JPH08233896A - 電線・ケーブルの劣化診断方法 - Google Patents
電線・ケーブルの劣化診断方法Info
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- JPH08233896A JPH08233896A JP3670595A JP3670595A JPH08233896A JP H08233896 A JPH08233896 A JP H08233896A JP 3670595 A JP3670595 A JP 3670595A JP 3670595 A JP3670595 A JP 3670595A JP H08233896 A JPH08233896 A JP H08233896A
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Landscapes
- Testing Relating To Insulation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 遮蔽層を有する電線・ケーブルのみならず、
遮蔽層のない低圧用電線・ケーブルに対しても、布設状
態のまま非破壊的に、かつ精度の高い劣化診断を行うこ
とができる方法を提供する。 【構成】 ケーブル１の外周に、長さ方向に、たとえば
1cmの間隔をおいて導電性ペイントを環状に塗布すると
ともに、これらの各導電性ペイント層３上に銅線４を巻
き付け、各銅線４端部を抵抗測定回路５に接続して、導
電性ペイント層３間のシース２の表面電気抵抗を測定
し、その変化から劣化の度合いを診断する。
遮蔽層のない低圧用電線・ケーブルに対しても、布設状
態のまま非破壊的に、かつ精度の高い劣化診断を行うこ
とができる方法を提供する。 【構成】 ケーブル１の外周に、長さ方向に、たとえば
1cmの間隔をおいて導電性ペイントを環状に塗布すると
ともに、これらの各導電性ペイント層３上に銅線４を巻
き付け、各銅線４端部を抵抗測定回路５に接続して、導
電性ペイント層３間のシース２の表面電気抵抗を測定
し、その変化から劣化の度合いを診断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、電線・ケーブルの劣化
を非破壊的に診断する方法に関する。
を非破壊的に診断する方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に電線・ケーブルは、長期の使用に
より様々な要因によって電気的あるいは機械的に劣化
し、正常かつ安全な機能が損なわれることがあり、この
ため、従来より、布設されている電線・ケーブルに対
し、定期的にその劣化状態を診断し、必要ならば取り替
えるなどして、かかる劣化による事故の発生を未然に防
止している。
より様々な要因によって電気的あるいは機械的に劣化
し、正常かつ安全な機能が損なわれることがあり、この
ため、従来より、布設されている電線・ケーブルに対
し、定期的にその劣化状態を診断し、必要ならば取り替
えるなどして、かかる劣化による事故の発生を未然に防
止している。
【０００３】しかして、従来、このような電線・ケーブ
ルの劣化診断は、布設現場から部分的に切断撤去して作
成した試料について引張試験や電気試験などの破壊試験
を行う方法が一般に用いられてきた。しかしながら、こ
のような方法は、手間がかかるうえ、実施によって電線
・ケーブルが使用ができなくなるなどの問題があった。
このため、電線・ケーブルを撤去することなく、布設状
態のまま非破壊的に劣化診断し得る方法の開発が求めら
れ、例えば、絶縁体の tanδを測定する方法、直流電圧
による充電電荷の減衰時定数から絶縁抵抗を求めて劣化
を判定する電位減衰法などの方法が提案されてきてい
る。
ルの劣化診断は、布設現場から部分的に切断撤去して作
成した試料について引張試験や電気試験などの破壊試験
を行う方法が一般に用いられてきた。しかしながら、こ
のような方法は、手間がかかるうえ、実施によって電線
・ケーブルが使用ができなくなるなどの問題があった。
このため、電線・ケーブルを撤去することなく、布設状
態のまま非破壊的に劣化診断し得る方法の開発が求めら
