JPH08264616A - Vacuum treating apparatus and wafer transfer apparatus in vacuum treating chamber - Google Patents

Vacuum treating apparatus and wafer transfer apparatus in vacuum treating chamber

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JPH08264616A
JPH08264616A JP7067368A JP6736895A JPH08264616A JP H08264616 A JPH08264616 A JP H08264616A JP 7067368 A JP7067368 A JP 7067368A JP 6736895 A JP6736895 A JP 6736895A JP H08264616 A JPH08264616 A JP H08264616A
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JP
Japan
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chamber
shaft
load lock
lock chamber
arm
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JP7067368A
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Japanese (ja)
Inventor
Tsutomu Hiroki
勤 広木
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Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Yamanashi Ltd
Original Assignee
Tokyo Electron Ltd
Tokyo Electron Yamanashi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE: To smoothly and effectively operate a drive mechanism for vertically moving or moving a plurality of materials to be treated in a hermetically sealed chamber. CONSTITUTION: A transfer apparatus has an elevating mechanism for elevating a buffer mechanism 5 containing a plurality of LCD substrates, disposes a transfer mechanism for taking out the LCD board from the mechanism 5 by a transfer arm and transferring it into a treating chamber in a load locking chamber, and provides a halogen lamp 39 for heating the ball screw shaft 22 and the guide shaft 25 of the elevating mechanism disposed in the locking chamber to remove the adhering matters on the surfaces of the shafts 22 and 25.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、液晶基板(LCD基
板)、半導体ウエハ等を製造する真空処理装置および基
板をロードロック室と処理チャンバとの間を搬送する基
板搬送装置に関および、基板をロードロック室と処理チ
ャンバと間を搬送する基板搬送装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a vacuum processing apparatus for manufacturing a liquid crystal substrate (LCD substrate), a semiconductor wafer, etc., and a substrate transfer apparatus for transferring a substrate between a load lock chamber and a processing chamber, and a substrate. The present invention relates to a substrate transfer device that transfers between a load lock chamber and a processing chamber.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、エッチング処理する装置はロード
ロック室内に備えられた基板搬送装置によって、隣接さ
れているLCD基板カセット室から枚葉式に取り出し、
ロードロック室内に収納し、ロードロック室内が負圧に
なるまで待機し、負圧になると処理チャンバ内に搬送す
る方式のもが一般的であった。これはLCD基板をLC
D基板カセット室から一枚づつ取り出す毎に、ロードロ
ック室内を負圧にしなければならず搬送時間の短縮がで
きなかった。そこで、複数の未処理LCD基板を一括し
てロードロック室内に設けたバッフア機構に収納した
後、バッフア機構内からLCD基板を枚葉式に取り出
し、処理チャンバに搬送させ処理する。処理後、再び上
記バッフア機構内の基の位置に戻す。次に、バッフア機
構内から未処理のLCD基板を取り出し、同様にして処
理チャンバに搬送させ処理し、これを何回も繰り返して
搬送時間を短縮させたエッチング処理装置がある。この
処理装置は既に特開平6−51260号公報に記載され
ている。また、上記ロードロック室内に処理チャンバと
からなるCVD装置が特開平2−132825号公報に
記載され、ロ−ドロック室内にランプヒ−タを設けたも
のが開示されている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a device for etching processing is taken out from an adjacent LCD substrate cassette chamber in a single-wafer manner by a substrate transfer device provided in a load lock chamber.
It is a general method to store the load lock chamber in a load lock chamber, wait until the load lock chamber has a negative pressure, and transfer the load lock chamber to the processing chamber when the pressure becomes negative. This is a LC substrate
Each time the D substrate cassette chamber was taken out one by one, a negative pressure was required in the load lock chamber, and the transfer time could not be shortened. Therefore, after a plurality of unprocessed LCD substrates are collectively stored in the buffer mechanism provided in the load lock chamber, the LCD substrates are taken out from the buffer mechanism in a single-wafer manner and transferred to the processing chamber for processing. After the processing, it is returned to the original position in the buffer mechanism. Next, there is an etching processing apparatus in which an unprocessed LCD substrate is taken out from the buffer mechanism, similarly transported to a processing chamber and processed, and this is repeated many times to shorten the transportation time. This processing device has already been described in JP-A-6-51260. Further, a CVD apparatus comprising a processing chamber in the load lock chamber is described in JP-A-2-132825, and a load lock chamber provided with a lamp heater is disclosed.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】従来、上記特開平6−
51260号公報の処理装置は、負圧状態の処理チャン
バに開閉機構を介してロードロック室が設けられてお
り、このロードロック室にはスループットを上げる為
に、複数のLCD基板を一時収納するバッファ機構とL
CD基板を処理チャンバ内に出し入れする搬送機構とが
設けられたものである。
Conventionally, the above-mentioned JP-A-6-
In the processing apparatus disclosed in Japanese Patent No. 51260, a load lock chamber is provided in a negative pressure processing chamber through an opening / closing mechanism, and a buffer temporarily storing a plurality of LCD substrates is provided in the load lock chamber in order to increase throughput. Mechanism and L
A transport mechanism for loading / unloading the CD substrate into / from the processing chamber is provided.

【0004】その動作はロードロック室のバッファ機構
のそれぞれの棚に複数の未処理LCD基板を収納した
後、枚葉式にLCD基板をバッファ機構から取り出し処
理チャンバに搬送させ処理をするようになっており、処
理済LCD基板を処理チャンバから上記バッファ機構内
の元の位置に戻すようにもなっている。
The operation is such that after storing a plurality of unprocessed LCD substrates in each shelf of the buffer mechanism of the load lock chamber, the LCD substrates are taken out from the buffer mechanism and transferred to the processing chamber in a single-wafer processing. Therefore, the processed LCD substrate is returned from the processing chamber to the original position in the buffer mechanism.

【0005】そして、他の未処理LCD基板を取り出し
処理チャンバに搬送させ順次処理している。この動作を
何回も繰り返すのである。この繰り返しで、例えば処理
チャンバ内のガス溜まり部に溜まった処理ガスが上記開
閉機構を開くことにより、処理チャンバ内からロードロ
ック室に侵入してしまう。
Then, another unprocessed LCD substrate is taken out and transferred to the processing chamber for sequential processing. This operation is repeated many times. By repeating this, for example, the processing gas accumulated in the gas reservoir in the processing chamber opens the opening / closing mechanism to enter the load lock chamber from the inside of the processing chamber.

