JPH08233875A - Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus - Google Patents

Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus

Info

Publication number
JPH08233875A
JPH08233875A JP31714395A JP31714395A JPH08233875A JP H08233875 A JPH08233875 A JP H08233875A JP 31714395 A JP31714395 A JP 31714395A JP 31714395 A JP31714395 A JP 31714395A JP H08233875 A JPH08233875 A JP H08233875A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
frequency
sweep
signal
spectrum
local oscillator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31714395A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Kosuge
尚 小菅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP31714395A priority Critical patent/JPH08233875A/en
Publication of JPH08233875A publication Critical patent/JPH08233875A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Superheterodyne Receivers (AREA)

Abstract

PURPOSE: To display a spectrum of components of only a target measuring signal by removing an image spectrum generated by other higher harmonics. CONSTITUTION: A sweep offset control part 13 is provided to control a first local oscillator 56 for sweeping so that a sweep frequency fosc of the oscillator 56 is switched between a first sweep frequency fosc1 and a second sweep frequency fosc2=fosc1+2fif2/N at the sweeping time. A smaller data value of spectra data obtained with the sweep frequencies fosc1 and fosc2 by the control part 13 is selected and output by an image-removing/processing part 12.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、周波数のスペク
トラム測定分野において、N次高調波で被測定周波数信
号を混合して周波数のスペクトラム測定表示する装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring and displaying a spectrum of a frequency by mixing frequency signals to be measured with Nth harmonics in the field of spectrum measurement of the frequency.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来技術の例としては、掃引する第1局
部発振器56の掃引周波数fosc信号を外部出力端子1
20に出力し、外部からの中間周波数fif2信号を受け
る入力端子130を有して、外部のミキサにより、スペ
クトラムアナライザの測定周波数の上限周波数より更に
上のN倍の周波数領域の被測定信号fhiのスペクトラム
を測定表示を行う。これについて、図3と図4を参照し
て説明する。本装置の構成は、図3に示すように、周波
数変換部50と、入力切替器74と、第2IFフィルタ
66と、検波部68と、AD変換器82と、ADバッフ
ァメモリ84と、表示処理部86と、表示部88とで構
成している。外部には、利用者側が用意する外部ミキサ
72がある。周波数変換部50は、減衰器42と、YT
F52と、第1ミキサ54と、第1局部発振器56と、
第1IFフィルタ58と、第2ミキサ62と、第2局部
発振器64とで構成している。
2. Description of the Related Art As an example of the prior art, a sweep frequency fosc signal of a first local oscillator 56 to be swept is output to an external output terminal 1.
20 having an input terminal 130 for receiving the intermediate frequency fif2 signal from the outside, and using an external mixer, the measured signal fhi in the frequency region N times higher than the upper limit frequency of the spectrum analyzer measurement frequency. Measure and display the spectrum. This will be described with reference to FIGS. 3 and 4. As shown in FIG. 3, the configuration of the present device has a frequency conversion unit 50, an input switching unit 74, a second IF filter 66, a detection unit 68, an AD converter 82, an AD buffer memory 84, and a display process. It is composed of a section 86 and a display section 88. Externally, there is an external mixer 72 prepared by the user. The frequency conversion unit 50 includes an attenuator 42, a YT
F52, the first mixer 54, the first local oscillator 56,
The first IF filter 58, the second mixer 62, and the second local oscillator 64 are included.

【0003】第1に、内部の周波数変換部50を用いた
通常のスペクトラム測定の場合について説明する。入力
端子100に入力した被測定信号finは、減衰器42で
所望のレベルに減衰した後、YTF52で掃引に対応し
た目的とする周波数成分のみを通過させた後、第1ミキ
サ54に供給する。ここで、YTF(YIG-tuned filte
r)52は、YIGを用いた同調フィルタであり、印加
磁界により同調周波数が可変となるフィルタ素子であ
り、掃引する第1局部発振器56に対して周波数=fos
c+fif1の同調周波数に連動させて目的とする周波数成
分のみを通過させて、掃引に同期したフィルタ機能を実
現している。
First, the case of normal spectrum measurement using the internal frequency converter 50 will be described. The signal to be measured fin input to the input terminal 100 is attenuated to a desired level by the attenuator 42, passed through the target frequency component corresponding to the sweep by the YTF 52, and then supplied to the first mixer 54. Here, YTF (YIG-tuned filte
r) 52 is a tuning filter using YIG, and is a filter element whose tuning frequency is variable by an applied magnetic field, and frequency = fos with respect to the first local oscillator 56 to be swept.
By interlocking with the tuning frequency of c + fif1, only the target frequency component is passed and the filter function synchronized with the sweep is realized.

