JPH08274548A - 高周波広帯域アンプ - Google Patents
高周波広帯域アンプInfo
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- JPH08274548A JPH08274548A JP7683495A JP7683495A JPH08274548A JP H08274548 A JPH08274548 A JP H08274548A JP 7683495 A JP7683495 A JP 7683495A JP 7683495 A JP7683495 A JP 7683495A JP H08274548 A JPH08274548 A JP H08274548A
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 32
- 230000007423 decrease Effects 0.000 abstract description 19
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 8
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 8
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 4
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 4
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/34—Negative-feedback-circuit arrangements with or without positive feedback
- H03F1/342—Negative-feedback-circuit arrangements with or without positive feedback in field-effect transistor amplifiers
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F1/00—Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
- H03F1/42—Modifications of amplifiers to extend the bandwidth
- H03F1/48—Modifications of amplifiers to extend the bandwidth of aperiodic amplifiers
-
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- H03F—AMPLIFIERS
- H03F3/00—Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
- H03F3/189—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers
- H03F3/19—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only
- H03F3/193—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only with field-effect devices
- H03F3/1935—High-frequency amplifiers, e.g. radio frequency amplifiers with semiconductor devices only with field-effect devices with junction-FET devices
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03G—CONTROL OF AMPLIFICATION
- H03G1/00—Details of arrangements for controlling amplification
- H03G1/04—Modifications of control circuit to reduce distortion caused by control
-
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- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03F—AMPLIFIERS
- H03F2200/00—Indexing scheme relating to amplifiers
- H03F2200/126—A diode being coupled in a feedback path of an amplifier stage, e.g. active or passive diode
-
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- H03F2200/144—Indexing scheme relating to amplifiers the feedback circuit of the amplifier stage comprising a passive resistor and passive capacitor
-
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- Control Of Amplification And Gain Control (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高周波広帯域アンプのゲインを外部から供給
する電圧により簡易かつ精度よく可変できるとともに、
温度係数をゼロにすること。 【構成】 高周波信号が入力されるトランジスタQ1
と、このトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰還
抵抗部11に設けられ、カソードがチョークコイルを介
して接地されているPINダイオードD1と、このPI
Nダイオードのアノードにチョークコイルを介して接続
されたゲイン制御用電源Vc とを具備する。
する電圧により簡易かつ精度よく可変できるとともに、
温度係数をゼロにすること。 【構成】 高周波信号が入力されるトランジスタQ1
と、このトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰還
抵抗部11に設けられ、カソードがチョークコイルを介
して接地されているPINダイオードD1と、このPI