【0006】また、ロードロック室に搬送された処理済
LCD基板から処理ガスがでている場合も考えられる。
このようにして、ロードロック室に侵入した残存処理ガ
スは、ロードロック室内の壁面とかロードロック室内に
内設されている金属部品とかに触れると、ロードロック
室内の雰囲気より金属部品の方が低温なので、溜まった
処理ガスは冷却されて、例えばCF4ガスがモノマーか
らポリマーになり真空中に浮遊できなくなり付着物とな
ってしまう。
It is also conceivable that processing gas may be emitted from the processed LCD substrate transferred to the load lock chamber.
In this way, when the residual processing gas that has entered the load lock chamber touches the wall surface inside the load lock chamber or the metal components inside the load lock chamber, the temperature of the metal components is lower than that of the atmosphere inside the load lock chamber. Therefore, the accumulated processing gas is cooled and, for example, CF4 gas becomes a polymer from a monomer and cannot be suspended in a vacuum and becomes an adhered substance.

【0007】この付着物は、例えばロードロック室内に
複数の被処理体を一時保持する昇降機構の駆動軸である
ボールネジまたは昇降機構の昇降をスムーズにするガイ
ド軸、例えばボールスプラインの表面に付着してしま
う。
This deposit adheres to, for example, a ball screw which is a drive shaft of an elevating mechanism for temporarily holding a plurality of objects to be processed in a load lock chamber or a guide shaft which smoothly elevates the elevating mechanism, for example, the surface of a ball spline. Will end up.

【0008】この付着した状態で、ボールネジ軸を回転
駆動させようとすると、ボールネジ軸に螺着されたボー
ルナットの内面の径は同じで、付着したボールネジ軸の
直径は付着物で太くなり、このままでボールナットを回
転させると回転が渋くなり停止してしまう。この停止に
より、バッファ機構の所定位置にある所定のLCD基板
を取り出そうとしても、基板搬送機構の搬送アームの高
さが定められており、この高さに上記所定のLCD基板
の位置にならないので、バッファ機構内から所定のLC
D基板の出し入れができなくなる。このような場合、こ
の処理装置を一時停止させて修理する必要がありスルー
プットの低下につながる欠点があった。
When the ball screw shaft is rotatably driven in this adhered state, the diameter of the inner surface of the ball nut screwed to the ball screw shaft is the same, and the diameter of the adhered ball screw shaft becomes thick due to the adhered substance. If you rotate the ball nut, the rotation will be slow and it will stop. Due to this stop, even if an attempt is made to take out a predetermined LCD board at a predetermined position of the buffer mechanism, the height of the transfer arm of the board transfer mechanism is set, and the predetermined LCD board is not at this height. , A predetermined LC from within the buffer mechanism
The D board cannot be taken in and out. In such a case, this processing device must be temporarily stopped and repaired, which has a drawback that throughput is lowered.

【0009】本発明は上記事情に着目してなされたもの
で、その目的とするところは、ロードロック室内の被処
理体を昇降または移動せるための上記駆動軸及びガイド
軸を予め加熱させ、付着しようとする付着物を昇華させ
ることにより、上記駆動軸及びガイド軸に付着しそうな
付着物を付着する前に除去し、被処理体の昇降または移
動が円滑且つ確実に行われる真空処理装置および真空処
理室内の基板搬送装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to preheat and attach the drive shaft and the guide shaft for moving up and down the object to be processed in the load lock chamber. By sublimating the deposit to be removed, the deposit likely to be attached to the drive shaft and the guide shaft is removed before the attachment, and the object to be processed is smoothly moved up and down or moved smoothly and reliably. An object is to provide a substrate transfer device in a processing chamber.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】本発明は上記目的を達成
するために、請求項1は処理ガスが流入される気密なチ
ャンバに昇降機構または移動機構を設けた真空処理装置
において、上記負圧室に昇降機構または移動機構の駆動
軸を加熱させる加熱手段を設けたことにある。
In order to achieve the above object, the present invention provides a vacuum processing apparatus in which an elevating mechanism or a moving mechanism is provided in an airtight chamber into which a processing gas is introduced. The chamber is provided with heating means for heating the drive shaft of the lifting mechanism or the moving mechanism.

【0011】請求項2は複数の被処理体が収納されるバ
ッファ機構を昇降させる昇降機構と、このバッファから
被処理体を搬送機構で取り出し、処理チャンバ内に搬送
する搬送機構とをロードロック室に配置した搬送装置に
おいて、上記ロードロック室に昇降機構または移動機構
の駆動軸を加熱させる加熱手段を設けたことにある。
According to a second aspect of the present invention, the load lock chamber includes an elevating mechanism for elevating and lowering a buffer mechanism for accommodating a plurality of objects to be processed, and a transfer mechanism for taking out the objects to be processed from the buffer by the transfer mechanism and transferring them into the processing chamber. In the transfer device arranged in (1), the load lock chamber is provided with heating means for heating the drive shaft of the elevating mechanism or the moving mechanism.

【0012】請求項3は複数の被処理体が収納されるバ
ッファ機構をほぼ平面方向に移動させる移動機構と、こ
のバッファ機構から被処理体を搬送機構で取り出し、処
理チャンバ内に搬送する搬送機構とをロードロック室に
配置した搬送装置において、上記ロードロック室に移動
機構の駆動軸またはガイド軸を加熱させるための加熱手
段を設けたことにある。請求項4は上記駆動軸はボール
ネジ軸であることにある。
According to a third aspect of the present invention, there is provided a moving mechanism for moving a buffer mechanism accommodating a plurality of objects to be processed in a substantially planar direction, and a transfer mechanism for taking out the objects to be processed from the buffer mechanism and transferring them into the processing chamber. In the transfer device in which and are arranged in the load lock chamber, the load lock chamber is provided with heating means for heating the drive shaft or the guide shaft of the moving mechanism. According to claim 4, the drive shaft is a ball screw shaft.

【0013】請求項5は上記ガイド軸はスプライン軸で
あることにある。請求項6は上記加熱手段は加熱ランプ
であることにある。請求項7は上記加熱ランプはハロゲ
ンランプであることにある。
The fifth aspect is that the guide shaft is a spline shaft. Claim 6 is that the heating means is a heating lamp. Claim 7 is that the heating lamp is a halogen lamp.