【0004】第1局部発振器56は、測定周波数範囲を
掃引する発振器である。第1ミキサ54は、上記YTF
52からの信号と、掃引する第1局部発振器56とで混
合した中間周波数fif1を出力し、これを、第1フィル
タ58で中間周波数fif1成分のみを通過させた後、第
2ミキサ62に供給する。第2ミキサ62は、上記第1
フィルタ58からの中間周波数fif1と、固定発振器6
4とで混合し、ここの例では中間周波数fif2=421
MHzにダウンコンバートした後、入力切替器74を経
由して第2IFフィルタ66に供給する。第2IFフィ
ルタ66は、任意のバンド幅特性に設定できるフィルタ
であり、これにより所望の帯域条件でフィルタした後、
検波部68で検波し、AD変換器82でデジタル信号に
量子化し、ADバッファメモリ84に格納する。表示処
理部86は、ADバッファメモリ84の内容を読みだし
て、各種表示形態に応じた演算処理をした後、表示部8
8で周波数スペクトラム等を表示する。
The first local oscillator 56 is an oscillator that sweeps the measurement frequency range. The first mixer 54 is the above YTF.
The intermediate frequency fif1 mixed with the signal from 52 and the first local oscillator 56 to be swept is output, and the intermediate frequency fif1 is passed through the first filter 58 and then supplied to the second mixer 62. . The second mixer 62 is the first mixer
Intermediate frequency fif1 from filter 58 and fixed oscillator 6
4 and the intermediate frequency fif2 = 421 in this example.
After down-converting to MHz, it is supplied to the second IF filter 66 via the input switch 74. The second IF filter 66 is a filter that can be set to an arbitrary bandwidth characteristic, and by this, after filtering under a desired band condition,
The wave is detected by the wave detector 68, quantized into a digital signal by the AD converter 82, and stored in the AD buffer memory 84. The display processing unit 86 reads the contents of the AD buffer memory 84, performs arithmetic processing according to various display forms, and then displays the display unit 8
Display the frequency spectrum etc. with 8.

【0005】第2に、外部の利用者側の周波数変換機能
を用いて、スペクトラムアナライザの測定上限よりN倍
高い周波数信号の測定表示の場合について説明する。利
用者は、予め、測定諸元設定を、入力切替器74を外部
入力側に切り替え、N=5次としてスペクトラムアナラ
イザに通知設定しておく。この場合は、掃引周波数fos
c信号成分中に含まれているN次高調波(fosc×N)を
利用する。このN次高調波と被測定信号fhiとを混合し
て中間周波数fif2=fhi±(fosc×N)の絶対値の2
つの信号を生成する。この中間周波数信号を入力端子1
30に接続入力してスペクトラムを測定表示する。この
結果得られたスペクトラム波形の例を図4に示す。ここ
の例では、被測定信号fhi=30GHzの単一信号と仮
定し、掃引する周波数fosc=4〜8GHzとし、N=
5次の場合におけるスペクトラム波形とする。このスペ
クトラムを見ると、目的の被測定信号fhiによるスペク
トラムfN5a、fN5b以外に、N=4次高調波によるイメ
ージスペクトラムfN4a、fN4bと、N=6次高調波によ
るイメージスペクトラムfN6a、fN6bと、N=7次高調
波によるイメージスペクトラムfN7a、fN7bが表示され
ることになる。この図において、例えばイメージスペク
トラムfN4aは、掃引周波数が(fosc×4)=30GH
z−fif2で生じるイメージスペクトラムであり、イメ
ージスペクトラムfN4bは、掃引周波数が(fosc×4)
=30GHz+fif2で生じるイメージスペクトラムで
あり2本対のイメージスペクトラムを生じる。このよう
に目的のN=5次で2本のスペクトラムが表示され、N
=5以外の他のイメージスペクトラムも画面に表示され
る。
Secondly, a case of measuring and displaying a frequency signal N times higher than the measurement upper limit of the spectrum analyzer by using the frequency conversion function of the external user will be described. The user sets the measurement specifications in advance by switching the input switching device 74 to the external input side and notifying the spectrum analyzer that N = 5th order. In this case, the sweep frequency fos
The Nth harmonic (fosc × N) contained in the c signal component is used. The Nth harmonic and the signal under test fhi are mixed and the absolute value of the intermediate frequency fif2 = fhi ± (fosc × N) is 2
Generate two signals. Input this intermediate frequency signal to input terminal 1
Connect and input to 30 to measure and display spectrum. An example of the spectrum waveform obtained as a result is shown in FIG. In this example, it is assumed that the measured signal fhi is a single signal of 30 GHz, the sweep frequency is fosc = 4 to 8 GHz, and N =
It is a spectrum waveform in the case of the 5th order. Looking at this spectrum, in addition to the spectra fN5a and fN5b of the target signal fhi to be measured, N = image spectra fN4a and fN4b of the fourth harmonic, N = image spectra fN6a and fN6b of the sixth harmonic, and N = Image spectra fN7a and fN7b due to the 7th harmonic are displayed. In this figure, for example, the image spectrum fN4a has a sweep frequency of (fosc × 4) = 30 GH
This is an image spectrum generated by z-fif2, and the image spectrum fN4b has a sweep frequency of (fosc × 4).
= 30 GHz + fif2, which is an image spectrum that produces two pairs of image spectra. In this way, two spectra are displayed with the target N = 5th order, and N
Image spectra other than = 5 are also displayed on the screen.

