JPH0826165B2 - Pellicle film manufacturing method - Google Patents

Pellicle film manufacturing method

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JPH0826165B2
JPH0826165B2 JP33293787A JP33293787A JPH0826165B2 JP H0826165 B2 JPH0826165 B2 JP H0826165B2 JP 33293787 A JP33293787 A JP 33293787A JP 33293787 A JP33293787 A JP 33293787A JP H0826165 B2 JPH0826165 B2 JP H0826165B2
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pellicle film
polyvinyl
film thickness
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昌樹 内倉
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Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は半導体集積回路の製造におけるリングラフィ
ー工程で用いるフォトマスクおよびレチクル(以下単に
「マスク」と略する。)の保護防塵体であるペリクル膜
を製造する方法に関する。
Description: TECHNICAL FIELD The present invention relates to a pellicle that is a protective dustproof body of a photomask and a reticle (hereinafter simply referred to as “mask”) used in a lithographic process in manufacturing a semiconductor integrated circuit. It relates to a method of manufacturing a membrane.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

半導体集積回路の製造において、レジスト材を塗布し
た半導体ウエハーを露光によりパターンニングする工程
は、集積回路の歩留りを左右する重量な工程である。こ
の際パターン原板であるマスク上にキズあるいは塵埃が
存在すると、パターンとともにキズあるいは異物がウエ
ハー上に印刷され、生産される回路の短絡、断線等の原
因となる。このためマスクの保護及び防塵は生産性向上
の上で極めて重要な課題である。特に同一のレチクルを
用いて一枚のウエハー上に繰返しパターン形成を行うス
テッパー方式では、レチクル上にキズあるいは塵埃が存
在すると発生する欠陥がウエハー上のすべての回路に及
ぶため、レチクル上のキズあるいは塵埃の付着は極力さ
けなくてはならない。
In manufacturing a semiconductor integrated circuit, the step of patterning a semiconductor wafer coated with a resist material by exposure is a heavy step that affects the yield of the integrated circuit. At this time, if scratches or dust are present on the mask, which is the pattern original plate, the scratches or foreign matters are printed on the wafer together with the pattern, which may cause a short circuit or disconnection of the produced circuit. Therefore, protection of the mask and protection against dust are extremely important issues for improving productivity. In particular, in the stepper method in which the same reticle is used to repeatedly form patterns on a single wafer, scratches or defects that occur when dust is present on the reticle affect all circuits on the wafer. Dust adhesion should be avoided as much as possible.

そこで最近マスクの保護、防塵を目的として、マスク
の片面あるいは画面を透明なプラスチック薄膜でカバー
することが提案され、実施されつつある。この際、マス
クとプラスチック薄膜の間隔を十分大きくとっておくこ
とにより、たとえプラスチック薄膜上に塵埃が付着して
も露光装置の光学系の焦点からずれているため、塵埃は
ウエハー上には結像されない。さらに、従来のようにマ
スクに付着した塵埃の洗浄除去工程が不要になるため、
生産工程の簡略化にもつながり、その有用性が明らかに
なってきている。
Therefore, recently, for the purpose of protecting the mask and preventing dust, it has been proposed and implemented to cover one side or the screen of the mask with a transparent plastic thin film. At this time, by keeping the distance between the mask and the plastic thin film large enough, even if dust adheres to the plastic thin film, it is out of the focus of the optical system of the exposure apparatus, so the dust forms an image on the wafer. Not done. Furthermore, since the step of cleaning and removing the dust adhering to the mask as in the past is not necessary,
This has led to simplification of the production process and its usefulness has become clear.