Nダイオードのアノードにチョークコイルを介して接続
されたゲイン制御用電源Vc とを具備する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はUHF,マイクロ波等の
高周波信号を増幅する高周波広帯域アンプに関する。
高周波信号を増幅する高周波広帯域アンプに関する。
【0002】
【従来の技術】PINダイオードを用いたフィードバッ
クアンプは特開平4−100303号公報で知られてい
る。
クアンプは特開平4−100303号公報で知られてい
る。
【0003】この公報のフィードバックアンプは、アン
プの振幅飽和に起因する振幅や位相の非線形性を改善す
るようにしている。
プの振幅飽和に起因する振幅や位相の非線形性を改善す
るようにしている。
【0004】つまり、このフィードバックアンプは、P
INダイオードに逆バイアスをかけて、逆バイアス電圧
vによる容量値の変化を生じさせ、帰還が負であれば、
逆バイアス電圧vの増加に比例して容量値が減少するこ
とにより、アンプの出力振幅及び通過位相の直線性を改
善するように、帰還量を制御するようにしたものであ
る。
INダイオードに逆バイアスをかけて、逆バイアス電圧
vによる容量値の変化を生じさせ、帰還が負であれば、
逆バイアス電圧vの増加に比例して容量値が減少するこ
とにより、アンプの出力振幅及び通過位相の直線性を改
善するように、帰還量を制御するようにしたものであ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この公報のフ
ィードバックアンプは、ある周波数以上又は周波数範囲
の周波数でゲインを制御するものであり、広帯域にわた
ったゲイン特性が改善させたものではなかった。
ィードバックアンプは、ある周波数以上又は周波数範囲
の周波数でゲインを制御するものであり、広帯域にわた
ったゲイン特性が改善させたものではなかった。
【0006】本発明は上記の点に鑑みてなされたもの
で、その目的は高周波広帯域アンプのゲインを外部から
供給する電圧により簡易かつ精度よく可変できるととも
に、温度係数をゼロにすることができる高周波広帯域ア
ンプを提供することにある。
で、その目的は高周波広帯域アンプのゲインを外部から
供給する電圧により簡易かつ精度よく可変できるととも
に、温度係数をゼロにすることができる高周波広帯域ア
ンプを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明の高周波
広帯域アンプは、高周波広帯域アンプの帰還抵抗部にP
INダイオードを配設しこれらのPINダイオードは順
方向にバイアスされていることを特徴とする。
広帯域アンプは、高周波広帯域アンプの帰還抵抗部にP
INダイオードを配設しこれらのPINダイオードは順
方向にバイアスされていることを特徴とする。
【0008】請求項2の発明の高周波広帯域アンプは、
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けら
れ、カソードがチョークコイル又は抵抗を介して接地さ
れているPINダイオードと、このPINダイオードの
アノードにチョークコイルを介して接続されたゲイン制
御用電源とを具備したことを特徴とする。
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けら
れ、カソードがチョークコイル又は抵抗を介して接地さ
れているPINダイオードと、このPINダイオードの
アノードにチョークコイルを介して接続されたゲイン制
御用電源とを具備したことを特徴とする。
【0009】請求項3の発明の高周波広帯域アンプは、
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部から接地さ
れたPINダイオードと、このPINダイオードのアノ
ードに供給されるゲイン制御用電源とを具備したことを
特徴とする。
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部から接地さ
れたPINダイオードと、このPINダイオードのアノ
ードに供給されるゲイン制御用電源とを具備したことを
特徴とする。
【0010】請求項4の発明の高周波広帯域アンプは、
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
タの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けられ、
互いのアノードが接続され、カソードがそれぞれチョー
クコイル又は抵抗を介して接地されている2つのPIN
ダイオードと、PINダイオードの各アノードを接続す
る接続点にチョークコイル又は抵抗を介して接続された
制御用電源とを具備したことを特徴とする。
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
タの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けられ、
互いのアノードが接続され、カソードがそれぞれチョー
クコイル又は抵抗を介して接地されている2つのPIN
ダイオードと、PINダイオードの各アノードを接続す
る接続点にチョークコイル又は抵抗を介して接続された
制御用電源とを具備したことを特徴とする。
【0011】請求項5の発明の高周波広帯域アンプは、
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けら
れ、帰還抵抗部の中間位置から接地された第1のPIN
ダイオードと、上記中間位置にカソードが接続され、そ
のアノードには制御用電源が接続された第2のPINダ
イオードと、この第2のPINダイオードのアノードを
接地するコンデンサとを具備したことを特徴とする。
高周波信号が入力されるトランジスタと、このトランジ
スタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部に設けら
れ、帰還抵抗部の中間位置から接地された第1のPIN
ダイオードと、上記中間位置にカソードが接続され、そ
のアノードには制御用電源が接続された第2のPINダ
イオードと、この第2のPINダイオードのアノードを
接地するコンデンサとを具備したことを特徴とする。
【0012】請求項6の発明の高帯域アンプは、請求項
1乃至5の高周波広帯域アンプを母体上に設けたことを
特徴とする。
1乃至5の高周波広帯域アンプを母体上に設けたことを
特徴とする。
【0013】
【作用】請求項1の発明においては、高周波広帯域アン
プの帰還抵抗部にPINダイオードを配置され、このP
INダイオードに順方向に供給するバイアス電圧を可変
することにより、PINダイオードを電圧可変抵抗素子
として作用させている。
プの帰還抵抗部にPINダイオードを配置され、このP