【0006】この例では、単一の周波数信号の単純な場
合で説明したが、複数の周波数成分を含む被測定信号f
hiを測定しようとすると、本来の信号スペクトラムと、
イメージスペクトラムとの区別がつきにくくなって利用
上の大きな不便となってしまう。
In this example, the simple case of a single frequency signal has been described, but the measured signal f including a plurality of frequency components is f.
When trying to measure hi, the original signal spectrum,
It becomes difficult to distinguish from the image spectrum, which is a great inconvenience in use.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、ス
ペクトラムアナライザ内部においては、上記説明のよう
なイメージ信号を除去する為に、掃引する第1局部発振
器56と同期したフィルタであるYTF52がミキサ5
4の前に挿入されていて、不要なイメージ信号の生成を
除去するように構成されている。しかし、外部ミキサ7
2を使用する構成では、このような掃引に同期したフィ
ルタを設けることは通常困難である。この結果、図4に
示すように、本来の入力信号fhi成分以外の複数のイメ
ージスペクトラムが画面に表示されて見ずらく、誤認し
たりする難点があり、実用上の不便があった。
As described above, in the spectrum analyzer, in order to remove the image signal as described above, the YTF 52 which is a filter synchronized with the sweeping first local oscillator 56 is used as a mixer. 5
4 is inserted before 4 and is configured to eliminate the generation of unwanted image signals. However, the external mixer 7
In a configuration using 2, it is usually difficult to provide a filter synchronized with such a sweep. As a result, as shown in FIG. 4, a plurality of image spectra other than the original input signal fhi component are displayed on the screen, which is difficult to see and is erroneously recognized, which is a practical inconvenience.

【0008】そこで、本発明が解決しようとする課題
は、他の高調波によって発生するイメージスペクトラム
を除去して目的とする被測定信号fhi成分のみのスペク
トラム表示を実現することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to eliminate the image spectrum generated by other harmonics and realize a spectrum display of only the target signal fhi component to be measured.

【0009】[0009]

【課題を解決する為の手段】第1図は、本発明による第
1の解決手段を示している。上記課題を解決するため
に、本発明の構成では、掃引用第1局部発振器56の掃
引周波数foscの掃引周波数を、第1掃引周波数をfosc
1と、第2掃引周波数fosc2=fosc1+2fif2/Nとを
切り替えて掃引するように掃引用の第1局部発振器56
を制御する掃引オフセット制御部13を設け、掃引オフ
セット制御部13で両掃引周波数fosc1、fosc2で得ら
れた両スペクトラムデータの値で小さい方のデータ値を
選択して出力するイメージ除去処理部12を設ける構成
手段にする。これにより、周波数変換部50内の掃引用
第1局部発振器56の掃引周波数fosc信号を外部に出
力する外部出力端子120を有し、外部からの中間周波
数fif2信号を受ける入力端子130を有し、周波数変
換部50からの中間周波数fif2信号か、あるいは入力
端子130からの中間周波数fif2信号を切り替える入
力切替器74を有して、掃引用第1局部発振器56の掃
引周波数foscのN次高調波を使用して被測定信号fhi
を周波数変換して中間周波数fif2に変換して入力端子
130に供給して被測定信号fhiのスペクトラム測定を
イメージ信号を除去したスペクトラム信号のみの出力を
実現できる。
FIG. 1 shows a first solution according to the present invention. In order to solve the above-mentioned problem, in the configuration of the present invention, the sweep frequency of the sweep frequency first local oscillator 56 is fosc, and the first sweep frequency is fosc.
The first local oscillator 56 of the sweep reference so that the sweep is performed by switching between 1 and the second sweep frequency fosc2 = fosc1 + 2fif2 / N.
A sweep offset control unit 13 for controlling the image removal processing unit 12 for selecting and outputting the smaller data value of the spectrum data values obtained at both sweep frequencies fosc1 and fosc2 by the sweep offset control unit 13 is output. It is a constituent means to be provided. Thereby, it has an external output terminal 120 for outputting the sweep frequency fosc signal of the swept reference first local oscillator 56 in the frequency conversion unit 50 to the outside, and an input terminal 130 for receiving the intermediate frequency fif2 signal from the outside. An input switch 74 is provided for switching between the intermediate frequency fif2 signal from the frequency conversion unit 50 or the intermediate frequency fif2 signal from the input terminal 130, and the Nth harmonic of the sweep frequency fosc of the swept first local oscillator 56 is provided. Using the signal under test fhi
Can be frequency-converted to an intermediate frequency fif2 and supplied to the input terminal 130 to perform spectrum measurement of the signal under test fhi to output only the spectrum signal from which the image signal is removed.