このようにマスクの保護防塵体として使用されるペリ
クル膜は使用する露光装置の光源波長領域において吸収
を持たず透明であるとともに、膜厚が均一である必要が
ある。というのは膜厚にムラが存在すると、たとえ膜が
吸収を持たなくても膜面内の場所により反射の強度に変
化を生じるため、露光時の露光ムラの原因となるからで
ある。ペリクル膜面内の膜厚ムラは少ない程良く、望ま
しくは1%以下が良い。
As described above, the pellicle film used as the protective dustproof body of the mask needs to be transparent without absorption in the light source wavelength region of the exposure apparatus used, and to have a uniform film thickness. The reason is that if there is unevenness in the film thickness, even if the film does not have absorption, the intensity of reflection will change depending on the location within the film surface, which will cause unevenness in exposure during exposure. The less uneven the film thickness on the surface of the pellicle film, the better, and preferably 1% or less.

現在までにペリクルとして使用可能な薄膜素材として
は、ニトロセルロース、酢酸セルロース、ポリエチレン
テレフタレート、ポリプロピレン、パリレン、ポリメチ
ルメタクリレート等が知られており、特にニトロセルロ
ースが主として使用されている。
To date, nitrocellulose, cellulose acetate, polyethylene terephthalate, polypropylene, parylene, polymethylmethacrylate, etc. have been known as thin film materials that can be used as pellicle, and nitrocellulose is mainly used.

しかし、これらの膜は、従来の近紫外領域では使用で
きるものの、遠紫外領域に吸収を持つため透明性が悪
く、また遠紫外線の照射により急速に着色あるいは劣化
してしまい、耐久性にも問題がある。
However, although these films can be used in the conventional near-ultraviolet region, they have poor transparency because they have absorption in the far-ultraviolet region, and are rapidly colored or deteriorated by irradiation with far-ultraviolet light, which also poses a problem in durability. There is.

これに対してポリビニルプロピオナール、ポリビニル
ブチラール等のポリビニルアセタールは近、遠紫外領域
において吸収を持たないため、透明性に優れ、耐久性も
著しく良好であり、ペリクル膜として極めて優れた素材
である。このようなポリビニルアセタールからなるペリ
クル膜として種々の提案がなされた。
On the other hand, polyvinyl acetals such as polyvinyl propional and polyvinyl butyral do not have absorption in the near and far ultraviolet regions, and therefore have excellent transparency and remarkably good durability, and are extremely excellent materials as a pellicle film. Various proposals have been made for such a pellicle film made of polyvinyl acetal.

特開昭59−164356号は式: (式中xは≦0.13、yは≦0.02及びzは≦0.88)のポリ
ビニルブチラールと、シラノール部分縮合物の低級脂肪
族アルコール水溶液中におけるコロイド状シリカの分散
液との混合物からつくられるフィルムからなる投射焼付
用ペリクルであって、部分縮合物の主要部はCH3Si(O
H)の縮合によって得られ、少量部はC2H5Si(O
H)、C3H7Si(OH) 及びそれらの混合物からなる群から選ばれる一成員との
縮合から得られるペリクルを開示している。
JP-A-59-164356 has the formula: A film made of a mixture of polyvinyl butyral (where x is ≤0.13, y is ≤0.02 and z is ≤0.88) and a dispersion of colloidal silica in a silanol partial condensate aqueous solution of a lower aliphatic alcohol. This is a pellicle for projection printing, and the main part of the partial condensate is CH 3 Si (O
H) 3 condensation, a small portion of which is C 2 H 5 Si (O
H) 3 , C 3 H 7 Si (OH) 3 , And pellicles resulting from condensation with a single member selected from the group consisting of and mixtures thereof.