INダイオードに順方向に供給するバイアス電圧を可変
することにより、PINダイオードを電圧可変抵抗素子
として作用させている。
【0014】請求項2の発明においては、高周波信号が
入力されるトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰
還抵抗部にPINダイオードを設け、このPINダイオ
ードを順方向にバイアスさせて、PINダイオードを電
圧可変抵抗素子として作用させている。このPINダイ
オードの特性は、広帯域(例えば、数10MHz〜数10
GHz)に亘って、良好な特性を特性を有している。そし
て、PINダイオードに供給するゲイン制御用の電圧又
は電流を大きくすると、PINダイオードの抵抗が下が
るため、帰還量が増し、アンプの利得が下がる。
入力されるトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰
還抵抗部にPINダイオードを設け、このPINダイオ
ードを順方向にバイアスさせて、PINダイオードを電
圧可変抵抗素子として作用させている。このPINダイ
オードの特性は、広帯域(例えば、数10MHz〜数10
GHz)に亘って、良好な特性を特性を有している。そし
て、PINダイオードに供給するゲイン制御用の電圧又
は電流を大きくすると、PINダイオードの抵抗が下が
るため、帰還量が増し、アンプの利得が下がる。
【0015】請求項3の発明においては、高周波信号が
入力されるトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰
還抵抗部からPINダイオードを接地するようにしてい
る。そして、PINダイオードに供給するゲイン制御用
の電圧又は電流を大きくすると、PINダイオードの抵
抗が下がるため、PINダイオードを介して接地方向に
流れる帰還信号が多くなるため、帰還量が減少し、アン
プの利得が下がる。
入力されるトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰
還抵抗部からPINダイオードを接地するようにしてい
る。そして、PINダイオードに供給するゲイン制御用
の電圧又は電流を大きくすると、PINダイオードの抵
抗が下がるため、PINダイオードを介して接地方向に
流れる帰還信号が多くなるため、帰還量が減少し、アン
プの利得が下がる。
【0016】請求項4の発明においては、帰還抵抗部を
介してトランジスタの出力電圧が入力に帰還する場合
に、一方のPINダイオードには帰還信号がカソードか
らアノード方向に流れ、他方のPINダイオードには帰
還信号がアノードからカソードに流れる。このため、特
に帰還信号が大きい場合に、2つPINダイオードによ
る非対称歪みを打ち消すことができる。
介してトランジスタの出力電圧が入力に帰還する場合
に、一方のPINダイオードには帰還信号がカソードか
らアノード方向に流れ、他方のPINダイオードには帰
還信号がアノードからカソードに流れる。このため、特
に帰還信号が大きい場合に、2つPINダイオードによ
る非対称歪みを打ち消すことができる。
【0017】請求項5の発明においては、帰還信号は帰
還抵抗部の中間位置から第1のPINダイオードのアノ
ードーカソードを介して接地に流れると共に、帰還抵抗
部の中間位置から第2のPINダイオードのカソードー
アノード、コンデンサを介して接地に流れる。従って、
第1及び第2のPINダイオードを流れる帰還信号の向
きを互いに逆向きとすることができ、帰還信号が大きい
場合の非対称歪みをなくすことができる。
還抵抗部の中間位置から第1のPINダイオードのアノ
ードーカソードを介して接地に流れると共に、帰還抵抗
部の中間位置から第2のPINダイオードのカソードー
アノード、コンデンサを介して接地に流れる。従って、
第1及び第2のPINダイオードを流れる帰還信号の向
きを互いに逆向きとすることができ、帰還信号が大きい
場合の非対称歪みをなくすことができる。
【0018】請求項6の発明においては、請求項1乃至
請求項5の発明と同じ作用をするアンプを母体上に設け
ている。
請求項5の発明と同じ作用をするアンプを母体上に設け
ている。
【0019】
【実施例】以下図面を参照して本発明の第1実施例に係
わる高周波広帯域アンプについて説明する。図1におい
て、RFINは高周波信号が入力される入力端子である。こ
の入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力抵抗r1を
介して接地される。この結合コンデンサCinと入力抵抗
r1との接続点aは電界効果トランジスタ(以下、FE
Tと称する)Q1のベースに接続される。このFETQ
1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサC1を介して
接地される。
わる高周波広帯域アンプについて説明する。図1におい
て、RFINは高周波信号が入力される入力端子である。こ
の入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力抵抗r1を
介して接地される。この結合コンデンサCinと入力抵抗
r1との接続点aは電界効果トランジスタ(以下、FE
Tと称する)Q1のベースに接続される。このFETQ
1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサC1を介して
接地される。
【0020】このFETQ1のソースは出力コンデンサ
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
【0021】FETQ1のソースとバイアス用チョーク
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、PINダイオードD1、可変抵抗r
3 、直流カット用コンデンサC3 が直列接続されてい
る。
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、PINダイオードD1、可変抵抗r
3 、直流カット用コンデンサC3 が直列接続されてい
る。
【0022】そして、PINダイオードD1と直流カッ
ト用コンデンサC2 との接続点はバイアス用チョークコ
イルL2 を介してゲイン制御用電源Vc が接続される。
ト用コンデンサC2 との接続点はバイアス用チョークコ
イルL2 を介してゲイン制御用電源Vc が接続される。
【0023】さらに、PINダイオードD1と可変抵抗
r3 との接続点はチョークコイルL3 を介して接地され
ている。
r3 との接続点はチョークコイルL3 を介して接地され
ている。
【0024】ところで、PINダイオードD1はゲイン
制御用電源Vc 、バイアス用チョークコイルL2 、L3
を介して順方向にバイアスされている。
制御用電源Vc 、バイアス用チョークコイルL2 、L3