【0010】第5図は、本発明による第2の解決手段を
示している。上記課題を解決するために、本発明の構成
では、掃引用第1局部発振器56の掃引周波数foscの
掃引周波数を、第1掃引周波数をfosc1と、第2掃引周
波数fosc2=fosc1+2fif2/Nとを切り替えて掃引す
るように掃引用の第1局部発振器56を制御する掃引オ
フセット制御部13を設け、掃引オフセット制御部13
で両掃引周波数fosc1、fosc2で得られた両スペクトラ
ムデータの値で小さい方のデータ値を選択して出力する
イメージ除去処理部12を設ける構成手段にする。これ
により、掃引用第1局部発振器56の掃引周波数fosc
のN次高調波を使用して被測定信号fhiを周波数変換し
て中間周波数fif2に変換して被測定信号fhiのスペク
トラム測定をイメージ信号を除去したスペクトラム信号
のみの出力を実現できる。
FIG. 5 shows a second solution according to the present invention. In order to solve the above-mentioned problem, in the configuration of the present invention, the sweep frequency of the sweep frequency fosc of the first local oscillator 56 is switched between the first sweep frequency fosc1 and the second sweep frequency fosc2 = fosc1 + 2fif2 / N. A sweep offset control unit 13 for controlling the first local oscillator 56 for sweeping is provided so that the sweep offset control unit 13
Then, the image removing processing unit 12 for selecting and outputting the smaller data value of the two spectrum data values obtained at the two sweep frequencies fosc1 and fosc2 is provided. As a result, the sweep frequency fosc of the swept reference first local oscillator 56 is
The signal to be measured fhi is frequency-converted into the intermediate frequency fif2 by using the Nth harmonic of the above, and the spectrum measurement of the signal to be measured fhi can be realized to output only the spectrum signal from which the image signal is removed.

【0011】上述の構成により、掃引オフセット制御部
13は、第1掃引周波数をfosc1と、第2掃引周波数f
osc2=fosc1+(2fif2/N)とを交互に掃引するよう
に掃引用の第1局部発振器56を制御することにより、
丁度中間周波数fif2だけシフトした周波数変換信号を
出力することで、両掃引により目的とする信号fhiのみ
が重なった位置にスペクトラム信号を生成出力する作用
がある。イメージ除去処理部12は、掃引オフセット制
御部13で交互に掃引して得られた両スペクトラムデー
タの値で小さい方のデータ値を選択して出力することで
不必要なイメージ信号を除去するフィルタ作用がある。
全体としては、他のN次高調波によって発生するイメー
ジスペクトラムを除去して目的とする被測定信号fhi成
分のみのスペクトラム表示する機能を実現できる。
With the above configuration, the sweep offset control unit 13 sets the first sweep frequency fosc1 and the second sweep frequency f.
By controlling the swept first local oscillator 56 to alternately sweep osc2 = fosc1 + (2fif2 / N),
By outputting the frequency conversion signal that is shifted by exactly the intermediate frequency fif2, there is an action of generating and outputting a spectrum signal at a position where only the target signal fhi is overlapped by both sweeps. The image removal processing unit 12 removes unnecessary image signals by selecting and outputting the smaller data value of the spectrum data values obtained by alternately sweeping by the sweep offset control unit 13. There is.
As a whole, it is possible to realize the function of removing the image spectrum generated by other Nth harmonics and displaying the spectrum of only the target signal fhi component to be measured.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に本発明の実施の形態を実施
例と共に詳細に説明する。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to Examples.

【0013】[0013]

【実施例】本発明の実施例は、掃引用の第1局部発振器
56のN倍の掃引信号を使用して外部のミキサにより混
合された中間周波数fif2を受けて、被測定信号fhi以
外のイメージ信号を除去して測定表示を実現する場合で
ある。これについて、図1と図2を参照して説明する。
本装置の構成は、図1に示すように、従来構成に、イメ
ージ除去処理部12と掃引オフセット制御部13を追加
した構成となっている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS An embodiment of the present invention uses an N times swept signal of a swept reference first local oscillator 56 to receive an intermediate frequency fif2 mixed by an external mixer and receive an image other than the signal under test fhi. This is a case where a signal is removed and a measurement display is realized. This will be described with reference to FIGS. 1 and 2.
As shown in FIG. 1, the configuration of this apparatus is a configuration in which an image removal processing unit 12 and a sweep offset control unit 13 are added to the conventional configuration.

