JPH08265325A - Atm connection test device - Google Patents

Atm connection test device

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JPH08265325A
JPH08265325A JP7060499A JP6049995A JPH08265325A JP H08265325 A JPH08265325 A JP H08265325A JP 7060499 A JP7060499 A JP 7060499A JP 6049995 A JP6049995 A JP 6049995A JP H08265325 A JPH08265325 A JP H08265325A
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JP
Japan
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atm
cell
unit
specific cell
atm connection
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Withdrawn
Application number
JP7060499A
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Japanese (ja)
Inventor
Nobuhiko Eguchi
信彦 江口
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH08265325A publication Critical patent/JPH08265325A/en
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Abstract

PURPOSE: To obtain an ATM connection test device capable of easily specifying a fault side of an ATM connection and easily confirming a test result. CONSTITUTION: Plural devices provided with parts (A)-(B) are provided in the midst of the ATM connection that is the communication path of an ATM cell, (A) an ATM cell input part 10 to which the ATM cell is inputted, (B) an ATM cell counter part 20 which counts valid ATM cell out of the ATM cells inputted to the ATM cell input part 10, and (C) a display part 30 which displays a value counted by the ATM cell counter part 20.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、ATMコネクション試
験装置に関し、特に、ATMコネクションの途中に複数
設けられ、ATMコネクションの導通・品質を試験する
装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an ATM connection testing device, and more particularly to a device provided in the middle of an ATM connection for testing continuity and quality of the ATM connection.

【0002】[0002]

【従来の技術】ATM交換機では、音声・画像・データ
等の通信メディアの種類によらず、全ての情報をATM
セルと呼ばれる固定長のブロックに入れて転送する。A
TMセルは、図2に示すように、ヘッダ部と情報フィー
ルド部(ペイロード部)とから構成されており、ヘッダ
部には、宛先を示す識別子VPI(Virtual Path Ident
ifier ;仮想パス識別子)及びVCI(Virtual Channe
l Identifier;仮想チャネル識別子)が格納されてい
る。そして、ATMセルは、これらVPI、VCIを基
に宛先へ転送される。
2. Description of the Related Art In an ATM switch, all information is transferred to an ATM regardless of the type of communication media such as voice, image and data.
It is transferred in fixed length blocks called cells. A
As shown in FIG. 2, the TM cell is composed of a header part and an information field part (payload part), and the header part has an identifier VPI (Virtual Path Ident) indicating a destination.
ifier; virtual path identifier) and VCI (Virtual Channe)
l Identifier; virtual channel identifier) is stored. Then, the ATM cell is transferred to the destination based on these VPI and VCI.

【0003】ところで、従来、ATM交換機におけるA
TMコネクションの導通または品質を試験するにあた
り、下記の2つの方法が行われている。第1の試験方法
は、試験装置から試験ルートに試験セルを流して試験す
る方法である。
By the way, conventionally, in A
The following two methods are used to test the continuity or quality of the TM connection. The first test method is a method in which a test cell is flowed from a test device to a test route for testing.

【0004】第2の試験方法は、OAM(Operation An
d Maintenance) セルのコネクション連続性チェック、
パフォーマンスモニタリングループバック等のOAM機
能を使用する方法である。
The second test method is OAM (Operation An
d Maintenance) Cell continuity check,
This is a method of using an OAM function such as performance monitoring loopback.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】前記第1の試験方法で
は、障害箇所を特定するのに複数回の試験を行わなけれ
ばならないことがある。例えば、図8に示す試験ルート
8、即ち、第1INF1Aから第1共通部2A、ATM
スイッチ4、第3共通部2C、LOOPパッケージ1
C、第3共通部2C、ATMスイッチ4、第2共通部2
Bを経て第2INF1Bに至るルートを試験するため、
図9に示すように、第2INF1Bから第1INF1A
に至るルート(ATMコネクション)の間に試験装置5
を設けたとする。
In the first test method, it may be necessary to perform the test a plurality of times to identify the location of the failure. For example, the test route 8 shown in FIG. 8, that is, the first INF 1A to the first common unit 2A, ATM
Switch 4, third common portion 2C, LOOP package 1
C, third common unit 2C, ATM switch 4, second common unit 2
To test the route through B to the second INF1B,
As shown in FIG. 9, the second INF 1B to the first INF 1A
Test device 5 during the route (ATM connection) to
Is provided.

【0006】ここで、ATMコネクション8に障害があ
ると断定された場合に、ルートのどこに障害があるかを
知るには、更に、図10に示すATMコネクション8A
と図11に示すATMコネクション8Bの二つの試験ル
ートを試験する必要がある。即ち、図9のATMコネク
ション8は、第1INF1AからLOOPパッケージ1
Cに至る第1ATMコネクション8AとLOOPパッケ
ージ1Cから第2INF1Bに至る第2ATMコネクシ
ョン8Bから構成されていると考えられるので、図10
に示す第1ATMコネクション8Aの試験を行うととも
に、図11に示す第2ATMコネクション8Bの試験を
行うのである。
When it is determined that the ATM connection 8 has a failure, in order to know where in the route there is a failure, the ATM connection 8A shown in FIG.
It is necessary to test two test routes of the ATM connection 8B shown in FIG. That is, the ATM connection 8 of FIG. 9 is from the first INF 1A to the LOOP package 1
It is considered that it is composed of the first ATM connection 8A reaching C and the second ATM connection 8B reaching the second INF 1B from the LOOP package 1C.
The first ATM connection 8A shown in FIG. 11 is tested, and the second ATM connection 8B shown in FIG. 11 is also tested.

【0007】なお、INFとは、各サービスに対応して
設計されたINterFace unitのことであり、個別にATM
セル処理を行う個別部の一つである。また、LOOPパ
ッケージとは、ATMセルをループさせる機能を持つパ
ッケージのことであり、INF同様、個別部の一つであ
る。
[0007] The INF is an INterFace unit designed for each service, and is individually ATM.
It is one of the individual units that perform cell processing. Further, the LOOP package is a package having a function of looping an ATM cell and is one of individual units like the INF.