【0014】[0014]

【作用】処理ガスが所定以下の温度でポリマー状態とな
り、駆動軸の表面及びガイド軸の表面等に付着すること
を駆動軸およびガイド軸を加熱することにより抑制する
ことができる。
By heating the driving shaft and the guide shaft, it is possible to prevent the processing gas from becoming a polymer at a temperature below a predetermined temperature and adhering to the surface of the driving shaft and the surface of the guide shaft.

【0015】[0015]

【実施例】以下、本発明を液晶基板のエッチング装置に
適応した一実施例を図面に基づいて説明する。上記エッ
チング装置は、図4に示すように、被処理体をエッチン
グ処理する例えば第1、第2、第3処理チャンバ1a、
1b、1cと、開閉機構を介して気密に接続されている
例えばロードロック室2とから構成されている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment in which the present invention is applied to a liquid crystal substrate etching apparatus will be described below with reference to the drawings. As shown in FIG. 4, the above-mentioned etching apparatus is, for example, a first, a second, and a third processing chambers 1a for etching a target object.
1b and 1c and, for example, a load lock chamber 2 that is hermetically connected via an opening / closing mechanism.

【0016】上記ロードロック室2の、例えば三側面に
は各々上記第1、第2、第3処理チャンバ1a、1b、
1cが互いに密封するように配置され、上記ロードロッ
ク室2とそれぞれの処理チャンバ1a、1b、1cとが
開閉機構(図示せず)を介して設けられている。そし
て、この開閉機構(図示せず)は上記第1、第2、第3
処理チャンバ1a、1b、1cと上記ロードロック室2
との圧力値がそれぞれ負圧の状態で開閉可能になってい
る。
For example, on the three side surfaces of the load lock chamber 2, the first, second and third processing chambers 1a, 1b,
1 c are arranged so as to seal each other, and the load lock chamber 2 and the respective processing chambers 1 a, 1 b, 1 c are provided via an opening / closing mechanism (not shown). The opening / closing mechanism (not shown) is used for the first, second and third
The processing chambers 1a, 1b, 1c and the load lock chamber 2
It can be opened and closed under negative pressure.

【0017】上記ロードロック室2内には被処理体であ
る液晶基板(以降LCD基板と言う)3を所定の位置に
搬送させる搬送アーム4c〜4eを有する搬送機構4
と、この搬送アーム4c〜4eで搬送したLCD基板3
を一時的に保持するバッファ機構5と、上記搬送機構4
および上記バッファ機構5を対向させて固定した回転台
6とが設けられている。
In the load lock chamber 2, a transfer mechanism 4 having transfer arms 4c to 4e for transferring a liquid crystal substrate (hereinafter referred to as an LCD substrate) 3 which is an object to be processed to a predetermined position.
And the LCD substrate 3 transported by the transport arms 4c to 4e.
Buffer mechanism 5 for temporarily holding
Further, there is provided a rotary table 6 on which the buffer mechanism 5 is opposed and fixed.

【0018】この回転台6の回転軸の外周には粘着磁性
流体(図示せず)が上記ロードロック室2の底壁面に介
在して設けられ、上記回転軸と上記ロードロック室2と
の取付部を回転時も含み大気から気密に保持する構造に
なっている。ここで、上記バッファ機構5について説明
する。このバッファ機構5は、例えば所定間隔で多段的
に複数のLCD基板を保持する構造になっている。
An adhesive magnetic fluid (not shown) is provided on the outer periphery of the rotary shaft of the rotary table 6 so as to intervene on the bottom wall surface of the load lock chamber 2, and the rotary shaft and the load lock chamber 2 are attached to each other. It has a structure that keeps the part airtight, including during rotation. Here, the buffer mechanism 5 will be described. The buffer mechanism 5 has a structure for holding a plurality of LCD substrates in multiple stages at predetermined intervals, for example.

【0019】上記ロードロック室2の底壁面に設けられ
た上記回転台6の先端(回転軸中心から離れた位置)に
は搬送機構4のアーム軸(図3中4b)を有した支柱4
aが垂直に固定されている。また、上記回転台6の他端
(例えば、上記先端と回転中心を通る直線上で、回転中
心に対して対称位置の点)の位置に上記バッファ機構5
が配置されている。上記支柱4aと上記バッファ機構5
との配置を保った状態で回転台6が予め定められたプロ
グラムで回転し、上記回転台6の支柱4aを例えば第1
処理チャンバ1aの開閉機構の出入口前の予め定められ
た搬入位置に設け、未処理のLCD基板3をバッファ機
構5から搬送アーム4c〜4eにより取り出し処理チャ
ンバ1a内に搬入するようになっている。
The column 4 having the arm shaft (4b in FIG. 3) of the transfer mechanism 4 at the tip of the rotary table 6 provided at the bottom wall surface of the load lock chamber 2 (position away from the center of the rotary shaft).
a is fixed vertically. Further, the buffer mechanism 5 is located at a position of the other end of the turntable 6 (for example, a point symmetrical with respect to the rotation center on a straight line passing through the tip and the rotation center).
Is arranged. The column 4a and the buffer mechanism 5
The rotary table 6 is rotated by a predetermined program in a state where the arrangement of
The processing chamber 1a is provided at a predetermined carry-in position before the entrance / exit of the opening / closing mechanism, and the unprocessed LCD substrate 3 is taken out from the buffer mechanism 5 by the carrying arms 4c to 4e into the processing chamber 1a.

【0020】上記回転台6の支柱4aに設けられた搬送
アーム4c〜4eの構造は特開平5ー90381号公報
に開示されているものであるから簡単に説明する。上記
基板搬送アーム4c〜4eは、図3に示すように、上記
回転台6に設けた支柱4aと、この支柱4aに内設され
たアーム軸4bと、このアーム軸4bと連結された第1
アーム4cと、この第1アーム4cに連接された第2ア
ーム4dと、この第2アーム4dに連接された第3アー
ム4eと、上記アーム軸4bに連結されたギャ4fとか
ら構成されている。そして、上記支柱4aに内設された
アーム軸4bの上端には第1アーム4cの基端が固定さ
れ、下端にはギャ4fが嵌合されている。上記第1アー
ム4cの先端には第2アーム4dの基端が連結されてい
る。
The structure of the transfer arms 4c to 4e provided on the support column 4a of the rotary table 6 is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-90381, and therefore will be briefly described. As shown in FIG. 3, each of the substrate transfer arms 4c to 4e has a support column 4a provided on the rotary table 6, an arm shaft 4b provided in the support column 4a, and a first support shaft 4b connected to the support shaft 4b.
The arm 4c includes a second arm 4d connected to the first arm 4c, a third arm 4e connected to the second arm 4d, and a gear 4f connected to the arm shaft 4b. . The base end of the first arm 4c is fixed to the upper end of the arm shaft 4b provided in the support column 4a, and the gear 4f is fitted to the lower end. The base end of the second arm 4d is connected to the tip of the first arm 4c.

