JPH08252249A - 像データから検出器の劣化によるアーティファクトを除去する方法及び物体の断層写真像を作成するシステム - Google Patents

像データから検出器の劣化によるアーティファクトを除去する方法及び物体の断層写真像を作成するシステム

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JPH08252249A
JPH08252249A JP8000653A JP65396A JPH08252249A JP H08252249 A JPH08252249 A JP H08252249A JP 8000653 A JP8000653 A JP 8000653A JP 65396 A JP65396 A JP 65396A JP H08252249 A JPH08252249 A JP H08252249A
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cell
ring
deterioration
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JP8000653A
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Jiang Hsieh
ジアング・シー
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Original Assignee
General Electric Co
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • G01N23/046Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material using tomography, e.g. computed tomography [CT]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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    • G01N2223/419Imaging computed tomograph
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S378/00X-ray or gamma ray systems or devices
    • Y10S378/901Computer tomography program or processor

Abstract

(57)【要約】 【課題】 像を再生する処理条件に影響を与えることな
く、像データから検出器の劣化によるアーティファクト
を有効に除去することのできる方法を提供する。 【解決手段】 本発明に係る方法では、検出器と、X線
源とを含んでいるCTシステムからデータを求める。検
出器は複数の検出器セルで形成されている。患者を走査
する前に、検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生
する(158)。患者を走査した後に、像データがリン
グ誤差を含んでいる場合には、この誤差に寄与している
検出器セルを検出器劣化兆候ベクトルを用いて確認す
る。その後、システムは、このセルが劣化したセルであ
るかどうかを判断する。このセルが劣化したセルであれ
ば、像データに対して、この後、リング誤差補正処理が
実施される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、一般的には計算機式断
層写真(CT)作像に関し、更に具体的に言えば、劣化
した検出器から生じた誤差によるデータを補正する形式
で投影データから像を再生することに関する。
【0002】
【従来の技術】CTシステムでは、X線源が扇形ビーム
を投射し、扇形ビームは「作像平面」と呼ばれる直角座
標系のX−Y平面内にあるようにコリメートされる。X
線ビームは患者のような作像される物体を通過して、放
射線検出器の線形配列に入射する。透過した放射線の強
度は、物体によるX線ビームの減衰に関係する。線形配
列の各々の検出器は、ビーム減衰量の測定値である別個
の電気信号を発生する。すべての検出器からの減衰測定
値を別個に取得して、透過輪郭を発生する。
【0003】CTシステム内にあるX線源及び線形検出
器配列は、作像平面内で物体の周りにガントリと共に回
転させられて、X線ビームが物体と交わる角度が絶えず
変化するようにする。1つのガントリ角度で検出器配列
から得られた一群のX線減衰測定値が、「ビュー
(図)」と呼ばれる。物体の「走査」は、X線源及び検
出器の1回転の間に、相異なるガントリ角度で得られた
一組のビューで構成されている。軸方向走査では、物体