【0008】次に、前記第2の試験方法では、OAMセ
ルを挿入・分離したりチェックしたりする機能を各中継
点又は各装置が持っていなければ、障害を切り分けられ
ない点が問題である。そして、そのようなOAMセル処
理機能を利用する場合のハードウェアはかなり大規模な
ものになると共に、そのような機能を各装置が持つこと
でコストアップになりやすい問題もある。
Next, the second test method has a problem that the failure cannot be isolated unless each relay point or each device has a function of inserting / separating or checking the OAM cell. . The hardware for using such an OAM cell processing function is considerably large-scaled, and each device has such a function, which causes a problem of cost increase.

【0009】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たもので、OAMセル処理機能を利用することなく、A
TMコネクションの障害箇所を容易に特定できると共
に、試験結果を容易に確認できるATMコネクション試
験装置を提供することを課題とする。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and it is possible to use the AAM without using the OAM cell processing function.
It is an object of the present invention to provide an ATM connection test device which can easily identify a failure location of a TM connection and can easily confirm a test result.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】[Means for Solving the Problems]

《本発明におけるATMコネクション試験装置の第1の
構成》本発明におけるATMコネクション試験装置は、
前述した課題を解決するため、ATMセルの通信パスで
あるATMコネクションの途中に複数設けられ、前記A
TMコネクションの導通・品質を試験する装置であっ
て、ATMセル入力部10、ATMセル計数部20及び
表示部30を必須構成要素として備えて構成されている
(請求項1に対応)。この構成を、以下、ATMコネク
ション試験装置の第1の構成と呼ぶ。図1は、本発明の
原理図である。
<< First Configuration of ATM Connection Testing Device According to the Present Invention >> The ATM connection testing device according to the present invention is
In order to solve the above-mentioned problems, a plurality of ATM cells are provided in the middle of an ATM connection which is a communication path of the ATM cell.
This is a device for testing the continuity and quality of a TM connection, and comprises an ATM cell input unit 10, an ATM cell counting unit 20, and a display unit 30 as essential components (corresponding to claim 1). Hereinafter, this configuration will be referred to as a first configuration of the ATM connection test apparatus. FIG. 1 is a principle diagram of the present invention.

【0011】(ATMセル入力部10)ATMセル入力
部10は、前記ATMセルを入力する。 (ATMセル計数部20)ATMセル計数部20は、前
記ATMセル入力部10に入力されたATMセルのう
ち、有効なATMセルを計数する。
(ATM Cell Input Unit 10) The ATM cell input unit 10 inputs the ATM cell. (ATM cell counting unit 20) The ATM cell counting unit 20 counts valid ATM cells among the ATM cells input to the ATM cell input unit 10.

【0012】(表示部30)表示部30は、前記ATM
セル計数部20で計数された値を表示する。この表示部
30は、例えば、CRTディスプレイ、LCDディスプ
レイ、プラズマディスプレイ等を利用することができ
る。また、表示方法としては、10進表示が好ましい
が、例えば16進表示や2進表示であっても構わない。
(Display unit 30) The display unit 30 is the ATM
The value counted by the cell counter 20 is displayed. As the display unit 30, for example, a CRT display, LCD display, plasma display or the like can be used. The display method is preferably decimal display, but may be hexadecimal display or binary display, for example.

【0013】次に、ATMコネクション試験装置の構成
を、下記の(イ)〜(ホ)のようにしても良い。 《本発明におけるATMコネクション試験装置の第2の
構成》 (イ)前記ATMセル計数部20が計数する計数値をク
リアする計数値クリア部40を設けることである(請求
項2に対応)。この構成を、以下、ATMコネクション
試験装置の第2の構成と呼ぶ。
Next, the structure of the ATM connection test apparatus may be configured as shown in (a) to (e) below. << Second Configuration of ATM Connection Testing Device in the Present Invention >> (a) A count value clearing unit 40 for clearing the count value counted by the ATM cell counting unit 20 is provided (corresponding to claim 2). Hereinafter, this configuration will be referred to as a second configuration of the ATM connection test apparatus.

【0014】《本発明におけるATMコネクション試験
装置の第3の構成》 (ロ)前記ATMセル計数部20は、有効なセルのう
ち、ヘッダ又はペイロードに格納されたデータが所定の
値となっているATMセルのみを計数することである
(請求項3に対応)。この構成を、以下、ATMコネク
ション試験装置の第3の構成と呼ぶ。
<< Third Configuration of ATM Connection Testing Device According to the Present Invention >> (b) In the ATM cell counter 20, the data stored in the header or the payload among the valid cells has a predetermined value. Counting only ATM cells (corresponding to claim 3). Hereinafter, this configuration will be referred to as a third configuration of the ATM connection test apparatus.

【0015】《本発明におけるATMコネクション試験
装置の第4の構成》 (ハ)前記ATMセル入力部10に入力されたATMセ
ルから特定のセルを検出する特定セル検出部50を設
け、この特定セル検出部50で特定セルが検出された場
合に、前記表示部30は、特定セルが通過したことを表
示することである(請求項4に対応)。この構成を、以
下、ATMコネクション試験装置の第4の構成と呼ぶ。
<< Fourth Configuration of ATM Connection Testing Device According to the Present Invention >> (C) A specific cell detection unit 50 for detecting a specific cell from the ATM cells input to the ATM cell input unit 10 is provided. When the detection unit 50 detects a specific cell, the display unit 30 displays that the specific cell has passed (corresponding to claim 4). Hereinafter, this configuration will be referred to as a fourth configuration of the ATM connection test apparatus.

【0016】《本発明におけるATMコネクション試験
装置の第5の構成》 (ニ)前記ATMセル入力部10に入力されたATMセ
ルから特定のセルを検出する特定セル検出部50を設
け、この特定セル検出部50で特定セルが検出された場
合に、前記ATMセル計数部20は、前記ATMセルの
計数を開始又は停止することである(請求項5に対
応)。この構成を、以下、ATMコネクション試験装置
の第5の構成と呼ぶ。
<Fifth Configuration of ATM Connection Testing Apparatus According to the Present Invention> (D) A specific cell detection unit 50 for detecting a specific cell from the ATM cells input to the ATM cell input unit 10 is provided, and this specific cell is provided. The ATM cell counting unit 20 starts or stops counting of the ATM cells when the detection unit 50 detects a specific cell (corresponding to claim 5). Hereinafter, this configuration will be referred to as a fifth configuration of the ATM connection test apparatus.