【0021】また、第1アーム4cと第2アーム4dの
関節部4gおよび第2アーム4dと第3アーム4eの第
2アーム4dの関節部4hにはギャ(図示せず)が内蔵
され、このギャの軸架されたタイミングベルトの駆動で
ギャを回転させ、搬送アーム4c〜4eを伸縮できるよ
うになっている。また、第3アーム4eの先端部でLC
D基板3を載置するようになっている。従って、第3ア
ーム4eに載置されたLCD基板3は、第1アーム4
c、第2アーム4dおよび第3アーム4eが収縮する方
向に移動回転した後、アーム軸4bを回転させ、第1ア
ーム4c、第2アーム4d、第3アーム4eを伸縮作用
させ、バッファ機構5にLCD基板3を搬入搬出可能な
っている。
A gear (not shown) is built in the joint portion 4g of the first arm 4c and the second arm 4d and the joint portion 4h of the second arm 4d of the second arm 4d and the third arm 4e. The gears are rotated by driving the timing belt on which the gears are suspended, so that the transfer arms 4c to 4e can be expanded and contracted. In addition, at the tip of the third arm 4e, LC
The D board 3 is mounted. Therefore, the LCD substrate 3 placed on the third arm 4e is
c, the second arm 4d and the third arm 4e are moved and rotated in a contracting direction, and then the arm shaft 4b is rotated to extend and contract the first arm 4c, the second arm 4d, and the third arm 4e, and the buffer mechanism 5 The LCD substrate 3 can be carried in and out.

【0022】上記バッファ機構5は、処理前後のLCD
基板3を一時的に保持するためのもので、上記バッファ
基台5aと、保持受棚5bと、基板係止台5iと、スペ
ーサ5cと、熱保温部材としてのヒートプレート5dと
から構成されている。上記バッファ基台5aには複数、
例えば4つの保持受棚、つまり第1、第2、第3、第4
の保持受棚5bが所定に間隔で列状に設けられている。
The buffer mechanism 5 is an LCD before and after processing.
It is for temporarily holding the substrate 3, and is composed of the buffer base 5a, a holding shelf 5b, a substrate locking base 5i, a spacer 5c, and a heat plate 5d as a heat insulating member. There is. A plurality of buffer bases 5a,
For example, four holding racks, that is, first, second, third, fourth
The holding receiving shelves 5b are provided in rows at predetermined intervals.

【0023】更に、基板係止部5iがそれぞれの保持受
棚5b間に設けられ、例えば4段の棚状構造になってい
る。この棚状構造の保持受棚5bは上記バッファ基台5
aの3辺にそれぞれ独立して固定されている。更に、上
記バッファ基台5aの裏面には、表面を黒くしたヒート
プレート5dがスペーサ5cを介して取り付けられてい
る。
Further, the board engaging portions 5i are provided between the holding receiving shelves 5b to form, for example, a four-tiered shelf-like structure. This shelf-shaped holding shelf 5b is the buffer base 5 described above.
It is independently fixed to the three sides of a. Further, a heat plate 5d having a black surface is attached to the back surface of the buffer base 5a via a spacer 5c.

【0024】上述したバッファ機構5には、これを昇降
させる昇降機構7に支持されている。次に、昇降機構7
について説明すると、上記ロードロック室2の底板2a
には開口穴が設けられている。この開口穴には底板2a
の上面に突出する環状の回転体9が回転自在に嵌合され
ている。そして、この回転体9には上記回転台6の基端
が固定され、回転台6は回転体9と一体に回転するよう
になっている。
The buffer mechanism 5 described above is supported by an elevating mechanism 7 for elevating the buffer mechanism 5. Next, the lifting mechanism 7
The bottom plate 2a of the load lock chamber 2 will be described.
An opening hole is provided in the. The bottom plate 2a is placed in this opening hole.
An annular rotating body 9 projecting from the upper surface of is rotatably fitted. The base end of the rotary table 6 is fixed to the rotary body 9, and the rotary table 6 rotates together with the rotary body 9.

【0025】また、上記底板2aの下部には開口穴8と
同軸的に円筒状のハウジング10が突設されている。ハ
ウジング10の内部には内筒11と外筒12とからなる
回転筒体13が回転自在に挿入されており、上記内筒1
1の上端部が上記回転台6の下面に固定されている。
Further, a cylindrical housing 10 is provided so as to project coaxially with the opening 8 at the bottom of the bottom plate 2a. A rotary cylinder 13 composed of an inner cylinder 11 and an outer cylinder 12 is rotatably inserted into the housing 10, and the inner cylinder 1
The upper end of 1 is fixed to the lower surface of the rotary table 6.

【0026】上記外筒12の下端部にはタイミングギャ
14が軸着されており、このタイミングギャ14にはタ
イミングベルト15を介して第1モータ16のタイミン
グギャ17と連動している。そして、第1モータ16の
回転によって、タイミングギャ17、タイミングベルト
15、タイミングギャ14の順に動力を伝達させ、回転
体筒13を介して回転台6を回転させるようになってい
る。
A timing gear 14 is attached to the lower end of the outer cylinder 12, and the timing gear 14 is interlocked with a timing gear 17 of a first motor 16 via a timing belt 15. Then, by the rotation of the first motor 16, power is transmitted in the order of the timing gear 17, the timing belt 15, and the timing gear 14, and the rotary base 6 is rotated via the rotary body cylinder 13.

【0027】また、回転筒体13の内部には上下方向に
亘って中空状の回転シャフト18が軸受19によって軸
支されている。この回転シャフト18の下端部は回転筒
体13の下部に固定された第2モータ20と直結されて
いる。更に、回転シャフト18の上端部は上記回転台6
に回転自在に軸支されたボールナット21と連結されて
おり、このボールナット21には駆動軸としてのボール
ネジ軸22が螺合されている。
A hollow rotary shaft 18 is axially supported inside the rotary cylinder 13 by a bearing 19 in the vertical direction. The lower end of the rotary shaft 18 is directly connected to the second motor 20 fixed to the lower part of the rotary cylinder 13. Further, the upper end portion of the rotary shaft 18 has the rotary base 6
Is connected to a ball nut 21 which is rotatably supported by a ball screw 21, and a ball screw shaft 22 as a drive shaft is screwed into the ball nut 21.