を通り抜けるように切られた2次元スライスに対応する
像を構成するようにデータが処理される。一組のデータ
から像を再生する1つの方法が、この分野では、フィル
タ式逆投影方式と呼ばれている。この方法は、走査から
の減衰測定値を「CT数」又は「ハウンズフィールド単
位」と呼ばれる整数に変換し、これらの整数を用いて、
陰極線管表示装置上の対応する画素の輝度を制御する。
【0004】検出器配列は複数の検出器セルで構成され
ている。セルは劣化することがあり、その程度に応じて
像にアーティファクト(偽像)が入り込む。目で見る
と、これらのアーティファクトは、像内のリング又は帯
(バンド)となって現れることがある。特に、検出器配
列にわたる一様性がないこと、及び劣化したセルの間で
同様でないことにより、勾配を有する物体を走査したと
きに、リング又は帯の形状でアーティファクトが発生す
る。勿論、像内のアーティファクトを最小限に抑えるこ
とが望ましい。
【0005】像からリングを除去する公知のアルゴリズ
ムが存在する。特に、リングを検出して、投影空間又は
像空間で補正することができる。例えば、公知の投影空
間補正アルゴリズムでは、予め処理した投影のフィルタ
作用に基づいて、「誤差候補ベクトル」が発生される。
その後、このベクトルを前のビューで発生されたベクト
ルと比較して、必要な補正量を決定する。このようなア
ルゴリズムは、本出願人に譲渡された米国特許第5,3
01,108号に記載されている。
【0006】他の公知のリング確定アルゴリズムでは、
高域ラジアル・フィルタ作用を実施することにより、リ
ングが確認される。実際に実施する際には、ラジアル・
フィルタは、水平の1次元フィルタ及び垂直の1次元フ
ィルタの加重和によって近似される。フィルタ作用の結
果及び予め定められた判断基準に基づいて、像内の予め
定められた各々のセグメント内の誤差を方位方向に組み
合わせて、セグメント全体のリング誤差を決定する。リ
ング状のアーティファクトは、もとの像からセグメント
ごとに誤差を減算することによって除去される。
【0007】公知のアルゴリズムでは、フィルタの長さ
を画素の寸法の関数として適応させることができない。
特に、高域フィルタの核の寸法及び形状は一定に保たれ
る。高域フィルタの周波数応答は像の画素の寸法によっ
て著しく左右されるので、これは最適ではない。表示視
野(DFOV)全体にわたってフィルタの比較的一定の
周波数応答を保つためには、ボックスカー形フィルタの
核の寸法をDFOVの関数と変化させることが必要であ
る。
【0008】公知のアルゴリズムの他の欠点は、このよ
うなアルゴリズムが誤差パターンに適応することができ
ないことである。孤立したチャンネルによって発生され
たリングの幅は、大まかに言うと、隣り合った2つのチ
ャンネルによって発生されたリングの半分の幅である。
従って、フィルタが単一セルのリングと同程度に有効に
二重セルのリングを検出して補正することができるよう
に保証するためには、フィルタの長さをそれに応じて調
節しなければならない。当然に、このことは、検出器特
性が先験的にわかっていることが必要になる。
【0009】公知のアルゴリズムの更に他の欠点は、大
きさの大きいリングを扱うことができないことである。
像内に深いリングが存在するときにはいつでも、公知の
リング確定アルゴリズムはそれを補正しても、その大き
さを小さくする程度にまでしか補正することができな
い。リング確定の補正の後に、残留リングは未だかなり
目につく。劣化した検出器に伴う多くのリングでは、リ
ングの大きさがかなり深く、そのため、現存のリング確
定アルゴリズムによって補正することができない。
【0010】
【発明の要約】本発明のアルゴリズムは、一形式では、
検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生することを
含んでいる。このベクトルは、患者を走査する前に確認
される。走査の際に得られたデータから像を再生する
際、検査される検出器セル又はチャンネルiがベクトル
S(i)に基づいて劣化したチャンネルである場合に、
各々のリング・セグメントに関連するチャンネルiに対
するリング誤差の大きさを検査する。チャンネルiに対
するこの誤差の大きさが予め定められた閾値よりも大き
い場合に、セグメント内の(チャンネルiに関連するリ
ングを含めて)隣り合ったリングに対する誤差データを
修正する。その後、修正した誤差データを像データから
減算することにより、リング誤差が除かれる。その後、
補正された像データから真の像が再生される。
【0011】本発明のリング補正アルゴリズムは、劣化
した検出器に関連するリング状のアーティファクトを除
去するのに有効であるだけでなく、像を再生する処理条
件に対する影響がごく小さい。更に、ベクトルS(i)
を用いて、像内のリングを検出するために用いられるフ
ィルタ核を適応させることができる。フィルタ核は、再