【0014】イメージ信号を除去する原理は、目的とす
るN次高調波との混合成分以外であるイメージ信号を識
別した後、このイメージ信号の除去処理を行う手順で実
現する。ここで、従来例と同様に、中間周波数fif2=
421MHzとし、被測定信号fhiを単一の30GHz
信号と仮定し、掃引周波数fosc=4〜8GHzとし、
N=5次の場合における測定として説明する。
The principle of removing the image signal is realized by a procedure of identifying the image signal other than the target mixed component with the Nth harmonic and then performing the removal processing of this image signal. Here, as in the conventional example, the intermediate frequency fif2 =
421MHz, the measured signal fhi is a single 30GHz
Assuming a signal, the sweep frequency fosc = 4 to 8 GHz,
The measurement will be described as N = 5th order.

【0015】第1に、イメージ信号の識別を説明する。
中間周波数fif2の生成は、fif2=421MHz=fhi
±(fosc×N)の絶対値の2つの成分が生成される。
そこで、通常の掃引周波数foscと、中間周波数fif2×
2だけシフトした掃引周波数fosc+2fif2で各々掃引
を行うと、得られた信号成分の中で、目的の信号fhiの
場合のみ両者の掃引により検出点の位置が一致する。こ
の検出点の一致することを利用して識別する。即ち、掃
引周波数foscを2つの掃引周波数を使用し、掃引を交
互に実行制御すると、図2(a)に示すように、4つの
信号fN5a、fN5b、fN5c、fN5dが生成される。ここ
で、第1掃引周波数をfosc1とすると、第2掃引周波数
fosc2=fosc1+(2fif2/5)の関係にすると5次高
調波の周波数は、5×fosc1と、5×fosc2+2fif2と
なり、第2掃引周波数fosc2は丁度中間周波数2fif2だ
けシフトして掃引することとなる。この結果、第2掃引
周波数fosc2によるスペクトラム位置は、図2(a)の
fN5c、fN5dの位置にシフトして現れる。ここで、注目
すべきは、丁度中間周波数2fif2だけシフトしている為
に、fN5bとfN5cとが重なった位置に存在する点であ
る。
First, the identification of the image signal will be described.
The intermediate frequency fif2 is generated by fif2 = 421 MHz = fhi
Two components with absolute values of ± (fosc × N) are generated.
Therefore, normal sweep frequency fosc and intermediate frequency fif2 ×
When each sweep is performed with the sweep frequency fosc + 2fif2 shifted by 2, the positions of the detection points coincide with each other only in the case of the target signal fhi among the obtained signal components. Identification is performed by utilizing matching of the detection points. That is, when two sweep frequencies are used as the sweep frequency fosc and the sweep is alternately executed and controlled, four signals fN5a, fN5b, fN5c, and fN5d are generated as shown in FIG. Here, if the first sweep frequency is fosc1, and the relationship of the second sweep frequency fosc2 = fosc1 + (2fif2 / 5), the frequency of the fifth harmonic becomes 5 × fosc1 and 5 × fosc2 + 2fif2, and the second sweep frequency fosc2 is just swept by shifting the intermediate frequency 2fif2. As a result, the spectrum position due to the second sweep frequency fosc2 appears shifted to the positions of fN5c and fN5d in FIG. Here, noteworthy is that fN5b and fN5c exist at the overlapping position because they are just shifted by the intermediate frequency 2fif2.

【0016】掃引オフセット制御部13は、上記説明の
第1掃引周波数をfosc1と、第2掃引周波数fosc2=f
osc1+(2fif2/N)とを交互に掃引するように掃引用
の第1局部発振器56制御している。
The sweep offset control unit 13 sets the first sweep frequency fosc1 and the second sweep frequency fosc2 = f as described above.
The swept reference first local oscillator 56 is controlled so as to alternately sweep osc1 + (2fif2 / N).

【0017】イメージ除去処理部12は、交互に掃引し
て得られた両者のスペクトラムデータ列の並びの各デー
タ点を比較して、値の小さい方のデータを表示処理部8
6に出力することで、イメージ除去をおこなっている。
この結果、前記説明の4つの信号fN5a、fN5b、fN5
c、fN5dをこの処理を行うと、重なった位置に存在する
信号fN5b、fN5cのみが1本のスペクトラムとして出力
され図2(b)に示すように表示されることとなる。同
様に、N=4、6、7により生成されたスペクトラム信
号は、シフト周波数は、4×(2fif2/5)あるいは、
6×(2fif2/5)あるいは、7×(2fif2/5)とな
り、中間周波数fif2×2だけシフトした位置関係か
ら、何れもずれた位置になる為に、イメージ除去処理部
12で除去される。結果として、図2(a)のスペクト
ラム表示から図2(b)のスペクトラム表示になり、目
的とする信号のみがスペクトラムとして得られることと
なる。
The image removal processing unit 12 compares the respective data points in the arrangement of the spectrum data strings obtained by alternately sweeping, and displays the data having the smaller value as the display processing unit 8.
By outputting to 6, the image is removed.
As a result, the four signals fN5a, fN5b, fN5 described above are obtained.
When this processing is performed on c and fN5d, only the signals fN5b and fN5c existing at the overlapping positions are output as one spectrum and displayed as shown in FIG. 2 (b). Similarly, the spectrum signal generated by N = 4, 6, 7 has a shift frequency of 4 × (2fif2 / 5) or
It becomes 6 × (2fif2 / 5) or 7 × (2fif2 / 5), and since the positions are shifted from the positional relationship shifted by the intermediate frequency fif2 × 2, they are removed by the image removal processing unit 12. As a result, the spectrum display of FIG. 2A is changed to the spectrum display of FIG. 2B, and only the target signal is obtained as a spectrum.