れ、例えば、絶縁体の tanδを測定する方法、直流電圧
による充電電荷の減衰時定数から絶縁抵抗を求めて劣化
を判定する電位減衰法などの方法が提案されてきてい
る。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
はいずれも、遮蔽層を有する中、高圧用の電線・ケーブ
ルに適用できるが、遮蔽層のない 600V 程度以下の低圧
用のものには適用できないという問題があった。また、
一般に放射線劣化や熱劣化は、絶縁体またはシースの外
表面から進行するため、電線・ケーブルとしての劣化
は、絶縁体またはシースの外表面で診断することが望ま
しいが、従来の方法は絶縁体の特性変化から診断するも
のであるため、診断は信頼性に欠けるものとなるおそれ
があった。
はいずれも、遮蔽層を有する中、高圧用の電線・ケーブ
ルに適用できるが、遮蔽層のない 600V 程度以下の低圧
用のものには適用できないという問題があった。また、
一般に放射線劣化や熱劣化は、絶縁体またはシースの外
表面から進行するため、電線・ケーブルとしての劣化
は、絶縁体またはシースの外表面で診断することが望ま
しいが、従来の方法は絶縁体の特性変化から診断するも
のであるため、診断は信頼性に欠けるものとなるおそれ
があった。
【０００５】本発明はこのような従来の事情に対処して
なされたもので、遮蔽層を有する電線・ケーブルのみな
らず、遮蔽層のない低圧用電線・ケーブルに対しても、
布設状態のまま非破壊的に劣化診断することができ、し
かも、信頼性の高い診断を行うことができる電線・ケー
ブルの劣化診断方法を提供することを目的とする。
なされたもので、遮蔽層を有する電線・ケーブルのみな
らず、遮蔽層のない低圧用電線・ケーブルに対しても、
布設状態のまま非破壊的に劣化診断することができ、し
かも、信頼性の高い診断を行うことができる電線・ケー
ブルの劣化診断方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明者らは上記目的を
達成するため鋭意研究を重ねた結果、電線・ケーブル表
面の絶縁体またはシースの表面電気抵抗が、劣化の度合
いを明瞭に示す指標になる得ることを見出だし、本発明
を完成するに至った。
達成するため鋭意研究を重ねた結果、電線・ケーブル表
面の絶縁体またはシースの表面電気抵抗が、劣化の度合
いを明瞭に示す指標になる得ることを見出だし、本発明
を完成するに至った。
【０００７】すなわち、本発明の電線・ケーブルの劣化
診断方法は、電線・ケーブル表面の絶縁体またはシース
の表面電気抵抗を測定し、その表面電気抵抗の変化から
劣化の度合いを診断することを特徴とするものである。
診断方法は、電線・ケーブル表面の絶縁体またはシース
の表面電気抵抗を測定し、その表面電気抵抗の変化から
劣化の度合いを診断することを特徴とするものである。
【０００８】本発明において、前記絶縁体またはシース
の表面電気抵抗の測定は、たとえば当該絶縁体またはシ
ースの外周に所定の間隔をおいて設けた一対の環状電極
間の電気抵抗を測定することにより行うことができる。
なお、ここで、環状電極の形成は、金属線や金属テープ
などを巻き付ける、膜形成法により金属膜などの導電膜
を形成する、導電性ペイントを塗布するなどの方法を用
いることができる。また、その離間距離としては、電線
・ケーブルの表面積などによっても異なるが、通常、0.
5 〜10cm程度が適当であり、あまり長いと流れる電流が
小さいため、電気抵抗の測定が困難になる。さらに、電
気抵抗の測定時間は、 5分以内で、かつ各試料に対する
測定時間を一定にすることが望ましい。これは、電流は
時間の経過ともに低下して一定の値に収束するようにな
るからである。
の表面電気抵抗の測定は、たとえば当該絶縁体またはシ
ースの外周に所定の間隔をおいて設けた一対の環状電極
間の電気抵抗を測定することにより行うことができる。
なお、ここで、環状電極の形成は、金属線や金属テープ
などを巻き付ける、膜形成法により金属膜などの導電膜
を形成する、導電性ペイントを塗布するなどの方法を用
いることができる。また、その離間距離としては、電線
・ケーブルの表面積などによっても異なるが、通常、0.