【0017】《本発明におけるATMコネクション試験
装置の第6の構成》 (ホ)前記ATMセル入力部10に入力されたATMセ
ルから特定のセルを検出する特定セル検出部50を設
け、この特定セル検出部50で特定セルが検出された場
合に、前記計数値クリア部40は、前記表示部30の表
示を止めることである(請求項6に対応)。この構成
を、以下、ATMコネクション試験装置の第6の構成と
呼ぶ。
<< Sixth Configuration of ATM Connection Testing Apparatus According to the Present Invention >> (e) A specific cell detecting section 50 for detecting a specific cell from the ATM cells input to the ATM cell input section 10 is provided, and this specific cell is provided. The count value clearing unit 40 stops the display of the display unit 30 when the detection unit 50 detects a specific cell (corresponding to claim 6). Hereinafter, this configuration will be referred to as a sixth configuration of the ATM connection test apparatus.

【0018】ここで、表示を止めるとは、表示されてい
る内容を保持することを意味する。この場合、ATMセ
ル計数部20は、カウント動作を止めていても良いし、
継続していても良い。
Here, to stop the display means to hold the displayed contents. In this case, the ATM cell counting section 20 may stop the counting operation,
You may continue.

【0019】《本発明におけるATMコネクション試験
装置の第7の構成》本発明におけるATMコネクション
試験装置は、ATMセル入力部10、ATMセル計数部
20及び表示部30を必須構成要素として備えて構成さ
れている(請求項7に対応)。この構成を、以下、AT
Mコネクション試験装置の第7の構成と呼ぶ。
<< Seventh Configuration of ATM Connection Testing Apparatus According to the Present Invention >> The ATM connection testing apparatus according to the present invention is configured to include an ATM cell input section 10, an ATM cell counting section 20, and a display section 30 as essential components. (Corresponding to claim 7). This configuration will be referred to as AT
This is called the seventh configuration of the M connection test apparatus.

【0020】(ATMセル入力部10)ATMセル入力
部10は、ATMセルの通信パスであるATMコネクシ
ョンの途中に複数設けられ、前記ATMセルを入力す
る。
(ATM Cell Input Unit 10) A plurality of ATM cell input units 10 are provided in the middle of an ATM connection which is a communication path of an ATM cell and inputs the ATM cell.

【0021】(ATMセル計数部20)ATMセル計数
部20は、前記ATMセル入力部10に入力されたAT
Mセルのうち、有効なATMセルを計数する。このAT
Mセル係数部20は、ATMセル入力部10が設けられ
る位置と同じ位置に配置しても良いし、あるいは、1カ
所にまとめて配置しても良い。
(ATM Cell Counting Unit 20) The ATM cell counting unit 20 uses the AT input to the ATM cell input unit 10.
Of the M cells, valid ATM cells are counted. This AT
The M cell coefficient unit 20 may be arranged at the same position as the position where the ATM cell input unit 10 is provided, or may be arranged all at once.

【0022】(表示部30)表示部30は、前記ATM
セル計数部20で計数された値を表示する。この表示部
30は、ATMセル入力部10が設けられる位置と同じ
位置に配置しても良いし、あるいは、1カ所にまとめて
配置しても良い。
(Display unit 30) The display unit 30 is the ATM.
The value counted by the cell counter 20 is displayed. The display unit 30 may be arranged at the same position as the position where the ATM cell input unit 10 is provided, or may be arranged all at once.

【0023】この表示部30は、例えば、CRTディス
プレイ、LCDディスプレイ、プラズマディスプレイ等
を利用することができる。また、表示方法としては、1
0進表示が好ましいが、例えば16進表示や2進表示で
あっても構わない。
As the display unit 30, for example, a CRT display, LCD display, plasma display or the like can be used. The display method is 1
The 0-base display is preferable, but hexadecimal display or binary display may be used, for example.

【0024】[0024]

【作用】本発明の第1から第7の構成のATMコネクシ
ョン試験装置によれば、ATMコネクションの複数箇所
に設けられたATMセル入力部10がATMセルを入力
する。入力されたATMセルのうち、有効なATMセル
がATMセル計数部20で計数されて、その計数値が表
示部30に表示される。この表示部30の表示値を比較
することで、ATMコネクションの導通・品質が試験さ
れる。
According to the ATM connection test apparatus having the first to seventh configurations of the present invention, the ATM cell input sections 10 provided at a plurality of positions of the ATM connection input ATM cells. Among the input ATM cells, valid ATM cells are counted by the ATM cell counting section 20, and the count value is displayed on the display section 30. By comparing the displayed values on the display unit 30, the continuity / quality of the ATM connection is tested.

【0025】特に、本発明の第4から第6の構成のAT
Mコネクション試験装置によれば、特定のセルを対象と
して、ATMコネクションの導通・品質の試験が行われ
る。また、本発明の第7の構成のATMコネクション試
験装置によれば、表示部30が一カ所にまとめて配置さ
れてもよいようになる。
In particular, the AT having the fourth to sixth configurations of the present invention
According to the M connection test apparatus, the ATM connection continuity / quality test is performed on a specific cell. Moreover, according to the ATM connection test apparatus of the seventh configuration of the present invention, the display units 30 may be collectively arranged at one place.

【0026】[0026]

【実施例】以下、本発明のATMコネクション試験装置
に関する実施例を図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT An embodiment relating to an ATM connection test apparatus of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0027】《本実施例の概要》本実施例では、ATM
交換機を経由して設定されるATMコネクションに試験
開始用の特定セルが流された場合に、前記ATMコネク
ションの導通・品質試験が開始する。その後、前記AT
Mコネクションの複数箇所で、ヘッダ又はペイロードの
データの一部が特定の値に設定された特定セルの数を計
数する。そして、前記ATMコネクションに試験終了用
の特定セルが流された場合に、前記ATMコネクション
の導通・品質試験が終了する。
<< Outline of this Embodiment >> In this embodiment, an ATM is used.
When a specific cell for starting a test is sent to the ATM connection set via the exchange, the continuity / quality test of the ATM connection is started. After that, the AT
The number of specific cells in which a part of the header or payload data is set to a specific value is counted at a plurality of locations of the M connection. Then, when a specific cell for ending the test is flown to the ATM connection, the continuity / quality test of the ATM connection is ended.