また特開昭59−206406号は次の構造単位 (式中xは≦0.12、yは≦0.02、及びzは≧0.88であ
り、Rはメチル又はエチルであり、mは1,2又は3の整
数、nは4−mに等しい整数であり、Gは−(CH2
−Qであって、ここでpは0,1,2,3又は4であり、Qは
pが1,2,3又は4の時には、−R1、OR1からなる群から選ばれる一員であり、pがゼロの時には
Qは からなる群から選ばれ、ここでR1は1〜4個の炭素原子
のアルキルであり、R2とR4とR5は水素とR1からなる群か
ら選ばれ、またR3は1〜4個の炭素原子のアルキレンで
ある。)をもつフィルム形成重合体でつくられるフィル
ムからなる、投射焼付用のペリクルフィルムを開示して
いる。
Further, JP-A-59-206406 discloses the following structural unit (Where x is ≦ 0.12, y is ≦ 0.02, and z is ≧ 0.88, R is methyl or ethyl, m is an integer of 1, 2 or 3, n is an integer equal to 4-m, G is - (CH 2) P
-Q, where p is 0, 1, 2, 3 or 4 and Q is -R 1 , OR 1 , when p is 1, 2, 3 or 4; Is a member selected from the group consisting of, and when p is zero, Q is R 1 is alkyl of 1 to 4 carbon atoms, R 2 , R 4 and R 5 are selected from the group consisting of hydrogen and R 1 , and R 3 is 1 to It is an alkylene of 4 carbon atoms. A pellicle film for projection printing comprising a film made of a film-forming polymer having

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problems to be solved by the invention]

しかしながら、ポリビニルアセタールは溶液にした場
合著しく粘度が高いために、セルロース系ペリクルに比
べて製膜が難しく、ペリクルとして必要な膜厚均一性を
得ることが極めて難しかった。
However, since polyvinyl acetal has a remarkably high viscosity when made into a solution, it is more difficult to form a film than a cellulosic pellicle, and it is extremely difficult to obtain the film thickness uniformity required as a pellicle.

従って本発明の目的は、上記ポリビニルアセタールか
らなるペリクル膜の作製時の問題点を解決し、膜厚の均
一性が極めて良好であり、かつ透明性、耐久性に優れた
ペリクル膜を製造する方法を提供することである。
Therefore, an object of the present invention is to solve the problems at the time of producing the pellicle film made of the polyvinyl acetal and to produce a pellicle film having excellent film thickness uniformity, transparency, and durability. Is to provide.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

膜厚均一性に優れ、かつ透明性、耐久性に優れたポリ
ビニルアセタールからなるペリクル膜を得るべく鋭意研
究を行った結果、本発明者は所定の沸点範囲内にある脂
肪族ケトンを製膜溶媒として用いると、上記所望の特性
を有するペリクル膜が得られることを発見し、本発明に
想到した。
As a result of intensive research to obtain a pellicle film composed of polyvinyl acetal having excellent film thickness uniformity, transparency, and durability, the present inventor found that an aliphatic ketone within a predetermined boiling range was used as a film forming solvent. It was discovered that a pellicle film having the above-mentioned desired properties can be obtained when used as the above, and the present invention was conceived.

すなわち本発明の方法は実質的に下記一般式: (但し、R1は炭素数1〜3の直鎖又は分岐アルキル基で
あり、酢酸ビニル成分の含量yが10モル%以下で、アセ
タール化度z/(x+y+z)が60モル%以上であるポリ
ビニルアセタールからなるペリクル膜を作製するにあた
り、下記一般式: で表され、かつ沸点が110〜170℃の範囲にある脂肪族ケ
トンを製膜溶媒として用いることを特徴とするものであ
る。
That is, the method of the present invention is substantially the following general formula: (However, R 1 is a linear or branched alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, the content y of the vinyl acetate component is 10 mol% or less, and the degree of acetalization z / (x + y + z) is 60 mol% or more. To prepare a pellicle film made of acetal, the following general formula: And an aliphatic ketone having a boiling point in the range of 110 to 170 ° C. is used as a film forming solvent.

以下本発明について詳細に説明する。 The present invention will be described in detail below.

本発明において用いるポリビニルアセタールは、下記
一般式(I): (但し、R1は炭素数1〜3までの直鎖又は分岐アルキル
基である。)で示されるものである。
The polyvinyl acetal used in the present invention has the following general formula (I): (However, R 1 is a linear or branched alkyl group having 1 to 3 carbon atoms.).

