成の論理回路では、全ての機能素子は
上記7つのプリミティブ素子の組み合わせで記述可能で
ある。
Inverter (element 6) NAND gate (element 7,8,9) NOR gate (element 10,11,12) Composite gate (element 13,14) Clocked inverter (element 15) Unidirectional transfer gate (element 16) Bidirectional Transfer Gate (Element 17) Generally, in a logic circuit having a CMOS structure, all functional elements can be described by a combination of the above seven primitive elements.

本例において、〜は出力ピン数が1であるが、
は双方向ピンを2つ有している。しかし、2つの双方向
ピンが等しい遅延情報を有すると考えれば、プリミティ
ブ素子として使用可能である。
In this example, ~ has one output pin,
Has two bidirectional pins. However, it can be used as a primitive element, considering that the two bidirectional pins have equal delay information.

各プリミティブ素子には、トランジスタ寸法に応じて
あらかじめ測定した遅延値算出式のパラメータを与えて
おく他に、入力値に対して出力値が反転するのかの情報
を与えておく。本例では、〜は反転、,は同相
である。
Each primitive element is given a parameter of the delay value calculation formula measured in advance according to the transistor size, and also information about whether the output value is inverted with respect to the input value. In this example, ~ is inversion, and is in phase.

第4図は、本発明におけるプリミティブ素子集合の他
の例を示している。本例では、FF等の機能もプリミティ
ブとして含まれているので特長である。以下にプリミテ
ィブ素子集合の要素を示す。
FIG. 4 shows another example of the primitive element set in the present invention. The feature of this example is that functions such as FF are also included as primitives. The elements of the primitive element set are shown below.