【0028】《実施例のシステム構成》図3は、本実施
例が適用されるATM交換機のシステム構成を示してい
る。同図に示すように、本実施例は、2系統(#0[現
用系]及び#1[予備系])のスイッチ4A・4Bに接
続される共通部2A〜2Dと、共通部2A・2Bに接続
される個別部(INF)1A・1B・1Cと、共通部2
C・2Dに接続される個別部(LOOPパッケージ)1
D・1E等を備えて構成されている。
<< System Configuration of Embodiment >> FIG. 3 shows the system configuration of an ATM exchange to which the present embodiment is applied. As shown in the figure, in this embodiment, common parts 2A to 2D and common parts 2A and 2B connected to switches 4A and 4B of two systems (# 0 [working system] and # 1 [standby system]). Individual parts (INF) 1A, 1B, 1C connected to the common part 2
Individual unit (LOOP package) 1 connected to C and 2D
It is configured with D.1E and the like.

【0029】そして、ここでは、個別部1Aから、順
に、共通部2A・2B→スイッチ4A・4B→共通部2
C・2D→個別部1D・1E→共通部2C・2D→スイ
ッチ4A・4B→共通部2A・2Bを経て、個別部1B
に至るルートを試験対象のATMコネクションとして説
明する。
Here, in order from the individual unit 1A, the common units 2A and 2B, the switches 4A and 4B, and the common unit 2 are sequentially arranged.
C ・ 2D → individual part 1D ・ 1E → common part 2C ・ 2D → switches 4A ・ 4B → common part 2A ・ 2B, then individual part 1B
The route leading to is described as an ATM connection to be tested.

【0030】ここで、個別部1及び共通部2は、本棚に
似た形状のフレーム(以下、シェルフという)に、パッ
ケージ形態で収容されている(図4及び図5参照)。そ
して、個別部1は、ATMコネクション試験装置を有す
るとともに、伝送系を介して送られてくる同期ディジタ
ルハイアラーキ(SDH)フォーマットを終端する機能
や、伝送路ドット誤りがATMセルヘッダの誤りとなっ
たことによるセル損失を低減するためにセルヘッダに書
き込まれたヘッダ誤り制御情報に基づいてセルの誤り制
御を行い、セルの同期検出を行う機能を有している。
Here, the individual unit 1 and the common unit 2 are housed in a package form in a frame (hereinafter referred to as a shelf) having a shape similar to a bookshelf (see FIGS. 4 and 5). The individual unit 1 has an ATM connection tester, has a function of terminating a synchronous digital hierarchy (SDH) format sent via a transmission system, and a transmission line dot error is an error of an ATM cell header. In order to reduce the cell loss due to the cell error control, the cell error control is performed based on the header error control information written in the cell header, and the cell synchronization detection is performed.

【0031】ここで、SDHフォーマットとは、伝送系
による多重化に際し、信号を効率よくかつ柔軟に伝送で
きるように伝送路の太さ(チャネル容量)を階層(数段
階)に分け、すなわち、物理レイアに分けたフォーマッ
トのことである。
Here, the SDH format means that the thickness (channel capacity) of the transmission path is divided into layers (several steps) so that signals can be efficiently and flexibly transmitted upon multiplexing by the transmission system, that is, physical. It is a format divided into layers.

【0032】一方、共通部2は、セルヘッダフォーマッ
トを図2に示す独自のフォーマットに変換する機能や、
個別部1から入力したセルを時分割多重化する一方、個
別部1にセルを分配する機能を有している。個別部1か
ら入力されたセルが共通部2に入力されると、ユーザ網
インタフェース(UNI:User-Network Interface)や
ネットワークノードインタフェース(NNI:Network
Node Interface)のATMセルフォーマットから図2に
示すATMセルフォーマットに変換される。図2におい
て、An(n:0〜53)は、先頭から何オクテット目
であるかをを示し、Dm(m:0〜7)は、同一オクテ
ット内のビット番号を示す。
On the other hand, the common unit 2 has a function of converting the cell header format into a unique format shown in FIG.
It has a function of time-division-multiplexing cells input from the individual unit 1 and distributing cells to the individual unit 1. When the cell input from the individual unit 1 is input to the common unit 2, a user network interface (UNI: User-Network Interface) or a network node interface (NNI: Network) is input.
The ATM cell format of the Node Interface) is converted to the ATM cell format shown in FIG. In FIG. 2, An (n: 0 to 53) indicates how many octets from the beginning, and Dm (m: 0 to 7) indicates bit numbers in the same octet.

【0033】なお、個別部1と共通部2のインタフェー
スは、各シェルフ共通であり、ATMセルは、上り・下
りそれぞれ、19.44 MHzのデータを8本並列に伝
送する仕組みになっている。
The interfaces of the individual unit 1 and the common unit 2 are common to the shelves, and the ATM cell has a mechanism for transmitting 8 lines of 19.44 MHz data in parallel for each of the uplink and downlink.

【0034】そして、信号CE、CF、クロックも8本
パラレルのセルデータと平行に伝送される。信号CE
は、セルイネーブル信号を意味し、ATMセルが有効な
場合に、図2に示すATMセルのA0〜A53の間
“0”となる。また、信号CFは、セルフレーム信号を
意味し、ATMセルの先頭を表す。つまり、図2に示す
ATMセルのA0で“0”となる。そして、信号クロッ
ク(19M)は、19.44MHz のクロックパルスを
表す。
The signals CE and CF and the clock are also transmitted in parallel with the eight parallel cell data. Signal CE
Means a cell enable signal, and is "0" between A0 to A53 of the ATM cell shown in FIG. 2 when the ATM cell is valid. Further, the signal CF means a cell frame signal and represents the beginning of the ATM cell. That is, A0 of the ATM cell shown in FIG. 2 becomes "0". The signal clock (19M) represents a clock pulse of 19.44 MHz.