を介して順方向にバイアスされている。
【0025】PINダイオードD1は、図2に示すよう
に、p層とn層とその層の中間に絶縁(inslator)層が
形成されているもので、PINダイオードD1の両端に
印加する直流電圧を可変した場合の電流ー抵抗Rs特定
はlog 図で直線となる。
に、p層とn層とその層の中間に絶縁(inslator)層が
形成されているもので、PINダイオードD1の両端に
印加する直流電圧を可変した場合の電流ー抵抗Rs特定
はlog 図で直線となる。
【0026】次に、上記のように構成された本発明の第
1実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11はPINダイオードD1と可変抵抗r3が直列
に接続された構成を有する。
1実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11はPINダイオードD1と可変抵抗r3が直列
に接続された構成を有する。
【0027】また、PINダイオードD1の抵抗Rsは
図2を参照して説明したように、流れる電流にiに応じ
てその抵抗Rs が変化する。つまり、PINダイオード
D1のアノード・カソード間には、ゲイン制御用電源V
c が接続されているので、この電源Vc の大きさに応じ
て、電流iが可変し、その電流iに応じて抵抗Rs が変
化する。
図2を参照して説明したように、流れる電流にiに応じ
てその抵抗Rs が変化する。つまり、PINダイオード
D1のアノード・カソード間には、ゲイン制御用電源V
c が接続されているので、この電源Vc の大きさに応じ
て、電流iが可変し、その電流iに応じて抵抗Rs が変
化する。
【0028】例えば、図1のアンプの周波数ーゲイン特
性が図3の実線で示すものである場合に、ゲート制御用
電源Vc を増加すると、図2に示すようにPINダイオ
ードD1の抵抗Rs は下がるので、帰還抵抗部11を介
しての帰還量は上がる。このため、ゲインGは破線に示
すように下がる。
性が図3の実線で示すものである場合に、ゲート制御用
電源Vc を増加すると、図2に示すようにPINダイオ
ードD1の抵抗Rs は下がるので、帰還抵抗部11を介
しての帰還量は上がる。このため、ゲインGは破線に示
すように下がる。
【0029】一方、ゲート制御用電源Vc を減少させる
と、図2に示すようにPINダイオードD1の抵抗Rs
は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量は下が
る。このため、ゲインGは2点破線で示すように上が
る。
と、図2に示すようにPINダイオードD1の抵抗Rs
は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量は下が
る。このため、ゲインGは2点破線で示すように上が
る。
【0030】以上のようにして、ゲート制御用電源Vc
の大きさを制御することにより、図1のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
1を用いて帰還量を制御しているので、広帯域でゲイン
特性が良い高周波広帯域アンプを提供することができ
る。
の大きさを制御することにより、図1のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
1を用いて帰還量を制御しているので、広帯域でゲイン
特性が良い高周波広帯域アンプを提供することができ
る。
【0031】さらに、FETQ1は温度が上昇すると、
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD1の温度係数
kt は正から負に変化する。このため、PINダイオー
ドD1に電流をゲート制御用電源Vc で制御することに
より、温度上昇とともに減少するドレイン電流を打ち消
すように、負の温度係数kt を設定することにより、図
1のアンプの温度係数kt をゼロに近付けることができ
る。
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD1の温度係数
kt は正から負に変化する。このため、PINダイオー
ドD1に電流をゲート制御用電源Vc で制御することに
より、温度上昇とともに減少するドレイン電流を打ち消
すように、負の温度係数kt を設定することにより、図
1のアンプの温度係数kt をゼロに近付けることができ
る。
【0032】従来の技術では、アンプのゲインGの温度
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
【0033】次に、図4を参照して本発明の第2実施例
に係わる高周波広帯域アンプについて説明する。図4に
おいて、RFINは高周波信号が入力される入力端子であ
る。この入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力抵抗
r1を介して接地される。この結合コンデンサCinと入
力抵抗r1との接続点aは電界効果トランジスタ(以
下、FETと称する)Q1のベースに接続される。この
FETQ1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサC1
を介して接地される。
に係わる高周波広帯域アンプについて説明する。図4に
おいて、RFINは高周波信号が入力される入力端子であ
る。この入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力抵抗
r1を介して接地される。この結合コンデンサCinと入
力抵抗r1との接続点aは電界効果トランジスタ(以
下、FETと称する)Q1のベースに接続される。この
FETQ1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサC1
を介して接地される。
【0034】このFETQ1のソースは出力コンデンサ
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
【0035】FETQ1のソースとバイアス用チョーク
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、可変抵抗r4 、r5 、直流カット用
コンデンサC3 が直列接続されている。
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、可変抵抗r4 、r5 、直流カット用
コンデンサC3 が直列接続されている。
【0036】また、可変抵抗r4 と直流カット用コンデ
ンサC2 との接続点はバイアス用チョークコイルL2 を
介してゲイン制御用電源Vc が接続される。
ンサC2 との接続点はバイアス用チョークコイルL2 を