5 〜10cm程度が適当であり、あまり長いと流れる電流が
小さいため、電気抵抗の測定が困難になる。さらに、電
気抵抗の測定時間は、 5分以内で、かつ各試料に対する
測定時間を一定にすることが望ましい。これは、電流は
時間の経過ともに低下して一定の値に収束するようにな
るからである。
【０００９】なお、本発明の診断方法は、原子力発電所
など、放射線による劣化を大きく被るような場所に布設
されている電線・ケーブルの劣化の診断に特に有用であ
る。
など、放射線による劣化を大きく被るような場所に布設
されている電線・ケーブルの劣化の診断に特に有用であ
る。
【００１０】
【作用】本発明の方法においては、電線・ケーブル表面
の絶縁体またはシースの表面電気抵抗を測定し、その表
面電気抵抗の変化から劣化の度合いを診断するものであ
り、絶縁体またはシースの表面電気抵抗は、劣化の進行
とともに低下することから、たとえば予め、診断すべき
電線・ケーブルと同じ電線・ケーブルについて、その絶
縁体またはシースの表面電気抵抗と劣化の度合いとの関
係を求めておけば、これと診断しようとする電線・ケー
ブルについて測定した表面電気抵抗とを対比させること
により、当該電線・ケーブルの劣化の度合いを高い精度
で診断することができる。表面電気抵抗は、電線・ケー
ブルを撤去することなく布設されている状態で、しかも
遮蔽層の有無に関わりなく測定することができるため、
遮蔽層のない低圧用の電線・ケーブルであっても、その
劣化を布設状態のまま非破壊的に診断することができ
る。
の絶縁体またはシースの表面電気抵抗を測定し、その表
面電気抵抗の変化から劣化の度合いを診断するものであ
り、絶縁体またはシースの表面電気抵抗は、劣化の進行
とともに低下することから、たとえば予め、診断すべき
電線・ケーブルと同じ電線・ケーブルについて、その絶
縁体またはシースの表面電気抵抗と劣化の度合いとの関
係を求めておけば、これと診断しようとする電線・ケー
ブルについて測定した表面電気抵抗とを対比させること
により、当該電線・ケーブルの劣化の度合いを高い精度
で診断することができる。表面電気抵抗は、電線・ケー
ブルを撤去することなく布設されている状態で、しかも
遮蔽層の有無に関わりなく測定することができるため、
遮蔽層のない低圧用の電線・ケーブルであっても、その
劣化を布設状態のまま非破壊的に診断することができ
る。
【００１１】
【実施例】以下、本発明を、原子力施設などで使用され
る、最外層に軟質塩化ビニル樹脂からなるシースを有す
る600V級ケーブルおよび最外層にクロロプレンゴムから
なるシースを有する600V級ケーブルを例に説明する。
る、最外層に軟質塩化ビニル樹脂からなるシースを有す
る600V級ケーブルおよび最外層にクロロプレンゴムから
なるシースを有する600V級ケーブルを例に説明する。
【００１２】まず、図１に示すように、それぞれのケー
ブル１の外周に、長さ方向に、 1cmの間隔をおいて導電
性ペイントを塗布するとともに、これらの各導電性ペイ
ント層３上に銅線４を巻き付け、各銅線４端部を抵抗測
定回路５に接続して、導電性ペイント層３間のシース２
の表面電気抵抗（印加電圧 500V 、測定時間 1分間、以
下同じ）を測定した。
ブル１の外周に、長さ方向に、 1cmの間隔をおいて導電
性ペイントを塗布するとともに、これらの各導電性ペイ
ント層３上に銅線４を巻き付け、各銅線４端部を抵抗測
定回路５に接続して、導電性ペイント層３間のシース２
の表面電気抵抗（印加電圧 500V 、測定時間 1分間、以
下同じ）を測定した。
【００１３】同様にして、実環境を模擬して、各ケーブ
ル1 に、（イ）室温で 330Gy/hr の線量率、および
（ロ）90℃で 50Gy/hrの線量率という条件で、γ線を照
射して劣化させ、（イ）の照射では、所定の線量を照射
したところで、また（ロ）の照射では、所定の日数が経
過したところで、シース２の表面電気抵抗を測定した。
ル1 に、（イ）室温で 330Gy/hr の線量率、および
（ロ）90℃で 50Gy/hrの線量率という条件で、γ線を照
射して劣化させ、（イ）の照射では、所定の線量を照射
したところで、また（ロ）の照射では、所定の日数が経
過したところで、シース２の表面電気抵抗を測定した。
【００１４】図２ａ、図３ａ、図４ａ、および図５ａ
は、このようにして測定した表面電気抵抗と積算線量、
表面電気抵抗と照射（劣化）日数との関係をそれぞれグ
ラフに示したもので、表面電気抵抗は、γ線の照射量ま
たは照射日数の増大（すなわち、劣化）とともに低下傾
向を示していた。そして、これらの変化は、上記と同一
条件で劣化させた同一構成のケーブルについて、破壊試
験によりシース２の伸びを測定して求めた伸びと積算線
量との関係（図２ｂ、図４ｂ）あるいは伸びと照射日数