【0035】<ATMコネクション試験装置の構成>図
6は、各個別部1A〜1Eの各々に内蔵されたATMコ
ネクション試験装置の構成ブロック図である。同図に示
すように、ATMコネクション試験装置は、VPI・V
CI照合値設定部61、VPI・VCI値抽出タイミン
グ生成部62、VPI・VCI値抽出部63、データ比
較部64、一致信号カウントタイミング生成部65、一
致回数カウント部66、特定セル検出部67及び表示部
30を備えて構成されている。
<Structure of ATM Connection Test Device> FIG. 6 is a block diagram of the structure of an ATM connection test device built in each of the individual units 1A to 1E. As shown in the figure, the ATM connection test device is
CI collation value setting unit 61, VPI / VCI value extraction timing generation unit 62, VPI / VCI value extraction unit 63, data comparison unit 64, match signal count timing generation unit 65, match number count unit 66, specific cell detection unit 67, and The display unit 30 is provided.

【0036】以下、構成要素を説明する。 (a)VPI・VCI照合値設定部61 VPI・VCI照合値設定部61は、照合したいVPI
値及びVCI値を設定する。設定されたVPI及びVC
Iの照合値は、22ビットのパラレルデータとしてデー
タ比較部64に出力される。
The components will be described below. (A) VPI / VCI collation value setting unit 61 The VPI / VCI collation value setting unit 61 determines the VPI to be collated.
Value and VCI value. Set VPI and VC
The I collation value is output to the data comparison unit 64 as 22-bit parallel data.

【0037】(b)VPI・VCI値抽出タイミング生
成部62 VPI・VCI値抽出タイミング生成部62は、個別部
1A〜1E外とのインタフェースを行う回路(図示略)
から信号CE、CF及び19Mを入力して、入力データ
のVPI値及びVCI値を抽出(レジスタへラッチ)す
るためのタイミング信号(VPI・VCIラッチ信号)
を生成する。生成されたVPI・VCIラッチ信号は、
VPI・VCI値抽出部63に出力される。
(B) VPI / VCI value extraction timing generation unit 62 The VPI / VCI value extraction timing generation unit 62 is a circuit (not shown) for interfacing with the outside of the individual units 1A to 1E.
Timing signals (VPI / VCI latch signal) for inputting the signals CE, CF and 19M from to extract the VPI value and VCI value of the input data (latch to the register)
Generate The generated VPI / VCI latch signal is
It is output to the VPI / VCI value extraction unit 63.

【0038】(c)VPI・VCI値抽出部63 VPI・VCI値抽出部63は、VPI・VCI値抽出
タイミング生成部62からのVPI・VCIラッチ信号
によって、個別部1A〜1E外とのインタフェースを行
う回路(図示略)から入力した入力データD7〜0のV
PI値及びVCI値を抽出(ラッチ)する。抽出された
VPI値及びVCI値は、22ビットのパラレルデータ
としてデータ比較部64に出力される。なお、抽出され
たVPI値及びVCI値が、実際のデータ中のVPI値
及びVCI値ということになる。
(C) VPI / VCI value extraction unit 63 The VPI / VCI value extraction unit 63 uses the VPI / VCI latch signal from the VPI / VCI value extraction timing generation unit 62 to interface with the outside of the individual units 1A to 1E. V of input data D7-0 input from a circuit (not shown)
The PI value and the VCI value are extracted (latched). The extracted VPI value and VCI value are output to the data comparison unit 64 as 22-bit parallel data. Note that the extracted VPI value and VCI value are the VPI value and VCI value in the actual data.

【0039】(d)データ比較部64 データ比較部64は、VPI・VCI照合値設定部61
からのVPI及びVCIの照合値とVPI・VCI値抽
出部63からのVPI値及びVCI値とを比較し、一致
した場合は、一致信号をイネーブルとする。即ち、予め
設定しておいたVPI及びVCIの照合値と実際の有効
セル中のVPI値及びVCI値が一致した時、一致信号
が有効となる。なお、一致信号は、一致回数カウント部
66に出力される。
(D) Data comparison unit 64 The data comparison unit 64 includes a VPI / VCI collation value setting unit 61.
The VPI and VCI collation values from the VPI and VCI values are compared with the VPI value and the VCI value from the VPI / VCI value extraction unit 63. If they match, the match signal is enabled. That is, when the preset VPI and VCI collation values and the actual VPI and VCI values in the valid cell match, the match signal becomes valid. The match signal is output to the match number counting unit 66.

【0040】(e)一致信号カウントタイミング生成部
65 一致信号カウントタイミング生成部65は、データ比較
部64から出力される一致信号を確定するためのタイミ
ング(カウントタイミング)を生成する。生成されたカ
ウントタイミングは、一致回数カウント部66に出力さ
れる。
(E) Match signal count timing generator 65 The match signal count timing generator 65 generates timing (count timing) for determining the match signal output from the data comparator 64. The generated count timing is output to the match count counting unit 66.

【0041】なお、一致信号の確定とは、有効セルの区
間内において、VPI・VCI値抽出部63でのVPI
値及びVCI値の抽出が完了し、かつ、その後にデータ
比較部64でのデータ比較も完了して、一致信号がイネ
ーブルかデイセーブルかが決定されたことをいう。この
ように一致信号カウントタイミング生成部65では、一
致しているかしていないかを判明したタイミングが生成
することになる。
Note that the determination of the coincidence signal means that the VPI / VCI value extraction unit 63 performs VPI in the valid cell section.
It means that the extraction of the value and the VCI value is completed, and then the data comparison in the data comparison unit 64 is also completed, and whether the match signal is enabled or disabled is determined. In this way, the coincidence signal count timing generation unit 65 generates the timing at which it is determined whether or not they coincide.

【0042】(f)一致回数カウント部66 一致回数カウント部66は、特定セル検出部67から一
致回数のカウントを開始又は停止する制御情報を入力す
る。
(F) Matching Count Counting Unit 66 The matching count counting unit 66 receives control information for starting or stopping counting of the matching count from the specific cell detection unit 67.