生DFOV及び再生の核の種類に基づいても修正するこ
とができるが、これについては、後に更に詳しく説明す
る。
【0012】
【実施例】図1及び図2について説明すると、計算機式
断層写真(CT)作像システム10が、「第三世代」C
Tスキャナの代表であるガントリ12を含んでいる。ガ
ントリ12はX線源13を有しており、X線源13は、
X線ビーム14をガントリ12の反対側にある検出器配
列16に向かって投射する。検出器配列16は2列の検
出器素子18で形成されており、これらの素子は合わせ
て、医療の患者15を通過した、投射されたX線を感知
する。各々の検出器素子18は、入射するX線ビームの
強度、従って患者15を通過するときのビームの減衰を
表す電気信号を発生する。X線投影データを取得するた
めの走査の間に、ガントリ12及びその上に装着されて
いる部品は、回転中心19の周りを回転する。
【0013】ガントリ12の回転及びX線源13の動作
は、CTシステム10の制御機構に20によって制御さ
れる。制御機構20は、X線源13に対する電力及びタ
イミング信号を供給するX線制御器22と、ガントリ1
2の回転速度及び位置を制御するガントリ・モータ制御
器23とを含んでいる。制御機構20に設けられたデー
タ取得システム(DAS)24が、検出器素子18から
のアナログ・データをサンプリングして、この後の処理
のため、このデータをディジタル信号に変換する。像再
生装置25が、DAS24からサンプリングされてディ
ジタル化されたX線データを受け取って、高速の像再生
を実施する。再生像がコンピュータ26に入力として印
加され、コンピュータ26は、像を大容量記憶装置29
に記憶する。
【0014】コンピュータ26は又、キーボードを有し
ているコンソール30を介して、オペレータからの指令
及び走査パラメータを受け取る。付設された陰極線管表
示装置32は、オペレータが再生像及びコンピュータ2
6からのその他のデータを観察することができるように
する。オペレータから供給された指令及びパラメータを
コンピュータ26で用いて、DAS24、X線制御器2
2及びガントリ・モータ制御器23に対する制御信号を
供給する。更に、コンピュータ26は、ガントリ12内
で患者15を位置決めするようにモータ式テーブル36
を制御するテーブル・モータ制御器34を作動させる。
【0015】図3はスイッチ制御アセンブリ102に接
続されている検出器100を示す。検出器100は、何
列かに分けて配置された複数の検出器セルで構成されて
いる。前に説明したように、各々の検出器セルは、入射
するX線ビームの強度、従って患者を通過するときのビ
ームの減衰を表す電気信号を発生する。各々のセルの出
力は予備増幅器104に供給され、予備増幅器104
は、増幅された信号をアナログ・ディジタル(A/D)
変換器106に供給する。この後、ディジタル化された
信号は、更に処理して像を再生するための他の部品(図
面に示していない)に供給される。
【0016】検出器100は、説明のための例示に過ぎ
ない。本発明のアルゴリズムは、この他の多くの形式の
検出器に関連して用いることができる。例えば、スライ
ス(水平)次元内に複数のセルを有している検出器、即
ち2次元検出器の代わりに、この次元内に1つのセルし
か有していない検出器、即ち1次元検出器にも用いるこ
とができる。
【0017】検出器セルは劣化することがあり、その程
度に応じて、像にアーティファクトが入り込む。前に説
明したように、これらのアーティファクトは、像内のリ
ング又は帯となって現れることがある。例えば、検出器
配列にわたって一様性がないこと、及び劣化したセルの
間で同様でないことにより、勾配を有する物体を走査す
るときに、リング又は帯の形状のアーティファクトが発
生する。
【0018】本発明のアルゴリズムは、像データからこ
のようなアーティファクトを除去することを目的として
いる。各々の検出器セル又はチャンネルが誤差を発生す
る同等の確率を有するという前提に基づいた公知のリン
グ確定アルゴリズムと異なり、本発明のアルゴリズム
は、検出器セルが実際に劣化したかどうかを判定するた
めの先験的な知識を利用している。どの検出器チャンネ
ルが誤差を発生したかに関係なくリング誤差を推定する
代わりに、本発明のアルゴリズムは、劣化したセルに関
連するデータに対してのみ、別個のリング確定補正を実
施する。ある検出器チャンネルが劣化したことが時間的
に前もってわかっていることにより、誤差の検出及び補
正の過程は、劣化したチャンネルに合わせて最適化する
ことができる。言い換えれば、検出器の健康度に関連す
る情報を利用して、リング確定過程を「ガイド(案
内)」する。
【0019】本発明の一形式によれば、患者を走査する
前に、検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生す
る。図4は検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生