上記一般式(I)で表されるポリビニルアセタールを
合成するために、ポリビニルアルコールとアセトアルデ
ヒド、プロピオンアルデヒド、イソブチルアルデヒド、
n−ブチルアルデヒド等とを公知の方法により縮合反応
させることができる。例えば、ポリ酢酸ビニルを出発物
質として、そのアルコール、酢酸、塩酸溶液もしくは水
懸濁液をケン化した後、連続して硫酸、塩酸等の酸触媒
下でアルデヒドと反応させる方法、あるいはポリビニル
アルコールを出発物質として、その水溶液もしくはアル
コール分散液にアルデヒドを添加し、硫酸、塩酸等の酸
触媒の存在下で反応させる方法を挙げることができる。
得られるポリビニルアセタールの透明性が良いこと、分
子量の調節及び酢酸ビニル成分含量の調節が容易なこと
から、ポリビニルアルコールを出発物質とする方法が好
ましい。この場合、ポリビニルアセタール中の酢酸ビニ
ル成分の含量は出発物質のポリビニルアルコール中の酢
酸ビニル成分含量を調節することによりコントロールす
ることができる。また、ポリビニルアルコールとアルデ
ヒドのモル比、反応時間、反応温度及び触媒量等をコン
トロールすることにより、種々の異なるアセタール化度
を有するポリビニルアセタールを得ることができる。
In order to synthesize the polyvinyl acetal represented by the general formula (I), polyvinyl alcohol and acetaldehyde, propionaldehyde, isobutyraldehyde,
Condensation reaction with n-butyraldehyde or the like can be carried out by a known method. For example, a method in which polyvinyl acetate is used as a starting material, the alcohol, acetic acid, hydrochloric acid solution or water suspension is saponified and then continuously reacted with an aldehyde under an acid catalyst such as sulfuric acid or hydrochloric acid, or polyvinyl alcohol is used. As a starting material, a method may be mentioned in which an aldehyde is added to the aqueous solution or alcohol dispersion and the reaction is carried out in the presence of an acid catalyst such as sulfuric acid or hydrochloric acid.
The method using polyvinyl alcohol as a starting material is preferable because the obtained polyvinyl acetal has good transparency and the molecular weight and the vinyl acetate component content are easily adjusted. In this case, the content of the vinyl acetate component in the polyvinyl acetal can be controlled by adjusting the content of the vinyl acetate component in the starting polyvinyl alcohol. Further, by controlling the molar ratio of polyvinyl alcohol and aldehyde, the reaction time, the reaction temperature, the amount of catalyst, etc., it is possible to obtain polyvinyl acetals having various degrees of acetalization.

本発明において用いるポリビニルアセタールの平均分
子量の好ましい範囲は、1万以上20万以下である。分子
量が1万未満のポリビニルアセタールから得られるペリ
クル膜は強度が十分でない。また、分子量が20万を超え
るポリビニルアセタールはその溶液粘度が高く、製膜す
る上で好ましくない。
The preferable range of the average molecular weight of the polyvinyl acetal used in the present invention is 10,000 or more and 200,000 or less. A pellicle film obtained from polyvinyl acetal having a molecular weight of less than 10,000 has insufficient strength. Further, polyvinyl acetal having a molecular weight of more than 200,000 has a high solution viscosity and is not preferable in forming a film.

本発明において用いるポリビニルアセタールの酢酸ビ
ニル成分の含量(式(I)においてyで表される)は10
モル%以下、より好ましくは5モル%以下である。酢酸
ビニル成分の含量がこれより多いと遠紫外領域の透明性
が減少し、長時間の紫外線暴露に対する耐久性が劣る。
The content of the vinyl acetate component of the polyvinyl acetal used in the present invention (represented by y in the formula (I)) is 10
It is at most mol%, more preferably at most 5 mol%. When the content of the vinyl acetate component is higher than this range, the transparency in the far ultraviolet region is reduced and the durability to long-term exposure to ultraviolet light is deteriorated.