【0018】上記実施例の説明では、スペクトラムアナ
ライザの掃引周波数のN倍の周波数領域の被測定信号f
hiスペクトラムのイメージ信号を除去する場合で説明し
たが、この他にも、図5に示すように、未知の周波数f
hi信号をミキサの一方に供給し、掃引周波数fosc信号
をミキサの他方に供給して混合してスペクトラムデータ
を得る場合においても、掃引周波数foscのN次高調波
と未知の周波数fhi信号によりイメージ周波数信号を生
成するイメージ周波数除去装置の場合においても適用で
き、同様にして実施できる。
In the description of the above embodiment, the measured signal f in the frequency region N times the sweep frequency of the spectrum analyzer is f.
Although the description has been given in the case of removing the image signal of the hi spectrum, in addition to this, as shown in FIG.
Even when the hi signal is supplied to one side of the mixer and the sweep frequency fosc signal is supplied to the other side of the mixer and mixed to obtain spectrum data, the Nth harmonic of the sweep frequency fosc and an unknown frequency fhi signal It is also applicable in the case of an image frequency removing device that generates a signal and can be implemented in a similar manner.

【0019】[0019]

【発明の効果】本発明は、以上説明したように構成され
ているので、下記に記載されるような効果を奏する。掃
引オフセット制御部13は、第1掃引周波数をfosc1
と、第2掃引周波数fosc2=fosc1+(2fif2/N)と
を交互に掃引するように掃引用の第1局部発振器56制
御することにより、丁度中間周波数fif2×2だけシフ
トした周波数変換信号を出力することで、両掃引により
重なった位置にスペクトラム信号を生成する効果が得ら
れる。イメージ除去処理部12は、掃引オフセット制御
部13で交互に掃引して得られた両スペクトラムデータ
の値で小さい方のデータ値を選択して出力することで不
必要なイメージ信号のみを除去して出力する効果が得ら
れる。これらの結果、掃引用の第1局部発振器56のN
次高調波を利用して、被測定信号fhiのスペクトラム測
定において、他の高調波によって発生するイメージスペ
クトラムを除去して目的とする被測定信号fhi成分のみ
のスペクトラム表示を実現する効果が得られ、優れた視
認性が得られ、使用者の利便性が大幅に向上する。
Since the present invention is configured as described above, it has the following effects. The sweep offset control unit 13 sets the first sweep frequency to fosc1.
And the second sweep frequency fosc2 = fosc1 + (2fif2 / N) are alternately controlled to control the first local oscillator 56 of the sweep reference to output a frequency conversion signal shifted by exactly the intermediate frequency fif2 × 2. As a result, the effect of generating the spectrum signal at the overlapping position by both sweeps can be obtained. The image removal processing unit 12 removes only unnecessary image signals by selecting and outputting the smaller data value of the spectrum data values obtained by alternately sweeping by the sweep offset control unit 13. The output effect can be obtained. As a result of these, the N of the first local oscillator 56
In the spectrum measurement of the signal under test fhi using the second harmonic, the effect of removing the image spectrum generated by other harmonics and realizing the spectrum display of only the target signal under test fhi component can be obtained. Excellent visibility is obtained and the convenience for the user is greatly improved.

【0020】[0020]

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の、外部ミキサによるイメージ信号を除
去した被測定信号fhi測定のスペクトラムアナライザの
構成図である。
FIG. 1 is a configuration diagram of a spectrum analyzer for measuring a signal under measurement fhi in which an image signal is removed by an external mixer according to the present invention.

【図2】(a)本発明の、イメージ信号を除去する前の
スペクトラム表示画面である。 (b)本発明の、イメージ信号を除去した後のスペクト
ラム表示画面である。
FIG. 2 (a) is a spectrum display screen before image signal removal according to the present invention. (B) It is a spectrum display screen after removing an image signal of the present invention.

【図3】従来の、外部ミキサによる被測定信号fhi測定
のスペクトラムアナライザの構成図である。
FIG. 3 is a configuration diagram of a conventional spectrum analyzer for measuring a signal under test fhi by an external mixer.

【図4】従来の、外部ミキサによる被測定信号fhi測定
のスペクトラム表示画面である。
FIG. 4 is a conventional spectrum display screen for measuring a signal under test fhi by an external mixer.