【0043】カウント開始を行う制御情報が入力された
場合には、それまでのカウント値をクリアして、一致信
号カウントタイミング生成部65から通知されたタイミ
ングの時に、データ比較部64からの一致信号がイネー
ブルであれば、実際のデータ中のVPI値及びVCI値
が照合値と一致していると判断して、その回数をカウン
トする。より詳しく述べると、一致信号カウントタイミ
ング生成部65からのカウントタイミング通知時に、一
致信号がイネーブルとなっていれば、カウント値を+1
だけ増加させる。一方、イネーブルでない場合、即ち、
一致していない場合には、カウント値を変化させない。
When the control information for starting the count is input, the count value up to that point is cleared, and at the timing notified by the match signal count timing generator 65, the match signal from the data comparator 64 is sent. Is enabled, it is determined that the VPI value and VCI value in the actual data match the collation value, and the number of times is counted. More specifically, if the match signal is enabled when the count timing is notified from the match signal count timing generation unit 65, the count value is incremented by +1.
Only increase. On the other hand, if it is not enabled, that is,
If they do not match, the count value is not changed.

【0044】一方、カウント停止を行う制御情報が入力
された場合には、一致回数のカウント値を保持する。な
お、一致回数を示すカウント値は、2進数のパラレルデ
ータで表示部30に出力される。
On the other hand, when the control information for stopping the count is input, the count value of the number of coincidences is held. The count value indicating the number of matches is output to the display unit 30 as binary parallel data.

【0045】(g)特定セル検出部67 特定セル検出部67は、個別部1A〜1E外とのインタ
フェースを行う回路(図示略)から入力した入力データ
D7〜0に基づいて、試験開始用と試験終了用の特定セ
ルを検出する。尚、ここでの特定セルとは、例えば、ペ
イロードタイプ(PT)が“001”や“002”等で
あるATMセルをいう。
(G) Specific cell detecting section 67 The specific cell detecting section 67 determines that the test is started based on input data D7-0 input from a circuit (not shown) for interfacing with the outside of the individual sections 1A-1E. Detect specific cells for test termination. The specific cell here means an ATM cell whose payload type (PT) is "001" or "002", for example.

【0046】まず、試験開始用の特定セルを検出した場
合には、一致回数カウント部66に対して、一致回数の
カウントを開始する制御情報を通知する。そして、試験
終了用の特定セルを検出した場合には、一致回数カウン
ト部66に対して、一致回数のカウントを停止する制御
情報を通知する。
First, when the specific cell for starting the test is detected, the coincidence count counting unit 66 is notified of the control information for starting the counting of the coincidence count. When the specific cell for ending the test is detected, the coincidence count counting unit 66 is notified of the control information for stopping the counting of the coincidence count.

【0047】更に、特定セルを検出した場合に、特定セ
ルが通過したことを表示部30に通知する。なお、本実
施例では試験開始用の特定セルと試験終了用の特定セル
とは異なるものを使用している、同一のものを使用して
も良い。即ち、そのような特定セルを1回目に受信した
場合に試験を開始し、2回目に受信した場合に試験を終
了する。
Further, when the specific cell is detected, the display unit 30 is notified that the specific cell has passed. In the present embodiment, the test starting specific cell and the test ending specific cell are different, but the same may be used. That is, the test is started when such a specific cell is received for the first time, and ended when it is received for the second time.

【0048】(h)表示部30 表示部30は、一致回数カウント部66から出力された
一致回数(カウント値)を、人に見えるように表示す
る。表示方法としては、二進数のパラレルデータを、L
ED又はランプでそのまま二進数表示したり、図示して
いないデコーダによって10進又は16進表示したりす
る。
(H) Display Unit 30 The display unit 30 displays the number of matches (count value) output from the match number counting unit 66 so that it can be seen by a person. As a display method, binary parallel data is
The ED or the lamp displays the binary number as it is, or the decoder (not shown) displays the decimal number or the hexadecimal number.

【0049】表示部30は、特定セル検出部66から、
試験開始用の特定セルを検出した旨の制御情報の通知を
受けた場合に、表示をクリアする。また、特定セル検出
部66から、試験終了用の特定セルを検出した旨の制御
情報の通知を受けた場合に、表示を止める(保持す
る)。
The display unit 30 receives from the specific cell detection unit 66,
The display is cleared when the control information indicating that the specific cell for starting the test is detected is received. Further, when the specific cell detection unit 66 receives a notification of the control information indicating that the specific cell for ending the test is received, the display is stopped (held).

【0050】<ATMコネクション試験装置の動作処理
>次に、図7を参照してATMコネクション試験装置の
動作処理を説明する。まず、処理ステップS701で
は、VPI・VCI照合値設定部61により、VPI及
びVCIの照合値が設定される。ここで、図示していな
いが、試験開始用の特定セルが流されてきて、ATMコ
ネクションの導通・品質試験が開始したものとする。
<Operation Processing of ATM Connection Testing Apparatus> Next, the operation processing of the ATM connection testing apparatus will be described with reference to FIG. First, in process step S701, the VPI / VCI collation value setting unit 61 sets collation values for VPI and VCI. Here, although not shown, it is assumed that a specific cell for starting a test is flowed and the ATM connection continuity / quality test is started.

【0051】次の処理ステップS702では、VPI・
VCI値抽出部62により、入力データからVPI値及
びVCI値が抽出される。そして、処理ステップS70
3では、データ比較部64により、S701で設定され
た照合値とS702で抽出された抽出値が比較される。
In the next processing step S702, VPI
The VCI value extraction unit 62 extracts the VPI value and the VCI value from the input data. Then, the processing step S70
In 3, the data comparison unit 64 compares the collation value set in S701 with the extracted value extracted in S702.

【0052】次に、照合値と抽出値が一致した場合、一
致回数カウント部66により、一致回数を示すカウント
値が+1増加される(処理ステップS704、S70
5)。一方、照合値と抽出値が一致していない場合、カ
ウント値は変化しない(処理ステップS704)。
Next, when the collation value and the extracted value match, the match count counting unit 66 increments the count value indicating the match count by +1 (processing steps S704 and S70).
5). On the other hand, if the collation value and the extracted value do not match, the count value does not change (processing step S704).

【0053】ここで、特定セルが受信されたか否かをチ
ェック(処理ステップS707)し、特定セルが受信さ
れていない場合には、処理ステップS702からの処理
を再度繰り返す。
Here, it is checked whether or not the specific cell is received (processing step S707). If the specific cell is not received, the processing from the processing step S702 is repeated again.