本発明において用いるポリビニルアセタールのアセタ
ール化度(z/(x+y+z)により表される)は60モル
%以上である必要がある。これより低いアセタール化度
のポリビニルアセタールからなる薄膜は、その製膜基材
からの剥離性が十分でない。また、含水率が高いために
水洗による除塵の際に不可逆性の伸びや曇りを生じやす
い。
The degree of acetalization (represented by z / (x + y + z)) of the polyvinyl acetal used in the present invention needs to be 60 mol% or more. A thin film made of polyvinyl acetal having a degree of acetalization lower than this does not have sufficient releasability from the film-forming substrate. Further, since the water content is high, irreversible elongation and cloudiness are likely to occur during dust removal by washing with water.

本発明において用いる製膜溶媒は、下記一般式: で表され、かつ沸点が110〜170℃の範囲にある脂肪族ケ
トンである。
The film-forming solvent used in the present invention has the following general formula: And an aliphatic ketone having a boiling point in the range of 110 to 170 ° C.

110℃よりも低沸点の脂肪族ケトンからなる溶媒を用
いた場合、製膜中の溶媒の蒸発が早すぎるために膜厚の
均一な膜が得られにくい。また、170℃よりも高沸点の
溶媒を用いた場合、膜厚の均一性は良好であるものの、
製膜後の溶媒の完全な除去が非常に困難である。
When a solvent composed of an aliphatic ketone having a boiling point lower than 110 ° C. is used, it is difficult to obtain a film having a uniform film thickness because the solvent is evaporated too quickly during film formation. Further, when a solvent having a boiling point higher than 170 ° C. is used, although the uniformity of the film thickness is good,
It is very difficult to completely remove the solvent after film formation.

上記要件を満たす脂肪族ケトンとしては、例えば2−
ヘキサノン、3−ヘキサノン、4−メチル−2−ペンタ
ノン、2,4−ジメチル−3−ペンタノン、2−ヘプタノ
ン、3−ヘプタノン、4−ヘプタノン、5−メチル−2
−ヘキサノン、2−メチル−5−ヘプタノン、3−オク
タノン、2,6−ジメチル−4−ヘプタノン、シクロヘキ
サノン等が挙げられる。
Examples of the aliphatic ketone satisfying the above requirements include 2-
Hexanone, 3-hexanone, 4-methyl-2-pentanone, 2,4-dimethyl-3-pentanone, 2-heptanone, 3-heptanone, 4-heptanone, 5-methyl-2
-Hexanone, 2-methyl-5-heptanone, 3-octanone, 2,6-dimethyl-4-heptanone, cyclohexanone and the like.

本発明において製膜溶液のポリビニルアセタール濃度
の好ましい範囲は、5重量%以上20重量%以下である。
In the present invention, the preferable range of the polyvinyl acetal concentration of the film forming solution is 5% by weight or more and 20% by weight or less.

ペリクル膜は製膜溶液をシリコンウエハー、ガラス
板、金属板、清浄な水面等の平滑な基材上に流延し、溶
媒を蒸発させる方法、あるいは流延後基材を回転させな
がら溶媒を蒸発させる方法等により製膜することができ
る。製膜中の環境温度は特に制限ないが、室温付近が望
ましい。
The pellicle film is formed by casting a film forming solution on a smooth substrate such as a silicon wafer, a glass plate, a metal plate, or a clean water surface and evaporating the solvent, or after casting, evaporating the solvent while rotating the substrate. The film can be formed by a method such as The environmental temperature during film formation is not particularly limited, but it is preferably around room temperature.

本発明のポペリクル膜の膜厚は0.5〜10μmの範囲で
ある。これより膜厚を薄くしても膜の機械的強度が低下
し、また、これより厚い膜厚では透明性が低減するばか
りでなく、マスクを通過した光の収差が大きくなるた
め、ウエハーのパターニングに悪影響を及ぼす。
The film thickness of the popellicle film of the present invention is in the range of 0.5 to 10 μm. If the film thickness is made thinner than this, the mechanical strength of the film will decrease, and if the film thickness is made thicker than this, not only the transparency will decrease, but also the aberration of the light passing through the mask will increase, so patterning of the wafer Adversely affect.