【図5】本発明の、イメージ信号を除去して被測定信号
fhiを測定するイメージ周波数除去装置の構成図であ
る。
FIG. 5 is a block diagram of an image frequency removing apparatus for removing an image signal and measuring a signal under test fhi according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

12 イメージ除去処理部 13 掃引オフセット制御部 42 減衰器 50 周波数変換部 52 YTF(YIG-tuned filter) 54 ミキサ 56 第1局部発振器 58 フィルタ 62 第2ミキサ 64 発振器 66 第2IFフィルタ 68 検波部 72 外部ミキサ 74 入力切替器 82 AD変換器 84 ADバッファメモリ 86 表示処理部 88 表示部 100、130 入力端子 120 外部出力端子 fin、fhi 周波数 fosc 掃引周波数 fif2 中間周波数 12 image removal processing unit 13 sweep offset control unit 42 attenuator 50 frequency conversion unit 52 YTF (YIG-tuned filter) 54 mixer 56 first local oscillator 58 filter 62 second mixer 64 oscillator 66 second IF filter 68 detection unit 72 external mixer 74 input switching device 82 AD converter 84 AD buffer memory 86 display processing unit 88 display unit 100, 130 input terminal 120 external output terminal fin, fhi frequency fosc sweep frequency fif2 intermediate frequency

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 周波数変換部(50)内の掃引用第1局
部発振器(56)の掃引周波数(fosc)信号を外部に
出力する外部出力端子(120)を有し、外部からの中
間周波数(fif2)信号を受ける入力端子(130)を
有し、周波数変換部(50)からの中間周波数(fif
2)信号か、あるいは入力端子(130)からの中間周
波数(fif2)信号を切り替える入力切替器(74)を
有して、掃引用第1局部発振器(56)の掃引周波数
(fosc)のN次高調波を使用して被測定信号(fhi)
を周波数変換して中間周波数(fif2)に変換して入力
端子(130)に供給して行う被測定信号(fhi)のス
ペクトラム測定において、 掃引用第1局部発振器(56)の掃引周波数(fosc)
の掃引周波数を、第1掃引周波数を(fosc1)と、第2
掃引周波数(fosc2)=(fosc1)+((2fif2)/
N)とを切り替えて掃引するように掃引用の第1局部発
振器(56)を制御する掃引オフセット制御部(13)
を設け、 当該掃引オフセット制御部(13)で両掃引周波数(f
osc1、fosc2)で得られた両スペクトラムデータの値で
小さい方のデータ値を選択して出力するイメージ除去処
理部(12)を設け、 以上を具備していることを特徴としたスペクトラムアナ
ライザ。
1. An external output terminal (120) for outputting a sweep frequency (fosc) signal of a swept reference first local oscillator (56) in a frequency conversion section (50) to an external intermediate frequency ( fif2) signal has an input terminal (130) and receives the intermediate frequency (fif2) from the frequency converter (50).
2) An Nth order of the sweep frequency (fosc) of the swept reference first local oscillator (56) having an input switch (74) for switching between a signal or an intermediate frequency (fif2) signal from the input terminal (130). Signal under test using harmonics (fhi)
In the spectrum measurement of the signal under test (fhi) performed by converting the frequency of the signal to the intermediate frequency (fif2) and supplying it to the input terminal (130), the sweep frequency (fosc) of the swept reference first local oscillator (56)
The sweep frequency of the first sweep frequency is (fosc1)
Sweep frequency (fosc2) = (fosc1) + ((2fif2) /
Sweep offset control unit (13) for controlling the first local oscillator (56) for sweeping so as to switch between and
Is provided, and both sweep frequencies (f
A spectrum analyzer characterized by comprising an image removal processing unit (12) for selecting and outputting the smaller data value of the two spectrum data values obtained by osc1 and fosc2).
【請求項2】 掃引用第1局部発振器(56)の掃引周
波数(fosc)のN次高調波を使用して被測定信号(fh
i)を周波数変換して中間周波数(fif2)に変換して行
う被測定信号(fhi)のスペクトラム測定において、 掃引用第1局部発振器(56)の掃引周波数(fosc)
の掃引周波数を、第1掃引周波数を(fosc1)と、第2
掃引周波数(fosc2)=(fosc1)+((2fif2)/
N)とを切り替えて掃引するように掃引用の第1局部発
振器(56)を制御する掃引オフセット制御部(13)
を設け、 当該掃引オフセット制御部(13)で両掃引周波数(f
osc1、fosc2)で得られた両スペクトラムデータの値で
小さい方のデータ値を選択して出力するイメージ除去処
理部(12)を設け、 以上を具備していることを特徴としたイメージ周波数除
去装置。
2. The signal under test (fh) using the Nth harmonic of the sweep frequency (fosc) of the swept reference first local oscillator (56).
In the spectrum measurement of the signal under test (fhi) performed by frequency conversion of i) into the intermediate frequency (fif2), the sweep frequency (fosc) of the swept reference first local oscillator (56)
The sweep frequency of the first sweep frequency is (fosc1)
Sweep frequency (fosc2) = (fosc1) + ((2fif2) /
Sweep offset control unit (13) for controlling the first local oscillator (56) for sweeping so as to switch between and
Is provided, and both sweep frequencies (f
The image frequency removing device is provided with an image removing processing unit (12) for selecting and outputting the smaller data value of the two spectrum data values obtained by osc1 and fosc2), and including the above. .
JP31714395A 1994-11-11 1995-11-10 Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus Pending JPH08233875A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31714395A JPH08233875A (en) 1994-11-11 1995-11-10 Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6-303197 1994-11-11
JP30319794 1994-11-11
JP31714395A JPH08233875A (en) 1994-11-11 1995-11-10 Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH08233875A true JPH08233875A (en) 1996-09-13