【0028】このボールネジ軸22の上端にはフランジ
部23が設けられ、このフランジ部23は上記バッファ
機構5のヒートプレート5dに連結され、ボールネジ軸
22の下部端は上述した回転シャフト18に挿入されて
いる。
A flange portion 23 is provided at the upper end of the ball screw shaft 22, the flange portion 23 is connected to the heat plate 5d of the buffer mechanism 5, and the lower end of the ball screw shaft 22 is inserted into the rotary shaft 18 described above. ing.

【0029】上記回転シャフト18と平行に回転筒体1
3の内部には上下方向に亘って複数のガイド穴23aが
設けられている。これらガイド穴23aにはガイド筒2
4が固定されている。このガイド筒24にはガイド軸2
5が軸方向に摺動自在に挿入されており、この上端部は
フランジ部26を介して上記バッファ機構5のヒートプ
レート5dに連結されている。そして、第2モータ20
の回転によって回転シャフト18を介してボールナット
21を回転させ、このボールナット21の回転によって
ボールネジ軸22を軸方向に移動させてバッファ機構5
を昇降させるようになっている。この時、ガイド軸25
はガイド筒24の内部で摺動するようにしてガイドし、
バッファ機構5の水平状態を保ち昇降するようになって
いる。
The rotary cylinder 1 is parallel to the rotary shaft 18.
A plurality of guide holes 23a are provided in the inside of 3 along the vertical direction. The guide tube 2 is inserted in these guide holes 23a.
4 is fixed. This guide cylinder 24 has a guide shaft 2
5 is slidably inserted in the axial direction, and its upper end is connected to the heat plate 5d of the buffer mechanism 5 via the flange 26. Then, the second motor 20
Rotation of the ball nut 21 via the rotary shaft 18 causes the rotation of the ball nut 21 to move the ball screw shaft 22 in the axial direction.
Is designed to be raised and lowered. At this time, the guide shaft 25
Guides by sliding inside the guide tube 24,
The buffer mechanism 5 can be raised and lowered while maintaining the horizontal state.

【0030】更に、上記回転シャフト18およびガイド
穴23と平行に上記回転筒体13の内部には上下方向に
亘って貫通穴27が設けられている。この貫通穴27の
内部には上下両端部が軸受28によって回転自在に軸支
された回転軸29が設けられている。
Further, a through hole 27 is provided in the rotary cylinder 13 in parallel with the rotary shaft 18 and the guide hole 23 in the vertical direction. Inside the through hole 27, there are provided rotating shafts 29 whose upper and lower ends are rotatably supported by bearings 28.

【0031】この回転軸29の下端部は回転筒体13の
下部に固定された第3モータ30と連結されている。更
に、回転軸29の上端部には第2ギャ31が螺着され、
この第2ギャ31は上記回転台6の内部の空洞部32に
収納されている。そして、この第2ギャ31はタイミン
グベルト33を介して上記搬送アーム4を構成する第1
ギャ4fと連動している。
The lower end of the rotary shaft 29 is connected to a third motor 30 fixed to the lower part of the rotary cylinder 13. Further, the second gear 31 is screwed to the upper end of the rotary shaft 29,
The second gear 31 is housed in the cavity 32 inside the rotary table 6. The second gear 31 forms the first arm constituting the transfer arm 4 via the timing belt 33.
It is interlocked with Ga 4f.

【0032】また、上記回転台6の上面には昇降機構の
一部であるボールネジ軸22と離間し、且つ隣合う一対
のガイド軸25相互間には加熱手段である一対の加熱ユ
ニット34が設けられている。この一対の加熱ユニット
34はそれぞれ同じ構造であるため、一方について説明
すると、図2に示すように、一対のガイド軸25のハウ
ジング35間を連結する熱伝導部材36が設けられてい
る。この熱伝導部材36は熱伝導の高いアルミニウムま
たは銅の材質が好ましく、その長手方向の中間部付近に
はランプハウジング37がボルト(図示せず)によって
固定されている。このランプハウジング37の内部には
ソケット38が上向きに設けられ、このソケット38に
は加熱ランプとしてのハロゲンランプ39が着脱可能に
装着されている。
A pair of heating units 34, which are heating means, are provided on the upper surface of the rotary table 6 so as to be separated from the ball screw shaft 22 which is a part of the elevating mechanism and between the pair of adjacent guide shafts 25. Has been. Since the pair of heating units 34 have the same structure, a description will be given to one of them, and as shown in FIG. 2, a heat conduction member 36 that connects the housings 35 of the pair of guide shafts 25 is provided. The heat conducting member 36 is preferably made of aluminum or copper having a high heat conducting property, and a lamp housing 37 is fixed by bolts (not shown) in the vicinity of an intermediate portion in the longitudinal direction thereof. A socket 38 is provided inside the lamp housing 37 so as to face upward, and a halogen lamp 39 as a heating lamp is detachably attached to the socket 38.

【0033】上記ランプハウジング37の内部にはハロ
ゲンランプ39から発生する照射光を上方のバッファ機
構5に設けたヒートプレート5dに向かって照射するた
めの反射ミラー40が設けられている。更に、ランプハ
ウジング37の上端開口部はカバーガラス41によって
閉塞され、このカバーガラス41は上記ランプハウジン
グ37に対して螺合された締め付けリング42によって
固定されている。
Inside the lamp housing 37, there is provided a reflection mirror 40 for irradiating the irradiation light generated from the halogen lamp 39 toward the heat plate 5d provided on the upper buffer mechanism 5. Further, the upper end opening of the lamp housing 37 is closed by a cover glass 41, and the cover glass 41 is fixed by a tightening ring 42 screwed to the lamp housing 37.