介してゲイン制御用電源Vc が接続される。
【0037】さらに、可変抵抗r4 と可変抵抗r5 と接
続点はPINダイオードD2を介して接地される。
続点はPINダイオードD2を介して接地される。
【0038】次に、上記のように構成された本発明の第
2実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11は可変抵抗r5 とr4 が直列に接続された回路
と、可変抵抗r5 とr4 との接続点からPINダイオー
ドD2を介して接地される回路が存在する。
2実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11は可変抵抗r5 とr4 が直列に接続された回路
と、可変抵抗r5 とr4 との接続点からPINダイオー
ドD2を介して接地される回路が存在する。
【0039】従って、ゲート制御用電源Vcを増加する
と、図2に示すようにPINダイオードD2の抵抗Rs
は下がるので、PINダイオードD2を介して帰還電流
が多く流れるようになるため、帰還量が下がる。このた
め、図1のアンプとは逆にゲインは上がる。
と、図2に示すようにPINダイオードD2の抵抗Rs
は下がるので、PINダイオードD2を介して帰還電流
が多く流れるようになるため、帰還量が下がる。このた
め、図1のアンプとは逆にゲインは上がる。
【0040】一方、ゲート制御用電源Vc を減少させる
と、図2に示すようにPINダイオードD1の抵抗Rs
は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量は上が
る。このため、図1のアンプとは逆にゲインは下がる。
と、図2に示すようにPINダイオードD1の抵抗Rs
は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量は上が
る。このため、図1のアンプとは逆にゲインは下がる。
【0041】以上のようにして、ゲート制御用電源Vc
の大きさを制御することにより、図4のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
2を用いて帰還量を制御しているので、広帯域でゲイン
特性が良い高周波広帯域アンプを提供することができ
る。
の大きさを制御することにより、図4のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
2を用いて帰還量を制御しているので、広帯域でゲイン
特性が良い高周波広帯域アンプを提供することができ
る。
【0042】さらに、FETQ1は温度が上昇すると、
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD1の温度係数
kt は正から負に変化する。このため、PINダイオー
ドD2に電流をゲート制御用電源Vc で制御することに
より、温度上昇とともに減少するドレイン電流を打ち消
すように、負の温度係数kt を設定することにより、図
4のアンプの温度係数kt をゼロに近付けることができ
る。
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD1の温度係数
kt は正から負に変化する。このため、PINダイオー
ドD2に電流をゲート制御用電源Vc で制御することに
より、温度上昇とともに減少するドレイン電流を打ち消
すように、負の温度係数kt を設定することにより、図
4のアンプの温度係数kt をゼロに近付けることができ
る。
【0043】従来の技術では、アンプのゲインGの温度
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
【0044】次に、図5及び図6を参照して発明の第3
実施例に係わる高周波広帯域アンプについて説明する。
図5において、RFINは高周波信号が入力される入力端子
である。この入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力
抵抗r1を介して接地される。この結合コンデンサCin
と入力抵抗r1との接続点aは電界効果トランジスタ
(以下、FETと称する)Q1のベースに接続される。
このFETQ1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサ
C1を介して接地される。
実施例に係わる高周波広帯域アンプについて説明する。
図5において、RFINは高周波信号が入力される入力端子
である。この入力端子RFINは結合コンデンサCin、入力
抵抗r1を介して接地される。この結合コンデンサCin
と入力抵抗r1との接続点aは電界効果トランジスタ
(以下、FETと称する)Q1のベースに接続される。
このFETQ1のソースは抵抗r2あるいはコンデンサ
C1を介して接地される。
【0045】このFETQ1のソースは出力コンデンサ
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
【0046】FETQ1のソースとバイアス用チョーク
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、PINダイオードD3 のカソード、
アノード、PINダイオードのアノード、カソード、可
変抵抗r6 、直流カットコンデンサC3 が接続されてい
る。つまり、PINダイオードD3とD4は互いに逆向
きに接続されている。
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、PINダイオードD3 のカソード、
アノード、PINダイオードのアノード、カソード、可
変抵抗r6 、直流カットコンデンサC3 が接続されてい
る。つまり、PINダイオードD3とD4は互いに逆向
きに接続されている。
【0047】また、PINダイオードD3のカソードと
直流カット用コンデンサC2 の接続点はチョッークコイ
ルL4 を介して接地されると共に、PINダイオードD
4のカソードと可変抵抗r6 との接続点はチョークコイ
ルL5 を介して接地される。
直流カット用コンデンサC2 の接続点はチョッークコイ
ルL4 を介して接地されると共に、PINダイオードD
4のカソードと可変抵抗r6 との接続点はチョークコイ
ルL5 を介して接地される。
【0048】さらに、PINダイオードD3とD4のそ
れぞれのアノードを接続する接続点にはバイアス用チョ
ークコイルL2 を介してゲイン制御用電源Vc が接続さ
れる。
れぞれのアノードを接続する接続点にはバイアス用チョ
ークコイルL2 を介してゲイン制御用電源Vc が接続さ
れる。
【0049】次に、上記のように構成された本発明の第
3実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11はPINダイオードD3のカソードーアノー