するために利用される過程の工程を示す。特に、検出器
内の不良チャンネルを確認するために、z軸輪郭データ
を正規化する。z軸輪郭データは、例えば、検出器を非
常に幅の狭いスリットでマスクして、検出器をX線束に
露出しながらスリットを細かい増分で動かすことによっ
て、取得することができる。このようにすると、一度に
検出器セルの小さい面積しかX線束に露出されない。z
軸に沿った異なる位置で求められた読みが、検出器の感
度マップを作成する。勿論、他の方式を用いて、検出器
のマップを作成してもよい。例えば、患者の手前にある
コリメータを用いて、幅の狭いX線ビームで検出器を掃
引してもよい。
【0020】検出器の劣化の評価の精度を確実にするた
めに、データのうち、実際の走査露出に対応する部分の
みを用いる。例えば、補正しようとする像のスライスの
厚さが10mmである場合には、検出器上の中心の20
mmの輪郭のみを用いる。例えば、10mmのスライス
では、検出器上の露出区域は大体17.5mmである。
熱的及び機械的な移動によるX線焦点スポットのドリフ
ト(漂動)を考慮して、走査の間にX線束に露出される
かもしれない区域全体をカバーするために、セルの各々
の側にあるマージン(余裕)を追加する。同じ理由で、
5mmの走査に用いられるz軸輪郭は、大体中心の11
mmである。
【0021】輪郭の有効部分をその平均で除することに
より、正規化輪郭を求める。平均値を正規化係数として
用いるのは、平均値が最大値よりも一層信頼性があるか
らである。理想的な検出器では、この結果、輪郭は
“1”の一定の大きさを有するはずである。次に、各々
の検出器チャンネルiの劣化状態を表す劣化ベクトルD
(i)を工程152で発生する。このベクトルは、次の
式を用いて発生することができる。
【0022】
【数3】
【0023】ここで、N(z,i)はチャンネルiに対
する正規化されたz軸輪郭であり、[−a,a]はその
z軸輪郭の有効領域を表す。積分記号の内側にある項は
検出器輪郭の絶対百分率誤差である。ベクトルD(i)
は、この有効区域全体にわたる絶対百分率誤差曲線の下
方にある面積を表す。一般的に、ベクトルD(i)の値
が高ければ高いほど、劣化した検出器チャンネルが一層
多いことを示す。
【0024】もしあらゆる検出器セルが同じように劣化
したのであれば、リング又は帯状のアーティファクトは
起こらない。従って、絶対誤差ではなく、「チャンネル
間」誤差に基づいて検出器の劣化を推定することが好ま
しい。この目的を達成するために、劣化ベクトルD
(i)を工程154で高域フィルタ作用にかけて、真の
チャンネル間の変動T(i)を求める。
【0025】 T(i)=|D(i)−med[D(i)]| (2) ここで、medは9点中点フィルタである。中点フィル
タは、劣化ベクトルにある孤立した多重チャンネル・ス
パイクを温存するために用いられる。研究によると、殆
どすべての劣化した検出器セルは、境界のチャンネルに
孤立していることがわかった。従って、不必要な探索過
程を省くために、式(2)で得られたベクトルを工程1
56でマスクして、各々のモジュールに対して4つの境
界のセル(モジュールの各々の端に2つずつのセル)の
みを温存する。あらゆる検出器セルはその寿命中に何ら
かの劣化を経験すると予想されるので、安全度に関係す
る劣化を生じたセルのみを確認することが非常に重要で
ある。これは、検出器劣化ベクトルT(i)を単純な閾
値作用にかけて、最終的な検出器劣化兆候S(i)に達
する(工程158)ことによって達成することができ
る。
【0026】 S(i)=T(i) T(i)≧tのとき S(i)=0 T(i)<tのとき (3) その大きさが閾値よりも小さい誤差はゼロに設定する。
ベクトルS(i)では、ゼロでない素子は劣化したセル
に対応する。このベクトルをリング確定アルゴリズムに
対する入力として供給して、これから説明するような補
正の「ガイダンス(案内)」とする。
【0027】リング状アーティファクトの補正を行う場
合について述べると、一組の投影データから像を発生し
た後に、像データを走査してリング及び帯を確認する。
このような検出を行うアルゴリズムは、米国特許第4,
670,840号に記載されているアルゴリズムのよう
に、一般的に周知である。この検出を行うためのフィル
タ核の寸法は、ベクトルS(i)に基づいて決定され
る。特に、例えばベクトルS(i)からわかることであ
るが、2つ又は更に多くの隣接する劣化したチャンネル
がある場合に、リングは一層幅が広くなる。従って、フ
ィルタはこの一層広いリングを検出するように調節すべ
きである。DFOVが減少するときに、フィルタ核の長
さはわずかだけ増加して、リングの検出を改善する。標
準的な畳込み積分フィルタでは、24cmまでのDFO
Vに対しては、リング確定の補正に9点のボックスカー
形フィルタを用い、その他のDFOVに対しては、7点
を用いる。