との関係（図３ｂ、図５ｂ）とそれぞれよく相関してい
た。
は、このようにして測定した表面電気抵抗と積算線量、
表面電気抵抗と照射（劣化）日数との関係をそれぞれグ
ラフに示したもので、表面電気抵抗は、γ線の照射量ま
たは照射日数の増大（すなわち、劣化）とともに低下傾
向を示していた。そして、これらの変化は、上記と同一
条件で劣化させた同一構成のケーブルについて、破壊試
験によりシース２の伸びを測定して求めた伸びと積算線
量との関係（図２ｂ、図４ｂ）あるいは伸びと照射日数
との関係（図３ｂ、図５ｂ）とそれぞれよく相関してい
た。
【００１５】したがって、予め電線・ケーブルの表面電
気抵抗と劣化の度合いの関係を求めておけば、実際に布
設されている電線・ケーブルの表面電気抵抗を測定する
ことにより、当該電線・ケーブルの劣化の度合いを非破
壊的にかつ高精度に診断することができる。
気抵抗と劣化の度合いの関係を求めておけば、実際に布
設されている電線・ケーブルの表面電気抵抗を測定する
ことにより、当該電線・ケーブルの劣化の度合いを非破
壊的にかつ高精度に診断することができる。
【００１６】なお、上記実施例は、軟質塩化ビニル樹脂
またはクロロプレンゴムからなるシースを有する600V級
ケーブルへの適用例であるが、本発明はこのようなケー
ブルに限定されるものではなく、放射線などにより劣化
する有機材料よりなる被覆を有するものであれば、低
圧、高圧にかかわらず各種電線・ケーブルに広く適用す
ることができる。
またはクロロプレンゴムからなるシースを有する600V級
ケーブルへの適用例であるが、本発明はこのようなケー
ブルに限定されるものではなく、放射線などにより劣化
する有機材料よりなる被覆を有するものであれば、低
圧、高圧にかかわらず各種電線・ケーブルに広く適用す
ることができる。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように本発明の方法によれ
ば、電線・ケーブル表面の絶縁体またはシースの表面電
気抵抗を測定し、その表面電気抵抗の変化から劣化の度
合いを診断するようにしたので、遮蔽層のない低圧用電
線・ケーブルに対しても、布設状態のまま非破壊的に劣
化診断することができ、しかも、精度の高い診断を行う
ことができる。
ば、電線・ケーブル表面の絶縁体またはシースの表面電
気抵抗を測定し、その表面電気抵抗の変化から劣化の度
合いを診断するようにしたので、遮蔽層のない低圧用電
線・ケーブルに対しても、布設状態のまま非破壊的に劣
化診断することができ、しかも、精度の高い診断を行う
ことができる。
【図１】本発明の一実施例を説明する図。
【図２】ａは、軟質塩化ビニル樹脂からなるシースを有
する600V級ケーブルに室温下でγ線を照射して測定した
シースの表面電気抵抗と積算線量との関係を示すグラ
フ、ｂはその場合の破壊試験による伸びと積算線量との
関係を示すグラフ。
する600V級ケーブルに室温下でγ線を照射して測定した
シースの表面電気抵抗と積算線量との関係を示すグラ
フ、ｂはその場合の破壊試験による伸びと積算線量との
関係を示すグラフ。
【図３】ａは、軟質塩化ビニル樹脂からなるシースを有
する600V級ケーブルに加熱下でγ線を照射して測定した
シースの表面電気抵抗と劣化日数との関係を示すグラ
フ、ｂはその場合の破壊試験による伸びと劣化日数との
関係を示すグラフ。
する600V級ケーブルに加熱下でγ線を照射して測定した
シースの表面電気抵抗と劣化日数との関係を示すグラ
フ、ｂはその場合の破壊試験による伸びと劣化日数との
関係を示すグラフ。
【図４】ａは、クロロプレンゴムからなるシースを有す
る600V級ケーブルに室温下でγ線を照射して測定したシ
ースの表面電気抵抗と積算線量との関係を示すグラフ、
ｂはその場合の破壊試験による伸びと積算線量との関係
を示すグラフ。
る600V級ケーブルに室温下でγ線を照射して測定したシ
ースの表面電気抵抗と積算線量との関係を示すグラフ、
ｂはその場合の破壊試験による伸びと積算線量との関係
を示すグラフ。
【図５】ａは、クロロプレンゴムからなるシースを有す
る600V級ケーブルに加熱下でγ線を照射して測定したシ
ースの表面電気抵抗と劣化日数との関係を示すグラフ、
ｂはその場合の破壊試験による伸びと劣化日数との関係
を示すグラフ。
る600V級ケーブルに加熱下でγ線を照射して測定したシ
ースの表面電気抵抗と劣化日数との関係を示すグラフ、
ｂはその場合の破壊試験による伸びと劣化日数との関係
を示すグラフ。
１………ケーブル ２………シース ３………導電性ペイント層 ４………銅線 ５………抵抗測定回路
Claims (3)
- 【請求項１】 電線・ケーブル表面の絶縁体またはシー
スの表面電気抵抗を測定し、その表面電気抵抗の変化か