ド、PINダイオードD4のアノードーカソード、可変
抵抗r6 が直列接続された回路である。
3実施例の動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11はPINダイオードD3のカソードーアノー
ド、PINダイオードD4のアノードーカソード、可変
抵抗r6 が直列接続された回路である。
【0050】例えば、図1のアンプの周波数ーゲイン特
性が図3の実線で示すものである場合に、ゲート制御用
電源Vc を増加すると、図2に示すようにPINダイオ
ードD3,D4の抵抗Rs は下がるので、帰還抵抗部1
1を介しての帰還量は上がる。このため、ゲインGは破
線に示すように下がる。
性が図3の実線で示すものである場合に、ゲート制御用
電源Vc を増加すると、図2に示すようにPINダイオ
ードD3,D4の抵抗Rs は下がるので、帰還抵抗部1
1を介しての帰還量は上がる。このため、ゲインGは破
線に示すように下がる。
【0051】一方、ゲート制御用電源Vc を減少させる
と、図2に示すようにPINダイオードD3,D4の抵
抗Rs は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量
は下がる。このため、ゲインGは2点破線で示すように
上がる。
と、図2に示すようにPINダイオードD3,D4の抵
抗Rs は上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量
は下がる。このため、ゲインGは2点破線で示すように
上がる。
【0052】以上のようにして、ゲート制御用電源Vc
の大きさを制御することにより、図5のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
3,D4を用いて帰還量を制御しているので、広帯域で
ゲイン特性が良い高周波広帯域アンプを提供することが
できる。
の大きさを制御することにより、図5のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
3,D4を用いて帰還量を制御しているので、広帯域で
ゲイン特性が良い高周波広帯域アンプを提供することが
できる。
【0053】さらに、FETQ1は温度が上昇すると、
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD3,D4の温
度係数kt は正から負に変化する。このため、PINダ
イオードD3,D4に電流をゲート制御用電源Vc で制
御することにより、温度上昇とともに減少するドレイン
電流を打ち消すように、負の温度係数kt を設定するこ
とにより、図5のアンプの温度係数kt をゼロに近付け
ることができる。
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD3,D4の温
度係数kt は正から負に変化する。このため、PINダ
イオードD3,D4に電流をゲート制御用電源Vc で制
御することにより、温度上昇とともに減少するドレイン
電流を打ち消すように、負の温度係数kt を設定するこ
とにより、図5のアンプの温度係数kt をゼロに近付け
ることができる。
【0054】従来の技術では、アンプのゲインGの温度
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
【0055】また、PINダイオードD3,D4に流れ
る電流は大電流になると、図6(A)、図6(B)にな
るように歪んでくる。図6(A)はPINダイオードD
3,D4のうちの一方のダイオードに流れる電流を示
し、図6(B)は他方のダイオードに流れる電流を示し
ている。
る電流は大電流になると、図6(A)、図6(B)にな
るように歪んでくる。図6(A)はPINダイオードD
3,D4のうちの一方のダイオードに流れる電流を示
し、図6(B)は他方のダイオードに流れる電流を示し
ている。
【0056】つまり、帰還抵抗部11にPINダイオー
ドD3,D4を互いに極性が逆になるように設けている
ので、図6(A)と図6(B)の波形を積み重ねること
により、波形の歪みを低くすることができる。従って、
アンプの歪みを低くすることができる。
ドD3,D4を互いに極性が逆になるように設けている
ので、図6(A)と図6(B)の波形を積み重ねること
により、波形の歪みを低くすることができる。従って、
アンプの歪みを低くすることができる。
【0057】次に、本発明の第4実施例について図7を
参照して説明する。図7において、RFINは高周波信号が
入力される入力端子である。この入力端子RFINは結合コ
ンデンサCin、入力抵抗r1を介して接地される。この
結合コンデンサCinと入力抵抗r1との接続点aは電界
効果トランジスタ(以下、FETと称する)Q1のベー
スに接続される。このFETQ1のソースは抵抗r2あ
るいはコンデンサC1を介して接地される。
参照して説明する。図7において、RFINは高周波信号が
入力される入力端子である。この入力端子RFINは結合コ
ンデンサCin、入力抵抗r1を介して接地される。この
結合コンデンサCinと入力抵抗r1との接続点aは電界
効果トランジスタ(以下、FETと称する)Q1のベー
スに接続される。このFETQ1のソースは抵抗r2あ
るいはコンデンサC1を介して接地される。
【0058】このFETQ1のソースは出力コンデンサ
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
Cout を介して出力端子RFOUT に接続される。さらに、
FETQ1のソースはバイアス用チョークコイルL1 を
介してソース電源VDDに接続される。
【0059】FETQ1のソースとバイアス用チョーク
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、可変抵抗r7 、r8 、直流カット用
コンデンサC3 が接続されている。
コイルL1 との接続点をbとすると、この接続点bと接
続点aに亘って帰還抵抗部11が設けられている。つま
り、この帰還抵抗部11には接続点b側から直流カット
用コンデンサC2 、可変抵抗r7 、r8 、直流カット用
コンデンサC3 が接続されている。
【0060】また、可変抵抗r7 とr8 との接続点に
は、バイアス用チョークコイルL2 L2 、PINダイオ
ードD5のアノードーカソードを介してゲイン制御用電
源Vcが接続されている。このバイアス用チョークコイ
ルL2 とPINダイオードD5との接続点はコンデンサ
C4 を介して接地される。
は、バイアス用チョークコイルL2 L2 、PINダイオ
ードD5のアノードーカソードを介してゲイン制御用電
源Vcが接続されている。このバイアス用チョークコイ
ルL2 とPINダイオードD5との接続点はコンデンサ
C4 を介して接地される。