【0034】そして、ハロゲンランプ39から照射され
る照射光を反射ミラー40によってヒートプレート5d
に照射してヒートプレート5dを加熱することができ、
同時にハロゲンランプ39から発生する熱はランプハウ
ジング37から熱伝導部材36に熱伝導し、更に、一対
のガイド軸25のハウジング35に熱伝導させるように
なっている。
Irradiation light emitted from the halogen lamp 39 is reflected by the reflection mirror 40 to the heat plate 5d.
To heat the heat plate 5d,
At the same time, the heat generated from the halogen lamp 39 is conducted from the lamp housing 37 to the heat conducting member 36, and further to the housing 35 of the pair of guide shafts 25.

【0035】ヒートプレート5dおよびハウジング35
が加熱されると、この熱はボールネジ軸22およびガイ
ド軸25に熱伝導し、ボールネジ軸22およびガイド軸
25の表面に付着した付着物は上記ハロゲンランプ39
からの熱エネルギによって昇華され、ボールネジ軸22
およびガイド軸25の表面に付着物が残留しないように
している。
Heat plate 5d and housing 35
When this is heated, this heat is conducted to the ball screw shaft 22 and the guide shaft 25, and the adhered substances adhering to the surfaces of the ball screw shaft 22 and the guide shaft 25 become the halogen lamp 39.
Sublimated by heat energy from the ball screw shaft 22
Also, the adherends are prevented from remaining on the surface of the guide shaft 25.

【0036】次に、前述のように構成されたエッチング
装置の作用について説明する。一例としてロードロック
室2に設けた搬送アーム4を第1処理チャンバ1aに伸
張させ、そして第1処理チャンバ1a内からLCD基板
3を取り出し、ロードロック室2のバッファ機構5のバ
ッファ5b内に収納させ、更にバッファ5b内からLC
D基板3を取り出し、第2処理チャンバ1bに搬送する
手順について説明する。
Next, the operation of the etching apparatus constructed as described above will be described. As an example, the transfer arm 4 provided in the load lock chamber 2 is extended to the first processing chamber 1a, and the LCD substrate 3 is taken out from the first processing chamber 1a and stored in the buffer 5b of the buffer mechanism 5 of the load lock chamber 2. LC from the buffer 5b
A procedure for taking out the D substrate 3 and carrying it to the second processing chamber 1b will be described.

【0037】先ず、第1モータ16が駆動すると、タイ
ミングギャ17、タイミングベルト15、タイミングギ
ャ14の順に動力を伝達させ、回転体13を介して回転
台6を回転する。
First, when the first motor 16 is driven, power is transmitted in the order of the timing gear 17, the timing belt 15, and the timing gear 14, and the rotary base 6 is rotated via the rotary body 13.

【0038】回転体13の回転によって、その先端部に
設けられた搬送アーム4が第1処理チャンバ1aの出入
口に位置する。次に、第3モータ30が駆動すると、回
転軸29、第2ギャ31、タイミングベルト33および
第1ギャ4fの順に動力が伝達され、アーム軸4bを介
して第1アーム4cが旋回し同時に、第2と第3アーム
4d、4eを伸縮させる。
Due to the rotation of the rotating body 13, the transfer arm 4 provided at the tip of the rotating body 13 is positioned at the entrance / exit of the first processing chamber 1a. Next, when the third motor 30 is driven, power is transmitted in the order of the rotary shaft 29, the second gear 31, the timing belt 33, and the first gear 4f, and the first arm 4c turns via the arm shaft 4b, and at the same time, The second and third arms 4d, 4e are expanded and contracted.

【0039】一方、第1処理チャンバ1a内の載置台
(図示せず)には突出自在な複数のピン(図示せず)が
埋設され、このピンによってLCD基板3が支持される
が、ピンの没入に伴ってLCD基板3を第3アーム4e
に受け渡す。受け渡された第3アーム4eは、第1処理
チャンバ1aから退出する。
On the other hand, a plurality of pins (not shown) projecting freely are embedded in a mounting table (not shown) in the first processing chamber 1a, and the LCD substrate 3 is supported by these pins. The LCD substrate 3 is moved to the third arm 4e as it is immersed.
Hand over to. The delivered third arm 4e exits from the first processing chamber 1a.

【0040】再度第3モータ30が駆動すると、搬送ア
ーム4c〜4eがアーム軸4bをほぼ180゜回転し、
第3アーム4eに支持された搬送アーム4c〜4eを第
1処理チャンバ1aに伸張させ、そして第1処理チャン
バ1a内からLCD基板3を取り出し、ロードロック室
2のバッファ機構5のバッファ5b内に収納させ、更に
バッファ機構5に対向する。そして、第1、第2、第3
アーム4c,4d,4eを伸縮させると、バッファ5b
内にLCD基板3が挿入される。
When the third motor 30 is driven again, the transfer arms 4c to 4e rotate the arm shaft 4b by about 180 °,
The transfer arms 4c to 4e supported by the third arm 4e are extended to the first processing chamber 1a, and the LCD substrate 3 is taken out from the inside of the first processing chamber 1a and placed in the buffer 5b of the buffer mechanism 5 in the load lock chamber 2. It is stored and further faces the buffer mechanism 5. And the first, second, third
When the arms 4c, 4d, 4e are expanded and contracted, the buffer 5b
The LCD substrate 3 is inserted therein.

【0041】この状態で、第2モータ20を駆動する
と、回転シャフト18を介してボールナット21の回転
によってボールネジ軸22が軸方向に昇降し、バッファ
機構5が上昇する。この時、ガイド軸25はガイド筒2
4の内部を摺動するので、バッファ機構5を水平状態を
維持して上昇させることができる。
When the second motor 20 is driven in this state, the ball screw shaft 22 moves up and down in the axial direction by the rotation of the ball nut 21 via the rotary shaft 18, and the buffer mechanism 5 rises. At this time, the guide shaft 25 is attached to the guide tube 2
Since it slides inside 4, the buffer mechanism 5 can be raised while maintaining the horizontal state.

【0042】このバッファ機構5の上昇によって第3ア
ーム4eに支持されたLCD基板3は保持受棚5bに受
け渡すことができ、第1処理チャンバ1a内からLCD
基板3を取り出しバッファ5bに受け渡す作業が完了す
る。
By raising the buffer mechanism 5, the LCD substrate 3 supported by the third arm 4e can be delivered to the holding receiving rack 5b, and the LCD from the inside of the first processing chamber 1a.
The work of taking out the substrate 3 and delivering it to the buffer 5b is completed.