ら当該電線・ケーブルの劣化の度合いを診断することを
特徴とする電線・ケーブルの劣化診断方法。 - 【請求項２】 表面電気抵抗の測定は、絶縁体またはシ
ースの外周に所定の間隔をおいて設けた一対の環状電極
間の電気抵抗を測定することにより行うことを特徴とす
る請求項１記載の電線・ケーブルの劣化診断方法。 - 【請求項３】 劣化は少なくとも放射線による劣化を含
むことを特徴とする；請求項１または２記載の電線・ケ
ーブルの劣化診断方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3670595A JPH08233896A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 電線・ケーブルの劣化診断方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3670595A JPH08233896A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 電線・ケーブルの劣化診断方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08233896A true JPH08233896A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=12477196
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3670595A Withdrawn JPH08233896A (ja) | 1995-02-24 | 1995-02-24 | 電線・ケーブルの劣化診断方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08233896A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120084305A (ko) | 2009-10-07 | 2012-07-27 | 다이헤이요 세멘토 가부시키가이샤 | 부식 센서 |
| JP2014102193A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Toshiba Corp | 余寿命診断用のプローブおよび計測装置 |
| KR20160073581A (ko) * | 2014-12-17 | 2016-06-27 | 엘에스전선 주식회사 | Dc 케이블의 체적저항측정 시스템 |
| KR20160124356A (ko) * | 2015-04-17 | 2016-10-27 | (주)일지테크 | 클래드 소재 검사방법 |
| CN112888953A (zh) * | 2018-12-04 | 2021-06-01 | 宝马股份公司 | 用于检测高压线的绝缘电阻的测试设备和方法 |
-
1995
- 1995-02-24 JP JP3670595A patent/JPH08233896A/ja not_active Withdrawn
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20120084305A (ko) | 2009-10-07 | 2012-07-27 | 다이헤이요 세멘토 가부시키가이샤 | 부식 센서 |
| JP2014102193A (ja) * | 2012-11-21 | 2014-06-05 | Toshiba Corp | 余寿命診断用のプローブおよび計測装置 |
| KR20160073581A (ko) * | 2014-12-17 | 2016-06-27 | 엘에스전선 주식회사 | Dc 케이블의 체적저항측정 시스템 |
| KR20160124356A (ko) * | 2015-04-17 | 2016-10-27 | (주)일지테크 | 클래드 소재 검사방법 |
| CN112888953A (zh) * | 2018-12-04 | 2021-06-01 | 宝马股份公司 | 用于检测高压线的绝缘电阻的测试设备和方法 |
| CN112888953B (zh) * | 2018-12-04 | 2024-04-23 | 宝马股份公司 | 用于检测高压线的绝缘电阻的测试设备和方法 |
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| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
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