【0061】さらに可変抵抗r7 とr8 との接続点はP
INダイオードD6 のアノードーカソードを介して接地
される。
INダイオードD6 のアノードーカソードを介して接地
される。
【0062】次に、上記のように構成された本発明の第
4実施例に動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11には、可変抵抗r7 とr8 が直列に接続された
回路と、この抵抗r7とr8 との接続点からPINダイ
オードD6を介して接地される回路と、抵抗r6 とr7
との接続点からPINダイオードD5 のカソードーアノ
ードをかいしてコンプレッサC4 を介して接地される回
路が存在する。
4実施例に動作について説明する。まず、入力端子RFIN
から高周波信号が入力されると、その信号はFETQ1
により、増幅される。そして、FETQ1のドレイン側
の接続点bと接続点aとの電位差に応じて帰還抵抗部1
1を介して帰還電流が流れる。交流的に見ると、帰還抵
抗部11には、可変抵抗r7 とr8 が直列に接続された
回路と、この抵抗r7とr8 との接続点からPINダイ
オードD6を介して接地される回路と、抵抗r6 とr7
との接続点からPINダイオードD5 のカソードーアノ
ードをかいしてコンプレッサC4 を介して接地される回
路が存在する。
【0063】ゲート制御用電源Vc が増加した場合のア
ンプのゲインの動向は前述した第2実施例と同様であ
る。つまり、ゲート制御用電源Vcを増加すると、図2
に示すようにPINダイオードD5,D6の抵抗Rs は
下がるので、PINダイオードD5,D6を介して帰還
電流が多く流れるようになるため、帰還量が下がる。こ
のため、図1のアンプとは逆にゲインは上がる。
ンプのゲインの動向は前述した第2実施例と同様であ
る。つまり、ゲート制御用電源Vcを増加すると、図2
に示すようにPINダイオードD5,D6の抵抗Rs は
下がるので、PINダイオードD5,D6を介して帰還
電流が多く流れるようになるため、帰還量が下がる。こ
のため、図1のアンプとは逆にゲインは上がる。
【0064】一方、ゲート制御用電源Vc を減少させる
と、図2に示すようにPINダイオードD5,D6の抵
抗Rsは上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量
は上がる。このため、図1のアンプとは逆にゲインは下
がる。
と、図2に示すようにPINダイオードD5,D6の抵
抗Rsは上がるので、帰還抵抗部11を介しての帰還量
は上がる。このため、図1のアンプとは逆にゲインは下
がる。
【0065】以上のようにして、ゲート制御用電源Vc
の大きさを制御することにより、図7のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
5,D6を用いて帰還量を制御しているので、広帯域で
ゲイン特性が良い高周波広帯域アンプを提供することが
できる。
の大きさを制御することにより、図7のアンプのゲイン
を制御することができる。さらに、PINダイオードD
5,D6を用いて帰還量を制御しているので、広帯域で
ゲイン特性が良い高周波広帯域アンプを提供することが
できる。
【0066】さらに、FETQ1は温度が上昇すると、
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD5,D6の温
度係数kt は正から負に変化する。このため、PINダ
イオードD5,D6の電流をゲート制御用電源Vc で制
御することにより、温度上昇とともに減少するドレイン
電流を打ち消すように、負の温度係数kt を設定するこ
とにより、図7のアンプの温度係数kt をゼロに近付け
ることができる。
ドレイン電流が小さくなるので、ゲインGは下がろうと
する。また、PINダイオードは電流が小さい状態で
は、注入効率が大きいので、温度係数kt は正である。
しかし、電流が大きい状態では、格子散乱により抵抗が
増えるので、温度係数kt は負になる。つまり、電流が
増加していくうちに、PINダイオードD5,D6の温
度係数kt は正から負に変化する。このため、PINダ
イオードD5,D6の電流をゲート制御用電源Vc で制
御することにより、温度上昇とともに減少するドレイン
電流を打ち消すように、負の温度係数kt を設定するこ
とにより、図7のアンプの温度係数kt をゼロに近付け
ることができる。
【0067】従来の技術では、アンプのゲインGの温度
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
補償をVDDを供給する回路に温度補償回路を設けていた
が、本願発明によれば、そのような回路は不必要となる
ので、簡単な回路構成でアンプのゲインGの温度係数k
t をゼロにすることができる。
【0068】また、PINダイオードD5,D6に流れ
る電流は大電流になると、図6(A)、図6(B)にな
るように歪んでくる。図6(A)はPINダイオードD
5,D6のうちの一方のダイオードに流れる電流を示
し、図6(B)は他方のダイオードに流れる電流を示し
ている。
る電流は大電流になると、図6(A)、図6(B)にな
るように歪んでくる。図6(A)はPINダイオードD
5,D6のうちの一方のダイオードに流れる電流を示
し、図6(B)は他方のダイオードに流れる電流を示し
ている。
【0069】つまり、帰還抵抗部11にPINダイオー
ドD5,D6を互いに極性が逆になるように設けている
ので、図6(A)と図6(B)の波形を積み重ねること
により、波形の歪みを低くすることができる。従って、
アンプの歪みを低くすることができる。
ドD5,D6を互いに極性が逆になるように設けている
ので、図6(A)と図6(B)の波形を積み重ねること
により、波形の歪みを低くすることができる。従って、
アンプの歪みを低くすることができる。
【0070】なお、前述した図1,図4,図5,図7の
アンプは母体(図示しない)上に配設されている。
アンプは母体(図示しない)上に配設されている。
【0071】なお、上記各実施例のFETQ1として、
JFET,MESFET,MOSFETが挙げられる
が、バイポーラトランジスタであって良い。
JFET,MESFET,MOSFETが挙げられる
が、バイポーラトランジスタであって良い。
【0072】
【発明の効果】請求項1乃至3の各発明によれば、広帯
域でゲイン特性が良く、しかも外部から印加する電圧に
よりゲインを簡単に可変でき、しかも温度係数をゼロに
近付けることができる。
域でゲイン特性が良く、しかも外部から印加する電圧に
よりゲインを簡単に可変でき、しかも温度係数をゼロに
近付けることができる。
【0073】請求項4乃至6の各発明によれば、広帯域
でゲイン特性が良く、しかも外部から印加する電圧によ
りゲインを簡単に可変でき、しかも温度係数をゼロに近
付けることができ、歪みを低くすることができる。