【0028】一旦リングが確認されたら、リングをこの
ようなリングに寄与した検出器セルに写像する。図5は
このような写像を行うのに利用される幾何学的な関係を
示す。その後、リングに寄与する検出器セルを確認す
る。ベクトルS(i)を用いて、リングがいずれかの劣
化したセルと関係しているかどうかを判断する。検出さ
れたリングが、ベクトルS(i)によって劣化セルと確
認されたセルのうちの1つと関係がある場合には、各々
のリング・セグメントに関係するチャンネルiに対する
リング誤差の大きさを調べる。この大きさが予め定めた
閾値(例えば、0.5)よりも大きい場合には、(チャ
ンネルiを含んでいる)このセグメント内の隣接したリ
ングに対する誤差は、像データに下記の関数を適用する
ことによって修正する。
【0029】 e(i+m,k) =e(i+m,k)+w(i+m)β(m)e(i,k) 但し、−L≦m<N (4) ここで、e(n,k)は検出器チャンネルn及びリング
・セグメントkに関係する誤差であり、w(n)は逆投
影の特性を考慮する「こうもりの翼」形の加重係数であ
り、β(m)は加重係数である。β(m)は断層写真再
生フィルタ及び再生DFOVと共に変化することに注意
されたい。図6は標準的なフィルタ及び15cmのDF
OVに対する加重係数β(m)の一例を示す。
【0030】一旦誤差データがこのようにして修正され
たら、このように修正された誤差データを像データから
減算する。その後、補正された像データから真の像を再
生する。前に説明したように、本発明のアルゴリズム
は、リング確定の補正をガイドするために、検出器の状
態の先験的な知識を利用している。この方式の利点は、
劣化した検出器に関するリング状アーティファクトを除
去する点での有効性のみならず、計算条件に対する影響
がごく小さいことである。
【0031】本発明の種々の実施例について上に述べた
ところから、本発明の目的が達成されたことは明らかで
ある。本発明を詳しく説明して図面に示したが、これは
例示のためであって、単なる例であり、本発明を制約す
るものと解してはならないことを明確に承知されたい。
従って、本発明の要旨の範囲は、特許請求の範囲の記載
のみによって限定される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を用いることのできるCT作像システム
の見取図である。
【図2】図1に示すCT作像システムの簡略ブロック図
である。
【図3】検出器の検出器セル及び関連する部品のブロッ
ク図である。
【図4】検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生す
るために利用される方法の工程を示すフローチャートで
ある。
【図5】特定の検出器セルに対する検出されたリングの
写像を示す図である。
【図6】加重係数を示す図である。
【符号の説明】
10 CT作像システム 13 X線源 16 検出器配列 24 データ取得システム 25 像再生装置

Claims (13)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検出器とX線源とを含んでいるCTシス
    テムから得られた像データから検出器の劣化によるアー
    ティファクトを除去する方法であって、前記検出器は、
    複数の検出器セルで形成されており、該検出器セルの劣
    化を表す検出器劣化兆候ベクトルが、患者を走査する前
    に発生されており、フィルタ・アルゴリズムが、像デー
    タ内にリング誤差が存在するかどうかを判定するために
    用いられており、 確認された任意のリングに対して、該リングの発生に寄
    与した検出器セルを確認する工程と、 確認された前記セルが劣化したセルであるかどうかを前
    記劣化兆候ベクトルから判定する工程と、 確認された前記セルが劣化したセルである場合に、前記
    像データに対してリング誤差補正処理を行う工程とを備
    えた像データから検出器の劣化によるアーティファクト
    を除去する方法。
  2. 【請求項2】 前記検出器劣化兆候(S(i))ベクト
    ルを発生することは、 z軸輪郭データを正規化する工程と、 各々の検出器の劣化状態を表す劣化状態(D(i))ベ
    クトルを発生する工程と、 高周波データのみを含んでいるベクトル(T(i))を
    求めるために、前記劣化状態ベクトルを高域フィルタ作
    用にかける工程と、 所定の数の境界セルを保存するために、ベクトルT
    (i)をマスクする工程と、 マスクされた前記ベクトルT(i)から前記検出器劣化
    兆候(S(i))ベクトルを発生する工程とを含んでい
    る請求項1に記載の方法。
  3. 【請求項3】 前記各々の検出器の劣化状態を表す劣化
    状態(D(i))ベクトルを発生する工程は、N(z,
    i)がチャンネルiに対する正規化されたz軸輪郭であ