【0043】次に、保持受棚b内に収納されたLCD基
板3を第2処理チャンバ1a内に搬送する手順について
説明する。先ず第3モータ30を駆動させ、搬送アーム
4を旋回させて保持受棚5bに対向させる。次に、搬送
アーム4を伸長させ、第3アーム4eを保持受棚5b内
に挿入する。この状態で、第2モータ20を前述と逆方
向に回転させると、バッファ機構5が降下し、この降下
に伴って保持受棚5b内のLCD基板3が第3アーム4
eに受け渡される。
Next, a procedure for transporting the LCD substrate 3 stored in the holding shelf b into the second processing chamber 1a will be described. First, the third motor 30 is driven to rotate the transfer arm 4 so as to face the holding rack 5b. Next, the transfer arm 4 is extended and the third arm 4e is inserted into the holding shelf 5b. In this state, when the second motor 20 is rotated in the opposite direction to the above, the buffer mechanism 5 is lowered, and the LCD substrate 3 in the holding shelf 5b is moved to the third arm 4 by this lowering.
Handed over to e.

【0044】次に、再度第3モータ30を駆動させ、搬
送アーム4を収縮させた後、第1モータ16を駆動させ
搬送アーム4を第2処理チャンバ1bの出入口に位置さ
せる。更に搬送アーム4の第3アーム4eを伸長させて
第2処理チャンバ1b内に挿入し、LCD基板3を第2
処理チャンバ1b内に搬入させる。
Next, the third motor 30 is driven again to contract the transfer arm 4, and then the first motor 16 is driven to position the transfer arm 4 at the entrance / exit of the second processing chamber 1b. Further, the third arm 4e of the transfer arm 4 is extended and inserted into the second processing chamber 1b, and the LCD substrate 3 is moved to the second position.
It is carried into the processing chamber 1b.

【0045】上記搬入を繰り返し行うと、第1処理チャ
ンバ1a内に流し込んだエッチング用処理ガス、例えば
CF4がロードロック室2にも入り込んでくる。この入
り込んだ処理ガスCF4は揮発性であり排気されてしま
うのが常であるが、中にはロードロック室2内に配置し
た部品、例えばバッファ機構5、搬送アーム4c〜4e
等の部品の温度が第1処理チャンバ1a内の雰囲気の温
度より低いので、この低い部分に接触した処理ガスCF
4は化学反応してポリマー状になり、例えばボールネジ
軸22、ガイド軸25あるいは、ボールナット21、ガ
イド筒24等の表面に付着してしまう。
When the above-mentioned loading is repeated, the etching processing gas, for example, CF4, which has flowed into the first processing chamber 1a, also flows into the load lock chamber 2. The process gas CF4 that has entered is volatile and is usually exhausted. However, some of the process gas CF4 is disposed inside the load lock chamber 2, for example, the buffer mechanism 5 and the transfer arms 4c to 4e.
Since the temperature of the parts such as is lower than the temperature of the atmosphere in the first processing chamber 1a, the processing gas CF contacting this low portion
4 chemically reacts to form a polymer, which is attached to the surface of the ball screw shaft 22, the guide shaft 25, the ball nut 21, the guide cylinder 24, or the like.

【0046】しかし、上述したように、ロードロック室
2の内部のハロゲンランプ39から照射される照射光は
反射ミラー40によって反射され、ヒートプレート5d
を加熱していると共に、ハロゲンランプ39から発生す
る熱はランプハウジング37から熱伝導部材36に熱伝
導し、更にガイド軸25のハウジング35を加熱してい
る。
However, as described above, the irradiation light emitted from the halogen lamp 39 inside the load lock chamber 2 is reflected by the reflection mirror 40 and the heat plate 5d.
The heat generated by the halogen lamp 39 is conducted to the heat conducting member 36 from the lamp housing 37, and the housing 35 of the guide shaft 25 is further heated.

【0047】このようにヒートプレート5dおよびハウ
ジング35が加熱されると、この熱はボールネジ軸22
およびガイド軸25に熱伝導し、ボールネジ軸22およ
びガイド軸25の表面に付着しようとしても、上記熱エ
ネルギによって付着を抑制でき、また付着しても昇華さ
れ、ボールネジ軸22およびガイド軸25の表面に付着
物が残留するのを防止している。
When the heat plate 5d and the housing 35 are heated in this manner, this heat is generated by the ball screw shaft 22.
Also, even if heat is conducted to the guide shaft 25 and tries to adhere to the surfaces of the ball screw shaft 22 and the guide shaft 25, the adhesion can be suppressed by the above thermal energy, and even if it adheres, it is sublimated. It prevents the deposits from remaining on.

【0048】従って、ロードロック室2内のバッファ機
構5の昇降を妨げることなく、常に円滑、且つ確実に昇
降作動させることができる。この動作により、スループ
ットを向上させることができる。
Therefore, the buffer mechanism 5 in the load lock chamber 2 can be always raised and lowered without hindering the movement thereof. Through this operation, the throughput can be improved.

【0049】上記実施例では、ロードロック室2内の昇
降機構に付いて説明したが、これに限ることなく。例え
ば、ロードロック室2のバッファ機構5を水平方向に移
動する移動機構にもボールネジ軸、ボールナット、ガイ
ド軸およびガイド軸が挿入されるガイド穴を有した部材
に付着した付着物を除去しスムーズな移動を得ることも
できることは言うまでもない。
In the above embodiment, the lifting mechanism in the load lock chamber 2 has been described, but the present invention is not limited to this. For example, the moving mechanism for moving the buffer mechanism 5 in the load lock chamber 2 in the horizontal direction also removes the deposits attached to the member having the ball screw shaft, the ball nut, the guide shaft, and the guide hole into which the guide shaft is inserted, to smooth the movement. Needless to say, it is possible to obtain such movement.

【0050】上記実施例の第1効果はボールネジ軸が固
定されているヒートプレート5dの表面を黒色にしてい
るので、加熱手段のハロゲンランプの照射熱を効率良く
吸収でき、駆動軸およびガイド軸の表面から付着物を除
去することができる。従って、バッファ機構5の昇降を
確実にし、スループットを向上させることができるとい
う効果がある。
The first effect of the above-described embodiment is that the surface of the heat plate 5d to which the ball screw shaft is fixed is black, so that the irradiation heat of the halogen lamp of the heating means can be absorbed efficiently, and the drive shaft and the guide shaft are not affected. The deposit can be removed from the surface. Therefore, there is an effect that the buffer mechanism 5 can be surely moved up and down, and the throughput can be improved.