【0054】処理ステップS707で特定セルが受信さ
れたと判断された場合には、表示部30の表示を止める
(保持する)(処理ステップS708)。そして、試験
終了用の特定セルが流されてきた場合に、一致回数カウ
ント部66の計数値をクリアする(処理ステップS70
9)。
If it is determined in processing step S707 that the specific cell has been received, the display on the display unit 30 is stopped (held) (processing step S708). Then, when the specific cell for ending the test is flowed, the count value of the coincidence number counting unit 66 is cleared (processing step S70).
9).

【0055】<本実施例の作用・効果>本実施例によれ
ば、ATMコネクションの試験開始及び終了時に、試験
開始及び終了を示す特定セルが流される。そして、個別
部1A、個別部1D及び個別部1Bに設けられた3カ所
のATMコネクション試験装置の表示部30の表示数値
を比べることにより、ATMコネクション8の障害箇所
が特定される。例えば、個別部1Aの表示部30及び個
別部1Dの表示部30の表示数値がともに500で、個
別部1Bの表示部30の表示数値が498であれば、個
別部1Dから個別部1Bに至るルート中に障害箇所があ
ると特定される。同様に、個別部1Aの表示部30の表
示数値がともに500で、個別部1Dの表示部30及び
個別部1Bの表示部30の表示数値がともに498であ
れば、個別部1Aから個別部1Dに至るルート中に障害
箇所があると特定される。
<Operation / Effect of this Embodiment> According to this embodiment, a specific cell indicating the start and end of the test is flowed at the start and end of the ATM connection test. Then, the failure point of the ATM connection 8 is specified by comparing the numerical values displayed on the display sections 30 of the three ATM connection test apparatuses provided in the individual section 1A, the individual section 1D, and the individual section 1B. For example, if the display numerical values of the display unit 30 of the individual unit 1A and the display unit 30 of the individual unit 1D are both 500 and the display numerical value of the display unit 30 of the individual unit 1B is 498, the individual unit 1D to the individual unit 1B are reached. It is identified that there is an obstacle in the route. Similarly, if the display numerical values of the display unit 30 of the individual unit 1A are both 500 and the display numerical values of the display unit 30 of the individual unit 1D and the display unit 30 of the individual unit 1B are both 498, the individual units 1A to 1D are displayed. It is identified that there is an obstacle in the route leading to.

【0056】尚、表示部30の表示数値を比べずに、単
に特定セルが通過されたことを見るだけでも障害箇所の
特定は可能である。また、ATMコネクション試験装置
が設けられたATM交換機間のカウンタ値同士を比較す
ることによって、中継回線間を試験することも可能とな
る。
It should be noted that the failure location can be specified by simply looking at the passage of the specific cell without comparing the displayed values on the display unit 30. It is also possible to test between the trunk lines by comparing the counter values between the ATM exchanges provided with the ATM connection test device.

【0057】[0057]

【発明の効果】本発明の第1から第6の構成によるAT
Mコネクション試験装置によれば、ATMコネクション
の途中に設けられた複数の表示部のセル数を比較するこ
とで、OAMセル処理機能を利用することなく、ATM
コネクションの障害箇所を容易に特定することが可能と
なる。また、試験結果は、表示部に表示された数値の大
小を比較するだけでよいので、確認が容易である。
The AT according to the first to sixth configurations of the present invention
According to the M connection test apparatus, by comparing the numbers of cells of a plurality of display units provided in the middle of the ATM connection, the ATM connection processing function is not used and the ATM connection processing function is not used.
It is possible to easily identify the faulty part of the connection. Moreover, the test result can be easily confirmed because it is only necessary to compare the magnitude of the numerical values displayed on the display unit.

【0058】特に、第4から第6の構成によるATMコ
ネクション試験装置によれば、特定セル検出部を設けた
ため、特定のセルとATMコネクションの障害箇所との
因果関係が判明するようになる。
In particular, according to the ATM connection test apparatus having the fourth to sixth configurations, since the specific cell detecting unit is provided, the causal relationship between the specific cell and the fault location of the ATM connection can be clarified.

【0059】更に、本発明の第1から第6の構成による
ATMコネクション試験装置は、ハードウェアだけで構
成可能であるため、システム立ち上げ時の試験で特に有
効となる。
Furthermore, since the ATM connection test apparatus according to the first to sixth configurations of the present invention can be configured only by hardware, it is particularly effective in the test at the system startup.

【0060】一方、本発明の第7の構成によるATMコ
ネクション試験装置によれば、表示部が一カ所にまとめ
られるため、セル数が比較し易く、さらに、その比較結
果に基づいてOAMセル処理機能を利用することなく、
ATMコネクションの障害箇所を容易に特定することが
可能となる。また、試験結果は、表示部に表示された数
値の大小を比較するだけでよいので、確認が容易であ
る。
On the other hand, according to the ATM connection test apparatus of the seventh configuration of the present invention, since the display section is integrated in one place, it is easy to compare the number of cells, and the OAM cell processing function is based on the comparison result. Without using
It is possible to easily identify the faulty part of the ATM connection. Moreover, the test result can be easily confirmed because it is only necessary to compare the magnitude of the numerical values displayed on the display unit.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明のATMコネクション試験装置の原理図
である。
FIG. 1 is a principle diagram of an ATM connection test apparatus of the present invention.

【図2】ATMセルフォーマットを示す図である。FIG. 2 is a diagram showing an ATM cell format.

【図3】本実施例が適用されるATM交換機のシステム
構成図である。
FIG. 3 is a system configuration diagram of an ATM exchange to which this embodiment is applied.

【図4】実施例におけるシェルフの外観図である。FIG. 4 is an external view of a shelf in the example.

【図5】実施例のシェルフの正面図である。FIG. 5 is a front view of the shelf of the embodiment.

【図6】実施例のATMコネクション試験装置の構成ブ
ロック図である。
FIG. 6 is a configuration block diagram of an ATM connection test apparatus according to an embodiment.

【図7】実施例のATMコネクション試験装置の動作処
理フローである。
FIG. 7 is an operation processing flow of the ATM connection test apparatus of the embodiment.