    り、[−a,a]が前記z軸輪郭の有効領域を表すもの
    として、次の関数 【数1】 に従って行われる請求項2に記載の方法。
  4. 【請求項4】 前記高周波データのみを含んでいるベク
    トル(T(i))を求めるために、前記劣化状態ベクト
    ルを高域フィルタ作用にかける工程は、medを9点中
    点フィルタとして、次の式 T(i)=D(i)−med[D(i)] に従って行われる請求項2に記載の方法。
  5. 【請求項5】 前記マスクされたベクトルT(i)から
    前記検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生する工
    程は、次の式 T(i)≧tのときに、S(i)=T(i) T(i)<tのときに、S(i)=0 に従って行われる請求項2に記載の方法。
  6. 【請求項6】 前記像データにリング誤差補正処理を行
    う工程は、 前記確認されたセルに対するリング誤差の大きさが所定
    の閾値よりも大きいかどうかを判定する工程と、 前記リング誤差の大きさが前記所定の閾値よりも大きい
    場合に、次の式−L≦m<Nに対して、 e(i+m,k) =e(i+m,k)+w(i+m)β(m)e(i,k) により誤差データを修正する工程と、 前記像データから、修正された前記誤差データを減算す
    る工程とを含んでいる請求項1に記載の方法。
  7. 【請求項7】 前記リングの発生に寄与した検出器セル
    を確認する工程は、前記リングを少なくとも1つの検出
    器セルに写像する工程を含んでいる請求項1に記載の方
    法。
  8. 【請求項8】 リング誤差を検出する前記フィルタ・ア
    ルゴリズムは、前記検出器劣化兆候ベクトルS(i)に
    基づいて修正される請求項1に記載の方法。
  9. 【請求項9】 螺旋走査で取得されたデータから物体の
    断層写真像を作成するシステムであって、 複数の検出器セルを有している検出器を備えており、検
    出器劣化兆候(S(i))ベクトルが、患者を走査する
    前に発生されて、前記システムの記憶ユニットに記憶さ
    れており、前記システムは、前記検出器セルの劣化によ
    り生じた任意のリング誤差に対して前記検出器セルから
    得られた像データを、 患者を走査した後に、前記像データがリング誤差を含ん
    でいる場合に、該リング誤差に寄与している検出器セル
    を確認し、 確認された前記セルが劣化したセルであるかどうかを前
    記検出器劣化兆候ベクトルから判定し、 前記セルが劣化したセルである場合に、前記データに対
    してリング誤差補正処理を行うことにより、補正してい
    る物体の断層写真像を作成するシステム。
  10. 【請求項10】 前記検出器劣化兆候(S(i))ベク
    トルを患者を走査する前に発生するために、 z軸輪郭データを正規化する手段と、 各々の検出器の劣化状態を表す劣化状態(D(i))ベ
    クトルを発生する手段と、 高周波データのみを含んでいるベクトル(T(i))を
    求めるために、前記劣化状態ベクトルを高域フィルタ作
    用にかける手段と、 所定数の境界セルを保存するために、ベクトルT(i)
    をマスクする手段と、 マスクされた前記ベクトルT(i)から前記検出器劣化
    兆候(S(i))ベクトルを発生する手段とを含んでい
    る請求項9に記載のシステム。
  11. 【請求項11】 前記各々の検出器の劣化状態を表す劣
    化状態(D(i))ベクトルを発生する手段は、N
    (z,i)がチャンネルiに対する正規化されたz軸輪
    郭であり、[−a,a]が前記z軸輪郭の有効領域を表
    すものとして、次の関数 【数2】 に従って実行されている請求項10に記載のシステム。
  12. 【請求項12】 前記高周波データのみを含んでいるベ
    クトル(T(i))を求めるために、前記劣化状態ベク
    トルを高域フィルタ作用にかける手段は、medを9点
    中点フィルタとして、次の関数 T(i)=D(i)−med[D(i)] に従って実行されている請求項10に記載のシステム。
  13. 【請求項13】 前記マスクされたベクトルT(i)か
    ら前記検出器劣化兆候(S(i))ベクトルを発生する
    手段は、次の関数 T(i)≧tのときに、S(i)=T(i) T(i)<tのときに、S(i)=0 に従って実行されている請求項10に記載のシステム。
JP8000653A 1995-01-17 1996-01-08 像データから検出器の劣化によるアーティファクトを除去する方法及び物体の断層写真像を作成するシステム Withdrawn JPH08252249A (ja)

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