〔実 施 例〕〔Example〕

本発明を以下の実施例によりさらに詳細に説明する
が、本発明はこれらの実施例に限定されるものではな
い。
The present invention will be described in more detail by the following examples, but the present invention is not limited to these examples.

実施例 1 ポリビニルアルコールの完全ケン化物(平均重合度10
00)50gを95%メタノール1中に分散し、36%塩酸50m
l及びプロピオンアルデヒド250gを添加した後、60℃に
てプロピオナール化反応を行った。反応終了後、酢酸ナ
トリウムを加えて中和した後、反応液を水中に投じ、析
出した白色固体をろ過回収した。得られたポリビニルプ
ロピオナールの酢酸ビニル成分の含量は0.62モル%であ
り、アセタール化度は82モル%であった。
Example 1 Completely saponified product of polyvinyl alcohol (average degree of polymerization: 10
00) 50g dispersed in 95% methanol 1, 36% hydrochloric acid 50m
After adding 1 and 250 g of propionaldehyde, a propionalization reaction was performed at 60 ° C. After completion of the reaction, sodium acetate was added for neutralization, and the reaction solution was poured into water, and the precipitated white solid was collected by filtration. The content of vinyl acetate component in the obtained polyvinyl propional was 0.62 mol%, and the degree of acetalization was 82 mol%.

得られたポリビニルプロピオナールをそれぞれ4−メ
チル−2−ペンタノン(沸点116℃)、3−オクタノン
(沸点165℃)及びシクロヘキサノン(沸点156℃)に10
重量%の濃度で溶解し、製膜溶液とした。
The obtained polyvinyl propional was converted into 4-methyl-2-pentanone (boiling point 116 ° C), 3-octanone (boiling point 165 ° C) and cyclohexanone (boiling point 156 ° C) respectively.
It was dissolved at a concentration of wt% to obtain a film-forming solution.

次にそれぞれの溶液を直径6インチのシリコンウエハ
ーを基材としてスピンコーターを用いて回転塗布し、シ
リコンウエハー上に薄膜を形成させた。各薄膜を真空乾
燥した後、外辺91mm、肉厚2mm、高さ5mmのアルミニウム
枠とウエハー上の薄膜をエポキシ系接着剤を用いて接着
し、続いてアルミニウム枠上に接着された薄膜をウエハ
ーから剥離してペリクルを得た。
Next, each solution was spin-coated using a silicon wafer having a diameter of 6 inches as a base material by using a spin coater to form a thin film on the silicon wafer. After vacuum drying each thin film, an aluminum frame with an outer side of 91 mm, a wall thickness of 2 mm, and a height of 5 mm is bonded to the thin film on the wafer using an epoxy adhesive, and then the thin film bonded on the aluminum frame is bonded to the wafer. The pellicle was obtained by peeling from.

作製したそれぞれのペリクル膜の膜厚を全面にわたり
1cmごとに91点についてレーザー多重干渉膜厚計により
測定し、膜厚平均値及び膜厚ムラを求めた。得られた結
果をまとめて表1に示す。
The thickness of each pellicle film produced is covered over the entire surface.
91 points per 1 cm were measured by a laser multiple interference film thickness meter, and an average film thickness and a film thickness unevenness were obtained. The obtained results are summarized in Table 1.