【図8】ATMコネクションの試験ルートの一例を示す
図である。
FIG. 8 is a diagram showing an example of a test route of an ATM connection.

【図9】試験装置を用いる場合のATMコネクションの
試験ルートの一例を示す図である。
FIG. 9 is a diagram showing an example of an ATM connection test route when a test apparatus is used.

【図10】図9に示す試験ルートを分割した場合の試験
ルートを示す図(その1)である。
FIG. 10 is a diagram (No. 1) showing a test route when the test route shown in FIG. 9 is divided.

【図11】図9に示す試験ルートを分割した場合の試験
ルートを示す図(その2)である。
FIG. 11 is a diagram (No. 2) showing the test route when the test route shown in FIG. 9 is divided.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 個別部 2 共通部 4 ATMスイッチ 8 ATMコネクション 10 ATMセル入力部 20 ATMセル計数部 30 表示部 40 計数値クリア部 50 特定セル検出部 61 VPI・VCI照合値設定部 62 VPI・VCI値抽出タイミング生成部 63 VPI・VCI値抽出部 64 データ比較部 65 一致信号タイミング生成部 66 一致回数カウント部 67 特定セル検出部 1 Individual part 2 Common part 4 ATM switch 8 ATM connection 10 ATM cell input part 20 ATM cell counting part 30 Display part 40 Count value clearing part 50 Specific cell detecting part 61 VPI / VCI collation value setting part 62 VPI / VCI value extraction timing Generation unit 63 VPI / VCI value extraction unit 64 Data comparison unit 65 Matching signal timing generation unit 66 Matching frequency counting unit 67 Specific cell detection unit

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】ATMセルの通信パスであるATMコネク
ションの途中に複数設けられ、前記ATMコネクション
の導通・品質を試験するATMコネクション試験装置で
あって、 前記ATMセルを入力するATMセル入力部と、 前記ATMセル入力部に入力されたATMセルのうち、
有効なATMセルを計数するATMセル計数部と、 前記ATMセル計数部で計数された値を表示する表示部
とを備えたことを特徴とするATMコネクション試験装
置。
1. An ATM connection testing device, which is provided in the middle of an ATM connection which is a communication path of an ATM cell, for testing the continuity and quality of the ATM connection, comprising: an ATM cell input section for inputting the ATM cell. Among the ATM cells input to the ATM cell input section,
An ATM connection test apparatus comprising: an ATM cell counting section for counting valid ATM cells; and a display section for displaying a value counted by the ATM cell counting section.
【請求項2】前記ATMセル計数部が計数する計数値を
クリアする計数値クリア部を設けたことを特徴とする請
求項1に記載のATMコネクション試験装置。
2. The ATM connection test apparatus according to claim 1, further comprising a count value clearing unit for clearing a count value counted by the ATM cell counting unit.
【請求項3】前記ATMセル計数部は、有効なセルのう
ち、ヘッダ又はペイロードに格納されたデータが所定の
値となっているATMセルのみを計数することを特徴と
する請求項1または2に記載のATMコネクション試験
装置。
3. The ATM cell counting section counts only the ATM cells in which the data stored in the header or the payload has a predetermined value among the valid cells. ATM connection test device described in.
【請求項4】前記ATMセル入力部に入力されたATM
セルから特定のセルを検出する特定セル検出部を設け、
この特定セル検出部で特定セルが検出された場合に、前
記表示部は、特定セルが通過したことを表示することを
特徴とする請求項1に記載のATMコネクション試験装
置。
4. The ATM input to the ATM cell input section
Providing a specific cell detection unit that detects a specific cell from the cell,
The ATM connection test apparatus according to claim 1, wherein when the specific cell is detected by the specific cell detection unit, the display unit displays that the specific cell has passed.
【請求項5】前記ATMセル入力部に入力されたATM
セルから特定のセルを検出する特定セル検出部を設け、
この特定セル検出部で特定セルが検出された場合に、前
記ATMセル計数部は、前記ATMセルの計数を開始又
は停止することを特徴とする請求項1または2に記載の
ATMコネクション試験装置。
5. The ATM input to the ATM cell input section
Providing a specific cell detection unit that detects a specific cell from the cell,
3. The ATM connection test apparatus according to claim 1, wherein the ATM cell counting unit starts or stops counting of the ATM cells when a specific cell is detected by the specific cell detection unit.
【請求項6】前記ATMセル入力部に入力されたATM
セルから特定のセルを検出する特定セル検出部を設け、
この特定セル検出部で特定セルが検出された場合に、前
記計数値クリア部は、前記表示部の表示を止めることを
特徴とする請求項2に記載のATMコネクション試験装
置。
6. The ATM input to the ATM cell input section
Providing a specific cell detection unit that detects a specific cell from the cell,
The ATM connection test apparatus according to claim 2, wherein the count value clearing unit stops the display of the display unit when the specific cell is detected by the specific cell detecting unit.
【請求項7】ATMセルの通信パスであるATMコネク
ションの途中に複数設けられ、前記ATMセルを入力す
るATMセル入力部と、 前記ATMセル入力部に入力されたATMセルのうち、
有効なATMセルを計数するATMセル計数部と、 前記ATMセル計数部で計数された値を表示する表示部
とを備え、前記ATMコネクションの導通・品質を試験
することを特徴とするATMコネクション試験装置。
7. An ATM cell input section, which is provided in the middle of an ATM connection which is a communication path of an ATM cell, for inputting the ATM cell, and an ATM cell input to the ATM cell input section,
An ATM connection test, comprising: an ATM cell counter for counting valid ATM cells; and a display for displaying a value counted by the ATM cell counter, for testing continuity and quality of the ATM connection. apparatus.
JP7060499A 1995-03-20 1995-03-20 Atm connection test device Withdrawn JPH08265325A (en)

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JP7060499A JPH08265325A (en) 1995-03-20 1995-03-20 Atm connection test device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002533039A (en) * 1998-12-17 2002-10-02 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) Performance monitoring of multi-stage ATM node segments

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002533039A (en) * 1998-12-17 2002-10-02 テレフオンアクチーボラゲット エル エム エリクソン(パブル) Performance monitoring of multi-stage ATM node segments

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