でゲイン特性が良く、しかも外部から印加する電圧によ
りゲインを簡単に可変でき、しかも温度係数をゼロに近
付けることができ、歪みを低くすることができる。
【図1】本発明の第1実施例に係わる高周波広帯域アン
プの回路図。
プの回路図。
【図2】PINダイオードの電流i−抵抗Rs 特性図。
【図3】アンプの周波数f−ゲインG特性図。
【図4】本発明の第2実施例に係わる高周波広帯域アン
プの回路図。
プの回路図。
【図5】本発明の第3実施例に係わる高周波広帯域アン
プの回路図。
プの回路図。
【図6】PINダイオードに流れる電流波形図。
【図7】本発明の第4実施例に係わる高周波広帯域アン
プの回路図。
プの回路図。
11…帰還抵抗部 C1 ,C2 ,C3 ,Cin…コンデンサ L1 ,L2 ,L3 …チョークコイル Q2 …電界効果トランジスタ(FET) r2 …抵抗
Claims (6)
- 【請求項1】 高周波広帯域アンプの帰還抵抗部にPI
Nダイオードを配設しこれらのPINダイオードは順方
向にバイアスされていることを特徴とする高周波広帯域
アンプ。 - 【請求項2】 高周波信号が入力されるトランジスタ
と、 このトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗
部に設けられ、カソードがチョークコイル又は抵抗を介
して接地されているPINダイオードと、 このPINダイオードのアノードにチョークコイルを介
して接続されたゲイン制御用電源とを具備したことを特
徴とする高周波広帯域アンプ。 - 【請求項3】 高周波信号が入力されるトランジスタ
と、 このトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗
部から接地されたPINダイオードと、 このPINダイオードのアノードに供給されるゲイン制
御用電源とを具備したことを特徴とする高周波広帯域ア
ンプ。 - 【請求項4】 高周波信号が入力されるトランジスタ
と、 このトランジタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗部
に設けられ、互いのアノードが接続され、カソードがそ
れぞれチョークコイル又は抵抗を介して接地されている
2つのPINダイオードと、 PINダイオードの各アノードを接続する接続点にチョ
ークコイル又は抵抗を介して接続された制御用電源とを
具備したことを特徴とする高周波広帯域アンプ。 - 【請求項5】 高周波信号が入力されるトランジスタ
と、 このトランジスタの出力電圧を入力に帰還する帰還抵抗
部に設けられ、帰還抵抗部の中間位置から接地された第
1のPINダイオードと、 上記中間位置にカソードが接続され、そのアノードには
制御用電源が接続された第2のPINダイオードと、 この第2のPINダイオードのアノードを接地するコン
デンサとを具備したことを特徴とする高周波広帯域アン
プ。 - 【請求項6】 母体上に請求項1乃至5の高周波広帯域
アンプを設けたことを特徴とする高周波広帯域アンプ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7683495A JPH08274548A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 高周波広帯域アンプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7683495A JPH08274548A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 高周波広帯域アンプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08274548A true JPH08274548A (ja) | 1996-10-18 |
Family
ID=13616715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7683495A Abandoned JPH08274548A (ja) | 1995-03-31 | 1995-03-31 | 高周波広帯域アンプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08274548A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7248119B2 (en) | 2004-06-03 | 2007-07-24 | Alps Electric Co., Ltd. | Broadband amplifier with improved noise figure and distortion characteristics |
WO2007135622A1 (en) * | 2006-05-24 | 2007-11-29 | Nxp B.V. | Gain-controlled low noise amplifier means |
JP2017527229A (ja) * | 2014-09-15 | 2017-09-14 | クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated | プログラム可能な安定化ネットワーク |
-
1995
- 1995-03-31 JP JP7683495A patent/JPH08274548A/ja not_active Abandoned
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7248119B2 (en) | 2004-06-03 | 2007-07-24 | Alps Electric Co., Ltd. | Broadband amplifier with improved noise figure and distortion characteristics |
WO2007135622A1 (en) * | 2006-05-24 | 2007-11-29 | Nxp B.V. | Gain-controlled low noise amplifier means |
JP2017527229A (ja) * | 2014-09-15 | 2017-09-14 | クゥアルコム・インコーポレイテッドQualcomm Incorporated | プログラム可能な安定化ネットワーク |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A762 | Written abandonment of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A762 Effective date: 20040119 |