実施例 2 ポリビニルアルコール完全ケン化物(平均重合度100
0)50gを95%エタノール1中に分散し、36%塩酸30ml
及びブチルアルデヒド140gを添加した後、60℃にて6時
間ブチラール化反応を行った。反応終了後酢酸ナトリウ
ムを加えて中和した後、反応液を水中に投じ、析出した
白色固体をろ過回収した。得られたポリビニルブチラー
ルの酢酸ビニル成分の含量は0.90モル%、アセタール化
度は79モル%であった。
Example 2 Completely saponified polyvinyl alcohol (average degree of polymerization: 100
0) Disperse 50g in 95% ethanol 1 and add 36% hydrochloric acid 30ml.
After adding 140 g of butyraldehyde, a butyralization reaction was carried out at 60 ° C. for 6 hours. After completion of the reaction, sodium acetate was added for neutralization, the reaction solution was poured into water, and the precipitated white solid was collected by filtration. The obtained polyvinyl butyral had a vinyl acetate content of 0.90 mol% and an acetalization degree of 79 mol%.

得られたポリビニルブチラールをそれぞれ4−メチル
−2−ペンタノン及びシクロヘキサノンに10重量%の濃
度で溶解した後、実施例1と同様にして製膜し、ポリビ
ニルブチラールからなるペリクル膜を得た。得られたペ
リクル膜の膜厚平均値及び膜厚ムラを表1に示す。
The obtained polyvinyl butyral was dissolved in 4-methyl-2-pentanone and cyclohexanone at a concentration of 10% by weight, and then formed into a film in the same manner as in Example 1 to obtain a pellicle film made of polyvinyl butyral. Table 1 shows the average film thickness and the uneven film thickness of the obtained pellicle film.

実施例 3 ブチルアルデヒドの代わりにイソブチルアルデヒド14
0gを添加し、反応時間を13時間とした以外は実施例2と
全く同様にして、酢酸ビニル成分の含量0.52モル%、ア
セタール化度81モル%のポリビニルイソブチラールを得
た。
Example 3 Isobutyraldehyde 14 instead of butyraldehyde
Polyvinylisobutyral having a vinyl acetate component content of 0.52 mol% and an acetalization degree of 81 mol% was obtained in exactly the same manner as in Example 2 except that 0 g was added and the reaction time was 13 hours.

得られたポリビニルイソブチラールをそれぞれ4−メ
チル−2−ペンタノン及びシクロヘキサノンに10重量%
の濃度で溶解した後、実施例1と同様にして製膜し、ポ
リビニルイソブチラールからなるペリクル膜を得た。得
らえたペリクル膜の膜厚平均値及び膜厚ムラを表1に示
す。
10% by weight of the obtained polyvinyl isobutyral was added to 4-methyl-2-pentanone and cyclohexanone, respectively.
After dissolving at a concentration of, a film was formed in the same manner as in Example 1 to obtain a pellicle film made of polyvinyl isobutyral. Table 1 shows the average film thickness and the film thickness unevenness of the obtained pellicle film.

比較例 1 実施例1で得たポリビニルプロピオナールを3−ノナ
ノン(沸点190℃)に10重量%の濃度で溶解し、実施例
1と同様にして製膜後ペリクル膜とした。
Comparative Example 1 The polyvinyl propional obtained in Example 1 was dissolved in 3-nonanone (boiling point 190 ° C.) at a concentration of 10% by weight, and a pellicle film was formed in the same manner as in Example 1.

得られたペリクル膜の膜厚平均値は1.475μm、膜厚
ムラは0.85%であった。しかし、この膜の赤外吸収スペ
クトルを測定した結果、膜中に残存している3−ノナノ
ンに帰因する強いカルボニル基の吸収が観測され、遠紫
外線露光下での耐久性も実施例1で得たペリクル膜に比
べて約1/10以下と劣っていた。比較のために、結果を表
1に示す。
The obtained pellicle film had an average film thickness of 1.475 μm and an uneven film thickness of 0.85%. However, as a result of measuring the infrared absorption spectrum of this film, absorption of a strong carbonyl group attributed to 3-nonanone remaining in the film was observed, and durability under deep UV exposure was also in Example 1. It was inferior to the obtained pellicle film by about 1/10 or less. The results are shown in Table 1 for comparison.