【0051】上記実施例の第2効果はハロゲンランプの
照射光で加熱されたヒートプレート5dはスペーサ5c
を介してバッファ機構5に固定されているので、ヒート
プレート5dの熱が逃げにくい。従って、効率良くボー
ルネジ軸等を加熱させることができる。
The second effect of the above embodiment is that the heat plate 5d heated by the irradiation light of the halogen lamp is the spacer 5c.
Since it is fixed to the buffer mechanism 5 via, the heat of the heat plate 5d is unlikely to escape. Therefore, the ball screw shaft and the like can be efficiently heated.

【0052】[0052]

【発明の効果】本発明は以上説明したように、駆動軸の
表面及びガイド軸の表面に付着する付着物を抑制するこ
とができるので、バッファ機構の昇降及び移動を確実に
し、被搬送体を所定の位置に正確に搬送でき、搬送制度
を一定に保つことができる。さらに、付着物を除去する
必要がないので処理効率が増し、スループットを向上さ
せることができる。
As described above, according to the present invention, since it is possible to suppress the adhered matter that adheres to the surface of the drive shaft and the surface of the guide shaft, the buffer mechanism can be surely moved up and down, and the transferred object can be moved. It can be accurately transported to a predetermined position and the transportation system can be kept constant. Further, since it is not necessary to remove the deposit, the processing efficiency is increased and the throughput can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のエッチング処理装置の要部
を示す斜視図。
FIG. 1 is a perspective view showing a main part of an etching processing apparatus according to an embodiment of the present invention.

【図2】同実施例の加熱ユニットの縦断面図。FIG. 2 is a vertical sectional view of the heating unit according to the embodiment.

【図3】同実施例の昇降機構の縦断面図。FIG. 3 is a vertical sectional view of the lifting mechanism according to the embodiment.

【図4】同実施例のロードロック室の斜視図。FIG. 4 is a perspective view of the load lock chamber of the same embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1a〜1c…処理チャンバ、2…ロードロック室、3…
LCD基板、4…搬送機構、4c〜4e…基板搬送アー
ム、5…バッファ機構、5d…ヒートプレート、7…昇
降機構、9…回転体、22…ボールネジ軸、25…ガイ
ド軸、29…回転軸、34…加熱ユニット、36…熱伝
導部材、37…ランプハウジング、39…ハロゲンラン
プ。
1a to 1c ... Processing chamber, 2 ... Load lock chamber, 3 ...
LCD substrate, 4 ... Transport mechanism, 4c-4e ... Substrate transport arm, 5 ... Buffer mechanism, 5d ... Heat plate, 7 ... Lifting mechanism, 9 ... Rotating body, 22 ... Ball screw shaft, 25 ... Guide shaft, 29 ... Rotating shaft , 34 ... Heating unit, 36 ... Heat conducting member, 37 ... Lamp housing, 39 ... Halogen lamp.

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 処理ガスが流入される気密なチャンバに
昇降機構または移動機構を設けた真空処理装置におい
て、 上記チャンバに昇降機構または移動機構の駆動軸を加熱
する加熱手段を設けたことを特徴とする真空処理装置。
1. A vacuum processing apparatus in which an elevating mechanism or a moving mechanism is provided in an airtight chamber into which a processing gas is introduced, wherein the chamber is provided with heating means for heating a drive shaft of the elevating mechanism or the moving mechanism. Vacuum processing equipment.
【請求項2】 複数の被処理体が収納されるバッファ機
構を昇降させる昇降機構と、上記バッファ機構から被処
理体を搬送アームで取り出し、処理チャンバ内に搬送す
る搬送機構とをロードロック室内に配置した搬送装置に
おいて、 上記ロードロック室に昇降機構の駆動軸を加熱させるた
めの加熱手段を設けたことを特徴とする基板搬送装置。
2. A load lock chamber comprising a lifting mechanism for lifting a buffer mechanism accommodating a plurality of objects to be processed, and a transfer mechanism for taking out the objects to be processed from the buffer mechanism with a transfer arm and transferring them into the processing chamber. In the arranged transfer device, the substrate transfer device is characterized in that the load lock chamber is provided with heating means for heating the drive shaft of the elevating mechanism.
【請求項3】 複数の被処理体が収納されるバッファ機
構を略平面方向に移動させる移動機構と、上記バッファ
機構から被処理体を搬送機構で取り出し、処理チャンバ
内に搬送する搬送機構とを配置した搬送装置において、 上記ロードロック室に移動機構の駆動軸またはガイド軸
を加熱させるための加熱手段を設けたことを特徴とする
基板搬送装置。
3. A moving mechanism for moving a buffer mechanism accommodating a plurality of objects to be processed in a substantially planar direction, and a transfer mechanism for taking out the objects to be processed from the buffer mechanism by a transfer mechanism and transferring them into a processing chamber. In the arranged transfer device, a heating device for heating the drive shaft or the guide shaft of the moving mechanism is provided in the load lock chamber.
【請求項4】 上記駆動軸はボールネジ軸であることを
特徴とする請求項2または3記載の基板搬送装置。
4. The substrate transfer apparatus according to claim 2, wherein the drive shaft is a ball screw shaft.
【請求項5】 上記ガイド軸はスプライン軸であること
を特徴とする請求項3記載の基板搬送装置。
5. The substrate transfer apparatus according to claim 3, wherein the guide shaft is a spline shaft.
【請求項6】 上記加熱手段は加熱ランプであることを
特徴とする請求項2または3記載の基板搬送装置。
6. The substrate transfer apparatus according to claim 2, wherein the heating means is a heating lamp.
【請求項7】 上記加熱ランプはハロゲンランプである
ことを特徴とする請求項6記載の基板搬送装置。
7. The substrate transfer apparatus according to claim 6, wherein the heating lamp is a halogen lamp.
JP7067368A 1994-11-08 1995-03-27 Vacuum treating apparatus and wafer transfer apparatus in vacuum treating chamber Pending JPH08264616A (en)

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KR1019950040376A KR100214439B1 (en) 1994-11-08 1995-11-08 Substrate processing apparatus and substrate conveying device used for the apparatus

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100367374B1 (en) * 1999-10-18 2003-01-09 주식회사 코로 Chuck to catch semiconductor weiper
KR101024216B1 (en) * 2008-08-27 2011-03-29 무진전자 주식회사 A unit and a method for transfering a wafer

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