Family

ID=26563436

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31714395A Pending JPH08233875A (en) 1994-11-11 1995-11-10 Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH08233875A (en)

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007309708A (en) * 2006-05-17 2007-11-29 Advantest Corp Instrument for measuring frequency components
JP2009139382A (en) * 2007-12-04 2009-06-25 Headway Technologies Inc Electronic parts tester, spectral analyzer, electronic parts test method, and tester for magnetic head parts/magnetic media parts
JP2010073290A (en) * 2008-09-22 2010-04-02 Fuji Electric Device Technology Co Ltd Control method and control apparatus for avoiding image disturbing signal in measuring overwrite characteristic
DE112008003254T5 (en) 2007-12-20 2010-10-07 Advantest Corp. The frequency characteristics measuring device
DE112009002185T5 (en) 2008-09-26 2011-11-17 Advantest Corp. The frequency characteristics measuring device
JP2014190963A (en) * 2013-03-28 2014-10-06 Anritsu Corp Millimeter-wave band spectrum analysis device and analysis method
JP2014190964A (en) * 2013-03-28 2014-10-06 Anritsu Corp Millimeter-wave band spectrum analysis device and analysis method
JP5947943B1 (en) * 2015-03-27 2016-07-06 アンリツ株式会社 Signal analysis apparatus and method

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007309708A (en) * 2006-05-17 2007-11-29 Advantest Corp Instrument for measuring frequency components
JP2009139382A (en) * 2007-12-04 2009-06-25 Headway Technologies Inc Electronic parts tester, spectral analyzer, electronic parts test method, and tester for magnetic head parts/magnetic media parts
DE112008003254T5 (en) 2007-12-20 2010-10-07 Advantest Corp. The frequency characteristics measuring device
JP2010073290A (en) * 2008-09-22 2010-04-02 Fuji Electric Device Technology Co Ltd Control method and control apparatus for avoiding image disturbing signal in measuring overwrite characteristic
DE112009002185T5 (en) 2008-09-26 2011-11-17 Advantest Corp. The frequency characteristics measuring device
JP2014190963A (en) * 2013-03-28 2014-10-06 Anritsu Corp Millimeter-wave band spectrum analysis device and analysis method
JP2014190964A (en) * 2013-03-28 2014-10-06 Anritsu Corp Millimeter-wave band spectrum analysis device and analysis method
JP5947943B1 (en) * 2015-03-27 2016-07-06 アンリツ株式会社 Signal analysis apparatus and method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5736845A (en) Spectrum analyzer having image frequency eliminating device
JP5386061B2 (en) Frequency component measuring device
JPH0682484A (en) Equivalent time sampling device
JP3340654B2 (en) Spectrum analyzer
US6316928B1 (en) Spectrum analyzer
JPH08233875A (en) Image frequency-removing apparatus and spectrum analyzer using the apparatus
JP4782502B2 (en) Frequency component measuring device
JP3153077B2 (en) Spectrum analyzer
US6265861B1 (en) Frequency spectrum analyzer with high C/N ratio
CN113419111B (en) Spectrum analyzer and signal scanning method for same
JP7185673B2 (en) Signal analysis device and signal analysis method
JP3623035B2 (en) Signal generator
JPH07209352A (en) Spectrum analyzer
US3364426A (en) Double channel spectrum analyzer
JP4693130B2 (en) Image cancellation in frequency converters for spectrum analyzers.
CN100565224C (en) The actual spectral line of frequency converter and the image spectral line that are used for spectrum analyzer are distinguished
JPH10126217A (en) Decimation filter
US4050024A (en) Sideband detector
JPH08146062A (en) Phase jitter analyzer
JP2577879Y2 (en) Spectrum analyzer
JPH0247563A (en) Spectrum analyzer
JP2769844B2 (en) Spectrum analyzer
JPH0619395B2 (en) Spectrum analyzer
JP2001281277A (en) Signal analyzing device
KR100215296B1 (en) Apparatus and method for iq modulation using only one frequency mixer

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20030812