比較例 2 実施例2で得たボリビニルブチラールをそれぞれメチ
ルプロピルケトン(沸点101℃)、キシレン(沸点106.2
℃)及びエチルセロソロブ(沸点135℃)に10重量%の
濃度で溶解し、実施例1と同様にして製膜後ペリクルと
した。比較のために、得られたペリクル膜の膜厚平均値
及び膜厚ムラを表1に示す。
Comparative Example 2 Polyvinyl butyral obtained in Example 2 was treated with methyl propyl ketone (boiling point 101 ° C.) and xylene (boiling point 106.2 ° C., respectively).
C.) and ethyl cellosolve (boiling point: 135.degree. C.) at a concentration of 10% by weight, and a pellicle after film formation was obtained in the same manner as in Example 1. For comparison, Table 1 shows the average film thickness and the film thickness unevenness of the obtained pellicle film.

以上の結果から明らかなように、沸点が110〜170℃の
脂肪族ケトンからなる溶媒を用いてポリビニルアセター
ルからペリクル膜を製造することにより、ペリクル膜の
膜厚ムラが著しく低減できることがわかる。これに対し
て沸点が高すぎる溶媒を用いて製膜した場合(比較例
1)はペリクル膜中に溶媒が残存し、耐久性が低下す
る。また沸点が低すぎる溶媒や脂肪族ケトン以外の溶媒
を用いた場合(比較例2)は、ペリクル膜の膜厚ムラが
大きくなることがわかる。
As is clear from the above results, it is found that by producing a pellicle film from polyvinyl acetal by using a solvent composed of an aliphatic ketone having a boiling point of 110 to 170 ° C., it is possible to significantly reduce the unevenness of the film thickness of the pellicle film. On the other hand, when a film is formed using a solvent having a boiling point that is too high (Comparative Example 1), the solvent remains in the pellicle film and the durability is reduced. It is also found that when a solvent having a boiling point that is too low or a solvent other than the aliphatic ketone is used (Comparative Example 2), the film thickness unevenness of the pellicle film becomes large.

〔発明の効果〕〔The invention's effect〕

以上のように本発明のペリクル膜の作製法を用いるこ
とにより、ポリビニルアタールの優れた透明性、耐久性
を生かし、かつ極めて膜厚均一性の優れたペリクル膜を
得ることができるため、マスクへの塵埃の付着による歩
留り低下を防止し、半導体集積回路の生産性向上に有用
である。
As described above, by using the method for producing a pellicle film of the present invention, it is possible to obtain a pellicle film that is excellent in transparency and durability of polyvinyl acetal and is extremely excellent in film thickness uniformity. This is useful for improving the productivity of semiconductor integrated circuits by preventing the yield reduction due to the adhesion of dust.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 // C08L 29/14 LHA B29K 29:00 B29L 7:00 ─────────────────────────────────────────────────── ─── Continuation of the front page (51) Int.Cl. 6 Identification code Office reference number FI technical display location // C08L 29/14 LHA B29K 29:00 B29L 7:00

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】実質的に下記一般式: (但し、R1は炭素数1〜3の直鎖又は分岐アルキル基で
あり、酢酸ビニル成分の含量yが10モル%以下であり、
アセタール化度z/(x+y+z)が60モル%以上であ
る。)により表されるポリビニルアセタールからなるペ
リクル膜を製造する方法において、下記一般式: で表され、かつ沸点が110〜170℃の範囲にある脂肪族ケ
トンを製膜溶媒として用いることを特徴とするペリクル
膜の製造方法。
1. The following general formula: (However, R 1 is a linear or branched alkyl group having 1 to 3 carbon atoms, the content y of the vinyl acetate component is 10 mol% or less,
The degree of acetalization z / (x + y + z) is 60 mol% or more. In the method for producing a pellicle film composed of a polyvinyl acetal represented by the following formula: And a boiling point in the range of 110 to 170 ° C. is used as a film-forming solvent, the method for producing a pellicle film.
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