インバータ(素子18) NANDゲート(素子19,20,21) NORゲート(素子22,23,24) 複合ゲート(素子25,26) クロックドインバータ(素子27) 単方向トランスファゲート(素子28) 双方向トランスファゲート(素子29) バッファ(素子30) ANDゲート(素子31) ORゲート(素子32) トライステートバッファ(素子33) フリップフロップ(素子34) マルチプルクサ(素子35) レジスタ(素子36) ROM/RAM(素子37) 上記プリミティブ素子において、フリップフロップ
はQ,が同一の遅延情報有するとみなす。,も同様
に全ての出力ピン及び双方向ピンが同じ遅延情報を持つ
とみなすことで論理動作記述が不要となる。
Inverter (element 18) NAND gate (element 19,20,21) NOR gate (element 22,23,24) Composite gate (element 25,26) Clocked inverter (element 27) Unidirectional transfer gate (element 28) Bidirectional Transfer gate (element 29) Buffer (element 30) AND gate (element 31) OR gate (element 32) Tri-state buffer (element 33) Flip-flop (element 34) Multiplexer (element 35) Register (element 36) ROM / RAM (Element 37) In the primitive element, the flip-flop is considered to have the same delay information Q. Similarly, since it is considered that all output pins and bidirectional pins have the same delay information, the logical operation description becomes unnecessary.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上説明したように本発明は、 プリミティブ素子の遅延値算出において、前段プリ
ミティブ素子が出力する波形のなまりを入力波形のなま
りとして利用可能なため、遅延シミュレーションにおけ
る遅延値の精度が向上する プリミティブ素子の論理動作記述を必要としないた
め、遅延ライブラリ作成工数が軽減される といった効果がある。
As described above, according to the present invention, since the roundness of the waveform output by the preceding stage primitive element can be used as the rounding of the input waveform in the delay value calculation of the primitive element, the accuracy of the delay value in the delay simulation is improved. Since there is no need for a logical behavior description, it has the effect of reducing the man-hours required to create a delay library.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図は本発明の一実施例の説明図、第2図は入力波形
のなまりを算出する方法の説明図、第3図は本発明のプ
リミティブ素子集合の一例を示す図、第4図は本発明の
プリミティブ素子集合の他の例を示す図、第5図は回路
階層におけるプリミティブ素子の説明図、第6図は2入
力NANDゲートの論理動作記述例を示す図である。 1……前段プリミティブ素子、2……遅延値を算出しよ
うとしているプリミティブ素子、3……プリミティブ素
子1が出力する波形、4……プリミティブ素子2が出力
する波形、5……プリミティブ素子の負荷容量の合計を
示す仮想的な容量シンボル、6……インバータ、7……
2入力NANDゲート、8……3入力NANDゲート、9……4
入力NANDゲート、10……2入力NORゲート、11……3入
力NORゲート、12……4入力NORゲート、13……複合ゲー
ト、14……複合ゲート、15……クロックドインバータ、
16……単方向トランスファゲート、17……双方向トラン
スファゲート、18……インバータ、19……2入力NANDゲ
ート、20……3入力NANDゲート、21……4入力NANDゲー
ト、22……2入力NORゲート、23……3入力NORゲート、
24……4入力NORゲート、25……複合ゲート、26……複
合ゲート、27……クロックドインバータ、28……単方向
トランスファゲート、29……双方向トランスファゲー
ト、30……バッファ、31……2入力ANDゲート、32……
2入力ORゲート、33……トライステートバッファ、34…
…フリップフロップ、35……マルチプレクサ、36……レ
ジスタ、37……RAM、38……2入力NANDゲート、39……
2入力NANDゲートの論理動作記述。
FIG. 1 is an explanatory diagram of an embodiment of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of a method for calculating a rounding of an input waveform, FIG. 3 is a diagram showing an example of a primitive element set of the present invention, and FIG. FIG. 5 is a diagram showing another example of the primitive element set of the present invention, FIG. 5 is an explanatory diagram of the primitive elements in the circuit hierarchy, and FIG. 6 is a diagram showing an example of the logical operation description of the 2-input NAND gate. 1 ... Pre-stage primitive element, 2 ... Primitive element whose delay value is to be calculated, 3 ... Waveform output by primitive element 1, 4 ... Waveform output by primitive element 2, 5 ... Load capacity of primitive element A virtual capacity symbol showing the total of 6 ... Inverter, 7 ...
2-input NAND gate, 8 ... 3-input NAND gate, 9 ... 4
Input NAND gate, 10 …… 2-input NOR gate, 11 …… 3-input NOR gate, 12 …… 4-input NOR gate, 13 …… Composite gate, 14 …… Composite gate, 15 …… Clocked inverter,
16 …… unidirectional transfer gate, 17 …… bidirectional transfer gate, 18 …… inverter, 19 …… 2-input NAND gate, 20 …… 3-input NAND gate, 21 …… 4-input NAND gate, 22 …… 2-input NOR gate, 23 …… 3-input NOR gate,
24 …… 4-input NOR gate, 25 …… compound gate, 26 …… compound gate, 27 …… clocked inverter, 28 …… unidirectional transfer gate, 29 …… bidirectional transfer gate, 30 …… buffer, 31… … 2-input AND gate, 32 ……
2-input OR gate, 33 ... Tri-state buffer, 34 ...
… Flip-flops, 35 …… Multiplexers, 36 …… Registers, 37 …… RAM, 38 …… 2-input NAND gates, 39 ……
Logical operation description of 2-input NAND gate.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】プリミティブ素子の遅延値を算出する計算
式に、入力波形のなまりに依存する頃が存在する場合、
前段プリミティブ素子が出力する波形のなまりに関する
情報をあらかじめ記憶しておき、前記プリミティブ素子
の遅延値算出時に入力波形のなまりに関する情報として
利用する機能を有することを特徴とする遅延シミュレー
1. When a calculation formula for calculating a delay value of a primitive element has a period depending on a rounding of an input waveform,
A delay simulator having a function of preliminarily storing information on the rounding of the waveform output from the preceding primitive element and using it as information on the rounding of the input waveform when calculating the delay value of the primitive element.
【請求項2】入力値に対して出力値が同相か反転かの定
義を前記プリミティブ素子に持たせることで、論理動作
記述を必要としないようにした請求項1記載の遅延シミ
ュレータ
2. The delay simulator according to claim 1, wherein a logical behavior description is not required by providing the primitive element with a definition of whether the output value is in-phase or inverted with respect to the input value.
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